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UNIVERSIDADE FEDERAL DE ALAGOAS UFAL


INSTITUTO DE FSICA IF
LICENCIATURA EM FSICA MODALIDADE A DISTNCIA







RELATRIO DA AULA PRTICA SOBRE
INTERFERMETRO DE MICHELSON-MORLEY





ALUNOS: JOELSON ALVES FERREIRA







Professora MS. Maria do Socorro Seixas Pereira







Macei, ABRIL 2012

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UNIVERSIDADE FEDERAL DE ALAGOAS UFAL
INSTITUTO DE FSICA IF
LICENCIATURA EM FSICA MODALIDADE A DISTNCIA







RELATRIO DA AULA PRTICA SOBRE
INTERFERMETRO DE MICHELSON-MORLEY





















Macei, ABRIL 2012

Relatrio do
experimento acima citado
realizado no laboratrio de
Fsica, sob orientao da
professora MS Maria do Socorro
Seixas Pereira, como requisito
para avaliao da disciplina
Fsica Moderna Experimental.
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SUMRIO

Objetivo ........................................................................................................................................4
Material Utilizado ........................................................................................................................5
Introduo Terica .......................................................................................................................6
Procedimentos Experimentais ....................................................................................................14
Resultados e Analises .................................................................................................................17
Concluso ...................................................................................................................................21

Referncias Bibliogrficas .....................................................................................................................22


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OBJETIVO

Determinar o comprimento de onda de uma fonte de luz monocromtica.
Determinar o ndice de refrao de um determinado material.

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MATERIAL UTILIZADO

Suporte para laser
Placa base
Lente de ampliao
Tela (de observao)
Condutor de feixe
Clula de vcuo (no kit complementar)
Espelho de ajuste fino
Excntrico com etiqueta de calibragem
Brao do excntrico
Suporte do micrometro
Micrmetro
Espelho ajustvel
Placa de vidro sobre suporte (no kit complementar)
Punho para transporte
Escala angular
Laser (no includo no fornecimento)
Caixa de armazenamento de matria plstica resistente (no reproduzida)

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INTRODUO TERICA

1. Notas Histricas:

Diferentemente do que se acreditava a pouco mais de 3 sculos, a composio da luz tem sido
desmistificada nos ltimos tempos por experincias fsicas, na tentativa de detalhar fenmenos que at
ento eram cercados de mistrios e crenas ainda pouco provveis.
Hoje o que j se sabe que um raio de luz pode ser representado por uma onda formada por
dois tipos de campos: o Eltrico e os Magnticos Oscilantes. E foi a partir desse conceito que diversas
reas do conhecimento no mediram esforos para, a partir de suas experincias, estudar fenmenos
relacionados a superposio de feixes de luz, por exemplo. Esses estudos foram formados a partir de
pensamentos sobre fenmenos como os de reflexo e refrao da luz, como o caso de que quando
dois ou mais raios de luz se encontram em determinado lugar do espao, os campos eltricos e
magnticos so determinados pela soma vetorial dos campos dos raios separados.
O que se sabe tambm que se os raios saem de uma nica fonte, na maioria das vezes existe
um grau de relao entre a frequncia e a fase das oscilaes, em algum lugar do espao, definido por
um ponto, a fase pode ocorrer simultaneamente para os raios de luz, sendo, portanto, visto como um
ponto brilhante, visvel a olho nu, neste caso, um mximo, ou, por outro lado, a luz pode estar
continuamente fora de fase, e, portanto, um mnimo ser subtendido, por haver um ponto escuro,
ausncia da luz que sai da fonte monocromtica.
Esse tipo de padro de interferncia foi estudado primeiramente por Thomas Young, que
permitiu que um nico raio de luz de dimenses estreitas incidisse sobre duas fontes estreitas, do lado
oposto, ele colocou um anteparo, que aparecia uma figura regular de anis claros e escuros. O
experimento de Young forneceu uma forte evidncia sobre a natureza ondulatria da luz.







(Figura 1: Fotografia do fsico Britnico Thomas Young) [1]

Por volta de 1881, quase um sculo depois de Young ter introduzido seu experimento de fenda
dupla, Michelson projetou e construiu um interfermetro similar, ou seja, construindo um principio
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similar. Na tentativa de comprovar a existncia do ter, um meio hipottico que servia de suporte para
a propagao da luz. O que mais tarde, foi comprovado a inexistncia do mesmo ter.









