Microscopia de Força Atômica Na Análise de Rugosidade e Da Dimensão Fractal de Membranas Celulares

UNIVERSIDADE FEDERAL DE ALAGOAS
INSTITUTO DE FÍSICA
PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM FÍSICA
GIVANILDO RODRIGUES DA SILVA
MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA NA ANÁLISE DE RUGOSIDADE E DA

DIMENSÃO FRACTAL DE MEMBRANAS CELULARES
Maceió
2016
GIVANILDO RODRIGUES DA SILVA
Microscopia de Força Atômica na Análise de Rugosidade e da Dimensão

Fractal de Membranas Celulares
Dissertação apresentada ao Programa de

Pós-Graduação em Física da Universidade
Federal de Alagoas como requisito parcial
para obtenção do grau de Mestre em
Ciências.
Orientador: Prof. Dr. Eduardo Jorge da Silva Fonseca
Maceió
2016
Catalogação na Fonte
Universidade Federal de Alagoas
Biblioteca Central
Divisão de Tratamento Técnico
Bibliotecário: Valter dos Santos Andrade
S586m Silva, Givanildo Rodrigues da.

Microscopia de força atômica na análise de rugosidade e da dimensão fractal
de membranas celulares / Givanildo Rodrigues da Silva. – 2016.
79 f. : il., tabs e gráfs.
Orientador: Eduardo Jorge da Silva Fonseca.
Dissertação (Mestrado em Ciências) – Universidade Federal de Alagoas.

Instituto de Física. Programa de Pós-Graduação em Física. Maceió, 2016.
Bibliografia: f. 72-79.
1. Microscopia de força atômica (AFM). 2. Macrófagos. 3. Matriz extracelular.

4. Morfologia. 5. Citoesqueleto. 6. Rugosidade. 7. Dimensão fractal. I. Título
CDU: 539.25
Em memória do meu avô Valeriano e do meu
pai Severino. Dedico esse trabalho em
especial a minha mãe Viliane, e ao meu irmão
Givanaldo, por tudo que fizeram e fazem por
mim e pelo que representam em minha vida.
AGRADECIMENTOS
 A Deus, pelas forças diárias, pelo dom da minha vida, pelas bênçãos concedidas, por
me acalmar nos momentos difíceis e sempre ser meu porto seguro.
 Aos meus pais, Severino e Viliane, por todo amor e dedicação. Pelos pilares que
representam na pessoa que sou. Ao apoio incondicional e incentivo em todos os
quesitos de minha vida. A representação, carinho, amor, dedicação que sempre
tiveram comigo, só prova que tudo que eu faça não se compara ao que fizeram e fazem
por minha pessoa. Vocês são meus guerreiros!
 Ao meu irmão, Givanaldo, por todo o apoio nas necessidades, pela parceria de sempre,
por ser meu irmão, te amo!
 A todos os meus familiares, pelo apoio e incentivo, em especial à tia Ariam, que é uma
segunda mãe pra mim, sou muito grato por tudo que representa em minha vida.
 A Ananda que sempre foi uma pessoa muito importante e presente independente da
distância.
 A todos os meus amigos, agradeço pelos sorrisos, pelo carinho e apoio de todos.
Larissa, Grazy top, Bruno, Otávio, Pulinha, Lucas, Luana e Mayanne obrigado por
estarem presentes em minha vida mesmo que indiretamente.
 Aos meus grandes amigos, desde os tempos de Picos, Leonan, Obedio, Josiel,
Nazareno, Franswilker e a toda galera da casa do sal.
 Ao companheirismo da Rafaela, sempre me incentivando com sua alegria e confiança,

você e seu apoio são muito importantes pra mim. Obrigado.
 A vocês pela amizade e por serem minhas irmãs: Thamásia e Fabiana vocês não
existem.
 A Verônica que em todo decorrer da escrita sempre esteve ao meu lado, me

propiciando forças para superar todas as dificuldades.
 Aos meus amigos Cristiano e Camylla do Pará que além de dividirmos despesas,
também compartilhamos muitos sorrisos e bons momentos.
 Aos meus amigos cearenses “cabras da peste”, João Paulo e Job, vocês são feras.
 Aos amigos que o Instituto de Física me proporcionou, Rubens, Samuel, Elpidio, Rafa e
toda galera do racha.
 A todos os colegas e amigos que fiz na UFAL, agradeço pela força e carinho, em especial
a Tainã que sempre me acolheu nos bons e maus momentos. Sua ajuda foi
imprescindível. Obrigado!
 A todos meus amigos de Presidente Dutra, Picos e Maceió em geral que eu deixei de
citar.
 Ao Professor Eduardo Fonseca, pela orientação e por me conceder a oportunidade de

realizar este trabalho. Agradeço pela paciência, conselhos e grandes ensinamentos.
Obrigado!
 Ao Samuel, pelo trabalho que desenvolvemos, por toda ajuda e ensinamentos nas
incontáveis horas de laboratório.
 A todos os colegas do Grupo de Óptica e Nanoscopia: Ana, Henrique, Jennifer, Elaine

pela disponibilidade e grande ajuda no laboratório.
 A todos os professores do Instituto de Física, técnicos e demais funcionários.
 A todos aqueles que contribuíram de alguma forma para a realização deste trabalho.
 A CAPES, pelo suporte financeiro.

“Sonho que se sonha só é só um sonho que
se sonha só, mas sonho que se sonha junto
é realidade”.
Raul Seixas
RESUMO
Um sistema de microscopia de varredura multi-sondas foi utilizado para o estudo de

propriedades morfológicas de células. Inicialmente, um microscópio de força atômica foi
usado para caracterizar e mapear a superfície da membrana celular de macrófagos. No
presente trabalho investigamos o comportamento de macrófagos murinos em diferentes
situações e observamos alguns dos parâmetros que são capazes de atribuir valor quantitativo,
as alterações sofridas pela membrana da célula. As células foram aderidas a filmes de
fibronectina, e também tratadas com citocalasina D, para compararmos com amostras sem
tratamento e aderidas apenas ao vidro. Com este procedimento é possível quantificar a
interferência da adesão celular a uma matriz extracelular, através dos parâmetros de
rugosidade (rugosidade média e rugosidade média quadrática) e dimensão fractal. Os
resultados destes estudos mostram que as interações entre a célula e a matriz extracelular
mediadas pelo citoesqueleto, podem afetar diretamente a morfologia da membrana das
células, modificando as propriedades físicas do citoesqueleto celular. Em particular,
analisamos os parâmetros de rugosidade e da dimensão fractal de células, que são
importantes quantificadores de possíveis mudanças na estrutura da membrana celular. Por
fim, percebemos que a técnica de microscopia de força atômica é extremamente útil para a
caracterização morfológica de amostras biológicas, que a adesão da célula a matriz
extracelular interfere nas mudanças na morfologia da célula e que em nossas amostras a
rugosidade se mostrou um parâmetro mais confiável para quantificar essas alterações do que
a dimensão fractal.
Palavras-chave: Microscopia de força atômica. Macrófagos. Matriz extracelular. Morfologia.

Citoesqueleto. Rugosidade. Dimensão fractal.
ABSTRACT
A multi-probe scanning microscopy system was used to study the morphological properties of
cells. Initially, an atomic force microscope was used to characterize and map the surface of
the cell membrane of macrophages. In the present work we investigated the behavior of
murine macrophages in different situations and observed some of the parameters that are
capable of assigning quantitative value, the alterations suffered by the cell membrane. Cells
were adhered to fibronectin films, and also treated with cytochalasin D, to compare with
untreated samples and adhered only to glass. With this procedure it is possible to quantify the
interference of the cellular adhesion to an extracellular matrix, through the parameters of
roughness (mean roughness and quadratic mean roughness) and fractal dimension. The
results of these studies show that cytoskeletal interactions between the cell and the
extracellular matrix can directly affect cell membrane morphology by modifying the cellular
cytoskeletal physical properties. In particular, we analyzed the roughness parameters and
fractal dimension of cells, which are important quantifiers of possible changes in the cell
membrane structure. Finally, we noticed that the technique of atomic force microscopy is
extremely useful for the morphological characterization of biological samples, that the
adhesion of the cell to the extracellular matrix interferes in the changes in the cell morphology
and that in our samples the roughness was a parameter more to quantify these changes than
the fractal dimension.
Keywords: Atomic force microscopy. Macrophages. Extracellular matrix. Morphology.

Cytoskeleton. Roughness. Fractal dimension.
SUMÁRIO
1 INTRODUÇÃO .............................................................................................................. 13
2 MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA ............................................................................. 16
2.1 Origem do AFM ......................................................................................................... 16
2.2 Princípio de Funcionamento do AFM .......................................................................... 19
2.2.1 Conceito básico................................................................................................................ 19
2.2.2 Formação da imagem de AFM......................................................................................... 20
2.2.3 Detecção da interação ponta-amostra............................................................................ 21
2.3 Forças de Interação Ponta-Amostra ........................................................................... 23
2.3.1 Força de Van der Walls .................................................................................................... 25
2.3.2 Forças eletrostáticas ........................................................................................................ 26
2.4 Modos Básicos de Funcionamento do AFM ................................................................ 27
2.4.1 Modo contato .................................................................................................................. 27
2.4.2 Modo não contato ........................................................................................................... 29
2.4.3 Modo de contato intermitente ....................................................................................... 31
2.5 Cantilever .................................................................................................................. 32
2.6 Ponta......................................................................................................................... 33
2.7 Scanner e Sistema de Realimentação (feedback) ........................................................ 34
2.8 Artefatos nas Imagens de AFM ................................................................................... 34
2.8.1 Artefatos com origem na ponta ...................................................................................... 35
2.8.2 Artefatos com origem nas vibrações ............................................................................... 36
2.9 Microscópio de Força Atômica do GON ...................................................................... 38
3 RUGOSIDADE ............................................................................................................... 40
3.1 Introdução ................................................................................................................. 40
3.2 Propriedades Geométricas da Rugosidade.................................................................. 42
3.3 Parâmetros de Rugosidade ........................................................................................ 46
3.3.1 Parâmetros de amplitude ou altura ................................................................................ 46
3.3.2 Rugosidade média ........................................................................................................... 48
3.3.3 Rugosidade média quadrática ......................................................................................... 50
3.4 Dimensão Fractal como Análise Complementar .......................................................... 50
3.4.1 Dimensão fractal.............................................................................................................. 51
3.4.2 Método da variância ........................................................................................................ 52
3.4.3 Método da potência espectral ........................................................................................ 52
4 AFM NO ESTUDO DE CÉLULAS ...................................................................................... 54
4.1 Microscopia de Força Atômica Aplicada à Biologia Celular .......................................... 54
4.2 Principais Componentes da Célula no Estudo de sua Morfologia ................................. 55
4.2.1 Membrana Celular ........................................................................................................... 56
4.2.2 Núcleo .............................................................................................................................. 56
4.2.3 Citoesqueleto................................................................................................................... 56
4.2.4 Matriz extracelular .......................................................................................................... 57
4.3 Efeitos da Adesão Celular à Fibronectina .................................................................... 57
4.4 Preparação do Substrato e Cultura das Células ........................................................... 58
4.5 Topografia das Amostras ........................................................................................... 59
4.5.1 Medidas de Ra e RMS ...................................................................................................... 62
4.5.2 Discussão dos resultados das medidas de rugosidade.................................................... 66
4.6 Medidas de Dimensão Fractal .................................................................................... 67
4.6.1 Discussão dos resultados das medidas de dimensão fractal .......................................... 69
5 CONCLUSÃO ................................................................................................................ 71
REFERÊNCIAS................................................................................................................... 73
13
1 INTRODUÇÃO
Entender a estrutura da matéria através da observação de seus detalhes em escala

cada vez menor se fez necessário para a descoberta de um mundo invisível ao olho nu. Neste
contexto, os microscópios representam um marco para história e para o desenvolvimento da
ciência.
Desde sua invenção, os microscópios passaram por constantes desenvolvimentos até

chegar às ferramentas atuais que detém de um alto poder de qualidade e resolução em suas
imagens. A evolução dos microscópios contribuiu muito para os estudos biológicos desde seus
primeiros relatos, como o de Robert Hooke1, que utilizando um microscópio óptico
rudimentar em 1665, descobriu a célula observando a cortiça, como também os estudos de
Leeuwenhoek que foi o primeiro a observar e descrever os glóbulos vermelhos e os
espermatozoides usando uma lente quase esférica entre placas de cobre. Ele criou seu
microscópio simples e conseguiu aumentar seu campo de visão em 300 vezes2.
De fato, a microscopia sempre desempenhou um papel importante no estudo de

