UNIVERSIDADE FEDERAL DO PARÁ

INSTITUTO DE TECNOLOGIA
FACULDADE DE ENGENHARIA CIVIL

DRX: DIFRAÇÃO DE RAIO X

Eduardo SENA1, Breno BATISTA2, Arthur Fernandes MARTINS3, Elias Adriano PINHEIRO4, Cássio FURTADO5, Amanda
AZEVEDO6
1
eng.civil. Departamento, faculdade de engenharia civil, universidade federal do Pará, Brasil,
eduardo.sena@itec.ufpa.br
2
eng.civil. Departamento, faculdade de engenharia civil, universidade federal do Pará, Brasil,
brenomartinsbatista2003@gmail.com
3
eng.civil. Departamento, faculdade de engenharia civil, universidade federal do Pará, Brasil,
arthur.martins@itec.ufpa.br
4
eng.civil. Departamento, faculdade de engenharia civil, universidade federal do Pará, Brasil,
elias.adriano00@gmail.com
5
eng.civil. Departamento, faculdade de engenharia civil, universidade federal do Pará, Brasil,
cassio.furtado@itec.ufpa.br
6
eng.civil. Departamento, faculdade de engenharia civil, universidade federal do Pará, Brasil,
amanda.azevedo@itec.ufpa.br

RESUMO: Com o avanço da tecnologia, diferentes maneiras de caracterizar os materiais

existem. Dessa maneira, o presente trabalho busca explicar como a difração de raios X
pode fornecer resultados acerca de materiais com estrutura cristalina. Esta técnica de
caracterização consiste em emitir raios X e observar o fenômeno da difração que ocorre
quando estes raios incidem na amostra. A Lei de Bragg relaciona o comprimento de onda
dos raios X, o espaçamento Interatômico e o ângulo de difração dos raios incidentes. O
gráfico resultante da aplicação desta lei nos resultados dos ensaios apresenta picos que
expõem informações definitivas sobre a constituição microestrutural da amostra.
Palavras-chave: caracterização, difração, raios X, microestrutura, cristal.

ABSTRACT: With the advancement of technology, different ways of characterizing materials

exist. Therefore, the present work seeks to explain how X-ray diffraction can provide results
about materials with a crystalline structure. This characterization technique consists of
emitting X-rays and observing the diffraction phenomenon that occurs when these rays fall
on the sample. Bragg's Law relates the wavelength of X-rays, the Interatomic spacing and
the diffraction angle of the incident rays. The graph resulting from the application of this law
to the test results presents peaks that expose definitive information about the microstructural
constitution of the sample.
Keywords: characterization, diffraction, X-rays, microstructure, crystal.
 2

1.INTRODUÇÃO

Apesar de sofisticada, a técnica, como todas as outras, foi sendo

aprimorada com o tempo. Além disso, ela também surgiu do acaso. Será
apresentado no presente trabalho os primórdios de tudo que rege o tema. A
realização experimental da difração teve que esperar o descobrimento dos
raios X em 1895 e os experimentos de difração de raios X realizados em 1911
e publicados em 1912 (LIMA; PADILHA, 2022).
É fundamental para a engenharia dos materiais conhecer as estruturas
cristalinas e a microestrutura dos materiais para poder ter um estudo detalhado
das suas propriedades. Dessa forma, urge selecionar algumas técnicas para
obter resultados precisos das amostras desses materiais. Diariamente são
utilizados diversos tipos materiais e cada um deles têm sua marca registrada,
ou seja, uma estrutura microscópicamente diferenciável. A cristalinidade é
característica que permite fazer essa análise, visto que materiais amorfos, por
não apresentarem periodicidade na sua estrutura, não podem ser estudados
dessa forma.
A aplicação da Difração de raio X pode responder por que algum
material cristalino apresenta maior resistência após adicionar outro à mistura, já
que tem a capacidade de proporcionar o estudo microscópico da amostra. A
difração de raios X é, portanto, uma técnica comum para o estudo de
estruturas cristalinas e do espaçamento atômico em diversos materiais
(SILVA, 2020). Para aplicá-la, são utilizados alguns métodos, tais como o de
Laue, o de rotação do cristal e o do pó. O equipamento utilizado para realizar o
estudo é o Difratômetro de raio X.
A Lei de Bragg relaciona o comprimento de onda da radiação
eletromagnética ao ângulo de difração e ao espaçamento do retículo cristalino
em uma dada amostra (SILVA, 2020).
 3