(Figura 2: Fotografia do fsico estadunidense Albert Abraham Michelson) [2]

No entanto, suas experincias, embora parecessem terem sido frustradas, hoje so de grande
valia para todo o meio acadmico, uma vez que apesar de no comprovar a existncia do ter, a
experincia de Michelson hoje pode ser utilizada para medir o comprimento de luz em diversas
situaes em que as distncias so extremamente pequenas a partir de uma luz cujo comprimento de
onda conhecido e tambm na investigao de meios pticos, para determinar seu ndice de refrao.











(Figura 3: Esquema da Experincia de Michelson-Morley) [3]

Na traduo para a lngua portuguesa do esquema acima da figura 3, temos:
Mirror = espelho
Coherent light source = Fonte de Luz Monocromtica
Semi-silvered mirror = Espelho semi transparente
Detector = Detetor.ou Anteparo

Note que, como o espelho, que est no meio do aparato, semitransparente, ele reflete parte da
luz e, ao mesmo tempo, ele refrata tambm parte dela. E ainda, como o espelho est com uma
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angulao de 45 em relao a fonte de luz, assim como os espelhos, que recebem os raios de luz que
so, respectivamente refratados e refletidos.
Ao analisar todo o experimento, Michelson chegou a seguinte expresso matemtica para a
medio do comprimento de onda da fonte de luz.
z =
2. I
s
m
. o
(Equao 1: Expresso algbrica que determina o comprimento de onda na experincia de Michelson-Morley)

Onde:
= comprimento de onda
Is = distncia do espelho mvel ao espelho fixo semitransparente.
m = quantidade de mnimos encontrados na experincia.
= fator de converso da distncia Is do espelho mvel do brao mvel.

Notas Histricas:

Pode-se dizer o estudo da luz e dos fenmenos luminosos, dessa forma, entendemos que o
estudo das vrias fontes de luz que existem: solar, por lmpadas, ou at mesmo por corpos iluminados
fazem parte desse estudo, que se iniciou a partir da Corpuscular theory of light (Teoria Corpuscular da
Luz), publicado por volta de 1670, por Isaac Newton
[1]
(1643-1727), que em seguida, publicou mais
uma obra sobre os fenmenos luminosos: "Nova teoria sobre luz e cores" (1672), onde discutia de
forma mais aprofundada a natureza fsica da luz. No entanto, s a partir do sculo XVII que se
discutiu com maior claridade que a natureza da onda era ondulatria, com Robert Hooke (1635-1703)
e Christiaan Huygens (1629-1695), que foram grandes personagens na discusso da luz ser
corpuscular, retilnea e suas propriedades.
(a) (b) (c)







(Figura 4: gravuras em tela dos principais personagens do estudo da luz, (a) Isaac Newton; (b) Robert Hooke; (c) Christiaan
Huygens) [1]

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Graas ao estudo de vrios personagens que entraram para histria no estudo da luz e suas
propriedades que houve um grande avano tecnolgico no uso de lentes e espelhos, o que facilitou a
vida de muitas pessoas, na correo de defeitos da viso, e no auxilio para determinar imagens com
auxilio dos diversos tipos de espelhos cncavos e convexos. Com base nesse conhecimento, iniciou-se
o processo de elaborao das leis de reflexo e refrao que hoje conhecemos, e que fazem parte de
estudos cientficos por todo o mundo.

Conceitos bsicos para a compreenso do estudo da luz:

LUZ formada por feixes paralelos, uma onda eletromagntica e sua velocidade no vcuo
de aproximadamente 3,0 x 10
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m/s. Tambm podemos dizer que a luz um agente fsico que
sensibiliza nossos rgos visuais.
PTICA GEOMTRICA a parte da fsica que estuda a luz e os fenmenos luminosos
baseados em leis empricas (experimentais), que so explicadas sem que haja a necessidade de se
conhecer a natureza da luz.
PTICA FSICA estuda a compreenso da natureza fsica da luz e fenmenos como
interferncia, polarizao, difrao, disperso entre outros.
RAIOS DE LUZ - So linhas que representam a direo e o sentido de propagao da luz. A
idia de raios de luz puramente terica, e tem como objetivo facilitar o estudo.
FEIXE DE LUZ - Um conjunto de raios de luz, que possui uma abertura relativamente pequena
entre os raios.
FEIXE LUMINOSO - O conjunto de raios luminosos, cuja abertura entre os raios
relativamente grande.

