Apostila Cep - Douglas C. Ferreira

CEP
CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO

Prof. M.Sc. Eng. Douglas da Costa Ferreira
FATEC
2006
Sumrio
1
INTRODUO ........................................................................................................................................... 2
CONCEITO DE CEP ................................................................................................................................. 2

2.1
REVISO DOS CONCEITOS DE ESTATSTICA ................................................................................ 4

3.1
3.2
EXEMPLO 01: ........................................................................................................................................ 6

EXEMPLO 02: ........................................................................................................................................ 7
CAPABILIDADE DE PROCESSO ........................................................................................................... 8

5.1
5.2
MDIA................................................................................................................................................. 4
DESVIO PADRO .............................................................................................................................. 5
VERIFICAO DA NORMALIDADE DE PROCESSO....................................................................... 5

4.1
4.2
IMPLEMENTAO .................................................................................................................................. 3
CP - CAPACIDADE DO PROCESSO ................................................................................................. 8

CPK - CAPACIDADE DO PROCESSO COM DESLOCAMENTO ................................................... 9
CARTA DE CONTROLE POR VARIVEIS.......................................................................................... 9

6.1
CARTA X E R (MDIA E AMPLITUDE).................................................................................................... 9
6.1.1 Limites de Controle (X).................................................................................................................. 10
6.1.2 Limites de Controle (R).................................................................................................................. 10
6.2
CARTA X E (MDIA E DESVIO PADRO) ............................................................................................ 10
6.2.1 Limites de Controle (X).................................................................................................................. 10
6.2.2 Limites de Controle ().................................................................................................................. 11
CARTA DE CONTROLE POR ATRIBUTOS ...................................................................................... 11

