METALURGIA FÍSICA

CAPÍTULO VIII
DIFRAÇÃO DE RAIOS -X
Prof. Dr. Evaldo J. F. Soares
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REVISÃO
 Comportamento Isotrópico e Anisotrópico

Algumas propriedades também variam com a direção

devido à diferença dos arranjos atómicos em planos
cristalinos e direções de um cristal.
 Material anisotrópico – Quando suas propriedades

dependem da direção cristalográfica ao longo da qual é

medida.
 Material isotrópico – Quando as propriedades são

idênticas em todas as direções.

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REVISÃO
 Comportamento Isotrópico e Anisotrópico

Algumas propriedades também variam com a direção

devido à diferença dos arranjos atómicos em planos
cristalinos e direções de um cristal.
 Material anisotrópico – Quando suas propriedades

dependem da direção cristalográfica ao longo da qual é

medida.
Ex.: O módulo de elasticidade do alumínio é de 75,9 GPa
nas direções (111), mas somente 63,4 Gpa nas direções
(100).
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REVISÃO
 Comportamento Isotrópico e Anisotrópico

Convém observar que um material como o alumínio, que é

cristalograficamente anisotrópico, pode se comportar como
um material isotrópico em sua forma policristalina. Isto
porque as múltiplas orientações aleatórias de diferentes
cristais em um material policristalino cancelam a maior
parte dos efeitos da anisotropia.
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REVISÃO
 Comportamento Isotrópico e Anisotrópico

Assim, grande parte dos materiais possuem propriedades

isotrópicas. Já os monocristalinos e os policristalinos com
muitos grãos orientados segundo uma determinada
direção apresentam propriedades mecânicas, ópticas,
magnéticas e dielétricas anisotrópicas. Esta orientação
pode ocorrer de forma planejada ou não, como
consequência do processamento do material.
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REVISÃO
 Distância Interplanar

A distância entre dois planos paralelos e adjacentes de

átomos, com os mesmos índices de Miller, é denominada
distância interplanar (dhkl). A distância interplanar em
materiais cúbicos é dada pela equação geral.
dhkl = (a0)/(h2+k2+l2)
Onde a0 é o parâmetro de rede e h, k, l representam os
índices de Miller dos planos adjacentes. Materiais ñ cúbicos
= mais complexos
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4. Difração de raios X
4.1 Os Raios X e a estrutura cristalina
4.2 O descobrimento dos raios X
4.3 A geração dos Raios-X
4.4 A Lei de Bragg
4.5 Métodos de Difração mais usados
4.6 Exercício
Bibliografia
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4. Difração de raios-X
4.1 – Os raios-X e a estrutura cristalina
A estrutura cristalina dos materiais pode ser determinada por
métodos de difração. Os principais métodos são: difração de
raios-x, difração de elétrons e difração de nêutrons.
Estes métodos fornecem informações sobre a natureza e os
parâmetros do reticulado, assim como detalhes a respeito do
tamanho, da perfeição e da orientação dos cristais. Dentre os
métodos acima mencionados, o mais utilizado é a difração de
raios-x.
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4. Difração de raios-X
4.2 – O descobrimento dos raios-X
Os raios x foram descobertos pelo físico Wilhelm Conrad
Röntgen (1845-1923) na Universidade de Würzburg. A data
provável do descobrimento é 8 de novembro de 1895.
Röntgen foi laureado em 1901 com o primeiro prêmio Nobel
de física. Ele trabalhava em 1895 com tubos de raios
catódicos evacuados de Hittorf-Crookes (vide figura a seguir)
e observou um novo tipo de radiação, que ele denominou
raios x.
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4. Difração de raios-X
4.2 – O descobrimento dos raios-X
Os raios recém descobertos tinham propriedades muito
parecidas com as da luz:
• Propagavam-se em linhas retas
• Eram absorvidos exponencialmente pela matéria, sendo
que o expoente
• Era aproximadamente proporcional à massa de material
atravessada pela radiação;
• Não eram afetados por campos elétricos e magnéticos;
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4. Difração de raios-X
4.2 – O descobrimento dos raios-X
Os raios recém descobertos tinham propriedades muito
parecidas com as da luz:
• Produziam fluorescência e fosforescência em certas
substâncias;
• Tinham ação sobre as emulsões fotográficas;
• Possuíam velocidade de propagação característica.
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4. Difração de raios-X
4.2 – O descobrimento dos raios-X
Fig 1 – Aparato experimental
utilizado por Röntgen em
1895.
B é uma bobina de indução
do tipo Ruhmkorff;
C é uma placa fotográfica e;
T é um tubo evacuado de
Hittorf-Crookes (segundo
H.H. Seliger).
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4.3 – A geração dos raios-X
Os materiais de engenharia são em geral policristalinos,
isto é, são constituídos de milhões de pequenos cristais
denominados grãos. Os raios x utilizados para analisar
materiais policristalinos devem ser monocromáticos, ou
seja, o feixe deve apresentar um único comprimento de
onda e estar em fase.
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4.3 – A geração dos raios-X
Quando um alvo metálico, encerrado em uma cápsula
evacuada (vide figura a seguir), é bombardeado por
elétrons acelerados, há emissão de raios x. Os elétrons
são emitidos por um filamento aquecido pela passagem
de corrente elétrica (efeito Joule) e são acelerados pela
aplicação de uma diferença de potencial.
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4. Difração de raios-X
4.3 – A geração dos raios-X