Tipos de Feixes Luminosos:

a. Cnico divergente: Os raios luminosos partem de um nico ponto (P) e se espalham.
b. Cnico convergente: Os raios luminosos se concentram em um nico ponto.
c. Cilndrico: Os raios luminosos so todos paralelos entre si. Nesse caso a fonte de luz encontra-
se no infinito, e denomina-se fonte imprpria.

Tipos de Fontes de Luz:

As fontes de luz so corpos capazes de emitir luz, seja ela prpria ou refletida. Fontes de luz
podem ser classificadas em:
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Fontes de luz Primrias: So fontes de luz que emitem luz prpria. Elas podem ser:
Incandescentes: Quando emitem luz a altas temperaturas.
Ex: O Sol, a chama de uma vela e as lmpadas de filamento.
Luminescentes: Quando emitem luz a baixas temperaturas. As fontes de luz primria
luminescentes poder ser fluorescentes ou fosforescentes.
Fluorescentes: emitem luz apenas enquanto durar a ao do agente excitador.
Ex: Lmpadas fluorescentes.
Fosforescentes: Emite luz por certo tempo, mesmo aps ter cessado a ao do excitador.
Nessas Fontes de luz a energia radiante proveniente de uma energia potencial qumica.
Ex: Interruptores de lmpadas e ponteiros luminosos de relgios.
Fontes Secundrias: So aquelas que emitem apenas a luz recebida de outros corpos.
Ex: Lua, cadeiras, roupas, etc.

Princpios da ptica Geomtrica

1 Princpio: Propagao Retilnea dos Raios de Luz: Um raio de luz se propaga em linha reta
em meios de propagao homogneos. Em outras palavras: a luz se propaga em linha reta quando as
caractersticas do meio no variam.
2 Princpio: Reversibilidade na trajetria da luz. A trajetria de um raio de luz continua a
mesma quando seu sentido de propagao invertido.
3 Princpio: os raios de luz so interpenetrveis ou independentes: quando dois feixes de luz
se cruzam, cada um segue seu caminho sem ser afetado pelo outro.

Leis da Reflexo:

Em fsica o fenmeno da reflexo consiste na mudana da direo de propagao
da energia(desde que o ngulo de incidncia no seja 0). Consiste no retorno da energia incidente em
direo regio de onde ela oriunda, aps entrar em contato com uma superfcie refletora.
A energia pode tanto estar manifestada na forma de ondas como transmitida atravs de
partculas. Por isso, a reflexo um fenmeno que pode se d por um carter eletromagntico ou
mecnico.
A reflexo difere da refrao porque nesta segunda, ocorre alterao nas caractersticas do meio
por onde passa a onda.
Dessa forma, podemos destacar que a reflexo pode ser explicada totalmente com base em
apenas duas leis, de cunho geral.
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Para enunci-las, preciso antes definir alguns conceitos.
a. A normal a semi-reta perpendicular a superfcie refletora.
b. ngulo de incidncia o ngulo formado entre o feixe de luz que incide sobre o objeto e a
normal.
c. ngulo de reflexo o ngulo que a direo de um feixe de luz refletida faz com a normal.

Temos duas leis da reflexo expressas da seguinte maneira:
O raio incidente (ri), a reta normal (N) e o raio refletido (rr) so co-planares, ou seja,
esto no mesmo plano.
O ngulo de incidncia (i) igual ao ngulo de reflexo (r).






