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São Carlos
2014
JOSÉ EDUARDO CERVELIN
Área de concentração:
Processos e Gestão de Operações
ORIENTADOR:
Prof. Tit. Reginaldo Teixeira Coelho
São Carlos
2014
AUTORIZO A REPRODUÇÃO TOTAL OU PARCIAL DESTE TRABALHO,
POR QUALQUER MEIO CONVENCIONAL OU ELETRÔNICO, PARA FINS
DE ESTUDO E PESQUISA, DESDE QUE CITADA A FONTE.
DEDICATÓRIA
AGRADECIMENTOS
RESUMO
ABSTRACT
Mechanical vibrations offer great limitation for the productivity, quality or even
feasibility of the machining operations when chatter is present. In this work it was
developed strategies aiming to diminish the intensity of the vibration in turning
processes. By coupling a piezoelectric material with a turning tool and by using
different associations of resistive and inductive shunt (series or parallel) it was
created electromechanical structures passively damped. Electromechanical models
of distributed parameters were developed in order to show the capacity that these
structures has to offer a greater dumping when compared with conventional
mechanical structures. By using these constructed models it was possible to verify
the influence of the thickness of the piezoelectric material as well as the influence of
shunts in the behavior of structure. It was observed that thicker layers increase the
damping capacity of the structure that resistive-inductive shunt (series or parallel)
works as a damped dynamic vibration absorber which offer better performance.
Latter was developed a stability lobes diagram in order to compare the structures
with and without shunts and it was observed that structures connected to resistive-
inductive shunt has a better performance. Tap tests were performed for the purpose
of study the experimental behavior of the structure connected to shunt and results
showed that there is a better damping in this situation. Considering the results
obtained, is fair to believe that is possible to improve turning process by using
piezoelectric materials.
LISTA DE FIGURAS
LISTA DE QUADROS
LISTA DE TABELAS
FT – Função Transferência
LISTA DE SÍMBOLOS
Ff – Força de avanço
Fu – Força de usinagem
F N – Força normal
f0 x – Função impulso
f, Vf – Direção de avanço
Fr – Força normal
G s – Função de transferência
h – Espessura de corte
h – Profundidade de corte
i – Ângulo de inclinação
I – Momento de inércia
K re – Força de aresta
m – Massa homogênea
xxiii
Lista de símbolos
M – Momento fletor
Pn t – Carregamento generalizado
Rc – Grau de recalque
r – Raio de ponta
u x a – Função degrau
V – Vetor cisalhante
Vc – Velocidade de corte
Vc – Velocidade de corte
w x – Deflexão na viga
Y – Módulo de elasticidade
YI x – Rigidez à flexão
Z t – Impedância
o – Ângulo de folga
a – Ângulo de atrito
– Ângulo de atrito
o – Ângulo de cunha
r – Ângulo de ponta
– Coeficiente de amortecimento
– Ângulo do cavaco
i – Ângulo de projeção
r – Ângulo de posição
s – Ângulo de inclinação
sh – Tensão de cisalhamento
– Ângulo de cisalhamento
q ,k
– Funções transferência modais
x – Função característica
r – Termo de acoplamento modal
SUMÁRIO
RESUMO .......................................................................................................... v
ABSTRACT..................................................................................................... vii
1 Introdução ................................................................................................... 1
1 Introdução
Além destes fatores, o tempo de entrega dos pedidos é cada vez mais
importante para o consumidor no momento de decidir qual será seu fornecedor.
Dessa forma, as empresas precisam fazer mais peças em um tempo menor para
sobreviver no mercado. Para tanto, a taxa de remoção de material durante a
usinagem precisa ser cada vez maior.
Em virtude disso, nos últimos anos, surgiram várias pesquisas com o objetivo
de controlar o nível de vibração nas mais diversas estruturas usando materiais
piezelétricos, os quais transformam a energia mecânica oriunda da vibração em
energia elétrica (Sodano et al., 2004; Anton e Sodano, 2007; Saadon e Sidek, 2011)
e, especificamente, em processos de usinagem (Park et al., 2007).
1.1 Objetivos
2 Revisão bibliográfica
Um dos modelos pioneiros sobre o corte ortogonal foi desenvolvido por Ernst
e Merchant (1941), citado por Armarego e Brown (1969) e Boothroyd e Knight
(1989), o qual assume que a zona de cisalhamento primária seja tão fina quanto um
plano e que as tensões de cisalhamento sh e normal sejam constantes e, a partir
Figura 2.1 - Modelo de Ernst e Merchant para o corte ortogonal (Adaptado de Astakhov, 2006)
Figura 2.2 - Modelo de Ernst e Merchant simplificado para o corte ortogonal (Cervelin, 2009)
Fu Fc2 Ff 2 (2.1)
7
Revisão Bibliográfica
aparente de atrito) F
e normal F N à superfície de saída da ferramenta, dadas
por:
F
tan( ) (2.4)
F N
Ff
tan1 (2.5)
Fc
por:
Fc Fu cos( )
(2.6)
Ff Fu sen( )
( )
(2.7)
4 2
Fsh
sh (2.8)
bh
corte.
h'
9
Revisão Bibliográfica
n Superfície
de saída n
Plano normal
Paralelo ao plano
Superfície de cisalhamento
de saída V sh
Vc
Plano de
cisalhamento V cav Superfície Vcav Vc
usinada
V sh Plano normal
Plano de
cisalhamento
Plano normal (Pn)
F N Superfície F sh
de saída Aresta de
Plano corte
n n normal
(Pn)
FshN
F Fu
Fu
Normal à aresta
de corte
Figura 2.4 - Diagramas de força, velocidade e cisalhamento no corte oblíquo (Adaptado de Shamoto
e Altintas, 1999)
O plano normal (Pn), definido pelo plano normal à aresta de corte e com
inclinação i em relação à velocidade de corte (Vc), ou simplesmente pelo plano xz, é
importante, pois nele se encontram projetadas as forças e velocidades do corte
oblíquo (Shamoto e Altintas, 1999).
10
Revisão bibliográfica
cavaco move-se com velocidade Vcav sobre a superfície de saída da ferramenta com
superfície de saída e a força normal F N à mesma superfície resultam na força de
sen i
F Fu sen a Fu sen i sen a sen (2.10)
sen
tan n n
F F N tan a F N tan n n tan a cos (2.11)
cos
As velocidades do cavaco V cav , cisalhamento V sh e de corte V podem c
cos n tan i
tan n n , (2.14)
tan sen n tan i
ou seja:
h
rc (2.17)
h'
1 h'
Rc (2.18)
rc h
12
Revisão bibliográfica
(h’).