7.1
CARTA P (FRAO DE DEFEITUOSOS) ................................................................................................. 11
7.1.1 Valor Central: ................................................................................................................................ 12
7.1.2 Limites de Controle:....................................................................................................................... 12
7.2
CARTA C (NMERO DE DEFEITOS EM UM PRODUTO) .......................................................................... 12
7.2.1 Valor Central: ................................................................................................................................ 12
7.3
CARTA U (NMERO DE DEFEITOS POR LOTE DE UNIDADES)............................................................... 13
7.3.1 Valor Central: ................................................................................................................................ 13
CONTROLE DE PROCESSO ................................................................................................................. 14
BIBLIOGRAFIA....................................................................................................................................... 18
Controle Estatstico de Processo
1 INTRODUO
O objetivo de se estudar a disciplina de Controle Estatstico de Processo (CEP) formar
profissionais capacitados para entender a administrar de forma competente essa to importante
ferramenta da qualidade em uma empresa de manufatura ou prestadora de servios. A boa gesto
da qualidade , principalmente, resultado de dois fatores: conhecimento de tcnicas de
administrao da qualidade e conscientizao para a qualidade.
Essa apostila pretende trabalhar principalmente o aspecto tcnico, sendo que a
complementao da formao do aluno se dar no oitavo perodo na disciplina de Gesto da
Qualidade, de forma que o administrador possa ter uma boa formao das ferramentas da qualidade,
sua aplicao e utilizao e tambm uma viso holstica do impacto da qualidade nos resultados de
uma empresa e de que forma uma boa administrao da qualidade poder ser um fator decisivo no
futuro dessa empresa.
Para atingir o resultado pretendido, o material apresentado fruto de extensa pesquisa
bibliogrfica sobre o assunto e pelo desenvolvimento de trabalhos na experincia profissional do
autor, tanto no ambiente de cho de fbrica, quanto em sala de aula. Com o passar dos semestres,
os trabalhos dos alunos vem enriquecendo enormemente essa apostila, contribuindo para a
formao das turmas que se seguem.
2 CONCEITO DE CEP
O CEP (Controle Estatstico de Processo), uma ferramenta estatstica de controle de
processo que atua de forma preventiva. Se for bem aplicada essa ferramenta permite que um
problema possa ser evitado no processo de fabricao de um produto. Sua aplicao
fundamentalmente apropriada para indstrias de manufatura, no entanto, existem aplicaes do CEP
em servios.
O CEP foi desenvolvido na Bell Telephone Laboratories por W. A. Shewhart, em 1924, para
ser utilizado pelo pessoal de cho de fbrica no monitoramento do processo, dessa forma, foram
estipuladas diversas simplificaes de clculo para evitar a necessidade de se extrair a raiz
quadrada entre outras operaes difceis para a mo-de-obra direta. Em 1942 foi considerado
segredo de guerra pelo governo dos EUA que utilizou essa ferramenta na produo de armas com
uma qualidade superior ao dos governos rivais. Em 1946 foi criada a ASQC (American Society for
Quality Control - hoje denominada ASQ) que divulgou os conhecimentos sobre CEP atravs de um
programa de treinamento. Em 1950 W. Edwards Deming fez conferncias ao redor do mundo sobre
as aplicaes do CEP em empresas japonesas, sendo o primeiro a utilizar largamente essa
ferramenta e demonstrar os grandes benefcios de sua aplicao no ambiente de manufatura de
larga escala.
Em 1954 M. Juran visitou o Japo e comprovou a eficincia do uso do CEP no controle da
qualidade a um baixo custo, incluindo seus conceitos no seu livro Quality Handbook. Em 1960 K.
Ishikawa iniciou o primeiro CCQ, com o intuito de difundir a aplicao do CEP em outras empresas
japonesas alm da Toyota, onde Deming j havia implantado. A partir dos anos 70 os norteamericanos comearam a se interessar pelo sistema de controle da qualidade japons e desenvolver
aplicaes do CEP em empresas nos EUA.
2.1
IMPLEMENTAO
Implantar o CEP em uma empresa requer diversos cuidados na sua aplicao. Um consultor
bem treinado em tcnicas estatsticas deve promover os estudos iniciais e acompanhar todo
processo de implantao e utilizao preliminar. Os passos para implantao do CEP podem ser
verificados abaixo:
a) Identificar processo a ser controlado: o processo a ser controlado deve ter uma
significncia para a empresa, ou seja, deve haver um sentido prtico na necessidade de
controle de tal processo (custo das falhas, importncia para o cliente, etc.).
b) Nem todo processo pode fazer uso do CEP. Existem algumas premissas para sua
utilizao:
Processo com Variao Normal (Gaussiana)
Processo Capaz (CPk 1,33 para 3)
Processo Estvel (no varia ao longo do tempo)
A verificao dessas premissas deve ser obrigatoriamente realizada antes de utilizar a carta
CEP. A verificao da Normalidade de Processo deve atender ao estipulado na Norma NBR 5430. A
estabilidade de processo deve ser verificada atravs de acompanhamento de amostras ao longo de
um perodo significativo, utilizando avaliaes estatsticas. A anlise de capacidade de processo
(aps verificar a Normalidade e Estabilidade), deve ser realizada atravs de clculos estatsticos,
sendo que para trs desvios padres, comum aceitar um processo estvel com CPk 1,33.
c) Identificar Limites Especificaes de Engenharia (Varivel): existem dois tipos de carta de
controle de processo: varivel e atributo. No caso da utilizao das cartas por variveis, os limites da
especificao devem estar determinados e estes no devem mudar durante a utilizao do CEP.
d) Determinar tamanho da amostra: o tamanho da amostra vai depender de dois fatores:
Tamanho do lote de produo
IQA - ndice de Qualidade Aceitvel
Aps a obteno desses dois valores, devem ser utilizadas tabelas estatsticas (disponveis
nas normas NBR 5426 e NBR 5429, para atributos e variveis, respectivamente), para determinar
qual o tamanho da amostra que ser significativo (trar informaes confiveis) para determinar
dados estatsticos.
e) Determinar forma de amostragem: a ABNT no define uma forma especfica de
amostragem, no entanto, quanto mais espaadas durante o perodo de produo, melhor ser o
resultado estatstico, porque mais variveis de processo sero consideradas no clculo. No entanto,
essa deciso ser tomada baseando-se nas possibilidades da empresa (custo, tempo de avaliao,
logstica, etc.).
f) Estudo de R&R: as pessoas responsveis por realizar a coleta das amostras, devem
passar por uma avaliao chamada de R&R (Repetibilidade e Reprodutibilidade):
Repetibilidade: avaliao de um funcionrio quanto capacidade de repetio de