(Figura 5: Esquema de raios em um espelho plano)

Leis da Refrao:

Podemos dizer que a refrao o fenmeno que ocorre quando a luz incide sobre um meio
diferente da qual est percorrendo, logicamente possuindo este meio um ndice de refrao diferente
do anterior, o que possibilita que a velocidade da luz seja modificada, assim como a direo da mesma
tambm pode haver mudana.
Para tanto podemos conceituar o ndice de refrao como sendo a razo adimensional da
velocidade da luz no vcuo pela velocidade da luz no meio. Ou seja:

n =
c
:

Onde:
n > ndice de refrao do meio
c > velocidade da luz no vcuo (aproximadamente 3,0 x 10
8
m/s)
v > velocidade da luz no meio.
As cores, por ordem crescente de freqncias, so: vermelho, laranja, amarelo, verde, azul,
ndigo (anil) e violeta. A experincia mostra que, em cada meio material, a velocidade diminui com a
freqncia, isto , quanto "maior" a freqncia, "menor" a velocidade.
rr
ri
N
r
i
Espelho
plano
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Portanto como n =
c

, conclumos que o ndice de refrao aumenta com a frequncia. Quanto


"maior" a frequncia, "maior" o ndice de refrao.
Tambm podemos definir o ndice de refrao relativo quando uma luz passa de um meio para
outro, com ndices de refrao diferentes, assim, se n1 n2, ento, o ndice de refrao do meio 1 em
relao ao meio 2 ser:

n =
n
1
n
2


Dessa forma, podemos destacar as principais leis da refrao:
Consideremos dois meios transparentes A e B e um feixe estreito de luz monocromtica, que se
propaga inicialmente no meio A, dirigindo-se para o meio B. Suponhamos, ainda, que uma parte da luz
consiga penetrar no meio B e que a luz tenha velocidades diferentes nos dois meios. Nesse caso,
diremos que houve Refrao. O raio que apresenta o feixe incidente o raio incidente (i), e o raio
que apresenta o feixe refratado o raio refratado (r).

A primeira lei da Refrao
O raio incidente, o raio refratado e a normal, no ponto de incidncia, esto contidos num
mesmo plano.
A normal uma reta perpendicular superfcie no ponto de incidncia,
A
denominado
ngulo de incidncia entre o raio e a normal e
B
, ngulo de refrao entre o raio e a normal.

A segunda lei da Refrao
Os senos dos ngulos de incidncia e refrao so diretamente proporcionais s
velocidades da onda nos respectivos meios.
Ou seja:
I

Dessa igualdade tiramos:
II
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A Segunda Lei da Refrao foi descoberta experimentalmente pelo holands Willebrord van
Royen Snell (1591-1626) e mais tarde deduzida por Ren Descartes, a partir de sua teoria corpuscular
da luz. Nos Estados Unidos, ela chamada de Lei de Snell e na Frana, de Lei de Descartes; em
Portugal e no Brasil costume cham-la de Lei de Snell-Descartes.
Inicialmente a Segunda Lei foi apresentada na forma da equao II; no entanto, ela e mais fcil
de ser aplicada na forma da equao I.
Observando a equao I, conclumos que, onde o ngulo for menor, o ndice de refrao
ser maior. Explicando melhor: se , o mesmo ocorre com seus
senos, ; logo, para manter a igualdade da equao I, . Ou seja, o
menor ngulo
B
ocorre no meio mais refringente, n
B
.
Pelo princpio da reversibilidade, se a luz faz determinado percurso, ela pode fazer o percurso
inverso. Assim, se ela faz o percurso XPY, ela pode fazer o percurso YPX. Mas, tanto num caso como
no outro, teremos:

Quando a incidncia for normal, no haver desvio e teremos , e,
portanto, , de modo que a Segunda Lei tambm vlida nesse caso, na
forma da equao I:






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PROCEDIMENTOS EXPERIMENTAIS

Parte I Interfermetro de Michelson - Morley

O procedimento iniciou-se com a calibrao do parafuso micromtrico do brao do espelho
mvel, no sentido anti-horrio at aproximadamente o nmero 25 aparecer, em seguida, voltar a
rotao, ou seja, dessa vez no sentido horrio, at coincidir o Zero da marcao vertical com o 20 da
marcao do parafuso (horizontal). Esse procedimento tende a evitar marcaes imprecisas no
momento em que se muda a rotao do parafuso.










