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CIÊNCIAS DOS

MATERIAIS
Professor Leandro Cardoso da Silva
5 ENSAIOS E CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS

Apresentação

A história mostra um grande empenho na pesquisa de novos materiais. Neste contexto,


ensaios e métodos de caracterização foram amplamente difundidos ao longo do tempo.
Neste bloco vamos compreender com um pouco mais de profundidade a teoria sobre
alguns destes ensaios e caracterizações.

Bons estudos!

5.1 Difração de Raios X

Para os estudos das estruturas cristalinas, a Difração de Raio X é extremamente


importante, pois permitiu a compreensão dos arranjos atômicos e moleculares nos
sólidos, o que fez toda a diferença na história da ciência dos materiais e resultou em
diversas investigações.

Difração

De acordo com Callister et al. (2018), a Difração ocorre quando uma onda encontra uma
série de obstáculos regularmente separados que:

 São capazes de dispersar a onda.


 Possuem espaçamentos comparáveis, em magnitude, ao comprimento de onda.

Além disso, a difração é uma consequência de relações de fase específicas estabelecidas


entre duas ou mais ondas que foram dispersas pelos obstáculos.

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Figura 5.1: (a) Demonstração de como duas ondas (identificadas como 1 e 2), que possuem o
mesmo comprimento de onda λ e que permanecem em fase após um evento de dispersão
(ondas 1′ e 2′), interferem mutuamente de maneira construtiva. As amplitudes das ondas
dispersas somam-se na onda resultante. (b) Demonstração de como duas ondas (identificadas
como 3 e 4), que possuem o mesmo comprimento de onda e que ficam fora de fase após um
evento de dispersão (ondas 3′ e 4′), interferem mutuamente de maneira destrutiva. As
amplitudes das duas ondas dispersas cancelam-se mutuamente.
Fonte: (CALLISTER et al., 2018)

Difração de Raios X e a Lei de Bragg

A ação do feixe emitido pelo Raio X disperso em várias direções é provocada pelos
elétrons associados aos átomos e íons pertencentes à trajetória desse feixe, que emite

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uma radiação eletromagnética com altas energias e comprimento de ondas curto. Para
compreendermos a condição da Difração do Raio X, utilizamos a lei de Bragg.

A Lei de Bragg é a relação entre o comprimento de onda do Raio X, o espaçamento


interatômico e o ângulo de difração para uma interferência construtiva.

Figura 5.2: Difração de Raios X por planos de átomos (A-A' e B-B')


Fonte: (CALLISTER et al., 2018)

Técnicas de Difração

As técnicas de difração estão ligadas aos tipos de difratômetros existentes no mercado.


Trata-se de um aparelho que determina os ângulos nos quais ocorre difração nas
amostras pulverizadas. A técnica usual emprega amostras pulverizadas que, através dos
átomos cristalinos, fazem com que o feixe de Raio X seja difratado em diversas direções.

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Figura 5.3: Exemplo de técnica de difração do Raio X
Fonte: (Saber Ciência, s/d)

Para melhor compreender sobre o Fenômeno da Difração, Difração de Raios X e a Lei de


Bragg e Técnicas de Difração, recomendamos a leitura das páginas 79 a 83 da seguinte
obra:

CALLISTER Jr., W. D.; RETHWISCH, D. G. Ciência e engenharia de materiais: uma


introdução. Rio de Janeiro: LTC, 2018. p. 79-83. Disponível em:
<https://integrada.minhabiblioteca.com.br/#/books/9788521632375/cfi/6/28!/4/504/
14@0:25.1>. Acesso em: 21 mar. 2019.

Saiba Mais

O vídeo indicado explica de maneira detalhada a relação entre a Lei de Bragg e a Difração
do Raio X.

Lei de Bragg para cristalografia. Disponível em:


<https://www.youtube.com/watch?v=OInxR2Gu_sI>. Acesso em: 21 mar. 2019.

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5.2 Microscopia

Com a evolução da Ciência dos Materiais, estudos voltados as suas possíveis falhas e
defeitos passaram a ser cada vez mais importantes para o avanço da Ciência. Estes
podem ter dimensões tanto macroscópicas, quanto microscópicas, e precisam ser
investigados na formação e conformação do material para o entendimento de
fenômenos como falhas, fraturas, quebras prematuras etc.