uma verificao sempre da mesma forma (erro de verificao entre vrias avaliaes
realizadas por uma mesma pessoa);
Reprodutibilidade: avaliao de vrios funcionrios quanto capacidade de

reproduo de uma verificao sempre da mesma forma (erro de verificao entre
vrias pessoas realizando uma mesma avaliao).
g) Elaborao de um Dirio de Bordo: a coleta das amostras deve ser realizada em um

formulrio padro, onde deve haver espao para anotao de causas especiais de processo.
h) Elaborao da carta de controle preliminar: a primeira carta de controle serve de base
para as demais cartas de controle de processo. Nessa carta de controle so tomadas no mnimo 125

amostras para elaborao dos limites de controle. O tamanho das amostras das demais cartas, deve
obedecer o estipulado nas normas NBR 5426 e NBR 5429.
i) Elaborar Carta de Controle: a segunda carta de controle elaborada a partir da carta de
controle preliminar. Desse ponto em diante, o processo deve ser monitorado continuamente para
evitar descontroles.
j) Verificar Tendncias do Processo: atravs de Anlises Estatsticas possvel avaliar as
tendncias do processo antes que ocorra uma falha.
l) Atuar no Processo: se a tendncia do processo indicar que possa ocorrer uma falha, deve
ser feita uma atuao para evitar que a falha ocorra.
m) Refazer a Carta de Controle: cada vez que ocorre uma alterao no processo, devem ser
refeitos os clculos da carta de controle.
3 REVISO DOS CONCEITOS DE ESTATSTICA

Como o CEP basicamente uma ferramenta estatstica, se faz necessrio revisar alguns dos
seus conceitos, tais como:
3.1
MDIA
x=
i =1
A mdia sempre deve ter sempre NO MNIMO uma casa decimal a mais do que os
elementos que a compem.
Exemplos:
A mdia dos valores 3 e 4 = 3,5. Se houver o arredondamento para 3 ou 4, houve a

perda do valor da mdia!!
A mdia dos valores 3,2 e 3,3 = 3,25. Se houver o arredondamento para 3,2 ou 3,3,
houve a perda do valor da mdia.
A mdia dos valores 3,156 e 3,159 = 3,1575. Se houver o arredondamento para

3,157 ou 3,158, houve a perda do valor da mdia.
A mdia dos valores 3,156 ; 3,157 e 3,156 = 3,1573. Se houver o arredondamento

para 3,157, houve a perda do valor da mdia.
muito importante seguir essa regra da matemtica. Os valores utilizados para o clculo de
CEP so muito precisos, sendo que a mdia a base de vrios clculos apresentados na sequncia.
Um erro no clculo da mdia ir implicar em erros em todos os clculos da carta CEP.
3.2
DESVIO PADRO
n
(x
=
i x)
i =1
( n 1)
Esse clculo referente ao desvio padro de uma amostra, no caso de realizar o desvio
padro de uma populao, deve-se substituir o dividendo (n-1) por (n).
4 VERIFICAO DA NORMALIDADE DE PROCESSO