(Figura 6: Calibragem do parafuso micromtrico do espelho mvel)

A partir desse momento, comea-se a girar o parafuso no sentido horrio, ao mesmo tempo em
que conta-se a quantidade de m de anis que se formam, ou seja, os mximos da experincia de
interferncia. Para tanto se fez necessrio normatizar que um mximo s era considerado como tal, se
ultrapassasse a marcao de 1,0 cm de dimetro na rgua contida no detetor, ou tela de observao.
interessante aqui ressaltar que a contagem deve ser feita mentalmente, uma vez que at as
correntes de ar que so expelidas com a respirao do experimentador podem interferir na experincia,
fazendo vibrar a interferncia dos raios de luz emitida pela fonte.
Contada a quantidade m de anis, que em nosso caso, foram 20, apurou-se o valor do
comprimento do parafuso micromtrico, anotando-se o resultado. E repetindo-se o procedimento por
trs vezes consecutivas, para acharmos um valor mdio de Is. Cuja tabela com os resultados est na
anlise dos resultados deste relatrio.


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Parte II Interfermetro de Michelson Morley Determinando o ndice de refrao do
material

Ainda utilizando-se o interfermetro de Michelson Morley com sua montagem padro
iniciamos a experincia acoplando uma placa de vidro com suporte giratrio no feixe parcial anterior
como mostrado na figura abaixo:










(Figura 7: Acoplamento da placa de vidro com suporte giratrio no feixe parcial anterior).

No momento em que, enquanto deslocamos suavemente a rgua giratria de um lado para o
outro ao redor do zero, verificamos o aparecimento dos anis de mximos na no anteparo, de maneira
que ao aparecer o mximo convencionado no experimento anterior, pela dimenso do seu dimetro,
coincida com o valor do 0 tanto na rgua, quanto na medio fixa na mesa do interfermetro.
Caso o anel mximo no anteparo venha aparecer em determinada posio diferente do 0
especificado na tabulao, devemos anotar essa medida como sendo o valor inicial de rotao do
espelho, o qual dever ser subtrado do valor final de rotao do espelho, para que se possa alcanar o
valor real do deslocamento da rotao do espelho.
Feito esse ajuste e determinada a marcao inicial do ngulo da rotao do espelho,
levemente rotaciona-se a rgua que est acoplada ao espelho, ao mesmo tempo em que se conta a
quantidade do aparecimento de 20 anis mximos no anteparo. interessante notar que essa contagem
mais rpida que o experimento anterior, uma vez que a rotao do ngulo do espelho no possui o
valor do Fator de Converso do Brao do Espelho Mvel do Parafuso Micromtrico , que naquele
caso era de x850.
interessante repetir-se no mnimo trs vezes por cada experimentador, uma vez que o
aparecimento dos anis mximos na tela do anteparo muito rpido, o que pode, certamente, causar
alguma impresso na medio da quantidade da contagem de anis de mximo. Portanto, quanto mais
vezes forem repetidas, maior preciso se ter no deslocamento da rotao da rgua que est acoplada
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ao espelho, assim sendo, teremos um melhor clculo no ndice de refrao do espelho, e,
consequentemente, poderemos conceder com melhor preciso que tipo de material est sendo
utilizado, veja a figura abaixo:












(Figura 8: Rotao da rgua que contm o espelho para determinar o aparecimento do anel mximo).




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RESULTADOS E ANLISES

Parte I Interfermetro de Michelson - Morley

De posse dos dados obtidos a partir da medio feita com a experincia da parte I, podemos
construir a tabela que relaciona a posio inicial do parafuso micromtrico, a medio do
comprimento, e a quantidade de mximos observados na medio:
Ordem da medio I
so
Posio Inicial do
Parafuso Micromtrico
(mm)
I
sf
- Posio Inicial do
Parafuso Micromtrico
(mm)
1 20,00 11,88
2 20,00 11,92
3 20,00 11,77
(Tabela 1: dados coletados ao se contar 20 mximos, girando-se o parafuso micromtrico)