Além disso, o ângulo de atrito a para corte oblíquo pode ser definido da
mesma maneira que no corte ortogonal, por meio da Equação (2.4), assim como a
tensão de cisalhamento pode ser definida pela Equação (2.8), válida também para o
corte ortogonal.
13
Revisão Bibliográfica
F Kbh , (2.21)
Ftc bhK tc
Ftf bhK fc , (2.22)
Ftr bhK rc
14
Revisão bibliográfica
Fc Ktc bh K te b
Ff K fc bh K fe b , (2.24)
Fr K rc bh K re b
o ângulo de folga
o ângulo de cunha
o ângulo de saída
r ângulo de posição
' ângulo de posição secundário
r
r ângulo de ponta
s ângulo de inclinação
r raio de ponta
Pode-se, a partir das duas últimas figuras (Figura 2.6 e Figura 2.7), definir os
seguintes ângulos (Altintas, 2012), mostrados na Equação (2.25):
r 90 r (2.26)
O modelo de força usado neste trabalho foi proposto por Altintas (2012) e
também foi usado por Sortino et al. (2012). A Figura 2.8 mostra tal modelo.
Vista XZ
Peça
n
Vista XZ
p
Avanço
Rs
Ferramenta
avanço (Vf) corresponde ao trajeto linear percorrido durante uma revolução do eixo-
árvore (c).
Por outro lado, na região o cavaco possui uma espessura variante devido
ao raio de ponta da ferramenta.
A força de aresta K re pode ser considerada igual a zero pelo fato da mesma
teoricamente não existir no modelo de corte ortogonal (Altintas, 2012).
19
Revisão Bibliográfica
dA ATdS (2.29)
OO " TO "
, (2.31)
sen sen
c
sen1 sen . (2.32)
r
dFx dFc
dFy dFf sen dFr cos . (2.36)
dFz dFf cos dFr sen
0
Fq dFq , q x, y , z , (2.37)
0
Nota-se que não é um cálculo trivial, por isso é mais prático adotar um
coeficiente médio de pressão específica de corte assumindo um ângulo r igual a
forças presentes em cada uma dessas partes podem ser calculadas e somadas
numericamente:
K
Fq dFq , q x, y, z , (2.38)
k 0
21
Revisão Bibliográfica
O total das forças de corte agindo sobre a ferramenta é igual à soma das
regiões e :
d a
T Fx , P FxVc (2.40)
2
V
Rs r 1 cos sen1 f (2.41)
2r
Análises similares com outras ferramentas de corte podem ser feitas segundo
este modelo apresentado.
Uma estrutura simples com um grau de liberdade (GDL) pode ser modelada
por meio de uma combinação de três elementos: massa (m) [kg], rigidez da mola (k)
[N/m] e pela constante de proporcionalidade de amortecimento (c) [Ns/m], observada
na Figura 2.9 e representada pela Equação (2.42).
23
Revisão Bibliográfica
k
x t x t 0, (2.43)
m
xo 2n 2 x0 2 x
x t cos nt tan1 0 (2.44)
n 2
x0n
ou
x0
x t x0 cos(nt ) sen(nt ), (2.45)
n
definida pela razão da rigidez pela massa, de acordo com a Equação (2.46), x0 e x 0
k
n (2.46)
m
24
Revisão bibliográfica
c k
x t x t x t 0 . (2.47)
m m
c k
Xest s 2 s 0, (2.48)
m m
e as raízes da Equação (2.48), para solução não trivial, são dadas por (Inman,
2006):
2
c c k
s1,2 . (2.49)
2m 2m m
c
. (2.50)
2 km
d n 1 2 . (2.51)
e
25
Revisão Bibliográfica
s1,2 n n 1 2
. (2.53)
x t e nt C1en 1 2 t
C2e n 1 2 t
, (2.54)
seja:
26
Revisão bibliográfica
cc 2 km 2mn (2.55)
Figura 2.11 – Caso criticamente amortecido para várias condições iniciais de velocidade (Adaptado
de Inman, 2006)
2
d , (2.57)
d
1 x
ln 1 (2.58)
2 n xn
27
Revisão Bibliográfica
x t e nt x0 cos
1 2 nt
x 0 n x0
1 2 n
sen
1 2 nt
(2.59)
x t Xe jt . (2.62)
F0
X . (2.63)
k m jc
2
F0
X 2 m (2.64)
n 2 j 2n
ou
F0
X k . (2.65)
2
1 j 2
n
n
Parte imaginária
Parte real
F0
X k (2.66)
2
2
2
1 2
n
n
2
n
tan1 2
. (2.67)
1
n
29
Revisão Bibliográfica
X X e j . (2.68)
O que leva a:
x t X e
j t
, (2.69)
F0
x t e nt C1en 1 2
t
C2e n 1 2
t
2 2
k
2
e
j t
.
1
2
n
n
(2.70)
x t e nt x0 cos 1 2 nt 0
x n x0
1 2 n
sen 1 2 nt
F0
(2.71)
k e .
j t
2
2 2
1 2
n n
2
1 2
F
Re X 0 n F
; Im X 0
n
,
2 2 (2.72)
k 2
2 k 2
2
1 2 1 2
n n n n
tornando X Re X Im X .
30
Revisão bibliográfica
1
X s F0 s (2.73)
s m sc k
2
X s 1
s 2 (2.74)
F0 s s m sc k
s1,2 n n 2 1
usar a transformada de Fourier quando o limite inferior de integração for igual a zero,
levando a Equação (2.74) à chamada Função de Resposta em Freqüência (FRF):
X j 1
j . (2.75)
F0 j m jc k
2
1 2
X j n
j k e tan1 2
, (2.76)
F0 j 2 2 2
1
1 2
n n n
2
1
G j Re j
1 n ;
k 2 2
2
1 2
n n
(2.77)
2
1 n
H j Im j 2
.
k 2
2
1 2
n n
r . (2.78)
n
1
2 r
j k e tan1 2
(2.79)
1 r 2 2 2 r 2 1 r
1 1 r 2
G j Re j ;
k 1 r 2 2 2 r 2
(2.80)
1 2 r
H j Im j .
k 1 r 2 2 r 2
2
j G j H j (2.81)
a parte real da FRF é igual a zero, a parte imaginária é igual a 1/ 2k e a fase é
igual a -90º. Esse caso é chamado freqüência de ressonância e, pela Figura 2.13,
percebe-se que a amplitude máxima da FRF ocorre justamente nessa condição.
m 1kg; k 1 106 N / m; c 200Ns / m e r
n
1
definido por
4k 1
quando r 1 1 .
n
Em geral, essas
a b
, (2.82)
2i
H max
dividido por 2 , ou seja, nos pontos em que H a,b (Figura 2.16).
