CEP - Prof. Alberto Ramos

PRO 2712 CONTROLE DA QUALIDADE 1
PROF. ALBERTO W. RAMOS

Controle
Estatstico de
Processo

O QUE UM PROCESSO ?

conjunto de atividades executadas com um certo objetivo
ou finalidade

conjunto de causas que gera um (ou mais) efeitos

PRODUTO
MO DE OBRA
MQUINAS
MATERIAIS
MTODOS
MEDIO
MEIO AMBIENTE

COMPONENTES DO PROCESSO

FORNE-
CEDORES
ENTRADAS
PROCESSO
SADAS
CLIENTES

QUESTES ESTRATGICAS PARA QUALIDADE

1) Quem so os meus clientes ?
2) Quais so as suas necessidades ?
3) Como posso satisfaz-los ?
4) Como mant-los permanentemente satisfeitos ?


O QUE SIGNIFICA CONTROLE ?

A palavra controle pode ter dois significados distintos:

sentido de vigilncia

sentido de ajuda

PROBLEMAS
COM
CONTROLE
SUBCONTROLE
SUPERCONTROLE


PREVENO x DETECO

CONTROLE DO PROCESSO (PREVENO)

PROCESSO ENTRADAS SADAS
OBSERVAR
OU MEDIR
AGIR E
CORRIGIR
AVALIAR E
COMPARAR
ANALISAR
E DECIDIR

CONTROLE DO PRODUTO (DETECO)

PROCESSO SADAS
OBSERVAR
OU MEDIR
AVALIAR E
COMPARAR
SELEO
AGIR E
CORRIGIR
ANALISAR
E DECIDIR
BOM
RUIM

O QUE ESTATSTICA ?

Estatstica a cincia que estuda a variao. Auxilia a
descobrir as causas de variao, permitindo tomar aes
com base em fatos, e no opinies.

CAUSAS DE VARIAO: COMUNS E ESPECIAIS

4
6
8
10
12
14
16
18
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42 44 46 48 50
<- CAUSA ESPECIAL
ELIMINAO DE ->
CAUSAS COMUNS
<- NVEL HISTRICO
NOVO NVEL ->


COMPARAO ENTRE CAUSAS COMUNS E
CAUSAS ESPECIAIS

ASPECTO CAUSAS
ESPECIAIS
CAUSAS
COMUNS
Perdas Monetrias Pequenas Grandes
Visibilidade do
problema
Grande - A
natureza sbita
chama a ateno
de todos
Pequena - A
natureza contnua
faz com que todos
se acostumem ao
problema
Ao Requerida Restabelecer o
nvel anterior
Mudar para nvel
melhor
Dados Simples, coleta
rotineira e muito
freqente
Complexos, coleta
especial e pouco
freqente
Anlise Simples e feita por
pessoal prximo ao
processo
Complexa e feita
por pessoal tcnico
Responsabilidade
pela Ao
Executantes (pes-
soal prximo ao
processo)
Planejadores (pes-
soal da gerncia)


IMPACTO NO DESEMPENHO DO
PROCESSO

A maioria dos problemas de qualidade tem a sua origem
em causas comuns (problemas de projeto) e no em
causas especiais (problemas de operao)

PROJETO
OPERA-
O
DESEM-
PENHO
CAUSAS
COMUNS
CAUSA
ESPE-
CIAIS
GEREN-
TES
OPERA-
DORES

Exemplos de causas especiais da variao

Lote isolado de matria-prima com problema
Desregulagem ocasional do equipamento de produo
Quebra de equipamento de medio

Exemplos de causas comuns de variao

Compra sistemtica de materiais com baixa qualidade
Inexistncia de treinamento
Falta de padronizao das operaes

AUSNCIA DE CAUSAS ESPECIAIS


ALGUNS EXEMPLOS DE EFEITOS DE
CAUSAS ESPECIAIS


VARIAO E PREVISIBILIDADE

NO EXISTEM NA NATUREZA DOIS OBJ ETOS QUE SEJ AM
ABSOLUTAMENTE IGUAIS. SEMPRE H VARIAO.

CONTUDO, A VARIAO DEVIDA SOMENTE A CAUSAS
COMUNS PREVISVEL.


MELHORIA ATRAVS DO CEP


Reviso de
Estatstica

CARACTERIZAO DA AMOSTRA

A) Medidas de Localizao (ou de Tendncia Central)

Mdia da Amostra (x-barra)

x
x
n
i n
i
= =
( )
( , , ..., ) 1 2 3

Onde:
=valores obtidos na amostra x
i
n

=nmero de elementos na amostra

Exemplo: 12 1 12 11 13 1 12 , ,5 ,7 , ,5

x =
+ + + +
=
12 1 12 11 13 1 12
5
12
, ,5 ,7 , ,5
,4

Mediana (x-til)

Valor tal que metade dos elementos possuam medidas
inferiores ao seu e a outra metade, superiores a este.