2.HISTÓRIA

É importante citar que os raios X tiveram e ainda têm aplicabilidade,

além da difração de raio X, na medicina. Os primeiros usos desse tipo de onda
foram na análise dos seres. Com eles, pode-se examinar os ossos dos seres
humanos, logicamente, sem deixá-los expostos.
Em novembro de 1885 Wilhelm Conrad Roentgen percebeu uma tela de
bário fluorescente em seu laboratório ao utilizar um tubo de Crookes para
emissão de raios catódicos a uma distância consideravelmente longa da tela.
Depois dessa percepção, Röentgen passou a trabalhar duramente por algumas
semanas em seu laboratório (QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO, s.d.).
Poucos dias antes do Natal ele levou a sua esposa para o laboratório e
de lá saíram com uma fotografia dos ossos da mão dela juntamente com um
anel, como visto na Figura 1. A Sociedade de Física Médica de Würzburg
foram os primeiros a verificarem os experimentos realizados por Röentgen,
capazes de fotografarem os ossos de uma pessoa. A partir daí essa notícia
passou a percorrer o mundo todo através de publicação, notícias ou mesmo
telégrafo. Em 16 de Janeiro de 1986 o The New York Times revelou a
descoberta de uma nova forma de se fazer fotografia que era capaz de
penetrar madeira, papel e carne, e expor os ossos do corpo humano
(QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO, s.d.).

Figura 1- Primeiro raio-X feito em público.

Fonte: QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO (s.d.).

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Após a descoberta do raio-x por Röentgen em 1895, William Lawrence

Bragg, em 1912, começou alguns estudos utilizando raio-X e cristais NaCl e
ZnS. Com isso foi possível observar a difração do raio-X por meio dos cristais e
assim ele elaborou a lei de Bragg que relaciona o comprimento de onda do
raio-X com o ângulo de reflexão da onda. (QUEIROZ; KUROSAWA;
BARRETO, s.d.).

3.TEORIA

3.1: Lei de Bragg

A Lei de Bragg relaciona o comprimento de onda da radiação

eletromagnética ao ângulo de difração e ao espaçamento do retículo cristalino
em uma dada amostra. Os raios X difratados são então detectados,
processados e contados. Realizando-se uma varredura da amostra em um
intervalo de ângulos 2θ, todas as possíveis direções de difração da rede
cristalina deverão ser alcançadas devido à orientação aleatória dos cristais no
material em pó (SILVA, 2020).
Quando um cristal com uma distância interplanar d é irradiado pelos
feixes de raios X com um determinado comprimento de onda λ, a difração de
raios X ou a interferência construtiva entre feixes de raios X elasticamente
espalhados, pode ser observada a ângulos específicos 2θ, quando satisfizer a
Lei de Bragg (SILVA, 2020), conforme a Figura 2.

Figura 2 - o fenômeno de difração de raios X em um cristal.

Fonte: SILVA (2020).

nλ = 2 d senθ
 5

Onde n é uma integral, λ é o comprimento de onda dos raios X, d é a distância

interplanar que irá gerar a difração e θ é o ângulo de difração (SILVA, 2020).
3.2: Materiais/máquinas utilizados(as)

Os materiais/máquinas utilizados para realização da difração de raio X

são:

3.2.1: Difratômetro de raio X

O equipamento que realiza a medida por difração de raios X chama-se

Difratômetro de raios X. De modo geral, um difratômetro de raios X consiste em
3 elementos básicos: uma fonte ou tubo de raios X, um local para a amostra e
um detector de raios X (SILVA, 2020). Na Figura 3 observa-se um difratômetro
de raio X.

Figura 3 - Exemplar de difratômetro de raio X

Fonte: SILVA (2020).

3.2.2: Amostra de material cristalino

O material cristalino pode ser utilizado na forma de pó e como um cristal

rígido.

