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Procedimento de teste padrão do IEEE


para disjuntores de alta tensão CA
classificados em uma base de corrente
simétrica

Emenda 2: Para alterar a descrição da tensão de


recuperação transitória para harmonização com
a IEC 62271-100

Sociedade de Potência e Energia do IEEE

Patrocinado pelo Comitê de


Aparelhos de Mudança de
Via

IEEE
3 Park Avenue IEEE Std C37.09b™-2010
Nova York, NY 10016-5997 (Emenda ao
EUA IEEE Std C37.09™-1999)

13 de maio de 2011
Uso licenciado autorizado limitado a: DUKE UNIVERSITY. Baixado em 09 de outubro de 2012 às 12:21:58 UTC do IEEE Xplore. Aplicam-se
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IEEE Std C37.09b™-2010
(Emenda ao
IEEE Std C37.09™-1999)

Procedimento de teste padrão do IEEE


para disjuntores de alta tensão CA
classificados em uma base de corrente
simétrica

Emenda 2: Para alterar a descrição da tensão


de recuperação transitória para harmonização
com a IEC 62271-100

Patrocinador

Comitê de comutação
do
Sociedade de Potência e Energia do IEEE

Aprovado em 9 de dezembro de 2010


Conselho de Padrões do IEEE-SA

Aprovado em 18 de agosto de 2011

Instituto Nacional de Padrões Americanos

Uso licenciado autorizado limitado a: DUKE UNIVERSITY. Baixado em 09 de outubro de 2012 às 12:21:58 UTC do IEEE Xplore. Aplicam-se
Resumo: as descrições dos envelopes e classificações de tensão de recuperação de transientes
(TRV) padrão são alteradas nesta emenda. Isso é aplicável a disjuntores de alta tensão CA
classificados acima de 1000 V e em uma base de corrente simétrica. Os limites de capacidade
desses disjuntores são determinados, em grande parte, pela TRV. As descrições revisadas do
TRV colocam os requisitos do TRV nas normas do IEEE em harmonia com os requisitos do TRV
nas normas da IEC que se aplicam ao mesmo tipo e classe de equipamento. As revisões do TRV
abordadas nesta emenda ao IEEE Std C37.09-1999 estão descritas na emenda IEEE Std
C37.04b™- 2008.

Palavras-chave: disjuntores de alta tensão, IEEE C37.09b, tensão de recuperação transitória, TRV

Instituto de Engenheiros Elétricos e Eletrônicos, Inc. 3


Park Avenue, Nova York, NY 10016-5997, EUA

Copyright © 2011 do Instituto de Engenheiros Elétricos e Eletrônicos, Inc.


Todos os direitos reservados. Publicado em 13 de maio de 2011. Impresso nos Estados Unidos da América.

IEEE é uma marca registrada no U.S. Patent & Trademark Office, de propriedade do Institute of Electrical and Electronics
Engineers, Incorporated.

PDF: ISBN 978-0-7381-6513-4 STD97059


Impressão: ISBN 978-0-7381-6514-1 STDPD97059

O IEEE proíbe a discriminação, o assédio e o bullying. Para obter mais informações, visite
http://www.ieee.org/web/aboutus/whatis/policies/p9- 26.html.
Nenhuma parte desta publicação pode ser reproduzida de qualquer forma, em um sistema de recuperação eletrônica ou de outra forma,
sem a permissão prévia por escrito da editora.

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Os documentos de padrões do IEEE são desenvolvidos nas Sociedades do IEEE e nos Comitês de Coordenação de
Padrões do Conselho de Padrões da Associação de Padrões do IEEE (IEEE-SA). O IEEE desenvolve seus padrões por
meio de um processo de desenvolvimento consensual, aprovado pelo American National Standards Institute, que reúne
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necessariamente membros do Instituto e trabalham sem remuneração. Embora o IEEE administre o processo e
estabeleça regras para promover a justiça no processo de desenvolvimento de consenso, o IEEE não avalia, testa ou
verifica de forma independente a precisão de qualquer informação ou a solidez de qualquer julgamento contido em suas
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expresso no momento em que uma norma é aprovada e emitida está sujeito a alterações provocadas por
desenvolvimentos no estado da arte e comentários recebidos dos usuários da norma. Todo Padrão do IEEE é submetido
a uma revisão pelo menos a cada cinco anos para revisão ou reafirmação, ou a cada dez anos para estabilização.
Quando um documento tem mais de cinco anos e não foi reafirmado, ou mais de dez anos e não foi estabilizado, é
razoável concluir que seu conteúdo, embora ainda tenha algum valor, não reflete totalmente o estado atual da arte.
Recomenda-se aos usuários que verifiquem se possuem a edição mais recente de qualquer Padrão IEEE.