A normalidade de processo verificada atravs do teste W de Shapiro Wilk. No entanto, a
realizao desse teste exige uma grande quantidade de clculos, impossibilitando sua aplicao
manual. O teste W de Shapiro Wilk pode ser realizado atravs de softwares de estatstica, tais
como o Statgraphics ou o Statistica.
Como alternativa para esse teste mais preciso, a Norma ABNT NBR 5430, oferece um teste
de normalidade mais simples:
i = nmero da sequncia
n = nmero de amostras
p = probabilidade
1 100
pi = (i 2 ).
n
Sendo i o nmero de observaes feitas at Xi, em ordem crescente. Quando o valor de n

pequeno (menor que 19), deve sofrer correes e, por esse motivo, j vem tabelado (tabela abaixo).
Quando o valor de n for maior ou igual a 19, o clculo apresentado acima apresenta um resultado
satisfatrio.
P1
P2
P3
P4
P5
P6
P7
P8
P9
18,8
81,2
14,0
50,0
11,0
38,3
61,7
89,0
7,5
26,5
42,2
57,8
4,9
18,2
73,5
92,5
29,0
39,5
50,0
10
4,4
16,4
26,2
35,8
45,3
11
13
4,0
15,0
24,0
32,7
3,3
12,7
20,4
27,9
15
2,8
11,1
17,8
18
2,3
9,2
14,9
P10
P11
P12
P13
60,5
71,0
81,8
95,1
54,7
64,2
73,8
83,6
95,6
41,4
50,0
58,6
67,3
76,0
85,0
96,0
35,3
42,7
50,0
57,3
64,7
72,1
24,4
30,8
37,2
43,6
50,0
56,4
62,8
20,4
25,9
31,3
36,6
42,0
47,3
52,7
P14
P15
79,6
87,3
96,7
69,2
75,6
58,0
63,4
82,2
88,9
97,2
68,7
74,1
79,6
P16
P17
P18
85,1
90,8
97,7
86,0
Tabela 10 - Valores de Probabilidade de Normalidade

Aps serem calculados os valores de pi, eles devem ser lanados em um grfico cartesiano.
Quando os valores lanados estiverem se aproximando de uma reta, pode-se dizer que o processo
Normal, caso contrrio, essa afirmativa no pode ser feita.
4.1
EXEMPLO 01:
Em um processo de envasamento de cerveja foram coletadas 15 amostras, conforme mostra

a tabela abaixo. Verifique se esse processo normal.
Amostra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
Medida (litros)
601,2
601,3
600,7
602,1
601,5
601,7
600,3
600,8
602,5
600,7
601,4
600,2
600,9
600,5
602,4
Como se tratam de menos de 19 amostras, podemos utilizar os valores tabulados. Os

valores devem estar ordenados de forma crescente, sendo assim:
Amostra
Medida (litros)
pi
10
11
12
13
14
15
600
600
601
601
601
601
601
601
601
601
602
602
602
602
603
2,8
11,1
17,8
24,4
30,8
37,2
43,6
50
56,4
62,8
69,2
75,6
82,2
88,9
97,2
Para finalizar a anlise, devem-se lanar os valores das amostras e de pi em um grfico,

conforme mostrado abaixo:
120
Teste de Normalidade
Probabilidade (Pi)
100
80
60
40
20
0
600,2 600,3 600,5 600,7 600,7 600,8 600,9 601,2 601,3 601,4 601,5 601,7 602,1 602,4 602,5
Valores das Amostras (Xi)

Conforme observada no grfico, a curva caracterstica aproxima-se do formato de uma reta,
indicando que o processo Normal.
4.2
EXEMPLO 02:
A quantidade de um determinado composto de um banho controlada para manter a

qualidade do produto. Essa quantidade deve variar entre 250 e 275g. Foram retiradas 20 amostras
do composto a ser colocado no banho e pesadas. Os resultados esto apresentados na tabela
abaixo. Verifique se o processo normal.
Amostra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Medida (litros)
256
271
265
250
268
267
266
254
260
273
250
259
274
273
269
265
257
274
265
266
Como so mais de 18 amostras, deve-se utilizar o mtodo do clculo, sendo assim, temos os
seguintes resultados:
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
Amostra
Medida 250 250 254 256 257 259 260 265 265 265 266 266 267 268 269
1248 1248 1268 1278 1283 1293 1298 1323 1323 1323 1328 1328 1333 1338 1343
pi
16
271
1353
17
273
1363
18
273
1363
19
274
1368
20
274
1368
Para finalizar a anlise, devem-se lanar os valores das amostras e de pi em um grfico,

