Desenho e Fabricação Óptica - S. C. Zilio

i
1. ptica geomtrica paraxial

1.1 A aproximao paraxial...........................................................................................1
1.2 Pontos cardeais.........................................................................................................2
1.3 Conveno de sinais.................................................................................................8
1.4 Traado de raios paraxiais......................................................................................10
1.5 O mtodo y-nu........................................................................................................12
1.6 O mtodo y-u-i.......................................................................................................14
1.7 Formalismo matricial.............................................................................................15
1.8 Lentes finas............................................................................................................18
1.9 Combinao de lentes finas....................................................................................21
1.10 Focalizao de um feixe gaussiano......................................................................23
1.11 Ao focalizadora de uma lente fina....................................................................23
1.12 Lentes espessas.....................................................................................................25
1.13 Teorema de Lagrange...........................................................................................27
1.14 Equaes da imagem............................................................................................29
1.15 Conceitos de radiometria......................................................................................30
1.16 Aberturas e pupilas...............................................................................................37
1.17 Alguns exemplos de sistemas pticos..................................................................41
Bibliografia............................................................................................................49
Problemas..............................................................................................................50

2. Aberraes
2.1 Aberraes monocromticas..................................................................................53
2.2 Aberrao de um ponto objeto axial......................................................................57
2.3 Aberrao de um ponto objeto fora do eixo............................................................59
2.4 Aberrao esfrica...................................................................................................62
2.5 Coma......................................................................................................................65
2.6 Astigmatismo..........................................................................................................66
2.7 Curvatura de campo.................................................................................................69
2.8 Distoro................................................................................................................70
ndice

ii
2.9 Aberrao cromtica..............................................................................................72
2.10 Vidros pticos.......................................................................................................75
Bibliografia............................................................................................................79
Problemas..............................................................................................................79

3. Traado de raios meridionais
3.1 O mtodo Q-U........................................................................................................81
3.2 Esferocromatismo de um dubleto cimentado.........................................................84
3.3 Aberrao cromtica de um dioptro esfrico.........................................................87
3.4 Aberrao cromtica de uma lente delgada...........................................................89
3.5 Espectro secundrio paraxial.................................................................................91
3.6 Acromatas com lentes delgadas separadas............................................................92
Bibliografia...........................................................................................................94
Problemas..............................................................................................................94

4. Programa OSLO para clculo de desenho ptico
4.1 Introduo..............................................................................................................97
4.2 Entrada de dados..................................................................................................100
4.3 Janela de texto......................................................................................................107
4.4 Janela grfica........................................................................................................111
4.5 Otimizao de uma lente......................................................................................120
4.6 Informaes adicionais.........................................................................................131
Bibliografia.........................................................................................................133
Problemas............................................................................................................133

5. Tcnicas de fabricao ptica
5.1 Introduo............................................................................................................141
5.2 Corte.....................................................................................................................141
5.3 Gerao de superfcie esfrica.............................................................................145
5.4 Lapidao.............................................................................................................148
5.5 Polimento.............................................................................................................154
5.6 Controle de qualidade..........................................................................................162
5.7 Filmes finos..........................................................................................................174
Bibliografia.........................................................................................................182
Problemas............................................................................................................182

ptica geomtrica paraxial 1

1
ptica geomtrica
paraxial

1.1 A aproximao paraxial
A ptica paraxial trata da propagao de luz por um sistema
ptico centrado, que consiste de superfcies refratoras ou refletoras com
simetria de rotao em torno de um eixo comum, chamado de eixo ptico.
Uma lente simples um exemplo de sistema centrado tendo como eixo
ptico a linha que intercepta os centros de curvatura das duas superfcies.
Uma sucesso de lentes simples tambm um sistema centrado se seus
eixos pticos forem coincidentes. Em geral, sistemas que contm
superfcies inclinadas no possuem um eixo comum de simetria e no
formam um sistema centrado.
Sistemas pticos centrados tm a propriedade que um raio
passando suficientemente prximo do eixo ptico sempre faz um ngulo
de incidncia pequeno com a normal a qualquer superfcie. Tal raio
chamado de raio paraxial e sua refrao descrita como veremos adiante,
por uma equao mais simples do que a dada pela lei de Snell, escrita
como:
n sen I = n sen I (1.1)
onde n e n so os ndices de refrao para cada lado da superfcie
refratora, e I e I so respectivamente os ngulos que os raios incidente e
refratado fazem com a normal superfcie refratora. Neste captulo,
geralmente especificaremos os ngulos pelas letras I ou U, como
tradicionalmente feito em clculos de traado de raios. Neste caso, I o
ngulo que o raio faz com a normal superfcie refratora, enquanto que U
o ngulo que o raio faz com o eixo ptico.
Os raios incidente e refratado definem um plano que chamado
de plano de incidncia. De acordo com a lei de refrao, este plano
S. C. Zilio Desenho e Fabricao ptica

ptica geomtrica paraxial

2
tambm contm a normal superfcie no ponto de incidncia. Se o
sistema for centrado e se o eixo ptico tambm estiver contido no plano
de incidncia, diz-se que o raio um raio meridional; caso contrrio temos
um raio sagital (skew ray) que no cruza o eixo ptico, conforme mostra a
Fig. 1.1. A lei da reflexo estabelece que o ngulo entre o raio refletido e a
normal igual em mdulo e oposto em sinal ao ngulo de incidncia.

lente objeto imagem lente objeto imagem

(a) (b)

Fig. 1.1 Exemplos de raio meridional (a) e raios sagitais (b).
Quando um raio caminha suficientemente prximo do eixo ptico
em todos os pontos, o ngulo de incidncia em qualquer superfcie do
sistema ser necessariamente pequeno e assim, os senos dos ngulos
podem ser satisfatoriamente aproximados pelos prprios ngulos, em
radianos. Neste caso, a lei de Snell se torna:
n i = n i (1.2)
onde o i minsculo usado para denotar o valor paraxial do ngulo real de
incidncia I. A simplificao da lei da refrao que obtida substituindo-
se os senos pelos seus argumentos possibilita o desenvolvimento da teoria
paraxial de formao de imagem.

1.2 Pontos cardeais
Muitas aproximaes so usadas para predizer as propriedades de
formao de imagens de sistemas pticos. Embora sistemas pticos reais
formem imagens cuja qualidade depende no s do prprio sistema, mas


tambm das condies de operao, teorias de formao de imagem so
normalmente desenvolvidas no contexto da aproximao paraxial por duas
razes. Primeiro, os raios paraxiais se propagam de acordo com leis
relativamente simples que conduzem a tcnicas diretas para descrever a
formao da imagem. Segundo, para a otimizao de um sistema real, a
formao da imagem determinada equilibrando ou eliminando as
aberraes de forma que os raios reais convergem para o mesmo ponto da
imagem que os raios paraxiais. Nesta seo consideraremos a teoria de
formao da imagem paraxial desenvolvida por Gauss, que caracteriza
sistemas pticos de acordo com vrios pontos especiais, conhecidos como
pontos cardeais ou pontos Gaussianos.
importante entender inicialmente as definies de espao-objeto
e espao-imagem. Espao-objeto refere-se ao espao no qual um raio, ou
sua extenso, se propaga antes de chegar ao sistema ptico. Espao-
imagem refere-se ao espao no qual um raio, ou sua extenso, se propaga
depois de atravessar o sistema. Por conveno, a luz caminha inicialmente
da esquerda para a direita. Como mostra a Fig. 1.2(a), se a luz que deixa
um objeto atravessa uma lente e converge para a imagem, a imagem dita
real. Se luz diverge depois de atravessar a lente, a imagem virtual, como
ilustrado na Fig. 1.2(b). Como o objeto e a imagem podem ser reais ou
virtuais, o espao-objeto e o espao-imagem podem se estender a ambos
os lados da lente.

objeto real
( (b)
F
a)
ig. 1.2 Formao de imagens real (a) e virtual (b).
po atravs do
traado
objeto real
imagem real
imagem virtual
ssvel encontrar as propriedades de uma imagem
direto do raio paraxial. Por exemplo, se uma lente forma uma
imagem de um objeto extenso, podemos selecionar alguns pontos do
objeto e traar vrios raios partindo de cada um destes pontos para ver
onde eles convergem depois de passar pela lente. Este tipo de abordagem
que utiliza vrios raios para se obter a formao da imagem muito


4

trabalhoso. Porm, como todos os raios paraxiais que deixam um dado
ponto do objeto convergem para o mesmo ponto da imagem, basta traar
apenas dois raios partindo daquele ponto para determinar a localizao do
ponto da imagem onde todos os raios daquele dado ponto do objeto
convergem.
Considere um conjunto de lentes centradas em algum tipo de
suporte

Fig. 1.3 Traado de raios num sistema ptico paraxial: pontos principais.
a
esquerd
os
que o
o raio muda a trajetria).
F
que no nos permite observar os elementos reais que esto
contidos no sistema, como mostra a Fig. 1.3. Um raio R
1
que entra
paralelo o eixo ptico, da esquerda para a direita, emergir do sistema e
cruzar o eixo ptico em algum ponto F. Este ponto chamado de ponto
focal (especificamente, de segundo ponto focal) da lente.

planos principais

Considere agora um segundo raio R
2
oriundo de um ponto d
a que atravessa a lente e emerge paralelo ao eixo ptico, na mesma
altura que R
1
entrou no sistema. Isto define o primeiro ponto focal F.
Assim, temos dois raios que se interceptam no ponto O do espao-objeto e
no ponto O do espao-imagem. Isto implica que O a imagem de O.
Como a altura dos raios que entram no sistema arbitrria, tem
plano que contm O, normal ao eixo ptico, tem sua imagem
formada no plano que contm O, tambm normal ao eixo ptico. As
intersees destes planos com o eixo ptico so chamadas de pontos
principais P e P. O primeiro ponto principal P est no espao-objeto
enquanto que o segundo ponto principal P est no espao-imagem, ou
seja, P a imagem de P. Alm disso, como O e O so eqidistantes do
eixo, a magnificao (ampliao) lateral da imagem unitria. Os planos
OP e OP so chamados de planos principais de um sistema ptico e cada
um se comporta como se fosse uma superfcie de refrao aparente (onde
F
O O
P P
R
1
f
f ' (EFL)
R
2
R
1
R
2


A distncia entre o primeiro ponto focal e o primeiro ponto
principal chamada de primeiro comprimento focal, f, e a distncia entre
o segundo ponto principal e o segundo ponto focal chamada de segundo
comprimento focal, ou comprimento focal efetivo (effective focal length -
EFL), ou simplesmente de comprimento focal f. Se os ndices de refrao
dos espaos objeto e imagem forem diferentes, o primeiro e o segundo
comprimentos focais esto relacionados por:
=
=
f
n
f
n
(1.5)
onde denominado de poder da lente
Esta grandeza, que possui unidade de dioptria, muito utilizada na rea de
a ptico, mas para sistemas reais, as superfcies
de refra
, como veremos na seo 1.14.
oftalmologia (optometria) para caracterizar as lentes usadas nos culos.
Por exemplo, uma lente de grau 4 (4 dioptrias), possui uma distncia focal
de 0,25 m, no ar (n =1).
O conceito de planos principais muito til para o traado dos
raios paraxiais num sistem
o aparente no so planas. Uma condio necessria que uma
lente perfeita deve satisfazer que todos os raios de um ponto-objeto
atravessem um nico ponto no plano da imagem, independente da altura
que os raios incidem sobre a lente. Este tipo de lente livre de coma e
chamada de aplantica. Uma lente aplantica obedece condio seno de
Abbe:
U sen
U sen u
u
=
(1.6)
que para raios vindo do infinito (sen U =u =0) pode ser escrita como:
U sen
y
f
=
(1.7)
conforme se pode deduzir fazendo us
aproximao paraxial temos f=-y/tgU, como pode ser visto na Fig. 1.3.
segundo
o da Fig. 1.4. Note que na
Para uma lente aplantica, a superfcie efetiva de refrao
aparente para raios provenientes do infinito uma esfera centrada no
foco, como esquematizado na Fig. 1.4. A maioria das lentes reais
se assemelha mais a sistemas aplanticos do que a sistemas paraxiais.



6

Fig. 1.4 Traado de raios num sistema ptico aplantico.
H portncia
na determ ao de
imagen
Fig. 1.5 Definio s pontos nodais.
-U F F

P
P
R
1
f f ' (EFL)
R
2
superfcies principais
R
1
R
2 y
outro par de pontos conjugados que de grande im
inao das propriedades de primeira ordem da form
s de um sistema ptico. So os chamados pontos nodais N e N,
definidos como pontos conjugados com magnificao angular positiva
unitria. Isto significa que os ngulos dos raios incidente e refratado so
iguais em mdulo e sinal. Se os ndices de refrao forem os mesmos em
ambos os lados do sistema ptico, os pontos nodais so coincidentes com
os pontos principais. Porm, se os ndices de refrao forem diferentes nos
espao do objeto e da imagem, os pontos nodais estaro deslocados dos
pontos principais. Na Fig. 1.5, o raio R
2
atravessa o ponto nodal N no
espao-objeto e emerge em N no espao-imagem. A distncia entre os
pontos nodais igual distancia entre os pontos principais, e pode ainda
ser mostrado que FP =NF. Um outro termo, o foco traseiro (back
focus), a distncia da ltima superfcie ao plano da imagem. Se o objeto
est no infinito, o foco traseiro igual distncia focal traseira (back focal
length), mas para conjugados finitos chamado de distncia de trabalho.

F F
R
1
R
2
f f ' (EFL)
ndice de refrao n ndice de refrao n
P
N N
P
do


Os pontos ontos nodais so
chamad
Fig. 1.6 Traado de um raio desco do usando os pontos cardeais.
focais, os pontos principais e p
os de pontos cardeais, ou pontos Gaussianos, de um sistema
ptico. O conhecimento das suas posies permite a determinao das
propriedades de formao da imagem. Note que os pontos cardeais so
definidos em termos da ao do sistema sobre a luz que propaga por ele.
No existe nenhuma relao direta entre as posies dos elementos do
sistema e a localizao dos pontos cardeais. Assim, importante encontrar
alguma quantidade que mea a distncia de um ponto cardeal at alguma
superfcie do sistema. A quantidade mais comumente usada para tal uma
especificao a distncia focal traseira (back focal length), que
definida como a distncia da ltima superfcie ptica ao segundo foco.
importante notar que a distncia focal efetiva de um sistema bastante
diferente da distncia focal traseira do sistema; s para lentes muito finas
elas so aproximadamente iguais.
Uma vez conhecidas as posies dos pontos cardeais de um
sistema, simples encontrar como ele transforma os raios do espao-
objeto para o espao-imagem. De acordo com a Fig. 1.6, um raio
desconhecido entra no primeiro plano principal a uma certa altura e
emerge do segundo plano principal mesma altura (porque os planos
principais so planos conjugados de ampliao transversal unitria). Para
determinar a trajetria do raio que emerge do sistema, podemos usar
quaisquer das trs construes de raios descritas a seguir.
Primeiro, podemos usar o raio R
1
, que cruza o raio desconhecido
no primeiro plano focal e entra no sistema paralelo ao eixo ptico. Este
raio tem que passar pelo segundo foco depois que emergir do sistema, mas
como cruza o raio desconhecido no primeiro plano focal, tem que emergir
paralelo a ele.

raio d
F F
R
1
R
2
esconhecido
P P
R
3
nheci


8

Segundo, podemos escolher o raio R
2
, que entra no sistema
paralelo ao raio desconhecido, mas passando pelo primeiro foco. Tal raio
tem que emergir do sistema paralelo ao eixo ptico. Novamente, como os
dois raios entram no sistema paralelos um ao outro, eles tem que se cruzar
no segundo plano focal, como mostrado.
Terceiro, podemos construir um raio R
3
paralelo ao raio
desconhecido, atravessando o primeiro ponto nodal do sistema. Tal raio
tem que emergir do segundo ponto nodal do sistema com a mesma
inclinao. Como o raio entrou no sistema paralelo ao raio desconhecido,
os dois raios tm que se cruzar sobre o segundo plano focal.

1.3 Conveno de sinais
Para calcularmos matematicamente a propagao de raios por
sistemas pticos necessria a adoo de uma conveno relativa
nomenclatura e sinais das variveis. Consideraremos que um sistema
ptico pode ser descrito com uma srie de sistemas de coordenadas locais
nos quais a direo z coincide com o eixo ptico e aponta para a direita, a
direo y aponta para cima, e a direo x aponta para dentro do papel.
Desta forma, temos um triedro positivo ( ). Cada superfcie do
sistema descrita num sistema de coordenadas locais para aquela
superfcie. Os clculos paraxiais so bastante simplificados pelo fato de
no existirem superfcies inclinadas ou descentralizadas, uma vez que
estamos trabalhando com sistemas centrados. Assim, a origem de cada
sistema de coordenada local est no eixo z do sistema de coordenadas
locais prvio.
k
=
Quando necessrio distinguir uma quantidade em ambos os
lados da superfcie refratora, a quantidade no lado do objeto escrita com
um smbolo sem linha, enquanto que a quantidade no lado da imagem
escrita com um smbolo com linha. Por exemplo, n o ndice de refrao
no lado do objeto, e n o ndice de refrao no lado da imagem. Por
conveno, a luz entra num sistema ptico pela esquerda, de forma que
quantidades no lado esquerdo de uma superfcie esto sem linha e aquelas
direita com linha. A notao com linha tambm usada para denotar
grandezas conjugadas. Assim, o ponto da imagem que corresponde ao
ponto O do objeto O.


Como vimos, se um raio cruza o eixo ptico de um sistema, ele
coplanar ao eixo ptico e o plano definido por eles chamado de plano
meridional. Por conveno, o plano yz escolhido como o plano
meridional e assim, temos x =0 para raios meridionais. O raio numa
determinada superfcie , portanto, descrito completamente por sua altura,
y, e sua inclinao, u. Os raios que tm valores no nulos de x em alguma
superfcie so chamados de raios sagitais (skew rays). O sinal de u
positivo se o raio estiver subindo (y aumentando) e negativo se estiver
descendo (y diminuindo).
Note que a definio mais geral de um sistema centrado no
implica necessariamente em simetria rotacional em torno do eixo ptico.
Por exemplo, superfcies cilndricas podem estar centradas. Porm, na
presente discusso, consideraremos apenas sistemas rotacionalmente
simtricos (simetria azimutal) e suporemos que todos os pontos do objeto
encontram-se sobre o eixo y. Devido simetria rotacional, isto no traz
nenhuma perda de generalidade.
Uma superfcie esfrica pode ser especificada por seu raio de
curvatura, r, ou por sua curvatura c, que definida como o recproco do
rdio de curvatura. O raio de curvatura ser positivo se o centro de
curvatura estiver direita da superfcie e negativo se estiver esquerda. A
distncia entre duas superfcies chamada de espessura t do espao
separando as duas superfcies.
Num sistema contendo vrias superfcies, os parmetros que
especificam o sistema possuem subscritos para identific-los com uma
superfcie particular. Assim, parmetros da superfcie, como curvaturas,
possuem subscritos com o nmero de superfcie qual eles pertencem. J
os parmetros ligados ao espao entre superfcies, como espessuras e
ndices de refrao, possuem tanto subscritos e linhas para indicar a
superfcie com que eles so associados. Isto resulta numa tautologia na
qual a mesma quantidade fsica pode ser descrita por dois smbolos. Por
exemplo, a espessura que separa a superfcie atual da prxima pode ser
designada ou como t na superfcie atual ou t na prxima superfcie. Em
programas de clculo de desenho ptico, a espessura associada com uma
determinada superfcie chamada TH, que corresponde a t.
A Fig. 1.7 ilustra os parmetros que descrevem um sistema ptico
para o traado de raios paraxiais. Note que todas as superfcies foram
substitudas por planos tangentes aos seus vrtices. Embora tenham sido
dados os subscritos j e j-1 a todos os parmetros da figura para identific-


10

los claramente com a superfcie a que se referem, normalmente
eliminamos o subscrito j em casos onde est claro que ele deveria estar
presente. Por exemplo,
(1.8) y =y
j
y
-1
=y
j-1

n
j-1
superfcie j-1 superfcie j
n'
j-1
=n
j
n'
j
y
j-1
, u
j-1
y
j-1
, u
j-1
y
j
, u
j
y
j
, u
j
t'
j-1
=t
j
Fig. 1.7 Parmetros que descrevem uma sucesso de superfcies pticas.
1.4 Traado de raios paraxiais
O traado de raios paraxiais um assunto que tem sido muito
estudado durante as ltimas dcadas. Vrias tcnicas eficientes foram
desenvolvidas para executar os clculos necessrios. Nas sees seguintes
consideraremos trs mtodos que so de uso comum: os mtodos y-nu, y-
u-i e o mtodo matricial. O mtodo y-nu o mais eficiente dos trs e
extensivamente usado para clculos manuais. O mtodo y-u-i requer
alguns passos a mais, mas gera os ngulos paraxiais de incidncia durante
o traado e provavelmente o mtodo mais comumente usado em
programas de computao.
Considere a propagao de um raio paraxial por um sistema
ptico. Para tal raio, a inclinao infinitesimal, de forma que o ngulo
(em radianos) que o raio faz com o eixo e a tangente daquele ngulo (i.e.,
a inclinao) a mesma. Assim, com base na Fig. 1.7 podemos escrever:
t
y y
u
1
=
(1.9)


onde o subscrito j foi omitido, como descrito anteriormente. Esta equao
pode ser re-escrita para dar a equao de translao dos raios paraxiais de
uma superfcie at a prxima:
(1.10) tu y y
1
+ =
A equao de refrao pode ser derivada com referncia Fig.

1.8, de onde vemos que:
+ =
+ =
' U ' I
U I
(1.11)

U
U

r =1/c
y

Fig. 1.8 Refrao por uma superfcie esfrica.
onde o ngulo que a normal superfcie faz com o eixo tico,
enquanto que U e Uso os o ngulos que os raios incidente e refratado
fazem com o eixo tico. No limite paraxial, estes ngulos so
aproximadamente iguais aos seus senos ou tangentes, e assim podemos
escrever:
' u yc ' u
r
y
' i
u yc u
r
y
i
+ = + =
+ = + =
(1.12)
Ainda no limite paraxial, vimos que a lei de refrao pode ser escrita
como:
n i =ni (1.13)
de forma que,


12

' n
y nu
' u

=
(1.14)
onde =c(n-n) chamado de poder da superfcie. Esta a equao da
refrao paraxial, que d a inclinao de um raio que emerge de uma
superfcie com poder em termos da altura e inclinao do raio incidente.
A aplicao seqencial das equaes de translao e refrao paraxiais
permite o traado de qualquer raio paraxial por um sistema ptico. Todos
os mtodos de traado de raios discutidos nas prximas sees esto
baseados nestas equaes ou em algumas variaes simples.
Antes de concluirmos esta seo, importante salientarmos o fato
que durante a translao o ngulo u constante, enquanto que na refrao,
a altura y do raio no muda.
1.5 O mtodo y-nu
O modo mais eficiente para traar raios paraxiais mo o
mtodo denominado de y-nu. Este mtodo utiliza uma planilha formatada
para efetuar clculos repetitivos de alturas e inclinaes de raios paraxiais
usando uma forma derivada das equaes de traado de raio vistas na
seo anterior. Para traar um raio pelo mtodo y-nu, a equao de
refrao escrita na forma:
(1.15) = y nu ' u ' n
e a equao de translao escrita como:
) nu (
n
t
y y
1
+ =
(1.16)
Como nu igual a nu da superfcie anterior, as quantidades y e
nu calculadas em dada etapa do traado so usadas como entrada para a
prxima fase. Por exemplo, determinado y e nu na primeira superfcie do
sistema, usa-se a equao de refrao para calcular nu nesta superfcie.
Esta quantidade usada, junto com y, para calcular a altura do raio na
segunda superfcie, usando a equao de translao. O processo se repete
com o uso das equaes de refrao e translao na segunda superfcie.
Como exemplo, calcularemos o traado de um raio que entra
numa lente paralelo ao eixo ptico (u=0) a uma altura Y. Suporemos que
os raios de curvatura das superfcies e a espessura da lente sejam dados


respectivamente por r
1
, r
2
e t. Usando as equaes (1.15) e (1.16)
podemos montar a planilha abaixo, onde e
1 2
so respectivamente os
poderes das superfcies 1 e 2. Note que na refrao a altura y no muda
enquanto que na translao nu constante.
Tabela 1 Planilha de clculo para um raio paralelo ao eixo ptico entrando
numa lente a uma altura Y.
condies refrao na
superfcie 1
translao refrao na
superfcie 2 iniciais
t t
n n 1
=c (n-1)
1 1
=c (1-n)
2 2
y Y Y Y(1- t/n) Y(1- t/n)
1 1
nu 0 -Y -Y -Y(
1 1 1
+ -
2 1
2
t/n)

Este exemplo foi feito de uma forma algbrica porque queremos
encontrar a expresso da distncia focal traseira da lente. No caso de
clculos numricos, a determinao dos parmetros do raio bastante
simples, bastando para isto manipularmos os elementos da planilha de
maneira a seguir as equaes (1.15) e (1.16). Um clculo deste tipo ser
deixado como exerccio no final do captulo.
Como pode ser visto na ltima coluna da planilha de clculo, o
raio deixa a lente a uma altura Y(1- t/n), fazendo um ngulo -Y( +
1 1 2
-
2
t/n) com o eixo ptico. Podemos calcular a distncia focal traseira da
lente aplicando a equao da translao para uma distncia f
BFL
na qual o
raio cruza o eixo ptico. O uso da eq. (1.16) leva a:
1
2 1 2 1
BFL
r
t
n
) 1 n (
1
r r
t
n
) 1 n (
r
1
r
1
) 1 n (
f
1

+
=
(1.17)
No caso de uma lente delgada, a espessura pode ser desprezada
(t 0) e o foco dado pela tradicional equao do fabricante de lentes:
=
2 1
r
1
r
1
) 1 n (
f
1
(1.18)


14

O mtodo y-nu pode ser usado para outros propsitos alm do
clculo direto do traado de raios para um determinado sistema. Um dos
mais importantes sintetizar um sistema tendo certas propriedades
desejadas. Neste caso, fornecemos os dados do raio (altura e inclinao),
ao invs dos parmetros da lente, sendo estes determinados a partir dos
dados do raio. Este modo de especificar os parmetros de uma lente, pelo
conhecimento do caminho dos raios paraxiais, muito comum em
programas de computao para desenho ptico.
Dois mtodos para a especificao dos parmetros de uma lente
so mais comumente usados. O primeiro chamado de soluo pelo
ngulo (angle solve), que determina a curvatura de uma superfcie a partir
do ngulo de um raio depois da refrao. Por exemplo, suponha que
traamos um raio at a j-sima superfcie e nela conhecemos y e nu. Se
queremos que o raio saia da superfcie com uma inclinao u, ento, de
acordo com a eq. (1.15) da refrao paraxial, a curvatura da superfcie tem
que ser:
) ' n n ( y
nu ' u ' n
c
=
(1.19)
O segundo tipo de especificao que de uso comum a soluo
pela altura (heigth solve), na qual a espessura no lado da imagem de uma
superfcie especificada pela altura de um raio na prxima superfcie. De
acordo com a eq. (1.16) da translao paraxial, a espessura a ser
determinada :
u
y y
t
1
=
(1.20)
onde y dado, e y
-1
da superfcie prvia e u so conhecidos.

1.6 O mtodo y-u-i
Um mtodo alternativo para traar o raio paraxial, chamado de
mtodo y-u-i, usa as seguintes equaes que podem ser derivadas
diretamente das equaes da refrao paraxial e da translao:


i 1
' n
n
u ' u
yc u i
tu y y
1
+ =
+ =
+ =
(1.21)
Embora sejam usadas trs equaes (ao invs de duas) para o
traado de um raio atravs de uma superfcie, a quantidade i necessria
para calcular as contribuies de aberrao da superfcie e assim o
trabalho adicional produz dados teis. Na realidade, se as aberraes do
sistema precisam ser calculadas, o mtodo y-u-i de fato mais eficiente
que o mtodo y-nu.
Como veremos posteriormente, necessrio traar dois raios
paraxiais (os raios axial e principal) para caracterizar completamente um
sistema. Neste texto, a altura e a inclinao do raio axial (aquele que parte
do centro do objeto e passa pela borda da lente) so indicados por y , u
a a
,
enquanto que a altura e a inclinao do raio principal (aquele que parte da
borda do objeto e passa pelo centro da lente) so y , u
b b
. A maioria dos
programas de desenho ptico usa PY, PU e PI para indicar a altura,
inclinao (relativa ao eixo ptico) e ngulo de incidncia (relativo
normal) do raio axial (raio a), e PYC, PUC e PIC para indicar dados
correspondentes para o raio principal (raio b). Neste caso, a letra C
corresponde a chief (principal).
1.7 Formalismo matricial
possvel escrever as equaes para o traado do raio paraxial na
forma matricial, que uma abordagem adequada para descrever sistemas
que incluem muitos elementos pticos, j que o efeito do conjunto pode
ser encontrado atravs de multiplicao de matrizes. tambm de muita
importncia na descrio da propagao de feixes gaussianos e clculos de
cavidades ressonantes para lasers, como veremos posteriormente.
Como vimos nas sees precedentes, existem relaes lineares
entre as caractersticas geomtricas dos raios (altura e inclinao) quando
eles refratam numa superfcie ou transladam de uma superfcie at a
prxima. Estas relaes podem ser escritas na forma matricial como
veremos a seguir.
De acordo com a Fig. 1.7, quando um raio translada da superfcie
j-1 at a superfcie j, a altura muda, mas a inclinao permanece constante.


16

Usando este fato, juntamente com a eq. (1.16) do mtodo y-nu, podemos
escrever:
) u n .(
n
t
y . 1 y
1 j 1 j
1 j
1 j
1 j j
+ = (1.22a)
(1.22b) ) u n ( . 1 y . 0 u n
1 j 1 j 1 j j j
+ =
Estas equaes podem ser expressas atravs de produto de matrizes como:
1 j 1 j
1 j
1 - j
1 - j
j j
j
u n
y
1 0
n
t
1
u n
y
(1.23)
ou esquematicamente como R
j
=T
j-1
R
j-1
, onde:
= =
1 0
n
t
1
1 0
n
t
1
j
j
1 - j
1 - j
1 j j
T T
(1.24)
a matriz que translada o raio entre as superfcies j e j-1, separadas por
uma espessura t = t
j-1 j
, num meio com ndice de refrao n = n
j-1 j
,
conforme esboado na Fig. 1.7.
Analogamente translao, podemos encontrar uma matriz que
descreve a refrao de um raio por uma superfcie de poder
j
. Neste caso,
usamos as equaes para a refrao que sabemos ser:
(1.25a) ) u n .( 0 y . 1 y
j j j j
+ =
(1.25b) ) u n ( . 1 y . u n
j j j j j j
+ =
Estas equaes podem ser colocadas na forma matricial como:
(1.26)
j j
j
j j j
j
u n
y
1 -
0 1
u n
y
=R ou esquematicamente como R R
j j j
, onde a matriz de refrao dada
por:


=
1
r
1 - n
-
0 1
1 -
0 1
j
j
j
R
(1.27)
A aplicao sucessiva das matrizes de refrao e translao
permite o traado de raios atravs de um sistema ptico. Se conhecermos
os parmetros do raio na superfcie 1, aps a refrao na superfcie k
temos R =M
k k1
R
1
, onde a matriz de transferncia dada por:
(1.28)
1 2 2 k k
1 k 1 k
1 k 1 k
1 k
R T R ...... T R
D C
B A
M =
=
Vemos que a ordem do produto das matrizes tal que os ndices mais
baixos esto direita, pois atuam primeiro no raio. As quantidades A, B, C
e D so chamadas de constantes Gaussianas do sistema e a matriz de
transferncia conhecida como matriz ABCD. A razo principal de se
usar o formalismo matricial na ptica paraxial a de fornecer uma
formulao compacta para a descrio das propriedades de transformao
de um sistema ptico.
Uma propriedade interessante das matrizes de refrao e
translao que elas so unitrias, isto , |R| =|T| =1. Desta forma, como
o produto de matrizes unitrias resulta numa matriz de transferncia
unitria, temos AD-BC=1.
Como exemplo da aplicao do formalismo matricial, vamos
refazer o caso de um raio que entra numa lente paralelo ao eixo ptico
(u=0) a uma altura Y. Novamente, os raios de curvatura das superfcies e
a espessura da lente so dados respectivamente por r , r
1 2
e t. A matriz de
transferncia da lente dada por:
+

n
t
1 )
n
t
- ( -
n
t

n
t
1
2 2 1 2 1
1
=
=
1 -
0 1
1 0
n
t
1
1 -
0 1
1 2
M (1.29)
A transformao do raio incidente ao passar pela lente obtida a partir de:


18

(1.30)
CY
AY
0
Y
D C
B A
u n
y
que resulta em y =Y(1- t/n) e nu =u=-Y( + -
1 1 2 1
2
t/n), de acordo
com o resultado encontrado com o mtodo y-nu. Para encontrarmos a
distncia focal traseira aplicamos a matriz de translao sobre o raio que
deixa a lente, obrigando que ele cruze o eixo ptico a uma distncia f
BFL

da superfcie 2. Assim temos:
(1.31)
+
=
CY
CY f AY
CY
AY
1 0
f 1
u
0
BFL BFL
Igualando a primeira linha das matrizes encontramos f
BFL
dado pela eq.
(1.17).
Um caso particular importante da matriz de transferncia dada
pela eq. (1.28) o da lente delgada, onde t 0. Neste caso, M se torna:
+
=
1
f
1
-
0 1
1 ) ( -
0 1
2 1
M
(1.32)
= + =
2 1
2 1
r
1
r
1
) 1 n (
f
1
onde a equao do fabricante de lentes.
1.8 Lentes finas
Nesta seo vamos apresentar algumas propriedades das lentes,
dando nfase especial s lentes finas ou delgadas. Uma lente classificada
como fina quando sua espessura for muito menor que a distncia focal.
Existem vrios tipos de lentes cuja denominao depende de sua forma
geomtrica, como mostra a Fig. 1.9. Vamos nos ater apenas s lentes de
superfcies esfricas, embora outras simetrias (cilndrica, parablica,
elptica, etc.) sejam hoje em dia de uso comum. De acordo com o que
veremos na seo 1.14, a formao de imagens por uma lente fina obedece
a uma equao simples:


19
s
1
s
1
f
1
+ = (1.33)
onde f a distncia focal, s e s so respectivamente as distncias lente-
objeto e lente-imagem. importante para o fabricante de lentes saber
como os raios de curvatura das superfcies esfricas e o ndice de refrao
do vidro determinam a distncia focal da lente. Esta informao, como
vimos, dada pela eq. (1.18) no caso das lentes finas. Uma outra forma de
apresentar a equao do fabricante de lentes com o sinal positivo na
frente de 1/r
2
, porm neste caso a definio do sinal r outra: r positivo
se a superfcie for convexa e negativo se for cncava.

menisco
convexo
bicncava
plano-
convexa
plano-
cncava
menisco
cncavo
biconvexa

Fig. 1.9- Sees transversais de algumas lentes finas de simetria esfrica.
Uma propriedade importante da formao de imagens por uma
lente ou espelho o parmetro denominado de aumento, ou magnificao,
que caracteriza o tamanho da imagem em relao ao objeto. De acordo
com a Fig. 1.10, podemos definir a magnificao transversal como:


20

F F
h
h
s
s
f f x
o x
o

dx
o
dx
o

Fig. 1.10- Formao de imagens por uma lente convergente.
0
0
T
x
f
f
x
s
s
h
' h
m =
= (1.34)
onde as trs ltimas igualdades so facilmente determinadas usando-se
geometria elementar. Se m
T
>1, teremos um aumento da imagem em
relao ao objeto; se m
T
<1, teremos diminuio da imagem. Os sinais
negativos tm origem na definio dos sinais de s, s, x
0
e x
0
, e no caso
em que m
T
<0, significa que a imagem est invertida.
Podemos definir tambm a magnificao longitudinal da imagem
como:
0
0
L
dx
x d
m
= (1.35)
Para relacionarmos m
L
com m
T
tomamos a equao de formao de
imagens (1.33), com s =f +x e s =f +x
0 0
, de onde obtemos a forma
Newtoniana da equao da lente:
(1.36)
2
0 0
f x x =
Desta expresso encontramos:
2
T
2
0
2
L
m
x
f
m = = (1.37)
Evidentemente, m <0, o que implica que se dx >0 teremos dx
L 0 0
<0, ou
seja, se o objeto for um dedo apontado para a lente, a imagem ser a de
um dedo se afastando da lente.