Ao publicar e disponibilizar este documento, o IEEE não está sugerindo ou prestando serviços profissionais ou outros
serviços para, ou em nome de, qualquer pessoa ou entidade. O IEEE também não está se comprometendo a cumprir
qualquer obrigação devida por qualquer outra pessoa ou entidade a outra. Qualquer pessoa que utilize este e qualquer
outro documento de Padrões do IEEE deve confiar em seu julgamento independente no exercício de um cuidado
razoável em qualquer circunstância ou, conforme apropriado, buscar a orientação de um profissional competente para
determinar a adequação de um determinado padrão do IEEE.

Interpretações: Ocasionalmente, podem surgir dúvidas com relação ao significado de partes das normas no que se refere
a aplicações específicas. Quando a necessidade de interpretações for levada ao conhecimento do IEEE, o Instituto
iniciará ações para preparar as respostas apropriadas. Como os Padrões do IEEE representam um consenso de interesses
envolvidos, é importante garantir que qualquer interpretação também tenha recebido a concordância de um equilíbrio
de interesses. Por esse motivo, o IEEE e os membros de suas sociedades e Comitês de Coordenação de Padrões não são
capazes de fornecer uma resposta instantânea às solicitações de interpretação, exceto nos casos em que o assunto tenha
recebido consideração formal anteriormente. Uma declaração, escrita ou oral, que não seja processada de acordo com o
Manual de Operações do Conselho de Padrões do IEEE-SA não deve ser considerada a posição oficial do IEEE ou de
qualquer um de seus comitês e não deve ser considerada, nem ser considerada, como uma interpretação formal do
IEEE. Em palestras, simpósios, seminários ou cursos educacionais, um indivíduo que apresente informações sobre as
normas do IEEE deve deixar claro que suas opiniões devem ser consideradas como opiniões pessoais desse indivíduo e
não como posição formal, explicação ou interpretação do IEEE.

Comentários para revisão dos Padrões do IEEE são bem-vindos de qualquer parte interessada, independentemente de
sua afiliação ao IEEE. As sugestões de alterações em documentos devem ser feitas na forma de uma proposta de
alteração de texto, juntamente com comentários de apoio apropriados. As recomendações para alterar o status de um
padrão estabilizado devem incluir uma justificativa do motivo pelo qual uma revisão ou retirada é necessária.
Comentários e recomendações sobre normas e solicitações de interpretações devem ser enviados para:

Secretário, Conselho de Padrões do


IEEE-SA 445 Hoes Lane
Piscataway, NJ 08854
EUA

A autorização para fotocopiar partes de qualquer norma individual para uso interno ou pessoal é concedida pelo The
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., desde que a taxa apropriada seja paga ao Copyright Clearance
Center. Para providenciar o pagamento da taxa de licenciamento, entre em contato com o Copyright Clearance Center,
Customer Service, 222 Rosewood Drive, Danvers, MA 01923 USA; +1 978 750 8400. A permissão para fotocopiar
partes de qualquer padrão individual para uso educacional em sala de aula também pode ser obtida por meio do
Copyright Clearance Center.

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Introdução

Esta introdução não faz parte do IEEE Std C37.09b-2010, IEEE Standard for Test Procedure for AC High-Voltage
Circuit Breakers Rated on a Symmetrical Current Basis - Amendment 2: To Change the Description of Transient
Recovery Voltage for Harmonization with IEC 62271-100.

Esta norma foi revisada para alterar o texto, as tabelas e as figuras referentes às descrições do TRV para
ficar consistente com o IEEE Std C37.04b-2008 (Emenda ao IEEE Std C37.04™-1999) intitulado "IEEE
Standard for Rating Structure for AC High-Voltage Circuit Breakers Rated on a Symmetrical Current
Basis" - Emenda 2: Para alterar a descrição da tensão de recuperação transitória para harmonização com a
IEC 62271-100.