A microscopia pode ser dividida em três principais técnicas. É o que veremos na


sequência.

Microscopia Óptica

O uso da microscopia óptica é bastante abundante em laboratórios que realizam a


análise de superfície em materiais, geralmente chamadas de análises metalográficas.
Por meio do emprego de uma lente de aumento e iluminação focada é possível observar
a microestrutura dos materiais através de sua superfície. Alguns cuidados no preparo da
amostra devem ser tomados como, por exemplo, lixamento da superfície e polimento
para atingir o acabamento liso e espelhado.

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Figura 5.4: (a) Grãos polidos e atacados quimicamente da forma como podem aparecer quando
vistos ao microscópio óptico. (b) Seção tomada por meio desses grãos, mostrando como as
características do ataque químico e a textura superficial resultante variam de grão para grão,
em razão de diferenças na orientação cristalográfica. (c) Micrografia de uma amostra de latão
policristalino. A ampliação é de 603.
Fonte: (CALLISTER et al., 2018)

Microscopia Eletrônica

O microscópio eletrônico surgiu da necessidade de análise de microestruturas de


materiais muito finos e pequenos, não sendo possível ser observados pelo modelo de
microscopia óptica. O microscópio eletrônico é capaz de aumentos muito maiores, seu
feixe de elétrons é focado e a imagem é formada por lentes magnéticas.

 Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET): formada por um feixe de elétrons


que passam pela amostra a ser observada; seus contrastes são obtidos pela
diferença na difração do feixe.
 Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV): atualmente o mais utilizado pelos
centros tecnológicos de materiais; a superfície do material é varrida por um feixe de
elétrons e o feixe de elétrons refletido é exibido como resultado em imagens
parecidas com fotografias.

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Figura 5.5: Exemplo de análise MEV sobre uma amostra de compósito de poliamida carregado
com fibra de vidro
Fonte: (SILVA, 2014)

Microscopia de Varredura por Sonda

De todas as evoluções ocorridas na tecnologia dos microscópios esta é a mais


importante. A microscopia de varredura por sonda se distancia dos modelos de
microscópios ópticos e eletrônicos, pois não utiliza nem luz, nem elétrons para formar
imagens. Sua tecnologia gera um mapa topográfico, em uma escala atômica, permitindo
análises nanométricas.

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Figura 5.6: Exemplo de funcionamento de microscópio de varredura por sonda
Fonte: (EMBRAPA, 1999)

5.3 Deformações Elástica e Plástica

As deformações são de extrema importância para caracterizar os materiais, sua


resistência a forças de tração e as forças de compressão empregadas em situações de
utilização do produto final. Neste caso é possível compreendermos o comportamento
dos materiais se entendermos suas deformações elásticas e plásticas. Seguidas da teoria
e compressão da lei Hooke para o comportamento da tensão e deformação, podemos
definir:

Lei de Hooke para o comportamento da tensão e deformação


𝜎 = 𝐸 .∈
Onde:
σ = tensão
E = módulo de elasticidade, ou módulo de Young
Є = deformação

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Deformação Elástica

A deformação elástica, mais conhecida como a “parte reta” da curva de tensão-


deformação de um material, caracteriza-se por ser a parte homogênea da tensão e
deformação sofridas por um material a partir de um carregamento aplicado no sentido
de tração ou compressão. Em sua totalidade, assim que retirado o carregamento, o
material volta ao seu estado inicial, retornando a zero.

Figura 5.7: Exemplo de curvas tensão-deformação elástica linear e não linear


Fonte: (Adaptado de CALLISTER et al., 2018)

O ensaio de tração e compressão costuma caracterizar esta curva de tensão-deformação


em busca das propriedades elásticas do material a ser analisado. As deformações
ocorridas nos materiais podem ser determinadas pelo coeficiente de Poisson:

∈𝑥 𝒐𝒖 𝑦
𝑣= −
∈𝑧

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Onde:

V = coeficiente de Poisson

Єxou y= deformação perpendicular X ou Y

Єz= deformação correspondente

Para exemplificar, utilizaremos a imagem a seguir, que ilustra as deformações


perpendiculares de X e Y referentes a um ensaio de tração de uma amostra no sentido
do eixo Z.