Exemplo: 11 12 1 12 12 13 1 ,7 , ,5 ,5 ,

~
x = 12,5

B) Medidas de Disperso

Varincia (s
2
)

s
x x
n
i n
i 2
2
1
1 2 3 =

=
( )
( , , , . . . . , )

Onde:
x

=Mdia dos valores da amostra

Exemplo: 12 1 12 11 13 1 12 , ,5 ,7 , ,5

s
2
2 2
12 1 12 12 12
4
0,27 =
+ +
=
( , ,4) ( ,5 ,4) ....

Desvio-Padro (s)

a raiz quadrada da varincia.

Exemplo: 12 1 12 11 13 1 12 , ,5 ,7 , ,5

s = 0,52

Amplitude (R)

Diferena entre o maior e o menor valores da amostra

R x x
max min
=

Exemplo: 12 1 12 11 13 1 12 , ,5 ,7 , ,5

R = 13,1 - 11,7 = 1,4


EXERCCIO - MDIAS E AMPLITUDES

Calcular as mdias e as amplitudes das amostras abaixo

AMOSTRA VALORES x-BARRA R
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
7 - 24 - 24 - 20 - 25
17 - 37 - 28 - 16 - 26
12 - 22 - 40 - 36 - 34
52 - 34 - 29 - 36 - 24
28 - 28 - 34 - 29 - 48
30 - 27 - 48 - 32 - 25
36 - 21 - 31 - 22 - 28
5 - 33 - 15 - 26 - 42
50 - 34 - 37 - 27 - 34
21 - 17 - 20 - 25 - 16
34 - 18 - 29 - 43 - 24
18 - 35 - 26 - 23 - 17
10 - 28 - 19 - 26 - 21
21 - 23 - 33 - 28 - 38
27 - 41 - 15 - 22 - 23
31 - 19 - 39 - 21 - 38
37 - 46 - 22 - 26 - 25
13 - 32 - 35 - 44 - 45
9 - 44 - 25 - 32 - 39
14 - 27 - 34 - 34 - 52
20,0
24,8
28,8
35,0
33,4
32,4
27,6
24,2
36,4
19,8
29,6
23,8
20,8
28,6
18
21
28
28
20
23
15
37
23
9
25
18
18
17

TOTAL - 567,4 475

x
x
k
R
R
k
= = = = =
=
567,4


PRINCPIOS PARA GRFICOS DE
CONTROLE EFICAZES

1. Os grficos sempre utilizam limites de controle
localizados distncia de trs desvios-padres da linha
mdia.

2. O desvio-padro utilizado deve ser estimado com base
na variao dentro da amostra.

3. Os dados devem ser obtidos e organizados em amostras
(ou subgrupos) segundo um critrio racional.

4. O conhecimento obtido atravs dos grficos de controle
deve ser empregado para tomada de aes
necessrias.


OBSERVAES IMPORTANTES

Existem vinte amostras (k=20) de tamanho cinco (n=5)

Enquanto que os valores individuais variam de um
mnimo de 5 a um mximo de 52, as mdias (x-barra)
variam de um mnimo de 19,8 a um mximo de 36,4, ou
seja, as mdias apresentam menor variao que os
valores individuais

Cada valor obtido de x-barra representa uma estimativa
da mdia do processo, mas feita com base em somente 5
valores (n=5)

O valor x-duas barras uma estimativa melhor que cada
x-barra, pois baseada num nmero maior de dados (20
x 5 = 100)

O valor x-duas barras pode ser calculado como a mdia
das 20 mdias (x-barras) ou, ento, como a mdia dos
100 valores individuais (x)

Analogamente, R-barra uma estimativa melhor da
variao do processo do que cada R

Os valores x-duas barras como R-barra somente sero
boas estimativas se o processo for estvel (previsvel ou
sob controle)


Grficos de
Controle para
Variveis


GRFICOS DE CONTROLE

Objetivos

Verificar se o processo estvel
Manter o processo estvel
Melhorar o desempenho do processo

Tipos de grficos de controle

Variveis
Medidas
Atributos
Contagem
Classificao


A BASE DE FUNCIONAMENTO DOS
GRFICOS DE CONTROLE

Em um processo estvel, a grande maioria dos valores de
uma caracterstica de qualidade deve cair no intervalo:

+/- 3.

