Livro Msa

ANÁLISE DOS SISTEMAS DE MEDIÇÃO
MSA
Manual de Referência
Quarta Edição
CÓPIA CONTROLADA
Qualidade
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ISBN#. 978-1-60-534211 -5
Primeira Edição Brasileira publicada em Junho de 1997
Segunda Fd1ção Brasileira publicada em Fevereiro de 2004
I crccirJ Edição Brasileira publicada em Outubro de 20 I O
"!'<,te manu;tl é public<tdo de acordo com o protocolo de tradução estabelecido pela Chryslcr,
Ford c General \>lotnrs, sendo este manual a tradução oficial em Português.
c
Todas a<, tr.tduçÕC\ 'anc1onadas do QS-9000 são somente para refercncia. uma \C/ 4uc o Inglês
o 1d10ma olic1al. de' em ser resoh idas u..,ando o QS-9000 em Inglês.
Os dirc1tos autor.tts desta tradução ~rtcnccm á Chl)>lcr, Ford c General Motors."
Cópia~ ch1 \Crsilo em inj:lês pode m ;er obtidas no:

AutomOli\C lndustl) i\ctton Group (AIAG)
Cam m Continuot" lrnpro\cmcnt
OI -24X-35X-3003 ( U.S.A. l
44- 1 70X-X6 1 111 (u.K.)
Cópias du vcrsllo em I>Orl u,::uê' podem ser obtidas no:

lQA ln>tituto da Qual idad~.: Automotivu
55 11 5533-4545 (Bras il )
11
• PREFÁCIO
hte \<!anual de Referência foi dc~cl1\ oh ido pelo Grupo de Trabalho de Análi~c do S1çtcma de
Medição (\<I.S.A), sancionado pelo Grupo de Força Tarefa de Requisitos da Qualidade
romcccdorcs da Chrysler Group 1.1.(.', Ford Motors Company e General Motors Corporation. e
;..ob o patrocínio do Automotivc lndu~try Action Group (A IAG). O grupn de trabalho
rc>I)Onsávc l por essa 4·' ed ição foi lonnado por M ichael Oown (General Motors C'orporation),
f'rcdcrick C7ubak (Chrysler Group 1.1.('), Grcgory Gruska (üm nex). Stcvc Sta hlcy (Cummins,
In~) c David Bcnham.
O manual é uma introdução para análi~e do sistema de medição. Não tem a intenç·iio de limitar a
e••oltt(Oo dos métodos de amíli~e apropriados a proce~os especljicol 011 produto.;. Embora
c>s.1s dirctri.ws sejam destinadas a cobrir as situações de sistema de med1ç:lo que normalmente
ocorrem. dúvidas poder;\o ~urgir. E~tas dú' idas dever.io ser enviadas ao rcprcscntamc autorizado
do cliente.
(h d1re11os autorais deste manual são de C'hrysler Group LLC, Ford MotoN C01111'any c General
Motors Corporation, com todos dirc1tos reservados. 2010. Manua1s adicionai;.. podem ser
solicitados ao AIAG em www.aiag.org. Permissão para reprodm:ir parte;.. deste manual para uso
interno em fornecedores deve ser obtida com o AIAG em www.aiag.org.
•
Junho 20 I O
•
111
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Consulta Rápida ao Manual MSA - 4 8 Edição
Tipo do \1ctodo MSA ( 'apitulu

SIStema de Medi ·àu
Amplttud\!, r-..·lédia & Amplitude. A 'OV1\, 111
f ~:ndclh.:ln, lm~andac.fe, Cana~ ele ('ommle
Atrihuto~ básicos Detecção de Sinal, 111
J\nál is~s etc Teste de H ipô teses
Nào·Rcplkúvcb Atli.Jrdagcns altc111ativas IV
(c:x.: Testes destrutivos)
Variá\ cb Complexa') Amj''llitudc. Ml.!diu c /\mplitude. A \JOVA. 111, IV
1\.·mtcnci;.l, I inea1 idade. Canas d~ Con1roll'
~• ..tema~ \1ulllplos, Dis.po;;itl,os de Ctol<h de Controle. ANOVA. 111. IV
\1..:-d·~·?h' ouBancadas de Te:ttl!:t Anáh~ de Rcgrc.:.sào
Mt-.10S 1\
Outros Rclahlru,... d1spun1\\!IS em hlrp: \\'" \\ .a•a&:.ur\:
NQT_b Referência ao uso do desvio pAdrl!o do R&R
Historicamente. por convenção, a distribulçêo de 99% foi usada para representar a distribuiçêo "total" do
erro de medição, representada pelo fator multiplicador 5,15 (onde OaRR é multiplicado por 5, 15 para
representar a distribuição total de 99%).
A dtstnbutção de 99.73% é representada pelo fator multtplicador 6,0 que significa ± 30' e representa a
d1Slrlbu1ção total da curva normal.
Se o lettor escolher aumentar o nlvel de cobef'1ura , ou d1stnbU1ção. da vanação lolal da med1çã0 para
99.73% deve uttltzar 6.0 oomo multtphcadof' no lugar de 5, 15 nos cálculos
Nota: A abordagem utilizada na 4• ediÇOO é para comparar o desvio padrlkl. Isto eqwvate a tlltlizar o
mulltp/Jcador de 6 numa abordagem htslónca
A consctêncta de qual fator multiplicador ut11tzar é doctstva para a integridade das equaçOes e cálculos
resultantes. Isto é especialmente importante so a comparação é feita entre a vanab1ltdade do SIStema de
medição e a tolerância. Consequentemente, se uma abordagem diferente da doscnta neste manual for
utilizada, deve ser declarada para esclarecer quaisquer resultados ou resumos (particularmente aqueles
previstos para o cliente).
IV
ÍNDICE
Co11Sulla Rápida ao Manual MSA - 4" Edição .............................................................................. i v

ÍN DICE .................................................................. ...................................................... ................. v
Lista de Tabelas ............................................................................................................................. vi i
Lista de Figuras .................................................................................~ .......................................... vi ii
Capítu lo I DIRETR IZES G~ RA IS DOS SISTEMAS DE MEDIÇAO ......................................... I
Seção A Introdução, Propósito e Tenn ino logia .......................................................................... 3
Introdução ................................................................................................................................ 3
Prol>ósito .................................................................................................................................. 4
Tcrmino logio ..........................~ ................................................................................................ 4
Seção B O Processo de Medição·' ............................................................................................. 13
Sistemas de Med ição ............................................................................................................. I 3
Os Efeitos da Variabilidade do Sistema de Medição ......................... ................................. 18
Seção C Estratégia e Planejamento da Med ição ...................................................... ................ 25
Seção D Desenvolvimento das rontes de Medição .................................................................. 29
PROCESSO DE SELEÇÃO DE FORNECEDOR DE DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO ..... 3 I
Seção E Questões Relativas à Med ição ..................................................................................... 4 1
Seção F Incerteza da Medição ................................................................................................... 63
Seção G Anál ise dos Problemas de Mcdição ............................................................................ 65
Capítulo li ..................................................................................................................................... 67
CONCEITOS GERA IS PARA AVALIAR .................................................................................. 67
OS SISTEMAS DE MEDIÇÃO ........ ................ ......................................................................... 67
Seção A Fundamentos ............................................................................................................... 69
Seção B SeleçâoiDesenvolvimento de Procedimentos de Teste ............................................... 7 1
Seção C Preparação para o 1-'studo do Sistema de Med ição ..................................................... 73
Seção D Análise dos Resu ltados ............................................................................................... 77
Capitulo 111 PRÁTICAS RECOMENDADAS PARA SISTEMAS DE MEDIÇt\.0
REPLICÁ V EIS ............................................................................................................................. 81
Seção A Exemplos de Proced imentos de Testes .. .................................................................... 83
Seção B Di retrizes para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis ................................ R5
Diretri7.es para a Determi nação da Estabilidade ................................................................... 85
Diretrizes para a Determ inação da Tendência33 - Método da Amostra Independente ......... 87
Diretri.~:cs para a Determinação da Tendência- Método da Carta de Controle .................... 92
L) .tretnzes
. pam a Detenmnação . d a L.mcan'd adc 17 ................................................................. 9",,
41
Diretrizes para a Determinação da Repeti tividade e Reprodutibilidade ........................... I Ol
Método da Amplitude .......................................................................................................... I02
:Vlétodo da Média e Amplitude .............................................. ................. .......................... l 03
:\o1étodo da Anál ise de Variãncia (ANOVA) ....................................................................... 124
Seção C Estudo dos Sistemas de Medição por Atri butos ........................................................ 132
MÉTODO DA ANALISE DE RISCO...................... ............ . ............. ................... 132
Abordagem da Detecção do S inal ....................................................................................... 144
MÉTODO ANAL ÍT lC063 .... .... ........... . . .. ........................................................................... 146
Capítulo IV Outros Conceitos de Medição e Práticas ................................................................ 152
Seção A Práticas para S istemas de Med ição Complexos ou Não-Replicáveis ....................... 154
Sistemas de Medição Destnttiva ................................................................................ ....... 154
Sistemas O nde as Peças se Mod ificam no Uso ou no Teste ............................................... I 54
Seção B Estudos de Estabilidade .............................................................. ............................ 156
Seção C Estudos de Variab ilidade .......................................................................................... I 62
v
Seção D Reconhecendo o Efeito da Excessiva Variação na Própria Peça .............................. 168
Seção E Método da Média e Amplitude- Tratamento Adicional .......................................... 170
Seção F Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição .................................................. 178
Seção G Redução da Variação por Meio de Leituras Múltiplas ............................................. 184
Seção li Abordagem do Desvio-Padrão Composto para o R& R ............................................ 186
Apêndices .................................................................................................................................... 194
Apêndice A .............................................................................................................................. 196
Conceitos de Análise de Variância ...................................................................................... 196
Apêndice B .............................................................................................................................. 200
Impacto do R&R sobre o Índice de Capabilidade Cp ......................................................... 200
Fórmulas .............................................................................................................................. 200
Análisc: ................................................................................................................................ 200
Análise Gráfica .................................................................................................................... 202
Apêndice C .............................................................................................................................. 204
Apêndice 0 .............................................................................................................................. 206
Estudo de Repeti ti vidade do Dispositivo de Medição ........................................................ 206
Apêndice E .............................................................................................................................. 208
Cálculo Alternativo da Variação da Peça (VP) Usando um Termo de Correção do Erro .. 208
Apêndice F .............................................................................................................................. 21 O
Modelo de erro P.I.S.M.O.E.A ............................................................................................ 21 O
GLOSSÁRIO .......................................................................................................................... 214
BIBLIOGRAFIA ..................................................................................................................... 220
Exemplos de Formulários ............................................................................................................ 224
Índice ........................................................................................................................................... 228
vi
Capítulo I
Dtrctri,res Gerais dos Sistemas de Medição
i8
o Lista de Tabelas
8
Tabela 1-B I: Filosofia de Controle e Direção do Interesse ................................................................ . 18
Tabela 11-D I: Critério de R&R......................................................................................................... . 78
Tabela 111-B I: Dados do Estudo de 90
Tendênc1a ....................................................................................... .
Tabela 111-B 2: Estudo de Tendência- Análise do Estudo de Tendência .......................................... .. 92
o Tabela 11 1-B 3: Estudo de Tendência- Análise do Estudo de l:.stabilidade para a Tendência .......... .. 95
'I abcla 11 1-B 4: Dados do Estudo de Linearidade ............................................................................... .. 99
o Tabela 11 1-B 5: Estudo de Linearidade- Resultados Intermediários .................................................. . 99
o Tabela 11 l-8 6: Estudo do Dispositivo de Medição (Método da Amplitude) ...................................... . 103
p Tabela I11-8 6 a: Folha de Coleta de Dados para a Rcpctitividadc c Rcprodutibilidade do 105
Dispo~itivo de Medição ....................................................................................................................... .
Tabela 111-8 7: Tabela ANOVA.......................................................................................................... . 127
Tabela 111-B 8: Análise ANOVA- Porcentagem de Variação c Contribuição ................................. .. 127
Tabela 111-8 9: Comparação dos Métodos ANOV A c da Média c Amplitude .................................. .. 129
Tabela 111-8 I 0: Relatório do Método ANOV A para R&R ................................................................ . 129
Tabela 111-C I: Conjunto de Dados para um Estudo de Atributos..................................................... .. 134
Tabela 111-C 2 Resultados dos Estudos de Tabela Cru/ada ............................................................ .. 136 \
Tabela 111-C' 3 Resumo Kappa......................................................................................................... . 137
Tabela 111-C 4 Comparação dos Avaliadores com a Referência ...................................................... . 138
Tabela 111-C' 5: Tabela do Estudo da eficácia ...................................................................................... . 139
Tabela 111-C 6: Exemplo das Diretrizes do Critério de eficácia .......................................................... . 140
Tabela 111-C 7 C7 : Resumo do Estudo de Eficácia ........................................................................ .. 140
Tabela 111-C' 8: Tabela Ill-C 1 classificado pelo Valor Ref................................................................ . 143
) Tabela IV-A I: Métodos baseados no Tipo de Sistema de Medição ................................................. .. 154
Tabela IV-11 I: Conjunto de Dados para Análise do Dcs\io-Padrào Composto ................................ . 189
Tabela A I: Estimativa dos Componentes da Variância .................................................................... .. 195
'J a bela A 2: Dispersão 6-sigma ........................................................................................................... . 196
Tabela A 3: Análise de Variâncias (ANOV A) .................................................................................... . 197
rabcla A 4: Resultados Tabulados de ANOV A .................................................................................. . 198
Tabela A 5: Resultados Tabulados de ANOV A .................................................................................. . 198
Tabela B I : Comparação entre Cp Observado e Cp Real. ................................................................. .. 201
Tabela C I : Tabela d 2............................................................................................................................ 203
Tabela F I: Exemplo de Modelo de P.I.S.M.O.E.A ............................................................................ . 211
VIl
Lista de Figuras
Figura 1-A I: Exemplo de uma Cadeia de Rastreabllidade para a \1ed1ção de um Comprimento...................... .. lO
Figura 1-B I: Variabilidade do Si~tema de Medição Diagrama de Causa e Efeito............................................ . 15
Figura I I- I: Relacionamento entre os Vários Padrões........................................................................................ . 44
Figura 1-1-. 2: Discriminação .................................................................................................................................. . 46
Figura 1-E 3: Impacto do Número de Distintas Categorias (ndc) da Distribuição do Processo sobre as 47
Atividades de Controle c Antílise.......................................................................................................................... .
Figura 1-E 4: Cartas de Controle do Processo ........................................................................................................ 49
Figura 1-[ S: Características da Variação do Processo de Medição..................................................................... . 50
Figura I 1- 6: Relacionamento entre Tendência c Repetiti"idade......................................................................... . 62
Figura 111 R I: Análise da Carta de Controle para a Lstabilídade....................................................................... . X6
Figura 111-B 2 Estudo de Tendência Histograma do Estudo de Tendência ......................... .. ......................... . 91
Figura 111 B 3: Estudo de Linearidade Análise Grüfica ................................................................................ ... .. 100
Figura 111-B 4: Carta de Médias "Superpostas" ............................................................................................... .. 107
Figura 111-B 5: Carta de Médias "Não Superpostas" ........................................................................................ .. 107
Figura 111-B 6: Carta de Amplitudes- ''Superpostas"......................................................................................... . IOX
Figura 111-B 7: Carta de Amplitudes - "Não Superpostas"................................................................................. .. 109
Figura 111-R 8: Gráfico Scquencial por Peça ....................................................................................................... . 109
Figura 111-R 9: Gráfico de Dispersão................................................................................................................... . 110
Figura 111-B I 0: Cráfico "Whiskers''................................................................................................................... . 111
Figura 111-B 11: Gráfico de Erros ...................................................................................................................... . 112
Figura 111-B 12: Histograma Normalizado ....................................................................................................... .. 113
Figura 111-B 13: Gráfico X Y das Médias por Tamanho .................................................................................. .. 114
Figura 111-B 14: Gráficos de Comparação X Y...... ......................... ............................................ .................... .. 115
Figura 111-B 15: Folha de Coleta de Dados R& R preenchida ............................................... .......................... . 118
Figura 111-B 16: Relatório de Repeliti\ idade c Reprodutibilidade do Dispositi\O de Medição......................... .. 119
Figura 111-B 17: Gráfico de Interação.................................................................................................................. . 125
Figura 111-B 18: Gráfico de Resíduos .................................................................................................................. .. 126
Figura 111-C I: Exemplo de Processo com Pp Ppk 0,50..................... ............................................................ . 132
Figura 111-C 2: "Áreas Cin;cntas" Associadas ao Sistema de Medição ............................................................. .. 132
Figura 111-C 3: Exemplo de Processo com Pp Pp~ 1.33 .................................................................................. .. 141
Figura 111-C 4: Cuna de Desempenho do Disposíti\O de \1edição por Atributo .............................................. .. 149
Figura 111 C 5: Cuna de Desempenho do Dispositivo de Medição por Atnbuto .............................................. .. ISO
172
Figura IV-I-. I: Carta de Controle para Avaliação da Medição (X & R) ! ...................................................... ..
173
Figura IV-L 2: Carta de Controle para Avaliação da Medição (X & R) 2 ...................................................... .
Figura IV-L.:. 3: Cálculos Alternativos para Avaliar um Processo de Medição (Parte I de 2) .............................. .. 174
Figura IV F 4: Cálculos Alternativos para A\'aliar um Processo de Medição (Parte 2 de 2).............................. .. 175
Figura IV- F I. Curva de Desempenho do Disposlll\-0 de Medição Sem Lrro..................................................... .. 180
Figura IV-I 2. Cun·a de Desempenho do DispositÍ\O de Medição L xemplo.................................................. .. lXI
Figura IV-I 3: Desempenho do D1spositi\O de Med1ção Plotada no Papel de Probabilidade Normal ............... .. 182
i'igura IV H I: Análise Gráfica do Estudo do Des\io-Padrão Composto .......................................................... .. 188
Figura IV H 2: Diagrama de Pontos dos valores h ........................................................................................... 191
Figura IV-11 3: Diagrama de Pontos dos valores de k ......................................................................................... .. 192
Figura B I Cp Obsenado \S. C'p Real (Baseado no Processo)............................................................................ . 201
Figura B 2 Cp Obsenado \S. Cp Real (Baseado na Tolerància)......................................................................... . 202
\'111
---·--
Capítulo I
Dtretri/C~ Gerais dos Sistemas de \1 cc.hçào
~ .
Capítulo I
DIRETRIZES GERAIS DOS

SISTEMAS DE MEDIÇÃO
··-
I
. .. ·:Y\
...
'''
'
..
-~:
Capitulo I Seção A
Introdução, Propósito e rcrmm~1logia
2
Capítulo I - ()cçào i\
Introdução, Propósito e Tcrmmologia
Seção A
Introdução, Propósito e Terminologia
Introdução
Os dados de medição são utilizados de muitas maneiras l: mais
frequentemente do que eram antes. Por exemplo, a decisão de ajustar
um processo de manufatura atualmente é comumente baseada em
dados de mcdtção. Os dados de medição, ou algum cálculo estatbtico
a partir deles, são comparados com limites de controle estatístico do
processo, c se a comparação indicar que o processo está fora de
controle estatístico, então um ajuste de algum tipo é realizado. Caso
contrário, é possível que o processo funcione sem ajuste. Outro uso
dos dados de medição é determinar se existe relação significativa
entre duas ou mais variáveis. Por exemplo, pode-se suspeitar qul: uma
dimensão crítica de uma peça plástica moldada está relacionada com
a temperatura de injeção do material. Esta possível relação poderia
ser estudada utili?ando um procedimento estatístico chamado análise
de regressão para comparar as medições da dimensão crítica com as
medições de temperatura de injeção do material.
Estudos que e\.ploram tais relações são exemplos do que o Dr. W. C.
Deming chamou de estudos analíticos. Em geral, um estudo analíttco
é aquele que aumenta o conhecimento sobre o sistema de causas que
afetam o processo. Estudos analíticos estão entre os mais importantes
usos dos dados de medição porque eles conduzem finalmente a um
melhor entendimento dos processos.
O benefício de utilizar um procedimento baseado em dados é
amplamente determinado pela qualidade dos dados de medição
utilizados. Se a qualidade dos dados é baixa, o beneficio do
procedimento prova\elmente será baixo. Da mesma forma, se a
qualidade dos dados é alta, o beneficio prO\avelmente será alto.
Para garantir que o beneficio resultante do uso de dados de medição
seja grande o suficiente para cobrir o custo de obtê-los, atenção deve
ser dada à qualidade desses dados.
Qualidade dos A qualidade dos dados de medição é dclinida pelas propriedade:,

Dados de Medição estatísticas das múltiplas medições obtidas de um sistema de medição
operando sob condições estáveis. Por exemplo, suponha que um
sistema de medição operando sob condições estáYeis, seja utili?ado
para obter vánas medições de uma determinada característica. Se as
medições de uma característica estão todas "próximas" ao \ alor de
referência da característica, diz-se que a qualidade dos dados é "alta".
Da mesma forma, se alguma, ou todas as medições estão "distantes"
do valor de referência, então a qualidade dos dados é dita "baixa".
As propriedades estatísticas mais comumente usadas para caraclcri/.ar
a qualidade dos dados são a tendência c a variância do sistema de
medição. A propriedade chamada tendência refere-se à localiLação
dos dados em relação ao valor de referência (padrão), e a propriedade
chamada \artância refere-se à dispersão dos dados.
Uma das ra1ões mais comuns para os dados da baixa qualidade é a
variação excessiva. Grande parte da variação existente num conjunto
de medições pode ser devida a interaçüo entre o sistema de medição c
seu ambiente. Por exemplo, um sistema de medição para medir o
3
Capítulo I "ícçào A
lntmduçao, Proplbilo c Terminologia
volume de líquido num tanque pode ser sensível à temperatura do
ambiente em que é utili7ado. Neste caso, a variação nos dados pode
ser de" ida às mudanças no volume ou mudanças na temperatura
ambiente. Isto fa/ com que a interpretação dos dados seja mais dificil
e o sistema de medtçào. portanto. indesejável.
Se a interação gera muita "ariação. a qualidade dos dados poderá ser
tão batxa que os dados não são mais úteis. Por exemplo. um sistema
de medição com uma grande 'ariação poderá ser impróprio para uso
na análise de um processo de manufatura. porque a variação do
sistema de medição poderá encobrir a variação do processo de
manufatura. Grande parte do trabalho de gerenciamento de um
sistema de medição consiste em monitorar e controlar a variação.
Entre outras coisas. isto signilica que ênfase deve ser dada em
aprender como o sistema de medição interage com o ambiente, de
modo que somente dados de qualidade aceitável serão gerados.
Propósito
O propósito deste manual é apresentar diretrizes para avaliação da
qualidade de um sistema de medição. Embora as diretrizes sejam
geralmente sulicicntcs para serem usadas em qualquer sistema de
medição, elas destinam-se principalmente aos sistemas de medição
utilizados no âmbito industrial. Este manual não pretende ser um
compêndio de análises para todos os sistemas de medição. Seu foco
principal são os sistemas de medição onde as leituras podem ser
replicadas em cada peça. Muitas destas análises são úteis para outros
tipos de sistemas de mcdtçào e por isso o manual contém referências
c sugestões. Recomenda-se consultar recursos estatísticos
competentes para situações mais complexas ou incomuns. não
discutidas aqui. A aprovação do cliente é necessária para os métodos
de análise dos sistemas de medição não contidos neste manual.
Terminologia
A discussão da análise do sistema de medição poderá se tornar
confusa e enganosa, se não existir um conjunto de termos para
descrever as propriedades estatísticas comuns e os elementos do
sistema de medição associados. Esta seção fornece um resumo dos
termos urilindos neste manual.
Neste manual são utili/ados os seguintes termos:

• Medição é definida como "a atribuição de números [ou \alores]
às coisas materiais para representar as relações existentes entre
elas, no que di7 respeito às suas propriedades particulares". Esta
definição foi criada por C. l:isenhart em 1963. O processo de
atribuição de números é definido como processo de medição. c o
"alor atribuído é delinido como' alor da medição.
4
Capítulo I - Seção A
Introdução, Propósito c Tcm1inologia
• Dispositivo de Medição é qualquer dispositivo utilizado para
obter medições; este termo é frequentemente utilizado para
) descrever especificamente os dispositivos usados no chão de
fábrica; inclui calibradores passa/não-passa (também, ver
bibliografia: ASTM E456-96).
• Sistema de \1edição é o conjunto de instrumentos ou
dispositi\OS de medição, padrões, operações, métodos,
dispositi\ os de produção, sollv.. are, pessoal, ambiente e premissas
usadas para quantificar uma unidade de medição ou corrigir a
avaliação da característica sendo medida; o processo completo
utilizado para obter medições.
Destas definições se conclui que um processo de medição pode ser

visto como um processo de manufàtura que produz números (dados)
como resultado. Visualizar o s istema de medição desta maneira é útil,
porque nos permite consolidar todos os conceitos, filosofia, c
ferramentas que já demonstraram sua utilidade na área do controle
estatístico do processo.
Sumário de Termos1
Padrão
• Fundamento aceito para comparação
• Critério de aceitação
• Valor conhecido, contido entre limites de incertc?a
estabelecidos. aceito como um 'alor verdadeiro
• Valor de referência
I Um padrão deve ser uma dclinu;ão operacional: uma definição que

produ? os mesmos resultados quando aplicada pelo fornecedor ou pelo
cliente, com o mesmo significado ontem, hoje c amanhã.
Equipamento Básico
• Discriminação, legibilidade, resolução
............. ./ Nomes alternativos para: menor unidade de leitura,
resolução de medição, limite da escala, ou limite de
detecção
./ Uma propriedade inerente determinada por projeto
./ Menor unidade da escala de medição ou do resultado
dado por um instrumento
./ Sempre registrada como uma unidade de medição
./ Regra práttca I Opor I.
• Resolução efetiva
./ A sensibilidade de um sistema de medição para
processar a 'a ri ação de uma aplicação particular
I
Vcju Capitulo I, Sct;õo L para definição de terminologia e discusst)cs
5
Capitulo I - Seção A
Introdução. Propósito c Terminologia
./ A menor çntrada que resulta na saída de um sinal de

medição utilizável
./ Sempre registrada como uma unidade de medição
• Valor de referência
./ Valor aceito de um produto manufaturado
./ Necessita de uma definição operacional
./ Usado como um substituto do valor real
• Valor verdadeiro
./ Valor real de um produto manufàturado
./ Desconhecido e irreconhecível
Variação da Localização
r- TEND~NCIA -
• Exatidão
./ "Proximidade" ao valor verdadeiro, ou a um Hllor de
/f\ Mé<hado
Slslemll de Mecjoçio
referência aceito
./ ASTM inclui o efeito da localiLaçào c dos erros de
dispersão
• Tendência
./ Diferença entre a média obsen ada das medições c o
valor de referência
./ Erro sistemático que faz parte do sistema de medição
• Estabilidade
./ A mudança da tendência no dçeorrer do tempo
./ Um processo de medição estável está sob controle
estatístico com respeito à localização
./ Também conhecido como: Desvio
• Linearidade
./ Mudança da tendência ao longo da faixa de operação
normal
./ Correlação dos múltiplos c independentes erros de
1~,
-- r........., ..
tendências na fàixa de operação
./ Erro sistemático que faz parte do sistema de mcd1ção
6
Capítulo I - <;cçào A
Introdução. Propósito c Tcnmnologia
Variação da Dispersão
2
• Precisão
./ "Proximidade" das leituras repetidas, uma das outras
./ Um erro aleatório que faz parte do sistema de medição
• Repetitividade
./ Variação entre medições obtidas com um mesmo
instrumento quando usado '>'árias "e7es por um mesmo
a"aliador, enquanto medindo idêntica característica de
uma mesma peça
./ Variação entre succsshas medições (curto praLo)
Repetatavldade feitas sob condições fixas c definidas
./ Comumente descrita como V.E. - Variação do
Equipamento
./ Capacidade ou potencial do instrumento (dispositivo
de medição)
./ Variação dentro do próprio sistema ( within-system)
e • Reprodutibilidade
Reproduhbolt<lade ./ Variação entre médias das medições feitas por
--:!b
diferentes avaliadores, utili/ando o mesmo dispositivo
de medição, enquanto medindo uma característica de
A···allaoc:kx A C I uma peça
./ Para a qualificação do produto e do processo, o erro
pode ser do avaliador, do ambiente (tempo), ou do
método
./ Comumente descrita como V.A. - Variação do
Avaliador
./ Variação entre condições do sistema (between-\_l :Hem)
./ ASTM E456-96 inclui a repetilividade, laboratório, c
efeitos ambientais bem como os efeitos do a\ aliador
./ A va Iiador
• GRR ou R&R do Dispositivo de Medição

./ Repetitividade e Reprodutibi lidadc do Dispositi vo de
Medição: estimativa combinada da rcpctitividadc c da
reprodutibilidadc do sistema de medição
./ Capabilidade do sistema de medição: dependendo do
A
método usado, pode ou não incluir o efeito do tempo
• Capabilidade do Sistema de Medição

../ Estimativa (curto praLO) da variação do sistema de
medição (exemplo: "R&R" incluindo gráficos)
2
Nos documentos da AS IM, ntlo existe "a precisão de um sa:.tcma de medição"; isto é, "a precisao" nao rode ser representada por um (m aco
número.
7
Capítulu I Seção A
Introduçào, Propósito c I erminologia
• Desempenho do Sistema de Medição

../ estimativa ( longo prazo) da \ariação do sistema de
medição (exemplo: Método da Carta de Controle no
longo prazo)
• Sensibilidade
../ Pequena entrada (input) que resulta em um sinal de
saída ( output) detectável
../ O poder de resposta do sistema de medição às
variações da característica medida
../ Determinada pelo projeto do dispositivo de medição
(discriminação). qualidade inerente (OPM Original
I:quipment Manufacturer, r abricantc do I:quipamento
Original), manutenção durante o trabalho, c condições
operacionais do instrumento e padrão
../ Sempre registrada como uma unidade de medição
--------------- l~ • Consi~tência
Ô (\ p ~ r ../ O grau de variação da repctitividade no decorrer do
j ~v \[V\j M~lo
Amplitude
tempo
- - - - - - - - - - - - uc ../ Um processo de medição consistente está sob controle
estatístico quanto à dispersão (\ariabilidade)
• Uniformidade
../ A variação da repetitividade ao longo da faixa de
operação normal
../ Homogeneidade da repeti ti\ 1dade
Variação do Sistema
A variação do sistema de medição pode ser caracteri7ada por:
• Capabilidade
../ Variabilidade das leituras tomadas no decorrer de um
curto período de tempo
• Desempenho
../ Variabilidade das leituras tomadas no decorrer de um
longo período de tempo
../ Baseado na variação total
• Incerteza
../ Estimativa de um intervalo de valores em relação ao
valor medido dentro do qual acredita-se estar contido o
valor verdadeiro
Todas as descrições da variação total do sistema de mL:dição supõL:m qu~;: o sistema

O sistema de mediçlio deve
ser eslcíl·e/ e consistente
I
seja estável e con~istente. Por exemplo, os componentes da variação podem incluir
qualquer comhmaçào de itens mostrados em 1-B I.
8
Capítulo I- Seção A
Padrões e O National lnstitute of Standards and Technology (NTST) é o

principal Instituto Nacional de Medição (NMI) dos Estados Unidos c
Rastreabilidade
!e atua sob o U.S. Dcpartment of Commerce. O NTST, anteriormente
lO denominado National Bureau of Standards (NBS), atua como o mais
alto nível de autoridade sobre metrologia nos Estados Unidos. A
principal responsabilidade do NIST é fornecer serviços de medição c
manter os padrões de medição que auxiliam a indústria americana na
Ie realização de medições rastreadas, enfim o NIST auxilia a
comercialização de produtos c serviços. O NIST fornece tais serviços
ls diretamente a muitos tipos de indústrias, mas principalmente, atende
aquelas que necessitam do mais alto nível de exatidão em seus
o produtos e que incorporam em seus processos o que há de mais
li avançado e moderno na metrologia.
o
:s Institutos A maioria dos países industrializados do mundo mantém seus
Nacionais de próprios NM I's que similarmente ao NlST fornecem padrões de
Medição metrologia ou serviços de medição de alto nível. O NIST trabalha
cooperativamente com esses outros NM I's para garantir que
medições feitas num país não sejam diferentes de outras feitas em
o outro país. Isto é alcançado por meio de Acordos de Reconhecimento
Mútuo (M RAs) e por se fazer comparações inter-laboratoriais entre
os NMis. Uma coisa importante de se notar é que as capacidades
e
desses NMTs variam de país para país, e nem todos os tipos de
medições são regularmente comparados, portanto, diferenças podem
existir. Assim, é importante entender para quem as medições são
rastreadas c como elas são rastreadas.
e
Rastreabi Iidade A rastreabilidade é um importante conceito no comércio de bens e
serviços. Medições que são rastreáveis aos padrões idênticos ou
similares coincidirão mais exatamente do que aquelas que não o são.
Isto ajuda reduzir a necessidade de reteste, a rejeição de produto bom,
c a aceitação de produto ruim.
A rastreabiiidadc é definida pela ISO - Vocabulário internacional de

Termos Básicos I Gerais da Metrologia (VIM) como:
"A propriedade pela qual uma medição ou o valor de um padrão

pode ser relacionado com referências conhecidas, geralmente
padrões nacionais ou internacionais, através de uma cadeia
ininterrupta de comparações, todas tendo incertezas conhecidas".
A rastreabilidade de uma medição geralmente é estabelecida por meio

de uma cadeia de comparações até retornar ao NMT. Contudo, muitas
vezes na indústria, a rastreabilidadc de uma medição pode ser
conectada de volta até um valor de referência ou até um "padrão de
consenso" acordado entre um cliente e um fornecedor. A conexão de
rastreabilidade desses padrões de consenso até o NMI nem sempre é
claramente entendida, portanto em última instância é muito
importante que as medições sejam rastreáveis até o ponto que
satisfaça as necessidades do cliente. Com o progresso das tecnologias
de medição e o uso do que há de mais avançado e moderno em
sistemas de medição, na indústria, a definição de onde e como uma
medição é rastreada é um conceito sempre em evolução.
9
Capítulo I -Seção A
Introdução, Propósito c Terminologia
Padrão do Comparador de
Comprimento Interferência
de Onda
t +
Padrão de Interferômetro Blocos Padrão de
Referência a Laser Rcfcrência/Comparador
Padrão
i CMM
i Blocos Padrão
-t-~_t_ _
de Trabalho
Dispositivo de Medição Dispositivo

para a Produção de Fixação Micrômctros
Figura 1-A 2: Exemplo de uma Cadeia de Rastreabilidade pa ra a Medição de um Comprimento
O NMI opera conjuntamente com vários laboratórios nacionais,

fornecedores de dispositivos de medição, as mais modernas e
avançadas empresas de manufatura, etc., para garantir que seus
padrões de referência sejam apropriadamente calibrados c
diretamente rastreáveis contra os padrões mantidos pelo próprio NMT.
Estas organizações governamentais c privadas usarão então seus
padrões no fornecimento de serviços de calibração c medição: para os
laboratórios de metrologia dos clientes ou para os laboratórios de
dispositivos de medição, para as atividades de calibração de padrões
de trabalho ou de outros padrões primários. Esta conexão ou
encadeamento de eventos finalmente encaminha-se para dentro da
área fabril e então determina as regras de rastreabilidade da medição.
As medições que podem ser conectadas de volta ao NTST através
desta cadeia inintemtpta de medições, são ditas rastreáveis ao NIST.
Nem todas as organizações têm uma área de metrologia ou
laboratórios de dispositivos de medição dentro de suas instalações e,
portanto, dependem de laboratórios comerciais/independentes
externos para fornecer a rastreabilidade da calibração e dos serviços
de medição. Este é um meio aceitável e apropriado de conseguir a
rastreabilidade até o N IST, desde que a capacidade do laboratório
comercial/independente possa ser garantida por meio de processos,
' tais como o de acreditação de laboratórios.
Sistemas de Um sistema de calibração é um conjunto de operações que estabelece,

Calibração sob condições específicas a relação entre um dispositivo de medição e
um padrão rastreável de valor de referência conhecido e a incerteza.
Calibração também pode incluir os passos para detectar,
correlacionar, relatar, ou eliminar através de ajuste qualquer diferença
na exatidão de um dispositivo de medição que está sendo comparado.
O sistema de calibração determina a rastreabi lidade da medição para
os sistemas de medição através do uso de métodos e padrões de
calibração.
Rastreabilidade é a cadeia de eventos de calibração originada com os
padrões de calibração de capacidade metrológica apropriada ou
incerteza de medição. Cada evento de calibração inclui todos os
elementos necessários, incluindo padrões, medições e equipamentos
de testes que estão sendo verificados, procedimentos e métodos de
calibração, registros e pessoal qualificado.
10
Uma organização pode ter um laboratório de calibração interno ou

esta controlar c manter os elementos dos eventos de calibração. Esses
laboratórios internos devem manter um escopo de laboratório que
relacione as calibrações cspecíiicas que são capazes de realinr bem
como os equipamentos c métodos procedimentos utilizados para
realizar as calibraçõcs
O sistema de calibração é parte do sistema de gestão da qualidade de
uma organização c, portanto, deve ser incluído em quaisquer
requisitos de auditoria interna
Programas de garantia de medição (MAP's) podem ser utili~:ados para
verificar a aceitabilidade dos processos de medição utilizados através
do sistema de calibração. Geralmente os MAP's incluem a
verificação de resultados do sistema de medição através de uma
medição secundária da mesma característica ou parâmetro. Medições
independentes implicam que a rastreabilidade do processo de
medição secundária é derivada de uma cadeia separada de eventos de
~s, calibração daqueles utilizados na medição inicial. Os MAP's podem
e também incluir o uso de controle estatístico do processo (CEP) para
controlar a estabilidade a longo pra/o de um processo de medição.
I
Nota: ANSI I NCSL L 540 c 1')0 10012 fornecem modelos para muitos dos
elementos de um ,.~tema de cahbração
Quando um e\ento de calibraçào é reali7ado por um fornecedor de

serviços de calibraçào externo, comercial ou independente, o sistema
de calibraçào do fornecedor de sen•ços de calibração pode (ou de, e)
ser verificado através da acreditação ISO I IEC 17025. Quando um
laboratório qualificado não está disponível para uma detenninada
peça ou equipamento, os serviços de calibração podem ser realizados
pelo fabricante do equipamento.
Valor Verdadeiro O objetivo do processo de medição é o valor "verdadeiro" de uma

peça. É desejável que qualquer leitura individual esteja tão próxima
deste valor como (economicamente) possível. Infelizmente, o valor
a verdadeiro pode nunca ser conhecido com certeza. Entretanto, a
incerteza pode ser minimizada utilizando um valor de referência
baseado numa adequada definição operacional da característica, c
usando os resultados de um sistema de medição que tem alta
..e, discriminação c rastrcávcl ao NIST. Por causa do valor de referência

ser utilizado como um substituto do valor verdadeiro, estes termos
são geralmente intercambiáveis. Esse uso não é recomendado.
I.
11
12
Capítulo I -Seção B
O Processo de Medição
Seção B
3
Sistemas de Medição
Para gerenciar efetivamente a variação de qualquer processo é necessário
saber:
• O que o processo deveria estar faLcndo

• O que pode dar errado
• O que o processo está Jàzendo
As especificações c os requisitos de engenharia definem o que o processo

deveria estar fa7cndo.
O propósito da Análise de Modo e Efeitos da ralha Potencial do
4
Processo (PFMEA) é definir o risco associado com as fa lhas potenciais
do processo c propor ação corretiva antes que essas falhas possam
ocon·er. O resultado do PFM EA é transferido para o plano de controle.
O conhecimento adquirido sobre o que um processo está fazendo é feito
por meio da avaliação de seus parâmetros ou resultados. Esta atividade,
frequentemente chamada inspeção, é o ato de examinar os parâmetros do
processo, peças em processamento, subconjuntos montados, ou produtos
finais já feitos com o auxílio de padrões adequados e dispositivos de
medição que capacitam o observador a confirmar ou negar a premissa de
que o processo está operando de maneira estável e com variação
aceitá\el, segundo um dctenninado objetivo do cliente. Porém. esta
ati\ idade de examinar é em s1 um processo.
Processo Geral
Entrada
(lnput) --1~ OperaçãoJ~~ Saída
~ (Output)
Processo de Medição
-
.-
Processo ~ ~
a ser L y
Medição y
Análise Decisão
Gerenciado
Valor
Infelizmente, a indústria tem tradicionalmente visto a atividade de

medição e análise como uma "caÍ\.a preta". O equipamento era o foco
principal- quanto mats "tmportante" for a característica, mais caro será
o dispositivo de mcdtção. A utilidade do instrumento, sua
compatibilidade com o processo c com o ambiente, além de sua
usabilidade, eram raramente questionadas. Consequentemente estes
dispositivos de medição eram frequentemente usados de fonna
inadequada ou simplesmente não eram usados.
1
· Pnn~s deste capftulo li.>nlln adaptadas com pem1issão de vtcasurcm.::nt Systcms i\nalysis i\ Tutorial by G. r. Gruska eM. S. Hcaphy, Thc
Third (i~ncration, l\11! 7, 1\1\18.
1
Vcj;to Manual de Referência: Análise de Modo c Efeitos de I'a lha f'ntcncial (I Mhi\) 4' Fdiçflo
13
Capítulo I - Seção B
O Processo de \1cdição
A ath idade de medição e análise é um processo um processo de

mediçlio. Toda c qualquer técnica de gestão, estatística c lógica de
controle de processo podem ser aplicadas a ele.
Isto significa que os clientes e suas necessidades devem ser primeiro
identificados. O cliente, o dono do processo, deseja tomar a decisão
correta com um mínimo de esforço. A gerência deve fornecer os
recursos para comprar o equipamento necessário e suficiente para
isso. Porém, comprar o melhor ou a mais recente tecnologia de
medição não necessariamente garantirá decisões de controle do
processo de produção corretas.
O equipamento é apenas uma parte do processo de medição. O dono
do processo de\ c saber como usá-lo corretamente e como analisar c
interpretar os resultados. A gerência deve, portanto fornecer
definições operacionais claras c padrões, bem como treinamento c
apoio. O dono do processo tem, por sua vez, a obrigação de monitorar
c controlar o processo de medição de modo a garantir estabilidade c
resultados corretos, que inclui uma completa visão da análise dos
sistemas de medição - o estudo do dispositivo de medição, o
procedimento, o usuário, e o ambiente; ou seja, as condições normais
de operação.
Propriedades Um sistema ideal de medição produ.r somente medições "corretas" a

Estatísticas dos cada vez que é usado. Cada medição sempre vai concordar com um
5
padrão • Um sistema de medição que produz medições como este,
Sistemas de medição
será denominado como tendo as seguintes propriedades estatísticas:
variância zero, tendência zero, e probabilidade nula de classi licar
erroneamente qualquer produto medido. Infelizmente, sistemas de
medição com tais propriedades estatísticas tão desejáveis raramente
existem, c, portanto. os gerentes do processo são geralmente forçados
a usar sistemas de medição com propriedades estatísticas menos
desejáveis. A qualidade de um sistema de medição é geralmente
determinada unicamente por propriedades estatísticas dos dados que
ele produ.r no decorrer do tempo. Outras propriedades, tais como
custo. facilidade de uso, etc., são também importantes, pois elas
contribuem para que um sistema de medição seja totalmente
desejável. No entanto, são as propriedades estatísticas dos dados
produzidos que determinam a qualidade do sistema de medição.
Propriedades estatísticas que são mais importantes para um uso não

são neccssanamcntc as mais importantes propriedades para outro uso.
Por exemplo. para alguns usos de uma máquina de medição por
coordenadas (CMM). as propriedades estatísticas mais importantes
são "pequena" tendência e variância. A CM M com essas propriedades
irá gerar medições que estão "próximas" dos valores certificados de
padrões rastreáveis. Os dados obtidos a partir de uma máquina desse
tipo podem ser muito úteis para analisar um processo de fabricação.
Mas, não importa o quão "pequena" a tendência e a variância da
CMM pode ser, o sistema de medição que utili7a o CMM pode ser
incapaz de rcali.tar uma discriminação aceitável entre produtos bons e
ruins por causa das fontes adicionais de variação introduzidas por
outros elementos do sistema de medição.
5
Para uma discussão ma i• ampla sobre a qucstilo das norma!i VCJO Ou/ o( the C'risis, W. Edwards Dcming, 19X2, 19X6, p.279-28 1.
14
de
de A gerência tem a responsabilidade de identificar as propriedades
estatísticas que são as mais importantes para o uso definiti\O dos
ro dados. A gerência também é responsável por garantir que as
~o
propriedades serão usadas como base para a seleção de um sistema de
os medição. Para conseguir isso. as definições operacionais das
ra propriedades estatísticas, bem como os métodos aceitáveis de
je mensuração. são necessárias. Embora cada sistema de medição possa
o ter diferentes propriedades estatísticas, existem certas propried ades
fund a mentais que defin em um "bom " sistema de m edição. Estes
lO
incluem :
e
er I) Discriminação adequada c sensibilidade. Os incrementos da
e medição devem ser pequenos em relação à variação do processo
lr ou os limites de cspeci li cação para o propósito de medição. A
e tradicionalmente conhecida Regra dos Dez, ou Regra IO para I,
)S estabelece que a discriminação do instrumento deva ser a divisão
o da tolerância (ou variação do processo) em dez partes ou mais.
is Esta regra prática roi proposta como um ponto de partida mínimo
para a seleção de um dispositivo de medição.
a 2) O sistema de medição deve estar sob controle estatístico6 • Isto

significa que. sob condições reproduzíveis, a variação no sistema
de medição é devida somente a causas comuns e não devida a
causas especiais. Isso pode ser descrito como estabilidade
estatística e é melhor aYaliada por métodos gráficos.
3) Para o controle do produto. a \ariabilidade do sistema de medição

de\e ser pequena quando comparada com os limites de
especificação. A\aliar o sistema de medição com a tolerância da
característica do produto.
4) Para o controle do processo, a variabilidade do sistema de

medição deve demonstrar uma resolução eficaz e ser pequena
quando comparada com a variação do processo de produção.
Avaliar o sistema de medição com a variação 6-sigma do
processo c I ou variação total do estudo de MSA.
As propriedades estatísticas do si~tema de medição podem mudar como itens
Fontes de Variação
I a serem medidos -.ariam. Se assim for, então a maior (pior) variação do
sistema de medição é pequena em relação ao que for menor, a -.ariação do
processo ou os limites de especificação.
Similar a todos os processos. o sistema de medição é impactado por

ambas as fontes de -.ariação. aleatórias e sistemáticas. Estas fontes de
variação são de" idas a causas comuns c especiais. Para controlar a
variação do sistema de medição:
1) Identificar as fontes de variação potenciais.
2) Eliminar (sempre que possível) ou monitorar estas fontes de

variação.
11
O atl<ala,ta de medição de\e sempre considerar a significâncw prática c estatística.
15
Capttulo I - Seção B
Embora as causas específicas dependam da situação, algumas fontes

de variação típicas podem ser identi1icadas. Existem vários métodos
de apresentação c categorização dessas fontes de variação, tais como
diagrama de causa c efeito, diagrama da árvore de falhas, etc., mas as
diretri?es apresentadas aqui focam sobre os princ1pais elementos de
um sistema de medição.
O acrônimo SWIPE7 é utilizado para representar os seis elementos

S Padrão
essenciais de um sistema de medição genérico para garantir a
W Peça
realização dos objetivos requeridos. S.W.I.P.E signiJica Padrão, Peça,
l Instrumento
Instrumento, Pessoas I Procedimento c Ambiente de trabalho. Isso
P Pessoa I Procedimento
pode ser considerado como um modelo de erro para sistemax de
1: Ambiente
medição completo .
Fatores que afetam estas seis áreas precisam ser compreendidos

assim, eles poderão ser controlados ou eliminados
A figura 1-B 1 mostra um diagrama de causa e efeito contendo

algumas fontes potenciais de variação. Desde que as fontes de
variação reais afetem um sistema de medição específico, elas serão
únicas daquele sistema, esta figura é apresentada como uma ideia
inicial para o desenvolvimento das fontes de variação de um
sistema de medição.
bt.: acrômnwloi on gmalmcntc descmol,ido pda Sra. Mary llo>l-ins, uma mctrolng1sta a"ociada d,t llom;y\\cll.
Eli Wl11tney Mctrology l.<~b e da 13cndix Corporation.
VeJa o Apcnd1cc f par,l um modelo do: erro alternativo, P I.S.M.O.L.A.
16
c
c;
... ,..,
~~
o.
o
-T Vi~~·
o
Ià ~~o
o..Q)3ot;
[ g
- · oll>l
8 ~ O.Vlo(")
"' ~ o ?' "' "' fi) (/) o v; VJ
Instrumento
(dispositivo de
Peça características
"'1"1
I ' interrelacionadas variação na
medição)
iQ. construção premissas para uso

projeto
..,
= massa tolerâncias ........... & ~ amplificação
-
~
I
Cl:l
deformação elástica lto limpeza construção
~
de construção robustez
tendência ....
~ ~
contato/ geometria
..
N
-..-,~ \~
• ~· .,._.
<
..,:.;... propriedades elásticas , ' dados adequados • 1 efeitos da deformação
:.;
r:;" características de apoio
&
validação do projet~
estabilidade
.. consistência
e:
Q.
estabilidade
\~ -fixação
-localizadores
linearidade sensibilidade
:.;
Q. definição • pontos de mediçao •
f'>
Q. calibração - - -•
geometria oculta operacional
- corpos de prova para medição / • ., 1 uniformidade
Q 'V
rJ) manutenção • repeÚtividade /~"'-... ,.
c;;·
.....
f'> coef. de expansão térmica • rastreabilidade calibração -~ \
\ reprodutibilidade variabilidade
-·
3:.;
l me;<><l~ ~
propriedades elásticas apóo
"L
I
Q.
f'>
\1 _variabilidade do
-...J
:: Padrão
':11 •
j
I
...
f'>
Q.
L_ educacional Ststema de Medição
~
..(')
.
:o;t
Q ffsico - experiência
I
o; ·
correntes de ar
compatibilidade
geométrica
.·-~ ~,. ~
poluição do ar limitações I '- treinamento
..,:.;
110
pessoal sol '& l~zes Y •
3:.; expansão térm1ca - • ·~ • ____ artificial 4 / " ' / • definição operacional
• --------· / habilidade
Q. componentes --~.. , vibração
..
"~~ /
./
f'>
equalização -
padrões visuais ~ experiência
~
v
:.;
c componentes do sistema ~ iluminação
&
ciclos
"'f'>
:.; • •• procedimentos
, ..
treinamento
o
~
padrão vs. ambiente • tensão "Q
gQ
;o atitude n>'O
temperatura V> _ ,
:::.
Q entendimento o c:
V>-
Ambiente
ergonomia
Pessoa
... -
c..Õ
3::~
(Avaliador) ...c."""'
--
-g,o"'
o (:)
Os Efeitos da Variabilidade do Sistema de Medição
Em razão do sistema de medição poder ser afetado por várias fontes

de variação, leituras repetidas feitas sobre uma mesma peça não
produzem um mesmo e idêntico resultado. As leituras variam umas
das outras devido às causas comuns e especiais.
Os efeitos das várias fontes de variação sobre o sistema de medição
devem ser avaliados tanto no decorrer de um curto quanto de um
longo período de tempo. A capabilidade do sistema de mediçiio é o
erro (aleatório) do sistema de medição no decorrer de um curto
período de tempo. É a combinação de erros quantificados pela
linearidade, uniformidade, repetitividade e reprodutibilidade. O
desempenho do sistema de medição, assim como o desempenho do
processo, é o efeito de todas as fontes de variação no decorrer do
tempo. Isto é alcançado pela determinação de que o nosso processo
está sob controle estatístico (isto é, estável c consistente; variação
devida somente às causas comuns), no objetivo (nenhuma tendência),
e tem uma variação aceitável (repetitividade e rcprodutibilidade do
dispositivo de medição - R&R) em relação à amplitude de resultados
esperados. Isto adiciona estabilidade c consistência na capabilidade
do sistema de medição.
Em razão da saída do sistema de medição ser utilizada na tomada de decisão
Efeitos nas
I sobre o produto c processo, o efeito cumulativo de todas as fontes de
variação é frequentemente chamado de erro do sislema de medição , ou
algumas vezes apenas "erro".
Após a medição de uma peça, uma das ações que pode ser tomada é
Decisões determinar a situação em que se encontra. Historicamente, determina-
se se a peça é aceitável (dentro da especificação) ou inaceitável (fora
da especificação). Outro cenário comum é a classificação das peças
em categorias específicas (exemplo: tamanhos de pistão).
Para o restante desta discussão, a título de exemplo, serão usadas duas
I categorias de situação: fora da especificação ("ruim") c dentro da

especificação ("boa"). Isto não restringe a aplicação para outras atividades
de categorização.
Outras classificações podem ser: retrabalhar, recuperar, ou sucatear.
Segundo a .filosofia de controle do produto, esta atividade de
classificação é a principal razão para se medir uma peça. Porém, com
a filosofia de controle do processo, o interesse está focado em saber
se a variação da peça é devida a existência de causas comuns ou de
causas especiais no processo.
Filosofia Interesse
A peça situa-se numa categoria
Controle do Produto
específica?
A variação do processo é estável c
Controle do Processo
aceitável?
Tabela 1-B 2: Filosofia de Controle e Direção do Interesse
18
Capítulo I- Seção B
A seção seguinte trata do efeito resultante do erro de medição na
decisão sobre o produto. Depois desta, há outra seção que aborda o
impacto do erro de medição nas decisões sobre o processo.
Efeito nas decisões Para melhor entender o efeito do erro do sistema de medição nas
de Produto decisões sobre o produto, consideremos o caso onde toda a
variabilidade de múltiplas leituras de uma única peça é devida a
repetitividade e reprodutibilidade do dispositivo de medição. Isto
significa que o processo de medição está sob controle estatístico e
um tem tendência Lero.
éo Uma decisão errada algumas veí'es poderá ser tomada sempre que
rto qualquer peça da distribuição de medição mencionada ultrapassar um
ela limite de especificação. Por exemplo, uma peça boa às vezes será
o chamada de "mim" (erro tipo I, risco do produtor ou alarmejàlso) se:
do
do LIE LSE
_]f\ t
ou
_/L t
E, uma peça ruim às vezes será chamada de "boa" (erro tipo 11, risco
do cliente ou tara defalhas) se:
LIE LSE
ora
ou
Jh. t
ças I NOTA: Taxa de alarme falso+ Taxa de falhas - Taxa de erro.
I
RISCO é a chance de tomar uma decisão que será prejudicial para um
uas
indivíduo ou processo
da
des
Ou seja, com relação aos limites da especificação, o potencial de se
~
tomar uma decisão errada sobre uma peça existe apenas quando o
erro do sistema de medição cruza tais limites. Isto determina três
áreas distintas:
de
19
Capitulo I - Seção B
LIE LSE
li
l III
~f rQ:
Objetivo
onde:
I Peças ruins serão sempre chamadas de ruins
11 Potencial decisão errada pode ser tomada
111 Peças boas serão sempre chamadas de boas
Uma vel' que a meta é max1mizar as decisões CORRbTAS a respeito

da situação do produto, existem duas opções:
I) Melhorar o processo de produção: redu/ir a vanabilidade do

processo de modo que nenhuma peça possa ser produzida c
pertença ao li ou às áreas "sombreadas'' da figura acima.
2) Melhorar o sistema de medição: redu/ir o erro do sistema de

medição para diminuir o tamanho das áreas tipo li de modo que
todas as peças produLidas caiam dentro da área 111, e assim
minimizem o risco de tomar uma decisão errada.
Esta discussão assume que o processo de medição está sob controle

estatístico c dentro do objeti\o. Se qualquer uma destas premissas é
violada então existe pouca confiança de que qualquer valor observado
nos leve a uma decisão correta.
Efeito nas Com o controle do processo, as seguintes necessidades devem ser

decisões do Processo estabelecidas:
• Controle estatístico
• Dentro do objetivo
• Variabilidade aceitável
Como explicado na seção anterior, o erro de medição pode provocar

decisões incorretas sobre o produto. O impacto sobre as decisões do
processo seria o seguinte:
• Chamar uma causa comum de causa especial
• Chamar uma causa especial de causa comum
A variabilidade do sistema de medição pode afetar a decisão referente

