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PRO 2712 CONTROLE DA QUALIDADE

Controle Estatstico de Processo

PROF. ALBERTO W. RAMOS

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O QUE UM PROCESSO ?

conjunto de atividades executadas com um certo objetivo

ou finalidade
conjunto de causas que gera um (ou mais) efeitos

MEDIO MATERIAIS

MO DE OBRA

PRODUTO

MQUINAS

MTODOS MEIO AMBIENTE

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COMPONENTES DO PROCESSO
FORNECEDORES

ENTRADAS

PROCESSO

SADAS

CLIENTES

QUESTES ESTRATGICAS PARA QUALIDADE


1) Quem so os meus clientes ? 2) Quais so as suas necessidades ? 3) Como posso satisfaz-los ? 4) Como mant-los permanentemente satisfeitos ?

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O QUE SIGNIFICA CONTROLE ?


A palavra controle pode ter dois significados distintos:
sentido de vigilncia sentido de ajuda

SUBCONTROLE

PROBLEMAS COM CONTROLE

SUPERCONTROLE

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PREVENO x DETECO
CONTROLE DO PROCESSO (PREVENO)

ENTRADAS

PROCESSO

SADAS

AGIR E CORRIGIR

OBSERVAR OU MEDIR

ANALISAR E DECIDIR

AVALIAR E COMPARAR

CONTROLE DO PRODUTO (DETECO)

RUIM BOM

PROCESSO

SADAS

SELEO

OBSERVAR OU MEDIR

AGIR E CORRIGIR

AVALIAR E COMPARAR

ANALISAR E DECIDIR

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O QUE ESTATSTICA ?

Estatstica a cincia que estuda a variao. Auxilia a descobrir as causas de variao, permitindo tomar aes com base em fatos, e no opinies.

CAUSAS DE VARIAO: COMUNS E ESPECIAIS


18 16 14 12 10 8 6 4 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42 44 46 48 50 <- NVEL HISTRICO <- CAUSA ESPECIAL

ELIMINAO DE -> CAUSAS COMUNS NOVO NVEL ->

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COMPARAO ENTRE CAUSAS COMUNS E CAUSAS ESPECIAIS


CAUSAS ESPECIAIS Perdas Monetrias Pequenas Visibilidade do Grande - A problema natureza sbita chama a ateno de todos Ao Requerida Dados ASPECTO CAUSAS COMUNS Grandes Pequena - A natureza contnua faz com que todos se acostumem ao problema Restabelecer o Mudar para nvel nvel anterior melhor Simples, coleta Complexos, coleta rotineira e muito especial e pouco freqente freqente Simples e feita por Complexa e feita pessoal prximo ao por pessoal tcnico processo Executantes (pes- Planejadores (pessoal prximo ao soal da gerncia) processo)

Anlise

Responsabilidade pela Ao

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IMPACTO NO DESEMPENHO DO PROCESSO

A maioria dos problemas de qualidade tem a sua origem em causas comuns (problemas de projeto) e no em causas especiais (problemas de operao)

PROJETO

CAUSAS COMUNS

GERENTES

DESEMPENHO OPERAO CAUSA ESPECIAIS OPERADORES

Exemplos de causas especiais da variao


Lote isolado de matria-prima com problema Desregulagem ocasional do equipamento de produo Quebra de equipamento de medio

Exemplos de causas comuns de variao


Compra sistemtica de materiais com baixa qualidade Inexistncia de treinamento Falta de padronizao das operaes
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AUSNCIA DE CAUSAS ESPECIAIS

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ALGUNS EXEMPLOS DE EFEITOS DE CAUSAS ESPECIAIS

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VARIAO E PREVISIBILIDADE
NO EXISTEM NA NATUREZA DOIS OBJETOS QUE SEJAM ABSOLUTAMENTE IGUAIS. SEMPRE H VARIAO. CONTUDO, A VARIAO DEVIDA SOMENTE A CAUSAS COMUNS PREVISVEL.