conforme mostrado abaixo:
Teste de Normalidade
Probabilidade (Pi)
1380
1340
1300
1260
1220
250
250
254
256
257
259
260
265
265
265
266
266
267
268
269
271
273
273
274
274
Valores das Amostras (Xi)

A reta em vermelho representa a curva normal, sendo que os valores obtidos esto muito
fora dessa reta. Esse processo no pode ser considerado Normal.
5 CAPABILIDADE DE PROCESSO
Muitas vezes, o processo no atinge as metas de qualidade pelo simples fato de ser incapaz
de realizar um produto ou servio conforme especificado. No se pode querer que um Fusca original
atinja a velocidade de 300 Km/h, esse veculo no-capaz para essa especificao de velocidade.
Saber se um processo capaz ou no, o primeiro passo, antes de querer se aplicar um
controle estatstico de processo. A Capabilidade de Processo, ou como pede a NRB partir de 2004
- Capacidade de Processo, pode ser medida atravs de 2 ndices: CP e CPk.
5.1
CP - CAPACIDADE DO PROCESSO
CP =
LSE LIE
6
O CP um ndice muito ruim para verificar a capacidade de um processo, porque pode dar
um resultado totalmente incorreto no caso de haver uma mdia deslocada. Sempre devemos utilizar
o CPK. Como antigamente o uso de mquinas calculadores era muito restrito, o ndice CP, sendo de
clculo mais simples, era mais largamente utilizado.
5.2
CPK - CAPACIDADE DO PROCESSO COM DESLOCAMENTO
x LIE LSE x
CPK = min
;
3
3
O CPK ir trazer informaes confiveis em relao capacidade do processo, porque sua
avaliao realizada independente do deslocamento da mdia.
6 CARTA DE CONTROLE POR VARIVEIS

A carta de controle por variveis deve ser utilizada quando o processo a ser controlado for
referente a uma medida (fora, comprimento, durao, velocidade, etc.). Existem duas cartas de
controle por variveis:
Carta X e R
Carta X e
A carta X e R deve ser utilizada se forem realizadas at 25 coletas por lote, partir dessa
quantidade, deve-se optar pela carta X e . A determinao da quantidade de amostras por lote
determinada pela ABNT na Norma NBR 5429.
Premissa:
O universo repleto de variveis que no podem ser controlados o que impede que dois
objetos sejam fabricados com a mesma forma exata.
Variao:
6.1
Interna: Ocorre no objeto (ex.: o dimetro varia em posies diferentes)
Entre peas: Ocorre na comparao entre objetos fabricados no mesmo processo
No decorrer do tempo: Ocorre entre objetos fabricados em tempos diferentes

(horrios, datas)
CARTA X E R (MDIA E AMPLITUDE)
A carta X e R deve ser utilizada em um processo onde so realizadas no mximo 25 coletas

por lote.
X
X=
i =1
R=
i =1
R = xmax xmin

6.1.1
Limites de Controle (X)
LSC X = X + 3. X
LIC X = X 3. X
6.1.2
Limites de Controle (R)
LSCR = R + 3. R
LICR = R 3. R
Quando o limite inferior da carta R for negativo, deve substitu-lo por zero.
6.2
lote.
CARTA X E (MDIA E DESVIO PADRO)

A carta X e deve ser utilizada em um processo onde so realizadas mais de 25 coletas por
X
X=
6.2.1
i =1
i
i =1
(X
=
X)
i =1
( n 1)
Limites de Controle (X)
LSC X = X + 3. X
LIC X = X 3. X
10