3.2.3: Computador
 6

Para traduzir os resultados obtidos, é necessário ter em mãos um

computador com softwares capazes de realizar as equações que resultarão no
intuito da realização da técnica.
3.3: Funcionamento do difratômetro

A instrumentação usada nos difratômetros modernos permaneceu

basicamente a mesma, desde que os primeiros foram desenvolvidos a partir
dos anos de 1940. Grandes mudanças aconteceram principalmente em relação
ao controle, aquisição e processamento de dados, além do desenvolvimento de
novos e modernos detectores, que permitiram um avanço significativo na
obtenção de dados de altíssima qualidade, no que diz respeito à resolução,
intensidade e diminuição do tempo de medida (SILVA, 2020).
A Figura 4 ilustra a geometria básica de um difratômetro de raios X,
composta basicamente por uma fonte de raios X, um detector, fendas
divergentes e anti divergentes e uma posição para a amostra. Esta geometria
típica é conhecida como geometria Bragg-Brentano. Neste tipo de arranjo, um
feixe divergente passa por um sistema de fendas, atinge a amostra e é
difratado em direção ao detector, passando novamente por um sistema de
fendas. As distâncias F1 e F2 são exatamente iguais. Essa geometria requer
uma amostra plana, com espessura virtualmente infinita, de maneira que se
tenha a certeza de que a radiação seja completamente refletida em direção ao
detector. É o sistema mais usado em equipamentos convencionais de
laboratório, com principal aplicação em análises de difração de pó. A Figura 3
mostra um equipamento D8 Advance, da Bruker, com uma típica Geometria
Bragg-Brentano (SILVA, 2020).

Figura 4 - Representação esquemática da geometria Bragg-Brentano

 7

Fonte: SILVA, 2020.

4.APLICAÇÃO
Aplicar a técnica pode ser uma tarefa complexa, visto que há
necessidade de acompanhamento técnico para tal.

4.1: Preparação da Amostra

A preparação da amostra é um dos mais importantes requisitos em

qualquer medida, pois é a principal fonte de erro, principalmente tratando-se
em análise por difração de raios X. A mais alta tecnologia empregada em um
equipamento de difração de raios X não substitui um bom preparo de amostra.
Isso porque, a preparação não inclui somente eliminar interferentes ou
substâncias indesejadas, mas deve, principalmente, dispor de uma
metodologia de preparo adequada que leve em consideração propriedades
como tamanho de cristalito, orientação preferencial, granulometria , espessura
da amostra, entre outros fatores (SILVA, 2020).

4.2: Métodos

4.2.1: Método do pó:

A análise de materiais em pó por XRD requer uma granulação

extremamente fina de maneira a obter-se uma ótima relação sinal-ruído,
evitando, dessa forma, flutuações na intensidade, efeitos de “spottiness”, além
de minimizar a orientação preferencial. A redução dos cristais à finas partículas
também deve promover um número de grãos suficientemente difratantes no
processo de análise por difração de raios X. O intervalo de tamanho de grão
recomendado é em torno de 1-5 µm, especialmente se a análise quantitativa de
fases for um dos objetivos da medida. Para avaliação qualitativa de fases de
rotina, as amostras são geralmente moídas em uma granulometria passante
em malha 325 mesh de peneira (45 µm). A trituração pode ser realizada
manualmente (em gral de ágata ou porcelana) ou em moinho mecânico (de
 8

bolas ou de discos). Há que se ter especial cuidado com a moagem, pois uma
trituração excessiva pode levar a efeitos que incluem desde a distorção da rede
cristalina até a possível amorfização do material (conteúdo amorfo), com a
destruição dos grãos (SILVA, 2020).

4.2.2: Método de Rotação do Cristal

O método de rotação de cristal, conforme a Figura 5, utiliza um

monocristal que é rodado ou oscilado e um feixe monocromático de raios X. A
rotação do cristal permite que a lei de Bragg seja satisfeita e possibilita que
diferentes planos sejam postos em condição de difratar (LIMA, N.; PADILHA,
A., 2022).

Figura 5 - Arranjo experimental no Método de Rotação do Cristal

Fonte: LIMA, N.; PADILHA, A.

