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1) O que é um defeito cristalino?

R.: É considerado um defeito cristalino qualquer desvio à periodicidade perfeita


numa estrutura, o que já aparenta ser caracterizada como cristal e não muda essa
classificação denominacional. Devemos considerar um cristal ideal quando em situação
de análise introdutória ou modelagem, pois são corpos infinitos, puros quimicamente,
com átomos imóveis, entre outras coisas. Quando há defeito cristalino presente,
imaginamos se tratar de uma situação aproximada ou mais razoável comparando com a
amostra física, este é o cristal real.
2) Descreva e ilustre os seguintes defeitos que podem aparecer em cristais iônicos:
a. Defeito Schottky
b. Defeito Frenkel

R.: Pensando na organização do alvo de estudo, dividimos em contorno de grãos


e em disposição de átomos espacialmente (considerando imóveis), entre outras formas.
Quando percebemos que há defeitos cristalinos presentes, a depender da organização
citada, delimitamos o tipo de defeito que está presente: defeito de fronteira, defeito
pontual, defeito em linha, interfacial, etc.
Quando um átomo muda de posição há uma interrupção naquele arranjo atômico
da estrutura cristalina, chamado de “defeito pontual” e os defeito Frenkel e defeito
Schottky são exemplos disso. As figuras a seguir ilustram estes, respectivamente:

A B

3) Por que ao aumentar o número de discordâncias ou aumentar o número de


grãos promoverá um aumento na resistência de um material?”
R.: Chamamos de discordância o defeito cristalino de tipo linear no qual
diversos átomos estão desalinhados, de maneira a distorcer a estrutura cristalina.
Encruamento é o nome dado ao efeito de um material endurecer ao sofrer
deformação plástica. O endurecimento ocorre em razão do aumento de discordâncias e
imperfeições causadas pela deformação, impedindo que os planos cristalinos
escorreguem uns sobre os outros. Conforme o encruamento aumenta, a força necessária
para se causar mais deformações também será maior.

4) Centro de cor é um defeito da rede cristalina que absorve luz visível. Baseado
nesse conceito, quais são as formas que se pode colorir um cristal?
R.: Centros de cor são defeitos cristalinos pontuais que ocorrem em minerais
causados por eventual vacância ou irradiação, seja ela natural ou atificial.
Esse fenômeno é responsável pela coloração de minerais. A coloração por
irradiação ocorre majoritariamente por consequência da presença de íons metálicos de
impurezas na estrutural cristalina do mineral. Comumente essas impurezas são
manganês, alumínio, ferro, lítio, cobre, titânio.
Na natureza, a coloração por irradiação de alguns minerais ocorre devido à
concentração de isótopos de radioativos de urânio, tório e potássio. Sendo assim, o
processo de coloração artificial de minerais por irradiação gama apenas acelera o
processo de coloração natural em milhares de anos.

5) Descreva os conceitos físicos envolvidos nos exames microscópicos de sólidos:


microscopia óptica, microscopia eletrônica de varredura e microscopia eletrônica
de transmissão.
R.: A microscopia óptica é feita por um sistema de associação de lentes e uma
fonte de luz. As lentes ocular e objetiva devem estar postas coaxialmente em um
mecanismo que permita a aproximação e afastamento do conjunto, o que possibilita a
visualização ampliada da amostra. Um feixe de luz atravessa a amostra e atinge o
conjunto de lentes, formando uma imagem intermediaria e ampliada do objeto.
O microscópio óptico tem capacidade de ampliação máxima de 1000x até
2000x, dependendo da qualidade e diâmetro das lentes e do comprimento de onda do
feixe de luz, que neste tipo de aparelho varia entre 400 e 700 nanômetros, ou seja,
dentro do espectro de luz visível.

O MEV (microscópio eletrônico de varredura) ao invés de fótons utiliza um


feixe de elétrons para explorar a amostra por completo e transmite o sinal do detector
para uma tela catódica que está sincronizada com o canhão do feixe incidente. O sinal
da imagem é o resultado da interação do feixe de elétrons incidente com a superfície da
amostra.
Uma imagem formada com o sinal captado na varredura eletrônica da superfície
da amostra pode apresentar diferentes particularidades, devido ao fato do sinal ter sido
obtido pela interação, dentre estas o elétron retroespalhado. A imagem gerada por esses
elétrons oferece diversas informações a respeito do contraste, inclusive
topograficamente, além de dados de composição da amostra.

Semelhante ao MEV, o MET (microscópio eletrônico de transmissão) também


utiliza feixes de elétrons para gerar imagens ampliadas da amostra. O feixe de elétrons
atravessa a amostras e é espalhado de várias maneiras dependendo do tipo de material
analisado. Se um elétron sofre pouco desvio o campo gerado na imagem será claro,
enquanto os campos escuros são captados pelos elétrons que são difratados pelos planos
cristalinos do material.
A interação do feixe com a amostra gera também raios-x característicos que
fornecem informações morfológicas, estrutura cristalina, relações de orientação entre
fases, defeitos cristalinos e etc. Apesar desse tipo de aparelho ser capaz de possibilitar a
observação de estruturas atômicas, a resolução da imagem é afetada por variados tipos
aberração, como a cromática, de astigmatismo, esférica e etc.
Referências: http://wwwp.fc.unesp.br/~betog/web/2006/cm_aula4_2006.pdf;
http://sites.poli.usp.br/d/pmt2100/Aula03_2005%201p.pdf;

http://appasp.cnen.gov.br/acnen/pnb/Rel-Parcial-Gemas.pdf

https://www.prolab.com.br/blog/equipamentos-aplicacoes/entenda-como-funciona-um-
microscopio-optico/

http://www.pucrs.br/edipucrs/online/microscopia.pdf

https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/21808/21808_5.PDF

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