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MELHORIA ATRAVS DO CEP

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Reviso de Estatstica

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CARACTERIZAO DA AMOSTRA
A) Medidas de Localizao (ou de Tendncia Central)
Mdia da Amostra (x-barra)
x= (xi ) ( i = 1, 2, 3..., n ) n

Onde: xi = valores obtidos na amostra n = nmero de elementos na amostra Exemplo: 12,1 12,5 11,7 13,1 12,5
x= 12,1 + 12,5 + 11,7 + 13,1 + 12,5 = 12,4 5

Mediana (x-til) Valor tal que metade dos elementos possuam medidas inferiores ao seu e a outra metade, superiores a este. Exemplo: 11,7 12,1 12,5 12,5 13,1 ~ x = 12,5

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B) Medidas de Disperso Varincia (s2)
(xi x ) 2 s = n1
2

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( i = 1, 2, 3, ...., n )

Onde: x = Mdia dos valores da amostra Exemplo: 12,1 12,5 11,7 13,1 12,5
(12,1 12,4) 2 + (12,5 12,4) 2 + .... s = = 0,27 4
2

Desvio-Padro (s) a raiz quadrada da varincia. Exemplo: 12,1 12,5 11,7 13,1 12,5
s = 0,52

Amplitude (R)

Diferena entre o maior e o menor valores da amostra


R = x max x min

Exemplo: 12,1 12,5 11,7 13,1 12,5


R = 13,1 - 11,7 = 1,4

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EXERCCIO - MDIAS E AMPLITUDES

Calcular as mdias e as amplitudes das amostras abaixo AMOSTRA 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 TOTAL VALORES 7 - 24 - 24 - 20 - 25 17 - 37 - 28 - 16 - 26 12 - 22 - 40 - 36 - 34 52 - 34 - 29 - 36 - 24 28 - 28 - 34 - 29 - 48 30 - 27 - 48 - 32 - 25 36 - 21 - 31 - 22 - 28 5 - 33 - 15 - 26 - 42 50 - 34 - 37 - 27 - 34 21 - 17 - 20 - 25 - 16 34 - 18 - 29 - 43 - 24 18 - 35 - 26 - 23 - 17 10 - 28 - 19 - 26 - 21 21 - 23 - 33 - 28 - 38 27 - 41 - 15 - 22 - 23 31 - 19 - 39 - 21 - 38 37 - 46 - 22 - 26 - 25 13 - 32 - 35 - 44 - 45 9 - 44 - 25 - 32 - 39 14 - 27 - 34 - 34 - 52 x-BARRA 20,0 24,8 28,8 35,0 33,4 32,4 27,6 24,2 36,4 19,8 29,6 23,8 20,8 28,6 R 18 21 28 28 20 23 15 37 23 9 25 18 18 17

567,4
R = k

475

x=

x 567,4 = = k

R=

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PRINCPIOS PARA GRFICOS DE CONTROLE EFICAZES

1. Os

grficos

sempre

utilizam

limites

de

controle

localizados distncia de trs desvios-padres da linha mdia.

2. O desvio-padro utilizado deve ser estimado com base na variao dentro da amostra.

3. Os dados devem ser obtidos e organizados em amostras (ou subgrupos) segundo um critrio racional.

4. O conhecimento obtido atravs dos grficos de controle deve ser empregado para tomada de aes

necessrias.

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OBSERVAES IMPORTANTES
Existem vinte amostras (k=20) de tamanho cinco (n=5) Enquanto que os valores individuais variam de um mnimo de 5 a um mximo de 52, as mdias (x-barra) variam de um mnimo de 19,8 a um mximo de 36,4, ou seja, as mdias apresentam menor variao que os valores individuais Cada valor obtido de x-barra representa uma estimativa da mdia do processo, mas feita com base em somente 5 valores (n=5) O valor x-duas barras uma estimativa melhor que cada x-barra, pois baseada num nmero maior de dados (20 x 5 = 100) O valor x-duas barras pode ser calculado como a mdia das 20 mdias (x-barras) ou, ento, como a mdia dos 100 valores individuais (x) Analogamente, R-barra uma estimativa melhor da variao do processo do que cada R Os valores x-duas barras como R-barra somente sero boas estimativas se o processo for estvel (previsvel ou sob controle)

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Grficos de Controle para Variveis

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GRFICOS DE CONTROLE
Objetivos Verificar se o processo estvel Manter o processo estvel Melhorar o desempenho do processo

Tipos de grficos de controle Variveis Medidas Atributos Contagem Classificao

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A BASE DE FUNCIONAMENTO DOS GRFICOS DE CONTROLE

Em um processo estvel, a grande maioria dos valores de uma caracterstica de qualidade deve cair no intervalo:

+/- 3.