2
Figura 2.16 – Obtenção da razão de amortecimento usando a magnitude da FRF (Dahil et al.,
2013)
Figura 2.17 - FRF de um GDL em coordenadas polares (Adaptado de Schmitz e Smith, 2009)
36
Revisão bibliográfica
sistema.
m 0 k1 k 2 k 2 c1 c2 c2
Mx 01 ; K x ; c x (2.85)
m2 k 2 k2 k3 c2 c2 c3
x1 t f t
x ; F 1 , (2.86)
x2 t f2 t
respectivamente.
ou
k1 k 2 2m1 k 2 x1 0
(2.90)
k 2 k 2 k 3 2
m x
2 2 0
k1 k 2 sm1 k 2
0 (2.91)
k 2 k 2 k3 sm2
ou
s1 n21
, (2.94)
s2 n22
x1 t X1 X1
sen n1t 1 sen n 2t 2 , (2.95)
x2 t 1 X 2 1 X 2 2
em que P1,2 X1 X 2
T
são os autovetores ou modos de vibração associados com
1,2
a freqüência natural fundamental n1 e com a segunda freqüência natural n 2 ,
X1 k2 k 2 k3 n21m2
,
k1 k 2 n21m1
1
X 2 1 k2
(2.96)
X1 k2 k 2 k3 n22m2
2 .
X 2 2 k1 k 2 n22m1 k2
(2.95), obtém-se:
q t
x t P P q t P q t
1 2
1
, (2.98)
2
Figura 2.19 - Modos de vibração de um sistema com dois GDL (Adaptado de Altintas, 2012)
Além disso, uma vez que os modos são ortogonais uns aos outros, eles
possuem a seguinte propriedade:
ao passo que
Mq P M x P
T
(2.101)
K q P K x P
T
41
Revisão Bibliográfica
As matrizes de massa modal Mq e rigidez modal K q são diagonais,
em que cada elemento representa a massa ou rigidez associada a um modo.
Até aqui, buscou-se uma solução no caso em que não existe amortecimento.
No entanto, pode-se considerar que o sistema possui um amortecimento
proporcional ou de Rayleigh (1945), como indicado a seguir:
em que 1 [1/s] e 2 [s] são constantes empíricas (esse tipo de amortecimento não
deve ser usado em qualquer sistema, mas fornece uma boa aproximação em
sistemas com baixo amortecimento, como os mecânicos, por exemplo). Nesse caso,
a solução dos autovalores e autovetores pode ser obtida da maneira já
demonstrada. Além disso, a solução também independe da presença de forças
externas (Schmitz e Smith, 2012).
e a solução é:
q1 t Q1e 1n1t sen n1 1 1 t 1 , (2.107)
kq1
na qual a razão de amortecimento modal 1 é cq1 / 2 kq1mq1 , n1 mq1
e Q1 é
cqn
Da relação n , e da Equação (2.102) pode-se dizer que
2nq
1 2nq
cqn (Clough e Penzien, 2003).
2nq 2
x1 t 1 2 q1 t
. (2.108)
x2 t 1 1 q2 t
R P F .
T
(2.109)
qk 1 1
q,k
Rk kqk
1 r 2 r
2 2
2
k k
k
, (2.112)
2 k rk
k tan1 2
1 rk
q1 t q1 0 R1
, (2.113)
q2 t 0 q 2 R2
x P q P F
T
, (2.115)
n
P k P k q,k F ,
T
x (2.116)
k 1
Portanto, vibrações forçadas para cada coordenada podem ser calculadas por
força externa F . Caso a força externa aplicada seja F F1 sen t 0 , as
x1
12 q1 22 q 2
F1
(2.117)
x2
1 q1 2 q 2
F1
e, além disso, o sistema com 2 graus de liberdade pode ser generalizado para um
sistema com múltiplos graus de liberdade.
problemas de vibração, o que faz com que as equações dos modelos de sistemas
de parâmetros distribuídos sejam do tipo diferencial parcial (Clough e Penzien,
2003).
Figura 2.20 - Viga sujeita a carregamento dinâmico: (a) Propriedades e coordenadas da viga; (b)
Forças atuando em um elemento diferencial (Adaptado de Clough e Penzien, 2003).
As propriedades físicas da viga são a rigidez à flexão YI x , na qual Y é o
unidade de comprimento m x , as quais podem variar ao longo do comprimento
viga em um determinado ponto: m x x A x (Inman, 2006).
V x,t
w x,t p x,t dx w x,t dx f x,t dx 0 , (2.118)
x
na qual V x,t é a força vertical agindo sobre o corte da seção e f x,t dx é a força
2w x,t
f x,t dx m x dx (2.119)
t 2
V x,t 2w x,t
p x,t - m x,t . (2.120)
x t 2
M x,t
M x,t V x,t dx M x,t dx 0 , (2.121)
x
M x,t
V x,t . (2.122)
x
2M x,t V x,t
(2.123)
x 2 x
2M x,t 2w x,t
mx p x,t (2.124)
x 2 t 2
2 w x,t
M YI , (2.125)
x 2
2 2w x,t 2w x,t
Y I x m
x p x,t . (2.126)
x 2 x 2 t 2
Observando a Figura 2.21 (b), nota-se que o carregamento axial não altera o
equilíbrio das forças verticais estudado anteriormente. Contudo, a linha de ação da
força axial muda conforme a viga é defletida, causando uma alteração no equilíbrio
dos momentos, que agora é dado por (Clough e Penzien, 2003):
w x,t M x,t
M x,t V x,t dx N x dx M x,t dx 0 , (2.127)
x x
w x,t M x,t
V x,t N x . (2.128)
x x
velocidade de deformação.
w x,t
fD x,t dx c x dx , (2.130)
t
a qual deve ser adicionada ao elemento de corpo livre na Figura 2.21 (b).
w x,t
Figura 2.21 - Viga com carregamento axial e transversal. (a) Viga defletida devido às cargas. (b)
Forças resultantes atuando sobre um elemento diferencial (Adaptado de Clough e Penzien, 2003).