amostras biológicas e no entendimento de fenômenos do corpo humano, e a necessidade pelo
desenvolvimento de microscópios mais potentes era constante. Na escala histórica de
evolução dos microscópios, logo após a microscopia ótica, se destacou a microscopia
eletrônica3, com os microscópios de varredura e de transmissão que não utilizavam fótons, e
sim feixes de elétrons para geração de imagens, os quais possibilitaram aumentos
surpreendentes que jamais seriam vistos por microscópios ópticos.
Anos depois, em 1982, com a invenção do microscópio de varredura por tunelamento4,

emergiu junto com este o grupo de microscopia de varredura por sonda5. Neste grupo todos
os microscópios utilizam uma sonda para varrer a superfície da amostra, e nesta varredura as
interações entre ponta e amostra são monitoradas. Esse grupo modificou a forma de estudos
das amostras permitindo, além da visualização da imagem, interagir e modifica-la enquanto
está sendo examinada, quebrando barreiras que antes eram impostas no ramo da
microscopia.
Uma importante técnica desse grupo é a microscopia de força atômica, que é a técnica
de caracterização usada em nosso estudo. Com seu sistema de posicionamento refinado,
1 Introdução 14
integrado a cerâmicas piezoelétricas, o AFM (Atomic Force Microscope) controla a forma com
que sua sonda toca a amostra, com forças da ordem de piconewtons, sendo capaz de interagir
com qualquer amostra em qualquer meio, e essa interação pode ser interpretada para a
obtenção das imagens.
O AFM em nossa pesquisa foi utilizado para a caracterização de macrófagos murinos,

que são células importantes do sistema imunológico. Sua morfologia pode ser facilmente
mapeada com a utilização desse equipamento, e alguns parâmetros podem ser
quantificadores das alterações na morfologia da membrana, como a rugosidade e a dimensão
fractal.
A rugosidade é um parâmetro relevante já muito usado na indústria, como para a

qualificação de componentes mecânicos, que utilizam a rugosidade como controle da
superfície de peças de determinadas funções. Em uma dessas experiências eles quantificam a
variação de rugosidade quanto à resposta da peça a elevação de temperatura6. Por outro lado,
a rugosidade de superfícies também desempenha um papel importante na natureza viva. Por
exemplo, folhas da planta Lotus tem uma rugosidade superficial muito especial, que
desempenha um papel importante na proteção da planta contra contaminantes. O tipo certo
de rugosidade em sua superfície permite à planta a capacidade de auto limpar sua superfície.
Esta característica da superfície desta planta tem sido usada como um modelo em ciência dos
materiais, no desenvolvimento de novos materiais para revestimento de superfície. Além
disso, na boca humana a rugosidade da superfície também é importante, uma vez que a placa
bacteriana se acumula mais facilmente em superfícies mais rugosas do que nas mais suaves.
Por outro lado, nos implantes ósseos superfícies mais rugosas melhoraram a capacidade do
implante de se anexar ao tecido ósseo.
Outro parâmetro quantificador das alterações sofridas pela célula é o da geometria

fractal que se baseia na rugosidade do material, ou seja, nos defeitos que a superfície
apresenta, seu principal componente quantitativo é o da dimensão fractal que já foi usado em
alguns trabalhos para quantificar as formas irregulares de algumas superfícies7; 8; 9.
Nesta dissertação apresentamos os conceitos e discutimos a aplicabilidade da técnica

de AFM, realizadas em nosso laboratório, para o estudo das propriedades morfológicas da
membrana plasmática de células aderidas a matrizes extracelulares. O objetivo de nosso
trabalho é demonstrar o potencial da microscopia de força atômica no estudo de amostras
Instituto de Física - UFAL
1 Introdução 15
biológicas, discutir a aplicação de parâmetros quantitativos úteis para descrever as mudanças

morfológicas de nossas amostras. Para a apresentação e discussão dos resultados obtidos
nestes estudos, nós dividimos esta dissertação como descrito a seguir.
No segundo capítulo, detalhamos uma visão geral da técnica de AFM. Sua linha
histórica, os princípios básicos de seu funcionamento e seus principais componentes, além
dos modos de operação, forças existente durante a varredura, artefatos que prejudicam as
imagens e um breve comentário sobre o AFM utilizado em nosso laboratório.
No terceiro capítulo, apresentamos os aspectos teóricos sobre o principal parâmetro

utilizado para quantificar as alterações morfológicas das células usadas em nosso
experimento, o da rugosidade. Além disto, distinguimos e caracterizamos as propriedades das
superfícies, além de descrever os modelos matemáticos dos parâmetros utilizados. Também
discorremos sobre um parâmetro alternativo, o da dimensão fractal, detalhando suas
características e os métodos que utilizamos para calcular este parâmetro.
No quarto capítulo, estudamos o uso do AFM para o estudo de amostras biológicas.

Iniciamos mostrando como este tipo de microscopia pode ser usada para o estudo das
propriedades morfológicas de células. Para isto, estudamos como a estrutura topográfica é
alterada pela adesão celular a uma matriz extracelular, discutiremos os resultados obtidos
através das medidas de AFM e dos valores de rugosidade e dimensão fractal que foram
calculados nos softwares adequados. Por fim, no capítulo cinco apresentamos uma conclusão
geral dos resultados obtidos neste trabalho.

16
2 MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA
Neste capítulo abordaremos, de forma geral, aspectos básicos do microscópio de força

atômica (AFM), detalhando os primeiros conceitos e sua concepção histórica, princípio de
funcionamento, componentes básicos, modos de operação e as condições ótimas para a
obtenção de imagens.
2.1 Origem do AFM
O surgimento do microscópio foi um grande passo para a observação do “mundo

pequeno”. Neste contexto, no século XIV, o surgimento do microscópio óptico (LUPA)
utilizando apenas uma lente deu início a um grande campo de pesquisa. Desde então com o
desenvolvimento da ciência e a necessidade de novos e mais sofisticados equipamentos de
observação a escalas cada vez menores, os microscópios não pararam de evoluir10.
Na busca de novas tecnologias para o desenvolvimento do sistema de microscopia,

Knoll11 em 1935 descreve os primeiros conceitos do microscópio eletrônico de varredura
(MEV) e em 1942 o primeiro MEV é construído. O MEV trouxe uma comodidade na preparação
das amostras e a possibilidade de observação de imagens com uma resolução muito maior
que a dos microscópios óticos. Em 1938 Von Ardenne12 criou o microscópio eletrônico de
transmissão, capazes de atingir um aumento útil de até um milhão de vezes tendo papel
importante na análise do interior de amostras.
Só em 1981 Gerd Binnig e Heinrich Rohrer, da IBM de Zurich desenvolveram o

Microscópio de Tunelamento (STM, do inglês Scanning Tunneling Microscope)4, que foi o
primeiro instrumento capaz de produzir imagens tridimensionais reais de superfícies com
resolução atômica e ainda a possibilidade de manipulação dos átomos individualmente. O
impacto da inovação foi tão notório que cinco anos depois seus inventores ganharam o Prêmio
Nobel de Física pela descoberta. No entanto, o STM apresentava a desvantagem de a amostra
ter que ser condutora.
Então em 1986 os mesmos criadores do STM juntos com Quate criaram o AFM13, que
além de alcançar resolução atômica corrigia uma lacuna que o STM deixava, ou seja, o AFM
2 Microscopia de Força Atômica 17
fornecia a vantagem de se poder analisar qualquer amostra, fosse ela condutora ou não, desde
materiais duros como cerâmicas a materiais sensíveis como células biológicas.
O AFM não utiliza a medida da corrente de tunelamento para a geração da imagem,

ao invés disso, ele mede as forças de ordem intermolecular entre a sonda e a amostra para
identificar as variações da topografia da amostra. A invenção do STM e do AFM estimulou o
processo de desenvolvimento de uma nova família de microscópios, chamados de
Microscópios de Varredura por Sonda (SPM, do inglês Scanning Probe Microscope)10.
Diferentemente dos microscópios óticos, os microscópios da família dos SPM, não

utilizam lentes e nem ondas de luz para obtenção das imagens, ao invés disso uma sonda que
tem uma forma de agulha, interage com uma amostra a distâncias muito pequenas.
Na figura 2.1 apresentamos um esquema de um SPM e seus principais componentes.

No SPM uma sonda com ordem de grandeza nanométrica varre o espaço amostral, o scanner
piezoelétrico posiciona a amostra de acordo com os sinais emitidos pelo computador, e o
sistema de posicionamento preliminar controla a posição vertical da sonda, quando essa
varredura acontece, sonda e amostra interagem e essa interação pode ser interpreta e
convertida em imagem pelo computador.
Figura 2.1: Representação esquemática dos principais componentes que formam os SPM’s.
Fonte: Retirado da Ref.14

A invenção do STM e do AFM13; 15; 16 teve como consequência o desenvolvimento de

novas técnicas de varredura por sonda tais como: Microscopia Ótica de Varredura em Campo
Próximo (SNOM)17, Microscopia de Força Magnética (MFM)18, Microscopia de Força
Eletrostática (EFM)19 e outros20; 21; 22que permitem a medida de diferentes parâmetros com
aplicações nos mais variados campos da ciência.
Apesar de ter sido criado a partir do STM, as ideias iniciais para o advento do AFM, vêm
desde 1929 com Shmalz23 e o seu perfilômetro (equipamento usado para medir a rugosidade
de matérias em escala microscópica), nele a sonda sempre estava em contato com amostra e
por não haver um controle da força aplicada os dois se chocavam muito e ambos
apresentavam danos, apesar disso alcançava uma ampliação superior a 1000 vezes.
Muitos estudos como o de Becker24 foram feitos pra contornar esse problema, mas só
em 1971, Russel Young25 desenvolveu seu perfilômetro Styllus o “topographiner” onde a
interação entre ponta e amostra ocorria sem contato, e tinha um funcionamento muito
parecido com o STM, mas incapaz de conseguir uma resolução atômica como o AFM atual. Na
figura 2.2 podemos observar um modelo esquemático do perfilômetro de Young.
Figura 2.2: Esquema do perfilômetro Styllus de Young.
Fonte: adaptado da ref.26

No perfilômetro a sonda foi montada sobre uma cerâmica piezoeléctrica, que se move
na direção z acima da superfície. Outros piezos movem a ponta nos outros eixos em relação à
amostra. O circuito de realimentação eletrônico monitora a emissão de elétrons e foi usado
para conduzir o elemento piezoelétrico do eixo z, e assim manter a distância entre sonda e
amostra com um valor constante26.
2.2 Princípio de Funcionamento do AFM
2.2.1 Conceito básico

O AFM se baseia nos princípios do STM e do perfilômetro Styllus, e tem a capacidade
de trabalhar em qualquer amostra sem causar danos13. Uma alusão simples ao movimento da
sonda do AFM é a forma que um toca disco de vinil funciona. A agulha “lê” a superfície do
disco e consegue converter em áudio as informações obtidas. Na figura 2.3 temos um modelo
esquemático de um AFM.
Figura 2.3: Esquema de um microscópio de força atômica e seus componentes principais.
Fonte: Retirado da ref.27

Os principais componentes que formam um AFM são: a ponta, o sistema de posição

preliminar da sonda sobre a amostra, cantilever, posicionador piezoelétrico, sistema de
monitoramento sonda/amostra e computador para controle do sistema.
De modo resumido o papel desses componentes pode ser descrito da seguinte forma.
A sonda do AFM é uma ponta afiada que se localiza na extremidade do cantilever fixa a ele.
Essa ponta é colocada em contato ou muito próximo da superfície que se deseja verificar. A
partir disso ocorrem interações altamente localizadas entre a ponta e a amostra.
O scanner piezoelétrico provê a movimentação lateral da amostra em relação à ponta

descrevendo um padrão de varredura. Durante essa varredura o mecanismo de monitoração
detecta as deflexões do cantilever que se flexiona com as de forças interação entre ponta e
amostra. Todo esse processo é controlado por um computador que movimenta o scanner,
recebe todos os dados e os converte, fornecendo imagens topográficas da amostra28.
2.2.2 Formação da imagem de AFM

Para a formação da imagem de AFM, a ponta varre a amostra conforme um padrão
predefinindo de leitura. Essa leitura é feita linha por linha da superfície, em cada linha a ponta
descreve passos e em cada passo uma medida é realizada e gravada. No término da linha a
ponta transcorre o caminho de volta, passo a passo e também armazena os dados do trajeto,
depois de concluído a sonda segue para a próxima linha avançando um passo na direção acima
ou abaixo do passo anterior.
Esse processo se repete no decorrer de toda a superfície analisada escolhida

primordialmente, no final temos o mapeamento da topologia da amostra em questão.
Durante o procedimento de formação da imagem, há dois tipos de aquisição de dados, a do
eixo rápido que correspondente à varredura ponto a ponto de uma linha qualquer da
superfície e a do eixo lento que diz respeito à varredura total dos passos na direção
perpendicular29. A figura 2.4 ilustra o padrão de varredura ponta-amostra para a formação
das imagens.

