DF, FCTUC v. 5.

1, Fevereiro 2014

ONDAS E ÓPTICA - Trabalho Prático nº 6

Interferência da luz por divisão de amplitude: INTERFERÓMETRO DE MICHELSON

ATENÇÃO: Nunca olhe directamente para o laser !

1. Objectivo
Estudar a interferência da luz por divisão de amplitude e o princípio de funcionamento de um interferómetro de
Michelson, bem como algumas das suas aplicações. Neste trabalho, utilizar-se-á o interferómetro de Michelson para
a medir : i) o comprimento de onda da luz de um laser e ii) o índice de refracção do ar em função da pressão.

2. Equipamento

Interferómetro de Michelson (Pasco Sci., OS-9255A); laser He-Ne (λ = 632,9865 nm).

3. Interferência por divisão de amplitude; Interferómetro de Michelson

Consideremos uma fonte de luz aproximadamente monocromática, polarizada linearmente, que emite um feixe de
raios paralelos que se propagam num meio não dispersivo, ao longo, por exemplo, do eixo dos x. As ondas
electromagnéticas1 são ondas planas representadas pelo vector campo eléctrico que lhe está associado:

E = E 0 cos ( kx - ωt )

E 0 = E 0 rˆ em que E0 é a amplitude da onda, r̂ é o vector unitário que define a direcção do vector campo eléctrico,

2π
kx - ωt é a fase da onda, ω=2πν é a frequência angular de vibração, k = êx é o vector nº de onda e λ é o
λ
comprimento de onda da luz. Num dado meio a frequência de vibração e o comprimento de onda estão relacionados
λν = v,
em que v=c/n é a velocidade de propagação da onda nesse meio, c é a velocidade da luz no vazio e n é o índice de
refracção do meio. Como a frequência de vibração da onda não depende do meio em que a onda electromagnética se
propaga, o comprimento de onda λ nesse meio é dado por λ = λ0/n em que λ0 é o comprimento de onda no vazio.
2π
Podemos, então, escrever que kx = nx . O produto Λ = nx é designado por percurso ou caminho óptico.
λ0

3.2 Sobreposição de ondas; interferência de dois feixes de luz

Quando dois feixes de luz se sobrepõem poderão dar origem a fenómenos de interferência desde que mantenham
uma relação de fase constante. Se a diferença de fase for um múltiplo par de π a interferência é construtiva e se a

1
Uma onda electromagnética é uma onda harmónica, transversa, que pode ser descrita pela variação no tempo e no espaço do vector campo
eléctrico que lhe está associado;
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diferença de fase for igual a um múltiplo ímpar de π a interferência diz-se destrutiva. Se as intensidades de ambos os
feixes forem iguais, a interferência destrutiva é total .

3.3 Interferência por divisão de amplitude; Interferómetro de Michelson

Se um feixe de luz incidir numa superfície parcialmente reflectora, parte do feixe é reflectido e parte é transmitido,
dando origem a dois feixes independentes. As ondas electromagnéticas
correspondentes à luz reflectida e transmitida têm amplitudes menores que a
amplitude da onda associada à luz incidente. Se os dois feixes se
recombinarem novamente, obtém-se um padrão de interferência uma vez
que existe uma correlação de fase muito elevada entre eles. Um exemplo de
interferência por divisão de amplitude é o interferómetro de Michelson cujo
princípio de funcionamento está ilustrado na Fig. 1. Ele é constituído
essencialmente por dois espelhos planos, M1 e M2, um deles móvel,
colocados aproximadamente à mesma distância de um divisor de feixe (BS) que faz um ângulo de 45º com a direcção
incidente. O feixe incidente atravessa o divisor de feixe e é dividido em dois feixes de intensidades iguais que seguem
trajectórias ortogonais: um dos feixes é transmitido segundo a direcção inicial e incide no espelho móvel M1
enquanto que o segundo feixe resulta da reflexão da luz numa das faces da placa divisora (neste caso, na superfície
interna) e emerge fazendo um ângulo de 90º com a direcção inicial, indo incidir no espelho fixo M2. Os feixes são
reflectidos nos espelhos M1 e M2 e voltam para trás, segundo a mesma direcção, em direcção à placa divisora. Parte
do feixe reflectido em M1 (∼50%) é reflectido na superfície externa da placa divisora seguindo em direcção ao alvo
enquanto que parte da luz reflectida em M2 é transmitida através da placa divisora seguindo também em direcção ao
alvo. Se estiverem criadas as condições adequadas, os dois feixes que emergem do divisor de feixe sobrepõem-se
formando no alvo um padrão de interferência.

