UNIVERSIDADE FEDERAL DO PARÁ

ENGENHARIA CIVIL

EDUARDO MARQUES SENA

BRENO MARTINS BATISTA
ARTHUR FERNANDES MARTINS DA SILVA
ELIAS ADRIANO GOMES PINHEIRO
CÁSSIO SERRA FURTADO
AMANDA DA SILVA AZEVEDO

DIFRAÇÃO DE RAIO X

BELÉM-PA
2023
 RESUMO

Com o avanço da tecnologia, diferentes maneiras de analisar e entender a

matéria surgiram e continuarão a surgir, contribuindo para o desenvolvimento da
engenharia. Entender do que é feito algo é tão importante como saber fazê-lo. Por
isso, a caracterização dos materiais é de extrema importância. Dessa maneira, o
presente trabalho busca explicar como a difração de raios X pode entregar
resultados acerca da microestrutra de cristais. Esta técnica de caracterização
consiste em emitir raios x e observar o fenômeno da difração quando incididos em
materiais de estrutura cristalina. A Lei de Bragg relaciona o comprimento de onda
dos raios x, o espaçamento interatômico e o ângulo de difração dos raios incidentes.
Os “picos” no gráfico entregue pelo computador anexo, os quais expõem
informações definitivas sobre a constituição microestrutural da amostra. No entanto,
cabe aos softwares relacionarem com exatidão os resultados obtidos no gráfico ao
formato das células unitárias a partir de equações complexas.

Palavras-chave: caracterização, difração, raios X, microestrutura, cristal.

ABSTRACT

As the technology evolves, many different ways to analyze and understand the
substance emerged and still emerge, assisting the engineering development.
Knowing what something is made of is so important as knowing how to make it.
Therefore, characterization is extremely important. Thus, this work is trying to explain
how X-ray diffraction can give important results about crystals microstructure. This
technique consists in emitting x-rays and observing the phenomenon of diffraction
when incurred in crystalline-structure materials. The Bragg’s Law associates the
wave-lenght of the x-rays, the interatomic spacing and the diffraction angle of the
incurred electromagnetic waves. “Peaks” are observed on the graphic given by the
computer, which shows the information necessary to see the crystal structure of the
sample. However, the function of translating the dates in unit cells is for sophisticated
softwares with their complex equations.

Keywords: characterization, diffraction, X-rays, microstructure, crystal.

 SUMÁRIO

1 INTRODUÇÃO…………………………………………………………………………… 5
2 HISTÓRIA………………………………………………………………………………….6
3 TEORIA…………………………………………………………………………………….7
4 APLICAÇÃO……………………………………………………………………………...10
5 COLETA DE RESULTADOS……………………………………………………………12
6 CONCLUSÃO…………………………………………………………………………….15
APÊNDICE………………………………………………………………………………….17
 1.INTRODUÇÃO

Apesar de sofisticada, a técnica, como todas as outras, foi sendo aprimorada

com o tempo. Além disso, ela também surgiu do acaso. Será apresentado no
presente trabalho os primórdios de tudo que rege o tema. A realização experimental
da difração teve que esperar o descobrimento dos raios X em 1895 e os
experimentos de difração de raios X realizados em 1911 e publicados em 1912
(LIMA; PADILHA, 2022).
É fundamental para a engenharia dos materiais conhecer as estruturas
cristalinas e a microestrutura dos materiais para poder ter um estudo detalhado das
suas propriedades. Dessa forma, urge selecionar algumas técnicas para obter
resultados precisos das amostras desses materiais. Diariamente são utilizados
diversos tipos materiais e cada um deles têm sua marca registrada, ou seja, uma
estrutura microscópicamente diferenciável. A cristalinidade é característica que
permite fazer essa análise, visto que materiais amorfos, por não apresentarem
periodicidade na sua estrutura, não podem ser estudados dessa forma.
A aplicação da Difração de raio X pode responder por que algum material
cristalino apresenta maior resistência após adicionar outro à mistura, já que tem a
capacidade de proporcionar o estudo microscópico da amostra. A difração de raios X
é, portanto, uma técnica comum para o estudo de estruturas cristalinas e do
espaçamento atômico em diversos materiais (SILVA, 2020). Para aplicá-la, são
utilizados alguns métodos, tais como o de Laue, o de rotação do cristal e o do pó. O
equipamento utilizado para realizar o estudo é o Difratômetro de raio X.
A Lei de Bragg relaciona o comprimento de onda da radiação eletromagnética
ao ângulo de difração e ao espaçamento do retículo cristalino em uma dada amostra
(SILVA, 2020).