Figura 2.4: Movimento tridimensional (eixos x, y e z) da ponta sobre a amostra. A imagem topográfica obtida é
construída pelas informações das linhas varridas. As linhas azuis sobrepostas à imagem topográfica de AFM
correspondem aos movimentos de ida e são geralmente chamadas de “Traço”, enquanto que as linhas vermelhas
correspondem aos movimentos de volta e são chamadas de Retraço. Cada ponto de medida tem uma posição x,
y e z bem definida o que permite a reconstrução fiel da estrutura lida pela ponta 29.
2.2.3 Detecção da interação ponta-amostra

Para a formação das imagens é essencial à interação da ponta com a amostra e essa
interação é monitorada por um sistema de detecção que capta as forças existentes entre a
ponta e amostra e as “traduz” para que a leitura da estrutura varrida seja interpretada. Em
nossos estudos os movimentos do conjunto ponta/cantilever têm sido detectados por dois
diferentes tipos de sistemas de detecção, o sistema de laser e o sistema de diapasão de
quartzo (tuning-fork). A figura 2.5 mostra uma representação do sistema de detecção por
laser.
Figura 2.5: Diagrama do sistema de detecção de AFM por laser.

As imagens obtidas através do AFM são geradas devido à varredura da ponta sobre a
amostra. Nesta varredura existem forças que interagem com a ponta, essa interação muda
com as diferentes variações topográficas e podem ser verificadas graças às deflexões do
cantilever. Esta deflexão é detectada por meio da reflexão de um ponto de laser em um diodo
foto-sensível de quadrante (PSD) que registra as variações na posição do laser no decorrer da
varredura (que é devidamente posicionado no centro do PSD antes de começar a varredura).
Portanto, enquanto a ponta varre a amostra, o laser ocupa diferentes posições sobre o PSD,
devido às deflexões que o cantilever sofre. Estas diferentes posições são registradas pelo
programa Nano Workshop (NWS) (produzido pela própria Nanonics Imaging Ltd) que converte
essas diferentes posições em variações na altura.
No sistema de detecção por laser, quando a ponta se aproxima da superfície, as forças

aumentam, podendo ser forças atrativas ou repulsivas com isso a ponta vai defletir o
cantilever em direção à amostra ou para longe da amostra como na figura 2.6.
Figura 2.6: Diferentes etapas de uma varredura com detecção a laser. a) laser devidamente posicionado; b) ponta
afastada pelas forças tem o laser detectado acima da posição central pelo PSD; c) ponta atraída pelas forças tem
forças detectadas abaixo da posição central do PSD; d) ponta oscilando, ora atraída ora repulsiva, também oscila
no PSD.
Outro sistema de detecção é o sistema de diapasão de quartzo onde as interações

ponta-amostra são transduzidas para um sinal elétrico por meio do efeito piezelétrico do
quartzo, que é então detectada por um pré-amplificador.
A ponta em um dos braços do diapasão vibra na frequência de oscilação natural do

diapasão e as forças de interação entre a ponta e amostra fazem com que o diapasão altere
essa frequência natural de ressonância, e essa variação de fase ou amplitude é captada e tem

seu sinal amplificado e traduzida em uma variação de altura, que possibilita ao sistema a
formação da imagem32. Na figura 2.7 observamos um diapasão de quartzo.
Figura 2.7: Diapasão de quartzo com a ponteira em um dos braços.
Fonte:www.madcitylabs.com (direitos autorais reservados à Mad City Labs Inc.)
2.3 Forças de Interação Ponta-Amostra
O próprio nome do instrumento faz referência ao seu princípio de funcionamento que

atua através da medição das forças de interação atômica entre a ponteira e a amostra, essas
forças dependem de alguns parâmetros, um deles é a distância que separa as duas. No
primeiro momento quando a ponta se aproxima da amostra (distâncias menores que 50nm)
ela é atraída e o cantilever é defletido em direção a amostra, causada por forças de Van der
Waals. A medida que a ponta se aproxima ainda mais da superfície da amostra a força entre
elas aumenta até o momento em que os átomos da sonda e da superfície da amostra estão
tão próximos (0,5nm) que a força atrativa vai ficando mais fraca e as nuvens eletrônicas dos
átomos de ambas começam a se sobrepor, repelindo-se e gerando uma força repulsiva que
acaba por dominar e deflete o cantilever em direção contrária à amostra32; 33. Na figura 2.8
podemos observar uma ilustração gráfica das forças de interação em função da distância z que
separa a ponta da amostra.

Figura 2.8: Gráfico das forças de interação entre ponta e amostra em função da distância entre elas.
Tanto as forças atrativas de Van der Waals quanto as eletrostáticas de repulsão de, são
descritos pelo potencial de Lennard-Jones34, que descreve a interação entre os átomos da
ponta e da amostra e pode ser descrito pela expressão a seguir:
𝛼 𝛽
𝑈(𝑧) = ( − 6) (2.1)
𝑧¹² 𝑧
Na equação 2.1 o potencial de Lennard-Jones tem uma dependência em 𝑧 que é a

distância entre o centro dos átomos da ponta e da amostra, onde 𝛼 e 𝛽 são constantes.

O primeiro termo proporcional a 1⁄𝑧12 corresponde à repulsão entre dois átomos e

predominam a curtas distâncias (<0,5nm), quando há certo grau de superposição de suas
nuvens eletrônica. Ela tem esse comportamento devido ao princípio de exclusão de Pauli. O
segundo termo 1⁄𝑧 6 está associado às forças atrativas de Van der Waals35.
2.3.1 Força de Van der Walls

O potencial energético de um par de átomos muito distantes uns dos outros é zero, e
apesar das forças de Van der Walls serem forças de longo alcance ocorrem em distâncias entre
10 e 50 nanômetros, distância em que essa energia já pode ser captada. As forças de Van der
Walls podem ser subdivididas em três grupos36:
 Dipolo-dipolo: São forças que se originam da interação de moléculas de dipolo

permanente e são chamadas de forças de orientação (ver figura 2.9a).
 Dipolo-dipolo induzido: Se dão pela interação de uma molécula polar e uma apolar, o
campo de um dipolo permanente induz uma polaridade na vizinhança da molécula
apolar, essas são as chamadas forças de indução (ver figura 2.9b).
 Forças de dispersão ou de London: Devido a variações de carga dos átomos existe um

deslocamento instantâneo do centro de carga positiva em relação ao centro de carga
negativa. Assim, em um determinado momento em que um dipolo existe ele induz um
dipolo de um outro átomo. Portanto átomos apolares possuem dipolos flutuantes
finitos e momentos multipolares grandes em intervalos de tempo pequenos, os quais
interagem, dando lugar a forças de dispersão entre eles (ver figura 2.9c).

Figura 2.9: Forças de van der Walls. a) Forças de orientação; b) Forças de indução; c) Forças de dispersão.
O potencial e as forças de interações de van der Waals de uma molécula, variam de

acordo com alguns parâmetros como, por exemplo, o meio em que ponta e amostra se
encontram e as formas geométricas que a ponta apresenta, essas forças representam o termo
atrativo do potencial de Lennard-Jones.
2.3.2 Forças eletrostáticas

Uma molécula carregada tem um campo elétrico definido a certa distância, quando
esse campo atua sobre outra molécula carregada dá origem a uma força, chamada de força
eletrostática36, gerada pela interação entre ponta e amostra. Quando a ponta e a amostra são
ambos condutores existe uma diferença de potencial eletrostático não nulo, ou mesmo
quando o aparato aplica um potencial externo e essa força é dada pela Lei de Coulomb descrita
como:
𝑞1 𝑞2
𝐹𝑒 (𝑟) = 𝐾 (2.2)
𝑟2
que depende da distância r que as separa e 𝐾 é a constante eletrostática que depende da
permissividade elétrica do meio e essas forças podem ser atrativas ou repulsivas.
A energia livre para a interação de Coulomb entre duas cargas 𝑞1 e 𝑞2 é dada por:
𝑞1 𝑞2
𝐸𝑒𝑙 = (2.3)
4𝜋𝜀𝜀0 𝑟

onde 𝜀 é a constante dielétrica do meio, 𝜀0 é a permissividade no vácuo, e r a distância que

separa as cargas pontuais.
2.4 Modos Básicos de Funcionamento do AFM
O funcionamento do microscópio de força atômica varia de acordo com o modo de

operação em que o microscópio está agindo. Se o regime de operação é alterado
consequentemente as forças de interação sonda-amostra também se alterarão. O AFM tem
três modos de operação, o modo de contato, não contato e o modo de contato intermitente.
A figura 2.10 ilustra a relação entre os diferentes modos de operação e as forças de interação
entre a ponta e a superfície amostra.
Figura 2.10: Esquema do comportamento das forças entre amostra e sonda em função da distância, de acordo
com os diferentes modos do microscópio de força atômica.
2.4.1 Modo contato

Neste modo de operação a sonda varre a amostra sempre em contato com ela, por
isso aqui predominam as forças de curto alcance, a fim de aproveitar as forças de repulsão

íon-íon, que diminui com o aumento da separação ponteira-amostra, a ponta sofre uma força
de repulsão da ordem de 10−9 a 10−7 N37.
A dependência dessa distância das forças repulsivas íon-íon, garante um dos principais
benefícios da técnica de contato a grande resolução espacial atingida. Neste método o
cantilever sofre deslocamentos graças à força de repulsão provocada pelos átomos da
amostra, essa força provoca a deflexão do cantilever que é calculado segundo a lei de Hooke
como:
𝐹 = 𝑘𝑐 ∆𝑧𝑐 (2.4)
onde 𝐹 é a força (N), 𝑘𝑐 é a constante elástica do cantilever (N/m) e ∆𝑧𝑐 (m) é a deflexão do
cantilever.
O cantilever atua na região repulsiva das forças por isso a constante elástica do mesmo
deve ser baixa para que o cantilever tenha mais flexibilidade e danifique menos as amostras.
De fato por estarem sempre em contato, tanto a amostra como a ponta correm o risco de
danificação, principalmente quando se trabalha com amostras moles ou fracamente
adsorvidas, elas são deformadas com certa facilidade, e isso pode causar problemas de
distorção na amostra, ou mesmo remoção do substrato38; 39, por isso esse modo de operação
é indicado para amostras vigorosamente aderentes à superfície como o trabalho de Murphy40.
Na figura 2.11 podemos observar o esquema do modo de operação em contato.