49
Revisão Bibliográfica
Por outro lado, o segundo tipo precisa ser incorporado à expressão do momento
(Equação (2.125)):
2w x,t 3w x,t
M x,t Y I x 2 , (2.131)
x 2
x 2
t
(1945). Aplicando essas mudanças, a equação que descreve o sistema passa a ser:
w t x,t
w t 0,t 1 t 3 t
x x 0
, (2.133)
w t x,t
w t L,t 2 t 4 t
x x L
Figura 2.22 - Viga com suportes sujeitos a deslocamentos (Clough e Penzien, 2003)
50
Revisão bibliográfica
wt x,t encontra-se a equação que rege os movimentos da viga nesse caso. Essa
total da viga w x,t como a soma dos deslocamentos induzidos pelo simples fato
t
de se apoiar a viga sobre os suportes 1 t , 2 t , 3 t , 4 t , também chamados
de deslocamentos quasi-estáticos w x,t , e os deslocamentos devido à dinâmica
s
inercial e efeitos de viscosidade w x,t :
w t x,t w s x,t w x,t . (2.134)
em que
2 2w s x,t 3w s x,t
peff x,t 2 Y I x 2
x x 2 x 2t
(2.136)
2w s x,t w s x,t
m x c x dx .
t 2 t
pela excitação dos suportes da viga. Além disso, como w s x,t é causado por
2 3w s x,t
peff x,t 2
Y I x
x 2 x 2
t (2.137)
w x,t
2 s
w x,t
s
m x c x dx .
t 2
t
4
w s x,t i x i t , (2.138)
i 1
m x i x i t c x i x i t
4
peff x,t 2 2
x . (2.139)
i 1 2
Y I x 2i t i
x x
2
peff x,t m x i x i t .
i 1
(2.140)
wt x,t .
Tomando como exemplo uma viga engastada, pode-se definir suas condições
de contorno como:
w t x,t
w 0,t 1 t
t
3 t , (2.141)
x x 0
e
52
Revisão bibliográfica
w t x,t
w t 0,t 1 t 0
x x 0
, (2.144)
w t x,t
w t L,t 0 0
x x L
e, portanto:
4w x,t 2w x,t
Y I m 0 , (2.147)
x 4
t 2
53
Revisão Bibliográfica
m
w iv x,t w x,t 0 , (2.148)
EI
Desde que m / Y I é uma constante, uma das soluções pode ser obtida
usando superposição de variáveis:
w x,t x q t , (2.149)
o que significa que o movimento vibratório possui um modo x com uma amplitude
iv x m q t
a4 , (2.150)
x YI q t
q t 2q t 0 (2.151)
nas quais
a 4Y I 2m
2
e a
4
, (2.153)
m YI
q 0
q t q 0 cos t sen t . (2.155)
x Gesx , (2.156)
O que leva a:
s 4
a4 Gesx 0 , (2.157)
arbitrária da função característica x (Clough e Penzien, 2003).
A3 A1
,
A4 A2 (2.162)
que podem ser substituídos nas outras duas igualdades, resultando em:
Para uma solução não trivial, o determinante da matriz deve ser igual a zero:
1
cos aL (2.165)
cosh aL
Figura 2.23 (c) mostra o gráfico das funções cos aL e – 1/ cosh aL . Os pontos
aL n 2n 1 n 4,5,6,... (2.166)
2
YI
Figura 2.23 - Análise de vibrações livres em uma viga engastada: (a) Propriedades da viga; (b)
primeiros três modos de vibração; (c) termos da equação de freqüência (Adaptado de Clough e
Penzien, 2003).
YI
n aL n
2
n 1,2,3,... . (2.167)
mL4
cos aL cosh aL
A2 A . (2.168)
sen aL sen haL 1
cos ax n cosh ax n
cos aL n cosh aL n
n x A1n
sen aL n sen h aL n (2.169)
sen ax n sen h ax n
ou
n x A1n cos ax n cosh ax n n sen ax n sen h ax n , (2.170)
na qual
n
cos aL n
cosh aL n (2.171)
sen aL n
sen h aL n
L
m x n x m x dx 0 m n . (2.172)
0
aL 1 1,875104
aL 2 4,694091
(2.173)
aL 3 7,854757
aL 4 10,995541 .
wn x,t n x qn t , (2.174)
cos ax n cosh ax n
cos aL n cosh aL n
w n x A1n
sen aL n sen h aL n
(2.175)
sen ax n sen h ax n
A n cos nt Bn sen nt
w x,t wn x,t n x Yn t . (2.176)
n 1 n 1
L L
n x m x w x,t dx qi t i x n x m x dx , (2.177)
0 0
i 1
L L
n x m x w x,t dx qn t n2 x m x dx , (2.178)
0 0
L
n x m x w x,t dx
qn t
0
L
. (2.179)
n2 x m x dx
0
2
2
i x q i t 2
i x qi t
Y I x i 1
mx i 1
p x,t , (2.180)
x 2 x 2 t 2
2 i x 2
2
i 1 x
Y I x
x 2
q i t 2 m x i x qi t p x,t . (2.181)
i 1 t
L L d2 d 2 i x
q i 0
t m n i i 0 n 2
x x x dx q t x
dx
YI x
dx 2
dx
i 1 i 1 (2.182)
L
n x p x,t dx
0
L L d2 d 2 n x
qn t m x n x dx qn t n x 2 YI x
2
dx
0 0 dx dx 2 (2.183)
L
n x p x,t dx
0
na qual n A 2
n Bn2 e n é a fase.
d2 d 2 n x
2
Y I x 2 m x n n x ,
2
(2.185)
dx dx
L d2 d 2 n x L
0 n x 2 YI x 2 dx n
2
m x 2n x dx . (2.186)
dx dx
0
L
Mn m x 2n x dx , (2.187)
0
na qual
L
Pn t n x p x,t dx (2.189)
0
d2 d 2 i x
m x i x qi t c x i x qi t
i 1 dx
2 2
YI x
dx 2 q i t
i 1 i 1
(2.190)
d2 d 2 i x
2 YI x qi t p x,t ,
i 1 dx dx 2
modos, leva a:
L d2 d 2 i x
Mnqn t qn t n x c x i 2 2YI x
dx
i 1
0
dx dx 2 (2.191)
n2Mnqn t Pn t .
proporcional, tem-se:
Cn
Introduzindo a razão de amortecimento modal n 1 2 n na
2Mnn 2n 2
Pn t
qn t 2 nnq n t n2qn t , n 1,2,3.... (2.193)
Mn
d 4w
Y I 4 f0 x , (2.194)
dx
d 4w
YI f0 x a , (2.195)
dx 4
d 3w
YI f0u x a C1 , (2.196)
dx 3
d 2w
YI f0 x a x a C1x C2 , (2.197)
dx 2
dw 1 C
f0 x a x a 1 x 2 C2 x C3
2
YI (2.198)
dx 2 2
1 C C
x a x a 1 x 3 2 x 2 C3 x C4 .
3
Y Iw f0 (2.199)
6 6 2
C1 1 C2 a
, (2.200)
C3 0 C4 0
f0 1 x 3 ax 2
w x
3
x a u x a . (2.201)
Y I 6 6 2
Figura 2.25 - Viga composta e método da seção transformada: (a) seção original e (b) seção
transformada (Adaptado de Erturk, A e Inman, D. J., 2008).