6.2.2
Limites de Controle (
)
LSC = + 3.
LIC = 3.
7 CARTA DE CONTROLE POR ATRIBUTOS
Um atributo uma caracterstica do produto que no pode ser medida, mas apenas
verificada se est OK ou NOK.
Pode-se utilizar um equipamento para realizar a verificao de um atributo, no entanto, no
se deve realizar uma medio da caracterstica, mas apenas a verificao se est de acordo ou no.
A carta por atributos utilizada em duas situaes:
No se pode realizar a medio: verificao de cor, brilho, arranhes, danos;
No economicamente vivel realizar a medio: verificao de um furo utilizando-se um
gabarito passa-no-passa.
Tipos de cartas por atributos
Existem dois tipos de carta de controle por Atributos:
Carta para Defeituosos: controla a quantidade de produtos defeituosos em relao ao total
de produtos verificados.
Carta p;
Carta para Defeitos: controla a quantidade de defeitos em um produto verificado.
Carta C e Carta U.
7.1
CARTA P (FRAO DE DEFEITUOSOS)

Determina o total de produtos defeituosos em relao ao total de produtos verificados:
np
p=
n
Onde:
p = frao de produtos defeituosos
n = nmero de produtos na amostra
np = nmero de produtos defeituosos na amostra
11

7.1.1
Valor Central:
p=
7.1.2
np
n
Limites de Controle:
LSC p = p + 3.
p(1 p )
n
LIC p = p 3.
p(1 p )
n
CARTA p - OBSERVAES
Se p for maior do que 0,15, no se deve realizar o controle estatstico de processo, porque
o processo No Capaz.
A Carta p pode ser utilizada para controlar o ndice de produtos defeituosos.
Se houver constantes descontroles evidenciados pela Carta p, necessrio aplicar um
controle por variveis (quando possvel).
Caso o clculo do limite inferior de controle resulte em um nmero negativo, deve utilizar o
valor Zero.
7.2
CARTA C (NMERO DE DEFEITOS EM UM PRODUTO)
A Carta C utilizada para controlar a quantidade de defeitos em um produto. Ex.: quantidade

de arranhes na pintura de um carro, quantidade de bolhas em uma placa de vidro, quantidade de
quebras em um rolo de cabo eltrico.
A Carta C s pode ser utilizada se houver uma quantidade suficiente (mnimo 25) de pontos
de verificao do defeito no produto a ser inspecionado.
7.2.1
Valor Central:
c=
c
g
Onde:
c = ndice de defeitos
g = quantidade amostras
12

7.2.2
LSCc = c + 3. c
LICc = c 3. c
7.3
CARTA U (NMERO DE DEFEITOS POR LOTE DE UNIDADES)
A Carta U utilizada para controlar a quantidade de defeitos em um grupo (lote) de produtos

inspecionados. Deve ser utilizada quando o nmero de defeitos, em cada unidade inspecionada, for
prxima de um. Ex.: manchas em cada 10 m2 de tecido, pontos de oxidao em caixa de 100
pregos, falhas de impresso em cada resma de papel.
A Carta U s pode ser utilizada se a quantidade inspecionada em cada lote for de mesma
quantidade. Se houver uma variao do tamanho do lote aconselha-se separar parte do lote de
tamanho idntico para realizar a verificao.
7.3.1
Valor Central:
u=
c
n
Onde:
c = nmero de defeitos no lote
n = quantidade de produtos em cada lote
u = defeitos por unidade do lote
7.3.2
LSCu = u + 3.
u
n
LICu = u 3.
u
n
13
8 CONTROLE DE PROCESSO
Aps a construo das cartas de controle, importante saber fazer a anlise dessas cartas.
Essa anlise realizada atravs da observao da variao das medidas realizadas durante o
processo.
Existem oito padres que indicam descontrole do processo, exigindo a tomada de aes de
correo. Esses padres esto apresentados nos slides seguintes.
Distribuio de pontos em um padro Normal de Variao.
2,5%
13,5%
34,0%
34,0%
13,5%
2,5%
Um Padro Normal de Variao aquele que demonstra uma distribuio dos pontos dentro
de uma curva normal, ou seja, dentro de uma distribuio Gaussiana, conforme mostra a figura do
slide anterior.
Quando os pontos so distribudos fora desse padro, ento podemos dizer que ocorreu um
descontrole de processo. Muitas vezes no muito fcil perceber que houve um descontrole, para
facilitar essa visualizao, nos prximos slides esto mostrados 8 padres clssicos de descontrole
de processo.
Padro 01
Um nico ponto alm da Zona A, ou seja, acima do Limite Superior de Controle (LSC) ou
abaixo do Limite Inferior de Controle (LIC).
4
3
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
14
15
14