2.HISTÓRIA

É importante citar que os raios X tiveram e ainda têm aplicabilidade, além da

difração de raio X, na medicina. Os primeiros usos desse tipo de onda foram na
análise dos seres. Com eles, pode-se examinar os ossos dos seres humanos,
logicamente, sem deixá-los expostos.
Em novembro de 1885 Wilhelm Conrad Roentgen percebeu uma tela de bário
fluorescente em seu laboratório ao utilizar um tubo de Crookes para emissão de
raios catódicos a uma distância consideravelmente longa da tela. Depois dessa
percepção, Röentgen passou a trabalhar duramente por algumas semanas em seu
laboratório (QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO, s.d.).
Poucos dias antes do Natal ele levou a sua esposa para o laboratório e de lá
saíram com uma fotografia dos ossos da mão dela juntamente com um anel, como
visto na Figura 1. A Sociedade de Física Médica de Würzburg foram os primeiros a
verificarem os experimentos realizados por Röentgen, capazes de fotografarem os
ossos de uma pessoa. A partir daí essa notícia passou a percorrer o mundo todo
através de publicação, notícias ou mesmo telégrafo. Em 16 de Janeiro de 1986 o
The New York Times revelou a descoberta de uma nova forma de se fazer fotografia
que era capaz de penetrar madeira, papel e carne, e expor os ossos do corpo
humano (QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO, s.d.).

Figura 1- Primeiro raio-X feito em público.

Fonte: QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO (s.d.).

Após a descoberta do raio-x por Röentgen em 1895, William Lawrence Bragg,

em 1912, começou alguns estudos utilizando raio-X e cristais NaCl e ZnS. Com isso
foi possível observar a difração do raio-X por meio dos cristais e assim ele elaborou
a lei de Bragg que relaciona o comprimento de onda do raio-X com o ângulo de
reflexão da onda. (QUEIROZ; KUROSAWA; BARRETO, s.d.).
 3.TEORIA

3.1: Lei de Bragg

A Lei de Bragg relaciona o comprimento de onda da radiação eletromagnética

ao ângulo de difração e ao espaçamento do retículo cristalino em uma dada
amostra. Os raios X difratados são então detectados, processados e contados.
Realizando-se uma varredura da amostra em um intervalo de ângulos 2θ, todas as
possíveis direções de difração da rede cristalina deverão ser alcançadas devido à
orientação aleatória dos cristais no material em pó (SILVA, 2020).
Quando um cristal com uma distância interplanar d é irradiado pelos feixes de
raios X com um determinado comprimento de onda λ, a difração de raios X ou a
interferência construtiva entre feixes de raios X elasticamente espalhados, pode ser
observada a ângulos específicos 2θ, quando satisfizer a Lei de Bragg (SILVA, 2020),
conforme a Figura 2.

Figura 2 - o fenômeno de difração de raios X em um cristal.

Fonte: SILVA (2020).

nλ = 2 d senθ

Onde n é uma integral, λ é o comprimento de onda dos raios X, d é a

distância interplanar que irá gerar a difração e θ é o ângulo de difração (SILVA,
2020).
 3.2: Materiais/máquinas utilizados(as)

Os materiais/máquinas utilizados para realização da difração de raio X são:

3.2.1: Difratômetro de raio X

O equipamento que realiza a medida por difração de raios X chama-se

Difratômetro de raios X. De modo geral, um difratômetro de raios X consiste em 3
elementos básicos: uma fonte ou tubo de raios X, um local para a amostra e um
detector de raios X (SILVA, 2020). Na Figura 3 observa-se um difratômetro de raio X.

Figura 3 - Exemplar de difratômetro de raio X

Fonte: SILVA (2020).

3.2.2: Amostra de material cristalino

O material cristalino pode ser utilizado na forma de pó e como um cristal

rígido.
 3.2.3: Computador

Para traduzir os resultados obtidos, é necessário ter em mãos um computador

com softwares capazes de realizar as equações que resultarão no intuito da
realização da técnica.