Note que, para determinarmos o deslocamento do parafuso micromtrico, na contagem do
aparecimento dos 20 mximos de interferncia dos raios de luz da fonte monocromtica, necessrio
determinar o mdulo da diferena entre as posies iniciais e finais do Parafuso Micromtrico, sendo
assim:
I
sn
= |I
s]n
I
son
|
Onde n a ordem de medio a qual foi sugerida na tabela anterior, portanto:
I
sn
= |I
s]1
I
so1
|
I
sn
= |11,88 2u,uu|
I
sn
= 8,12
Analogamente, temos:
I
sn
= 8,u8
E ainda:
I
sn
= 8,2S
Calculando-se a mdia aritmtica dos valores desses comprimentos, temos:
I
s
=
8,12 + 8,u8 + 8,2S
S

I
s
8,14mm
Utilizando-se da expresso algbrica E.1, podemos determinar o valor do comprimento de onda
da fonte de luz:
z =
2I
s
m
. o
18

z =
2.8,14
2u
. 8Su
z = 691,9unm
Como o valor terico do comprimento de onda que emitida pela fonte de luz sabido, o qual
foi verificado no aparelho de t = 632,8nm, pode-se averiguar se o valor determinado na experincia
atende ao que foi proposto por Michelson, vejamos no momento em que estamos calculando o desvio
no resultado obtido:

=
|z
t
z|. 1uu
z

=
|6S2,8u 691,9u|. 1uu
691,9u

8,S4%

Note que o resultado obtido atravs do Desvio Percentual, que nada mais do que um clculo
de porcentagem simples, do valor terico pelo valor encontrado no experimento, um valor quase
duplicado do valor mximo sugerido pelo roteiro de trabalho da experincia de Michelson Morley,
que de 5%.
Teoricamente esse valor deveria coincidir, em situaes ideais, com o valor nominativo que
expresso pela fonte de luz, no entanto, como o experimento foi realizado em condies reais, notvel
que muitos fatores interfiram na experincia, como podemos citar alguns deles, como sendo: a
temperatura do ambiente em que foram executadas as medies, o prprio ajuste da calibrao do
parafuso micromtrico, ou at mesmo, a iluminao do ambiente, que poderia ter contribudo para a
contagem dos mximos no anteparo.
Outro fator interessante que se pode ser feita quanto a divergncia do valor obtido na
experincia sobre a contagem dos mximos no anteparo, uma vez que esta foi feita com outras
pessoas presentes no laboratrio, assistindo e ao mesmo tempo conversando paralelamente ao
momento do experimento, o que a partir das correntes de ar expelidas de suas bocas podem ter alterado
a visualizao das quantidades de mximos ou mnimos.
Outro detalhe que chama a ateno valor do fator de converso que, por sua vez, neste
equipamento utilizado para o brao mvel do parafuso micromtrico foi utilizado com o valor de 850
vezes, assim sendo cada valor do deslocamento registrado no brao do parafuso micromtrico
correspondia a um valor 850 vezes menor no deslocamento real do espelho refletor dos raios da fonte
de luz ao qual o parafuso estava acoplado.


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Parte II Interfermetro de Michelson Morley Determinando o ndice de refrao do
material

De posse dos dados obtidos a partir da medio feita com a experincia da parte II, podemos
construir a tabela que relaciona a posio inicial do ngulo inicial e final da rgua que contm o
espelho giratrio, podemos montar a tabela abaixo, com o valor do deslocamento angular do
espelho.
Ordem
De
Medio
ngulo Inicial do surgimento
Do anel mximo
()
ngulo Inicial do surgimento
Do anel mximo
()
Deslocamento Angular
Da contagem de 20 anis
()
1 1,2 6,2 5,0
2 1,2 6,0 4,8
3 1,2 6,2 5,0
(Tabela 2: dados coletados ao se contar 20 mximos, rotacionando-se a rgua para o surgimento de 20 anis de mximo).