à estabilidade, objetivo, c variação de um processo. A relação básica
entre a variação do processo observada e a real é:
20
Capítulo I -Seção B
onde:
a 2""' - variância do processo observada
a~ real= \ariância do processo real
2
0 lll>3- variância do sistema de medição
9
O índice de capabilidade Cp é definido como
Cp = Amplitude da Tolerância
6cr
ito
A relação entre o índice Cp da observação do processo e o índice do
processo real c o sistema de medição é derivado da substituição na
equação por Cp dentro da equação de variância observada
mencionada:
de
ue Assumindo que o sistema de medição está sob controle estatístico c
lffi dentro do objeti\O, o Cp real do processo pode ser comparado
graficamente ao (jJ 10 observado.
Ie Então, a capabilidade observada do processo é uma combinação da

é capabilidade real do processo mais a \ariação de\ ida ao processo de
do medição. Para alcançar uma meta de capabilidade do processo
específica, é ncccssáno decompor a variação da medição.
Por exemplo, se o índice Cp do sistema de medição for 2, o processo

.ser real irá requerer o índice de Cp maior ou igual a I ,79 a fim de que o
índice calculado (observado) seja I ,33. Se o índice Cp do sistema de
medição fosse I ,33, o processo teria que apresentar variação nula
para que o resultado final (observado) fosse 1,33 - uma situação
claramente impossível.
car
do
pte
b
9
I mhora nesta discussão tenha sido usado o índice Cp, os resultados silo também vil lidos para o índice de desempenho Pp.
10
Veja o Apêndice B pam li'>mllllas c grálicos.
21
Capitulo I - <;cçào B
Aceitação de um Quando um no"o processo como os de usinagem, de produção, de

Novo Processo estamparia, de manuseio de material, de tratamento térmico, ou de
montagem é adquirido, frequentemente uma série de passos deve ser
e~ecutada como parte da aceitação do mesmo. Muitas vezes isto
envolve alguns estudos do equipamento feitos nas instalações do
fornecedor, c depois nas instalações do cliente.
Se o sistema de medição utilizado em qualquer destas instalações não
for consistente com o sistema de medição que será utilizado em
condições normais uma confusão pode ocorrer. A situação mais
comum envolvendo o uso de diferentes instrumentos é o caso onde o
instrumento utilizado pelo fornecedor tem uma discriminação mais
alta do que o instrumento da produção (dispositivo de medição). Por
exemplo, peças medidas com uma máquina de medição por
coordenadas durante as atividades de aceitação, e depois com um
dispositivo de medição de altura durante a produção: amostras
medidas (pesadas) com uma balança eletrônica ou balança mecânica
de laboratório durante a aceitação, e depois, numa balança mecânica
simples durante a produção.
No caso onde o sistema de medição (superior), usado durante a
aceitação, tem um R& R de 10%, c o Cp real do processo for 2,0,
então o Cp observado do processo durante a aceitação será I,96 11
Quando este processo é estudado na produção com um dispositivo de

medição da produção, mais variação (isto é, menor Cp) será
observada. Por exemplo, se o R&R do dispositivo de medição da
produção for 30% c o Cp real do processo ainda é 2,0, então o Cp
observado do processo será I ,71.
Um cenário pior seria se o dispositivo de medição da produção não
foi qualificado, mas é utili/ado. Se o R&R do sistema de medição é
realmente 60% (mas de fato não é conhecido), então o Cp observado
do processo seria 1,28. A diferença no Cp observado de 1,96 para
I ,28 é devido aos diferentes sistemas de medição. Sem este
conhecimento, esforços serão despendidos em vão, procurando ver o
que ocorreu de errado com o novo processo.
11
:-.Jc,ta dtscussão supõe-se n;1o exl'>lir a vanação da amostra. Na realidade 1,96 é o valor espêrado. mas o n:sultado n:al •anará em tomo dele.
22
·o. de Variação real do processo Variação do dispositivo

ou de de medição da produção
Variação observada do processo
o em
mais
nde o Setup I Controle Frequentemente as operações de manulàtura utilizam uma única peça
mais do Processo no início do dia para veri licar se o processo está no objetivo. Se a
. Por (Experimento do Funil) peça medida está fora do objetivo, o processo é ajustado. Mais tarde,
por em alguns casos, outra peça é medida e novamente o processo pode
ser ajustado. O Dr. Dcming refere-se a este tipo de medição c tomada
de decisão como uma manipularcio imprópria (tampering).
Considere a situação em que o peso da camada de metal precioso
sobre uma peça é controlado contra um objetivo de 5,00 gramas.
Suponha que os resultados da balança usada para determinar o peso
variam ± 0,20 gramas, mas isto é desconhecido pois a análise do
sistema de medição nunca foi realizada. A instrução de operação
solicita ao operador \erilicar o peso no setup e a cada hora baseada
em uma amostra. Se o resultado estiver fora do intervalo 4.90 a 5,1 O
gramas, o operador realin o w!tup do processo outra vez.
o setup, suponha que o processo esteja operando a 4,95 gramas, mas
devido ao erro de medtção o operador observa 4,85 gramas. De
acordo com as instntçõcs o operador tenta ajustar o processo
incrementando 0,15 gramas. Agora o processo passa a operar com um
objetivo de 5, IO gramas. Quando o operador verifica o setup desta
vez encontra 5,08 gramas c, portanto o processo é permitido
prosseguir. O super ajuste do processo lhe adicionou variação c
continuará a fazer isto.
·o de Este é um exemplo do experimento do funil que o Dr. Deming usou
será para descrever os efeitos da manipulação imprópria 12 • O erro de
o da medição somente agrava o problema.
As quatro regras do experimento do funil são:
1,;; Regra I: Não faça ajustes ou não tome ações, a menos que o processo
~·ado
seja instável.
Regra 2: Ajuste o processo em igual quantidade e em direção oposta
para de onde o processo estava na última medição feita.
este
er o Regra 3: Rciniciali7ar o processo ao objetivo. Em seguida ajustar o
processo em tgual quantidade e em direção oposta ao objeti\.O.
Regra 4: Ajustar o processo para o ponto da última medição.
A instrução de W!lup para o processo do metal precioso é um exemplo

da regra 3. Regras 2, 3, c 4 adicionam progressivamente mais
\ ariação. A regra I é a melhor escolha para produzir a mínima
variação.
12 lkming, W. Eduards, Out ofthe Crüis, Massachusetts lm.titutc oi'Tcchnology, 19K2, 19X6
Je.
23
Capítulo I - Seção 8
Outros exemplos do experimento do funil são:
• Recalibração de dispositivos de medição baseados em

limites arbitrários isto é, limites que não refletem a
variabil idade do sistema de medição. (Regra 3)
• Reajustar o processo de controle do sistema de medição
após um número arbitrário de usos, sem qualquer sinal ou
história de mudanças (causa especial). (Regra 3)
• Auto-compensação ajusta-se o processo baseando-se na
última peça produzida. (Regra 2)
• Treinamento no local de trabalho (OJT) onde o operador
A treina o operador B, que treina o operador C. .. sem
material de treinamento padronizado. Isto é similar ao
jogo de "transmitir verbalmente uma história de uma
pessoa para outra, e ao longo do tempo, para várias
pessoas". (Regra 4)
• Peças são medidas, encontrados valores fora do objetivo,
mas quando projetados numa carta de controle o processo
se mostra estável por isso, nenhuma ação é tomada.
(Regra I)
24
Capítulo 1- Seção C
Estratégia e Planejamento da Medição
1s em
tem a Seção C
dição
1al ou O planejamento é muito importante antes de projetar e comprar
equipamentos ou sistemas de medição. Muitas decisões tomadas
·se na durante o estágio de planejamento poderão afetar a definição e
seleção do equipamento de medição. Qual é o propósito e como os
rador resultados da medição serão usados? O estágio de planejamento
sem define o rumo a seguir e tem um efeito significativo sobre como o
ar ao processo de medição vai operar c mais, pode reduzir possíveis
uma problemas e erros de medição no futuro.
rárias
I
Em certos casos, devido ao risco envolvido no componente a ser medido, ou
~tivo, por causa do custo c da complexidade do dispositivo de medição, o cliente
~esso
OEM poderá usar o processo do APQP e seu comitê para decidir sobre a
estratégia de medição no fornecedor.
11ada.
Nem todas as características do produto e do processo necessitam
sistemas de medição cujo desenvolvimento inclua este tipo de análise
minuciosa. Instrumentos de medição padrão simples como
micrômetros ou paquímetros, podem não requerer uma estratégia e
um planejamento tão profundo. Uma regra prática é verificar se a
característica a ser medida no componente ou subsistema está
identificada no plano de controle ou é importante para determinar a
aceitação do produto ou processo. Outra orientação deve ser o nível
de tolerância atribuída para uma dimensão específica. O bom-senso é
o guia em qualquer caso.
Complexidade O tipo, complexidade, c o propósito de um sistema de medição

podem direcionar vários níveis do programa de gerenciamento,
planejamento estratégico, análise do sistema de medição, ou outra
consideração especial para a seleção, avaliação e controle da
medição. Os instrumentos e dispositivos de medição simples (isto é,
balanças, trena, calibradorcs, dispositivos por atributos) podem não
necessitar o mesmo nível de gerenciamento, planejamento, ou análise
mais complexa ou crítica da demanda do sistema de medição (isto é,
padrões ou referências, CMM, bancada de teste, dispositivos de
medição automática na linha de produção, etc.). Qualquer sistema de
medição pode requerer mais ou menos planejamento estratégico c
análise minuciosa dependendo do produto considerado ou da situação
do processo. A decisão quanto ao nível apropriado deve ser deixada
para a equipe de APQP atribuída para o processo de medição e o
cliente. O atual grau de envolvimento ou o nível de implantação em
muitas das atividades abaixo devem direcionar para um sistema de
medição particular, considerações de dispositivos de controle
auxiliares e sistema de calibração, profundo conhecimento do
processo, e pelo bom senso.
25
Cap11ulo I Se~,\0 C
E-stratégia c Planejamento da \<!edição
Identificando o O primeiro passo é estabelecer o propóstto da medição e como os

Propósito do resultados serão utilizados. Uma equipe multifuncional organizada
antecipadamente no desenvolvimento do processo de med ição é
Processo de
fundamental para rcali7ar essa ati\ idade. Considerações específicas
Medição devem ser feitas em relação às auditorias, controle de processo,
descnvohimcnto do produto I processo, e à análise do "Ciclo de Vida
da Medição".
Ciclo de Vida da O conceito de Ciclo de Vida da Medição expressa a confiança de que

Medição os métodos de medição podem mudar ao longo do tempo assim como
se aprende e melhora o processo. Por exemplo, a medição pode
iniciar numa característica do produto para estabelecer a estabilidade
c a capab1lidadc do processo. Isto pode conduz1r ao entendimento das
características de controle críticas do processo que diretamente
afetam as características da peça. A dependência de informações de
característica da peça toma-se menor e o plano de amostragem
reduzido para representar esse entendimento (amostra de cinco peças
por hora para uma peça por turno). Além disso, o método de medição
pode mudar de uma medição CM~ para algum tipo de dispositivo de
med1ção por atnbutos. Eventualmente pode-se descobrir que
monitorar poucas peças pode ser necessário desde que o processo seja
mantido ou medido e o monitoramento da manutenção e
fcrramentaria pode ser nccessáno. O nível de med1ção acompanha o
nível de entendimento do processo.
Muitas das medições c monitoramentos podem eventualmente ser
transferidas aos fornecedores do material recebido. A mesma
medição, na mesma característica, na mesma área do processo
durante muito tempo é evidência da fàlta de aprendizado ou de um
processo de medição estagnado.
Critérios para a Antes de um Sistema de medição ser comprado, um detalhamento do

Seleção de um conceito de engenharia do processo de medição é dcsemoh ido.
Utill/ando o propósito acima descrito, uma equipe multifuncional
Projeto de desenvolverá um plano e os princípios básicos para o sistema de
Processo de medição requerido pelo projeto. Eis algumas diretrizes:
Medição
A equipe necess1ta avaliar o projeto do subsistema ou do
componente/peça e identificar suas características Importantes. btas
são baseadas nos requisitos dos clientes e a funcionalidade do
subs1stema ou do componente/peça do sistema total. Se as dimensões
importantes já foram identificadas, avaliar a capacidade para medir
tais características. Por exemplo, se a característica importante de um
componente de plástico moldado por injeção situa-se na linha de
separação do molde, a verificação dimensional é dificultada c a
vanação da medição será alta.
Um método para detectar situações Similares a estas, seria o uso do
FMEA de processos para analisar as áreas de risco no projeto do
dispositivo de medição quanto à sua capacidade de medir a peça
quanto à funcionalidade do dispositivo de medição (FMI:- A de projeto
c de processo). Isto auxiliaria o desenvolvimento do plano de
manutenção c calibração.
Desenvolver um nuxograma mostrando as fases críticas do processo
na manutàtura ou na montagem da peça ou subsistema. Identificar
entradas chave e saídas de cada fase do processo. Isto auxiliará no
desenvolvimento de critérios para o equipamento de medição e
requisitos afetados pela sua localização no processo.
26
Capítulo 1- Seção C
10 os Desta investigação resultará um plano de medição e uma lista de tipos

tzada de medição 13 •
ão é Para sistemas de medição complexos deve ser feito um fluxograma
ficas do processo de medição. Isso inclui a entrega da peça ou subsistema
esso, que está sendo medida, a medida em si, e o retorno da peça ou
Vida subsistema ao processo.
Em seguida utilizar algum método de brainstorming com a equipe
:que para desenvolver os critérios gerais para cada medição requerida. Um
14
orno método simples para se utilizar é o diagrama de causa e efeito • Veja
JOde o exemplo da Figura 1-B I como uma ideia preliminar.
dade
1 das Algumas questões adicionais a serem consideradas
ente em relação ao planejamento da medição:
s de
gem • Quem deve participar na análise das "necessidades"? O
eças fluxograma e a discussão inicial facilitarão a
ição identificação das pessoas-chave.
o de • Por que a medição será feita e como ela será utilizada?
que Os dados utilizados para controle, classificação,
seja qualificação, etc.? A maneira como a medição será
l e utilizada pode mudar o nível de sensibilidade do sistema
~a o de medição.
• Qual nível de sensibilidade será necessário? Qual é a
ser especificação do produto? Qual é a variabilidade
~ma esperada do processo? Quanto da diferença entre peças, o
esso dispositivo de medição necessita para detectar?
um • Que tipos de informações serão fornecidas juntamente
com o dispositivo de medição (exemplos: manuais -
operação, manutenção, etc.) e quais habilidades básicas
l do do operador são necessárias? Quem irá realizar o
ido. treinamento?
mal • Como as medições serão feitas? Serão feitas
de manualmente, numa esteira rolante, fora da linha de
produção, automaticamente, etc? A localização na peça e
a fixação são possíveis fontes de variação? Contato ou
do
sem contato?
stas
do • Como as medições serão calibradas e serão comparadas
:ões com outros processos de medição? Quem será o
~di r
responsável pelos padrões de calibração?
um • Quando e onde as medições serão feitas? Será que a peça
de está limpa, oleada, aquecida, etc.?
ea
I
Lembre-se de utilizar dados obtidos, para comprovar as premissas comuns
relativas ao processo de medição. E melhor estar seguro c coletar dados
do sobre o ambiente, em vez de tomar decisões baseadas em informações
do erradas e ter um sistema que não é robusto para as questões ambientais.
eça
eto
de
;so
car
no
e 13
Isto pode ser considerado um plano de controle preliminar
14
Veja Cuide to Quality Control, Kaoru lshikawa, publicado pela Asian Productivity Organization, 1986.
27
C'apnulo I Seção C
htratégia e Planejamento da :\k'<l1çào
Pesquisa de Métodos Métodos de medição atuais devem ser pesquisados antes de se

investir em novos equipamentos. Métodos de medição comprovados
de Processo de
podem fornecer uma operação mais confiável. Onde for possível,
Medição por Variáveis utiliL"C um equipamento de medição que tenha registros comprovados.
Desenvolvimento Consulte "Tópicos Sugeridos a incluir numa lista de verificação para

e Projeto de o Desenvolvimento de um Sistema de Medição" ao final do Capítulo
I Seção D, quando desenvolver e projetar conceitos e propostas.
Conceitos e
Propostas Durante e após a fabricação do equipamento de medição e o
desem oh imento do processo de medição (métodos, treinamento,
documentação, etc.), estudos experimentais c atividades de coleta de
dados serão rcali/ados. Estes estudos e os dados serão utilizados para
compreender esse processo de medição para que este processo c
futuros processos possam ser melhorados.
28
Capitulo I - Seção D
Desenvolvimento das Fontes de Medição
le se
rados
sível, Seção D
tdos. Desenvolvimento das Fontes de Medição
para Esta seção aborda a cotação/aquisição do prazo de vida de um processo
1ítulo de medição. Foi elaborada para ser uma discussão independente sobre o
processo de desenvolvimento de um pacote de cotação para um processo
de medição, obtendo respostas para este pacote, decidindo o projeto,
e o completando o desenho final, desenvolvendo o processo de medição, e,
ento, finalmente, unindo o processo de medição ao processo de produção para
la de o qual foi criado. É fortemente recomendado que este capítulo não seja
para utilizado sem ler e entender totalmente a discussão sobre um processo de
so c PROCESSO medição. Para obter o máximo de beneficio do processo de medição,
DE MEDIÇÃO estude e aborde ele como um processo com entradas e saídas 15•
E:-ITRADAS ~SAÍDAS
Este capítulo foi escrito tendo-se em mente a filosofia do trabalho em
equipe. Não é uma descrição de trabalho para o comprador ou ao agente
de compras. As atividades descritas aqui necessitarão do envolvimento
de uma equipe para que sejam realizadas com sucesso e devem ser
administradas dentro da estrutura geral de trabalho de uma equipe de
Planejamento Avançado da Qualidade do Produto (APQP). Isto poderá
resultar em saudável interação entre as várias funções que compõem a
equipe - os conceitos surgidos durante o processo de planejamento
poderão ser modificados antes que o fornecedor do dispositivo de
medição finalize o projeto que satisfaça os requisitos do sistema de
medição.
Geralmente, o "processo de aquisição" começa com uma comunicação
formal entre o cliente e o fornecedor a respeito de um determinado
projeto. A comunicação antecipada é decisiva para o sucesso do projeto,
pois o alicerce necessário para um efetivo relacionamento futuro entre o
cliente e o fornecedor será feito neste estágio. O processo de aquisição
começa com a apresentação formal do cliente sobre a intenção do
projeto, na forma de Requisição de Cotação (RFQ), seguido da
explicação formal do fornecedor sobre a sua proposta para atender tal
intenção (a Cotação). O cliente e o(s) fornecedor(es) necessitam
compreender minuciosamente os requisitos do projeto, que irão entregar,
c os métodos pelos quais ambos irão alcançá-los. Este entendimento é
derivado da comunicação exata e em tempo hábil entre as duas partes.
Uma vez que o conceito foi acordado e o relacionamento entre o cliente e
o fornecedor foi estabelecido para o projeto em pauta, o detalhamento do
projeto, a fabricação do processo de medição, e as atividades de
desenvolvimento podem começar. A comunicação entre o cliente e o
fornecedor neste momento é de grande importância. Uma vez que podem
haver vários níveis de aprovação do conceito a serem seguidos, possíveis
mudanças ambientais e o potencial de mudança de membros da equipe, o
projeto do processo de medição poderá atrasar ou mesmo falhar. Este
risco será reduzido se uma frequente e detalhada comunicação for
mantida e documentada entre o cliente e o fornecedor, e uma pessoa
formalmente responsável por manter tal comunicação por ambas as
partes for designada. O fórum ideal, c o formato desta atividade é o
processo de Planejamento Avançado da Qualidade do Produto (APQP).
15
Veja Capítulo I, Seção B
29
Capítulo I Seção D
Após o processo de medição ter sido conceitualmente projetado, as

atividades que envolvem a aquisição do processo/sistema podem
começar.
Coordenação do Jdcalmcntc, ao prevalecer o atual uso do Dimensionamento

Datum Geométrico e de Tolerâncias (GD&T), os datums necessitam ser
coordenados (isto é, obtidos de forma similar) ao longo do processo
de manufatura e do sistema de medição e isto necessita ser
estabelecido bem no início do processo APQP. A responsabilidade
inicial por esta atividade pode ficar com o engenheiro projetista do
produto, com o controle dimensional, etc., dependendo do tipo de
organização. Quando o datum nos desenhos não corresponde ao
longo de um processo de manufatura, particularmente nos sistemas de
medição, isso leva a uma situação onde coisas erradas podem ser
medidas, e como consequência, poderão advir problemas de ajuste,
etc., levando a um controle do processo de manufatura não efetivo.
Pode haver momentos onde o desenho datum utilizado na montagem

final possivelmente não corresponda ao que é utilizado no processo
de fabricação do sub-componente. Quando este for o caso, tal
condição deverá ser estabelecida tão logo quanto possível no processo
APQP, e assim, todos os membros da equipe entenderão as possíveis
dificuldades e conflitos que surgirão à frente, e terão várias
oportunidades de fazer algo sobre isto. Durante este processo,
diferentes desenhos datum podem ser necessários para análise a fim
de compreender o impacto dessas diferenças.
Certos produtos ou materiais apresentam características que geram

mais problemas do que outras, tais como a centralização do eixo-
comando, ou outras características circulares, cilíndricas ou tubulares.
Por exemplo, um eixo-comando deve ser fabricado entre centros, mas
as características importantes do produto estão em seus lóbulos
(ressaltos). Um método ou desenho datum poderá ser necessário para
a fabricação considerando que outro desenho será necessário para a
medição do produto final.
30
Capitulo 1- Seção D
Pré-requisitos e Antes de se discutir sobre o desenvolvimento do fornecedor de um

Premissas dispositivo de medição, deve-se assumir que questões como,
lo, as
"correto" projeto de engenharia do produto (GD&T), e "correto"
odem
projeto do processo (o qual permite a medição em tempo e no local
apropriado) já tenham sido resolvidas. Entretanto, isto não deve
diminuir a importância de considerar estas questões pelos membros
nento
apropriados da equipe logo no início do processo APQP.
n ser
cesso
1 ser Assume-se que o fornecedor do dispositivo de medição se envolverá
idade com o processo APQP, uma abordagem em equipe. O fornecedor do
ta do dispositivo de medição desenvolverá uma avaliação clara do processo
10 de global de produção c da utilização do produto, portanto o seu papel na
le ao equipe será compreendido não só por ele, mas também pelos outros
as de membros (manufatura, qualidade, engenharia, etc.).
n ser
jus te,
Poderá ocorrer uma pequena sobreposição em algumas atividades ou
o.
na sequência daquelas atividades dependendo do particular
programa/projeto ou de outras restrições. Por exemplo, a equipe
1gem
APQP sem muitas entradas de um fornecedor de dispositivo de
~esso
medição, poderá desenvolver certos conceitos de dispositivos. Outros
1, tal
conceitos exigirão a experiência c o conhecimento do fornecedor do
~esso
dispositivo de medição. Isto pode ser decorrente da complexidade do
:íveis
sistema de medição e da decisão da equipe sobre aquilo que faz
•árias
sentido.
esso,
1 fim
PROCESSO DE SELEÇÃO DE FORNECEDOR DE DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO
eram
eixo- Desenvolvimento de um Pacote de Cotação
lares.
. mas Antes que a solicitação de cotação de um processo de medição possa
Conceito de
>UI os ser enviada ao fornecedor em potencial para que este gere propostas
para
Engenharia
formais, é necessário desenvolver detalhadamcnte o conceito de
ara a Detalhado engenharia do processo de medição. A equipe de pessoas que irá
utilizar e será responsável pela manutenção e melhoria contínua do
processo de medição tem responsabilidade direta de desenvolver o
conceito detalhado. Isto pode ser uma parte da equipe APQP. Para
desenvolver melhor este conceito várias questões necessitam ser
respondidas.
A equipe poderá pesquisar várias questões para auxiliar a decisão de

qual direção ou caminho será seguido, para projetar o processo de
medição. Algumas podem ser impostas ou fortemente subentendidas
pelo projeto do produto. Exemplos das inúmeras questões possíveis
que necessitam ser abordadas pela equipe quando desenvolver este
conceito de engenharia detalhado pode ser encontrado no "Checklist
Tópicos Sugeridos para o Desenvolvimento de um Sistema de
Medição" ao final desta seção.
31
Muitas vezes, os clientes confiam muito fortemente nos fornecedores para as

soluções. Antes que um cliente peça para um fornecedor sugerir as soluções
dos problemas do processo, a base c a intenção do processo necessitam ser
completamente entendidas c antecipadas pela equipe que gerencia aquele
processo. Após isto, e somente após isto, é que o processo será
adequadamente utilizado, suportado, c melhorado.
Considerações sobre Quais as atividades que devem ser programadas para a manutenção
a Manutenção preventiva (exemplos: lubrificação, análise de vibração, comprovação
Preventiva de integridade, substituição de peças, etc.)? Muitas destas atividades
irão depender da complexidade do sistema de medição, dispositivo ou
instrumento. Dispositivos de medição simples requerem apenas uma
inspeção a intervalos regulares, enquanto sistemas mais complexos
podem requerer análises estatísticas detalhadas contínuas, c uma
equipe de engenheiros para mantê-los de forma preditiva.
O planejamento das atividades de manutenção preventiva deve

coincidir com o início do planejamento do processo de medição.
Várias atividades, tais como: drenagem diária dos fi ltros de ar,
lubrificação de rolamentos após um determinado número de horas em
operação, etc., podem ser planejadas antes que o sistema de medição
esteja completamente construído, desenvolvido e implantado. De
fato, isto é preferível e melhora o planejamento avançado do sistema
de medição e os custos. Os métodos de coletar dados e as
recomendações de manutenção relacionadas a estas atividades podem
ser obtidos do fabricante original, ou desenvolvidos pelo pessoal da
engenharia de fábrica, manufatura e qualidade. Após o processo de
medição estar implantado e em uso, dados pertinentes à função do
processo de medição precisam ser coletados e plotados no decorrer do
tempo. Métodos analíticos simples (cartas de controle, análise de
tendências) podem ser aplicados para se determinar a estabilidade do
sistema. Eventualmente, conforme julgamento da estabilidade do
sistema indicar, as rotinas de manutenção preventiva poderão ser
programadas adequadamente. Realizar manutenção preventiva em um
sistema estável, com base em informações obtidas ao passar do
tempo, implicará em menos desperdício do que praticar a manutenção
preventiva em um sistema com técnicas tradicionais.
Especificações As especificações servem como diretrizes para ambos, o cliente e o

fornecedor, no projeto e no processo de fabricação. Tais diretrizes
servem para comunicar os padrões de aceitação. Padrões de aceitação
podem ser considerados em duas categorias:
• Normas de Projeto
• Normas de Fabricação
Formatos de normas de projeto podem ser diferentes dependendo de

quem está pagando pelo projeto. Questões sobre custos podem afetar
o formato. Geralmente é uma boa ideia ter os detalhes do projeto
suficientemente documentados de modo que o projeto possa ser
fabricado ou reparado conforme sua intenção original por qualquer
fabricante qualificado - contudo, esta decisão deve ser direcionada
pelo custo e criticidade.
32
para as O formato requerido do projeto final pode ser algo em forma de

,Juções Computer Assisted Design (CAD) ou cópias impressas de desenhos
am ser de engenharia. fsto pode envolver normas de engenharia selecionadas
aquele dentre aquelas do OEM, SAE, ASTM, ou outra organização, e o
> será fornecedor do dispositivo de medição deve ter acesso ao último nível
e entender estas normas . O Fabricante do Equipamento Original
(OEM) pode requerer o uso de normas particulares tanto na fase de
enção projeto quanto na fase de fabricação, e pode também requerer
vação aprovações formais antes do sistema de medição ser liberado para
dades uso.
VOOU
;uma Normas de projeto detalharão o método de comunicação do projeto
>Iexos (CAD- por exemplo: CATIA, Unigraphics, IGES, manual em cópia
uma impressa, etc.) ao fabricante. Isto pode também cobrir normas de
desempenho para os sistemas de medição mais complexos.
As normas de fabricação conterão as tolerâncias para as quais o
deve sistema de medição deverá ser construído. A tolerância de construção
jição. deve ser baseada na combinação da capabilidade do processo
le ar, utilizado para produzir o dispositivo de medição ou seus
as em componentes, e a criticidade da medição pretendida. A tolerância de
dição construção não deve ser um mero percentual apenas da tolerância do
>.De produto.
stema
Se dispositivos de fixação duplicados ou sistemas forem requeridos, um bom
I
e as
planejamento c a padronização poderão levar à intercambialidade e à
odem
flexibilidade.
>al da
so de O uso de componentes padronizados ou subconjuntos também leva à
iodo intercambialidade, à flexibilidade, custos reduzidos, e geralmente,
·crdo menor erro de medição ao longo do tempo.
se de
de do Avaliação das Quando as cotações são recebidas, a equipe deve se reunir para
le do analisá-las e avaliá-las. Certos detalhes podem ser notados:
Cotações
o ser
../ São atendidos os requisitos básicos?
num
../Há alguma preocupação pendente?
tr do
../ Qualquer um dos fornecedores apresenta uma condição
:nção
excepcional? Por quê?
(Uma condição excepcional poderia ser uma disparidade
significativa com respeito ao preço ou prazo de entrega isto
eco
não necessariamente é considerado um fator negativo - um
trizes
fornecedor pode ter descoberto um detalhe que os outros não
tação
perceberam).
../Os conceitos promovem a simplicidade e mantenabilidade?
Algumas vezes, na aquisição de um processo de medição sua

o o documentação é negligenciada. O significado que a documentação
~APROVAÇÃO
tem em qualquer projeto bem sucedido é geralmente mal interpretado.
lo de
A estratégia usual antes da documentação é fornecer um conjunto
fetar original dos projetos mecânico e elétrico (CAD ou desenhos
ojeto
impressos) do equipamento do processo de medição no momento de
1 ser
entrega. Isto pode satisfazer as exigências iniciais de implementação,
quer
mas essa documentação nada faz em relação aos pontos de desgaste
nada
potencial, não sugere possíveis áreas-problema, nem descreve como
utilizar o processo. Portanto, a documentação requerida para qualquer
processo deve obrigatoriamente incluir muito mais que desenhos de
montagem e desenhos de detalhes do equipamento de medição.
33
Capítulo I S~-.,:ão D
Desem oh tmento da~ I onte~ de Medição
A documentação efetiva para qualquer sistema tem o mesmo

propósito que um bom mapa durante uma viagem. Por exemplo, a
documentação sugere ao usuário como ir de um ponto a outro
(instruções ao usuário ou instruções de uso do dispositivo de
medição). Ela fornece ao usuário as rotas alternativas possíveis para
chegar ao destino desejado (guia para resolver problemas, ou árvores
de diagnóstico) se a rota principal estiver obstruída ou fechada.
Um pacote completo de documentação pode incluir:
• Conjunto reproduzível de desenhos de montagem e
desenhos de detalhes mecânicos (CAD ou cópias em papel)
(incluindo os padrões-mestre necessários).
• Conjunto reproduzível da fiação elétrica, lógica e
software.
• Lista das peças de reposição sugeridas de uso constante
ou itens/ detalhes de desgaste. Esta lista deve incluir itens que
podem exigir muito tempo para aquisição.
• Manuais de manutenção com desenhos da máqu1na em
cortes, além dos passos para montar e desmontar
adequadamente os componentes da máquina.
• Manuais que definem a necessidade de utilidades (ar
comprimido, eletricidade, vapor d'água, gás, etc.) para setup c
operação, além de exigências para o transporte da múquina
(exemplo: travamento dos mancais).
• Árvores de diagnóstico c guia para resolver problemas.
• Relatórios de certificação (rastreável até o NIST, onde for
aplicável).
• Instruções para calibração.
• Manuais do usuário que possam ser utili.t.ados pelo
pessoal de suporte técnico, pelo pessoal operador do sistema,
c pelo pessoal de manutenção.
A lista acima pode ser usada como uma lista de controle para se
organizar um pacote de cotação; contudo ela não é necessariamente
completa.
Aqu1 o assunto principal é a comunicação. Como a documentação é

uma forma de comunicação, a equipe c outras pessoas devem se
envoh cr em todos os níveis de desem olvimento do pacote de
documentação do processo de medição.
34
Dcsenvolvimemo das Fontes de Med1ção
Qualificação no O dispositivo de medição ou o sistema de medição deve ser submetido a

mo
um exame dimensional (layout) completo e a um teste funcional, quando
•a Fornecedor aplicável, nas instalações do fomccedor do sistema de medição antes do
tro
embarque para entrega. Obviamente, o fomccedor escolhido deve ter os
de equipamentos de med1ção qualificados e o pessoal disponível em sua
ua fábrica para realizar tudo 1sto. Em caso contrário, devem ser feitos
res acordos prévios para que este trabalho possa ser realizado extemamente
por um laboratório independente e qualificado. Os resultados do
dimensional completo (layout) clou teste funcional devem ser feitos
conforme estabelece o projeto do cliente e as normas de fabricação e, ser
e completamente documentados c disponíveis para análise do cliente.
el) Após a análise dimensional ter sido completada com sucesso, o
fomecedor deve realizar uma preliminar, porém formal, análise do
sistema de medição. Isto de novo, requer que o fomecedor tenha pessoal,
e
conhecimento c experiência para realizar adequadamente a análise. O
cliente deve pré-estabelecer juntamente com o fomecedor (e talvez com
1te o fabricante do equipamento original OEM) exatamente que tipo de
ue análise é requerido neste momento c deve estar ciente sobre quaisquer
orientações que o fomcccdor possa necessitar. Algumas questões que
podem necessitar de discussão, negociação e acordo, são:
:m • Objetivo do estudo preliminar de Análise do Sistema de
ta r Medição (MSA):
./ Rcpctitividadc do dispositivo de medição (R 16 ) versus
repctitividadc c rcprodutibilidadc (R&R)
ar
./Avaliação da tendência e/ou linearidade
Je
./Avaliação do propós1to do cliente para a medição
na
• Quantidade de peças, medições c operadores para realizar o
estudo
./ Critérios de aceitação
• Uso de pessoal do fornecedor versus uso de pessoal
or fornecido pelo cliente
• Necessidades de treinamento do pessoal
./ Eles estão qualificados?
./ Eles entendem o objetivo?
./ Qual sol1ware poderia ser usado? Quaisquer que sejam os
a, resultados alcançados neste momento deve-se
compreender que eles são simplesmente preliminares, c,
se portanto algum julgamento poderá ser necessário quanto
1te à aceitabilidade dos mesmos.
Expedição Checklist
• Quando o equipamento deve ser expedido?
I é • Como ele deve ser expedido?
se • Quem remove o equipamento do caminhão ou do vagão?
de • É requerido seguro?
• A documentação deve ser enviada juntamente com o
equipamento?
• O cliente tem meios adequados para descarregar o
equipamento?
• Onde o sistema será armazenado até que ocorra o
transporte?
16 . ~ .
VC.Jtl Ap.:nd1ce O
35
Capitulo I Seção D
Desenvoh•mento das l'onte' de Medição
• Onde o sistema será armazenado até que ocorra a

implementação?
• A documentação para embarque está completa? É ela
faci lmente compreendida pelo carregador, transportador,
descarregador e pelo pessoal de instalação?
Qualificação no Geralmente, tudo aquilo que foi feito para qualificar o sistema de
Cliente medição no fornecedor (anteriormente descrito) antes de expedir,
deverá ser repetido de a lguma maneira na fábrica do cliente, após ter
sido finali/ado o processo de entrega. De alguma maneira é a
primeira oportunidade real para estudar o sistema de medição já
dentro do ambiente a ele determinado; as normas de aceitação e os
métodos de análise aqui utilizados deveriam ser seriamente
considerados. Atenção nos detalhes das peças de todas as partes
envolvidas é primordial para o eventual sucesso do sistema de
medição e da utilização dos dados que ele gerar.
Antes de qualquer análise da medição, logo após o recebimento do
sistema de medição, este deve ser submetido a um exame dimensional
completo para confirmar se está conforme as normas e requbitos de
fabricação. A extensão deste exame dimensional (layout) deve ser
balanceada em relação ao exame dimensional (layout) previamente
feito no fornecedor do sistema de medição, antes do transporte e à
confiança na qualidade dos resultados do exame dimensional feito no
fornecedor, bem como a ausência de possíveis danos decorrentes do
transporte. Ao comparar os resultados antes e depois do transporte,
esteja ciente de que existirão algumas diferenças entre tais medições
por causa das diferenças existentes entre os sistemas de medição.
Documentação A informação que é requerida, como mínima, para au'\lliar a

Entregue implementação e iniciar qualquer sistema é a seguinte: (Estas
informações devem ser entregues ao cliente antecipadamente)
• CAD ou desenhos em papel, se requeridos pela equipe
• fluxograma do processo de uso do sistema, onde
aplicável
• Manuais do usuário
../ Manual de manutenção e sen iço
../ Lista de peças para reposição
../ Guia para solução de problemas
• Instruções para calibração
• Quaisquer considerações especiais
No começo, a documentação fornecida deve ser considerada como
preliminar. A documentação original ou reproduzível não precisa ser
entregue neste momento, porque potenciais revisões poderão ser
necessárias. após a implementação. De fato, é uma boa ideia evitar a
entrega do pacote de documentos originais até após a implementação
completa do sistema- os fornecedores são geralmente mais eficientes
com a atuali/ação da documentação do que os clientes.
36
Capítulo 1- Seção E
Questões Relativas à Medição
trra a Checklist Tópicos Sugeridos para o Desenvolvimento

de um Sistema de Medição
É ela
tador,
Esta lista deveria ser modificada com base na situação e tipo do sistema de
medição. O desenvolvimento do checklist final deveria ser o resultado da
na de cooperação entre o cliente e o fornecedor.
pedir,
ós ter
Questões de Projeto e Desenvolvimento do Sistema de Medição:
é a
ão já
O O que deve ser medido? Que tipo de característica é esta? É uma propriedade mecânica? É dinâmica
'e os ou estática? É uma propriedade elétrica? Há variação significativa na mesma peça?
nente
>artes O Para qual propósito os resultados do processo de medição serão utilizados? Melhoria da
ta de produção, monitoração da produção, estudos de laboratório, auditorias de processos, inspeção de
embarque, inspeção de recebimento, respostas a um Delineamento de Experimentos (DOE)?
to do O Quem utilizará o processo? Operadores, engenheiros, técnicos, inspetores, auditores?
.ional
O Treinamento requerido: Operador, pessoal de manutenção, engenheiros; sala de aula, aplicação
DS de
prática, treinamento on thejob (OJT), período de aprendizagem.
e ser
11ente O As fontes de variação foram identificadas? Elaborar um modelo de erro (S.W.I.P.E. ou
ee à P.I.S.M.O.E.A.) usando equipes, brainstorming, conhecimento profundo do processo, diagrama ou
to no matriz de causa c efeito.
~s do
O Há um FMEA sendo desenvolvido para o sistema de medição?
>orte,
ições O Sistemas de Medição Flexível versus Dedicado: Os sistemas de medição podem ser permanentes e
dedicados, ou eles podem ser flexíveis e aptos a medir diferentes tipos de peças; exemplos:
dispositivos de medição de "prateleira", dispositivos de medição com fixação da peça, máquina de
ar a medição por coordenadas, etc. Dispositivos de medição flexíveis são mais caros, porém, podem
Estas economizar dinheiro num longo período de tempo.
O Contato versus sem-contato: Confiabilidade, tipo de característica, plano de amostragem, custo,
e manutenção, calibração, habilidade requerida do pessoal, compatibilidade, ambiente de trabalho,
ritmo, tipos de corpos de prova, deformação da peça, processamento de imagem. Isto pode ser
Dnde
determinado pelo plano de controle requerido e pela frequência de medição (um dispositivo de
contato total pode sofrer um desgaste excessivo durante a amostragem contínua). Corpos de prova
com contato superficial total, tipo de corpo de prova, resposta por jatos de ar, processamento de
imagem, CMM versus comparador óptico, etc.
O Ambiente de Trabalho: Sujeira, neblina, umidade, temperatura, vibração, ruído, intcrrcrência
eletromagnética (EMI), movimento do ar no ambiente, ar contaminado, etc. Laboratório, chão de
fábrica, escritório, etc.? O ambiente de trabalho toma-se uma questão-chave com as pequenas e
apertadas tolerâncias em níveis "micron". O ambiente também é questão-chave em casos de CMM,
sistemas ópticos, ultrassom, etc. Isto poderia ser um fator de auto feedback em tipos de processo com
~mo auto medição. Óleos de corte, detritos de usinagem (cavacos) e temperaturas extremas também
1ser poderiam ser preocupantes. É necessária uma sala limpa?
ser o Pontos de Medição e de Localização: Claramente definidos, usando o GD&T, a localização de
ar a pontos de fixação e de travamento e, onde nas peças as medições devem ser feitas.
tção
ntes o Método de Fixação: Peça solta versus peça fixada por travamento.
o Orientação da Peça: Posição do corpo versus outra.
o Preparação da Peça: Antes da medição, a peça deveria estar limpa, isenta de óleo, com a
temperatura estabilizada, etc.?
o Localização do Transdutor: Orientação angular, distância dos localizadorcs principais ou redes.
37
Capttulo I Sl\.lO D
De'em oh 1mento da~ I onte~ de Medição
O Questão de Correlação #1 - Dispositho de Medição Duplicado: São necessários dispositivos de

medição duplicados (ou mais) dentro ou entre fábricas para atender aos requisitos? Considerações
construtivas, considerações sobre o erro de medição, considerações sobre manutenção. Qual
dispositivo é considerado como o padrão? Como cada dispositivo será qualificado?
O Questão de Correlação #2 - Divergência entre métodos: A variação da medição resultante de
diferentes projetos do sistema de medição atuando sobre o mesmo produto/processo com prática e
com limites de operação aceitáveis (exemplo: CMM versus resultados de medições manuais, ou
versus resultados de medições com ajuste de set-up).
O Automático versus ~anual : na linha de produção, fora da linha de produção, tudo aquilo que
depende do operador.
O Medição De~t rutiva versus Não-destrutiva (NDT): Exemplos: teste de resistência à tração, teste de
sa!t-spray, espessura da camada de eletrodeposição ou pintura, dureL:a, medição dimensional,
processamento de imagem, análise química, tensão, durabilidade, impacto, torção, torque, resistência
do ponto de solda, propriedades elétricas, etc.
O Amplitude de Medição Potencial: tamanho e amplitude esperada para as medições esperadas.
O Resolução Efetiva: A medição é sensível às mudanças fisicas (capacidade para detectar \ariações do
processo ou do produto) para uma aplicação específica?
O Sensibilidade: É o tamanho de um pequeno sinal de entrada que resulta num sinal de saída detcctá.,el
(discernível) pelo dispositivo de medição aceitável para aquela aplicação. A sensibilidade é
determinada: pela qualidade (OEM)/pelo projeto do dispositivo de medição; pela manutenção durante
o trabalho; e, pelas condições operacionais.
Questões de Fabricação do Sistema de Medição (equipamento, padrão, instrumento):
O As fontes de variação identificadas no projeto do sistema têm sido consideradas? Análise Crítica
de Projeto, verificação e validação.
O Calibração e Sistema de Controle: Planejamento de calibração recomendada, auditona do
equipamento e documentação. Frequênc1a, interna ou externa, parâmetros, controles de verificação no
processo.
O Requisitos de Entrada: Mecânico, elétrico, hidráulico, pneumático, supressores de onda, secadores,
liltros, questões de ajuste e operação, isolação, discriminação c sensibi lidade.
O Requisitos de Saída: Analógico ou Digital, documentação e registros, arquivo, armazenamento de
dados, recuperação de dados, back-up.
O Custo: Fatores de orçamento para desenvolvimento, compras, instalação, operação, e treinamento.
O Manutenção Preventiva: Tipo, programação, custo, pessoal, treinamento, documentação.
O Facilidade de manutenção: Interna ou e:\terna, localização, nível de suporte, tempo de resposta.
disponibilidade de peças de reposição, lista de peças-padrão.
O Ergonomia: Capacidade para alimentar c operar a máquina sem lesões corporais ao longo do tempo.
As discussões sobre um dispositivo de medição requerem foco nas questões de como o sistema de
medição é interdependente com o operador.
O Considerações sobre Segurança: Pessoal, operação, ambiente de trabalho, bloqueios.
O Armazenamento e Localização: Estabelecer os requisitos para armazenamento e locali/ação do
eqUipamento de medição. Enclausuramento, ambiente de trabalho, segurança, questões de
disponibilidade (proximidade).
O Tempo de Ciclo da Medição: Quanto tempo leva para efetuar a medição de uma peça ou
característica? Ciclo de Medição integrado ao controle do processo e produto.
O Existirá qualquer interrupção do fluxo do processo, integridade do lote, para retirar, medir e
retornar a peça?
38
Capítulo I Seção E
O Manuseio de Materiais: Para lidar com as peças a serem medidas ou para lidar com o sistema de
I>S de
medição são necessários: racks especiais, dispositivos de suporte, equipamentos de transporte. ou
lções
outros equipamentos para o manuseio de materiais?
Qual
O Questões Ambientais: Existem quaisquer exigências ambientais especiais, requisitos, condições,
lirnttaçõcs, que afetam o processo de medição c ou processos 'i.ánhos? Algum tipo de exaustão
e de
especial fà/-Se necessário? É necessário controlar a temperatura ou a umidade? Umidade, vibração,
ca e
ruído. interferência eletromagnética (EMl), limpeza.
. ou
O Existem quaisquer requisitos especiais ou considerações sobre a confiabilidade? Ficará o
equipamento em espera por algum tempo? Este equipamento necessita ser verificado após seu uso em
que
produção?
O Peças para Reposição: Lista de peças, fornecimento adequado c sistema de requisição no local,
lte de
disponibilidade, tempos de espera compreendidos c computados. A área disponível para
onal,
arma;;cnamento é adequada, cercada, e mantida trancada? (mancais, mangueiras, correias,
ência
interruptores, solenoides, válvulas, etc.)
O Instruções para o usuário: Sequência de aperto, procedimentos de limpeza, interpretação de dados,
gráficos, auxílios visuais, instruções completas. Instruções disponíveis e adequadamente expostas.
es do
O Documentação: Desenhos de engenharia, árvores de diagnóstico, manuais do usuário, idioma, etc.
O Calibração: Comparação com padrões aceitáveis. Disponibilidade e custo dos padrões aceitáveis.
~tável
Frequência recomendada, necessidades de treinamento. E requerido algum tempo de parada de linha?
Ide é
ante O Armazenamento: Existem quaisquer exigências especiais ou considerações a respeito do
armuenarnento do dispositivo de medição? Enclausuramcnto, ambiente de trabalho, proteção contra
danos roubo, etc.
O À prova de erros/enganos: Pode o usuário corrigir facilmente (ou muito facilmente?) os conhecidos
enganos cometidos ao realizar a medição? Entrada de dados no equipamento e transferência ao
rítica
computador, uso inadequado do equipamento, à prova de erros, à prova de enganos.
a do Questões da Implementação do Sistema de Medição (processo):
O Suporte: Quem dará suporte ao processo de medição? Técnicos de laboratório, engenheiros,

produção, manutenção, serviços externos contratados?
O Treinamento: Qual treinamento será necessário para operadores I inspetores I técnicos I engenheiros
para utilizar c manter esse processo de medição? Questões de tempo/prazo, de recursos, e de custo.
to de Quem treinará? Onde o treinamento será realizado? Requisitos para o tempo de espera? Coordenação
com o uso atual do processo de medição.
O Gerenciamento de Dados: Como serão gerenciados os dados resultantes do sistema de medição?
o.
Manual, informatizado, resumo dos métodos, resumo das frequências, métodos para a análise crítica
dos dados, frequência para a análise crítica dos dados, requisitos internos e do cliente.
Disponibilidade, armazenamento, recuperação de dados, backup, proteção aos dados. Interpretação de
dados.
O Pessoal: Para suportar o processo de medição haverá a necessidade de admitir pessoal? Questões
rmpo. sobre custos. prazos, e disponibilidade. Pessoal atualmente existente ou no\ o.
ra de O Métodos de Melhoria: Quem irá melhorar o processo de medição no decorrer do tempo?
Engenheiros. produção, manutenção, pessoal da qualidade? Quais métodos de avaliação serão
utilil'ados? Há algum sistema para identificar a necessidade de melhoria?
O Estabilidade no longo prazo: Métodos de avaliação quantitativa. formulário, frequência, e
iodo necessidade de estudos de longo prazo. Desvio, desgaste, contaminação, integridade operacional.
IS de Pode o erro de longo prazo ser medido, controlado, compreendido, previsto?
O Considerações especiais: Atributos do inspetor, limitações físicas ou questões de saúde: daltonismo,
;a ou visão, resistência fisica, fadiga, força, ergonomia.
dir e
1
39
Capítulo I Sc~ão D
Oe"en~ol~1mcnto da\ hmk.., de \ied1ção
40
Capitulo I Seção I.
Quc>tõcs Relativa;, à Medição
Seção E
Três questões fundamentais devem ser consideradas quando

avaliamos um sistema de medição:
1) O sistema de medição de,·e demonstrar sensibilidade adequada .
./Em primeiro lugar. o instrumento (e o padrão) tem

discriminação adequada? A discriminação (ou classe) é
determinada pelo projeto c serve como ponto de partida
para a escolha do sistema de medição. Geralmente tem
sido aplicada a Regra dos Dez, a qual estabelece que a
discriminação do instrumento deva dividir a tolerância (ou
a variação do processo) em dez partes ou mais.
./ Em segundo lugar, o sistema de medição demonstra uma
resolução efetiva? Com relação à discriminação,
determinar se o sistema de medição tem a sensibilidade de
detectar mudanças no produto ou na variação do processo
para suas aplicações e condições.
2) O sistema de medição deve ser estável.
./ Sob condições de repeti ti v idade, a 'ariação do sistema de

medição é dcv 1da apenas às causas comuns e não às causas
especiaic; (ou caóticas) .
./ O analista de medição de\e sempre considerar a
significância prática c estatística.
3) As propriedades estatísticas (erros) são consistentes em relação a

amplitude de medição esperada c adequadas ao propósito da
medição (controle do produto ou controle do processo).
A antiga tradição de relatar o erro de medição somente como uma

porcentagem da tolerância é inadequada para os desafios do mercado
que cnfatiza a estratégia c a melhoria contínua do processo. Como os
processos mudam c melhoram, o sistema de medição deve ser
reavaliado quanto a sua finalidade. É essencial para a organização
(gerência, planejador da medição, operador de produção, e analista da
qualidade) compreender a finalidade da medição c aplicar a avaliação
adequada.
41
Capítu lo I Seção E
Questõc' Relativas à \1cdição
Tipos de Variação Geralmente assume-se que as medições são exatas, e frequentemente

do Sistema de a análise e as conclusões são baseadas nesta premissa. Uma pessoa
pode não perceber que há variação no sistema de medição que afeta
Medição
indi\idualmentc as medições, e depois, afeta as decisões baseadas nos
dados. O erro do sistema de medição pode ser classificado em cinco
categorias: tendência, repetitividade, reprodutibilidade, estabilidade, e
linearidade.
Um dos objetivos do estudo do sistema de medição é obter
informações relativas à quantidade e tipos de variação de medição,
prO\enientes de um sistema de medição quando este interage com o
ambiente. Estas informações são valiosas, pois nos processos de
produção. habitualmente é mais prático detenninar a repetiti\idade e
a tendência de calibração c estabelecer limites razoáveis para elas, do
que fornecer dispositivos de medição extremamente exatos com
excelente repetilividade.
As aplicações de tal estudo geram:
• Um critério para aceitar novos equipamentos de medição.
• A comparação de um dispositivo de medição contra
outro.
• As bases para a\aliar um dispositi\ o de medição
considerado deficiente.
• A comparação um equipamento de medição antes e
depois de reparado.
• Um componente requerido para o cálculo da 'anação do
processo, e nível de aceitação para um processo de produção.
• A informação necessária para desenvolver uma Cun a de
Desempenho do Dispositivo de Medição (GPC) 17 , a qual
indica a probabilidade de aceitar uma peça de certo 'alor
verdadeiro.
As definições a seguir ajudam a descrever os tipos de erros ou

vanações assoctadas a um sistema de medtção. de modo que cada
termo de cada termo seja claramente compreendido para discussão
posterior. Uma ilustração é dada para cada definição ao qual
graficamente mostra o significado de cada termo.
17
Veja Capítulo V. Scç(\\1 C.
42
C'apitu lo I Seção F.
Questões Relati\ as à Med1ç1io
nente Definições e Definição O peracional

e~soa Fontes Potenciais
afeta "Uma definição operacional é o que pennite às pessoas negociarem.
de Variação Uma definição operacional segura, completa, confiável, ou de
nos
emco qualquer outra qualidade (característica), deve ser comunicáYel, com
tde, e o mesmo significado tanto para o vendedor quanto para o comprador,
o mesmo significado ontem e hoje para o operador de produção.
obter Exemplo:
lição, I) Um teste específico de uma peça de um material ou de um
om o conjunto montado
)s de 2) Um critério (ou critérios) para julgamento
ade e 3) Uma decisão: sim ou não, o objeto ou o material atende ou não
1
as, do atende ao critério (ou critérios)" M
com
P adrão
ição. Um padrão é algo realindo por acordo geral como uma base de
comparação; um modelo aceito. O padrão pode ser um artefato
ontra
(produto fabricado) ou um conjunto (instrumentos, procedimentos,
etc.) estruturado e estabelecido por uma autoridade como regra para a
~ição medição de quantidade, peso, extensão, valor, ou qualidade.
O conceito de conjunto foi formalizado na ANSl/ ASQC Standard
tes e
M 1-1996 19• Este termo foi usado para ressaltar o fato de que tudo
aquilo que afeta a inccrteLa de medição necessita ser levado em
conta: exemplos: ambiente, procedimentos, pessoal, etc. "Um
ào. exemplo de um conjunto s1mples seria aquele destinado à calibraçào
a de de blocos-padrão, con!>istindo de um bloco-padrão mestre, um
qual comparador, um operador, o ambiente, e o procedimento de
valor calibração".
P ad rões de Refer ência

s ou Um padrão geralmente de mais alta qualidade metrológica disponível
cada num dctenninado local, do qual são derivadas as medições feitas
ussão naquele local.
qual
Equipamento de M edição c Teste
Todos os instrumentos de medição, padrões de medição, materiais de
referência, c os demais aparatos auxiliares necessários para realizar
uma medição.
Pad rão de Calibr ação