Figura 2.11: Esquema de funcionamento do modo de operação em contato.
2.4.2 Modo não contato

No modo de operação de não contato prevalecem as chamadas forças de longo
alcance, onde a ponta é mantida "distante" da superfície da amostra cerca de centenas de
ângstrons, essas forças atrativas de longo alcance implicam em mudanças de fase, amplitude
e frequência do cantilever que são utilizadas para manter a distância entre a ponta e amostra
constante42.
No caso do modo não contato o cantilever oscila em sua frequência de ressonância ou

bem próximo dela, a força de que tratamos aqui é de ordem 10−12N bem menor do que as
envolvidas no modo contato, que são da ordem de 10−9 N. Isso dificulta a detecção do sinal,
mas mesmo assim é possível imagear uma amostra sensível sem danos. Neste modo por
estarem a uma distância maior ponta e amostra a imagem tende a ter resolução menor do
que no modo contato43; 44; 45.
As imagens são geradas graças ao movimento vibracional do cantilever que com ajuda
do elemento piezelétrico, que vibra com uma frequência 𝜔𝑑 , bem próximo da frequência de

ressonância 𝜔0 . Essa oscilação do cantilever é descrita como a de um oscilador amortecido

forçado37, que tem o movimento representado pela equação:
𝑑2𝑧 𝑚𝜔0 𝑑𝑧
𝑚 2+ ( ) + 𝑚𝜔0 2 𝑧 = 𝐹0 cos(𝜔0 𝑡) (2.5)
𝑑𝑡 𝑄 𝑑𝑡
𝑚𝜔0
onde, é o termo que indica a intensidade do amortecimento do movimento, e da qual a
𝑄
solução estacionária é :
𝑧(𝑡) = 𝐴0 𝑐𝑜𝑠(𝜔𝑑 𝑡 + ∅) (2.6)
onde 𝐴0 onde é amplitude da oscilação à frequência 𝜔𝑑 e ∅ é a diferença de fase entre a

resposta do sistema e a excitação a que está sujeito e tem suas respectivas soluções:
𝐹0 ⁄𝑚
𝐴0 = (2.7)
𝜔 𝜔 2
2
√𝑄(𝜔0 − 𝜔𝑑 2) + ( 0𝑄 𝑑 )
𝜔0 𝜔𝑑
∅ = tan−1 ( ) (2.8)
𝑄(𝜔0 2 − 𝜔𝑑 2 )
Q é o fator de qualidade do cantilever que depende do meio em que ele está operando, e
podemos observar que quando tivermos um sistema ressonante temos 𝜔0 = 𝜔𝑑 teremos
amplitude máxima. Na figura 2.12 podemos observar o esquema do modo de operação não
contato.

Figura 2.12: Esquema de funcionamento do modo de operação em não contato.
2.4.3 Modo de contato intermitente

As equações matemáticas que descrevem o modo de não contato são as mesmas para
o modo de contato intermitente, se diferenciam pelo fato de que a ponta vibrante fica mais
próxima da amostra. Neste modo de operação a ponta está em contato intermitente com a
superfície ao mesmo tempo em que varre a superfície da amostra.
Neste modo o cantilever é posto a oscilar bem próximo da sua frequência de

ressonância atuando tanto no regime das forças atrativas quanto repulsivas e dependendo da
distância entre a ponta e a amostra, a amplitude de oscilação é ligeiramente diminuída e sofre
um desvio que é detectado e serve de sinal de realimentação46. Na figura 2.13 podemos
observar o esquema do modo de operação de contato intermitente.

Figura 2.13: Esquema de funcionamento do modo de operação de contato intermitente.
As imagens são geradas pelo mapeamento que dos deslocamentos verticais do scanner
para manter a amplitude constante durante a varredura. Diferente do modo de contato, o
controle da força no contato intermitente entre a ponta e a amostra permite que a sonda
varra materiais macios como, por exemplo, amostras biológicas macias, sem que haja
danificações na amostra ou quebra na ponta48.
2.5 Cantilever
O cantilever é o componente mais importante do AFM por possuir duas propriedades

determinantes. Uma delas é a constate de mola, que se altera dependendo da geometria de
sua forma, dimensão, e o material utilizado na construção do cantilever. De fato a constante
de mola irá determinar as forças entre a ponteira e a amostra se deformando quando elas se
encontram próximas. A outra propriedade importante é sua frequência de ressonância, que
pode variar de alguns quilohertz a centenas de quilohertz, determinando a velocidade de
resposta e a sensibilidade a vibrações externas14.
Também comumente chamado de alavanca, o cantilever é a estrutura que sustenta a

ponta do microscópio de força atômica (AFM), podendo assumir duas principais formas que

são as mais utilizadas em experiências com AFM: a forma retangular, sendo esta a mais
comum, e a forma de “V”. A Figura 2.14 apresenta duas imagens obtidas por um microscópio
eletrônico de varredura de microcantilevers de dois tipos de cantilevers mais utilizados.
Figura 2.14: Imagens obtidas por um SEM de microcantilevers. (a) cantilever em forma de “V”. (b) cantilever em
forma retangular.
Os materiais normalmente utilizados para alavancas de AFM são: o nitreto de silício

(Si3 𝑁4 ) e silício (Si), o cantilever da esquerda na imagem acima em formato de “V” é típico
para a utilização no modo de contato feito de nitreto de silício e o da direita é feito de silício
e projetado para os modos de oscilação.
2.6 Ponta
A ponta é um dos componentes essenciais da família de microscópios de varredura por

sonda ou SPM que inclui o Microscópio de Tunelamento ou STM e o Microscópio de Força
Atômica ou AFM. Ela é responsável por varrer a superfície da amostra identificando mudanças
em seu relevo através de variações de grandezas físicas que dependem da variante do SPM
escolhida.
A Identificação do material do qual a amostra é feita bem como os materiais que

compõem a ponta e, além disso, conhecer a geometria da ponta utilizada é de extrema
importância para obter um entendimento adequado da interação ponta-amostra. Elas podem
ser de formato cônico ou piramidal (como na figura 2.15), e fabricado com diversos tipos de
materiais, podendo ser revertidas por elementos condutores por exemplo.
Figura 2.15:Formas das pontas a) ponta piramidal. b) ponta cônica.
2.7 Scanner e Sistema de Realimentação (feedback)
Existem diferentes tipos de scanners que se diferem tanto em sua forma quanto nas
suas propriedades: há os que têm forma de tubo, com altas frequências de ressonância e
desenho mais rígido e os em forma de tripoide que possuem maior alcance de varredura, mas
são menos estáveis. Altas frequências de ressonância são requeridas com o objetivo de
aumentar a velocidade de varredura sem o risco de aparição de vibrações espúrias,
contribuindo assim para uma reprodução sonora sem distorções. O sistema de realimentação,
também conhecido como feedback, é a reação a um estímulo que serve para avaliar os
resultados da transmissão utilizado para acompanhar a topografia da superfície geral ou baixa
frequência associado com inclinação entre o scanner e a amostra50.
2.8 Artefatos nas Imagens de AFM
Os instrumentos utilizados na pesquisa para medições no desenvolvimento da ciência

e aplicação nas mais variadas áreas do conhecimento podem apresentar erros. Com o AFM
não é diferente, erros podem ter diferentes origens que acabam refletindo e prejudicando a
qualidade final da imagem desejada. Esses erros são chamados de artefatos, eles ocorrem
com limitações impostas por alguns dos componentes que formam o aparelho de medida no
caso do AFM, o scanner, a ponta, ruídos externos, entre outros.

Reconhecer a origem dos artefatos é importante para a obtenção de imagens de maior

qualidade, sobretudo pela possibilidade de correção para contorna-lo, de acordo com a
origem do artefato.
2.8.1 Artefatos com origem na ponta

As imagens obtidas pelo AFM sempre estarão relacionadas com a forma espacial da
ponta e a maioria dos artefatos de imagem em uma imagem de SPM surge a partir das
convoluções da ponta com a superfície.
Na figura 2.16 temos a comparação entre pontas de formatos diferentes varrendo uma
superfície de determinada altura, a linha determina o perfil obtido ao final da varredura.
Figura 2.16: Artefatos com origem na ponta. Comparação entre pontas de geometrias diferentes.
Fonte: Imagem retirada da Ref.26
Apesar dos artefatos apresentados com as pontas diferentes e suas convoluções com
a superfície, as sondas conseguem reproduzir com exatidão os dados topográficos de altura
da amostra.
Na figura 2.17 temos outra comparação entre pontas de formatos diferentes atuando,
só que agora em uma superfície com um buraco, a linha à direita de cada ponta determina o
perfil obtido ao final da varredura.
Figura 2.17: Comparação das linhas de varredura e obtidas com uma ponta de raio de curvatura maior (Esquerda)
e uma sonda afiada de raio de curvatura menor (Direita) em uma amostra comum (buraco).
Fonte: Imagem retirada da Ref.50

Se a ponta não atinge a parte inferior de uma determinada superfície da amostra, a

imagem não será obtida corretamente como na ponta da esquerda (figura 2.17), com a sonda
afiada conseguimos mostrar o fundo da vala, mas incapaz de atingir os cantos inferiores,
enquanto que a sonda de raio de curvatura maior não pode atingir a parte inferior da
trincheira. A escolha da ponta correta é um fator determinante para a obtenção de imagens
mais próximas da realidade.
Em muitos casos, devido ao uso contínuo ou má utilização, alguns problemas podem

surgir, como a degradação da ponta ou sua contaminação, tornando a sonda inutilizável. E
para que isso seja evitado, cuidados como: limpeza minuciosa das amostras; utilização de
pontas adequadas a cada aplicação; e troca das mesmas assim que derem indícios de não se
encontrarem nas melhores condições devem ser tomados para que melhores resultados
sejam obtidos26.
2.8.2 Artefatos com origem nas vibrações

Vibrações ambientais na sala onde o AFM está situado pode fazer com que a sonda no
microscópio vibre, modificando sua ação natural gerando artefatos em uma imagem. Assim,
os artefatos aparecerão como oscilações na imagem. Portanto, o controle das vibrações é
muito importante.
Vibrações de um andar
Essas vibrações podem ocorrer no andar de um prédio, que pode vibrar para cima e
para baixo com frequência abaixo de 5Hz, e podem interferir nas medidas. Também, podem
ser iniciadas por um evento externo, como um elevador em movimento, um trem passando,
ou mesmo pessoas andando em fora do laboratório AFM. Em suma, as vibrações devem ser
controladas onde o AFM está instalado, caso contrário, estas podem causar estrutura
periódica em uma imagem.
Vibrações acústicas
Vibrações acústicas podem causar artefatos em imagens de AFM. O som pode ser
causado por um avião passando por cima de um edifício ou até mesmo os tons de voz de uma
pessoa. O ruído de ventiladores de resfriamento de outros instrumentos também pode causar
artefatos em imagens de AFM.

Detectar este tipo de interferência é bastante simples; o usuário deve isolar o AFM a
partir das fontes de ruído ou removê-los, e olhar para uma mudança nos sinais registrados. A
solução para que as imagens de AFM não apresentem esses erros é, em alguns casos, o
isolamento da fonte de ruído. A figura 2.18 mostra a comparação entre uma imagem obtida
com a presença de ruído acústico e sem a presença dele.
Figura 2.18: Efeito de ruído acústico em uma imagem. Direita: imagem e linha de perfis medidos enquanto o
ruído acústico estava presente na sala; Esquerda: Imagem que foi medido sem a presença de ruído acústico.
2.8.3 Artefatos com origem no scanner

Artefatos com origem no scanner faz parte de uma das principais fontes de artefatos
em imagens medidas com microscópios de força atômica. Scanners que movem a sonda em
um microscópio de força atômica são feitas, basicamente, a partir de cerâmica piezelétrica.
Como transdutores eletromecânicos, cerâmicas piezelétricas são capazes de mover uma
sonda a distâncias muito pequenas. No entanto, quando uma tensão linear é aplicada à
cerâmica piezelétrica, a cerâmica pode mover-se num movimento não linear. Além disso, as
cerâmicas piezelétricas apresentam histerese efeitos causados por auto aquecimento.
Artefatos também podem ser introduzidos em imagens por causa da geometria do scanner50.

O movimento dos scanners deve também ser de cadeia linear, de modo que as
distâncias medidas a partir das imagens apresentem o menor grau de erro. Sem correção, as
características trarão algumas imperfeições, como dar a ideia de que são menores de um lado
e maiores do outro lado da imagem. Isso acontece quando há mudança drástica na região de
varredura e o scanner não consegue responder automaticamente acontecendo um atraso na
resposta como na figura 2.19. Para contornar essa situação basta reiniciar a varredura e
aguardar que o scanner normalize seu movimento.
Figura 2.19: Imagens de AFM. a) imagem distorcida no início da varredura. b) imagem subsequente sem
distorção. No retângulo verde podemos ver a distorção delimitada.
2.9 Microscópio de Força Atômica do GON
O sistema de Microscopia de Varredura por Sonda disponível no laboratório no

Instituto de Física-UFAL é um sistema customizado da Nanonics Multiview 4000 composto de
dois microscópios confocais Olympus (sistema 4π), um direto e um invertido, montado sobre
uma plataforma isolada, a qual é montada sobre uma mesa ótica classe interferométrica como
na figura 2.20.

