01/07/2022 23:38 Revista AdNormas - Termografia: a estimativa de emissividade com contato e sem contato superficial

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ISSN 2595-3362 | Olá, José    |   Sair

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OPINIÃO  Publicado em 29 Sep 2020

Termografia: a estimativa de
emissividade com contato e sem
contato superficial
Redação

A medição de temperatura por termografia infravermelha é uma medição indireta e dependente de diversas outras medições de
parâmetros auxiliares, seus resultados estão sujeitos a incertezas provenientes não somente de fontes internas ao termovisor,
mas também a fontes de incerteza relativas às medições e estimativas feitas pelo usuário: distância de inspeção, umidade relativa
e temperatura atmosférica do ambiente de propagação, temperatura dos objetos no ambiente de inspeção, emissividade do
objeto inspecionado.

Marcelo Pereira de Miranda – 

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Os avanços tecnológicos nas câmeras de inspeções termográficas repercutiram substancialmente na utilização da termografia
por infravermelhos no diagnóstico de manifestações patológicas em sistemas e instalações prediais e industriais. Dessa forma, o
uso da temperatura e dos termogramas como parâmetros para a tomada de decisão exige que tais ensaios apresentem
resultados assertivos e com confiabilidade adequada.
As medições de temperatura e obtenção de termogramas, via de regra, não se constituem em procedimentos complexos. Todavia,
a análise dos resultados nem sempre é trivial e pode conduzir a conclusões erradas caso não se tomarem certas precauções antes
e durante a realização do ensaio. Em síntese, pode ser relatado que é fácil fazer um termograma, no entanto é considerada um
tanto complexa a sua correta interpretação [10]. Fatores como as condições térmicas do objeto (antes e durante o ensaio),
emissividade adotada, condições ambientais (sombra, reflexão, temperatura do ar, presença de partículas), distância entre a
câmera e o objeto, além das características do equipamento podem alterar significativamente os resultados. Tudo isso pode
aumentar o risco de se confundir defeitos do objeto com irregularidades na temperatura superficial [3].
A medição de temperatura por termografia infravermelha é uma medição indireta e dependente de diversas outras medições de
parâmetros auxiliares, seus resultados estão sujeitos a incertezas provenientes não somente de fontes internas ao termovisor,
mas também a fontes de incerteza relativas às medições e estimativas feitas pelo usuário: distância de inspeção, umidade relativa
e temperatura atmosférica do ambiente de propagação, temperatura dos objetos no ambiente de inspeção, emissividade do
objeto inspecionado. [7].
Ademais, a influência individual ou combinada desses fatores gera incertezas nos ensaios termográficos, repercutindo na
temperatura medida pelo termovisor. Pesquisas acerca da sensibilidade da incerteza no valor da temperatura medida em ensaios
termográficos constataram que dentre os fatores pesquisados (características do termovisor, emissividade, distância,
temperatura e umidade relativa), as incertezas da emissividade e do termovisor são os fatores mais importantes, sendo a
emissividade o fator de maior impacto [8]. A discriminação da influência de cada fator permitiu identificar que apenas a
emissividade influencia em mais de 85% na qualidade do resultado na medição de temperatura e em mais de 62% no resultado
final de medição de temperatura [8][6].
A emissividade é a razão da radiação emitida por um corpo real pela que seria emitida por um corpo negro, à mesma temperatura,
podendo variar entre 0 (refletor perfeito) e 1 (corpo negro) [1]. Vinculando o conceito de emissividade com o comprimento de
onda, temos que a emissividade espectral de uma superfície define-se como a razão entre a radiância espectral dessa superfície e
a radiância espectral do corpo negro [3].