4.2.3: Método de Laue

No método de Laue, a radiação incidente é branca do espectro contínuo,

contendo, portanto, os diversos comprimentos de onda e sendo fixo o ângulo
de incidência. Duas montagens podem ser utilizadas no método de Laue para
 9

análise de monocristais: transmissão e reflexão (LIMA, N.; PADILHA, A., 2022).

A Figura 6 representa o exposto pelos autores.

Figura 6 - Arranjo experimental

Fonte: LIMA, N.; PADILHA, A, 2022.

Em a), tem-se a montagem de transmissão em b) a montagem de

reflexão.

5.COLETA DE RESULTADOS

5.1: O que se busca

Para coletar dados acerca da estrutura cristalina, é válido apresentar o

que está sendo buscado. Neste caso, as estruturas cristalinas dos materiais,
formadas pelas células unitárias.

5.1.1: As células unitárias

De acordo com o site do Laboratório de Física Moderna da Unicamp, os

retículos cristalinos se apresentam na natureza através de setes tipos de
estrutura atômicas, representadas na Figura 7.
10
 11

Figura 7 - Sistemas Cristalinos

Fonte: https://sites.ifi.unicamp.br/lfmoderna/conteudos/difracao-de-raio-x/

Conforme é encontrado no endereço acima, dos sete sistemas

cristalinos acima, pode-se identificar 14 tipos de células unitárias, conhecidas
como as Redes de Bravais, expostas na Figura 8.

Figura 8 - As Redes de Bravais

Fonte: GAMBARDELLA, s.d.

 12

Os planos cristalinos, segundo o referido estudo da Unicamp, são

representados num sistema de coordenadas h k l . Num retículo cúbico
podemos observar as seguintes possibilidades e os respectivos planos, como
na Figura 9.

Figura 9 - Os planos cristalinos

Fonte: https://sites.ifi.unicamp.br/lfmoderna/conteudos/difracao-de-raio-x/

5.2: O difratograma

Segundo o site do Centro de Pesquisa Professor Manoel Teixeira da

Costa, o resultado deste tipo de análise é apresentado sob a forma de um
gráfico, o difratograma, cujas variáveis são o ângulo 2 versus a intensidade dos
picos difratados (eixo vertical). Os picos do difratograma são produzidos
quando, para um dado valor de θ, um dado plano atômico possui distância
interplanar (d) que satisfaz a lei de Bragg. As alturas dos picos são
proporcionais às intensidades dos efeitos da difração. A Figura 10 expõe um
exemplar do gráfico obtido.
Cada estrutura cristalina produz um padrão de difração característico.
Portanto, para interpretação dos resultados, recorre-se a um banco de dados, e
faz-se a comparação com os padrões produzidos por estruturas conhecidas e
previamente analisadas.[...] , os diagramas obtidos são entregues ao solicitante
 13

com os valores de 2θ, os valores das distâncias interplanares (d) e as

condições em que foram medidos.
Figura 10 - Difratograma do mineral Espinélio

Fonte: https://www.igc.ufmg.br/cpmtc/laboratorios-cpmtc/laboratorio-de-
difracao-e-fluorescencia-de-raios-x/

COMPLEMENTO: FRX
Como informação complementar, mas de extrema importância, é apresentada
a Fluorescência de raio X (FRX).
A fluorescência de raios X por dispersão de energia é uma técnica
analítica multielementar não destrutiva capaz de identificar elementos com
número atômico maior ou igual a 12, através dos raios X característicos Kα, Kβ
ou Lα, Lβ dos elementos que estão presentes em uma amostra particular
(PAES, [2023]). A Figura 11 retrata fisicamente o que acontece na FRX.

Figura 11 - Fluorescência de raio X

 14

Fonte: PAES, [2023].