Um padrão que serve como referência para a rcaliLação de roteiros de
calibração. Planejado para atuar como intennediário entre o padrão de
trabalho da calibração c o(s) padrão(õcs) de referência do laboratório.
1
~ W. E. Dcming, Out ofthc C'risis (1982, 1986), p. 277.
19
bta dcfiniç:lo loi ma i• tarde atualizada como Equipamento de Medição c 'I cslc (M&TI') por padrões militares subsequenles
43
Capitulo I Seção E
Padrão de Transferência
Um padrão utilizado para comparar um padrão de valor conhecido
com a unidade que está sendo calibrada.
Padrão Mestre
Um padrão usado como referência no processo de calibração. Pode
também ser chamado de referência ou padrão de calibração.
Padrão de Trabalho
Um padrão cujo uso planejado é realizar as rotinas de medições
dentro do laboratório, não pretende ser um padrão de calibração, mas
pode ser utilizado como um padrão de transferência.
Cuidadosa atenção tem que ser dada ao(s) material(is) selecionado(s) para
l
um padrão. Os materiais empregados devem ser adequados ao uso e ao
escopo do s\s\ema de med\ção, bem como desem o:.cr compathei~ com a~
fontes de variação atreladas ao passar do tempo, tais como, desgaste e
fatores ambientais (temperatura, umidade, etc.).
I Padrão de Referêncta I
Padrão de Transferência
I PadrJo de Calibração I
Padrão de Transferência I
Padrão de Trabalho
. .
: Padnlo de Venlicaçlo ·
Figura 1-E 7: Relacionamento entre os Vários Padrões
44
Padrão de Verificação
Um artefato (objeto) de medição muito parecido com aquele em que o
ecido
processo de medição foi projetado para medir, mas que é
intrinsecamente mais estável do que o processo de medição que está
sendo avaliado.
Pode
Valor de Referência
Um valor de referência, também conhecido como valor de referência
aceito ou valor mestre, é um valor de um artefato (objeto) ou conjunto
que serve como referência acordada para comparação. Os valores de
lições
referências aceitos são baseados no que se segue:
,, mas
• Determinados pela média de várias medições feitas com
) para um equipamento de medição de mais alto nível (exemplo:
, e ao laboratório metrológico ou equipamento dimensional).
om as • Valores legais: definidos e impostos por lei.
aste e • Valores teóricos: baseados em princípios científicos.
• Valores atribuídos: baseados em trabalho experimental
(feito com apoio de teoria idônea) de alguma organização
nacional ou internacional.
• Valores de consenso: baseados em trabalho experimental
cooperativo sob o patrocínio de um grupo científico ou de
engenharia; valores definidos por meio de consenso dos
usuários tais como equipes composta de profissionais e
organizações comerciais.
• Valores acordados: valores expressamente acordados
pelas partes afetadas.
Em todos os casos, o valor de referência necessita ser baseado numa

definição operacional e em resultados de um sistema de medição
aceitável. Para conseguir isto, o sistema de medição usado para
determinar o valor de referência deve incluir:
• Instrumento(s) com uma discriminação alta e erro do

sistema de medição menor do que os sistemas de medição
usados para a avaliação nonnal.
• Ser calibrado com padrões rastreáveis até o NIST ou
outro NMI.
Valor Verdadeiro
O valor verdadeiro é a medida "real" da peça. Embora este valor seja
desconhecido e irreconhecido, esse é o objetivo do processo de
medição. Qualquer leitura individual deve situar-se tão próxima desse
valor quanto for (economicamente) possível. Infelizmente, o valor
verdadeiro poderá nunca ser conhecido com certeza. O valor de
referência é utilizado como a melhor aproximação do valor
verdadeiro em todas as análises. Por causa disto o valor de referência
é utilizado como um substituto do valor verdadeiro, estes termos são
comumente intercambiáveis. Este uso não é recomendado. 20.
20
Veja também ASTM: E177-90a
45
Capitulo I Sco;ão r
Questl\6 Relamas à \kd1~-tlo
Discriminação
A discriminação é a quantidade de mudança de um valor de
referência que um instrumento pode detectar e indicar de maneira
confiúvel. A discriminação é também denominada como legibi lidade
ou resolução.
A medida desta capacidade é tipicamente o valor da menor graduação
na escala do instrumento. Se o instrumento tem um "curso" de
graduações, então meia graduação poderá ser usada.
A rebrra prática geral é que a discnminação do instrumento de
medição de' c ser pelo menos um décimo ( 111 O) da amplitude a ser
medida. Tradicionalmente, essa amplitude era adotada como sendo a
especificação do produto. Recentemente a regra 10 para I é
interpretada com o significado de que o equipamento de medição é
capa7 de discriminar pelo menos um décimo ( 1/ 1O) da variação do
processo. Isto é consistente com a filosofia de melhoria contínua (isto
é, o foco do processo é o objetivo designado pelo cliente).
rnm 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140
o pol•gtMJn 1 2 3
itt II l1 L.. li
Figura 1-E 8: Discriminação
A regra prf1tica anteriormente apresentada pode ser considerada como

o ponto de partida para determinar a discriminação desde que não
inclua qualquer outro elemento da variabilidade do sistema de
medição.
De\ ido a limitações econômicas c f1sicas. o sistema de medição não
distingue todas s peças de uma distnbuição do processo como tendo
características medidas separadas ou diferentes. Em ve7 disto, a
característica medida será agrupada pelos seus valores medidos em
categorias de dados. Todas as peças em uma mesma categoria de
dados terão o mesmo valor a característica medida.
Se o sistema de medição não tem discriminação (sensibi lidade ou
resolução efetiva), ele pode não ser um sistema apropriado para
identificar a variação do processo ou para quantificar os valores
individuais da característica da peça. Se este for o caso, técnicas de
medição melhores deverão ser utili7adas.
A discrimmação é inaceitável para a análise, se não pode detectar a
\ariação do processo, e é inaceitável para controle, se não pode
detectar variação por causas especiais de (veja Figura I-E 3).
46
Capítulo 1- Seção L
Questões Relativas à Vled1Çlio
Controle Análise
- -t-
Pode ser usada para con- • Inaceitável para estimar os
trole somente se: parâmetros e os índices do
• A variação do processo processo
é pequena quando com- • Apenas indica se o processo
parada com as especifi- está produzindo peças con-
cações forme ou não - conforme
• A função perda for
plana em relação à va-
to de I Categoria de Dados
riação esperada do pro-
a ser
cesso
ndo a
• A principal fonte de
I é
variação causa um des-
ção é
locamento da média
ão do
a (isto • Pode ser usada com • Geralmente inaceitável para
técnicas de controle estimar os parâmetros e os
semi-variável baseadas índices do processo, uma
na distribuição do pro- vez que somente fomece
cesso estimativas grosseiras
• Pode produzir cartas de
controle por variáveis
insensíveis
• Pode ser usada com • Recomendada

cartas de controle por
variáveis
S ou mais Categorias de Dados

como L
e não Fil(ura 1-•: 9: Impacto do Número de Distintas Categorias (ndc) da Distribuição do Processo sobre as
a de Atividades de Controle c Análise
Sintomas de discriminação inadequada podem aparecer na carta de
o não amplitudes. A Figura 1-E 4 contém dois conjuntos de cartas de controle
tendo derivadas dos mesmos dados. A Carta de Controle (a) mostra a medição
:.to, a original aproximada com miléstmo de polegada. A Carta de Controle (b)
mostra esses dados arredondados para aproximação de centésimo de
o:. em
polegada. A Carta de Controle (b) parece estar fora de controle de\'ido aos
ria de limites artificialmente "fechados". Os valores "zero" para amplitudes são
mais um produto do arredondamento de dados, do que uma indicação da
de ou variação do subgrupo.
para uma boa indicação de discnmmação madequada pode ser visto na carta de
atores amplitudes do Controle Estatístico do Processo - (CEP) para a variação do
as de processo. Em particular, quando a carta de amplitudes mostrar apenas um,
dois, ou três valores possíve1s para a amplitude dentro dos limites de
controle, as medições estarão sendo feitas com discriminação inadequada. 1:.
ctar a também, se a carta de amplitudes mostrar quatro valores possíveis para a
pode amplitude dentro dos limites de controle c mais do que um quarto ( 1/4) são
zeros, então as medições estão sendo feitas com discriminação inadequada.
Outra boa indicação de discriminação inadequada está no gráfico de
probabilidade normal onde os dados serão armazenados em blocos ao invés
de fluir ao longo da linha de 45 graus.
47
Capitulo I - Seção E
Retornando à Figura I-E 4, Carta de Controle (b), existem somente

dois valores possíveis para a amplitude dentro dos limites de controle
(valores de 0,00 e 0,0 I). Portanto, a regra corretamente identifica a
razão da falta de conlrole como sendo discriminação inadequada
(sensibilidade ou resolução efetiva).
Este problema pode ser remediado, certamente, por meio da
modificação da capacidade de detectar a variação dentro dos
subgrupos através do aumento da discriminação das medições. Um
sistema de medição terá discriminação adequada se sua resolução
aparente é pequena em relação à variação do processo. Deste modo, a
recomendação para a discriminação adequada seria ter a resolução
aparente no máximo igual a um décimo (1/10) do desvio padrão 6-
sigma total do processo, em vez da tradicional regra ao qual a
resolução aparente seria no máximo um décimo (111 O) do intervalo de
tolerância.
Eventualmente, existem situações em que se alcança um processo
estável e altamente capaz usando um sistema de medição estável,
"melhor-da-sua-categoria" nos limites práticos da Lecnologia. A
resolução efetiva pode ser inadequada e a melhoria do sistema de
medição toma-se impraticável. Nestes casos espectats, o
planejamento da medição pode requerer técnicas alternativas de
monitoramento do processo. A aprovação do cliente será tipicamente
requerida para as técnicas alternativas de monitoramento do processo.
48
Capítulo r Seç~o E
Questões Relativas à Mcdtção
mente
ntrole Carta Xbarra/R
fica a (Discriminação =0,001)
quada
~ 0,145
êií
LSC =0,1444
io da
> dos
! 0.140 _, ~ d 1\ !'-......., 1\ A Méd 0 39 7
~ ~ ····-~··v·-~.'JLIC~:.13~
;. Um
>lução
)do, a
•lução 0,135 - ,_-
· · • • · · I I I I T
·ão 6- A Subgrupo O 5 10 15 20 25
ual a
1lo de g 0.02
IJ)
LSC = 0,01717
~ro
•cesso
:tável,
"U
Q)
"U
0.01
b 1\" An /\A R= 0,00812
ia. A
na de
·a.ªE
4: 0,00 - . • . • • • • • • • • • • . • • • • • • • • • • • • • . • • • . . . . - •• LIC =O
s, o
~s de
Eente
.esso. Carta Xbarra/R
(Discriminação= 0,01)
~ 0,145
êií LSC = 0,1438
o
E
4:
ro 0,140 Média = 0,1398
"U
<11
'õ
•Q)
LIC = 0,1359
~ 0,135
B Subgrupo O 5 10 15 20 25
~ 0,02
o
~ LSC =0,01438
<11
"U 0,01
Q)
"U R= 0,0068
~
a.
~ 0 ,00 LIC =O
Figura I-E 10: Cartas de Controle do Proccsso 21
21
A hgura 11: 4 foi desenvolvida utili/.ando dados de Evaluating the Mcm,urcmcnt Pn>CC>S, por Wheeler and Lyday, Copyright 1989, SPC
Prcs,, Inc., Knoxvillc, Tcnncsscc.
49
Capitulo I - Scçao E
Questões Relativas á :llled•ção
Variação Para a maioria dos processos de medição, a variação total de medição

do Processo é usualmente descrita como uma distribuição normal. A probabilidade
de Medição normal é uma premissa dos métodos padrões de análise dos sistemas
de medição. De fa to, existem sistemas de medição que não são
normalmente distribuídos. Quando isto ocorre, e a normalidade é
assumida, o método MSA pode superestimar o erro do sistema de
medição. O analista de medições deve reconhecer e corrigir as
avaliações para sistemas de medição não-normais.
Localização
Dispersão
Figura 1-E 11: Características da Variação do Processo de
Medição
Variação da Exatidão
Localização
Exatidão é um conceito genérico de prectsao relacionado com
fechamento da concordância entre a média de um ou mais dos
resultados medidos e um valor de referência. O processo de medição
deve estar sob controle estatístico, de outra maneira, a exatidão do
processo nada significará.
Em algumas organizações a exatidão é utilizada intercambiável com a
tendência. A ISO (lnternational Organiz.ation for Standardization) e a
ASTM (American Socicty for Testing and Materiais) usam o termo
exatidão para juntar a tendência e a repetitividade. Para evitar
confusão que pode resultar do uso da palavra exatidão, a ASTM
recomenda que apenas o termo tendência seja usado para descrever o
erro de localização. Esta política será seguida neste texto.
Tendência
A tendência é frequentemente conhecida como "exatidão". Por causa
da palavra "exatidão" ter vários sigo i ficados na literatura, o uso como
alternativa para "tendência" não é recomendado.
Capítulo I s~-.;ão E
Questões Rclau' a5 à 1\.lcd•çào
A tendência é a diferença entre o valor verdadeiro (valor de

edição
referência) c a média observada das medições numa característica
Iidade numa mesma peça. A tendência é a medida do erro sistemático de um
;temas
sistema de medição. É a contribuição para o erro total, composta dos
io são
efeitos combinados de todas as fontes de variação, conhecidas ou
lade é
desconhecidas, do qual as contribuições do erro total tendem a
ma de compensar consistentemente e previsivelmente todos os resultados de
gir as
aplicações repetidas de um mesmo processo de medição na ocasião
da reali/ação das medições.
T EN D ~NCI A _,.
I~
Média do Valor de Referência

Sistema de Medição
e
As causas possíveis para uma tendência excessiva são:
• O instrumento necessita de calibração
• Desgaste do instrumento, equipamento ou dispositivo de
fixação
com
• Padrão-mestre desgastado ou danificado, erro do padrão-
s dos
mestre
dição
~o do • Calibração inadequada ou uso de configuração padrão
• Instrumento de baixa qualidade projeto ou
conformidade
• Erro de linearidade
termo • Dispositivo de medição errado para aquela aplicação
evitar • Método de medição diferente - setup, carregamento,
STM aperto/fixação, técnica de operação
ver o • Medição da característica errada
• Deformação (da peça ou do dispositivo de medição)
• Ambiente- temperatura, umidade, vibração, limpeza
• Violação de alguma premissa erro numa constante
causa aplicada
como • Aplicação - tamanho da peça, posição, habilidade do
operador, fadiga, erro de observação (legibilidade, paralaxe)
O procedimento de medição empregado no processo de calibração

(isto é, usando os "padrões") deve ser idêntico ao procedimento de
medição usado na operação normal.
51
Capítulo I Seção F
Questõe' Relati\as à \llcdição
Estabilidade
Estabilidade (ou Desvio) é a variação total nas medições obtidas com

um sistema de medição no mesmo padrão-mestre ou peças quando
medindo uma característica única no decorrer de um período de
tempo prolongado. Isto é, estabilidade é a variação da tendência ao
,
longo do tempo.
Tempo
As causas possíveis da instabilidade incluem:

• Instrumento necessita de calibração, reduzir o intervalo
de calibração
• Desgaste do instrumento, equipamento, ou dispositivo de
fixação
• Envelhecimento normal ou obsolescência
• Manutenção precária ar, energia, hidráulica, filtros,
corrosão, ferrugem, limpeza
• Padrão-mestre desgastado ou danificado, erro do padrão-
mestre
• Calibração inadequada ou uso de configuração padrão
conformidade
• Projeto do instrumento ou método não robusto
• Método de medição diferente setup, carregamento,
aperto/fixação, técnica de operação
• Deslocamento ambiental temperatura, umidade,
vibração, limpeza
• Violação de alguma premissa erro numa constante
aplicada
• Aplicação - tamanho da peça, posição, habilidade do
Linearidade
A diferença da tendência ao longo do intervalo de operação

esperado (medição) no equipamento é chamada de linearidade. A
linearidade pode ser imaginada como a variação da tendência com
respeito ao tamanho.
52
Capítulo I Seção 1:
Questões Relativas à Mcdoç:lo
tScom r TENDÊNCIA
,.._ T ENDÊNCIA _,.
uando
do de
I
cia ao
Valor 1 Valor N
Note que uma linearidade inaceitável pode vir em uma variedade de

situações. Não assuma a tendência como sendo constante.
Tendêncoa Constante linearidade Tendêncaa Nli<H:onstante
rvalo Valores de Referência
\o de
i:l Tendêncaa Constante Lmearidade - Tendêncoa Nli<H:onstante
1ltros,
adrão-
j ..........
·e ~
~
Tendêncoa Poso~va
Tendência Zero
Tendência Negatova
Valores de Referência
As causas possíveis do erro de linearidade incluem:

• Instrumento necessita de calibração, reduzir o intervalo
de calibração
• Desgaste do instrumento, equipamento, ou dispositivo de
udade, fixação
• Manutenção precária ar, energia, hidráulica, filtros,
tstante corrosão, ferrugem, limpeza
• Padrão-mestre desgastado(s) ou dani licado(s), erro do(s)
de do padrão(ões)-mestre mínimo/máximo
axe)
ração
de. A
:1 com
53
• Calibração inadequada (não cobrindo o intervalo de

operação) ou uso de configuração do(s) padrão(ões)-mestre
conformidade
• Dispositivo de medição errado para a aplicação
• Método de medição diferente - setup, carregamento,
aperto/fixação, técnica operacional
variando com o tamanho da peça
• Ambiente temperatura, umidade, vibração, limpeza
• Violação de uma premissa - erro numa constante
aplicada
• Aplicação - tamanho da peça, posição, habilidade do
Variação da Precisão
Dispersão Tradicionalmente, a precisão descreve o efeito líquido da
discriminação, da sensibilidade, e da repetitividade ao longo do
intervalo de operação (tamanho, intervalo, e tempo) de um sistema de
medição. Em algumas organizações a precisão e a repetitividade são
conceitos intercambiáveis. De fato, a prectsao é muito
frequentemente usada para descrever a variação esperada em
repetidas medições feita ao longo do intervalo de medição; tal
intervalo de medição pode ser em tamanho ou em tempo (isto é, "um
aparato é tão preciso para valores baixos quanto para valores altos do
intervalo de medição", ou ainda, "é tão preciso hoje como ontem").
Pode-se dizer que a precisão é para a repetitividade aquilo que a
linearidade é para a tendência (embora os erros de precisão e
repetitividade sejam aleatórios, e os erros de linearidade e tendência
sejam sistemáticos). A ASTM define a precisão num sentido mais
amplo para incluir a variação de diferentes leituras, dispositivos de
medição, pessoas, laboratórios ou condições.
Repetitividade
Tradicionalmente a repctitividade é conhecida como a variabilidade
"do avaliador". A rcpetitividade é a variação nas medições obtidas
com um instrumento de medição, quando usado várias vezes por
um avaliador, enquanto medindo uma característica idêntica de uma
mesma peça. Ela é a variação inerente ou a capabilidade do próprio
equipamento. A repetitividade é comumente denominada como sendo
a variação do equipamento (VE), embora isto seja uma ideia errada.
--1
Rcpetitividade De fato, a repetitividade é uma variação de causa comum (erro
aleatório) decorrente de sucessivas repetições feitas sob condições
definidas de medição. O melhor termo para designar a repetitividade
é variação dentro do sistema, quando as condições de medição são
fixas c definidas - fixação da peça, instrumento, padrão, método,
operador, ambiente, e as premissas. Em adição à variação dentro do
equipamento, a repetitividade incluirá todas as variações dentro (veja
a seguir) provenientes de qualquer condição do modelo de erro.
Capítulo I - Seção E
As causas possíveis de baixa repetilividadc são:

a\o de
:stre • Variação da peça (amostra): forma, posição, acabamento
10 OU
superficial, conicidade, consistência da amostra
• Variação do instrumento: reparo, desgaste, falha do
equipamento ou dispositivo de fixação, baixa qualidade ou
manutenção precária
mento, • Variação do padrão: qualidade, classe, desgaste
• Variação do método: variação no setup, na técnica, no
:dição) zerar o equipamento, na fixação da peça, no aperto do
dispositivo.
!a
• Variação do avaliador: técnica, posição, falta de
nstante
experiência, habilidade de manipulação, treinamento de
manuseio, sensibilidade, fadiga
1de do
laxe) • Variação do ambiente: pequenas flutuações cíclicas na
temperatura, umidade, vibração, iluminação, limpeza
• Violação de alguma premissa estabilidade, operação
lo da apropriada
1go do • Projeto do instrumento não robusto ou método não
:ma de robusto, baixa uniformidade
1de são • Dispositivo de medição errado para aquela aplicação
muito
• Deformação (da peça ou do dispositivo de medição), falta
la em
de rigidez
io: tal
é, "um • Aplicação - tamanho da peça, posição, erro de
ltos do observação (legibilidade, paralaxe)
1tem").
que a Reprodutibilidade
isào e Tradicionalmente a reprodutibilidade é conhecida como a
dência variabilidade "entre avaliadores". A reprodutibilidade é tipicamente
>mais definida como a variação das médias das medições feitas por
vos de diferentes avaliadores, utilizando um mesmo instrumento de
medição, enquanto medindo uma mesma característica de uma
mesma peça. Isto é frequentemente verdadeiro para instrumentos
manuais influenciados pela habilidade do operador. Isto não é
Iidade verdade, entretanto, para processos de medição (exemplo: sistemas
1btidas automáticos) onde o operador não é a maior fonte de variação. Por
!S por esta razão, a reprodutibilidade é denominada como a variação média
e uma entre sistemas, ou entre condições de medição.
róprio Reprodutibilidade
sendo
rrada.
(erro
lições
·idade
o são
itodo,
rodo Avaliador A c B
(veja
A definição da ASTM vai mais longe do que isto para potencialmente
incluir não apenas os diferentes avaliadores, mas também os
diferentes: dispositivos de medição, laboratórios e ambiente
(temperatura, umidade), bem como a inclusão da repetitividade no
cálculo da reprodutibilidade.
55
Capítuln 1- SL-çãn E
Questões Relatl\as à \!edição
Potenciais fontes de erro de reprodutibilidade incluem:
• Variação entre peças (amostras): diferença média quando

medindo tipos de peças A, B, C, etc., utilizando o mesmo
instrumento, operadores e método.
• Variação entre instrumentos: diferença média utili~:ando
instrumentos A. B, C, etc., para as mesmas peças, operadores
e ambiente. Nota: neste estudo o erro de reprodutibilidade é
geralmente confundido com o método e/ou o operador.
• Variação entre padrões: influência média de diferentes
conjuntos de padrões no processo de medição.
• Variação entre métodos: diferença de médias causada
pela mudança do ponto de densidade, sistemas manual vs.
automático, métodos para zerar, fixar, apertar, etc.
• Variação entre avaliadores (operadores): Diferença média
entre os avaliadores A, B, C, etc., causada por treinamento,
técnica, habilidade c expencncia. Este é o estudo
recomendado para a qualificação do produto c do processo, e
a qualificação do instrumento de medição manual.
• Variação entre ambientes: diferença média em medições
ao longo do tempo I, 2, 3, etc., causada pelos ciclos
ambientais; este é o estudo mais comum para os sistemas
altamente automatindos, quando da qualificação do produto e
do processo.
• Violação de alguma premissa no estudo
• Eficácia do treinamento do operador
• Aplicação - tamanho da peça, posição, erro de
observação (legibilidade, paralaxe)
Como menciOnado nas duas definições antenores, existem dtferenças nas

defimções usadas pela ASTM c aquelas apresentadas nesle manual. A
literatura da ASTM loca as avaliações inter-laboratoriais, com interesse nas
diferenças laboratório a laboratório, mcluindo o potencial para dtfercntes
operadores, dtsposittvos de medição e ambiente~. bem como incluindo a
repeti ti~ idade dentro do laboratório. Portanto, as definições ASTM
necessitam incluir estas diferenças. Pelos padrões ASTM, a repetillvidade é
o melhor que o equipamento poderá ter sob condições atuais (um operador,
um disposili\'o de medição, um curto período de tempo) c a
reprodutibilidadc representa as condições operacionais ma1s comuns, onde
existe variação de múltiplas fontes.
R&R do Dispositivo de Medição
O R&R do dispositivo de medição é uma estimativa da variação

combinada da repetitividade c da reprodutibilidadc. Dito de outra
forma, o R&R é a variância igual a soma das variâncias dentro do
sistema e entre sistemas.
56
O'2 R&R = O'2reprodullhlhd.l.Jc -+ O'' rcpc1111Htlade

Valor ct. Ret.,..ncla
mdo i
smo
mdo
lores
de é
_/ A c
R&R
:ntes
Sensibilidade
sada
A sensibilidade é a menor entrada que resulta num sinal detectável
I vs.
(utilizável). Essa é a sensibilidade do sistema de medição às
mudanças da característica medida. A sensibilidade é determinada
tédia pelo projeto do dispositivo de medição (discriminação), pela
!nto, qualidade inerente (OEM), pela manutenção durante o trabalho, e
tudo pela condição de operação do instrumento e seu padrão. Ela é sempre
so, e relatada por meio de uma unidade de medida.
Fatores que afetam a sensibi lidade incluem:
ções • Capacidade para reduzir as vibrações num instrumento
i elos • Habilidade do operador
~mas • Repetitividade do dispositivo de medição
uto e • Capacidade para realizar a operação sem desvios, no caso
de dispositivos eletrônicos e pneumáticos,
• Condições sob as quais o instrumento está sendo usado,
tais como o ar do ambiente, a sujeira, a umidade
Consistência
' (\vv.'vi Am~""''

------------------ LSC
t de
A consistência é a diferença da variação das medições tomadas no
I"J Médía decorrer do tempo. Ela pode ser vista como a repetitividade no
~ nas decorrer do tempo.
------------------ LIC
aL A
'nas
Os fatores que afetam a consistência são causas especiais de variação,

tais como:
• Temperatura das peças
• Aquecimento inicial requerido por equipamentos
e a eletrônicos
onde • Equipamento desgastado
iação
outra
·o do
57
Capítulo I Scç:Io E
Que~tões Relau~as à \1cd•ção
Uniformidade
A uniformidade é a diferença na variação ao longo da amplitude de

operação do dispositivo de medição. Ela pode ser considerada como a
homogeneidade da repetitividade ao longo do tamanho (da medida).
Os fatores que afetam a uniformidade incluem:
• O dispositivo de lixação permite tamanhos
menores/maiores em diferentes posições
• Legibilidade fraca da escala
• Paralaxe na leitura
Variação do Capabilidade
Sistema de A capabilidade de um sistema de medição é uma estimativa da
Medição variação combinada dos erros de medição (aleatórios c sistemáticos)
baseada numa avaliação feita em curto pral'o. A capabilidade simples
inclui os componentes de:
• Tendência ou linearidade incorretas
• Repeti ti\ idade e reprodutibi lidade (R&R), incluindo a
consistência determinada no curto prazo
Consulte o Capítulo I1l para os métodos típicos e exemplos para
quantificar cada componente.
Uma estimativa da capabilidade de medição, portanto, é uma
expressão do erro esperado para condições definidas, escopo c faixa
de um sistema de medição (diferente da incerteza de medição, que é a
expressão da amplitude esperada do erro ou de valores associados
com o resultado de medição). A expressão da capabilidade da
variação combinada (variância), quando os erros de medição não
estão correlacionados (aleatórios e independentes), pode ser
quantificada como:
, 2 2
O' capabohdade = O' 1enucncoa (I uocarounuc) + O' R& R
Existem dois pontos essenciais para entender e corretamente aplicar a

capabilidade de medição:
Primeiro, uma estimativa da capabilidade está sempre associada com
um escopo definido para a medição condições, amplitude c tempo.
Por exemplo, dizer que a capabilidade de um micrômetro de 25 mm é
O, I mm é insuficiente sem qual i ficar o escopo e a amplitude das
condições de medição. Além disso, este é o motivo porque um
modelo de erro é tão importante para definir o processo de medição.
O escopo para uma estimativa da capabi Iidade de medição pode ser
algo bem específico ou pode ser também uma declaração geral de
operação, sobre uma parcela limitada, ou faixa de medição completa.
No curto prazo pode significar: a capabilidade ao longo de uma série
de ciclos de medição, o tempo para completar a avaliação do R&R,
um período de produção especificado, ou o tempo representado pela
frequência de calibração. Uma declaração da capabilidade de medição
58
Capítulo I Seção L
necessita apenas ser completa o suficiente para, razoavelmente,

replicar as condições c faixa de medição. Um Plano de Controle
documentado pode servir para este propósito.
1de de
Segundo ponto, a consistência no curto prazo e a uniformidade (erros
de repetitividade) ao longo da faixa de medição estão incluídas na
estimativa da capabilidade. Para um instrumento simples, como um
micrômetro de 25 mm, sendo usado normalmente, por operadores
experientes, espera-se que a repetitividade ao longo de toda a faixa de
medição seja consistente c uniforme. Neste exemplo, a capabilidadc
estimada pode incluir toda a faixa de medição para múltiplos tipos de
características sob condições gerais. Faixas maiores ou sistemas de
medição mais complexos (isto é, uma CM M) podem demonstrar erros
de medição de (incorreta) linearidade, uniformidade, consistência no
va da curto prazo sobre a amplitude ou tamanho. Por causa destes erros
.ticos)
estarem correlacionados, e les não podem ser combinados usando uma
mples
simples fórmula linear como acima mostrado. Quando a (incorreta)
linearidade, uniformidade ou consistência variam significativamente
ao longo da faixa, o plancjador de medição e o analista de medição
1do a terão unicamente duas escolhas práticas:
I) Relatar a capabilidadc máxima (pior caso) para as condições
para inteiramente definidas, escopo e intervalo do sistema de
medição, ou
uma 2) Determinar e relatar as avaliações múltiplas de capabilidade
faixa para algumas faixas definidas do intervalo de medição (ou
ue é a seja, pequeno, médio, grande intervalo).
;iados
le da
p não Desempenho
~ ser
Como ocorre com o desempenho do processo, o desempenho do
sistema de medição é o efeito total de todas as fontes de variação
significativas c determináveis no decorrer do tempo. O desempenho
quantifica a avaliação (no longo prazo) dos erros de medição
combinados (aleatório c sistemático). Portanto, o desempenho inclui
icar a
os componentes de erro no longo prazo da: ·
• Capabilidadc (erros no curto prazo)
I COm • Estabilidade c Consistência
:mpo.
mmé Consulte o Capítulo 111 para os métodos típicos e exemplos de
e das quantificação de cada um desses componentes.
! um
lição. Uma estimativa do desempenho de medição é uma expressão de erro
esperado para condições definidas, escopo e fa ixa do sistema de
le ser
ai de medição (isto difere da incerteza de medição, que é uma expressão de
pleta. amplitude esperada de erro ou valores associados com o resultado de
série medição). O desempenho da variação combinada (variância), quando
~&R,
os erros de medição não estão correlacionados (aleatório e
pela independente). pode ser quantificado como:
:lição
cr2desempenho cr2 capnbllld..de 1 cr2 eslablhdade + cr2con:;istêncm
59
Capítulo I Scçilo r
Qucstücs Rclati~as a \llcdição
Além disto, como ocorre com a capabilidade no curto pra7o, o

desempenho no longo prazo está sempre associado com um escopo
definido de medição - condições, faixa e tempo. O escopo para a
estimativa do desempenho de medição pode ser muito específico ou
uma declaração geral de operação, sobre uma parcela limitada ou
mesmo toda essa faixa. Longo prazo pode significar: a média de
várias avaliações da capabilidadc feitas no decorrer do tempo, o erro
médio no longo prazo de uma carta de controle de medição, uma
avaliação dos registros de calibração ou múltiplos estudos de
linearidade, ou o erro médio de vários estudos R&R feitos no
decorrer da vida e faixa do sistema de medição. Uma declaração do
desempenho de medição necessita ser completa o suficiente para,
razoavelmente, representar as condições e faixa de medição.
A consistência no longo prazo c a uniformidade (erros de
repetitividade) ao longo da faixa de medição estão incluídas na
estimativa do desempenho. O analista de medição deve estar ciente
das potenciais correlações de erros, c assim não superestimar a
estimativa de desempenho. Isto depende de como os componentes de
erros foram determinados. Quando a (incorreta) linearidade no longo
prazo, a uniformidade, ou a consistência variarem significativamente
ao longo da faixa, o planejador de medição e o analista terão somente
duas escolhas práticas:
I) Relatar o desempenho máximo (pior caso) para as condições
inteiramente definidas, escopo e faixa do sistema de medição,
ou
2) Determinar e relatar as avaliações múltiplas de desempenho
para algumas faixas definidas do intervalo de medição (ou
seja, pequeno, médio, grande intervalo).
Incerteza
A incerteza de medição é definida pelo Vocabulário Internacional de
Termos Básicos/Gerais da Metrologia VIM como um "parâmetro
associado ao resultado de uma medição, que caracteriza a de
dispersão de valores que podem razoavelmente ser atribuídas ao
mensurando"22 . Veja maiores detalhes no Capítulo I, Seção F.
Comentários Dos parâmetros do sistema de medição, a exatidão e a precisão são as

mais familiares ao pessoal de operação, isto porque eles são usados
no dia-a-dia, bem como nas discussões técnicas e de vendas.
Infelizmente, estes termos são também os mais obscuros visto que,
frequentemente, um é substituído pelo outro e vice-versa. Por
exemplo, se o dispositi\ o de medição é certificado por um órgão
independente como exato, ou se o instrumento é garantido ter alta
precisão pelo \endedor, então é errado imaginar que todas as leituras
vão cair muito pró:\imas dos valores reais. Isto não só é
conceitualmente errado, mas pode induzir a decisões erradas sobre o
produto ou processo.
A esta ambiguidade adiciona-se as da tendência e repctitividade
(como medidas de exatidão c precisão). É importante perceber que:
21
Mcnsurunllo c>.ulllcfinido pelo VIM como "a quantidade particular sujeita à mcdiçãn"
60
• A tendência e a rcpetitividade são independentes uma da outra

to, o
:copo (veja Figura 1-E 6).
pra a • Controlar uma destas fontes de erro não garante o controle da
o ou outra. Consequentemente, os programas de controle dos sistemas de
la ou medição (tradicionalmente conhecidos como Programas de Controle
la de dos Dispositivos de Medição) devem quantificar e acompanhar todas
I CITO as fontes relevantes de variação. 23
uma
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23
Veja também o Capitulo I, Seção B.
61
Capítulo I Scç~o E
Qucstõc' Rclati\as à VI edição
Repetitividade
Aceitável Não aceitável
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Figura I-E 12: Relacionamento entre Tendência e Repetitividade
62
Capítulo I Seção F
lncctcza da Medição
Seção F
Incerteza da Medição
A Incerteza da Medição é um conceito usado internacionalmente para

descrever a qualidade de um valor medido. Embora este termo tenha
sido reservado para muitas das medições de grande exatidão
realizadas em laboratórios de metrologia ou dispositivos de medição,
muitos clientes e normas de sistema da qualidade, requerem que a
incerteza da medição seja conhecida e consistente com a capacidade
de medição requerida para qualquer equipamento de inspeção,
medição ou ensaio.
Em essência, a incerteza é o intervalo atribuído a um resultado de
medição que descreve, dentro de um nível de confiança definido, a
amplitude esperada que contenha o resultado verdadeiro da medição.
A incerteza de medição é normalmente relatada como uma
quantidade bilateral. A incerteza é uma expressão quantificada da
confiabilidade da medição. Uma expressão simples deste conceito é:
Medição Verdadeira = Medição Observada (resultado) ± V

U é o termo para a "incerteza expandida" do mensurando e resultado
de medição. A incerteza expandida é o erro padrão combinado (uc),
ou é o desvio padrão dos erros combinados (aleatório e sistemático),
num processo de medição multiplicado pelo fator de cobertura (k),
- que representa a área da curva normal para um nível de confiança

desejado. Lembrete: a distribuição normal é geralmente aplicada
como princípio pressuposto para os sistemas de medição. O Guia de
Incerteza na Medição da ISO/IEC estabelece o fator de cobertura
como suficiente para relatar a incerteza a 95% de uma distribuição
normal. Isto é frequentemente interpretado como k = 2.
O erro padrão combinado (uc) inclui todos os componentes

significativos da variação do processo de medição. Na maioria dos
casos, os métodos de análise dos sistemas de medição realizados de
acordo com este manual podem ser usados como uma ferramenta para
quantificar muitas das fontes de incerteza de medição.
Frequentemente, os componentes do erro mais significativos podem
ser quantificados por fildesempe11iw· Outras fontes de erro significativas
podem ser consideradas com base na aplicação da medição. Uma
declaração de incerteza deve incluir um escopo adequado que
identifique todos os erros significativos c permita que a medição seja
replicada. Algumas declarações de incertezas serão estabelecidas em
longo prazo, outras em curto prazo, a partir do erro do sistema de
medição. Portanto, uma expressão simples pode ser quantificada
como:
2
uc = ifdesempenho + ifoutros
63
Capitulo I Scçllo G
Análise dos Problemas de \1cdição
É importante lembrar que a incerteza de medição é simplesmente uma

estimath a de quanto a medição pode variar no momento em que é
feita. Devem ser consideradas todas as fontes significativas de
variação do processo de medição mais os erros significativos de
calibração, dos padrões-mestre, métodos, do ambiente e outros não
previamente considerados no processo de medição. Em muitos casos,
esta estimativa usará métodos MSA c de R&R para quantificar
aqueles erros-padrão significativos. É apropriado periodicamente
reavaliar a incerten relacionada ao processo de medição, para
garantir a continuidade da exatidão da estimativa.
Incerteza da A principal diferença entre a incerteza e o MSA é que o foco do MSA

Medição e MSA está na compreensão do processo de medição, determinando a
quantidade de erro no processo, c avaliando a adequação do sistema
de medição para o controle do processo e do produto. O MSA
promove o entendimento e a melhoria (redução da variação). A
incerteza é o intervalo de valores da medição definida por um
intervalo de confiança associado com o resultado da medição, dentro
do qual se espera estar contido o valor verdadeiro da medição.
Rastreabilidade da A rastreabilidade é a propriedade de uma medição ou o valor de um

Medição padrão por meio do qual tal medição pode ser relacionada com
referências estabelecidas, usualmente padrões nacionais ou
internacionais, através de uma cadeia ininterrupta de comparações,
todas tendo as incertc/as estabelecidas. Portanto. o entendimento da
incerteza de medição de cada elo dessa cadeia é essencial. Através da
inclusão das fontes de variação da medição, provenientes do curto e
longo prazo que são introduzidas pelo processo de medição e pela
cadeia da rastrcabilidade, a medição da incerteza pode ser avaliada, c,
assim, garantindo que todos os efeitos da rastreabilidade tenham sido
levados em conta. Isto, por sua vez, pode reduzir os problemas de
correlação entre medições.
Guia ISO para O Guia para Expressar a Incerteza de Medição (GUM) é um manual
Expressar a Incerteza de como a incerteza de uma medição pode ser avaliada e expressa. Ao
mesmo tempo em que a GUM fornece ao usuário um entendimento
de Medição
da teoria e estabelece orientações de como as fontes de incerteza da
medição podem ser classificadas e combinadas, ela deve ser
considerada como um documento de referência de alto nível, e não
"como o" manual. A GUM fornece também orientação ao usuário em
alguns dos mais avançados tópicos, tais como, a independência
estatística das fontes de variação, análise de sensibilidade, graus de
liberdade, etc.; tais tópicos são críticos na avaliação dos sistemas de
medição mais complexos, e sistemas de medição multi-parâmetros.
64
Capitulo I Sl.>çào G
Análi!>e dos Problemas de \1cdl~ào
e uma
que é Seção G
as de
os de
Análise dos Problemas de Medição
)S não A compreensão da vanaçao da medição e a sua contribuição à
casos, variação total devem ser consideradas como um passo fundamental na
ti ficar solução básica de problemas. Quando a variação no sistema de
mente medição exceder a todas as outras variáveis, ela será necessária para
para analisar c resolver tais questões antes de trabalhar sobre o resto do
sistema. l:.m alguns casos, a contribuição da variação do sistema de
medição é negligenciada ou ignorada. Isto pode causar perda de
MSA tempo c de recursos assim como o foco é feito no próprio processo de
1do a produção enquanto a variação relatada realmente é causada pelo
stema dispositivo de medição.
MSA
o). A Nesta seção uma análise será feita sobre os passos básicos da solução
•r um de problemas c será também mostrado como tais passos se
:!entro relacionam com a compreensão das questões de um sistema de
medição. Cada empresa pode usar o processo de resolução de
problemas aprovado pelo seu cliente.
de um Se o sistema de medição foi desenvolvido utilizando métodos
'com mostrados neste manual, a maior parte dos passos iniciais já existe.
s ou Por exemplo, um diagrama de causa e efeito pode já existir relatando
~ções, lições aprendidas valiosas sobre o processo de medição. Estes dados
~to da devem ser coletados e avaliados antes de qualquer solução formal do
~és da problema.
urto c
pela Identificar o problema
da, e,
Passo 1
sido Quando trabalhamos com sistemas de medição, como com qualquer
as de outro processo, é importante definir claramente o problema ou
questão. As questões de medição podem adquirir a forma de exatidão,
variação, estabilidade, etc. A coisa mais importante a fazer é tentar
anual isolar a variação de medição c sua contribuição, da variação do
a. Ao processo (a decisão pode ser trabalhar sobre o processo de produção,
[l1Cnto em VC/. de trabalhar sobre o dispositivo de medição). A descrição da
~za da questão necessita ser uma definição operacional adequada de forma
ser que qualquer pessoa possa entendê-la c ser capat: de atuar sobre ela.
e não
o em Passo 2 Identificar a Equipe
ência A equipe de solução de problema, neste caso, dependerá da
lUS de complexidade do sistema de medição c da questão a resolver. Um
Jas de sistema de medição simples pode unicamente requerer um par de
IJS. pessoas. Mas, caso o sistema de medição c o problema seja mais
complexo, a equipe poderá crescer (o tamanho máximo dew ser
limitado a I O membros). Os membros da equipe e as funções que eles
representam devem estar identificados na folha de solução de
problemas.
Passo 3 Fluxograma do Sistema de Medição e do Processo

A equipe deve analisar quaisquer fluxogramas existentes do sistema
de medição c do processo. Isso guiará a discussão das informações
conhecidas c desconhecidas sobre a medição e suas inter-relações
com o processo. O fluxograma do processo poderá identificar novos
membros que deverão ser incluídos na equipe.
65
Capitulo I s~-çao G
Análise do;, Problemas de Mcd1çao
Passo 4 Diagrama de Causa e Efeito

A equipe deverá analisar todos os Diagramas de Causa e Efeito
existentes sobre o Sistema de Medição. Isto poderia, em alguns casos,
resultar numa solução ou uma solução parcial. Isso guiará a discussão
das informações conhecidas e desconhecidas. A equipe deveria
utilizar o seu conhecimento sobre o assunto para identificar aquelas
\ariáveis que mais contribuem ao problema. Estudos adicionais
podem ser feitos para comprovar as decisões.
Passo 5 Planejar- Fazer- Estudar- Agir (PDSA) 24
Isto guiará a um ciclo Planejar - Fazer Estudar - Agir, que é a

forma de estudo científico. Experimentos são planejados, dados são
colctados, a estabilidade é estabelecida, hipóteses são feitas e
comprovadas até que uma solução adequada seja alcançada.
Passo 6 Solução Possível e Comprovação da Correção

Os passos e a solução são documentados para registrar a decisão. Um
estudo preliminar é reali7ado para validar a solução. Isto pode ser
feito usando alguma forma de projeto de experimentos para validar a
solução. Também, estudos adicionais podem ser realizados no
decorrer do tempo, incluindo as variações do material c ambientais.
Passo 7 Institucionalize a Mudança

A solução final é documentada no relatório; então, o departamento
adequado e as funções modificam o processo de modo a que o
problema não volte a ocorrer no futuro. Isto poderá requerer
modificações nos procedimentos, normas, c nos materiais de
treinamento. Este é um dos passos mais importantes do processo.
Muitas questões e problemas ocorreram num momento ou outro.
W Ed"'ards Deming. Thc Nc" I conomics for lndustry, Go~emmcnt, Education, The \1111 Press, 1994, 2000.
24
66
Capítulo 11 Seçllo A
Fundamcnt\h
feito
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is. Capítulo 11
e o CONCEITOS GERAIS PARA AVALIAR

erer
de
sso.
OS SISTEMAS DE MEDIÇÃO
67
Capítulo 11
Conceitos Gerais para i\\ahar os Sistemas de Medição
68
Capitulo li Seção A
Fundamentos
Seção A
Fundamentos
Dois importantes pontos de\ em ser avaliados:
I) Verificar se a variável correta está sendo medida, no local
adequado à característica. Verificar o dispositivo de fixação e
o respectivo aperto, se aplicáveis. Identificar também
quaisquer questões ambientais cnncas que são
interdependentes com a medição. Se a variável errada está
sendo medida, então não importa quão exato ou quão preciso
é o sistema de medição, isto simplesmente consumirá
recursos, sem beneficios.
2) Determinar quais propriedades estatísticas o sistema de
medição necessita ter para ser considerado aceitável. Para
fazer esta determinação é importante saber como os dados
serão utilizados, pois sem este conhecimento, não será
possível determinar as propriedades estatísticas apropriadas.
Após as propriedades estatísticas serem determinadas, o
sistema de medição deve ser avaliado para ver se realmente
possui tais propriedades ou não.
Fases 1 & 2 O teste da fase I é uma avaliação para verificar se a variáYel correta
está sendo medida na localização da característica apropriada por um
sistema de medição que cumpre com as especificações de seu projeto.
Entender o (Verificar fixação e aperto, se aplicáveis). Além disto, Yerificar se
processo de existem questões ambientais críticas que se inter-relacionam com a
medição e medição. A fase I poderia usar um experimento projetado
estatisticamente para avaliar o efeito do ambiente operacional sobre
que ele satisfaz
os parâmetros do sistema de medição (exemplos: tendência.
os requisitos? linearidade, repetitividadc c rcprodutibilidadc). Os resultados dos
testes da fase I podem indicar que o ambiente operacional não
contribui significativamente para a variação total do sistema de
medição. Adicionalmente, a variação atribuível à tendência e
linearidade do dispositivo de medição deveria ser pequena quando
comparada com os componentes de repetitividade e reprodutibilidade.
O conhecimento obtido durante os testes fase I deveria ser usado
como entrada para o desenvolvimento do programa de manutenção do
sistema de medição, bem como o tipo de teste que será usado na fase
2. As questões ambientais podem implicar numa mudança de local,
ou um ambiente controlado para o dispositivo de medição.
Por exemplo, existe um impacto significativo da repetitividade e
reprodutibilidade sobre a variação total do sistema de medição, um
experimento estatístico simples de dois fatores poderia ser reali/ado
periodicamente como sendo os testes da fase 2.
O processo de
Os testes da fase 2 fornecem o monitoramento contínuo das fontes-
medição satisfaz chave de variação para continuar a confiança no sistema de medição
os requisitos no (e dos dados que estão sendo gerados}, e/ou um sinal de que o sistema
decorrer do tempo? de medição se deteriorou no decorrer do tempo.
69
C;tpitulo li- Seção A
I undamentos
70
Capítulo 11 Seção B
Seleção/Desenvolvimento de Procedimentos de Teste
Seção B
Seleção/Desenvolvimento de Procedimentos de Teste
"Qualquer técnica pode ser lltil se suas limitações forem compreendidas e
25
observadas" .
Muitos procedimentos adequados estão disponíveis para avaliar os

sistemas de medição. A escolha que procedimento usa depende de
muitos fatores, a maioria dos quais necessita ser determinada caso a
caso, para cada sistema de medição a ser avaliado. Em alguns casos,
um teste preliminar pode ser necessário para determinar se o
procedimento é apropriado para um sistema de medição particular ou
não. Este teste preliminar deve ser parte integrante dos testes da Fase
I discutida na seção anterior.
Questões gerais a considerar ao selecionar ou desenvolver um
procedimento de avaliação:
• Os padrões, tais como aqueles rastreáveis ao NTST,

devem ser usados no teste, e qual é o nível apropriado ao
padrão? Os padrões são frequentemente essenciais para
aval iar a exatidão de um sistema de medição. Se os padrões
não forem uti lizados, a variabilidade do sistema de medição
ainda assim pode ser avaliada, mas isto pode não ser
suficiente para avaliar sua exatidão com razoável
credibilidade. A falta de credibilidade pode ser um problema,
por exemplo, ao tentar resolver um aparente conflito entre o
sistema de medição do produtor e o sistema de medição do
cliente.
• Para o teste contínuo na Fase 2, o uso de medições
ocultas pode ser considerado. Medições ocultas são aquelas
obtidas no ambiente real de trabalho por um operador que não
sabe estar sendo conduzida uma avaliação do sistema de
medição. Adequadamente administrados, os testes baseados
em medições ocultas não são contaminados pelo conhecido
efeito Hawthorne 26.
• O custo do teste.
• O tempo requerido pelo teste.
• Todo termo que não tem uma definição comumente
aceita deverá ser definido operacionalmente. Exemplos de tais
termos incluem exatidão, precisão, repetitividade,
reprodutibilidade, etc.
25
W. Eduards Deming, The Logic of Evaluation, The Handbook of Evaluation Research, Yol. I, Elmer L. Struening and Guttentag, Editors.
26
O .. Efeito Hawthome" refere-se aos resultados de uma série de experimentos industriais realizados nas Fábricas de llawthorne da Westem
Electric, entre Novembro de 1924 e Agosto de 1932. Nestes experimentos. os pesquisadores sistematicamente modificaram as condições de
trabalho de cinco montadores e monitoraram os resultados. Como as condições de trabalho melhoravam, a produção aumentou. ConttJdo, quando
as condições de trabalho eram deterioradas, a produção continuava a melhorar. Isto foi interpretado como resultado de que os trabalhadores
tinham desenvolvido uma atitude mais positiva para o trabalho tão somente como resultado de eles serem parte do estudo, em vez de ser
unicamente o resultado das condições de trabalho modificadas·. Veja A f/istory of the Hawthome Experiments, by Richard Gillespie, Cambridge
University Pre~s. New York, 1991.
71
<.apítulo 11 Seção B
Scleção/Dcsenvolvimemo de Procedimentos de Teste
• Será que as medições feitas por um sistema de medição

podem ser comparadas com as medições feitas por outro
sistema de medição? Em caso afirmativo, deve-se considerar
o uso de procedimentos de teste que dependem do uso de
padrões tais como aqueles discutidos na Fase l anteriormente
apresentada. Se os padrões não forem usados, pode ainda ser
possível determinar se os dois sistemas de medição trabalham
bem juntos ou não. Contudo, se os sistemas não estão
trabalhando bem juntos, então, pode não ser possível, sem o
uso de padrões, determinar qual sistema necessita de
melhoria.
• Quão frequentemente os testes da Fase 2 devem ser
realizados? Esta decisão pode ser baseada nas propriedades
estatísticas do sistema de medição individual, nas
consequências para as instalações, c as instalações dos
clientes de um processo de manufatura que, na verdade, não é
monitorado devido ao sistema de medição não funcionar
adequadamente.
Em adição a estas questões genencas, outras específicas para um

sistema de medição particular que está sendo testado podem também
ser importantes. Encontrar as questões específicas que são
importantes sistema de medição particular é um dos dois objetivos
dos testes da Fase I.
72
Capítu lo TI - Seção C
Preparação para o Estudo do Sistema de Medição
:ão
tro
rar Seção C
de Preparação para o Estudo do Sistema de Medição
1te
ser Como em qualquer estudo ou análise, planejamento e preparação
:tm suficientes devem ser feitos antes da realização do estudo do sistema
:ão de medição. A preparação típica antes da realização de um estudo é a
lO seguinte:
de
l) A abordagem a ser usada deve ser planejada. Por exemplo,
determinar pelo uso da opinião da engenharia, observações
ser visuais, ou um estudo do dispositivo de medição se existe
les influência do avaliador na calibração ou uso do instrumento.
1as Existem alguns sistemas de medição onde o efeito da
los reprodutibilidade pode ser considerado desprezível; por
)é exemplo, quando um botão é pressionado e um número é
1ar tmpresso.
2) A quantidade de avaliadores, a quantidade de peças da
1m amostra, e o número de leituras repetidas devem ser
ém previamente determinadas. Alguns fatores que devem ser
;ão considerados nesta seleção são:
lOS (a) Criticidade da dimensão - dimensões críticas exigem
mais peças na amostra e/ou repetições. A razão deve ser o
grau de confiança desejado para as estimativas do estudo
do dispositivo de medição.
(b) Configuração da peça - peças volumosas ou pesadas
podem implicar em menos amostras e mais repetições.
(c) Requisitos dos clientes
3) Uma vez que o propósito é avaliar o sistema de medição
total , os avaliadores escolhidos deverão ser selecionados
dentre aqueles que normalmente operam o instrumento.
4) A seleção das amostras das peças é critica para uma análise
adequada e depende inteiramente do projeto do estudo de
MSA, do propósito do sistema de medição, e disponibilidade
de peças que representam o processo de produção.
Para situações de Controle de Produto onde a medição resultante e o critério

de decisão determina "conformidade ou não-conformidade à especificação
da característica" (isto é, inspeção l 00% ou amostragem), amostra (ou
padrões) devem ser selecionadas, mas não necessitam cobrir toda amplitude
do processo. A avaliação do sistema de medição é baseada na tolerância da
característica (isto é, %R&R para a TOLERÂNCIA).
Para situações de Controle do Processo onde a medição resultante e o

critério de decisão determinam a "estabilidade do processo, tendência, e
conformidade com a variação natural do processo" (isto é, CEP,
monitoramento do processo, capabilidade do processo, e melhoria do
processo), a disponibilidade das amostras de todo o intervalo de operação
toma-se muito importante. Uma estimativa independente da variação do
processo (estudo de capabilidade do processo) é recomendada quando
avaliamos a adequação do sistema de medição para o controle do processo
(isto é, %R&R da variação do processo).
73
Capitulo ll Seção D
Análise dos Resultados
Quando uma estimativa independente da variação do processo não

esta disponível, OU para se determinar a ~endência do processo e a
contínua adequação do sistema de medição para o controle do
processo, as peças da amostra d evem ser selecionadas de um
processo d e produção e r epresentar a a mplitude total d a
oper ação de produção. A variação das peças da amostra ( VP)
selecionadas para o estudo de MSA é usada para calcular a
Variação Total (VT) do estudo. O índice VT (isto é, 1)i1R&R de V7)
é um indicador da tendência do processo c da adequação contínua
do sistema de medição para o controle do processo. c as peças da
amostra NÃO representam o processo de produção, VT deve ~er
ignorado na avaliação. Ignorar VT não afeta as avaliações
utilitando a tolerância (controle do produto) ou uma estimativa
independente da variação do processo (controle do processo).
As amostras podem ser selecionadas pegando-se uma peça por dia

no decorrer de Yários dias. Repetindo, isto é necessário, pois as
peças serão tratadas na análise como se elas representassem a
amplitude da variação no processo. Uma vez que cada peça será
medida várias ve7es, cada peça deverá ser numerada para
identificação.
5) O instrumento deve ter uma discriminação que permita pelo menos
um décimo da variação esperada do processo de uma característica
a ser lida diretamente. Por exemplo, se a variação da característica
for 0,00 I, o equipamento deverá ser capa7 de "ler" uma variação de
0,0001.
6) Garantir que o método de medição (isto é, avaliador c instrumento)
está medindo a dimensão da característica e está seguindo o
procedimento de medição definido.
A maneira pela qual um estudo é realiLado é muito importante. Todas as
análises apresentadas neste manual supõem uma independência estatísllca2'
das leituras individuais. Para minimizar a probabilidade de erros decorrentes
dos resultados, os seguintes passos são necessários:
1) As medições devem ~er feitas numa ordem aleatória28 para
assegurar que quaisquer desvios ou variações que possam ocorrer
serão distribuídos aleatoriamente no decorrer do estudo. Os
avaliadores devem desconhecer a identificação da peça numerada
que está sendo verificada, para evitar qualquer tendência possível
por conhecimento. Portanto, a pessoa que conduz o estudo deve
conhecer a identificação da peça numerada que está sendo
verificada, para registrar os dados adequadamente, ou seja
Avaliador A, Peça I, primeira medição; Avaliador B, Peça 4,
segunda medição; etc.
2) Na leitura do equipamento, os valores medidos devem ser
registrados até o limite prático da discriminação do mstrumento.
Dispositivos mecânicos devem ser lidos c registrados até a menor
unidade da discriminação da escala. Para leituras eletrônicas, o
plano de med1ção deve estabelecer uma política comum para gra\ ar
o dígito significativo mais à direita. Dispositivos analógicos devem
ter sua leitura registrada à metade da menor graduação ou ao limite
de sensibilidade e resolução. Para dispositivos analógicos, se a
menor graduação da escala for 0,000 I", então os resultados da
medição devem ser registrados até 0,00005".
27
1'\ão h;í correlação entre as leitura•
VeJa ('up•tulo 111 Sc.;Jo B "AleatonLação e lndcpcndênc•a I ~tatística"
28
74
Capitulo li Seção C
Preparação para o Estudo do Sistema de Medição
3) O estudo deve ser gerenciado e observado por uma pessoa

que entende a importância de conduzir um estudo confiável.
ão
:a
do Vários fatores necessitam ser considerados ao se desenvolver os
IID programas para os testes Fase I ou Fase 2:
da
'P) • Que efeito o avaliador tem sobre o processo de medição?
a Se possível , os avaliadores que normalmente usam o
'1) dispositivo de medição devem ser incluídos no estudo.
ma
da Cada avaliador deve usar o procedimento - em todos os seus passos
ser - que normalmente usam para obter as leituras. O efeito de
5es quaisquer diferenças existentes entre os métodos usados pelos
iva avaliadores se refletirá na Reprodutibilidade do sistema de
medição.
dia
as • A calibração do equipamento de medição pelo avaliador
1 a pode ser uma causa significativa de variação? Se sim, os
crá avaliadores devem re-calibrar o equipamento antes de cada
ara grupo de leituras.
• Quantas peças da amostra e leituras repetidas são
lOS requeridas? O número de peças requeridas dependerá de quão
ica significativa é a característica que está sendo medida, e sobre
.ica o nível de eonfiabilidade requerido para a estimativa da
'de variação do sistema de medição.
Embora o número de avaliadores, repetições, e peças possam variar, quando
110) utilizamos as práticas recomendadas c discutidas neste manual, o número de
)o avaliadores, repetições, e peças devem permanecer constantes entre os
programas de teste da Fase 1 e da Fase 2, ou ainda, entre os testes
sequenciais da Fase 2 para os sistemas de medição comuns. Mantendo-se os
; as
:a27 elementos comuns entre os programas de teste c os testes sequenciais, serão
melhorada as comparações entre os vários resultados dos testes.
1tes
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75
C'upuulo 11 Seção D
Anah~c do~ Resultado~
76
Capítulo 11- Seção O
Anál ise dos Resultados
Seção O
Análise dos Resultados
Os resultados devem ser avaliados para determinar se o d ispositivo de
medição é aceitável para a aplicação pretendida. Um sistema de
medição deve ser estável antes de qualquer análise adicional válida.
Erro de montagem ou Critérios de aceitação - Dispositivos de Montagem e Erros de

fixação Fixação
Uma fixação projetada inadequadamente ou um dispositivo de

montagem deficiente irá aumentar o erro de medição. Isso é
normalmente encontrado quando as medições indicarem ou
mostrarem a instabilidade do processo ou condições fora de controle.
Isso deve ser devido à variação excessiva do dispositivo de medição
ou pouca repetitividade e valores de R&R insuficientes.
Em geral, a primeira coisa a fazer quando um problema de medição
aparente existir, é analisar criticamente as instruções de setup e
montagem para certificar-se que o dispositivo de medição foi
montado adequadamente, (nota: isto não estará nas instruções), e por
exemplo, os grampos/sondas estão posicionados adequadamente e
têm a carga correta. Também, verificar se o programa segue o
protocolo requerido ou esperado no caso de medições automatizadas.
Se problemas são encontrados em quaisquer destas áreas, rcinicialize
c conserte o dispositivo de medição e fixação , então recomece a
avaliação da medição
Erro de Critérios de Aceitação - Erro de Localização

Localização O erro de localização é normalmente determinado pela análise da
tendência e da linearidade.
Em geral, o erro de tendência ou de linearidade de um sistema de
medição é inaceitável se forem significativamente diferentes de zero
ou se excederem o erro máximo permissível estabelecido pelo
procedimento de calibração do dispositivo de medição. Em tais casos,
o sistema de medição deve ser recalibrado, ou uma correção
compensatória deverá ser aplicada para minimizar este en·o.
Erro de Dispersão Critérios de Aceitação - Erro de Dispersão

Os critérios para determinar se a variabilidade do sistema de medição
é satisfatória dependem da porcentagem de variabi lidade do processo
de produção, ou a tolerância da peça que é consumida pela variação
do sistema de medição. Os critérios de aceitação final para sistemas
de medição específicos dependem do ambiente do sistema de
medição e propósito e devem ser aprovados pelo cliente. (Veja
Capítulo I - Seção B - "Os efeitos da variabilidade do sistema de
medição")
Quando começar a avaliação dos sistemas de medição de uma organização,
ele pode ser útil para definir prioridades no qual o sistema de medição
inicialmente irá focar. Uma vez que a variação final (total) é baseada na
combinação da variação do processo e medição (Y,,,,, = ~Cí~,...... +cr:"'
quando o CEP está sendo aplicado para controlar o processo ou coletar
dados dos processos, e a carta de controle indica que o processo é estável c a
variação total é aceitável, o sistema de medição pode ser considerado
aceitável para o uso e não necessita reavaliação29 em separado. Se uma
77
Capítulo li Seção D
Análise do; Resultados
condição fora de controle ou não-conformidade é encontrada nesta situação,

I a primeira coisa que deve ser feita é avaliar o sistema de medição.
Para sistemas de medição cujo propósito é analisar um processo, uma

regra prática geral para a aceitação do sistema de medição é como a
seguinte:
R&R Decisão Comentários

Porcentagem menor que Geralmente considerado como Recomendado, especialmente útil
10% um sistema de medição aceitá- quando tentamos ordenar ou classi-
vel ficar peças ou quando é necessário
apertar o controle do processo
Porcentagem entre I 0% e Pode ser aceitável para algumas Decisão deve basear-se, por exem-
30% aplicações plo, na aplicação do sistema de me-
dição, custo do dispositivo de medi-
ção, custo de retrabalho ou reparo.
Deve ser aprovado pelo cliente.
~ .--~---r~--~--~----------~
Porcentagem actma de Considerado como inaceitável Todos os esforços devem ser feitos
30% para melhorar o sistema de medi-
ção.
Essa condição deve ser tratada pelo

uso de uma estratégia adequada de
medição; por exemplo, utilizando a
média dos resultados de muitas lei-
turas de uma mesma característica
da peça a fim de reduzir a variação
de medição fin al.
Tabela ll-0 2: Critério de R& R
Métrica adicional do erro de dispersão
Outra estatística de variabilidade do sistema de medição é o número

10
de distintas categorias (ndc) . Esta estatística indica o número de
categorias dentro do qual o processo de medição pode ser dividido.
Este valor deveria ser maior ou igual a 5.
Advertência
O uso da diretriz de R&R como critério limítrofe sozinho NÃO é

uma prática aceitável para determinar a aceitabilidade de um
sistema de medição
2
Q Se o processo total e~tá sob controle estatístico para a média e o grdfico de ~ariação e a ~anação total é accllá~cl. então ela pode ser assumida
tanto (I) o processo real e a vam1balidade da medação silo acenáveis (2) a \anaçiio da mcdação não é aceitá\el com relação a 'anaçJo do processo
(o qual é extremamente pequeno) mas ambos estão em controle estatístico. l'm qualquer caso o processo e;tú produLindo um produto aceitá\ e!.
No caso (2) o C\istência de uma não-conformidade ou condição fora de controle pode ser um fàlso alarme (isto é, o produto é aceitável mas a
avaliação di/ que não é) o que causaria uma avaliação do sistema de mcdiç1!o c processo.
30
Ver Capitulo I Seção E Questões relauvas a mcdaçllo
78
Capítulo li Seção D
Análise dos Resultado!>
;ão,
Aplicando as dirctri/CS como limites, assumimos que as estatísticas
calculadas são estimativas determinísticas da 'ariabilidade dos
ma sistemas de medição (o que eles não são). Especificar as diretrizes
oa como critério limítrofe pode d irecionar a comportamentos errados.
Por exemplo, o fornecedor pode ser criativo para alcançar uma baixa
R&R através da eliminação das fontes reais de variação (exemplo,
interação entre peça c dispositivo de medição) ou manipulando o
til estudo de medição (exemplo, produzindo peças fora da variação
;i-
esperada do processo).
·io
Comentários sobre a Aplicação e Aceitabilidade do Dispositivo de
Medição
n- Ao verificar o R&R c a variação da medição, é importante verificar
e- cada aplicação individualmente, para ver o que é requerido e como a
li- medição será usada. Por exemplo: a precisão requerida da medição de
I,
temperatura pode ser diferente para as diferentes aplicações. Um
termostato de uma sala pode regular a temperatura para o conforto
humano e ser economicamente viável, mas pode ter um R&R acima
de 30%. Ele é aceitável para esta aplicação. Mas num laboratório,
onde pequenas variações na temperatura podem impactar no resultado
os dos ensaios, uma medição e controle mais sofisticados de temperatura
li- serão requeridos. Esse termostato poderá ser mais caro e é requerido
que tenha menos \ariabilidadc (isto é, ter um R&R baixo).
!lo
ae
I
A aceitação final de um sistema de medição não pode ser baseada num único
conjunto de índices. O desempenho a longo prazo do sistema de medição pode
'aei- também serre\ tsto, por exemplo, utilitando uma análise gráfica ao longo do tempo.
ca
~o
ICTO
de
1do.
'Jé
um
nida
csso
ível.
1as a
79
Cnpitulo 11 Seção D
Análise do~ Resultados
80
Capitulo 111- Seção A
Exemplo~ de Procednncntos de Testes
Capítulo 111
PRÁTICAS RECOMENDADAS
- PARA
,
SISTEMAS DE MEDIÇAO REPLICAVEIS
81
Capítulo 111 Seção A
I 'cmplos de Procedimentos de T<!!.tcs
82
Capítulo Ill - Seção A
Exemplos de Procedimentos de Testet.
Seção A
Exemplos de Procedimentos de Testes
Exemplos de procedimentos de teste específicos são apresentados

neste capítulo. Os procedimentos são simples de usar e podem ser
prontamente aplicados num ambiente de produção. Como
anteriormente discutido, o procedimento de teste que poderia ser
usado para entender o sistema de medição e para quantificar sua
variabilidade depende das fontes de variação que podem afetar este
sistema de medição. Em muitas situações, as fontes de variação mais
importantes são devidas ao instrumento (dispositivo de
medição/equipamento), à pessoa (avaliador), e ao método
(procedimento de medição). Os procedimentos de teste apresentados
neste capítulo são suficientes para este tipo de análise do sistema de
medição.
o Os procedimentos são apropriados para usar quando:

./ Somente dois fatores, ou condições de medição (isto é,
avaliadores e peças), mais a repetitividade do sistema de
medição são estudados.
./O efeito da variabi lidade em cada peça é desprezível.
./ Não há interação estatística entre avaliadores e peças.
./ As peças não variam funcionalmente ou dimensionalmente
durante o estudo, isto é, são replicáveis.
Um projeto de experimento estatístico pode ser conduzido e/ou o
conhecimento sobre o assunto utilizado para determinar se estes
procedimentos são apropriados para qualquer sistema de medição
específico.
83
Cap1tulo 111 Seção A
Exemplos de l'roccduncntos de Tc;tes
84
Capítulo 11! - Seção B
Dtn:Lrite" para o EMudo do Sistema de Medição por Variávcts
Seção B
Diretrizes para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
l.:.sta seção contém as diretrizes para a implantação das técnicas de sistema de medição descritas no
Capítulo L Seção E. Uma análise crítica do Capítulo I Seção E é recomendada para garantir a aplicação
adequada destas diretrizes.
Diretrizes para a determinação da estabilidade

----------------------------------
Conduzindo o Estudo
I) Obter uma amostra c estabelecer seu(s) valor(es) de
referência contra um padrão rastreável. Caso não haja
disponibilidade de um padrão, selecionar uma peça31 de
produção que se situe no meio da amplitude das medições
feitas na produção, denominando-a como amostra-padrão
para efeito de análise da estabilidade. O valor de referência
conhecido não é necessário para acompanhar a estabilidade
Pode ser desejável ter peças-padrão para a extremidade
inferior, para a extremidade superior, e o meio da amplitude
das medições esperadas na produção. Medições separadas c
cartas de controle são n.:comendadas para cada uma.
2) Em uma base periódica (diária, semanal) medir a amostra
padrão de três a cinco ve.tes. O tamanho da amostra e a
frcquência devem se basear no conhecimento do sistema de
medição. Fatores que poderiam ser incluídos, como a
frcquêneia requerida para recalibração ou reparo, a frequência
que o sistema de medição é utilizado e quanto o sistema é
exigido nas condições de operação. As leituras devem ser
tomadas em diferentes momentos para representar a condição
de uso real do sistema de medição. Isto levará em
consideração a fase de preparação, o ambiente ou outros
fatores que podem variar durante o dia.
3) Plotar os dados numa carta de controle X & R ou X & s,

em ordem cronológica.
Análise dos Resultados - Gráfico

4) Estabdcccr os ltmites de controle e avaliar as condições fora
de controle ou de instabilidade, utilizando-se da análise
convencional de uma carta de controle.
11
Cutdadm, deveriam ser tomados onde a peça-padrão da produção pode sofrcr um desgaste excessivo devido ao uso, material c manuseio. Isto
p~ldc cxigtr modilicaçâo dc:.sa peça de produção, tai;, como tratamcnto galv;inico rara aumentar a vida do padrão.
85
Capítulo 111 - Seção B
Análise dos Resultados -Numérica

Além das análises das cartas de controle convencionais, não há
análise numérica específica ou indicadores para a estabilidade32 .
Se o processo de medição for estável, os dados podem ser usados para
determinar a tendência do sistema de medição.
Além disso, o desvio-padrão das medições pode ser usado como uma
aproximação para a repetitividade do sistema de medição. Isso pode
ser comparado com o do processo para determinar se a repetitividade
do sistema de medição é adequada para a aplicação.
I
O Projeto de Experimentos, ou outra técnica analítica de resolução de
problemas, pode ser necessário para determinar os principais fatores que
contribuem para a falta de estabilidade do sistema de medição.
Exemplo - Estabilidade
Para determinar se a estabilidade de um novo instrumento de medição
é aceitável, a equipe de processo selecionou uma peça próxima ao
meio da amplitude do processo de produção. Essa peça foi enviada ao
laboratório de medição para determinar o seu valor de referência, que
resultou ser 6,0 I. A equipe mediu essa peça 5 vezes em cada turno,
durante quatro semanas (20 subgrupos). Após todos os dados terem
sido coletados, foram elaboradas as cartas X & R (veja Figura ITJ-B
I).
Carta Xbarra/R para Análise da Estabilidade
6,3 LSC=6,297
~ 6,2
=c;
,, 6,1
1
.~ w 6,o 6,021
H. 5,9 1
~ 5,8-
UC=5,746
5,7 - - - - - I
Subgrupo O 10 20
LSC=1,010
0,4779
LIC=O
Figura III-8 19: Análise da Carta de Controle para a Estabilidade
A análise da carta de controle indica que o processo de medição é

estável desde que não existam efeitos de causas especiais óbvias
visíveis.
32
Veja o Manual de Referência do CEP.
86
Capítulo Ill - Seção B
DirctriiCS para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
há Diretrizes para a determinação da tendência 33 - Método da Amostra

Independente
-----------------------------------------------------------------
Conduzindo o Estudo
tma O método da amostra independente para determinar se a tendência é
ode aceitável utiliza o Teste de H ipóteses:
ade
H., tendência O
>de H1 tendência t O
que
A te ndência média calculada é avaliada para determ inar se a
tendência poderia ser devido a variação a leató ria (amostragem).
I
ção Em gera l, o erro de tendGncia ou linearid.ade. do sistema de med ição é aceitável se ele
não é estatisticamente dilerente de 1ero quando comparado com a repetitiv idade.
ao Consequentemente. a rcpetitividade deve ser aceitável quando comparado com a
t ao variação do processo. para que esta ;málisc seja útil.
que
110, I) Obter uma amostra c estabelecer seu valor de referência contra
:em um padrão rastreável. Caso não haj a disponibilidade de um
1-B padrão, selecionar uma peça de produção que se situe no meio da
amplitude das medições feitas na produção denominando-a como
\
peça-padrão para efeito da análise de tendência. Medir esta peça
n ~ IO \ e/es no dispositivo ou sala de medida, e calcular a média
$7
dessas n leituras. Usar esta média como "valor de referência".
I
Mtdla 60 SI•.,.. Yalot de
Pode ser desejá\ e I ter peças· padr;lo para a extremidade inferior, para a
ôt M•c..çlo Ret.finci• extremidade supenor. c () meio da amplitude das medições esperadas na
produção. Se isto for feito, analisar os dados por meio de um estudo de
46 linearidade.
2) Ter um único avaliador medindo a amostra n > 1O vezes de

110 ma neira convenciona l.

3) Determine a tendência de cada leitura:
Tendência, - x, valor de referência
de
4) Plotar os dados de tendência como um histograma com relação ao
io é valor de referência. Analisar o histograma utilizando o
\ias conhecimento sobre o assunto, para determinar se quaisquer
causas especia1s ou anomalias estão presentes. Em caso negativo,
continuar com a análise. Atenção especial deve ser tomada para
qualquer interpretação o u análtse quando n < 30 .
.n Veja Capítulo I, Seção E, pam uma definição operacional e discu>>do d.: co usa> p<llcnciuis.
87
Capínolo 111- ç;eção B
Direln7e> parJ o Estudo do Sostcma de Medição por Variáveis
Análise dos Resultados -Numérica
5) Calcular a tendência média das n leituras.

n
L tendência,
tendência média =...!.'-"1- - --
n
6) Calcular o desvio padrão da repetitividade (veja também a seguir,
Estudo do Dispositivo de Medição, Método da Amplitude,
abaixo):
n - 2
L.( X-X)
(J;.._.ft('t1f1UI,"-h- = a;. = -'- '1 - - - - - - -
1
-'-
n- 1
I Se um esrudo de R&R esti,er disponível (e válido), o cálculo do des.. io-padrão

da repetitividade deve ser baseado nos resultados desse esrudo.
7) Determine se a repetitividade é aceitável pelo cálculo de
%VE- lOO (VEIVT] = 100 [crrcr<--t•t"•dade I VT]
Onde a variação total (VT) é baseada na variação esperada do

processo (preferência) ou a amplitude da especificação dividida por 6
(ver também o estudo de R&R abaixo)
I
Se a %VI:. é grande (ver Capítulo 11, Seção 0), então a variação do sistema de
medição de\.C ser inaceitá\.el. Uma veL que a análtse de tendêncta assume que a
rcpetitividade é aceitável, continuar a analise com o sistema de medição com
uma %VE grande conduzirá a resultados enganosos e confusos. Nota dos
autores: O que especificamente nós supomos ao olhar a Seção D que liga o VE?
34
8) Determinar o valor da estatística t para a tendência :
ah=~
. . tendência média
estattsttca - t =t ,. =- ------
lt•nut:naa
ab
9) Tendência é aceitável (estatisticamente zero) no nível a se
• o valor p (p-value) associado com t1endêncoa é maior que a;

ou
34
A inccrteJ'a para a tendência é dada por crb.
88
Capítulo li! - Seção B
DirctnN> pam o Estudo do Sistema de Medição por Vanávcis
• 7cro cai dentro do intervalo de confiança 1- a baseado no

valor da tendência
onde v-- n-1 e,
;tu r,
t • .1-a'2 é obtido por meio das tabelas t padrão.
Jde,
I
O nível a utili.tado depende do nível da sensibilidade que é necessária para
avaliar/controlar o processo c está associado com a função perda (curva de
sensibilidade) do produto/processo. Um acordo com o cliente deve ser obtido quando
o nível a adotado diferir do valor 0,05 (95% de confiança) utilizado.
Exemplo- Tendência
rlrão
Um engenheiro de processo estava avaliando um novo sistema de
medição para monitorar um processo. A análise do equipamento de
medição indicou que não havia problemas de linearidade, portanto o
engenheiro somente avaliou a tendência do sistema de medição. Uma
única peça foi escolhida dentro da amplitude de operação do sistema
de medição com base na variação documentada do processo. Esta
do peça foi medida pela inspeção de layout para determinar o seu valor
de referência. A peça foi então medida quinze vezes pelo operador
ror 6 líder.
de
que a
com
'·dos
IVE?
Je a;
89
Capítulo 111 - Seçllo B
Dirctrizc' para o F,tudo do Sistema de Mediç1lo por Variáveis
Valor de Tendência
Referência =
6,00
I 5,8 -0,2
2 5,7 -0,3
3 5,9 -0,1
(f:j
~
4 5,9 -0, I
•O 5 6,0 0,0
-u-
~
~
Q..,
6
7
6,1
6,0
6,1
0,1
0,0
8 0,1
~ 9 6,4 0,4
lO 6,3 0,3
li 6,0 0,0
12 6,1 0,1
13 6,2 0,2
14 5,6 -0,4
15 6,0 0,0
Tabela 111-B 11: Dad os do Estudo d e Tendência
Usando uma planilha de dados e um software estatístico, o supervisor

gerou o histograma c a análise numérica ( ver ligura 111-B 2 e Tabela
rn-B 2).
,- - -r --,--- , - - -
5,6 5,7 5,8 5,9 6,0 6,1 6,2 6,3 6,4
Valor Medido
90
Dm:trite~ para o Estudo do Sistema de Medição por Variávch.
Histngrama do EsbJdo de Tendências

(com Ho e 95% antervalo de confaança t para a média)
Ho
-0.4 -0.2 0.0 0.2 0.4

Estudo de tendênda
Figura 111-B 2Q- Estudo de Tendência - Histograma do Estudo de

Tendência
O histograma não mostrou qualquer anomalia ou pontos fora

requerendo uma análise e revisão adicional.
sor A repetitividadc de 0,2120 foi comparada com a variação esperada do
ela processo (desvio padrão) de 2,5. Uma vez que a %VE - 100
[0,2120/2,5] - 8,SO/o, a repetitividade é aceitável e a análise de
tendência pode continuar.
Uma que o valor zero caiu dentro do intervalo de confiança da

tendência (-0, li 07, O, 124 1), o engenheiro pode assumir que a
tendência das medições é aceitável assumindo que o uso real do
sistema de medição não introduzirá variação de fontes adicionais.
91
< apítulo 111 • Scçao B
Diretrizes part11> Lstudo do Sistema de Medíçiio por Variáveis
n Média
Desvio Padrão, I Erro Padrão
Oa da Média, Ob
Valor 15 6.0067 0.2120 0.0547

Medido
Valor de Referência = 6.00, a= .05
95% Intervalo de Confiança

Estatístico Valor signtficativo t Tendência da Tendêncta
GL
t (bi-caudal) Média
Inferior Superior
Valor Medido 0.12 14 2.14479 .0067 -0.1107 0.1241
35
Tabela lll-8 12: Estudo de Tendência - Análise do Estudo de Tendência
Diretrizes para a determinação da Tendência- Método da Carta de Controle
Conduzindo o Estudo
Se uma carta X & R foi usada para avaliar a estabilidade, seus dados
também podem ser usados para avaliar a tendência. A análise da carta
de controle deve ind1car que o sistema de medição é estáYel antes da
tendência ser avaliada.
I) Obter uma amostra e estabelecer seu valor de referência
contra um padrão rastreável. Caso não haja disponibilidade
de um padrão, selecionar uma peça de produção que se sttue
no meio da amplitude das medições feitas na produção
denominando-a como peça-padrão, para análise de tendência.
Medir esta peça n ~ I Ovezes no dispositivo de medição ou na
sala de medida, e calcular a média dessas n leituras. Usar esta
média como "valor de referência".
2) Conduzir o estudo de estabilidade com g (subgrupos) > 20,
subgrupos de tamanho m.
1
~ \ksmo que'" <lado> sejam mdocadn> com um dignn aros o ponto d~comal o> resultados silo mostra<l<h como previsto por um programa estallsloco tipico ulol11anun
~o-.lo dupla: !>lu e, com vánas ca<as decimaos.
92
Capitulo 111 - Seção O
Diretrizes para o Estudo do Ststcma de Medição por Vanávets

3) Se o grá fico de controle indica que o processo é estável em
l , utilize a análise descrita para o método da amostra
independente (veja acima).
4) Se m > 2, plotar os dados como um histograma com relação

M4<111 do Slltemo VIIO<.;.
ao valor de referência. Analisar o histograma utilizando o
dl -lçlo Rolertncll conhecimento sobre o assunto, para determinar se quaisquer
causas especiais ou anomalias estão presentes. Em caso
negativo, continuar com a aná lise.
Análise dos Resultados - Numérica
5) Obter o valor de X a partir da carta de controle.
6) Calcular a tendência, subtraindo o valor de referência de X .
tendência = X- valor de referência

·oi e 7) Ca lcular o desvio padrão da repctitividade utilizando a Média
da Amplitude.
I
O"r<petib•hdade = d:
R
lados
carta
~s da ~ onde d 2 é baseado no tamanho do subgrupo (m) e no
número de subgrupos da carta (g). (veja Apêndice C)
ncia Repetibilidade 8) Determine se a repetitividade é aceitável pelo calculo de

da de
situe %V E - 100 [VENT] = 100 [Orcpcltt"'dade I VT]
ução
ncia. Onde a variação total (VT) é baseada na variação esperada do
una processo (preferência) ou a amplitude da especificação dividida por 6
esta (ver também o estudo de R&R abaixo)
Se a 01oVI:. é grande (ver Capítulo 11, Seção D), então a variação do sistema de
~ 20. medição deve ser inaceitável. Uma ~e7 que a análise de tendência assume que a
repehth idade é aceitável, continuar a análtse do ststema de medição com uma 0Jo Vf
grande condu7irá a resultados enganosos e confusos; ou seja, a análise pode mdtcar
que a tendêncta é estatisticamente 7ero enquanto a magnitude absoluta da tendência
excede os valores aceitáveis do equipamento.
ltzando
93
Caritulo 111 Seção R
Diretrizes para o I studo do ~istema de Medição por Vari:h eis
16
9) Determinar o valor da estatística t para a tendência :
- a ,/_
/T
v ,.- 1 ..rg;;;
tendência
estaiÍitica I= t
I 0) A tendência é aceitável (estatisticamente zero) no nível a se o

valor zero situar dentro dos limites do intervalo de conliança
I -a em tomo do valor da tendência:
Tendência- [ a h(t, 1 _~)J~zero~ Tendência+ [ a ,.(t. . ~)J 1
onde v é obtido no Apêndice C, e

{ ,. _%
1
é obtido por meio das tabelas t padrão.
O nhcl a utilizado depende do nivel de sensibilidade necessária parn
I a~.aliar'controlaro processo e e~tá associado com a função perda (cuna de

sensibilidade) do produto/processo. Um acordo com o cliente deve ser obtido se o
nh.el a adotado diferir do valor 0,05 (95% de confiança) utilindo.
Exemplo - Tendência
Referenciando à Figura li I - B l, o estudo de estabilidade foi realizado

numa peça cujo valor de referência é 6,0 I. A média geral de todas as
amostras (20 subgrupos de tamanho 5 para n 100 amostras) é 6,021.
Portanto a tendência calculada é 0,0 11.
Usando uma planilha de dados e um software estatístico, o supervisor

gerou a análise numérica mostrada na Tabela 111-B 3.
Uma \ ez que o valor zero caia dentro do intervalo de confiança da

tendência ( -0,0299, 0,0519), a cqu ipc de processo pode assumi r que a
tendência das medições é aceitável assumindo que o uso real do
sistema de medição não introduzirá variação de fontes adicionais.
36
A mcenc/.U da lcndêncm é dada por <Jb.
94
Capítulo UI ·Seção B
Dtrctri7CS para o Estudo do Sistema de Medição por Variá\cis
= Desvio Erro Padrão

n Média, X Padrão, Oa da Média, Ob
Valor 100 6.0067 .2048 .02048

Medido
o Valor de Referência = 6.01, a= .05, m = 5, g = 20, d2* = 2.334, d2 = 2.326

a
95% Intervalo de Confiança
Estatístico Valor significativo t da Tendência
GL Tendência
t (bi-caudal)
Inferior Superior
Valor Medido .5371 72.7 1.993 .011 -.0299 .0519
Tabela TTT-8 13: Estudo de Tendência - Análise de Estudo de Estabilidade para a Tendência
ra
Je Análise dos Estudos de Tendência
o
Se a tendência for estatisticamente não ..:ero, procure por uma destas
possíveis causas:
• Erro no padrão ou no valor de referência. Verificar o

io procedimento de padronização.
as
• Instrumento desgastado. Isto pode ser mostrado na
I.
análise de estabilidade c sugere um cronograma de
manutenção ou reconstrução.
or • Instrumento construído para dimensão errada.
• Instrumento medindo a característica errada.
:la • Instrumento calibrado de forma inadequada. Revise o
:a procedimento de calibração.
jo
• Instrumento usado pelo avaliador de forma inadequada.
Revisar as instruções de medição.
• Instrumento com algoritmo de correção incorreto.
Se o sistema de medição tem uma tendência não nula, sempre que
possível deve ser recalibrado para alcançar a tendência zero por meio
de modificação do equipamento, do software, ou de ambos. Se a
tendência não pode ser ajustada para zero, o sistema de medição
ainda pode ser usado, mediante uma modificação no procedimento
(exemplo: corrigindo-se cada leitura com a tendência usada como
fator de correção). Uma vez que há um alto risco de erro do avaliador,
ele deve ser usado apenas com a concordância do cliente.
95
Capítulo 111- 'kção ll
Dm:triJc, para o Estudo do Sistema de 1\h:dição por YariáH:is
Diretrizes para a Determinação da Linearidade37
Conduzindo o Estudo
A linearidade pode ser avaliada utilizando as seguintes diretrizes:
I) Selecionar g ~ 5 peças cujas medidas, devido à variação do
processo, cobrem a amplitude de operação do dispositivo de
medição.
2) Ter cada peça medida por uma inspeção de layout para

determinar seus valores de referência c para confirmar se a
amplitude de operação do dispositivo de medição em questão
está englobada.
3) Ter cada peça medida m ~ I O vezes no dispositivo em
questão, por um dos operadores que normalmente usam o
dispositivo de medição.
../Selecionar as peças aleatoriamente para minimizar a
possibilidade de que o avaliador "relembre" a tendência
durante as medições.
Análise dos Resultados- Gráfico
4) Calcular a tendência da peça para cada medição, c a média

das tendências para cada peça.
Tendência,,, = x,,J - (valor de referência),
Itendencia
tendencia, - ' m
5) Plotar as tendências individuais e as médias das tendências

em relação aos valores de referência num gráfico de linhas,
(veja Figura III-B 3).
6) Calcular e plotar a linha de melhor ajuste e a faixa de
confiança da linha, utilizando as seguintes equações:
Para a linha de melhor ajuste, usar: Y , = ax, + b

onde
x, - valor de referência
y; = média das tendências
c,
17
VeJa Capírulo f. &.-ção E, par.! uma definição opcrac oonal e discussão de causas potenciais.
96
Capitulo 111 - Seção B
Dm:tri/C; par.1 o Estudo do Sistema de Medição por Variãvcis
l:xy- ( I l:x l:Y)

a= gm =inclinação
1
l:x - gm (rx)'
b = y- ax =interseção da reta com o eixo vertical
Para um dado x0 , a faixa 38 de confiança com nível ué:
limite inferior: b + ax _ [/
o Rm -2, ~-<xlz
( l
gm
+
L:(xoX f JY,s]
(x,_X f
limite superior: b + ax
o
+[ /
ll"' 2.1 a l2
( l
gm
+ Xo-
L:(x.-~f
~J'' s]
7) O desvio padrão da variabilidade da repetitividade
<rrcpclltividadc =S
Determine se a repetitividade é aceitável pelo calculo de
%V E = I00 [V EIVT] - I00 [<rrepetitividadc I VT)

Repetibilidade
Onde a variação total (VT) é baseada na variação esperada do
processo (preferência) ou a amplitude da especificação
dividida por 6 (ver também o estudo de R&R abaixo)
I
Se a 01oVE é grande (ver Capitulo 11, Seção 0), então a variação do sistema de
medição deve ser inaceítá"el Uma vez que a análise de tendência assume que a
repetitivídade é aceitável, continuar a análise com o sistema de medição com
uma 01oVE grande conduLirá a re~ultados enganosos e confusos.
8) Plotar a linha de "tendência - O" e analisar o gráfico,

buscando indicações de causas especiais e verificando a
aceitação da linearidade (veja exemplo na Figura III-B3).
JR Veja nota sobre a sclcçi!o do nível a nas "Diretrizes para a Determinação da Tendência", neste mesmo Capítulo 111, Seção B.
97
Capítulo 111- Scç~o B
Oirctri/eS para o fstudo do Sistema de Medição p~lr Variávei!>
Para a linearidade do sistema de medição ser aceitá\ e l, a linha de

"tendência O " deve estar inteiramente contida na faixa de confiança
da linha de melhor ajuste.
Análise dos Resultados- Numérica
9) Se a análise gráfica indica que a linearidade do sistema de

medição é aceitável, então a seguinte hipótese deve ser
verdadeira:
HO: a O inclinação da reta= O
não rejeitar se,
ltl =
[~z=&,-~, r . ,._
.,
lal <t
Se a hipótese acima for verdadeira, então o sistema de medição tem a

mesma tendência para todos os valores de referência. Para a
linearidade ser aceitável, estas tendências devem ser zero.
HO: b =O interseção da linha com o eixo vertical (da tendência) = O
não rejeitar se,
Exemplo - Linearidade
Um supervisor de fábrica introdu.t.iu um novo sistema de medição
para o processo. Como parte do PPAP39, a linearidade do sistema de
medição necessita\ a ser avaliada. Cinco peças foram escolhidas, de
modo a cobrirem a amplitude de operação do sistema de medição
baseada na documentação de variação do processo. Cada peça foi
medida por uma inspeção de layout para determinar seus valores de
referência. Cada peça foi então medida doze vezes pelo operador
líder. As peças foram selecionadas aleatoriamente durante o estudo.
w Manual Procc,.,o de AprO\ ação de Pcçru. de Pr~ldução. 4" Ed1~-llo. 2006.
98
Dirctri/.CS para o Estudo do Sistema de Medição por Variãvcis
Valor de 1 2 3 4 5
Referência da 2,00 4,00 6,00 8,00 10,00
Pe a
I 2,70 5, 10 5,80 7,60 9,10
2 2,50 3,90 5,70 7,70 9,30
3 2,40 4,20 5,90 7,80 9,50
C/) 4 2,50 5,00 5,90 7,70 9,30
w 5 2,70 3,80 6,00 7,80 9,40
-
•O
u-
f-o
w
o..
6
7
8
2,30
2,50
2,50
3,90
3,90
3,90
6,10
6,00
6,10
7,80
7,80
7,70
9,50
9,50
9,50
UJ
~
9 2,40 3,90 6,40 7,80 9,60
lO 2,40 4,00 6,30 7,50 9,20
11 2,60 4,10 6,00 7,60 9,30
12 2,40 3,80 6, 10 7,70 9,40
Tabela lii-B 14: Dados do Estudo de Linearidade
Usando uma planilha de dados e um software de estatística, o

supervisor gerou o gráfico da linearidade, mostrado na Figura III-B 3.
Valor de I 2 3 4 5
Referência da
2,00 4,00 6,00 8,00 10,00
Pc a
I 0,7 1,1 -0,2 -0.4 -0,9
2 0,5 -0, 1 -0,3 -0,3 -0,7
3 0,4 0,2 -0,1 -0,2 -0,5
4 0,5 1,0 -0, 1 -0,3 -0,7
:s
u
5
6
0,7
0,3
-0,2
-0,1
0,0
0,1
-0,2
-0,2
-0,6
-0,5
:z.
•W 7 0,5 -0,1 0,0 -0,2 -0,5
o 8 0,5 -0, 1 0, 1 -0,3 -0,5
:z.
w 0,4
f-o
9 -0, 1 0,4 -0,2 -0,4
lO 0,4 0,0 0,3 -0,5 -0,8
li 0,6 0,1 0,0 -0,4 -0,7
12 0,4 -0,2 0,1 -0,3 -0,6
Média das 0,491667 0,125 0,025 -0,29 167 -0,61667
Tendências
Tabela Ill-B 15: Estudo de Linearidade - Resultados Intermediários
99
( apítulo 111- Scçilo B
Diretrizes para o I·.Mudo do Sistema dc Medição por Vanávt:1s
Exemplo de Linearidade
y =0,736667- O, 131667X
R2 = 71,4%
•
•
ns •
"(j
c .. .. .. .. .. ... .
-~. .
•
<(1)
"C
c
~
o
.•
·· ·· .............. .. ~: -~ '- •· :: ~ •··; :· .................................. Tendência
.. . .. .. .
=O
•
•
- - Regressão
•
• Intervalo de Confiança - 95%
• Médias das Tendências
-1
*
2 3 4 5 6 7 8 9 10
Valores de Referência
Figura lll-B 21: Estudo de Linearidade- Análise Gráfica
A análise gráfica indica que causas espectats podem estar

influenciando o sistema de medição. Os dados do valor de referência
4 parecem ser bimodais.
Mesmo que os dados do valor de referência 4 fossem
desconsiderados, a análise gráfica claramente mostra que este sistema
de medtção tem um problema de linearidade. O \-alor de R' indica
que o modelo linear pode não ser o modelo apropriado para estes
dados40 • Mesmo que o modelo linear seja aceito, a linha de "tendência
-O" cruza com os limites da faixa de confiança em vez de se manter
contida entre eles.
Neste ponto, o supervisor deve iniciar o processo de análise e
resolução do problema para o sistema de medição, uma vez que a
análise numérica não fornece quaisquer informações adicionais. No
entanto, querendo certificar-se de que nenhum registro dos dados seja
deixado sem identificar, o supervisor calcula a estatística t para a
inclinação e a inten;eção:
la ;:; 12,043
tb = 10,158
Adotando o padrão a - 0,05, e indo para a tabela t com (gm- 2) 58
graus de liberdade, c com a proporção de 0,975, o supervisor
descobre o valor crítico de:
Veja os textos c~tatísticos padrl'io sobre a análise de adequação da utilit.ação de um modelo linear para descrever o relacionamento entre duas
40
varia,cis.
100
Capítulo 111- Seção B
Dirctri7.es para o Estudo do S1stcma de Medição por Vanáveis
tss. o,97s = 2,00 172

Como !tal > t58, 0 ,975, o resultado obtido da análise gráfica fica
reforçado pela análise numérica - há um problema de linearidade
neste sistema de medição.
Neste caso, não importa qual relação possa existir entre lt, e tss. o.975.
uma vez que existe um problema de linearidade. Possíveis causas
para problemas de linearidade podem ser encontradas no Capítulo l,
Seção E, "Variação da Localialção".
Se o sistema de medição tem um problema de linearidade, ele
necessita ser recalibrado para conseguir a tendência :tero por meio de
modificações do equipamento, do software, ou de ambos.
Se a tendência não puder ser ajustada ao valor zero ao longo da
amplitude do sistema de medição, ele ainda pode ser usado para o
controle do produto/processo, mas não pode ser analisado como num
sistema de medição que permaneça estável.
I Uma vez que há um alto risco de erro do avaliador, ele deve ser usado
apenas com a aprovação do cliente.
Diretrizes para a determinação da Repetitividade e Reprodutibilidade41
O estudo dos Dispositivos de Medição por variáveis pode ser

I realizado com diferentes técnicas. Três métodos aceitáveis serão
í \ !TX:\
~ A~/-4--~~
discutidos em detalhes nesta seção. Eles são:
R& R
M&R • Método da Amplitude
• Método da Amplitude e Média (incluindo o método da Carta
de Controle)
• Método ANOV A
Exceto para o método da Amplitude, a estrutura de dados para os

estudos é muito similar para os demais métodos. O método ANOY A
é preferido porque ele mede o erro de interação do operador com a
peça no dispositivo de medição enquanto que os métodos da Média e
Média c Amplitude não incluem esta variação. Como já foi
apresentado, todos os métodos ignoram a variação numa mesma peça
(tal como circularidade, conicidade nos diâmetros, planicidade, etc.,
como discutido no Capítulo fV, Seção D) em suas análises.
A abordagem por ANOV A pode identificar a interação peça-operador, mas

ele pode também avaliar outras fontes de variação que é a razão do porque
ele foi incluído. Historicamente a premissa é de que a interação é 7ero, e
neste caso os resultados de ambas as abordagens são equivalentes. Como
d1ssemos, a abordagem ANOVA é preferida por causa de sua flexibilidade
se o usuário tem acesso a um programa de computador adequado. Se não, a
abordagem Xbarra e R é adequada e pode ser feita manualmente ou por
computador.
41
Veja C"apl!ulo I, Seção E, para uma defiou;ão operoc1onal c discussão de cau!oas potcnc1ais.
101
Capitulo Ili S(!çilo B
Dtrctri1c~ para o F~tudo do Ststema de Medição por Variáveis
Entretanto, o sistema de medição total inclui não apenas o dispositivo

de medição em si c suas respectivas tendência, repetitividadc, etc.,
mas também pode incluir a variação das peças que estão sendo
verificadas. A determinação de como tratar a variação de uma mesma
peça necessita ser baseada num entendimento racional do uso
pretendido para a peça c o propósito da medição.
Finalmente, todas as técnicas apresentadas nesta seção estão sujeitas
ao pré-requisito da estabilidade estatística.
Embora a reprodullbilid(l(.le seja u~ualmente interpretada como a •ariaçào
entre avaliadores existem situações onde esta variação é devida a outras
fontes de variação. Por exemplo. em alguns sistemas de medição em que
não há a presença de avaliadores humanos. Se todas as peças são
manuseada~. lixadas, c medidas pelo mesmo equipamento, então a
rcprodutibilidadc é 1cro; isto é, apenas o estudo de rcpctitividadc é
necessário. Mas, se no entanto, silo usados múlliplos dispositivos de
fixação, então a rcprodutibilidade está na variação entre dispositivos de
fixação.
Método da Amplitude
O método da Amplitude é um estudo modificado do dispositivo de
medição por variáveis, que fornece uma aproximação rápida da
variabilidade das medições. Este método fornece somente uma visão
geral do sistema de medição. Ele não decompõe a variabilidade em
repetiti\idadc e reprodullbilidade. Ele é geralmente usado como um
teste rápido para verificar se o R&R não mudou.
I
Esta abordagem tem o potencial de detectar um sistema de medição
42
inaccitável em 80% das \1!/es com um tamanho de amostra igual a 5, c
em 90°~ das \eles com um tamanho de amostra tgual a 10.
O método da Amplitude geralmente utiliza dois avaliadores e cinco

peças para o estudo. Neste estudo, os dois avaliadores medem cada
peça uma única vez. A amplitude para cada peça é a diferença
absoluta entre a medição obtida pelo avaliador A e a medição obtida
pelo avaliador B. As amplitudes são somadas e a amplitude média
(R) é calculada. A variabilidade total das medições é encontrada pela
multiplicação da amplitude média por I. onde
d,
d: é obtido no
Apêndice C, com m = 2 c g = número de peças.

Peças Avaliador A Avaliador B Amplitude (A, B)
0,85 0,80 0,05
2 0,75 0,70 0,05
3 1,00 0,95 0,05
4 0,45 0,55 0,10
5 0,50 0,60 0,10
42
isto é, %RR > 30%
102
Capitulo Ill - Seção B
01rctrucs parJ o Estudo do Sistema de Medição por Variâveis
. de M'd'
Amp I ttu TJi' O,JS
e ta \nJ= - - - = - -= L R. o,07
5 5
R&R = ( R.J =
d2
( R
1,19
J= (0,07 ) = 0,0588
1,19
(Desvio Padrão do Processo 0,0777 obtido em estudo anterior)
%R&R = 100*( R& R )= 75,7%

desvio _ padrão
Tabela Ill-B 16: Estudo do Dispositivo de Medição (Método da Amplitude)
Para determinar qual é a porcentagem do desvio padrão do processo

que a variação da medição consome, converta o R&R em
porcentagem, multiplicando por I 00 e dividindo pelo desvio padrão
do processo. No exemplo (veja Tabela III-B 6), o desvio padrão do
processo desta característica é 0,0777, por isso,
%R&R= 100 *
%R&R= 100*( R&R --)=75,7%

desvio padrão do processo
Agora que a % R&R do sistema de medição é conhecida, uma

interpretação do resultado pode ser feita. Na Tabela III-B 6, a %R&R
é determinada para ser 75,7%, e a conclusão é que o sistema de
medição requer melhoria.
Método da Média e Amplitude
O método da Média e Amplitude (X & R) é uma abordagem que

fornece uma estimativa da repctitividade e da reprodutibilidade de um
sistema de medição. Diferentemente do método da Amplitude, esta
abordagem permite que a variação do sistema de medição seja
decomposta em dois componentes distintos: a repetitividade e a
43
reprodutibilidade • No entanto a variação devido a interação entre o
avaliador e a peça/dispositivo de medição não é calculada por esta
análise.
43
O método A NOVA pode ser usado para determinar a interação entre o dispositivo de medição e os avaliadores, caso tal interação exista.
103
Capítulo 111 - Scçllo B
DtMn1cs p•tra o I .studo do Sistema de Medição por Variávets
Conduzindo o Estudo
Embora a quantidade de avaliadores, repetições, e de peças possa
variar, a discussão a seguir apresentada representa a condição ótima
para a realização do estudo. Considere a Folha de Coleta de Dados
para a R&R mostrada na Figura III-B 6a. O procedimento detalhado é
o seguinte:
44
I) Obter uma amostra constituída de n 2: I O peças que
representa a amplitude real ou esperada da variação do
processo.
2) Identificar cada avaliador como, A, B, C, etc., e numerar as
peças de I até n, de modo que os números das peças não
sejam visíveis aos avaliadores.
I Veja Capítulo rr, Scçilo c.
3) Calibrar o dispositivo de medição, se faz parte dos
procedimentos do sistema de medição normais. Deixe o
avaliador A medir as n peças em ordem aleatória45 e registrar
os resultados na linha I.
4) Deixar os avaliadores B e C medir as mesmas n peças sem
que um avaliador veja a leitura dos demais; então entre com
os resultados nas linhas 6 e I I, respectivamente.
5) Repetir o ciclo de medições utilizando uma ordem aleatória
de medição diferente. Entrar os resultados nas linhas 2, 7 e
12. Registrar os dados nas colunas apropriadas. Por exemplo,
se a primeira peça medida é a de número 7, registrar seu
resultado na coluna identificada como 7. Se três repetições
são necessárias, repetir o ciclo e entrar os dados nas linhas 3,
8 e 13.
6) Os passos 4 c 5 podem ser modificados para o seguinte
quando há peças grandes ou é impossível dispor de peças
si mu ltaneamcnte:
../Deixe o avaliador A medir a primeira peça e registrar a

leitura na linha I. Deixe o avaliador B medir a primeira
peça c registrar a leitura na linha 6. Deixe o avaliador C
medir a primeira peça e registrar a leitura na linha I I .
../Deixe o avaliador A repetir a leitura da primeira peça e
registrar na linha 2, o avaliador B registra a leitura repetida
na linha 7, e o avaliador C registra a leitura repetida na
linha 12. Repetir este ciclo e registrar os resultados nas
linhas 3, 8, c 13, se três repetições serão utilizadas.
7) Um método alternativo pode ser usado se os avaliadores
trabalharem em diferentes turnos. Deixe o aval iador A medir
todas as I O peças e entre as leituras na linha I. Então o
avaliador A deve repetir as leituras em ordem diferente, e
entrar os resultados nas linhas 2 e 3. Faça o mesmo com os
avaliadores B c C.
41
' O número total de "amplitudes" geradas deve ser > 15 para um intervalo de confiança mfnimo no; rc>Ltltados. Embora o formulário tenha sido
projctado com um máximo de lO peças, essa abordagem não é limitada o este número. Como acontece em qualquer técnica estatística, o taman ho
de amm.tm maior, a menor variação da amostragem e o risco resu ltante menor csturllo presentes.
4
~ Veja Capitulo 11 f, Seção B, "Aieatoriwção c Independência Estatfstica".
104
Capítulo 111 - Seção 13
Diretrius para o Lstudo do Sistema de Medição por Van•h e1s
Folha de Coleta de Dados para a Repetitividade e

Reprodutibilidade do Dispositivo de Medição
PEÇA
Avaliador / :\tÍ:DI \
Medição N" I 2 3 4 5 6 7 8 9 lO
A I 0,29 -0,56 1,34 0,47 -0,80 0,02 0,59 -0,31 2,26 -1,36
- t-
2 2 0,41 -0,68 1,17 0,50 -0,92 -0,11 0,75 -0,20 1,99 -1,25
3 3 0,64 -0,58 1,27
-
0,64 -0,84 -0,21 0,66 -0,17
t-
2,01 -1,31
4 Média x- a
5 Amp li tude Ro
1--
6 B I 0,08 -0,47 1,19 0,01 -0,56 -0,20 0,47 -0,63 1,80 -1,68
7 2 0,25 -1,22 0,94 1,03 -1,20 0,22 0,55 0,08 2,12 -1,62
-
8 3 0,07 -0,68 1,34 0,20 -1,28 0,06 0,83 -0,34 2,19 -1,50
1-
9 Médm :?b
lO Amplitude Rh
-
li c I 0,04 -1,38 0,88 0,14 - 1,46 -0,29 0,02 -0,46 1,77 -1,49
12 2 -0, 11 - 1,13 1,09 0,20 -1,07 -0,67 0,01 -0,56 1,45 -1,77
--
13 3 -0,15 -0,96 0,67 0,11 -1,45 -0,49 0,21 -0,49 1,87 -2, 16
14 Média Xc -
15 Amplitude R -
"
.X
16 Média da Peça
Rp =
- =
17 R ([Ra 1t [R" )) +[Rc - ])'(# N" f)/:' AVAl./ ADORES 1 R=
18 X DIP [Mar \' J- [MinX= I xm,.
\9 •LSCR iíi j x[D4 1
*D, 3,27 parn 2 medições r<.-pctidas c 2,58 para 3 rncdtçÕcl> repetidas. f-')(.~ repres~nta o hrn1tc de wntrolc paro o' R ~~ .
individualmente cons iderados. Circular aquele> que se 'ltuam além deste limite. Identificar a causa c corrigi-la. O mesmo
a\ialiador deve repelir estas leituras sobre a~ mesmas p..:ças originalmente usadas. ou descartar ta1s leituras. Refazer então
todos os cálculos de médias, do R, e do tsc. com a~ leitura' r..:,tantes.
Notas:
Tabela 111-B 6 b: Folha de C oleta de Dados para a Repetithidade e Reprodutibilidade do Dispositho de

\1edição
105
Capítulo 111 - Seçllo B
Daretnlcs para o Estudo do Sistema de 'l<lt:daçào por Vanáveís
46
O uso de ferramentas gráficas é muito importante. Uma ferramenta
gráfica específica utilizada depende do projeto experimental
empregado para coletar os dados. Uma verificação sistemática dos
dados para aparentes causas especiais de variação através do uso de
ferramentas gráficas deve preceder qualquer outra análise estatística.
A seguir estão algumas destas técnicas que se mostraram
comprovadamente úteis (veja também o Método de Análise de
Variâncias).
Os dados da análise do sistema de medição podem ser mostrados

graficamente por meio de cartas de controle. A ideia de usar cartas de
controle para responder questões relativas ao sistema de medição tem
sido usada pela Westem Electric (veja AT &T Statistical Quality
Contrai Handbook na bibliografia incluída neste manual).
Carta de Médias As médias de múltiplas leituras feitas por cada um dos avaliadores,
sobre cada uma das peças, são plotadas pelo avaliador, com o número
da peça c um índice. Isso pode auxiliar na determinação da
consistência entre avaliadores.
A média das médias e os limites de controle determinados pela
utili.r.ação da amplitude média também são plotados. A carta das
médias resultante fornece uma indicação da "usabilidade" do sistema
de medição.
A área dentro dos limites de controle representa a sensibilidade
("ruído") da medição. Uma vez que um conjunto de peças usado no
estudo representa a variação do processo, aproximadamente metade
(ou mais) das médias deve cair fora dos limites de controle. Se os
dados mostrarem este padrão, então o sistema de medição será
adequado para detectar a variação peça-a-peça e o sistema de
medição poderá gerar informações úteis para a análise e controle do
processo. Se menos que metade cair fora dos limites de controle,
então, ou o sistema de medição não dispõe de resolução efetiva, ou a
amostra não representa a variação esperada do processo.
46
Descrições detalhadas destas análises estão além do escopo deste manual. Para informações adicionais deve-se pesquisar na bibliografia, ou
amda, buscar a assastência de recursos estatísticos competentes.
106
Dirctri1cs pnra o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
C'O
"C
•(1)
o
:!: -1
-2
-<>--Av. A
-3 --o-Av.B
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
-- A-- Av. C
Figura TJI-B 22: Carta d e Médias - "Supcrpostas"47
A análise destas cartas indica que o sistema de medição parece ter

discriminação suficiente para processos com variação descrita pela
amostragem das peças. Nenhuma diferença de avaliador-para-
avaliador é identificada de imediato.
1
LSC
o
LIC
-1
-2
Aval. A Aval. B Aval. C
Figura 111-B 23: Carta de Médias - "Não Superpostas"
47
Com a ubordagcm A NOVA, isto se denominará carta de interação ut•uliador por pt•çu.
107
Capítulo 111- Seção B
Dirctri7cs para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
Carta de A carta de controle de amplitudes é utilizada para verificar se um

Amplitudes processo está sob controle. A razão disto é que não importa quão
grande o erro de medição possa ser, os limites de controle permitirão
aquele erro. Isso porque as causas especiais necessitam ser
identificadas e eliminadas, antes de um estudo de medição se tomar
relevante.
As amplitudes das múltiplas leituras feitas por cada avaliador sobre
cada peça são plotadas em uma carta de amplitudes padrão, incluindo
média das amplitudes c o(s) limitc(s) de controle. A partir da análise
dos dados plotados na carta, algumas interpretações úteis podem ser
feitas. Se todas as amplitudes estiverem sob controle, todos os
avaliadores estarão fazendo o mesmo trabalho.
Se um dos avaliadores estiver fora de controle, então o método
utilizado difere do utilizado pelos demais.
Se todos os avaliadores tiverem alguma amplitude fora de controle, o
sistema de medição mostra-se sensível à técnica utilizada pelos
avaliadores, e necessita melhoria para obter dados úteis.
1\cnhuma carta deve apresentar padrões de dados relativos aos avaliadores ou peças.
As amplitudes não são dados ordenados. A análise de tendência de uma carta de
controle normal não deve ser utilizada, mesmo que os pontos plotados estejam
conectados por linhas.
A cstabtlidadc é determinada por um ponto ou por alguns pontos situados além do
limtte de controle, \ariaçõe~ de um mesmo avaliador, ou \ariações numa mesma
peça. A análise de estabilidade deve ter significado prático c estatístico.
A carta de amplitudes auxilia na determinação:
• Do controle estatístico com respeito à repetitividadc

• Da consistência do processo de medição entre avaliadores
para cada peça.
1,2
1
Q)
"C
0,8
:::::s
~
Q.
0,6
E 0,4 --o-- Aval. A
c(
--D--Aval. B
0,2
· · ·6· · · Aval. C
o
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Peça
Figura 111-B 24: Carta de Amplitudes -"Superpostas"
108
Diretrizes para o EMudo do Sistema de Medição por Vanávcis
1,0
Q) LSC
~
:::::s
~
o. 0,5
E
<
0,0
Aval. A Aval. B Aval. C
Figura lll-8 25: Carta de Amplitudes- "Não Superpostas"
A análise dos gráficos acima indica que existem diferenças entre a

variabilidade dos avaliadores.
Gráfico As leituras individuais são plotadas por peça, para todos os

Sequencial avaliadores (veja Figura 111-B 8) para obter informações sobre:
(Run Chart) • O efeito das peças individualmente na consistência da
variação
• Indicação de leituras discrepantes (isto é, leituras
anormais)
...o 1
- o
~
-1
-2 •
peça 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Figura lll-8 26: Gráfico Scquencial por Peça
A análise desta carta não identifica nenhum ponto discrepante, nem

peças inconsistentes.
109
Caphulo nl Seção B
D1retri/es para o Estudo do Sistema de Med1çllo por Variáveis
Gráfico de As leituras individuais são plotadas por peça e seus avaliadores (veja
Dispersão Figura III-B 9 ) para obter informações sobre:
• A consistência entre avaliadores
• A indicação de possíveis discrepâncias
• As interações peça x avaliador
A análise da Figura 111 -B 9 não indica qualquer discrepância
significante, mas indica que o avaliador C pode ter leituras mais
baixas do que os demais.
I
2 I I I
I I I I I I
~
....
o
o :~:-~--~: _______ J:-:_~~::-:~~--------+
-1
I
I
I I
....... \ \....Â
I
·2 I
'-'------~-- _.L_
Peça 2 4
2 ,..._.r- y ,
....
o : 1_...- _../ : I :
~ o '~-~--~----- ~~-~-- ~- - ------+-- -- -- - ~
: v , I . --~ , I I
Peça
-1
-2
6 7 8 9
,__....
:
10
.-"
Avaliador A B c
Figura Ill-B 27: Gráfico de Dispersão
Capitulo 111 • Seção B
Gráfico "Whiskers" Num gráfico "whiskers", os dados de valores altos e baixos c as

médias por peça e avaliador são plotados (veja Figura lll-B I 0). Isto
fornece informações sobre:
• A consistência entre os avaliadores
• A indicação de discrepâncias
• As interações peça x avaliador
2 OI
~
.
o
1
Q
I
•oB ct sg
9~
[J
o
·~.
'jQ
> I
c
a
8
·1
I •
-2
~~
Avaliador 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3
Peça 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Figura 111-B 28: Gráfico " Whiskers"
A análise da Figura III-B I O não indica qualquer discrepância

significativa, mas indica que o avaliador B pode ter a maior
variabi Iidade.
1I I
Capitulo 111 -Seção 8
D1rctnL.cs para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
Gráfico de Erros Os dados da análise do sistema de medição podem ser analisados por
um "Gráfico de Erros" (veja Figura lll-B 11 ) dos desvios individuais
contra valores de referência aceitos. O desvio individual ou erro para
cada peça é calcu lado como segue:
Erro - Valor Observado- Valor de Referência
ou
Erro - Valor Observado Média das Medições da Peça
Isto depende se os valores de referência relativos aos dados estão

disponíveis ou não.
/A--\... v\1I .\· /

0,5
e'- 0,0
Q)
I • I
-0,5
peça 2 3 4 5
e'-
0,5
0,0
f\__·_
._
\; . /"-
/
/"
'
f\1 . . -'•\
'"
.
/·
./'\
v
Q)
'.
-0,5 ... ~
\•
peça 6 7 8 9 10
Avaliador • A • B • c
Figura IIJ-8 29: Gráfico d e Erros
A análise do grálico acima indica:

• O avaliador A tem, acima de tudo, uma tendência
positiva
• O avaliador B tem a maior variabilidade, mas aparenta
tendência
• O avaliador C tem, acima de tudo, uma tendência
negativa
112
Du-ctri7cs para (l I studo do Sistema de Medição por Variáveis
Histograma O histograma mostrado (Figura 111-B 12) é um gráfico que mostra a

Normalizado distribuição de frequências do erro do dispositivo de medição de cada
avaliador que participou do estudo. Ele também mostra suas
distribuições de frequências combinadas.
Se os valores de referência estão disponíveis:
Erro = Valor Observado Valor de Referência

Caso contrário,
Valor Normalizado - Valor Observado - Média da Peça
O histograma mostrado forne-

ce uma visão geral imediata de
como o erro está distribuído.
7 Questões como se a tendência
6 ou falta de consistência exis-
.!.!! 5 tentes nas medições feitas pelos
(.)
.~ 4
avaliadores podem ser identifi-
::I
CT 3
cadas mesmo antes de se anali-
~ sar os dados.
u.. 2
A análise dos histogramas (Fi-
gura III-B 12) reforça aquelas
o
do gráfico de erros. Ela também
indica que apenas o avaliador B
Aval. A tem forma simétrica. Isto pode
indicar que os avaliadores A e
C estão introduzindo fontes de
variação sistemática que resul-
tam nas tendências.
.!.!!
(.)
5
.~ 4
::I
0" 3
~
U.. 2
o
• í
.{),7 .{),6
Aval. C Linha de Erro =O

48
Figura 111-B 30: llistograma Normalizado
48
Note que os valore;, 0,0 de cada um dos histogramas estão alinhados em relação a cada um deles.
Capítulo I 11 - Seção 13
DtrctrÍ/eS para o !!~tudo do Sistema de Medição por Variávei~
Gráfico X- V As médias das múltiplas leituras feitas por cada avaliador em cada
uma das peças são plotadas contra o valor de referência ou contra as
de Médias
médias gerais de cada peça como o índice (ver Figura Ill-B 13). Estes
por Tamanho gráficos podem auxiliar na determinação:
• Da linearidade (se for usado o valor de referência)
• Da consistência da linearidade entre operadores
2 - ••
<(
ro
1 -
o-
••
... •
~ -1 - ••
-2 -
•
-3
-3 -2 -1 o 2
referência
2
•
ü 1
•••
co o a e:
>
<( •i
-1 •I
•• ••
·2 •
-3
-3 -2 -1 o 1 2 3
referência
Figura III-B 31: Gráfico X - Y das Médias por Tamanho

Capítulo 111 Scçlo B
Diretrizes para o FMudo do Sistema de Medição por Vnnávcis
· Gráficos de As médias das múltiplas leituras por cada avaliador em cada uma das
peças são plotadas contra cada uma das outras com os avaliadores
Comparação X-Y
como índice. Esses gráficos comparam os valores obtidos por um
avaliador com os obtidos pelos outros (ver Figura 111-B 14). Se existe
uma concordância perfeita entre os avaliadores, os pontos plotados
descreverão uma linha reta que passa pela origem c uma inclinação de
45° em relação aos eixos.
Aval. A
1,25
-1,25
-
-
..
... ,. ~~
••
Aval. 8
1,25
..... ~
:•
.....
.. ...
... •••
-1,25 '\ ":.C

•
..
,•• •
Aval. C
Figura 111-B 32: Gráficos de Comparação X- Y
Os cálculos da Rcpetitividade e Rcprodutibilidadc do Dispositivo de

CÁLCULOS
Medição são mostrados nas Figuras III-B 15 e lll-B 16. A Figura lii-
NUMÉRICOS B 15 mostra uma folha de coleta de dados na qual todos os resultados
do estudo são registrados. A Figura III-B I 6 representa uma folha de
relatório na qual todas as informações de identificação devem ser
registradas, e todos os cálculos feitos de acordo com as fórmulas
prescritas.
Formulários em branco reprodu71ve1S estão disponíve•s na seção Amo~tras
I de Formulários. O procedimento para fazer os cálculos, após todos os

dados terem sido colctados é o seguinte:
(Itens referentes à Figura 111-B 15)
I) Subtrair a menor leitura da maior leitura nas linhas I, 2, c 3;
entrar o resultado na linha 5. Fazer o mesmo para as linhas 6,
7, c 8; e 11, 12, c 13 e entrar os resultados nas linhas I Oc 15,
respectivamente.
115
Capitulo !11 - Seção B
Diretril.C~ pam o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
2) Os registros feitos nas linhas 5, 10, e 15 são amplitudes. e

portanto, são sempre valores positivos.
3) Totalizar a linha 5 c dividir este total pela número de peçlh
amostradas para obter a média das amplitudes para al
repetições do primeiro avaliador Ra. Fazer o mesmo para al
--
linhas I Oe I 5 para obter Rb e Rc.
4) Transferir as médias das linhas 5, I O, e 15 ( Ru,Rb,R )

para a linha 17. Somar esses valores e dividir pelo número de
avaliadores c entrar o resultado como R (média de todas a'
amplitudes).
5) Registrar o valor de R (valor médio) na linha 19 e

multiplicá-lo por D/9 para obter o limite superior de controle.
Notar que 04 é 3,27 se duas repetições são utilizadas. O valor
do Limite Superior de Controle (LSCR) das amplitudes
individuais é então registrado na linha 19. NOTA: O valor do
limite inferior de controle (LICR) para menos do que sete
repetições é igual a 7ero.
6) Repetir qualquer leitura que foi produzida com uma
amplitude maior do que o limite calculado LSCR com o
mesmo avaliador c peça como originalmente realizado, ou
descartar tais valores e recalcular a amplitude média R, e o
valor do limite de controle LSCR com base no tamanho dt
amostra modificado. Corrigir a causa especial que produziu a
condição de fora de controle. Se os dados foram plotados e
analisados utilizando uma carta de controle, como discutido
anteriormente, esta condição deveria ter sido corrigida c não
poderia ocorrer aqui.
7) Somar as linhas (linhas 1, 2, 3, 6, 7, 8, 11, 12, e 13). Dividira
soma de cada linha pelo número de peças que constituem a
amostra c entrar estes valores na última coluna da direita,
intitulada "MÉDIA".
8) Adicione as médias nas linhas 1, 2, e 3 e divida o total pelo
número de repetições e entrar o valor na linha 4 no bloco de
X u. Repetir isto para as linhas 6, 7, e 8; e 11, 12, c 13, c
entre os resultados nos blocos para x be X c nas linhas 9 e
14, respectivamente.
9) Entrar as médias máxima e mínima das linhas 4, 9, e 14 nos
espaços apropriados existentes na linha 18 e determine a
diferença. Entrar essa diferença no campo intitulado X DI}
na linha 18.
49
Veja o Manual de referência Controle Estatistico do Processo, 2005 , ou qualquer outra fonte de referência estatística, para obter a; tabelas
desses fatores.
116
Capítulo lll - Seção O
Diretrizes para o Estudo do Sastcma de \I! edição por Vana' ea~
1O) Somar as medições para cada repetição, para cada peça, c

dividir o total pelo número de medições (número de
repetições multiplicado pelo número de avaliadores). Entrar
os resultados na linha 16, nos campos intitulados "média por
peça".
11) Subtrair a menor média por peça da maior média por peça e
entrar o resultado no campo intitulado Rr na linha 16. Rp é a
amplitude das médias por peça.
([tens referentes à Figura Ill-B 16)
12) Transferir os valores calculados de R, X DJF, e Rp para os

campos a eles destinados no cabeçalho do formulário.
13) Realizar os cálculos indicados na coluna intitulada "Análise
na Unidade de Medição" situada no lado esquerdo do
formulário.
14) Realizar os cálculos indicados na coluna intitulada ''% sobre
a Variação Total" situada no lado direito do formulário.
15) Verificar os resultados para ter ccrtc:ta de que não foram
cometidos erros.
117
Capnulo 111 - St:çào B
D1rctn/cs para o E&tudo do Sistema de Medição por Variáveis
Folha de Coleta de Dados para a Repetitividade e

Reprodutibilidade do Dispositivo de Medição
PEÇA
Auliador/
MÉDIA
Medição N" I 2 3 4 5 6 7 R 9 lO
A I o 29 -0 56 1,34 047 -080 002 0,59 -0 31 2 26 -1,36 0,194

~~ ---
2 2 0,41 -0 68 1 '17 050 -092 -0 11 0,75 -020 1 99 -1,25 0,166 -

- ~
·- ·-
.1 3 0.64 -0.58 1.27 0,64 -0,84 0.21 0.6fi -0.17 2.01 -1.31 0,211
4 Média 0,447 -0,607 1,260 0,537 -0,853 -0,100 0,667 -0,227 2,087 -1,307 x u
= 0,1903
-
5 Amplitude 0,35 0,12 0,17 0,17 0,12 0,23 0,16 0,14 0,27 0,11 .
R- 0,184
ó B I 0,08 -0,47 1,19 0,01 0,56 -0,20 0,47' 0,63 1,80 -1.68 0,001 -
·---
7 2 o 25 -1.22 0,94 1,03 -1.20 0.22 o 55 0,08 2,12 -1.62 0,115
o 07
- -
-0 68
·-i--- --
R 3 1.34 0.20 -1.28 0.06 0.83 0.34' 2.19 1.50 0,089
9 Méd1a 0,133 1 -0,790 1,157 0,413 -1,013 0,027 0,617 1-0,297 2,037 -1,600 x~ 0,0683
- - - r--
lO Amplitude 0,18 1 0,75 0,40 1,02 0,72 0,42 0,36 0,71 0,39 0,18 Rb = 0,513
li c I 0,04 -1,38 0,88 0,14 -1,46
~
-
-029 o02 -046 177 -1 49 -0,223
·-
12 2 -0 11
---
-113
~----
1 09 020 -1 07 -067 o01 -0 56 1 45 -1,77 -0,256
'~ ~
13 3 -015 -0,96 067 o 11 -1 45 -049 o 21 -049 1 87 -216 -0,284

14 Méd1a -0,073 -1,157 0,880 0,150 -1,327 -0,483 0,080 -0,503 1 1,697 -1,807 x c = -0,2543
15 Amplitude
- - -
0,19 0,42 0,42 0,09 0,39 0,38 1 0,20 0,10 0,42 0,67 R,- 0,328
16 I
Médi;~ por 0,169 -0,851 1,099 0,367 -1,064 -0,186 0,454 -0,342 1,940 -1 ,571 X- 0,0014
I
Peça
I RP 3,511
17 <I i?;, 0,184] [Rh o,513J + [R, 0,328]) I [ # N" DE AVALIADORES 3 l 0,3417
R= 0,3417
IR [Max X 0,1903) [Min X -0,2543) x()/1 0,4446
19
• [R 0,3417) X (D, = 2,58) = LSCR- 0,8816
•o, 3,27 para 2 mcdiçõc> repetidas e ~.SR para 3 medições repct1da' LS('• representa o limite de controle para os R's,
mdl\idualmcntc considerados. Circular aquele, que se situam alem deste hn11tc. Identificar a ~-au:.a e corrigi-la. O me.mo
a' ahador de' e repetir estas leituras sobre as me. ma, pc~-a' ongmalmcntc u;,adas, ou dcscanar ta1s lenura.~. Ref<Ver então
todos os calculos de medidas, do R. e do LSC• com a.. leitura, rc,tantcs
:'llota\:
Figura 111-8 33: Folha de Coleta de Dados R&R preenchida
118
Capitulo lll - Seção B
Din:trizc> paro o Estudo do Sistema de V! edição por Variávets
Relatório de Repetitividade e Reprodutibilidade de um Dispositivo de Medição

N" e Nome da Peça: Nome do Dtsposlii\O de Medtçào Data
Caructeristtcas: N" do Dispostttvo de Medtçào Reahzado por:
Espectficações: Tipo do Dtsposuivo de Medtção:
Da Folha de Registro de Dados: R =o,3411 XDIF 0,4446 Rp 3,511

Análise na Unidade de Medição •;. sobre a Variação Total (V7)
Rcpctitividade Vari~ão do Equipamento (VE)
VJ:: - R X Kl %VE - I00 [VEIVT]
1\-.MH'<Iti
0,3417 X 0,5908 kf1Mdd•• K, 100 [0,20188/1 ,14610]
0,20188 2 0,8862 17,62%
3 0,5908
Rcprodutibilidade - Variação entre Avaliadores (VA)
VA - ~(X01F xKS- (VE 2/(nr)) %VA 100 (VA/VT]
= ~(0,4446x0,5231) 2 - (0.20188 2/(10x 3))

100 [0,22963/ 1,14610]
N• de
= 0 ,22963 Avaliadores 2 3 20,04%
,. n depeçaf
r= n• de
medições repetidas K1 0,7071 0,5231
Rcpctutvtdade & Reprodutibi1idade (R&R)
R&R = .JVE 2 + VA 2 "oR&R- 100 (R&RIYT]
= ~( 0,20188 2 + 0,22963 2 ) Peças KJ - 100 r- o,3o575'1,14610J
0,30575 2 0,7071 26,68%
3 0,5231
Vanação da Peça ( VP) 4 0,4467 %VP - 100 [VPIVT]
VP - RP X K1 5 0,4030 100 [1 ,10456/1,14610]
= 1,10456 6 0,3742 96,38%
Variação Total (VI) 7 0,3534
VT - .jR&R2 + VP2 8 0,3375
= ~( 0 ,305752 + 1' 10456 2 ) 9 0,3249 ndc - 1,4t( v%&R)
1,14610 1,41(1, 10456/0,30575)

10 0,3146
5 094-5
Para onfonnações sobre a teoria e valores das constantes ultlizadas neste fonnulâno, veJa o Manual de Referência Análíse dos Su1emas de
Mtd•çilo (MSA), Quarta Edição.
Figura lll-B 34: Relatório de Repetitividade e Reprodutibilidade do Dispositivo de Medição
119
C'apatulo 111 - Seçllo B
DirctrilA!~ para o L:.studo do Sistema de Medição por Vanávcis
Análise dos A Folha de Coleta de Dados para a Repetitil•idade e

Resultados- Numérico Reprodutihilidade do Dispositivo de Medição e o formulário do
Relatório. figuras 111 -B 15 e m-B 16, estabelecem um método para a
análise numérica dos dados do cstudo50 . A análise irá estimar a
variação c a porcentagem da variação do processo para o total do
sistema de medição c seus componentes: a repetitividade. a
reprodutibilidade. e a variação da peça. Estas informações necessitam
ser comparadas para se complementar os resultados da análise
gráfica.
No lado esquerdo do formulário (Figura 111-B 16), na coluna
intitulada Análise na Unidade de Medição, o desvio padrão é
calculado para cada componente da variação total.
A rcpctitividade ou variação do equipamento (VE ou crE) é calculada
pela multiplicação da amplitude média (R) por uma constante (K 1).
K I depende do número de repetições utilizado no estudo do
dispositivo de medição c é igual ao inverso de d:, obtido na tabela do
Apêndice C. d:, por sua vez, depende do número de repetições (m) c
do número de peças multiplicado pelo número de avaliadores (g).
(Supostamente maior do que 15 para o cálculo de K 1 ).
A reprodutibilidade ou variação entre avaliadores (VA ou a,) é
calculada pela multipl icação da máxima diferença entre as médias dos
avaliadores ( X m1 ) pela constante (K2). K2 depende do número de
avaliadores utilizados no estudo do dispositivo de medição. c é o
inverso de d . obtido na tabela do Apêndice C. d~ depende do
número de avaliadores (m) c g - I, uma vez que há somente um
cálculo de amplitude. Como a variação entre avaliadores está
contaminada pela variação do equipamento, ela deve ser corrigida
pela subtração de uma fração da variação do equipamento. Por isso. a
variação entre avaliadores (V A) é calculada por
VA /t::- y Sl§1_
'\X, . . XK2}- nr
onde, n número de peças c r número de repetições

Se um valor negativo é calculado sob a raiz quadrada. a variação
entre avaliadores (V A) é considerada nula.
A variação do sistema de medição para a repetitividade e
reproduttbilidadc (R&R ou cr\1) é calculada pela soma do quadrado da
\ariação do equipamento com o quadrado da variação entre
avaliadores. executando-se a seguir a raiz quadrada daquela soma,
como segue:
Existem genericamente quatro abordagens diferentes para determinar

a variação do processo que são utiliL:adas para analisar a
aceitabilidadc da variação da medição:
~o (h resultados numéricos do exemplo dado foram desenvolvidos como se fossem ca lcu lados manualmente; isto é, os resu ltados lbrnm
tran~Jcridos c arredondados para um digito decimal adicional. As aná lises tciws por programa> de computador devem manter os valore~
intermediários com a máxima precisão do computador/linguagem de programaç:lo. Os resultados obtidos a partir de um programa de computador
\Üi ado, podem diferir dos resultados do exemplo dado, na segunda casa decimal (ou acima), mas a análise linal permanecerá a mesma.
120
Capítu lo 111 - Seção B
Din:tmcs pttr.l o Estudo do Si!>tcma de Med1ção por Variáveis
121
Capitulo 111 S~-ção B
Dtrclri/cs para o F!>tudo do Sistema de Medição por Variáveis
I) utilizando a variação do processo

o variação do processo, obtida das peças do próprio estudo
deR&R
o usado quando as amostras selecionadas representam a
variação esperada do processo (opção preferida)
2) substituição da variação do processo
o usado quando amostras suficientes para representar o
processo não estão disponíveis, mas um processo
existente com variações de processo similares está
disponível
3) valor objetivo de P" (ou Ppk)
o usado quando amostras suficientes para representar o
processo não estão disponíveis e um processo existente
com variação de processo similar não está disponível, ou
espera-se que o novo processo tenha menor variabilidade
do que um processo existente
4) tolerância da especificação
o quando o sistema de medição é utilizado para classificar
o processo, c o processo tem PP < 1,0.
A variação da peça (peça a peça, variação da peça sem variação da

medição) (VP ou CJp) é calculada pela multiplicação da amplitude das
médias das peças (Rp) pela constante (K 3). K 3 depende do número de
peças utilizadas no estudo do dispositivo de medição e é igual ao
inverso de d:, obtido na tabela do Apêndice C. d: depende do
número de peças (m) e (g). Nesta situação g- I pois há somente um
cálculo de amplitude.
A variação total (VT ou CJ 1 ) do estudo então é calculada pela raiz

quadrada da soma dos quadrados da variação de repetitividade e
reprodutibilidade (R&R) e da variação da peça (VP).
VT=~(R&RJ + (VPJ
Utilizando a informação de variação histórica
Para o uso desta abordagem, a informação do processo que está sob

controle estatístico. Se a variação do processo é conhecida e seu valor
está baseado em 6cr, então ele pode ser usado no lugar da variação
total do estudo (VT) calculada a partir dos dados do estudo do
dispositivo de medição. Isto é alcançado pela realização das duas
seguintes fórmulas:
1) VT = variação do processo
6,00
122
Capítulo 111 ·Seção B
Diretruc~ para o I \tudo do Ststcma de \.1\:dação por Variávea~
Utilizando o valor objetivo de Pp (ou Ppk)
Para usar a opção Pp, utilize o seguinte VT na análise de R&R:
Uma vez que p = LSC- LIC = LSC- UC = LSC- UC

r 6a p 6s 6VT
Então VT = LSC- LIC
6pp
e VP= ~(VT) (R&RY
Utilizando a tolerância (Amplitude da especificação)
Quando comparamos o erro de medição de um estudo de R&R com a

tolerância, isso é o mesmo que comparar com um processo de
produção com Pp de I ,0. Os clientes OEM raramente esperam
variação do processo baixo como um Pp(l> de I ,00, nem aceitam um
processo que tenha um baixo nível de desempenho. Pode fazer mais
sentido comparar a variação de medição a um objetivo do processo de
produção que satisfaça aos requisitos 51 do cliente.
Para usar esta opção, use o seguinte VT na análise de R&R
VT= LSC-LJC
6
VP=~(VT)' (R&R)'
indiccs
Uma vez que a variabilidade de cada fator no estudo do dispositivo de

medição é determinada, eles podem ser comparados à variação total
(VT). Isto é obtido pela realização dos cálculos indicados na coluna à
direita do relatório (figura 111-B I 6) do dispositivo de medição,
intitulada"% sobre a variação total".
A porcentagem que a variação do equipamento (%VE) consome da
variação total (VT) é calculada por I OO[VENT]. A porcentagem que
os demais componentes da variação total consomem da variação total
pode ser calculada similarmente como segue:
%VA = 100 [VANT]
%R&R 100 [R&RNT]
%VP 100 [VPNT)
A SOMA DAS PO_RCEJ\TAGEJ\S CO~SUM IOAS POR CADA

I FATOR PODE NAO SER IGUAL 100%.
Os resultados destas porcentagens relativas à variação total

necessitam ser avaliados para determinar se o sistema de medição é
aceitável ou não para a sua aplicação pretendida.
St Por exemplo, veja Chrysler, rord e GM, Manual de PPAP
123
Capítulo 111 ·Seção B
Dirclri/eS para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
Se a análise é baseada na tolerância ao invés da variação do processo, então o

formulário do Relatório de Repetitividade e Reprodutibilidade do Dispositivo de
Medição (figuro~ 111-B 16) pode ser modificado em sua coluna à direita para
representar a porcentagem da tolerância em veL das porcentagens da variação total.
Neste caso, •,o VI::., 0 oV A, 01oR&R, e 0 'o VP serão calculados pela substituição do,
valores da tolerância di~·id1da por se1s no denominador das fórmulas de cálculo, no
lugar da variação total (VT). L ma ou outra d essas du as abord agens pode ser
ad otada, depende ndo da utilização qu e ser á d ada ao sistema de medição e os
desej os do cliente.
O passo final da análise numérica é para determinar o número de

distintas categorias (ndc) de resultados que podem ser distinguidos de
maneira confiável pelo sistema de medição. Este é o número de não
sobreposição com intervalos de confiança - 97% que medirá a
variação esperada do produto52 .
ndc =1,4 I(v% &R )
Dado que a análise gráfica não indicou qualquer variação de causa

especial, a regra prática para a análise dos resultados da repetitividade
e rcprodutibilidade do dispositivo de medição (%R&R) pode ser
encontrada no Capítulo H, Seção D.
Para a análise, o ndc é o máximo de um ou o valor calculado

incompleto para o inteiro. Esse resultado deve ser maior ou igual a 5.
I
Para evitar um ndc • O, que é possío,;el com o truncamcnto so7inho, algun'>
computadores irão arredondar o resultado calculado. Isto pode resultar na diferença
nos relatórios finais quando os mesmos dados são a"aliados por dtfercnte>
programas.
Quando utilizamos a abordagem Pp para VT, o cálculo de ndc é:
então
141~ =141 ~VT - R&R

2 2
ndc =
' R&R ' R&R
Método da Análise de Variância (ANOVA)
A análise de variância (ANOV A) é uma técnica estatística padrão que

pode ser utili.t:ada para anal isar o erro de medição e outras fontes de
variabilidade dos dados num estudo de sistemas de medição. \a
análise de variância, esta pode ser decomposta em quatro categorias
peças, avaliadores, interação entre peças e avaliadores, e o erro de
replicação devido ao dispositivo de medição.
52
A importância do número de distintas categorias (ndc) em atividades de controle e análise é discutida no Capítulo I Seção E,
"Questões de medição" (especialmente figura 1-E 3). O cálculo de ndc é ana lisado no Capítul o 11 - Seção B, "Análise de
resultados numérico"
124
Capítulo UI - Seção B
Dirctnzcs para o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
As vantagens da técnica ANOV A, quando comparada com o método

de Média e Amplitude, são:
• Eles são capazes de tratar qualquer estrutura de um
experimento
• Podem estimar as variâncias mais precisamente
• Extraem mais informações (tal como o efeito da interação
entre peças e avaliadores) dos dados experimentais.
As desvantagens são que cálculos numéricos são mais complexos e os

usuários precisam de um certo grau de conhecimento estatístico para
interpretar os resultados. O método ANOVA, como descrito nas
seções seguintes é aconselhável, especialmente se houver
disponibilidade de um computador.
Aleatorização e A maneira de coletar os dados é muito importante no método

Independência ANOV A. Se os dados não forem colctados de maneira aleatória, isto
pode levar a uma fonte de valores de tendência. Uma maneira simples
Estatística
de garantir um projeto equilibrado para (n) peças, (k) avaliadores, c
(r) medições repetidas é a aleatorização. Uma abordagem comum
para a aleatorização é identificar o código Al numa tira de papel para
denotar a medição feita pelo primeiro avaliador na primeira peça.
Fazer isto até A(n) para a medição feita pelo primeiro avaliador na n-
ésima peça. Seguindo o mesmo procedimento para o avaliador
seguinte até o k-ésimo avaliador. Uma notação similar deve ser
usada, onde B ~. C 1 denotarão as medições feitas pelo segundo e
terceiro avaliadores na primeira peça. Uma vez que todas as nk
combinações estão identificadas, então as tiras de papel podem ser
colocadas num chapéu ou num vaso. Uma por vez, as tiras são
selecionadas. Estas combinações são de letras e números (A~, 8 2 , .... ).
Uma vez que todas as nk combinações forem selecionadas, as tiras de
papel voltam para o chapéu e o procedimento se repete. isto deve ser
feito r vezes para determinar a ordem de medição para cada repetição.
"A geração de números
aleatórios é muito Existem abordagens allernativas para gerar uma amostra aleatória.
importante para ser deixada Cuidados devem ser tomados para diferenciar entre amostragem
ao acaso". aleatória, casual, e conveniência 5 •
Robert R. Coveyou 54 Em geral, todos os esforços necessitam ser feitos para garantir a
--=---- - - - - - '
independência estatística no estudo.
Conduzindo o Estudo
Os dados podem ser coletados de maneira aleatória usando um

formulário similar ao da Figura 111-B 6a. Para nosso exemplo,
existem 10 peças e 3 avaliadores, o experimento foi realizado em
sequência aleatória, e o procedimento repetido três vezes para cada
combinação de peça e avaliador.
53
Veja Whcclcr c Lyday, Eva/uating the Measurement Process, Second Edition, 1989, p. 27.
~ Robert R. Covcyou ( 1915 20 de rev 1996) foi um matemático Americano que foi um f1sico da saúde com o projeto Manhattan de 1943
4
durante a Segunda Guerra Mundial. Ele se tornou um reconhecido especialista em gcrt~dorcs de números pseudo-aleatórios.
125
D1retnlcs para o Estudo do Sistema de Med1ção por Variáveis
Análise G ráfica
Quaisquer dos métodos gráficos discutidos na Análise Gráfica

a nterior podem ser usados para a análise gráfica dos dados coletados
como parte de um estudo ANOV A. Estes métodos podem ser usados
para confirmar c fornecer conhecimento adicional referente aos dados
(isto é, tendências, ciclos, etc.).
Um método gráfico sugerido é o chamado gráfico de interação. Este
gráfico confirma os resultados do teste F sobre se a interação é
significativa ou não. Neste particular gráfico de interação, as médias
das medições por cada avaliador em cada peça versus o número de
identificação das peças (I, 2, 3, ..... etc.) é representada na figura 111-B
17. Os pontos para cada avaliador, média das medições de cada peça,
são ligados para formar k (número de avaliadores) linhas. A maneira
de inte rpretar o gráfico é se as k linhas forem paralelas não existe
interação. Quando as linhas não são paralelas a interação pode ser
significativa. Quanto maior for o ângulo de intersecção, maior será a
interação. Medidas apropriadas devem ser tomadas para eliminar as
causas da interação. No exemplo da Figura lll-B 17, as linhas são
aproximadamente paralelas, indicando não haver interação
significativa.
1
.~
"C
•(I) o
LIC
~
-1
-2
~Av. A
-3 --o-Av. 8
2 3 4 5 6 7 8 9 10
- - t:.- - Av. C
Figura 111-B 35: Gráfico de Inte ração
Outro gráfico algumas vezes de interesse, é o gráfico de resíduos.

Este gráfico é mais para verificar a validade das premissas. Essa
premissa é que o dispositivo de medição (erro) é uma variável
aleatória de uma distribuição normal. Os resíduos, que são as
diferenças entre as leituras observadas e os valores previstos, são
então plotados. O valor previsto é a média das leituras repetidas de
cada avaliador para cada peça. Se os resíduos não estiverem
aleatoriamente distribuídos acima e abaixo do zero (linha horizontal
de referência), pode ser porque as premissas estão incorretas, e uma
investigação mais aprofundada dos dados é sugerida.
126
Capítulo 111 -Seção B
Diretrizes para o Estudo do Sistema de Medição por Vanà~e1s
ca Resíduos Versus Valores Ajustados

os (Valor)
os
os
05 ~
e
é cn
~s
o
::l I .. .... .·
. . .. .: •'. ...... ..
~
e
B
cn
Q)
0::
0.0 -t I •
':. - I -
J
a,
a
e
:r
l l T
a ·2 -1 o 2
s
Valor Ajustado
o
o Figura Ill-8 36: Gráfico de Resíduos
Cálculos Numéricos
Embora os valores possam ser calculados manualmente, a maioria das
pessoas deve usar um programa de computador para gerar o que é
chamado de tabela de Análise de Variãncia ANOV A (veja
Apêndice A).
Aqui a tabela ANOVA é composta de cinco colunas (veja Tabela 111-
B 7).
• Coluna Fonte é a causa da variação.

• Coluna GL, são os graus de liberdade associados com a
fonte.
• Coluna SQ ou soma dos quadrados, são os desvios em
tomo da média da fonte.
• Coluna QM ou quadrado médio, é a soma dos quadrados
dividida pelos graus de liberdade.
• Coluna do quociente F, calculado para determinar a
signifícância estatística do valor da fonte.
A tabela ANOV A é usada para decompor a variação total em quatro

componentes: peças, avaliadores, interação entre avaliadores/peças, e
a repetitividade devida ao instrumento.
Para efeito de análise, os componentes com variância negativa têm
este seu valor zerado.
Essa informação é utilizada para determinar as características do
sistema de medição como no Método da Média e Amplitude.
127
Cnpftulo 111 Seçllo B
Dirctri/cs par.1 o Estudo do Sistema de Medição por Variáveis
Fonte GL SQ QM F
Avaliador 2 3, 1673 1,58363 34,44*
Peças 9 88,3619 9,8 1799 213,52*
Avaliador por 18 0,3590 0,01994 0,434

Peça
Equipamento 60 2,7589 0,04598
Total 89 94,6471
Nível de signiticância a== 0,05

Tabela lli-B 17: Tabela ANOVA
A Tabela IIl-B 7 mostra os cálculos da Análise de Variância

(ANOV A) para os dados do exemplo da Figura III-B 15, supondo um
projeto fatorial com dois fatores equilibrados. Ambos os fatores são
considerados para serem aleatórios. A Tabela IIJ-B 9 mostra a
comparação entre o método ANOV A e o método da Média e
Amplitude. A Tabela 111-B I O mostra o relatório de R&R para o
método ANOV A.
Estimativa da Desvio %Varia ção Total % Contribuição

Variãncia Padrão
IT
2
=0.039973 VE = 0.199933 18.4 3.4
(Repetit1vidade)
ti= 0.051455 VA = 0.226838 20.9 4.4

(Avaliador)
..; =o INT= O o o
(Interação)
Sistema= GRR = 0.302373 27.9 7.8

0.09143
('12 +I+ ú12)
r:l = 1 .086446 VP = 1.042327 96.0 92.2
Peça
Variação Total VT= 1.085 100.0
Tabela lli-B 18: Análise ANOVA - Porcentagem de Variação e Contribuição

(A estimativa da variância está baseada num modelo sem interação)
Capitulo 111 - Seção H
Dirctri,es pam o Estudo do Sistema de Medição por Variá,eis
ndc =1,4 {1,0423Yo,30237) = 4,861 =5
Variação Total (VT) = .JR&R"+ VP 2
l'o
O/ da · ~ T ota 1-
vanaçao oo( -a-..,"'-'"""·nr.···J
1
a tot.ll
%da Contribuição (em relação à Variãncia Total)= 100( a :om';'nente•J

O'toltll
A nálise dos Estudos de R& R
Tanto o método da Média e Amplitude como o método ANOV A

fornecem informações relativas às causas de variação do sistema de
medição ou do dispositivo de medtção.
Por exemplo, se a rcpctitividade for maior do que a reprodutibilidade,
as causas podem ser:
• O instrumento necessita manutenção.
• O dispositivo de medição pode necessitar serre-projetado
para ser mais rígido.
• O aperto ou a locaiL~açào da peça no dispositivo de
medição requerem melhoria.
• Há excessiva variação na mesma peça.
• Se a reprodutibilidade for maior do que a repetitividade,
então as possíveis causas podem ser:
• O avaliador necessita ser mais bem treinado em como
usar e na leitura do dispositivo de medição.
• As calibrações feitas no "mostrador" do dispositivo de
medição não são claras.
Um dispositivo de fixação (de algum tipo) pode ser necessário para

auxiliar o avaliador a util izar o dispositivo de medição mais
consistentemente.
129
Limite Inferior Desvio Limite Superior % da

M étodo Int. Conf. 90% 55 Padrão Tnt. Conf. 90% Variação Total
~
VE 0, 175 0,202 0,240 17,6
VA 0,133 0,230 1,016 20,1
INTERAÇÃO na na
R&R 0,266 0,306 0,363 26,7
VP 1,104 96,4
dl:i!2l:a
VE 0,177 0.200 0,231 18,4
VA 0, 129 0,227 1,001 20,9
INTERAÇÃO o o
R&R 0,237 0,302 1,033 27,9
VP 1,042 96,0
* No método da média e amplitude, o componente denominado interação não pode ser estimado.
Tabela 111-B 19: Comparação dos Métodos ANOVA e da Média e Amplitude
N° e Nome da Peça: Nome do Dispositivo de Medição: Data:

Características: o do Dispositivo de Medição: Realizado por·
Especificações: Tipo de Dispositivo de Medição:
DESVIO % DA PORCENTAGEM
PADRÃO VARIAÇÃO TOTAL DE CONTRIBUIÇÃO
Repeutividade ( VE) 0,200 18,4 3,4

Reprodutibilidade ( VA) 0,227 20,9 4,4
Avaliador por Peça (INT) o o o
R&R 0,302 27,9 7,9
Peça (VP) 1,042 96,0 92,2
O Sistema de Medição é aceitável para Controle do Processo e para Análise
Notas:
Tolerãncia N.A. Variação Total ( V1) = 1,085
Número de distintas categorias de dados (ndc) 4
Tabela 111-B 20: Relatório do M étodo ANOV A para R&R
55 L1m1tc
. de Confiança LC
130
Capítulo IH - Seção C
Estudo do S1stcma de Medição por Atnbutos
131
Capitulo 111- Seção B
Darctri/cs para o E!>tudo do Sistema de Medição por Variáveis
Seção C
Estudo dos Sistemas de Medição por Atributos
Os sistemas de medição por atributos são uma classe de sistemas de

medição em que o valor de medição é único de um número finito de
categorias. Isto contrasta com os sistemas de medição por variáveis
que podem resultar numa série contínua de valores. O mais comum
deles é o calibrador passa/não passa que tem apenas dois resultados
possíveis. Outros sistemas para atributos, por exemplo, padrões
visuais, podem resultar de cinco a sete classificações tais como muito
bom, bom, regular, ruim, muito ruim. As análises apresentadas nos
capítulos precedentes não podem ser usadas para avaliar tais sistemas.
Como já foi dito no Capítu lo l, Seção B, há um risco quantificável
quando utilizamos quaisquer sistemas de medição para tomar
decisões. Uma vez que o maior risco está nos limites da categoria, a
análise mais apropriada seria a quantificação da variação do sistema
de medição com a curva de desempenho do dispositivo de medição.
MÉTODO DA ANÁLISE DE RISCO
Em algumas situações de atributo, não é viável obter uma quantidade

suficiente de peças com valores de referência variáveis. Em tais
casos, os riscos de tomar uma decisão errada ou decisão
56
inconsistente podem ser avaliados através da:
• Análise de Teste de llipóteses
• Teoria de Detecção do Sinal
Uma vez que esses métodos não quanti licam a variabilidade do
sistema de medição, eles deverão ser usados somente com o
consentimento do cliente. A seleção e o uso de tais técnicas devem se
basear nas boas práticas estatísticas, no entendimento das fontes de
variação potenciais que podem afetar o produto e o processo de
medição, e o efeito de uma decisão incorreta sobre os processos
remanescentes c o cliente final.
As fontes de variação dos sistemas por atributos devem ser
minimizadas pelo uso dos resultados de fatores humanos e da
pesquisa ergonômica.
Abordagens Cenário
Possíveis
O processo de produção está sob controle estatístico e tem como
índices de desempenho PP - PP* - 0,5, o que é inaceitável. Como o
processo está produ7indo produtos não-conformes, uma ação de
contenção é necessária para separar as peças inaceitáveis do fluxo de
produção.
~ 6 loto inclui a comparação de múltiplos avaliadores.
132
Capitulo rn - Seção C
Estudo do Sistema de Medição por Atnbuto~
LIE = 0,45 LSE =0,55
0,40 0,50 0,60

Figura 111-C 6: Exemplo de Processo com Pp = Ppk = 0,50
Para a atividade de contenção a equipe do processo selecionou um

dispositivo para atributo que compara cada peça com um conjunto
específico de limites e aceita a peça se os limites são satisfeitos; caso
contrário, rejeita a peça (esse dispositivo para atributo é conhecido
como Passa/Não Passa). \1uitos dispositivos deste tipo são ajustados
para aceitar ou rejeitar com base num conjunto de peças-padrão. Ao
contrário de um dispositivo para variável, o dispositivo para atributo
não indica quão boa ou quão ruim a peça é, mas apenas que a peça
está aceita ou está rejeitada (isto é, 2 categorias). Como para todos os
dispositivos, este dispositivo por atributo terá áreas "cinza" onde
decisões erradas podem ser tomadas (veja Figura 111-C 2 abaixo
Capítulo 11 Seção B)
I I
Figura 111-C 7: "Ár eas Cinzentas" Associadas ao Sistema de Medição
Uma vez que este ainda não foi documentado pela equipe, é
necessário estudar o sistema de medição. No entanto, para tratar as
áreas de risco em torno dos limites de especificação, a equipe
escolheu 25% das peças perto ou no limite inferior da especificação e
25% das peças perto ou no limite superior da especificação. Em
alguns casos onde é dificil fazer estas peças a equipe pode decidir
usar uma porcentagem inferior reconhecendo que esta pode aumentar
a variabilidade dos resultados. Se não é possível fa7.er peças perto dos
limites de especificação, a equipe deve reconsiderar o uso de
dispositivos por atributos para esses processos. Como apropriado para
cada característica, as peças devem ser medidas independentemente
com um dispositivo de medição por variáveis com variação aceitável
(exemplo, um CMM). Na medição de um atributo verdadeiro que não
133
Capítulo 111 Seção C
Estudo do Sistema de Medição por Atributos
pode ser medido com um dispositivo por variável, utilizar outros

meios tais como especialistas, para pré-determinar quais amostras são
boas ou defeituosas.
Três avaliadores são utilizados, com cada avaliador tomando três

decisões em cada peça.
A decisão aceitável foi designada com o dígito um ( 1) e a decisão

inaceitável foi designada com o dígito zero (0). A decisão de
referência e os valores de referência por variável, mostrados na
Tabela lll-C I, inicialmente não estavam determinados. A tabela
também indica na coluna "Código" se a peça está na área I, área li, ou
área 111, peças indicadas por" "," x" c" + ", respectivamente.
Análises de Teste de llipóteses- Método da Tabulação Cruzada
Como a equipe não conhece as decisões de referência para as peças,

eles desenvolveram tabelas cruzadas, comparando cada avaliador
com os demais.
O processo de tabela cruzada analisa a distribuição dos dados para

duas ou mais variáveis categóricas. Os resultados apresentados no
formato de matriz formam uma tabela de contingência que ilustra a
interdependência entre as \artáveis ~ •
7
57 A tabela cruLada está disponivel em muitos pacotes de software de ànálisc cstatfstico c utilll!ldo em uma planilha com funções de tabela
Capítulo 111 Scçao C
l.studo do Sistema de Medição por Atnbuto>
Peça A -1 A-2 A-3 B- 1 B-2 B- 3 c -1 C-2 C-3 Referência Valor Ref. Códi~
1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.476901 +
-
~ 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.509015 +
3 o o o o o 00 00 o o o 0.576459 -
4 o o o o o o o o o o 0.566152 -
5 o o o o o o 1 o o o 0.570360 -
6 1 1 o 1 1 o 1 o o 1 0.544951 X
7 1 1 1 1 1 1 1 o 1 1 0.465454 x_
8 1 1 1 1 1 1 o 1 1 1 0.502295 +
9 o o o o o o 1 o o o 0.437817 - -
10 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.515573 +
11 1 1 1 1 1 1 o 1 1 1 0.488905 +
12 o o o o o o 1 1 o o 0.559918 X
r---1.-3 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.542704 +
14 1 1 o 1 1 1 1 o o 1 0.454518 X
15
16
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
0.517377
0.531939
+
+
-
17 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.519694 +
18 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.484167 +
1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.520496 +
-
r---1.-9
r-1.-0 1 1 1 1 1 1 o 1 1 1 0.477236 +
-
21 1 1 o 1 o 1 1 1 o 1 0.452310 X
-
22 o o 1 o 1 o 1 1 o o 0.545604 X
23 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.529065 +
24 1 1 1 1 1 1 o 1 1 1 0.514192 + -
25 o o o o o o o o o o 0.599581 -
26 o 1 o o o o o o 1 o 0.547204 X
27 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.502436 +
28 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.521642 +
___1_9 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.523754 + -
~o o o o o o 1 o o o o 0.561457 X
·-
31 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.503091 +
32 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.505850 +
33 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.487613 +
34 o o 1 o o 1 o 1 1 o 0.449696 X
-
35 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.498698 +
36 1 1 o 1 1 1 1 o 1 1 0.543077 X
37 o o o o o o o o o o 0.409238 - -
38 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.488184 +
-39 o o o o o o o o o o 0.427687 -
40 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.501132 +
41 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.513779 +
42 o o o o o o o o o o 0.566575 -
43 1 o 1 1 1 1 1 1 o 1 0.462410 X
44 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.470832 +
45 o o o o o o o o o o 0.412453 -
1--46 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.493441 +
47 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.486379 +
·-
48 o o o o o o o o o o 0.587893 -
49 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0.483803 +
50 o o o o o o o o o o 0.446697 -
Tabela lll-C 9: Conjunto de Dados para um Estudo de Atributos
135
Capitulo 111 <;cção C
F>tudo do S1~tcma de Medição por Atributos
O primeiro passo é totali7ar os dados observados. Analisando a

Tabela TTI-C I, a equ ipe examinou os dados por pares de
observadores, contando quando eles concordam e quando eles não
concordam para cada conjunto de avaliações. Isto é, para as
avaliações, há 34 vc7cs onde A-1 - 1 c 8-1-1; há 32 vezes onde A-
2= I e 8-2-1; e há 3 vc?cs onde A-3= I e 8-3= I para um total de
concordância de 97. A tabela abaixo foi construída para totalizar a
distribuição dos dados para o par de observadores A *8. Tabelas
similares foram preparadas para os pares de observadores 8*C e
A*C.
B
0,00 1,00 Total
A 0,00 44 6 50
- ,iconcorda) (não-concorda)
1,00 3 97 100
(não-concorda) (concorda)
Total 47 103 150
O segundo passo é estimar a expectativa da distribuição dos dados.