21
1.9 Combinao de lentes finas
Quando vrias lentes finas so colocadas bem prximas (em
contato), a distncia focal combinada do conjunto pode ser expressa
como:
...
f
1
f
1
f
1
f
1
3 2 1
+ + + = (1.38)
onde f
i
a distncia focal da i-sima lente. Esta equao facilmente
obtida multiplicando-se as matrizes das lentes delgadas, que deduzimos na
seo 1.7.
Por outro lado, no caso em que duas lentes finas, de distncias
focais f e f
1 2
, esto separadas de uma distncia d, como mostrado na Fig.
1.11, a matriz que descreve o conjunto :

(a)
(b)
f
f
2
f
1
d
1
d
H
F
f
f
2
f
1
d
2
d
H
F
P
P

Fig. 1.11- Associao de duas lentes separadas por uma distncia d. O traado
dos raios est descrito no texto.


22

=
2
c
f
d
1
f
d
- 1
f
1
-
d - 1
M (1.39)
onde o foco efetivo dado por:
2 1 2 1
f f
d
f
1
f
1
f
1
+ = (1.40)
Para entendermos um pouco melhor como funciona este sistema,
vamos considerar um raio de luz que sai do foco efetivo, F, atravessa o
conjunto e se torna paralelo ao eixo ptico como mostra a Fig. 1.11(a). Se
traarmos os prolongamentos dos raios que sai de F e aquele paralelo ao
eixo, eles se interceptaro sobre o plano H, que como vimos, chamado
de primeiro plano principal. Qualquer outro raio saindo do foco com um
ngulo diferente daquele mostrado, produzir uma interseco com o
correspondente raio paralelo ao eixo ptico em algum ponto do plano
principal. Para efeitos prticos, como se houvesse uma lente de distncia
focal f localizada neste plano.
O raio que chega lente f caracterizado por uma altura y
1 1
e por
um ngulo u =y ), onde d /(f-d
1 1 1 1
a distncia do plano principal lente
f
1
. O raio que sai da lente f
2
caracterizado pelos parmetros y =y +d u
2 1 1 1
e u =0. Usando o formalismo matricial, onde a matriz M
2 c
dada em
(1.39) aplicada ao raio incidente, temos:
1
1
2
2
u
y
f
d
- 1
f
1
-
d
1
f
d
- 1
0
y
(1.41)
de onde obtemos a distncia do primeiro plano principal lente f
1
:
d
f
f
d
2
1
= (1.42a)


Procedendo da mesma forma para o raio mostrado na Fig. 1.11(b),
encontramos que a distncia do segundo plano principal H lente f
2

dada por:
d
f
f
d
1
2
= (1.421b)
A eq. (1.33) de formao de imagens continua vlida, mas s a distncia
entre o objeto e o plano primrio e s entre a imagem e o plano
secundrio.

1.10 Focalizao de um feixe gaussiano
Ao incidirmos um feixe de luz colimada (s =) sobre uma lente
de distncia focal f, sabemos que o feixe ser focalizado no plano focal
(s=f). Uma pergunta que podemos fazer sobre o dimetro da mancha
focal. De acordo com o que vimos com respeito magnificao
transversal, o tamanho desta mancha deveria ser nulo, pois s = .
Entretanto, um formalismo mais completo, que leva em conta a natureza
ondulatria da luz e o perfil gaussiano do feixe, prediz que a mancha focal
tem um raio da ordem de:
D
f 2

(1.43) w ~
onde D o dimetro do feixe na lente, w o raio da mancha focal,
chamado de disco de Airy, e o comprimento de onda da luz. Este efeito
est associado ao fenmeno de difrao e aparece naturalmente da soluo
da equao de ondas eletromagnticas em meios com simetria cilndrica.
Assim, quanto menor , mais focalizada ser a luz. Este detalhe muito
importante para a fotolitografia, onde para se conseguir altssima
integrao, deve-se utilizar luz ultra-violeta, geralmente conseguida
atravs de um laser do tipo excimer.

1.11 Ao focalizadora de uma lente fina
Levando em conta a natureza ondulatria da luz, podemos explicar
como se processa o efeito de focalizao produzido por uma lente fina de
ndice de refrao n. Consideremos uma onda colimada que se propaga


24

para a direita e incide sobre uma lente compreendida entre dois planos
muito prximos como apresentado na Fig. 1.12. Esta onda plana, que se
encontra discutida nos livros de ptica ondulatria, caracterizada por
uma fase espacial dada por =kz, onde z direo de propagao e k =
2/. Ao atravessar a lente, haver uma mudana de fase da onda, que
depende da distncia r, relativa ao centro da lente. Tal mudana dada por
=k (r), onde k
0 0
o vetor de propagao no vcuo e (r) o caminho
ptico, definido como o produto do ndice de refrao pela distncia
percorrida pela luz. Com base na Fig. 1.12, e denominando de t a
espessura da lente, encontramos que o caminho ptico entre os planos 1 e
2 dado por:
(r) =n
0
(t
1
+t ) +n (t- t -t
2 1 2
) =nt (n-n
0
) (t
1
+t ) (1.44)
2
onde n
0
o ndice de refrao do ar, que doravante tomaremos como
unitrio (n =1). As distncias t e t
0 1 2
entre a lente e os planos 1 e 2 podem
ser calculadas atravs de argumentos geomtricos, levando em conta que
cada superfcie da lente tem formato esfrico. Assim, para a primeira
superfcie,
r
1
2
=x
2 2
+y +z
2
=r
2 2
+(r
1
- t
1
) (1.45)
2 2
y x r + = onde a coordenada transversal a z. Desenvolvendo o
quadrado e supondo que t
1
muito menor que r
1
e r, obtemos:

t
2
C
2
t
1
2 1
r
2
r
1
C
1 F
d
superfcie
equifase

Fig. 1.12 Geometria utilizada para o clculo da mudana de fase de uma onda
plana aps a passagem por uma lente fina.


1
2
1
r 2
r
t (1.46a)
Esta aproximao corresponde aproximao paraxial que discutimos no
incio do captulo. Procedendo de forma anloga para a superfcie de raio
r , que tem sinal negativo por definio, temos:
2
2
2
2
r 2
r
t (1.46b)
de forma que o caminho ptico dado por:
f 2
r
nt r
r
1
r
1
2
) 1 n (
nt ) r (
2
2
2 1
=
=
(1.47)
onde a equao do fabricante de lentes, eq. (1.18), foi utilizada nesta
ltima passagem. Como conseqncia, a fase da onda sobre o plano 2 :
+ = =
f 2
r
nt k ) t z ( k ) z , r ( S k ) z , r (
2
0 0 0
(1.48)
onde no primeiro termo da direita subtramos a quantidade k
0
t, que a
fase que a onda ganharia se no houvesse lente. S(r,z) chamada de
funo eikonal. Tomando seu gradiente em coordenadas cilndricas
podemos encontrar o versor , paralelo a k
r
, que define a direo de
propagao da onda. Assim, temos:
r
f
r
k
n ) z , r ( S
0
= = =
r
(1.49)
mostrando que a luz convergir para o ponto focal F, pois tg =r/f. Em
outras palavras, a ao da lente a de produzir uma curvatura na frente de
onda. A fase diminui radialmente sobre o plano 2 e para termos uma
superfcie equifase teremos que caminhar para a direita conforme r
aumenta. Assim, o termo k
0
z compensa o decrscimo radial da fase.

1.12 Lentes espessas
Nesta seo vamos abordar alguns outros detalhes da lente
espessa, da qual j conhecemos a distncia focal traseira (BFL), dada pela


26

eq. (1.17). Queremos agora encontrar sua distncia focal efetiva, f (EFL),
utilizando para isso o formalismo empregado na seo 1.9. O traado de
raios neste caso bastante similar ao que vimos na associao de duas
lentes finas e est apresentado na Fig. 1.13, juntamente com os planos
principais, que chamaremos de H e H.

H H
d
2 d
1
F
t F

Fig. 1.13- Formao de imagem por uma lente espessa e definio dos planos
principais primrio (H) e secundrio (H).
De acordo com a Fig. 1.13, vemos que um raio partindo de F
chega superfcie esquerda a uma altura y , fazendo um ngulo u =y
1 1 1
/(f-
d
1
) com o eixo ptico, onde d
1
a distncia do plano principal H
superfcie esquerda da lente. O raio que sai da lente caracterizado pelos
parmetros y
2
=f u e u
1 2
=0. Usando o formalismo matricial, onde a
matriz da lente dada em (1.29) aplicada ao raio incidente, chegamos a:
+

=
u
y

n
t
1 )
n
t
- ( -
n
t

n
t
1
0
y
1
1
2 2 1 2 1
1
2
(1.50)
Igualando as linhas das matrizes obtemos:
=
1
1
1 1 1
1
2
d f
y
n
t
y
n
t
1 y
d f
f
y (1.51a)
+ + =
1
1
2 1 2 1 2 1
d f
y
n
t
1 y )
n
t
- -( 0 (1.51b)


Com um pouco de lgebra conseguimos encontrar os valores de f e d
1
, que
so dados por:
( )
( )

+ =
2 1 2 1
r nr
t 1 n
r
1
r
1
1 n
f
1
(1.52)
que a equao do fabricante de lentes, e
( )
2 1
nr / n 1 t f d = (1.53a)
O clculo das distncias d
2
feito de maneira anloga, porm tomando o
raio que sai de F e resulta em:
( )
1 2
nr / 1 n t f d = (1. 53b)
A eq. (1.33) continua vlida desde que as distncias do objeto (s)
e da imagem (s) sejam medidas em relao aos planos principais.

1.13 Teorema de Lagrange
Normalmente, alm de sabermos a localizao do plano de
imagem que corresponde a um determinado plano de objeto, tambm
queremos saber o tamanho da imagem, ou seja, a magnificao transversal
do sistema. Se a altura de objeto h, e altura de imagem h, a
magnificao transversal, m
T
, dada pela eq. (1.34). Uma maneira direta
de se determinar a magnificao transversal inicialmente localizando o
plano da imagem paraxial pelo traado de um raio axial (aquele que parte
do centro do objeto e passa pela borda da lente). Posteriormente traamos
o raio principal (aquele que parte da borda do objeto de altura h e passa
pelo centro da lente), determinamos sua interseo com o plano da
imagem paraxial, pela qual podemos achar h e determinar a magnificao
transversal.
Uma maneira mais simples de calcular a ampliao transversal de
uma imagem usando o teorema de Lagrange, que necessita apenas dos
dados de um raio axial. Para ver como isto funciona, vamos inicialmente
considerar a superfcie refratora simples mostrada na Fig. 1.14. Tomemos
um par de pontos conjugados axiais, B e B, cujas distncias superfcie
so l e l, respectivamente. Coloquemos em B um objeto de altura h, do
qual se desenha o raio principal partindo da borda e indo para o vrtice da


28

superfcie. Usando a lei de Snell na aproximao paraxial (n =n) e as
relaes =h/l e =h/l obtemos:
nh/l =nh/l (1.54)

Fig. 1.14 Figura usada para a demonstrao do teorema de Lagrange.
A seguir, tomamos o raio axial partindo do centro do objeto, para o qual y
=lu =lu, ou seja, l =u/y e l =u/y. Substituindo l e l na eq. (1.54) e
cancelando y, ficamos com:
nhu =nhu (1.55)
Esta igualdade leva o nome de teorema de Lagrange e o produto
nhu conhecido como invariante de Lagrange, ou invariante ptico. O
teorema de Lagrange um dos princpios de invarincia mais poderosos
da ptica geomtrica. Como este teorema se aplica ao objeto original e
imagem final, claro que a magnificao da imagem dada por:
m
T
= h/h =nu/nu (1.56)
A magnificao transversal portanto igual razo da inclinao
ptica do raio axial no espao do objeto pela inclinao ptica no espao
da imagem. Assim, a posio e a magnificao transversal de uma
imagem determinada apenas pelo raio axial. Alm disso, como a
magnificao s depende da inclinao do raio, no necessrio saber o
local preciso da posio da imagem para saber seu tamanho.

l' l
B
h
h'
B
n n'
u u'
y


1.14 Equaes da imagem
O formalismo matricial pode ser aplicado para a anlise da
transformao de um objeto de altura h numa imagem de altura h.
Considere o caso onde as distncias do objeto e da imagem so medidas
com relao aos pontos principais, ao invs das superfcies inicial e final
do sistema. A matriz de transferncia unindo dois planos conjugados pode
ser escrita como:
(1.57)
u n
h
m / 1 -
0 m
u' ' n
' h
T
T
onde m
T
a magnificao transversal e o poder do sistema. A
deduo desta matriz ser deixada como exerccio no final do captulo. Os
pontos principais, como discutido anteriormente, so pontos conjugados
de magnificao transversal unitria. Assim, um raio que entra no
primeiro plano principal ser transferido para o segundo plano principal
por uma matriz onde m
T
=+1. Isto resulta numa matriz de transferncia
entre os planos principais que dada por:
(1.58)
=
1 -
0 1
M
' PP
Chamando de s a distncia do objeto ao primeiro plano principal e
de s a distncia do segundo plano principal at a imagem, a matriz global
dada por:
(1.59)
u n
h
1 0
s/n 1
1 -
0 1
1 0
/n' s' 1
u' ' n
' h
Realizando a multiplicao indicada, obtemos:
( )
( )
+
=
u n
h
s/n 1
' nn
' ss
/n' s' s/n /n' s' 1
u' ' n
' h
(1.60)
A equao que determina a distncia da imagem em termos da
distncia do objeto achada zerando o elemento da matriz do canto
superior direito, em concordncia com a matriz dada na eq. (1.57):


30

0
' nn
' ss
/n' s' s/n =
+ (1.61)
que ao ser dividido por (ss)/(nn) se torna:
/f' n' f / n /s' n' s / n = = = + (1.62)
que corresponde eq. (1.5). A magnificao transversal do sistema
determinada pelos elementos diagonais da matriz global:
s ' n
' ns
' n
' s
1 m
T
=
= (1.63)
' ns
s ' n
n
s
1
m
1
T
=
= (1.64)
onde a eq. (1.62) foi utilizada. As frmulas que relacionam o objeto e a
imagem assumem uma forma simples (freqentemente chamada de forma
Gaussiana) quando as distncias do objeto e da imagem so medidas em
relao aos planos principais. Se o objeto e imagem esto ambos em ar, a
equao da imagem Gaussiana reduz-se eq. (1.33).

1.15 Conceitos de radiometria
Uma mquina fotogrfica do tipo cmara escura, que possui um
pequeno orifcio circular de entrada (pinhole) um sistema ptico
perfeito. Se o orifcio for suficientemente pequeno, a resoluo ser
limitada apenas pela difrao. Infelizmente, a imagem ser bastante fraca.
De acordo com a teoria da difrao, a resoluo angular dada por:
orifcio
d
(1.65)
onde d
orifcio
o dimetro do orifcio. Curiosamente, esta relao indica que
quanto maior for o orifcio, melhor a resoluo. Mas isto s verdade do
ponto de vista da ptica ondulatria porque na ptica geomtrica,
conforme se aumenta o dimetro do orifcio, a resoluo piora. Porm,
podemos colocar uma lente logo atrs do orifcio de entrada para mover o
plano da imagem mais prximo deste. Desta forma, podemos fazer o


buraco to grande quanto quisermos para aumentar a irradincia da
imagem e ao mesmo tempo aumentar a resoluo.
Obviamente, a abertura de um sistema ptico um de seus
atributos mais importantes. O limite para o tamanho da abertura est
ligado ao fato de que a qualidade de imagem se deteriorar se a abertura
se tornar muito grande. A tarefa do desenhista ptico equilibrar a
complexidade do desenho com as exigncias de uma abertura
especificada.
A determinao da quantidade de luz que atravessa um sistema
ptico, como por exemplo, a cmara escura, um assunto tratado pela
radiometria. Embora este seja um campo extenso, ns s nos
preocuparemos aqui com as leis fundamentais e relaes geomtricas que
so importantes para o desenho ptico. As condies fundamentais e
conceitos usados na radiometria so geomtricos por natureza. Quando
necessrio aplicar estes conceitos geomtricos a um sistema particular, o
assunto chamado fotometria se o sistema visual, ou radiometria no
caso geral. No que segue, vamos empregar um sistema de coordenadas
esfricas, como mostrado na Fig. 1.15. Nele se v um elemento
diferencial de rea dado por:
2
sen d d (1.66) dA =r

Fig. 1.15 Definio de um elemento diferencial de rea.
O ngulo slido d subtendido por uma rea A, vista da origem,
definido como a razo da rea de uma superfcie esfrica, tangente
d
rsin d
dA
rd
z
y
x


32

extremidade da rea A, pelo quadrado do raio da esfera. Assim, de acordo
com a eq. (1.66), o elemento diferencial de ngulo slido :
= = d d sen
r
dA
d
2
(1.67)
Muitos problemas tm simetria azimutal e nestes casos,
conveniente considerar o elemento diferencial de ngulo slido como um
cone anular, como mostrado na Fig. 1.16. Se a superfcie for circular e
subtender um ngulo
0
visto de P, ento:
2
sen 4 ) cos 1 ( 2 d sen 2
0 2
0
0
0
= = =
(1.68)

x
y
z
dA =2r
2
sen d
d =2 sen d
r
0
P

Fig. 1.16 Elemento diferencial de ngulo slido para problemas com simetria
azimutal.
A radiometria usual est preocupada com a propagao e medida
de radiao de fontes luminosas incoerentes. Para discutir luz de fontes
incoerentes, apresentaremos a seguinte terminologia:
1. A taxa com que a energia muda com o tempo chamada de fluxo,
denotado por . Em unidades de MKS, a unidade de fluxo o watt.
2. A energia por unidade de rea que incide numa superfcie chamada de
fluncia, ou dose, e denotada por F. Em unidades de MKS, a unidade de
fluncia joule/m
2
.
3. O fluxo por unidade de rea que incide numa superfcie chamado de
irradincia e denotado por E. Em unidades de MKS, a unidade de
irradincia watts/m
2
.


4. O fluxo total por unidade de ngulo slido que vem de uma fonte
pequena chamado de intensidade, denotada por I. Supe-se na definio
de intensidade que o tamanho da fonte pequeno comparado distncia
ao ponto onde a intensidade medida. Em unidades de MKS, a
intensidade medida em watts/sr. Uma fonte pontual uniforme aquela
que radia uniformemente em todas as direes. Para fonte deste tipo, a
intensidade :
=
4 d
d
I (1.69)
5. Para discutirmos uma fonte extensa, precisamos de um termo para
descrever a intensidade emitida por unidade de rea da fonte. Esta
quantidade chamada de brilho da fonte (radincia), definido como o
fluxo emitido por unidade de ngulo slido, por unidade de rea projetada
na direo de observao, e denotada por L.

=
d cos dA
d
L
2
(1.70)
Uma fonte que tem uma radincia independente da direo
chamada de fonte Lambertiana. Os corpos negros e a maioria das
superfcies difusas se comportam aproximadamente como fontes
Lambertianas. Pode se mostrar que a radincia se conserva ao longo de
qualquer tubo de raios que se propagam por um sistema ptico. Considere
uma interface separando dois meios de ndice de refrao n e n, como
mostrado na Fig. 1.17.
n
n'
d

d
'
d

Fig. 1.17 Superfcie de separao entre dois meios.


34

Chamemos de dA uma rea infinitesimal na interface. O fluxo em
dA do tubo de raios contido dentro do ngulo slido d :
=
d cos L
dA
d
2
(1.71)
Este fluxo ser transmitido para o segundo meio onde a radincia ser:
' d ' cos dA
d
' L
2

= (1.72)
A radincia ao longo do tubo de raios no segundo meio est
relacionada com a do primeiro meio por:
' d ' d ' sen ' cos
d d sen cos
L
' d ' cos
d cos
L ' L

=

=
(1.73)
onde a eq. (1.67) foi empregada. Como os raios incidente e refratado so
co-planares, temos: d =d. Tomando a diferencial da lei de Snell,
nsen =nsen, temos: n cos d =ncos d, que substitudo na eq.
(1.73) resulta em:
2 2
2
n
L
' n
' L
n
' n
L ' L =
= (1.74)
de forma que a radincia, dividida pelo quadrado do ndice de refrao, se
conserva ao longo de um tubo de raios. Este resultado chamado de
Teorema da Conservao da Radincia. Ele implica que impossvel
aumentar o brilho de uma fonte incoerente usando um sistema ptico
passivo tal como uma lente. Ao formar uma imagem, uma lente pode
apenas aumentar o ngulo slido aparente de uma fonte, no a sua
radincia.
Consideremos agora a irradincia sobre um pequeno objeto plano
produzida por uma fonte circular plana tendo uma radincia uniforme L e
subtendendo um ngulo , como mostra a Fig. 1.18.
0
=
d cos L
dA
d
2
Da definio de radincia, , dada pela eq. (1.71), temos
que a irradincia dada por:


0
2
0
sen L d cos sen L 2
dA
d
E
0
= =
(1.75)
2
A quantidade sen s vezes chamada de ngulo slido projetado
0 p

subtendido pela fonte. Assim, E =L
p
. Este resultado a equao bsica
para o clculo da irradincia em uma superfcie. Estabelece que a
irradincia igual radincia da fonte multiplicada pelo ngulo slido
projetado subtendido pela fonte, visto da superfcie. Assim, para calcular a
irradincia, imaginamos que estamos sobre a superfcie e olhamos para a
fonte para determinar o ngulo slido subtendido por ela.

x
y
z
d
p
=2 sen cos d
p
= sen
2
0
d

Fig. 1.18 Irradincia sobre um pequeno objeto plano produzida por uma fonte
circular plana.
As quantidades que so usadas para descrever a convergncia de
raios de luz so a abertura numrica, abreviada como NA, e o fnumber,
ou abertura relativa, abreviado como FNB. A abertura numrica definida
como:
NA =n sen
0
(1.76)
onde n o ndice de refrao. O fnumber definido por:
NA 2
1
FNB = (1.77)
Usando estas definies na eq. (1.75), encontramos:


36

( )
( )
2 2 2
2
FNB n 4
L
n
NA L
E
= (1.78)
Para um sistema no uniforme ou fora de eixo, a integrao da eq.
(1.75) deve ser feita numericamente. Entretanto, h um caso fora do eixo
simples de se considerar, que corresponde situao em que a fonte
pequena, como indica a Fig. 1.19.

Fig. 1.19 Sistema fora de eixo usado para mostrar a lei cos
alvo

r
p
=A
s
cos/r
2
fonte de
rea A
s
z
4
.
3
Nesta situao, o ngulo slido projetado
p
da fonte varia com cos ,
porque a rea projetada da fonte, vista do alvo, diminui como cos, e a
distncia r da fonte para a imagem inversamente proporcional a cos
2
.
Alm disso, a rea projetada do alvo diminui com cos, de forma que a
irradincia global sobre o alvo se torna:
E =E
0
cos
4
(1.79)
Esta a lei chamada de cos
4
. Entretanto, muitos sistemas pticos usados
fora de eixo, no obedecem lei do cos
4
por sofrerem de restrio angular
(vignetting), que um termo referente reduo da abertura total de um
sistema causada pela separao axial de duas aberturas. Um exemplo
simples de restrio angular o de um tubo curto visto de um ngulo
oblquo, como mostrado na Fig. 1.20. A abertura do tipo olho tpica da
restrio angular de uma lente. claro que numa lente, a abertura de cada
elemento modificada pelas lentes existentes entre ela e o observador,
freqentemente com aumento diferente.
Embora a restrio angular possa ser indesejvel do ponto de vista
radiomtrico, ele freqentemente til para o projetista controlar raios
aberrantes que passam perto das extremidades das lentes. Algumas lentes,


como o tripleto de Cooke, dependem de restrio angular para produzir
desempenho satisfatrio.
Uma estimativa geral da restrio angular pode ser obtida dos
dados de um raio paraxial. Se um raio principal traado atravs de um
sistema, partindo de um ponto fora do eixo, ento se o sistema no tem
nenhuma restrio angular, o raio de abertura de cada lente deve ser pelo
menos to grande quanto as somas dos valores absolutos das alturas dos
raios axial e principal na lente. Os programas computacionais usam este
fato para computar os raios de abertura iniciais das lentes, no caso em que
nenhum valor especificado.

Fig. 1.20 Tubo curto visto de um ngulo oblquo.

1.16 Aberturas e pupilas
O tamanho finito de uma lente faz com que ela colete apenas uma
frao da energia emitida por uma fonte pontual. A limitao fsica
imposta pela borda da lente determina quais raios entram no sistema para
formar uma imagem. Desta forma, o dimetro desobstrudo de uma lente
funciona como uma abertura pela qual a energia flui. Qualquer elemento
fsico que limita a quantidade de luz atingindo o plano da imagem, seja ele
a borda da lente ou uma ris como a mostrada na Fig. 1.21, chamado de
bloqueio com abertura (aperture stop) ou simplesmente abertura. Nos
programas de desenho ptico a abertura representada pelo anagrama AS
(ou AST).
Um outro conceito bastante til para se determinar quais raios
conseguiro percorrer um sistema ptico completo, o da pupila. A pupila
de entrada de um sistema a imagem da abertura vista de um ponto axial
do objeto atravs dos elementos que procedem a abertura. Se no houver


38

nenhuma lente entre o objeto e a abertura, esta ser a prpria pupila de
entrada.
Para ilustrar a idia de pupila de entrada, vamos considerar uma
abertura colocada depois da lente, como mostra a Fig. 1.21(a). Como a
abertura est colocada depois da lente, sua imagem ser virtual e
aumentada. Ela pode ser encontrada da forma usual, analisando-se os raios
provenientes da borda da abertura (raios tracejados).

(a) (b)
Fig. 1.21 Definies de pupila de entrada (a) e pupila de sada (b).
e sada, por sua vez, a imagem da abertura vista do
ponto axial contido no plano da imagematravs de lentes (posicionadas
entre a abertura e no existe
nenhu
abertu ao
em que
e uma linha passando
pelo ce
A pupila d

o plano da imagem). Na Fig. 1.21(a)
ma lente entre a abertura e o plano da imagem de forma que a
ra a prpria pupila de sada. J na Fig. 1.21(b) vemos a situ
a ris est colocada antes da lente e assim, a pupila de sada no
coincide com a abertura. conveniente notar que as posies das pupilas
de entrada e sada dependem da posio do objeto.
Nos dois esquemas da Fig. 1.21 foi includo um raio chamado de
raio principal. Ele definido como um raio qualquer vindo do objeto de
um ponto fora do eixo e passando pelo centro da abertura. O raio principal
entra no sistema ptico ao longo de uma linha passando pelo ponto central
da pupila de entrada e deixa o sistema ao longo d
ntro da pupila de sada. Se o objeto estiver apenas um pouco fora
do eixo, o raio principal se comporta como o raio central do cone de raios
raio axial
pupila de entrada
abertura
objeto
pupila de saida
abertura
objeto
raio principal
raio axial
raio principal


vindo de um ponto do objeto. Se o objeto estiver muito fora do eixo, a
extremidade da lente limitar um lado do feixe e a abertura limitar o
outro lado. Teremos ento uma pupila com restrio angular, e neste caso,
o raio principal geralmente no o raio central de um feixe de raios fora
de eixo. Os raios principais so de grande importncia quando se deseja
corrigir as aberraes no desenho de um sistema ptico.
Nos textos mais antigos de desenho ptico, o termo bloqueio de
campo usado para descrever uma superfcie que limita o campo de viso
de um sistema e as janelas de entrada e de sada so definidas como a
imagem do bloqueio nos espaos objeto e imagem. Bloqueios de campo
so comumente encontrados em sistemas de acomodamento visual que
incluem
em
sistema
r rodar na
direo
preditas pelo traado dos raios paraxiais podem prover uma indicao
retculos e em sistemas para o infravermelho, onde so usados
anteparos internos para diminuir a luz espalhada. Porm, o conceito no
til em muitos sistemas onde no h nenhuma superfcie dentro do
sistema que serve como bloqueio de campo. Ento, o campo de viso
limitado pela extremidade do objeto, pela extremidade da imagem, ou
alguma condio de restrio angular que acontece dentro da lente.
As pupilas de entrada e sada servem para definir a abertura
efetiva de um sistema simples cujo comportamento adequadamente
caracterizado pela ptica paraxial. Note que sistemas contendo elementos
inclinados ou descentralizados no podem ser tratados pela ptica
paraxial. At mesmo na aproximao paraxial, complicaes ocorrem
s nos quais uma nica superfcie no serve como abertura. Por
exemplo, num sistema contendo lentes cilndricas, a superfcie que limita
a raio yz pode ser diferente da que limita o raio xz. A pupila efetiva fora
de eixo freqentemente determinada por uma abertura para a parte
inferior do raio e uma diferente para a parte superior do raio.
Em sistemas reais, freqentemente necessrio considerar as
aberraes da pupila. Por exemplo, em sistemas de grande abertura
angular, as aberraes muitas vezes distorcem e movem demasiadamente
a pupila real e aqueles raios direcionados para a pupila paraxial podem
nem mesmo passar pelo sistema. A pupila real pode parece
do observador e crescer em tamanho conforme o ngulo de campo
aumenta.
A quantidade de luz que atravessa um sistema real depende das
aberturas fsicas realmente presentes e no da especificao arbitrria da
abertura paraxial e do campo visual. Ao mesmo tempo, as aberturas


40

aproximada das aberturas necessrias para muitos sistemas que no tm
nenhuma restrio angular. O termo abertura usado, num sentido geral,
para de
lente
tomado
Fig. 1.22 Aberturas em diferentes tipos de lentes.
A Fig. 1.23 mostra o modo que os programas de desenho ptico
atribuem aberturas ao tripleto de Cooke. Cada superfcie paraxial
mostrada como uma linha reta, comcomprimento igual a duas vezes o
raio da abertura paraxial, e as superfcies reais so mostradas como linhas
curvas. As tra s pupilas,
mas no seus
screver as caractersticas que limitam a extenso uma superfcie
ptica. Consideraremos na presente discusso que as aberturas so
circulares e definidas pelas extremidades das superfcies pticas.
O raio exigido para a abertura na qual passa um feixe que se
propaga ao longo do eixo ptico igual altura do raio axial na lente. Se
o feixe vier de um ponto fora do eixo, o raio da abertura deve ser a soma
das alturas dos raios axial e principal. As aberturas paraxiais podem diferir
em cada superfcie de uma lente. Numa lente real, as extremidades so em
geral, paralelas ao eixo ptico. Nos desenhos, o raio de uma
como sendo igual maior das duas aberturas. Uma linha
perpendicular ao eixo desenhada entre a abertura menor e a maior. Isto
leva aos elementos como os que aparecem na Fig. 1.22. Nela, a segunda
lente impossvel de se fabricar usando tcnicas tradicionais de lapidao
e polimento, mas pode ser feita por moldagem ou por outros mtodos
modernos, como o torneamento com ferramenta de diamante. A terceira
lente tem uma regio plana que usada comumente para reduzir o peso de
elementos negativos espessos.

jetrias mostradas so para raios reais. Os locais da
tamanhos, so mostrados atravs de pontos.
Olhando para a figura, podemos ver quais raios so responsveis
pelas aberturas, como tambm as diferenas entre as aberturas paraxiais e
as aberturas reais necessrias para passar os feixes. O raio mais baixo
define a abertura antes do bloqueio e o raio superior, a abertura depois do


bloqueio, uma condio comum, mas no necessria. O raio principal real
perde o centro da pupila de entrada paraxial por pouco, indicando alguma
aberra
Fig. 1.23 Aberturas do tripleto de Cooke.