Fig 2 – Esquema de um tubo gerador de raios x (segundo B.D.

Cullity).
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4.3 – A geração dos raios-X
A radiação emitida representa a superposição de dois
espectros, conforme ilustra a figura 3:
• espectro contínuo, contendo uma ampla gama de
comprimentos de onda, gerados pela desaceleração dos
elétrons;
• espectro característico, contendo comprimento de onda
característico do metal do alvo, gerados pelo processo
mostrado na figura 4.
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4. Difração de raios-X
4.3 – A geração dos raios-X
Fig.3 – Espectros de
raios X do molibdênio
(alvo) para várias
diferenças de potencial
aplicadas (segundo B.D.
Cullity).
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4. Difração de raios-X
4.3 – A geração dos raios-X
Fig. 4 – Interação de
elétrons com um
átomo, ilustrando
o aparecimento de
raios x característicos
deste átomo.
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4. Difração de raios-X
4.3 – A geração dos raios-X
As radiações mais utilizadas em difração de raios x são
apresentadas na tabela 1. Como se pode notar, os
comprimentos de onda mais utilizados estão na faixa de
0,5 a 3,0 Å, ou seja, da mesma ordem de grandeza dos
espaçamentos interplanares dos cristais, para que possa
ocorrer interferência.
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4. Difração de raios-X
4.3 – A geração dos raios-X
Tabela 1 — Comprimentos de onda das radiações mais utilizadas em
difração de raios X (em Å ).
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4.4 – A Lei de Bragg
Se um feixe de raios x com uma determinada frequência (ou
comprimento de onda) incidir sobre um átomo isolado,
elétrons deste átomo serão excitados e vibrarão com a
mesma frequência do feixe incidente. Estes elétrons
vibrando emitirão raios x em todas as direções e com a
mesma frequência do feixe incidente. Em outras palavras, o
átomo isolado espalha (espalhamento de raios x) o feixe
incidente de raios x em todas as direções.
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4.4 – A Lei de Bragg
Por outro lado, quando os átomos estão regularmente
espaçados em um reticulado cristalino e a radiação
incidente tem comprimento de onda da ordem deste
espaçamento, ocorrerá interferência construtiva para
certos ângulos de incidência e interferência destrutiva
para outros.
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4.4 – A Lei de Bragg
A figura 5 mostra um feixe monocromático de raios x, com
comprimento de onda λ, incidindo com um ângulo θ em um
conjunto de planos cristalinos com espaçamento d. Só
ocorrerá reflexão, isto é, interferência construtiva, se a
distância extra percorrida por cada feixe for um múltiplo
inteiro de λ. Por exemplo, o feixe difratado pelo segundo
plano de átomos percorre uma distância PO + OQ a mais do
que o feixe difratado pelo primeiro plano de átomos
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4. Difração de raios-X
4.4 – A Lei de Bragg
A condição para que ocorra interferência construtiva é: PO +
OQ = nλ = 2d senθ
onde n = 1, 2, 3, 4...