3.3: Funcionamento do difratômetro

A instrumentação usada nos difratômetros modernos permaneceu

basicamente a mesma, desde que os primeiros foram desenvolvidos a partir dos
anos de 1940. Grandes mudanças aconteceram principalmente em relação ao
controle, aquisição e processamento de dados, além do desenvolvimento de novos e
modernos detectores, que permitiram um avanço significativo na obtenção de dados
de altíssima qualidade, no que diz respeito à resolução, intensidade e diminuição do
tempo de medida (SILVA, 2020).
A Figura 4 ilustra a geometria básica de um difratômetro de raios X, composta
basicamente por uma fonte de raios X, um detector, fendas divergentes e anti
divergentes e uma posição para a amostra. Esta geometria típica é conhecida como
geometria Bragg-Brentano. Neste tipo de arranjo, um feixe divergente passa por um
sistema de fendas, atinge a amostra e é difratado em direção ao detector, passando
novamente por um sistema de fendas. As distâncias F1 e F2 são exatamente iguais.
Essa geometria requer uma amostra plana, com espessura virtualmente infinita, de
maneira que se tenha a certeza de que a radiação seja completamente refletida em
direção ao detector. É o sistema mais usado em equipamentos convencionais de
laboratório, com principal aplicação em análises de difração de pó. A Figura 3
mostra um equipamento D8 Advance, da Bruker, com uma típica Geometria
Bragg-Brentano (SILVA, 2020).
 Figura 4 - Representação esquemática da geometria Bragg-Brentano

Fonte: SILVA, 2020.

4.APLICAÇÃO

Aplicar a técnica pode ser uma tarefa complexa, visto que há necessidade de
acompanhamento técnico para tal.

4.1: Preparação da Amostra

A preparação da amostra é um dos mais importantes requisitos em qualquer

medida, pois é a principal fonte de erro, principalmente tratando-se em análise por
difração de raios X. A mais alta tecnologia empregada em um equipamento de
difração de raios X não substitui um bom preparo de amostra. Isso porque, a
preparação não inclui somente eliminar interferentes ou substâncias indesejadas,
mas deve, principalmente, dispor de uma metodologia de preparo adequada que
leve em consideração propriedades como tamanho de cristalito, orientação
preferencial, granulometria , espessura da amostra, entre outros fatores (SILVA,
2020).

4.2: Métodos
4.2.1: Método do pó:

A análise de materiais em pó por XRD requer uma granulação extremamente

fina de maneira a obter-se uma ótima relação sinal-ruído, evitando, dessa forma,
flutuações na intensidade, efeitos de “spottiness”, além de minimizar a orientação
preferencial. A redução dos cristais à finas partículas também deve promover um
número de grãos suficientemente difratantes no processo de análise por difração de
raios X. O intervalo de tamanho de grão recomendado é em torno de 1-5 µm,
especialmente se a análise quantitativa de fases for um dos objetivos da medida.
Para avaliação qualitativa de fases de rotina, as amostras são geralmente moídas
em uma granulometria passante em malha 325 mesh de peneira (45 µm). A
trituração pode ser realizada manualmente (em gral de ágata ou porcelana) ou em
moinho mecânico (de bolas ou de discos). Há que se ter especial cuidado com a
moagem, pois uma trituração excessiva pode levar a efeitos que incluem desde a
distorção da rede cristalina até a possível amorfização do material (conteúdo
amorfo), com a destruição dos grãos (SILVA, 2020).

4.2.2: Método de Rotação do Cristal

O método de rotação de cristal, conforme a Figura 5, utiliza um monocristal

que é rodado ou oscilado e um feixe monocromático de raios X. A rotação do cristal
permite que a lei de Bragg seja satisfeita e possibilita que diferentes planos sejam
postos em condição de difratar (LIMA, N.; PADILHA, A., 2022).

Figura 5 - Arranjo experimental no Método de Rotação do Cristal

Fonte: LIMA, N.; PADILHA, A.

 4.2.3: Método de Laue

No método de Laue, a radiação incidente é branca do espectro contínuo,

contendo, portanto, os diversos comprimentos de onda e sendo fixo o ângulo de
incidência. Duas montagens podem ser utilizadas no método de Laue para análise
de monocristais: transmissão e reflexão (LIMA, N.; PADILHA, A., 2022). A Figura 6
representa o exposto pelos autores.

Figura 6 - Arranjo experimental

Fonte: LIMA, N.; PADILHA, A, 2022.

Em a), tem-se a montagem de transmissão em b) a montagem de reflexão.

5.COLETA DE RESULTADOS

5.1: O que se busca

Para coletar dados acerca da estrutura cristalina, é válido apresentar o que

está sendo buscado. Neste caso, as estruturas cristalinas dos materiais, formadas
pelas células unitárias.

