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RESUMO
Esta experiência tem como objetivo um estudo dos elementos básicos do nosso universo de trabalho, ou
seja, as portas lógicas. Para isto serão efetuados estudos para determinar algumas características elétricas
destes componentes, como a curva de transferência de tensão, e características temporais, como os atrasos
de propagação. Serão estudados dispositivos TTL e CMOS.
OBJETIVOS
Após a conclusão desta experiência, os seguintes tópicos devem ser conhecidos pelos alunos:
Circuito digital como um componente real que usa eletrônica digital;
Características da curva de transferência de tensão de circuitos integrados de famílias diferentes;
Medida de parâmetros de tensão (VIL, VIH, VOL, VOH) e de tempos de propagação (tPLH, tPHL);
Comparação entre circuitos integrados CMOS e TTL.
1. INTRODUÇÃO
1.1. Portas Lógicas e Circuitos Integrados Digitais
As funções lógicas podem ser implementadas de maneiras diversas, sendo que no passado, circuitos com
relés e válvulas a vácuo foram utilizados na execução destas funções. Atualmente, circuitos integrados
(CIs) digitais funcionam como portas lógicas. Esses CIs contêm circuitos formados por resistores, diodos e
transistores miniaturizados, diferenciando-se dos circuitos integrados ditos analógicos pelo fato de que nos
digitais os transistores só possuem dois modos estáveis de operação (corte e saturação), ficando muito
pouco tempo nas regiões de transição. Dizemos, idealmente, que os transistores operam como chaves.
Um tipo popular de CI digital é ilustrado na Figura 1.1. Este modelo de invólucro é denominado
encapsulamento em linha dupla (dual-in-line package - DIP) pelos fabricantes de CIs. Este CI particular
seria então chamado circuito integrado DIP de 14 terminais (ou 14 pinos). O mesmo CI é, em geral,
oferecido comercialmente em vários tipos de empacotamento, cada um mais adequado a um tipo de
montagem mecânica ou ambiente de utilização, a critério do projetista que o utiliza. Além disso, cada
empacotamento possui determinadas características com relação à dissipação de calor.
Os fabricantes de CIs fornecem diagramas de pinos similares ao mostrado na Figura 1.2 - neste caso para
um CI 7400. Note que este circuito integrado contém quatro portas “NAND” de 2 entradas cada uma e é,
portanto, chamado de porta NAND quádrupla de 2 entradas. A Figura 1.2 mostra os terminais de CI
numerados de 1 a 14 no sentido anti-horário (visto pelo lado de cima) a partir do entalhe. As conexões de
alimentação do CI são os terminais GND (pino 7) e VCC (pino 14). Todos os outros pinos são as entradas
e saídas das quatro portas NAND.
O CI 7400 é parte de uma família de dispositivos, representando um dentre os muitos dispositivos da
família transistor-transistor-logic (TTL). Dispositivos de outras famílias lógicas, como o CMOS
(complementary metal-oxide-semiconductor), estão disponíveis e que apresentam a mesma funcionalidade
(p.ex. 74HC00). Os dispositivos TTL foram dispositivos lógicos largamente utilizados, contudo, atualmente,
eles ainda são muito usados para fins didáticos e os dispositivos CMOS passaram a ser mais empregados
em projetos de circuitos digitais. Há vários fabricantes de circuitos integrados TTL e estes publicam, em
forma de manuais (datasheets), as características funcionais e elétricas desses componentes.
A figura 1.4 apresenta a característica de transferência de tensão de uma porta TTL inversora típica. Para
tensões de entrada inferiores a Vb a saída apresenta uma tensão de saída constante igual a 4 V (nível lógico
UM). A partir de Vb, a saída começa a apresentar uma queda de tensão. Quando a tensão de entrada atinge
Vx, a queda se torna mais acentuada, chegando a um nível mínimo em V a. A partir deste valor, a saída
permanece constante (nível lógico ZERO).