Neste caso, em que há uma viga composta por dois materiais distintos, (Gere
e Goodno, 2012) usam o método da seção transformada para transformar a seção
transversal da viga composta em uma seção equivalente de um único material. Para
tanto, as dimensões da viga de material B permanecem as mesmas, assim como a
altura ha da seção de material A. Por outro lado, a largura da seção A sofre
as alturas das seções de material A e de material B. Por sua vez, hal ,hbl , hbc e nb são
I IB n IA . (2.203)
2.5.1 Chatter
2.5.1.1Chatter regenerativo
Embora, como visto no item anterior, existam vários tipos de chatter, é comum
o uso do termo chatter para se referir ao do tipo regenerativo (Quintana e Ciurana,
2011) e assim será também ao longo deste trabalho.
1
TLUSTY, J., POLACEK, M., Besipiele der behandlung der selbsterregten Schwingung der
Werkzeugmaschinen, FoKoMa, Hanser Verlag, Munchen, 1957.
67
Revisão Bibliográfica
Figura 2.27 – Modelo de chatter no corte ortogonal com um GDL (Adaptado de Schmitz e Smith,
2009)
Passe de usinagem
anterior
a) b) c)
Figura 2.28 - a) Usinagem de uma peça com vibração deixada por um passe anterior; b) Usinagem
com as ondas atual e anterior em fase; c) Usinagem com defasagem entre as ondas atual e anterior
(Adaptado de Schmitz e Smith, 2009)
h t h0 y t y t T , (2.205)
60
T . (2.206)
n
ou
Desta forma, tratando o sistema como sendo linear, a equação dinâmica para
um GDL, na direção do avanço da ferramenta, pode ser escrita como:
my y t cy y t ky y t Ff t (2.209)
y t y t T h ,
0
a ferramenta perde contato com a peça, a espessura do
cavaco passa a ser zero e força se torna nula. Esses saltos da ferramenta podem
complicar a obtenção da espessura do cavaco em passes posteriores, causando o
chamado efeito regenerativo múltiplo (Altintas, 2012).
Y s 1
G s 2 . (2.211)
Ff s s m sc k
71
Revisão Bibliográfica
Y s '2n
G s . (2.212)
F s k y s 2 2ns n2
Y s F s G s . (2.213)
Ff s KfcaH s , (2.215)
H s H0 s esT 1 Ff s G s . (2.216)
H s 1
. (2.217)
H0 s 1 K fc aG s 1 e sT
Figura 2.30 – Diagrama de blocos em malha fechada de Merrit (Adaptado de Merrit, 1965)
em que alim é a máxima profundidade de corte para uma usinagem livre de chatter.
73
Revisão Bibliográfica
G j Re G j j Im G j G j jG j e usando a identidade de
Re Im
1 K a
tc lim GRe j 1 cos cT GIm j sen cT
(2.220)
j K a
tc
GRe j sen cT GIm j 1 cos cT 0
lim
e tanto a parte real quanto a imaginária devem ser iguais a zero. Tomando primeiro
a parte imaginária, chega-se em:
o que leva a:
GIm j sencT
tan , (2.222)
GRe j cos cT 1
cT
cos T 3
tan 2 tan c 2 (2.223)
T 2
sen c
2
cT 3 2
cT 3 K . (2.224)
2
cT 3 K
GIm s 0
2
.
G s 0 c T 3
Im
K
2
74
Revisão bibliográfica
c
Pode-se reescrever a Equação (2.224), sabendo que fc , como:
2
fcT
2 3 K . (2.225)
2
fc
fcT K , (2.226)
n 2
3 2 (2.227)
e que:
2K 60
T n , (2.228)
2 fc T
e é dada por:
75
Revisão Bibliográfica
k y 1 r 2 r
2 2 2
1
alim , (2.230)
2KfcGRe s kt 2 1 r 2
c
em que k y é a rigidez do sistema na direção y e, relembrando, r .
n
freqüência. Se alim for escolhido quando GRe s tiver seu valor mínimo, o chatter
Fazendo uso das expressões acima, Tlusty e Polacek (1963) e Merrit (1965)
criaram um gráfico chamado diagrama de lóbulos de estabilidade (Figura 2.31), o
qual indica regiões em que a usinagem será livre de chatter (região abaixo dos
lóbulos) dada uma profundidade de corte e uma velocidade de rotação do eixo-
árvore (Altintas e Weck, 2004).
76
Revisão bibliográfica
Figura 2.31 – Diagrama de lóbulos de estabilidade (Adaptado de Erturk, A. e Inman, D. J., 2008b)
B
C D
disso, a diferença entre os vetores AC e AD equivale a duas vezes a parte real
1
G j de G jc , o que corresponde a
RE c
Kf a
.
Analisando a Equação (2.230), vê-se que quando GRE jc tende a zero, o
valor de alim tende ao infinito (isso ocorre quando c n ). Porém, na Figura 2.33
é possível ver que o valor de alim acaba limitado pela intersecção do lóbulo
Instável
alim mm K 1
Limite de
estabilidade
K 0
Estável
N rpm
Figura 2.33 - Detalhe do gráfico dos lóbulos de estabilidade (Adaptado de Schmitz e Smith, 2009)
Pela Figura 2.32 também se pode fazer outras análises: a medida que a parte
real diminui, o valor de aumenta, de maneira que quando 360 , tem-se o valor
máximo de alim . Mas 360 indica que as ondas superficiais da peça estão em
fase e que GRE jc 0 . Quando 180 , também se verifica que GRE jc 0 . E
2k 1
do lóbulo alim,crit y (Yue, 2006; Schmitz e Smith, 2009).
K fc
78
Revisão bibliográfica
Fc Ktc bh
Ff K fc bh , (2.231)
Fr K rc bh
2 2
K K
Fu F Ft Fr bhKtc
c
2 2 2
1 fc rc Ku bh . (2.232)
Ktc Ktc
Fc Fu cos
Ff Fu cos tan a (2.233)
Fr Fu cos tan r
1
cos
2 2
K K
1 fc rc
K tc K tc
K
tan a fc . (2.234)
K tc
K rc
tan a
K tc
ou
X j j F j
c c c . (2.237)
x t x t T
hd t sen r 0 co s r y t y t T , (2.238)
z t z t T
x j c
hd j c 1 e j c
sen r 0 co s r y j c . (2.239)
z j
c
hd j c 1 e jc 0 j c Fu j c , (2.240)
na qual
d pq como fatores direcionais (Altintas, 2012) e estes fatores são dados por:
1
d xx cos sen2 r tan a sen2 r tan r
2
d xy cos sen r
1
d xz cos sen2 r tan a sen2 r tan r
2
d yx d yy d yz 0 (2.242)
1
d zx cos sen2 r tan a cos 2 r tan r
2
d zy cos cos r
1
d zz cos cos 2 r tan a sen r tan r
2
se torna:
1 1 e jc K u alim 0 j c 0 . (2.243)
81
Revisão Bibliográfica
my c2 jccy k y Y jc Kfc a h0 1 e jcT Y jc .
