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1 - Introdução
2- Características
3 - Estrutura e operação de uma DRAM
4- Arquitetura interna de uma DRAM
5 - Multiplexação de endereços em DRAMs
6 - Ciclos de Leitura/Escrita (Temporização das DRAMs)
7 - Operação de Resfresh das DRAMs
8- Métodos de Refresh
9 - Tipos de DRAM
10- Módulos de memórias
1. Introdução
2. Características
As DRAMs são mais lentas que as SRAMs - as SRAMs são usadas em aplicações
onde velocidade e pequena complexidade são mais críticas do que custo, espaço e baixo
consumo e não necessitam de operação de refresh;
As DRAMS possuem estrutura celular mais simples e tipicamente 4 vezes a
densidade das SRAMs;
O custo/bit de armazenamento para a RAM dinâmica é menor do que as SRAMs (cerca
de 1/5 do valor que as SRAMs);
A memória principal interna da maioria dos PCs usa DRAM por causa da sua alta
capacidade e baixo consumo. Contudo, algumas vezes estes computadores usam pequena
quantidade de SRAM para funções que exigem alta velocidade, tais como: look-up tables e
memórias cache.
As SRAMs são normalmente usadas em áreas onde somente pequenas quantidades
de memórias são necessárias ou quando é exigida alta velocidade (instrumentos controlados
por microprocessador, osciloscópio com armazenamento digital, analisadores lógicos,
eletrodomésticos).
O consumo de energia de uma RAM dinâmica normalmente está entre 1/6 e 1/2 da
energia consumida por uma RAM estática, possibilitando o uso de fontes de alimentação
menores e mais baratas;
DRAMs com um tamanho de palavra de 4 bits (ou mais) tinha uma configuração de
células em estrutura quadrada onde cada posição na matriz continha 4 células, e cada
endereço aplicado selecionava um grupo de quatro células para uma operação de
leitura/escrita;
(a)
(b)
As chaves SW1 a SW4, na Figura 1(a) são MOSFET (Metal Oxide Semiconductor
Field Efect Transistor), controladas pelas várias saídas dos decodificadores de endereços e
sinais de leitura/escrita.
Operação de Escrita:
Os sinais do decodificador de endereço e da lógica de leitura/escrita fecham as
chaves, SW1, SW2 (ON) enquanto mantêm SW3, SW4 (OFF) abertas. Um nível lógico „1‟
na entrada de dados carrega o capacitor C, e um nível lógico „0‟ o descarrega. Logo depois,
as chaves são abertas de modo que o capacitor C seja desconectado do restante do circuito.
Operação de Leitura:
SW2, SW3, SW4 ON
SW1 OFF
O Amplificador Sensor (Sense Amplifier) atua sobre o bit da linha selecionada.
Compara a tensão da célula com uma tensão de referência para determinar se o valor lógico
armazenado é „0‟ ou „1‟, e fornece um valor de tensão de 0 ou 5V na saída de dados. Esta
tensão de saída é ligada à célula através das chaves SW2 e SW4, e restaura a tensão do
capacitor, carregando-o ou descarregando-o. Ou seja, o dado armazenado é restaurado
cada vez que a célula é lida.
Os capacitores não necessitam ser especialmente fabricados, são providos pela
capacitância de porta dos transistores MOS. Com esta técnica, apenas uns poucos
transistores são necessários por bit de armazenamento, tipicamente três. Isto permite
muito mais bits de armazenamento por pastilha do que as memórias estáticas.
A temporização das operações de leitura e escrita para uma memória DRAM é mais
complexa que as operações de uma SRAM. Mostram-se nas Figuras 5(a) e (b) e Figuras
6(a) e (b) os sinais de temporização para as operações de leitura e escrita, respectivamente,
em uma DRAM.
Figura 5- (a) Ciclo de Leitura. (b) Especificações dos tempos.