A interferência construtiva (anel claro) surge num ponto do alvo para o qual a diferença de fase, δ, entre os dois
feixes é um múltiplo par de π, enquanto que uma interferência destrutiva total (anel escuro) surge quando
δ = (2m+1) π (m = 0,1,2,...). Esta diferença de fase é devida à diferença de percurso óptico2 dos dois feixes, ou
porque a distância física percorrida pelos dois feixes é diferente ou porque eles percorrem meios diferentes em parte
ou na totalidade do seu percurso. A diferença de fase no centro do padrão de interferência é dada por (ver Apêndice
I)
2π 2π
δ= ( Λ 2 − Λ1 ) + δ r = ( nar 2∆l+2ndiv d' ) + π
λo λo
em que Λ1 e Λ2 são os percursos (ou caminhos) ópticos, λo é o comprimento de onda no vazio, nar e ndiv são os índices
de refracção do ar e do divisor de feixe, respectivamente, 2d’ é a distância percorrida pelo segundo feixe dentro do
divisor de feixe, ∆l=l2-l1 é a diferença das distâncias dos espelhos ao divisor de feixe e δr = π é a diferença de fase
introduzida na reflexão3. A diferença de percurso óptico que surge pelo facto de o feixe 2 atravessar três vezes o

Percurso ou caminho óptico: Λ = n x , i.e., produto da distância percorrida pelo índice de refracção do meio.
2

Existe uma diferença de fase adicional entre os dois feixes, δr=π, devido à reflexão pois um dos feixes sofre uma reflexão interna (quando a
3

luz é reflectida na superfície interna da placa, ou seja, a luz passa de um meio mais denso para um meio menos denso) enquanto o outro
sofre uma reflexão externa (a luz é reflectida na superfície externa, ou seja, a luz passa de um meio menos denso para um meio mais denso).
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divisor de feixe enquanto o feixe 1 só o atravessa uma vez, pode ser compensada colocando no caminho do feixe 1,
uma placa de faces paralelas (placa compensadora) do mesmo material, com a mesma espessura e com a mesma
orientação relativamente ao feixe (Fig. 1). Neste trabalho, como se utiliza um laser (He-Ne) como fonte de luz, não é
necessário usar a placa compensadora em virtude da elevada coerência da luz laser. Para alargar o feixe, introduz-se
uma lente convergente entre o laser e a placa divisora (ver Fig. 1), observando-se neste caso um padrão de
interferência constituído por uma sucessão de franjas claras e escuras com a forma circular se o alinhamento for
perfeito.
Qualquer variação da diferença de fase entre os dois feixes: i) ou porque a distância que um ou os dois feixes
percorrem é alterada (por exemplo, movendo um dos espelhos) ; ii) ou porque se altera o meio atravessado por um
dos feixes (por exemplo, introduzindo uma placa transparente no percurso de um deles), vai-se traduzir numa
alteração do padrão de interferência.

