Estudo de Tendência [Bias]

(Método da amostra independente)

Sistema de
Operador:
Medição:
Resolução: 0.1 Avaliador: Data: 17/11/10
Padrão: 6.000 Dimensão: 6.00 Tolerância: 0.50

VALOR DE REFERÊNCIA
6.000
MEDIÇÕES PARA ANÁLISE
Caso seja usado um padrão calibrado ou Inspeção de Layout

PEÇA PADRÃO AMOSTRA

Medição Resultado Medição Resultado Tendência

1 6.010 1 6.000 0.000
2 2 6.000 0.000
3 3 6.000 0.000
4 4 6.000 0.000
5 5 6.000 0.000
6 6 6.100 0.100
7 7 6.000 0.000
8 8 6.100 0.100
9 9 6.000 0.000
10 10 6.000 0.000
Valor de 11 6.000 0.000
Referência 6.010
12 6.000 0.000
Medir na Metrologia 13 6.000 0.000
Utilizar CMM ou EMM de classe superior 14 6.000 0.000
15 6.000 0.000

MÉDIA 6.0133 0.01333

Medir de acordo com o procedimento

15 HISTOGRAMA
CURVA DE TENDÊNCIA
14
13
12 14
11
10 12
9
8 10
7
FREQÜÊNCIA

6 8
5
4 6
3
2 4
1
0
2
5.600

5.700

5.800

5.900

6.000

6.200

6.300

6.400

6.500
5.500

6.100

0
5.500

5.600

6.000
5.700

5.800

5.900

6.100

6.200

6.300

6.400

6.500

VARIAÇÃO
 5

FREQ
4 6
3
2 4
1
0
2

5.600

5.700

5.800

5.900

6.000

6.200

6.300

6.400

6.500
5.500

6.100
0

5.500

5.600

6.000
5.700

5.800

5.900

6.100

6.200

6.300

6.400

6.500
VARIAÇÃO

Desvio Padrão
Erro Padrão da
n (m) Média da
média
Repetibilidade O sistema está OK
Valor medido 15 6.0133 0.03519 0.00909

Intervalo da Confiança da %VE

Graus de Valor t Tendência - 95%
t-Estatístico Tendência
Liberdade (bi-caudal)
Inferior Superior Equipamento de medição OK
Valor medido 1.468 14 2.14479 0.01333 -0.0062 0.0328
sigma b
0.0090851353
tendência
0.0133 Deincerteza
VALOR DE 0t
1.4675987714
2.1447866879
REFERÊNCIA
-0.500
HISTOGRAMA
5.500 acordo
-0.400
5.600
0 com a tabela
0 (t) padrão
-0.300
5.700 -0.200
5.800
0 -0.100
5.900
0 0.000
0
15
6.000
13 0.100
02
6.100
6.100

6.200

DÊNCIA
6.300

0.50
17/11/10
6.400

6.500
 6.100

6.200

6.300

6.400

6.500

ma está OK

7.04

Equipamento de medição OK

0.200
0
6.200 0
### 0.400
0
6.400 15