LIMITES DE CONTROLE

LSC x x
LM x
LIC x x
= + = +
= =
= =

3 3
3 3
. ( ) . (
( )
. ( ) . (
)
)


GRFICOS DE CONTROLE PARA
VARIVEIS

Quando so empregadas variveis no controle estatstico
de processo, so necessrios dois grficos:

um para controlar a centralizao do processo

um para controlar a sua variabilidade (disperso)

Cada grfico de controle tem uma finalidade bem
especifica e no substitui ao outro


CONVENES

n = tamanho da amostra

k = nmero (quantidade) de amostras
=
x = mdia das mdias das amostras (mdia global)
_
s = desvio-padro amostral mdio
_
R = amplitude amostral mdia

A
2
, A
3
, D
3
, D
4
, etc. =fatores de correo


PROCEDIMENTO PARA CONSTRUO
DE GRFICOS x-BARRA E R

COLETAR k
AMOSTRAS DE
TAMANHO n
=
CALCULAR x
_
E R
CALCULAR OS
LIMITES DE
CONTROLE
ANALISAR
GRFICO R
ESTVEL?
ANALISAR
_
GRFICO x
IDENTIFICAR,
ELIMINAR E
PREVENIR CAU-
SAS ESPECIAIS
ESTVEL?
NO
SIM
NO
MONITORAR
PROCESSO
SIM


GRFICOS x-BARRA E R

GRFICO DA MDIA ( x)

LSC x x x
x
n
x A R
LM x x
LIC x x x
x
n
x A R
x
x
x
= + = + = +
= =
= = =

( ) . ( ) .
( )
.
( )
( ) . ( ) .
( )
.
3 3
3 3
2
2

GRFICO DA AMPLITUDE (R)

LSC R R D R
LM R R
LIC R R D R
R
R
R
= + =
= =
= =

( ) . ( ) .
( )
( ) . ( ) .
3
3
4
3


GRFICOS x-BARRA E s

GRFICO DA MDIA ( x)

LSC x A s
LM x
LIC x A s
x
x
x
= +
=
=
3
3
.
.

GRFICO DO DESVIO-PADRO ( ) s

LSC B s
LM s
LIC B s
s
s
s
=
=
=
4
3
.
.


GRFICOS x E Rm

GRFICO DO VALOR INDIVIDUAL ( x)

LSC x E Rm
LM x
LIC x E Rm
x
x
x
= +
=
=
2
2
.
.

GRFICO DA AMPLITUDE MVEL ( ) Rm

LSC D Rm
LM Rm
LIC D Rm
Rm
Rm
Rm
=
=
=
4
3
.
.


SELEO DO GRFICO PARA VARIVEIS

VARI-
VEL
n >1
n =1
n <10
n >10
x-BARRA
E R OU
x-TIL E R
x-BARRA
E s
x E Rm


Anlise da
Estabilidade do
Processo

REGRA BSICA

Os pontos devem se apresentar distribudos ao acaso
(aleatoriamente), dentro dos limites de controle, para o
processo ser considerado estvel.

Padres que indicam que o processo instvel:

PONTO FORA DOS LIMITES DE CONTROLE
Um nico ponto acima do LSC ou abaixo do LIC

PRESENA DE CICLOS OU TENDNCIAS NOS PONTOS;
Seis pontos consecutivos aumentando ou diminuindo

ESTRATIFICAO OU FALTA DE VARIABILIDADE;
Quinze pontos consecutivos prximos LM (tero
mdio)
Quatorze pontos consecutivos alternando-se para cima
e para baixo

SEQNCIA DE PONTOS PRXIMOS AO LSC OU LIC
Oito pontos consecutivos fora do tero mdio
Dois em trs pontos consecutivos no tero externo
Quatro em cinco pontos consecutivos fora do tero
mdio

SEQNCIA DE PONTOS DO MESMO LADO DA LM
Nove pontos consecutivos do mesmo lado da LM


EXERCCIO - ANALISAR OS SEGUINTES GRFICOS
QUANTO A ESTABILIDADE

LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC


LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC


LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC


COMENTRIOS IMPORTANTES

Unindo-se os pontos facilita-se a visualizao

Existe uma infinidade de testes de no-aleatoriedade em
livros e artigos

A anlise visual ainda o melhor meio de deteco de
causas especiais de variao

Somente com treinamento e prtica possvel identificar
causas especiais com facilidade

No enxergar fantasmas e bruxas onde no existem


Estudos de
Capacidade do
Processo


CAPACIDADE DE PROCESSO

Estudos de capacidade (ou capabilidade) tm por objetivo veri-
ficar se um processo gera produtos que atendem s especi-
ficaes de engenharia, em condies normais de operao.