i) Movimento do espelho M1 – medida do comprimento de onda do feixe incidente

Se se mover o espelho M1 em direcção ao divisor de feixe de uma distância λ/4, a distância percorrida pelo feixe
1 diminui de λ/2 (porque o feixe percorre o espaço entre o espelho e o divisor de feixe duas vezes, uma quando
se dirige ao espelho e outra quando é reflectido). O padrão de interferência altera-se e onde havia antes um
máximo de interferência (anel claro) passará a existir agora um mínimo (anel escuro). Se se deslocar o espelho
M1 novamente de λ/4 em direcção ao divisor de feixe, varia-se a distância percorrida novamente de λ/2 e o
padrão de interferência toma a forma inicial. No total houve uma variação de fase de 2π que corresponde à
variação de distância percorrida de λ. Medindo a distância percorrida pelo espelho e contando o número de
franjas claras (ou escuras) que passam através de um dado ponto do alvo de forma a manter sempre o padrão
inicial, podemos determinar o comprimento de onda da luz incidente. Ao alterar a posição do espelho de ∆l, a
distância percorrida por um dos feixes varia de 2∆l e há a criação (ou extinção) de N novas franjas, i.e., no total
há uma variação de fase de
2π
∆δ = 2π N = 2∆l
λ
2∆l
e λ= .
N
ii) Variação do índice de refracção de um dos meios – medida do índice de refracção do ar em função da
pressão:
Neste caso a variação do caminho óptico ocorre porque se interpõe no percurso de um dos feixes uma célula (de
dimensão fixa, conhecida) com cuja pressão pode ser variada. Ao variar a pressão, o índice de refracção varia,
λo
variando também o comprimento de onda da luz laser nessa célula, pois em qualquer meio λ= em que λο é
n
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4
o comprimento de onda no vazio . Para uma temperatura constante, e admitindo que não há humidade
significativa no ar, o índice de refracção do ar varia linearmente com a pressão de acordo com
p
n=1+α .
p0
p0 = 1013,25 hPa é a pressão atmosférica normal e α = 0,000272 para λ0 = 632,9865 nm e t = 20ºC.

A diferença de fase que resulta da variação do índice de refracção na célula é

2π
∆δ = (n f -ni )2a
λ0

em que a é a espessura de ar e ni e nf são os índices de refracção do ar para as pressões inicial e final,

respectivamente. Ao variar a pressão, o padrão de interferências vai-se alterar. Cada vez que há uma diferença
de fase de 2π, o padrão de interferência retoma a forma original e gera-se (ou extingue-se) um novo anel. A
passagem de N franjas (num dado ponto do alvo) corresponde a uma variação da diferença de fase de 2πN, i.e.,
4π
n f -ni a = 2π N
λ0 .
Se a câmara estiver inicialmente à pressão atmosférica e se formos diminuindo a pressão com uma pequena
λ0 N
bomba de vazio, n f = ni − , em que ni representa o índice de refracção do ar à pressão atmosférica. Se
2a
a câmara estiver inicialmente em vazio e se formos aumentando a pressão (deixando entrar ar
λ0 N
controladamente) n f = ni + e ni representa o índice de refracção do vazio.
2a

4. Questões pre-laboratoriais5

1. O que é o percurso óptico de uma onda electromagnética?

2. Qual deverá ser a diferença de percurso óptico entre duas ondas electromagnéticas que interferem para que se
observem franjas claras?
3. Num interferómetro de Michelson qual ou quais as origens das diferenças de fase observadas entre os dois
feixes que interferem?
4. Movendo um dos espelhos do interferómetro de Michelson, altera-se a diferença de percurso óptico dos dois
feixes que interferem. Qual deve ser o deslocamento do espelho móvel para que, num dado ponto do alvo, se
passe de uma franja clara para uma franja escura?

No vazio, λ = c em que c e ν são, respectivamente, a velocidade da luz no vazio e a frequência da radiação. Num meio qualquer com
4
o
ν
v c λo . A frequência da radiação é uma
índice de refracção n = c/v, em que v é a velocidade de propagação da luz nesse meio, λ= = =
ν nν n
constante em todos os meios atravessados.
5
Estas questões devem ser respondidas na folha incluída no Anexo II deste documento e entregues ao Professor no início da aula laboratorial.
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5. Procedimento e análise de dados:

O interferómetro já está alinhado podendo, no entanto, necessitar de pequenos ajustes. Ligue o laser e observe o
padrão de interferência que se forma no alvo. Verifique que as franjas de inteferência são aproximadamente
circulares na zona central. (Se houver necessidade de proceder a algum ajuste deve chamar o professor). Use uma
marca no alvo para servir de referência e utilize-a para contar as franjas que passam num ponto.