Com base nos dados da tabela 2, vamos calcular o valor mdio do ngulo do espelho:
=
S,u + 4,8 + S,u
S

4,9

A partir desse momento, podemos inserir os dados da experincia na expresso algbrica que
traduz o ndice de refrao do material utilizado no interfermetro de Michelson Morley abaixo:

n
u
=
(2t mz)(1 cos) + (
m
2
z
2
4t
)
2t(1 cos) mz

n
u
=
(2.4. 1u
-3
2u.6S2,8.1u
-9
)(1 cos4,9) + (
(2u
2
. (6S2,8. 1u
-9
)`
4.4.1u
-3
)
2.4. 1u
-3
. (1 cos4,9) 2u.6S2,8.1u
-9


Que aps algumas operaes aritmticas chegamos ao seguinte resultado:
n
u
1,6S

Como sabemos o ndice de refrao do vidro varia de 1,5 a 1,9 a depender do tipo de vidro
correspondente, os quais podem ser classificados por sua origem, natureza ou do tipo sinttico, e que
para cada um desses casos existe um ndice de refrao no intervalo acima exposto.
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Nitidamente o valor encontrado de 1,65 corresponde ao material vidro, por se encontrar dentro
da faixa. Veja alguns tipos de vidro e seus respectivos ndices de refrao: Vidro Crown = 1,517;
Vidro Flint = 1,620; Vidro Comum = 1,500.
Tomando como parmetro que o experimento realizado neste laboratrio tenha sido em
condies ideais, o que mais se aproximaria do valor encontrado seria o Vidro Flint. No entanto, como
sabemos que as condies em que foram realizadas, tiveram interferncia tanto humano como do
ambiente, certamente houve um desvio no resultado encontrado, alm, claro, da evidncia de que os
clculos com os valores numericamente pequenos, na ordem de 10
-9
, tambm podem contribuir para
que o resultado alcanado de 1,65 tenha sido diferente do ndice de refrao real do material utilizado.
A nica certeza para este experimento que o material vidro, no entanto, no se pode definir com
extrema preciso que tipo de vidro seja.







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CONCLUSO

Como podemos perceber, o resultado foi maior do que o valor mximo esperado, o qual foi
informado no roteiro do experimento de 5%, no entanto, este resultado aceitvel pelas condies as
quais foram executadas. Esse aumento no valor da medio prevista deveu-se a diversos fatores, entre
eles, pode-se destacar a temperatura ambiente, que por sua vez estava alterada pelo condicionador de
ar do laboratrio, ou por conversas paralelas de outros alunos que estavam observando a experincia,
entre outros.
Sendo assim, pode-se comprovar na realizao da experincia de Michelson-Morley que
possvel sim determinar atravs da expresso algbrica z =
2.I
s
m
. o o comprimento de onda de uma
determinada fonte, quando a mesma apresenta as franjas de interferncia provocadas por um espelho
semitransparente.
Por outro lado, quando foi realizada a segunda parte do experimento em que se pretendia
determinar o valor numrico do ndice de refrao do material utilizado no interfermetro, atravs da
rotao de uma rgua que continua um material, a partir do ngulo de rotao, foi vlida, porque pode-
se comprovar a eficcia da expresso algbrica formulada por Andrews n
u
=
(2t-mx)(1-cosq)+(
m
2
Z
2
4t
)
2t(1-cosq)-mx
,
uma vez que, o valor encontrado foi de 1,65, o qual est dentro da faixa correspondente ao vidro que
de 1,5 a 1,9, como j se conhecia teoricamente o material utilizado.
No entanto, no foi possvel averiguar que tipo de vidro se encontrava naquela experincia por
no se ter condies ideais de temperatura, ambiente isolado, e tambm pela falta de preciso nos
clculos numricos, haja vista serem de ordens muito pequenas, como o caso particular do valor do
comprimento de onda da fonte de luz monocromtica.


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REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

[1] - http://www.mmdtkw.org/EGtkw0300-Unit3EgyptianWriting.html (acesso em 25/04/2012)
[2] - http://pt.wikipedia.org/wiki/Albert_Abraham_Michelson (acesso em 25/04/2012)
[3] http://pt.wikipedia.org/wiki/Ficheiro:Michelson-Morley_experiment_(en).svg (acesso em 25/04/2012).
[4] David Halliday, Robert Resnick e Jearl Walker. Fundamentos de Fsica. Volume 4. 4 Edio.
Editora de Livros Tcnicos e Cientficos (LTC).
[5] Raymond A. Serway e John W. Jewett Jr. Princpios de Fsica. Volume 4 ptica e Fsica
Moderna. 3 Edio. Editora Thomson.
[5] Sears & Zemansky. Fsica IV ptica e Fsica Moderna. 12 Edio. Editora Pearson Addison
Wesley.