1.17 Alguns exemplos de sistemas pticos
O projeto de sistemas pticos um assunto muito extenso para ser
tratado em detalhes , importante entender alguns princpios
fundamentais, pa etrias dos raios
axial e principal, e por isso vamos discutir alguns sistemas que so de uso
comum.
a) Lente
o da pupila. O raio da borda superior perde as aberturas paraxiais
das duas ltimas superfcies por uma quantia significante, mostrando que
esta lente deve ser feita maior que o valor esperado para passar
completamente o feixe real da extremidade do campo.

pupila de saida
pupila de entrada

aqui. Porm
rticularmente aqueles relacionados s traj
fina
Uma lente fina aquela que possui espessura nula. Obviamente,
este tipo de lente no existe de fato, mas os efeitos das espessuras de uma
lente so em geral desprezveis e sua eliminao simplifica bastante as
equaes pticas. Lentes finas so freqentemente desenhadas como setas
do para fora se a lente for positiva, ou apontando para
te for negativa, como esquematizado na Fig. 1.24.
duplas apontan
dentro se a len
Para uma nica lente fina, a abertura a prpria lente, de forma
que o raio axial aquele que vem do vrtice do objeto e atravessa a
extremidade da lente, enquanto que o raio principal vem da extremidade
raio axial
1 2
3 4
5 6
raio principal
abertura


42

do campo de viso e atravessa o centro da lente. Sistemas complexos de
lentes finas podem conter vrias lentes, de forma que a imagem da
abertura produzida pelo conjunto de lentes deve ser achada para se
determinar os locais das pupilas, antes de se determinar as trajetrias dos
raios axial e principal.

(a)
raio axial
raio axial
raio principal raio principal
(b)
Fig. 1.24 Lentes finas (a) positiva e (b) negativa.
b) Objetiva fotogrfica
A objetiva fotogrfica um sistema que inclui um nmero enorme
de exem entes relativamente simples como o tripleto de
Cooke, at sistemas de foto-litografia muito complexos, contendo dezenas
de elementos. fotogrfica
mento do tipo tg. Isto significa que a altura de
tangente do ngulo do raio principal, de forma
que a i
dupla de Gauss.
plos, indo desde l
Uma caracterstica importante de uma objetiva
que ela realiza um mapea
imagem proporcional
magem ter a mesma forma que o objeto. A diferena entre o
mapeamento real e o produzido pela tg chamada de distoro.
Um exemplo de uma lente fotogrfica tpica a objetiva dupla de
Gauss, mostrada na Fig. 1.25, que o tipo mais comum de lente de alta
velocidade usada em mquinas fotogrficas com comprimento focal de 35
mm, operando tipicamente a uma velocidade de cerca de f/2.

raio axial

Fig. 1.25 Objetiva
raio principal


Como outras lentes, ela funciona compensando as aberraes
introduzidas pelas superfcies positi A objetiva dupla de
Gauss aproximadamente simtrica, com a abertura colocada entre os
dois elementos negativos centrais. As trajetrias dos raios axial e principal
so importantes para a compensao das aberraes. Numa primeira
aproximao, o raio stema completo e o
raio principal
Fig. 1.26 Obj de telefoto.
Por outro lado, se o poder positivo estiver concentrado na parte
traseira da lente, o comprimento focal ser menor que a distncia do
centro ao foco da lente e esta ser chamada de lente retrofocal. Um
exemplo deste tipo de objetiva est m strado na Fig. 1.27.
Fig. 1.27 Objetiva retrofocal.
vas e negativas.
axial passa pela extremidade do si
pelo seu centro.
A razo entre as alturas do raio principal e do raio axial numa
dada superfcie um indicador da eficcia desta superfcie em controlar as
aberraes fora de eixo. Se o poder positivo de uma lente estiver mais
concentrado na parte dianteira do que a parte traseira da lente, os pontos
principais estaro deslocados para frente e a lente se torna uma lente de
telefoto, para a qual o comprimento focal efetivo maior que a distncia
do centro da lente ao seu foco, como mostrado na Fig. 1.26.

raioaxial

etiva
raio principal
segundo ponto
principal
o

raio axial

raio principal
segundo
ponto
principal


44
Muitas objetivas fotogrficas so lentes com zoom, onde o
comprimento focal variado pelo movimento de um ou mais grupos de
elementos dentro da lente, como mostrado na Fig. 1.28. Em (a), o grupo
zoom central de quatro elementos movido para a parte de trs da lente,
concentrando o poder na parte traseira e fazendo a lente se comportar
como um desenho retrofoc (b), o grupo zoom movido para frente,
mudando o poder da l que ela se comporte
como u

Fig. 1.28 Objetivas com zoom.
al. Em
ente para frente, fazendo com
ma objetiva telefoto. Note que tanto a posio interna do grupo
zoom e o comprimento focal traseiro so mudados conforme a lente
ajustada. Como desenhado, a altura de imagem varivel, mas em uso
seria mais comum a fixar a altura da imagem e variar o campo de viso.

(a)

raio axial
segundo
raio principal ponto

principal
grupo zoom
raio axial
raio principal
segundo
ponto
principal
grupo zoom
(b)


c) Olho humano
O olho humano uma parte importante de qualquer sistema visual
global. Nele, a refrao de luz ac ntece principalmente na superfcie
exterior, chamada de crnea. A imag m formada no fundo do olho, num
conjunto de detectores de luz do tip ones e bastonetes que compem a
retina. A poro da retina que tem a acuidade mais alta est localizada na
regio central chamada de fvea, enquanto que a regio mais afastada do
centro responsvel pela viso peri rica. O olho pode girar de forma a
trazer a imagem do ponto de interesse visual para a regio foveal e devido
a isto, os raios axial e principal no so precisamente definidos. Como
mostra a Fig. 1.29, ra vrtice do objeto e
da pupila de entrada do olho, que a imagem da ris
a imagem fora de eixo. Ao se desenhar
pupila sufi ris que
ocorre quand
d) Lup
o
e
o c
f
io axial o raio que parte do
passa pela borda
formada pela crnea.

Fig. 1.29 O olho humano.
O raio principal s vezes tomado como um raio do campo de
viso que passa pelo centro de rotao do olho, pois o olho girar
automaticamente para ver um
retina
raio principal
raio axial
crnea
fvea
qualquer instrumento visual deve-se tomar cuidado para assegurar que a
cientemente grande para acomodar o movimento da
o o olho gira.
a
Uma lupa simples uma lente que usada para estender o
intervalo de acomodao do olho e permitir a viso de objetos pequenos.
A distncia mais prxim ue formar uma imagem
varia de
a que olho humano conseg
sde aproximadamente 10 cm para crianas at vrios metros para
pessoas com idade superior a 60 anos; um valor de 25 cm usado como
referncia para computar o poder de uma lupa. Assim, uma lupa com


46
comprimento focal de 25 mm produz um aumento de 10x. A Fig. 1.30
mostra o uso tpico de uma lupa. Como mostrado, o raio axial emerge
paralelo ao eixo, indicando que o ponto focal est no infinito. Tal sistema
s vezes denominado de afocal no lado da imagem. Em uso real, o
justa a distncia para ter o mximo conforto visual, mantendo o
objeto n
usurio a
raio principal
raioaxial
objeto
ormalmente em foco.

Fig. 1.30 O olho humano com lupa.
e) Telescpio
O telescpio inversor, ou Kleperiano, faz parte de uma f
sistemas pticos conhecidos com
amlia de
lupas compostas. Tais sistemas
incluem uma objetiva que forma uma imagem area e uma ocular que
serve como uma lupa para ver a im em, como esquematizado na Fig.
1.31. A objetiva serve como a abertura de entrada. A pupila de entrada
fica assim situada no plano da objetiva e a pupila de sada fica situada no
plano onde a objetiva tem sua imagem formada pela ocular. O olho do
observador deve ser colocado na pupila de sada do instrumento, de forma
que o campo inteiro r. A distncia entre
a superfcie traseira da ocular e o plano da pupila de sada chamada de
elief).
o
ag
pode ser visto sem restrio angula
alvio de olho (eye r
O raio axial entra na objetiva, paralelo ao eixo, e emerge da ocular
paralelo ao eixo, de forma que a imagem pode ser vista com o olho
relaxado. O raio principal atravessa o centro da objetiva e a borda da
ocular. Da figura se v que o campo de viso do telescpio est limitado
pelo dimetro da ocular. A trajetria do raio principal mostra que o que o
telescpio forma uma imagem invertida. Da lei de Lagrange, segue que a
ampliao angular do telescpio proporcional razo dos dimetros das
pupilas de entrada e de sada.

47

Uma forma alternativa de telescpio o Galileano, mostrado na
Fig. 1.32. O telescpio Ga
raio axial
pupila de saida
raio principal
pupila de entrada
plano do retculo
raio axial
pupila de saida
raio principal
pila de entrada pu
lileano difere do telescpio inversor por formar
uma im

incipal diverge depois de atravessar
a ocular, colocando a pupila de sada dentro do telescpio. Como no
possvel por o olho do observador na pupila de sada do instrumento, o
campo de viso ser limitado pelo dimetro da pupila.
Telescpios Galileanos so ocasionalmente usados como
instrumentos visuais de baixo poder, as o alvio de olho negativo uma
falha grave que restringe sua utilidade em sistemas de altos poderes. O
sistema Galileano tem avelmente mais curto
que o sistema inversor
de laser

agem direta. Os caminhos dos raios axial e principal so mostrados
na figura. O raio axial entra no sistema paralelo ao eixo e deixa o sistema
tambm paralelo ao eixo, de forma que o sistema afocal.

Fig. 1.31 Telecpio inversor.
A objetiva serve como abertura, mas como a ocular tem um
comprimento focal negativo, o raio pr
m
comprimento global consider
e freqentemente usado como expansor de feixes
, onde o campo de viso limitado no importante.

Fig. 1.32 Telecpio Galileano.


48

f) Sistema de guiamento
raio axial lente de cam
ra
po lente de campo
io principal
raio axial
raio principal
objetiva
lentes reversoras
lente de campo
ocular
retculo

s telescpios so freqentemente acoplados a sistemas de
guiamento para transmitir imagens a um local diferente. O esquema
paraxial de um sistema de guiamento tpico est mostrado na Fig. 1.33. As
trajetrias dos raios axial e principal so as mesmas tanto no espao da
imagem omo no espao de objeto, mas esto deslocadas direita pelo
comprimnto do guia. Sistemas de guiamento consistem em sucesses
alternadas de objetiva o raio principal mas
no o raio axial. Num sistema de guiamento real, a curvatura de campo
m problema freqente.

reversor, que transforma a imagem invertida em
imagemdireta. Neste sistema, uma lente de campo defronte o sistema
reversor restringe a altura de raio principal e os dois dubletos pequenos
retransmitem a imagem primria perto da lente de campo para o plano do
retculo. A posio e espaamento das lentes reversoras podem ser
variados para mudar o aumento do guiamento.

Fig. 1.34 Sistema de guiamento e reverso.
O
c
e
s e lentes de campo que dobram
u

Fig. 1.33 Sistema de guiamento.
A Fig. 1.34 mostra um telescpio com zoom que contm um
sistema de guiamento e



49
g) Lente telecntrica
m nmero crescente de lentes telec U
a
ntrica no objeto, imagem,
ou em
pupila de saida
em
objeto
pupila de entrada
raio principal
imag
raio axial
mbos os lados. Telecntri significa que o raio principal
paralelo ao eixo, ou equivalentemente, que a pupila est no infinito. Tais
lentes so teis em vrias aplicaes de metrologia, porque elas tm a
propriedade que a altura da imagem no muda conforme a lente
focalizada. A lente da Fig. 1.35 de um exemplo tpico que telecntrica
em ambos os lados. Outros exemplos de lentes telecntricas incluem
lentes de varredura, que devem ser telecntricas para preservar as relaes
geomtricas e lentes de transformada Fourier, na qual o raio axial numa
direo igual ao raio principal na outra direo.

Bibliografia
ates Waves and Photons.
1.3. M. Born and E. Wolf, Principles of Optics, 3
rd
ed., Pergamon, Oxford
(1970)
1.4. G. R. Fowles, Introduction to Modern Optics, Holt, Rinehart and
Winston, NY (1968)
1.5. E. Hecht and A. Zajac, Optic , Addison-Wesley Publishing Co.,
Reading, MA (197
1.6. A. E. Conrady, Applied Optics and Optical Design, Dover
Publications, NY (1929)
1.7. R. Kingslake, Lens Design Fundamentals, Academic Press, NY
(1978).
ca

Fig. 1.35 Lente telecntrica.

1.1. A. Gerrard and J . M. Burch, Introduction to Matrix Methods in
Optics, J ohn Wiley and Sons, NY (1975).
1.2. J . W. Simon and M. J . Guttman, St
s
9)


50

1.8. F. W. Sears, Fsica: ptica, G. Carneiro, RJ (1953).
1.2. ara achar a distncia focal traseira do dubleto
16 cm, t
1
= 1 cm e t
2
=0.4 cm.

Fig. 1.36 Dubleto cimentado.
1.3. Refaa o problema 1.2 pelo mtodo matricial.
1.6. S
=1.52, r
1
7 cm , r
2
=- t
1
= 0.5 cm. Encontre os valores
numricos da distncia etiva e da posio dos planos
principais. Se a lente fos 0), qual seria sua distncia
focal?
1.7. Um objeto com altura 3 mm colocado a uma distncia de 5 cm
da primeira super 6. Onde se formar a
1.9. S. C. Zlio, ptica Moderna - Fundamentos e Aplic
(2006)
aes, IFSC/USP

Problemas
1.1. Explique o que so: a) planos principais, b) pontos nodais, c)
distncia focal efetiva, d) distncias focais frontal e traseira, e) poder
da superfcie. Faa desenhos sempre que necessrio.
Use o mtodo y-nu p
cimentado mostrado na Fig. 1.36. Considere n
1
=1.52, n
2
=1.65 , r
1

=7 cm , r =-5 cm, r =-
2 3

1.4. Suponha que um raio incida sobre o dubleto da Fig. 1.36 paralelo ao
eixo ptico a uma altura de 5 mm. Encontre o ngulo que o raio faz
com cada normal s superfcies durante sua propagao.
1.5. Usando a metodologia da seo 1.12, encontre as posies dos planos
principais do dubleto da Fig. 1.36.
uponha que a lente espessa da Fig. 1.13 se encontre no ar e possua n
= 5 cm e
s focal ef
se delgada (t
h =
fcie da lente do problema 1.

imagem e qual a sua altura?
1.8. Use o mtodo y-nu para encontrar a distncia focal traseira da
combinao de lentes finas tratada na seo 1.9.


1.9. Mostre que a formao de imagem por uma interface esfrica de raio
r separando dois meios dieltricos de ndices de refrao n e n
satisfaz a equao:
r
n ' n
s
' n
s
n
=
+ , enquanto que a magnificao

transversal dada por
s ' n
' ns
m
T
=
e a magnificao longitudinal por
2
L
' n
m =
T
m
n
.
1.11.
rio e secundrio.
1.14. Deduza a equao do esfermetro,
1.15 altura
de distncias focais 10 cm e 20 cm respectivamente. A separao
entre as lentes de 5 cm e o objeto dista 50 cm da primeira lente (a
distncia focal traseira de um
1.17. s
a anterior.
.12 (lentes
1.18 stncia de 5 cm da
1.10. Derive a expresso r =2f para um espelho esfrico.
Deduza a matriz dada na eq. (1.39).
1.12. Considere a associao de duas lentes finas de distncias focais f
1
e
f
2
= f /2, separadas por d =f
1 1
/2. Encontre a distncia focal do
conjunto e as posies dos planos principais prim
1.13. J ustifique a matriz de transferncia usada na eq. (1.57).
que relaciona o raio de curvatura
com a corda e a flecha de uma superfcie esfrica.
. Um objeto de 3 mm de colocado diante de duas lentes finas
de 10 cm). Encontre a altura da imagem formada.
1.16. Use o mtodo y-nu para achar a
dubleto simtrico espaado onde n
1
=n
2
=1.5, r =5 cm, r =r
1 2 3
=,
r =-5 cm, t =t
4 1 3
=1.5 cm e t
2
=3 cm.
Usando o mtodo matricial encontre a distncia focal efetiva e a
posies dos planos principais da lente do problem
Sugesto: Utilize a mesma metodologia da seo 1
espessas).
. Um objeto de 5 mm de altura colocado a uma di
primeira lente do problema 1.17. Supondo que os dimetros das
lentes sejam de 3 cm, encontre a posio da imagem formada, a
altura da imagem formada, o invariante de Lagrange e ngulo do raio
axial no plano da imagem.


52

1.19. Mtodo l - l: De acordo com o problema 1.9, a refrao pelo
dioptro mostrado na Fig. 1.37 dada por:
r
n ' n
'
' n n
= + , de onde se
l l
tira:
l
l
n
' n
'

= , onde
r
n ' n
= . Se houver outro dioptro direita
podemos aplicar novamente esta igualdade desde que se use a
translao l
j
=t - l
j-1
. Usando este mtodo, refaa o problema 1.2.

.
1.20. o ar,
, que
relaciona o raio que entra na primeira superfcie com o raio que sai na
ltima. Encontre as distncias focais frontal (f
F
) e traseira (f
B
), a
posio dos pontos principais ( e P) e a distncia focal efetiva (f)
como funo dos elementos da mtriz.

Fig. 1.37 Dioptro esfrico de raio r.
Um sistema ptico (lente) complexo, que se encontra n
caracterizado por uma matriz conhecida
=
D C
B A
M
P
a

n'

l'
y
-u'
r
u
l
n

Aberraes

53

2.1 Aberraes monocromticas
As aberraes de uma lente no so causadas por construo
defeituosa tais como irregularidades de superfcie. Eles so conseqncias
inevitveis das leis de refrao de uma superfcie esfrica que fazem a
lente falhar ao formar uma imagem precisa. At mesmo uma lente feita de
material de altssima qualidade e livre de qualquer defeito de manufatura
tem aberraes. Sabendo como as aberraes no so geradas, agora
essencial saber qual a sua origem e por que estes efeitos no so previstos
pela ptica geomtrica paraxial. Neste captulo queremos explorar os
diferentes tipos de aberraes e discutir mtodos para reduzi-los.
No tratamento que empregamos no captulo anterior para analisar
a formao de imagem por uma lente, supusemos a aproximao paraxial,
na qual sen e tg so aproximados pelo argumento . Esta uma teoria
chamada de primeira ordem. Entretanto, quando um raio passa prximo da
borda da lente (raio marginal), ele focalizado com um ngulo
relativamente grande, de forma que a aproximao paraxial no boa.
Neste caso, mesmo que a luz seja monocromtica, de forma que a
aberrao cromtica que trataremos posteriormente pode ser ignorada,
haver aberraes de outro tipo. Para entendermos estas aberraes
devemos tomar o termo cbico na expanso do sen e assim passaremos a
ter uma teoria de terceira ordem. As diferenas entre esta teoria e a linear
so conhecidas como aberraes primrias e so em nmero de cinco
(aberrao esfrica, coma, astigmatismo, curvatura de campo e distoro).
Elas foram estudadas em detalhe por Ludwig von Seidel (1821-1896) por
volta de 1850 e por isso levam o nome de aberraes de Seidel.
2
Aberraes


S. C. Zilio ptica Moderna Fundamentos e Aplicaes
54
Quando raios paralelos incidem numa lente positiva, os raios
perifricos focalizam mais prximos da lente que os raios paraxiais, como
mostra a Fig. 2.1. Portanto, a aproximao paraxial, freqentemente
empregada na ptica geomtrica para obter as equaes de reflexo e
refrao, levam a uma formao de imagem exata que enganosa. A
aberrao uma medida da diferena entre as imagens real e paraxial.
Nesta seo faremos inicialmente uma discusso qualitativa da causa
fsica das aberraes, e depois passaremos a uma abordagem mais
quantitativa explorando a teoria de terceira ordem, que uma melhoria da
aproximao paraxial envolvida na formao de imagens, e obteremos
uma expresso para a aberrao. O primeiro ponto a ser discutido a
razo fsica da existncia das aberraes.

Fig 2.1 - Dependncia da distncia focal com a abertura da lente; os raios
marginais so focalizados mais prximos que os raios paraxiais.
Consideremos as frentes de onda I e R da Fig. 2.2 emergindo de
um sistema ptico arbitrrio. A frente de onda esfrica I ideal,
correspondendo aproximao paraxial, enquanto que R a frente de
onda no esfrica real. Os raios que partem de P e Q so normais as suas
respectivas frentes de ondas e no cruzam o plano da imagem paraxial no
mesmo ponto. A frente de onda I produz uma imagem em S enquanto que
a frente de onda R passa pelo eixo ptico em L e forma uma imagem no
plano de imagem paraxial, em T. A distncia LS sobre o eixo ptico pode
ser interpretada como a aberrao longitudinal e a distncia TS ao longo
do plano da imagem paraxial pode ser interpretada como a aberrao
transversal.
A aberrao tambm pode ser descrita em termos da diferena
entre as frentes de onda real e ideal, como a distncia PQ da Fig. 2.3. As
frentes de onda coincidem no eixo ptico e a aberrao correspondente
h
foco marginal
foco paraxial
R
2

R
1

Aberrao esfrica
longitudinal
Aberrao esfrica
transversal

Aberraes

55
Q
y
n'
P
s'
a

y
b
z
b
y

Sistema
ptico
Plano da
imagem
paraxial
O
Q
I
R
P
L
S
T
zero. Neste caso, as duas frentes de onda formam uma imagem em S. Um
raio proveniente da frente de onda real entre O e P ter sua imagem
localizada entre S e T. Assim, a imagem formada por todos os raios da
frente de onda real borrada, resultando em aberrao.

Fig 2.2 - Frentes de onda correspondentes aproximao paraxial e ao caso
real.
Com base na Fig. 2.3, evidente que depois de se determinar a
altura y e a diferena PQ, as aberraes longitudinal e transversal podem
ser calculadas. Ao invs de PQ, vamos trabalhar com a diferena de
caminhos pticos, chamada de aberrao da frente de onda, a(Q) = nPQ.

Fig 2.3 - Geometria usada para encontrar a relao entre QP e as aberraes
longitudinal e transversal.


56
importante notar que o ngulo entre os raios real e paraxial passando
pelo ponto P so iguais ao ngulo entre as tangentes das frentes de onda.
Alm disto, os ngulos da Fig. 2.3 esto bastante exagerados porque a <<
s' e b
z
<< s'. Portanto, tan = y/s', expresso esta que ser empregada na
derivao que segue. O primeiro passo relacionar as aberraes
longitudinal e transversal, b
z
e b
y
respectivamente, com a aberrao da
frente de onda, a(Q). Considerando uma aberrao de onda infinitesimal
da = n'(sendy), mostrada na Fig. 2.4, segue que
sen = (1/n')da/dy (2.1)
onde da/dy o desvio com relao curvatura da frente de onda ideal no
ponto P. De acordo com a Fig. 2.3, a aberrao transversal do raio dada
aproximadamente por:
b
y
= s' (2.2)
onde s' a distncia da imagem da frente de onda paraxial. Assim,
substituindo a expresso obtida para , b
y
aproximadamente igual a
(s'/n')(da/dy). Similarmente, a aberrao transversal b
x
aproximadamente
igual a (s'/n')(da/dx). A aberrao longitudinal pode ser determinada
trigonometricamente como b
z
= b
y
/tan = b
y
s'/y. Resumindo, temos:
Aberrao transversal: b
x
= (s'/n') (da/dx) (2.3)
Aberrao transversal: b
y
= (s'/n') (da/dy) (2.4)
Aberrao longitudinal: b
z
= b
y
/tan = s'b
y
/y (2.5)

Fig 2.4 - Configurao usada para encontrar a relao entre a variao de
caminho ptico, da, com o acrscimo do tamanho da abertura, dy.
I
R
dy
a
P

da

Aberraes

57
Para se obter uma expresso realstica para a(Q), a partir da qual
as aberraes longitudinal e transversal podem ser determinadas, a teoria
de terceira ordem deve ser empregada considerando termos adicionais na
expanso em srie de potncia envolvendo seno e co-seno. Procedendo
desta forma, uma abordagem mais realstica da ptica geomtrica obtida
em comparao com a aproximao paraxial. Porm, importante
salientar que termos de ordens mais altas tambm podem ser considerados
mas isto envolve manipulaes matemticas muito mais complicadas.

2.2 Aberrao de um ponto objeto axial
Uma descrio matemtica das aberraes oriundas da
aproximao de terceira ordem ser feita considerando inicialmente a
refrao de um ponto objeto axial numa interface esfrica. Uma referncia
til nesta discusso a Fig. 2.5 que mostra a formao da imagem de um
ponto objeto axial. Para um ponto particular Q da superfcie refratora
esfrica, a aberrao a(Q) dada como a diferena de caminhos pticos
entre os raios ideal e real:
a(Q) = (PQI - POI) (2.6)

Fig 2.5 Refrao de um raio de luz de um ponto objeto axial por uma
superfcie refratora esfrica.
C

Q
z
n'
P
s'
h
'
R
R

A
O
n
z'
s
I


58
A aproximao paraxial e o princpio de Fermat do menor tempo
estabelecem que PQI e POI da Fig. 2.5 devem ser idnticos, resultando
em aberrao nula. Entretanto, para aproximaes de ordens mais altas, o
caminho PQI diferente de POI, dando origem a quantidades variveis de
aberrao para diferentes pontos Q sobre a superfcie refratora esfrica.
Sabendo que os caminhos pticos so dados por PQI = nz+n'z' e POI =
ns+n's', a aberrao de onda se reduz :
a(Q) = (nz + n'z') - (ns + n's') (2.7)
Usando a lei de co-senos e a relao cos(-) = - cos temos:
z
2
= R
2
+ (s+R)
2
- 2R(s+R) cos (2.8)
z'
2
= R
2
+ (s'-R)
2
+ 2R(s'-R) cos (2.9)
Para simplificao, apenas os primeiros termos da expanso em
srie do cos sero substitudos nas equaes (2.8) e (2.9). Embora as
equaes possuam o sinal de igual, elas so de fato aproximadas porque
cos ser tomado como 1 -
2
/2! +
4
/4!. Alm disso, sen = h/R ser
aproximado pelo primeiro termo de sua srie de potncia, tal que = h/R.
Desta forma,
cos = 1 - (h/R)
2
/2! + (h/R)
4
/4! (2.10)
Substituindo a eq. (2.10) nas equaes (2.8) e (2.9) podemos
obter expresses para z e z' em termos das variveis R, s, s' e h:
z = s{1 + [h
2
(R+s)/(Rs
2
) - h
4
(R+s)/(12R
3
s
2
)]}
1/2
(2.11)
e
z' = s'{1 + [h
2
(R-s') / (Rs'
2
) - h
4
(R-s') / (12R
3
s'
2
)]}
1/2
(2.12)
A deduo destas expresses ser deixada como exerccio.
Representando o termo entre colchetes da eq. (2.11) pela varivel x,
x = h
2
(R+s)/(Rs
2
) - h
4
(R+s)/(12R
3
s
2
) (2.13)
temos:
z = s (1 + x )
1/2
(2.14)
Expandindo a raiz em srie de Taylor obtemos:
z = s (1 + 1/2 x - 1/8 x
2
) (2.15)

Aberraes

59
Fizemos aqui uma outra aproximao porque apenas trs termos
foram includos na expanso do binmio. Substituindo a expresso para x
dada na eq. (2.13), na eq. (2.15), a expresso para z pode ser encontrada
como:
z = s{1+h
2
(R+s)/(2Rs
2
)-h
4
(R+s)/(24R
3
s
2
)-h
4
(R+s)
2
/(8R
2
s
4
)} (2.16)
Analogamente, podemos representar o termo entre colchetes da
eq. (2.12) pela varivel x'. Usando o mesmo procedimento acima
obtemos:
z' = s'{1+h
2
(R-s')/(2Rs'
2
)-h
4
(R-s')/(24R
3
s'
2
)-h
4
(R-s')
2
/(8R
2
s'
4
)} (2.17)
Substituindo estas expresses para z e z' na eq. (2.7) resulta na
expresso para a aberrao de um ponto objeto axial:
a(Q) = 1/2 h
2
(1- h
2
/12R
2
)[(n/s+n'/s') - (n'-n)/R]
1/8 h
4
[(n/s){1/s+1/R}
2
+(n'/s') {1/s'-1/R}
2
] (2.18)
No parnteses do primeiro termo temos a razo h
2
/12R
2
que
muito menor que 1 e que de agora em diante ser desprezada. O que sobra
do primeiro termo corresponde aproximao de primeira ordem da
aberrao, a qual, de acordo com a eq. (1.62) da formao da imagem
paraxial, nula. A expresso da aberrao de terceira ordem para um
ponto objeto axial :
a(Q) = - 1/8 h
4
[(n/s){1/s + 1/R}
2
+ (n'/s') {1/s' - 1/R}
2
] (2.19)
Para h muito pequeno, h
4
pode ser desprezado. Neste caso, os
raios so aproximadamente paraxiais e a(Q) = 0, como esperado. Caso
contrrio, quando os raios no so paraxiais, a(Q) proporcional a h
4
.
Assim, para um ponto objeto axial, a teoria de terceira ordem prediz que a
aberrao entre as frentes de onda esfrica ideal e a real a(Q) = ch
4
, onde
c constante e h a altura de ponto Q sobre o eixo ptico. Esta aberrao
denominada de aberrao esfrica.

2.3 Aberrao de um ponto objeto fora do eixo
A discusso prvia s vlida para pontos objeto axiais. A seguir,
discutiremos a equao da aberrao para um ponto objeto fora do eixo,
como aquele mostrado na Fig. 2.6. Para transformar a configurao fora
de eixo numa configurao semelhante ao caso axial, podemos traar uma


60
linha equivalente ao eixo ptico do caso anterior. Este eixo de simetria
PCI'. O deslocamento y' a partir do eixo oblquo de simetria maior que
para o caso prvio de um objeto axial, para o qual a altura foi representada
como h = y. Assim, pontos objeto fora do eixo possuem aberrao maior
que os pontos objeto axiais correspondentes.

Fig 2.6 Refrao de um raio de luz de um ponto objeto fora do eixo por uma
superfcie refratora esfrica.
A funo de aberrao a'(Q) pode ser determinada a partir das Fig.
2.7 e 2.8, de maneira anloga ao o mtodo anterior, tomando como
sendo a distncia ao eixo oblquo.
a'(Q) = (PQI' - PBI') = c
4
(2.20)

Fig 2.7 Traado da imagem de um ponto objeto fora do eixo.
h'
Q

C
n'
P
B
n
I
O
S

C
n
P
I
B
O
n
y'
I
y
Q

Aberraes

61
Entretanto, este procedimento no fornece a descrio correta pois
a'(Q) foi calculada com relao ao eixo oblquo e no entanto deveria ter
sido calculada com relao ao eixo ptico. Para fazer isto, vamos tomar
a'(O) como:
a'(O) = (POI' - PBI') = cb
4
(2.21)
de forma que a funo de aberrao relativa ao eixo ptico fica:
a(Q) = (PQI' - POI') = a'(Q) - a'(O) = c (
4
-b
4
) (2.22)
Usando a Fig. 2.8 e a lei de co-senos obtemos:
2
= r
2
+ b
2
+ 2rbcos (2.23)
Substituindo na eq. (2.22) e agrupando os termos, chegamos a:
a(Q) = c (r
4
+ 4r
2
b
2
cos
2
+ 2r
2
b
2
+ 4r
3
bcos + 4rb
3
cos) (2.24)
Como O, B, C e I esto no mesmo plano vertical, os tringulos
OBC e SI'C da Fig. 2.7 so tringulos semelhantes. Tomando os
segmentos OB = b e SI' = h', segue que b proporcional a h' devido
semelhana entre os tringulos. Fazendo esta substituio, o resultado
final para a aberrao de um ponto objeto fora do eixo dado por:
+ +
+ + =
cos r ' h C r ' h C
cos r ' h C cos r ' h C r C ) Q ( a
3 3
11
2 2 2
20
2 2 2 2
22
3 1
31
4 0
40
(2.25)

Fig 2.8 Vista frontal da configurao da Fig. 2.7.
Lembre que h' o desvio da imagem axial, r a abertura da
superfcie refratora (anlogo a h na discusso do ponto objeto axial) e
indica a simetria axial da aberrao, como mostrado na Fig. 2.8. Os
O
B
Q
r

b


62
ndices nas constantes referem-se s potncia de h', r e cos,
respectivamente. Assim, as constantes so representadas como:
' h
cos r
C

Cada um dos cinco termos de a(Q) descreve uma aberrao de
terceira ordem, ou de Seidel: r
4
- aberrao esfrica, h'r
3
cos - coma,
h'
2
r
2
cos
2
- astigmatismo, h'
2
r
2
- curvatura de campo, e h'
3
rcos -
distoro. Estas aberraes so independentes do comprimento de onda e
por isso ocorrem mesmo com luz monocromtica como as de lasers. Elas
esto relacionadas inexatido da aproximao paraxial em descrever o
processo de formao de imagem.

2.4 Aberrao esfrica
O primeiro termo,
4 0
40
r C , que corresponde aberrao esfrica,
o nico termo independente de h', e assim, a nica aberrao que existe
para objetos axiais (para os quais h' = 0). Alm disso, simtrico em
relao ao eixo ptico (pois cos no aparece) e aumenta rapidamente
com a abertura r.
A aberrao esfrica representa um empecilho para que os raios
de um ponto objeto convirjam para um ponto imagem depois de atravessar
um sistema ptico. A Fig. 2.9 mostra que raios incidentes numa lente
positiva com diferentes raios de abertura, r, tem sua imagem formada em
pontos diferentes. Raios mais distantes do eixo ptico so refratados mais
fortemente e focalizam mais prximos da lente que os raios paraxiais. A
distncia P''P' ao longo do eixo ptico entre as imagens a aberrao
esfrica longitudinal. Note que para uma lente positiva, P'' est esquerda
de P' e a aberrao esfrica positiva. Para uma lente negativa, P'' est
direita de P' e a aberrao esfrica negativa. Na prtica, o melhor foco
acontece num ponto intermedirio entre P'' e P', o crculo de menor
confuso. A curva que limita os raios mais externos de um pincel de raios
chamada custica.
Para uma interface esfrica, as aberraes lateral e longitudinal
podem ser determinadas das equaes (2.3), (2.4) e (2.5), fazendo a =
4 0
40
r C e tomando r na direo y. Como no existe nenhuma dependncia
na direo x, a aberrao b
x
da eq. (2.3) nula e assim:
b
x
= (s'/n') (da/dx) = 0 (2.26)

Aberraes

63
P'
P''
crculo de menor
confuso
P
custica

Fig 2.9 Aberrao esfrica em uma lente positiva.
Da eq. (2.4), b
y
= (s'/n')(da/dy) = (s'/n')(da/dr) pode ser encontrado
facilmente como:
b
y
= 4
0
40
C s'r
3
/n' (2.27)
Como b
z
= s'b
y
/y = s'b
y
/r, conforme estabelece a eq. (2.5), temos:
b
z
= 4
0
40
C s'
2
r
2
/n' (2.28)
Para encontrarmos uma frmula mais explcita da aberrao
esfrica longitudinal de um raio axial que refrata numa interface esfrica,
vamos utilizar a eq. (2.18) com h = r. Como o ponto Q est vinculado a
uma esfera de raio R constante, e as distncias s e s' so fixas, a nica
varivel do problema a altura r. O princpio de Fermat estabelece que
para o raio ir de P a I ele deve seguir a trajetria com caminho ptico
mnimo, que pode ser encontrado fazendo da(Q)/dr = 0, o que nos leva a:
(
(
\
|
+ |
\
|
+ +
= +
2 2
2
' s
1
R
1
' s 2
' n
s
1
R
1
s 2
n
r
R
n ' n
' s
' n
s
n
(2.29)
Note que nesta expresso desprezamos o termo h
2
/12R
2
da eq. (2.18). O
termo adicional, que varia com r
2
, uma medida do desvio da teoria
paraxial. Este resultado corresponde a apenas uma interface esfrica e se
quisermos obter o resultado para uma lente devemos considerar a segunda
superfcie esfrica da mesma. Esta situao foi tratada por A. E. Conrady
(ver referncia 2.3) no caso em que a luz incidente colimada. Ele
mostrou que os focos marginal (ou perifrico) e paraxial esto separados
por:


64
= kr
2
(2.30)
com k sendo dado por:
( )
(
(
|
|
\
|
+
+
|
|
\
|
+ +
=
2
2
2
3
1
2
2
R
1
f
1 n
R
1
f
1
R
1
n
1 n
f k
(2.31)
A aberrao esfrica ser mnima quando a razo entre os raios de
curvatura da lente satisfizer:
2
2
2
1
n 2 n
n 2 4 n
R
R
+
+
=
(2.32)
Lembre que esta frmula s vlida quando o objeto estiver muito
afastado da lente (s). Uma maneira que se usa atualmente para
minimizar a aberrao esfrica pela construo de lentes cujas
superfcies no sejam esfricas (lentes asfricas). As lentes asfricas no
so encontradas com facilidade (e so caras). Na prtica, o que se pode
fazer para minimizar este tipo de aberrao, fazer com que os ngulos de
entrada e sada dos raios na lente sejam os mais prximos possveis. A
Fig. 2.10 mostra a maneira de se minimizar a aberrao esfrica numa
lente plano-convexa para um feixe incidente colimado.

Fig 2.10 Aberrao esfrica de uma lente plano-convexa em duas situaes
diferentes.

Aberraes

65

Em concluso, quando um objeto est no infinito, a imagem se
forma no foco. Entretanto, devido aberrao esfrica, a distncia focal
diferente para raios que atravessam a lente em diferentes distncias do
eixo ptico, como j mostrado na Fig. 2.1. A distncia focal especificada
de uma lente para os raios paraxiais, onde r, e conseqentemente a
aberrao esfrica, nula.

2.5 Coma
O termo cos r ' h C
3 1
31
representa a aberrao denominada coma,
que s existe no caso fora do eixo por ser proporcional a h'. Alm disso,
esta aberrao no simtrica com relao ao eixo ptico devido
dependncia com e aumenta rapidamente com a abertura r, embora no
to rapidamente quanto a aberrao esfrica. A coma representa um
impedimento para que os raios de um ponto objeto fora do eixo convirjam
para um ponto imagem. Ao invs de um ponto, os raios formam uma
espcie de cometa, como se v na Fig. 2.11. Semelhantemente aberrao
esfrica, a coma pode ser positiva ou negativa.

Fig 2.11 Imagem comtica formada por uma srie de crculos.
A distncia focal efetiva e, portanto, a magnificao transversal,
ser diferente para raios atravessando diferentes regies fora do eixo da
lente, como mostra a Fig. 2.11 para uma fonte pontual. Quando m
T

aumenta para os raios mais externos (como na figura) temos coma
positiva e se m
T
diminui, temos coma negativa. Esta aberrao apresenta
certa analogia com a aberrao esfrica, pois ambas resultam da
P
h'
b
y


66
impossibilidade de raios paraxiais e marginais convergirem em um
mesmo ponto depois de atravessarem a lente. Entretanto, elas se
diferenciam na forma da imagem produzida, j que um ponto com
aberrao esfrica resultar numa forma circular e com coma, numa forma
de cometa, como mostrado no canto inferior direito da Fig. 2.11.
Podemos proceder de maneira anloga da seo anterior para
encontrarmos a aberrao transversal. De acordo com a Fig. 2.8, temos x
= r sen e y = r cos, que quando substitudos na expresso para a
aberrao comtica resulta em a(x,y) =
1
31
C h(x
2
+y
2
)y. Assim, a aberrao
sagital dada por:
b
x
= (s'/n') (da/dx) = (s'/n')
1
31
C h2xy = (s'/n')
1
31
C h r
2
sen 2 (2.33)
enquanto que a aberrao meridional fica:
b
y
= (s'/n') (da/dy) = (s'/n')
1
31
C h(x
2
+3y
2
) =
(s'/n')
1
31
C h r
2
( 2 + cos 2) (2.34)
A anlise deste resultado mostra que a aberrao comtica produz
um crculo se raio B = (s'/n')
1
31
C h r
2
afastado verticalmente por uma
distncia 2B do ponto imagem paraxial, como mostrado no canto inferior
da Fig. 2.11.
A aberrao comtica depende bastante da posio do objeto e da
geometria da lente; entretanto, podemos constatar da Fig. 2.11, que a
colocao de uma ris que permita apenas a passagem dos raios pelo
centro da lente, diminui bastante este tipo de aberrao. Como no caso da
aberrao esfrica, a coma pode ser minimizada ao se escolher
adequadamente os raios de curvaturas da lente. Infelizmente, a
combinao de raios de curvaturas para minimizar a coma no a mesma
combinao que minimiza a aberrao esfrica.
2.6 Astigmatismo
As duas prximas aberraes, astigmatismo e curvatura de campo,
esto intimamente relacionadas. Isto pode ser visto combinando-se o
terceiro e quarto termos da funo aberrao dada pela eq. (2.25). Assim
temos: ( )
2
20
2 2
22
2 2
C cos C r ' h + , onde o primeiro termo corresponde ao

Aberraes

67
astigmatismo e o segundo curvatura de campo. bvio que estas
aberraes so ambas fora de eixo por serem proporcionais a h'
2
. Ambas
aumentam quadraticamente com a abertura r da superfcie refratora, mas a
curvatura de campo simtrica enquanto que o astigmatismo
assimtrico com relao ao eixo ptico devido ao fator cos
2
.
Como conseqncia do astigmatismo, a imagem de um ponto fora
de eixo consiste de duas linhas perpendiculares em diferentes planos de
imagem, como mostrado na Fig. 2.12. Os raios de um ponto objeto
convergem para uma linha primria de imagem, T, a uma dada distncia
da lente. Esta imagem perpendicular ao plano contendo o eixo ptico e o
ponto objeto fora de eixo. A uma distncia posterior, estes raios
convergem a uma linha secundria de imagem, S, que perpendicular
imagem primria, T, e paralela ao j mencionado plano que contm o eixo
ptico e o ponto objeto fora de eixo.

Fig 2.12 Astigmatismo de um ponto objeto fora de eixo.
As imagens intermedirias entre as imagens primria e secundria
possuem formas elpticas variveis. A imagem primria se expande numa
elipse e depois num crculo que novamente se contrai, primeiro numa
elipse e depois numa linha (a linha de imagem secundria) que
perpendicular primeira. A localizao do crculo de menor confuso
depende da distncia lateral do ponto objeto ao eixo ptico e da distncia
longitudinal lente, e sempre aparece entre as imagens primria e
secundria.
At agora discutimos as imagens de um ponto objeto, mas
poderamos querer saber quais tipos de imagens seriam formadas por
outros objetos. Alguns exemplos so mostrados na Fig. 2.13. Se o objeto
imagem
secundria
imagem
primria
ponto objeto
fora do eixo
lente
T
S


68
for uma linha radial, sua imagem ser borrada no foco tangencial, T, e
bem definida no foco radial, S. Se o objeto for uma linha tangencial, sua
imagem ser bem definida em T e borrada em S. Se o objeto for uma
combinao de linhas radiais e tangenciais como uma roda raiada, a beira
da roda (que a soma de linhas tangenciais curtas) estar focalizada em T
e os raios (que so linhas radiais) em S.

Objeto Imagem primria Imagem secundria
Objeto pontual
Linha radial
Linha tangencial
Roda raiada

Fig 2.13 Imagens astigmticas de vrios tipos de objetos.
No caso de um feixe de luz colimada incidindo com um ngulo
sobre uma lente, como mostra a Fig. 2.14, a simetria dos raios incidente
diferente nos planos meridional e sagital, e assim, de se esperar que as
distncias focais tambm o sejam. Realmente, encontra-se que no plano

Fig. 2.14 Focalizao nos planos meridional e sagital.
plano meridional
plano sagital

Aberraes

69
meridional o foco dado por f
m
= f cos enquanto que no plano sagital f
s

= f/cos. Para evitarmos este tipo de aberrao, devemos posicionar as
lentes de uma montagem experimental sempre perpendiculares aos feixes
de luz.
Para vrios pontos objeto P, mostrados na Fig. 2.15, as imagens
de linha correspondentes, S e T, determinam superfcies parablicas. A
discordncia entre as duas superfcies uma medida da magnitude do
astigmatismo. Quando a superfcie T da imagem primria cai esquerda
da superfcie S de imagem secundria, a diferena de astigmatismos
positiva. A superfcie de Petzval formada quando as superfcies S e T
coincidem, implicando em astigmatismo nulo. Ela nica e s depende
das propriedades bsicas da lente tais como a distncia focal e o ndice de
refrao. Nesta situao, a imagem de um ponto no mais alargada, mas
devido aberrao restante de curvatura de campo, o plano de imagem
curvo e coincidente com a superfcie de Petzval.

Fig 2.15 Superfcies de imagens astigmticas, T e S, formadas por pontos
objeto fora de eixo.

2.7 Curvatura de campo
Com a curvatura de campo, os pontos fora do eixo comportam-se
como se fossem afetados por uma lente de poder maior e assim tem um
comprimento focal mais curto e ao atravessar uma lente positiva eles so
deslocados para a lente, como mostra a Fig. 2.16. O resultado que os
pontos objetos localizados sobre um plano tm suas imagens formadas
numa superfcie curva, no num plano. Nesta situao, imagens bem
P
T
S
F


70
definidas so observadas contanto que o plano da imagem coincida com a
superfcie de Petzval.

Fig 2.16 Curvatura de campo.

2.8 Distoro
A ltima aberrao de Seidel a distoro, que determinada
pelo termo cos r ' h C
3 3
11
. Ela tambm s aparece para pontos objeto
localizados fora do eixo e dependente do tamanho da abertura e do
ngulo com respeito ao eixo. o equivalente transversal da curvatura de
campo e tambm envolve raios fora de eixo que esto deslocados ou longe
do eixo ptico. Isto resulta numa mudana da magnificao transversal
com a distncia ao eixo. Ela no est relacionada com a falta de nitidez da
imagem. Pontos objeto formam imagens de pontos mas devido variao
na magnificao, a imagem de uma linha reta, por exemplo, est curvada
no plano da imagem devido s propriedades de magnificao variveis.
Um exemplo visto na Fig. 2.17.

Fig 2.17 Imagem de uma grade quadrada, resultando em distoro em
almofada..

Aberraes

71
(a) (b) (c)
H dois tipos de distoro: distoro em almofada e distoro em
barril. Para a distoro em almofada, a ampliao lateral aumenta com a
distncia ao ptico eixo. Para a distoro de barril, a ampliao diminui
com a distncia do eixo. Como ilustra as Figuras 2.17 e 2.18, as imagens
so bem definidas em ambos os casos.

Fig 2.18 Imagem de uma grade quadrada (a), resultando em distoro em
almofada (b) e distoro em barril (c).
De maneira geral, podem ser usadas aberturas para reduzir os
efeitos das aberraes monocromticas. O dimetro da abertura pode ser
diminudo, cortando assim os raios com grandes ngulos, o que faz a
aproximao paraxial mais precisa. Uma conseqncia negativa que o
brilho de imagem diminui e a difrao se torna mais significativa.
Reduzir as aberraes um problema complexo. Num sistema de
lentes, as aberraes de uma podem cancelar parcialmente as aberraes
de outra, porm eliminar todas as aberraes de uma nica lente
impossvel. Como as aberraes no podem ser eliminadas na sua
totalidade, cada aplicao tem que ser analisada separadamente, isto ,
dependendo da aplicao, mais importante a reduo de uma ou outra
aberrao. Por exemplo, uma lente de mquina fotogrfica de alta
velocidade deve ser bem corrigida para a aberrao esfrica e a distoro
no to crtica. Para uma lente usada em reproduo de mapas
topogrficos justamente o oposto. Em todo caso, no h nenhuma
maneira de eliminar todas as aberraes simultaneamente. Na realidade, a
eliminao de algumas delas normalmente far as outras piores.
Entendendo que as aberraes monocromticas so conseqncias
inevitveis das leis de refrao de uma superfcie esfrica, a meta tentar
reduzir as aberraes mais prejudiciais para uma dada aplicao
particular.


72
2.9 Aberrao cromtica
Uma aberrao adicional s cinco aberraes de Siedel a
aberrao cromtica. Observada at mesmo na ptica paraxial, ela o
resultado da disperso do ndice de refrao com o comprimento de onda,
que produz uma variao da distncia focal quando a luz no
monocromtica. Se o ndice de refrao maior no azul que no vermelho,
a refrao desvia mais a luz azul, como mostrado na Fig. 2.19 para uma
lente convexa positiva. Ento, diferentes comprimentos de onda
iluminando um objeto tero sua imagem formada em pontos diferentes,
resultando num efeito dispersivo prismtico.

Fig 2.19 Aberrao cromtica longitudinal.
Se raios incidentes paralelos contiverem um espectro de
comprimentos de onda, eles sero focalizados em pontos diferentes, como
mostra a Fig. 2.19. A distncia focal da lente uma funo do ndice de
refrao e portanto, uma funo do comprimento de onda. O ndice de
refrao maior para comprimentos de onda mais curtos faz o foco da luz
azul ficar mais prximo de uma lente positiva que o foco da luz vermelha.
As cores intermedirias tero focos em posies intermedirias.
Semelhantemente aberrao esfrica, a aberrao cromtica tambm
possui as variaes longitudinal e transversal, como visto na Fig. 2.20. A
aberrao cromtica lateral pode ser interpretada como uma variao da
magnificao para comprimentos de onda diferentes. Como a disperso
resultado da refrao, espelhos, que so afetados pela aberrao esfrica,
so livres de aberraes cromticas e por isso so freqentemente usados
em telescpios astronmicos.

foco azul
foco vermelho
Aberrao cromtica
longitudinal

Aberraes

73

Fig 2.20 Aberrao cromtica longitudinal.
Sabendo o que so aberraes, como so formadas e a relao
entre elas, podemos agora discutir como reduzi-las. Primeiramente, dar a
uma lente a forma correta para reduzir aberraes um processo chamado
de encurvar a lente. A melhor forma para uma lente aquela que produz a
menor quantidade de aberrao esfrica. Superfcies parablicas
eliminam completamente a aberrao esfrica, porm elas so
extremamente difceis de serem fabricadas com a preciso necessria.
Para simplificar o processo de fabricao das lentes, usa-se com maior
freqncia aquelas com superfcies esfricas. Considerando que
individualmente elas tm aberraes, poderamos pensar na combinao
de lentes para tentar cancelar tais aberraes. O espelho primrio do
telescpio Hubble teve aberrao esfrica devido a erros nas medidas
feitas durante o processo de moldagem. Estes foram minimizados com um
sistema de lentes que opticamente corrigiu a aberrao esfrica do espelho
primrio.
A correo da curvatura de campo chamada de achatamento de
campo e feita com um sistema de lentes que satisfaz a condio de
Petzval, eliminando assim a aberrao astigmtica. Para reduzir
substancialmente a aberrao cromtica, podemos combinar duas lentes
feitas de vidros diferentes de tal maneira que a aberrao de uma
compensa a da outra. Este par de lentes chamado de dubleto acromtico
e foi desenvolvido por John Dollond em 1758. Ele est mostrado na Fig.
2.21. Para entendermos seu princpio de funcionamento, devemos tomar a
equao do fabricante de lentes, eq. (1.18), e expandir o ndice de refrao
em torno de um dado comprimento de onda
0
. Assim,
Aberrao cromtica
longitudinal
Aberrao cromtica
transversal
raio azul
raio vermelho


74

( )
(
+ =
1 n
d / dn
1
f
1
) ( f
1
(2.35)
onde =
0
e f o valor da distncia focal no ponto
0
. Note que f()
depende de apenas no termo e as demais grandezas que aparecem na
equao so calculadas no ponto
0
.

Fig 2.21 Dubleto bicromtico usado para corrigir a aberrao cromtica.
No caso de um dubleto, temos duas lentes com ndices de refrao
n
a
e n
b
, e distncias focais f
a
e f
b
muito prximas, de forma que a eq. (1.38)
pode ser aplicada. Definindo:

=
d
dn
1 n
1
a
a
a
(2.36a)

=
d
dn
1 n
1
b
b
b
(2.36b)
como grandezas calculadas no ponto
0
, podemos escrever a distncia
focal da lente equivalente como:

( ) ( ) + + + =
b
b
a
a
1
f
1
1
f
1
) ( f
1
(2.37)
onde, novamente, a dependncia de f em est contida no termo . A
eq. (2.37) pode ser re-escrita como:
|
\
|
+
+ =
b
b
a
a
f f f
1
) ( f
1
(2.38)
raio azul
raio vermelho
crown
flint

Aberraes

75
onde
b a
f
1
f
1
f
1
+ = . Como queremos que f() no dependa de , o termo
entre parnteses deve ser nulo. Assim, temos duas equaes:
0
f f
b
b
a
a
=
(2.39a)
f
1
f
1
f
1
b a
= + (2.39b)
que podem fornecer os valores desejados de f
a
e f
b
:
|
\
|
=
b
a
a
1 f f (2.40a)
|
\
|
=
a
b
b
1 f f (2.40b)
Em suma, conhecendo-se as disperses dos vidros utilizados,
computa- se
a
e
b
para um dado
0
,

a partir dos quais se determina f
a
e f
b

para o valor de f desejado e constri-se o dubleto. Entretanto, como dn/d
tambm varia com o comprimento de onda, o dubleto funciona bem
apenas num certo intervalo em torno de
0
. Voltaremos a discutir as
equaes do dubleto acromtico depois que introduzirmos o nmero de
Abbe na seo seguinte.

2.10 Vidros pticos
Na seo anterior introduzimos o conceito de aberrao cromtica
de uma lente e como proceder para minimiz-la atravs da construo de
um dubleto acromtico, que envolve o uso de diferentes tipos de vidros.
Assim, conveniente neste ponto discutirmos um pouco sobre os tipos de
vidros pticos existentes e suas propriedades fsicas mais relevantes. De
maneira geral, o desenho de qualquer sistema ptico envolve a seleo de
materiais adequados e depende da regio espectral, do ambiente e da
aplicao. O material ptico mais utilizado em sistemas refratores sem
dvida o vidro e assim, este termo genericamente empregado do mesmo


76
modo que o termo lente usado para denotar um sistema ptico. Na
prtica, o termo vidro pode se referir a uma grande variedade de materiais,
indo desde materiais cristalinos transparentes para o infravermelho at os
utilizados para a construo de refletores.
O desempenho de um sistema ptico depende do comprimento de
onda no qual ele usado, em virtude tanto do fenmeno da difrao como
das variaes das propriedades pticas dos materiais com o comprimento
de onda. A mudana do ndice de refrao de materiais pticos com o
comprimento de onda chamada de disperso e os defeitos da imagem
causados pela disperso so chamados de aberraes cromticas. Elas so
consideradas separadamente das aberraes monocromticas porque
podem existir por si s, mesmo na aproximao paraxial, alm de
causarem variaes cromticas nas aberraes de Seidel.
H vrios fatores que devem ser considerados ao se selecionar um
material para um sistema ptico. Como destacado acima, o mais
importante freqentemente a disperso, mas muitos outros atributos
tambm devem ser considerados, como as caractersticas trmicas, peso,
propriedades mecnicas e qumicas, disponibilidade e custo. Muitos destes
atributos no afetam diretamente o processo de otimizao via
computador, mas esto disponveis para o desenhista projetar um sistema
ptico com a melhor razo custo/benefcio possvel.
O ndice de refrao da maioria dos materiais pticos pode ser
descrito pela frmula de Sellmeier,
3
2
2
3
2
2
2
2
1
2
2
1 2
C
B
C
B
C
B
A ) ( n

+ = (2.41)
onde o comprimento de onda em m. Esta frmula adotada pela
Schott e por outros fabricantes por descrever o ndice de refrao de
vidros pticos na regio visvel do espectro. Nela, C
i
representam as
ressonncias (absores) do meio nas regies do ultravioleta e
infravermelho e B
i
as intensidades das absores (fora de oscilador).
Vrios outros parmetros so usados para descrever a disperso do
vidro ptico. O mais usado na regio visvel do espectro o nmero de
Abbe, V (ou ), definido por:
C F
d
n n
1 n
V
= (2.42)

Aberraes

77
onde n
d
o ndice de refrao do vidro no comprimento de onda da linha
espectral d do hlio (0.5876 m), n
F
o ndice de refrao para a linha
espectral F do hidrognio (0.4861 m) e n
C
o ndice de refrao para a
linha espectral C do hidrognio (0.6563 m). Dependendo da regio
espectral particular em estudo, comprimentos de onda diferentes de F, d e
C podem ser usados para especificar o nmero de Abbe e a disperso
parcial definida abaixo.
Aps a introduo do nmero de Abbe, convm re-escrevermos as
equaes para o dubleto acromtico em termos dos dados dos vidros
encontrados na literatura, n e V. Como o ndice de refrao uma funo
que varia suavemente com o comprimento de onda, podemos re-escrever
a
e
b
como:
C F C F
C F
d

=

=
1
V
1 n n
1 n
1
a
a a
a
a
(2.43a)

C F C F
C F
d

=

=
1
V
1 n n
1 n
1
b
b b
b
b
(2.43b)
Substituindo na eq. (2.39a) obtemos:
f
a
V
a
+ f
b
V
b
= 0 (2.44)
Como o nmero de Abbe positivo, conclumos que uma das lentes
positiva e a outra deve ser negativa. As distncias focais das lentes so
dadas por:
|
\
|
=
a
b
a
V
V
1 f f (2.45a)
|
\
|
=
b
a
b
V
V
1 f f (2.45b)
No visvel, o ndice de refrao dos vidros pticos tipicamente
alguns por cento maior na parte azul do espectro do que no vermelho. A
diferena entre os ndices de refrao de um vidro em dois comprimentos
de onda diferentes conhecido como disperso para as duas linhas em
questo. No caso onde os comprimentos de onda so os das linhas F e C, a
disperso chamada de principal e a disperso para outras linhas


78
conhecida como disperso parcial. A disperso parcial freqentemente
expressa como uma razo. Por exemplo, a disperso parcial relativa para
as linhas F e d dada por:
C F
d F
Fd
n n
n n
P
= (2.46)
As caractersticas pticas dos vidros so freqentemente exibidas
num grfico, chamado de diagrama dos vidros, onde o ndice de refrao
exibido como funo do nmero V. Qualquer vidro particular corresponde
a um ponto neste mapa. Por conveno, o nmero V graficado ao longo
do eixo x, com valores decrescentes de V (i.e., poderes de disperso
crescentes) para a direita. Um diagrama dos vidros tpico est mostrado na
Fig. 2.22.
70 60 50 40 30 20
1,5
1,6
1,7
1,8
1,9
2,0
flint crown
limite inferior
n
d
i
c
e

d
e

r
e
f
r
a
o
nmero de Abbe

Fig 2.22 Diagrama dos vidros.
O valor de V varia de 25 para os vidros mais densos (flint) at 75
para vidros leves (crown). A maneira que os fabricantes usam para se
obter esta variao pela adio de dopantes (lantnio, brio, etc.)
composio bsica do vidro (slica SiO
2
). A linha vertical quebrada vista
na Fig. 2.22 limita a regio entre os vidros crown e flint.
A maioria dos vidros encontra-se prxima a uma linha que forma
o limite mais baixo do diagrama dos vidros pticos. A disponibilidade de
vidros pticos que ficam situados bem acima desta linha d ao desenhista
uma flexibilidade considervel para corrigir as aberraes cromticas de

Aberraes

79
Objeto
Imagem
sistemas pticos. Porm, quando uma escolha arbitrria feita, o vidro
escolhido deve se aproximar ao mximo da linha inferior, pois tais vidros
so mais baratos e de maior disponibilidade.

Bibliografia
2.1. G. R. Fowles, Introduction to Modern Optics, Holt, Rinehart and
Winston, NY (1968)
2.2. E. Hecht and A. Zajac, Optics, Addison-Wesley Publishing Co.,
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2.5. F. W. Sears, Fsica: ptica, G. Carneiro, RJ (1953).

Problemas
2.1. Completar os passos que levam das equaes (2.8) e (2.9) at as
equaes (2.11) e (2.12).
2.2. Obtenha as equaes (2.16) e (2.17).
2.3. Completar os passos que levam das equaes (2.16) e (2.17) eq.
(2.18).
2.4. Discorra sobre as aberraes monocromticas de terceira ordem
(aberraes de Seidel): quais so e quais seus efeitos sobre as
imagens. Faa desenhos se necessrio.
2.5. Supondo que o objeto abaixo tenha sua imagem formada por uma
lente que possua apenas aberrao esfrica, como ser a imagem
formada?


80
Objeto Imagem
em T
Imagem
em S

2.6. Supondo que o objeto do problema 2.5 tenha sua imagem formada por
uma lente que possua apenas astigmatismo, como sero as imagens
primria e secundria formadas?

2.7. Deseja-se construir um dubleto acromtico com 100 mm de distncia
focal efetiva na regio da linha d do hlio (0.5876 m). Neste
comprimento de onda, os vidros a serem utilizados possuem os
seguintes parmetros: n
1
= 1.5 ,V
1
= 60, n
2
= 1.7 e V
2
= 30.
a) Considerando a aproximao de lente fina, quais devem ser as
distncias focais f
1
e f
2
?
b) Supondo que a interface entre as duas lentes plana (r
2
= ), quais
devem ser os raios de curvatura r
1
e r
3
? Faa um esboo da lente.
2.8. Considere uma lente plano-convexa fina, com raio de curvaturas r
1
=
e r
2
= 25 cm. Sabendo que as distncias focais para as linhas d, F e
C so dadas respectivamente por f
d
= 50 cm, f
F
= 49 cm e f
C
= 51 cm,
encontre os ndices de refrao nestes comprimentos de onda e o
nmero de Abbe do material.

Traado de raios meridioniais 81

3
Traado de raios
meridionais

3.1 O mtodo Q-U
Nos Captulos 1 e 2 vimos os fundamentos envolvidos no traado
de raios por um sistema ptico. Foram estabelecidos os conceitos bsicos
e mtodos para o clculo dos raios paraxiais, e introduzidas as idias sobre
a origem e tipos de aberraes de terceira ordem, ou de Seidel. Neste
captulo queremos aprofundar um pouco mais este assunto, introduzindo o
clculo de raios meridionais, sem aproximaes na lei de Snell e
discutindo com mais detalhes alguns tipos de aberraes. Esta parte do
texto est baseada na Ref. 3.1, porm modificaremos a conveno de
sinais ali utilizada para ficar coerente com a que apresentamos no Cap. 1.
A tcnica principal que usaremos para o traado dos raios meridionais o
mtodo Q-U, que embora bastante parecido com o mtodo y-nu, no lana
mo da aproximao do seno de um ngulo pelo seu argumento.
Como vemos na Fig. 3.1(a), Q definido como sendo a menor
distncia entre o raio incidente e o vrtice da superfcie esfrica, sendo PA
perpendicular ao raio incidente e U o ngulo que o raio faz com o eixo
ptico, como visto no Cap. 1. Para derivarmos a equao para o clculo do
traado de raios, desenhamos uma linha paralela ao raio incidente,
passando pelo centro da curvatura da superfcie esfrica e dividindo Q em
dois segmentos tal que: Q = r senI - r senU. O sinal negativo no segundo
termo do lado direito vem do fato que U < 0 pois o raio est descendo
(dy/dz < 0). J para o ngulo I (que entra na lei de Snell), a normal que
faz o papel do eixo ptico; se o raio estiver subindo com relao a ele, I
positivo, e no caso contrrio, negativo. Lembrando que a curvatura, c, o
inverso do raio da superfcie esfrica, temos:

Traado de raios meridioniais

82
I
n'
-U
A
n
Q
I
-U
C B
P

(a)
-U
1
t
Q
1
Q
2
(b)

Fig. 3.1- (a) Raio incidindo numa interface esfrica separando dois meios e (b)
translao entre duas superfcies esfricas.
sen I = Qc + sen U (3.1)
No caso paraxial, Qy e os senos so aproximados pelos
argumentos ( ) u U sen , i I sen = = de forma que a eq. (1.12) recuperada.
Usando a lei de Snell e a eq. (1.11) obtemos as equaes:
sen I =
' n
n
sen I (3.2)
U= U I + I (3.3)
Esta ltima equao fornece o ngulo que o raio refratado faz com
o eixo ptico. Procedendo de maneira similar para o raio refratado na
interface esfrica, fcil mostrar que:
Q ) ' U sen ' I (sen ' = /c (3.4)


Em seguida, da mesma forma que procedemos no traado dos raios
paraxiais, devemos encontrar uma equao que nos fornea a translao
do raio. Com base na Fig. 3.1(b) conclumos que :

1 1 2
' U sen t ' Q Q + = (3.5)
onde negativo. Este conjunto de equaes nos permite traar
um raio meridional atravs de um sistema ptico complexo, porm
devemos alertar para o fato que a eq. (3.4) pode gerar um erro enorme
quando o raio de curvatura da superfcie esfrica for grande, pois neste
caso c ser muito pequeno. Para contornarmos este problema podemos
usar a equao:
2
'
1
U U =
) U cos I /(cos ) ' U cos ' I (cos Q ' Q + + = (3.6)
que est deduzida na Ref. 3.1 e que vale para qualquer raio de curvatura.
Para termos uma idia mais precisa de como o mtodo Q-U
funciona na prtica, vamos calcular o traado de raios para um dubleto
cimentado similar ao do Prob. 1.2, onde tomaremos n
1
= 1,517, n
2
= 1,649,
r
1
= 7,3895 cm, r
2
= -5,1784 cm, r
3
= -16,2225 cm, t
1
= 1,05 cm e t
2
= 0,4
cm. Como fizemos no mtodo y nu, vamos trabalhar com uma planilha
com a qual possvel fazer as contas mecanicamente. Nestes clculos,
como queremos posteriormente estimar as aberraes, que constituem em
pequenas variaes relativas imagem paraxial, precisamos tomar pelo
menos 4 casas depois da vrgula. Supondo que o raio incidente est
paralelo ao eixo e incide na lente a uma altura de 2 cm podemos escrever a
planilha de clculo da Tabela 3.1, onde os ngulos esto dados em
radianos.
Para encontrarmos a distncia focal traseira do dubleto, aplicamos
novamente a equao da translao fazendo com que Q final seja nulo.
Assim temos: 1,8814 f
BFL
0,1666 = 0, o que nos leva a f
BFL
= 11,2939
cm. Este resultado pode ser comparado com aquele que obtido pelo
mtodo y-nu, ou refazendo-se a planilha de clculos com Y 0 (f
BFL
=
11,2858 cm), verificando-se uma diferena de apenas 0,081 mm entre o
mtodo QU (exato) e a aproximao paraxial. Este valor pequeno pelo
fato de estarmos considerando um dubleto que j foi parcialmente
otimizado. Se os mesmos clculos fossem feitos para um singleto,
obteramos um desvio bem maior.