Padro 02
Nove pontos consecutivos de um mesmo lado do valor central, ou seja, todos os nove pontos
acima ou abaixo da linha central.
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
14
15
14
15
Padro 03
Seis pontos consecutivos continuamente aumentando ou diminuindo, no grfico.
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
15
Padro 04
Quatorze pontos consecutivos alternando para cima ou para baixo no grfico.
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
14
15
10
11
12
13
14
15
Padro 05
Dois em 3 pontos situados na mesma Zona A do grfico.
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
16

Padro 06
Grfico.
Quatro em cinco pontos consecutivos situados nas Zonas A ou B de um mesmo lado do
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
14
15
14
15
Padro 07
Quinze pontos consecutivos situados na Zona C, acima ou abaixo da linha mdia.
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
17
Padro 08
Oito pontos consecutivos, em qualquer lado da linha mdia, com nenhum situado na Zona C.
4
3
2
1
B
C
-1
-2
-3
-4
1
10
11
12
13
14
15
A presena de um ou mais desses padres indica um descontrole e necessita de um plano

de ao imediato. Se no forem tomadas aes existe uma grande probabilidade de ocorrncia de
pontos fora da especificao.
A grande vantagem do uso do CEP seu carter preventivo. Ao se trabalhar com
probabilidades estatsticas pode-se atuar no processo quando houver tendncias de descontrole, ao
contrrio do controle amostral clssico, que atua aps ter ocorrido uma falha.
9 BIBLIOGRAFIA
AGUIAR, SILVIO. Integrao das Ferramentas da Qualidade ao PDCA e ao Programa Seis
Sigma. Belo Horizonte, Editora de Desenvolvimento Gerencial, 2002.
BROCKA, BRUCE e BROCKA, SUZANNE M. Gerenciamento da Qualidade. So Paulo,
Makron Books do Brasil Editora Ltda, 1994.
COSTA, ANTNIO F. B., EPPRECHT, EUGNIO K. e CARPINETTI, LUIZ CEZAR R. Controle
Estatstico de Qualidade. So Paulo, Atlas, 2004.
SHIBA, SHOJI; GRAHAM, ALAN e WALDEN, DAVID. TQM Quatro Revolues na Gesto da
Qualidade. Porto Alegre, Bookman, 1997.
PALADINI, PACHECO E. Gesto da Qualidade. So Paulo, Atlas, 2004
ROBLES JR., ANTNIO. Custos da Qualidade. So Paulo, Atlas, 1996.
RUST, ROLAND T, ZAHORIK, ANTHONY J. e KEININGHAM, TIMOTHY L. Mensurando o
Impacto Financeiro da Sua Empresa - Questes para a Qualidade. Rio de Janeiro,
Qualitymark, 1994.
18

SANTANA, CREUSA MARIA S. E CARASTAN, JACIRA TUDORA. Como o mtodo PDCA pode
aperfeioar o sistema de gesto da organizao? V Congresso Brasileiro de Gesto
Estratgica de Custos. So Paulo, pp. 559-572, Agosto 1998.
SLACK, NIGEL et al. Administrao da Produo. So Paulo, Atlas, 1996.
VIEIRA, SNIA. Estatstica para a Qualidade. Rio de Janeiro, Campus, 1999.
19