(2.244)
84
Revisão bibliográfica
sen cT
my c j c c y K fc a Y s
2
c (2.245)
k y K fc a K fc a cos cT Y jc 0 .
c
a c y , (2.246)
K fc sen cT
Alguns materiais, tal como o quartzo, possuem uma dependência entre força
mecânica e carga elétrica. Quando os íons da estrutura cristalina passam a se
deslocar devido a uma força externa, uma polarização elétrica pode ser detectada
por meio de eletrodos conectados à superfície de tais materiais. Este efeito –
chamado efeito piezelétrico direto – foi cientificamente explicado pela primeira vez
por Jacques e Pierre Curie em 1880 (Drossel e Wittstock, 2008). O efeito é
reversível – uma tensão aplicada sobre os eletrodos resultará em uma deformação
mecânica – e é chamado efeito piezelétrico inverso (ou reverso). No primeiro caso,
os materiais piezelétricos podem ser usados para desempenharem funções de
sensores e no segundo, de atuadores.
As equações que regem o efeito piezelétrico linear são definidas por norma
(Janocha, 2007) e relacionam vetor densidade de deslocamento elétrico D
[Coulomb/m2], vetor deformação mecânica S [m], vetor tensão mecânica T
ou
D T d E
(2.249)
S dt s E T
nos quais [d] é a matriz de constante piezelétrica [m/V ou C/N], que indica a
capacitivo do piezelétrico.
86
Revisão bibliográfica
1
em que c E s E é o modulo de Young submetido a campo elétrico constante
1 1 1
[N/m2], e d s E e k 2 d 2 s E T é chamado de coeficiente de
Cerâmica piezelétrica
Figura 2.35 - Viga engastada representando o suporte de ferramenta com uma camada de material
piezelétri co acoplado (Adaptado de ERTURK, A.; INMAN, D. J., 2 00 8b)
Camada piezelétrica
Figura 2.36 - Seção transversal da viga e da camada piezelétrica (Cervelin et al., 2010)
Para uma dada estrutura, denotada pelo índice s, e uma camada de material
piezelétrico, este denotada pelo índice p, as relações entre a deformação [T] e a
tensão [S] são dadas por:
88
Revisão bibliográfica
hb hc
M x,t T1Sbydy T1P bydy , (2.255)
ha hb
(2.202).
2w x,t
M x,t Y e t , (2.256)
x 2
YP d31b 2
2hP
hc hb2 H x x1 H x x2 . (2.258)
89
Revisão Bibliográfica
w x,t r x r t , (2.260)
r 1
d t d t
2
2 r r r 2r t r e t F t r Lb , (2.261)
dt dt
na qual
90
Revisão bibliográfica
dr x
r (2.262)
dx x L
p
1 r r r r
r x cosh x cos r sen h x sen x (2.263)
A Lb Lb Lb Lb
YI
r r (2.264)
AL4b
excitação seja F F0e jt , a equação modal de movimento para viga engastada
submetida à força aplicada na extremidade livre é dada, no domínio de Laplace, por:
s 2
2 r r s r 2 Hr r E F0 s r Lb (2.265)
2 r ca
em que r é o fator de amortecimento modal r , escolhido
2Y 2mr
dr x
r . (2.266)
dx x L
b
91
Revisão Bibliográfica
2 y x,t S e t
D3 d31YP hpc 33 , (2.267)
x 2
hp
na qual 33
S
33
T
d 31
2
YP , 33
T
é a permissividade com a tensão constante e hpc é a
distância do centro da camada de material piezelétrico para a linha neutra (ver
Figura 2.36). A carga elétrica q t desenvolvida pelo material piezelétrico pode ser
x2 w 2 x,t e t
q t D n dA d31Yp hpc b s
b dx (2.268)
hp
33
A x1
x 2
dq t
Como i t ,
dt
x2 3w x,t 33
s
b e t x2
i t d31Yp hpc b dx L (2.269)
x1 x 2t hp dt x1
33
s
bL
O termo define a capacitância da cerâmica piezelétrica, a qual é
hp
J., 2008a).
dq t
e t Z t (2.270)
dt
92
Revisão bibliográfica
Figura 2.37 - Impedâncias associadas à cerâmica piezelétrica do suporte de ferramenta. (a) shunt
resistivo; (b) shunt capacitivo; (c) shunt indutivo; (d) shunt resistivo-indutivo em série; (a) shunt
resistivo-indutivo em paralelo (Erturk, A. e Inman, D. J., 2008b).
na qual
Lb
rw r x dx . (2.272)
x 0
1
sC
p
Z s
E s r Hr 0 . (2.273)
r 1
r Lb r
s
GH s
r Lb r r 1
1
r2
sC p s
Hr s Z s r 1 GH s
(2.274)
F s GH s
Y s
H s
G s r Lb r (2.275)
Fc s x L r 1 F s
b
Quadro 2.1 - Circuitos básicos de shunt para amortecimento piezelétrico (Adaptado de Erturk, A. e
Inman, D. J., 2008b)
Modificação na rigidez e no
Resistivo R R
amortecimento
j
Capacitivo C Modificação na rigidez
C
Absorvedor dinâmico de
Indutivo L j L
vibração não amortecido
Série: j L R
Absorvedor dinâmico de
Resistivo-indutivo RL j LR
vibração amortecido Paralelo:
jL R
sobre o eixo da freqüência, mas não tem seu módulo afetado. Erturk e Inman
(2008b) destacam três pontos sobre o uso desses dois tipos de shunts: o primeiro é
que todos os modos de vibração são afetados; o segundo é que, como há um
deslocamento da freqüência de ressonância ao longo do eixo da freqüência, existe a
possibilidade do movimento ser atenuado na freqüência de ressonância original e
aumentado em outra; por fim, materiais com alto fator de acoplamento piezelétrico
são essenciais para a mudança da freqüência de ressonância.
I Y EL s sAd e
S t 1 ;
(2.276)
dL sE T
Y EL Y D Y SU ,
1
circuito aberto, YSU é a matriz admitância do shunt.