5.1.1: As células unitárias

 De acordo com o site do Laboratório de Física Moderna da Unicamp, os
retículos cristalinos se apresentam na natureza através de setes tipos de estrutura
atômicas, representadas na Figura 7.

Figura 7 - Sistemas Cristalinos

Fonte: https://sites.ifi.unicamp.br/lfmoderna/conteudos/difracao-de-raio-x/

Conforme é encontrado no endereço acima, dos sete sistemas cristalinos

acima, pode-se identificar 14 tipos de células unitárias, conhecidas como as Redes
de Bravais, expostas na Figura 8.

Figura 8 - As Redes de Bravais

Fonte: GAMBARDELLA, s.d.

 Os planos cristalinos, segundo o referido estudo da Unicamp, são
representados num sistema de coordenadas h k l . Num retículo cúbico podemos
observar as seguintes possibilidades e os respectivos planos, como na Figura 9.
Figura 9 - Os planos cristalinos

Fonte: https://sites.ifi.unicamp.br/lfmoderna/conteudos/difracao-de-raio-x/

5.2: O difratograma

Segundo o site do Centro de Pesquisa Professor Manoel Teixeira da Costa, o

resultado deste tipo de análise é apresentado sob a forma de um gráfico, o
difratograma, cujas variáveis são o ângulo 2 versus a intensidade dos picos
difratados (eixo vertical). Os picos do difratograma são produzidos quando, para um
dado valor de θ, um dado plano atômico possui distância interplanar (d) que satisfaz
a lei de Bragg. As alturas dos picos são proporcionais às intensidades dos efeitos da
difração. A Figura 10 expõe um exemplar do gráfico obtido.
Cada estrutura cristalina produz um padrão de difração característico.
Portanto, para interpretação dos resultados, recorre-se a um banco de dados, e
faz-se a comparação com os padrões produzidos por estruturas conhecidas e
previamente analisadas.[...] , os diagramas obtidos são entregues ao solicitante com
os valores de 2θ, os valores das distâncias interplanares (d) e as condições em que
foram medidos.
 Figura 10 - Difratograma do mineral Espinélio

Fonte:
https://www.igc.ufmg.br/cpmtc/laboratorios-cpmtc/laboratorio-de-difracao-e-fluoresce
ncia-de-raios-x/

6. CONCLUSÃO

O presente trabalho então cumpre seu papel proposto na introdução de

maneira eficiente. A difração de raio X como técnica de caracterização de materiais
cristalinos terá estas ideias expostas como base, mas ressalva-se que ela pode ser
muito mais aprofundada. Futuramente cada um dos autores do texto poderão
absorver mais e mais conhecimento sobre esta engenhosa técnica de análise.
REFERÊNCIAS

1 LIMA, N.; PADILHA, A. Difração de raios X: uma introdução para iniciantes. SP:
IPEN-CNEN/SP, 2022.

2 SILVA, R. A Difração de Raios X: uma Técnica de Investigação da Estrutura

Cristalina de Materiais. Revista Processos Químicos, v. 14, n. 27, p. 73–82, 2020.

3 QUEIROZ, A.; KUROSAWA, R.; BARRETO, R. Difração de Raios-X. SP:

Instituto de Física de São Carlos, [s.d.].

4 Difração de Raio X. Disponível em:

<https://sites.ifi.unicamp.br/lfmoderna/conteudos/difracao-de-raio-x/>.

5 GAMBARDELLA, M. Célula Unitária e 14 Retículos de Bravais . SP: Instituto de

Química de São Carlos , [s.d.].

6 Laboratório de Difração de Raios-X – Instituto Geociências UFMG. Disponível

em:
<https://www.igc.ufmg.br/cpmtc/laboratorios-cpmtc/laboratorio-de-difracao-e-fluoresc
encia-de-raios-x/>. Acesso em: 9 nov. 2023.

7 PAES, I. Corrosão de armadura em obras de concreto armado (cloreto e

carbonatação) (voltado a obras civis). PA: ITEC, [2023].

‌
 APÊNDICE

Como informação complementar, mas de extrema importância, é apresentada

a Fluorescência de raio X (FRX).
A fluorescência de raios X por dispersão de energia é uma técnica analítica
multielementar não destrutiva capaz de identificar elementos com número atômico
maior ou igual a 12, através dos raios X característicos Kα, Kβ ou Lα, Lβ dos
elementos que estão presentes em uma amostra particular (PAES, [2023]). A Figura
11 retrata fisicamente o que acontece na FRX.

Figura 11 - Fluorescência de raio X

Fonte: PAES, [2023].