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Resumo
A EDO – Envoltória sob dupla ótica vem se consolidando como ferramenta de avaliação de imóveis
no Método Comparativo Direto de Dados de Mercado. O desenvolvimento do estado da arte passa
necessariamente pela pesquisa e validação da incorporação na metodologia do uso de processos
estatísticos e matemáticos tradicionais, que objetivem proceder a um melhor ajuste para a estimação
do valor avaliando.
Neste artigo é verificada a evolução do poder de estimar o valor avaliando, por meio da curva de
tendência central da EDO (CTC-EDO) ajustada pela minimização do somatório dos erros. Com esta
finalidade é realizado o tratamento estatístico dos dados utilizados em artigos anteriores
apresentados no COBREAP 2006 e na UPAV 2004.
Os resultados agora obtidos através da minimização do somatório dos erros são comparados com
aqueles encontrados com o uso de regressão linear múltipla e com os resultados EDO de então, onde
a curva de valor era definida pela média dos valores das fronteiras da ótica do comprador e da ótica
do vendedor. Comparativamente, está demonstrada através do somatório dos erros quadráticos a
evolução da técnica CTC-EDO, onde os resultados estimados demonstram melhor ajuste.
1. INTRODUÇÃO
1º CONGRESSO S OBRE A – BRASÍLIA 2007
Neste artigo é verificada a evolução do poder de estimar o valor avaliando, por meio da curva de
tendência central da EDO (CTC-EDO) ajustada pela minimização do somatório dos erros. Com esta
finalidade é realizado o tratamento estatístico dos dados utilizados em artigos anteriores
apresentados no COBREAP (Novaes (2006)) e no Congresso da UPAV (Novaes et Paiva (2004)),
com vistas a otimizar a curva estimada de valor através da análise dos resíduos. Tal procedimento
dota a técnica da condição de estimar valores, que podem ser considerados como de tendência
central da massa de dados avaliada (CTC-EDO).
O desenvolvimento do estado da arte passa necessariamente pela pesquisa e validação da
incorporação na metodologia, do uso de processos estatísticos e matemáticos tradicionais, que
objetivem proceder a um melhor ajuste para a estimação do valor avaliando. Complementarmente
são aplicadas algumas técnicas de análise da variação dos erros de forma a permitir a verificação do
ajuste da CTC-EDO.
No artigo do COBREAP 2006 foi aplicada a técnica EDO (Novaes (2002)) para avaliação em
massa. Os dados da Avaliação em Massa de lotes de terreno foram tratados sob a perspectiva de
formação de subconjuntos do mercado de imóveis, através da capacidade de estratificação de dados
de mercado e da modelagem da conformidade da curva de valor segundo a variação de escala dos
atributos dos lotes. Tal condição é proporcionada pela metodologia da EDO DEA. Por fim, comparou
os resultados dos resíduos relativos apurados com os encontrado pela tradicional metodologia da
Regressão Linear Múltipla.
Os dados tratados naquele artigo tiveram origem de trabalho elaborado para a atualização da
planta de valores genéricos (PVG) do município de Joinville, Santa Catarina (Silva (2005)). Para a
PVG, foram utilizados 1.189 dados georreferenciados em planta digital do município de Joinville. Em
face da limitação do software FRONTIER e da aplicação da estratificação dos dados, restaram ao
final 253 dados. A soma quadrática dos erros para a EDO ficou igual a 17.963.722,29, já
demonstrando um melhor ajuste em relação à Regressão Linear Múltipla, que alcançou o resultado
de 54.793.859,27.
No artigo do Congresso da UPAV 2004 foi apresentado um estudo de caso de Avaliação
Imobiliária pelo método comparativo direto de dados de mercado, com o objetivo de comparar a
aplicação da Regressão Linear Múltipla com o método da Envoltória sob Dupla Ótica – EDO. Pela
análise da soma quadrática dos erros, o método EDO-DEA alcançou 8.905.893.694,13, o que
demonstra um melhor ajuste em relação a Regressão Linear Múltipla, que alcançou o resultado de
13.699.067.006,39.
2. BASE METODOLÓGICA
O Método da Envoltória sob Dupla Ótica utiliza a formulação de dois modelos clássicos duais
DEA, com Retornos de Escala Constantes (CRS), desenvolvidos por Charnes, Cooper E Rhodes
(1978) e Retornos de Escala Variável (VRS), desenvolvidos por Banker et al. (1984). Para que isto
seja uma realidade foi feita a transposição do modelo insumo orientado (Novaes (2002)).
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Figura 1 Figura 2
O método da envoltória sob dupla ótica encapsula a massa de dados, lócus dos pontos
representativos da oferta e demanda de mercadorias (Debreu (1959)). No caso em foco, é
encapsulada uma determinada amostra de um mercado imobiliário, lócus dos pontos da oferta e
transação de imóveis, figura 3.