Qual é a probabilidade que um par de observadores concordem ou
não concordem em uma observação puramente ao acaso? Em 150
observações, o Observador A rejeita a peça 50 vezes e o Observador
8 rejeita a peça 47 vc1es:
PAo-47/150 0,313
Puo = 50 I 150 0,333
Uma vez que os dois observadores são independentes, a

probabi lidade que eles concordem que uma peça é ruim é dada por:
p (AO n 80) = PAO Pno - 0,104
A expectativa do número de vezes em que o Observador A e

Observador B concordam que uma peça é ruim é estimado pela
multiplicação da probabilidade combinada pelo número de
observações:
150x(pAoPso) 150x(47 / 150)\.(50 / 150)= 15,7
A equipe fez estimativas similares para cada par de categorias para

cada par de observadores para completar os quadros seguintes:
136
Capítulo 111 - SI.'Çtlo C
EMudo do S1~tcma de Medição por AtnbutO'>
Tabulação Cru:tada A * 8
a B
Total
e 0,00 1,00
o
A 0,00 Contagem 44 6 50
s 15,7 34,3 50,0
Contagem Esperada
e 1,00 Contagem 3 97 100

a Contagem Esperada 31,3 68,7 100,0
I-- -
s Total Contagem 47 103 150
Contagem Esperada 47,0 103,0 150,0
Tabulação C ruzada B * C
c
Total
0,00 1,00
B 0,00 Contagem 42 5 47
1,00 Contagem 9 94 103
-
Total
- Contagem 51 99 150
Tabulação Cruzada A * C
c
Total
0,00 1,00
A 0,00 Contagem 43 7 50
1,00 Contagem 8 92 100
-
Total Contagem 51 99 150
Tabela 111-C 10 - Resultados dos Estudos de Tabela Cruzada
Para determinar o nível desta concordância, a equipe utiliza o índice

kappa (de Cohcn) que mede a concordância entre as avaliações de
dois avaliadores, quando ambos estão avaliando o mesmo objeto. O
valor 1 indica concordância perfeita. O valor O indica que a
concordância não é melhor do que o acaso. Kappa é disponível
somente para tabelas em que ambas as variáveis usam as mesmas
categoria de valores e ambas as variáveis têm o mesmo número de
categorias5H.
~ Há inúmeras estatfsllca~ que podem ser usadas para detenllinar a concordância entre os avaliadores. Di fcrcntcs c~tatísticas são adequadas parti
8
diferentes tipos de medição. Veja bibliografia incluindo: Bland, J. M., and Altman, D. G. ( 1986); Cohcn, J. ( 1960); Everilt, B. ( 1996); Flciss, J. L.
( 1971 ); Krippcndorlf, K. (2004); Saal, F.L., Downcy, R.G. and Lahcy, M.A. ( 1980); Shrout, P. and Fleiss, J. L. ( 1979); and Uebersax , John S.
(1987)
137
Capitulo 111 Seção C
Estudo do S1stema de Medição por Atributos
Kappa é a medida de concordância inleravaliadores que testa se as

contagens nas células em diagonal (as peças que recebem a mesma
classificação) diferem daquelas esperadas somente pela possibilidade.
Sejam, Po = a soma das proporções observadas nas células em

diagonal
Pe = a soma da proporção esperada nas células em diagonal
então,
kappa - Po- P.
1- P,
Kappa é uma medida melhor do que um teste 59 . Seu tamanho é

julgado usando- se um erro padrão assintótico para construir um valor
da estatística t. Uma regra geral prática é que os valores de kappa
maiores do que 0,75 indicam concordância de boa para excelente
(com um máximo de kappa = l); valores menores do que 0,40
indicam concordância ruim.
I Kappa não leva em conta o tamanho das divergências entre

avaliadores, mas apenas se e les concordam ou não60 •
Após calcu lar as medidas de kappa para os avaliadores, a equipe
revelou o seguinte:
Kappa A B c
.---- -
A - 0,86 0,78
B 0,86 - 0,79
!-------- -
c 0,78 0,79 -
Tabela 111-C 11 - Resumo Kappa
Esta análise indica que todos os avaliadores mostram uma boa

concordância uns com os outros.
Esta análise é necessária para determinar se existem diferenças entre

os avaliadores, porém ela nada diz o quão bem o sistema de medição
separa as peças boas das ruins. Para esta análise a equipe avaliou as
peças utilizando um sistema de medição por variáveis, c utilizou os
resultados para estabelecer uma referência para a decisão.
Com estas novas informações, foi desenvolvido um outro grupo de
tabulações cruzadas para comparar a decisão de cada avaliador contra
a referência.
w Como em todas as avaliações em categorias, fa7-se neces~âria um grande número de peças cobrindo inteiramente o espectro de possibilidades.
60
Quando as observações são medidas em uma escala de categorias ordinais, um kappa ponderado pode ser usado para melhor medir as
concordâncias. A concordância entre dois avaliadores é tratada pelo kappa. mas as não-concordâncias são medidas pelo número de categorias
pelo;. quais os avaliadores diferem.
138
Capítulo 111 - Seção('
E!>tudo do Sistema de Medição por Atributos
s Tabulação Cnuada A * REF

a
REF
Total
0,00 1,00
1 A 0,00 Contagem 45 5 50
1,00 Contagem 3 97 100
Tabulação Cruzada B * REF

r
1 REF
Total
0,00 1,00
B 0,00 Contagem 45 2 47
- -
1,00 Contagem 3 100 103
- -
Tabulação Cruzada C* REF

REF
Total
0,00 1,00
c 0,00 Contagem 42 9 51
1,00 Contagem 6 93 99
Tabela 111-C 12 - Comparação dos Avaliadores com a Referência
A equipe calculou também a medida kappa para dctcnninar a

concordância de cada avaliador contra a referência:
A B c
kappa
f 0,88 0,92 0,77
Estes valores podem ser interpretados como cada um dos avaliadores

tem uma boa concordância com o padrão.
Estudo do S1stema de Medição por Atributos
A equipe de processo calculou então a eficácia do sistema de

medição.
Eficácia - número de decisões corretas

número total de oportunidades para decisão
%Avaliador1 % Contagem vs Atributo 2

Fonte Avaliador A Avaliador 8 Avaliador C Avaliador A Avaliador 8 Avaliador C
Total Inspecionado 50 50 50 50 50 50
Número de comparações 42 45 40 42 45 40
Falso Negativo (avaliador desviado para rejeição) o o o
Falso Positívo (avaliador de sviado para aceitação) o o o
Misturado 8 5 10
LSIC 95% 93% 97% 90% 93% 97% 90%
Contagem Calculada 84% 90% 80%
- 84% 90% 80%
LIIC 95% 71% 78% 66% 71% 78% 66%
I % Contagem Efetiva do Sistema3 I% Contagem Efetiva do Sistema vs Referência4 J
Total Inspecionado 50 50
Número de concordâncias 39 39
LSIC 95% 89% 89%
Contagem Calculada 78% 78%
LIIC 95% 64% 64%
Notas
( I)Avaliador concorda com ele/ela mesmo em todas as verificações
(2) Avaliador concorda em todas as verificações com o padrão conhecido
(3) Todos os avaliadores concordaram entre eles c também entre si mesmo em suas múltiplas verificações
(4) Todos os avaliadores concordaram entre eles, concordaram entre si mesmo em suas múltiplas verificações,
E MAIS, concordaram com a referência
(5) LSIC e LIIC são respectivamente o Limite Superior do Intervalo de Confiança e o Limite Inferior do Intervalo
de Confiança.
Tabela 111-C 13: Tabela do Estudo da Eficácia
Múltiplos Testes de Hipóteses entre cada par de avaliadores podem

ser realizados com a hipótese nula:
H0 : A eficácia de ambos avaliadores é a mesma
Desde que a pontuação calculada de cada avaliador caia dentro do

intervalo de confiança dos demais, a equipe conclui que a hipótese
nula não pode ser rejeitada. lsto reforça as conclusões das medidas
kappa.
Para uma análise adicional, um dos membros da equipe trouxe a
tabela mostrada a seguir, a qual dá dirctri7es aos resultados de cada
um dos avaliadores:
Capítulo 111 -Seção C
Decisão Porcentagem Porcentagem

Eficácia de Falso Alarme
de Falhas
Sistema de Medição
Aceitável quanto ao avaliador ~90% ~2% ~5%
Marginalmente aceitável quanto

ao avaliador pode necessitar ~80% ~5% ~ 10%
aperfeiçoamento
Inaceitável quanto ao avaliador
<80% >5% > 10%
- necessita aperfeiçoamento
Ta bela HI-C 14: Exemplo das Diretrizes do C ritério d e E licácia
Resumindo todas as informações que já tinham, a equipe gerou a

seguinte tabela:
Eficácia
Porcentagem
de Fal ha I Porcentagem de
Falso Alarme
A 84% 6.3°1o 4.9%
B 90% 6.3% 2.0%
c 80% 12.5% 8.8%
Tabela 111-C 15 - C7 : Resumo do Estudo d e E ficácia
Estes resultados mostraram que o sistema de medição tem diferentes

níveis de desempenho quanto à eficácia, porcentagem de falha c
porcentagem de falso alarme, dependendo do avaliador. Nenhum dos
avaliadores tem resultados aceitáveis em todas as três categorias.
Nenhum dos avaliadores tem resultados inaceitáveis em todas as três
categorias. As diretrizes de aceitação devem ser modificadas para este
processo? Estes riscos são aceitáveis? Os avaliadores necessitam de
melhor treinamento? Poderia o ambiente de teste ser melhorado?
Mais importante, o que o cliente pensa sobre o sistema de medição e
estes resultados quais eram suas expectativas?
O cliente aceita estes níveis de risco?
Tamanho da amostr a
Uma pergunta que sempre surge: "Quantas amostras devem ser

utilizadas no estudo?" Para surpresa da maioria das pessoas, a
resposta é "o suficiente". O propósito que qualquer estudo de
medição (variáveis ou atributos) é entender as propriedades do
sistema de medição. Um número suficiente de amostras deve ser
selecionado para cobrir a amplitude de operação esperada (veja
também Capítulo rt , Seção C). Com sistemas de medição por
atributos, as áreas de interesse são as áreas tipo 11 (veja Capítulo I,
Seção B).
141
rsiUdo do SIMcma de Medição por Atributos
Se a capabilidade inerente do processo é boa (ou seja, alto CP, Cpl ou

Pp, Ppk), então uma pequena amostra aleatória pode não ter muitas ou
nenhuma amostra nesta área. Isto significa que a capabilidade do
processo melhorou e a amostra aleatória requerida para o estudo por
atributos deve ser maior.
No exemplo acima, os índice eram Pp. Ppk = 0,5 (isto é, uma

expectativa de desempenho do processo é aproximadamente
13% de não-conformidades), a amostra selecionada era 50.
Uma abordagem alternativa para grandes amostras é a "amostra

experimentada"; as peças são especificamente selecionadas da
área tipo ll para ampliar a amostra aleatória para assegurar que
o efeito da variabi lidade do avaliador é visto.
Preocupações
1) Não existem critérios de decisão baseados em teoria de

risco aceitável. As diretrizes apresentadas são
heurísticas "~T, desenvolvidas e baseadas na "opinião"
individual sobre aquilo que passa como "aceitável". Os
critérios para decisão final devem ser baseados no
impacto (isto é, no risco) para o processo restante e o
cliente final. Este é um tema de decisão - não é uma
estatística.
2) A análise anteriormente apresentada é dependente dos dados.

Por exemplo, se os índices do processo forem PP = PP4 -
1,33, então todas as decisões seriam corretas desde que
nenhuma peça caísse na região li (áreas "cinzentas") do
sistema de medição.
Figura IH-C 8: Exemplo de Processo com P P = P pk = 1,33
Com esta no\'a situação, seria concluído que todos os avaliadores são
aceitáveis, pois não haveria erro de decisão.
NT- llcurístico- método que permite aos aprendizes aprenderem por ~>i próprios
Capítulo 111 - Seção C
Estudo do S1stema de Medição por Atnbutos
3) Usualmente há uma concepção errônea do que realmente

significa os resultados da tabulação cruzada. Por exemplo, os
resultados do avaliador B na Tabela ITI-C 4 são:
Tabulação C ruzada B * REF

REF
Total
0,00 1,00
B 0,00 Contagem 45 2 47
%da REF 93,8% 2,0% 31,3%
1,00 Contagem 3 100 103
%da REF 6,3% 98,0% 68,7%
%da REF 100,0% 100,0% 100,0%
Uma vez que o propósito da inspeção é encontrar todas as peças não-

conformes, muitas pessoas olham para o canto esquerdo superior
como uma medida da eficácia em encontrar peças ruins. Esta
porcentagem é a probabilidade de se dizer que uma peça é ruim,
sendo ela realmente ruim:
Pr (chamar uma peça de ruim /uma peça ruim)
Supondo que o processo foi melhorado para Pp = Ppk = I ,00, a
probabilidade de interesse do produtor é:
Pr (a peça é nlim I a peça é chamada de ruim)

Para determinar isto com base nos dados já apresentados, deve-se
utilizar o Teorema de Bayes.
Pr(chamado ruim I ruim)* Pr(ruim)

Pr(ruim I chamado ruim) - - -- - - - -
Pr(chamado ruim I ruim)* Pr(ruim) + Pr(chamado ruim I boa) * Pr(boa)
_ _ _ _0....:.,9_3_8_* (0,0027..;.)_ __
Pr(ruim I chamado ruim)
0,938 • (0,0027) + 0,020 *(0,9973)
Pr(nlim I chamado ntim) = 0,11
Portanto, estes resultados indicam que se a peça é chamada de ruim,

existe apenas I dentre I O chances de que ela seja verdadeiramente
ruim.
4) A análise não usa informações de dados por variáveis ou

mesmo informações de ordem relativa, que estavam
disponíveis para decisão quando da determinação dos valores
de referência.
Capítulo lll Scçllo C
Estudo do S1stema de Mcd1çilo por Atributos
Abordagem da Detecção do Sinal
Cod. Valor Ref Cod.

0 .503091 + Uma abordagem alternativa é usar a teoria da
0.502436 + Detecção do Sinal61 para determinar
0.502295 + aproximadamente a amplitude da área da região 11, c,
0.501132 +
a partir daí, determinar o R&R do sistema de
~=~"------ 0.498698 +
.493441 + medição. Isso requer que cada peça da amostra possa
~5;..;..;.;.....-x----=0 .488905 + ser avaliada fora da linha por um sistema de medição
X 0.488184 + por variáveis. Esse valor de referencia é mostrado na
X 0.487613 +
coluna Valor de Refna tabela 111-C 1.
X 0.486379 +
X 0.484167 +
~='-'----'.: x--'-' 0.483803 + Passos:
+ J-477236
=-=-~,..,_ _____ 0.476901
+
+ 1) Determinar a tolerância (amplitude
tolerância); da figura III-C I:
da
.470832 +
0.465454 X LSC = 0,550
0.462410 X
LIC = 0,450
0454518 X
0.452310 X
0.449696 )( Então a tolerância - LSC-LIC = O, I 00. Esse valor
0.446697 será usado para calcular o R&R.
+ 0.437817
+ 0.427687
+ 0.412453
Diretrizes:
+ 0.409238
• Se Ppk> I , compare o sistema de medição com o
processo
Tabela 111-C 16: Tabela lfl-C 1 classilicado
pelo Valor Ref • Se Ppk< I, compare o sistema de medição com a
tolerância
Essa "regra" atinge um total para comparar o sistema

de medição com o que for mais restritivo, o processo
ou a tolerância.
Nesse exemplo, o Ppk = 0,5 (veja Figura 111 -C I), de
modo que o processo é maior que a tolerância c esse
sistema de medição deve ser comparado com a
tolerância.
Para os dados na tabela Ili -C l

2) Ordenar os dados (e células adjacentes) do
maior para o menor baseado nos Valores de
Referencia individuais (veja tabela 111-C 8;
Nota: esta tabela foi dividida em duas
colunas para economizar espaço.
3) Identifique o início c o fim das duas áreas 11.
Na tabela lii -C 8 isto é mostrado pela coluna
código:
+ =aceito com concordância total
- = rejeitado com concordância total (na
tabela Jll-C I)
x = não-concordância
61 veja bibliogralia: Hakcr 1975
144
Capitulo 111 - 'icçilo (
Estudo do Sistema de \>!edição por Atnbutos
A amplitude destas í'Onas é o que estamos tentando determinar c a

amplitude média destas zonas será utilinda para comparar o sistema
de medição com a tolerância especificada, ou com a amplitude 6-
sigma do processo (dependendo da situação).
Zona I - peças com concordância
entre todos os avaliadores corno 4) Referindo-se ao gráfico acima. temos dLsL distância entre a
reJeitadas última peça aceita por todos os avaliadores e a primeira peça
lona 111 =peças com concordância aceita por todos. Essa distância é equivalente à zona li cinza
entre todos os avaliadores corno em torno de LSE acima, delimitada pela .wna 1 superior à
aceitas direita, e zona lli à esquerda. Observe os valores circulados
na tabela Ill-C 8 acima.
lona 11 = peças qucsuoná'l-eis sem
I 00°/o de concordância em tomo de LIE LSE
cada limite de especificação
--'---------'
5) Seja duE = distância entre a última peça aceita por todos os

avaliadores na zona 111 e a primeira peça rejeitada por todos
os avaliadores na .tona I.
Seja d, - distância entre a última peça aceita por todos os avaliadores

e a primeira peça rejeitada por todos (para cada especificação).
Então,
d média ( d,)
é uma estimativa62 da amplitude das áreas da região 11, e, portanto. é

uma estimativa do R&R 6*crR&R·
Neste exemplo (pág. 126), onde a tolerância é O, 100;
dt tF = 0,470832 0,446697 = 0,024135

d, <,[ - 0,566152 0,542704 0,023448
d 0,0237915
ou a %R&R estimada é,
%R&R - 24%.
Uma ve.t que o exemplo foi gerado por um sistema de medição com
uma % R&R = 25% real, esta estimativa conduzirá à mesma avaliação
Se apenas informações de dados ordenados estiverem disponíveis,
esta técnica pode ainda ser utilizada, mas requer conhecimento
profundo do assunto, para quantificar os valores de d's.
62
A "boa qualidade" desta estimativa depende do tamanho da amostra e de quanto essa amostra representa o processo. Quanto maior for a
amo'>tra, melhor será " estimativa
145
C'arhulo 111 Seção C
Lstudo do Sistema de Medição por Atributos
MÉTODO ANALÍTIC063
Como em qualquer sistema de medição, a estabilidade do processo deve
ser verificada, e, se necessário, monitorada. Para os sistemas de medição
por atributos, o gráfico de controle por atributos de uma amostra
constante ao longo do tempo é a maneira mais comum para verificar a
estabilidade.64
Para um sistema de medição por atributos, o conceito de Curva de
Desempenho do Dispositivo de Medição (ver Capítulo IV, Seção F) é
utiliLado para desenvolver um estudo do sistema de medição, que é
utilizado para avaliar os valores da repetitividade e tendência do sistema
de medição. Esta análise pode ser usada tanto para sistemas de medição
com limite único, como para sistemas de medição com limite duplo. Para
o sistema de medição com limite duplo, apenas um dos limites necessita
ser examinado quanto às premissas de erro de linearidade c
uniformidade. Por conveniência, o limite inferior será usado para efeito
de discussão.
Em geral, o estudo do sistema de medição por atributos consiste em obter
os valores de referência para várias peças escolhidas. Estas peças são
avaliadas um número de ve7es (m), com um número total de aceitações
(a) e para cada peça que está sendo registrada. A partir dos resultados, a
repetitividade e a tendência poderão ser avaliadas.
O primeiro estágio de um estudo por atributos é a escolha das peças. É
essencial conhecer o valor de referência de cada peça utilizada no estudo.
Oito peças devem ser escolhidas a intervalos quase equidistantes como
uma prática. Os valores máximo e mínimo devem representar a
amplitude do processo. Embora esta escolha não afete a confiança dos
resultados, ela afeta a quantidade total de peças necessárias para
completar o estudo do dispositivo de medição. As oito peças devem
passar pelo dispositivo de medição, m = 20 vezes, e a quantidade de
aceitações (a), deve ser registrada.
Para o estudo completo, a menor peça deve ter o valor a = O; a maior,
deve ter o valor a 20; e as outras seis peças, I ~ a ~ 19. Se estes
critérios não forem satisfeitos, mais peças com valores de referência
conhecidos (X) devem ser passadas pelo dispositivo de medição até as
condições acima serem atendidas. Se para o menor valor, a t O, então as
peças cada vez menores são tomadas e avaliadas até que a = O. Se para o
maior valor, a t 20, então peças cada vez maiores são tomadas e
avaliadas até que a - 20. Se seis das peças não tiverem I ~ a~ 19, então
peças adicionais podem ser escolhidas em pontos selecionados em toda a
amplitude. Estes pontos são tomados como sendo os pontos médios entre
os valores das peças já medidas no estudo. O primeiro intervalo onde a -
O termina na maior medição onde a - O. Para a = 20, o intervalo começa
na menor medição onde a - 20. Para melhores resultados, amostras
devem ser tomadas em ambas as extremidades a = O e a - 20 e
trabalhadas em direção ao meio da amplitude da peça. Se necessário, o
procedimento pode ser repetido até que os critérios sejam cumpridos.
Uma vez que os critérios de coleta de dados foram satisfeitos. as
probabilidades de aceitação devem ser calculadas para cada peça, por
meio das seguintes equações:
~~ ndnrlado com permissão de "Analysis of Attribute Gagc Syslcms" por J. Mc('a;lin & G1·u•ka, ASQC, 1976.
64
AdvcrtCncia: np > 4
Capítulo 111 - Seção C
p·
•
-I::::: : : 0:: :::0
m
<
m > , •
0,5 se a - 0,5
m
Os ajustes cobrem os casos onde I ~a~ 19. Para os casos onde a = O,

define-se p~ =O, exceto para o maior valor de referência com a = O,
em que p 'u =O, 025. Para os casos onde a - 20, então p'o = 1, exceto
para o menor valor de referência com a - 20, em que p ' =O 975.
u '
Após calcular a probabilidade p " para cada XT , a Curva de

Desempenho do Dis positivo de Medição (GPC) pode ser
desenvolvida. Embora a GPC possa ser apresentada graficamente (ver
Figura 111-C 5), utilizar o gráfico de probabilidade nonnal (ver Figura
lll-C 4) produz estimativas mais precisas da repetitividade e da
tendência.
As probabilidades calculadas são plotadas em papel de probabilidade
normal e uma linha do melhor ajuste é traçada ao longo desses
pontos. A tendência é igual ao limite inferior menos o valor de
referência da medição, que corresponde a p =O,5,
ou
.
tendência = Limite Inferior da Especificação - XT (em P. = 0,5)
A repetitividade é determinada pela constatação das diferenças entre
o valor de referência das medições correspondente a P. = 0,995 c
p~ = 0,005, dividida pelo fator de ajuste 1,0865 .
Repeti ti vidade - X r (em P" = 0,995 )-X r (em P~ = 0,005)

1,08
Para verificar se a tendência é significativamente diferente de zero, a

seguinte estatística é utilizada:
1
= 6,078 x ltendencid
Se este valor calculado for maior que 2,093 (4m. 19), então a tendência
será significativamente diferente de zero.
Um exemplo esclarecerá a coleta de dados do estudo por atributos e
os cálculos da repetitividade e tendência.
15
' O tàtor de ajuste (sem tendência) 1,08 é específico para o tamanho de amostra 20 c foi determinado por meio de uma simulação desta
ahordagcm com 99% de repetitividade da amplitude. Para converter o resultado paro amplitude 6 sigma, divida por 5,15 c multiplique por 6.
147
r'studo do Sastcma de 'v! edição por Atributos
Exemplo:
Um dispositivo de medição por atributo é utilizado para medir uma
dimensão que tem uma tolerância é de + 0,0 I O. O dispositivo de
medição é um dispositivo de inspeção I 00% automático de fim-de-
linha e que está afetado pela repetitividade e a tendência. Para realiLar
o estudo por atributo, oito peças com valores de referência em
intervalos de 0,002, desde 0,0 16 até -0,002, foram passadas no
dispositivo de medição 20 ve.t.es cada uma. O número de aceitações
para cada uma das peça é:
Xr a
0,016 o
0,014 3
0,012 8
0,010 20
-0,008 20
0,006 20
0,004 20
- 0,002 20
Como existem dois valores de referência com 1 ::;; a::;; 19, pelo menos
mais quatro peças precisam ser encontradas. Por isso, foi necessário
produzir peças com valores de referência nos pontos centrais dos
intervalos já definidos. Esses valores de referência e os números de
aceitações são:
0,015 I
0,013 5
0,011 I
Agora existem cinco valores de referência com 1 ::;; a ::;; 19. O

procedimento exige que mais uma peça seja encontrada com I ::;; a ::;;
19. Por essa razão, a segui nte peça foi avaliada:
-0,0105 18
Agora que os critérios de coleta de dados foram satisfeitos e as

probabilidades de aceitação podem ser calculadas, o ajuste binomial é
mostrado abaixo.
Xr a Pa'
0,016 o 0,025
0,015 I 0,075
0,014 3 0,175
0,013 5 0,275
0,0 12 8 0,425
0,011 16 0,775
0,0105 18 0,875
0,010 20 0,975
0,008 20 1,000
148
Capítulo lll Seção C
Estudo do S1~lerna de Medição por Atnbutos
Estas probabilidades são plotadas em papel de probabilidade normal,

como está mostrado na Figura lll-C 4. Com o traçado da linha de
melhor ajuste ao longo destes pontos, a tendência e a repetitividade
podem ser determinadas. A tendência é igual ao limite inferior menos
o valor de referência da medida que correspondc a Pa = 0,5.'
Da Figura III-C 4:
tendência - -0,0 lO - (-0,0 123) = 0,0023
A repetitividade é determinada pela constatação das diferenças de R
dos valores de referência das medições correspondentes a p~ ;::;; 0,995
e p·u = O• 005, dividida pelo fator de ajuste 1,08. Da Figura lli-C 4:
R_ 0,0084(0,0 163)
1,08
0,0079 = o 0073
1,08 •
Então Orepeuuvidade - !!___ =0 00142 c a amplitude associada do R&R

515 '
'
é 0,0085
Para determinar se a tendência é significativamente diferente de zero,

calcu la-se:
6,078 x ltendênci~
t ;::;; -
a ~{Wiiti\lidotk
f ;::;; 6,078 X 10,00231 ;::;; 9 84
0,00142 •
Como t0025, 19 = 2,093, então a tendência é significativamente diferente

de zero.
Igualmente à Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição
(GPC) para variável, mostrada no Capítulo IV, Seção F, a GPC para
atributo pode também ser plotado num gráfico convencional (ver
Figura lll-C 5). Isto pode ser feito de duas maneiras. Uma delas seria
refazer o estudo considerando a mesma amostra, mas utilinndo o
outro limite da especificação. Neste exemplo prático, o método longo
para o estudo de atributo também teria que ser novamente realizado
considerando o limite superior da especificação, e os valores
calculados devidamente plotados.
Contudo, por causa das premissas anteriormente citadas, não seria
necessário refazer o estudo. Como a forma da curva determinada com
o limite superior da especificação deve ser uma "imagem simétrica"
da curva já obtida a partir do limite inferior da especificação, a única
consideração necessária é a localização da curva em relação aos
valores Xr . Esta localização é definida pela tendência.
A posição correta da curva será definida pelo ponto onde a
probabilidade é p~ = 0,5 e o valor de X1 é igual ao limite da
especificação menos a tendência. No exemplo, este ponto é XT =
0,010 0,0023 = 0,0077. A GPC plotada desta maneira está mostrada
na Figura lli-C4.
149
Carítulo 111 Scçilo C
fsluJo do Sistema de Mt:dição por Atributos
Repetitividade = O 0079 _,.

desajustado '
99,8
. 0,2
99,5
99,0
I 1 'I li I
L
~
o.s ::
1,0
98,0
f--,-. .
I I I I
ll ,/ . 2,0
I ' ' li I I li / I
I
95,0 ' 5,0

'' ' o I I o
90,0
. '
I
'
10,0
:
80,0 20,0
70,0 . 30,0
::so.o 60,0
40,0
40,0
50,0
60,0
30,0 70,0
20,0 80,0
10,0 90,0
5,0
o L ... 95,0
li / 11 11 li
2,0
. li li ,I
I
. 98,0
1,0 99,0
0,5 99,5 : :
I
0,2
-0,016
li
-0,014
I
-0,012 -0,010
I
I . 99,8
Tendência= -0,010- (-0,0123) = 0,0023
Figura 111-C 9: C urva de Desempenho do Dispositivo d e Medição por atributo
Projetada no Papel de Probabil idade Nonnal
Capítulo IV
Outros Concc1tos de Medição e Prál!cas
Limite Inferior Limite Superior
1 ,O
0,9
o
0,8
·~
2 0,7
"ã)
u
<t: 0,6
(1)
"C
(1)
"C
0,5
ro
32 0,4
:.õ
ro 0,3
..c
e
a.. 0,2
O, 1
0,0
-0,020 -0,015 -0,010 -0,005 0,0 0,005 0,010 0,015 0,020

Valores de Referência das Pe
Tendência = 0,0023
Figura 111-C 10: Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição por Atributo

Capítulo 111 Seção<.:
htudo do Sistema de Mcd1ção por Atributos
Capítulo IV
Outros Conceitos de Medição
e Práticas
Capítulo IV
Outro~ Conccuos de Medição e Pmuca~
153
Capítulo IV
Outros Conceitos de Med1ção e Práticas
Seção A
Práticas para Sistemas de Medição Complexos ou Não-Replicáveis
O foco deste manual de referência são os sistemas de medição onde

as leituras podem ser replicadas para cada peça. Nem todos os
sistemas de medição têm esta característica; por exemplo:
• Sistemas de medição destrutiva
• Sistemas onde as peças se modificam no uso ou no teste
A seguir csH'io exemplos de abordagens para a análise de sistemas de

medição, incluindo aqueles não discutidos anteriormente neste manual. Não
se objetiva ter uma lista compli.:ta que cubra todos os tipos de sistemas de
medição, mas apenas exemplos de vúrias abordagens. Se o sistema de
medição a analisar nllo se ajusta ao foco deste manual, recomenda-se que a
assistênc ia de recursos estatísticos competentes seja consultada.
Sistemas de Medição Destrutiva
Quando a peça (característica) que está sendo medida é destruída pelo

ato de medição, o processo é conhecido como medição destrutiva.
Isto inclui toda a classe de sistemas de medição conhecida como
"sistemas de med ição destrutiva", por e:-.emplo, ensaios destrutivos
de solda, ensaios destruti\OS de galvanoplastia, (sa/t-spray)/cabine de
teste de umidade, teste de impacto (gravelometer), espectrometria de
massas, e outros processos de testes de características dos materiais.
Esses são os exemplos "clássicos" de sistemas de medição não-

replicáveis, uma vez que a repetição de leituras não podem ser feitas
em qualquer peça individual.
Sistemas onde as peças se modificam no uso _

o_u_n
_o___te
. .:. .s
_t_e_ _ _ _ __ __
No entanto, existem outros sistemas de medição que não são

replicáveis onde a peça, por si, não é prejudicada pelo processo de
medição, mas a característica medida vai mudar. Exemplos disto são:
testes de vazamento com dados qualitativos, bancada de testes
utilizando motor, bancada de teste de transmissão, dinamômetro de
veículos, etc.
A análise destes sistemas vat depender de:
I} Um conjunto homogêneo de peças (pequena \ariação entre as

peças) pode ser encontrado para representar uma peça única;
2) A vida útil da característica (propriedade) é conhecido e se
estende além da duração esperada do estudo - isto é, a
característica medida não muda durante o período previsto de
uti lização, ou
3) A dinâmica (mudança) das propriedades pode ser
estabi Iizada.
154
Capítulo IV Seção A
Práticas para St~temas de Medição Complexos ou Não-Replicáveis
O mapeamento dos estudos descritos neste capítulo e os vários

cenanos está a segutr:
Estudos de Estabilidade
Cenário Sl S2 S3 S4 ss
A peça não se modifica pelo processo de medição; isto é, os ../ ../
sistemas de medição não-destrutiva (replicávcl) serão usados
com peças (amostras) que têm:
• Propriedades estáticas, ou
• Propriedades dinâmicas (que se modificam) já
estabilizadas.
A 'ida útil da característica (propriedade) é conhecida c se ../ ../
estende além do tempo previsto para o estudo - isto é, a
característica medida não se modifica no decorrer do período
de tempo previsto para uso.
Sistemas de medição destrutiva ../ ../
Outros sistemas de medição não-replicáveis ../ ../
Sistemas de medição com características dinâmicas: ex, ../ -
bancadas de teste
Estudos de Variabilidade
Cenário VI V2 V3 V4 VS V6 V7 V8 V9
A peça não se modifica pelo processo de medição; isto ../
é, os sistemas de medição não-destrutiva serão usados
com peças (amostras) que têm:
• Propriedades estáticas, ou
• Propriedades dinâmicas (que se modificam) já
estabilizadas.
O mesmo que acima, com p ::: 2 instrumentos ../
_Sistemas de medição destrutiva ../ ../
Outros sistemas de medição não-replicáveis ../ ../
Sistemas de medição com características dinâmicas: ../ ../ ../ ../ ../ ../
exemplo: bancadas de teste
Sistemas de medição com características dinâmicas: ../
com p > 3 instrumentos
Tabela IV-A 2: Métodos baseados no Ttpo de Sistema de Medição
155
Capítulo IV-Seção A
Práticas para SJ,tcrnas de Medição Complexos ou Não-Replicáveis
Seção B
S1: Peça Única66 , Medição Única por Ciclo

Aplicação: a) Sistemas de medição em que a peça não se modifica durante o
processo de medição; isto é, os sistemas de medição não-destmti\a
serão utilizados com peças (amostras) que têm:
./ Propriedades estáticas, ou
./ Propriedades dinâmicas (que se modificam) quando já estão
estabi Iihadas.
b) A validade da característica (propriedade) é conhecida e se estende
além do tempo previsto para o estudo - isto é, a característica medida
não se modifica no decorrer do período de tempo previsto para uso.
Premissas:
• O sistema de medição é conhecido (documentado) e tem uma
resposta linear ao longo da amplitude esperada da característica
(propriedade).
• As peças (amostras) cobrem a amplitude esperada da variação do
processo para a característica.
Analisar usando cartas X & mR:
• Determinar a estabilidade do sistema de medição

./ Comparar os pontos plotados com os limites de controle
./Verificar tendências (apenas na carta x)
• Comparar CJe R/, (erro total de medição) com a repetitividadc
/ d,
estimada crf proveniente do estudo de variabilidade (ver próxima
seção).
• Determinar a tendência, se o valor de referência é conhecido:
tendência X valor de rererência
M> Urn padrao de referência pode ser usado se for apropriado ao processo.
156
Capitulo IV-Seção B
Lstudos de F.stabi !idade
52: n ~ 3 Peças 67, Medição Única por Ciclo por Peça

Aplicação: a) Sistemas de medição em que a peça não se modifica durante o
processo de medição; isto é, os sistemas de medição não-
destrutivos serão utili/ados com peças (amostras) que têm:
../ Propriedades estáticas, ou
../Propriedades dinâmicas (que se modificam) quando já estão
estabilizadas.
b) A validade da característica (propriedade) é conhecida e se
estende além do tempo previsto para o estudo; isto é, a
característica medida não se modifica no decorrer do periodo de
tempo previsto para uso.
Premissas: • O sistema de medição é conhecido (documentado) e tem uma

resposta linear ao longo da amplitude esperada da característica
(propriedade).
Ana lisa r utilizando uma carta (.t, R (: onde, z, = '\: 1- J11

onde Jl, é o valor padrão (referência) ou é determinado pela média de
um grande número de leituras sucessivas da peça (amostra).
• Detenninar a estabilidade do sistema de medição

../Comparar os pontos plotados com os limites de controle
../Verificar tendências (untcamente na carta...:)
• Comparar6~ a. R/. com a repetitividade estimada O'r
e / d,
proveniente do estudo de variabilidade.
a
• Determinar a tendência, se o valor de referência for conhecido:
tendência - X valor de referência
• Determinar a linearidade, se Joram usadas n ~ 3 peças:

../As peças (amostras) devem cobrir a amplitude esperada da
propriedade
../ Cada peça (amostra) deve ser analisada separadamente quanto
a tendência c repetitividade.
../Quantificar a linearidade utili/ando a análise apresentada no
Capítulo 111, Seção B.
~7 Um radr.h> de rcfcr<:ncia rode ser usado se for apropriado ao processo.

Se mais do que um avaliador estiver envolvido na coleta de dados, cntilo O'E (rcrctitividadc c;timada) é aft:tada também pela reprodutibi lidadc
I>K
do ~ooistcma de mcdiç;lo. Quantificar a rcprodutibilidade por meio de um gráfico de di:.pcrsllo ou uma carta whisl.cr, indexadas por avaliador (ver
Capítulo 111, S.:çlln B).
157
Capítulo IV 'icç;lo 13
I ~~ udo' de I ,La bli rdude
Se mais do que um instrumento foi utilizado no estudo, determinar a

consistência (homogeneidade de variação) entre instrumentos;
exemplos; usar o teste F, teste de Bartlett, teste de Levené9, etc.
53: Amostra Grande de um Processo Estável

Aplicação: O sistema de medição deve estar avaliando uma amostra (coletada e
segregada) homogênea, independente e identicamente distribuída
("iid"). A medição feita em cada uma das peças (amostras) não é
replicada, portanto, este estudo pode ser utilizado para sistemas de
medição destrutiva e/ou não-replicável.
Premissas:
• A validade da característica (propriedade) é conhecida e se
estende além do tempo previsto para o estudo; isto é, a característica
medida não se modi lica no decorrer do período de tempo previsto
para uso e/ou armazenamento.
processo para a característica (propriedade).
• A linearidade do sistema de medição é conhecido (documentado)
ao longo da amplitude esperada da característica (propriedade). (Se a
resposta for não-linear, as leituras deverão ser ajustadas
apropriadamente.
Forma de
análise: • Determinar a 'ariabilidadc total por meio de um estudo de
capabilidade com n > 30 peças. (Este estudo preliminar de\e ser
também usado para verilicar a consistência da amostra, isto é, todas
as peças/amostras são provenientes de uma distribuição unimodal.)
'- - '- + a 'W'ilcm.tlkmcdlc;ão
'
• a Total - a pron'\\0
• Medir um ou mais indivíduos de uma amostra única por um

período de tempo, usar as cartas X & R ou x & rnR com limites de
controle determinados pelo estudo de capabilidadc.
• Comparar os pontos plotados com os limites de controle.
• Verificar tendências.
• Uma vez que as peças (amostras) não se modificam (numa
amostra única), qualquer indicação de instabilidade será atribuída a
uma modificação no sistema de medição.
69
Dataplot, Nationalln;titutc of Standards and Tcchnology, Statistical Enginccring Divi,ion {www.itl.nist.gov).
158
Capítulo IV-Seção B
54: Amostras separadas (Geral), Amostra Unica por Ciclo

Aplicação: As medições de frações da peças (amostras) individuais não são
replicadas, então este estudo pode ser utilizado para sistemas de
medição destrutiva e/ou não-replicável.
Premissas: • A validade da característica (propriedade) é conhecida e se

medida não se modifica no decorrer do período de tempo previsto
• As peças (amostras) cobrem a amplitude estendida de variação
do processo para a característica (propriedade).
• As amostras são divididas em m partes. Com m = 2 partes,
geralmente isto é chamado estudo de teste e releste.
Forma de
análise: • Carta de amplitudes para acompanhar a consistência das
medições (confundida com a consistência dentro de um mesmo lote).
• Comparar crc - R/ com a repetitividadc estimada crc
I d,
proveniente do estudo de variabilidade.
• Este é um estudo relativo ao limite superior: a 2
f'
= a 2
E
+ a2
entn:
• Usar uma carta de controle para acompanhar a consistência do

processo de produção.
54 com Pares de Peças Consecutivas (Homogêneas) de Diferentes Lotes- 54a

Este estudo é idêntico ao S4 com peças homogêneas oriundas de
di ferentcs lotes.
É um estudo relativo ao limite supenor, desde que
2_ 2+ 2 + 2
(j e - (j E (j entre ( jlotc>
159
Capítulo IV-:-.cção B
Fstudos de I stabtltdadc
55: Bancadas de Teste

Nesta situação, múltiplos instrumentos de medição (bancadas de
teste) avaliam as mesmas características num fluxo contínuo de
produto. O fluxo do produto é aleatoriamente designado para as
bancadas individuais.
S5a : Respostas por Atributo

Analisar usando cartas p:
• Determinar a consistência (de decisões) entre as bancadas:

numa única carta de controle que inclui os resultados de todas as
bancadas.
• Determinar a estabilidade de cada bancada individualmente:
usar uma carta de controle para cada bancada.
Analisar a estabilidade do sistema todo, usando uma carta p & mR
onde p é a média de todas as bancadas de teste, num determinado
dia.
S5b: Respostas por Dados Variáveis

Analisar usando A!'~ OV A e técnicas gráficas: 70
• Calcular X & s para cada bancada de teste, por característica e
por período de tempo.
• Determinar a consistência entre as bancadas: usar uma única
carta X & s que inclua os resultados de todas as bancadas.
• Determinar a estabilidade de cada uma das bancadas. Usar uma
carta X & s para cada bancada.
• Quantificar a consistência (homogeneidade de variação) entre as
bancadas; por exemplo usar: o teste F, o teste de Bartlett, o teste de
Levene, etc.
• Determinar se todas as bancadas estão ajustadas para um mesmo
objetivo por meio da comparação das médias de cada bancada; por
exemplo, usando a análise ANOVA de um fator. Se existir qualquer
diferença, deve-se isolar as bancadas diferentes, util izando para isto o
teste T de Tukey, por exemplo.
70
Ver também, Jamcs, P.D., "Uraphical Displays of Gagc R& R Data", AQC Transaction, ASQC'. I99 I.
160
Capítulo IV-Seção 13
Estudos de Estab1hdade
16 1
Cnpítulo IV-Seção B
I studo~ de F~tahilidade
Seção C
Todos os estudos descritivos são enumerativos na natureza em que

eles descrevem o sistema de medição (inclusive os efeitos do meio
ambiente) durante o estudo. Como os sistemas de medição são
destinados a tomar futuras decisões relativas a produtos, processos,
ou serviços, toma-se necessária uma conclusão analítica sobre o
sistema de medição. A transição dos resultados enumerativos para
analíticos requer conhecimento profundo do assunto e habilidade
para:
• Garantir que todas as fontes de variação da medição esperadas

sejam consideradas no projeto c execução do estudo.
• Analisar os resultados (dados) em função do uso esperado,
meio ambiente, controles, manutenção, etc.
V1: Estudos dos padrões de R&R

Tais estudos são aqueles contidos neste manual de referência.
Estes estudos incluem análise gráfica, bem como análise numérica.
\'la - Método da Amplitude (R&R)
VI b- Método da Amplitude (R&R e Mesma-Peça)
Vlc- Método ANO\' A
Vld- Método ANOVA/Amplitude Modificado
V2: Leituras Múltiplas com p ;:::: 2 Instrumentos

Isto permite a comparação de múltiplos instrumentos.
Aplicação:
a) Sistemas de medição em que a peça não se modifica durante o
processo de medição; isto é, os sistemas de medição não-
destrutivos serão usados com peças (amostras) que têm:
I) Propriedades estáticas, ou
2) Propriedades dinâm1cas (que se modificam) quando já estão
estabilizadas.
Premissas:
estende além do tempo prc\ isto para o estudo; isto é, a característica
medida não se moditica no decorrer do período de tempo pre\isto
para uso.
162
Capítulo IV-Seção C
Analisar usando as estimativas de Grubbs71 (ou de Thompson)72 :

• Variabilidade do processo
• Variabilidade do instrumento = repetitividade
• Cálculos da região de confiança estão disponíveis
V3: Divisão de Amostras (m =2)

Aplicação:
As medições de frações de peças (amostras) individuais não são
replicadas, então este estudo pode ser utilizado para sistemas de
medição destrutiva e/ou não-replicável, e pode também ser utilizado
para analisar sistemas de medição com características dinâmicas.
Premissas:

estende para além do tempo previsto para o estudo; isto é, a
característica medida não se modifica no decorrer do período de
tempo previsto para o uso e/ou armazenamento.
• As peças (amostras) cobrem a amplitude estendida da variação
• As amostras são divididas em m partes. Com m 2 partes,
geralmente isto é chamado estudo de teste e releste.
Analisar usando técnicas de r egr essão:
• Estimar a repetitividade com o termo de erro: crE = cr.