ZSU
d ij
k ij , (2.277)
s Ejj iT
96
Revisão bibliográfica
dada por:
jj s
Z SU 1 kij2
jj s
Z ME (2.278)
Z Djj s 1 kij2Z jjEL s
Ak
Figura 2.38 - Modelo de uma placa piezelétrica (Adaptado de VIANA; STEFFEN, 2006)
Para o caso de shunt resistivo com operação transversal (na qual a direção
da força é perpendicular à direção do campo elétrico), o valor ótimo do resistor é
(Hagood e Flotow, 1991):
1 k13
2
RR , (2.279)
C ps
T
em que C s C T (1 k 31
p p
2
) e C p é a capacitância da placa piezelétrica.
ropt
RRLs
Cps nE
(2.280)
1
LRLs ,
Cps nE opt
2
97
Revisão Bibliográfica
nos quais
2K 31
ropt
1 K31
2
opt 1 K 31
2
, (2.281)
nD nE
K 31
nE
1
RRLp
2K 31CpsnE
(2.282)
1
LRLp ,
2
Cps nE
em que
2
K31
1 . (2.283)
2
sintético derivado do modelo de Antoniou proposto por Senani (1996), e por Agnes
(1995), que por sua vez empregou um indutor flutuante derivado do Riordan (Figura
2.41). um indutor flutuante derivado da junção de dois circuitos de Antoniou também
foi usado (Airoldi e Ruzzene, 2011) (Figura 2.42). Viana e Steffen (2006) fizeram um
estudo comparativo entre os indutores sintéticos de Riordan e de Antoniou, porém o
resultado foi inconclusivo.
(a) (b)
Z1Z3Z5
ZIN , (2.284)
Z2 Z 4
j
uma capacitância definida por Z2 . Dessa forma, a Equação (2.284) pode ser
C2
reescrita como:
R1R3R5C2
ZIN jLeq , (2.285)
R4
R1R 3R 5C2
L eq =2 (2.287)
R4
103
Estudos e discussões
3 Estudos e discussões
Figura 3.1 – Configurações estudadas na ferramenta de torneamento externo (vista das seções da
barra)
r Lb r
s
GH s
r Lb r r 1
1
r2
sCp s
Hr s
Z s r 1 GH s
G s r Lb r Lb (3.1)
r 1 F s r 1 GH s
104
Estudos e discussões
material piezelétrico.
Espessura da placa
Circuito shunt Impedância (Z)
piezelétrica
2 mm
Resistivo R R
4 mm
2 mm
Indutivo L j L
4 mm
2 mm
Resistivo-indutivo em série j L R
4 mm
2 mm jLR
Resistivo-indutivo em paralelo
4 mm jL R
Figura 3.3 – Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo sem material piezelétrico
108
Estudos e discussões
Figura 3.4 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt resistivo para placa piezelétrica de 2mm de
espessura.
110
Estudos e discussões
Figura 3.5 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt resistivo para placa piezelétrica de 4mm de
espessura.
111
Estudos e discussões
R aumenta
Figura 3.6 – Efeito causado pelo shunt resistivo com placa de 4 mm de espessura
A Figura 3.9 ilustra o efeito que um shunt indutivo causa em uma estrutura,
neste caso com uma placa piezelétrica de 4 mm de espessura. Pode-se observar
que o uso do indutor causa o aparecimento de um outro modo, verificado também
pela fase do sistema, mas não causa atenuação. Dessa maneira, quando bem
sintonizado, ele provoca o surgimento de um vale na freqüência natural do sistema –
a anti-ressonância – (com o inconveniente de criar duas outras freqüências naturais
próximas à freqüência natural original), comportando-se como um absorvedor
dinâmico de vibrações não amortecido. Além disso, variações relativamente baixas
no valor da indutância provocam um deslocamento considerável na curva de
resposta obtida. Mais ainda, o aumento da indutância tende a deslocar o vale para
uma freqüência natural cada vez menor.
112
Estudos e discussões
Figura 3.7 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt indutivo e placa piezelétrica com espessura de 2 mm.
113
Estudos e discussões
Figura 3.8 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt indutivo e placa piezelétrica com espessura de 4 mm.
114
Estudos e discussões
L aumenta
Figura 3.9 - Efeito causado pelo shunt indutivo com placa de 4 mm de espessura
Figura 3.10 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt resistivo-indutivo em série e placa piezelétrica com
espessura de 2 mm.
116
Estudos e discussões
Figura 3.11- Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt resistivo-indutivo em série e placa piezelétrica com
espessura de 4 mm.
117
Estudos e discussões
R diminui
Figura 3.12 - Efeito causado pelo shunt resistivo-indutivo em série com placa de 2 mm de espessura
Figura 3.13 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt resistivo-indutivo em paralelo com placa piezelétrica
de 2 mm de espessura.
119
Estudos e discussões
Figura 3.14 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento externo com shunt resistivo-indutivo em paralelo com placa piezelétrica
de 4 mm de espessura.
120
Estudos e discussões
R aumenta
Figura 3.15 - Efeito causado pelo shunt resistivo-indutivo em paralelo com placa de 2 mm de
espessura.
sencT
(2.222) tan ;
cos cT 1
2
Detalhes sobre a obtenção de função transferência e parâmetros estruturais por meio de
experimentos, bem como sobre os equipamentos envolvidos, podem ser encontrados em trabalhos
como, por exemplo: Ewins (2000), Inman (2006) e He e Fu (2001).
121
Estudos e discussões
1
G j k .
2
2
2
1
2
n n
c
configuração de shunt abordada. Os termos e k foram encontrados
2 km
ajustando a curva gerada pela Equação (2.76) até que a mesma coincida com as
curvas de resposta do sistema geradas na seção anterior. O ajuste foi feito
manualmente e comparado por meio visual. Os valores ajustados são mostrados na
Tabela 3.4. Para que tanto o efeito do shunt quanto da espessura da placa
piezelétrica, foram construídos os diagramas de lóbulos de estabilidade com shunt
resistivo-indutivo em paralelo, considerando a placa com 2 mm e 4 mm de
espessura, e com a viga sem a placa.
Placa
Shunt k c M
piezelétrica
Sem placa --- 3,1623e6 85 5,65
2 mm RL paralelo 3,3884e6 100 5,58
4 mm RL paralelo 3,8019e6 115 5,63
122
Estudos e discussões
Figura 3.17 – Esquemático da ferramenta Sandvik Coromant S32U PTFNL 16-W, indicando algumas
de suas dimensões (Disponível em http://www.sandvik.coromant.com/pt-
pt/products/pages/productdetails.aspx?c=S32U-PTFNL%2016-W)
124
Estudos e discussões
A placa piezelétrica, por sua vez, foi confeccionada com cerâmica tipo PZT-
5A, fabricado pela Sinocera, cujas características se encontram na Tabela 3.6.