Segundo o site c2lab, tanto a DRX quanto a FRX são técnicas analíticas
baseadas em raios-X que permitem a caracterização precisa de materiais. Elas
desempenham um papel crucial na indústria, contribuindo para a análise de
compostos cristalinos e não cristalinos, determinação da composição química,
controle de qualidade de produtos e pesquisa em áreas que vão desde
metalurgia até ciência dos materiais.
A DRX (Difração de Raios-X) é usada principalmente para estudar a
estrutura cristalina dos materiais. Ela é particularmente útil para identificar a
disposição atômica em sólidos, detectar fases cristalinas e medir parâmetros
de rede.
A FRX (Fluorescência de Raios-X), por outro lado, é focada na análise
química de materiais. Ela permite a identificação e quantificação dos elementos
químicos presentes em uma amostra, sendo fundamental para controle de
qualidade e análise de composição em diversas indústrias.
Analisando as técnicas, é possível notar que as principais
diferenças nos procedimentos entre DRX e FRX estão relacionadas
à preparação da amostra e à natureza das informações obtidas. Enquanto o
DRX é usado principalmente para determinar a estrutura cristalina dos
materiais, o FRX é voltado para a análise da composição química dos
elementos presentes na amostra.

APLICAÇÕES PARA A FRX (FLUORESCÊNCIA DE RAIOS-X):

Análise de composição: A FRX é ideal para determinar a composição

química de uma amostra, sendo usada para controle de qualidade em setores
como a metalurgia e a indústria farmacêutica;

Identificação de elementos: Permite a identificação rápida e precisa dos

elementos presentes em uma amostra, ajudando na resolução de problemas
de contaminação e adulteração.
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A combinação da DRX e da FRX pode fornecer uma compreensão mais

completa e precisa sobre o material. As aplicações mais comuns dessa
poderosa ferramenta são:

Identificação de Fases e Composição; Ao trabalhar com uma amostra

complexa que contém diferentes fases cristalinas e elementos químicos, a
combinação de DRX e FRX é fundamental.

O DRX pode identificar as fases cristalinas presentes na amostra, já o

FRX pode quantificar a composição elementar, revelando a quantidade de cada
elemento em cada fase;

Controle de Qualidade de Ligas Metálicas; Em indústrias como a

metalurgia, onde ligas metálicas são comuns, o DRX e o DRX fornecem a
composição química e a estrutura cristalina de ligas metálicas, contribuindo
para a identificação das ligas e para o controle de qualidade dos produtos.
Investigação de Amostras Desconhecidas; Quando se trabalha com
amostras desconhecidas, o DRX pode ser usado primeiro para identificar a
estrutura cristalina preliminar, e o FRX pode ser aplicado em seguida para
determinar a composição química, ajudando a elucidar a natureza da amostra.

6. CONCLUSÃO

O presente trabalho então cumpre seu papel proposto na introdução de

maneira eficiente. A difração de raio X como técnica de caracterização de
materiais cristalinos terá estas ideias expostas como base, mas ressalva-se
que ela pode ser muito mais aprofundada. Futuramente cada um dos autores
do texto poderão absorver mais e mais conhecimento sobre esta engenhosa
técnica de análise.
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REFERÊNCIAS

1 LIMA, N.; PADILHA, A. Difração de raios X: uma introdução para iniciantes.

SP: IPEN-CNEN/SP, 2022.

2 SILVA, R. A Difração de Raios X: uma Técnica de Investigação da Estrutura

Cristalina de Materiais. Revista Processos Químicos, v. 14, n. 27, p. 73–82,
2020.

3 QUEIROZ, A.; KUROSAWA, R.; BARRETO, R. Difração de Raios-X. SP:

Instituto de Física de São Carlos, [s.d.].

4 Difração de Raio X. Disponível em:

<https://sites.ifi.unicamp.br/lfmoderna/conteudos/difracao-de-raio-x/>.

5 GAMBARDELLA, M. Célula Unitária e 14 Retículos de Bravais . SP: Instituto

de Química de São Carlos, [s.d.].

6 Laboratório de Difração de Raios-X – Instituto Geociências UFMG.

Disponível em: <https://www.igc.ufmg.br/cpmtc/laboratorios-cpmtc/laboratorio-
de-difracao-e-fluorescencia-de-raios-x/>. Acesso em: 9 nov. 2023.
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7 PAES, I. Corrosão de armadura em obras de concreto armado (cloreto e

carbonatação) (voltado a obras civis). PA: ITEC, [2023].

8 As principais diferenças entre DRX e FRX: Tudo o que você precisa

saber – C2LAB. Disponível em: <https://c2lab.com.br/as-diferencas-entre-drx-
e-frx-tudo-o-que-voce-precisa-saber/>