Você está na página 1de 4

Relatório - 2: INFLUÊNCIA DO EFEITO DE CARGA NA MEDIÇÃO DE

TENSÕES

Artur Cesar da Silva - silva.artur@protonmail.com; Gabriel Oliveira da Silva Oricio - gabrieloriciosilva@hotmail.com

Resumo: Este relatório apresentou os resultados da prática 2 Foi realizada a montagem do circuito conforme o
da disciplina de Laboratório de Sistemas de Medição, que esquema apresentado na Figura 1. Utilizaram-se os materiais
teve como objetivo principal investigar o efeito de carga na listados anteriormente, incluindo o Amplificador
medição de tensões. O experimento teve como foco a Operacional LM741, a fonte de tensão contínua variável (da
avaliação dos impactos causados pela inserção de plataforma NI-ELVIS II), o voltímetro analógico, a
instrumentos de medição, como voltímetros analógicos e plataforma NI-ELVIS II, o voltímetro digital, os resistores e
digitais, em circuitos elétricos. Além disso, foram analisadas os cabos de conexão.
as diferenças entre os circuitos equivalentes desses
voltímetros, bem como o efeito da configuração de buffer As medições foram conduzidas seguindo as seguintes
com o uso de um Amplificador Operacional (Amp Op) na etapas: inicialmente, mediu-se a tensão no resistor
indicação de um voltímetro analógico. especificado na Figura 1. Tanto o voltímetro analógico
quanto o digital foram empregados para a medição. Os
Palavra chave: efeito de carga, medição de tensão, valores de resistência (R1, R2) e a tensão da fonte de tensão
voltímetro analógico, voltímetro digital, Amplificador contínua foram retirados da Tabela I e utilizados para
Operacional, configuração de buffer. referência.

1. INTRODUÇÃO Além disso, foi repetido o procedimento para a


configuração de Buffer + Voltímetro Analógico, como
O efeito de carga é uma consideração crucial em ilustrado na Figura 2. O objetivo desses passos era avaliar as
medições elétricas e ocorre quando um instrumento de diferenças resultantes da introdução de diferentes tipos de
medição, como um voltímetro, é conectado a um circuito voltímetros no circuito.
para medir uma tensão. O ato de conectar o instrumento ao
circuito cria uma via para a corrente elétrica fluir através do
instrumento. Como resultado, a corrente que flui pelo
instrumento pode afetar o potencial elétrico do ponto de
medição, levando a uma alteração na tensão medida. Esse
fenômeno é particularmente relevante em circuitos de alta
impedância, onde a corrente de medição é
comparativamente significativa em relação à corrente total
do circuito.
Figura 1. Esquema da medição de tensão (voltímetros analógico e
Durante a prática, serão avaliados os efeitos de carga digital)
causados pela inserção de voltímetros analógicos e digitais
em circuitos resistivos. Será examinada a diferença entre os
circuitos equivalentes desses tipos de voltímetros,
analisando como cada um deles influencia o circuito elétrico
sob teste. Além disso, será investigado o efeito da
configuração de buffer, utilizando um Amplificador
Operacional (Amp Op), na indicação do instrumento
analógico.

2. METODOLOGIA Figura 2. Esquema para medição de tensão (voltímetro analógico +


Buffer)
2.1. Materiais
● Amplificador Operacional LM741 3. RESULTADOS
● Fonte de tensão contínua (CC) variável
● Voltímetro analógico Para avaliar o efeito de carga foi utilizado 5 combinações de
● Plataforma NI-ELVIS II resistores para o divisor de tensão:
● Voltímetro digital
● Resistores (2x100 kΩ, 2x10 kΩ e 2x1 kΩ)
● Fios de conexão
2.1. Métodos

1
Tabela 1. Resistores utilizados para o divisor de tensão. 𝑈(𝑅1) = 𝑅1 * 5% = 5𝐾

𝑈(𝑅2) = 𝑅2 * 5% = 5𝐾
R1, R2 [kΩ]
𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 1837𝑉

100, 100
𝑉2 = 5 ± 0. 1837 𝑉

10, 100 O valor esperado de tensão para o caso 2 é de:

10, 10 𝑉2 = 𝑉𝐹 *
𝑅2
=9
𝑅1+𝑅2

1, 100 E sua incerteza combinada é:

1, ∂𝑉2 −5
∂𝑅1
= − 3. 26 * 10
1
∂𝑉2 −6
∂𝑅2
= 3. 26 * 10

∂𝑉2
= 0. 9090
3.1. Incerteza combinada ∂𝑉𝑓

Para encontrar a incerteza associada de V2 foi aplicada a


seguinte equação:
𝑈(𝑅1) = 𝑅1 * 5% = 0. 5𝐾
2 2 2 1/2
𝑈𝑐(𝑉2) = ⎡⎢

( ∂𝑉2
∂𝑅1
𝑥𝑈(𝑅1) ) +( ∂𝑉2
∂𝑅2 ) +(
𝑥𝑈(𝑅2)
∂𝑉2
∂𝑉𝑓 )
𝑥𝑈(𝑉𝑓) ⎤⎥

𝑈(𝑅2) = 𝑅2 * 5% = 5𝐾

𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 1837𝑉
As incertezas associadas dos resistores são de 5% e da fonte Vf
é de ± 100𝑚𝑉.
𝑉2 = 9 ± 0. 1837 𝑉
Para calcular os coeficientes temos:
O valor esperado de tensão para o caso 3 é de:
∂𝑉2 𝑅2*𝑉𝑓
∂𝑅1
=− 2
(𝑅1+𝑅2) 𝑅2
𝑉2 = 𝑉𝐹 * 𝑅1+𝑅2
=5
∂𝑉2 𝑉𝑓(𝑅1+𝑅2)−𝑅2𝑉𝑓
∂𝑅2
= 2
(𝑅1+𝑅2) E sua incerteza combinada é:
∂𝑉2 𝑅2 ∂𝑉2
∂𝑉𝑓
= 𝑅1+𝑅2 = − 0. 00025
∂𝑅1

∂𝑉2
∂𝑅2
= 0. 00025
𝑈(𝑅1) = 𝑅1 * 5%
∂𝑉2
∂𝑉𝑓
= 0. 5
𝑈(𝑅2) = 𝑅2 * 5%

O valor esperado de tensão para o caso 1 é de:


𝑅2
𝑈(𝑅1) = 𝑅1 * 5% = 0. 5𝐾
𝑉2 = 𝑉𝐹 * 𝑅1+𝑅2
= 5𝑉
𝑈(𝑅2) = 𝑅2 * 5% = 0. 5𝐾
E sua incerteza combinada é:
𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 3781𝑉
∂𝑉2
∂𝑅1
=− 0. 000025
𝑉2 = 5 ± 0. 3781 𝑉
∂𝑉2
∂𝑅2
= 0. 000025 O valor esperado de tensão para o caso 4 é de:
∂𝑉2 𝑅2
∂𝑉𝑓
= 0. 5 𝑉2 = 𝑉𝐹 * = 9. 9
𝑅1+𝑅2

E sua incerteza combinada é:

2
∂𝑉2
= 9. 802 * 10
−5 A incerteza do voltímetro analógico:
∂𝑅1

−7
De acordo com a escala de 12V que utilizamos temos:
∂𝑉2
∂𝑅2
= 9. 8 * 10
𝐸𝑟𝑟𝑜 = 12 * 0. 5% = ± 0. 06𝑉
∂𝑉2
∂𝑉𝑓
= 0. 99 0.06 −2
𝑈𝑐(𝑉2) = = 3. 46 * 10 𝑉
3

3.3. Medições feitas em laboratório


𝑈(𝑅1) = 𝑅1 * 5% = 50
Montado o divisor de tensão realizamos as seguintes
𝑈(𝑅2) = 𝑅2 * 5% = 5𝐾 medições:

𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 0992𝑉 Tabela 2. Medições realizadas em laboratório.