As principais alterações implementadas nesta revisão da norma estão listadas a seguir:

⎯ A capacidade de TRV dos disjuntores de acordo com essa emenda à norma IEEE C37.09-1999 é
descrita por envelopes de 2 ou 4 parâmetros no lugar dos envelopes de 1-coseno e exponencial-
coseno.
⎯ Em todos os lugares em que as palavras "1-cosine" aparecem, elas são substituídas por "2-parameter".
⎯ Em todos os lugares em que as palavras "exponencial-coseno" aparecem, elas são substituídas por "4
parâmetros".
⎯ A Figura 6 foi redesenhada para substituir as formas de onda exponencial-coseno por formas de onda de 4
parâmetros.
⎯ A Figura 8 e a Figura 9 tiveram o rótulo alterado de "exponencial-coseno" para "4 parâmetros".
⎯ As unidades de teste 1, 2, 3, 4 e 5 são alteradas para T10, T30, T60, T100s e T100a, respectivamente.
⎯ Os conjuntos de testes 4a e 4b foram alterados para T100s a e T100s b.
⎯ Os conjuntos de teste 6 e 7 são alterados para T100s 1Ph e T100a 1Ph.
⎯ As tarefas de teste 8 e 9 são L75 e L90 (falhas de linha curta a 75% e 90%, respectivamente).
⎯ A tarefa de teste 10 é alterada para STC (corrente de curta duração).

Aviso aos usuários

Leis e regulamentos
Os usuários destes documentos devem consultar todas as leis e regulamentos aplicáveis. A conformidade
com as disposições desta norma não implica a conformidade com quaisquer requisitos regulamentares
aplicáveis. Os implementadores do padrão são responsáveis por observar ou consultar os requisitos
regulatórios aplicáveis. O IEEE não pretende, por meio da publicação de seus padrões, incentivar ações que
não estejam em conformidade com as leis aplicáveis, e esses documentos não podem ser interpretados
como tal.

Direitos autorais
Este documento é protegido por direitos autorais do IEEE. Ele é disponibilizado para uma ampla variedade
de usos públicos e privados. Isso inclui tanto o uso, por referência, em leis e regulamentos, quanto o uso em
auto-regulamentação privada, padronização e promoção de práticas e métodos de engenharia. Ao tornar
este documento disponível para uso e adoção por autoridades públicas e usuários privados, o IEEE não
renuncia a nenhum direito autoral sobre este documento.

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Atualização de documentos do IEEE
Os usuários dos padrões do IEEE devem estar cientes de que esses documentos podem ser substituídos a
qualquer momento pela emissão de novas edições ou podem ser alterados de tempos em tempos por meio
da emissão de emendas, corrigendas ou erratas. Um documento oficial do IEEE, em qualquer momento,
consiste na edição atual do documento juntamente com quaisquer emendas, corrigendas ou erratas em
vigor. Para determinar se um determinado documento é a edição atual e se foi alterado por meio da emissão
de emendas, corrigendas ou erratas, visite o site da Associação de Padrões do IEEE em
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/standards.jsp ou entre em contato com o IEEE no endereço listado
anteriormente.

Para obter mais informações sobre a IEEE Standards Association ou sobre o processo de desenvolvimento
de padrões do IEEE, visite o site da IEEE-SA em http://standards.ieee.org.

Errata
Erratas, se houver, para este e todos os outros padrões podem ser acessadas no seguinte URL:
http://standards.ieee.org/reading/ieee/updates/errata/index.html. Recomenda-se que os usuários verifiquem
periodicamente a existência de erratas nesse URL.

Interpretações
As interpretações atuais podem ser acessadas no seguinte URL:
http://standards.ieee.org/reading/ieee/interp/ index.html.

Patentes
Chama-se a atenção para a possibilidade de que a implementação deste padrão possa exigir o uso de
assuntos cobertos por direitos de patente. Com a publicação desta norma, nenhuma posição é tomada com
relação à existência ou validade de quaisquer direitos de patente relacionados a ela. O IEEE não é
responsável pela identificação de Reivindicações de Patentes Essenciais para as quais uma licença pode ser
exigida, por conduzir investigações sobre a validade legal ou o escopo das Reivindicações de Patentes ou
por determinar se quaisquer termos ou condições de licenciamento fornecidos em conexão com a
apresentação de uma Carta de Garantia, se houver, ou em quaisquer acordos de licenciamento são razoáveis
ou não discriminatórios. Os usuários deste padrão são expressamente avisados de que a determinação da
validade de quaisquer direitos de patente e o risco de violação de tais direitos são de sua inteira
responsabilidade. Mais informações podem ser obtidas na IEEE Standards Association.