Os impactos da variação do comprimento de onda no valor da emissividade dos materiais são caracterizados por tendências, ou
seja, não é possível estabelecer uma regra objetiva que permita uma generalização. Em sólidos metálicos, a emissividade
apresenta tendência de redução com o aumento do comprimento de onda. Já para os sólidos não-metálicos, o aumento do
comprimento de onda tende a elevar a emissividade. Salienta-se que há materiais denominados corpos cinzentos cuja
emissividade não depende do comprimento de onda [3].

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Analogamente ao comprimento de onda, as variações no valor da temperatura não permitem identificar um comportamento bem
definido no valor da emissividade dos materiais. Sólidos metálicos tendem a aumentar a emissividade com aumento de
temperatura e, quando oxidados, tais alterações são bastante expressivas com o aumento da temperatura. Por sua vez, os não-
metálicos tendem a reduzir a emissividade com elevação da temperatura [3].
A variação da emissividade de uma superfície em função do ângulo de observação leva a que as superfícies não-planas tenham
uma emissividade aparente, que varia de ponto para ponto apesar de não haver alteração do material. A variação da emissividade
dos não-metais com o ângulo de observação é praticamente nula para ângulos entre 0° e 60°perpendiculares à superfície. Para
ângulos superiores a 70° o valor da emissividade decai rapidamente até zero. Nos metais os valores da emissividade são baixos e
sem grandes variações para ângulos entre os 0° e 40°, aumentando acentuadamente para ângulos superiores [3].
As características do material também influenciam no valor da emissividade. Corpos condutores e não condutores de
eletricidade, considerando suas superfícies cruas, sem recobrimento, comportam-se de maneira diferente. Materiais não
condutores apresentam uma redução da emissividade com o aumento do ângulo de visada. Entretanto, materiais condutores
tendem a apresentar inicialmente uma elevação da emissividade e somente para ângulos de visada extremamente altos, em
torno de 80°, começam a apresentar diminuição [7]. À medida que se aumenta o ângulo de visada entre o termovisor e o objeto
inspecionado aumenta-se o erro de medição, que não é devido somente à variação da emissividade (direcional) do objeto
inspecionado[7]. Esse erro de medição é correlacionado também ao FOV (campo de visão, do inglês field of view) do termovisor.
Esse erro é negativo e pode assumir valores que chegam a comprometer o diagnóstico da inspeção termográfica [7].
Além das características do material, as características do objeto também afetam a absorção da radiação e, consequentemente,
sua emissividade. A absorção de um objeto é medida através da sua absortância também denominada absorvidade ou
absortividade definida como a razão da radiação absorvida por um objeto pela radiação incidente sobre sua superfície, podendo
variar entre 0 (refletor perfeito) e 1 (corpo negro) [1]. Salienta-se que o material aqui mencionado é aquele que constitui as
camadas moleculares mais próximas à superfície do corpo. Assim, a absortância de uma parede pintada será sempre função da
absortividade característica da composição química da tinta e independente, portanto, do material usado na construção da
parede [9]. Como já visto, de acordo com a Lei de Kirchhoff, quando um corpo encontra-se em equilíbrio térmico, para uma da
temperatura e comprimento de onda, os valores de absorção e emissividade são iguais.
A rugosidade de uma superfície é definida por suas micro-irregularidades geométricas. De modo geral, os materiais de
construção civil apresentam considerável irregularidade, que estabelece picos e vales de diferentes alturas e a diferentes
distâncias sobre sua superfície. A Figura 1 exemplifica, de modo simplificado, a relação entre absortância e rugosidade. O ponto A
recebe a energia solar e absorve uma parcela desta, que é proporcional à absortividade do material. Para uma absortividade de
20%, 80% são refletidos, geralmente por reflexão difusa, em todas as direções. Uma parcela da energia refletida atinge outros
pontos da mesma superfície e 20% dessa parcela também serão absorvidos, incrementando, assim, a fração total de energia
absorvida pela superfície e, por definição, sua absortância. Algumas geometrias podem provocar sucessivas interreflexões, mas
apenas a primeira afeta a absortância em níveis significativos [9].