84

Tabela 3.1- Planilha de clculo para o dubleto cimentado.
DUBLETO CI MENTADO

condies
iniciais
refrao
sup. 1
translao
refrao
sup. 2
translao
refrao
sup. 3
t 1,05 0,4
n 1 1,517 1,517 1,649 1,649 1
r 7,3895 7,3895 -5,1784 -5,1784 -16,2225 -16,2225
c=1/r 0,1353272 0,1353272 -0,19311 -0,19311 -0,061643 -0,061643
Q 2 2,0171178 1,9178333 1,9398944 1,918662 1,8814033
I 0,2741 0,1794 -0,4835 -0,4419 -0,1722 -0,2865
U 0 -0,0947 -0,0947 -0,0531 -0,0531 -0,1674
sinI 0,2706543 0,1784142 -0,464909 -0,427694 -0,171353 -0,282561
sinU 0 -0,094557 -0,053081 -0,166586

3.2 Esferocromatismo de um dubleto cimentado
Vamos inicialmente definir raio marginal como sendo aquele que
passa pela borda da lente, raio zonal aquele que passa a uma altura de 70%
da do raio marginal e o j conhecido raio paraxial, que passa prximo do
centro da lente. importante tomarmos raios incidindo sobre a lente em
diferentes alturas porque, como vimos no Cap. 2, eles produzem
diferentes aberraes esfricas. Em seguida, vamos usar o mtodo Q-U
para calcularmos a distncia focal traseira do dubleto cimentado da seo
anterior. Vamos tomar raios que entram paralelos ao eixo ptico, porm
em diferentes alturas e considerar os comprimentos de ondas relativos s
raias espectrais: A (0,7665 m), C (0,6563 m), D (0,5893 m), F
(0,4861 m) e g (0,4358 m). Inicialmente calculamos o foco paraxial
para a raia D e este ser usado como referncia (plano da imagem
paraxial). Usando o mesmo tipo de clculo da Tabela 3.1, porm
subtraindo do resultado final o foco paraxial da raia D, obtemos a Tabela
3.2, que fornece os desvios relativos ao plano da imagem paraxial.
Valores positivos indicam um ponto posterior ao foco paraxial da raia D,
enquanto que valores negativos indicam pontos anteriores.
Existem duas maneiras de se analisar os dados da Tabela 3.2.
Primeiro, podemos fazer um grfico da aberrao esfrica longitudinal


como funo da altura (abertura) para cada comprimento de onda.
Segundo, podemos graficar a aberrao como funo do comprimento de
onda para cada abertura. Estes dois grficos esto mostrados na Fig. 3.1.
Tabela 3.2 - Desvios relativos ao foco paraxial da raia D.
comprimento de onda A C D F g
ndice crown 1,51179 1,51461 1,517 1,52262 1,5269
ndice flint 1,63754 1,64355 1,649 1,66275 1,67408
Y = 2 (marginal) 0,0198 0,0092 0,0080 0,0256 0,0577
Y = 1.4 (zonal) 0,0058 -0,0105 -0,0175 -0,0159 0,0017
Y 0 (paraxial) 0,0320 0,0113 0 -0,0104 -0,0036
O primeiro representa a variao cromtica da aberrao esfrica
enquanto que o segundo nos fornece curvas de aberrao cromtica para
diferentes aberturas. Destas curvas podemos definir vrias aberraes
especficas. Chamando de l
paraxial
o foco paraxial, L
marginal
e L
zonal
, os
focos marginais e zonal, temos:
1. Aberrao esfrica (LA) dada por L
marginal
- l
paraxial
para a raia D.
Na Tabela 3.2 ela possui o valor 0,008, estando portanto levemente
super corrigida.
2. Aberrao zonal (LZA) dada por L
zonal
- l
paraxial
para a raia D. Na
Tabela 3.2 temos 0,0175 (sub-corrigida). O melhor compromisso
entre as aberraes marginal e zonal em objetivas fotogrficas
quando LA+LZA= 0 . Entretanto, para sistemas visuais melhor que a
condio LA= 0 seja satisfeita.
-0.04 0.00 0.04
g
F
D
C
A'
Z
M
Aberrao esfrica
(a)

0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
-0.04 0.00 0.04 0.08
(b)
P
a
r
a
x
i
a
l
M
a
r
g
in
a
l
Aberrao cromtica
m
)
Z
o
n
a
l

Fig. 3.1- Aberrao esfrica longitudinal do dubleto cimentado comfuno da
abertura (a) e do comprimento de onda (b).

86

3. Aberrao cromtica (L
crom
) dada por L
F
- L
C
e sua magnitude
varia com o tamanho da abertura, conforme mostram a Tabela 3.3 e a
Fig. 3.2.
Tabela 3.3- Aberrao cromtica.
Raio L
crom
= L
F
L
C

Marginal 0,256 - 0,0092 = 0,0164
0.7 Zonal -0,0159 (- 0,0105) = - 0,0054
Paraxial - 0,0104 0,0113 = - 0,0217
-0.04 -0.02 0.00 0.02
Z
M
Aberrao cromtica

Fig. 3.2- Variao da aberrao cromtica coma abertura.
4. Esferocromatismo - a variao cromtica da aberrao esfrica e
expressa como a diferena entre as aberraes esfricas marginais das
linhas F e C: Esferocromatismo = (L - l)
F
- (L - l)
C
= (L
F
- L
C
) -
(l
F
- l
C
) = aberrao cromtica marginal - aberrao cromtica
paraxial = 0,0164 - (-0,0217) = 0,0381.
5. Espectro secundrio geralmente expresso como sendo a distncia
entre os focos das diferentes linhas espectrais em relao interseco
dos focos das linhas F e C, que ocorre a uma dada altura Y. Da Fig.
3.1(a), vemos que as curvas F e C interceptam para Y = 1.5 e que
nessa altura as outras linhas espectrais desviam do foco combinado FC
por : 0,016 (A), - 0,007 (D) e 0,02 (g).



3.3 Aberrao cromtica de um dioptro esfrico
Para determinarmos a contribuio de um dioptro esfrico para a
aberrao cromtica de uma lente, comearemos com a equao de
formao de imagem por uma interface esfrica de raio r separando dois
meios dieltricos de ndices de refrao n e n, como vimos no Prob. 1.9.
Considerando as linhas F e C temos:
r
n n n n
C C
C
C
C
C

= +
l l
(3.7a)
r
n n n n
F F
F
F
F
F

= +
l l
(3.7b)
Subtraindo estas equaes obtemos:
r
) n - n ( ) n - n ( n n
'
n' n
F C F C
F
F
C
C
F
F
C
C

= +
l l l l
(3.8)
Em seguida definimos n = n
F
-

n
C
e n = n
F
- n
C,
tal que n
F
=
n
C
+ n e n
F
= n
C
+ n. Inserindo estas grandezas na eq. (3.8) e
eliminando

os subscritos uma vez que n e n so pequenos, obtemos :

+ = +
'
1
r
1
' n
1
r
1
n ) (
n
) ' ' (
'
' n
C F
2
C F
2
l l
l l
l
l l
l
(3.9)
Da Fig. 1.37 vemos que u = y/l e u = -y/l, e da eq. (1.12) temos i = y/r +
u. Substituindo estas igualdades na eq. (3.9) chegamos a:
y
' i
' n
y
i
n ) (
y
nu
) ' ' (
y
' u ' n
C F 2
2
C F 2
2
= + l l l l (3.10)
Em seguida, multiplicamos os dois lados por y
2
e usamos a lei de Snell
(ni = ni). Devemos tambm levar em conta que as eqs. (3.7) implicam
em magnificao longitudinal negativa, isto , quando l aumenta, l
diminui. Este fato nos leva a tomar L
crom
= l
F
- l
C

e L
crom
= - (l
F
-

l
C
), de
forma que obtemos:
nu
2
L
crom
n
2
u
2
L
crom
= y n i
' n
' n
n
n
(3.11)

88

No caso de termos um sistema ptico com k superfcies,
escrevemos uma destas equaes para cada superfcie e somamos. Vrios
termos se cancelam devido s identidades: n
j
n
j+1
; u
j
u
j+1
e (L
crom
)
j

(L
crom
)
j+1
. Com isso temos:
(nu
2
L
crom
)
k
(n u
2
L
crom
)
1
=
n
' n
n
n
i n y (3.12)
que dividido por n
k

u
k
2
resulta em:
( ) ( ) ( ) (

=
crom 2
k k
2
k k
2
1 1
1 crom k crom
'
' n
' n
n
n
' u ' n
i n y
' u ' n
u n
- ' L L L )
(3.13)
O termo que est sendo somado corresponde contribuio de
cada superfcie aberrao cromtica longitudinal no caso paraxial. Note
que os termos com ndice k so constantes e referem-se ltima superfcie
apenas. Na Tabela 3.4 estas frmulas so usadas para o clculo das
contribuies de cada superfcie do dubleto cimentado da seo 3.1
aberrao cromtica paraxial. A soma de todas as contribuies resulta em
0,02165. Para comparao, notamos da Tabela 3.3 que L
F
- L
C
= -
0,0217. A concordncia entre a eq. (3.13) e o traado real do raio paraxial
bastante boa, apesar das vrias pequenas aproximaes que fizemos ao
derivar esta frmula.
Tabela 3.4- Contribuio das superfcies para a aberrao cromtica primria.
DUBLETO CI MENTADO

Cond.
Iniciais
Refr. Sup.
1
Transl.
Refr. Sup.
2
Transl.
Refr. Sup.
3
n
d
1 1,517 1,517 1,649 1,649 1
n
C
1 1,51461 1,51461 1,64355 1,64355 1
n
F
1 1,52262 1,52262 1,66275 1,66275 1
r 7,3895 7,3895 -5,1784 -5,1784 -16,2225 -16,2225
y 2 2 1,90315 1,90315 1,88097 1,88097
u 0 -0,09224 -0,09224 -0,05544 -0,05544 -0,16667
i 0,27065 0,17841 -0,45976 -0,42295 -0,17139 -0,28262
(1/u'
3
)
2
36 36 36 36 36 36
n
F
-n
C
0 0,00801 0,00801 0,01920 0,01920 0
n/n 0 0,00528 0,00528 0,01164 0,01164 0
n/n-n'/n' -0,005280 0 -0,00636 0 0,01164 0
L' -0,102895 0 0,30406645 0 -0,2228234 0
crom


3.4 Aberrao cromtica de uma lente delgada
A equao que descreve a formao de imagens na aproximao
paraxial :
= +
2 1
r
1
r
1
) 1 n (
'
1 1
l l
(3.14)
Considerando as linhas F e C teremos duas equaes de formao
de imagem, uma para cada cor, que quando subtradas resulta em:
= +
2 1
C F
C F C
F r
1
r
1
) n n (
1 1
'
1
'
1
l l l l
(3.15)
-1)/(n Usando a definio de nmero de Abbe : V = (n
d F
-n
C
) e a equao
do fabricante de lentes delgadas obtemos :
fV
1
'
' '
2
F C
2
F C
=
l
l l
l
l l
(3.16)
2
), e usando as definies L Multiplicamos os dois lados por (-y
crom
= l
F
-
l
C
, L
crom
= - (l
F
- l
C
), u = y/l e u = - y/l chegamos a:
fV
y
2
u
2 2
L L (3.17)
crom
u
crom
= -
No caso em que temos um objeto no infinito (u = 0 e u = -y/f), a
aberrao cromtica paraxial ser simplesmente L
crom
= - f/V. Por outro
lado, se tivermos um sistema ptico com k lentes delgadas em contato,
escrevemos uma equao para cada lente e somamos. Como na seo
anterior, vrios termos se cancelam devido s identidades u u
j j+1
e
(L (L
crom
)
j crom
) , de forma que:
j+1
fV
y
2
u
k
2
(L
crom
)
k
u
1
2
(L
crom
)
1
= (3.18)
Ou, alternativamente:
( ) ( )

=
fV
y
' u
1
' u
u
'
2
2
k
1 crom
2
k
1
k crom
L L (3.19)

90

No lado direito desta igualdade, o primeiro termo est ligado
aberrao cromtica do objeto, que nula para objetos reais, e o segundo
termo corresponde contribuio das vrias lentes presentes no sistema
ptico.
Uma maneira alternativa de se escrever a eq. (3.18) dividindo a
eq. (3.17) por y
2
e somando para as vrias lentes do sistema. Novamente,
vrios termos se cancelam e o resultado a que chegamos :

= =
V fV
1
'
'
1
2
crom
k
2
crom
l l
L L
(3.20)
onde = 1/f o poder da lente. O termo no lado esquerdo desta igualdade
conhecido como resduo cromtico, R, que nulo para uma lente
acromata com um objetivo real. Se o poder total de um sistema de lentes
finas em contato , ento = e R = - /V.
Como exemplo, vamos considerar um dubleto de distncia focal f
composto por duas lentes finas com distncias focais f e f
a b
. Temos ento:
b a
f
1
f
1
f
1
+ = = (3. 21a)
b b a a
V f
1
V f
1
R = (3.21b)
Deste sistema de duas equaes duas incgnitas, podemos
encontrar as distncias focais f
a
e f
b
como:
=
b
b a
a
a
RV
f
1
V V
V
f
1
(3.22a)
=
a
a b
b
b
RV
f
1
V V
V
f
1
(3. 22b)
Estas equaes so generalizaes das eqs. (2.45), que foram
obtidas partindo da hiptese que a aberrao cromtica era nula.
Realmente, fazendo R = 0 nas eqs. (3.22) recuperamos os resultados das
eqs. (2.45).



3.5 Espectro secundrio paraxial
At agora tratamos uma lente acromata como sendo aquela em
que os focos para as linhas C e F coincidem. Entretanto, para outros
comprimentos de onda os focos podem estar antes ou depois destes e esta
discrepncia tem o nome de espectro secundrio paraxial. Para calcul-lo,
vamos tomar um comprimento de onda genrico, , e re-escrever a eq.
(3.15) como:

2 1
F
2
F
2
F
r
1
r
1
) n n (
'
' '
l
l l
l
l l

(3.23)
Definindo (L (L
crom
)
F
= l - l
F , crom
) = -(l
F F
- l
) e multiplicando
os dois lados por (-y
2
) obtemos:
2 1
r
1
r
1
2 2 2
(L (L
crom
) u
F crom
)
F
u = - (n
F
-n
)y (3.24)
Da equao do fabricante de lentes e da definio do nmero de
Abbe temos que:
) n n ( fV
1
n n
n n
) 1 n ( f
1
r
1
r
1
C F C F
C F
d 2 1

=
(3.25)
que quando substituido na eq. (3.24) resulta em:
fV
y
P
fV
y
n n
n n
2
F
2
C F
F
2 2
(L - (L
crom
)
F
u
crom
)
F
u = - (3.26)
onde P
F
a disperso parcial relativa para as linhas F e . Comparando
com a eq. (3.17) vemos que a aberrao cromtica paraxial para um
comprimento de onda calculada como para a linha C desde que se
multiplique por um fator de peso dado pela razo se disperso parcial.
Desta forma, desprezando a aberrao cromtica do objeto e somando
para as vrias lentes que compem o sistema, temos:

=
F
2
2
k
F
P
fV
y
' u
1
' ' l l
(3.27)


92

Como exemplo, vamos calcular o espectro secundrio do dubleto
tratado no final da seo 3.4. Para isso, vamos considerar o resduo
cromtico nulo e assim a eq. (3.22) se reduz a:
f
a
V
a
= -f V
b b
= f (V
a
V ) (3.28)
b
Em seguida, lanamos mo da eq. (3.27) supondo que as lentes so
suficientemente finas, tal que a altura do raio no se modifica ao percorrer
o dubleto. Com isso obtemos:
+ =

b a
b a
2
b
2
b b
b
a a
a
2
b
2
F
V V
P P
f ' u
y
V f
P
V f
P
' u
y
' ' l l
(3.29)
onde na ltima passagem utilizamos a eq. (3.28). Note que f
a
e f
b
referem-
se s distncias focais para a linha d, enquanto que P
a
e P
b
so as razes
de disperso parciais para os vidros crown e flint no comprimento de onda
. Se o objeto estiver no infinito, -y/u
b
= l = f e ento:
=

b a
b a
F
V V
P P
f ' ' l l (3.30)
3.6 Acromatas com lentes delgadas separadas

Como vimos, uma maneira prtica de se reduzir
significativamente a aberrao cromtica pela construo de um dubleto
cimentado feito com vidros crown e flint. Entretanto, esta no a nica
maneira e outros artifcios podem ser usados, como por exemplo, tomando
duas lentes de focos f
a
e f
b
, separadas por uma distncia d, como mostra a
Fig. 3.3. A condio de acromatizao impe que:
0
V f
y
V f
y
b b
2
b
a a
2
a
= + 0
fV
y
2
=
2
b
' u
1
(3.31)
Para que a eq. (3.31) seja satisfeita necessrio que uma das lentes seja
negativa. Observando a Fig. 3.3, notamos que pela semelhana de
tringulos:
=
a
a
a b
a
a
b
a
f
d f
y y
d f
f
y
y
(3.32)


d
y
b
y
a
f
a
l
Fig. 3.3- Combinao de duas lentes delgadas.
Substituindo este valor na eq. (3.31) e usando a definio k = d/f
a

obtemos:
f
b
V
b
= - f
a
V
a
(1-k)
2
(3.33)
Por outro lado, sabemos que a associao de duas lentes finas produz um
foco efetivo
) k 1 (
f
1
f
1
f f
d
f
1
f
1
f
1
b a b a b a
+ = + = (3.34)
Resolvendo o sistema de eqs. (3.33) e (3.34), determinamos as
distncias focais das lentes como:
=
) k 1 ( V
V
1 f f
a
b
a
(3.35a)
= ) k 1 (
V
V
1 ) k 1 ( f f
b
a
b
(3.35b)
Se as lentes possurem vidros do mesmo tipo (V
a
=V
b
) estas
equaes se simplificam da forma:
f
k 1
k
f
a
= (3.36a)
f ) k 1 ( k f
b
= (3.36b)
Uma vez determinadas as distncias focais das lentes que
acromatizam o dubleto no cimentado, dadas pela eq. (3.35), queremos
agora calcular o espectro secundrio. De acordo com a eq. (3.27) temos:

94

+ =

b b
2
b b
a a
2
a a
2
b
F
V f
y P
V f
y P
' u
1
' ' l l (3.37)
Novamente usando a semelhana dos tringulos da Fig. 3.3, temos
que y = y
b a
(1-k), que quando substitudo na eq. (3.37) resulta em:
+ =

2
b b
b
a a
a
2
b
2
a
F
) k 1 (
V f
P
V f
P
' u
y
' ' l l (3.38)
Usando os focos f
a
e f
b
dados pela eq. (3.35) e o fato que u
b
= -
y
a
/f, que pode ser visto traando-se o plano principal da Fig. 3.3,
chegamos ao nosso resultado final:
[ ]
b a
b a
F
V ) k 1 ( V
) P P )( k 1 ( f
' '

=

l l (3.39)
Se os vidros utilizados para a confeco das lentes forem do
mesmo tipo (V
a
=V
b
e P
a
= P
b
) teremos
' '
F
l l = 0.

Bibliografia
(1978).

Problemas
3.1. Deduza a eq. (3.6). Sugesto: Consulte a Ref. 3.1.
3.2. Demonstre a relao )] U I cos( 1 /[ ) U cos I (cos y Q + + = . Mostre
que para y << r,
senU
r 2
y
U cos y Q

3.3. Usando o mtodo Q-U, calcule a distncia focal traseira de uma lente
plano-convexa com r = 27 mm, r
1 2
= , n = 1.517 e d = 3 mm.
Considere um raio que incide paralelo ao eixo ptico com Y = 5 mm.
3.4. a) Encontre as distncias focais das lentes que formam um dubleto
acromtico cimentado com f = 100 mm, utilizando BAK2 (n
a
= 1.54,


= 59.71) como vidro crown e SF2 (n V
a b
= 1.648, V
b
= 33.85) como
vidro flint. Considere o resduo cromtico nulo.
b) Supondo que a interface entre as lentes seja plana (r
2
= ),
encontre r
1
e

r .
3
3.5. Explique o que so: a) curvas de interseco de raios (ray intercept
curves - RIC), b) funo transferncia de modulao (MTF), c)
funo transferncia de modulao atravs do foco, d) nmero de
Abbe, e) espectro secundrio. Faa desenhos sempre que necessrio.
3.6. Considere um raio que incide sobre um singleto paralelamente ao eixo
ptico. Sabendo que r = 10, r
1 2
= , n = 1.5 e t = 2, use o mtodo Q-
U para encontrar a distncia focal traseira.
3.7. Deseja-se construir um dubleto acromtico com lentes finas
separadas, com distncia focal efetiva de 100 cm e separao k = d/
f
a
= 1/3. Para isso usa-se vidros crown (vidro a) e flint (vidro b)
cujos ndices de refrao so dados na Tabela 3.2.
a) Encontre o nmero de Abbe de cada vidro.
b) Encontre as distncias focais f
a
e f das lentes do dubleto.
b
c) Encontre o espectro secundrio para a linha g.
3.8. Considere um raio que incide sobre um dioptro esfrico de raio de
curvatura r = 10 cm separando dois meios com ndices n = 1.5 e n
1 2

= 2. Sabendo que o raio entra a uma altura Y = 2 cm e deixa o
dioptro paralelo ao eixo ptico, use o mtodo Q-U para encontrar a
posio do ponto objeto axial.
3.9. Constri-se um dubleto acromtico cimentado com lentes de foco f
a

= 50 mm e f = -100 mm utilizando-se BAK2 (n
b a
= 1.54, V
a
= 60)
como vidro crown e SF2 (n = 1.65, V
b b
= 34) como vidro flint.
Encontre: a) o resduo cromtico e b) o espectro secundrio paraxial
para um dado comprimento de onda , no caso em que as disperses
parciais relativas entre as linhas F e so: P
a
= 0.54 e P
b
= 0.59.
Considere o objeto no infinito.


96


Programa OSLO para clculos de desenho ptico 97


4.1 Introduo
O programa OSLO foi escolhido para clculos de desenho ptico
neste livro por ser de uso relativamente fcil e por possuir uma verso
educacional (OSLO.EDU) que pode ser baixada pela internet a partir do
endereo: www.lambdares.com. Partiremos da hiptese que o leitor assim
procedeu e j dispe do programa no seu micro computador.
Ao ser aberto, aparecer uma janela com informao sobre o
programa OSLO e sua verso educacional. Clique sobre esta janela e ver
aparecer uma outra com a dica do dia (Tip of the Day). Clique em Close
para entrar no programa de clculo, que apresentar 3 janelas, como
mostra a Fig. 4.1. A janela superior esquerda diz COMAND:. Possui trs
cones no lado esquerdo: um em verde, um X em vermelho, e uma
interrogao ? em amarelo. Ao se colocar o cursor sobre qualquer destes
smbolos aparecer a explicao sobre sua funo. O mesmo se d para
vrios outros smbolos que aparecem no programa. A janela COMAND:
no ser utilizada nos clculos que apresentaremos neste captulo, uma
vez que ela ser substituda pela janela Surface Data no momento que
entrarmos com os dados de uma lente. A segunda janela est esquerda,
abaixo da janela de comando. Esta janela, identificada como TW1(Text
Window), o lugar onde a informao de texto ser indicada. A terceira
janela, que est no lado superior direito, identificada como GW1
(Graphic Window), ou UW1. Esta janela grfica onde o programa
OSLO indica a anlise de um projeto ptico. Alm destas, muitas janelas
adicionais podem ser abertas e tero nomes do tipo TW2 ou GW2. Para a
4
Programa OSLO para
clculos de desenho ptico

Programa OSLO para clculos de desenho ptico

98
abertura de novas janelas, v para Window, na barra de menu superior,
escolha o tipo de janela e clique em New.
Vamos abrir um arquivo de lente e examin-lo. No canto superior
esquerdo da barra do menu superior voc ver a palavra FILE (arquivo).
Colocando o cursor sobre ela, aperte o boto da esquerda que uma caixa
de dilogo se abrir. Clique sobre Open Lens e uma pequena janela com o
ttulo Open Lens File aparecer. Precisaremos navegar at o arquivo que
tem a lente que nos interessa. Para isso, clique sobre a caixa no canto
inferior direito com o nome Public, clique duas vezes sobre o arquivo
demo e duas vezes sobre o arquivo edu. Com isso aparecer uma lista de
arquivos de lentes, do qual escolheremos DEMOTRIP, que um tripleto
com distncia focal efetiva de 50 mm. Em seguida clique em Abrir e a tela
mostrada na Fig. 4.2 aparecer.

Fig. 4.1 Aparncia do programa OSLO ao ser aberto.
A nova janela no canto superior esquerdo mostra os dados das
superfcies (Surface Data). o lugar onde se entra com a informao para


um projeto ptico. A janela Autodraw s estar aberta se o boto Draw
On/Off da planilha Surface Data estiver clicado.
Voc pode salvar este arquivo com um nome novo. Clique sobre
a palavra FILE (arquivo), ento em Save Lens As e entre um nome novo.
aconselhvel coloc-lo no arquivo Private, onde possvel se criar
vrios arquivos secundrios nos quais se coloca os dados de interesse.
Tambm possvel se criar uma nova pasta com seu prprio nome ou com
o nome de um determinado projeto. Sempre que voc modificar um
arquivo, uma boa idia salvar esse arquivo com nome novo. Desta forma
o arquivo original no modificado e sempre possvel voltar atrs para
ver os dados originais. Quando se sai do programa, ele perguntar se
queremos conservar as mudanas feitas nos parmetros da lente. Tome
cuidado para no gravar sobre um arquivo j existente para no cometer o
erro de perd-lo.

Fig. 4.2 Aparncia da tela com o arquivo DEMOTRIP.


100
4.2 Entrada de dados
Nesta seo vamos explicar como se entra com os dados de um
dubleto no programa Oslo. Vamos comear criando um novo arquivo
clicando em File e depois em New Lens. Uma janela de dilogo
perguntar se queremos salvar a lente anterior e neste caso apertaremos a
palavra No. Ser possvel ver uma nova janela chamada File new aberta,
como mostra a Fig. 4.3. Vamos inicialmente abrir um dubleto existente no
catlogo de alguma companhia. Clique em Catalog lens e depois em OK.
Uma janela chamada Catalog Lens Database se abrir, como indicado na
Fig. 4.4. Clique na ltima linha da planilha, onde est escrito Catalog:, e
depois em Combined. Esta opo dar uma maior margem de escolha uma
vez que os catlogos de todas as companhias estaro disponveis.

Fig. 4.3 Janela para a abertura de uma nova lente.
Clique em doublets, EFL (Effetive Focal Length) e ento escolha a
distncia focal de interesse (por exemplo, 50 mm). Confirme no smbolo
verde. Uma planilha Surface Data como a mostrada na Fig. 4.5
aparecer. Se a tela do computador estiver desorganizada, v para
Window, na barra de menu superior, e aperte em Tile Window. Esta ao
organizar as janelas que j esto abertas.
Vamos agora examinar com ateno esta planilha. Inicialmente,
vamos dar o nome de dubleto lente. Para isso, encontre a palavra No
name, clique sobre ela e digite a palavra dubleto. Na mesma linha voc
poder ver a distncia focal real da lente que foi aberta. Este valor
constantemente atualizado conforme mudamos os parmetros da lente.



Fig. 4.4 Base de dados do catlogo de lentes.

Fig. 4.5 Dados de um dubleto comercial.
Na parte inferior da planilha existem seis colunas. SRF especifica
o nmero da superfcie. Algumas palavras que aparecem nesta coluna tem
o seguinte significado: OBJ o plano do objeto, AST (Aperture Stop) a


102
abertura fsica do sistema, que por default colocada na superfcie 1, mas
pode ser mudada, e IMS (Image Surface) um plano virtual ajustvel
sobre o qual se pode observar a formao da imagem como se fosse um
anteparo. Continuando com a descrio das outras colunas, RADIUS
onde se entra com o raio de curvatura da superfcie em questo,
THICKNESS a espessura do vidro ou o espaamento de ar entre esta
superfcie e a prxima, APERTURE RADIUS o semi-dimetro da
superfcie, GLASS o tipo de vidro ou outro material utilizado na
fabricao da lente, e SPECIAL onde se entra com algum dado especial
quando se fizer necessrio.
Para enxergar melhor estes dados devemos desagrupar o dubleto,
uma vez que ele aberto como um elemento nico. Para isso, coloque o
cursor no retngulo cinza logo aps o nome da lente (MGLAL013) e
clique sobre ele. Aparecer uma caixa de dilogo perguntando se deseja
desagrupar a lente. Clique em OK, e os dados especficos de cada
superfcie aparecero, como visto na Fig. 4.6.

Fig. 4.6 Dubleto comercial desagrupado.
Agora se torna possvel modificar os dados existentes na planilha,
se desejado. Uma outra maneira de desagrupar o dubleto clicando em
AST, aps o que duas linhas sero destacadas. Em seguida, clique em
Group, da barra de menu da planilha Surface Data e ver que aparece a
palavra Surfs no seu lugar, com o dubleto j desagrupado. Clicando agora
em Surfs os dados so re-agrupados, fornecendo o elemento original.
Existe uma terceira maneira para desagrupar o elemento e neste caso
seleciona-se AST e clica-se com o boto da direita. Desta forma, aparece


um conjunto de comandos como mostra a Fig. 4.7. Escolhendo o comando
Ungroup, e clicando com o boto da esquerda, o conjunto ser
desagrupado. Para re-agrupar este conjunto seleciona-se os elementos que
o compe, clica-se com o boto da direita e na tabela da Fig. 4.7 escolhe-
se o comando Element Group. Desta tabela, vemos ainda que possvel
uma srie de operaes com as linhas da planilha. Podemos cortar, copiar,
colar, inserir antes, inserir depois, apagar, reverter ou inverter um
elemento, agrupar ou desagrupar, inserir uma lente de catlogo ou inserir
uma lente de arquivo. Recomenda-se neste ponto que o leitor se
familiarize com estes comandos.

Fig. 4.7 Tabela para manipulao dos elementos de uma lente.
Ao invs de abrirmos um dubleto comercial poderamos querer
criar uma lente de nosso prprio desenho. Neste caso, novamente
clicamos em File e depois em New Lens. A janela de dilogo perguntar
se queremos salvar a lente anterior e como antes apertaremos a palavra
No. Veremos novamente a janela File new aberta, como j mostramos na
Fig. 4.3. Clique em Custom lens, coloque o nmero de superfcies (3 no
caso do dubleto) e depois clique em OK. Na janela que se abrir possvel
digitar diretamente os dados do dubleto.
Para fazermos um caso concreto, vamos considerar o dubleto
tratado no problema 1.2, onde n
1
= 1.52, n
2
= 1.65 , r
1
= 7 cm , r
2
= -5 cm,


104
r
3
= -16 cm, t
1
= 1 cm e t
2
= 0.4 cm. Podemos comear digitando os raios
de curvatura e depois os espaamentos. Em APERTURE RADIUS e Ent.
beam radius coloque 2.0. Estas unidades so arbitrrias, mas podemos
pensar, por exemplo que elas correspondem a centmetros. Clicando em
Draw On, voc no ver nenhuma figura porque os vidros ainda no
foram especificados e o programa considera como se tudo fosse ar. Na
coluna GLASS, escreva BK7 e F2, como mostra a Fig. 4.8. Agora voc
poder ver o desenho do dubleto.

Fig. 4.8 Dubleto do problema 1.2.
No caso de no sabermos o nome do vidro desejado, podemos
escolher da tabela de algum fabricante. Para isso, clique no quadro cinza
da coluna GLASS, na linha que contm a superfcie de interesse.
Aparecer uma janela onde escolheremos Catalog (C). Aparecer outra
janela onde selecionaremos Schott. Com isso abre-se o catlogo de vidros
pticos deste fornecedor, que pode estar apresentado pelo nome, ndice de
refrao ou nmero de Abbe. Se estiver pelo nome, uma vez que se clicar
sobre algum tipo de vidro, aparecer na parte superior da planilha os
parmetros relacionados quele vidro. Por outro lado se escolhemos a
apresentao da tabela pelo ndice de refrao, aparecer uma coluna com
o ndice e ao lado os vidros que satisfazem aquele valor. Ao escolher o
vidro que interessa, clique no boto verde de confirmar. Com isso o vidro
ser adicionado planilha de dados da superfcie.
A planilha de dados de superfcie deve ser salva periodicamente e
para isso clica-se no boto verde de confirmar. Esses dados ficaro
guardados num buffer e para serem recuperados devemos clicar num cone


parecido com uma lente azul na barra de menu. Este cone s aparece
quando a planilha de dados est fechada. Toda vez que se quiser descartar
alguma planilha basta aplicar no X vermelho, aps o que aparecer uma
janela pedindo confirmao para desfazer todas as mudanas. Confirme
sim e v novamente para a lente azul para obter os dados anteriores.
Os ndices de refrao exatos do dubleto que estamos calculando
no so encontrados nos catlogos dos fornecedores. Para contornar esse
problema, podemos criar um modelo de vidro clicando na caixa cinza da
coluna GLASS e escolhendo Model (M). Aparecer uma caixa solicitando
o nome do vidro, cujo preenchimento opcional. Clicando em OK
aparecer uma janela onde se entra com o ndice de refrao deste vidro
imaginrio. Entre com o valor 1.52 para a superfcie 1 ou 1.65 para a
superfcie 2. Clicando em OK aparecer uma outra janela onde se que
entra com um nmero de Abbe, mas seu preenchimento opcional.
Confirme no smbolo em verde e a planilha da Fig. 4.9 aparecer. Note
que chamamos um vidro de CROWN1 e o outro de FLINT2. Confirme no
smbolo em verde para salvar a planilha e depois na lente azul para
reabri-la.