v
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Participantes
No momento em que esse padrão do IEEE foi concluído, o Grupo de Trabalho TRV tinha os seguintes membros:
R. Kirkland Smith, Presidente
Robert J. Behl Kenneth S. Edwards Georges Montillet
William J. Bergman Leslie T. Falkingham Yasin I. Musa
Stan Billings Thomas E. Field Hugh Ross
Ivano Bonfanti Marcel Fortin John Ross
Anne Bosma Detlef Fredrich Roger A. Sarkinen
John H. Brunke Ruben D. Garzon Rod Sauls
Frank Chapman Charles R. Hampe, Jr. H. Mel Smith
Chih C. Chow Helmut Heiermeier David Stone
Pierre Denommee Richard Jackson Charles L. Wagner
Patrick Dilillo Paul P. Leufkens Terry Williams
Randall Dotson R. William Long Richard A. York
Denis Dufournet Antonio Mannarino Xi Zhu
Neil McCord

Os seguintes membros do comitê de votação individual votaram nesta norma. Os votantes podem ter
votado pela aprovação, reprovação ou abstenção.
Roy Alexander Kenneth Gettman Michael S. Newman
Mauricio Aristizabal Randall Groves Joe Nims
Adam Bagby Helmut Heiermeier T Olsen
Munnu Bajpai Gary Heuston Miklos Orosz
Robert Barnett Scott Hietpas Donald Parker
W. J. Bergman Stan David Horvath R Parry
Billings Wallace Dennis Horwitz David Peelo
Binder Thomas James Houston Paulette Payne Powell
Blair Frank Blalock Richard Jackson Iulian Profir
William Bloethe Anders Johnson Ryland Revelle
Anne Bosma Yuri Khersonsky Michael Roberts
Steven Brockschink Joseph L. Koepfinger Charles Rogers
Steven Brown Jim Kulchisky Steven Sano
Gustavo Brunello Saumen Kundu Bartien Sayogo
John H. Brunke Carl Kurinko Thomas Schossig
Ted Burse Chung-Yiu Lam Devki Sharma
Eldridge Byron Stephen Lambert Hyeong Sim
Yunxiang Chen Gerald Lee H. Mel Smith
Chih C. Chow Boyd Leuenberger James Smith
Tommy Cooper Jason Jy-Shung Lin R Kirkland Smith
John Crouse Hua Liu David Stone
Stephen Dare Albert Livshitz James Swank
J. Randall R. William Long S. Telander
Dotson Dana Thomas Lundquist Malcolm Thaden
Dufield Denis Greg Luri Norbert Trapp
Dufournet Keith Malmedal Michael Wactor
Douglas Edwards Frank Mayle Charles L. Wagner
Kenneth S. Edwards Nigel Mcquin Keith Wallace
Gary Engmann Peter Meyer Joe Watson
C. Erven Gary Michel James Wilson
Leslie T. Falkingham Georges Montillet Larry Yonce
Thomas E. Field Anne Morgan Richard A. York
Marcel Fortin Charles Morse Janusz Zawadzki
George Gela Jerry Murphy Xi Zhu
Yasin I. Musa Ahmed Zobaa
Jeffrey Nelson

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Quando o Conselho de Padrões do IEEE-SA aprovou este padrão em 9 de dezembro de 2010, ele tinha os
seguintes membros:

Robert M. Grow, presidente


Richard H. Hulett, vice-
presidente Steve M. Mills, ex-
presidente Judith Gorman,
secretária

Karen Bartleson Young Kyun Kim Ronald C. Petersen


Victor Berman Joseph L. Koepfinger* Thomas Prevost
Ted Burse John Kulick Jon Walter Rosdahl
Clint Chaplin David J. Law Sam Sciacca
Andy Drozd Hung Ling Mike Seavey
Alexander Gelman Oleg Logvinov Curtis Siller
Jim Hughes Ted Olsen Don Wright
*Membro Emérito

Também estão incluídos os seguintes contatos não votantes do Conselho de Padrões do IEEE-SA:

Satish Aggarwal, representante da NRC


Richard DeBlasio, representante do DOE
Michael Janezic, representante do NIST

Matthew Ceglia
Gerente do Programa de Padrões do IEEE, Desenvolvimento de Documentos

Michelle D. Turner
Gerente do Programa de Padrões do IEEE, Desenvolvimento do Programa Técnico

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Conteúdo

2. Referências normativas. ................................................................................................................................2

4. Testes de projeto. ..........................................................................................................................................2


4.7 Teste TRV. .............................................................................................................................................2
4.8 Testes de interrupção de corrente de curto-circuito ...............................................................................3
4.12 Testes de corrente de chaveamento fora de fase ..................................................................................8

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Procedimento de teste padrão do IEEE
para disjuntores de alta tensão CA
classificados em uma base de corrente
simétrica

Emenda 2: Para alterar a descrição da tensão


de recuperação transitória para harmonização
com a IEC 62271-100

AVISO IMPORTANTE: este padrão não se destina a garantir segurança, proteção, saúde ou proteção
ambiental. Os implementadores do padrão são responsáveis por determinar as práticas ou requisitos
regulatórios adequados de segurança, proteção, meio ambiente e saúde.