Existem diversos materiais cuja emissividade pode ser considerada independente da direção da radiação (superfícies difusas) e
que têm comportamento aproximado do corpo cinzento (emissividade independente do comprimento de onda). Nesses
materiais é possível considerar a emissividade constante, para uma determinada temperatura, sendo frequentemente
quantificada para uma incidência normal à superfície e para todos os comprimentos de onda. A emissividade assim obtida
designa-se por emissividade total, que traduz a relação entre a energia emitida por um material à temperatura T e a energia
emitida pelo corpo negro à mesma temperatura. Os metais têm emissividade total pouco elevada, que aumenta com a
temperatura. Ressalta-se que a formação de óxidos na superfície de um metal altera consideravelmente o valor da emissividade.
Os não-metais têm uma emissividade total mais elevada, normalmente superior a 0,80, diminuindo com a temperatura. De
qualquer forma, a emissividade depende consideravelmente do estado da superfície do material [3].

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A emissividade pode ser obtida através de tabelas ou medida na própria superfície que se pretende mensurar a temperatura. Se
as características da superfície em estudo coincidirem com as características da superfície tabelada poderá ser utilizado o valor
indicado, ou caso tal não se verifique, ficará pelo menos definida uma ordem de grandeza da emissividade, que deverá ser
determinada com maior rigor através de métodos práticos [3].
Os valores tabelados de emissividade geralmente são especificados segundo o tipo e a superfície do material. O estado de
conservação da superfície é avaliado visualmente pelo supervisor e varia conforme sua experiência causando dúvida no
momento de selecionar a emissividade do material [6]. Embora os valores constantes nessas tabelas sirvam de referência inicial,
nem sempre é possível confirmar nos ensaios de campo se a superfície a ser inspecionada possui características iguais àquelas
descritas na tabela. De fato, a descrição do material, sua especificação, temperatura, faixa espectral, além das características do
termovisor utilizado durante o ensaio tabelado, raramente, coincidem integralmente com aquelas encontradas em campo.
Ademais, alguns materiais constantes em tabelas possuem diversas especificações que resultam em variações significativas no
valor da emissividade, dificultando ainda mais a adoção da tabela, conforme exemplo a seguir.

Tabela 1 - ADENDO: TABELAS DE EMISSIVIDADE

Material Especificação Temperatura °C Espectro* Emissividade Literatura

Alumínio Anodizado, cinza claro, opaco 70 LW 0,97 9

Alumínio Anodizado, cinza claro, opaco 70 SW 0,61 9

Alumínio Anodizado, cinza claro, opaco 70 LW 0,95 9

Alumínio Anodizado, cinza claro, opaco 70 SW 0,67 9

Alumínio Placa Anodizada 100 T 0,55 2

Alumínio Placa Polida 100 T 0,05 4

*Espectro: T (espectro total); SW (2 – 5µm); LW (8 – 14µm); LLW (6.5 - 20µm)

Fonte: Adaptado [4]