Figura 2.20: Sistema SPM do GON. (a) Visão externa do sistema SPM do GON. (b) Visão interna mostrando o
microscópio invertido Olympus 4π e o Nanonics Multiview 4000TM . (c) Nanonics Multiview 4000TM.
Fonte:www.nanonics.co.il (direitos autorais reservados à Nanonics Imaging Ltd.)
O Multiview 4000 da Nanonics utiliza o sistema de tuning-fork para obtenção das

imagens que não necessita de alinhamento e por isso apresenta vantagens com relação ao
sistema de laser. Na figura 2.20 temos uma imagem do sistema multi sondas do MV4000.
Com as diferentes configurações do sistema multi-sondas, o MV 4000 tornou possível

muitas medições em um único aparato tais como: medições de resistividade de superfície,
medições ópticas com várias sondas NSOM nos modos transmissão, reflexão e coleção,
nanolitografia, nanoindentação entre outras.

40
3 RUGOSIDADE
Neste capítulo discutiremos a rugosidade e seus principais parâmetros utilizados para

entender a superfície de uma amostra. Definiremos o que é rugosidade, as propriedades
geométricas da superfície e abordaremos os principais modelos matemáticos usados para
quantificar os parâmetros de rugosidade usados em nosso trabalho. Também discorreremos
sobre um parâmetro complementar utilizado, o da dimensão fractal. Estes parâmetros serão
usados a fim de avaliar e comparar as mudanças na morfologia das células trabalhadas.
3.1 Introdução
A rugosidade existe em todas as superfícies. Mesmo superfícies que aparentam ser

lisas (bem polidas), apresentam irregularidades na sua estrutura morfológica quando
analisadas microscopicamente.
A rugosidade é o conjunto de irregularidades do material, e está ligada a aspereza da

superfície, isto é, são as pequenas saliências e reentrâncias que caracterizam uma superfície51.
Inicialmente a percepção de irregularidades se dá pela utilização do tato e da visão,

esses erros são os chamados de erros macro geométricos que apresentam defeitos na forma
e na posição do objeto (distorções drásticas, cortes profundos) e podem ser percebidos até
com os sentidos ou medidos por objetos de usos convencionais como paquímetros.
Porém erros micro geométricos, também chamados de rugosidade são imperceptíveis

ao olho humano e precisam de aparelhos especiais para serem detectadas, como através de
microscópios. Porém, os microscópios apresentavam limitações: apesar de possibilitarem a
medida da largura e espaçamento entre as saliências e reentrâncias não fornecem
informações sobre suas alturas e profundidades. Atualmente, com o progresso das técnicas
de SPM, aparelhos como o AFM fornecem informações completas e precisas sobre o perfil de
superfícies analisadas.
Defeitos podem ocorrer tanto em superfícies de materiais durante a sua fabricação

como pelo seu uso rotineiro. A análise desses defeitos é muitas vezes essencial para fornecer
as informações que podem melhorar a eficiência e durabilidade de certos materiais.
3 Rugosidade 41
Sobretudo porque permite o estudo e a avaliação de características das superfícies tais como:
o desgaste da superfície, a qualidade do escorregamento, a qualidade de aderência que a
estrutura oferece às camadas protetoras, resistência à corrosão, a aparência delas, entre
outras52.
Estas irregularidades da superfície dos materiais podem estar ligadas a alguns fatores
que alteram a superfície do material tais como53:
 Partículas de sujeira
 Rugosidades topográficas (falhas nas estruturas que surgem na confecção ou

preparação da superfície)
 Rugosidade composicional (oriundas de reações físico-químicas que podem

ocorrer entre átomos e moléculas e acontecem na superfície do filme).
Na figura 3.1 podemos observar alguns tipos de características de rugosidade de

superfície.
Figura 3.1: Representação de alguns fatores que podem contribuir para a rugosidade da superfície.
Além do mais a rugosidade afeta diretamente o estudo de algumas propriedades das

superfícies tais como as propriedades óticas, a durabilidade química, a resistência ao desgaste,
a facilidade de limpeza, a retenção de sujeira e a resistência ao escorregamento54. Na figura
3.2 temos um exemplo de como a rugosidade pode atuar no espalhamento da luz refletida na
superfície.

3 Rugosidade 42
Figura 3.2: Representação da luz sendo espalhada na superfície ao incidir numa superfície rugosa.
Por isso determinar a rugosidade de uma superfície é um recurso extremamente

importante, pois traz melhorias no desenvolvimento de materiais usados na mecânica, na
metalurgia, na geologia, na mineração e na biologia dentre outras áreas.
3.2 Propriedades Geométricas da Rugosidade
Para compreender a caracterização da rugosidade de uma determinada superfície é

necessário entender alguns conceitos básicos das superfícies, que são definidos pela Norma
Brasileira Regulamentadora 6405 (1988) e aprovados pela ABNT (Associação Brasileira de
Normas Técnicas) que define os termos para especificação da rugosidade em nosso país.
Superfície geométrica
Uma superfície geométrica corresponde a uma superfície ideal, onde por definição não
existem erros rugosidades. É uma superfície que não existe, mas suas dimensões são
importantes porque surgem como referência. Podemos observar isso na figura 3.3.

3 Rugosidade 43
Figura 3.3: Modelo de uma superfície geométrica e os níveis de referência.
Superfície real
Os desvios da superfície que limitam o corpo em relação à superfície geométrica
caracterizada pelos picos e vales, é uma rugosidade idealizada, chamada de superfície real. Na
figura 3.4 temos uma representação dessa superfície.
Figura 3.4: Modelo de uma superfície real.
Superfície efetiva
A superfície efetiva é aquela medida por uma determinada técnica. Tem forma bem
próxima da superfície real, quanto mais precisa for a medida da rugosidade mais a superfície
efetiva será igual a real. Na figura 3.5 temos o desenho de uma superfície efetiva.

3 Rugosidade 44
Figura 3.5: Modelo de uma superfície efetiva.
Perfil geométrico
O perfil geométrico corresponde à intersecção de um plano perpendicular com a
superfície geométrica, por definição esse perfil é uma reta perfeita, como na figura 3.6.
Figura 3.6: Perfil geométrico de uma superfície.
Perfil real
Corresponde ao perfil real a intersecção de um plano perpendicular com a superfície
real, esse perfil nos mostrará uma linha irregular, como na figura 3.7.

3 Rugosidade 45
Figura 3.7: Perfil real de uma superfície.
Perfil efetivo
O perfil efetivo é o perfil obtido após a medição do perfil real, nele estão presentes as
ondulações da superfície e o perfil de rugosidade. Como mostra a figura 3.8, a linha em
vermelho mostra a ondulação da superfície sobreposta a rugosidade
Figura 3.8: Perfil efetivo de uma superfície.
Fonte:www.mitutoyo.com (direitos autorais reservados à Mitutoyo America Corporation)
Perfil de rugosidade
O perfil de rugosidade é obtido a partir das medidas adquiridas no perfil efetivo e
consegue mostrar os desvios da superfície a partir da linha média. Na figura 3.9 podemos
observar um perfil de rugosidade.

3 Rugosidade 46
Figura 3.9: Perfil de rugosidade de uma superfície.
Fonte:www.mitutoyo.com (direitos autorais reservados à Mitutoyo America Corporation)
3.3 Parâmetros de Rugosidade
A rugosidade pode ser caracterizada por vários parâmetros como, por exemplo, os de
amplitude, espaçamento e híbridos55. Em nosso trabalho para calcular a rugosidade usamos
apenas os parâmetros de amplitude que para o nosso estudo é o mais significativo.
3.3.1 Parâmetros de amplitude ou altura

Os parâmetros de amplitude são indicadores das diferentes profundezas dos vales ou
tamanho dos picos do perfil de rugosidade superficial, ou seja, as variações das reentrâncias
e saliências com que estamos trabalhando.
Existem muitos parâmetros de altura ou amplitude que podem quantificar a

rugosidade, a obtenção destes valores para a rugosidade depende da resolução da imagem
obtida53.
Para compreender esses parâmetros é necessário entender o sistema de linha média,

em que esse parâmetro se baseia. Na figura 3.10 temos um perfil de uma superfície rugosa
com áreas acima e abaixo da linha média.

3 Rugosidade 47
Figura 3.10: Perfil de rugosidade com áreas (A1, A2, A3, A4, A5, A6) separados pela linha média.
Fonte: Elaborada pelo autor.
A linha média é uma linha compreendida paralelamente ao comprimento do perfil (Lp),

que serve de referência e divide o perfil da rugosidade, de modo que a soma das áreas
inferiores (A2, A4 e A6) seja igual à soma das áreas superiores (A1, A3 e A4).
Principais Parâmetros de Amplitude
 Rt – Amplitude Total do Sistema, corresponde ao somatório do mais alto pico com o mais
profundo vale, dentro do comprimento que está sendo avaliado.
 Rp – Amplitude máxima de pico corresponde ao maior valor da altura de um pico com
relação à linha média.
 Rv – Amplitude máxima de vale corresponde ao maior valor da profundidade de um
vale com relação à linha média.
Na figura 3.11 podemos observar a representação da definição destes três parâmetros

de amplitude56.
Figura 3.11: Parâmetros de amplitude: Rt, Rp, Rv.

3 Rugosidade 48
 Rz – Amplitude máxima de perfil por comprimento corresponde à média de altura

entre os cinco picos mais altos e aos cinco vales mais profundos.
A seguir sobre os parâmetros de Rugosidade Média e Rugosidade Média Quadrática

que quantificaram a rugosidade das superfícies da célula foram utilizados como parâmetros
em nosso trabalho.
3.3.2 Rugosidade média

A rugosidade média (Ra - Roughness Average) é definida como a média aritmética dos
desvios dos N valores absolutos de picos e vales do perfil a partir da linha média, dentro do
comprimento do perfil medido. Uma aproximação da rugosidade média é obtida pela soma
dos valores das alturas Z, dividido pelo número de alturas tomadas57. Na figura 3.12 ilustramos
a medição da rugosidade média de uma superfície.
Figura 3.12: Principio de medição para obtenção da Ra nas etapas A, B e C. A, temos as alturas dos picos e vales
traçadas (z1, z2 ... zn, obtidos a partir da linha média). B, transposição dos vales para o eixo. C, obtenção do
parâmetro rugosidade média absoluto.

3 Rugosidade 49
O parâmetro Ra pode corresponder graficamente à área de um retângulo. E pode ser

descrito pela equação 3.1:
1 𝑥=𝐿
𝑅𝑎 = ∫ |𝑧(𝑥)|𝑑𝑥 (3.1)
𝐿 𝑥=0
A rugosidade média, Ra, é uma integral do valor absoluto do perfil de rugosidade. Ela
é a área delimitada pelo perfil de rugosidade e pela linha média, dividido pelo comprimento
de avaliação (L), z (x) é a da altura para cada ponto da linha do perfil utilizado na medida.
A rugosidade média é um parâmetro bem definido que pode ser facilmente medido, e
apresenta uma boa variação das alturas na superfície do material e é o parâmetro mais
utilizado para inspeções técnicas nas fabricações de materiais. Porém valores muito distantes
da média podem ser ocultados e com isso os defeitos podem ser escondidos. As formas locais
das irregularidades dos materiais não são definidas e perfis distintos podem apresentar o
mesmo valor de Ra57. Na figura 3.13 temos diferentes perfis de rugosidade que apresentam o
mesmo valor de rugosidade média.
Figura 3.13: Diferentes perfis de superfície com mesmo valor Ra.

3 Rugosidade 50
3.3.3 Rugosidade média quadrática

RMS (do inglês, Root Mean Square) representa o desvio padrão da distribuição das
alturas da superfície. Este parâmetro é mais sensível que o da altura média (Ra) para grandes
desvios da linha média55. Na figura 3.14 temos um gráfico do comprimento do perfil por sua
altura z, identificando a RMS do perfil.
Figura 3.14: Parâmetro RMS de um perfil de rugosidade.
A definição matemática deste parâmetro é descrito pela abaixo55; 57:
1 𝐿
𝑅𝑀𝑆 = √ ∫ |𝑧²(𝑥)|𝑑𝑥 (3.2)
𝐿 0
RMS é uma medida mais sensível aos picos e vales que se afastam da média do que Ra, isso
porque tem as medidas de altura elevadas ao quadrado o que aumenta o efeito das
irregularidades melhorando a sua determinação, porém também não define as formas das
irregularidades60.
3.4 Dimensão Fractal como Análise Complementar
A dimensão fractal representa um parâmetro importante no estudo das morfologias,

sendo uma análise baseada na rugosidade da superfície trabalhada. Dois métodos
importantes neste estudo são: o da variância e o da potência espectral, que no nosso trabalho
foram utilizadas para avaliar as imagens produzidas por AFM.