Este documento do IEEE é disponibilizado para uso sujeito a avisos importantes e isenções de
responsabilidade legais. Esses avisos e isenções de responsabilidade aparecem em todas as publicações
que contêm este documento e podem ser encontrados sob o título "Aviso importante" ou "Avisos
importantes e isenções de responsabilidade referentes a documentos do IEEE". Eles também podem ser
obtidos mediante solicitação ao IEEE ou visualizados em http://standards.ieee.org/IPR/disclaimers.html.

OBSERVAÇÃO - As instruções de edição contidas nesta emenda definem como mesclar o material contido nela com o
padrão básico existente e suas emendas e corrigendas para formar o padrão abrangente. As instruções de edição são
mostradas em negrito e itálico. São usadas quatro instruções de edição: alterar, excluir, inserir e substituir. A alteração
é usada para fazer correções em textos ou tabelas existentes. A instrução de edição especifica o local da alteração e
descreve o que está sendo alterado usando tachado (para remover material antigo) e sublinhado (para adicionar
material novo). Excluir remove o material existente. Inserir adiciona material novo sem alterar o material existente. As
inserções podem exigir renumeração. Nesse caso, as instruções de renumeração são fornecidas na instrução de edição.
Substituir é usado para fazer alterações em figuras ou equações, removendo a figura ou equação existente e
substituindo-a por uma nova. As instruções de edição, as marcações de alteração e esta NOTA não serão transferidas
para edições futuras porque as alterações serão incorporadas ao padrão básico.

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IEEE Std C37.09b-2010
Padrão IEEE para Procedimento de Teste para Disjuntores de Alta Tensão CA Classificados em uma Base de
Corrente Simétrica Emenda 2: Para Alterar a Descrição da Tensão de Recuperação Transitória para
Harmonização
com a norma IEC 62271-100

2. Referências normativas
Altere o título da Cláusula 2 conforme mostrado acima.

Substitua a frase introdutória da Cláusula 2 pelo seguinte:

Os seguintes documentos referenciados são indispensáveis para a aplicação deste documento (ou seja, eles
devem ser compreendidos e usados, portanto, cada documento referenciado é citado no texto e sua relação
com este documento é explicada). Para referências datadas, aplica-se apenas a edição citada. Para
referências não datadas, aplica-se a edição mais recente do documento referenciado (incluindo quaisquer
emendas ou corrigendas).

Altere as seguintes referências conforme mostrado abaixo:

IEEE Std C37.011-1994 2005, IEEE Application Guide for Transient Recovery Voltage for AC High-
Voltage Circuit Breakers Rated on a Symmetrical Current Basis.

Insira a seguinte referência em ordem alfabética, como deve aparecer na Cláusula 2:

IEC 62271-1 (Ed. 1.0)-2007, Aparelhagem de alta tensão e aparelhagem de controle - Parte 1: Especificações comuns.

IEC 62271-100 (Ed. 2.0)-2008, High-Voltage Switchgear and Controlgear - Part 100: Alternating-
Current Circuit-Breakers.

IEEE Std C37.04b™-2008, IEEE Standard for Rating Structure for AC High-Voltage Circuit Breakers
Rated on a Symmetrical Current Basis- Amendment 2: To Change the Description of Transient Recovery
Voltage for Harmonization with IEC 62271-100.

IEEE Std C37.06™-2009, IEEE Standard for AC High-Voltage Circuit Breakers Rated on a Symmetrical
Current Basis- Preferred Ratings and Related Required Capabilities for Voltages Above 1000 V (Padrão
IEEE para disjuntores de alta tensão CA classificados em uma base de corrente simétrica - Classificações
preferenciais e capacidades necessárias relacionadas para tensões acima de 1000 V).

Exclua as seguintes referências, conforme mostrado abaixo:

IEC 60056-1987, Disjuntores de corrente alternada de alta tensão.

IEC 60694-1996, Common Specifications for High-Voltage Switchgear and Controlgear Standards (Especificações
comuns para padrões de aparelhagem de alta tensão e de controle).

4. Testes de projeto

4.7 Teste TRV

Altere a frase como mostrado abaixo:

A capacidade de suportar TRVs nominais, conforme especificado na norma ANSI C37.06-1997 IEEE Std
C37.06-2009, para corrente simétrica nominal, é demonstrada durante a realização de testes de interrupção de
corrente de curto-circuito.