Para realizar um estudo de capacidade necessrio que:

O PROCESSO SEJA (ESTATISTICAMENTE) ESTVEL

AS MEDIDAS INDIVIDUAIS TENHAM DISTRIBUIO
NORMAL

SE ESTAS DUAS RESTRIES NO FOREM OBEDECIDAS
OS RESULTADOS DO ESTUDO FORNECERO
INDICAES ERRADAS.

A verificao da estabilidade do processo feita atravs da
anlise dos GRFICOS DE CONTROLE, enquanto que a
aderncia dos valores individuais com a distribuio normal
pode ser feita com o uso do PAPEL DE PROBABILIDADE
NORMAL.


PAPEL DE PROBABILIDADE NORMAL (PPN)

O PPN tem por objetivo verificar se os valores individuais
de uma determinada caracterstica seguem a distribuio
normal

EXEMPLO

CLASSE % % ACUMULADA
950 |- 955
955 |- 960
960 |- 965
965 |- 970
970 |- 975
975 |- 980
5
23
36
27
8
1

950 955 960 965 970 975 980
5
10
15
20
25
30
35
40
%




INTERPRETAO

HISTOGRAMA

PPN
NORMAL

ASSIMTRICO A ESQUERDA

ASSIMTRICO A DIREITA

ACHATADO

ALONGADO

BIMODAL


NDICES DE CAPACIDADE DE PROCESSO

Para verificar se um processo capaz, so utilizados
ndices de capacidade que comparam as especificaes
de engenharia com a variao natural do processo

CONVENES ADOTADAS

=MDIA DO PROCESSO
=DESVIO-PADRO DO PROCESSO
x=
MDIA GERAL DAS AMOSTRAS
R =
AMPLITUDE MDIA DAS AMOSTRAS
s=
DESVIO-PADRO MDIO DAS AMOSTRAS
LIE=LIMITE INFERIOR DA ESPECIFICAO
LSE=LIMITE SUPERIOR DA ESPECIFICAO

NDICE C
P

C
LSE LIE LSE LIE
R
d
LSE LIE
s
c
p
=

=

=

6
6 6
2 4
.
. .

NDICE Cpk

{ }
C MIN C C
C
LIE x LIE
R
d
x LIE
s
c
C
LSE LSE X
R
d
LSE X
s
c
Pk PI PS
PI
PS
=
=

=

=

=

=

=

,
.
. .
.
. .
3
3 3
3
3 3
2 4
2 4

INTERPRETAO DE Cp E Cpk

NDICE Cp

NDICE Cpk



OBSERVAES IMPORTANTES

Cp sempre maior ou igual a Cpk

Quando o processo est centralizado, ou seja, a sua
mdia est bem no meio da especificao, ento Cp =
Cpk

Sempre que Cpk < 1, h gerao de produtos no-con-
formes

No caso de especificaes unilaterais, somente se utiliza
o ndice Cpk

Tanto Cp como Cpk s tm resultados vlidos se a
distribuio dos valores individuais for normal


Grficos de
Controle para
Atributos


ATRIBUTOS

TIPOS:

A) Grfico da Frao Defeituosa na Amostra (p)

B) Grfico do Nmero de Defeituosos na Amostra (np)

C) Grfico do Nmero de Defeitos na Amostra (c)

D) Grfico do Nmero de Defeitos por Unidade (u)

Quando utilizar grficos de controle para atributos:

a medio da caracterstica invivel ou antieconmica

conveniente transformar uma varivel em atributo

CUIDADO !

Uma varivel sempre transmite muito mais informao
do que um atributo


CLASSIFICAO x CONTAGEM

Pergunta: a amostra tem alguma defeito ?

SIM NO SIM SIM NO

Atributos do tipo SIM/NO so analisados atravs
de grficos do tipo p ou np

Pergunta: quantos defeitos tem a amostra ?