A variável dependente y (preço do imóvel) corresponde na ótica do vendedor ao produto
resultante da venda do imóvel, este como insumo da transação. Esse insumo é representado pelas
variáveis independentes, tais como localização, área privativa, padrão, idade, data da coleta de dados
e outras características Na ótica do comprador invertem-se a relação insumo e produto. Isto é, o
produto da transação x é o imóvel representado pelas variáveis independentes que representam as
características do imóvel e o insumo y, corresponde ao preço do imóvel da transação ou oferta.
Através da Programação Linear são definidas as superfícies envoltórias. Na Figura 1 representa-
se a Ótica do Vendedor que formula como função objetivo a maximização do preço do imóvel y
(produto da transação) segundo as restrições da combinação linear das características do imóvel, ver
equação 1 a seguir. Na figura 2 representa-se a Ótica do Comprador, que formula como função
objetivo a minimização do preço do imóvel y (insumo da transação) segundo as restrições da
combinação linear das características do imóvel, ver equação 3 a seguir.
A construção final do EDO-DEA é visualizável no R2 através da transposição do gráfico da figura
2 e de sua associação com o gráfico da figura 1, em um só gráfico, o da figura 3.
ÓTICA DO VENDEDOR
Y h' Y k
Superfície Produto-Orientado
Yk
Superfície Insumo-
Orientado
h Yk ÓTICA DO
COMPRADOR
X
Figura 3
O Método da Análise Envoltória sob Dupla Ótica – EDO-DEA foi desenvolvido para a
determinação da eficiência de unidades observadas a partir dos modelos clássicos DEA Produto-
orientado e Insumo-orientado aplicados simultaneamente. Como já foi adiantado, os produtos para o
modelo Produto-orientado, são os insumos para o modelo Insumo-orientado e vice-versa (Novaes
(2002)).
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λj≥ 0 ( j = 1,...n) µ≥ 0
h’ = 1/ h νi ≥ 0 ( i =1,....m )
Onde:
h = eficiência
Xj = vetor de atributos do imóvel j (insumo)
Xk = vetor de atributos do imóvel k (insumo)
Yj = preço do imóvel j (produto)
Yk = preço do imóvel k (produto)
λj = vetor dos pesos da combinação linear dos insumos e dos produtos de unidades eficientes
µ = vetor dos pesos de participação de cada produto na eficiência de cada unidade (no caso, como o
único produto é o preço, µ = 1)
ν = vetor dos pesos de participação de cada insumo na eficiência de cada unidade
v k* = vetor de unidades de folga do método de programação matemática
CRS = retorno constante de escala
VRS = retorno variável de escala
Onde:
h = eficiência
X = vetor de atributos dos imóveis (produtos)
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Até então a metodologia aplicada da EDO-DEA tem definido a curva de estimação dos
valores pela média dos valores projetados nas fronteiras EDO.
Σ ( Өj – Yobs j) = 0 (5)
sendo :
Өj = z (Yv j – Yc j) + Yc j ( j = 1, …,n) (6)
Өj ≥ 0
z≥0
ÓTICA DO VENDEDOR
Y 1/h'YJ
Superfície Produto-Orientado
Yo
k
Superfície Insumo-
Orientado
h Y j ÓTICA DO COMPRADOR
Figura 4
z = _Σ Yj - Σ hj Yj_ (9)
Σ ( 1 - hj’ ) Yj
h’j
4. CONCLUSÃO
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Analise Estatística dos Regressão Linear Valor Médio EDO CTC EDO
Erros Múltipla DEA DEA
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Figua 5 – Krigeagem dos valores observados Figura 6 – Krigeagem dos valores estimados por RLM
Figura 7 – Krigeagem valores estimados por CVM EDO Figura 8 – Krigeagem valores estimados por CTC EDO
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CTC EDO
Valor Valor Médio Valor Calculado
COORD_E COORD_N DEA
Observado EDO DEA Regressão
MIN(Σerros)
CTC EDO
COORD_E Valor Valor Médio Valor Calculado
COORD_N DEA
Observado EDO DEA Regressão
MIN(Σerros)
CTC EDO
Valor Valor Médio Valor Calculado
COORD_E COORD_N DEA
Observado EDO DEA Regressão
MIN(Σerros)
CTC EDO
Valor Valor Médio Valor Calculado
COORD_E COORD_N DEA
Observado EDO DEA Regressão
MIN(Σerros)
CTC EDO
Valor Valor Médio Valor Calculado
COORD_E COORD_N DEA
Observado EDO DEA Regressão
MIN(Σerros)
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