5.1 – Medida do comprimento de onda da luz laser

1. Coloque o micrómetro no meio da escala. Nesta zona a posição do espelho M1 varia linearmente com a posição
do micrómetro. Rode o parafuso micrométrico e observe a expansão (ou contracção) dos anéis. Observe o
parafuso micrométrico e verifique que 1 divisão da escala do micrómetro corresponde a 1 µm. Note que
quando roda o parafuso no sentido contrário ao dos ponteiros do relógio, o espelho aproxima-se do divisor de
feixe.
2. Tome nota da posição inicial do parafuso.
3. Dê uma volta completa do parafuso antes de começar a contar as franjas e depois continue rodando o parafuso
devagar, no mesmo sentido, à medida que conta o número de franjas que passam numa marca de referência.
4. Conte cerca de 20 franjas e pare, sempre num ponto tal que as franjas formadas no alvo estejam na mesma
posição que inicialmente. Anote a leitura do micrómetro e o nº de franjas, N. Repita o procedimento cerca de 7
vezes, deslocando o espelho sempre para o mesmo lado.
5. Preencha uma tabela com as posições sucessivas do micrómetro, o número de franjas que passaram entre
leituras e o nº total de franjas, N, que foram contadas (N ∼150).
6. Represente graficamente a variação da posição do espelho, ∆l, em função de N e extraia o valor do
comprimento de onda do laser e respectiva incerteza. Compare com o valor conhecido da luz laser que utilizou.

5.2 – Medida do índice de refracção do ar em função da pressão

1. Meça a espessura da célula de vazio e coloque-a entre o divisor de feixe e o espelho ajustável, de modo a que as
faces fiquem perpendiculares ao feixe. Se for necessário, ajuste o alinhamento de modo a ter o padrão de
interferência em boa posição no alvo;
2. Assegure-se que a célula está à pressão atmosférica6 ou evacue a célula o máximo possível e anote a posição do
manómetro, pman; a pressão absoluta na célula é
pabs = patm − pman
3. Diminua (ou aumente se partir da pressão mais baixa) lentamente a pressão na célula ao mesmo tempo que
conta as franjas que vão passando numa determinada marca do alvo.
4. Anote numa tabela pares de valores (N, pabs) (mais de 5);
5. Repita o procedimento e anote os novos pares de valores (N, pabs)
6. Sabendo que a espessura de cada uma das janelas da pequena câmara de gás/vazio é d = 3,18 ± 0,25 mm,
determine a espessura a da camada de ar e represente graficamente λοN/2a em função de pabs/p0 e compare
com a variação prevista. Obtenha o coeficiente α e a respectiva incerteza.
7. Comente os resultados obtidos.

6
O valor da pressão atmosférica terá de ser lido num barómetro.
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Bibliografia:
E. Hecht, "Óptica", Ed. C. Gulbenkian;
F. L. Pedrotti, L. S. Pedrotti, "Introduction
Introduction to Optics",
Optics 1992;
M. Ferreira, “Óptica e Fotónica”.

APÊNDICE I

r1 r2

Feixe 1: I1 – imagem de O dada por M1 : OM1 = x + l1 = M1I1

I3 – imagem de I1 dada por M3 : M 3I1 = M 3M1+M1I1= x + 2l1 = M 3I3

Feixe 2 : I’ – imagem de O dada por M3 : OM 3 = I ' M 3= x

I2 – imagem de I’ dada por M2 : I ' M 2 = x +l2 = M 2 I 2 ; I2 M 3 = x +2l2

Distância entre I2 e I3 : I2 I3 = I 2 M 3 -I3M 3=2 ( l2 − l1 ) = 2∆l

Diferença de percurso entre os raios r1 e r2 : d = 2∆l cos θ

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Anexo II - Questões pré-laboratoriais

TP 6 – Interferómetro de Michelson

Nome do aluno______________________________________________________

Data_______________; Turma PL___________

5. O que é o percurso óptico de uma onda electromagnética?

6. Qual deverá ser a diferença de percurso óptico entre duas ondas electromagnéticas que interferem para que se
observem franjas claras?

7. Num interferómetro de Michelson qual ou quais as origens das diferenças de fase entre os dois feixes que
interferem?

8. Movendo um dos espelhos do interferómetro de Michelson, altera-se a diferença de percurso óptico dos dois
feixes que interferem. Qual deve ser o deslocamento do espelho móvel para que, num dado ponto do alvo, se
passe de uma franja clara para uma franja escura?