125
Estudos e discussões
circuito aberto nD . Há uma diferença entre essas freqüências devido ao efeito
Para se fazer tais medições, o suporte foi fixado no torno Index GU 600 CNC
e suas FRF foram obtidas por meio de ensaios de impacto (tap test) (Figura 3.19 e
Figura 3.20). Para tanto, foram usados um martelo de impacto PCB 086C03 e
acelerômetro PCB 353B16 com base magnética PCB 080A30. Os dados foram
obtidos usando o módulo MalTF do programa CUTPRO 9.3, desenvolvido por
Manufacturing Automation Laboratories Inc.. A conexão entre o CUTPRO e o
martelo e acelerômetro se deu pelo módulo de aquisição de sinais da National
Instruments modelo NI 9233.
Acelerômetro
(atrás da ferramenta)
Martelo de
impacto
Figura 3.19 – Fixação do suporte de ferramenta com piezelétrico no torno e sistema de aquisição de
dados
127
Estudos e discussões
A faixa de freqüência foi de 60 a 500 Hz, com intervalo de 0,5 Hz, a menor
resolução disponível no programa. Além disso, são necessárias 5 medições
(marteladas) para que o programa faça uma média e disponibilize os resultados.
Para esse suporte foram encontradas as FRF para circuito aberto (Figura
3.21) e curto-circuito (Figura 3.22), das quais se obtém que
nD 142Hz e nE 141,5Hz
129
Estudos e discussões
Os valores ótimos dos shunts para esse suporte de ferramenta estão listados
na Tabela 3.7. Quando o valor ótimo calculado não era a melhor resposta, pela
análise visual das curvas, fez-se um ajuste manual até que o melhor valor fosse
encontrado (definido também visualmente).
Figura 3.23 – Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350
mm sem shunt.
133
Estudos e discussões
3.2.2.1 Shunt resistivo
Na Figura 3.24 estão a magnitude e a fase do suporte de ferramenta com shunt resistivo.
Figura 3.24 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350 mm com shunt resistivo.
134
Estudos e discussões
Figura 3.25 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350 mm com shunt indutivo.
135
Estudos e discussões
3.2.2.3 Shunt resistivo-indutivo em série
Mantendo o valor do indutor fixado no ótimo ajustado, a resposta do shunt RL em série encontra-se na Figura 3.26.
Figura 3.26 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350mm com shunt resistivo-indutivo em série.
136
Estudos e discussões
Figura 3.27 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350mm com shunt resistivo-indutivo em paralelo.
137
Estudos e discussões
Figura 3.28 – Comparação da magnitude e fase dos shunts Resistivo (R), resistivo-indutivo em série (RL série) e resistivo-indutivo em paralelo (RL paralelo)
para a ferramenta de 350 mm.
139
Estudos e discussões
Figura 3.30 – Teste de impacto para suporte de ferramenta de 350 mm, usando
uma única cerâmica
Placa
Shunt k c m
piezelétrica
4 mm Sem shunt 3,0200e5 40 14.9
4 mm RL série 2,8840e5 97 14.5
4 mm RL paralelo 2,8840e5 85 14.5
Figura 3.34 – Suporte de ferramenta Sandvik Coromant S32U PTFNL 16-W com comprimento
reduzido
Neste caso, as freqüências naturais obtidas foram iguais, talvez pela resolução
do equipamento usado, o que levou a considerar o valor de nD ligeiramente superior
Figura 3.37 – Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 270
mm sem shunt.
151
Resultados e discussões
3.3.2.1 Shunt resistivo
Na Figura 3.38 estão a magnitude e a fase do suporte de ferramenta com shunt resistivo.
Figura 3.38 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 270 mm com shunt resistivo.
152
Resultados e discussões
3.3.2.2 Shunt indutivo
Figura 3.39 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 270 mm com shunt indutivo.
153
Resultados e discussões
3.3.2.3 Shunt resistivo-indutivo em série
Mantendo o valor ótimo do indutor, a resposta do shunt resistivo-indutivo em série encontra-se na Figura 3.40.
Figura 3.40 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350mm com shunt resistivo-indutivo em série.
154
Resultados e discussões
3.3.2.4 Shunt resistivo-indutivo em paralelo
Figura 3.41 - Magnitude e fase do modelo do suporte de ferramenta de torneamento interno de 350mm com shunt resistivo-indutivo em paralelo.
155
Resultados e discussões
3.3.2.5 Comparação de desempenho em shunts resistivo e resistivo-indutivo
A comparação entre os shunts resistivos, resistivo-indutivo série e resistivo indutivo paralelo – calculados com os valores
ótimos ajustados – encontra-se na Figura 3.42.
Figura 3.42 – Comparação da magnitude e fase dos shunts Resistivo (R), resistivo-indutivo em série (RL série) e resistivo-indutivo em paralelo (RL paralelo)
para a ferramenta de 270 mm.
156
Resultados e discussões
Placa
Shunt k c m
piezelétrica
4 mm Sem shunt 7,9433e5 61 11
4 mm RL série 7,7625e5 135 10,7
4 mm RL paralelo 7,7625e5 130 10,7
4 Conclusões
torneamento (no caso dos testes realizados nesse trabalho, próximas a 1000Vpp ), o
que leva a procura por componentes capazes de que podem não ser de fácil
disponibilidade. As altas tensões também dificultaram a medição direta dos sinais
gerados pelas cerâmicas piezelétricas, razão pela qual se usou divisor de tensão
resistivo.
Quando esses indutores foram usados como shunt junto com os resistores, os
resultados dos testes de impacto mostraram a capacidade de amortecimento que os
materiais piezelétricos podem oferecer às estruturas mecânicas.
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Vin
i (C.2)
R5
VinR 4
i1 (C.3)
jC 2R1R3R5
176
APÊNDICE
VinR 4
i3 (C.4)
R3R5
VinR 4 1 j C 2R1
iA1 (C.5)
j C 2R1R 3R 5
Vin R 3 R 4
iA2 (C.6)
R3 R5
R4
VA Vin 1 (C.7)
R5
R4
VB Vin 1 (C.8)
j C 2R 3R 5
R 4 Vin Vo
i1 i 2 (C.9)
2 j C 2R1R 3R 5
VinR 4
i3 (C.10)
R3R5
R4
VA Vin Vo Vin (C.11)
2R5
VC
Vo Vin R 4 Vo (C.13)
2R5
VinR 4 Vo 2 jC 2R 3R 5 R 4
VD (C.14)
2 jC 2R 3R 5
177
APÊNDICE
Tabela 5.1 - Correntes e tensões para o indutor sintético de Antoniou (em Volt e Ampere)
i1 i3 i iA1 iA2 VA VB
P1 P3 P4 P5
3,7787 3,3088 3,4043 3,4043