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ATIVIDADE 6
Considere as seguintes técnicas:
(I) Difratometria de raios X convencional
(II) Difratometria de elétrons em um microscópio eletrônico de transmissão
(III) Difratometria de nêutrons
(IV) Difratometria de raios X com radiação sincrotron
(V) Fluorescência de raios X
Qual é a melhor técnica para a resolução de cada um dos seguintes problemas?
Justifique a resposta.
[III](a) Estudo da estrutura cristalina de Al(OH)3 , em especial, a determinação das
posições atômicas de O e H.
Esta técnica é bastante eficiente na detecção das posições atômicas, pois na difração de
nêutrons, não há dependência do espalhamento com o número atômico dos átomos.
[IV] (b) O difratograma de Nb5Si3 apresenta muitos picos, sendo que alguns
apresentam-se sobrepostos. Queremos obter as posições e intensidades dos picos
com precisão para a determinação precisa da estrutura cristalina.
Para radiação sincrotron não temos muitas interferências para gerar o dado desejado a partir
da radiação monocromática e um feixe paralelo que nos dá picos bem definidos.
[I] (c) Cálculo do tamanho médio de grãos em alumina (Al2O3 ) nanocristalina
podemos utilizar a técnica de DRX para saber a largura do pico do material, já que ele é
nanocristalino, assim podemos calcular o tamanho médio de grão pela equação de Scherrer.
[II] (d) Verificar a orientação de um monocristal de LiF.
A partir desses dados foi feito um digratograma no Powdercel para o NbB2, ilustrado abaixo: