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DISCIPLINA DE INSTRUMENTAÇÃO ELETRÔNICA
CURSOS DE ENGENHARIA ACÚSTICA E AEROESPACIAL – 2º SEMESTRE DE 2022
PROFª FERNANDA DE MORAIS CARNIELUTTI
SENSORES RESISTIVOS: PARTE 1
1) Princípio básico do funcionamento de sensores resistivos: Existe uma grande

variedade de sensores baseados em resistores para medir diferentes grandezas, elétricas ou
não, como luminosidade, temperatura, pressão, aceleração, esforços mecânicos, etc. Todas
essas aplicações são baseadas em equações que descrevem o comportamento de resistências
elétricas. A primeira é a equação básica da resistência:
𝜌𝑙
𝑅 =
𝑆
Onde R é a resistência elétrica, ρ é a resistividade elétrica em Ωm e depende do material

condutor, l é o comprimento em metros do condutor e S é sua área de seção transversal em m2.
Como ρ geralmente é uma constante, da equação acima podemos ver que, se modificarmos l
e/ou S, ou seja, se modificarmos as dimensões físicas do resistor, estaremos alterando também
a sua resistência. Esse é o princípio de funcionamento dos extensômetros, por exemplo, como
iremos estudar mais adiante.
Outra equação de interesse descreve a dependência da resistência com relação à
temperatura ambiente:
𝑅(𝑇) = 𝑅𝑜 (1 + 𝛼Δ𝑇)
Onde R(T) denota que R é função da temperatura, Ro é a resistência do condutor a 0°C,
α é o coeficiente de temperatura do material do condutor e ΔT é a variação de temperatura a
qual o condutor está sujeito. Feita essa revisão, vamos estudar a ponte de Wheatstone, muito
empregada em conjunto com sensores resistivos de diferentes naturezas.
2) Ponte de Wheatstone: A ponte de Wheatstone, ou ponte de medida CC, é um

circuito formado por dois pares casados de resistências alimentados por uma fonte de tensão
CC, como mostrado na figura 1. Se todos os resistores forem iguais, ou seja, R 1 = R2 = R3 = R4 = R,
temos a chamada condição de equilíbrio. Neste caso, as correntes que circulam pelos ramos do
circuito também são todas iguais, ou seja, I1 = I2 = I3 = I4 = I. Consequentemente, a queda de
tensão entre os terminais da ponte é zero, ou seja, Vo = 0V. Assim, na condição de equilíbrio,
para cada um dos braços da ponte, podemos escrever:
𝑅1 𝐼1 = 𝑅3 𝐼3
e
𝑅2 𝐼2 = 𝑅4 𝐼4
Como as correntes são idênticas, temos:
𝑅1 𝑅2
=
𝑅3 𝑅4
Figura 1: Ponte de Wheatstone.
Se escrevermos as resistências em função da variação de temperatura, temos:

𝑅1 (1 + 𝛼Δ𝑇) 𝑅2 (1 + 𝛼Δ𝑇)
=
(1
𝑅3 + 𝛼Δ𝑇) 𝑅4 (1 + 𝛼Δ𝑇)
Que, simplificando, é igual à condição de equilíbrio:
𝑅1 𝑅2
=
𝑅3 𝑅4
Dessa análise, podemos ver que a ponte de Wheatstone consegue compensar os efeitos
negativos que a variação de temperatura tem nos resistores. Por outro lado, vamos supor agora
que um dos resistores seja um sensor resistivo, que varie sua resistência de acordo com a
variação de um estímulo externo, enquanto os demais resistores são fixos. Suponhamos que
esse resistor seja R2. Quando sua resistência variar, consequentemente a corrente I 2 que passa
por ele também varia, e temos a quebra do equilíbrio, fazendo com que surja uma queda de
tensão Vo nos terminais da ponte. Em resumo: a variação da grandeza externa que queremos
medir resulta em uma variação da resistência do resistor sensor; como não podemos trabalhar
diretamente com uma variação de resistência, transformamos essa variação de resistência em
uma variação de tensão por meio da ponte de Wheatstone, e então podemos condicionar o sinal
de interesse. A tensão de saída V o pode ser amplificada e condicionada, a fim de que possamos
trabalhar com a tensão em nosso circuito de instrumentação.
Utilizando esses conceitos, vamos estudar dois tipos de sensores resistivos: o LDR, ou
Light-Dependent Resistor, e o termistor. O primeiro varia sua resistência de acordo com a
incidência luminosa e, o segundo, de acordo com a temperatura.
3) LDR - Light-Dependent Resistor: Também chamado de fotoresistor ou célula

fotocondutiva. Como o nome diz, este resistor varia sua resistência de acordo com a
luminosidade que incide sobre ele, segundo o princípio da fotocondutividade. A
fotocondutividade é um fenômeno óptico e elétrico, onde um material se torna mais condutivo
devido à absorção de radiação eletromagnética, como, por exemplo, luz visível, luz ultravioleta,
luz vermelha, etc. O sensor é formado por um elemento semicondutor, usualmente sulfeto de
Cádmio, cuja resistência, no escuro, pode chegar a mega Ohms, enquanto que, sob a incidência
de luz, diminui para algumas poucas centenas de Ohms. A figura 2 mostra alguns exemplos de
LDRs comerciais, bem como a representação simbólica do componente.
Figura 2: LDRs comerciais.
A figura 3 mostra uma curva típica de variação da resistência em função da iluminação

para o LDR comercial da Sunrom (ver datasheet em anexo no material). Podemos ver que, para
baixa luminosidade, a resistência do LDR é muito grande, fazendo com que se torne um mau
condutor. Para o Lux mínimo de 0.1, a resistência deste LDR é de quase 1MΩ. À medida que a
luminosidade vai aumentando, devido à fotocondutividade, a resistência do LDR decresce
linearmente, e o material se torna mais condutor. Neste exemplo, para Lux máximo de 10.000,
temos uma resistência de 100Ω. Se colocarmos o LDR em um circuito do tipo ponte de
Wheatstone, podemos transformar essa variação de resistência em uma variação de tensão.
Figura 3: Curva resistência x luminosidade de um LDR comercial. Fonte: Datasheet LDR Sunrom.
A figura 4 traz a tabela dos parâmetros elétricos do mesmo LDR da figura 3, retirada do
seu datasheet. Podemos ver novamente a variação da resistência em relação à luminosidade.
Além disso, constam nessa tabela a corrente e tensão máximas que o LDR suporta, dissipação
de potência, e os limites de temperatura ambiente nos quais o sensor opera. Ainda, é
interessante verificar os tempos de resposta do sensor (Rise e Fall Time), que dão a resposta
dinâmica do sensor com relação a variações de luminosidade do ambiente.
Figura 4: Tabela com as características de um LDR comercial. Fonte: Datasheet LDR Sunrom.
As aplicações deste sensor são muitas. Podem ser utilizados em circuitos de controle de
exposição de câmeras, máquinas copiadoras, densímetros, escalas eletrônicas, controle
automático de ganho, sensor de posição, sensor de presença, iluminação pública, sistemas de
alarme, etc. Vamos estudar como exemplo a aplicação em iluminação. A figura 5 mostra dois
circuitos com LDR para iluminação, que acendem LEDs quando a luminosidade do ambiente se
torna menor que um dado valor. Vamos ver como é possível projetar um circuito para realizar
essa tarefa.
Figura 5: Circuitos com LDR para iluminação.
Uma possível implementação de um circuito para acionar um LED com LDR é mostrada
na figura 6. O resistor em azul na ponte de Wheatstone é um LDR, com resistência variável R LDR.
A tensão de alimentação da ponte de Wheatstone é Vin, e vamos assumir que esta tensão
alimenta também o amp-op. Entre a fonte Vin e a saída do amp-op, temos o LED que iremos
acionar. O resistor R em série com o LED serve apenas para limitar a corrente que passa pelo
componente. No mesmo braço da ponte que o LDR, temos o resistor R 3. A tensão no ponto
médio do braço com LDR é VLDR. Esta tensão varia de acordo com a variação da resistência do
LDR devido à incidência luminosa, e é calculada pela equação do divisor resistivo:
𝑅3
𝑉𝐿𝐷𝑅 = 𝑉𝑖𝑛
𝑅3 + 𝑅𝐿𝐷𝑅
Da equação acima, podemos ver que, quando temos menor incidência luminosa, de
acordo com a figura 3, RLDR é maior e, consequentemente, a tensão VLDR é menor. Por outro lado,
quando temos mais luz incidindo sobre o LDR, RLDR diminui, fazendo com que VLDR aumente. O
resistor R3 é projetado para ter valor igual à resistência do LDR para a qual queremos que o LED
acenda, correspondendo a um dado valor de LUX. No outro braço da ponte, temos os resistores
R1 e R2, que também compõem um divisor resistivo. A tensão no ponto médio desses resistores
é um valor constante, pois R1 e R2 não são variáveis. Vamos chamar esse sinal de tensão de
referência VREF:
𝑅2
𝑉𝑅𝐸𝐹 = 𝑉𝑖𝑛
𝑅2 + 𝑅1
Usualmente, para facilitar o projeto, escolhemos R 1 = R2, resultando em VREF = Vin/2. As
tensões VREF e VLDR são inseridas, respectivamente, nas entradas inversora e não-inversora do
amp-op. A saída do amp-op é a tensão Vo, e o amp-op está configurado como um comparador,
já que não temos realimentação negativa no circuito. Assim, Vo pode assumir os valores ±Vin, ou
seja, a tensão de alimentação do amp-op.
Figura 6: Circuito com LDR para acionar um LED.
Vamos agora analisar o comportamento do circuito, considerando primeiramente que a

luminosidade do ambiente é alta, por exemplo em um dia claro. Desta forma, a resistência RLDR
do LDR será pequena, com valor menor do que a resistência do LDR para a qual queremos que
o LED acenda. Se RLDR é pequena, já vimos que o valor de VLDR será grande. O amp-op compara
os valores de VLDR e VREF, e, nesse caso, como VLDR > VREF, a saída de tensão do amp-op assume
valor positivo, ou seja, Vo = Vin. Como ainda temos a queda de tensão direta do LED (que
usualmente está na ordem de alguns Volts), temos que o LED está reversamente polarizado e
não conduz e não emite luz. Por outro lado, quando escurecer, a resistência R LDR do LDR irá
aumentar, até atingir um valor maior do que a resistência do LDR para a qual queremos que o
LED acenda. Se RLDR é grande, o valor de VLDR será pequeno. O amp-op agora compara os valores
de VLDR e VREF, e temos que VLDR < VREF. Assim, a saída de tensão do amp-op assume valor negativo,
ou seja, Vo = -Vin, colocando o LED em condução e emitindo luz. Este é o comportamento que
esperamos: que o LED fique apagado quando temos luz suficiente no ambiente, e acenda
quando fique escuro.
Para exemplificar a operação do circuito, vamos considerar o LDR da figura 3. A

alimentação da ponte de Wheatstone Vin é igual a 12V, e o amp-op está alimentado com ±12V.
Vamos projetar um circuito onde o LED deverá acender para valores de LUX menores que 100.
Observando o gráfico da figura 3 e a tabela da figura 4, temos que RLDR = 5kΩ para 100LUX. Desta
forma, escolhemos R3 = 5kΩ. Fazendo R1 = R2 = 10kΩ, a tensão de referência VREF é igual a 6V.
Quando LUX > 100, temos que RLDR < 5kΩ e VLDR > VREF, ou seja, VLDR > 6V, e o LED apaga (não
conduz corrente). Quando LUX < 100, temos RLDR > 5kΩ, VLDR < VREF, e o LED acende, como
esperado (conduz corrente). Esse comportamento pode ser verificado na simulação do PSIM em
anexo. Para simular a variação da luminosidade, modifique o valor da resistência do LDR no PSIM
e simule, observando a saída do amp-op e a corrente do LED.
4) Termistor: Termistores são resistores que variam suas resistências de acordo

com a variação de temperatura do ambiente onde estão inseridos. São compostos de materiais
semicondutores, como, por exemplo, misturas de óxidos de metais como cromo, cobalto, ferro,
manganês e níquel. Dependendo do material, a resistência pode aumentar ou diminuir com a
temperatura. Termistores que aumentam a resistência com o aumento de temperatura
possuem um coeficiente de temperatura positivo e são chamados de PTC (positive temperature
coeficient). Já os que diminuem a resistência com o aumento de temperatura possuem
coeficiente negativo e são chamados de NTC (negative temperature coeficient). São sensores
com boa precisão, e podem operar em temperaturas que variam tipicamente de -100°C a 300°C.
Porém, independentemente de sua natureza ser PTC ou NTC, termistores possuem resposta
altamente não-linear à variação de temperatura, o que pode ser uma desvantagem em algumas
aplicações. Estes sensores são utilizados em aquecedores, detectores de sub ou
sobretemperatura, termômetros eletrônicos, circuitos de compensação de temperatura, etc. A
figura 7 mostra exemplos comerciais de termistores. A figura 8 mostra dois exemplos de curvas
de termistores, uma PTC e uma NTC, onde podemos ver a não-linearidade de ambas as
respostas. A figura 9 mostra as curvas de termistores NTC comerciais retiradas do catálogo da
muRata (em anexo). A equação que rege o comportamento da resistência um termistor NTC
em função da temperatura é:
1 1
𝐵(𝑇 − 𝑇 )
𝑅 = 𝑅𝑜 𝑒 𝑜
Onde R é a resistência a uma dada temperatura T (em Kelvin), R o é a resistência na

temperatura ambiente T o (em Kelvin) e B é a constante do termistor, fornecida no datasheet. A
figura 10 mostra uma parte da tabela de parâmetros dos termistores NTC da muRata, onde
podemos ver a resistência Ro de diversos NTCs do fabricante, bem como a constante B. Note que
a constante B tem valores diferentes para diferentes limites de temperatura ambiente.
Figura 7: Termistores comerciais.

Figura 8: Exemplos de curva resistência x temperatira de termistores do tipo PTC e NTC.
Figura 9: Curvas de termistores NTC retiradas do catálogo do fabricante muRata.

Figura 10: Parâmetros de termistores NTC retiradas do catálogo do fabricante muRata.
Um exemplo de aplicação é um circuito parecido com o que estudamos para o

acionamento de um LED por meio do LDR. Agora, no entanto, vamos usar um termistor NTC
como sensor para acionar um relé de sobretemperatura quando a temperatura foi maior que
um dado valor em °C. O circuito resultante é mostrado na figura 11, e seu funcionamento é
muito semelhante ao apresentado para o LDR. O resistor em azul na ponte de Wheatstone é o
termistor NTC, com resistência variável RNTC. A tensão de alimentação da ponte de Wheatstone
é Vin, e ela alimenta também o amp-op. Na saída do amp-op, temos um transistor que irá acionar
o relé de sobretemperatura, e um resistor para a polarização da base do transistor. No mesmo
braço da ponte que o NTC, temos o resistor R3. A tensão no ponto médio do braço com NTC é
VNTC, cujo valor depende da variação da resistência do NTC devido à variação de temperatura
ambiente:
𝑅3
𝑉𝑁𝑇𝐶 = 𝑉𝑖𝑛
𝑅3 + 𝑅𝑁𝑇𝐶
Assim, quando a temperatura é menor, para o termistor NTC, temos que RNTC é maior e,
consequentemente, a tensão VNTC é menor, da mesma forma que para o LDR. Quando a
temperatura sobre o NTC aumenta, RNTC diminui, fazendo com que VNTC aumente. O resistor R3
é projetado para ter valor igual à resistência do NTC para a temperatura na qual queremos que
o relé de sobretemperatura seja acionado.
No outro braço da ponte, temos os resistores R1 e R2, que também compõem um divisor
resistivo. A tensão no ponto médio desses resistores é um valor constante, pois R 1 e R2 não são
variáveis. Vamos chamar esse sinal de tensão de referência VREF:
𝑅2
𝑉𝑅𝐸𝐹 = 𝑉𝑖𝑛
𝑅2 + 𝑅1
Usualmente, para facilitar o projeto, escolhemos R1 = R2, resultando em VREF = Vin/2.
As tensões VREF e VNTC são inseridas, respectivamente, nas entradas inversora e não-
inversora do amp-op. A saída do amp-op é a tensão Vo. O amp-op está configurado como um
comparador, já que não temos realimentação negativa no circuito, e Vo pode assumir os valores
±Vin. Quando a temperatura ambiente é menor do que a temperatura para a qual queremos que
o relé atue, a resistência RNTC do termistor será grande, com valor maior do que a resistência do
termistor para a temperatura de atuação do relé. Se RLDR é grande, o valor de VNTC será pequeno.
O amp-op compara os valores de VNTC e VREF, e, nesse caso, como VNTC < VREF, a saída de tensão
do amp-op assume valor negativo, ou seja, Vo = -Vin. Esta tensão é aplicada na base do transistor
na saída do amp-op; sabemos que, para que o transistor npn seja polarizado e conduza corrente,
a tensão aplicada na base deve ser positiva. Como Vo = -Vin, o transistor não está polarizado e,
consequentemente, não conduz, deixando o relé inativo. Quando a temperatura aumenta acima
do valor especificado para atuação do relé, a resistência RNTC irá diminuir, até atingir um valor
menor do que a resistência do NTC para a temperatura de acionamento do relé. Se RNTC é
pequena, o valor de VNTC será grande. Agora temos que VNTC > VREF. Assim, a saída de tensão do
amp-op assume valor positivo, ou seja, Vo = Vin. A tensão positiva aplicada na base do transistor
coloca o mesmo em condução, acionando o relé de sobretemperatura. Este é o comportamento
que esperamos: que o relé seja acionado apenas quando a temperatura for maior que um certo
valor especificado em projeto.
É importante salientar que a saída da ponte de Wheatstone também pode ser

condicionada de forma tal a entrar em um canal de um conversor A/D (analógico/digital) de um
microcontrolador ou microprocessador como um Arduíno ou um DSP (Digital Signal Processor),
de forma tal a realizar o controle digital da variável de interesse. Este tipo de condicionamento
de sinais para conversores A/D será estudado mais adiante na disciplina.
Figura 11: Circuito com termistor NTC para acionar um relé de sobretemperatura.
EXERCÍCIO: Como ficaria o circuito da figura 10 se um termistor do tipo PTC fosse

empregado? Descreva uma das possibilidades de implementação do circuito e explique seu
funcionamento.
EXERCÍCIO: Considere o primeiro NTC da tabela apresentada na figura 9. Projete um

circuito para acionar um relé de sobretemperatura quando a temperatura ambiente for maior
que 60°C. Utilize a equação da resistência do termistor para encontrar sua resistência em 60°C.
Considere que a alimentação da ponte de Wheatstone Vin é igual a 12V, e que o amp-op está
alimentado com ±12V. Simule o circuito no PSIM para verificar seu funcionamento.
SENSORES RESISTIVOS: PARTE 2
Na aula passada, estudamos os sensores resistivos do tipo LDR e termistores, cujas

resistências variam, respectivamente, em função da luminosidade e da temperatura às quais os
sensores estão submetidos. Hoje vamos estudar outro sensor resistivo muito importante, o
strain gauge, ou extensômetro.
1) Strain gauge ou extensômetro: Consiste em folhas ou filamentos de metal ou

material semicondutor, que podem ser estendidos sobre uma superfície, como mostrado na
figura 1. O metal condutor ou semicondutor de resistência variável são as linhas em preto, com
dois terminais para conexão com o circuito externo de condicionamento. A folha amarela é
presa sobre uma superfície deformável, como mostrado na figura 2, onde temos um
extensômetro na parte superior e um na inferior da superfície, sujeitos a esforços mecânicos
diferentes. Quando essa superfície se deforma em alguma direção, a resistência do
extensômetro varia, de acordo com a expressão da resistência de um material condutor, que já
apresentamos em aulas anteriores:
𝜌𝑙
𝑅 =
𝑆
Onde R é a resistência elétrica, ρ é a resistividade elétrica em Ωm e depende do material

condutor, l é o comprimento em metros do condutor e S é sua área de seção transversal em m2.
Como ρ geralmente é uma constante, da equação acima podemos ver que, se modificarmos l
e/ou S, estaremos alterando a resistência do resistor, no caso, do extensômetro. Desta forma, a
variação da resistência dá uma medida da deformação da superfície, fazendo com que o
extensômetro seja muito usado em aplicações de medidas de esforços mecânicos, aceleração,
deslocamentos, etc. A variação de resistência do extensômetro também pode ser escrita como:
Δ𝑅 Δ𝑙
= 𝐺 = 𝜀𝐺
𝑅 𝑙
Onde l é o comprimento do filamento condutor, ε é a deformação mecânica a qual o

extensômetro está sujeito, e G é o fator Gauge, que depende do material do extensômetro. Para
extensômetros de metal, usualmente G = 2. Para entender o funcionamento do extensômetro,
vamos analisar a figura 3.
Figura 1: Extensômetro comercial.
Figura 2: Extensômetros sobre uma superfície deformável. Fonte: “Instrumentation and Control Systems”, de William
Bolton
A figura 3a mostra um extensômetro colocado sobre uma superfície, sem nenhuma

deformação. Vemos do lado direito os terminais para conexão do extensômetro (entre os quais
sua resistência é medida), e o filamento condutor em preto, sensível aos esforços mecânicos.
Na figura 3b, a superfície é sujeita a um esforço de tensão, e o extensômetro colocado sobre a
superfície se deforma juntamente com ela. Podemos ver que a tensão faz com que o
comprimento do filamento condutor se alongue e, consequentemente, sua área de seção
transversal diminui, fazendo com que a resistência do extensômetro aumente (ver equação da
resistência). Na figura 3c, a superfície é sujeita a um esforço de compressão. Isso faz com que o
extensômetro se contraia, diminuindo seu comprimento e aumentando a área de seção
transversal e, consequentemente, diminuindo sua resistência. A figura 4 resume os esforços aos
quais o extensômetro pode ser submetido, e suas consequências sobre a resistência do mesmo,
ou seja:
i) Tensão causa aumento de resistência;

ii) Compressão causa diminuição da resistência;
iii) Esforços laterais não afetam a resistência.
Da mesma forma que estudamos para os sensores do tipo LDR e termistor, os

extensômetros também podem ser inseridos em pontes de Wheatstone, a fim de que possamos
transformar sua variação de resistência em variação de tensão. Para entendermos como isso
pode ser feito, vamos analisar a figura 5, onde temos dois extensômetros, um na parte inferior
e um na superior de uma superfície sujeita a um dado deslocamento causado por uma força. Os
extensômetros são colocados no mesmo braço da ponte, e entre os terminais dois braços é
medida a tensão de saída Vo.
Figura 3: Esforços mecânicos sobre um extensômetro. Fonte: Wikipédia
Figura 4: Resumo dos efeitos dos esforços mecânicos na resistência de um extensômetro.

Figura 5: Exemplos de extensômetros em uma ponte de Wheatstone.
Na parte superior da figura, a superfície está em repouso, e os extensômetros não estão

sujeitos a nenhuma deformação. Desta forma, suas resistências não variam e a ponte de
Wheastone está em equilíbrio, ou seja, a tensão V o é igual a zero. Quando uma força é aplicada
na direção mostrada na parte de baixo da figura 5, os extensômetros são deformados, fazendo
com que a resistência do extensômetro superior aumente, pois este sofre um esforço de tração,
e a resistência do inferior diminui, já que este sofre um esforço de compressão. Assim, a ponte
de Wheatstone sai do ponto de equilíbrio, e a tensão de saída Vo torna-se diferente de zero. O
valor de Vo é função da variação da resistência dos extensômetros que, por sua vez, é função da
deformação ou deslocamento da superfície (o fator Δl/l, ou ε, na equação do extensômetro).
Vamos ver agora como podemos calcular essa relação para alguns exemplos de configurações
de extensômetros em pontes de Wheatstone.
a) Medida de tensão ou compressão – 1/4 de ponte: O primeiro caso que vamos analisar
é a medida de tração ou compressão de uma superfície utilizando um extensômetro. Vamos
tomar como exemplo o esforço de tensão, onde a resistência do extensômetro aumenta. O
sensor pode ser posicionado em uma das duas formas mostradas na parte superior da figura 6.
Se a superfície for alongada, como no desenho da esquerda, ou deslocada para baixo, como na
direita, o extensômetro irá ter um aumento de sua resistência. Para uma medição de
compressão, o posicionamento do sensor é o mesmo, porém os sentidos das forças mostradas
na figura se invertem. Como temos apenas um extensômetro, podemos colocá-lo em qualquer
posição da ponte de Wheatstone, como mostrado no circuito esquemático na parte inferior da
figura 6.
Figura 6: Medida de tensão ou compressão – 1/4 de ponte.
Para nossa análise, vamos considerar que os resistores R1, R2 e R3 são iguais entre si e
iguais a R, e o extensômetro é representado pelo resistor R4 = R + ΔR. A figura 7 mostra os sinais
de tensão e corrente na ponte de Wheatstone, para facilitar nossa análise. Podemos escrever as
equações das correntes I1 e I2 como:
𝑉𝑖𝑛
𝐼1 =
2𝑅
𝑉𝑖𝑛
𝐼2 =
2𝑅 + Δ𝑅
A tensão de saída Vo, por sua vez, pode ser escrita como a diferença entre as quedas de
tensão dos resistores R2 (tensão Vdc entre os pontos d e c da ponte) e R4 (tensão Vcb entre os
pontos c e b da ponte):
𝑉𝑜 = 𝑉𝑑𝑐 − 𝑉𝑐𝑏 = 𝐼1 𝑅 − 𝐼2 (𝑅 + Δ𝑅)

Substituindo as expressões de I1 e I2:
𝑉𝑖𝑛 𝑉𝑖𝑛
𝑉𝑜 = 𝑅 − (𝑅 + Δ𝑅)
2𝑅 2𝑅 + Δ𝑅
𝑉𝑜 = − (𝑅 + Δ𝑅)
2 2𝑅 + Δ𝑅
Rearranjando:
2𝑉𝑖𝑛 𝑅 + 𝑉𝑖𝑛 Δ𝑅 − 2𝑉𝑖𝑛 𝑅 − 2𝑉𝑖𝑛 Δ𝑅
𝑉𝑜 =
2(2𝑅 + Δ𝑅)
Simplificando a equação acima:
−𝑉𝑖𝑛 Δ𝑅
𝑉𝑜 =
4𝑅 + 2Δ𝑅
Escrevendo no formato do ganho de tensão V o/Vin:
𝑉𝑜 −Δ𝑅
=
𝑉𝑖𝑛 4𝑅 + 2Δ𝑅
Temos então o ganho de tensão do circuito, função da variação de resistência do
extensômetro. Porém vimos que, da equação do extensômetro, ΔR/R é proporcional à
deformação física Δl/l do condutor. Vamos substituir a equação do extensômetro na expressão
do ganho acima. Dividindo o numerador e o denominador por R, temos:
𝑉𝑜 −Δ𝑅/𝑅
=
𝑉𝑖𝑛 (4𝑅 + 2Δ𝑅)/𝑅
Rearranjando e substituindo ΔR/R por εG:
𝑉𝑜 −εG
=
𝑉𝑖𝑛 4 + 2εG
Chegamos na expressão do ganho de tensão do circuito em função da deformação ε e
do fator gauge G do extensômetro.
Figura 7: Sinais de tensão e corrente na ponte de Wheatstone.

Uma característica dessa configuração que acabamos de estudar é que todos os
resistores estão sujeitos a mesma variação de temperatura ambiente, que também pode fazer
as resistências variarem e, por conseguinte, resultar em erro no funcionamento do circuito e na
tensão de saída Vo. Em outras palavras, o ganho que deduzimos, bem como o circuito analisado,
são sensíveis a variações de temperatura. Porém, existe uma alternativa para contornar esse
problema.
b) Medida de tensão ou compressão com compensação dos efeitos da temperatura – 1/4

de ponte: Vamos modificar o circuito estudado na seção anterior de tal forma a torná-lo
insensível a variações de temperatura que venham a prejudicar seu funcionamento. Vamos fazer
uso agora de dois extensômetros: um posicionado na superfície de forma igual ao caso anterior,
sendo sujeito ao esforço mecânico que se quer medir, e um segundo colocado de forma a não
sofrer nenhuma deformação, como mostrado na parte superior da figura 8. Este segundo
extensômetro é chamado de “dummy”, pois não está sujeito ao esforço de tensão, porém está
sujeito à mesma variação de temperatura que o sensor “verdadeiro”. Podemos verificar isso
pela posição do filamento condutor do “dummy” na figura 8, que não está alinhado com o
sentido da força aplicada na superfície (veja a figura 4, onde é mostrado que esforços laterais
não modificam a resistência do extensômetro). Os dois sensores são inseridos no mesmo braço
da ponte de Wheatstone, como mostrado no circuito esquemático na parte inferior da figura 8:
o extensômetro “verdadeiro” corresponde a R4, e o seu par “dummy” ocupa o lugar de R3.
Figura 8: Medida de tensão ou compressão com compensação dos efeitos de temperatura – 1/4 de ponte.
Como o extensômetro “dummy” R3 não está sujeito à força aplicada e não sofre
deformação, sua resistência não varia e podemos novamente considerar que os resistores R1, R2
e R3 são iguais entre si e iguais a R, e o extensômetro “verdadeiro” é representado pelo resistor
R4 = R + ΔR. A figura 8 mostra os sinais de tensão e corrente na ponte de Wheatstone. Podemos
ver que o circuito da figura 8 é exatamente igual ao da figura 7, e, consequentemente, a dedução
do seu ganho de tensão é idêntica, resultando na mesma expressão do ganho:
𝑉𝑜 −Δ𝑅 −εG
= =
𝑉𝑖𝑛 4𝑅 + 2Δ𝑅 4 + 2εG
Figura 9: Sinais de tensão e corrente na ponte de Wheatstone com extensômetro “dummy” para compensação dos
efeitos da temperatura.
Porém da nossa análise inicial da ponte de Wheatstone na Parte I do estudo de sensores

resistivos, se escrevermos as resistências em função da variação de temperatura, temos:
𝑅1 (1 + 𝛼Δ𝑇) 𝑅3 (1 + 𝛼Δ𝑇)
=
𝑅2 (1 + 𝛼Δ𝑇) 𝑅4 (1 + 𝛼Δ𝑇)
Que, simplificando, é igual à condição de equilíbrio:
𝑅1 𝑅3
=
𝑅2 𝑅4
Ou seja, podemos ver que a ponte de Wheatstone consegue compensar os efeitos
negativos que a variação de temperatura tem no extensômetro “verdadeiro” através do seu par
“dummy”. A única variação de resistência que irá aparecer no circuito e, consequentemente, na
tensão de saída Vo, é a variação relativa à deformação do extensômetro “verdadeiro”.
c) Medida de tensão ou compressão – 1/2 de ponte: Podemos fazer medidas de tensão

ou compressão utilizando dois extensômetros, onde um é colocado na parte superior da
superfície sujeita à deformação, e ou outro na inferior, como mostrado na parte superior da
figura 10. No circuito da ponte de Wheatstone, ambos são colocados no mesmo braço, como
visto na parte inferior da figura 10. Se a força for aplicada na direção mostrada na figura, o
extensômetro inferior, denotado por R3, sofre compressão e sua resistência diminui, enquanto
o superior R4 sofre tensão e sua resistência aumenta.
Figura 10: Medida de tensão ou compressão com dois extensômetros – 1/2 de ponte.
A análise deste circuito é muito parecida com as que já fizemos. Vamos considerar que
os resistores R1 e R2 são iguais entre si e iguais a R, e os extensômetros são iguais a R3 = R - ΔR e
R4 = R + ΔR. A figura 11 mostra os sinais de tensão e corrente na ponte de Wheatstone. Podemos
escrever as equações das correntes I1 e I2 como:
𝑉𝑖𝑛
𝐼1 =
2𝑅
𝐼2 = =
2𝑅 + Δ𝑅 + 2𝑅 − Δ𝑅 2𝑅
Vamos escrever a tensão de saída Vo como a diferença entre as quedas de tensão dos
resistores R4 (tensão Vab entre os pontos a e b da ponte) e R1 (tensão Vad entre os pontos a e d
da ponte):
𝑉𝑜 = 𝑉𝑎𝑏 − 𝑉𝑎𝑑 = 𝐼2 (𝑅 + Δ𝑅) − 𝐼1 𝑅

Substituindo as expressões de I1 e I2:
𝑉𝑖𝑛 𝑉
𝑉𝑜 = (𝑅 + Δ𝑅) − 𝑖𝑛 𝑅
2𝑅 2𝑅
𝑉𝑖𝑛 Δ𝑅 𝑉𝑖𝑛 𝑅 𝑉𝑖𝑛 𝑅

𝑉𝑜 = + −
2𝑅 2𝑅 2𝑅
Simplificando a equação acima:
𝑉𝑖𝑛 Δ𝑅
𝑉𝑜 =
2𝑅
Escrevendo no formato do ganho de tensão V o/Vin:
𝑉𝑜 Δ𝑅
=
𝑉𝑖𝑛 2𝑅
Temos então o ganho de tensão do circuito, função da variação de resistência do
extensômetro. Porém vimos que, da equação do extensômetro, ΔR/R é proporcional à
deformação física Δl/l do condutor. Vamos substituir a equação do extensômetro na expressão
do ganho acima. Dividindo o numerador e o denominador por R, temos:
𝑉𝑜 −Δ𝑅/𝑅
=
𝑉𝑖𝑛 (4𝑅 + 2Δ𝑅)/𝑅
Rearranjando e substituindo ΔR/R por εG:

𝑉𝑜 εG
=
𝑉𝑖𝑛 2
Chegamos na expressão do ganho de tensão do circuito em função da deformação ε e
do fator gauge G do extensômetro.
Figura 11: Sinais de tensão e corrente na ponte de Wheatstone para medida de tensão ou compressão com dois
extensômetros.
2) Condicionamento de sinais do extensômetro: Para condicionarmos o sinal de
saída da ponte de Wheatstone Vo, podemos ainda inserir um ganho de tensão adicional, pois,
muitas vezes, a amplitude de Vo é muito pequena. Por exemplo, podemos inserir entre os
terminais da ponte um amplificador diferencial, como já estudamos na parte I sobre sensores
resistivos, e cujo circuito é mostrado na figura 12 para relembrar:
Figura 12: Ponte de Wheatstone com condicionamento do sinal de saída por meio de amplificador diferencial.
Outra possibilidade interessante e de grande aplicação para condicionarmos o sinal Vo é

utilizarmos um amplificador de instrumentação, que também já estudamos. Vimos que o amp-
op de instrumentação é uma derivação do amp-op diferencial, e tem seu ganho definido apenas
por um resistor externo RG. O circuito resultante é mostrado na figura 13. Se a ponte, por
exemplo, estiver configurada como a ponte da figura 11, acabamos de deduzir que
εG𝑉𝑖𝑛
𝑉𝑜 =
2
Esta é a tensão de entrada do amp-op de instrumentação. Portanto, nesta aplicação, o
ganho do circuito completo é:
𝑅1 𝑅1 εG𝑉𝑖𝑛
𝑉𝑜𝑡𝑜𝑡 = (1 + 2 ) 𝑉𝑜 = (1 + 2 )
𝑅𝐺 𝑅𝐺 2
Onde R1 nesta expressão é a resistência interna do amp-op de instrumentação, e R G é o
resistor externo que vamos calcular para termos o ganho de tensão desejado A v:
2𝑅1
𝑅𝐺 =
𝐴𝑣 − 1
Figura 13 Ponte de Wheatstone com condicionamento do sinal de saída por meio de amplificador de
instrumentação.
EXERCÍCIOS
a) Os extensômetros podem ser configurados em mais tipos de ponte de Wheatstone,

inclusive configurações em ponte completa. As figuras abaixo mostram três configurações em ponte
completa. Levando em consideração o sentido da força aplicada, mostre como o circuito equivalente
da ponte poderia ser montado e encontre as expressões dos ganhos de tensão. Quais circuitos
apresentam compensação dos efeitos da temperatura?
b) Considere um extensômetro com resistência de 120Ω e limite de deformação de ±3% da
sua resistência, configurado para fazer medida de tração em 1/4 de ponte, com compensação de
temperatura. Calcule o ganho da ponte de Wheatstone para o pior caso de deformação. Projete o
resistor de um amp-op de instrumentação, por exemplo, o AD620, de tal forma que este amp-op dê
um ganho de 10 vezes na tensão de saída da ponte de Wheatstone.
SENSORES CAPACITIVOS E INDUTIVOS
Na aula de hoje, vamos estudar a teoria de sensores capacitivos e indutivos.
1) Princípio básico de sensores capacitivos: São muito empregados como sensores

de deslocamento de alta precisão, especialmente para medir deslocamentos e posicionamentos
da ordem de nanômetros até milímetros. Outras aplicações incluem medição de pressão, força,
humidade, aceleração, nível de líquidos, telas touch screen, etc. Assim como os sensores
resistivos que estudamos nas últimas aulas, sensores capacitivos tem seu funcionamento
baseado na equação da capacitância:
𝜀𝐴
𝐶 =
𝑑
Onde C é a capacitância do capacitor, ε é a permissividade dielétrica do capacitor do

material que forma as placas do capacitor, A é a área de superposição em m2 das placas do
capacitor, e d é a distância em m entre as placas. A figura 1 mostra o esquemático de um sensor
capacitivo genérico, com as suas dimensões. Desta forma, se alterarmos qualquer elemento da
equação acima, estaremos alterando a capacitância do sensor, e essa mudança pode, assim
como em sensores resistivos, ser transformada em uma variação de tensão proporcional à
variável externa que se quer medir, como, por exemplo, deslocamentos. A figura 2 traz alguns
exemplos de sensores capacitivos comerciais, que iremos estudar com mais detalhes a partir de
agora.
Figura 1: Esquemático de um sensor capacitivo genérico. Fonte: Wiliam Bolton, “Instrumrntation and Control
Systems
Figura 2: Sensores capacitivos de proximidade comerciais.
2) Sensores capacitivos de deslocamento/proximidade: Existem inúmeros

sensores capacitivos comerciais, para diferentes aplicações e com diferentes configurações,
como pode ser visto nos datasheets em anexo ao material desta aula. Vamos estudar o princípio
de funcionamento de três tipos de sensores capacitivos: capacitância varia com a i) variação da
distância entre as placas; ii) variação da área de superposição entre as placas e iii) variação do
dielétrico entre as placas do capacitor. Estas três opções estão ilustradas, respectivamente, da
esquerda para a direita na figura 3.
Figura 3: Sensor capacitivo e suas dimensões; formas de variação da capacitância do capacitor sensor. Fonte:
Wiliam Bolton, “Instrumentation and Control Systems”
a) Variação da distância entre as placas do capacitor: Nesta configuração, a área

de superposição A entre as placas permanece inalterada, enquanto a distância d se altera,
modificando assim a capacitância do capacitor. O dielétrico ε não é alterado. Essa variação de
capacitância é proporcional ao deslocamento medido, e pode ser transformada em uma
variação de tensão, como veremos mais adiante, ou até mesmo de corrente. Aqui, temos que
uma das placas é fixa, enquanto a outra é presa ao objeto ao qual se deseja medir o
deslocamento vertical com relação à placa fixa, como mostrado na figura 4. O deslocamento da
placa móvel é dado por x, que pode ser negativo ou positivo, ou seja, a placa móvel pode se
aproximar ou se distanciar da placa fixa, dependendo do deslocamento do objeto ao qual está
acoplada. Se a placa móvel se afasta da placa fixa (x > 0), temos um decréscimo na capacitância;
por outro lado, se se aproxima (x < 0), a capacitância aumenta.
Figura 4: Variação da distância entre as placas do capacitor.
EXEMPLO: Seja um sensor capacitivo com A = 12cm2 (largura de 2cm e comprimento de 6cm),
d = 10cm e dielétrico com ε = 30pF/m. Qual a capacitância do sensor em repouso e para um
deslocamento x = 5cm?
A equação da capacitância em repouso é dada por (convertendo todas as medidas para

m):
𝜀𝐴 30. 10−12 ∗ 0,0012

𝐶 = = = 0,36𝑝𝐹
𝑑 0,1
Por outro lado, quando ocorre um deslocamento de 5cm na distância entre as placas,
temos:
𝜀𝐴 30. 10−12 ∗ 0,0012

𝐶 = = = 0,24𝑝𝐹
𝑑 + 𝑥 0,1 + 0,05
Confirmando nossa análise inicial da diminuição da capacitância com o aumento da
distância entre as placas do capacitor.
b) Variação da área de superposição entre as placas do capacitor: Nesta segunda

configuração, agora a distância d entre as placas permanece inalterada, enquanto a área de
superposição se altera, modificando a capacitância do capacitor. Como para o caso anterior, o
dielétrico ε não é alterado. Isso pode ser visto na figura 5. Na parte superior da figura, as duas
placas estão totalmente superpostas, e temos a máxima área de superposição A1, resultando na
maior capacitância do capacitor. Se a placa móvel sofrer um deslocamento x, como mostrado
na parte inferior da figura, a área de superposição das placas A 2 diminui, fazendo com que a
capacitância também diminua. Isso é válido para qualquer direção do deslocamento x. Esta
configuração é empregada para medir deslocamentos lineares. Uma variação desta
configuração é utilizada para medir deslocamentos angulares, onde uma placa é fixa e outra se
movimenta angularmente junto com um dado eixo. Neste caso, a área de superposição das
placas é calculada como a área do setor circular, como mostrado na figura 6, onde θ é o
deslocamento angular e R é o raio do setor circular.
EXEMPLO: Seja o mesmo sensor capacitivo do exemplo anterior, com A1 = 12cm2, d = 10cm e
dielétrico com ε = 30pF/m, mas agora a área de superposição entra as placas que varia, e não a
distância vertical entre elas. Qual a capacitância do sensor em repouso e para um deslocamento
x = 3cm, no mesmo sentido que o mostrado na figura 6?
Como temos as mesmas dimensões e o mesmo dielétrico do exemplo anterior, a

capacitância do sensor em repouso é igual à calculada anteriormente, ou seja, 0,36pF. Agora,
vamos calcular a nova capacitância devido à alteração na área de superposição entre as placas.
Como a placa móvel se deslocou 3cm para a esquerda, temos que a largura da área de
superposição continua igual a 2cm, porém o comprimento agora é 3cm:
𝜀𝐴2 30. 10−12 ∗ 0,0006

𝐶 = = = 0,18𝑝𝐹
𝑑 0,1
Ou seja, verificamos de fato a diminuição da capacitância com a diminuição da área de
superposição entre as placas do capacitor.
Figura 5: Variação da área de superposição das placas de um capacitor.

Figura 6: Variação da área de superposição das placas de um capacitor para medição de deslocamento angular.
c) Variação do dielétrico entre as placas do capacitor: Nesta última configuração,

tanto a distância d e a área de superposição entre as placas não se alteram. Agora, o dielétrico
entre as placas é variável. Isso é feito através de um dielétrico móvel, semelhante a um êmbolo,
sujeito ao deslocamento que se quer medir. Por exemplo, se o capacitor estiver no ar, cuja
permissividade dielétrica é ε0 = 8,84pF, e possuir um dielétrico com um dado ε, teremos que
uma parte da área entre as placas terá uma dada capacitância, enquanto a outra parte terá uma
capacitância diferente, resultando em variação da capacitância total do sensor. A figura 7 mostra
esta configuração: na parte superior, temos o dielétrico totalmente inserido entre as placas fixas
do capacitor, na parte inferior, o dielétrico sofreu um deslocamento x para a direita, fazendo
com que uma parte da área entre as placas seja preenchida com ar, com permissividade
dielétrica diferente. O aumento ou diminuição da capacitância do sensor devido ao
deslocamento do dielétrico móvel depende das permissividades dielétricas do êmbolo e do meio
onde o sensor está inserido. Este princípio também se aplica a sensores de proximidade. Neste
caso, o objeto que se quer detectar passa por entre as placas do capacitor, alterando a
permissividade dielétrica do sensor, e, consequentemente, sua capacitância.
Figura 7: Variação do dielétrico de um capacitor.
EXEMPLO: Seja o mesmo sensor capacitivo do exemplo anterior, com A = 12cm 2, d = 10cm e
dielétrico móvel com ε = 30pF/m. O meio onde o sensor está inserido é o ar. Qual a capacitância
do sensor em repouso e para um deslocamento x = 2cm do dielétrico, no mesmo sentido que o
mostrado na figura 7?
Como temos as mesmas dimensões e o mesmo dielétrico do exemplo anterior, a

capacitância do sensor em repouso é igual à calculada anteriormente, ou seja, 0,36pF. Agora,
vamos calcular a nova capacitância devido à alteração do dielétrico entre as placas. A distância
d não se altera. Agora temos que uma parte da área entre as placas tem capacitância
dependente do ar, e outra do dielétrico móvel. Como o êmbolo de deslocou 2cm para fora das
placas, temos que a largura da área desse “capacitor” é igual a 2cm, porém seu comprimento
agora é 4cm (6cm originais menos os 2cm do deslocamento), e, portanto, a área total A1 é de
8cm2. Consequentemente, a área A2 relativa ao ar é 4cm2. Assim, temos:
𝜀𝐴1 𝜀𝑜 𝐴2 30. 10−12 0,0008 8,85. 10−12 0,0004

𝐶 = + = + = 0,28𝑝𝐹
𝑑 𝑑 0,1 0,1
Para este exemplo, verificamos a diminuição da capacitância com o movimento do
êmbolo para fora das placas, pois este possui permissividade dielétrica maior que a do ar.
3) Ponte de Wheatstone para sensores capacitivos: Assim como para sensores

resistivos, a ponte de Wheatstone também pode ser empregada com capacitores variáveis a fim
de transformar sua variação de capacitância em uma variação de tensão correspondente. É
importante frisar aqui que a grande maioria dos sensores capacitivos, como os que estão
apresentados nos datasheets em anexo ao material desta aula, já possuem um condicionamento
de sinal embutido, e sua saída de sinal já é uma variação de tensão ou de corrente. Contudo, é
interessante analisarmos como a ponte de Wheatstone CC que estudamos em aulas passadas
pode ser modificada para incorporar capacitores variáveis; esta nova configuração será
chamada de ponte de Wheatstone CA. A figura 9 traz uma das possíveis configurações de uma
ponte de Wheatstone CA. Nela, vemos que os dois resistores superiores foram substituídos por
capacitores, sendo um deles variável. Como a ponte é CA, a fonte de alimentação agora é uma
senóide. Na situação de equilíbrio, temos:
𝑋𝐶1 𝑋𝐶2
=
𝑅 𝑅
ou
1 1
=
𝜔𝐶𝑅 𝜔𝐶𝑅
E a tensão de saída da ponte Vo é zero. Da equação acima, verificamos que a frequência
ω da fonte de alimentação Vin deve ser tal que garanta a capacitância nominal dos capacitores
em equilíbrio. Porém, se a capacitância do capacitor variável for alterada (como no caso dos
sensores que acabamos de estudar), a ponte irá sair do equilíbrio, pois a reatância capacitiva X C2
irá mudar. Isso faz surgir duas correntes distintas na ponte, I1 e I2:
𝑉𝑖𝑛
𝐼1 =
𝑅 + 𝑋𝐶1
𝑉𝑖𝑛
𝐼2 =
𝑅 + 𝑋𝐶2
A tensão de saída Vo pode ser expressa pela diferença entre as tensões dos capacitores
na parte superior da ponte:
𝑉𝑖𝑛 𝑋𝐶2 𝑉𝑖𝑛 𝑋𝐶1
𝑉𝑜 = −
𝑅 + 𝑋𝐶2 𝑅 + 𝑋𝐶1
E, portanto, o ganho de tensão deste circuito pode ser escrito como:

𝑉𝑜 𝑋𝐶2 𝑋𝐶1
= −
𝑉𝑖𝑛 𝑅 + 𝑋𝐶2 𝑅 + 𝑋𝐶1
Figura 8: Ponte de Wheatstone CA com capacitor variável.
4) Princípio básico de sensores indutivos: Assim como os sensores capacitivos, os

sensores indutivos são muito empregados como sensores de deslocamento lineares de alta
precisão. Seu funcionamento é baseado na equação da indutância:
µ𝐴𝑁 2
𝐿 =
𝑙
Onde L é a indutância do indutor, µ é sua permeabilidade magnética em H/m, A é a área

da seção transversal em m2, N é o número de espiras do indutor e l é o comprimento do seu
caminho magnético, em m. Se qualquer uma dessas variáveis for alterada, consequentemente
teremos a variação da indutância do sensor, que pode ser transformada em uma variação de
tensão proporcional.
5) Indutor linear variável diferencial (LVDI): O LVDI é um sensor indutivo que

possui uma bobina primária onde é aplicada uma tensão senoidal de excitação V in, e duas
bobinas secundárias A e B, nas saídas das quais são medidas as tensões V A e VB. A bobina
primária é enrolada no centro do sensor, enquanto as bobinas A e B estão nas extremidades.
Geralmente, a frequência da tensão de excitação varia entre 50Hz e 20kHz, com amplitudes
entre 1V a 24V RMS. Por entre as três boninas, temos um êmbolo móvel formado por um
material com alta permeabilidade magnética µr, e ar, acoplado ao objeto que se quer medir o
deslocamento. As tensões induzidas nas bobinas A e B através da tensão V in variam de acordo
com o deslocamento do êmbolo. As bobinas A e B são enroladas de forma a terem polaridades
opostas, e a tensão de saída do sensor V o é a diferença entre VA e VB. A seção transversal do
sensor é mostrada na figura 9, enquanto a figura 10 mostra um exemplo comercial de LVDI. Do
lado esquerdo temos um desenho das três bobinas e de como elas são posicionadas ao redor
do êmbolo, e, no lado direito, temos uma foto de um LVDI.
Figura 9: Indutor linear variável diferencial (LVDI).
Figura 10: LVDI comercial.

Figura 11: Amplitude da tensão de saída em função da posição do êmbolo. Fonte: site Analog Devices.
O princípio de funcionamento do LVDI é o seguinte: quando o êmbolo está exatamente

no centro das duas bobinas, as tensões induzidas por ambas são iguais e de polaridades opostas,
ou seja, Vo = 0V. À medida que o êmbolo se desloca para baixo (deslocamento x negativo), a
permeabilidade magnética total µ = µr µo da bobina A diminui, pois o êmbolo de grande
permeabilidade está se afastando da bobina A. Consequentemente, a tensão V A induzida na
saída da bobina A irá diminuir proporcionalmente, enquanto a tensão VB induzida na saída da
bobina B irá aumentar. Por outro lado, quando o êmbolo se move para cima (deslocamento x
positivo), temos o efeito oposto: a tensão VA induzida na saída da bobina A irá aumentar
proporcionalmente ao deslocamento, enquanto a tensão VB induzida na saída da bobina B irá
diminuir. A variação linear da amplitude de V o em função da posição é semelhante à mostrada
na figura 11.
Uma maneira de se condicionar o sinal de saída Vo do sensor LVDI é mostrada no circuito

esquemático da figura 12. As tensões das duas bobinas, VA e VB, são condicionadas por meio de
um circuito para extrair seu valor absoluto, ou seja, o módulo. Esse circuito pode ser
implementado como um retificador de onda completa. As formas de onda retificadas de cada
bobina são então passadas por filtros passa-baixa, a fim de filtrar eventuais ruídos de medida.
As saídas dos dois filtros são então subtraídas por meio de um circuito do tipo amplificador
diferencial, resultando na tensão de saída total Vo.
Figura 12: Diagrama esquemático de circuito de condicionamento de sinal para LVDI. Fonte: site Analog Devices.
Existem também soluções prontas especificamente projetadas para condicionamento

de sinais de LVDIs. Um exemplo é o CI AD598 da Analog Devices. A figura 5 mostra o circuito
esquemático simplificado de um LVDI e suas conexões com o CI AD598. O próprio AD598 fornece
a tensão de excitação Vin para a bobina primária, através de um oscilador integrado. O projetista
pode definir a frequência desta tensão. O CI também implementa os circuitos de retificação,
filtragem e subtração das tensões de saída das bobinas A e B, tendo como saída a tensão total
de saída Vo. A Analog Devices também possui outras opções de CIs para condicionamento de
sinal de diferentes tipos de LVDI, tais como o AD698. Os datasheets desses dois CIs, bem como
de um exemplo de LVDI, se encontram no material em anexo desta aula.
Figura 13: Diagrama esquemático de circuito de condicionamento de sinal para LVDI com o CI AD598. Fonte: site
Analog Devices.
DISCIPLINA DE ELETRÔNICA APLICADA E INSTRUMENTAÇÃO
CURSO DE ENGENHARIA ACÚSTICA E AEROESPACIAL – 2º SEMESTRE DE 2022
SENSORES DE TENSÃO E CORRENTE
Hoje iremos estudar sensores de grandezas elétricas, ou seja, tensão e corrente.

Diferentemente dos sensores anteriores, as saídas destes já são sinais de tensão ou corrente.
No material em anexo a esta aula, se encontram vários datasheets de sensores reais.
1) Sensores de corrente: Detectam a corrente que passa por um condutor,

gerando um sinal de saída em tensão ou corrente, proporcional à corrente medida. Os sensores
mais comumente usados em aplicações práticas são: transformador de corrente, sensor de
efeito Hall e bobina de Rogowski. Vamos descrever brevemente o funcionamento desses três
tipos de sensores de corrente.
a) Transformador de corrente (TC): Utilizado para medir correntes CA. A saída do

sensor, medida no secundário do transformador, é proporcional à entrada medida, segundo a
relação de transformação de corrente, como visto na figura 1. Não pode ser empregado para
medir correntes CC, devido à saturação do núcleo do transformador. Por serem capazes de
transformar correntes de grandes amplitudes em equivalentes de menor amplitude,
proporcionando ao mesmo tempo isolação galvânica, podem ser utilizados em aplicações de
controle, proteção e instrumentação.
Figura 1: Transformadores de corrente. Fonte: Wikipédia.
b) Sensores de efeito Hall: São bastante empregados em aplicações de

instrumentação para controle de processos, devido às suas características. Podem medir
correntes CA e CC, com grande banda passante, precisão e linearidade. Existem diferentes
configurações de sensores de corrente de efeito Hall, mas todas são baseadas no mesmo
princípio físico. Antes de estudarmos os sensores, vamos fazer uma breve revisão de como
funciona o efeito Hall. Este efeito consiste na geração de uma tensão diferencial, chamada
tensão Hall, através de um condutor elétrico (geralmente um semicondutor). A tensão Hall
resultante é transversal ao sentido da corrente que flui no condutor, e perpendicular ao campo
magnético associado à esta corrente elétrica. Isto é mostrado na figura 2, onde a tensão de
efeito Hall é denotada por VH, a corrente elétrica pelo condutor é I, e o campo magnético, B Z.
Em resumo, um sensor de efeito Hall é um sensor que varia sua tensão de saída em resposta a
um campo magnético. Assim, podemos usá-lo para medir correntes e tensões em circuitos.
Vamos ver agora alguns exemplos de sensores de corrente de efeito Hall.
Figura 2: Efeito Hall em um condutor. Fonte: Wikipédia.
i) Sensor de efeito Hall em malha fechada: Este sensor é composto por um núcleo
magnético com uma abertura no centro, por onde passa o condutor que conduz a corrente que
se quer medir. A figura 3 mostra um exemplo do sensor de corrente de efeito Hall LA-100P da
LEM, capaz de medir correntes CA de até ±150A. O sensor possui apenas três terminais:
alimentação em ±VCC e o sinal de saída M. O condutor com a corrente que se quer medir passa
pela abertura central na figura 3, sendo considerado o primário do sensor, e a corrente que
passa por ele é a corrente primária IP. No entreferro do núcleo magnético do sensor, é colocada
uma sonda de efeito Hall, mostrada na figura 4 (o quadrado em preto sólido no entreferro). A
corrente primária IP gera um fluxo magnético no primário do sensor, que é transformado na
tensão VH pela sonda de efeito Hall. O circuito eletrônico na saída da sonda amplifica a tensão
VH resultante e a converte em uma corrente secundária IS proporcional à VH. A corrente IS flui
então por um conjunto de espiras NS no secundário do sensor, gerando um fluxo secundário que
cancela os efeitos do fluxo primário. A corrente de saída do secundário I S é uma réplica
praticamente exata de IP em todos os instantes de tempo, sendo a saída do sensor. Desta forma,
o sensor de corrente de efeito Hall em malha fechada pode ser considerado um transformador
eletrônico de corrente com isolação galvânica entre o primário e o secundário, cujo sinal de
saída é uma corrente proporcional à corrente de entrada. Estes sensores conseguem medir uma
ampla gama de frequências, geralmente entre 0Hz (CC) a centenas de kHz, medindo valores
instantâneos e pulsos de corrente com alta precisão, linearidade, confiabilidade e com resposta
dinâmica rápida, o que os tornam muito atraentes para aplicações de controle de processos,
como, por exemplo, drives para controle de máquinas, inversores conectados à rede elétrica,
UPS, aplicações de energias renováveis, tração, etc. Por possuir um núcleo magnético, o sensor
está sujeito à saturação, ou seja, valores muito altos de corrente, acima da nominal, podem
saturar o núcleo, resultando em erros de medida ou até mesmo danificando o sensor. Desta
forma, geralmente podem medir correntes de até alguns poucos milhares de Ampères. Como
exemplo comercial, temos o sensor da LEM LA 100-P, que, como vimos, é capaz de medir
correntes CA de até ±150A, com relação de transformação de 1:2000, banda passante de 0Hz a
200kHz e precisão de ±0,45% (em relação ao valor nominal de corrente).
Figura 3: Sensor de corrente de efeito Hall em malha fechada LA 100-P. Fonte: Datasheet LEM.
Figura 4: Esquemático de sensor de corrente de efeito Hall em malha fechada. Fonte: Catálogo ABB.
ii) Sensor de efeito Hall em malha aberta: Deriva do sensor de efeito Hall em malha
fechada, porém seu circuito é mais simples. Externamente, o sensor é semelhante ao mostrado
na figura 3, sendo composto por um núcleo primário com uma abertura para a passagem do
condutor com a corrente que se quer medir, a corrente primária I P. Como mostrado no
esquemático da figura 5, este sensor também tem uma sonda de efeito Hall em seu entreferro,
e seu funcionamento é semelhante ao descrito anteriormente para o sensor de malha fechada.
A corrente primária IP gera um fluxo magnético, que é convertido pela sonda de efeito Hall na
tensão VH equivalente. O circuito de amplificação na saída da sonda amplifica essa tensão,
resultando na tensão VS secundária na saída do sensor. Note que não há realimentação da saída
de volta para o núcleo, como vimos no sensor de malha fechada, e por isso esse sensor é dito
em malha aberta. Assim, o sensor de corrente de efeito Hall em malha aberta pode ser
considerado um transformador eletrônico de corrente com isolação galvânica entre o primário
e o secundário, cujo sinal de saída é uma tensão proporcional à corrente de entrada. Estes
sensores conseguem medir uma gama menor de frequências de corrente quando comparados
com os sensores em malha fechada, geralmente entre 0Hz (CC) a dezenas de kHz. Embora a
banda passante seja menor, estes sensores geralmente são mais baratos. Podem medir valores
instantâneos e pulsos de corrente com alta precisão, linearidade, confiabilidade e com resposta
dinâmica rápida. Suas aplicações são basicamente as mesmas que o sensor de corrente de efeito
Hall em malha fechada, e também estão sujeitos à saturação magnética do núcleo.
Figura 5: Esquemático de sensor de corrente de efeito Hall em malha aberta. Fonte: Catálogo ABB.
iii) Sensor de efeito Hall eletrônico: Ao contrário dos dois casos anteriores, este sensor não
possui um núcleo magnético com entreferro, não estando sujeito à saturação e,
consequentemente, sendo capaz de medir correntes de algumas dezenas de milhares de
Ampères, mas ao custo de precisão inferior à dos sensores Hall de malha aberta e fechada. Isso
faz com que sejam muito empregados em aplicações de altas potências, como em subestações,
e não em aplicações de controle de processos, onde uma grande precisão é necessária. O sensor
também possui uma abertura por onde passa o condutor com a corrente primária IP que se quer
medir, como mostrado na figura 6. Contudo, não temos agora uma sonda de efeito Hall no
entreferro, mas sim um conjunto de sondas de efeito Hall diferenciais igualmente espaçadas ao
longo da abertura, como mostrado na figura 7. A corrente primária IP gera um fluxo magnético
no primário, que é medido pelo conjunto de sondas de efeito Hall diferenciais. O circuito
eletrônico na saída de todas essas sondas condiciona a trata os sinais de cada sonda (soma e
amplificação), disponibilizando duas saídas de corrente (IS1 e Is2) e duas de tensão (VS1 e Vs2), que
são proporcionais à corrente medida no primário. Também é capaz de medir correntes desde
0Hz até algumas dezenas de kHz, bem como pulsos de corrente.
Figura 6: Sensor de corrente de efeito Hall eletrônico. Fonte: Catálogo ABB.
Figura 7: Esquemático de sensor de corrente de efeito Hall eletrônico. Fonte: Catálogo ABB.
c) Bobina de Rogowski: Muito utilizada para medir correntes CA, pulsos muito
rápidos de corrente e correntes harmônicas, devido a sua baixa indutância, porém não consegue
medir correntes CC. Consiste em uma bobina helicoidal, com o cobre de uma extremidade
retornando pelo centro da bobina até a outra extremidade, fazendo com que os dois terminais
estejam do mesmo lado da bobina. Não há núcleo de ferro no sensor, fazendo com que este
dispositivo seja altamente linear, não ocorrendo saturação devido à variação do fluxo
magnético. A densidade do fio que constitui a bobina e a rigidez do enrolamento são muito
importantes para garantir a imunidade do sensor a ruídos externos, garantindo também baixa
sensibilidade à posição que o sensor será colocado junto ao condutor que se quer medir a
corrente, pois a bobina é “enrolada” ao redor deste condutor, como mostrado na figura 8.
Vemos também na figura 8, que a saída do sensor é uma tensão secundária VS; contudo, VS é
proporcional à taxa de variação da corrente IP, e não à corrente IP instantânea:
𝐴𝑁µ𝑜 𝑑𝑖𝑃 (𝑡)
𝑣𝑆 (𝑡) = −
𝑙 𝑑𝑡
Onde A é a área dos loops da bobina, N é o número de espiras da bobina e l = 2πr é o

comprimento do enrolamento, sendo r o raio do toróide da bobina, como mostrado na figura 9.
A figura 10 mostra uma bobina de Rogowski comercial, da Fluke. Assim, para termos uma saída
proporcional à corrente de entrada instantânea, usualmente VS é condicionada por meio de um
circuito integrador, como mostrado na figura 9. Desta forma, a saída de tensão passa a ser
proporcional à corrente do condutor:
𝐴𝑁µ𝑜
∫ 𝑣𝑆 (𝑡) = − 𝑖𝑃 (𝑡)
𝑙
Figura 8: Bobina de Rogowski enrolada em fio condutor. Fonte: Texas Instruments.
Figura 9: Bobina de Rogoski e seu circuito de condicionamento por meio de um integrador.

Figura 10: Bobina de Rogowski comercial. Fonte: Catálogo Fluke.
1) Sensores de tensão: Detectam a tensão sobre dois terminais de um circuito, seja

diferencial ou em relação ao terra, gerando um sinal de saída em tensão ou corrente,
proporcional à tensão medida. Os sensores mais comumente usados em aplicações práticas são:
transformador de tensão, sensor de efeito Hall e sensor eletrônico. Vamos descrever
brevemente o funcionamento desses sensores de tensão.
a) Transformador de tensão: Utilizado para medir tensões CA. A saída do sensor,

medida no secundário do transformador, é proporcional à entrada medida, segundo a relação
de transformação de tensão, da mesma forma que vimos para o transformador de corrente. Não
pode ser empregado para medir tensões CC, devido à saturação do núcleo do transformador.
Por serem capazes de transformar tensões de grandes amplitudes em equivalentes de menor
amplitude, proporcionando ao mesmo tempo isolação galvânica, podem ser utilizados em
aplicações de controle, proteção e instrumentação.
b) Sensor de efeito Hall em malha fechada: O princípio de operação do sensor de

tensão de efeito Hall em malha fechada é muito semelhante ao já apresentado para o sensor de
corrente, com algumas particularidades. A tensão primária a ser medida, U p, é aplicada nos
terminais HT+ e HT-, como mostrado na figura 11. Uma resistência em série RE deve ser inserida
na entrada do sensor, gerando a corrente primária I P, que é proporcional à tensão de entrada
Up. Esta resistência deve ser inserida na entrada do sensor para limitar a corrente que flui para
dentro de seus terminais de entrada, caso contrário, o sensor poderá queimar. A corrente I P gera
então um fluxo magnético no primário, da mesma forma que o sensor de corrente de efeito Hall.
A sonda de efeito Hall no entreferro do sensor converte o fluxo medido na tensão VH. O circuito
eletrônico na saída da sonda amplifica a tensão VH resultante e a converte em uma corrente
secundária IS proporcional à VH. A corrente IS flui então por um conjunto de espiras NS no
secundário do sensor, gerando um fluxo secundário que cancela os efeitos do fluxo primário. A
corrente de saída do secundário IS é uma réplica praticamente exata de IP em todos os instantes
de tempo, sendo a saída do sensor. Desta forma, o sensor de tensão de efeito Hall em malha
fechada pode ser considerado um transformador eletrônico de tensão com isolação galvânica
entre o primário e o secundário, cujo sinal de saída é uma corrente proporcional à tensão de
entrada. Podem medir tensões CC e CA instantâneas, e pulsos de tensão. Aplicações incluem
drives para controle de máquinas, inversores conectados à rede elétrica, UPS, aplicações de
energias renováveis, tração, etc. (as mesmas que o sensor de corrente de efeito Hall em malha
fechada). A figura 12 mostra um exemplo de sensor de tensão de efeito Hall em malha fechada,
o sensor da LEM LV 25-P. Este sensor mede tensões de entrada de até 500V, sendo que a
corrente máxima de entrada é de até ±14mA, com precisão de ±0,9%. O datasheet do sensor
informa como calcular a resistência de entrada RE.
Figura 11: Esquemático de sensor de tensão de efeito Hall em malha fechada. Fonte: Catálogo ABB.
Figura 12: Sensor de tensão de efeito Hall em malha fechada LV 25-P. Fonte: Datasheet LEM.
c) Sensor eletrônico: Como o sensor eletrônico de corrente, não faz uso de

materiais magnéticos, e, desta forma, não é sensível à saturação do núcleo. Também medem
tensões CC e CA instantâneas, e pulsos de tensão. Assim como para o caso anterior, a tensão
primária a ser medida, Up, é aplicada nos terminais HT+ e HT-, como mostrado na figura 13. A
entrada é então inserida em um amplificador de isolação, interno ao sensor, que transforma a
tensão de entrada em uma outra tensão de saída condicionada (ou corrente, dependendo do
sensor), ao mesmo tempo provendo isolação galvânica entre entrada e saída. Este sensor é
muito empregado em aplicações de alta potência, onde devem ser medidas tensões da ordem
de dezenas de kV. A figura 14 mostra um exemplo de sensor comercial da LEM, o CV3-2000,
capaz de medir até 2kV na entrada.
Figura 13: Esquemático de sensor de tensão eletrônico. Fonte: Catálogo ABB.
Figura 14: Sensor de tensão eletrônico CV3-2000. Fonte: Datasheet LEM.

CURSOS DE ENGENHARIA ACÚSTICA – 2º SEMESTRE DE 2022
SENSORES PIEZOELÉTRICOS, TERMOPARES E ENCODERS
Na aula de hoje, iremos estudar três tipos de sensores de grandezas não-elétricas ativos,
ou seja, cuja saída já é um sinal de tensão proporcional à variável que se quer medir. Iremos
apresentar aqui uma breve descrição de sensores piezoelétricos (medida de pressão, forças e
deslocamentos), termopares (medida de temperatura) e encoders (velocidade e posição
angulares).
1) Sensores piezoelétricos: São sensores lineares, capazes de medir deslocamento,

pressão, aceleração, vibração, etc. São compostos por cristais como quartzo, turmalina,
zirconato e titanato, que, quando são comprimidos, distendidos, ou sofrem algum tipo de
pressão, são capazes de gerar cargas elétricas em sua superfície. Este fenômeno é conhecido
como piezoeletricidade. Estes sensores são muito empregados para medir tensões dinâmicas
(variações de tensão). O cristal piezolelétrico pode ser considerado um capacitor, que gera uma
diferença de potencial à medida que sua superfície é comprimida ou distorcida. A quantidade
de carga gerada depende da natureza do cristal (sua constante piezoelétrica) e do deslocamento
sofrido por este, sendo, então, uma medida tanto do deslocamento quanto da pressão entre os
dois lados do cristal piezoelétrico. A variação de carga na superfície do cristal dá origem a uma
tensão de saída (geralmente de pequena amplitude), que é proporcional ao deslocamento
sofrido. Contudo, devido à natureza construtiva dos cristais, estes são sensores com alta
impedância de saída, necessitando de circuitos especiais de condicionamento de sinal.
A figura 1 mostra uma foto de um sensor piezoelétrico, seu símbolo esquemático e duas
possíveis representações: modelo de carga e modelo de tensão. O modelo de carga mostrado
do lado esquerdo da figura 1 representa o cristal piezoelétrico como uma fonte de carga qp, em
paralelo com um resistor Rp e um capacitor Cp. A tensão nos terminais do sensor, dependente
do deslocamento, é dada por Vp. O modelo de tensão, mostrado no centro da figura 1, por sua
vez, modela o cristal como uma fonte de tensão Vp em série com o paralelo de Rp e Cp, sendo
que a tensão de saída nos terminais do sensor continua sendo Vp. A partir desses dois modelos,
vamos ver dois tipos de circuitos de condicionamento de sinal para a saída de tensão V p. Outra
questão importante, também mostrada na figura 1, é a resposta em frequência do sensor
piezoelétrico. Podemos ver que, em baixas frequências, o sensor se comporta como um filtro
passa-alta, e, nas altas frequências, temos uma ressonância causada pela resistência e
capacitância internas do sensor. Entre esses limites, temos uma região “plana”, ou seja, uma
banda-passante, que corresponde às frequências nas quais podemos operar o sensor. Por isso,
a análise em frequência do sensor piezoelétrico é muito importante.
Figura 1: Foto de sensor piezoelétrico, símbolo esquemático e modelo de a) carga e b) tensão. Fontes: “Signal
Conditioning Piezoelectric Sensors” – Texas Instruments e https://www.avnet.com/ .
Vamos estudar aqui o modelo de carga. O circuito de condicionamento é mostrado na

figura 2, onde o capacitor Cc representa a capacitância parasita do condutor de interface do
sensor com o resto do circuito. Este circuito é composto por um amplificador de carga, que nada
mais é do que um circuito integrador, que, na figura 2, é formado pelo resistor de entrada R i e o
capacitor de realimentação Cf. O resistor de entrada protege o amp-op, limitando a corrente
que irá passar pela entrada inversora. Um integrador real ainda inclui o resistor Rf em paralelo
com Cf; este resistor impede que a corrente de polarização CC do amp-op carregue Cf, pois esta
corrente CC iria carregar Cf indefinidamente, levando o amp-op à saturação. Desta forma, este
circuito controla a carga injetada na entrada inversora do amp-op por meio da carga do
capacitor de realimentação Cf, com uma taxa de carga lenta, a fim de evitar a saturação do amp-
op. Algo interessante de se notar é que a entrada não-inversora do amp-op não está aterrada,
como é usual em circuitos integradores convencionais, mas sim conectada na metade do valor
da tensão CC de alimentação do circuito. Isso faz com que a saída de tensão do amp-op, Vo,
esteja contida entre 0V e V cc, e não ±Vcc, como usualmente ocorre (ou seja, o sinal de saída irá
oscilar em torno de Vcc/2, e não de 0V). Esta é uma forma simples de se inserir offset em um
sinal de tensão. Das equações básicas do capacitor, sabemos que sua tensão pode ser expressa
como a relação entre a variação de carga e sua capacitância. Assim, a tensão de saída do circuito,
Vo, é escrita como:
Δ𝑄 𝑉𝑐𝑐
𝑉𝑜 = +
𝐶𝑓 2
Onde o termo Vcc/2 representa o offset de tensão inserido no sinal.

Vamos agora analisar a resposta em frequência deste circuito. Isto é importante, pois o
cristal piezoelétrico é capaz de gerar tensões de saída com várias componentes de frequência.
O resistor Rf em paralelo com Cf atua como uma rede passa-alta, cuja frequência de corte fc é
(mostrada no gráfico da resposta em frequência do circuito, na parte inferior da figura 2):
1
𝑓𝑐 =
2𝜋𝑅𝑓 𝐶𝑓
Da equação da tensão de saída Vo, podemos ver que o ganho do circuito é dado por 1/Cf.
Portando, devemos escolher um valor para Rf que resulte na frequência de corte desejada e que,
ao mesmo tempo, não prejudique o funcionamento do integrador. Geralmente, R f assume
valores grandes, na casa de 1MΩ, podendo variar entre 100kΩ a 10MΩ. Por outro lado, a
capacitância do condutor, expressa por Cc, juntamente com o resistor de entrada Ri e a
capacitância Cp do sensor, se combinam para formar uma rede passa-baixa, com frequência de
corte igual a:
1
𝑓𝑐 =
2𝜋𝑅𝑖 (𝐶𝑝 + 𝐶𝑐 )
Na maior parte das aplicações, a rede passa-baixa não irá afetar os sinais de interesse,
pois sua frequência de corte se encontra bem acima das frequências que o sensor piezoelétrico
é capaz de sintetizar; contudo, é importante saber que esse fenômeno pode ocorrer.
Figura 2: Circuito de condicionamento de sinal para sensor piezoelétrico utilizando o modelo de carga. Fonte: “Signal
Conditioning Piezoelectric Sensors” – Texas Instruments.
2) Termopares: São sensores ativos de temperatura, compostos por dois metais

diferentes unidos por junções. Quando o termopar é sujeito a uma temperatura, produz em seus
terminais de saída uma força contra-eletromotriz (FEM), resultante da diferença de temperatura
nas junções destes dois metais distintos. Três fenômenos físicos ocorrem ao mesmo tempo no
termopar, a fim de gerar uma FEM como resposta a uma temperatura de entrada: Efeito Peltier,
que explica como um par de metais pode difundir elétrons um no outro; Efeito Thmpson, que
explica como uma haste aquecida diferentemente em suas duas extremidades desenvolve uma
FEM (tensão) entre estes pontos; e Efeito Seebeck, que é a associação dos dois efeitos
anteriores. Existem diversas combinações de metais em termopares convencionais, com
diferentes limites de temperatura de operação, bem como de sensibilidade da tensão de saída,
mas todos são sensores lineares. Duas das combinações mais comuns são constantan-ferro e
alumel-cromo (constantan e alumel são ligas de metais). A figura 4 mostra o esquemático de um
termopar, com os dois metais, A e B, e as junções dos mesmos. Na parte inferior da figura, temos
as combinações mais comuns de metais (denominadas por letras em maiúsculo) e suas
respectivas temperaturas de operação em °C e sensibilidades em mV/°C. O gráfico da direita
mostra a variação altamente linear da tensão de saída do sensor com a variação de temperatura.
Para comparação, recorde as curvas dos termistores, que eram altamente não-lineares, porém
mais baratos do que termopares. A escolha de qual termopar utilizar depende dos limites de
temperatura que se deseja medir, bem como da precisão desejada das medidas (relacionada
com a sensibilidade do sensor: quanto menor o valor mostrado na tabela, mais sensível é o
sensor a uma dada variação de temperatura). A figura 5 mostra um termopar comercial. A parte
metálica é sujeita à variação de temperatura que se quer medir, enquanto os dois fios na
extremidade oposta são os terminais de saída onde se mede a tensão resultante.
Figura 3: Esquemático de um termopar, curvas de temperatura x FEM, e tabela com parâmetros de diferentes
termopares. Fonte: Willian Bolton, “Instrumentation and Control Systems”.
Figura 4: Termopar comercial.

A figura 6 mostra um esquemático das ligações de um termopar composto por dois
metais, A em vermelho e B em verde. A parte metálica que vemos na figura 5 corresponde à
junção quente do sensor, onde os dois metais estão fisicamente conectados, ou seja, ambos
estão sujeitos à mesma temperatura. Nas extremidades opostas do termopar, que estão livres
e são chamadas de junções frias, é medida a tensão proporcional à temperatura. A extremidade
livre do metal B é colocada em 0°C, a referência de temperatura. Como os dois metais tem
características diferentes, as tensões nas suas respectivas extremidades também são diferentes,
resultando na tensão medida. Aqui temos um problema: se a junção fria do metal B não estiver
efetivamente em 0°C, teremos uma medida errada na tensão. Para corrigir isso, podemos fazer
três coisas: colocar de fato a junção do metal B em 0°C, o que é praticamente impossível
fisicamente; fazer uma compensação matemática da medida, que pode resultar em imprecisões;
ou utilizar um CI projetado especificamente para fazer a compensação de temperatura de
termopares, resultando em uma medida correta da tensão de saída do sensor.
Figura 5: Esquemático das ligações de um termopar.
Das três possibilidades elencadas acima, a utilização de um CI é a mais prática. Existem

CIs comerciais especialmente projetados para essa aplicação, como é o caso do AD594 e do
AD595, cujo esquemático é mostrado na figura 7. A operação deste CI é simples. Os terminais
do termopar são conectados aos pinos 1 e 14 do CI, que, neste exemplo, é alimentado em Vcc e
terra (single supply). A tensão de saída do termopar é amplificada por dois estágios, um com
ganho G aplicado por um amp-op diferencial logo na entrada do CI, e outro com ganho A, na
saída. A saída de sinal é disponibilizada no pino 9. Para que ocorra compensação de
temperatura, o pino 9 deve ser conectado externamente ao pino 8, que é a entrada do circuito
de realimentação para compensação de temperatura, realizada pelo bloco “Ice Point
Compensation” na parte inferior direita da figura 7. A saída desse bloco de compensação é
amplificada com o mesmo ganho G e é somada com a tensão do termopar, como visto no meio
da figura. Este sinal compensado é então amplificado novamente pelo bloco A, resultando na
tensão de saída correta. O datasheet em anexo explica em detalhes o funcionamento do CI, e
apresenta alguns exemplos de implementação.
Figura 6: Esquemático do AD594/595. Fonte: Datasheet Analog Devices.
3) Encoders: Encoders são sensores capazes de medir deslocamento, posição e

velocidade, angulares ou lineares. Geralmente, suas saídas já são sinais digitais, ao contrário dos
sensores analógicos que discutimos até agora. São muito empregados em aplicações de controle
de máquinas, onde a velocidade de rotação do eixo deve ser medida. Existem dois tipos
principais de encoders, que iremos discutir brevemente aqui: encoders incrementais e
absolutos.
a) Encoder incremental: Detecta variações na posição de uma variável auxiliar, e
não a posição real do eixo, ou seja, detecta mudanças de posição. O esquemático do sensor é
mostrado na figura 8. Este sensor é formado por dois discos: um fixo com uma única abertura,
e um móvel, acoplado ao eixo que se quer medir a velocidade/posição, e que gira juntamente
com este eixo. Este segundo disco possui múltiplas aberturas, igualmente espaçadas entre si.
Como visto na figura 8, existe um emissor de feixes de luz atrás da abertura do eixo fixo, e, atrás
do eixo rotatório, temos um detector de luz (um circuito com fotodiodos, por exemplo – ver
disciplina de eletrônica I). À medida que o disco rotatório gira junto com o eixo, o feixe de luz
passa pelas aberturas, gerando um trem de pulsos na saída do sensor, como mostrado na figura
9. O nível lógico alto nos pulsos corresponde ao feixe luminoso passando por uma abertura e
gerando uma tensão na saída do receptor de luz; o nível lógico baixo corresponde à parte opaca
do disco que bloqueia a luz do receptor, gerando em sua saída 0V. O número de pulsos na tensão
de saída é proporcional ao ângulo do eixo, ou seja, sua posição. O número de pulsos contados é
equivalente ao deslocamento angular, resultando no mesmo número, independentemente da
posição inicial do eixo (por isso o nome incremental, e não absoluto, como veremos na
sequência). Geralmente, o número de aberturas no eixo rotatório varia de 60 até milhares,
sendo que, quanto maior o número de aberturas, maior a resolução do encoder. Por exemplo,
um encoder com 60 janelas possui resolução angular de 360°/60 = 6°. Uma desvantagem do
encoder incremental é a dificuldade de detectar o sentido do movimento, pois os pulsos gerados
pelo deslocamento em um sentido são iguais aos no sentido oposto. Para resolver esse
problema, podem ser usadas duas fitas no disco móvel do sensor, onde as aberturas estão
levemente deslocadas umas das outras, como mostrado na figura 10. Quando o sensor gira num
sentido, as aberturas de uma faixa cortam o sensor um pouco antes do que as aberturas do
outro; esse deslocamento angular entre as aberturas indica a direção do movimento. O encoder
incremental é mais simples e barato do que o absoluto, como iremos ver, mas o segundo possui
uma resposta melhor e, por isso, é mais empregado em aplicações práticas.
Figura 7: Encoder incremental. Fonte: Willian Bolton, “Instrumentation and Control Systems”.
Figura 8: Trem de pulsos na saída de um encoder incremental. Fonte: www.newtoncbraga.com.br

Figura 9: Encoder incrementacom disco móvel com suas fitas. Fonte: www.newtoncbraga.com.br
b) Encoder absoluto: Diferentemente do encoder incremental, o absoluto

consegue medir a posição verdadeira do eixo ao qual está acoplado, facilitando a medida de sua
velocidade angular. Este sensor é formado por um único disco móvel com várias aberturas, como
mostrado na figura 11. As aberturas estão dispostas em círculos concêntricos, e cada um possui
um detector de feixes de luz associado, que não gira em conjunto com o eixo. As aberturas são
arranjadas de forma tal a fazer com que a saída do sensor seja um número binário, que
representa a posição angular absoluta do eixo. A figura 12 mostra a vista lateral do disco e dos
receptores de luz fixos do lado oposto, e a figura 13 mostra exemplos de encoders comerciais.
Para facilitar o entendimento do funcionamento deste sensor, a figura 11 mostra um exemplo
de encoder absoluto com quatro círculos concêntricos, onde cada um representa um dígito de
um número binário de quatro dígitos. Com quatro dígitos, podemos representar 24 = 16
posições, ou seja, temos resolução angular igual a 360°/16 = 22,5°. As aberturas correspondem
às partes claras dos círculos, sendo as escuras a parte opaca dos mesmos. Se observarmos o
padrão de aberturas no encoder da figura 11, vemos que estas estão configuradas de forma a
se obter na saída de sensor um número binário escrito em forma de código de Gray. O código
de Gray é geralmente empregado em encoders absolutos, pois temos apenas uma comutação
entre um número e outro, diferentemente do código binário convencional. Por exemplo, a
ordem do código binário convencional para quatro dígitos é 0000, 0001, 0010, 0011, etc,
enquanto no código de Gray temos 0000, 0001, 0011, 0010, etc. Encoders comerciais típicos
possuem no mínimo entre 10 e 12 faixas. Um encoder de 10 faixas pode representar 210 = 1024
posições, com resolução angular de 360°/1024 = 0,35°, enquanto um encoder de 12 faixas pode
representar 212 = 4096 posições, com resolução angular de 360°/1024 = 0,08°. Embora os
encoders incremental e absoluto possuam diferenças, ambos os sensores tem como saída um
sinal que já é digital, facilitando a comunicação destes sensores com um processador, como
iremos estudar mais no final desta disciplina.
Figura 10: Encoder absoluto com quatro círculos concêntricos e código de Gray. Fonte: www.newtoncbraga.com.br
Figura 11: Vista lateral de um encoder absoluto com quatro círculos concêntricos. Fonte: Willian Bolton,
“Instrumentation and Control Systems”.
Figura 12: Exemplos de encoders comerciais.
DISCIPLINA DE ELETRÔNICA APLICADA E INSTRUMENTAÇÃO
CURSO DE ENGENHARIA ACÚSTICA E AEROESPACIAL – 2º SEMESTRE DE 2022
INTRODUÇÃO À INSTRUMENTAÇÃO DIGITAL
Até agora, trabalhamos com circuitos e sensores para sinais puramente analógicos. A
partir da aula de hoje, iremos começar a trabalhar com instrumentação digital. Iremos estudar
como condicionar os sinais de saída dos sensores que estudamos a fim de que os mesmos
possam ser lidos por um conversor AD e processados dentro de um processador digital de sinais,
como, por exemplo, o Arduíno. Antes de mais nada, convém revisar os conceitos de sinais
contínuos e discretos.
a) Sinais contínuos: são sinais que existem, ou seja, são definidos, para todo tempo
t (contínuos no tempo). A amplitude destes sinais pode assumir valores contínuos, existindo
para todo e qualquer valor (contínuos em amplitude), como mostrado na Figura 1a, ou podem
assumir apenas valores específicos, ou seja, quantizados (discretos) em amplitude, como
mostrado na Figura 1b. Os sinais da Figura 1a também são geralmente denominados sinais
analógicos, por serem contínuos no tempo e na amplitude.
b) Sinais discretos: são sinais que existem apenas em instantes definidos de tempo
t, ou seja, são sinais amostrados (ver as disciplinas de Sinais e Sistemas e Controle II). Podem ser
discretos no tempo porém assumir qualquer valor de amplitude, como na Figura 1c, ou ser
discretos no tempo e na amplitude, como na Figura 1d. Este último caso representa um sinal
amostrado e quantizado, e são os sinais encontrados dentro de processadores, sendo, por isso,
também chamados de sinais digitais. Dentro dos processadores, usualmente são representados
por números binários.
A partir de agora, iremos trabalhar com dois conceitos muito importantes, que
apareceram nos parágrafos anteriores: amostragem e quantização. O processo de amostragem
já é conhecido, sendo estudado em maiores detalhes nas disciplinas de “Sinais e Sistemas” e
“Controle II”, e, portanto, iremos apenas aplicá-lo na nossa disciplina. A amostragem transforma
um sinal contínuo no tempo em um sinal discreto no tempo, que existe apenas nos instantes de
amostragem. Esses instantes são determinados pela frequência de amostragem do sinal, fs, que,
na maioria das vezes, é fixa. Entre dois instantes de amostragem, o sinal discreto resultante não
contém informação sobre o sinal de entrada que o gerou. Quanto maior a frequência de
amostragem, mais resolução teremos no sinal amostrado, e mais ele irá se parecer com o sinal
contínuo original. Mais adiante, iremos ver como escolher f s de maneira adequada para uma
dada aplicação. À medida que fs se aproxima do infinito, mais o sinal amostrado irá se parecer
com o sinal contínuo original. Na prática, existem fatores que limitam a frequência de
amostragem que podemos empregar como, por exemplo, a máxima fs que um dado processador
é capaz de implementar. Isso faz com que o sinal amostrado possua banda passante limitada.
Por outro lado, a quantização transforma um sinal contínuo em amplitude em um sinal discreto
em amplitude. A quantização está relacionada com o número de bits do processador: quanto
mais bits o processador possui para representar dados, mais “degraus” de amplitude, ou valores,
ele pode representar, aumentando a resolução da representação dos dados. Por exemplo, um
processador de 8 bits pode representar 28 = 256 valores, enquanto um processador com 12 bits
pode representar 212 = 4096 valores, com uma resolução muito maior. À medida que o número
de bits do processador tende ao infinito, o sinal quantizado se parece cada vez mais com o sinal
contínuo original. Contudo, sabemos que é impossível um processador trabalhar com frequência
de amostragem infinita, bem como ter um número infinito de bits. Disso decorre que sempre
teremos erros associados à instrumentação digital.
Figura 1: Tipos de sinais. Fonte: K. Ogata, B. V. Veen, “Discrete-time control systems”.
O fato de termos sinais de diferentes naturezas também faz com que tenhamos
instrumentações apropriadas para as diferentes naturezas dos sinais. A instrumentação
analógica já é nossa conhecida, pois estamos trabalhando com ela desde o início da disciplina.
A figura 2 traz um exemplo que já estudamos, de um sensor analógico de temperatura do tipo
termopar. O calor aquece o líquido onde o termopar está inserido, modificando a temperatura
deste. Consequentemente, a tensão de saída nos terminais do termopar varia de acordo com a
variação da temperatura. Esta tensão geralmente é muito pequena, como vimos, sendo então
passada por um circuito de condicionamento de sinais, que pode, por exemplo, utilizar amp-ops
para inserir ganho na tensão de entrada. A saída desse circuito é uma tensão analógica
amplificada, contínua no tempo e na amplitude, como mostrado no gráfico na parte inferior
direita. Neste exemplo, tudo é analógico: o sensor, o circuito de condicionamento (que pode
incluir resistores, amp-ops, capacitores, transistores, etc – componentes passivos e ativos), e os
sinais são analógicos em todas as etapas do circuito, desde a medição pelo sensor até o
condicionamento. Um problema da instrumentação analógica é a imprecisão referente aos
componentes: por exemplo, circuitos de amplificação são baseados em amp-ops e resistores, e
os resistores podem ter seus valores alterados devido à temperatura, as resistências reais não
são exatamente iguais às ideais, etc.
Por outro lado, a figura 3 mostra um exemplo de instrumentação digital, onde o sensor
é um encoder incremental. Como estudamos, a saída do encoder incremental é um trem de
pulsos digital, onde um sinal alto significa que a luz do transmissor passou por entre uma das
aberturas do eixo rotativo do sensor, e um sinal baixo significa que a luz foi bloqueada pela parte
opaca do sensor. Este trem de pulsos digital é então processado por um circuito digital como
um contador ou registrador, que mostra na saída um sinal que pode ser a posição ou velocidade
do eixo, por exemplo. Porém, independentemente da natureza do sinal de saída, ele precisa
passar por algum tipo de condicionamento de sinal.
Figura 2: Exemplo de instrumentação analógica com termopar. Fonte: www.electronics-tutorials.ws
Figura 3: Exemplo de instrumentação digital com encoder. Fonte: www.electronics-tutorials.ws
Vamos começar a estudar um sistema completo de conversão analógico-digital, como o

mostrado na figura 4. Aqui, temos um sinal de entrada x(t) contínuo no tempo. Este sinal é
passado por um filtro anti-aliasing, que iremos estudar a seguir, um circuito sample-and-hold
(SH) e por fim um conversor analógico-digital, ou A/D, resultando no sinal discreto (ou digital)
𝑥̂(𝑡) dentro de um processador. O filtro anti-aliasing é um filtro passa-baixa que retira
componentes de alta frequência do sinal de entrada; o SH é o amostrador que amostra o sinal
x(t) e o transforma em um sinal discreto na amplitude, com uma dada frequência de
amostragem fs; por fim, o conversor A/D converte o sinal analógico x(t) amostrado pelo SH em
um sinal discreto. Vamos a partir de agora estudar cada um desses elementos do circuito de
conversão A/D. Cabe lembrar que, na maioria dos casos, antes do filtro anti-aliasing temos mais
alguns circuitos de condicionamento de sinal, que iremos estudar em outras aulas.
Figura 4: Sistema de conversão A/D. Fonte: David A. Rauth, Vincent T. Randal "Analog-to-Digital Conversion"
1) Filtro anti-aliasing: O fenômeno de aliasing é estudado nas disciplinas de “Sinais e

Sistemas” e “Controle II”, surgindo da própria amostragem do sinal original. Como já visto nas
disciplinas citadas, o processo de amostragem replica o espectro do sinal analógico original em
frequências múltiplas da frequência de amostragem fs, como mostrado na figura 5. Nesta figura,
temos que o espectro central Xf(f) é o espectro do sinal original, centrado em zero e com banda
passante indo de +fmax a -fmax, ou seja, essas são as frequências que estão contidas no sinal
original x(t). Na parte superior da figura 5, podemos ver que as réplicas espectrais estão bem
espaçadas umas das outras, não havendo superposição das mesmas. Assim, é possível
reconstruir de forma adequada o sinal original x(t) dentro do processador. Porém, se a
frequência de amostragem for escolhida de maneira errada, as réplicas espectrais se
sobrepõem. Na parte inferior da figura 5, podemos ver que as baixas frequências da réplica
espectral em fs se sobrepõem às altas frequências do espectro original centrado em zero, e o
mesmo ocorre com a réplica espectral em -fs, e assim sucessivamente. Essa superposição de
espectros é o fenômeno de aliasing, que impossibilita a reconstituição adequada do sinal original
x(t) dentro do processador, pois a superposição das frequências distorce o sinal lido pelo
processador. Para se evitar o aliasing, é necessário escolher uma frequência de amostragem
adequada para amostrar o sinal de entrada, ou seja, fs deve ser no mínimo duas vezes maior que
a máxima frequência contida no sinal analógico x(t) que se quer amostrar. Este é o famoso
critério de amostragem de Nyquist. Uma boa regra prática é escolher fs como dez vezes maior
que a maior frequência contida em x(t), ou seja:
𝑓𝑠 = 10𝑓𝑚𝑎𝑥
Se o critério de Nyquist for satisfeito, o sinal digital não apresentará distorções, e o sinal
original conseguirá ser reconstruído corretamente dentro do processador. Isso também pode
ser visto na figura 6. Na parte superior da figura, temos um sinal senoidal que foi amostrado
com uma frequência que satisfaz Nyquist. A amostras são os pontos pretos no sinal original.
Desta forma, o sinal original pode ser reconstruído de forma adequada. Por sua vez, na parte
inferior da figura, o mesmo sinal senoidal original é amostrado com uma frequência muito baixa,
não satisfazendo Nyquist. Notem que o sinal reconstruído é um sinal em baixa frequência,
totalmente diferente do sinal original. Esta é a visualização do fenômeno do aliasing.
Figura 5: Fenômeno do aliasing. Fonte: David A. Rauth, Vincent T. Randal "Analog-to-Digital Conversion"
Figura 6: Formas de onda de sinais reconstruídos sem e com aliasing.

Agora vamos supor que nós escolhemos a frequência de amostragem correta para nossa
aplicação, mas o sinal original x(t) contém ruídos. Sabemos que ruídos geralmente são sinais em
frequências muito altas, como EMI. Os ruídos serão amostrados e convertidos pelo A/D e, como
suas frequências são muito altas, provavelmente irão fazer com que o sinal de entrada seja
convertido pelo processador com aliasing. Para evitar que ruídos indesejados causem aliasing,
existe o filtro anti-aliasing, imprescindível em toda e qualquer aplicação com conversores A/D.
O filtro anti-aliasing é um filtro passa-baixa analógico, que limita a banda-passante do sinal que
será amostrado e convertido pelo A/D. Pode ser implementado como um filtro ativo com amp-
ops, ou simplesmente um filtro passivo apenas com resistores e capacitores, sendo geralmente
implementadas configurações simples de primeira ou segunda ordem, por praticidade. A única
restrição de projeto é que a frequência de corte fc do filtro deve ser escolhida como
aproximadamente metade da frequência de amostragem fs:
𝑓𝑐 = 0,5𝑓𝑠
2) Sample-and-Hold (SH): Como conversores A/D são sistemas físicos com limitações,
levam um certo tempo para converter o sinal contínuo amostrado em um sinal digital
equivalente, ou seja, fazer a quantização deste sinal. Assim, a amplitude do sinal amostrado
deve ser mantida constante durante um intervalo de tempo, a fim de que o A/D consiga
quantizar o sinal. Existem vários circuitos capazes de amostrar e segurar o sinal de entrada
(sample-and-hold - SH), sendo que o circuito mais simples e amplamente utilizado é o Zero-
Order-Hold, ou ZOH, mostrado na figura 7. Neste circuito, uma chave amostra o sinal analógico
original com a frequência de amostragem fs. A cada instante de amostragem, a capacitância de
entrada do circuito de SH é carregada até o valor da variável discreta (o sinal original amostrado);
a chave é aberta, e o capacitor mantém sua tensão constante, dada pela carga, até que a
quantização feita pelo A/D esteja completa. Este período no qual o capacitor mantém sua tensão
para que o A/D possa realizar a quantização é chamado de “hold time”. A saída do circuito é o
sinal amostrado.
Figura 7: Circuito SH ideal e seu funcionamento. Fonte: David A. Rauth, Vincent T. Randal "Analog-to-Digital
Conversion"
3) Quantização: A última etapa que vamos estudar na aula de hoje é a quantização, que,
como vimos, transforma um sinal contínuo em amplitude em um sinal discreto em amplitude,
representado por um número finito de bits B (sinal digital). Quanto mais bits o processador
possui para representar dados, mais valores ele pode representar, aumentando a resolução da
representação. Como vimos, um processador de 8 bits pode representar 2 8 = 256 valores,
enquanto um processador com 12 bits pode representar 212 = 4096 valores. O processo de
quantização sempre insere erros no sinal quantizado, pois, para que a amplitude de um sinal
contínuo seja perfeitamente discretizada, precisaríamos de um número infinito de bits, o que já
vimos que é impossível. Assim, temos a figura do degrau ou passo de quantização, que é a
mínima variação necessária no sinal de entrada a fim de mudar o bit menos significativo (Least
Significant Bit - LSB) do sinal digital, sendo expresso por:
𝑅
𝑄 =
2𝐵
Onde Q é o passo de quantização, B é o número de bits do processador, e R é o fundo de

escala do conversor A/D. Por exemplo, um Arduíno possui 10 bits e sua tensão de entrada pode
assumir valores entre 0V e 5V, ou seja, seu fundo de escala é 5V. Assim, seu passo de quantização
é aproximadamente 0,0048V. Aqui temos uma consideração muito importante: o sinal de
entrada deve estar contido em R, senão o A/D irá perder resolução. Por exemplo, para o
Arduíno, o sinal de entrada máximo deverá ser projetado para estar entre 0V e 5V, como visto
no lado esquerdo da figura 8. Caso o sinal máximo esteja projetado para um valor menor, ocorre
perda da resolução, como mostrado no lado direito da figura 8. Por fim, se o sinal máximo for
maior que as tensões do Arduíno, o sinal estará fora do alcance de leitura do A/D, podendo até
queimar o conversor, como mostrado na parte inferior da figura 8. Daqui surge a importância
dos circuitos de condicionamento de sinais para conversores A/D, que iremos estudar com mais
detalhes em aulas por vir.
Figura 8: Sinais de entrada em um pino do A/D de um Arduíno.

4) Conversor A/D: Como já citado, o conversor A/D é responsável por transformar um sinal
analógico em digital. Existem várias configurações de conversores A/D, que não são foco do
estudo desta disciplina; os conversores A/Ds já são incluídos nos processadores modernos,
cabendo a nós apenas utilizá-los (o projeto e implementação de A/Ds é objeto de estudo
principalmente da microeletrônica). Porém independentemente do tipo de circuito, todo
conversor A/D tem algumas características em comum:
i) São geralmente alimentados com uma tensão entre 0V e Vcc
ii) Os sinais de entrada, que serão amostrados e convertidos, devem estar entre
0V e Vcc (como discutido no item anterior)
iii) Todo processo de conversão A/D está sujeito a erros de quantização.
O item ii é muito importante, pois temos que condicionar o sinal de saída do sensor (ou
sensores) que estamos trabalhando de tal forma que o máximo sinal que entra no A/D esteja
contido entre 0V e Vcc, como mostrado na figura 9. Neste exemplo, temos uma tensão de
entrada entre ±50V, que deve ser medida por um sensor, e depois condicionada, de forma tal a
se tornar uma tensão entre 0V e SV, a fim de que possa ser lida e convertida pelo conversor A/D
de um Arduíno. Para tal, nas próximas aulas iremos estudar circuitos de condicionamento de
sinais para conversores A/D, fazendo exemplos de projeto e de simulação.
Figura 9: Sinal a ser medido e sinal condicionado para ser lido e convertido por um conversor A/D.
CURSOS DE ENGENHARIA ELÉTRICA E CONTROLE E AUTOMAÇÃO – 2º SEMESTRE DE 2022
INSTRUMENTAÇÃO DIGITAL
CONDICIONAMENTO DE SINAL DE SENSOR DE CORRENTE
Vamos a partir de hoje começar a estudar circuitos de condicionamento de sinais para

conversores A/D. Esta é a parte mais importante da disciplina, pois iremos juntar todo o
conhecimento adquirido ao longo do semestre. Nesta aula e nas próximas, iremos projetar,
simular e analisar circuitos que farão o condicionamento de sinal da saída de um sensor até a
entrada de um conversor A/D. O material teórico destas aulas será acompanhado de uma
simulação no PSIM. Cabe lembrar que existe uma infinidade de sensores e circuitos de
condicionamento; veremos aqui alguns exemplos clássicos, que servirão de base para o projeto
de outros circuitos para diversas aplicações.
O primeiro exemplo que vamos trabalhar é o condicionamento de sinal de um sensor de

corrente para um conversor A/D de oito bits e tensão de alimentação Vcc = 3V. Vamos supor que
queremos medir uma corrente senoidal de 100A de pico e 60Hz. Para tal, temos que escolher
um sensor capaz de medir esta amplitude de corrente. Vamos escolher o sensor de corrente de
efeito Hall em malha fechada da LEM, modelo LA 100-P (datasheet em anexo). Lembre-se de
que este tipo de sensor é capaz de medir correntes CA e CC, com grande banda-passante. Este
modelo em especial pode medir correntes de até 150A de pico no primário. A relação de
transformação deste sensor é de 1:2000, o que significa que a máxima corrente de saída no
secundário é igual a 75mA de pico. Aqui temos a primeira questão importante: mesmo que
queiramos medir uma tensão de 100A de pico, o circuito de condicionamento de sinal da saída
do sensor deve ser projetado para o fundo de escala do mesmo, ou seja, 150A de pico. Vamos
escolher como frequência de amostragem fs = 5kHz, que satisfaz com folga o critério de Nyquist.
O papel do nosso circuito de condicionamento será transformar a corrente de saída do

sensor, com valor máximo entre ±75mA, em uma tensão entre 0V e 3V, que corresponde à
alimentação do A/D. Teremos que implementar então circuitos de conversão corrente-tensão,
ganho/atenuação e inserção de offset. Ainda, das aulas anteriores, também precisamos de um
filtro anti-aliasing. Por fim, é importante também implementar um circuito de proteção do
conversor A/D, evitando que sub- ou sobretensões venham a queimar o A/D ou até mesmo o
processador. A tensão analógica de entrada do A/D é então amostrada com a frequência de
amostragem escolhida, e convertida em um número binário de oito bits (já que nosso A/D é de
8 bits). O menor valor da tensão de entrada, 0V, corresponde ao número binário 0, enquanto o
maior valor, 3V, corresponde ao número binário 255, pois, com 8 bits, podemos representar 2 8
= 256 valores, entre 0 e 255. Dentro do processador, ainda precisamos converter essa tensão
máxima entre 0 e 255 em binário em uma corrente máxima entre ±150A, pois esta é a corrente
que existe no circuito real e que temos que medir para aplicar algum tipo de controle, por
exemplo. O esquemático de todos esses passos é mostrado na figura 1. Vamos ver como
implementar cada uma das etapas mostradas na figura 1, lembrando que existem muitas formas
diferentes de se projetar e implementar cada um dos blocos da figura.
Figura 1: Etapas de condicionamento de sinal para conversor A/D.
1) Sensor: Já discutimos sobre o sensor. Iremos trabalhar com o sensor de corrente de

efeito Hall em malha fechada da LEM, modelo LA 100-P, com corrente máxima no primário IP
igual a ±150A de pico, relação de transformação de 1:2000, e corrente máxima no secundário I s
igual a ±75mA de pico.
2) Conversão corrente-tensão: Como a saída do sensor é uma corrente, e a entrada do

conversor A/D é uma tensão, precisamos fazer a conversão corrente-tensão. A forma mais
simples de se fazer isso é usando apenas um resistor em paralelo com a saída do sensor (como
pode ser visto no circuito simulado no PSIM). Vamos transformar a saída do sensor de uma
corrente de ±75mA de pico em uma tensão de ±1,5V de pico, pois assim podemos depois
facilmente inserir um offset CC para deixá-la entre 0V e 3V, as tensões próprias para o A/D. Desta
forma, o valor do resistor é:
1,5𝑉
𝑅 = = 20Ω
75𝑚𝐴
3) Offset: O papel deste circuito é adicionar um offset CC na tensão sobre o resistor, a fim
de que esta fique entre 0V e 3V. O valor do offset que devemos incluir é de 1,5V. Podemos fazer
isso de diversas formas, e como primeiro exemplo implementaremos um somador de ganho
unitário não-inversor, cujo circuito é mostrado na figura 2. Em uma das entradas do somador
colocamos a tensão CC de 1,5V (que pode vir de um regulador de tensão, divisor resistivo, fonte
CC, etc), e, na outra, a tensão sobre o resistor de 20Ω. A tensão de saída do circuito é um sinal
entre 0V e 3V. Para que tenhamos ganho unitário, sabemos que o amp-op somador deve ter
todos os resistores com mesmo valor de resistência. Porém aqui é preciso tomar cuidado:
valores pequenos de resistência pode fazer com que o amp-op somador tenha baixa impedância
de entrada, fazendo com que o circuito atue como uma carga para o resistor de 20Ω, drenando
corrente e modificando a tensão sobre o resistor. Para que este efeito de carga não aconteça, é
recomendado usar valores altos de resistências para o amp-op somador; vamos escolher aqui
todos os resistores com resistência igual a 560kΩ.
Figura 2: Somador de ganho unitário não-inversor.
4) Filtro anti-aliasing: É o circuito responsável por filtrar ruídos de alta frequência e impedir
que o fenômeno do aliasing distorça o sinal amostrado e reconstruído pelo processador. Vimos
anteriormente que este é um filtro passa-baixa que pode ser implementado de diversas formas
diferentes: ativo ou passivo, primeira ordem ou ordem superior, etc. Porém, vimos também que
um requisito deste filtro, independentemente de sua implementação, é que sua frequência de
corte seja próxima da metade da frequência de amostragem. Para termos um projeto simples,
iremos projetar um filtro passivo de primeira ordem, composto por apenas um resistor e um
capacitor; a tensão de entrada é aplicada em um dos terminais do resistor, e a tensão de saída
do filtro é medida sobre o capacitor. A frequência de corte fc será metade de fs, ou seja, 2,5kHz.
Se escolhermos o resistor do filtro igual a 1kΩ, temos que o capacitor será:
1 1
𝐶 = = = 6,37𝑒 −8 𝐹
2𝜋𝑓𝑐 𝑅 2𝜋 ∗ 2,5𝑘𝐻𝑧 ∗ 1𝑘Ω
5) Proteção: Como o nome diz, este circuito protege o A/D contra sub- e sobretensões, que
podem vir a danificar o processador. Assim como para os demais circuitos, existem diversas
formas de implementar a proteção do conversor A/D. Veremos neste exemplo a mais eficaz, que
é utilizar um amp-op rail-to-rail configurado como buffer não-inversor (ganho unitário). Amp-
ops rail-to-rail são alimentados em 0v e Vcc, diferentemente de amp-ops convencionais, com
alimentação em ±Vcc. Isso faz com que sua saída seja naturalmente grampeada entre 0V e Vcc,
mesmo que a entrada ultrapasse esses valores (obviamente que valores extremamente
elevados na entrada podem danificar o amp-op). Assim, a tensão que chega no A/D ficará
grampeada entre 0V e Vcc, protegendo o processador. Como nosso A/D é alimentado com 0V e
3V, iremos usar um amp-op rail-to-rail alimentado com essas mesmas tensões, como mostrado
na figura 3. Um exemplo comercial de amp-op rail-to-rail é o OPA342.
Figura 3: Amp-op rail-to-rail configurado como buffer não-inversor (ganho unitário) para proteção de conversor A/D.
6) Conversão A/D e reconstrução do sinal dentro do processador: Todos os circuitos que

vimos nos itens anteriores são obrigatoriamente analógicos. Assim, a tensão de saída do circuito
de proteção, entre 0V e 3V, é amostrada pelo conversor A/D com a frequência de amostragem
de 5kHz no nosso exemplo. Como nosso A/D é de 8 bits, a tensão analógica convertida em digital
é representada como um número binário entre 0 e 255. Como vimos na introdução, o menor
valor da tensão de entrada, 0V, corresponde ao número binário 0, enquanto o maior valor, 3V,
corresponde ao número binário 255. A última etapa do processo corresponde à reconstrução,
dentro do processador, do sinal entre 0 e 255 em binário em uma corrente máxima entre ±150A,
pois esta é a corrente que existe no circuito real e que precisamos “enxergar” dentro do
processador. Para reconstruirmos o sinal, precisamos implementar dentro do processador a
equação abaixo, usualmente em código C:
𝑉𝐴𝐷
𝐼 = ( 𝑉 − 𝑉𝑜𝑓𝑓 ) 𝐴𝑣
2𝐵− 1 𝑐𝑐
Onde I no nosso caso é a corrente digital reconstruída, VAD é a tensão binária entre 0 e 255, B é
o número de bits, Vcc é a tensão de alimentação do A/D, Voff é a tensão de offset e Av é o inverso
do ganho do circuito analógico. No nosso exemplo, B = 8, Vcc = 3V, Voff = 1,5V e Av = 2000/20 =
100 (vide figura 1). Portanto, nossa equação de reconstrução fica:
𝑉𝐴𝐷
𝐼 = ( 3𝑉 − 1,5𝑉) 100
255
É fácil verificar a veracidade da equação acima. Se a tensão convertida pelo A/D for igual
a 0, temos que I = -150A, que corresponde ao diagrama da figura 1. Se VAD = 128, I é
aproximadamente 0A. Finalmente, se VAD = 255, I=150A. Vamos verificar passo a passo este
projeto através da simulação e do vídeo em anexo.
EXERCÍCIO: Repita o projeto desenvolvido em aula para um A/D de 10 bits (modelo do

PSIM), Vcc = 5V, porém agora considerando o sensor de corrente de efeito Hall da LEM LA-55P
(datasheet em anexo), para medir uma corrente de entrada de 100Hz e 20A de pico. Escolha
uma frequência de amostragem, simule no PSIM e verifique se o projeto está adequado.
CONDICIONAMENTO DE SINAL DE SENSOR DE TENSÃO - TRANSFORMADOR
Vamos projetar e implementar hoje outro exemplo de instrumentação para conversores

A/D, onde iremos considerar um sensor de tensão CA e o mesmo conversor A/D da aula passada,
de oito bits e tensão de alimentação Vcc = 3V. Queremos medir uma tensão senoidal de 400V de
pico e 60Hz. Para tal, podemos escolher como sensor um transformador de tensão, que já
estudamos em aulas anteriores. Sabemos que transformadores podem medir tensões CA, mas
não conseguem medir tensões CC devido à saturação de seu núcleo magnético. Vamos escolher
um transformador com uma relação de transformação adequada, que mede um sinal de alta
amplitude do circuito de potência e o transforma em um sinal com baixa amplitude. Podemos
escolher um transformador com número de espiras igual a 440:44, ou seja, relação de
transformação de 10 vezes, e máxima tensão medida pelo primário de 500V. Assim, a tensão de
saída do secundário será dez vezes menor que a do primário, ou seja, a máxima tensão do
secundário será igual a 50V. Vamos escolher como frequência de amostragem novamente fs =
5kHz, que satisfaz com folga o critério de Nyquist.
O papel do nosso circuito de condicionamento será transformar a tensão de saída do

secundário de ±50V em uma tensão entre 0V e 3V, que corresponde à alimentação do A/D.
Teremos que implementar circuitos de ganho/atenuação, inserção de offset, filtro anti-aliasing
e proteção do conversor A/D. O processo de conversão A/D da tensão de entrada é idêntico ao
da aula passada, onde o menor valor da tensão de entrada, 0V, corresponde ao número binário
0, enquanto o maior valor, 3V, corresponde ao número binário 255, devido ao número de bits
do A/D. Finalmente, dentro do processador convertemos essa tensão máxima entre 0 e 255 em
binário em uma tensão máxima entre ±500V. O esquemático de todos esses passos é mostrado
na figura 1. Vamos ver como implementar cada uma das etapas mostradas na figura 1, e iremos
projetar algumas partes do circuito de condicionamento de forma diferente da que fizemos na
aula passada, a fim de ver outras possíveis implementações de circuitos de instrumentação. A
simulação do circuito no PSIM também se encontra em anexo no material desta aula.
1) Sensor: Como dito, iremos trabalhar com um transformador de tensão de relação de

transformação 440:44, com tensão máxima de entrada de 500V.
Figura 2: Exemplo de transformador de tensão.
2) Atenuação: Como a saída do sensor é uma tensão máxima de 50V, temos que
transformá-la em uma tensão de pequenos sinais para que ela possa ser inserida em nosso
circuito de instrumentação. Uma forma de fazer isso é por meio de um divisor resistivo, cuja
tensão de saída já pode ser calculada de forma tal a ser uma tensão entre ±1,5V. Escolhendo o
resistor inferior do divisor resistivo igual a 10kΩ, temos que o resistor superior é igual a
323,333kΩ.
3) Offset: O papel deste circuito é adicionar um offset CC na tensão sobre o resistor, a fim
de que esta fique entre 0V e 3V. O valor do offset que devemos incluir é de 1,5V. Na aula
passada, fizemos isso através de um circuito somador de ganho unitário não-inversor. Hoje
vamos estudar uma forma mais simples e eficiente de adicionar um offset no sinal de entrada,
por meio de um amplificador de instrumentação, como, por exemplo, o AD620. Já apresentamos
o circuito interno deste tipo de amp-op, deduzimos sua equação do ganho e analisamos seu
funcionamento em outra aula. O circuito interno e a pinagem do AD620 são mostrados aqui
novamente nas figuras 2 e 3. O resistor RG de ganho do circuito é dado por:
2𝑅1
𝑅𝐺 =
𝐴𝑣 − 1
Figura 3: Circuito genérico de um amplificador de instrumentação com resistor externo de ganho RG. Fonte: Thomas
Floyd, "Electronics Devices: Conventional Current Version"
Figura 4: Pinagem do amp-op de instrumentação AD620. Fonte: Datasheet AD620, Texas Instruments
No nosso exemplo, a tensão diferencial de entrada do AD620, entre os pinos 2 e 3, será

a tensão de ±1,5V de pico, que vem do divisor resistivo. O resistor RG é inserido entre os pinos 1
e 8, a fim de proporcionar o ganho de tensão desejado A v. Assim como na aula anterior,
queremos que a tensão de saída tenha ganho unitário, apenas com a inserção do offset de 1,5V.
Pela equação de RG vemos que, para Av = 1, o resistor RG deve ser infinito, o que pode ser feito
na prática deixando os pinos 1 e 8 abertos (circuito aberto com impedância infinita). Para a
inserção do offset de 1,5V, podemos simplesmente inserir essa tensão, vinda por exemplo de
um regulador de tensão, divisor resistivo, etc, no pino 5 do AD620, a chamada “referência”. Este
pino, como o nome diz, dá a referência de tensão para o circuito do amp-op. Se colocarmos um
valor diferente de zero, a referência para as tensões não será o 0V do terra, e sim 1,5V, e as
tensões senoidais irão oscilar em torno de 1,5V e não de zero. Assim, temos na saída do amp-
op uma tensão idêntica à obtida com o somador de ganho unitário não-inversor, porém de
forma mais simples e eficiente. Para a simulação no PSIM, foi implementado o circuito interno
do AD620 conforme a figura 2, já que o PSIM não possui modelo de amp-op de instrumentação.
4) Filtro anti-aliasing: Vamos implementar o mesmo filtro projetado na aula passada, ou

seja, um filtro passa-baixa passivo de primeira ordem, com frequência de corte fc = 2,5kHz
(metade de fs). Se escolhermos o resistor do filtro igual a 1kΩ, temos que o capacitor será:
1 1
𝐶 = = = 6,37𝑒 −8 𝐹
podem danificar o processador. Assim como para os demais circuitos, existem diversas formas
de implementar a proteção do conversor A/D. Veremos neste exemplo a mais eficaz, que é
utilizar um amp-op rail-to-rail configurado como buffer não-inversor (ganho unitário). Amp-ops
rail-to-rail são alimentados em 0v e Vcc, diferentemente de amp-ops convencionais, com
mesmo que a entrada ultrapasse esses valores (obviamente, valores extremamente elevados na
entrada podem queimar o amp-op). Assim, a tensão que chega no A/D ficará grampeada entre
0V e Vcc, protegendo o processador. Como nosso A/D é alimentado com 0V e 3V, iremos usar
um amp-op rail-to-rail alimentado com essas mesmas tensões, como mostrado na figura 3. Um
exemplo comercial de amp-op rail-to-rail é o OPA342.

corresponde ao número binário 255. A última etapa do processo de condicionamento do sinal
corresponde à reconstrução, dentro do processador, do sinal entre 0 e 255 em binário em uma
tensão máxima entre ±500V, pois esta é a tensão presente no circuito real. Para reconstruirmos
o sinal, precisamos implementar dentro do processador a equação abaixo em código C:
𝑉𝐴𝐷
𝑉 = ( 𝑉 − 𝑉𝑜𝑓𝑓 ) 𝐴𝑣
2𝐵 − 1 𝑐𝑐
Onde V no nosso caso é a tensão digital reconstruída, VAD é a tensão binária entre 0 e 255,
B é o número de bits, Vcc é a tensão de alimentação do A/D, Voff é a tensão de offset e Av é o
inverso do ganho do circuito analógico. No nosso exemplo, B = 8, Vcc = 3V, Voff = 1,5V e Av =
((1/10)*(1/33,333)) = 333,33 (vide figura 1). Portanto, nossa equação de reconstrução fica:
𝑉𝐴𝐷
𝑉 = ( 3𝑉 − 1,5𝑉) 333,33
255
Se a tensão convertida pelo A/D for igual a 0, temos que V = -500V, que corresponde ao
diagrama da figura 1. Se VAD = 128, V é aproximadamente 0V. Finalmente, se VAD = 255, V = 500V.
Cada etapa deste projeto pode ser analisada na simulação do PSIM em anexo.

PSIM), Vcc = 3,3V, porém agora considerando como sensor de tensão um transformador de
tensão com relação de transformação de 20 e máxima tensão de entrada de 300V, usado para
medir uma tensão de entrada de 50Hz e 200V de pico. Escolha uma frequência de amostragem,
simule no PSIM e verifique se o projeto está adequado.
CONDICIONAMENTO DE SINAL DE SENSOR HALL DE TENSÃO
Vamos projetar e implementar hoje outro exemplo de instrumentação para conversores

A/D, onde iremos considerar um sensor de tensão e o mesmo conversor A/D da aula passada,
de oito bits e tensão de alimentação V cc = 3V. Queremos medir uma tensão de CC de 300V. Para
tal, podemos escolher o sensor de tensão de efeito Hall em malha fechada da LEM, modelo LV
25-P (datasheet em anexo), que já estudamos em aulas anteriores. Este tipo de sensor é capaz
de medir tensões CA e CC, com grande banda-passante, porém a tensão a ser medida deve ser
convertida em corrente antes de entrar no sensor, e a sua saída também é em corrente. O
modelo escolhido de sensor pode medir tensões de até 500V de pico no primário. Do que
estudamos anteriormente, vimos que a tensão nominal a ser medida, neste caso 300V, deve
corresponder à corrente nominal no primário de 10mA. A relação de transformação deste
sensor é de 2500:1000, o que significa que a máxima corrente de saída no secundário é igual a
aproximadamente 25mA. Desta forma, vamos projetar o circuito para que a corrente máxima
de entrada corresponda à tensão nominal de 300V que queremos medir. Vamos escolher como
frequência de amostragem novamente fs = 5kHz, que satisfaz com folga o critério de Nyquist.
Como a saída do sensor é em corrente, o papel do nosso circuito de condicionamento

de sinal será transformar a corrente de saída do sensor, com valor máximo de 25mA, em uma
tensão entre 0V e 3V, que corresponde à alimentação do A/D. Teremos que implementar neste
caso circuitos de conversão corrente-tensão, ganho/atenuação, filtro anti-aliasing e proteção do
conversor A/D. O processo de conversão A/D da tensão de entrada é idêntico ao da aula
passada, onde o menor valor da tensão de entrada, 0V, corresponde ao número binário 0,
enquanto o maior valor, 3V, corresponde ao número binário 255, devido ao número de bits do
A/D. Finalmente, dentro do processador convertemos essa tensão máxima entre 0 e 255 em
binário em uma tensão máxima entre 0V e 300V. O esquemático de todos esses passos é
mostrado na figura 1. Vamos projetar e implementar cada uma das etapas mostradas na figura
1. A simulação do circuito no PSIM também se encontra em anexo no material desta aula.
1) Conversão tensão-corrente: Esta primeira etapa corresponde ao fato que, mesmo que
o sensor LV 25-P seja um sensor de tensão, a sua entrada é em corrente. O datasheet do sensor
especifica que, para uma melhor precisão, a máxima tensão a ser medida deve ser convertida
para a corrente nominal do primário, igual a 10mA. Desta forma, podemos calcular um resistor
que faça a conversão tensão-corrente como:
300𝑉
𝑅 = = 30𝑘Ω
10𝑚𝐴
Aqui é importante fazer uma consideração de ordem prática. Como estamos medindo altas
tensões, este é um circuito de potência, e não podemos usar um resistor comum de 30kΩ na
entrada do sensor, e sim um resistor (ou uma associação de resistores) de potência, como os
mostrados na figura 2.
Figura 2: Resistores de potência.

2) Sensor: Como já mencionado, iremos trabalhar com o sensor de tensão de efeito Hall
em malha fechada da LEM, modelo LV 25-P, com corrente nominal no primário IP igual a 10mA,
relação de transformação de 2500:1000, e corrente máxima no secundário I s igual a 25mA. Na
simulação do PSIM, modelamos esse sensor como um transformador, apenas para
representação dos efeitos do mesmo nos sinais com os quais estamos trabalhando.
3) Conversão corrente-tensão: Como a saída do sensor é uma corrente e a entrada do

conversor A/D é uma tensão, precisamos fazer a conversão corrente-tensão. Podemos
novamente fazer isso de forma simples através de um resistor. Vamos transformar a saída do
sensor de uma corrente de a 25mA de pico em uma tensão de 3V de pico, pois a tensão de
entrada já é um valor CC. Desta forma, o valor do resistor é:
3𝑉
𝑅 = = 120Ω
25𝑚𝐴
Como a tensão medida já é CC, não é necessário um circuito de offset, pois, através da
conversão corrente-tensão, já temos a tensão dentro dos valores necessários para o conversor
A/D.
4) Filtro anti-aliasing: Como a frequência de amostragem deste exemplo é a mesma que

do exemplo anterior, vamos implementar o mesmo filtro projetado na aula passada. Desta
forma, teremos um filtro passa-baixa passivo de primeira ordem, com frequência de corte fc
metade de fs, ou seja, 2,5kHz. Se escolhermos o resistor do filtro igual a 1kΩ, temos que o
capacitor será:
1 1
𝐶 = = = 6,37𝑒 −8 𝐹
podem vir a danificar o processador. Assim como para os demais circuitos, existem diversas
formas de implementar a proteção do conversor A/D. Veremos neste exemplo a mais eficaz, que
é utilizar um amp-op rail-to-rail configurado como buffer não-inversor (ganho unitário). Amp-
ops rail-to-rail são alimentados em 0v e Vcc, diferentemente de amp-ops convencionais, com
mesmo que a entrada ultrapasse esses valores (obviamente, valores extremamente elevados na
entrada podem queimar o amp-op). Assim, a tensão que chega no A/D ficará grampeada entre
0V e Vcc, protegendo o processador. Como nosso A/D é alimentado com 0V e 3V, iremos usar
um amp-op rail-to-rail alimentado com essas mesmas tensões, como mostrado na figura 3. Um
exemplo comercial de amp-op rail-to-rail é o OPA342.

corresponde ao número binário 255. A última etapa do processo corresponde à reconstrução,
dentro do processador, do sinal entre 0 e 255 em binário em uma tensão máxima de 300V, pois
esta é a tensão presente no circuito real. Para reconstruirmos o sinal, precisamos implementar
dentro do processador a equação abaixo em código C:
𝑉𝐴𝐷
𝑉 = ( 𝑉 ) 𝐴𝑣
2𝐵 − 1 𝑐𝑐
B é o número de bits, Vcc é a tensão de alimentação do A/D e Av é o inverso do ganho do circuito
analógico. Note que, como não temos offset no circuito, o mesmo não aparece na equação de
reconstrução. No nosso exemplo, B = 8, Vcc = 3V e Av = 100 (vide figura 1). Portanto, nossa
equação de reconstrução fica:
𝑉𝐴𝐷
𝑉 = ( 3𝑉 ) 100
255
Se a tensão convertida pelo A/D for igual a 0, temos que V = 0V, que corresponde ao
diagrama da figura 1. Se VAD = 128, V é aproximadamente 150V. Finalmente, se VAD = 255, V =
300V. Cada etapa deste projeto pode ser analisada na simulação do PSIM em anexo.
EXERCÍCIO: Repita o projeto desenvolvido em aula para uma tensão de entrada de 100V.
CONDICIONAMENTO DE SINAL DE SENSOR DE TEMPERATURA LM35
Na aula de hoje, vamos projetar e implementar o circuito de instrumentação para o

sensor de temperatura LM35, considerando o mesmo conversor A/D da aula passada, de oito
bits e tensão de alimentação Vcc = 3V. A temperatura geralmente varia lentamente, e, portanto,
uma frequência de amostragem relativamente baixa pode ser escolhida. Contudo, vamos
escolher a frequência de amostragem novamente como fs = 5kHz. O sensor de temperatura
LM35 tem como saída um sinal de tensão, que varia linearmente de acordo com a variação de
temperatura ambiente com uma taxa de 10mV/°C. O LM35 pode ser configurado para medir
diferentes escalas de temperatura, e a máxima escala que pode ser medida é de -55°C a 150°C,
conforme datasheet em anexo. Para o valor mínimo de -55°C, a tensão correspondente de saída
é -550mV, e, para a temperatura máxima de 150°C, temos na saída 1500mV. Vamos considerar
que configuramos nosso sensor para medir a máxima variação de temperatura. Podemos
perceber que temos tensões positivas e negativas na saída, e desta forma precisamos adicionar
um offset de tensão e escalonar a saída para uma tensão entre 0V e 3V. Como a saída do sensor
já é em tensão, teremos que implementar circuitos de ganho/atenuação, offset, filtro anti-
aliasing e proteção do conversor A/D. O processo de conversão A/D da tensão de entrada é
idêntico aos das aulas anteriores. O esquemático de todos esses passos é mostrado na figura 1.
Iremos implementar cada uma das etapas mostradas na figura 1, e a simulação do circuito no
PSIM se encontra em anexo no material desta aula.

1) Sensor: Como dito, iremos trabalhar com o sensor de temperatura LM35, configurado
para medir a escala máxima de temperaturas entre -55°C a 150°C. Desta forma, as saídas mínima
e máxima do sensor correspondem a -550mV e 1,5V.
2) Offset e ganho de tensão: Neste exemplo, vamos implementar uma forma diferente de
aplicar offset e ganho ao nosso sinal utilizando um circuito somador não-inversor com ganho
diferente de 1 (lembrando que existem outras formas de se fazer isso, este é apenas um
exemplo). Como visto na figura 1, vamos aplicar um offset de 0,55V no sinal de saída do sensor,
a fim de deixa-lo totalmente positivo. Desta forma, a escala das tensões passa a ser entre 0V e
2,05V. Para que tenhamos tensões entre 0V e 3V para nosso conversor A/D, podemos
simplesmente adicionar um ganho de tensão de 1,463. O circuito do somador não-inversor com
ganho não-unitário é mostrado na figura 2 (as tensões foram representadas como senoides
apenas para visualização, a saída de um sensor de temperatura não é um seno).
Figura 2: Somador não-inversor com ganho não unitário.
Em uma das entradas do somador temos o offset de 0,55V, e, na outra, a saída do sensor
LM35. Como visto em outra aula, o somador de ganho unitário tinha todos os resistores iguais,
mas agora para termos um ganho de tensão diferente, especificamente Av = 1,463, temos que
projetar os resistores adequadamente. Os resistores R das entradas de sinal continuarão sendo
iguais a 560kΩ. Vamos analisar a tensão de saída deste circuito pelo princípio da superposição.
Se aterramos a entrada de offset, a tensão VR que corresponde à saída do sensor LM35 entra na
entrada não-inversora do amp-op por meio de um divisor resistivo. Como os dois resistores R
são iguais, a tensão na entrada não-inversora é VR/2. Esta tensão é amplificada para a saída com
o ganho do amp-op não-inversor:
𝑅1
𝐴𝑣 = 1 +
𝑅2
Ou seja:
𝑉𝑅 𝑅1
𝑉𝑜 = (1 + )
2 𝑅2
Vamos agora aterrar a tensão VR e analisar a tensão de offset Voff. Temos novamente o
divisor resistivo na entrada não-inversora, resultando em uma tensão na V off/2, que é
amplificada para a saída com o ganho do amp-op não-inversor:
𝑉𝑜𝑓𝑓 𝑅1
𝑉𝑜 = (1 + )
2 𝑅2
Pelo princípio da superposição, somando as parcelas das duas entradas de tensão,
temos que a tensão de saída do circuito somador não-inversor de ganho não-unitário é:
𝑉𝑜𝑓𝑓 + 𝑉𝑅 𝑅1
𝑉𝑜 = (1 + )
2 𝑅2
Ou seja, seu ganho Av é:
𝑉𝑜 1 𝑅1
𝐴𝑣 = = (1 + ) = 1,463
𝑉𝑜𝑓𝑓 + 𝑉𝑅 2 𝑅2
Se escolhermos R2 = 1kΩ, temos que R1 = 1,926kΩ, resultando no ganho desejado de

1,463. Agora, a tensão de saída deste circuito está entre 0V e 3V. Isto pode ser visto na simulação
do PSIM, na tensão “V_offset”. Para verificar o comportamento que discutimos aqui, mude a
fonte de tensão CC que modela a saída do LM35, variando a mesma entre -0,55V e 1,5V.
3) Filtro anti-aliasing: Como a frequência de amostragem deste exemplo é a mesma que

do exemplo anterior, vamos implementar o mesmo filtro projetado na aula passada. Tínhamos
lá um filtro passa-baixa passivo de primeira ordem, com frequência de corte fc metade de fs, ou
seja, 2,5kHz. Se escolhermos o resistor do filtro igual a 1kΩ, temos que o capacitor será:
1 1
𝐶 = = = 6,37𝑒 −8 𝐹
4) Proteção: Vamos implementar aqui uma forma diferente de realizar a proteção de um

conversor A/D, utilizando um diodo zener na saída do circuito do somador não-inversor de
ganho não-unitário, como visto na simulação do PSIM em anexo. Deve ser escolhido um zener
com tensão reversa igual à tensão de alimentação do A/D, ou seja, 3V neste caso. Se por ventura
a tensão na saída do somador for menor que 0V, o zener estará diretamente polarizado e entra
em condução como um diodo normal, ligando a saída do somador ao terra e,
consequentemente, grampeando a tensão de entrada do A/D em 0V. Por outro lado, se a tensão
na saída do somador for maior que 3V, o zener é reversamente polarizado, grampeando a tensão
na entrada do A/D na sua tensão reversa de 3V. Embora simples e mais barato que um amp-op
rail-to-rail, na prática o uso do zener traz alguns problemas. O primeiro é sua queda de tensão
direta, por exemplo 0,7V. Da mesma forma, algumas vezes não se tem à disposição um zener
com tensão reversa igual a alimentação do A/D. Neste caso, deve-se escolher a menor tensão
mais próxima da tensão de alimentação do A/D, o que irá incorrer em perda de resolução na
parte superior da escala de tensão. Estes problemas podem ser verificados na simulação do
PSIM mudando a tensão do zener e incluindo uma queda de tensão direta no dispositivo.
Existem circuitos que corrigem esses problemas, porém com maior custo e complexidade.
Recomenda-se que, sempre que possível, seja empregado um circuito de proteção com amp-
ops rail-to-rail.
5) Conversão A/D e reconstrução do sinal dentro do processador: A tensão de saída do
circuito de proteção, entre 0V e 3V, é amostrada pelo conversor A/D com a frequência de
amostragem de 5kHz no nosso exemplo. Como nosso A/D é de 8 bits, a tensão analógica
convertida em digital é representada como um número binário entre 0 e 255. Como vimos na
introdução, o menor valor da tensão de entrada, 0V, corresponde ao número binário 0,
enquanto o maior valor, 3V, corresponde ao número binário 255. A última etapa do processo
corresponde à reconstrução, dentro do processador, do sinal entre 0 e 255 em binário para
corresponder à tensão presente no circuito real. Para reconstruirmos o sinal, precisamos
implementar dentro do processador a equação abaixo em código C, ligeiramente diferente que
as dos casos anteriores:
𝑉𝐴𝐷
𝑉 = ( 𝑉 ) 𝐴 − 𝑉𝑜𝑓𝑓
2𝐵− 1 𝑐𝑐 𝑣
B é o número de bits, Vcc é a tensão de alimentação do A/D, Voff é a tensão de offset e Av é o
inverso do ganho do circuito analógico. No nosso exemplo, B = 8, Vcc = 3V, Voff = 0,55V e Av =
1/1,463 = 0,6835 (vide figura 1). Portanto, nossa equação de reconstrução fica:
𝑉𝐴𝐷
𝑉 = ( 3𝑉) 0,6835 − 0,55
255
Se a tensão convertida pelo A/D for igual a 0, temos que V = -550mV
(aproximadamente), que corresponde ao diagrama da figura 1. Se VAD = 128, V é
aproximadamente 475mV. Finalmente, se VAD = 255, V = 1,5V. Esta tensão pode ser conferida
no sinal “V_processador” na simulação do PSIM. Ainda, temos que converter essa tensão na
temperatura equivalente. Isso é feito simplesmente dividindo a tensão reconstruída no
processador por 0,01, que é o inverso do ganho de 10mV/°C do sensor. Esta “temperatura” pode
ser conferida no sinal “Temperatura_graus_celsius” na simulação do PSIM.

PSIM), Vcc = 5V, agora considerando a aplicação básica mostrada no datasheet do sensor LM35,
capaz de medir temperaturas entre 2°C a 150°C.

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DISCIPLINA DE INSTRUMENTAÇÃO ELETRÔNICA

CURSOS DE ENGENHARIA ACÚSTICA E AEROESPACIAL – 2º SEMESTRE DE 2022

PROFª FERNANDA DE MORAIS CARNIELUTTI

SENSORES RESISTIVOS: PARTE 1

1) Princípio básico do funcionamento de sensores resistivos: Existe uma grande

Onde R é a resistência elétrica, ρ é a resistividade elétrica em Ωm e depende do material

2) Ponte de Wheatstone: A ponte de Wheatstone, ou ponte de medida CC, é um

Como as correntes são idênticas, temos:

Figura 1: Ponte de Wheatstone.

Se escrevermos as resistências em função da variação de temperatura, temos:

3) LDR - Light-Dependent Resistor: Também chamado de fotoresistor ou célula

Figura 2: LDRs comerciais.

A figura 3 mostra uma curva típica de variação da resistência em função da iluminação

Vamos agora analisar o comportamento do circuito, considerando primeiramente que a

Para exemplificar a operação do circuito, vamos considerar o LDR da figura 3. A

4) Termistor: Termistores são resistores que variam suas resistências de acordo

Onde R é a resistência a uma dada temperatura T (em Kelvin), R o é a resistência na

Figura 7: Termistores comerciais.

Figura 9: Curvas de termistores NTC retiradas do catálogo do fabricante muRata.

Um exemplo de aplicação é um circuito parecido com o que estudamos para o

É importante salientar que a saída da ponte de Wheatstone também pode ser

EXERCÍCIO: Como ficaria o circuito da figura 10 se um termistor do tipo PTC fosse

EXERCÍCIO: Considere o primeiro NTC da tabela apresentada na figura 9. Projete um

CURSOS DE ENGENHARIA ACÚSTICA E AEROESPACIAL – 2º SEMESTRE DE 2022

PROFª FERNANDA DE MORAIS CARNIELUTTI

SENSORES RESISTIVOS: PARTE 2

Na aula passada, estudamos os sensores resistivos do tipo LDR e termistores, cujas

1) Strain gauge ou extensômetro: Consiste em folhas ou filamentos de metal ou

Onde R é a resistência elétrica, ρ é a resistividade elétrica em Ωm e depende do material

Onde l é o comprimento do filamento condutor, ε é a deformação mecânica a qual o

A figura 3a mostra um extensômetro colocado sobre uma superfície, sem nenhuma

i) Tensão causa aumento de resistência;

Da mesma forma que estudamos para os sensores do tipo LDR e termistor, os

Figura 3: Esforços mecânicos sobre um extensômetro. Fonte: Wikipédia

Figura 4: Resumo dos efeitos dos esforços mecânicos na resistência de um extensômetro.

Na parte superior da figura, a superfície está em repouso, e os extensômetros não estão

Figura 6: Medida de tensão ou compressão – 1/4 de ponte.

𝑉𝑜 = 𝑉𝑑𝑐 − 𝑉𝑐𝑏 = 𝐼1 𝑅 − 𝐼2 (𝑅 + Δ𝑅)

Figura 7: Sinais de tensão e corrente na ponte de Wheatstone.

b) Medida de tensão ou compressão com compensação dos efeitos da temperatura – 1/4

Porém da nossa análise inicial da ponte de Wheatstone na Parte I do estudo de sensores

c) Medida de tensão ou compressão – 1/2 de ponte: Podemos fazer medidas de tensão

𝑉𝑜 = 𝑉𝑎𝑏 − 𝑉𝑎𝑑 = 𝐼2 (𝑅 + Δ𝑅) − 𝐼1 𝑅

𝑉𝑖𝑛 Δ𝑅 𝑉𝑖𝑛 𝑅 𝑉𝑖𝑛 𝑅

Rearranjando e substituindo ΔR/R por εG:

Outra possibilidade interessante e de grande aplicação para condicionarmos o sinal Vo é

a) Os extensômetros podem ser configurados em mais tipos de ponte de Wheatstone,

CURSOS DE ENGENHARIA ACÚSTICA E AEROESPACIAL – 2º SEMESTRE DE 2022

PROFª FERNANDA DE MORAIS CARNIELUTTI

SENSORES CAPACITIVOS E INDUTIVOS

Na aula de hoje, vamos estudar a teoria de sensores capacitivos e indutivos.

1) Princípio básico de sensores capacitivos: São muito empregados como sensores

Onde C é a capacitância do capacitor, ε é a permissividade dielétrica do capacitor do

2) Sensores capacitivos de deslocamento/proximidade: Existem inúmeros

a) Variação da distância entre as placas do capacitor: Nesta configuração, a área

Figura 4: Variação da distância entre as placas do capacitor.

A equação da capacitância em repouso é dada por (convertendo todas as medidas para

𝜀𝐴 30. 10−12 ∗ 0,0012

𝜀𝐴 30. 10−12 ∗ 0,0012

b) Variação da área de superposição entre as placas do capacitor: Nesta segunda

Como temos as mesmas dimensões e o mesmo dielétrico do exemplo anterior, a

𝜀𝐴2 30. 10−12 ∗ 0,0006