• Linearidade (por comparação da linha estimada com a linha 45°)
V3a- V3 com Par es de Peças Consecutivas
Este estudo é idêntico ao mostrado em V3, utiliza porém pares de

peças consecutivas em vez de amostras divididas. Este estudo é usado
em situações onde a peça não pode ser dividida sem a destruição da
propriedade a ser medida.
Este é um estudo do limite superior: at $a +a
. ~ entre
71
Ver bibliografia, Grubbs, l·. E., 1973.
72
Ver bibliografia, TI1ompson, W. A., Jr., 1963.
163
Capitulo IV '>cçdo C
Estudos de Variatulídadc
V4: Divisão de Amostras (Geral)

Aplicação:
As medições de frações de peças (amostras) individuais não são
replicadas, então este estudo pode ser uti lizado para sistemas de
medição destmti\ a e/ou não-replicá\ cl, e pode também ser utilizado
para analisar sistemas de medição com características dinâmicas.
Premissas:
• A validade da característica (propriedade) é conhecida c se
• As peças (amostras) cobrem a amplitude estendida de variação
• Dividir as amostras em m partes onde, m =O mod 2 ou 3; m 2:2
(exemplo, m- 3, 4, 6, 9, .... ).
Analisar usando:
• Técnicas R&R padrão incluindo gráficos
• ANOV A - Delineamento em Blocos Aleatórios (ANOV A de
dois fatores)
V4a - V4 com Pares de Peça!! Consecutivas (homogêneas) de

Diferentes Lotes
Este estudo é idêntico ao V4 usando pares de peças consecutivas em

vez de amostras divididas. Este estudo é utilizado em situações onde
a peça não pode ser dividida sem a destruição da propriedade a medir.
É um estudo do limite superior: a }. ~ a: + V
f'
;"T'
peça-.
+ a lole)
IOs estudos seguintes supõem que a Característica (propriedade) da Peça

(amostra) seja Dinàmica.
V5: Idêntico ao V1 com Peças Estabilizadas

As peças usadas neste estudo estão estabilizadas usando um processo
baseado na experiência c no conhecimento de engenharia; por
exemplo, motores que foram "já amaciados" versus motores "que
ainda não rodaram".
164
"
V6: Análise de Séries Temporais

· Premissas:
• As leituras repetidas são obtidas em intervalos de tempo
especificados.
para uso.
do processo para a característica.
Analisar pela determinação do modelo de degradação para cada peça da amostra:

e OE = Oe
• Consistência da degradação (se n ~ 2)
V7: Análise Linear

Premissas:
• As leituras repetidas são obtidas em intervalos de tempo
especificados.
• A degradação do sistema de medição é conhecida (documentada)
e tem uma resposta linear no decorrer dos intervalos de tempo
especificados.
para uso.
do processo para a característica.
Analisar pela regressão linear:

e OE = Oe
• Consistência da degradação (se n ~ 2)
V7a- V7 com uma Amostra Homogênea
Analisar pela regressão linear:
Este é um estudo do limite superior: ar ~

c.
a e +a
entre
V8: Tempo versus Degradação da Característica (Propriedade)

V6 & V? podem ser modificados para determinar se a degradação é
dependente do tempo (isto é, tempo de validade) ou se é dependente
da atividade.
C'ap1tulo IV S..:ç3o C
F.!.tudo' d..: Variabilidade
V9: V2 com Leituras Múltiplas Simultâneas e p > 3 Instrumentos

Analisar idêntico como V2 (\er também Lipson & Sheth, sec 13.2)
167
Capítulo IV Seção (
Estudos de Vanab1lidade
Seção O
Reconhecendo o Efeito da Variação Excessiva na
Própria Peça
Compreender as fontes de variação de um sistema de medição é

importante em todas as aplicações de medição, mas toma-se condição
crítica onde existe variação significativa na própria peça. A variação
na própria peça, tal como a conicidade ou o erro de forma na
circularidade (não-circularidade), pode induzir a avaliação do sistema
de medição a fornecer resultados errados. Isto ocorre porque a
variação na própria peça, se não considerada, afeta as estimativas de
repetitividade, de reprodutibilidade, ou de ambas. Assim, a variação
na própria peça pode aparecer como um componente significativo da
variação do sistema de medição. Entender a variação na própria peça,
presente no produto, resultará num melhor entendimento da
adequação do sistema de medição para a tarefa a realizar.
Exemplos de variação na própria peça que podem ser encontrados
são: circularidade (não-circularidade percebida no girar, "circular
runout"), concentricidade, conicidade, planicidade, perfil,
cilindricidade, etc. 73 É possível que mais de uma destas características
estejam simultaneamente presentes numa mesma peça (erro
composto). A intensidade de cada uma dessas características em
questão e suas interdependências podem afetar os dados e, portanto,
afetar o entendimento resultante do sistema de medição. O
reconhecimento e a análise dessas fontes adicionais de variação
durante a realização do estudo do sistema de medição é primordial
para compreender a real variação proveniente do sistema de medição.
Um DOE, ANOV A ou outra técnica estatística mais sofisticada pode
ser necessária para analisar tal situação. Qualquer metodologia
escolhida deve ser aprovada pelo representante da qualidade do
cliente.
Além do mais, decisões inconscientemente tomadas por engenheiros
de projeto do produto podem afetar a maneira como uma peça será
medida, como um dispositivo de fixação será projetado, onde o
resultado poderá afetar o erro de medição. Um exemplo é uma peça
plástica que possui uma característica crítica situada sobre sua linha
de partição (a linha de partição, geralmente, apresenta um excesso de
material plástico, justamente onde as duas metades do molde se
juntam formando uma superftcie não controlada). Estes fatores devem
ser considerados durante o FMCA de Projeto.
71
Mu1tas destas características são controladas no projeto por meio do Dimensionamento Geométrico c de Tolerâncias (GD&T). O GD&T
olcrccc um método definido operacionalmente para verificar peças de mane1ra funcional. Gcrahncntc, a verificação funcional é atributiva.
Quando dados vunávcis são r.:queridos, podem ser levantadas questões do tipo "como usar um dispositivo projetado para uma verificação
funcional na produção de dados variáveis". Algumas vezes isto pode ser feito utili7ando-sc o dispositivo funciona l como meio de fixação num
estudo em Máquina de Medição por Coordenadas (CMM). Contudo, ao se rcali/..ar este artiticio, toma-se crftico <JUC o dispositivo de fixação
segure a peça firme c rcpctitivamcntc na mesma posição (caso contrário, o estudo de Análise de Sistema de Medição MSA produzirá este tipo
de erro).
Capítulo IV - Seção I!
Método da Méd1a e Amplitude- Tratamento Adicional
Uma vez que os componentes da variação na própria peça sejam

entendidos, será possível o controle destes fatores dentro do sistema
de medição (exemplo: reprojetando o dispositivo de medição, ou
utilizando diferentes métodos/equipamentos de fixação), e assim os
dados futuros não serão confundidos.
169
Capitulo IV ')cç~o D
Quantificando o Lli.:1to da Excessiva Variação na Própria Peça
Seção E
Método da Média e Amplitude- Tratamento Adicional
Há uma consideração adicional digna de menção com relação à

avaliação do sistema de medição feita pelo método da Média e
Amplitude. 74
O principal objetivo deste enfoque gráfico é igual ao das outras
análises de sistema de medição bem definidas: determinar se o
processo de medição é adequado para medir a variação do processo
de manufatura e/ou avaliar a conformidade do produto.
• Todos os dispositivos de medição estão fazendo o mesmo
trabalho?
• Todos os avaliadores estão fazendo o mesmo trabalho?
• A variação do sistema de medição é aceitável em relação à
variação do processo?
• Os dados obtidos do processo de medição são de boa qualidade?
Ou ainda, em quantos grupos ou categorias não superpostos eles
podem ser distribuídos?
Procedimento I) Cuidados devem ser tomados para seguir a "Preparação do

Passo a Passo Estudo dos Sistemas de Med1ção", Capítulo 11, Seção C.
2) Cada a\ aliador deve verificar cada uma das amostras para as
características que estão sendo estudadas. As primeiras medições
são registradas na linha superior do campo de dados da carta de
controle (veja Figuras IV-E I & 2).
3) Repetir as medições e registrar os dados na segunda linha de
dados da carta de controle. (Nota: não permitir aos avaliadores
verem suas leituras iniciais quando realizando a segunda
medição). Os dados devem agora mostrar duas medições na
mesma peça, feitas por cada aval iador.
4) Analisar os dados coletados calculando a média (X) e a

amplitude (R) para cada subgrupo.
5) Plotar os valores das amplitudes sobre a carta de amplitudes e
calcular a amplitude média (R) (considerar as amplitudes (R)
de todos os subgrupos, para todos os avaliadores). Traçar a linha
da amplitude média sobre a carta. Usar o fator 0 4 para n = 2 para
calcular o limite de controle da carta de amplitudes. Traçar este
limite e verificar se todos os valores estão sob controle.
./Se todas as amplitudes estão sob controle, todos os
avaliadores estão fàLendo o mesmo trabalho. Se um dos
aval iadores está fora de controle, o seu método difere dos
demais .
./Se todos os avaliadores têm algumas amplitudes fora de
controle, o sistema de medição é sensível à técnica utilizada
pelos avaliadores, e, portanto, necessita melhoria para gerar
dados aproveitáveis.
O exemplo de cana de controle foi obtido com permissão de '"Evaluating thc \llcasurcmcnt Proccs~," by Whcclcr & Lyday (veja Bibliografia)
74
170
Capítulo IV Seção E
Método da Méd1a e Amplitude Tratamento Adicaonal
6) A seguir, plotar a média de cada subgrupo (X) para todos os

avaliadores, no gráfico de médias (veja Figuras IV -E I & 2). Os
valores das médias representam ambas as variações e a variação
da medição.
Calcular a média global (X) (incluindo todas as médias dos

=
subgrupos ( X ) de todos os avaliadores). Traçar a média global (X)
sobre a carta.
Agora calcule os limites de controle para essa carta utilizando o fator
A 2 para n - 2 e a média das amplitudes (R), obtida na carta das
amplitudes, e traçar esses limites na carta de médias. Note que, neste
estudo, a carta de amplitudes contém apenas a variação da medição.
Assim, a área compreendida entre os limites de controle das médias
representa uma medida da variação de medição no sistema.
Se todas as médias caírem dentro dos limites de controle, a variação
da medição sobrepõe a variação do processo. Em outras palavras, o
processo de medição tem variação maior do que o processo de
fabricação, e, portanto, tal processo de medição não tem valor algum
para monitorar ou controlar aquele processo de produção.
Se menos da metade das médias está fora dos limites de controle, o
sistema de medição é inadequado para o controle do processo.
Por outro lado, se a maioria das médias cair fora dos limites de
controle, isso indica que os sinais provenientes do processo de
manufatura são maiores do que a variação de medição. Este sistema
de medição pode então gerar dados úteis para o controle do processo.
Exemplo de uma Planilha de Cálculo
A questão, "São bons os dados coletados por este sistema de

medição?" pode ser respondida preenchendo o exemplo de planilha
de cálculo mostrada na Figura TV-E 3 & 4 . Todos os dados requeridos
pela planilha de cálculo podem ser encontrados nas cartas de média e
amplitudes descritas acima.
Seguem-se os passos necessários para preencher o exemplo de
planilha de cálculo (Figura IV-E 3 & 4):
I) Identificar a medição e a característica a serem avaliadas, quem
está realizando o estudo e a data do mesmo.
2) A amplitude média do subgrupo (R) é obtida diretamente da

carta de controle.
3) O número de replicações (r) é o número de vezes que cada
avaliador verifica uma mesma peça.
4) Calcular a estimativa do desvio-padrão da repetitividade <â e),
como foi mostrado na Figura IV-E 3, utilizando o valor d 2 para o
correspondente r.
5) Preencher o número de avaliadores (nA) no espaço a isto
reservado.
6) Preencher o número de peças (n) no espaço a isto reservado.
171
Capitulo IV Seção L
'vletodo da M<!dia e Amphtude- Tratamento Adicional
7) Calcular a média de cada avaliador, considerando todas as

amostras (peças) avaliadas por cada um deles e registrar essas
médias nos espaços a elas reservados, para cada avaliador (A, B,
C).
8) Examinar as médias dos avaliadores (A, B, C) e calcular a
amplitude dessas médias subtraindo o menor valor do maior valor
e registrá-la no espaço destinado a (RA)·
9) Calcular a estimativa do desvio-padrão do avaliador (Ô" A) como
mostrado, utilizando o valor d: para o correspondente valor de
nA.
I 0) Calcular as médias das amostras, considerando a média dos
valores obtidos por avaliadores para cada amostra. Por exemplo,
(média da amostra I do avaliador A + média da amostra 1 do
avaliador B + média da amostra 1 do último avaliador, e dividir
esta soma pelo número de al'aliadores). Esta é a melhor
estimativa do valor verdadeiro da amostra. Registrar o valor de
cada amostra no espaço para ela reservado (1, 2, 3, ..... 9, 10) na
Figura IV-E4.
11 ) Observe as médias das amostras (1, 2, 3, ..... 9, 10) e calcular a
amplitude (Rr) da amostra subtraindo o menor valor do maior
valor. Registrar o resultado no espaço a isto reservado.
12) Estimar o des" io-padrão amostra-por-amostra (Ô" p ) como
mostrado, utill/ando o valor d. para o correspondente valor de n.

13) Calcular a "Taxa Sinal/Ruído" (SR) dividindo o desvio-padrão da
amostra pelo dcsv io-padrão da medição e registrá-lo no espaço
reservado.
SR= a"
G' R&R
14) Determinar o número de distintas categorias do produto que
podem ser distinguidas por estas medições. Multiplicar SR por
I ,41 e registrar o resultado no espaço reservado na Figura lV-E 4.
Apenas a parte inteira deste número necessita ser considerada uma vez que está
I é a definição de distintas categoria~. Abandone lodos os decimais. (Ver IV-E 4).
Se o número de categorias for menor que dois (2), isto significa que o
sistema de medição nada vale para controlar o processo. Ele é todo
ruído, e uma peça não pode ser dita diferente de outra.
Se o número de categorias for dois (2), isto significa que os dados
podem ser divididos em somente grupos de valores altos e baixos.
Consequentemente, isto somente pode se equiparar a dados
atributivos.
Se o número de categorias for três (3), os dados podem ser divididos
em grupos de valores altos, médios e baixos. Consequentemente,
trata-se de um sistema de medição ligeiramente melhor.
Um sistema contendo quatro (4) ou mais categorias seria muito
melhor do que os sistemas correspondentes aos três primeiros
exemplos, acima apresentados.
172
-
CARTA DE CONTR-OLE PARA VARIÁVEl~ (~&R) rN" da Peça
I T N•da
NOME DA PEÇA (Produto)

AVALIACAO DE MEDICAO
AJUSTE 1 OPERAÇÃO (Processo) LIMITES DA ESPECIFICAÇÃO
Carta
OPERADOR I MÁQUINA TDISPOSITIYO #130 TlJNIDADE DE MEDIÇÃO

I
O ZERO EQUIVALE A
.,""'
àQ'
c:
L DEMEDIÇAO 0,001 mm
~
-<
I
DATA
TEMPO PEÇA 1
AVALIADOR (A)
2 3 4 5 I 1 2
(B)
3 4 5 1 2
(C)
3 4 5
C"'!
UI <( 1 113 113 071 101 113 112 117 082 098 110 107 115 103 110 131
(/)(t
li Wl-
0<1) 2 114 106 073 097 130 112 107 083 099 108 109 122 086 108 090
.,....
~
<>0 3
-~
s:.. @<( 4
Q.
!'D ~ê§
5
li
o SOMA
:s
~ MÉDIA 13,5 109,5 072 099 121 ,5 112 112 82,5 98,5 109 108 18,5 94,5 109 110,5
o AMPLITUDE R 1 7 2 4 17 o 10 1 1 2 2 7 17 2 41
TOTAL R =114·' R =114
15
=7•6
~
-=.,s:.. NOTAS
s:..
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
>
<
1
-
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....,
~
o <( ..,.
Q.
s:.. õ ~
w
3: :li: ~
!'D
Q.
g.
.;;· ~
S:..l 2:
o
-'---.,
..>
o;·
~ ~
3
~ LIMITES PARA CARTA R -g.
--;:o
I w
g
30
LSC = 24,8 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- - -- -- -
I
-
0 4 (m =2)
I I
= 3.268
I I I
ê
c.
n
-li")
õ! ..
::; ~~
1- 20 3 E.
:::i LSCR = RD. go
Q.
:li: 10
) ) ~
= 7,6 X 3,268
õ<
>I
- -V- -----~- -~ -- --.~ ~ -
<(
~f.(..,._-4
~
Média= 7,6 1- - - §-~
=24,8 g ~
~r.
:i:::l"'l
~·~
8.o ê'õ
CARTA DE CONTROLE PARA VARIÁVEIS (X&R)
AVALIAÇÃO DE MEDIÇÃO
I N°da Peça
l N°da
Carta
c._
NOME DA PEÇA (Produto)

AJUSTE
IOPERAÇÃO (Processo) I LIMITES DA ESPECIFICAÇÃO
"'~I<
;-a
&:rn
., I MÁQUINA Io " o
riõ'
.,c
s=
OPERADOR
I
DISPOSITIVO
DE MEDIÇÃO
#130
I UNIDADE DE MEDIÇÃO
0,001 mm
ZERO EQUIVALE A ~:-,
"2.
c
-< DATA AVALIADOR (A) (B) (C) ..,
Q.
I
t"'l
OI
rn:MPO PEÇA
1
1
113
2 3
113 071 101
4 5
113
1
112
2 3
117 082 098 110
4 5 1
107 115 103
2 3 4
110
5
131
MÉDIA:
1 111 17
AMOSTRA( )= •
-I
C!
E:
~
<(
n ct
(JJ AMOSTRA (2) = 113,33
~~
a
!lo)
2 114 106 073 097 130 112 107 083 099 108 109 122 086 108 090 AMOSTRA(3)= 83,00 õ
~~ 3 AMOSTRA(4) = 102,17
>
Q.
Q. c:;·
4 AMOSTRA (5) = 113,67
~
('I) UJ <(
n
Q
::E<t:
0 -5
iI MÉD AVAL (A)= 103,1 1 IMÉD AVAL (B) = 102,8 -~ MÉD AVAL (C)= 108,1Jr- _ _
= TOTAL X = 1570; X = 1570 = 104,67
.... SOMA - '---.--..---.---.-----'
15
"'Q MÉDIA 113.5 109,E 072 099 121,E 112 112 82,5 98,5 109 108 18,5 94,5 109 10,5
i;' AMPLITUDER 1 7 2 4 17 O 10 1 1 2 2 7 17 2 41 TOTALR =114 R = 114 =76
"'"'
!lo)
!lo)
NOTAS • 15 '
-
>
<
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 LIMITES PARA CARTA X 24 25
!lo)
LSCF1190 @ A,(m=2)=1.88
;·
~ :~: b .._ -- - -- -- ~ -- -- - --- / \ - --,--~ A,R:1,88X7,6=14,29
_·-\·-··-I·
flo)l
Q 1
Q.
!lo)
3: ~
~ 100 x= 104,6 t
r-··-· _ _ ··-v~· ·f--· f_ .\...v. r'.
\
_ LSCl1:X+A,n
-104,67 + 14,29
('I)
Q. 1 1 = 119.o
go--+-~~-++-~~--+-~~~+-~~--+-~~--+-~~==~=c==~t-~~--~
.;;·
~
~ I LSC.r=X-~
-
Q
~
ao
LIC =90,
,I
d~
= 104.67-14.29
=~
~
~ 30 I LIMITES PARA CARTA R
~
UJ
C
:::1
LSC = 24•8 - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - D. {m = 2) = 3,268
~ 20---r--r--t--t--t--i-~---r--r--t--t--i--i-~r--r--ti-t--~=====~~=====~~-t--~
~ ) )\ LSCR= RD4
10
<t: Média= 7,6 7~ - - f - - /~ -- - ~-- - - t,?~ -
....4./- ~~f- = 7,6 X 3,268 -
I = 24,8
Capítulo IV- Seção F
Cun a de De:.cmp.:nho do 01spos1tivo de Medição
Medição Realizado
Avaliada COMPRIMENTO DE AJUSTE Por R.W.L. Data 00-MM-AA
ERRO DE REPLICAÇÃO: Amplitude Média do Subgrupo = R= 7,6 d2
Número de Replicações = Tamanho do Subgrupo = r= 2

3 1,693
Estimativa do Desvio-Padrão das Replicações : = Icre = 6,7381 4 2.059
2 2,326
5
6 2,534
7 2,704
8 2,847
9 2,970
10 3.078
CÁLCULOS PARA O EFEITO DO AVALIADOR Escreva abaixo as médias dos avaliadores:
Avaliador Médio
d~
A 103,1
Número de Avaliadores = nA= 3
2 1,410
8- menor 102,8
Número de Amostras = n = 5 C- maior 108,1
4 2,237
108,1 -102,8 = RA
5 2,477 o
6 2,669 Amplitude das Médias dos Avaliadores = RA = 5,3 E
7 2,827
F
8 2,961
5,3 '
9 3,076 --=cr
1,906 A
lO 3,178
Figura IV-E 7: Cálculos Alternativos para Avaliar um Processo de Medição (Parte t de 2)
175
Capitulo IV Seção E
Método da Méd1a c Amplitude Tratamento Adicional
CÁLCULOS PARA O DESVIO-PADRÃO DO ERRO DE MEDIÇÃO

A estimativa do desvio-padrão do erro de medição é:
- ~(6,7376)2 + (2,7806)2
7,289
Escreva aqui o valor apropriado do â m: J Ôm = 7,2891
CÁLCULOS PARA O QUOCIENTE SINALIRUIDO
Escreva abaixo a média de cada peça ou lote de leituras
n d. Amostra Média
2
113,67-83,0 =RP
2 1,410 111,17
Amplitude das Médias de cada peça = RP = 30,67
3 1,906 2 113,33
4 2,237 Estimativa do Desvio-Padrão Peça-a-Peça: 3- menor 83,00
4 102,17
6 2.669
30,67 =12,38 ;. =E[=~ 5- maior 113,67
2,477 2
7 2.827 6
!! 2,961 Quociente Sinal/Ruído: 7
9 3,076 8
lO 3,178 12,38 =1,698 âp =1,698 9
7,289 âm lO
Assim o número de distintas categorias do produto que podem ser

conflavelmente diferenciadas por estas medições é 1,41 x 1,698
1,41 ( ~: ) = 2,395 ou 2
Este é o número de resultados não superpostos (intervalos de confiança - 97%) que cobrirá o
intervalo de variação do produto. (O intervalo de confiança - 97%, centrado numa única
medição, conterá o valor real do produto representado por aquela medição 97% das vezes).
Figura IV-E 8: Cálculos Alternativos para Avaliar um Processo de Medição (Parte 2 de 2)

Capítulo IV 5.!.;ão ~
Cu r> a de 0..-.;empcnho do Dispositi' o de \k•<hçJo
177
Capítulo IV So:ção E
Metodo da Méd1a c Amplitude - Tratamento Adicional
Seção F
· Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição 75
O objetivo do desenvolvimento de uma Curva de Desempenho do
Dispositivo de Medição (GPC) é determinar a probabilidade de
aceitar ou rejeitar uma peça que representa um valor de referência. De
maneira ideal, a Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição
para uma medição isenta de erro é mostrada na Figura lV-F I.
Contudo, isto é o ideal para os sistemas de medição, e não o que
normalmente ocorre.
Uma vez que o valor do erro foi determinado, é possível calcular a
probabilidade de se aceitar uma peça que representa algum valor de
referência, quando utili;;ando aquele sistema.
Para conseguir isto, a premissa feita é considerar que o erro do
sistema de medição consiste principalmente na falta de repetitividade,
reprodutibilidade, c tendência. Além disso, a repetitividade e
reprodutibilidade são obtidas para serem normalmente distribuídas
com alguma variância o~. Consequentemente, o erro do dispositivo de
medição está normalmente distribuído com a média XT, o valor de
referência, mais a tendência, c tem alguma variância, o 2. Em outras
palauas:
Valor Real obtido no Dispositi\:o de Medição - N (XT ;- b,o2)
A probabilidade de aceitar uma peça que represente um valor de

referência qualquer, é dada pela relação:
Utilizando a tabela de distribuição normal,
onde,
LS-(xr+b)) = LJS N (x r+b, a 2) dx

{ a -oo
LI-(x:T+b)) = OOIN(x r+b, a 2) dx

{ a LI
7
~ Adaptado com a pcnnissão de "Ana lysis of Attribute Gage Systems" por J. McCaslin & O. Gruska , ASQC, 1976.
178
Capítulo IV - ~ào f
C una de l).:,cmpçnho do D•~po~iti'o de Med1çào
Exemplo:
Calcular a probabilidade de aceitar uma peça quando o valor do
torque de referência é 0,5 Nm; 0,7 Nm; e 0,9 Nm.
Usando dados provenientes de um estudo anteriormente conduzido:
Especificação Superior- LSE- I,ONm
Especificação Inferior- LIE- 0,6Nm
Tendência= b= 0,05 Nm
0,05 Nm
Aplicando os dados acima nas fórmulas anteriormente mostradas:
= j I ,O- (0,5 + 0,05)) _ j 0,6- (0,5 + 0,05))

Pa ~ 0,05 ~ 0,05
p a= rp(9,0)- f/J(l,O)
= 1,0 0,84
=0,16
Isto é, quando a peça tem um valor de referência de 0,5 Nm, ela será
rejeitada aproxrmadamente 84% das ve/es.
Exemplo de uma Curva de Desempenho do Drspositivo de Medição:
Para X1 0,7
p a= f/J( 1,O- (0,7 + 0,05)) _ f/J(0,6- (0,7 + 0,05))

0,05 0,05
Pa = rp(5,0)- rp(- 3,0)

=0,999
Se o valor de referência da peça for 0,7 Nm, então aproximadamente

ela será rejeitada menos que O, I% das vezes.
Para X r - 0,9 Nm,
p = f/J( I ,O- (0,9 + 0,05)) _ j 0,6- (0,9 + 0,05))

a 0,05 V'l 0,05
p a= {1)(1,0)- rp(-7,0)
=0,84
179
Capitulo IV Scça() r
C'ur.a de Dc~cmpcnho do Di!>positivo de Medição
Se o valor de referência da peça for 0,9 Nm, então ela será rejeitada
aproximadamente menos do que 16% das vezes.
Se a probabilidade de aceitação é calculada para todos os valores de
XT e plotadas, então será obtida a Cun a de Desempenho do
Dispositi\-O de Medição, conforme mostrado na JV-F 2.
Esta mesma curva pode ser mais facilmente projetada num papel de
probabilidade normal conforme mostrado na Figura IV-F 3. Uma vez
plotada, a Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição (GPC)
fornece a probabilidade de aceitar uma peça, qualquer que seja seu
tamanho.
Adicionalmente, uma VC'/ que a Curva de Desempenho do
Dispositivo de Medição (GPC) foi desenvolvida, ela pode ser usada
para calcular o erro de repetitividade e reprodutibi lidade, c o erro de
tendência 76 .
A amplitude 6 do R&R pode ser determinada buscando os valores de
XT correspondentes respectivamente a P. - 0,99865 (z=3) c o valor
de X 1 que correspondc a Pa 0,00135 (z=-3) para qualquer um dos
dois limites. O valor de R&R é a diferença entre os dois valores de
X 1 , conforme mostra graficamente a Figura IV-F 3.
Uma estimativa da tendência é determinada buscando os valores de
XT correspondentes aos lim1tes superior (LS) ou inferior (LI), que
corresponde a Pa 0,5 e calculando:
B Xr LI ou BB = X 1 -LS
dependendo de qual limite X 1 foi inicialmente escolhido. 77
76
Veja "Attributc Gagc Study", Capitulo 111, Seção C
Isto supõe que o sistema de medição é linear ao longo do intervalo de opcraç~o.
77
180
Capuulo IV S..'Ção I·
CuI'\ a de IÀ>sempcnho do 01\('(l!.lltvo de Mcdu;ão
1,0
0,9
o 0,8
u:u
<>
2 0,7
'(i)
~ 0,6
Q)
'O
Q) 0,5
'O
<U
:2 0,4
:.õ
<U
.c
o
0,3
.._
a_
0,2
0,1
0,0
0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 1,1 1,2
Valores de Referência das Pe as Medidas
Tendência =0,00 R&R- Amplitude = 0,00
Figura lV-F 4: Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição Sem Erro
181
('upítulo IV Scç~o F
Curva de Dc>cmpcnho do Dispositivo de .Medição
1,0
0,9
o 0,8
·rs.
~ 0,7
<
8
Q)
0,6
"O
Q)
"O
0,5
111
}i1 0,4
:õ
111
.c 0,3
e
a.
0,2
O, 1
0,0
0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 1,1 1,2
Valores de Referência das Peças Medidas
[Teildência = 0,05 R&R - Amplitude = 0,28 I
Figura IV-F 5: Curva de Desempenho do Dispositivo de Medição - Exemplo
182
Capitulo TV - Seção G
Redução da Vanação por Meio de Leituras Múltipla~
R&R - Amplitude = 0,28
99,8 0,2
6 ..L! I
~
99,5 I 0.5 : :
99,0 .. 1
1,0
:;::!;:::t:t
2,0
~ I=.L..
98,0
li I
- -f I \ I
95,0
-\ 5,0
_t
1-
90,0 1- ·:'rl ·-'- 10,0

-+'· H • :C.§:
-
80.0
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.. 20,0
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10,0
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5,0 9 5,0
I I I I 1
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,~98,0
·':: 9 9,0
0,5 ~ ::::::::: 9
9.5 : :
0,2
- - T ~9 9,8
0,4 0,5
-
Tendência= 0,05
06 0,7 0,8 0,9 1,0 1 '1
Figura IV-J<6: Desempenho do Dispositivo de Medição Plotada no Papel de Probabilidade Normal

Capítulo IV Scçilo r
Curva de Dé'cmpcnho do Di!>positivo de Medição
Seção G
Redução da Variação por Meio de Leituras Múltiplas
Se a variação do sistema de medição atual não for aceitável (maior

que 30%), existe um método que pode ser usado para reduzir a
variação a um nível aceitável, até que as melhorias adequadas no
sistema de medição sejam realizadas. A variação inaceitável pode ser
reduzida tomando-se leituras múltiplas estatisticamente
independentes da característica da peça que está sendo avaliada,
determinando a média destas medições e utilizando este resultado em
substituição da medição individual. Este método obviamente
demandará tempo, mas é uma alternativa (com aprovação do cliente)
até que as melhorias do sistema de medição sejam feitas (isto é,
reprojetando ou comprando um novo sistema). O procedimento para
esse método alternativo é o seguinte:
I) Determinar a quantidade de leituras múltiplas necessárias para
obter o nível aceitável de variação.
2) Seguir o procedimento para o estudo do dispositivo de medição já
apresentado neste manual.
Exemplo:
No exemplo da Empresa XYZ, a porcentagem da vanaçao da

tolerância R&R é 25,5%, com uma dispersão 6-sigma igual a 0,24. O
cliente deseja reduzir este resultado, pelo menos, para 15%, o que
corresponderia a uma dispersão 6-sigma de O, 14. 78
Para determinar a quantidade de leituras múltiplas necessárias para
cumprir o critério desejado de 15%, deve-se primeiramente entender
que a distribuição de medições individuais ou médias tem os mesmos
valores numéricos médios. Em segundo lugar, a variância da
distribuição das médias é igual à variância da distribuição de medidas
individuais dividida pelo tamanho da amostra. Compreendendo estas
relações, conforme mostrado a seguir, a quantidade de leituras
múltiplas necessárias poderá ser determinada.
(6a )1= (6aY

X /1
Isto pode ser aproximado para,
(6sJ = (~}
e
o14-0,24
' .r;;
78
Vejo nota na página vi
184
Capítulo IV - Seção li
Abordagem do Dcs' io Jladrão Composto parn o R&R
portanto,
Fn = 1,714
e
n = 3 (arredondando-se para o inteiro mais próximo)
Portanto, 3 leituras múltipla5 da característica da peça provocarão a

redução da variação total do sistema de medição para
aproximadamente O, 14 c então a %R& R para 15%.
Este método deve ser considerado como um passo temporário até que
outras melhorias sejam feitas no sistema de medição. Ele deve ser
usado somente com a aprovação do cliente.
185
Capuulo IV s~-ção G
Redução da Vanuç;lo por Me10 de Le1turas Múltiplas
Seção H
Abordagem do Desvio-Padrão Composto para o R&R79
A análise de um sistema de medição geralmente supõe que os dados
replicados de todas as peças/amostras possam ser obtidos por todos os
avaliadores de maneira aleatória. Isto nem sempre é possível. Se a
análise do sistema de medição envolve diferentes locais, pode ser
logisticamente inviável exigir uma amostra aleatória. Além disso, em
alguns testes, principalmente análises químicas e metalúrgicas
(estudos inter-laboratórios c intra-laboratório), pode haver exigência
de cruzamento de diversas amostras que nem sempre são oriundas de
um processo homogêneo, c podem não estar disponíveis
simultaneamente.
Estas si tuações podem ser tratadas pelo uso de um Deli neamento de
Experimentos Interligado. Uma abordagem alternativa é o estudo de
Repetitividade c Reprodutibilidadc do Sistema de Medição (R&R)
com o desvio-padrão composto, que segue uma metodologia
apresentada na norma ASTM E691.
Esta abordagem visuali7a cada peça como um material separado e
então calcula os desvios-padrão da repetitividade e reprodutibilidade
como mostra a E691. Isto produzirá d iYersos valores da repetitividade
e reprodutibilidade, separados um dos outros. Desde que as peças
sejam consideradas essencialmente idênticas. estas estimativas
separadas serão também supostas como efetivamente idênticas.
Obviamente tais estimativas jamais serão exatamente equivalentes,
mas a média delas gerará uma boa estimativa do verdadeiro nível da
repetitividade, c, simi larmente da rcprodutibilidade.
Se esta abordagem for usada para avaliar um grupo de laboratórios, há um
problema para se defin1r o que é a "reprodutibilidade". Se na maioria das
veLes, a reprodut1bilidadc é maior do que zero (c é assim para a maioria dos
materiais), ela deveria ser interpretada como "há diferenças entre
operadores"; decorre que, num programa inter-laboratorial, essa
interpretação sugere existirem reais diferenças entre os laboratórios.
Apli cação Embora a abordagem da E691 seja geralmente usada com uma
Sequencial amostra completa, esta norma presta-se também para uma abordagem
sequencial. Isto é útil quando todas as amostras não estiverem
disponíveis num mesmo momento. Pode também ser usada como
parte do processo de calibração para manter a informação sobre a
variabilidade do sistema de medição.
A descrição que se segue supõe que o estudo será aplicado de
maneira sequencial.
Realização do Estudo
Um cuidado a ser tomado é seguir a "Preparação para um Estudo do
Sistema de Medição", mostrado no Capítulo li, Seção C.
Continuação do passo 6 (página 74)
Partes desta \cção, incluindo toda a parte de "Consistência Estatística" foi conlribuiçilo de Ncil Ul lman da American Society for Testing and
7'1
Matcriab (ASTM lntcrnational).
186
Capítulo IV - Seção H
Abordagem do Dc•vio Padrão Composto para o R&R
7) Ter cada um dos m > 2 ava liadores avaliando a peça com r 2: 3

leituras. Registrar os dados nas linhas apropriadas de uma
planilha de coleta de dados. (ver Exemplos de Formulários).
(Nota: não permitir que os avaliadores vejam suas próprias
leituras originais, quando real i/ando as múltiplas verificações).
8) Calcular a média (X) e o desvio-padrão (s) para a nova peça,

por cada avaliador.
9) Plotar os valores do desvio-padrão numa carta de desvios-padrão
e calcular o desvio-padrão médio ( s ) (considerar todos os
desvios-padrão dos subgrupos para todos os avaliadores). Traçar
na carta a linha do desvio-padrão médio. Usar o fator B4 para r
amostras no cálculo do limite superior de controle da carta de
desvios-padrão. Traçar na carta de controle a linha do limite
superior de controle, c verificar se todos os valores de s estão sob
controle (ver Figura IV -11 I).
I O) Plotar os valores da média ( X ) de cada subgrupo para todos os

avaliadores (ver Figura IV-H I). Os valores das médias
representam a variação do processo e a variação da medição
simultaneamente.
11) Calcular a média global (X) (considerar todas as médias dos

subgrupos (X) para todos os avaliadores). Traçar a linha desta
média global (X ) na carta.
12) Calcular os limites de controle desta carta utilizando o fator A2
para r e o desvio-padrão médio ( S ) proveniente da carta de
desvios-padrão; traçar estes limites na carta de médias.
13) Analisar os dados utilizando as cartas de controle e outras
técnicas gráficas, como discutido no Método da Média e
Amplitude (ver Capítulo IIJ ).
14) Avaliar os parâmetros do sistema de medição para cada peça
compondo os resultados dos avaliadores.
s.Xg =
Repetitividadeg s Eg =
Reprodutibilidade8 = SAg =Vsix *

R&Rg - s R&Rg - • r;;:;
v·~/;K +s;g
187
Capítulo IV <;cçllo H
Abordagem do Dc~>io Padrão Composto para o R&R
A norma E691 segue a convenção de que a rcprodutibilidade da Análise dos Sistemas

de Medição (MSA) é dita ... ariação entre avaliadores e o R& R do MSA é chamada de
reprodutibilidade. J'.:este caso.
s
appr
= .r:-;;
ysi- 3
onde, s,= sr = Rcpeti tividade, e SR R&R Reprodutibilidade ASTM
15) A vaiiar os parâmetros globais do sistema de medição compondo

os resultados das peças, onde g - número de peças.
Repetilividade = s,,.
Reprodutibilidade
Quando calculamos a porcentagem da variação total, o desvio-padrão

histórico para o processo pode ser utiliL:ado.
Se as peças cobrem uma grnnde variedade de processos, por exemplo, diferentes
amostras para análise metalúrgica ou química, a avaliação da porcentagem da
variação total deve ser baseada na variação do processo das amostras específicas, c
não deve ser baseada na variaçrio total de todas as amostras.
Cuidados devem ser tomados na interpretação dos parâmetros do sistema de medição
no caso de os avaliadores estarem locali.wdos em diferen tes instalações (por
exemplo, laboratórios).
A Repetitividadc incluirá a variaçtlo entre cquipamcntos, bem como incluirá também
a variação de um mesmo equipamento. Isto pode ser avaliado pelo cálculo e
comparação da repctitividadc de cada local.
A Reprodutibilidade incluirá a variação entre locais, bem como incluirá também a
variação entre a\·aliadores. Tats componentes não podem ser separados com este
estudo.
188
Capítulo IV Seção 11
Abordagem do IX:s~10 l>adrno Composto para o R& R
Carta Xbarra-S da Resposta
~
Oi 1
.
o
E
..,• o
LSC=0.374
X=0,001
..,....
~ UC=.(),372
:e -1
-2
4 7 10 13 16 19 22 25 28
Amos tra
0,60
~
Oi LSC=0,4901
o
E 0,45
..
<
..,
o 0.30
,':!
• 0,15
a.. S=0.1908
o
.."'
>
o 0,00 LIC=O
4 7 10 13 16 19 22 25 28
Amostra
Figura IV-11 4: Análise Gráfica do Estudo do Desvio-Padrão Composto80
KO Limites de controle baseado desvio padrão composto ajustado por uma constante sem tendência
189
>n
8"-êl
a. :=.·
., =-
.. -<
()':o
3
0.1
0(/)
Peça Todas as Peças
~ Mcdu;c'k!~ X' -A
= R"pe11das 1 2 3 4 5 6 7 8 9 lO i " ""
~ o
r:::r
,... õ :I:
A I 0.29 -0.56 1,34 0,47 -0.8 0,02 0.59 -0,31 2.26 -1,36
;' ~
-<
!..
2
3
0,41
0,64
-0.6X
-0,58
1,17
1,27
0,5
0.64
-0,92
-0.84
-0,11
-0.21
0,75
0,66
-0,2
-0.17
1.99
2,01
-1,25
-1,31
c.
~
..
~ xbarra 0,4467 -0.6067 1.2600 0.5367 -0.8533 -0.1000 0,6667 -0.2267 2.0867 -1.3067 xduplabarra 0.19033333 ?
~
dp 0,1779 0,0643 0.0854 0,0907 0,0611 0,1153 O,OX02 0.0737 0.1504 0,0551 dp do A\'al. O, 10289153 ~
õ
o
= ]
-
'-·
c o
=
o B I 0,08 -0,47 1,19 O, OI -0.56 -0,2 0,47 -0,63 1,8 -1,68 ;o
R>
;o
,...Q. 2 0,25 -1,22 0,94 1,03 -1,2 0,22 0,55 O,OX 2, 12 -1.62
o 3 0,07 -0,68 1,34 0,2 -1,28 0,06 0,83 -0,34 2,19 -1,5
=
Q.
o
xbarra 0,1333 -0,7900 1.1567 0,4133 -1,0133 0.0267 0,6167 -0,2967 2,0367 -1,6000 xduplabarra 0,06833333
"' dp 0,1012 0,3869 0.2021 0,5424 0,3946 0,2120 0,1890 0.3570 0,2079 0,0917 dp do Aval. 0,3017394
"'=
'"I
"'o =
> c I 0,04 -1.38 0.88 0.14 -I ,46 -0.29 0.02 -0.46 1,77 -1.49
= 2 -0,11 -1.13 1.09 0,2 -I ,07 -0,67 0,01 -0,56 1,45 -1,77
c;·
===
~ 3 -0,15 -0,96 0,67 0,11 -I ,45 -0,49 0,21 -0,49 1.87 -2,16
Q. xbarra -0,0733 -1, 1567 -0,4833 0,0800 -0,5033 -1,8067 xduplabarra -0,25433333
o O,X800 0,1500 -I ,3267 1,6967
o,... dp 0,1002 0,2113 0,2100 0,0458 0,2223 0, 1901 0,1127 0,05 13 0,2194 0.3365 dp do Aval. O, 19056058
"'
<
õ' 0,26182 0,28005 0,19648 0,19751 0,24077 0,26555 0,32524 0,14385 0,21221 0,25125
I
-o =
c;
<Jr dt '\hJu
o
dp 'sComposlos
=
Q.
Q,j
...c.
·=
~""
'"I o Rcpctithidade 0.13153 0,25721 0.17534 0,31863 0.26388 0.17736 0,13524 0,2 1252 0.19494 0,20385 <:.>
~
o .,c. l'\) 111r~)' ta 0.20-t274 O, 195107 0,23223 0.23!1896 0.229""~C 0.21)'<795 0,21 X021 0.2155"'8 ::; 0.21443466
~ o <:.>
o
3
"'
-=
"'= Reprodutibilidade
~·ompo~to
0,25056 0.23743 0.16839 0,07191 0,18644 0.24501 0,31573 0.07508 0,17991
0.2440Xn 0.221744 0.195:>72 0.193619 (1.203089 0.222641> 0.20lJ<)9S 0.206õ~l
0.22198
"'os
=
0,20843064
-
o
"'
o
"'
<:.>
0:::
R& R
~omposto
0,28299 0,35004 0,24310 0,32664 0,32310 0,30247 0,34347 0,22540 0,26527
0.31 !\2!15 0,295359 0.303481 0,307505 0,306671 0.312194 0.302708 0.29878
0,30138 ~
"'
00 0,29904106
Capítulo IV Seção H
Abordagem do Desvio Padrão Composto para o R&R
Consistência Estatística
81
Os métodos ASTM e IS0 sugerem que sejam calculados dois dados
de "consistência", respectivamente h e k. Os valores de h são
calculados da seguinte maneira:
xaml -xpeça
h= s_X
Para o avaliador A e para a peça I, a média (xava1 acima) vale 0,447

e a média da peça (xpeça acima) equivale a O, 169. O desvio-padrão
entre avaliadores (sx acima) equivale a 0,262. Então,
0,447 - O, 167 = 0,278 = 1 06

h
0,262 0,262 '
O valor de k é o quociente entre o desvio-padrão de cada peça por

cada avaliador e o desvio-padrão da rcpctitividadc. este caso
(avaliador A e peça I) é igual a:
k = desvio-padrão (aval. A, peça I) _ O, 178

1 35
repetitividade O, 132 •
A razão para eles serem calculados é permitir comparações entre

materiais bem diferentes.
Embora neste exemplo não existam materiais demasiadamente
diferentes com diferentes níveis c possivelmente com desvios-padrão
muito diferentes, os valores de h e k (conforme E691) podem ainda
ser usados para comparar o desvio-padrão da repetitividade e os
valores resposta dos avaliadores. Na tabela a seguir os valores de h e
k estão listados por avaliador.
h Peça
- Aval. I 2 3 4 5 6 7 lO média h uz"
8 9
A 1,06 0,87 0,82 0 ,86 0,88 0,32 0,65 0,80 0,69 1,05 0,80 2,53
B -0,1 4 0,22 0,29 0,24 0,21 0,80 0 ,50 0,32 0,46 -0,11 0.28 0,88
-
c -0,93 - 1,09 -1 '1 1 -1 ,1 0 -1,09 -1,12 -I ,15 - 1, 12 - I' 15 -0,94 -1,08 -3,41
/.. mediana k "z"

r-- r-
A 1,35 0,25 0,49 0,28 0,23 0,65 0,59 0,35 0,77 0,27 0,42 -3,20
B 0,77 1,50 1,15 1,70 1,50 1,20 1,40 1,68 1,07 0,45 1,30 3,14
c 0 ,76 0,82 1,20 0,14 0,84 1,07 0,83 0 ,24 1,13 1,65 0,84 -0,17
RI Ver ISO 5725
191
Capítulo IV <;cçJo li
Al>ordagcm do Dcw1o Padrão Composto para o R& R
Nas duas últimas colunas estão as médias c os "valores-z" que servem

para ver se os avaliadores são significativamente diferentes. Os
valores de h indicam que o avaliador A é significativamente alto e o
avaliador C é significativamente baixo em suas respectivas leituras do
tamanho das peças. É também significativa a diferença que cria o
des\ io-padrão do R& R.
O desvio-padrão da rcpctitividade pode ser também avaliado
observando os valores de k. Para isto, determinar a mediana de k e
assim, uma aproximação do "resultado-;.-". Neste estudo a mediana
esperada é cerca de 0,861 com um desvio-padrão de
aproximadamente 0,439. A mediana k para o avaliador A está cerca
de -3,2 desvios-padrão abaixo do nível esperado e o avaliador B é
significativamente alto. Portanto, observa-se grandes diferenças no
desempenho destes três operadores.
Os gráficos de h (Figura IV-11 2) e k (Figura IV-H 3) também ajudam
ilustrar estas diferenças. O avaliador C tem resultados muito mais
baixos do que os demais. De modo simi lar, os valores de k mostram
quanto a variação do avaliador A é mais baixa com relação à
repetitividade. Estas são certamente questões a examinar a respeito do
desempenho do método de medição executado por estes avaliadores.
valores h
1.5
•
0,5
•• •
• ----
o
•
••
-0,5 -
•
-I
-1.5 !----------------.--------..,.----------1
•
A 8 c
A\aliador
Figura IV-H 5: Diagrama de Pontos dos Valores h

Apêndice A
Conceitos de Análise de Variância
valores k
1,1!
1.6 • •
1,4
••
•
1,2 -
I '• :
0,1!
•
••
• ••
0,6 -
0,4
• •
•
0,2
o
• •• -
A B c
Avaliador
Figura IV-H 6: Diagrama de Pontos dos Valores de k
193
Capílulo IV Scçilo li
Abordagem do Desvio Padrão Composto para o R& R
Apêndices
194
Apêndice
Apênd1cc
Apêndice A
A análise numérica do R&R pode ser feita seguindo as fórmulas na

Tabela A 3. Esta é a chamada tabela de Análise de Variância
(ANOVA). A tabela ANOVA é composta de 6 colunas:
• Coluna Fonte, mostra a causa da variação.
• Coluna GL, mostra os graus de liberdade associados com a
fonte.
• Coluna SQ ou soma dos quadrados, mostra o desvio em torno da
média da fonte.
• Coluna QM ou quadrado médio, mostra a soma dos quadrados
dividida pelos graus de liberdade.
• Coluna QME ou quadrado médio esperado, mostra a
combinação linear dos componentes da variância para cada QM. A
tabela ANOV A decompõe a fonte de variação total em quatro
componentes: peças, avaliadores, interação entre avaliadores e peças,
e erro de replicação devido a repetitividade do
equipamento/dispositivo de medição.
• Coluna do quociente F, calculada apenas para a interação na
Análise de Variância (ANOV A) da Análise do Sistema de Medição
(MSA); o quociente F da interação é calculado pelo quadrado médio
da interação dividido pelo erro do quadrado médio.
A estimativa dos componentes da variância de cada fonte de variação
é mostrada na Tabela A I.R 2
Estimativa da Variância
Equipamento (VE) 1: 1 QM•'
t
QMAI' QM,
Interação (INT) y 1
r
QMA QMAI'
Avaliador(VA) co-' nr
QMP QMAP
Peça (VP) (J 1
kr
Tabela A 6: Estimativa dos Componentes da Variância
Como cada quadrado médio é uma quantidade amostrada sujeita à

variação da amostra, e os cálculos envolvem diferenças de quadrados
médios, então é possível que as estimativas da variância dos
componentes resultem negativas. Isto é um pequeno problema, já que
as variâncias de componentes padrão são iguais ou muito próximas de
zero, ou
2
R Nc>ta tohcla , todos os componentes da variação são supostamente efeitos aleatórios.
Rl Nc>tU aplicaç3o de ANOVA para a análise dos sistemas de medição, o tcnno erro ANOVA equivale â variação do equipamento, QME
196
Apêndice A
Conceitos de Análise de Variãncia
têm um pequeno tamanho da amostra. Para efeito de análise, os

componentes cuja variância for negativa, serão considerados como
tendo variância nula.
O desvio-padrão é mais fácil de interpretar do que a variância, isto

porque ele tem a mesma unidade de medida como se fosse uma
observação original. Na prática, a medida básica da dispersão é 6
vezes o desvio-padrão. 114 A Tabela A 2 mostra a dispersão 6-sigma
para uma medida de repetitividade chamada variação do equipamento
(VE) e para uma medida de reprodutibilidade chamada variação entre
avaliadores (V A). Se a interação entre peça e avaliador for
significativa, então existe um modelo não-aditivo, c por isso também
é dada a estimativa de sua variância. O R&R mostrada na Tabela A 2,
é o total da variação do sistema de medição.
VE ~ 6~QM, Variação do Equi pamento Rcpctitividadc

.-=,...,---;,..,...,-
VA = 6'//QMA-QMAP
nr Variação entre Avaliadores Reprodutibilidade
l<P = 6~ QMA~- QM~ Interação Avahador por Peça
R&R = J(VE/ + (VAF (I~,/ R & R do Dispositivo de Medição
Variação das Peças
Tabela A 7: Dispersão 6-sigma
No modelo aditivo, a interação não é s ignificativa e os componentes

da variância para cada fonte são calculados como se segue: De início,
a soma dos quadrados do erro do dispositivo de medição (SQe da
Tabela A 3) é adicionada à soma dos quadrados do avaliador pela
interação da peça (SQAI' da Tabela A 3); este resultado é igual à soma
dos quadrados compostos (SQcomp) com (nkr - n - k + 1)85 graus de
liberdade. Então o SQcomp será dividido por (nkr - n - k + I)
encontrando daí QMcomp*. Os limites da dispersão 6-sigma serão:
VA = 6
P '>f.
~
QAf
nr
comp
R&R = J(VEjl + (I'A) 1
~
Q.H, QM -
VP 6 ' ""
kr
4
x Esta é a amplitude 99,73%. Veja nota na página vi.
x~ Onde n número de peças, k número de avaliadores, e r número de repetições
197
Apêndice A
Conccatos de Análi\c de Variância
I
Para \erificar se a mtcraçllo é. ;,agnilicatava, calcular a estatística F da interação
avaliador por peça (veja Tabela A 3). Comparar a estatística F contra um ponto
percentual supcnor de uma da;,tnbuação r como numerador e denominador , graus de
liberdade obtidos tabela ANOVA (Tabela A 3).
Para diminuir o risco de falsamente concluir que não há efeito de

interação, escolher um alto nível de significância. Uma vez
determinado o 'ator de R& R, então a % R&R poderá ser calculada em
relação ao desempenho do processo.
-
SQP- n ( L _, - _x2.
x2
)
i=l kr nkr
SQA - -L x~ x2
k ( --2:.) - _ ...
j=l nr nkr
n k r
SQT= L L L (x~m}
i= l j=l m=l
Fonte GL SQ QM F QME
- SQ,. -r 2 + ry 2 + nrCil 2
Avahador k- 1 SQA QMA- (k - I)
- SQP -r2 -l ry2+Ja-a2

Peças n SQP QMP-0J)
SQdP QMAP t2+ry2

Avaliador por Peça (n I) (k- I) SQAP QM,.P
(n - l)(k I) QM~
SQ,
Equipamento nk (r - I) SQE QMe t2
nk (r I)
Total nkr - I SQT Avaliador- N ( O,ro 2 )

Peças - N ( O,cr 2 )
Avaliador por Peça- N ( O;y 2 )
Equipamento- N ( O,-r 2 )
Tabela A 8: Análise de Variâncias (ANOVA)
As Tabelas A 4 e A 5 mostram os cálculos de ANOV A para nosso

exemplo cujos dados estão na Figura 111-b 15.
198
Apêndice A
---
Fonte GL SQ QM F QME
Avahador 2 3,1673 1,58363 79,41* -r 2 + 3y 2 - 30ro 2
Peças 9 88,3619 9,8 1799 492,29* 't 2 + 3y 2 + 9cr 2
Avaliador por Peça 18 0,3590 0,01994 0,434 't 2 + 3y 2
Equipamento 60 2,7589 0,04598 1:2
Total 89 94,647 1
• Níve l de Significância a = 0,05

Tabela A 9: Resultados Tabulados de ANOV A
Uma vez que o va lor calculado de F para a interação (0,434) é menor que o valor crítico de F0 •18,6<h o
termo de interação é composto com o termo do equipamento (erro). Isto é, a estimativa da variância é
baseada no modelo sem interação.
Estimativa Desvio Padrão % da % de

da Variância (O")
5,15 (cr)
Variação Total Contribuição
t l 0,039973 0,199933 VE = 1,029656 18,4 3,4
(bqu1pamcnto)
(l) l 0,051455 0,226838 VA = 1,168213 20,9 4,4

(Avaliador)
y2 o !NT=O o o
(Interação)
R&R 0,09143 0,302373 R&R 1,557213 27,9 7,8