LIMITES DE CONTROLE

LSC = + 3 . = ( x) + 3 . ( x) LM = = ( x) LIC = 3 . = ( x) 3 . ( x)

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GRFICOS DE CONTROLE PARA VARIVEIS

Quando so empregadas variveis no controle estatstico de processo, so necessrios dois grficos: um para controlar a centralizao do processo um para controlar a sua variabilidade (disperso)

Cada grfico de controle tem uma finalidade bem especifica e no substitui ao outro

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CONVENES

n = tamanho da amostra k = nmero (quantidade) de amostras = x = mdia das mdias das amostras (mdia global) _ s = desvio-padro amostral mdio _ R = amplitude amostral mdia
A2, A3, D3, D4, etc. = fatores de correo

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PROCEDIMENTO PARA CONSTRUO DE GRFICOS x-BARRA E R


COLETAR k AMOSTRAS DE TAMANHO n

= CALCULAR x _ ER

CALCULAR OS LIMITES DE CONTROLE

ANALISAR GRFICO R

ESTVEL?

NO

IDENTIFICAR, ELIMINAR E PREVENIR CAUSAS ESPECIAIS

SIM NO

ANALISAR _ GRFICO x

ESTVEL?

SIM

MONITORAR PROCESSO

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GRFICOS x-BARRA E R

GRFICO DA MDIA ( x )
( x) = x + A2 . R n

LSC x = ( x ) + 3 . ( x ) = x + 3 . LM x = ( x ) = x LIC x = ( x ) 3 . ( x ) = x 3 .

(x) = x A2 . R n

GRFICO DA AMPLITUDE ( R )
LSCR = ( R ) + 3 . ( R ) = D 4 . R LM R = ( R ) = R LICR = ( R ) 3 . ( R ) = D 3 . R

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GRFICOS x-BARRA E s

GRFICO DA MDIA ( x )
LSCx = x + A 3 . s LM x = x LICx = x A 3 . s

GRFICO DO DESVIO-PADRO ( s )
LSCs = B 4 . s LM s = s LICs = B 3 . s

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GRFICOS x E Rm

GRFICO DO VALOR INDIVIDUAL ( x )


LSCx = x + E 2 . Rm LM x = x LICx = x E 2 . Rm

GRFICO DA AMPLITUDE MVEL ( Rm )


LSCRm = D 4 . Rm LM Rm = Rm LICRm = D 3 . Rm

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SELEO DO GRFICO PARA VARIVEIS

n < 10 n>1 n > 10 VARIVEL

x-BARRA E R OU x-TIL E R

x-BARRA Es

n=1

x E Rm

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Anlise da Estabilidade do Processo

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REGRA BSICA

Os pontos devem se apresentar distribudos ao acaso (aleatoriamente), dentro dos limites de controle, para o processo ser considerado estvel.

Padres que indicam que o processo instvel: PONTO FORA DOS LIMITES DE CONTROLE Um nico ponto acima do LSC ou abaixo do LIC PRESENA DE CICLOS OU TENDNCIAS NOS PONTOS; Seis pontos consecutivos aumentando ou diminuindo ESTRATIFICAO OU FALTA DE VARIABILIDADE; Quinze pontos consecutivos prximos LM (tero mdio) Quatorze pontos consecutivos alternando-se para cima e para baixo SEQNCIA DE PONTOS PRXIMOS AO LSC OU LIC Oito pontos consecutivos fora do tero mdio Dois em trs pontos consecutivos no tero externo Quatro em cinco pontos consecutivos fora do tero mdio SEQNCIA DE PONTOS DO MESMO LADO DA LM Nove pontos consecutivos do mesmo lado da LM

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EXERCCIO - ANALISAR OS SEGUINTES GRFICOS QUANTO A ESTABILIDADE

LSC

LM

LIC

LSC

LM

LIC

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LSC

LM

LIC

LSC

LM

LIC

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LSC

LM

LIC

LSC

LM

LIC

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COMENTRIOS IMPORTANTES
Unindo-se os pontos facilita-se a visualizao
Existe uma infinidade de testes de no-aleatoriedade em

livros e artigos
A anlise visual ainda o melhor meio de deteco de

causas especiais de variao Somente com treinamento e prtica possvel identificar causas especiais com facilidade No enxergar fantasmas e bruxas onde no existem

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Estudos de Capacidade do Processo

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CAPACIDADE DE PROCESSO
Estudos de capacidade (ou capabilidade) tm por objetivo verificar se um processo gera produtos que atendem s especificaes de engenharia, em condies normais de operao. Para realizar um estudo de capacidade necessrio que: O PROCESSO SEJA (ESTATISTICAMENTE) ESTVEL AS MEDIDAS INDIVIDUAIS TENHAM DISTRIBUIO NORMAL

SE ESTAS DUAS RESTRIES NO FOREM OBEDECIDAS OS RESULTADOS DO ESTUDO FORNECERO INDICAES ERRADAS.