3 0 1 0 2

Atributos que consistem na contagem de defeitos
so analisados atravs de grficos do tipo c ou u


SELEO DO TIPO DE GRFICO

ATRIBUTO
CLASSI-
FICAO
CONTA-
GEM
n
CONS-
TANTE
n
VARI-
VEL
n
CONS-
TANTE
n
VARI-
VEL
p OU np
p
c OU u
u


TAMANHO DE AMOSTRA

grficos de controle para atributos necessitam tamanhos
de amostra maiores do que variveis
tamanhos de amostra insuficientes trazem problemas na
construo do grfico

UM EXEMPLO ABSURDO

AMOSTRA n d p
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
0
0
0
1
0
0
0
0
0
1
0,00
0,00
0,00
0,33
0,00
0,00
0,00
0,00
0,00
0,33

AMOSTRA
p
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10


TAMANHO DE AMOSTRA

Para que o tamanho de amostra seja suficiente, temos
que observar as seguintes restries:

para grficos de controle do tipo p ou np
_
n.p > 5
_
n.(1 - p) > 5

para grficos de controle do tipo c ou u
_
c > 5


CONVENES

n = tamanho da amostra

k = nmero (quantidade) de amostras

d = nmero de defeituosos

p = frao defeituosa
_
p = frao defeituosa mdia

c = nmero de defeitos
_
c = nmero mdio de defeitos

u = nmero de defeitos por unidade
_
u = nmero mdio de defeitos por unidade


FRAO DEFEITUOSA NA AMOSTRA (p)

p
N ITENS DEFEITUOSOS
N ITENS INSPECIONADOS
=
.
.

LSC p
p p
n
LM p
LIC p
p p
n
P
P
P
= +

=
=

3
1
3
1
.
. ( )
.
. ( )

OBSERVAO

Se o limite inferior de controle (LIC) der negativo, ento
adotar que este no existe.

NMERO DE DEFEITUOSOS NA AMOSTRA
(np)

np = nmero de defeitos encontrados na amostra

Nmero mdio de defeitos na amostra

np
Total de defeitos
Total de amostras
=

LSC np 3. np(I p)
LM np
LIC np 3. np(I p)
np
np
np
= +
=
=

OBSERVAO


NMERO DE DEFEITOS NA AMOSTRA (c)

c = nmero de defeitos encontrados na amostra


c
Total de defeitos
Total de amostras
=

LSC m(c) 3. s(c) c 3. c
LM m(c) c
LIC m(c) 3. s(c) c 3. c
c
c
c
= + = +
= =
= =

OBSERVAO


NMERO DE DEFEITOS POR UNIDADE (u)

u
Numero de defeitos
Numero de unidade
c
n
= =


u
Total de defeitos
Total deunidades
=

LSC m(u) 3. s(u) u 3.
u
n
LM m(u) u
LIC m(u) 3. s(u) u 3.
u
n
u
u
u
= + = +
= =
= =

OBSERVAO



ANEXOS


GRFICOS DE CONTROLE

Grfico de Controle Linha Mdia Limites de Controle

mdia e amplitude

x
R . A x LIC
R . A x LSC
2
2
=
+ =

x R

R
R . D LIC
R . D LSC
3
4
=
=

mdia e desvio padro

x
s . A x LIC
s . A x LSC
3
3
=
+ =

x s

s s . B LIC
s . B LSC
3
4
=
=

valores individuais
e amplitude mvel

x
m R . E x LIC
m R . E x LSC
2
2
=
+ =

x Rm

Rm
m R . D LIC
m R . D LSC
3
4
=
=

frao defeituosa

p

p
n
) p 1 .( p
. 3 p LIC
n
) p 1 .( p
. 3 p LSC
+ =
nmero de defeitos
na amostra c

c
c . 3 c LIC
c . 3 c LSC
=
+ =

nmero de defeitos
por unidade u

u
n
u
. 3 u LIC
n
u
. 3 u LSC
=
+ =


FATORES PARA CLCULO DE LIMITES DE CONTROLE

n A
2
A
3
E
2
BB
3
BB
4
2 1,880 2,695 2,660 - 3,267
3 1,023 1,954 1,772 - 2,568
4 0,729 1,628 1,457 - 2,266
5 0,577 1,427 1,290 - 2,089
6 0,483 1,287 1,184 0,030 1,970
7 0,419 1,182 1,109 0,118 1,882
8 0,373 1,099 1,054 0,185 1,815
9 0,337 1,032 1,010 0,239 1,761
10 0,308 0,975 0,975 0,284 1,716

n D
3
D
4
D c
4
d
2
2 - 3,267 0,709 0,798 1,128
3 - 2,574 0,524 0,886 1,693
4 - 2,282 0,446 0,921 2,059
5 - 2,114 0,403 0,940 2,326
6 - 2,004 0,375 0,952 2,534
7 0,076 1,924 0,353 0,959 2,704
8 0,136 1,864 0,338 0,965 2,847
9 0,184 1,816 0,325 0,969 2,970
10 0,223 1,777 0,314 0,973 3,078

FONTE: MONTGOMERY, D.C. Introduction to statistical quality control. 2
ed. New York, J ohn Wiley, 1991.

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PRO 2712 CONTROLE DA QUALIDADE 1

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