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CEP

CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO

CONCEITO DE CEP ................................................................................................................................. 2

REVISO DOS CONCEITOS DE ESTATSTICA ................................................................................ 4

EXEMPLO 01: ........................................................................................................................................ 6

CAPABILIDADE DE PROCESSO ........................................................................................................... 8

VERIFICAO DA NORMALIDADE DE PROCESSO....................................................................... 5

CP - CAPACIDADE DO PROCESSO ................................................................................................. 8

CARTA DE CONTROLE POR VARIVEIS.......................................................................................... 9

CARTA DE CONTROLE POR ATRIBUTOS ...................................................................................... 11

CONTROLE DE PROCESSO ................................................................................................................. 14

Controle Estatstico de Processo

Controle Estatstico de Processo

Processo com Variao Normal (Gaussiana)

Processo Capaz (CPk 1,33 para 3)

Processo Estvel (no varia ao longo do tempo)

Tamanho do lote de produo

IQA - ndice de Qualidade Aceitvel

Repetibilidade: avaliao de um funcionrio quanto capacidade de repetio de

Reprodutibilidade: avaliao de vrios funcionrios quanto capacidade de

g) Elaborao de um Dirio de Bordo: a coleta das amostras deve ser realizada em um

Controle Estatstico de Processo

3 REVISO DOS CONCEITOS DE ESTATSTICA

A mdia dos valores 3 e 4 = 3,5. Se houver o arredondamento para 3 ou 4, houve a

A mdia dos valores 3,156 e 3,159 = 3,1575. Se houver o arredondamento para

A mdia dos valores 3,156 ; 3,157 e 3,156 = 3,1573. Se houver o arredondamento

Controle Estatstico de Processo

4 VERIFICAO DA NORMALIDADE DE PROCESSO

Sendo i o nmero de observaes feitas at Xi, em ordem crescente. Quando o valor de n

Tabela 10 - Valores de Probabilidade de Normalidade

Controle Estatstico de Processo

Em um processo de envasamento de cerveja foram coletadas 15 amostras, conforme mostra

Como se tratam de menos de 19 amostras, podemos utilizar os valores tabulados. Os

Para finalizar a anlise, devem-se lanar os valores das amostras e de pi em um grfico,

Valores das Amostras (Xi)

Controle Estatstico de Processo

A quantidade de um determinado composto de um banho controlada para manter a

Para finalizar a anlise, devem-se lanar os valores das amostras e de pi em um grfico,

Controle Estatstico de Processo

Valores das Amostras (Xi)

Controle Estatstico de Processo

CPK - CAPACIDADE DO PROCESSO COM DESLOCAMENTO

6 CARTA DE CONTROLE POR VARIVEIS

Interna: Ocorre no objeto (ex.: o dimetro varia em posies diferentes)

Entre peas: Ocorre na comparao entre objetos fabricados no mesmo processo

No decorrer do tempo: Ocorre entre objetos fabricados em tempos diferentes

CARTA X E R (MDIA E AMPLITUDE)

A carta X e R deve ser utilizada em um processo onde so realizadas no mximo 25 coletas

Controle Estatstico de Processo

Limites de Controle (X)

Limites de Controle (R)

CARTA X E (MDIA E DESVIO PADRO)

Limites de Controle (X)

Controle Estatstico de Processo

CARTA P (FRAO DE DEFEITUOSOS)

Controle Estatstico de Processo

CARTA C (NMERO DE DEFEITOS EM UM PRODUTO)

A Carta C utilizada para controlar a quantidade de defeitos em um produto. Ex.: quantidade

Controle Estatstico de Processo

CARTA U (NMERO DE DEFEITOS POR LOTE DE UNIDADES)

A Carta U utilizada para controlar a quantidade de defeitos em um grupo (lote) de produtos

Controle Estatstico de Processo

Controle Estatstico de Processo