Fig. 4.9 Dubleto do problema 1.2 com os ndices corrigidos.
possvel inserir novas linhas na planilha e para isso devemos
inicialmente escolher uma superfcie particular clicando sobre seu nmero
e depois usar o cone na parte superior da planilha (inserir antes) ou a
tabela da Fig. 4.7 (inserir antes ou inserir depois da linha selecionada).
Como exemplo, vamos separar as duas lentes de que formam o dubleto
por uma distncia de 2 cm. Selecionaremos a linha 2 e com o cone do


106
canto superior direito da planilha inserimos uma nova linha na qual
podemos digitar os dados que interessam. Alternativamente, podemos usar
os comandos Copy e Paste da tabela da Fig. 4.7 para repetir uma linha e
depois modificar os dados. Na parte superior da Fig. 4.10 podemos ver
como ficou a nova planilha com o dubleto separado. Clicando o boto
Draw On/Off vemos que agora as duas lentes esto separadas, como visto
na parte inferior da Fig. 4.10.

Fig. 4.10 Dubleto separado.


4.3 Janela de texto
A janela de texto o local onde os dados de entrada e os valores
calculados pelo programa so mostrados. Ela possui o aspecto da Fig.
4.11, onde ferramentas padro so exibidas, mas outros comandos podem
ser adicionados barra de menu se forem selecionados no cone com
formato de janela azul localizado no canto superior esquerdo da janela.
Clicando neste cone veremos aparecer uma tabela com as vrias
possibilidades de ferramentas disponveis, como mostra a Fig. 4.12.

Fig. 4.11 Janela de texto com as ferramentas padro.

Fig. 4.12 Ferramentas disponveis na janela de texto.
Recomenda-se que o leitor clique sobre algumas destas
ferramentas para ver as mudanas que ocorrem na barra de menu. Ao
andar com o cursor sobre os diversos comandos existentes veremos que
seu nome fica visvel, o que facilita bastante seu uso. Como exemplo,
quando acionamos o boto Len, vemos surgir uma tabela com os dados
que foram colocados na planilha de entrada, como mostrado na Fig. 4.13.
Por outro lado, o comando Rin apresentar uma tabela com os ndices de


108
refrao e nmeros de Abbe utilizados na confeco da lente, em trs
comprimentos de onda diferentes, como mostra a Fig. 4.14. Veremos no
futuro como escolher estes comprimentos de onda.

Fig. 4.13 Dados da lente.

Fig. 4.14 ndices de refrao utilizados na confeco da lente.
Ainda com relao s ferramentas padro mostradas no menu da
janela de texto destacamos os comandos Pxc (Paraxial constants), que
fornece as constantes paraxiais do sistema, Abr, que indica as aberraes
totais e Auf que possibilita se fazer a auto-focalizao do sistema. A auto-
focalizao tambm pode ser feita diretamente na planilha de dados das
superfcies, como veremos na prxima seo. As janelas correspondentes
a estes comandos esto mostradas nas figuras de 4.15 a 4.17.
interessante neste ponto que o leitor clique sobre todos os comandos
existentes na barra ferramentas para ver os tipos de informaes que
podem ser obtidas.



Fig. 4.15 Comando Pxc: dados paraxiais da lente.

Fig. 4.16 Comando Abr: aberraes totais do sistema.

Fig. 4.17 Comando Auf: realizao da auto-focalizao do sistema.
Na ferramenta Aberrations, vista na tabela da Fig. 4.12,
destacamos os comandos Pxs (Paraxial setup) e Pxt (Paraxial trace), que
fornecem outros dados do clculo do desenho ptico e tambm o comando
Sei, que d as aberraes de Seidel de terceira ordem para cada superfcie
do sistema, bem como sua soma. As janelas correspondentes a estes
comandos esto mostradas nas figuras de 4.18 a 4.20.


110

Fig. 4.18 Comando Pxs: fornece dados do traado paraxial.

Fig. 4.19 Comando Pxt: fornece alturas e ngulos do traado paraxial.

Fig. 4.20 Comando Sei: fornece as aberraes de cada superfcie e sua soma.


4.4 Janela grfica
A janela grfica, mostrada na Fig. 4.21, o local onde se
apresentam as informaes grficas sobre o sistema ptico, incluindo
desenhos e aberraes. Esta janela apresenta uma barra de menu com 9
cones que podem ser utilizados para mostrar diferentes dados de
avaliao. Podemos avaliar muitos aspectos de um desenho incluindo, por
exemplo, imagens de pontos e erros da frente de onda. Da mesma maneira
que feito para a janela de texto, podemos mudar o menu da barra de
ferramentas clicando no primeiro cone do canto superior esquerdo com
formato de janela azul, aps o que aparecer uma lista de opes, como
mostra a Fig. 4.22. Recomenda-se que o leitor clique sobre algumas destas
ferramentas para ver os novos comandos surgindo na barra de menu. Os
cones das ferramentas padro vistas na Fig. 4.21 correspondem ao default
da janela. Descrevemos brevemente a seguir alguns destes cones.

Fig. 4.21 Janela grfica ao ser aberta.

Fig. 4.22 Ferramentas disponveis para a janela grfica.


112
Nesta janela, como em vrias as outras, ao se colocar o cursor
sobre qualquer dos smbolos aparecer a explicao sobre sua funo. O
segundo cone da barra de ferramentas mostra o desenho da lente numa
vista bidimensional, similar ao que est na parte inferior da Fig. 4.10.
Nesta etapa importante prestar ateno na espessura da borda de uma
lente positiva quando voc est trabalhando com um dado desenho.
Posteriormente explicaremos como variar o intervalo do desenho. O
terceiro cone mostra outro tipo de desenho, porm em forma
tridimensional. Ele no muito usado.
Os prximos itens referem-se anlise de desempenho da lente e
so calculados no plano da imagem (IMS). Existem diversas maneiras para
se encontrar a posio em que a imagem formada. Uma maneira para
encontrar automaticamente a superfcie IMS clicando no quadrado cinza
defronte coluna THICKNESS da ltima superfcie desenhada, que no
presente exemplo 4. Como mostra a Fig. 4.23, aparece uma janela na
qual se escolhe a palavra Solves (S) e outra onde qual se escolhe Axial ray
height (altura do raio axial). Uma janela pergunta qual altura desejada,
onde entramos com o valor 0.

Fig. 4.23 Encontrando o foco paraxial automaticamente.
Se nesta janela tivssemos deixado Direct specification e
colocado o valor 0 como espessura, poderamos encontrar o plano da
imagem usando a linha IMS abaixo. Para isto basta clicar no quadrado


cinza em frente palavra THICKNESS e, como mostra a Fig. 4.24,
podemos escolher trs opes para auto-focalizao. Finalmente, esta
mesma tabela pode ser obtida, como j vimos na Fig. 4.17, escolhendo a
palavra Auf na janela de texto.

Fig. 4.24 Encontrando o plano da imagem.
O quarto cone bastante importante uma vez que ele fornece a
anlise grfica do desempenho da lente, vista na Fig. 4.25, tal como:
astigmatismo, aberrao longitudinal e deslocamento focal cromtico.
Chamamos a ateno que ao comparar desenhos diferentes deve-se prestar
bastante ateno na escala usada em cada aberrao. Um grfico pode
parecer melhor, mas ele na verdade pode ser pior se escala maior.
Algumas informaes importantes com relao s vrias janelas que
aparecem so as seguintes.
O astigmatismo est relacionado com a curvatura de campo da
superfcie da imagem (IMS). Colocando-se uma curvatura na superfcie da
imagem pode-se contrabalanar o astigmatismo sagital e tangencial. Um
raio curto para a IMS significa que ser muito difcil focalizar o centro do
campo e ao mesmo tempo sua borda. A aberrao esfrica longitudinal
mostra grficos de trs cores (comprimentos de onda) diferentes. Lentes
objetivas para uso visual devem ter a luz verde (por volta de 0.55 m)


114
bem corrigida. As outras duas cores normalmente tero maior aberrao
esfrica longitudinal do que a cor verde. Se ns examinarmos este mesmo
desenho usando outros comprimentos de onda, os erros sero diferentes.
Cada cor ter uma quantidade diferente de aberrao esfrica. Em geral, a
luz violeta ter o maior desvio neste desenho assim como na maior parte
de outros desenhos. Objetivas que so otimizadas para fotografias
corrigem a luz violeta e azul melhor do que aquelas para otimizao
visual. A luz violeta mais importante em fotografias do que para uso
visual.

Fig. 4.25 Janelas correspondentes ao quarto cone (anlise de raios).
O deslocamento focal cromtico mostra onde as diferentes cores
so focalizadas. A escala vertical representa o comprimento de onda (0.4
na parte inferior violeta e 0.7 na parte superior vermelho) enquanto
que a escala horizontal indica a posio do foco para os diferentes
comprimentos de onda. A luz violeta (0.4 m) focaliza aproximadamente
0.2 mm mais perto da lente do que a luz amarela de 0.588 m. A luz
vermelha (0.7 m) focaliza cerca de 0.05 mm depois do foco da luz
amarela.


Esta janela mostra ainda o desenho bidimensional da lente.
Existem duas maneiras para modificar o intervalo do desenho: ou clicando
no segundo cone e depois em Operating Conditions ou indo para a barra
de ferramentas superior, escolhendo Lens e em seguida Lens Drawing
Conditions. Com isto se abrir a janela da Fig. 4.26, onde poderemos
mudar os parmetros do desenho. Em particular, escolhemos que a lente
fosse desenhada at a superfcie da imagem e ficamos com o desenho da
Fig. 4.27.

Fig. 4.26 Janela para modificar as condies do desenho.

Fig. 4.27 Desenho onde a superfcie da imagem mostrada.


116
O quinto cone mostra uma janela como a da Fig. 4.28 contendo a
anlise da frente de onda. P-V significa o erro do pico ao vale, enquanto
que RMS o erro quadrtico mdio. O resultado da avaliao fora do eixo
est no lado esquerdo, enquanto que o resultado sobre o eixo est no lado
direito. Esta anlise est no comprimento de onda primrio 0.587 m. Ns
mudamos o ngulo de incidncia (field angle) para 10
0
para podermos ver
as variaes da frente de onda. Tambm colocamos o plano da imagem
(IMS) em -0.8 e assim vemos diferentes resultados para os trs ngulos de
incidncia. Estes so erros da frente de onda e no erros da superfcie de
vidro, que so consideradas perfeitamente esfricas. Se a superfcie da
lente no fosse perfeitamente esfrica, os erros da frente de onda seriam
diferentes, na maioria dos casos, piores.

Fig. 4.28 Janelas correspondentes ao quinto cone (erros na frente de onda).
Uma outra ferramenta importante ligada com a distoro da frente
de onda o Strehl Ratio, que obtido clicando em Evaluate na barra de
ferramentas superior, depois em Other Aberrations e finalmente em


Zernike Wavefront. Aparecer uma janela com vrios parmetros onde se
deve clicar em OK. A janela de textos exibir o Strehl Ratio, que ter um
valor entre 0 e 1. Quanto mais prximo de 1 este valor estiver, menor ser
a distoro da frente de onda e melhor ser a lente. Uma maneira
alternativa de se acessar o Strehl Ratio atravs da janela de texto, usando
a ferramenta Image analysis (tabela da Fig. 4.12) e Wvf, seguido de OK.
O sexto cone mostra uma anlise do diagrama de pontos. Ele a
avaliao mais adequada para uma checagem rpida da qualidade da
imagem, mas pode no ser suficiente por si prprio. Por exemplo,
possvel ter um bom diagrama de pontos mesmo que haja um erro da
frente de um da maior do que o desejado. s vezes possvel fazer o
diagrama de pontos ter uma aparncia melhor sem realmente melhorar a
imagem. Portanto, sempre til checar outras janelas de anlise para
maior confiabilidade. A imagem da Fig. 4.29 tem 15 diagramas. Ns
continuamos com o field angle em 10
0
para vermos melhor a variao no
diagrama de pontos.

Fig. 4.29 Janelas correspondentes ao sexto cone (diagramas de pontos).


118
A primeira linha mostra o diagrama para uma imagem fora do
eixo em 10
0
, enquanto que a ltima linha mostra o diagrama para a
imagem sobre o eixo. As colunas mostram o deslocamento focal. Isto
significa que a coluna da esquerda est 0.05 mm para dentro do foco e a
coluna da direita est 0.05 mm fora do foco. A coluna central est na
posio focal correta. Podemos examinar o diagrama de pontos em
qualquer posio focal que se queira. Para o uso visual, uma lente
normalmente focalizada para o comprimento de onda primrio porque
nossos olhos so muito sensveis luz verde e menos sensveis s cores
azul e vermelho. Mas, poderamos querer examinar uma lente que est
focalizada para a luz policromtica, que daria um balano para os trs
comprimentos de onda.
O stimo cone mostra a anlise da funo alargamento de pontos.
Como pode ser visto na Fig. 4.30, a coluna da esquerda apresenta uma
vista tridimensional, enquanto que a coluna do centro mostra os mesmos
dados num diagrama bidimensional. Os grficos da parte de baixo destas
duas colunas apresentam a anlise no eixo ao passo que os grficos da
parte superior destas colunas mostram a anlise fora do eixo. Os
resultados da imagem no eixo so muito melhores do que os resultados da
imagem fora do eixo. Um pico abrupto corresponde a um resultado muito
bom um enquanto que um borro largo no to bom. Este grfico mostra
quanta luz est focalizada prximo ao centro da imagem e quanta luz est
espalhada.
O oitavo cone apresenta uma anlise da funo transferncia de
modulao (MTF). Ela d uma idia de quanto contraste uma lente capaz
de transferir, como ser discutido na seo 5.6. Na parte de cima da janela
da Fig. 4.31 h uma linha preta com pequenos crculos que o valor ideal.
Uma lente muito boa apresentar resultados prximos a esta linha. Uma
lente de foco curto ter um desempenho pior do que uma lente de foco
longo se ambas foram feito com o mesmo tipo de vidro. Tipos de vidros
caros podem dar imagens melhores do que vidros normais. A linha com
cruzes mostra os valores sobre o eixo. O objetivo conseguir que essa
linha fique o mais prxima possvel do valor ideal. A linha com quadrados
e losangos mostra os valores fora do eixo. Idealmente ambas estas linhas
deveriam ser to boas quanto linha do eixo e elas deveriam estar
prximas. No bom se uma linha estiver alta enquanto que a outra est
baixa.



Fig. 4.30 Janelas correspondentes ao stimo cone (alargamento de pontos).

Fig. 4.31 Janela correspondente ao oitavo cone (transferncia de modulao).


120
O nono cone mostra uma anlise da funo transferncia de
modulao conforme se muda o plano da imagem. Novamente, na parte de
cima est uma linha que mostra o valor ideal para esta lente. As linhas
abaixo mostram os valores reais para esta lei entra tanto na situao fora
de eixo como sobre o eixo.

Fig. 4.32 Janelas correspondentes ao nono cone (MTF ao longo do eixo).

4.5 Otimizao de uma lente
O dubleto que utilizamos at agora como exemplo teve seus
parmetros escolhidos ao acaso no sendo, portanto, otimizado. Nesta
seo vamos ver como se pode melhorar o desempenho de um sistema
tico pelo processo de otimizao. Veremos dois mtodos. O primeiro
utiliza parmetros de otimizao j existentes na funo de erro GENII,
enquanto que no segundo mtodo escolhemos nossos prprios parmetros.
interessante salvar-se o arquivo que est sendo utilizado toda vez que
uma melhora significativa ocorrer no seu desempenho.


Os parmetros que podem ser modificados num desenho tico so
basicamente os raios de curvatura, os espaamentos de ar e as espessuras
das lentes, mas estas ltimas no produzem uma variao significativa no
desempenho do sistema. Para escolher quais parmetros podero variar
durante o processo de otimizao, escolhemos a superfcie desejada,
clicamos no quadrado defronte o parmetro que nos interessa e
escolhemos Variable (V). interessante que no comeo do processo se
escolha poucas variveis, tipicamente uma ou duas. possvel tambm
vincular parmetros do mesmo tipo. Como exemplo, vamos supor que se
deseja que as curvatura das superfcies 2 e 3 de sejam as mesmas. Para
isto, clicamos no quadrado defronte coluna RADIUS da superfcie 3 e
escolhemos Curvature pickup, aps o que aparecer uma caixa onde se
solicita o nmero da superfcie qual se quer vincular a curvatura (ser a
superfcie 2 no nosso caso). Outra janela perguntar Enter pickup
constant, onde ser digitado 0. Aparecer no quadrado a letra P, enquanto
que para os parmetros que forem variveis aparecer a letra V. Vamos
deixar as superfcies 1 e 4 como variveis.
No exemplo de otimizao que faremos a seguir, vamos utilizar o
dubleto das sees anteriores. Entretanto, para obtermos um resultado
satisfatrio da forma mais rpida possvel, vamos tomar o field angle
como sendo 0
0
. Em geral, muito mais fcil se otimizar um sistema ptico
quando o ngulo de incidncia pequeno, uma vez que no temos que nos
preocupar com aberraes do tipo astigmatismo, coma, curvatura de
campo e distoro. Alm disso, pretendemos otimizar um dubleto cuja
distncia focal de 20 cm e no os 8.37 cm do exemplo utilizado at
agora. Para corrigirmos a distncia focal do dubleto, podemos clicar em
EFL com o boto da direita, em seguida em Scale lens e Scale To New
Focal Length, como mostra a tela da Fig. 4.33. Entre com o valor 20 para
a nova distncia focal e clique em OK. Na planilha dos dados da
superfcie vemos que todos os parmetros foram modificados. Isto inclui
os raios de curvatura, separaes e dimetros das lentes. Para corrigirmos
a tabela de maneira a mantermos o dimetro original devemos substituir
os nmeros constantes em Ent. beam radius e APERTURE RADIUS pelo
valor 2.0. Aps isso, veremos no desenho do AutoDraw (Draw On/Off)
que as lentes ficaram muito espessas e para contornar este problema
reduzimos suas espessuras para 1.0 e 0.4, como no desenho original. Com
isso, obtemos a planilha de dados mostrada na Fig. 4.34.


122

Fig. 4.33 Mudana da distncia focal da lente.

Fig. 4.34 Nova planilha de dados.
Para iniciarmos o processo de otimizao, clicamos em Optimize
na barra superior de ferramentas, em seguida escolhemos Generate Error
Function e GENII Ray Aberration. Surgir a tela mostrada na Fig. 4.35,
que apresenta vrios nmeros correspondentes aos valores de default da
funo de erro GENII. Aperte em OK para que esses valores sejam
aceitos.



Fig. 4.35 Janela de default correspondentes funo de erro GENII.
As condies de otimizao so vistas escolhendo Optimization
Conditions no item Optimize da barra superior de ferramentas. A janela da
Fig. 4.36 aparecer. Vamos mudar o valor de default de 0.001 para um
nmero muito menor, por exemplo, 0.000001. O valor aqui no to
crtico, mas um nmero pequeno permitir que o programa atinja
suavemente uma boa soluo logo na primeira tentativa. Aperte a
confirmao verde no canto superior esquerdo para aceitar esse novo
valor.

Fig. 4.36 Condies de otimizao.


124
Agora estamos prontos para otimizar o desenho, mas antes
devemos verificar o Strehl ratio (EvaluateOther AberrationsZernike
WavefrontOK), que depende de como a focalizao do sistema feita.
No que segue, usaremos Minimun on-axis spot size (monochromatic) para
focalizar a lente. Obtemos no desenho original um Strehl ratio de 0.154,
que um valor muito baixo e indica uma lente de qualidade ruim. Clique
em Optimize e depois em Iterate. Tambm poderia ter sido usado Ite da
janela de texto, mas neste caso o nmero de iteraes fixo em 10,
enquanto que usando OptimizeIterate ele pode ser mudado. Voc ver a
janela da Fig. 4.37 que d algumas opes para fazer a interao.
Simplesmente aperte em OK para aceitar os valores de default. Podemos
ver na Fig. 4.38 que os valores dos parmetros variveis foram
modificados e que os passos da otimizao esto sumarizados na janela de
texto. Repetimos o procedimento de interao quantas vezes forem
necessrias at que os parmetros da lentes no variem mais. Note que a
funo de erro GENII praticamente no altera a distncia focal efetiva por
isso que ns a ajustamos antes de fazer a otimizao.

Fig. 4.37 Janela com parmetros da iterao.
Para analisarmos a otimizao com a janela grfica devemos re-
focalizar o novo desenho escolhendo Evaluate na barra de ferramentas
superior, clicando em Autofocus e em seguida em Minimun on-axis spot


size (monochromatic). Alternativamente podemos usar Auf da janela de
texto. Entretanto, vemos nas janelas grficas, principalmente na MTF, e
no valor do Strehl ratio (0.138) que este desenho est um pouco pior do
que o original. Podemos ento colocar tambm a separao entre as duas
lentes como varivel, mas isto melhora o desempenho do sistema apenas
um pouco. O valor do Strehl ratio vai para 0.24, que cerca de 50%
melhor que o do desenho original. Finalmente, colocaremos o raio de
curvatura da superfcie 2 para variar, o que implica tambm na variao da
superfcie 3, pois elas so iguais (lembre-se do Pickup). O valor do Strehl
ratio vai para 0.668, que j cerca de 4 vezes melhor que o do desenho
original. Para obtermos um valor melhor que este podemos ainda variar as
espessuras das lentes. Com isto, possvel se obter um Strehl ratio de
0.97, como mostra a Fig. 4.39, que um valor muito bom.

Fig. 4.38 Resultado parcial do processo de otimizao.
Uma pergunta relevante a ser feita : at que ponto devemos
otimizar a lente? Para respond-la, precisamos lanar mo de outros
parmetros de qualificao de imagem, sendo os mais importantes a


126
funo transferncia de modulao (MTF) e a anlise do diagrama de
pontos. A funo transferncia de modulao do dubleto otimizado est
mostrada na Fig. 4.40. Nela vemos duas linhas quase coincidentes, sendo
a superior correspondente a um caso de ideal e a inferior a que obtivemos
com o processo de otimizao. Para efeitos prticos, num sistema visual
devemos ter um contraste de 50% para 50 linhas por milmetro (lpm). No
nosso caso, vemos que o contraste de 80% em 50 lpm, que pode ser
considerado um valor muito bom.
J o diagrama de pontos permite analisar se no estamos tendo um
resultado melhor do que os limites fsicos fundamentais permitem.
Veremos na ptica ondulatria a existncia do processo de difrao, que
impede a focalizao da luz num dimetro menor do que aquele limitado
pelo chamado disco de Airy. Na mecnica quntica, este efeito o
anlogo do princpio da incerteza de Heisenberg. Desta forma, perda de
tempo tentar se otimizar a lente para ela produzir um ponto focal menor
do que o dimetro deste disco, uma vez que isto nunca ocorrer na prtica.
Veremos a seguir como se introduzir o disco de Airy no diagrama de
pontos.

Fig. 4.39 Resultado final do processo de otimizao.



Fig. 4.40 Funo transferncia de modulao para o dubleto otimizado.
Para que o disco de Airy aparea escolhemos Evaluate na barra de
ferramentas superior e em seguida clicamos em Spot Diagram e Single
Spot Diagram, como mostra a Fig. 4.41. Nela selecionamos Yes na caixa
de dilogo Show Airy disc in plot vista na Fig. 4. 42 e apertamos OK. Com
isso aparece automaticamente a janela da Fig. 4. 43 com o digrama de
pontos exibindo o disco de Airy. Nesta janela vemos que o limite de
difrao 0.0035 e que o tamanho do ponto geomtrico 0.0011, o que
no possvel do ponto de vista fsico. Isto significa que o clculo
geomtrico da lente est melhor do que ela vai realmente funcionar na
prtica. Este um dado importante para que encerremos o procedimento
de otimizao. Para completar a anlise com o diagrama de pontos,
podemos escolher o sexto cone da janela grfica, que nos permitir a
visualizao de vrios diagramas ao redor do ponto focal, como mostrado
na Fig. 4. 44. Antes de passar para o outro procedimento de otimizao
descrito a seguir, recomenda-se que o leitor navegue sobre todos os cones
de anlise de imagens da janela grfica, especialmente o quarto. Neste,
tente mudar as escalas dos grficos clicando com o boto da direita e
selecionando Re-calculate using new parameters. Mude alguns dos
nmeros da janela que aparece e veja o resultado.


128

Fig. 4.41 Janela inicial para se visualizar o disco de Airy.

Fig. 4.42 Janela para impresso do diagrama de pontos com o disco de Airy.



Fig. 4.43 Janela com o diagrama de pontos exibindo o disco de Airy.

Fig. 4.44 Janela com o diagrama de pontos exibindo o disco de Airy.


130
A outra maneira de se otimizar o sistema permite a escolha das
aberraes que queremos eliminar, alm de possibilitar a variao da
distncia focal da lente. Para iniciarmos este novo processo de otimizao,
clicamos em Optimize na barra superior de ferramentas, e em Aberrations
Operands. Surgir a tela mostrada na Fig. 4.45, que apresenta 21
parmetros que podem ser otimizados. Inicialmente especificaremos a
distncia focal efetiva clicando sobre OCM21 na ltima linha, aps o que
esta palavra aparecer na janela superior. Digite -20 na frente de OCM21.

Fig. 4.45 Janela com os parmetros que podem ser otimizados.
No dubleto que estamos otimizando o ngulo de incidncia nulo
e, portanto, no temos que nos preocupar com aberraes do tipo
astigmatismo (AST), coma (CMA), curvatura de campo (PTZ) e distoro
(DIS). Desta forma podemos apagar vrias linhas desta planilha e isto
feito selecionando uma ou mais linhas e clicando no cone que representa
uma tesoura no canto superior direito da planilha. Deixaremos apenas os


operands mostrados na Fig. 4.46. Feito isso se aperta o smbolo de
confirmar e realiza-se todo o processo de otimizao e anlise como
descrito no mtodo anterior.

Fig. 4.46 Janela com os parmetros que sero otimizados.

4.6 Informaes adicionais
Vimos neste captulo os procedimentos gerais utilizados para
entrar com os dados, otimizar e analisar o desempenho de uma lente.
Procuramos passar para o leitor a filosofia de uso do programa. Vrios
outros comandos e operaes sero aprendidos conforme o usurio
realizar os clculos dos sistemas propostos no final do captulo. O que
faremos para finalizar o captulo introduzir a partir deste ponto algumas
outras operaes que so teis no desenho e clculo de um projeto tico.
Mudana de comprimentos de onda - Para mudar ou adicionar outros
comprimentos de onda, clique em Wavelengths na planilha de dados que
uma janela contendo a lista dos comprimentos de onda em uso se abrir.
Nbr 1 o comprimento de onda nmero 1, que o comprimento de onda
primrio mostrado no canto superior direito da planilha. Normalmente ele
0.587 (d) ou 0.546 m (e) para um desenho visual. A Fig. 4.47 mostra os


132
valores de default. O programa OSLO usa o comprimento de onda Nbr 2
como sendo mais curto e Nbr 3 sendo mais longo que o comprimento de
onda Nbr 1. possvel tambm incluir comprimentos de onda adicionais
clicando numa dada linha e ento na seta azul no canto superior direito da
planilha. Isto inserir outra linha de comprimento de onda, cujo valor pode
ser escolhido clicando-se duas vezes sobre o valor do comprimento de
onda mostrado. Aparecer uma janela com uma lista de comprimentos de
onda, dos quais qualquer um pode ser selecionado.

Fig. 4.47 Janela de default dos comprimentos de onda.
Definindo o comprimento do sistema Muitas vezes queremos que o
sistema ptico tenha um comprimento total fixo. Vamos tomar como
exemplo o dubleto da Fig. 4.10, da seo 4.2, e fazer com que seu
comprimento total seja de 4 cm. Para isso, clicamos na caixa cinza
defronte a espessura da ltima superfcie do conjunto. Escolhemos
Pickups (P) e Minus length. A primeira caixa de dilogo solicitar a
primeira superfcie a partir da qual se quer fixar o comprimento. Entre
com 1. A segunda caixa de dilogo solicitar a superfcie final e no nosso
exemplo entraremos com 4. A terceira caixa de dilogo solicitar o
comprimento do sistema (entre com 4). Aps este procedimento possvel
se ver que a soma das espessuras dos elementos do conjunto totaliza 4.
Inserindo um espelho Clicamos na caixa cinza defronte a coluna GLASS
da superfcie que nos interessa e escolhemos Reflect ou Reflect (hatch).
As duas opes so iguais, exceto que na segunda o espelho ser
desenhado de forma achurada. Para se inclinar o espelho, se necessrio,
clicamos na caixa cinza defronte a coluna SPECIAL, depois em
Coordinates, aps o que se abrir uma janela onde possvel modificar o
ngulo e descentralizar o espelho.



Bibliografia
(1978).

Problemas
4.1. Usando o programa OSLO, calcule a distncia focal traseira de uma
lente plano-convexa com r
1
= 27 mm, r
2
= , n = 1.517 e d = 3 mm.
Considere um raio que incide paralelo ao eixo ptico com Y = 5 mm.
4.2. Considere um raio que incide sobre um singleto paralelamente ao eixo
ptico. Sabendo que r
1
= 10, r
2
= , n = 1.5 e t = 2, use o programa
OSLO para encontrar a distncia focal traseira.
4.3. Considere um dubleto acromtico cimentado com f = 100 mm,
utilizando BAK2 (n
a
= 1.54, V
a
= 59.71) como vidro crown e SF2
(n
b
= 1.648, V
b
= 33.85) como vidro flint. Supondo que a interface
entre as lentes seja plana (r
2
= ), encontre r
1
e

r
3
.
4.4. O sistema ptico descrito abaixo uma ocular que precisa ser
confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura
externos. Sabe-se que a distncia focal da ocular 100,05 mm; a
abertura numrica da imagem NA = 0,1515; altura da imagem
gaussiana = 47,03; meio campo visual (HFOV) = 25,17
o
; objeto
infinito. Obs: As superfcies 5, 6 e 7 pertencem a um dubleto, cuja
espessura total 63,9 mm.
Superfcie Raio de curvatura Espessura Material Dimetro
1 -352,36 21,90 Vidro 124
2 -105,27 7,28 Ar 124
3 -440,72 22,50 Vidro 124
4 -107,04 1,36 Ar 124
5 124
6
63,9
(espessura 5-7) 124
7
102,49
Desconhecido
794,28 47,481
Vidro
Vidro
Ar 124
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os
possveis materiais so BK7, BAK1, K5, SF2, SF61, F4, F2.
b) O dimetro das lentes deve ser ajustado conforme o HFOV e F/#.


134
c) Otimizar o sistema.
d) Avaliar o sistema analisando: d
1
) aberraes transversais quanto s
regies axial, zonal e marginal, d
2
) astigmatismo sagital e tangencial,
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
) aberrao esfrica longitudinal, d
6
)
deslocamento cromtico do foco, d
7
) anlise do raio rms do spot da
imagem, d
8
) anlise de Strehl Ratio, d
9
) anlise de Point Spread
Function, d
10
) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d
11
)
anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceira-
ordem e aberraes de quinta ordem.
e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido.
4.5. O sistema ptico descrito abaixo uma ocular ortoscpica que precisa
ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura
externos. Sabe-se que a distncia focal da ocular 100,1 mm; a
abertura numrica da imagem NA = 0,1; F/# = 5,0; altura da
imagem gaussiana = 8,75; meio campo visual (HFOV) = 5
o
; objeto
infinito. Obs: As superfcies 4, 5, 6 e 7 pertencem a um tripleto, cuja
espessura total 83,41 mm.
1 (stop) Infinito 82,56 Ar 20
2 Infinito 23,28 Vidro 80
3 -90,95 1,10 Ar 92
4 92
5 86
6
83,41
(espessura 4-7)
Vidro
Vidro
Vidro 86
7
129,49
Desconhecido
Desconhecido
-129,49
87,23 Ar 86
a) Determinar os materiais e os raios de curvatura interna do tripleto. Os
possveis materiais so BK7, BAK1, KF3, SF2, SF61, F3, F2.
b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#.
1
2
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
11
)


4.6. O sistema ptico descrito abaixo um Tripleto Heliar que precisa ser
confeccionada, sendo que apenas os raios de curvatura externos so
conhecidos. Sabe-se que a distncia focal 99,8 mm; F/# = 3,56;
altura da imagem gaussiana = 17,6; meio campo visual (HFOV) =
10
o
; objeto infinito. Obs: As superfcies 1, 2 e 3, e 7, 8 e 9 pertencem
a dubletos, cuja espessura total 9,55 e 9,12 mm respectivamente.
1 28
2
9,55
(espessura 1-3)
Vidro
Vidro 28
3
30,810
Desconhecido
580,38 3,52 Ar 28
4 -80,63 1,85 Vidro 28
5 28,34 4,18 Ar 28
6 (Stop) 3,00 Ar
7 28
8
9,12
(espessura 7-9)
Vidro
Vidro 28
9
Plano
Desconhecido
-52,99 81,08 Ar 28
1
2
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
11
)
4.7. O sistema ptico descrito abaixo um tripleto Tessar que precisa ser
confeccionado, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura
externos. Sabe-se que a distncia focal 98,96 mm; F/# = 4,5; altura
da imagem gaussiana = 8,66; meio campo visual (HFOV) = 5
o
;
objeto infinito. Obs: As superfcies 6, 7, 8 e 9 pertencem a um
tripleto, cuja espessura total 7,4 mm.