3 Rugosidade 51
3.4.1 Dimensão fractal

Benoit B. Mandelbrot61 foi quem introduziu o conceito de fractal, e em suas obras ele
define o fractal como sendo algo que possua auto similaridade, isto é, cada parte dele é
semelhantes ao todo. Esta definição dos fractais tem sido aplicado nos mais variados campos
de estudo, como na biologia, na neurociência, na acústica, na economia, na química, dentre
outras. Na figura 3.15 temos alguns fractais na natureza.
Figura 3.15: Propriedades fractais na natureza em diferentes vegetações.
No entanto a auto similaridade não é a única característica necessária para se definir

um fractal. Mais duas características são necessárias para se definir formalmente um fractal,
estas são a auto complexidade e a dimensão fractal. Tais características diferenciam a
geometria fractal da geometria convencional.
A auto complexidade, também chamada de estrutura fina, refere-se ao fato que uma
pequena parte de um fractal tem os mesmos detalhes que o todo, isto é, não existe a perca
de complexidade entre qualquer uma das partes e o todo. A dimensão fractal está associada
a dimensões fracionárias, já a geometria euclidiana, a dimensões inteiras63; 64.
Existem alguns métodos de se calcular a dimensão fractal de um dado objeto. Os

métodos aqui empregados foram os métodos da variância e o da potência espectral, muito
embora haja outras maneiras de se calcular a dimensão fractal, a saber, os métodos da
contagem de cubos, dimensão de informação e dimensão de Higuchi, que também são modos
bastante tradicionais de se medir a dimensão fractal.

3 Rugosidade 52
3.4.2 Método da variância

O método da variância consiste em avaliar a dependência de escala da variância do
movimento browniano fracional64. Na figura 3.17 temos a análise da dimensão fractal pelo
método da variância de uma célula macrófaga e o gráfico deste método.
Figura 3.17: célula de macrófago e sua análise quantitativa e gráfica da dimensão fractal pelo método da
variância.
Tal mensuração é feita através da divisão da superfície em caixas quadradas de igual tamanho,
e a variância é calculada para uma dada caixa em particular. A dimensão fractal é desta forma,
calculada pela expressão 𝐷 = 3 − 𝛽/2, sendo 𝛽 a inclinação da linha de ajuste com os dados,
quando plotados em um gráfico log-log.
3.4.3 Método da potência espectral

O método da potência espectral baseia-se na dependência da potência espectral do
movimento browniano fracional. Neste método, a altura de cada linha que forma a imagem é
submetida a uma transformada de Fourier e a potência espectral é então avaliada, em seguida
a média destes valores é tomada. Na figura 3.18 temos a análise da dimensão fractal pelo
método da potência espectral de uma célula macrófaga e o gráfico deste método.

3 Rugosidade 53
Figura 3.18: célula de macrófago e sua análise quantitativa e gráfica da dimensão fractal pelo método da potência
espectral.
Assim como no método da variância, a dimensão fractal está relacionada à inclinação

𝛽, plotada em um gráfico log-log, da linha de ajuste dos dados. A expressão da dimensão
fractal neste método é dada por 𝐷 = 7/2 − 𝛽/2.

54
4 AFM NO ESTUDO DE CÉLULAS
Neste capítulo abordaremos o uso da microscopia de força atômica para o estudo de amostras
biológicas. Apresentaremos os principais componentes da célula envolvidos em nosso estudo,
em seguida mostraremos como a adesão celular, a uma matriz extracelular afeta a rugosidade
e a dimensão fractal da membrana plasmática.
4.1 Microscopia de Força Atômica Aplicada à Biologia Celular
Nas últimas décadas o AFM13 tem emergido como uma ferramenta poderosa para
obter detalhes nanoestruturais e propriedades biomecânicas de amostras biológicas29; 65. O
AFM é capaz de mapear e medir diversas alterações na membrana celular, como por exemplo,
a morfologia, as propriedades mecânicas, a rigidez, a viscoelasticidade celular entre outras.
O AFM teve seu surgimento em 1986 e surgiu com a proposta inicial para a obtenção
de imagens topográficas de superfícies, o que ainda é muito utilizado, até os dias atuais,
porque é capaz de descrever de forma quantitativa os detalhes morfológicos sem a
necessidade de preparações preliminares, permitindo a observação em tempo real e com alta
resolução de alterações morfológicas causadas por diversos estímulos66; 67; 68.
A vantagem mais importante do AFM na biologia está na aplicabilidade em qualquer

tipo de amostra, ele tem a capacidade de aquisição de imagens de alta resolução. Deste modo
sob condições fisiológicas ou não fisiológicas (por exemplo, secas ou fixadas quimicamente),
o AFM consegue proporcionar bons trabalhos sem prejudicar as amostras envolvidas69.
Para termos uma ideia, células cancerígenas, por exemplo, diferem de células normais
em seu crescimento, na morfologia, na organização do citoesqueleto e nas interações com a
matriz extracelular70; 71 e a microscopia de força atômica é uma ferramenta muito útil para
detectar e compreender essas diferenças.
Com isso desde os primeiros trabalhos em 1992 com Tao72 estudando a

microelasticidade de amostras biológicas macias e Hoh e Schoenenberger73 medindo as
propriedades mecânicas de células vivas, a utilização do AFM como ferramenta no estudo das
propriedades mecânicas e morfológicas de células teve um aumento significativo 74; 75.
4 AFM no Estudo de Células 55
4.2 Principais Componentes da Célula no Estudo de sua Morfologia
Uma única célula pode constituir um organismo e por isso a célula é a unidade
estrutural mínima que define um ser vivo e é formada por uma enorme quantidade de
diferentes moléculas e organelas e são capazes de exercer as funções básicas da vida. A
expressão gênica, estrutural e organizacional, desses componentes determinam os diferentes
tipos de células (desde organismos unicelulares a organizações complexas como tecidos e
mamíferos multicelulares), suas funções, sua comunicação com o meio ambiente circundante,
seu ciclo de vida76.
Descreveremos, de maneira resumida, os principais componentes estruturais das

células que são determinantes para o estudo da morfologia celular em nosso trabalho. A
Figura 4.1 ilustra, basicamente, a estrutura celular com alguns dos componentes básicos
envolvidos na mecânica celular.
Figura 4.1: Representação esquemática dos componentes estruturais básicos
As interações de células com a matriz extracelular e com seus vizinhos (tecidos, meio)
têm uma grande influência sobre uma vasta variedade de processos biológicos, incluindo a
adesão e migração celular77 e a topografia das amostras pode ser um fator regulador biológico
importante para poder caracteriza-las78; 79.

4.2.1 Membrana Celular

As células tem sua superfície recoberta pela membrana plasmática que separa o
conteúdo de seu interior do ambiente exterior, atuando como microambiente delimitando os
meios intracelular e extracelular.
A membrana plasmática permite a comunicação entre esses meios, traduzindo

informações para o interior da célula e permitindo que ela responda a estímulos externos que
podem influenciar nas suas funções biológicas, participando diretamente das interações
célula/célula e célula/matriz extracelular. Molecularmente a membrana das células é formada
por uma dupla camada fluída de fosfolipídios e colesterol80.
A complexidade da membrana celular impõe algumas dificuldades para quantificar

suas alterações e para isso utilizamos os parâmetros de rugosidade e dimensão fractal para
acompanhar as mudanças produzidas na membrana em diferentes situações.
4.2.2 Núcleo
O núcleo da célula geralmente é localizado em seu centro apesar de que em algumas
células ele apresenta formatos bem distintos. O núcleo é a maior organela da célula e contem
quase todo o material genético (DNA) da célula. O núcleo é delimitado por duas membranas
lipídicas perfuradas por poros nucleares (que mantém a comunicação entre o núcleo e o
citoplasma) e concentra nessa delimitação os seus principais componentes como a cromatina
o nucléolo e o nucleoplasma81. Estudos mostram que os componentes da estrutura celular
estão diretamente ligados ao citoesqueleto e indiretamente ligado à membrana celular
através das integrinas82. Deste modo fatores que modificam o citoesqueleto podem significar
possíveis alterações na estrutura e em modificações na morfologia da célula.
4.2.3 Citoesqueleto
É uma rede emaranhada tridimensional de filamentos de proteínas que se estende por
todo o citoplasma é responsável pela movimentação e direcionamento das estruturas internas
além de peça importantíssima na manutenção e organização da morfologia celular. Os seus
principais componentes são os filamentos intermediários os microtúbulos e os filamentos de
actina81.
Os filamentos de actina (F-actina) são formados pela actina-G polimerizada uma

proteína globular monomérica. Ela tem o controle da maioria dos movimentos como, por

exemplo, na fagocitose das células e tem se mostrado como um fator importante na mecânica
do citoesqueleto83. Com isso alterações provocadas ao citoesqueleto podem significar
alterações em sua rigidez celular e em sua morfologia.
4.2.4 Matriz extracelular

A matriz extracelular (MEC) é uma densa malha e a sua composição envolve processos
dinâmicos de degradação e produção de proteínas da matriz. É formada principalmente pelas
fibras colágenas, as glicoproteínas e os proteoglicanos, tais como a fibronectina, o calágeno e
a laminina29. A MEC e suas proteínas estão envolvidas nas interações que ocorrem entre
células, e célula substrato de adesão, na emissão e recepção de sinais moleculares que
controlam a migração, a adesão e a diferenciação celular84. As células se aderem via adesão
focal a MEC, por meio de um conjunto de receptores de membrana (integrinas) e moléculas
citoplasmáticas85.
Alguns estudos mostram que a densidade de proteínas da MEC é um fator importante

para explicar o movimento, a forma e a dureza das células em cultura, e também reforça os
sítios da adesão Célula-MEC86; 87. A MEC suporta parte das forças mecânicas no citoesqueleto
e o equilíbrio de forças entre as células e a MEC regula a forma, a rigidez e estabilidade
estrutural da célula, podendo desempenhar um papel importante na morfologia das células.
Integrinas
As integrinas são proteínas de adesão que mediam sinais por meio da membrana
plasmática respondendo a fatores internos e externos, estabelecem assim uma forma de
comunicação com o citoesqueleto88. Quando os sinais são transmitidos para o interior da
célula podem resultar em uma reorganização do citoesqueleto. E quando os sinais são
originados do interior podem se mover pelas integrinas determinando a adesão celular e
regulando a união da integrina ao ligante89; 90.
4.3 Efeitos da Adesão Celular à Fibronectina
A adesão da célula a matriz extracelular (MEC), influenciam em muitos fatores

celulares naturais, tais como: estruturação dos tecidos, cicatrização, migração celular e
embriogênese entre outros. Neste sentido o citoesqueleto desempenha um papel crucial para
adesão e para a morfologia da célula, os filamentos de actina de sua composição que

impulsionam seus movimentos podem sofrer modificações causadas pela adesão celular a
MEC ou por tratamentos a que seja submetida, pensando nisso estudamos a influência da
MEC nas características das superfícies de macrófagos através do AFM.
Os macrófagos são células imunológicas com alto fator fagocitário e tem formação
envolvida com a resposta a células mortas e infecções. Apresentam-se como os elementos de
defesa imediata contra objetos desconhecidos ao organismo. Os macrófagos derivam
indiretamente de células da medula óssea (depois entram na circulação sanguínea como
monócitos) e a sua principal função é: alertar o sistema imunológico, apresentando antígenos
a organismos nocivos e fagocitando agentes infecciosos90. A ativação dos sinais dos
macrófagos pode ser verificada por meio da adesão e espalhamento sobre a MEC91.
As fibras da matriz extracelular (fibronectina, laminina, colágeno entre outras) são