R1, Previsão Digital Elvis [V] Analógico Analógi


𝑉2 = 9. 9 ± 0. 0992 𝑉 R2 [V] [V] [V] co +
[kΩ] buffer
O valor esperado de tensão para o caso 5 é de: [V]
100, 5± 4,990± 4,9900± 2,49± 4,98
𝑅2
𝑉2 = 𝑉𝐹 * =5 100 0.1837 0.1028 0.001 0. 0346
𝑅1+𝑅2
10, 9± 9,110± 9,1048± 7,70± 9,10
E sua incerteza combinada é: 100 0.1837 0.1852 0.002 0. 0346

∂𝑉2 10, 5± 5,008± 5,0087± 4,50± 4,98


∂𝑅1
= − 0. 0025 10 0.3781 0.10316 0.001 0. 0346
1, 9,9± 9,920± 9,9140± 9,57± 9,91
∂𝑉2
∂𝑅2
= 0. 0025 100 0.0992 0.2014 0.002 0. 0346
1, 5± 4,990± 4,9955± 4,9± 4,95
∂𝑉2
= 0. 5 1 0.18371 0.1028 0.001 0. 0346
∂𝑉𝑓

𝑈(𝑅1) = 𝑅1 * 5% = 50 Podemos observar por esta tabela que o multímetro


digital e o multímetro do ELVIS possuiu muito mais
𝑈(𝑅2) = 𝑅2 * 5% = 50 exatidão que o voltímetro analógico antes da introdução do
buffer, isso se deve ao fato da impedância equivalente vista
𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 183711𝑉
pelo circuito proposto do voltímetro ser muito maior nestes
dois medidores que no analógico, e como sabemos na teoria
𝑉2 = 5 ± 0. 183711 𝑉 o voltímetro ideal possui resistência infinita, ou seja quanto
maior a resistência interna de um voltímetro melhor, como a
resistência de entrada do voltímetro analógico é mais baixa,
3.2. Incerteza dos instrumentos de medição em circuitos com resistências muito elevadas a resistência
interna do voltímetro analógico acaba tendo influência
A incerteza do ELVIS: muito grande na medição devido fluir uma corrente maior
por ele fazendo com que haja um erro significativo na
225 ppm da leitura+40 ppm da escala e para a medição da tensão. Através da tabela podemos ver que o
𝑜
temperatura de 15 𝑎 35 𝐶 acrescenta-se 33 ppm da ELVIS é o que possui mais exatidão nas medidas, devido a
resistência do voltímetro interno do ELVIS ser o maior entre
leitura+0.5 ppm da escala:
os 3 medidores.
−6
𝑈𝑐(𝑉2) = (225 * 𝑉2 + 40 * 𝐸𝑠𝑐𝑎𝑙𝑎 + 33 * 𝑉2 + 0. 5 * 𝐸𝑠𝑐𝑎𝑙𝑎) * 10
Após a ligação do buffer e a medição com o voltímetro
analógico podemos ver muito mais exatidão nas medidas do
A incerteza do multímetro digital Fluke:
voltímetro analógico na tabela, pois o buffer atua no circuito
2%+3 digitos: como seguidor de tensão passando a tensão de entrada para a
saída e o amp op devido possuir uma resistência de entrada
𝑈𝑐(𝑉2) =± 0. 02 * 𝑉2 + 3 * 0. 001 muito alta o circuito acaba vendo o amp op e o voltímetro
com uma impedância muito elevada, diminuindo muito o
efeito de carga ao conectar o voltímetro analógico no
circuito.

3
4. CONCLUSÃO

Através das atividades propostas para esta prática foi


possível conhecer o efeito de carga que resulta em erros na
medição de grandezas elétricas. Tal efeito se produz em
função da resistência interna dos equipamentos de medição,
não sendo possível evitá-lo, mas sim, reduzi-lo. Caso as
resistências utilizadas sejam próximas da resistência interna
do aparelho, o efeito pode ocasionar erros consideráveis,
resultando em medições muito discrepantes do valor
esperado.

Vale destacar o importante e contínuo aprendizado sobre


medição de grandezas, onde foi possível relembrar e
consolidar conceitos importantes de disciplinas anteriores,
permitindo a realização de medições com maior
confiabilidade.

5. REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
[1] National Instruments. NI ELVIS II Specifications.
Texas, USA. 2008.
[2] National Instruments. NI Educational Laboratory
Virtual Instrumentation Suite II Series (NI ELVISTM II
Series) User Manual. Texas, USA. 2008.
[3] Meterman. 38XR Professional Digital Multimeter.USA.
2002.

Você também pode gostar