Os valores de tensão do gráfico de característica de tensão da figura 1.4 são, aproximadamente, os
seguintes (estes valores podem variar de dispositivo para dispositivo):
Vb 0,7 V
Vx 1,0 V
Va 1,3V
Nível "UM" 4,0 V
Nível "ZERO" 0,3 V
Os níveis de tensão garantidos pelos fabricantes e que realmente mostram a compatibilidade entre os
membros da família são apresentados na Tabela I.
Analisando-se os valores de tensão constantes da Tabela I, pode-se concluir que os circuitos TTL admitem,
no pior caso, uma margem de ruído CC de 0,4V. Assim sendo, no pior caso, ao nível ZERO fornecido por
uma saída TTL pode-se somar um ruído de amplitude +0,4V, que o sinal resultante ainda é reconhecido
corretamente por uma entrada TTL; no nível UM fornecido por uma saída TTL, pode-se somar um ruído de
amplitude -0,4V, que o sinal resultante ainda se encontra dentro das especificações de entrada para nível
UM. Para valores de tensão compreendidos entre 0,8V e 2,0V, nada se garante com relação aos níveis
lógicos. A figura 1.5 resume estas considerações.
V OHMin
2,4
2,0 V IH Min
Níveis
Lógicos
V ILMax
0,8
0,4 V OLMax
Além da compatibilidade entre os níveis de tensão requeridos pelas entradas e fornecidos pelas saídas,
também é necessário examinar os valores das correntes absorvidas e fornecidas pelas entradas e saídas
dos circuitos integrados, tanto em nível UM como em nível ZERO. Para tanto considere o circuito de uma
porta lógica inversora TTL, apresentado na figura 6. Para analisar o circuito, notar que os transistores
apresentados trabalham somente nas regiões de corte e saturação e os valores de corrente contidos na
Tabela II seguem a seguinte convenção:
Corrente absorvida pela porta: positiva;
Corrente fornecida pela porta: negativa.
No circuito do inversor lógico da figura 1.6, quando a entrada estiver em nível UM, o transistor de entrada
T1e está no modo ativo reverso e uma pequena corrente de coletor circula no circuito pela base de T 2e. Este
valor é suficiente para saturar este transistor. A saturação de T 2e fornece uma corrente de base de T2s,
levando-o à também saturação e baixar a saída para um valor baixo (V CEsat). A tensão do coletor de T2e é
igual a VBE(T2s)+VCEsat(T2e) 0,9V. Isto garante que tanto o diodo como T 1s fiquem cortados. Assim, o
transistor T2s saturado estabelece uma tensão baixa na saída do inversor.
Quando a entrada estiver em nível ZERO, o transistor T 1e está saturado, uma vez que a junção base-
emissor está diretamente polarizada. Desta forma, a tensão na base de T 1e é de aproximadamente 0,9V e
a tensão na base de T2e é de aproximadamente 0,3V, que é insuficiente para levá-lo à condução. Tem-se
então que o transistor T2e está cortado. Com T2e cortado, a tensão na base de T2s é igual a 0V e desta
forma, T2s também está cortado. Com T2e cortado, não há corrente no coletor de T2e, então a base do
transistor T1s tem um valor suficiente para polarizar diretamente o diodo e T 1s. Nesta situação, T1e está
conduzindo e a tensão na saída é basicamente igual a do emissor. Se a saída estiver em aberto, o valor da
ensão de saída será aproximadamente 3,6V, devido a duas quedas de tensão de 0,7V (pela junção base-
emissor de T1s e pelo diodo).
Para maiores informações sobre a análise do circuito da porta inversora TTL, recomenda-se a consulta das
referências (Sedra e Smith, 2000) e (Tocci, Widmer e Moss, 2011).
Os parâmetros de corrente, entretanto, são válidos somente para entradas e saídas típicas, semelhantes
às da porta analisada. Como existem alguns circuitos integrados TTL da série 74 que apresentam aquelas
correntes com valores diferentes e, também, para facilitar o projeto de sistemas que utilizam outras séries
da família TTL, foram definidos os seguintes parâmetros:
Carga Unitária TTL (UL):
§ UL = 40 A para nível UM;
§ UL = 1,6 mA para nível ZERO.