Figura 5.8: Alongamento axial (z) (deformação positiva) e contrações laterais (x e y)


(deformações negativas) em resposta à imposição de uma tensão de tração. As linhas contínuas
representam as dimensões após a aplicação da tensão; as linhas tracejadas representam as
dimensões antes da aplicação da tensão
Fonte: (CALLISTER et al., 2018)

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Deformação Plástica

A deformação plástica começa no momento em que, após tracionar ou comprimir um


material, a proporcionalidade de tensão e deformação acabam. Ao contrário da
deformação elástica, a deformação plástica não é recuperável: o material deformado
plasticamente permanecerá no estado ao qual foi deformado.

Figura 5.9: Exemplo de material tracionado demonstrando proporção da curva sobre


deformação Elástica e deformação Plástica
Fonte: (CALLISTER et al., 2018)

Após o limite da deformação plástica ser superado sobre uma condição de tração,
chegará a fase da ruptura. Ao caracterizarmos o material e chegarmos até esta condição
citada, é possível descobrir o Limite de Resistência à Tração (LTR), caracterizando-se pela
tensão no ponto máximo da curva de tensão-deformação. A seguir, demonstramos um
exemplo.

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Figura 5.10: Comportamento típico da curva tensão-deformação de engenharia até a fratura,
ponto F. O limite de resistência à tração LRT está indicado pelo ponto M. Os detalhes dentro dos
círculos representam a geometria do corpo de prova deformado em vários pontos ao longo da
curva
Fonte: (CALLISTER et al., 2018)

Saiba Mais

O vídeo mostra o ensaio de tração realizado no laboratório sobre um corpo de provas


metálico. Podemos perceber que, ao acrescentar forças no sentido axial (Z), o material
vai se deformando, passando pela deformação elástica, deformação plástica, até chegar
à ruptura.

Ensaio Tração em Aço Carbono - Laboratório Tork. Disponível em:


<https://www.youtube.com/watch?v=CMdKW09HWzs>. Acesso em: 21 mar. 2019.

Conclusão

A caracterização dos ensaios dos materiais pode ser decorrente de investigações como
também pode ser útil para a checagem de suas propriedades.

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A caracterização por Difração de Raios X nos mostra a importância e complexidade em
analisar os materiais. Este método, ainda amplamente utilizado por centros de pesquisa
e pela indústria, tem um custo relativamente baixo e transpõe resultados rápidos e
eficazes.

As microscopias óptica, eletrônica e por sonda demonstram a evolução nas análises de


superfície do material. Apesar de estas modalidades estarem empregadas no mesmo
tipo de análise, a diferenciação está altamente relacionada à ampliação das imagens,
permitindo investigar os materiais de maneira cada vez mais minuciosa.

As deformações elásticas e plásticas, muito praticadas para a família dos metais,


caracterizam algo de suma importância para definir a escolha do material: a curva de
tensão-deformação, em que é possível fazer a leitura sobre as condições de deformação
elástica, plástica e ruptura.

Referências Bibliográficas

CALLISTER Jr., W. D.; RETHWISCH, D. G. Ciência e engenharia de materiais: uma


introdução. Rio de Janeiro: LTC, 2018.

EMBRAPA. Ministério da Agricultura e do Abastecimento. A potencialidade da


microscopia de varredura por sonda na pesquisa agropecuária. Circular Técnica n.
10/99. Agosto, 1999. Disponível em:
<https://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/bitstream/doc/29647/1/CiT1099.pdf>.
Acesso em: 21 mar. 2019.

SABER CIÊNCIA. Átomos e Raios-X: observando o interior de um cristal. Disponível em:


<https://saberciencia.tecnico.ulisboa.pt/artigos/adn-04.php>. Acesso em: 21 mar.
2019.

SHACKELFORD, J. F. Ciências dos materiais. 6. ed. São Paulo: Pearson, 2011.

SILVA, L.C. Substituição do alumínio pelo compósito de poliamida no suporte do coxim


motor. Dissertação (Mestrado em Engenharia dos Materiais) - Universidade
Presbiteriana Mackenzie. São Paulo, 2014.

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