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Padrão IEEE para Procedimento de Teste para Disjuntores de Alta Tensão CA Classificados em uma Base de
Corrente Simétrica Emenda 2: Para Alterar a Descrição da Tensão de Recuperação Transitória para
Harmonização
com a norma IEC 62271-100

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Padrão IEEE para Procedimento de Teste para Disjuntores de Alta Tensão CA Classificados em uma Base de
Corrente Simétrica Emenda 2: Para Alterar a Descrição da Tensão de Recuperação Transitória para
Harmonização
com a norma IEC 62271-100

4.8 Testes de interrupção de corrente de curto-circuito

4.8.1.5 Tensão de recuperação

Altere o item b) conforme mostrado abaixo:

TRV. A TRV inerente do circuito de teste deve atender ou exceder os envelopes nominais, conforme
definido em IEEE Std C37.04-1999 IEEE Std C37.04b-2008. Os envelopes nominais são necessários para
correntes de curto-circuito simétricas nominais. Para correntes de curto-circuito diferentes das nominais, o
envelope deve ser ajustado para estabelecer os recursos, conforme estabelecido nas normas ANSI C37.06-
1997 e ANSI C37.06.1-1997 IEEE Std C37.04b-2008.

Altere a última frase do último parágrafo conforme mostrado abaixo:

O disjuntor deve ser considerado aprovado no teste se o TRV real medido atender ou exceder o TRV
inerente modificado (consulte IEC 60056-1987, Anexo F, IEEE Std C37.04b-2008, Anexo A).

Substitua a Figura 6 em 4.8.1.5 conforme mostrado abaixo:

Figura 6 - Um circuito de teste projetado para simular o efeito


da impedância de modificação do disjuntor

3
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Padrão IEEE para Procedimento de Teste para Disjuntores de Alta Tensão CA Classificados em uma Base de
Corrente Simétrica Emenda 2: Para Alterar a Descrição da Tensão de Recuperação Transitória para
Harmonização
com a norma IEC 62271-100

4.8.1.6 Condições de teste de falha de linha curta

Altere o quarto parágrafo desta subcláusula conforme mostrado abaixo:

O valor de pico E2 uc para o componente do lado da fonte do TRV é igual a onde Kaf × 0,816 × Ur onde Kaf
= Fator de amplitude = 1,4 para disjuntores acima de 100 kV ou 1,54 para disjuntores de classe S2 abaixo
de 100 kV. Essa amplitude é obtida somente para uma falta aterrada nos terminais do disjuntor. A reatância
de linha adicional é então usada para reduzir a corrente ao valor de teste. Essa reatância também reduz a
amplitude do componente do lado da fonte da TRV por um fator de 1 + (Kaf - 1)M.

Altere o parágrafo após a NOTA conforme mostrado abaixo:

A tensão de recuperação em dente de serra no transiente de falta em linha curta é atrasada pela capacitância
da subestação adjacente ao disjuntor e à linha. O atraso de tempo td é de 0,5 µs para disjuntores
classificados como 242 kV e acima, e de 0,2 µs para disjuntores classificados como abaixo de 242 kV
(consulte IEEE Std C37.04-1999). O retardo de tempo td é de 0,5 μs para disjuntores acima de 170 kV, é de
0,2 μs para disjuntores com classificação de 38 kV < Ur ≤ 170 kV e é de 0,1 μs para disjuntores com
classificação de 15 kV ≤ Ur ≤ 38 kV (consulte IEEE Std C37.04b-2008). A primeira tensão de pico no lado
da linha, e, e a taxa de aumento da tensão de recuperação no lado da linha, RL, são as mesmas calculadas
anteriormente, mas o tempo para a primeira tensão de pico é modificado.

Substitua a Tabela 1 pela seguinte, conforme mostrado abaixo:

Tabela 1 - Tarefas de teste monofásico ou trifásico para testes de corrente de


curto-circuito

Teste de Dever operacional Tensão Fazend I @ parte de %


funcioname de o I kA contato kA assimetria
nto teste (pk)
kV
T10 Três Os E 0.1 I Consulte
4.8.3.1
T30 Três Os E 0.3 I Consulte
4.8.3.1
T60 Três Os E 0.6 I Consulte
4.8.3.1
T100s O - t - CO -t' - CO ou E I < 20
T100s a e T100s b
T100sa C - t' - C E FxI
T100sb O - t - O -t' - O E I < 20
T100a Três Os E It veja 4.8.3.3 > 20
Testes monofásicos
T100s 1Ph O 0.58 V I < 20
T100a 1Ph O 0.58 V It Consulte > 20
4.8.3.4
Testes de falha de linha curta
monofásica
L75 Três Os 0.58 V 0,7 I a 0,8 I < 20
L90 Três Os 0.58 V 0,9 I a 0,95 I < 20
Teste de corrente de curta duração
(STC)
STC Posição fechada FxI I por T segundos