136
1 23,60 3,7 Vidro 22
2 Plano 3,9 Ar 22
3 -64,20 1,2 Vidro 22
4 22,70 3,7 Ar 22
5 (stop) 1,2 Ar
6 22
7 22
8
7,4
(espessura 6-9)
Vidro
Vidro
Vidro 22
9
-232,00
Desconhecido
Desconhecido
-39,50
49,2 Ar 22
a) Determinar os materiais e os raios de curvatura interna do tripleto. Os
possveis materiais so K4, BAK1, BAK2, SK4, KF3, SF2, SF61,
LF4, F2.
b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado pelo F/#.
1
2
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
11
)
4.8. O sistema ptico descrito abaixo uma ocular simtrica que precisa
ser confeccionada, sendo que apenas os raios de curvatura externos
so conhecidos. Sabe-se que a distncia focal da ocular 100 mm;
NA = 0,034; F/# = 14,7; altura da imagem gaussiana = 31; meio
campo visual (HFOV) = 17,22
o
; objeto infinito. Obs: As superfcies
1, 2 e 3 e 4, 5 e 6 pertencem a dubletos, cuja espessura total 42,97
mm.


1 92
2
42,97
(espessura 1-3)
Vidro
Vidro 92
3
649,24
Desconhecido
-96,63 2,43 Ar 92
4 92
5
42,97
(espessura 4-6)
Vidro
Vidro 92
6
96,63
Desconhecido
-649,24 69,35 Ar 92
1
2
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
11
)
4.9. O sistema ptico descrito abaixo uma objetiva telescpica que
precisa ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de
curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal da objetiva 100
mm; NA = 0,0715; F/# = 7,0; altura da imagem gaussiana = 1,75;
objeto infinito. Obs: As superfcies 1,2 e 3 pertencem a um dubleto,
cuja espessura total 4,8 mm.
1 16
2
4,8
(espessura 1-3)
Vidro
Vidro 16
3
88,87
Desconhecido
-54,18 1,04 Ar 16
4 -20,41 1,5 Vidro 16
5 -19,367 100,85 Ar 16
1
2


138
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
11
)
4.10. O sistema ptico descrito abaixo uma objetiva microscpica de
10x que precisa ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os
raios de curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal da
objetiva 15,34 mm; NA = 0,25; F/# = 2,0; altura da imagem
gaussiana = 1,34 ; meio campo visual (HFOV) = 5
o
objeto infinito.
Obs: As superfcies 2, 3 e 4 e 5, 6 e 7 pertencem a dubletos, cuja
espessura total 4,70 e 4,32 mm.
1(stop) 0,31
2 10
3
4,70
(espessura 2-4)
Vidro
Vidro 10
4
13,09
Desconhecido
-112,24 8,64 Ar 10
5 8
6
4,32
(espessura 5-7)
Vidro
Vidro 8
7
11,48
Desconhecido
-21,25 6,97 Ar 8
1
2
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
11
)
4.11. O sistema ptico descrito abaixo um tripleto que precisa ser
confeccionado, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura


externos. Sabe-se que a distncia focal 101,62 mm; NA = 0,111;
F/# = 4,5; altura da imagem gaussiana = 17,92; ; meio campo visual
(HFOV) = 10
o
, objeto infinito. Obs: As superfcies 6,7 e 8 pertencem
a um dubleto, cuja espessura total 9,14 mm.
1 33,39 8,36 Vidro 36
2 -533,88 5,66 Ar 36
3 -61,80 2,06 Vidro 23
4 29,76 4,93 Ar 23
5(stop) 3,17
6 30
7
9,14
(espessura 6-8)
Vidro
Vidro 30
8
-808,78
Desconhecido
-43,16 84,29 Ar 30
possveis materiais so BK7, SK15, K10, SF2, SF61, F4, F2.
1
2
d
3
) cor lateral, d
4
) distoro, d
5
6
)
7
imagem, d
8
9
Function, d
10
) anlise de Modulation transfer function (MTF) e d
11
))


140

Tcnicas de fabricao ptica

141

5.1 Introduo
O polimento de superfcies pticas tem como objetivo reduzir as
rugosidades e irregularidades das faces das lentes e espelhos para se obter
superfcies homogneas que garantam a boa qualidade da imagem
formada. Ao nvel microscpico, a superfcie continua com imperfeies,
mas as irregularidades tm tamanho inferior ao comprimento de onda da
luz, no sendo, portanto, visveis. O processo completo para a confeco
de uma lente ou de uma superfcie plana de boa qualidade envolve vrios
passos: corte do vidro, gerao da curva esfrica, montagem de um
blocado no caso em que se deseja fazer vrias lentes, lapidao,
polimento, verificao da presena de riscos, teste de topologia da
superfcie, centralizao da lente, controle de qualidade do componente
manufaturado e evaporao de filmes finos dieltricos ou metlicos. Nas
sees que seguem passaremos a descrever estes passos com detalhes.
Como diretriz bsica, devemos levar em conta que s possvel modificar
a superfcie do vidro utilizando-se ferramentas feitas com materiais mais
duros que o prprio vidro. Desta forma, no processo de corte ou gerao
da superfcie esfrica necessrio o uso de ferramentas diamantadas,
enquanto que para a lapidao e polimento usam-se abrasivos cujos gros
possuem dureza maior do que a do vidro.

5.2 Corte
Para a familiarizao com a manipulao dos instrumentos e
materiais de uma oficina de ptica podemos comear cortando uma placa
de vidro com uma caneta de ponta diamantada, como mostra a Fig. 5.1.
As recomendaes principais neste procedimento so: apoiar a placa
5
Tcnicas de
fabricao ptica


142
numa superfcie plana e aderente, segurar o vidro com firmeza, apoiar a
caneta num ngulo de 90
0
com o plano da mesa e fazer um trao contnuo,
sem pausa no meio do caminho.

Fig. 5.1 - Corte com uma caneta diamantada.
Em seguida, passaremos a descrever o uso das mquinas de corte.
Aqui se recomenda o uso de um jaleco sobre a roupa, luvas de couro para
procedimentos mais grosseiros e protetores para os olhos Os vidros
pticos podem vir da fbrica em diferentes formas geomtricas: blocos
cilndricos, paraleleppedos ou placas, como mostrados esquematicamente
na Fig. 5.2. Vamos inicialmente proceder ao corte de uma pilha de 4
lminas quadradas, com cerca de 20 cm de lado. Elas sero coladas umas
s outras por uma mistura de cera de abelha e breu, que inicialmente
aquecida para ficar viscosa. A cola deve proporcionar uma boa aderncia,
o suficiente para que o bloco suporte o torque da broca que o perfurar.

(a) (b) (c)
Fig. 5.2 - Blocos de forma (a) cilndrica, (b) de paraleleppedo e (c) lminas
empilhadas.


143
Aps a colagem, o conjunto posto em descanso por vinte
minutos ou o tempo necessrio para o resfriamento da cola. Em seguida,
ele levado furadeira para cortes cilndricos, como mostra a Fig. 5.3.
Nesta etapa devemos usar o bom senso para evitar o desperdcio de
material. Antes da perfurao, deve se tomar o cuidado de regular a
profundidade que a broca atingir, de tal maneira que ela penetre as trs
primeiras lminas e apenas uma frao da ltima. A ltima lmina no
deve ser perfurada totalmente, pois ela serve como base, sustentando as
demais.

Fig. 5.3 - Furadeira com broca diamantada.
Como medida de segurana, devemos usar bases magnticas para
evitar o movimento lateral da pea sendo cortada. Uma base magntica
um im em forma de cubo que contm um boto capaz de ativar e
desativar o poder de aderncia do im. O uso destas bases obrigatrio,
evitando sempre que possvel, o contato entre as mos do operador e o
bloco de vidro que est sendo cortado. Conforme o atrito entre a broca e o
vidro aumenta, o bloco pode, acidentalmente, vir a rodar junto com a
broca. As bases magnticas servem de suporte seguro para que isto no
ocorra, e mesmo que venha a ocorrer, a broca trava e a mo do operador
no ser ferida pelo vidro.


144
Aps o corte, o conjunto de 4 lminas ficar com o aspecto
mostrado na Fig. 5.4. Como temos 9 perfuraes e a ltima lmina serve
apenas como base protetora, geramos 27 discos que sero utilizados para a
confeco de lentes ou espelhos.

(a) (b) (c)
Fig. 5.4 - Bloco de lminas aps a perfurao: (a) vista superior, (b) vista lateral
e (c) vista em perspectiva.
Em vrias ocasies queremos realizar o corte linear de um bloco
de vidro na forma de paraleleppedo ou de basto. Para isso fazemos o uso
da serra circular mostrada na Fig. 5.5. A serra vista de construo
caseira, possuindo disco diamantado com espessura de 2 mm e permite
apenas a realizao de cortes simples.

Fig. 5.5 - Serra diamantada circular.


145
D
4 mm
Durante o uso deste tipo de serra necessrio segurar a pea
diretamente com a mo, de forma que para se evitar acidentes necessrio
o uso de uma luva de couro. Se quisermos fazer cortes de maior preciso e
variar o ngulo entre dois cortes sucessivos, como no caso do corte de um
prisma, devemos usar uma mquina comercial com controle automtico e
gonimetro.

5.3 Gerao de superfcie esfrica
Se quisermos confeccionar uma lente, necessrio se produzir
uma superfcie esfrica sobre o disco de vidro que foi cortado da forma
descrita na seo anterior. Isto s possvel com ferramentas diamantadas
que removam facilmente quantidades significativas do material. Neste
processo se usa um copo diamantado de bordas arredondadas, de dimetro
D e espessura da parede de 4 mm, como aquele mostrado na Fig. 5.6.

Fig. 5.6 - Copo metlico diamantado.
A gerao da superfcie esfrica ocorre pela interseco da
ferramenta diamantada com o disco de vidro, da maneira esquematizada
na Fig. 5.7. O dispositivo de gerao consiste num sistema com dois eixos
concorrentes girantes, cujo ngulo deve ser ajustado para cada curvatura
desejada. O bloco de vidro fixo por meio de uma pina circular,
enquanto que a ferramenta suportada pelo segundo eixo faz o desbaste.
Para se gerar uma superfcie cncava usa-se a parte externa da ferramenta
e para uma superfcie convexa usa-se a parte interna. A Fig. 5.8 mostra a
situao real de uma superfcie convexa na geradora de curva.


146

(a) (b)

Fig. 5.7 - Mtodo para gerar a superfcie esfrica (a) convexa e (b) cncava.
Para gerarmos um dado raio de curvatura faz-se necessrio
escolhermos o dimetro do copo diamantado bem como o ngulo entre os
eixos concorrentes. Estes parmetros se relacionam de acordo com as
expresses: sen = D/2(R+2) para lentes cncavas e sen = D/2(R-2) para
lentes convexas, onde o ngulo entre os eixos, D o dimetro da
ferramenta diamantada e R o raio de curvatura desejado. Esta frmula,
cuja deduo ser deixada como exerccio, encontra-se numa etiqueta
colada no corpo da mquina, ao lado da escala de ngulos. O fator de
correo 2 mm, devido espessura da ferramenta diamantada,
conforme vimos na Fig. 5.6.

Fig. 5.8 - Gerao de uma superfcie esfrica convexa.


147
Ao se gerar uma superfcie esfrica, e mesmo durante o processo de
lapidao que veremos adiante, importante conferirmos o raio de
curvatura da superfcie atravs de um esfermetro. Este dispositivo,
mostrado na Fig. 5.9, mede a flecha a partir da qual podemos encontrar o
raio de curvatura da superfcie.

Fig. 5.9 - Esfermetro para controle do raio de curvatura.
A Fig. 5.10 ilustra o uso do esfermetro para a medida de uma
lente convexa e de uma cncava. Nestas figuras vemos o tringulo
retngulo de catetos d/2 e (R-H), e hipotenusa R, onde d o dimetro da
base do esfermetro, R o raio de curvatura e H a flecha.

(a) (b)
Fig. 5.10 - Uso do esfermetro para a medida de uma lente (a) convexa e de uma
(b) cncava.


148
Vale frisar que o esfermetro tem diversas bases de tamanhos variados.
Devemos escolher a base que tenha dimetro mais prximo possvel do
dimetro da lente para minimizar o erro. Aplicando o teorema de
Pitgoras temos: (d/2)
2
+ (R-H)
2
= R
2
, de forma que R = d
2
/8H + H/2.
Analisando os dois casos, verifica-se que no caso das lentes cncavas, d
o dimetro externo e para as convexas, d o interno. Para concluir,
devemos mencionar que a escala do esfermetro zerada colocando-o
sobre uma superfcie de boa planicidade.

5.4 Lapidao
Quando a lente sai do processo de gerao de curva ela possui
uma superfcie bastante irregular, com riscos de dimenses
suficientemente grandes para provocar o espalhamento da luz e
conseqente opacidade. Os processos de lapidao e polimento so
essenciais para a reduo do tamanho destes riscos a uma dimenso
inferior ao comprimento de onda da luz, de forma a no haver
espalhamento significativo e tornar o material transparente. Em particular,
a lapidao possibilita um ajuste mais preciso do raio de curvatura, de
modo a ficar o mais prximo possvel do raio ideal. um processo
essencial para que se consiga obter o raio de curvatura desejado, j que o
processo de gerao descrito na seo anterior proporciona apenas uma
curvatura aproximada. A lapidao tambm reduz as irregularidades da
superfcie, reduzindo os poros da lente, deixando-a preparada para o
polimento posterior. Por sua vez, o polimento no altera muito a
superfcie da lente, e assim este processo no consegue variar
significativamente o raio de curvatura. Durante o polimento, a superfcie
adquire o brilho e a transparncia que necessita, e os riscos e defeitos
presentes aps a lapidao so corrigidos, resultando numa lente pronta
para a utilizao.
Lapidao e polimento so processos onde a superfcie ptica
lixada contra uma matriz, e diferem essencialmente quanto ao tamanho
dos gros dos abrasivos e o tipo da matriz que usada no processo. Na
lapidao, so usados abrasivos com partculas de tamanhos maiores e
matrizes de maior dureza, como o ferro e o lato. O polimento feito com
abrasivos de gros menores e matrizes mais macias, como o piche. Nos
dois processos, para que a superfcie fique homognea e mantenha o raio


149
de curvatura prximo ao desejado, a superfcie a ser trabalhada deve ser
atritada contra uma outra que possua o mesmo raio de curvatura.
As matrizes so pares de peas que possuem raios de curvatura
iguais e complementares (cncavo e convexo) e que so usadas para a
lapidao e polimento de vrias lentes ao mesmo tempo. As matrizes
utilizadas so geralmente feitas de material metlico resistente, porm,
durante o uso ocorre um desgaste que causa mudanas indesejadas na
curvatura da lente e, portanto, necessrio um monitoramento contnuo
do seu raio durante a lapidao. Por usar um material mais resistente que o
vidro, e abrasivos com gros maiores e mais agressivos, a lapidao pode
alterar muito a curvatura da lente dependendo do modo que est
ocorrendo o atrito (inclinao da matriz, velocidade, direo, etc). A
escolha da matriz feita de acordo com o raio de curvatura da lente que
deve ser polida.
Existem diversos tipos de abrasivos que so empregados na
lapidao e polimento de lentes, tais como alumina em p, pasta
diamantada, rouge, xido de crio, xido de zircnio, entre outros. Estes
so classificados de acordo com o material (dureza) e com o tamanho dos
gros. Alguns dos abrasivos mais usados esto listados na Tabela 5.1. A
escala de dureza utilizada est em Mohs. Esta escala, que varia de 1 a 10,
no muito precisa, mas suficiente para a escolha do material. Neste
tipo de classificao, os materiais que recebem uma posio superior na
escala de classificao conseguem agredir os que esto abaixo de sua
classificao. Como exemplo, o diamante o material de maior dureza.
Tabela 5.1 - Dureza de materiais na escala de Mohs.
Material Dureza
(Mohs)
Material Dureza
(Mohs)
Diamond 10,0 alumina 8,5 a 9,0
Cubic Boron Nitride 9,9 E-67,.calcinated alumina 8,5 a 9,0
Norbide, boron carbide 9,7 E-111,.calcinated alumina 8,5 a 9,0
Crystolon, silicon carbide 9,5 E-330,.calcinated alumina 8,5 a 9,0
Alundum, aluminum oxide 9,0 Rouge, chromium oxide 8,5
38 White aluminum oxide 9,0 Cerium Oxide (estimated) 8,0
Linde "A" alpha alumina 9,0 Garnet 8,0 a 9,0
Linde "C" alpha alumina 9,0 Quartz 7,0
Linde "B" gamma alumina 8,0 Red Rouge, ferric oxide 6,5
Corundum 9 Aluminas (hydrates) 5,0 a 7,0


150
A Tabela 5.2 mostra a classificao dos abrasivos de acordo com
o tamanho dos gros. Apenas alguns tamanhos esto listados na tabela. A
Fig. 5.11 tambm mostra a relao entre grana e tamanho dos gros.
Tabela 5.2 - Tamanho dos gros de abrasivo.
Grana Tamanho mdio (m) Grana Tamanho mdio (m)
100 173 320 32
120 142 400 23
150 122 500 16
180 86 600 8
220 66 900 6
240 63 1000 5
280 44 1200 3
A grana uma outra escala de classificao dos abrasivos. Neste
caso, os materiais so separados de acordo com o tamanho dos seus gros.
Quanto maior a grana, menor o tamanho das partculas do abrasivo.

Fig. 5.11 - Tamanho dos gros de abrasivos.
Estes abrasivos so misturados com gua de maneira a formar
uma pasta para os processos de lapidao e polimento. A gua, alm de
servir como veculo para o abrasivo, evita o aquecimento que poderia
danificar o vidro e causar a perda do material. Na lapidao, em geral se
0 200 400 600 800 1000 1200
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
160
180

T
a
m
a
n
h
o

(
m
)

Grana


151
usa uma matriz de ferro ou lato, e carborundun (carbeto de silcio) para o
processo de lapidao, mas no existe uma seqncia fixa para a aplicao
das diferentes granas. O que geralmente se faz, usar primeiro um
abrasivo mais agressivo, de gros maiores (menor grana) para a remoo
rpida de material. Isto permite desgastar a lente para se obter a espessura
e o raio de curvatura prximos aos desejados ou remover grandes
imperfeies. Em seguida so utilizados abrasivos mais finos de maneira
sucessiva para se obter uma superfcie mais homognea para o polimento
posterior.
Geralmente inicia-se a lapidao fina com abrasivos de grana da
ordem de 320, em seguida 400, 600, 800, 1000 e 2000. Com relao ao
tamanho dos gros uma seqncia possvel comearia em 32 micrometros
em seguida 20, 12 e 5 ou ento, 32, 25, 15, 9 e 5. Pode-se notar que nestas
seqncias, geralmente a ordem dos abrasivos montada de maneira que
o abrasivo seguinte tenha tamanho um pouco maior que metade do
tamanho do abrasivo anterior. Se ocorrerem grandes variaes no tamanho
dos abrasivos, um tempo de lapidao maior recomendado para se obter
bons resultados. Os abrasivos com grana menor que 320 no so
normalmente empregados, pois desgastaria excessivamente a superfcie do
vidro. Estes tm aplicao quando se deseja, como dito anteriormente,
desgastar rapidamente a superfcie a fim de reduzir a espessura da lente
(lapidao grosseira). Neste caso empregam-se abrasivos de grana 120 em
seguida 220 e inicia-se o processo de lapidao usual.
O processo mecnico que utiliza uma matriz de ferro com o raio
de curvatura desejado o mais empregado em oficinas de ptica para a
lapidao de vrias lentes ao mesmo tempo. Isso feito atravs da
montagem de blocados. Para lentes individuais, o processo semelhante,
porm, ao invs de matrizes de ferro, gera-se um par de matrizes de vidro
complementares (par de lentes cncava e convexa de mesmo raio de
curvatura). A lente que se deseja lapidar, desta forma, atritada com a
lente complementar na presena de pasta abrasiva.
A escolha da matriz feita de acordo com o raio de curvatura da
face da lente que se deseja polir. As lentes sero colocadas em uma das
faces de acordo com o perfil da superfcie a ser polida: para uma
superfcie cncava, as lentes so colocadas na matriz convexa; para a
superfcie convexa, as lentes so colocadas na superfcie cncava da
matriz. Na Fig. 5.12, as lentes esto sendo colocadas na parte cncava da
matriz. Antes de se colocar as lentes na matriz, esta recebe uma camada de


152
vaselina para facilitar a remoo posterior. As lentes so posicionadas de
maneira que suas bordas fiquem levemente afastadas umas das outras para
evitar quebras. Depois de colocadas na matriz, pode-se pintar de preto a
superfcie exposta com um spray para depois ver melhor o polimento.
Fig. 5.12 - Esquema de montagem de blocado para lapidao e polimento de
uma superfcie convexa.
O material utilizado para a fixao das lentes chamado de
cimento ptico. Este material preparado derretendo no fogo breu e gesso
em partes iguais e um pouco de cera de abelha. Para que no ocorra
nenhum choque trmico, a matriz com as lentes tambm aquecida como
mostra a Fig. 5.13. Uma fita adesiva usada para que no ocorra o
vazamento do cimento ptico. O cimento derretido vertido sobre as
lentes na matriz e a matriz complementar colocada sobre o cimento,
tomando-se o cuidado de no deixar que este se encoste nas lentes. A
montagem colocada para esfriar.

Fig. 5.13 - Seqncia de montagem do blocado.
Quando a montagem estiver completamente fria, a parte inferior
aquecida e, devido ao derretimento da vaselina, as duas partes da matriz
so separadas. Um leve desgaste do cimento ptico conveniente para
formar um pequeno desnvel entre este e as lentes. Isso importante para


153
proporcionar uma lapidao uniforme das superfcies. O blocado pronto
est esquematizado na Fig. 5.14. Ele levado mquina mostrada na Fig.
5.15, onde realizada a lapidao das lentes. Ela consiste em dois eixos
que suportam o blocado e a parte complementar da matriz. O eixo que
suporta o blocado mantido em movimento de rotao enquanto o eixo
que suporta a outra face da matriz realiza movimento de vai-vem. Este
movimento importante para que a lapidao seja uniforme e atinja toda
superfcie das lentes. O processo interrompido periodicamente para que
haja o fornecimento da pasta abrasiva. essencial que haja a presena
deste material para que ocorra o atrito deste com a lente e no o atrito do
metal com a lente, alm de ser uma forma de refrigerao da superfcie
que esquenta com o atrito e pode sofrer danos. Para este estgio so
utilizados os abrasivos de gros de tamanho maior.

Fig. 5.14 - Blocado pronto para o processo de lapidao.

Fig. 5.15 - Mquina utilizada para lapidao.


154
A lapidao tambm pode ser feita manualmente. Tal processo
necessrio quando no se tem a matriz metlica com o raio de curvatura
da superfcie ou quando fabricada uma nica lente com aquele raio.
Neste caso, no processo de gerao de curva feita uma superfcie
complementar superfcie da lente (par cncavo e convexo) com vidro
comum e esta usada para a lapidao da superfcie da lente.
O processo manual feito em uma bancada onde existe um
sistema com rolamentos onde, com um motor ou por meio de pedais, uma
das duas superfcies complementares (coladas em suportes metlicos com
cera de abelha) colocada em movimento de rotao pelo sistema
presente na bancada e a outra mantida em atrito com a primeira com
auxilio das mos. O abrasivo usado o mesmo que o empregado na
lapidao com blocado. O controle do raio de curvatura neste processo
possvel de acordo com o movimento executado pela pessoa que segura a
lente. Movimento no sentido de rotao da pea presa ao sistema fixo na
bancada leva a uma melhor lapidao do centro e movimento contrrio
rotao leva a uma melhor lapidao das bordas. Isso tambm vale tanto
para o processo de polimento manual como para o realizado na mquina
politriz.

5.5 Polimento
O polimento utiliza abrasivos com gros de tamanhos menores e
geralmente usado um nico abrasivo durante todo o processo. O xido
de crio (fcil de ser utilizado e de limpar) e o xido de zircnio so os
mais usados no polimento por possurem gros com tamanho mdio de
3m. Outros abrasivos usados neste processo so: alumina em p (at
0,01m), pasta diamantada (at 0,1m), ruge, entre outros. Neste estgio a
lente adquire brilho e transparncia, resultando em um produto pronto
para o uso.
No processo mecnico de polimento de lentes utiliza-se um
polidor de piche ao invs do polidor de ferro ou vidro, pois o piche agride
menos a superfcie da lente. Isso ocorre porque ele possui dureza inferior
do ferro e vidro. O piche um material com alta viscosidade e em
temperatura ambiente assemelha-se a um slido, mas pode fluir com o
tempo (mais rapidamente quando sob presso ou alta temperatura). Estas
caractersticas fazem deste material um timo polidor. Existem diversos
tipos de piches disponveis comercialmente. A escolha do melhor piche


155
para polimento deve ser feita de maneira que este no seja to viscoso a
ponto de no fluir o suficiente para que ocorra bom contato entre as
superfcies e nem to mole a ponto de fluir tanto que no mantenha o
formato da superfcie e prejudique o polimento.
Para a preparao do polidor, o piche aquecido num recipiente
levado ao fogo, como mostra a Fig. 5.16. Quando este estiver lquido,
despeja-se sobre um suporte de metal plano ou uma matriz metlica. A
superfcie deve estar limpa para que haja boa aderncia e uma moldura de
fita adesiva deve ser colocada para que no ocorra transbordamento do
material.

(a) (b) (c)
Fig. 5.16 (a) piche em pedaos, (b) derretimento e (c) preparo do polidor.
Aps ser espalhado com cuidado para que no surjam bolhas,
pincela-se a superfcie da lente com uma mistura de abrasivo e gua (para
que o piche no grude nas lentes) ou detergente, e se coloca as duas
superfcies em contato. Isto feito quando o piche est um pouco mais
firme e depois que a moldura de fita adesiva retirada. A outra metade da
matriz (com as lentes), ou a lente individual, encostada no polidor
(geralmente em rotao) para que o piche fique distribudo uniformemente
e adquira o raio de curvatura da face a ser polida, como visto na Fig. 5.17.
No caso de polidor para superfcies planas, o processo o mesmo (Fig.
5.18).
Algum tempo depois, quando o raio de curvatura da superfcie
est estabelecido de maneira uniforme, as duas partes da matriz so
separadas e so feitos riscos, ou marcas no piche que serviro para o
escoamento do abrasivo e acomodao do piche durante o polimento (Fig.
5.19). Em seguida, coloca-se as duas peas novamente em contato para


156
garantir que toda a superfcie do piche esteja em contato com a matriz de
lentes ou com a superfcie plana (no caso de espelhos).

Fig. 5.17 - Montagem de polidor de piche.

Fig. 5.18 - Remoo da moldura de fita, espalhamento de abrasivo e contato
entre o polidor e vidro plano.

Fig. 5.19 - Riscos feitos no polidor de piche e contato com o vidro para
uniformidade da superfcie.
conveniente se fazer alguns riscos mais estreitos com uma faca
em cada um dos quadrados do polidor de piche para que ocorra melhor


157
acomodao do piche durante o polimento. O polidor de piche est pronto
para ser usado.
Quando o piche estiver desgastado ou o raio de curvatura for
alterado, necessria sua troca. Para a remoo do piche que est no
polidor, este colocado num congelador por aproximadamente um dia.
Em seguida, remove-se o piche com uma faca ou outro objeto resistente.
Resduos de piche que ficarem no suporte podem facilitar a aderncia de
uma nova camada.
A mquina utilizada para o polimento, mostrada na Fig. 5.20,
possui um sistema prprio de abastecimento de abrasivo, no sendo
necessrio interromper o processo a no ser para o monitoramento das
superfcies das lentes. Ela igual mquina de lapidao, onde um dos
eixos realiza movimento de rotao enquanto que o outro realiza
movimentos de vai-vem.

Fig. 5.20 - Mquina utilizada para polimento de lentes.
A limpeza do local onde realizado o polimento muito
importante, pois a contaminao com qualquer gro de tamanho maior
que o do abrasivo pode causar riscos na superfcie. Para a remoo de
riscos profundos comum ter que se retornar ao estgio de lapidao.
Durante o processo de lapidao e polimento, alguns cuidados devem ser
tomados para garantir a boa qualidade das lentes. Tais cuidados, descritos


158
a seguir, devem ser adotados desde o processo de corte e gerao de
curva.
Inspeo visual - Antes de se iniciar o processo de lapidao
conveniente uma inspeo cuidadosa do material. Peas que contenham
rachaduras, bordas quebradas ou trincadas devido ao processo de corte ou
durante a gerao de curvas podem prejudicar o polimento de outras
lentes que estejam sendo polidas num mesmo blocado (caso liberem
pedaos de vidro), alm de resultarem em lentes de pior qualidade. A
observao de rachaduras internas do vidro ptico (provocadas
eventualmente por quedas ou coliso) tambm pode ser feita j que lentes
com tais defeitos no possuem boa qualidade visual. Para uma melhor
visualizao recomenda-se colocar o vidro dentro de um recipiente que
contenha gua, pois ela possui um ndice de refrao mais prximo ao do
vidro.
Durante a lapidao e o polimento - Durante os processos de lapidao e
polimento cuidados com a qualidade da superfcie, curvatura e forma
devem ser tomados. Durante a lapidao importante observar se toda a
superfcie esta sendo gasta. Riscos feitos com uma caneta de ponta porosa
so teis para a verificao da uniformidade da lapidao. Neste caso,
deve-se observar se os riscos desaparecem por igual de toda a superfcie, o
que demonstra que toda a regio est sendo lapidada. Este tipo de teste
tambm conhecido como teste de Sharpi. Na mudana do abrasivo que
estiver sendo utilizado, a lente (se a lapidao for individual) ou o blocado
deve ser lavado com pincel e detergente e secado, tomando-se o cuidado
de no deixar resduos de gros do abrasivo anterior, em geral de tamanho
maior. Isso feito para evitar riscos provocados por algum gro que
eventualmente se mistura com os gros do prximo abrasivo, e atritado
com a lente. Secamos com ar comprimido, ao fim de cada etapa.
Outro cuidado necessrio refere-se ao controle do raio de
curvatura que se quer gerar. Durante o desgaste da superfcie da lente na
lapidao, o raio de curvatura geralmente varia. Os abrasivos de gros
maiores mudam o raio da lente rapidamente, possibilitando o desvio do
raio desejado ou o ajuste para este raio. Abrasivos com partculas de
tamanho menor tambm provocam mudana no raio de curvatura, porm
esta mudana mais lenta. A manipulao deste raio de curvatura feita
variando-se a compresso e direo da matriz durante o processo. O
controle desta curvatura feito com o esfermetro, como descrito na


159
seo 5.3. importante medir a altura em vrios pontos sobre a superfcie
da lente para que, alm da curvatura, seja possvel verificar se a superfcie
est esfrica ou se possui raios distintos em diferentes posies.
Obteno das Lentes Polidas - Aps o processo de polimento, o resultado
uma superfcie completamente polida, como visto na Fig. 5.21. Neste
momento necessrio o destacamento das lentes do cimento ptico. Para
isso, o blocado enrolado numa folha de alumnio e colocado num
refrigerador onde mantido por aproximadamente 2 horas (Fig. 5. 22).

Fig. 5.21 - Blocado com lentes polidas.

Fig. 22 - Processo para destacamento das lentes por refrigerao do blocado.
Este processo importante, pois o coeficiente de dilatao do cimento
ptico maior que o dos vidros das lentes. Assim, o cimento ptico


160
contrai mais que as lentes, desprendendo-as sem danificar. Em seguida,
s bater levemente no cimento ptico com um martelinho, que este
descola com facilidade. O resto do cimento guardado para ser
reutilizado. Para uma maior limpeza deixamos as amostras em um banho
de acetona, se a lente estiver razoavelmente limpa; caso contrrio, usamos
um banho de querosene. Esperamos por 3 horas e passamos lcool para
terminar a limpeza.
Controle de qualidade visual - A observao das superfcies das lentes
com boa iluminao e utilizando uma lupa permite visualizar pequenos
riscos, alm de ser possvel observar poros na face da lente, o que indica
que o tempo de polimento no foi suficiente. Este tipo de
acompanhamento importante, pois permite a correo durante o
processo de polimento.
Outro tipo de controle de qualidade o monitoramento do raio de
curvatura j descrito acima, utilizando-se o esfermetro. Este controle
permite a obteno do raio ideal com maior preciso. A espessura da lente
geralmente controlada durante a lapidao atravs de um paqumetro.
Este controle de qualidade fundamental para garantir que a lente
final tenha a distncia focal correta e possua boa transparncia e qualidade
ptica.
Centralizao de lentes - Durante os processos de lapidao e polimento
podem ocorrer pequenos lascamentos das bordas da lente devido a
pequenas quedas ou choques. Estes defeitos podem ocasionar riscos na
superfcie a ser polida devido a possveis pedaos de vidro que podem se
desprender e se misturar com a pasta abrasiva durante o polimento. Outro
inconveniente que o defeito na borda, quando grande, pode causar a
perda da pea. Entretanto, se pequeno pode ser corrigido, caso o dimetro
real da lente seja maior que o dimetro especificado. Este cuidado
geralmente tomado e parte da borda pode ser removida como veremos a
seguir.
Outro problema que geralmente ocorre durante o processo de
fabricao o desvio entre o eixo ptico do raio gerado na lente e o centro
geomtrico da lente. Este tipo de defeito prejudica o desempenho ptico
do sistema do qual a lente faz parte, e deve ser corrigido. O processo de
centralizao de lentes feito para corrigir estes pequenos defeitos nas
bordas e possveis desvios do seu eixo central.