Figura 5 — Difração de raios x por

um cristal.
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4. Difração de raios-X
4.4 – A Lei de Bragg
Esta equação é conhecida como lei de Bragg e os ângulos
θ para os quais ocorre difração são chamados ângulos de
Bragg.
A lei de Bragg é em certo sentido uma lei negativa, ou
seja, se ela não for satisfeita, a difração não ocorre.
Entretanto, a lei de Bragg pode ser satisfeita para um
determinado plano de átomos e, a despeito disto, a
interferência ser destrutiva e a difração não ocorrer
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4. Difração de raios-X
4.4 – A Lei de Bragg
A intensidade do feixe difratado depende de vários fatores
tais como densidade atômica do plano em questão,
natureza dos átomos que o compõe, número de planos,
ângulo de incidência, temperatura e outros.
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4. Difração de raios-X
4.5 – Métodos de difração mais usados
Os métodos de difração de raios x utilizados para estudos
de monocristais e os utilizados para estudos de policristais
diferem basicamente quanto à fixação do ângulo de
incidência e quanto à radiação incidente.
• No caso da análise de monocristais (método de Laue), a
radiação incidente é branca, isto é, contém todos os
comprimentos de onda do espectro e o ângulo de
incidência é fixo.
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4. Difração de raios-X
4.5 – Métodos de difração mais usados
A principal aplicação em ciência dos materiais do método de
Laue é na determinação da orientação de monocristais. Por
outro lado, o método do pó é amplamente utilizado na
caracterização de materiais, estejam eles na forma de pó ou
não. Este método será abordado com maior detalhe em
seguida.
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4. Difração de raios-X
4.5 – Métodos de difração mais usados
Os dois equipamentos mais utilizados no método do pó são
o difratômetro e a câmara de Debye-Scherrer. A figura 6
mostra de maneira esquemática o funcionamento de um
difratômetro de raios x
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4. Difração de raios-X
4.5 – Métodos de difração mais usados
O feixe de raios x é gerado pela
fonte S, passa pelo colimador A e
incide na amostra C, a qual é fixada
sobre o suporte H. A amostra sofre
movimento de rotação em torno do
eixo O, perpendicular ao plano do
papel. O feixe difratado passa pelos
colimadores B e F e incide no
detector de raios x G, o qual está Figura 6 — Difratômetro (goniômetro)
sobre o suporte E esquemático de raios x (segundo B.D.
Cullity).
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4. Difração de raios-X
4.5 – Métodos de difração mais usados
Os suportes E e H são acoplados
mecanicamente de modo que o
movimento de 2 x graus do
detector é acompanhado pela
rotação de x graus da amostra.
Este acoplamento assegura que
o ângulo de incidência e o
ângulo de reflexão serão iguais à
metade do ângulo de difração Figura 6 — Difratômetro (goniômetro)
esquemático de raios x (segundo B.D.
2θ.
Cullity).
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4. Difração de raios-X
4.5 – Métodos de difração mais usados
A figura 7 apresenta difratogramas típicos de um material
policristalino, de um líquido ou sólido amorfo e de um gás.

Figura 7 — Difratogramas típicos e

esquemático de alguns materiais
(segundo B.D. Cullity).
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4. Difração de raios-X
Exercícios
1. O metal ródio (Rh) tem estrutura CFC. Se o ângulo de
difração para os planos (311) é 36,12° (reflexão de
primeira ordem) quando se usa radiação MoKα (λ =
0,7107 Å), calcule:
a) a distância entre estes planos;
b) o parâmetro de rede do ródio;
c) o raio atômico do ródio.
BIBLIOGRAFIA
1. A.G.GUY – “Ciência dos Materiais” – Ed. McGraw-Hill, Nova
York, 1980
2. R.A.HIGGINS – “Propriedades e Estruturas dos Materiais
em Engenharia” – Difel Difusão Editorial S.A, 1977.
3. LAWRENCE H. VAN VLACK – “Princípio de Ciência dos
Materiais”- Editora Edgard Blucker Ltda – 1970
4. ASKELAN D. R. – “Ciência e Engenharia de Materiais” –
Cengage Learning, 2008.
5. Ashby M. F. Jones D. R. H. – “Engenharia de Materiais” –
Ed. Campus.
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