(a)
Tempo Evento
t0 MUX torna-se BAIXO para aplicar os bits de endereço de linha às entradas de endereço
da DRAM
t1 RAS é colocado BAIXO para carregar o endereço de linha na DRAM
t2 MUX torna-se ALTO para aplicar os bits de endereço de coluna às entradas de
endereço da DRAM
t3 CAS vai para nível BAIXO para carregar o endereço de coluna na DRAM
t4 DRAM coloca dados válidos da célula de memória selecionada na linha DATA OUT
(Saída de dados)
t5 RAS , CAS , MUX e DATA OUT voltam ao estado inicial
(b)
(a)
Tempo Evento
t0 MUX torna-se BAIXO para aplicar os bits de endereço de linha às entradas de endereço da
DRAM
t1 RAS é colocado BAIXO para carregar o endereço de linha na DRAM
t2 MUX torna-se ALTO para aplicar os bits de endereço de coluna às entradas de endereço da
DRAM
t3 CAS vai para nível BAIXO para carregar o endereço de coluna na DRAM
t4 Dados a serem escritos são colocados nos pinos de dados (DATA IN) da DRAM
Por causa da fuga de cargas, uma célula de uma memória DRAM é atualizada cada
vez que uma operação de leitura é realizada sobre a célula (entre 8ms a 16ms ou mais),
periodicamente, ou os dados serão perdidos. Para isso, deve haver ciclos de refresh
especiais.
As células não podem ser reavivadas individualmente em cada operação devido a
grande capacidade das DRAMs.
Ex: uma DRAM de 1Mx1 ou 220 =1.048.576 células, para garantir o refresh dentro de 4ms
(período de refresh ) deveria ter uma taxa de leitura por célula, de 4ns (
4ms
3,81ns ).
1.048.576
Ou seja, seriam necessários 4ns para atualizar cada célula sucessivamente. Este
tempo é bastante pequeno para qualquer DRAM comercial, mas as memórias DRAMs são
projetadas e fabricadas de modo que sempre que uma operação de leitura é realizada
sobre uma célula, todas as células naquela linha são restauradas.
A taxa de refresh é calculada pelo tempo de refresh da linha, na leitura, dividido
pela quantidade de células na linha, veja quadro na Figura 7.
8. Métodos de Refresh
Para garantir o refresh das células na linha, há a necessidade de circuitos externos à
DRAM ou como parte de seus circuitos internos que controlem o refresh. Em ambos os
casos, existem dois modos de refresh:
a. Refresh de Rajada (Burst refresh): a operação normal da memória é
interrompida e cada célula é restaurada sucessivamente, até todas as linhas
serem reavivadas. Com memórias maiores, isso pode levar um tempo
relativamente maior, desacelerando o sistema;
b. Refresh Distribuído (Distributed refresh): o refresh das linhas é intercalado com
a operação normal da memória (entre ciclos de leitura e escrita normais). Os
sistemas de computadores atuais usam esta estratégia.
Figura 8-Tipos de Refresh
Quanto aos controles de refresh, existem quatro modos diferentes para uma
DRAM padrão:
Refresh SOMENTE-RAS (RAS - ONLY Refresh)
Refresh CAS-ANTES-DE-RAS (CAS-BEFORE-RAS – CBR Refresh)
Refresh OCULTO (HIDDEN Refresh)
Auto Refresh
Cada método pode ser usado nos modos distribuído ou rajada, dependendo de qual
atende melhor as necessidades do projeto. O método universal para reavivar a DRAM é o
refresh apenas com RAS .
Método de Refresh Somente-RAS (RAS-only refresh): é realizado habilitando-se um
endereço de linha com RAS, enquanto CAS e R/W permanecem no nível ALTO ao longo
do ciclo, Figura 9. Este método pode ser usado para realizar um refresh de rajada. Um
contador externo (controlador da DRAM chamado chip set) fornece os endereços de linha
sequencialmente, da linha 0 até a linha 1023 (para uma DRAM de 4M x 1) .
(a)
Fonte: Própria do autor
Os módulos DIMM são de 64 bits, sendo comuns módulos de 64 MB, 128 MB, 256
MB, 512 MB, 1 GB, 2GB . Há uma versão de cartão DIMM para uso em computadores
portáteis, conhecido como SODIMM (Small-Outline DIMM), com 144 pinos e capacidade
de até 256MB.
A indústria de memórias está sempre desenvolvendo memórias que acompanhe a
velocidade cada dia maior do clock dos microprocessadores, enquanto mantém os custos
em níveis razoáveis, por isso, novos tipos de DRAMs estão sempre aparecendo no
mercado:
TEcmundo (2017)
Bibliografia
TOCCI, R.J.; WIDMER, N.S.; MOSS, G. L. Sistemas Digitais: Princípios e Aplicações. 12ª edição, Editora
Pearson Prentice Hall, 1056p, 2019.
TECMUNDO . Disponível em : http://www.tecmundo.com.br. Acesso em: 21 maio 2017.