OBSERVAÇÃO - As tarefas de teste T10, T30, T60, T100s e T100a eram anteriormente as tarefas de teste 1, 2, 3, 4 e
5. As tarefas de teste T100s 1ph e T100a 1ph eram anteriormente as tarefas de teste 6 e 7. As tarefas de teste L75 e L90
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eram anteriormente as tarefas de teste 8 e 9. A com
tarefa de testeIEC
a norma STC era anteriormente a tarefa de teste 10.
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4.8.1.7 Condições iniciais do teste TRV

Substitua a Figura 8 e a Figura 9 nesta subcláusula conforme mostrado abaixo:

Figura 8 - Ilustração da TRV inicial no lado da fonte com tensão


transitória de falta em linha curta atrasada no tempo no lado
da linha

Figura 9 - Ilustração da TRV equivalente de falta em linha curta no lado da


linha sem a TRV inicial no lado da fonte

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Altere os três primeiros parágrafos após a Figura 9, conforme mostrado abaixo:

No caso de a TRV ME iniciali exceder o envelope de 4 parâmetros do transiente exponencial-coseno ou a


linha de referência para a corrente MI no momento (TL + td ), a TRV inicial do lado da fonte pode ser
simulada por um transiente de rampa linear do lado da linha sem atraso de tempo td (veja a Figura 8). O
pico do transiente do lado da linha também deve ser aumentado de modo que a tensão total de pico através
do disjuntor no momento (TL + td ) seja igual à soma da tensão normal de pico de falta em linha curta, e, e
da TRV ME iniciali .

A tensão de pico necessária no lado da linha e e o tempo até o pico com retardo são calculados conforme
explicado anteriormente em 4.8.1.6. A TRV inicial reduzida para a corrente de falta MI e a tensão total do
disjuntor são então determinadas no momento (TL + td ), conforme mostrado na Figura 8. Uma TRV
equivalente do lado da linha é então calculada assumindo apenas um exponencial-coseno de um envelope
de 4 parâmetros ou linha de referência para a corrente reduzida MI para o transiente do lado da fonte. A
tensão de teste de pico no lado da linha seria (e + ea ) e a tensão deveria subir linearmente até o valor no
momento (TL + td ) sem um atraso de tempo, conforme mostrado na Figura 9.

No caso de o transiente de 4 parâmetros exponencial-coseno reduzido para a corrente MI exceder MEi no


momento (TL + td ), o TRV inicial pode ser simulado por um transiente de rampa linear do lado da linha
sem atraso de tempo td e o pico deve ser simplesmente e no momento (TL + t ).d

4.8.3 Tarefas de teste

Altere o item a) conforme mostrado abaixo:

a) Tensão de teste, E (para tarefas de teste 1 a 5 T10 a T100a)

4.8.3.1 Tarefas de teste 1, 2 e 3 T10, T30 e T60

Alterar o título do item 4.8.3.1 conforme mostrado acima.

Altere a primeira frase do primeiro parágrafo do item 4.8.3.1 conforme mostrado abaixo:

As tarefas de teste 1, 2 e 3 T10, T30 e T60 mostradas na Tabela 1 consistem em pelo menos dois testes de
interrupção de corrente simétricos (< 20% dc) e um assimétrico (entre 40% e 60%) feitos com os valores de
corrente apropriados, em que I representa o valor nominal da corrente de interrupção de curto-circuito. A
critério do fabricante, os testes também podem ser realizados como um O - t - CO - t' - CO, desde que, para
duas operações de abertura, a corrente de teste seja simétrica no momento da parte de contato. No caso de
testes trifásicos, o requisito de simetria é aplicável somente a uma das fases.

Altere a segunda frase do parágrafo 2 do item 4.8.3.1 conforme mostrado abaixo:

O TRV do circuito usado nas tarefas de teste 1, 2 e 3 T10, T30 e T60 deve estar de acordo com o envelope
de capacidade relacionado fornecido no IEEE Std C37.04-1999 IEEE Std C37.04b-2008 e modificado de
acordo com os multiplicadores de TRV correspondentes fornecidos nos valores ANSI C37.06-1997 ou
ANSI C37.06.1-1997 no IEEE Std C37.06-2009.