Fan-in - número de cargas unitárias que podem ser fornecidas pela entrada.
Fan-out - número máximo de cargas unitárias que podem ser fornecidas pela saída sem que o
circuito deixe de funcionar.
Da Tabela II conclui-se que uma saída TTL pode excitar até 10 entradas da mesma família (fan-out). Outra
especificação importante fornecida pelos fabricantes dos circuitos TTL diz respeito à máxima tensão que
pode ser aplicada às entradas. Para a série 74, é recomendado não se colocar níveis de tensão superiores
a 5,5V, pois o circuito pode ser danificado se uma entrada receber uma tensão superior a este valor.
A curva de transferência de tensão de um inversor CMOS é apresentada na figura 1.8 abaixo. Quando os
dois transistores estão casados, ou seja, quando ambos são projetados com parâmetros de
transcondutância idênticos, esta curva é simétrica (Sedra e Smith, 2000). Desta forma, o limiar de transição
𝑉
Vth do inversor está em 𝐷𝐷⁄2.
Quando ocorre o casamento dos transistores em um inversor CMOS, as margens de ruído MR H e MRL
tornam-se iguais e podem ser de aproximadamente 0,4 VDD. Estas margens de ruído próximas à metade
da tensão de alimentação fazem com que o inversor CMOS tenha um comportamento estático bem próximo
do inversor ideal em relação à imunidade a ruídos.
Outras características elétricas dos componentes CMOS podem ser encontradas nas referências (Tocci,
Widmer e Moss, 2011) e (Sedra e Smith, 2000).
90%
10%
tr
Tempo de descida ("Fall time" - tf) - intervalo de tempo necessário para que um sinal vá de 90% de
seu valor em tensão até 10% do seu valor em tensão (figura 1.10).
tf
90%
10%
Tempo de Atraso ("Delay time" - td) - intervalo de tempo decorrido entre uma variação de sinal na
entrada e a correspondente variação na saída; toma-se como referência o ponto de 50% do valor de
tensão, conforme mostrado na figura 1.11.
Figura 1.11 - Tempo de Atraso.
Entrada
50%
50%
Saída
td
Tempo de propagação ("Propagation time" – tp) - intervalo de tempo decorrido entre uma variação
de sinal na entrada e a correspondente variação na saída; é calculado através da média aritmética dos
tempos de propagação para variação do sinal de saída de BAIXO para ALTO (t PLH) e de ALTO para
BAIXO (tPHL), definidos conforme mostrado na figura 1.12.
50%
50%
Saída
tPLH tPHL
As características acima citadas, aliadas a fatores tais como, o não sincronismo de eventos, podem levar à
geração de sinais indesejáveis em projetos aparentemente corretos. Para que se possa contornar essa
situação deve-se conhecer profundamente todas as características dos componentes que serão utilizados.
Estas outras famílias não serão tratadas nesta disciplina, mas os conceitos gerais desenvolvidos para os
CIs das famílias TTL e CMOS são prontamente utilizados para estas outras famílias.
2. PARTE EXPERIMENTAL
2.1. Atividades Pré-Laboratório
Faça uma pesquisa bibliográfica sobre os componentes TTL e CMOS. Por exemplo, use os manuais dos
componentes 7400 (TTL), 74HC00 (CMOS) e 4011 (CMOS) ou consulte um livro-texto sobre Eletrônica
Digital.
Prepare o planejamento de forma a verificar experimentalmente estes valores, pois eles serão usados na
parte experimental a ser executada no Laboratório Digital.
d) Curva característica de transferência de tensão. Com Vcc próximo a 5,0V, varie a tensão da fonte
ajustável conectada às entradas A e B, desde 0V até 5,0V e levante a curva característica de
transferência de tensão como mostrada na figura 1.3.