reconhecidas pelas integrinas presentes nos macrófagos que estão ligadas ao citoesqueleto92.
A fibronectina é uma glicoproteína mediadora de diversas interações celulares com a MEC e
tem papel importante no desenvolvimento dos vertebrados93.
A fibronectina se adere à membrana através das integrinas que ligam a MEC com o
citoesqueleto intracelular, essa adesão é importante na regulação do crescimento celular,
diferenciação e migração celular94. Essa interação permite que as integrinas estabeleçam
contato com os filamentos de actina e esse contato permite a ativação de sinais que regulam
a reorganização do citoesqueleto95. E essa reorganização tem uma influência importante nas
alterações morfológicas das células.
Em nosso trabalho utilizamos a técnica de AFM para investigar as influências de um

filme de fibronectina na morfologia a fim de quantificar as mudanças impostas à superfície
das amostras, através dos parâmetros de rugosidade média, rugosidade média quadrática e
ainda por um parâmetro alternativo, o da dimensão fractal.
4.4 Preparação do Substrato e Cultura das Células
Para a preparação dos substratos utilizados neste trabalho, lamínulas de vidro (16 mm
de diâmetro) foram limpas, mergulhadas por 12 horas em etanol (70%), em seguida, lavadas
com água destilada. Para a preparação dos substratos revestidos com fibronectina, 200mL de
fibronectina (5𝜇g/mL) foi depositada sobre as lamínulas de vidro limpas e deixou-se difundir

completamente durante toda a noite a 4°C. Todos os substratos foram lavados em tampão
fosfato salino (PBS), seguido de incubação a 37°C com solução a 1% de BSA/PBS (soro de
albumina bovino/PBS) para bloquear as ligações não específicas de proteínas.
Macrófagos murinos de linhagem J774 foram cultivados em Meio de Eagle Modificado

por Dulbecco (DMEM) contendo soro fetal bovino (FCS) (10%), penicilina (100 UI/mL) e
estreptomicina (100g/ml). Os macrófagos foram cultivados numa incubadora a 37°C numa
atmosfera umidificada de CO2 (5%). As células foram semeadas a uma densidade de 2x105
células/mL em lamínulas de vidro esterilizadas inseridas em placas de cultura de 6 poços e
incubadas durante 1 hora, antes de serem fixadas quimicamente (glutaraldeído a 0,5%). Após
os vários tempos de incubação, o meio foi lavado para remover células não ligadas.
Para avaliar o envolvimento do citoesqueleto nas propriedades morfológicas das

células, elas foram cultivadas em vidro e em fibronectina e, em seguida, tratadas com
Citocalasina D por aproximadamente 15 minutos a 37°C antes da fixação.
4.5 Topografia das Amostras
Utilizando do sistema Nanonics Multiview 4000 nos aproveitamos de uma de suas

técnicas, a de AFM, que nos permitiu a obtenção de imagens das superfícies das células
tratadas. As imagens obtidas mostraram a forma que as células adquiriram pós-adesão,
tipicamente arredondada, peculiar dos macrófagos. A figura 4.3 mostra imagens do
parâmetro de altura do AFM de células em cultura por 1 hora sob diferentes tratamentos.

Figura 4.3: Imagens de AFM de macrófagos (células diferentes) em cultura por 1 sobre, a) vidro, b) fibronectina,
c) Citocalasina D e d) Fibronectina + citocalasina D.
Para estimar os valores de Ra e RMS das células em questão, utilizamos a análise

estatística do software WSxM96.
Para perceber as alterações causadas na morfologia da membrana das células,

calculamos os valores de Ra e RMS de quatro grupos dos macrófagos em diferentes situações,
em cada grupo haviam cinco células.
Em um desses grupos as células estão aderidas apenas ao vidro e os resultados em

seus valores de Ra e RMS servem como controle para o grupo de células aderidas a filmes de
fibronectina e para o grupo de células aderidas no vidro e tratadas com citocalasina D. O
quarto grupo corresponde as células aderidas a fibronectina e tratadas com citocalasina seus
valores são comparados com os das células aderidas a fibronectina sem qualquer tratamento.

Para encontrarmos os valores de rugosidade da membrana, nas diferentes situações

de cada grupo realizamos o seguinte procedimento: selecionamos em cada célula de cada
grupo cinco regiões ao redor do núcleo da célula com dimensões de 1.1𝜇𝑚 por 1.1𝜇𝑚 para
análise da rugosidade em cada região. A figura 4.4 exemplifica cinco regiões de uma célula
usadas para o cálculo da Ra e da RMS.
Figura 4.4: Cinco regiões diferentes da superfície da célula ao redor do núcleo.
As imagens criadas pelo AFM podem apresentar algumas inclinações no substrato

(mesmo que invisíveis a olho nu), isso ocorre durante o processo de preparação das amostras
para as imagens de AFM, para corrigir essa inclinação do substrato utilizamos um tratamento
de edição nas imagens, que foi feito com a opção “flatten” do programa WSxM.

Figura 4.5: célula sem tratamento de edição (esquerda) e com tratamento de edição (direita) do software WSxm.
Com isso o programa WSxM permite o cálculo das rugosidades das regiões escolhidas.
Desta forma obtivemos 25 valores tanto para Ra quanto para RMS, por grupo de células com
e sem correção da inclinação do substrato. A partir destes valores foi calculada uma média
das rugosidades por grupo, estimadas pelas distribuições de alturas das regiões escolhidas nas
imagens de AFM.
4.5.1 Medidas de Ra e RMS

Com o WSxM utilizamos a opção analise de rugosidade, que nos permitiu um total de
100 regiões, diferentes das nossas células e assim fomos capazes de comparar as rugosidades
obtidas por cada grupo de tratamento com relação ao grupo controle. Na figura 4.6 temos o
gráfico dos resultados obtidos para a rugosidade média com e sem filtro para as células
aderidas sobre os diferentes substratos.

Figura 4.6: Gráficos das rugosidades médias obtidas com tratamento e sem tratamento de edição no software
WSxM. A barra de escala representa o desvio padrão. E os percentuais representam as variações com relação ao
vidro (controle). Exceto o tratamento de fibronectina + citocalasina que tem seu percentual com relação ao
tratamento com fibronectina.
Os dados neste capítulo são apresentados como média ± desvio padrão (média±DP),
e quando citados dados com ou sem filtro fazem referencia a utilização ou não da edição do
programa WSxM, que corrige as inclinações do substrato.
Para a rugosidade média percebemos que todos os valores Ra com tratamento de

edição no software foram maiores que os valores sem edição até mesmo na amostra controle
(vidro) em que o Ra do vidro com filtro vale 65,2±5,7 nm e o Ra sem filtro vale 65,1±7,9 nm.
Na figura 4.6 expomos os crescimentos e decaimentos percentuais das rugosidades

médias com relação à situação controle das células aderidas ao vidro. O grupo de células
aderidas a fibronectina obtiveram aumento em suas rugosidades médias com relação às

células aderidas ao vidro. A rugosidade média do grupo aderido a fibronectina sem edição
aumentou 11,33% com relação ao grupo de células aderidas ao vidro e sem edição
apresentando Ra de 72,5±8,0 nm. Enquanto o grupo aderido a fibronectina com edição teve
Ra de 75,7±6,4 nm e aumentou 16,06% com relação ao grupo de células aderidas ao vidro e
com edição. Ou seja, a fibronectina afetou a rugosidade da célula provocando um aumento
da rugosidade média.
Quando as células foram aderidas ao vidro e tratados com citocalasina D os grupos

apresentaram queda nas suas rugosidades médias com relação às células aderidas ao vidro. O
grupo com filtro tratado com citocalasina D caiu 17,86% e teve Ra de 53,6±6,3 nm e o grupo
sem filtro com o mesmo tratamento caiu 31,89% e apresentou Ra de 44,3±7,0 nm.
E para quantificarmos o envolvimento do citoesqueleto na mudança da morfologia na

membrana da célula aderidas a fibronectina, as tratamos após adesão com citocalasina D para
que houvesse degradação dos filamentos de actina das células. E assim obtivemos que as
células tratadas com citocalasina após adesão a fibronectina tiveram quedas em suas
rugosidades quando comparadas apenas com as células aderidas ao filme de fibronectina.
Células com filtro aderidas a fibronectina e depois tratadas com citocalasina D tiveram queda
de 18,55% e Ra de 61,7±5,2 nm as sem filtro na mesma situação tiveram queda de 19,64% e
valor de Ra igual a 58,2±6,0 nm.
Para a rugosidade média quadrática realizamos o mesmo procedimento, cujos

resultados obtidos podem ser analisados na figura 4.7, que mostra os valores de RMS com e
sem filtro de edição e seus respectivos percentuais comparativos com relação à situação
controle.

Figura 4.7: Gráficos das rugosidades médias quadráticas obtidas com tratamento e sem tratamento de edição
no software WSxM. A barra de escala representa o desvio padrão. E os percentuais representam as variações
com relação ao vidro (controle). Exceto o tratamento de fibronectina + citocalasina que tem seu percentual com
relação ao tratamento com fibronectina.
Para a rugosidade média quadrática percebemos que todos os valores RMS com filtro
foram maiores que os valores sem filtro até mesmo na amostra controle (vidro) em que o RMS
do vidro com filtro vale 76,9±7,5 nm e o RMS sem filtro vale 76,7±6,9 nm.
Como esperado também temos que todos os valores RMS são maiores que os valores
Ra para cada grupo de células. As células aderidas a fibronectina aumentaram as suas
rugosidades. A RMS da fibronectina com filtro aumentou 17,28% com valor de 90,2±9,2 nm e

a RMS da fibronectina sem filtro teve valor de 87,0±8,0 nm e aumentou 13,37% com relação
aos seus respectivos controles com e tratamento aderidos ao vidro.
Também com relação ao vidro as amostras aderidas ao vidro tratadas com citocalasina
D tiveram queda em suas RMS. A RMS das células apenas tratadas com citocalasina D com
filtro foi de 63,8±7,2 nm e caíram 17,05% com relação ao controle em vidro e o mesmo grupo
sem filtro teve RMS de 53,1±8,5 nm tendo queda de 30,73% com relação ao controle em vidro
sem filtro.
As células aderidas a fibronectina e logo depois tratadas com citocalasina D também

registraram quedas em seus percentuais de RMS. O grupo com filtro com este tratamento
teve baixa de 17,44% e RMS de 74,5±6,5 nm e o grupo sem filtro teve uma queda de 19,45%
com RMS de 70,1±7,6 nm com relação à situação controle que nesse caso é a situação de
células aderidas a fibronectina.
4.5.2 Discussão dos resultados das medidas de rugosidade

Utilizamos o AFM para investigar os impactos da MEC nas propriedades morfológicas
da membrana, pois as influências nas características do citoesqueleto podem significar um
fator importante para o estudo topográfico das células. Através das medidas de rugosidade
média e rugosidade média quadrática tentamos quantificar a influência dessa adesão a
diferentes substratos.
Notamos que quando as células são aderidas a fibronectina há um aumento nos

registros de suas Ra e RMS. E quando tratamos as células com citocalasina D às quantidades
de Ra e RMS diminuíram, evidenciando a importância do citoesqueleto em nosso estudo, pois,
quando a citocalasina age ela impede a polimerização de novos filamentos de actina,
degradando o citoesqueleto97, esse processo impede algumas funções da célula e altera a
morfologia da membrana até mesmo causando a apoptose celular98.
Podemos perceber que as interações entre célula e MEC mediada pelo citoesqueleto,
podem de acordo com nossas medidas influenciar nas alterações na morfologia da membrana
celular e também que com o tratamento das imagens com o filtro “flatten”, do programa
WSxM, interfere nos valores de rugosidade, tendo em vista que todos os grupos que foram
tratados apresentaram maiores valores para os valores Ra e RMS da rugosidade.