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4.8.3.2 Tarefas de teste 4 Tarefas de teste T100s

Alterar o título do item 4.8.3.2 conforme mostrado acima:

Altere o primeiro e o terceiro parágrafos deste 4.8.3.2 conforme mostrado abaixo:

Tarefa de teste 4 A tarefa de teste T100s na Tabela 1 demonstra a tarefa de operação padrão e/ou o ciclo de
tarefa de religamento com capacidade nominal de curto-circuito, interrompendo uma corrente simétrica I do
valor nominal com uma tensão de recuperação de frequência de potência associada à tensão máxima
nominal e com um TRV de circuito definido pelo envelope de 4 parâmetros exponencial-coseno nominal
ou ajustado para disjuntores com classificação acima de 100 kV, ou pelo envelope de 2 parâmetros
exponencial-coseno nominal ou ajustado, um menos-coseno, para disjuntores com classificação de 100 kV
ou menos.

Caso não seja possível realizar o teste de funcionamento 4 do teste T100s conforme mostrado, devido a
limitações do laboratório de testes, os métodos alternativos 4a e 4b T100s a e T100s b podem ser aplicados.

4.8.3.3 Serviço de teste 5 Serviço de teste 100a

Alterar o título do item 4.8.3.3 conforme mostrado acima

Altere a primeira frase do primeiro parágrafo do item 4.8.3.3 conforme mostrado abaixo:

Teste de serviço 5 O teste de serviço T100a da Tabela 1 consiste em três operações de abertura
assimétricas realizadas com intervalo não superior a 15 minutos.

4.8.3.4 Tarefas de teste 6 e 7 Tarefas de teste T100s monofásico e T100a monofásico

Altere o texto do item 4.8.3.4 conforme mostrado abaixo:

Tarefas de teste 6 e 7 Tarefas de teste monofásico T100s 1Ph e T100a 1PH na Tabela 1 são testes
monofásicos feitos a 58% da tensão nominal máxima. Esses testes têm o objetivo de demonstrar a
capacidade do disjuntor de interromper uma falta monofásica à terra sob a condição de chaveamento mais
severa para o disjuntor.

Tarefas de teste 6 A tarefa de teste T100s 1Ph é realizada com uma corrente simétrica igual à corrente máxima
nominal simétrica rms e com um tempo de arco máximo, conforme indicado em 4.8.1.4.1.

Tarefa de teste 7 A tarefa de testeT100a 1Ph é realizada com uma corrente assimétrica com um
componente CC, que é determinado conforme descrito em 4.8.1.3, e um tempo máximo de arco
correspondente ao especificado em 4.8.1.4.2.

As tarefas de teste 6 e 7 T100s 1Ph e T100a 1Ph não são necessárias se as tarefas de teste 4 e 5 T100s e
T100a forem realizadas em uma base monofásica.

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4.8.3.5 Tarefas de teste 8 e 9 Tarefas de teste L75 e L90

Alterar o título do item 4.8.3.5 conforme mostrado acima:

Altere o texto do item 4.8.3.5 conforme mostrado abaixo:

As tarefas de teste 8 e 9 L75 e L90 na Tabela 1 são testes monofásicos feitos a 58% da tensão nominal máxima.
Esses testes têm o objetivo de demonstrar a capacidade de falha de linha curta do disjuntor.

4.8.4 Testes de corrente de curto-circuito requerem recursos relacionados

Altere o segundo parágrafo do item 4.8.4.1 conforme mostrado abaixo:

O teste pode ser realizado como parte do teste de serviço 4, teste de serviço T100s ou seus alternativos. A
parte de travamento do teste é demonstrada pela manutenção do fluxo de corrente após a operação de
fechamento por uma duração equivalente a pelo menos 10 ciclos da frequência de potência nominal.
Quando o fechamento e o travamento não forem realizados como parte do teste de serviço 4, após a
conclusão do teste de fechamento e travamento, o disjuntor deverá esfriar por pelo menos cinco minutos e,
em seguida, deverá ser aberto em condições sem carga para demonstrar que não ocorreu soldagem dos
contatos. O disjuntor terá sido aprovado no teste se a abertura for bem-sucedida.

4.12 Testes de corrente de comutação fora de fase

4.12.4 Tensão de teste

4.12.4.1 Monofásico

Altere o item c) conforme mostrado abaixo:

c) A TRV inerente do circuito de teste deve ter uma forma de onda de 2 parâmetros 1-cos com um valor de pico de 1,76
1,64 a 1,8 vezes o valor da tensão de teste E e um tempo de pico não superior a 2 vezes o tempo T2 t3 ,
conforme listado na Tabela 2B da ANSI C37.06-1997 da C37.04b para o disjuntor em teste.

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