DICAS: elabore um gráfico com os dados medidos e anote o valor de Vcc (medido no pino do
componente) usado no procedimento experimental. Use uma fonte de alimentação variável nas
entradas da porta em análise e uma das entradas auxiliares F1 ou F2 do painel de montagens.
e) A partir do gráfico obtido, localize na curva experimental os pontos referentes aos parâmetros de tensão
VILmax, VIHmin. Comente os valores obtidos.
f) Entrada em aberto. Desconecte as entradas A e B, deixando-as sem ligação alguma. Realize a
medida dos níveis de tensão nas entradas A e B do componente com um multímetro digital. Medir
também o valor da tensão na saída Y. Qual é o nível lógico das entradas A e B correspondente ao nível
lógico da saída Y medida? Justifique no relatório os níveis obtidos (tome por base a figura 1.4).
k) Realize a montagem do ensaio apresentado na figura 2.2 para os componentes TTL e CMOS.
m) Estime o tempo de propagação tP de cada porta lógica estudada, tendo como base as características
observadas do sinal no ponto X.
n) Compare os valores pesquisados e experimentais. Comente.
o) (DESAFIO) Varie o número de portas em anel para 5, 7 ou mais. Que formas de onda foram obtidas?
Compare.
1. De acordo com o estudo dos intervalos de tensão para cada nível lógico, qual seria o resultado de se misturar
componentes de tecnologias diferentes em uma montagem experimental?
2. O resultado do estudo com entradas em aberto mostram o nível lógico considerado pelo componente de acordo com
a tecnologia adotada. A troca de um componente por outro em circuito digital pode influenciar o seu funcionamento
de acordo com o componente usado?
3. Qual foi o componente estudado mais rápido?
4. Caso fosse necessário criar um bloco de retardo usando portas lógicas semelhantes aos estudados, qual é o número
de portas necessário para se atrasar uma onda quadrada por pelo menos 45 ns? Justifique sua resposta.
5. Explique o funcionamento do circuito em anel da figura 2.2.
1
Não usar o componente 74HCT00, pois ele pertence a uma família de componentes CMOS com níveis de tensão
compatíveis com as famílias TTL.
3. BIBLIOGRAFIA
FREGNI, Edson e SARAIVA, Antonio M. Engenharia do Projeto Lógico Digital: Conceitos e
Prática. Editora Edgard Blücher Ltda, 1995.
MORRIS, Robert L. e MILLER, JOHN, R. (eds.) Projeto de Circuitos Integrados TTL. Editora
Guanabara Dois, 1978.
SEDRA, Adel S. e SMITH, Kenneth C. Microeletrônica. 4ª edição, Makron Books, 2000.
SIGNETICS. TTL Logic Data Manual, 1982.
TEXAS INSTRUMENTS. The TTL Logic Data Book, 1994.
TOCCI, R. J.; WIDMER, N.S.; MOSS, G.L. Sistemas Digitais: Princípios e Aplicações.
Prentice-Hall, 11a ed., 2011.
WAKERLY, John F. Digital Design Principles & Practices. 4th edition, Prentice Hall, 2006.
4. MATERIAL DISPONÍVEL
Circuitos Integrados TTL:
7400 (TTL), 74HC00 e 4011 (CMOS).
5. EQUIPAMENTOS NECESSÁRIOS
1 painel de montagens experimentais.
1 fonte de alimentação fixa, +5V 5%, 4A.
1 fonte de alimentação variável de 0 a 5V 5%, 4A.
1 osciloscópio digital.
1 multímetro digital.
1 gerador de pulsos.
Histórico de Revisões
E.T.M./2001 (revisão)
R.C.S./2002 (revisão)
E.T.M./2003 (revisão da parte experimental)
E.T.M./2004 (revisão)
E.T.M./2005 (revisão)
E.T.M./2011 (revisão)
E.T.M./2012 (revisão da parte experimental)
E.T.M./2013 (revisão)
E.T.M./2014 (revisão da parte experimental)
E.T.M./2015 (revisão da parte experimental)