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Laboratório de Dispositivos
Eletrônicos
UFPI
Centro de Tecnologia
Departamento de Eng. Elétrica
Ver. 1.1
01/01/2022
SUMÁRIO
APRESENTAÇÃO.................................................................................................................................. 1
Uma organização da estrutura dos roteiros de prática foi estabelecida de modo que
um encaminhamento lógico durante a realização do experimento possa ser seguido.
2. INFORMAÇÃO TEÓRICA
O comportamento da curva característica I = f(v) do diodo real e o modelo de segmentos lineares
utilizados na determinação dos seus parâmetros são ilustrados na Figura 1(a) e (b), respectivamente. O
comportamento da curva exponencial é dependente do material que constitui a junção, sua área e a variação
de temperatura, apresentando assim uma queda de tensão específica para o componente (0,6 a 0,8 V para o
diodo de silício). Ter o conhecimento dos parâmetros do modelo do diodo é bastante comum em aplicações,
onde é desejável analisar as perdas do componente quando em condução. A partir da análise gráfica da
Figura 1(a) e do modelo apresentado na Figura 1(b), as Eqs. (1), (2), (3), (4) e (5) são obtidas e tratam: a
resistência média do componente (Rav), o modelo de segmentos lineares adotado, a expressão geral da
potência no componente, a potência média dissipada no componente na forma integral do valor médio e
resultado da potência média, respectivamente. Nota-se que a Eq. (5) é composta por uma componente de
corrente média e uma componente de corrente eficaz ao quadrado.
Vfo Rav D
Id
Vf N Vf O
Rav (1)
If N
Vd Vf O Rav . Id (2)
3. ESQUEMÁTICO DO CIRCUITO
O esquemático do circuito experimental é ilustrado na Figura 2.
Id R1
+A -
0...10 A
+
+
Vi D1 V Vd
0...2 V
- -
0
Figura 2 - Esquemático a ser montado durante o experimento.
5. ANÁLISE COMPUTACIONAL
Conforme as informações apresentadas nos itens (2), (3) e (4), antes de ser realizada a montagem
experimental é necessário:
a) Determinar e especificar o valor das resistências comerciais, bem como a potência dissipada; e
b) Simular o circuito no ORCAD referente ao procedimento, analisar resultados esperados e preencher a
Tabela 1 para os resultados simulados.
6. PROCEDIMENTO
a) A partir do esquemático apresentado na Figura 2 e dos resultados obtidos durante a análise computacional
monte o circuito experimental. Mantenha a fonte Vi desligada.
b) Ligue a fonte Vi e ajuste a tensão desta de modo que a corrente medida pelo amperímetro seja a exigida na
Tabela 1, meça a tensão Vd com o voltímetro e preencha a Tabela 1.
Tabela 1. Resultados experimentais e simulados.
Id (A) 0,10 0,20 0,30 0,40 0,50 0,60 0,70 0,80 0,90
Vd (V) Simulado
Vd (V) Experimental
7. QUESTIONÁRIO
a) Traçar as curvas I=f(v) simulada e experimental utilizando a Tabela 1.
b) Determinar a resistência média Rav referente às curvas I = f(v) simulada e experimental traçadas
anteriormente.
c) Como a temperatura influencia na curva característica do diodo?
d) Determine a temperatura da junção do diodo fazendo uso das características térmicas do diodo adotado,
onde deve ser considerada a temperatura ambiente de 25ºC para I(A) igual a 0,8 A (como aproximação utilize
a curva experimental obtida) conforme a Tabela 1.
e) Comente a respeito dos resultados obtidos com o experimento e seu respectivo circuito simulado.
f) Pesquise a respeito dos tipos de diodos: Schottky, Tunnel e Varicap.
8. APÊNDICE
1. Especificações:
Vi = 10 V [tensão na fonte de entrada]
2. Considerações:
IdM = 0.9 A [corrente inicial no diodo]
Vd = 0.7 V [queda de tensão no diodo]
Radot [resistência adotada]
Padot [potência dissipada no resistor]
3. Análise teórica:
Vi Vd
R1 R1 = 10,33 Ω
IdM
PR1 ( Vi Vd) IdM PR1 = 8,37 W