161
A centralizao da lente realizada pela mquina mostrada na
Fig. 5.23, que consiste em um rebolo e dois eixos bem alinhados, onde so
fixadas pinas de lato selecionadas de acordo com o tamanho da lente a
ser centrada. A lente posicionada entre as duas pinas que a comprimem,
sem danificar a superfcie, e se ajustam curvatura desta, centralizando o
eixo ptico com o eixo das pinas. Este conjunto (pinas e lente) executa
movimento giratrio, com baixa velocidade. Um rebolo diamantado,
localizado perpendicularmente ao eixo das pinas, responsvel pela
retificao das bordas. Desta forma, o excesso de borda retirado e o
centro fsico passa a coincidir com o eixo ptico da lente. Este tratamento
pode ser feito em lentes com qualquer curvatura e dimetro.

Fig. 5.23 - Mquina usada na centralizao de lentes.
Com isso, encerramos as etapas de corte, lapidao e polimento da
lente. Nota-se que nestas etapas iniciais no h muito contedo terico de
ptica geomtrica, uma vez que os clculos so relativamente simples.
Basta verificarmos alguns tringulos retngulos e aprendermos a
relacionar os parmetros em questo. Nestes processos, a ateno maior
deve estar voltada para o cuidado no manuseio dos instrumentos e das
mquinas para se atingir o melhor resultado. Por exemplo, ao se
posicionar a lente na pina da mquina geradora, deve-se ter o cuidado de
verificar se ela encostou-se parede de fundo da presilha; caso contrrio,
o eixo de curvatura pode ficar muito descentralizado.


162
5.6 Controle de qualidade
Mesmo depois de tanto rigor na fabricao dos componentes
pticos, necessria uma avaliao da qualidade e eficincia de tais
componentes com o propsito de garantir a confiabilidade do produto
final. Alguns controles de qualidade usualmente realizados para a
confeco de componentes pticos so descritos a seguir.
Anlise topolgica da superfcie - O primeiro teste a se fazer a anlise
topolgica da superfcie com um interfermetro de Fizeau, como aquele
mostrado na Fig. 5.24. Um interfermetro ptico um instrumento de
medida que utiliza o fenmeno da interferncia baseado nas propriedades
ondulatrias da luz, criando as chamadas franjas de interferncia. As
propriedades geomtricas do padro de franjas de interferncia so
determinadas pela diferena de caminho percorrido pelas ondas.

Fig. 5.24 Interfermetro de Fizeau usado para a anlise topolgica de
superfcies pticas.


163
Padro
esfrico
Padro
plano
Teste Teste
Os interfermetros medem a diferena no caminho ptico em
unidades de comprimento de onda, , da luz utilizada. Como o caminho
ptico o produto entre o caminho geomtrico e o ndice de refrao, um
interfermetro mede a diferena de caminhos geomtricos quando os raios
atravessam o mesmo meio, ou a diferena dos ndices de refrao quando
o caminho geomtrico igual. Uma caracterstica importante de um
padro de interferncia que a separao entre duas franjas consecutivas
corresponde a uma diferena de caminhos pticos de /2.
As irregularidades na superfcie de componentes esfricos
convexos so analisadas atravs do esquema mostrado na Fig. 5.25(a),
onde o raio de curvatura da superfcie convexa sendo testada deve ser
menor do que a distncia focal traseira do padro de transmisso esfrico.

(a) (b) (c)

Fig. 5.25 Montagens para testes de superfcies (a) convexas, (b) cncavas e (c)
planas.
Irregularidades numa superfcie esfrica cncava so examinadas
colocando o centro de curvatura do objeto sob teste coincidente com o
foco do padro esfrico, como visto na Fig. 5.25(b). J para a anlise de
superfcies planas, tais como as de espelhos e prismas, utilizamos um
padro plano, como mostra a Fig. 5.25(c). Feito isso, podemos observar as
franjas de interferncia obtidas no monitor, imprimi-las ou gravar num
micro-computador.
Uma vez realizado o teste no interfermetro, devemos medir as
franjas de interferncia obtidas para avaliar a qualidade da superfcie
ptica. Uma tcnica comum para analisar as franjas manualmente


164
baseada no uso de um acessrio composto de um paralelogramo mecnico
articulado, com um nmero de linhas paralelas, igualmente espaadas,
mas de espaamento varivel, conforme mostra a Fig. 5.26.

Fig. 5.26 Paralelogramo articulado, com linhas igualmente espaadas.
O equipamento ajustado de modo que as linhas da grade estejam
bem alinhadas com o padro de franjas, como visto na Fig. 5.27.

Fig. 5.27 Alinhamento das linhas com as franjas de interferncia.
Devemos medir o mximo desvio de uma franja com relao
linha da rede que corresponde franja. Isso feito da seguinte maneira:
1) Sem rodar ou mudar o espaamento da rede, mova-a para o lado com o
auxlio de uma rgua de modo que pelos uma linha passe pelo centro
de uma franja (Fig. 5.28). Marque a posio na figura de interferncia.


165
Mova a rede (sem rodar ou mudar o espaamento entre as linhas) at
que a linha que passava pelo centro da franja passe pela posio de
maior desvio, como mostra a parte central da Fig. 5.29. Marque esta
posio na figura.

Fig. 5.28 Superposio da linha com uma franja de interferncia.

Fig. 5.29 Medida do mximo desvio de uma franja.
2) Mea a distncia, s, entre as duas marcas feitas nos passos anteriores.


166
3) Mea a distncia entre as duas linhas nos extremos da figura de
interferncia e divida essa distncia pelo nmero de espaos de franjas
para obter o espaamento mdio entre duas linhas consecutivas, s.
4) Divida a medida do item 2 pela mdia obtida no item 3 para obter a
frao de distoro da franja, de pico a vale, como visto na Fig. 5.30.
5) Multiplique o resultado obtido no item anterior por para converter a
distoro da franja em unidades de comprimento de onda.
Multiplicando este valor por 0.633 m, que o comprimento de onda
do laser de He-Ne utilizado no interfermetro de Fizeau, obtemos as
variaes de altura da superfcie ptica em m.

Fig. 5.30 Medida da distoro da franja.
Determinao de ngulos de prismas - Os ngulos entre as superfcies de
um prisma geralmente so medidos utilizando-se um aparelho chamado
gonimetro. Esses aparelhos so constitudos por uma mesa rotatria na
qual colocado o prisma ou polgono que ter os ngulos entre as
superfcies determinado por uma fonte luminosa e um colimador. O
colimador gera um feixe de raios paralelos que projetado em uma das
superfcies e a mesa rotatria girada at o momento que o feixe esteja
refletido sobre ele mesmo, ou seja, esteja incidindo perpendicularmente na
superfcie. Nesta condio, a posio da mesa anotada e repete-se o
mesmo procedimento para a outra superfcie em relao qual se quer
saber o ngulo. A diferena entre os dois valores anotados fornece o
ngulo que se quer medir.
O tipo de gonimetro mais empregado o comparador, mostrado
na Fig. 5.31, onde um prisma padro utilizado como referncia. Depois


167
de regularmos o gonimetro com o prisma padro, colocamos no lugar do
mesmo o prisma que queremos analisar. Assim, obtemos o ngulo do
prisma por comparao.

Fig. 5.31 Gonimetro comparador para a medida de ngulos de prismas.
Determinao dos raios de curvatura de lentes O raio de curvatura
pode ser medido atravs de um esfermetro ou no banco ptico mostrado
na Fig. 5.32. Uma fonte de luz est colocada em 1 e quando acesa, seus
raios colimados chegam a um divisor de feixe em 2. Como mostrado na
figura, temos uma objetiva em 3 para focalizar o raio. Assim ajustamos a
lente no trilho em 4 at que aparea uma cruz no visor. Este primeiro
ponto indica onde devemos zerar a escala graduada digital e a partir da
comear a observar em que ponto ir novamente aparecer outra cruz.
Assim, o valor que aparecer na escala graduada o valor do raio de
curvatura de um dos lados da lente. Quando conhecemos os ndices de
refrao, podemos obter o foco das lentes atravs da equao do
fabricante:
( )
=
2 1
a v
R
1
R
1
n n
f
1
(5.1)


168
onde f a distncia focal, n
v
e n
a
so respectivamente o ndice de refrao
do vidro e do ar (n
a
1) meio e R
1
e R
2
os respectivos raios de curvatura
da lente.

Fig. 5.32 Banco ptico para a medida de raios de curvatura.
MTF (modulation transfer function) - A resoluo e performance de um
sistema ptico podem ser caracterizadas por uma quantidade conhecida
como modulation transfer function (MTF), que a medida da capacidade
do sistema ptico de transferir contraste do objeto para a sua imagem. A
quantificao da MTF constitui um mecanismo freqentemente utilizado
pelos desenhistas pticos para reunir informaes sobre resoluo e
contraste do sistema numa simples especificao. A MTF til no
somente para caracterizar sistemas pticos tradicionais, mas tambm
sistemas fotnicos tais como cmeras de vdeo analgicas ou digitais,
scanners, etc. Este conceito derivado de convenes de padronizao
utilizadas na engenharia eltrica que especificam o grau de modulao de
um sinal de sada como funo da freqncia do sinal de entrada.
Uma lente ideal seria uma lente capaz de produzir uma imagem
que representa um objeto fielmente, transferindo todos os detalhes do
objeto para a imagem; no entanto, lentes reais produzem pequenas
variaes entre a imagem e o objeto. Com intuito de quantificar este fator
1
2
3
4


169
intrnseco das lentes reais, representa-se a habilidade da lente de transferir
informao do objeto para a imagem atravs da MTF.
Uma maneira simples de interpretar os resultados da MTF
atravs da formao da imagem de um objeto de referncia composto por
uma rede de pares de linhas pretas e brancas igualmente espaadas (100%
de contraste). Nenhuma lente (mesmo teoricamente perfeita) sob qualquer
resoluo pode transferir completamente este contraste para a imagem
devido limitao provocada pela difrao. Sendo assim, til graficar a
maneira pela qual o contraste transferido varia com a freqncia espacial,
que geralmente expressa quantitativamente pelo nmero de
espaamentos (linhas) por unidade de comprimento existente na rede
observada. De fato, quando o espaamento entre as linhas da rede
diminudo (maior freqncia), se torna mais difcil para a lente transferir o
contraste. Sendo assim, quando a freqncia espacial aumenta, o contraste
da imagem diminui.
Uma unidade de referncia comum para a freqncia espacial o
nmero de linhas por milmetro (lpm). Como exemplo, uma srie contnua
de pares de linhas pretas e brancas com intervalo espacial de 1 micrmetro
por par vai repetir 1000 vezes a cada milmetro o que corresponde a uma
freqncia espacial de 1000 lpm.
Na situao em que uma rede de linhas pretas e brancas
igualmente espaadas (ondas quadradas) constitui o objeto cuja imagem
vai ser analisada com intuito de caracterizar o sistema, o grfico
relacionando a porcentagem de contraste transferido do objeto para a
imagem conhecido como funo de transferncia de contraste (CTF). A
Fig. 5.33 apresenta o efeito do aumento da freqncia espacial no
contraste da imagem numa objetiva limitada por difrao.
Um grfico de MTF mostra a porcentagem de contraste
transferido para a imagem pela freqncia de linhas. Alguns fatores
devem ser observados:
1) A funo de transferncia de modulao o contraste da imagem em
termos do contraste do objeto, em porcentagem (100% = completa
distino entre linhas pretas e brancas, 0% = imagem uniformemente
cinza).
2) A freqncia em um grfico de MTF medida no plano da imagem.
Sendo assim, para definir a resoluo do objeto (freqncia de linhas),
deve-se calcular a magnificao primria da lente sendo testada.
Uma curva tpica de MTF de uma lente mostrada na Fig. 5.34.


170

Grade peridica Objetiva Imagem

branco branco

preto preto
Grade peridica Objetiva Imagem

branco branco

preto preto
Fig. 5.33 Efeitos da difrao sobre a quantidade de contraste transferido com o
aumento da freqncia espacial.

f
c

Fig. 5.34 Grfico da MTF em funo da freqncia espacial.


171
No grfico da Fig. 5.34 pode se ver indicada a freqncia de corte
que corresponde freqncia para qual a porcentagem de contraste
transferida nula no caso de uma lente sem aberraes. A freqncia de
corte, limitada por difrao, dada pela seguinte expresso:
=
NA 2
f
c
(5.2)
onde NA a abertura numrica do sistema e o comprimento de onda
em mm. Deve ser notado que uma curva de MTF pode ser gerada
teoricamente, fornecendo uma prescrio sobre o desempenho ptico da
lente. Apesar de ser til, ela no indicar o comportamento real da lente
aps sua confeco, uma vez que o processo de fabricao sempre
introduz perdas no seu desempenho. Por esta razo existem sistemas de
medida que quantificam a MTF da lente fabricada fornecendo uma
caracterizao de seu real desempenho. A Fig. 5.35 mostra um
equipamento utilizado para teste de qualidade de uma lente atravs da
medida se sua MTF.

Fig. 5.35 Equipamento para medidas de MTF.
Erros de centralizao - O procedimento mais comum para identificar
erros de centralizao em lentes consiste em analisar a luz por elas
transmitida ou refletida medida que vo sofrendo uma rotao. Um
melhor entendimento deste mtodo pode ser obtido com a ajuda da Fig.
5.36, onde mostrado um aparelho utilizado para este tipo de medida.


172

Fig. 5.36 Aparelho para medidas de erro na centralizao.
Para a medida da centralizao por transmisso um feixe
focalizado no plano focal da lente a ser testada. O feixe de luz transmitido
pela lente captado por uma cmera CCD. Para quantificar erros de
centralizao presentes na lente, o feixe de luz transmitido analisado
enquanto a lente rodada de 360
o
. Na medida por reflexo (modo
refletido), um feixe focalizado no centro de curvatura da lente e
posteriormente refletido pela mesma. O feixe refletido captado por uma
cmera CCD e analisado enquanto a lente rodada de 360
o
, como na
anlise por transmisso. medida que a lente sob teste rodada, a
imagem formada na CCD se mover se houver a presena de erros de
centralizao. O deslocamento na imagem ser proporcional quantidade
de erro na centralizao.


173
Lente sob teste
Sistema
colimador
Microscpio e cmera CCD
Estgio controlado
pelo motor de passo
Retculo com
espaamento y
O aparelho visto na Fig. 5.36, alm de avaliar possveis erros de
centralizao, permite o alinhamento de duas lentes j centralizadas
quando elas so coladas para a confeco de um dubleto.
Effective Focal Length (EFL) - Medies das distncias focais efetiva
(EFL) e traseira (BFL) tambm so realizadas pelo sistema mostrado na
Fig. 5.35. De acordo com o esquema ilustrativo da Fig. 5.37, um sistema
colimador projeta no infinito a imagem de um objeto reticulado com
espaamento y. Os raios paralelos atravessam a lente a ser testada e
emergem como um feixe de raios convergentes que se interceptam no
plano focal da mesma. A imagem do objeto de referncia formada no
plano focal coletada por um microscpio e focalizada numa cmera
CCD colocada precisamente no plano focal do microscpio.
O microscpio e a CCD so montados em um estgio de
translao linear controlado por um motor de passo. Um sistema de auto-
focalizao controlado por computador permite a localizao precisa e
automatizada do plano focal da lente sob teste. Simultaneamente, o
comprimento de ajuste do colimador, f
k,
determinado e
conseqentemente o comprimento focal efetivo, f, dado por:
y
y
f f
k
'
'
= (5.3)

Fig. 5.37 Diagrama ptico para a medida da distncia focal efetiva.
Atravs desta relao pode se determinar diretamente o valor do
EFL (f) atravs de f
k
, y (altura da imagem) e y. Estes trs parmetros so
indicados na Fig. 5.37. Seus valores so automaticamente fornecidos pelo
aparelho de medida aps um processo de auto-calibrao feito pelo
sistema. Todos os aspectos da aquisio de dados comeando pelo sistema


174
de auto-focalizao, posicionamento da CCD, auto-calibrao e exposio
dos dados medidos, so controlados pelo software e totalmente
automatizados.
Back Focal Length (BFL) - O BFL a distncia do vrtice da lente at o
segundo ponto focal. A cabea ptica para medio do BFL projetada
como um dispositivo autocolimador que incorpora um objeto de
referncia, um divisor de feixe e um sistema de imagem. Um sistema de
iluminao por fibra ptica seguida por um condensador ilumina o objeto.
A imagem projetada do objeto automaticamente focalizada no vrtice e
posteriormente no plano focal da lente sob teste. Cada posio dos dois
planos de focalizao (vrtice da lente e plano focal) precisamente
medida. A distncia entre estas duas posies constitui o BFL. A Fig. 5.38
fornece um esquema ilustrativo da focalizao da imagem no vrtice e no
plano focal da lente.

Fig. 5.38 Aparato para medio do BFL.

5.7 Filmes finos
Para a construo de filtros, espelhos e filmes anti-refletores em
lentes temos que ter primeiramente o substrato pronto, ou seja, uma
superfcie ptica que j tenha passado pelos processos anteriores de corte,
lapidao, polimento e controle de qualidade. Para muitos espelhos no
necessrio um vidro com boa transmisso ptica, pois no haver a
passagem de luz por ele.


175
O processo utilizado para a deposio de filmes finos a
vaporizao em cmara de alto vcuo. Este processo consiste na
evaporao de substncias (quartzo, xido de titnio, alumnio, prata, etc)
aquecidas a altas temperaturas, suficiente para fundi-las e formar uma
nuvem do material dentro da cmara vcuo. Essa nuvem entra em contato
com o substrato formando camadas muito finas desse material sobre o
vidro. Pela superposio de camadas de diferentes tipos de materiais
iremos definir as propriedades do componente. As mquinas usadas para a
fabricao desses componentes (Fig. 5.39) so chamadas evaporadoras,
pois como mencionamos, os filmes finos so produzidos a partir da
evaporao, em alto vcuo, de metais e materiais dieltricos. Essas
evaporadoras so equipamentos extremamente sofisticados, caros e que
exigem um investimento muito alto na sua instalao, manuteno e
utilizao.

Fig. 5.39 Vista geral da evaporadora constituda por (1) cmara de vcuo, (2)
sistema de controle de potncia para o canho de eltrons e (3)
micro-computador e controle de vcuo.
1
2
3
3


176
Dentro da evaporadora existe uma calota esfrica, vista na Fig.
5.40, onde so fixados os substratos. Essa calota ir realizar um
movimento giratrio para que haja uma distribuio uniforme do material
depositado. Depois de escolhido o material para evaporao, devemos
saber qual o seu ponto de fuso. Se esta temperatura for inferior a 800
C (em geral os metais) ele ser evaporado em um cadinho que ser
aquecido por efeito Joule. Porm se necessitarmos de temperaturas mais
elevadas para evaporao utilizaremos um canho de eltrons, que
consiste num feixe de eltrons acelerados incidindo diretamente no
material, podendo chegar a temperaturas altssimas, suficientes, por
exemplo, para evaporar at grafite.

Fig. 5.40 Calota para fixao dos substratos.
Depois de colocados dentro da mquina os substratos e os
materiais a serem evaporados (Fig. 5.41), fechamos a mesma e ligamos
uma bomba mecnica que inicia o processo de despressurizao, at
atingir uma presso da ordem de 10
-2
bar. A seguir liga-se a bomba
difusora, mais eficiente para baixas presses, que fornecer o vcuo
necessrio, que da ordem de 10
-5
bar.
O prximo passo consiste em ativar um ionizador para limpeza
dos substratos (glow discharge) na presena de um pequeno fluxo de ar.


177
Isto far aumentar a presso novamente. Finda esta etapa, a bomba
difusora far a cmara de vcuo voltar presso exigida e o material pode
comear a ser evaporado.
A evaporadora programada para realizar o processo sozinha, de
forma que devemos saber de antemo o nmero de camadas, a espessura e
a ordem dos materiais a serem depositados. Lembramos que ao final da
evaporao os substratos estaro quentes, e que a mquina tambm recebe
a deposio do material, exigindo que depois de algumas evaporadas ela
seja limpa.

.

Fig. 5.41 Interior da evaporadora, com destaque no local onde colocamos os
materiais que sero evaporados.
Algumas limitaes do equipamento - A espessura de cada camada pode
ser controlada atravs da quantidade de material depositado sobre um


178
cristal de quartzo que oscila com uma freqncia de ressonncia da ordem
de 5 MHz. Conforme o material vai se depositando sobre o cristal, a
freqncia de ressonncia muda e esta variao pode ser correlacionada
com a espessura depositada. A resoluo de cada camada de cerca de
10, e se necessitarmos uma espessura menor que essa no teremos a
resoluo necessria para consegui-la. Assim, temos uma limitao do
equipamento que provoca incertezas desta ordem nos comprimentos de
onda desejados.
Materiais - O primeiro passo antes da evaporao a escolha do material
a ser evaporado. Essa escolha ir depender das propriedades da interao
do material com a luz. A luz incidente no material sofre trs tipos de
efeito: reflexo, absoro e transmisso e, portanto, a escolha depender
destes trs fatores. Os materiais utilizados para a deposio podem ser
metais ou dieltricos dependendo do uso que se dar ao componente
ptico. O uso de materiais dieltricos mais freqente, pois eles
praticamente no absorvem luz. Porm, a atuao deles ocorre numa
pequena faixa do espectro, enquanto que o alumnio, por exemplo, reflete
em todo o espectro visvel, mas com a inconvenincia de absorver cerca
de 5% da radiao.
A deposio de materiais dieltricos feita por camadas, que
podem ser variadas tanto em nmero quanto em espessura, resultando em
componentes com diferentes espectros de transmisso. Quando utilizamos
elementos dieltricos necessria a deposio de pelo menos dois tipos de
materiais com ndices de refrao diferentes. Geralmente, quanto maior a
diferena entre os ndices maior ser a eficincia do dispositivo. Os
dieltricos mais utilizados so: o dixido de titnio (TiO
2
, n = 2.2) e o
quartzo (SiO
2
, n = 1.45), justamente pela grande diferena entre seus
ndices. Alternamos ento camadas com ndice alto e camadas com ndice
baixo (high-low).
A utilizao de metais na confeco de espelhos se d quando a
absoro do componente no representa um problema para a aplicao na
qual este ser empregado. Os metais mais utilizados so: alumnio e ouro.
Como j dito, apesar dos metais absorverem parte da luz, a maioria deles
funciona em todo o espectro visvel, mas o ouro mais utilizado para a
faixa do infravermelho.
Nmero de camadas - O nmero de camadas um fator importantssimo
na construo de filtros e espelhos. Aumentando o nmero de camadas


179
aumentamos a porcentagem de reflexo e assim obtemos desde divisores
de feixe (semi-espelhos) at espelhos de reflexo total. Lembramos
tambm que com uma pequena quantidade de camadas convenientemente
escolhidas podemos produzir uma interferncia que diminui a reflexo,
que so os filmes anti-refletores.
Para os filmes dieltricos, a espessura das camadas outro fator
muito importante. Variando a espessura variamos a faixa do espectro em
que o dispositivo ir atuar. Para o vermelho as camadas sero mais
espessas e para o azul mais finas.
A determinao do nmero de camadas, espessura e a alternncia
entre os materiais para cada componente fabricado exigem clculos que
seriam muito trabalhosos e pouco prticos na confeco de cada
componente. Para isso utilizamos um programa de computador que
calcula diretamente o nmero de camadas, a espessura de cada uma e a
alternncia de deposio dos materiais. Um dos programas comerciais
mais comuns o ESSENTIAL MACLEOD e sua utilizao simples:
depois de escolher os materiais e especificar as propriedades do
componente, como por exemplo, a faixa do espectro e a transmisso
requerida em cada comprimento de onda (TARGETS).
A Tabela 5.3 e a Fig. 5.42 mostram um exemplo do clculo
realizado pelo programa para um espelho em 530 nm com TiO
2
e SiO
2
,
com o limite de 25 camadas. Esse espelho foi calculado para um ngulo
de incidncia de 45
0
.
Tabela 5.3 Clculo de um espelho de alta refletividade em 530 nm.
Layer Material Refractive
Index
Extinction
Coefficient
Thickness
Medium Air 1.0000 0.00000
1 TiO2 1.00000 0.00037 54.38
2 SiO2 1.00000 0.00000 117.29
3 TiO2 1.00000 0.00037 56.96
4 SiO2 1.00000 0.00000 110.74
5 TiO2 1.00000 0.00037 58.41
6 SiO2 1.00000 0.00000 106.59
7 TiO2 1.00000 0.00037 59.33
8 SiO2 1.00000 0.00000 105.27
9 TiO2 1.00000 0.00037 59.56
10 SiO2 1.00000 0.00000 104.73
11 TiO2 1.00000 0.00037 59.58
12 SiO2 1.00000 0.00000 104.28


180
13 TiO2 1.00000 0.00037 59.93
14 SiO2 1.00000 0.00000 104.17
15 TiO2 1.00000 0.00037 59.72
16 SiO2 1.00000 0.00000 104.27
17 TiO2 1.00000 0.00037 59.72
18 SiO2 1.00000 0.00000 104.30
19 TiO2 1.00000 0.00037 59.63
20 SiO2 1.00000 0.00000 77.19
21 TiO2 1.00000 0.00037 56.99
22 SiO2 1.00000 0.00000 82.29
Substrate Glass 0.00000 0.00000

Fig. 5.42 Transmisso de um espelho dieltrico para 530 nm.
Exemplos de componentes que podem ser evaporados
Anti-reflexo: As lentes com revestimentos anti-refletores so
componentes que, atravs da deposio de poucas camadas tm a
propriedade de refletir menor quantidade de luz. Uma aplicao so as
lentes de culos onde observamos uma reflexo meio azulada. Outra
aplicao dessa tcnica feita em lentes de telescpios refratores com o
objetivo de se perder a menor quantidade de luz possvel.


181
Filtros de interferncia: Existem os filtros passa-banda que so
componentes que permitem a passagem de apenas uma faixa escolhida do
espectro. Os filtros passa-alto deixam passar os comprimentos de onda
mais altos, e os filtros passa-baixo que deixam passar os comprimentos de
onda mais baixos. Pode-se construir um filtro passa-banda fazendo a
composio de um passa-alto com passa-baixo.
Espelhos: Os espelhos podem refletir totalmente a luz, ou refletir apenas
uma faixa escolhida do espectro. Uma aplicao para esses espelhos so
as lmpadas de dentistas que refletem apenas a luz no espectro visvel
para iluminar a boca do paciente, enquanto o infravermelho, que a parte
quente da luz, passa atravs do espelho para no esquentar a boca do
paciente.
Divisor de feixe (beam spliter): So semi-espelhos, que refletem uma
porcentagem da luz e transmitem o resto, podendo atuar na mesma faixa
do espectro ou em faixas distintas.
Controle de qualidade do componente - Para conferir a propriedade do
componente fabricado, utilizamos um espectrofotmetro, que consiste
num dispositivo para medir a transmisso, ou seja, a quantidade de luz que
passa pelo componente em funo do comprimento de onda. Pode-se
tambm com o mesmo aparelho medir a refletividade caso seja este um
espelho. A seguir mostramos na Fig. 5.43 o exemplo de um espectro de
transmisso que corresponde a medida da transmitncia de um espelho
para o comprimento de onda = 632 nm.


182

Fig. 5.43 Espectro de um espelho para =632 nm.

Bibliografia
5.1. D. F. Horne, Optical Production Technology (Crane, Russak &
Company, Inc., New York, 1972).

Problemas
5.1. Deduzir as expresses sen = D/(R+2) e sen = D/(R-2) para a
gerao de superfcies cncavas e convexas, respectivamente.
5.2. Para que o polimento de um disco de vidro fique com planicidade boa
(/10)
a) O polimento deve ser feito com baixa rotao (menor que 10 rpm)


183
b) O polimento deve ser feito com alta rotao (maior que 200 rpm)
c) O dimetro e a espessura do disco dever ser iguais
d) necessrio que se faa o polimento em matriz de madeira
e) A espessura deve ser no mnimo 1/5 do dimetro
5.3 Um dubleto acromtico feito colando-se duas lentes de vidros
diferentes. Estes vidros devem ser do tipo:
a) Ambos crown
b) Um crown e um flint
c) Ambos flint
d) Um crown e um light
e) Um flint e um light
5.4. Qual o par de palavras que completa corretamente a seguinte
sentena: O polimento de uma superfcie de vidro feito utilizando-
se uma matriz de __________ e __________ como abrasivo:
a) Ferro, carborundum
b) Cobre, carbeto de silcio
c) Pixe, carborundum
d) Cera, alumina
e) Pixe, xido de crio
5.5. A melhor maneira de se cortar um bloco de vidro com:
a) Ponta de diamante
b) Serra de vdia
c) Serra diamantada
d) Serra de ao inox
e) Fio diamantado
5.6. Para verificar se a superfcie polida est bem plana deve-se:
a) Usar um planmetro
b) Usar um gonimetro
c) Comparar com uma superfcie de mesma planicidade
d) Comparar com uma superfcie de planicidade melhor
e) Nenhuma das anteriores
5.7. O cimento ptico, usado para a montagem de blocados de lentes
composto de:
a) Piche e breu
b) Breu e gesso


184
c) Cera de abelha, gesso e pixe
d) Gesso, breu e cera de abelha
e) Pixe, gesso e breu
5.8. Para remover as lentes presas num blocado por cimento ptico deve-
se:
a) Esquentar o blocado lentamente at 150C
b) Dissolver o cimento ptico com acetona
c) Remover as lentes mecanicamente
d) Resfriar o blocado num freezer
e) Remover as lentes com ultra-som
5.9. Ao se medir a superfcie esfrica de uma lente com raio de curvatura
de 5 cm com um esfermetro de dimetro de 6 cm, obtm-se uma
flecha de:
a) 3 mm
b) 15 mm
c) 10 mm
d) 5 mm
e) Nenhuma das anteriores
5.10. Deseja se construir uma lente plano-convexa com vidro cujo ndice
de refrao n = 1.5. Para que a lente tenha uma distncia focal de
30 cm, o raio de curvatura da superfcie esfrica deve ser:
a) 15 cm
b) 30 cm
c) 10 cm
d) 45 cm
e) 60 cm
5.11. Para se limpar uma lente usa-se
a) lcool ou acetona
b) Sabo e gua
c) Detergente neutro
d) Bifluoreto de amnia
e) Dimetil sulfxido
5.12. O processo de lapidao deve ser iniciar com que material?
a) Lixa 600
b) Carborundum 600


185
c) Alumina
d) Carborundum 1200
e) xido de crio
5.13. Em que situao se deve substituir o vidro por slica (quartzo
amorfo) ao se fazer uma lente?
a) Quando se deseja fazer uma lente de maior dureza
b) Quando se deseja transmitir luz infravermelha
c) Quando se deseja uma lente barata
d) Quando se deseja uma lente de cristal
e) Quando se deseja transmitir luz ultravioleta
5.14. Para se controlar a dureza de uma matriz de pixe para polimento
deve-se adicionar
a) Breu
b) Gesso
c) Limalhas de ferro
d) Cera de abelha
e) No necessrio controlar a dureza para o processo de polimento
5.15. Qual o par de palavras que completa corretamente a seguinte
sentena: A lapidao de uma superfcie de vidro feita utilizando-
se uma matriz de __________ e __________ como abrasivo:
a) Ferro, carborundum
b) Cobre, carbeto de silcio
c) Pixe, carborundum
d) Cera, alumina
e) Pixe, xido de crio
5.16. O interfermetro um aparelho usado para:
a) Corte e desbaste de vidros
b) Verificao da quantidade de bolhas e estrias de um bloco de vidro
c) Controle de planicidade e esfericidade de superfcies polidas
d) Verificao da qualidade de polimento de uma superfcie
e) Medida do raio de curvatura de uma superfcie polida
5.17. xido de crio e zircnia so abrasivos utilizados para:
a) Lapidao de cristais moles
b) Polimento de vidros em geral
c) Polimento de metais


186
d) Lapidao e polimento de cristais higroscpicos
e) Lapidao de cristais duros

5.18. O gonimetro utilizado para medir:
a) O raio de curvatura de uma lente
b) A centragem do eixo ptico de uma lente
c) O foco de uma lente
d) O ngulo de um prisma
e) A espessura final de uma lente
5.19. Uma superfcie esfrica cncava de raio de curvatura 100 mm, na
qual foi depositada uma camada refletiva de alumnio, possui foco
de:
a) 30 mm
b) 40 mm
c) 50 mm
d) 100 mm
e) 200 mm
5.20. Para a montagem de um blocado de prismas deve-se usar:
a) Cimento ptico e parafina
b) Gesso e parafina
c) Parafina e breu
d) Cera de abelha e glicerina
e) Breu e cera de abelha
5.21. O tempo mdio de polimento de um blocado plano de 30 cm de
dimetro contendo cerca de 50 janelas de vidro de 38 mm de
dimetro de:
a) 1 hora a 20 rpm
b) 3 horas a 50 rpm
c) 5 horas a 70 rpm
d) 16 horas a 80 rpm
e) 48 horas a 150 rpm

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1. ptica geomtrica paraxial

A equao de refrao pode ser derivada com referncia Fig.

+ , enquanto que a magnificao

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