('t 2 +y2 + (l) 2)
cr 2 1,086447 1,042327 VP 5,367987 96,0 92,2
(Peça)
Variação Total 1,085 VT 5,589293 100,0
Tabela A 10: Resultados Tabulados de ANOV A

ndc = 1,41 (VPIR&R) = 1,41 (6,25/ 1,56) 4,87;4
Variação Total (VT)
%da Variação Total 100 6cr(wmp<~ntnt<·<) _ IOO ( cr(componentes) )

( 6cr(/IJIU/J )
crlll1IOI'
IOO ( cr r~;•ponentes) )
2
6 2
0
/o da Contribuição (em Relação à Variáncia Total) = 100 cr,,·ompanol/('\)
==
( 6crltotu/J
)
(total)
199
Apênd1CC 0
Impacto do R& R ~ohrc o Índice de Capabilidade Cp
Apêndice B
Impacto do R&R sobre o Índice de Capabilidade Cp
Fórmulas
(1)
onde, Obs = variação do processo observado

R = variação do processo real
M = variação do sistema de m edição
ILSE LIE/
Cp~
6crX
(2)
onde, LSE e LIE são os valores superior c inferior da especificação
x = Obs ou R, conforme definido em ( I )
R&R% - R&RP * 100% (3)
com base na variação do processo:

ka...,1
6<Johs
(4)
Nota: R&RP ~ 1 desde que <J~bs ~ <J~1 pela equação (I)
com base no intervalo de tolerância:
/LSE L!E/ (5)

Em (4) c (5), k vale normalmente 6.
Análise:
cr
Cp
Obs
= Cp * R
R O"Obs
- C
- PR
* J(cr~bscr - cr~) usando (1)
Obs
com R&R baseado na variação do processo,
croh I 1 - R&R2
CpOhs Cp * ~~s_V~-------- usando (4)
R O"Obs
(6)
200
Apêndice B
Impacto do R& R sobre o Índice de Capabilidade Cp
C pR - - ..-=====---
CpObs
~(1 (6')
com R&R baseado no intervalo de tolerância

(JM
R&R * (J
usando (2) e (5)
Obs
conseqüentemente,
CpOhs CpR * ~I - (Cp0 bs * R&R)l (7)
c,
CpObs
Cp R = --;::============
~I (CpOhs * R&R)2 (7')
201
Apêndice B
lmpaclO do R& R sobre o Índtce de Capabilidade Cp
Análise Gráfica
Com base em {6), a família de linhas para CpO com relação a CpR, é:
3,5
1O Of<
3
o 2,5
"C
C'O
~ 2
C1)
U)
.c 1,5
o
c. 1
(.)
0,5
o
0,5 1 1,5 2 2,5 3
Cp Real
Figura B 3: Cp Observado vs. Cp Real {Baseado no Processo)
Real R&R
10% I 20% I 30% I 40% I 50% I 60% I 70% J 90%
Cp Observado, com Cp baseado na Variação do Processo
I-- - I--
1,3 1,29 I 1,27 I 1,24 I 1,19 I 1,13 I t,o4 I 0,93 I 0,57
Cp Observado, com Cp baseado na Tolerância
.__ I ,3 - ' - 1,29 I 1,26 I 1,20 I I, 11 I 0,99 I o,8I I 0,54 I nunca
Tabela B 2: Comparação entre Cp Observado e Cp Real
Ap\!ndicc B
Impacto do R&R sobre o ind ice de Capabilidade Cp
Com base em (7'), a família de linhas para CpR com relação a CpO, é:
%R%R 70% 60% 50%

6,0 ~---------------------------
5,0
o
"C
4,0
C'O
~
Q)
tn 3,0
~
oa. 2,0
o
0,0
0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,O 1,1 1,2 1,3 1,4 1,5 1,6 1,7 1,8 1,9 2,0
Cp Real
Figura B 4: Cp O bservado vs. Cp Real (Basead o na Tolerância)
203
)> o;!>
::r"='
"C !:!:. g·
\'atores associados com a Distribuição da Amplitude das )lédias n>• "'"-

o.ii
-- Tamanho do Subgrupo (ml . I
::::J
c.
~... r..
r:
2 3
• ~
' I 7 8 I 9 lt 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 I c;·
I 1.0
I ~1421
20
I '111~5
29
UJRIO
Jl!
241\124
4.7
~-(,7.2~3
1 5.5
I :!!\~XI
63
:!.%:!~&
7.0
3077~
7.7
3.17905
Rl
32tJlJCW
90
3 35016
'16
342378
10.2
14'1116
10.~
3.55333
113
361071
11'1
3 66-1!2
1:!~
311424
12 'I
l76lli•
IH
uosn n>
2 19 J.S 5.7 B 91 10.8 IZ.3 138 151 16.5 J7" 190 20 ..2 21.3 ~-4 :!3.5 :!.$ s ~~.S :6.~ C')
127'131 IM053M 2 15069 241).1!!.1 26043S 1.76119 2.90562 3.02446 3.12~69 l2~13.S 3.30463 3 3~1117 \.~9.2~ 3 51287 3.57156 3.61625 3 1>7734 3.72~24 1111m I
J H 5.1 ~4 11.1 136 16.0 18.3 20.5 :!2.6 246 26.5 ~k4 30.1 31'1 33.5 . 35,1 367 3R 2 39 7
1.23105 1.7b~~M, !J::o.N 2.17MM1 2_51'(127 2 74Mtl 2.MS628 300643 3.11173 3 20526 .1.2M931 J 36550 343512 3.4~? 3.55842 3.61351 3 66495 3.71319 l75XI7 ;i
4 3.7 15 112 147 18.1 213 24.4 273 30 I '2 7 3SJ J7.7 40.1 42.4 446 46.7 ~SK 50.~ 52K CJ
Cl>
1201>21 1.74'1,'1 2.10522 2.11>571 2.56%4 2.7,626 2.8'656 2 99737 3.10321 J 1'1120 I 2MI61 335815 3.42M05 3 49246 3.55183 3.60712 3.65875 3.70715 37521\H
~
5 4.6 91 11.'1 IX4 22.6 266 1 30.4 340 37.5 40.X 440 47.1 50 I 52.9 55.1 58.4 610 63 5 65.9
1.19105 I 73X57 2.0'1(>01 2.35781 2.56263 2. 72991 2.87071 2.99192 lCl'lXOK 11'1215 J.27701 3.35372 J423MI 3.48836 3.5478° 3.60328 365502 1.70352 3.74914 (')
6 5.5
J.HI081
111
1.7111911
16 7
2.0k~R5
220
2.15253
27.0
2.55795
31.8
2. 72567
I
36.4
2.86680
40.8
2.98829
45.0
3 09467
49 ()
1.1~911
52 R
127W2
5b.S
3.35077
601
3.42097
63.5
3.4R563
66.8
3.54522
70.0
3.60072
731
3.65253
76 I
3.70109
7'11
3.7467~
..
...,
'õD
7 6.4
1.17HK
12.9
I 72555
19.4
2 OK54.1
25 6
2.34875
315
2.55460
37.1
2.72263
I
42.5
2.86401
47.6
2.98568
52.4
3.09222
57. I
J.IK67~
111 6
).27 172
65.9
3.34866
70.0
341~94
74.0
348368
77.9
3.54333
RL6
3.59888
R5.3
3.65075
8RR
3 69936
92.2
3 7451~1
!>)
CJ
Cl>
'-"
8 1.2 14 K 22.1 29 2 3ú0 42.4 48.5 54.3 59 Q 65 2 70.1 75.2 ~0.0 84.6 89.0 93.3 97.4 101.4 105J ~
"'oc. 1.16794 1.72147 2.0K212 2.34591 25520K 2.72036 2.86192 2.98373 3 09039 3.18506 1271KJ6 3.34708 3.41742 l.4K221 3.54192 3.59751 3.64941 3119806 174382 Q.
9 8. 1 16.6 24.9 .12.9 40.4 47.7 54.5 61.1 67J 7U 79 I 84.6 90.0 95.1 100.1 104.9 109.5 114 I 1185
...=
etl
1.16361 I 71K2K 20N51 2.34370 2.SS0 13 2.71858 2.86028 2.98221 J OS896 .1. 18.170 12(>878 3.34585 3 41624 3.48107 3.54081 3.59644 3 64838 369705 174284
"'
,r:;, 10 9.0 18.4 27.6 .165 449 52.9 60.6 67.8 74.8 81 5 K79 94.0 QQ,9 1056 111.2 116.5 121 7 126.7 13 1.6
= 'Jt
Cl'.l
1.16014
-9-9~-
171SH
-20.2-
207746
. 30.4
2.14 192
40 I
'
2.54K1_(,_
494
2.71717
58.2
2.85898
66.6
2.98100
74.6
3 0878 I
822
3.18262
896
126775
91111
3.34486
1014
3.41529
109.9
3.48016
116.2
3.53993
122.3
3.59559
128.1
3.64755
nu
369625
IW.4
3 74205
144 7
~
I 15729 (71)61 20B77 2J4114K 2.54728 2 71600 2.85791 2.98000 ).08688 .1.18174 .1 26690 3.34406 341452 3.47941 3.53921 3.59489 3 64ú87 3.6Q558 374141
N "'... 12
Q 10.7 220 .131 437 53M 63.5 ":!.6 813 897 '17 7 lOS 4 112.7 119.9 126.7 133.3 1398 146.0 15!0 157_9
o 1.15490 I 71189 2.074;\ó 2.11927 2.54621 2.71504 2.8Y102 2 97917 3 08610 J.ISHKl .1 261120 3.'4339 3.41387 3.478"9 3.53K61 3.59430 3.64630 .1.6~503 .1.74087
~
"'E 13 116 238 35 X 47J 5n 68. 78.6 881
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144.4 151 4 15K 1
3 64582
164 7 1710
-z= 14
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12.5
I 71041
2~ 7
2.071111
J~.ll
2..1JK24
~lO
2.54530
6a
2 "J422
'4.0
2.8562'
84.., ~9
1.0~544
1046
.111\037
li H
3.26561
1229
3.34282
131 5
3.4DJJ
139~ 147.~
3.53810
155.5
3.59381
1630 170.3
3 69457
177.3
3.74041
184 2
J.J5115 I 7091~ 2.072ll 2.33717 2.544Ci1 171351 2.85561 2 9'787 3.08487 3.17'1~4 12M lO .1.34233 3.412~6 14771<1 3 53766 3.59339 364541 3.~17 3.7~002
15 IH 27.5 41 .3 546 67.2 79.3 90.' 1016 112.1 r~1.1 131.7 140.9 149~ i 158.3 166.6 1 174.6 18H 1900 197.J
114965 170.••14 20712.~ 23~661 2 543~5 271290 2.85506 2 97135 1.0MJ~ 3.1NJK 326465 3.34191 3.4124~ 347742 3.53728 359302 3 64505 3.693~2 l .B%9
16 J 14J.J4833
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3.34154
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1689
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177.7
3 53695
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1863
3.59210
1~6
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1 693SI
210.4
173939
17 151 31 I 46.8 618 76.2 89.8 102.8 lJ5 I 127.0 IJKJ 14Q.2 159 6 1697 179.4 1888 1 197.9 206.1 215..2 22.36
1.14717 I 71!623 20697!t 2 33535 2 54274 2 7Jl90 2 85413 2.97649 3 01<35~ 3 17861 3.26393 D4111 H117~ 3 47677 3.53666 3.59242 3 64447 3 69325 3 739JJ
18 116.0
1.1461.1
32.9
170547
49 5
206~17
65.5
2334K1
1!0.6
2.5422R
95.1
2.71148
108.8
1.853'5
121.9
2.976JJ
1344
J 0~124
1464
3,17MZ9
157.9
J 2b362
1690
3 34092
179.;
3.41150
1900
3.47650
199.9
3.53640
I
2095
3.59116
2188
3.~~.:!
2.!7.Q
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19 169 347 52.) 6'11 K51 1003 114.8 128.7 141.9 IM7 178 4 1896 100.5 2110 1310 2405 249.8
1.14520 I 71).tl<ll 2.0bkb.Z 233436 2.54187 271111 285341 2 975~1 1.0..2'14 3.17801 3 26335 D4066 HII2S 3.47626 3 64400 3 óQ2~0 3 71~69
20 171\
1.14437
,'16.5
1.7041~
55.0
2 06~ll
727
2.1.1.194
896
2.54149
105.6
2.71077
120.9
2.85310
1.15.4
2.91552
149.3
J .OS267
162.7
1.17775
ms
3.26311
IK7 ~
3.34042
1'196
HIHH
2110
347605
222.1
3.53596
I
2328
3.59174
2431
3 64380
2Sl1
3 69260
263 o
373850
d,
ctl
1.12838
o 876
I 6'1257
1815
2 OSX71
2 7378
2 J259J
3.623
253441
4.4658
2. 70436
5.2673
I 6.0305
2.8472 2.97003
6.75M2
3 07751
7.4539
) 172~7
8 1207
1251!46
81602
3.33598
91751
140676
9.9679
1.47193
10.5396
3.5319H
11.0913
3.5K7~M
11.6259
3 64006
12.144
36!1~96
12.646R
3 735
ll 1162
Entradas da Tabela: Na primeira linha de cada célula estão os graus de liberdade (v) c na segunda linha estão os valores de d2': os valores d 2 constituem os limites das séries
infinitas de d,"; valores adicionais de v podem ser obtidos a partir da diferença constante cd.
Nota: A notação utilizada nesta tabela segue a da Acheson Duncan Quality Control and Industrial Statistics, 5a. edição, McGraw-Hill, 1986.
v (R / d~)zj cr'~ está distribuída aproximadamente como a distribuição de x 2, com v ~,rraus de li berdade c onde R é a média das amplitudes de g subgrupos de tamanho m.
~~~---------------------------------------·~ --~~--
Apêndice C
Tabela C I: Tabela d2
205
Apêndtce ('
Tabela d
Apêndice D
Estudo de Repetitividade do Dispositivo de Medição
~~----------------------------------
Aplicação:
• Permite a determinação preliminar da repetitividade do

dispositivo de medição, num curto-pra/O, apenas.
• Pode ser usado pelo fornecedor para examinar o dispositivo de
medição antes do seu envio ao cliente.
• Pode ser usado na pré-produção, quando a disponibilidade de
peças é mín ima.
• Pode ser usado durante o desenvolvimento do dispositivo de
medição - exemplos: para comparação rápida de diferentes posições
de fixação da peça; para comparar diferentes metodologias.
• Este método NÃO PODE ser usado para a aceitação final do
dispositivo de medição, sem outros métodos de análise dos
sistemas de medição (MSA), mais completos c mais detalhados.
Premissas:
• A estabilidade do processo e sua variação não podem ser

conhecidas neste momento.
• A linearidade e a tendência não são problemas.
• A reprodutibilidade não é considerada aqui. O propósito é
enfocar somente a repetitividade do dispositivo de medição.
• Uma carta de Valores Individuais e Amplitude Móvel (liAM)
fornecerá uma avaliação mín ima da estabi lidade.
Análise:
Obter uma peça e um operador; colocar a peça no dispositivo de

fixação e medir; retirar a peça do dispositivo; repetir isto mais 9 vezes
com a mesma peça e o mesmo operador.
Plotar os dados obtidos numa carta de controle 1/ AM; avaliar a
estabilidade. Se os dados se mostrarem instáveis, realizar ação
corretiva. 86
Se estáveis, calcular o sigma das medidas individuais por meio do s,
consideradas todas as leituras, ou por meio de AM/d2*; multiplicar o
resultado por 6; dividir este resultado pela tolerância da característica
e multiplicar por I 00%. Analisar a %Repetitividade contra os padrões
anteriormente estabelecidos para a aceitação do dispositivo de
medição, ou utilizá-la durante o desenvolvimento do dispositivo de
medição com propósitos de comparação.
RI• Aqui pode ser n~cessário um pouco de bom senso, pois I O subgrupos de dados individuai& é insulicienle pam avaliar a estabi lidade; contudo,
instabilidade:. óbvias podem ainda ser idcntilicadas, valorizando a anâlisc.
206
Apêndice D
E~tudo de Rcpclltividadc do Dispositivo de McdiçOo
207
Apênd1cc D
L~tudo de Rcpct•tlvJdadc do D1;positi'o de Medição
Apêndice E
Cálculo Alternativo da Variação da Peça (VP) Usando
um Termo de Correção do Erro
A Variação da Peça (VP) foi definida aqut como ~VT2_ R&R2.

Como esta definição de variação da peça pode incluir a Variação do
Equipamento (VE), por ve/eS é importante eliminar esta influência.
Isto pode ser feito pela fórmula apresentada a seguir (observar a
similaridade com a fórmula de cálculo da variação entre avaliadores
VA, onde também VE é eliminada).
onde,
Rp = amplitude das médias das peças, k = número de avaliadores, r =
número de repetições.
87
Este método de cálculo para a VP foi publicado em 1997. Ele está
aqui apresentado como uma alternativa estatisticamente mais correta
do que a definição da VP comumente aceita historicamente e
utilizada neste manual. Geralmente, quando a VE contamina a VP,
causa nesta uma variação de um ou dois pontos percentuais.
K? "Rcliublc Datn is an tmportant Conunodity", Donald S. Ermcr c Robin Yang E-I lo~. Univcrsity o f Wisconsin, Madison, published in Thc
Standard, ASQ Ncw~lcttcr ofthe Measurcmcnt Quality Division, Voi. 97-1, Wintcr, 1997.
208
A(l<!nd1ce I
CJiculo Alternativo da vanação da Peça (VP) Usando um Tcnno de Correção do l·m)
209
Apêndice E
Cálculo Ahcm:u.-o da variação da Peça (VP) Usando um Termo de Correção do Frro
Apêndice F
Modelo de erro P.I.S.M.O.E.A.
Similar a todos os processos, um sistema de medição sofre o impacto

das fontes de variação aleatória e sistemática. Estas fontes de variação
decorrem de causas comuns c especiais (caóticas). Para entender,
controlar, c melhorar um sistema de medição, as fontes potenciais
devem inicialmente ser identificadas. Embora as causas específicas
dependam da situação, um modelo geral de erro pode ser usado para
categorizar as fontes de variação de qualquer sistema de medição.
Existem vários métodos de apresentar e categorizar estas fontes de
variação: usando simples diagramas de causa e efeito, usando
matrizes, ou diagramas tipo árvore.
O acrônimo P.I.S.M.O.E.A.KH representa um outro modelo útil para
definir o sistema de medição por meio de suas fontes básicas de
variação. Não é o único modelo, mas suporta uma aplicação
universal.
Fonte de Erro I Descrição ou Componente Fator ou Parâmetro

p Pt:ça Peça de produção, amostra, mensurável, I Desconhecido
Unidade Sob Teste (UUT), artcfàto, padrão de
verificação
I ln~trumento Dispositivo de medição, unidade de M & TE, Meios de comparação
dispositivo mestre de medição, máquina de
medir, bancada de teste
'"$ Padrão Escala, referência, artefato, padrão de Valor conhecido como
verificação, padrão intrínseco, consenso, verdadeiro*, valor de
Materiais de Referência Padrão (SRM), referência, ou critérios
classe, critérios de aceitação de aceitação
M Método Treinamento no posto de trabalho, verbal, Como

instrução de trabalho, plano de controle, plano
de inspeção, programa de teste, programa da
peça
r-
o ()pt:rador Avaliador, técnico em calibração ou teste, Quem
assessor, inspetor
F Ambientt! Temperatura, umidade, contaminação, Condições de medição,
limpeza, iluminação, posição, vibração, ruído
potência, Interferência Eletromagnética
(EM I), ruído, tempo, ar
~
A
r-p--.
rcm1ssas Estatística, operacional, calibração, Critérios, constante, ou
constantes, valores numéricos contidos em suposição de medição
manuais, estabilidade ténnica, módulo de confiável
1 elasticidade, leis da ciência
* Os valores verdadeiros real ou físico são desconhecidos.
A descrição da fonte de erro varia confonnc a aplicação da medição e

confonne a indústria. Estes são exemplos comuns. Contudo, o efeito
na característica e no parâmetro é sempre o mesmo.
HMP.I.S.M.O.F.A. foi originalmente desenvolvido por Mr. Gordon Sl..attum, Scnior ASQ CQE, metrologista c Diretor da lntegratcd
Manufactunng do Rock Vallcy Collcgc Technology Center
210
Apêndice F
Modelo de Erro P.I.S.M.O.E.A
Todos os métodos de Análise dos Sistemas de Medição são

ferramentas da qualidade. Todas as ferramentas da qualidade estão
baseadas em premissas. Se uma premissa é violada, a ferramenta
torna-se imprevisível, ou, ainda pior, pode levar a uma falsa
conclusão.
As típicas premissas estatísticas de um estudo de Repetitividade e
Reprodutibilidade do Dispositivo de Medição (R&R), incluem:
processo normal, medições independentes c aleatórias, estável, e
critérios de teste/retestc. Quando uma ou mais premissas é violada
(exemplos: processo de medição não-normal, tendência gerada pelo
operador), a ferramenta c a anàlisc definitivamente tornam-se
instáveis, confusas, c geradoras de erros. As avaliações da %R&R
para o controle do produto ou do processo podem estar
superestimadas. Existem também premissas não estatísticas
relacionadas com os sistemas de medição (exemplos: calibração,
operacional, coeficientes c porcentagens de expansão, leis físicas, e
constantes). Aquele que planeja a medição deve ser capaz de
identificar, controlar, corrigir, ou modificar o método de MSA para
acomodar as violações significativas das premissas de um processo de
medição.
A violação dos critérios de teste reteste é sempre uma consideração
importante para os testes destrutivos ou sistemas de medição usados
no processo de produção onde a característica está mudando. Aquele
que planeja a medição deve levar em conta as adequadas técnicas
híbridas, modificadas ou alternativas para o estudo padrão do sistema
de medição.
As premissas tendem a afetar significativamente a variação total da
medição quando: I) se usa métodos ou instn1mentos mais poderosos
(exemplos: ANOYA, análise de regressão, delineamento de
experimentos, previsões probabilísticas c cartas de controle), e 2) a
precisão da medição aumenta. As aplicações de medição de alta
precisão devem frequentemente ser planejadas, e algumas vezes
requerem correção de coeficientes de expansão térmica, deformação,
contração, ou de outras premissas do processo de medição.
O maior perigo para um analista de qualidade ou planejador da
medição com relação às premissas, é supô-las insignificantes ou
constantes, e, por causa disso. são muito frequentemente ignoradas.
A tabela F-1 apresenta exemplos do modelo PISMOEA para três

diferentes situações de medição.
Apênd1CC F
\.1odclo de I rro P.I.S.M.O.P..A
Fonte
de Frro
I fípico de Produção,
MSA t\utomotivo
Automático no Processo ou
Bancada de Teste
Calibraçào
p Peças de produção Unidades de produção, Dispositivo de Medição,

aleatória, amplitude global amostras de teste, padrões de UUT, amostra de teste,
do processo \erificação, artefatos mensurável
I Tipo único de dispositivo DCC CMM, bancada de teste Dispositivo de medição
de medição na produção mestre, equipamento
mestre
s Escala, padrão mestre, ou Escala e geometria, padrões Padrão mestre, referência,
classe; cumpre a "regra I O para teste de referência intrínseco ou consenso,
a I" artefato
M Procedimentos S.O.P. documentado, Documentado,

Operacionais Padrão programa DCC, ou ciclo de procedimento formal de
(S.O.P.), frequentemente teste automático calibração
verbal, pode ser
documentado, plano de
controle
o (2-3) típicos, treinados, Operador de teste restrito, Técnico qualificado, ISO
quem normalmente opera treinamento especializado 17025, evidência de
e habilidade competência
E Produção estável e Geralmente controlado Limites de controle,

condições de operação otimizado, fonte básica
de erro
A Estatística, geralmente Estatística, específica aplicação Não pode ser suposto,

ignorada fonte básica de erro
Propósito Controle do Processo Controle do Produto, Controle do Produto,

(CEP) Inspeção I 00% tolerância de calibração
Tabela F 2: Exemplo de Modelo de P.l.S.M.O.E.A
Para as fontes específicas de erro, o grau de influência e contribuição

para a variação da medição dependerá da situação. Uma matriz, causa
e efeito, ou um diagrama de árvore de falhas, são ferramentas úteis
para identificar c entender as fontes dominantes de variação da
medição para o controle c melhoria.
A análise dos sistemas de medição começa pelo entendimento do seu
propósito e do processo de medição. Todas as fontes de erros caóticos
e ilegítimos (não permitidos pelas regras) devem ser removidas. Um
estudo da medição é um experimento planejado que segue conceitos
simples: DEFINIR as fontes significativas de erro, REPARAR
algumas delas, permitir um ou mais fatores de CONTROLE para
modificar, MEDIR em múltiplas repetições, ANALISAR os
resultados, e AG IR (IMPLEMENTAR AÇÃO).
212
Apêndice r
Modelo de Erro P.I.S.M.O.E.A
213
GLOSSÁRIO
Veja definições adicionais a este glossário no Manual de Referência do Contro le Estatístico do Processo
(CEP).
5.15 vs. 6 ~R.tR Fator Multiplicador Veja nota na página vi.
Análise de Regressão Estudo estatístico sobre o relacionamento existente entre duas ou mais
variáveis. Cálculo para definir o relacionamento matemático entre duas
ou mais variáveis.
Análise d e Variância Um método estatístico (ANOVA) geralmente utilizado no

Delineamento de Experimentos (DOE) ao estudar dados variáveis de
múltiplos grupos, comparando-se as médias e analisando-se as fontes
de variação.
Calibração Conjunto de operações que estabelece, sob condições especificadas, o

relacionamento entre um aparato de medição e um padrão rastreável de
conhecido valor de referência c incerlen. A calibração pode também
incluir atividades para detectar, correlacionar, relatar, ou eliminar por
ajuste qualquer discrepância de exatidão do aparato de medição sendo
comparado.
Capabilidade Estimativa da variação combmada dos erros de medição (aleatórios e

sistemáticos) baseada numa a\ a h ação de curto prazo do sistema de
medição.
C apabilidade no Longo Prazo Medida estatística da vanação dentro de um subgrupo (within-

subgroup) apresentada por um processo no decorrer de um longo
período de tempo. Isto difere do desempenho pois não inclui a variação
entre subgmpos (hetween mhgroup).
Carta de Controle Gráfico de uma característica do processo, baseado em medições de

amostras tomadas ordenadamente no decorrer do tempo, usado para
mostrar o comportamento do processo, identificar seus padrões de
variação, avaliar a estabilidade, c indicar as tendências do processo.
Mostra os valores plotados de alguma estatística obtida de
uma característica, uma linha central, e um ou dois limites de controle
Minimiza as perdas restantes dos erros do Tipo l c Tipo 11
Tem dois usos básicos: o julgamento para determinar se um
processo está operando sob controle estatístico e ajuda na manutenção
do controle estatístico
Concordância entre avaliadores (Também confiabilidade entre avaliadores ou concordância). O grau de

concordância entre a"ahadore'>. Ele dá uma pontuação da magnitude de
homogeneidade, ou con~cn~o que existe numa classificação atribuída
aos a'aliadores.
Há uma série de estatísticas que podem ser usadas para determinar a
confiabilidadc entre os avaliadores que são adequadas para os
diferentes tipos de med1ção. Algumas opções são: probabilidade
conjunta de concordância, Cohen's kappa e a relação Fleiss· kappa,
correlação inter-a\ahador, coeficiente de correlação de concordância e
correlação intra-classc.
Controle do Processo Estado operacional quando a finalidade da medição e o critério de

decisão aplicados em tempo real à produção, para avaliar a estabilidade
do processo c o mensurando ou a~ características da variação natural do
processo; o resultado da medição indicará se o processo está
"estável"/"sob controle" ou "fora de controle".
2 14
Glossário
Controle do Produto Estado operacional quando a finalidade da medição e o critério de

decisão aplicados para avaliar o mensurando ou uma característica
quanto à conformidade a uma especificação; o resultado da medição
será "dentro da tolerância" ou "fora da tolerância··
Dados Coleção de observações feitas sob um conjunto de condições, que

podem ser mruíve1s (valor quantificável com unidade de medição) ou
discretas (atributo ou contagem tais como aprovado/rejeitado,
bom/ruim, passa/nilo-passa, etc.).
Delineamento de Experimento Estudo planejado envolvendo análise estatística de uma série de testes
para os quais, propositadamente, são feitas modificações nos fatores do
processo; desta forma, os efeitos são observados para se determinar as
relações existentes entre as variáveis do processo e, assim, poder
melhorá-lo.
Desempenho Estimativa da variação combinada dos erros de medição (aleatórios e

sistemáticos) baseada numa ava liação do sistema de medição no longo
prazo; inclui todas as fontes de variação significativas c determináveis
atuantes no decorrer do tempo.
Diagrama de Dispersão É um gráfico X Y feito com dados para avaliar o relacionamento

existente entre duas variáveis.
Discriminação Conhecida também como a menor unidade de leitura, a discriminação

é a resolução da medição. hm1te de escala, ou a menor unidade
detectá\el por um dispositiVO de medição e seu padrão. É uma
propriedade inerente ao proJeto do dispositivo de medição e é relatada
por meio de uma unidade de medição ou classificação. O número de
categorias de dados é frequentemente descrito como sendo a
proporção de discriminação, pois ela descreve quantas classificações
podem ser diferenciadas de mane1ra confiável para uma dada variação
de processo obscn a da.
Distintas Categorias de Dados Número de classificações ou categorias de dados que podem ser
diferenciadas de maneira confiável. Esse número é determinado pela
resolução efetiva do sistema de medição e pela variação das peças
provenientes do processo observado numa dada aplicação. Veja ndc.
Erro do Sistema de Medição É a variação combinada decorrente da tendência do dispositivo de

medição, repetitividade, reprodutibilidade, estabilidade e linearidade.
Estabilidade A ausência de causas especiais de variação; a propriedade de estar sob

controle estatístico.
Refere-se aos conceitos de estabilidade estatística de um processo de
medição e estabilidade da medição ao longo do tempo. Ambos são
essenciais para o sistema de medição ser adequado ao propósito
pretendido. A estabilidade estatística implica em um processo básico de
medição pre' ishel, operando com causas comuns de variação (sob
controle). A estabilidade da med1ção (também conhecida por dri(t.
deslocamento lento c gradual) permite manter a necessana
conformidade aos padrões de medição ou às referências de medição no
decorrer de seu tempo de \ida útil (tempo de operação) do sistema de
medição.
Exatidão Proximidade de coincidirem: um "valor obscn·ado" e o respectivo

"valor de referência" acordado
Fora de Controle Estado de um processo que apresenta variação caótica, assinalável, de

causa especial. Um processo que está fora de controle é
estatisticamente instável.
215
FproporçAo Valor estatístico que representa a proporção matemática entre o "erro
( F rouo) quadrático médio entre grupos" c o "erro quadrático médio do próprio
grupo" num conjunto de dados usado para avaliar a probabilidade de
ocorrência aleatória em determinado nível de confiança.
Histograma Representação gráfica (em barras) da frequência de dados agrupados

que permite a a"'aliação '1sual da distribuição desses dados.
ln certe~:a Parâmetro associado ao resultado de uma medição que caracteriza a

dispersão de valores que podena razoavelmente ser atribuída aos
mensuráveis (VIM); a amplitude associada a um resultado de medição
que descreve, dentro de um nível de confiança definido, os limites entre
os quais se situa o resultado verdadeiro da medição. A incerteza é uma
expressão quantificada da confiabilidade da medição.
Independente A ocorrência de um evento ou variável não tem qualquer efeito sobre a

probabilidade de outro evento ou variúvcl ocorrer.
Independente e Frequentemente chamado "iid". Um grupo homogêneo de dados

Identicamente Dis tribuído independentes c aleatoriamente distribuídos segundo uma distribuição
comum.
Interação Efeito combinado ou resultado significativo oriundo de duas ou mais

variáveis. Não-aditi"'idade entre avaliador e peça. Diferenças entre
avaliadores dependendo da peça que está sendo medida.
lnten alo de Calibração Um intenalo de tempo ou conJunto de condições especificadas entre

sucessivas calibrações, durante o qual o:. parâmetros de calibração de
um dispositi\ o de medição são considerados válidos.
lnten alo de Confiança Intervalo ou amplitude de valores, calculados a partir dos dados da
amostra, que contém, com um (I 00-n) grau de segurança, o parâmetro
populacional de interesse, C:\emplo, a média da população verdadeira a
chamada de Nhel de Signdicância, é a probabilidade de ocorrer um
erro do Tipo J.
Veja Montgomery (1997) ou Jurao and Godfrcy (1999) para os
métodos de cálculos.
Kappa (C'ohen 's) Uma medida estatística da concordância entre os avaliadores para itens
qualitativos (categóricos). Leva em conta a ocorrência de concordância
pela probabilidade.
Linea ridade Diferença dos erros de tendência ao longo da amplitude de operação do

sistema de medição. Em outros termos, a linearidade expressa a
correlação de múltiplos e Independentes erros de tendência sobre a
amplitude de operação.
Mensurando A part1cular quantidade ou assunto a ser medido sob condições

especificadas; um conjunto dctinido de especificações para uma
aplicação de medição.
Metrologia É a ciência da med1ção.
Não-Replicá\CI Incapacidade de se fa.rer repetidas medições numa mesma amostra ou

num mesmo componente devido a natureza dinâmica do mensurando.
ndc Número de distintas categorias. I ,41 [ VP/R&RJ.
Nivel de Significância Nível estatístico selecionado para testar a probabilidade de resultados

aleatórios; também se associa com o risco, expresso como risco alfa
{et), que representa a probabilidade de uma decisão errônea.
Número de Distintas Categorias Veja ndc.
Precisão F. leito resultante da discriminação, sensibilidade c repetiti' idade ao

longo da amplitude de operação (tamanho, amplitude e tempo) do
sistema de medição. Em algumas organi1açõc~ a precisão é
intereambiada com a repetitividade. De fato, a precisão é mais
frequentemente utili;ada para descrever a variação esperada das
medições repetidas ao longo da amplitude de medição; isto dc-.e ser
considerado tanto em tamanho como no tempo. Em 'ez do tem1o
..prec1são", prefere-se o uso dos termos que a compõe por serem mais
descritiVOS.
Probabilidade Estimativa (em proporção ou fração), baseada numa particular

distribuição de dados coletados. que dcscre\t! a chance de um
específico e' ento '1r a ocorrer. A estimati\ a da probabilidade 'a ria
entre O (evento impossível) e I (evento certo). ConJunto de cond11;ões
ou causas atuando em conjunto para produzir um rc~u l tado.
Repetitividade Uma causa comum. variação aleatória resultante de sucessnas

repetições, feitas sob condições de medição detimdas. Frequentemente
descrita como a 'anação do equ1pamento (VE). embora isto seJa
incorreto. O melhor termo para a repetitividadc é a "variação do
próprio sistema" quando as condições de medição estão determinadas c
definidas peça fixada, instrumento, padrão, método, operador.
ambiente. e prem1ssas. Adicionalmente à \anação do próprio
equipamento, a repctiti\idade mclui também todas as ·variações
próprias provenientes das condições do modelo de erro da medição
Replicação Medições múltiplas, feitas sob (idênticas) condições de rcpetitividadc.
Replicável Capacidade de se fa1cr repetidas medições numa mesma amostra ou

componente que não apresentam modificação fisica significativa
quanto ao mensurando ou quanto ao ambiente de medição.
Reprodutibilidade Variação na média das medições causada pcla(s) condição(õcs)

normal(is) de variação do processo de medição. Geralmente. a
rcprodutibilidadc tem s1do definida como a 'anação da méd1a das
medições de uma mesma peça (mensurando) entre diferentes
aval1adores (operadores) que usam o mesmo instrumento de medição c
método num ambiente estável. Isto é frequentemente verdade para
instrumentos manuais influenciados pela habilidade do operador. Não é
verdade, contudo. para processo~ de medição (por exemplo: sistemas
automáticos) onde o operador não e a principal fonte de variação. Por
esta ra1ão, a reprodutibilidade refere-se à variação da média "entre
sistemas" ou "entre condições de medição".
R&R do Dispositivo de Medição Estimativa da vanação combinada da rcpetitividade c reprodutibilidadc

de um sistema de medição. A variância do R&R é igual à soma das
variâncias "do própno sistema" e "entre sistemas".
Resolução Pode ser aplicado à resolução de medição ou resolução efetiva. É a

capacidade do sistema de medição detectar e fie lmente indicar sempre
menores mudanças da característica medida (veja também
discriminação).
A resolução de um sistema de medição é õ se houver idêntica
probabilidade de o valor indicado para qualquer peça cuja diferença
para uma peça de referência for menor que õ ser coincidente com o
valor indicado para a peça de referêncta. A resolução de um sistema de
medição é afetada pelo instrumento de medição, bem como por outras
fontes de variação do sistema de medição.
Gl<ls~:\ri<l
Resolução Aparente Tamanho do menor incremento de leitura na escala do instrumento de

medição. Geralmente este valor é utilizado na literatura como
propaganda para classificar o instrumento de medição. Determina-se o
número de categorias de dados dividindo-se a variação total do
processo (6o) pelo tamanho do menor incremento de leitura na escala
do instrumento de medição.
NOTA: A quantidade de dígttos mostrados ou registrados em relatórios
nem sempre indica a resolução do instrumento. Por exemplo, peças
medidas com \alores 29,075 29.080 29,095. etc., são registradas
como tendo cinco (5) dígitos mensur{l\-eis; contudo. o instrumento pode
não ter uma resolução de 0,00 I. em ve.l disto, tem uma resolução de
0,005.
Resolução Efetiva Tamanho das categorias de dadol> quando se considera toda a variação
do sistema de medição. Esse tamanho é determinado pelo comprimento
do intervalo de confiança baseado na variação do sistema de medição.
O número de distintas categorias, nde, pode ser determinado dividindo-
se a variação total do processo pelo tamanho das categorias de dados.
Para a resolução efetiva, uma estimativa padrão do ndc (com nível de
confiança 97%) é 1,41 (PV/GRR]. (veja Whecler, 1989, para uma
interpretação alternativa).
Sensibilidade O menor estímulo de entrada (input) num dispositivo de medição que

resulta em um sinal de saída (output) detectável. Um instrumento de\ e
ser pelo menos tão sensÍ\ cl quanto sua unidade de discriminação. A
sensibilidade é dctcrmmada pelo projeto inerente do dispositi\ o de
medição c a qualidade. pela sua manutenção em trabalho. e condições
operacionais. A sensibilidade é relatada e registrada em unidades de
medição.
Sistema de Medição Coleção de instrumentos ou dispositnos de medição. padrões.

operações, métodos, disposittvos de fixação, software, pessoal,
ambiente, c premissas usadas para quantificar a unidade de medição ou
corrigir a aval iação da característica sendo medida; o processo
completo utilizado para obter medições.
Sob Controle Estado de um processo que apresenta somente variação aleatória, de

causas comuns (em oposição ao processo que apresenta variação
caótica, assinalável, de causas especiais). Um processo operando
somente com variação aleatória é estatisticamente estável.
Tendência Diferença entre a média de medições observadas (medições executadas

sob condições de rcpctitividade) e um valor de referência;
historicamente conhecida como exatidão (accuracy). A Tendência é
avaliada c expressa para um determinado ponto pertencente ao campo
de operação do sistema de mcdtção.
Teorema de Baycs Uma fórmula matemática utili/ada para calcular probabilidades

condicionais.
A probabilidade de uma hipótese G condicional. suJeita a uma
determinada massa de dados M, é a falão da probabilidade
incondicional de uma conjunção de hipóteses com os dados de uma
probabilidade incondicional dos dados so.linhos.
A probabilidade da condiciOnal G em :vi é definida como PM (G) -
P(G&M)/ P(G) desde que ambos os termos desta razão existam e P(G)
>0.
Tolerâ ncia Desvio permitido de um valor padrão ou nominal que ainda mantém o
ajuste, a forma c a função.
Unimodal Um grupo de dados adjacentes que apresenta uma única moda.
218
Glos~árío
Valor de Referência Um valor mensurável admitido e aceito para servir como referência ou
como valor padrão para comparação:
Um valor teórico ou um valor estabelecido com base em
princípios científicos;
Um \alor des1gnado com base em alguma organização
nacional ou internacional.
Um valor de consenso baseado em trabalho experimental
cooperativo, patrocinado por um grupo científico ou de engenharia;
Para uma aplicação específica. um 'alor acordado, obtido por
meio de um método de referência aceito.
Um valor compath.el com a definição de uma quantidade específica, às
vezes aceito por convenção como apropriado para um determinado
propósito.
NOTA: Outros termos utili:tados como sinônimos para "valor de
referência" são:
valor de referência aceito
valor aceito
valor convencional
va lor verdadeiro convencional
valor designado
melhor estimativa de um valor
valor padrfso
medição padrão
Variação da Peça Relacionado à análise dos Sistemas de medição, a variação da peça

(VP) representa a vanação esperada de peça-a-peça e a \ariação
esperada no decorrer do tempo para um processo está\"el.
Variação entre A\oaliadores Variação na média das med1ções de uma mesma peça (mensurando)
entre diferentes aYaliadores (operadores). utilizando o mesmo
instrumento de med1ção e o mesmo método num ambiente estável. A
'ariação entre a\ ali adores (V A) é uma das fontes comuns de 'a ri ação
do sistema de medição (erro); essa variação resulta de diferentes
habilidades ou de d1ferentes técmcas ao usar o mesmo sistema de
medição. A variação entre avaliadores é comumente considerada como
o "erro de reprodutibilidade" associado ao sistema de medição; no
entanto, isto nem sempre é verdade (veja Reprodutibilidade).
Variação Peça-a-Peça Variação peça-a-peça decorrente da medição de diferentes peças.
219
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222
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Exemplos de Formulários
O leitor tem permissão para reproduzir os formulários apresentados nesta seção, para uso interno apenas,
não para uso comercial ou revenda.
Os formulários desta seção representam uma possível forma de coletar dados e relatar a
Repctitividade & Reprodutibilidade do Dispositivo de Medição R&R.
Eles não excluem o uso de outros tipos que contenham
as mesmas informações e condu1em aos mesmos resultados.
224
Folha de Coleta de Dados para a Repetitividade c Rcprodutibilidade do Dispositivo de Medição
-
Avaliador/ PEÇA
MÉDIA
l\1ediçio ;:-.;•
- A I
I 2
I
3 4 5 6 7 8 9 lO
2
1-·
3
~éd1a Xa =
t-
Amplitude R =
•
B 1
2
3
1-
-
Média
Amplitude
-- -- Rbxh - -
- t - -- --
c I
1-
2
3
Méd1a Xc =
Amplitude R< =
Médta por Peça

x ..
Rp =
• R = <[ R.= ] + (R,= ]) + [R, - ]) '(# N• DE AVALIADORES ]• R =
X111n • [.~1ax x- } - [MinX = } = x{),f =

*I.SCR [R }x[D, = }=
•o, 3,27 para 2 medições repetidas c 2,58 para 3 medições repetidas. LSC'R representa o limite de controle
para os R :v, individualmente considerados. Circular aqueles que se situam além deste limite. Identificar a causa
c corrigi-la. O mesmo avaliador deve repetir estas leituras sobre as mesmas peças originalmente usadas, ou
descartar tais leituras. Refazer então todos os cálculos de médias, do R, c do LS('R com as leituras restantes.
Observações:
225
-
Relatório de R epetitividade e Reprodutibilidade de um Dispositivo de Medição
-N e Nome da Peça Nome do D•sposit~>o de 'Yfed•çào Data
( \\rac:tcrl,tlca~~ N• do Dispositi"o de \ied1ção: Rcahado por:
r,Jl<.'Citicaçõe> Tipo do D1spo"t'"o de \ied1ção
Da ~olha de
RegJStro de Dados
R XDIF = Rp
A nálise na Unidade d e M edição o/e sob re a Va r iação Total (V7)
Rcpctlli" idade Vanaçào do Equipamento (VE) 'Vd~
VE - Rx K1 \ltdlçllt•
Rtptddas
K, ~~,vE 100 [VEIVT)
X
2 0.8862 100 r I 1
Rcprodutibilidadc Variação entre Avaliadores ( VA)

3 0,5908 - o/o
VA ~(xm,· xKz?- (VEZ j(nr)) ",JVA 100 (VAIVT]
~(_x_f- ( __
2
/Lx_)) 100 L I 1
Jló•de
Auliadoret. 2 3 o/o
n n J••pt~··n r n· 1/( m~c.lii''~' rt>petidas K, 0,7071 0,5231
Rcpcllllvidadc & Rcprodutibilidade (R&R)
R&R ~ VE2 1- VA 2 ":R&R,. 100 [R&R/I'T]
~(-2+_2)
'\i•dt
KJ
Prç•• - 100 r I l
Variação da Peça ( VP)

2
3
0.7071
0.5231
- o/o
VP = R, X KJ 4 0,4467 0
óVP .. 100 [VP VT]
= X 5 0,4030 100 r I _l
- 6 0,3742 o/o
Vanaçào Total ( V1) 7 0,3534
vr ~R&R 2 + VP~ 8 0,3375 ndc t.4t(V%&Rl
~(-2 +_2) 9 0,3249

1.41( I )
- r--
., lO 0,3 146
1-
Para informações sobre a teoria e valores das constantes utili7adas neste formuláno, veJa o
Manual de Referência Análise dos Sislema.v de Medição (MSA), Quarta Edição.
'--
226
227
,
lndice
228
Índice Remissivo
Abordagem da Detecção do Sinal, 145 182,183,184,198,207,211,212,213,217,222,

Aleatório. 213, 223 223,226,227
Alcatorização, 76, 106 Efetividade. 141, 142
Ambiente. 16, 37, 51, 54. 211 Ergonomia, 38
Amplitude, 38, 90. 95, I 03, 104, I 05, I lO, 111, Erro,l9,39, 79,80,97, 114,115,182,209,211,
124, 126. 128. 129, 130, 131, 160, 163, 171, 176, 213,218
177. 188. 203, 207,223, 226 Erro, Gráfico, I 14
Análise de Variância- ANOVA, 103, 105, 109, Erro de Localização, 79
125, 126, 127, 128, 129, 130, 131,161, 163, 165, Erro de Dispersão, 79, 80
169,197,199,200,212,215 Estudo do Dispositivo Variável, I 03
Análise da Carta de Controle, 88 Exatídão,6,50,215,222
Aparente, 215 FMEA Análise de Modo e Efeitos de Falha
ASTM (Amcrican Society for Testing and Potencial, 13, 26, 37, 169,223
Materiais), 5, 6, 7, 33, 45, 50, 54, 55, 56, 187,
Guia Incerteza de Medição, 222
189, 192, 22 I
Gráfico da Ampliude, I 10, 111
Atributo, 133, 136, 147, 151, 152, 161, 179, 181,
223 Gráfico de Dispersão, 112
Calibração, 10, 34, 36, 38, 39, 43,213,215. 216 Gráfico Sequencia1, 111
Calibração padrão, 43 Gráfico Whiskers, 113
Cartas de Controle, 49 Gráfico de erro, 114
Causa c Efe1to, 17, 68 GD&T, 169
Ciclo de Vida da Medição, 26 GPC (Curva de Desempenho do dispositivo), 42,
148, 150, 179, 181
Cliente, 4, 48, 91, 96, 233
Histograma, 93, 115, 217
CMM, Máquina de Medição por Coordenadas
(CMM), 14,25,26,37,38,59, 134,169,213 Incerteza (Veja Medição de Incerteza), 8, 60, 63,
64,65,220,222
Consistência, 8, 57, li O, 112, 113, 116, 166, 187,
192 Índice de capabilidade, 20 I
Controle do Processo, 49, 75, 131,215,218,223 Kappa, 138, 139,217
Controle do produto, 75, 218 Linearidade, 6, 51, 52, 98, 100, 1O1, I 02, 116,
164,207,217
Controle Estatístico do Processo (CEP), 11, 47,
49, 75, 79, 88, 118,213,215,223,224 Manutenção, 34, 36, 38
Cp (veja Índice de capabilidade), 21, 22, 143, Média, 95, 103, 105, 108, 109, 114, 115, 119,
201,203,204 126,128,129,130,131,171,176,177,188,226
Critério de Aceitabilidade, 79 Medição de Incerteza, 63
Curva de Desempenho (GPC), 42, 147, 148, 150, Mensurando, 60, 217
151, 152. 179, 180, 181, 182, 183, 184 Método Analítico, 147
Definição Operacional, 43 Método da Amplitude, 90, 104, 105, 128, 131,
Delmcamento de Experimento, 216, 223 163, 171, 188
Desempenho do Sistema de Medição, 8 Método da Análise de Risco, 133
Desvio (Dnft) (ver Estabilidade), 6, 39 Modelo de Erro P.l.S.M.O.E.A., 211
Diagrama de Causa e Efeito, 17, 68 Não-Replicável, 218
Discriminação, 5, 41, 46,216 Ndc,47,80, 125,131,216,218,227
Dispositivo de Fixação, 37 NIST (National lnstitute of Standards and
Technology), 9, 10, 11, 34, 45, 73, 159,221
• Dispositivo de Medição, .. 5, 7, 31, 35, 42, 56,
61, 79, 81, 90, 103, 105, 107, 118, 121, 122, 125,
131, 147, 148, 150, 151, 152, 161, 179, 180, 181,
NMI (National Measuraments lnstitute), 9, 10,45
Padrão-Mestre (Master), 44,213
229
Padrão (Standard), 5, 16, 43, 44, 45, I 05, 163, Teste de Hipóteses, 133, 135
165, 176. 177, 187, 190, 191, 198,209,211,213, Tolerância, 124, 131, 145, 203, 220
221
Uniformidade, 8, 58
Padrão de Calibração. 43
Valor de Referência, 45, 92, 101, 114, 115, 145,
Padrão de Referência, 43 219
Padrão de Teste, 155, 156, 161 ValorObservado, 114,115
Padrão de Trabalho, 44 Valor Verdadeiro, 45
Padrão de Transferência, 44 Variação, 7, 15, 50, 76, 103, 119, 123, 124, 129,
Padrão de Verificação, 45 131,169,185,198,200,215,218,227
PISMOtA. 16, 37,211 Variação do Equipamento (VE) (veja também
Precisão, 7, 54, 2 18, 221, 222, 223 Repetitividade), 227
Rastreabilidade, 9, 10, 64 Variação entre Avaliadores (V A), 7, 122, 124,
Regra dos Dez, 15, 41 125,129,131,197,198,200,209,215,227
Variação Total (VT) 15, 76, 90, 95, 99, 119, 123,
Repetitividadc do Dispositivo de Medição, 35,
107, 118. 120, 121, 122, 125,226,227 124, 125, 129, 131,200,227
Rcpctitividade e Reprodutibilidade (R&R) do VE (veja Variação do Equipamento), 54, 90, 93,
95, 99, 122, 124, 125, 129, 131, 197, 198,200,
Dispositivo de Medição, 7, 56, 107, 118, 121,
209,219,227
122,125,161,198,212,217,222,226,227
Replicávcl, 83, 155,219
Rcprodut1bllidade, 7, 55, 77, 103, 107, 118, 121,
122. 125. 131, 189. 198,207,215,219,222,223,
226,227
R&R (\eja Repetiti\idade e Reprodutibilidade) ...
7, 18. 22. 35, 56, 58, 60, 64, 75, 76, 79, 80, 81,
90, 95, 99, 104, 105, 106, 122, 123, 124, 125,
129, 130, 131, 145, 146, 150, 163, 165, 181, 185,
186, 187, 189, 193, 197, 198, 199,200,201,202,
203,212,216,217,225,227
Rcsolução,38,215,216,220
Resolução Aparente, 215
Resolução Efetiva, 38, 216
Sensibilidade, 8, 38, 57,220
Sistema de Medição, I, 7, 8, 13, 17, 18, 28, 31,
37, 38, 39, 67, 68, 69, 75, 79, 83, 87, 131, 133,
134,155,156,171,187,212,218,222,223
S.W.I.P.t, 16,37
Sistema de Medição Destrutiva: 155, 156
Teste de impacto (gravilometer), 155
Fspectroscópio de massa, 155
Teste de características do material, 155
Teste de Galvanoplastia, 155
Teste Salt-spray I umidade. 155
Teste de solda, 155
Tabela Cruzada, 135
Taxa de Erro, 19
Taxa de falso Alarme, 19, 142
Taxa de Perda, 19,142
Tendência, 6, 50, 51, 61, 62, 89, 90, 91, 92, 93,
94,96,97,99,215,221
230
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Cliente: - - - - - - - -- - - - - - - - Local: - - - - - - - -- - - - - - - -
Chentc: - - - - - - - - - -- - - - - -- Local: - - - - - - - -- - - - - - - -
Cliente: - - - - - - - - - - _ _ _ __ Local: - - - - - - - - - -- - - - -
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232
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ANÁLISE DOS SISTEMAS DE MEDIÇÃO

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