A verificao da estabilidade do processo feita atravs da anlise dos GRFICOS DE CONTROLE, enquanto que a aderncia dos valores individuais com a distribuio normal pode ser feita com o uso do PAPEL DE PROBABILIDADE NORMAL.

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PAPEL DE PROBABILIDADE NORMAL (PPN)

O PPN tem por objetivo verificar se os valores individuais de uma determinada caracterstica seguem a distribuio normal

EXEMPLO CLASSE 950 |- 955 955 |- 960 960 |- 965 965 |- 970 970 |- 975 975 |- 980 % 5 23 36 27 8 1 % ACUMULADA

40 35 30 25 20 15 10 5

950

955

960

965

970

975

980

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INTERPRETAO
HISTOGRAMA NORMAL PPN

ASSIMTRICO A ESQUERDA

ASSIMTRICO A DIREITA

ACHATADO

ALONGADO

BIMODAL

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NDICES DE CAPACIDADE DE PROCESSO

Para verificar se um processo capaz, so utilizados ndices de capacidade que comparam as especificaes de engenharia com a variao natural do processo

CONVENES ADOTADAS

= MDIA DO PROCESSO

= DESVIO-PADRO DO PROCESSO
x = MDIA GERAL DAS AMOSTRAS
R = AMPLITUDE MDIA DAS AMOSTRAS s = DESVIO-PADRO MDIO DAS AMOSTRAS

LIE = LIMITE INFERIOR DA ESPECIFICAO LSE = LIMITE SUPERIOR DA ESPECIFICAO

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NDICE CP

Cp =

LSE LIE LSE LIE LSE LIE = = 6. R s 6. 6. d2 c4

NDICE Cpk

CPk = MIN {CPI , CPS } CPI = LIE x LIE x LIE = = 3. R s 3. 3. d2 c4 LSE LSE X LSE X = = 3. R s 3. 3. d2 c4

CPS =

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INTERPRETAO DE Cp E Cpk
NDICE Cp

NDICE Cpk

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OBSERVAES IMPORTANTES Cp sempre maior ou igual a Cpk Quando o processo est centralizado, ou seja, a sua mdia est bem no meio da especificao, ento Cp = Cpk Sempre que Cpk < 1, h gerao de produtos no-conformes No caso de especificaes unilaterais, somente se utiliza o ndice Cpk Tanto Cp como Cpk s tm resultados vlidos se a distribuio dos valores individuais for normal

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Grficos de Controle para Atributos

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ATRIBUTOS
TIPOS: A) Grfico da Frao Defeituosa na Amostra (p) B) Grfico do Nmero de Defeituosos na Amostra (np) C) Grfico do Nmero de Defeitos na Amostra (c) D) Grfico do Nmero de Defeitos por Unidade (u)

Quando utilizar grficos de controle para atributos: a medio da caracterstica invivel ou antieconmica conveniente transformar uma varivel em atributo

CUIDADO !
Uma varivel sempre transmite muito mais informao do que um atributo

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CLASSIFICAO x CONTAGEM
Pergunta: a amostra tem alguma defeito ?

SIM

NO

SIM

SIM

NO

Atributos do tipo SIM/NO so analisados atravs de grficos do tipo p ou np

Pergunta: quantos defeitos tem a amostra ?