4.6 Medidas de Dimensão Fractal
As imagens de AFM também foram importantes para a análise do nosso parâmetro

alternativo, a dimensão fractal. Para quantificar a dimensão fractal de nossas células,
utilizamos os métodos da variância e da potência espectral.
Para isso utilizamos as imagens de erro e de amplitude do AFM. A imagen de erro

representa a medida de erro de sinal que é enviado para o sistema de feedback, esse “erro” é
a diferença entre o sinal da sonda e o sinal de força enviado pelo sistema. A imagem de
amplitude representa as variações na amplitude de oscilação do cantilever no decorrer da
varredura.
Esses tipos de imagens foram escolhidos porque contrastam mais os detalhes da

superfície do material estudado e com isso podem fornecer melhores informações que
caracterizem fractais. Na figura 4.7 temos duas imagens de AFM uma do tipo erro e outra de
amplitude.
Figura 4.7: Imagens de AFM. a) imagem de erro e b) imagem de amplitude.
Como já explicado cada grupo contém 5 células, obtivemos a dimensão fractal média
por grupo de células (vidro, fibronectina, citocalasina com fibronectina e citocalasina).
Calculamos os valores médios por grupo para as imagens de erro e de amplitude, as análises
dos métodos de dimensão fractal foram realizadas pelo software Gwyddion que é um
programa livre e de código aberto para visualização e análise de dados SPM 99. Através desse
programa analisamos 20 imagens tanto de erro quanto de amplitude pelos métodos da

variância e da potência espectral, os resultados obtidos estão expressos na figura 4.8.
Figura 4.8: Resultados das medidas de dimensão fractal média por grupo. a) imagens de erro e b) imagem de
amplitude.
Na figura 4.8 estão expostos os valores da dimensão fractal média por grupos de
diferentes situações, calculados por dois métodos o da variância e o da potência espectral.
No método da variância, utilizando as imagens de erro obtivemos uma dimensão

fractal média de 2,646 no grupo de células aderidas ao vidro e esse valor diminuiu quando as
células foram aderidas a fibronectina, esse grupo teve dimensão fractal média de 2,586. O
grupo aderido ao vidro, e tratado com citocalasina D teve dimensão fractal média de 2,644 e
também apresentou uma diminuição com relação ao controle. Já o grupo aderido a
fibronectina e tratado com citocalasina D apresentou um diminuição com relação ao seu
grupo controle e teve em uma dimensão fractal média de 2,624.
Com o método da potência espectral, aplicado nas imagens de erro todos os grupos
alcançaram valor maior para a dimensão fractal média, do que os resultados no método da
variância também nas imagens de erro. A dimensão fractal média pelo método da potência
espectral no grupo controle aderido ao vidro, foi de 2,756 e a do grupo aderido a fibronectina
teve leve queda alcançando 2,728. O grupo aderido ao vidro e tratado com citocalasina,
obteve o maior valor, sendo este de 2,774. O grupo aderido a fibronectina e tratado com
citocalasina muito próximo ao apenas aderido a fibronectina tendo dimensão fractal igual
2,72.
Para as imagens de amplitude no método de potência espectral, a dimensão fractal

média do grupo de células aderidas ao vidro foi de 2,706, o grupo de células aderidas a
fibronectina, apresentou uma pequena queda, tendo uma média no grupo com dimensão
fractal de 2,65. Também com essas imagens e neste método o grupo aderido ao vidro e
tratado com citocalasina D também caiu com relação ao controle e apresentou dimensão
fractal média de 2,6 e o grupo aderido a fibronectina e tratado com citocalasina D teve
dimensão fractal média de 2,644.
Também para as imagens de amplitude utilizamos o método da variância que para o

grupo de células aderidas ao vidro apresentou dimensão fractal média de 2,688. O grupo de
células aderidas ao vidro teve uma queda nesse valor apresentando dimensão fractal média
igual a 2,612. As células aderidas a fibronectina e tratadas com citocalasina D alcançaram um
aumento com relação as apenas aderidas a fibronectina sendo a dimensão fractal média de
2,692. O grupo aderido ao vidro e tratado com citocalasina teve queda com relação ao grupo
controle e apresentou dimensão fractal média de 2,66. Na tabela 4.1 temos esses resultados
expostos.
Tabela 4.1: Resultados das medidas de dimensão fractal média usando as imagens do erro e da amplitude de
cada grupo. As setas indicam o crescimento ou decaimento com relação a situação controle.
4.6.1 Discussão dos resultados das medidas de dimensão fractal

Assim em nossas amostras a dimensão fractal se mostrou um quantificador importante
para detectar alterações nas mudanças morfológicas da membrana celular impostas pela
adesão da célula a MEC. As imagens de amplitude e de erro pelo método da variância

apresentam o mesmo comportamento, tendo queda nos grupos de células aderidas a

fibronectina e no grupo de células aderidas ao vidro e tratadas com citocalasina D quando
comparadas apenas as células aderidas ao vidro (controle) e o grupo aderido a fibronectina e
tratado com citocalasina apresentaram alta quando comparados ao grupo apenas aderido a
fibronectina.
Pelo método da potência espectral as imagens de erro e amplitude, apresentam queda

na dimensão fractal média no grupo de células aderidas a fibronectina quando comparadas
ao grupo das células apenas aderidas ao vidro, e também apresentam diminuição da dimensão
fractal média no grupo aderido a fibronectina e tratado com citocalasina D com relação às
células apenas aderidas a fibronectina. Já no grupo de células aderidas ao vidro e tratadas com
citocalasina D há uma pequena discrepância quanto aos resultados.

71
5 CONCLUSÃO
Nesta dissertação, fizemos o estudo de alguns parâmetros importantes para

quantificar a influência da MEC nas propriedades morfológicas da membrana, para isto, foi
feita a medida da dimensão fractal e rugosidade de macrófagos aderidos ou não a substratos
de fibronectina e tratados com citocalasina D, a fim de quantificar o quanto essa adesão
interfere nas mudanças morfológicas da membrana celular.
Em nosso trabalho demonstramos, também, a eficiência do AFM em medir e mapear

a morfologia a nível nanométrico de células biológicas, sem oferecer danos a sua estrutura e
com alta capacidade de resolução.
Percebemos que a adesão de células à MEC causa variações morfológicas na superfície

da membrana, e o citoesqueleto é um fator chave nesse comportamento29, visto que quando
aderida à fibronectina o citoesqueleto passa por uma reorganização, e quando tratado com
citocalasina o citoesqueleto sofre uma degradação dos filamentos de actina, o que
impossibilita a adição de novas subunidades monoméricas a esses filamentos. Este
comportamento justifica as variações morfológicas detectadas nas membranas.
Também constatamos que os tratamentos de edição de imagens realizados no

software WSxM podem interferir nas variações da rugosidade da membrana, tendo em vista
que o mesmo corrige as inclinações do substrato.
Quatro parâmetros foram utilizados para avaliar a rugosidade das amostras, sendo
dois deles métodos de dimensão fractal e os outros dois parâmetros de rugosidade. Na análise
via dimensão fractal conseguimos perceber alterações na complexidade da membrana,
sobretudo pós analise das imagens de erro e amplitude do AFM que detectaram essas
mudanças. A partir dos diferentes valores que a dimensão fractal assumiu nas diferentes
situações a que os macrófagos foram submetidos, e quanto maior os valores obtidos para a
dimensão fractal, maior a complexidade da membrana. Os valores encontrados pelos
métodos da potência espectral e da variância se correlacionam, havendo apenas uma
pequena dessemelhança nos resultados obtidos no grupo de células aderidas ao vidro e
tratadas com citocalasina D.
5 Conclusão 72
Em contrapartida, a análise da rugosidade através dos parâmetros de rugosidade

média e rugosidade média quadrática demonstraram-se quantificadores importantes da
adesão celular à MEC, caracterizando as diferenças ocorridas na superfície da membrana
celular quando esta é aderida a uma MEC. Tendo em vista que todos os grupos tiveram
alterações em suas morfologias, esses parâmetros estabeleceram um padrão para o
crescimento e decaimento da rugosidade a partir das diferentes situações a que a célula foi
submetida quando comparada a situação controle.
As interações entre a célula e a MEC, nas diferentes circunstâncias que utilizamos,

evidenciaram um papel essencial do citoesqueleto nessas modificações morfológicas
causadas na membrana das células. Com isso, ter parâmetros úteis e sensíveis que
caracterizem quantitativamente mudanças morfológicas na superfície da membrana, são
importantes na avaliação de efeitos biológicos reais que podem ser utilizados nas áreas
médicas, farmacológicas, dentre outras.
Uma perspectiva promissora deste trabalho consiste na possibilidade de investigar

outros tipos de propriedades físicas das amostras biológicas, tais como propriedades elétricas,
elásticas, dentre outras que são propiciadas pelo sistema de multi-sonda.

73
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Microscopia de Força Atômica Na Análise de Rugosidade e Da Dimensão Fractal de Membranas Celulares

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UNIVERSIDADE FEDERAL DE ALAGOAS

GIVANILDO RODRIGUES DA SILVA

MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA NA ANÁLISE DE RUGOSIDADE E DA

Microscopia de Força Atômica na Análise de Rugosidade e da Dimensão

Dissertação apresentada ao Programa de

Orientador: Prof. Dr. Eduardo Jorge da Silva Fonseca

S586m Silva, Givanildo Rodrigues da.

Orientador: Eduardo Jorge da Silva Fonseca.

Dissertação (Mestrado em Ciências) – Universidade Federal de Alagoas.

1. Microscopia de força atômica (AFM). 2. Macrófagos. 3. Matriz extracelular.

 Ao companheirismo da Rafaela, sempre me incentivando com sua alegria e confiança,

 A Verônica que em todo decorrer da escrita sempre esteve ao meu lado, me

 Ao Professor Eduardo Fonseca, pela orientação e por me conceder a oportunidade de

 A todos os colegas do Grupo de Óptica e Nanoscopia: Ana, Henrique, Jennifer, Elaine

 A todos os professores do Instituto de Física, técnicos e demais funcionários.

 A CAPES, pelo suporte financeiro.

Um sistema de microscopia de varredura multi-sondas foi utilizado para o estudo de

Palavras-chave: Microscopia de força atômica. Macrófagos. Matriz extracelular. Morfologia.

Keywords: Atomic force microscopy. Macrophages. Extracellular matrix. Morphology.

Entender a estrutura da matéria através da observação de seus detalhes em escala

Desde sua invenção, os microscópios passaram por constantes desenvolvimentos até

De fato, a microscopia sempre desempenhou um papel importante no estudo de

Anos depois, em 1982, com a invenção do microscópio de varredura por tunelamento4,

O AFM em nossa pesquisa foi utilizado para a caracterização de macrófagos murinos,

A rugosidade é um parâmetro relevante já muito usado na indústria, como para a

Outro parâmetro quantificador das alterações sofridas pela célula é o da geometria

Nesta dissertação apresentamos os conceitos e discutimos a aplicabilidade da técnica

biológicas, discutir a aplicação de parâmetros quantitativos úteis para descrever as mudanças

No terceiro capítulo, apresentamos os aspectos teóricos sobre o principal parâmetro

No quarto capítulo, estudamos o uso do AFM para o estudo de amostras biológicas.

Instituto de Física - UFAL

2 MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA

Neste capítulo abordaremos, de forma geral, aspectos básicos do microscópio de força

2.1 Origem do AFM

O surgimento do microscópio foi um grande passo para a observação do “mundo

Na busca de novas tecnologias para o desenvolvimento do sistema de microscopia,

Só em 1981 Gerd Binnig e Heinrich Rohrer, da IBM de Zurich desenvolveram o

O AFM não utiliza a medida da corrente de tunelamento para a geração da imagem,

Diferentemente dos microscópios óticos, os microscópios da família dos SPM, não

Na figura 2.1 apresentamos um esquema de um SPM e seus principais componentes.

Fonte: Retirado da Ref.14

Instituto de Física - UFAL

A invenção do STM e do AFM13; 15; 16 teve como consequência o desenvolvimento de

Figura 2.2: Esquema do perfilômetro Styllus de Young.

Fonte: adaptado da ref.26

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2.2 Princípio de Funcionamento do AFM

2.2.1 Conceito básico

Figura 2.3: Esquema de um microscópio de força atômica e seus componentes principais.

Fonte: Retirado da ref.27

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Os principais componentes que formam um AFM são: a ponta, o sistema de posição

O scanner piezoelétrico provê a movimentação lateral da amostra em relação à ponta

2.2.2 Formação da imagem de AFM

Esse processo se repete no decorrer de toda a superfície analisada escolhida

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Fonte: Retirado da ref.29

2.2.3 Detecção da interação ponta-amostra

Figura 2.5: Diagrama do sistema de detecção de AFM por laser.

Fonte: Retirado da ref.30

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No sistema de detecção por laser, quando a ponta se aproxima da superfície, as forças

Fonte: Retirado da ref.31