De acordo com a tabela 1, o valor da emissividade do alumínio varia em função da especificação, temperatura, espectro e
literatura. Situação análoga, ocorre com diversos outros materiais a exemplo de cobre, ferro fundido e tijolo. Considerando os
diversos fatores que influenciam no valor da emissividade, as medições termográficas devem ser realizadas adotando-se o valor
de emissividade apurado in loco, ou seja, sob as condições reais impostas ao objeto, uma vez que, além das características do
objeto, essa propriedade é depende do ângulo de emissão, de sua temperatura, e do comprimento de onda operacional do
termovisor [7]. Dentre os ensaios práticos para medição e compensação da emissividade utilizando câmeras termográficas
temos o método do termômetro de contato e o método da emissividade conhecida. Estes métodos de ensaio são válidos
somente para objetos que são opacos na faixa espectral da câmera termográfica ou radiômetro utilizados [2]. Os procedimentos
detalhados para realização de ambos os ensaios encontram-se descritos na NBR 16485.
Basicamente, o método do termômetro de contato contempla a medição prévia da temperatura superficial através da instalação
de um termômetro em contato com a superfície objeto de estudo. O valor de temperatura obtido previamente é inserido na
câmara termográfica. Posteriormente, com o termovisor direcionado para a superfície em estudo, são realizados ajustes no valor
da emissividade até que a temperatura indicada no termovisor seja igual àquela obtida através do termômetro. A emissividade da
superfície é o valor de emissividade indicado quando a temperatura do termovisor se igualar à temperatura obtida através do
termômetro de contato.
O método da emissividade conhecida requer a utilização de um material de teste cujo valor da emissividade seja previamente
conhecido, via de regra, próximo a unidade, visando simular um corpo negro. A título de exemplo, pode-se usar um pequeno
pedaço de fita isolante. O material é afixado na superfície sob análise e aguarda-se alguns minutos para que ambos atinjam o
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equilíbrio térmico. Posteriormente, com o termovisor direcionado para o material de teste registra-se o valor da temperatura.
Esse valor de temperatura é inserido no termovisor. Finalmente, com o termovisor direcionado para a superfície em estudo, são
realizados ajustes no valor da emissividade até que a temperatura indicada no termovisor seja igual àquela obtida através do
termômetro. A emissividade da superfície é o valor de emissividade indicado quando a temperatura do termovisor se igualar à
temperatura do material de teste.
A despeito de ambos os métodos descritos na NBR 16485 apresentarem resultados adequados para a estimativa da
emissividade, a necessidade de contato com a superfície pode inviabilizar a realização do ensaio. A utilização do termômetro de
contato pode exigir a interrupção do funcionamento do equipamento, implicando em perdas de produção nem sempre
justificáveis. De modo análogo, a fixação do material de teste, em situações específicas, também pode necessitar de
interferência no funcionamento do equipamento. Ademais, em virtude de questões de segurança, determinados procedimentos
só podem ser executados quando os sistemas e equipamentos estiverem desligados.
Visando superar as dificuldades supracitadas e permitir a estimativa da emissividade de forma prática que pudesse ser realizada
pelo termografista, foi desenvolvido um procedimento para medição de emissividade em campo sem a necessidade de contato
com a superfície inspecionada [5 e 6]. A proposta do método é utilizar instrumentos que estejam ao alcance do termografista
podendo ser realizado sem contato físico com a superfície inspecionada e resultando em um valor de emissividade associado à
sua incerteza de medição [6].

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Evidenciando-se o termo emissividade na equação 3, chega-se a equação 4. Com essa equação calcula-se a emissividade usando
como parâmetros a radiação total emitida, refletida e a radiação emitida por um corpo negro na mesma temperatura [6]. Dessa
forma, determinado os valores de J, G e Eb é possível estimar o valor da emissividade sem a necessidade de contato com a
superfície. Os valores de J, G e Eb são obtidos através da Lei de Planck de acordo com as seguintes equações:

Estas fórmulas apresentam a forma integral dos termos, cujos limites de integração ?s e ?i apresentam respectivamente a faixa de
comprimento superior e inferior do espectro que se está estudando.  Neste caso, o intervalo será a faixa operacional de
comprimento de onda do termovisor [6]. Os termos de cada equação são iguais, exceto os valores das respectivas temperaturas
que correspondem a variáveis independentes TEb, TG e TJ. Estas variáveis representam as temperaturas aparentes,
respectivamente, da radiação emitida pelo próprio objeto, da radiação refletida por ele oriunda do ambiente ao seu redor, e da
radiação total recebida por um termovisor que inspeciona o objeto [6].
Além da formulação matemática também foi desenvolvido software contemplando o cálculo das radiações, a emissividade da
superfície e sua incerteza associada. Nesse programa, as variáveis de entrada provêm da aplicação da metodologia proposta e
correspondem aos três valores de temperatura com suas incertezas típicas [6]: temperatura do objeto sem a presença da fonte de