Atributos que consistem na contagem de defeitos so analisados atravs de grficos do tipo c ou u

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SELEO DO TIPO DE GRFICO

n CONSTANTE CLASSIFICAO n VARIVEL ATRIBUTO n CONSTANTE CONTAGEM n VARIVEL

p OU np

c OU u

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TAMANHO DE AMOSTRA
grficos de controle para atributos necessitam tamanhos de amostra maiores do que variveis tamanhos de amostra insuficientes trazem problemas na construo do grfico UM EXEMPLO ABSURDO
AMOSTRA 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
0.4 0.35 0.3 0.25 p 0.2 0.15 0.1 0.05 0 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 AMOSTRA

n 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3

d 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1

p 0,00 0,00 0,00 0,33 0,00 0,00 0,00 0,00 0,00 0,33

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TAMANHO DE AMOSTRA

Para que o tamanho de amostra seja suficiente, temos que observar as seguintes restries:

para grficos de controle do tipo p ou np _ n.p > 5 _ n.(1 - p) > 5 para grficos de controle do tipo c ou u _ c>5

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CONVENES
n = tamanho da amostra k = nmero (quantidade) de amostras d = nmero de defeituosos p = frao defeituosa _ p = frao defeituosa mdia c = nmero de defeitos _ c = nmero mdio de defeitos u = nmero de defeitos por unidade _ u = nmero mdio de defeitos por unidade

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FRAO DEFEITUOSA NA AMOSTRA (p)

p=

N. ITENS DEFEITUOSOS N.ITENS INSPECIONADOS

LSCP = p + 3 . LMP = p

p . (1 p) n

LICP = p 3 .

p . (1 p) n

OBSERVAO Se o limite inferior de controle (LIC) der negativo, ento adotar que este no existe.

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NMERO DE DEFEITUOSOS NA AMOSTRA (np)

np = nmero de defeitos encontrados na amostra Nmero mdio de defeitos na amostra


np = Total de defeitos Total de amostras

LSCnp = np + 3 . np (I p) LMnp = np LICnp = np 3 . np (I p)

OBSERVAO Se o limite inferior de controle (LIC) der negativo, ento adotar que este no existe.

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NMERO DE DEFEITOS NA AMOSTRA (c)


c = nmero de defeitos encontrados na amostra

Nmero mdio de defeitos na amostra


c= Total de defeitos Total de amostras

LSC c = m(c) + 3 . s(c) = c + 3 . c LMc = m(c) = c LIC c = m(c) 3 . s(c) = c 3 . c

OBSERVAO Se o limite inferior de controle (LIC) der negativo, ento adotar que este no existe.

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NMERO DE DEFEITOS POR UNIDADE (u)


u= Numero de defeitos c = Numero de unidade n

Nmero mdio de defeitos na amostra


u= Total de defeitos Total de unidades

LSCu = m(u) + 3 . s(u) = u + 3 . LMu = m(u) = u LICu = m(u) 3 . s(u) = u 3 .

u n

u n

OBSERVAO Se o limite inferior de controle (LIC) der negativo, ento adotar que este no existe.

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ANEXOS

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GRFICOS DE CONTROLE
Grfico de Controle mdia e amplitude
xR

Linha Mdia
x

Limites de Controle

LSC = x + A 2 .R LIC = x A 2 .R

R
x

LSC = D 4 .R LIC = D3 .R

mdia e desvio padro


xs

s
x

LSC= x + A 3 .s LIC = x A 3 .s LSC = B 4 .s LIC = B 3 .s


LSC = x +E 2 .R m LIC = x E 2 .R m LSC = D 4 .R m LIC = D3 .R m
LSC = p + 3. p.(1 p ) n p.(1 p ) LIC = p 3. n

valores individuais e amplitude mvel


x Rm

Rm

frao defeituosa
p

p nmero de defeitos na amostra c nmero de defeitos por unidade u

c u

LSC = c +3. c LIC = c 3. c


u n u LIC = u 3. n LSC= u +3.

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FATORES PARA CLCULO DE LIMITES DE CONTROLE n


2 3 4 5 6 7 8 9 10

A2 1,880
1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373 0,337 0,308

A3 2,695
1,954 1,628 1,427 1,287 1,182 1,099 1,032 0,975

E2 2,660
1,772 1,457 1,290 1,184 1,109 1,054 1,010 0,975

B3
B

0,030 0,118 0,185 0,239 0,284

B4 3,267
B

2,568 2,266 2,089 1,970 1,882 1,815 1,761 1,716

n
2 3 4 5 6 7 8 9 10

D3
0,076 0,136 0,184 0,223

D4
3,267 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777

D
0,709 0,524 0,446 0,403 0,375 0,353 0,338 0,325 0,314

c4
0,798 0,886 0,921 0,940 0,952 0,959 0,965 0,969 0,973

d2
1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078

FONTE: MONTGOMERY, D.C. Introduction to statistical quality control. 2 ed. New York, John Wiley, 1991.

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