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calor externa (TEb); temperatura do conjunto fonte de calor e objeto (TJ); temperatura da fonte de calor externa (TG). O programa
retorna como variável de saída a emissividade do objeto inspecionado com sua incerteza associada [6].
A estimativa adequada do valor da emissividade é fundamental para realização de ensaios termográficos que exijam resultados
mais precisos. Os métodos citados nesse texto apresentam duas propostas práticas que podem ser adaptadas em campo e
executadas pelo próprio termografista. O método preconizado pela NBR 16485 prevê a medição da emissividade em campo,
porém, requer o contato com a superfície. Em determinadas situações, essa exigência pode inviabilizar a execução do ensaio.
Quando não for possível a aplicação do método descrito na NBR 16485, pode-se aplicar o método desenvolvido para obtenção da
emissividade em campo sem a necessidade de contato com a superfície inspecionada [5 e 6]. As duas propostas representam
alternativas satisfatórias ao uso de valores tabelados cujas condições de apuração raramente coincidem com aquelas
identificadas em campo.

Referências
1. NBR 15424: 2016 - Ensaios não destrutivos – Termografia – Terminologia.
2. NBR 16485:2016 - Ensaios não destrutivos – Termografia – Medição e compensação da emissividade utilizando câmeras
termográficas ou radiômetros.
3. BARREIRA, E.S.B.M. Aplicação da Termografia ao Estudo do Comportamento Higrotérmico dos Edifícios. Dissertação de
Mestrado Em Construção de Edifícios. Faculdade de Engenharia Civil da Universidade do Porto, Porto, Portugal, 2004.
4. CONTEMP. Adendo:Tabelas de  emissividade. Disponível
em< https://www.contemp.com.br/downloads/pdf/Tabela_de_Emissividades.pdf > . Acesso em 10/08/2020.
5. DEMUNER, J.C.D; FARDIN, J.F; MUNIZ, P.R; GOMES, L.C.Método de medição de emissividade exequível em campo sem a
necessidade de contato físico. XXXVI Ibero-Latin American Congress on Computacional Methods in Engineering. Rio de
Janeiro, Rio de Janeiro, Brasil, 2015.
6. DEMUNER, J.C.D. Medição de emissividade em campo sem contato físico com a superfície
inspecionada. Dissertação de Mestrado. Universidade Federal do EspíritoSanto, Vitória, EspíritoSanto, Brasil, 2016
7. MUNIZ, P.R. Influência dos instrumentos, do ângulo de visada e do campo de visão do termovisor na execução de
termografia por infravermelhos aplicada à manutenção elétrica. Tese de Doutorado. Universidade Federal da Bahia, Salvador,
Bahia, Brasil, 2014.
8. MUNIZ, P.R; KALID, R.A; CANI, S.P.N; MAGALHÃES, R.S. Handy method to estimate uncertainty of temperature measurement
by infrared thermography. Optical Engineering 53(7), 074101. 2014.
9. RORIZ, V.F; DORNELLES, K.A; RORIZ,M. Fatores determinantes da absortância Solar de superfícies opacas. IX Encontro
Nacional e V Latino Americano de Conforto no Ambiente Construído, Ouro Preto, Minas Gerais, Brasil, 2007.
10. SAKAMOTO, C.A.; FIORITI, C.F. Estudo de parâmetros relevantes na obtenção de termogramas para diagnóstico de
problemas patológicos. Revista Eletrônica de Engenharia Civil. Volume 13, N°2, 44-56. Julho 2017 – Dezembro 2017.

Marcelo Pereira de Miranda é analista de Correios e engenheiro civil/segurança do trabalho - mpmnew2010@hotmail.com

Artigo atualizado em 29/09/2020 04:45.

HASHTAGS #termografia #estimativa de emissividade #metrologia #medição de temperatura

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