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Plano de Ensino
Disciplina: METROLOGIA INDUSTRIAL Período: 5º Semestre
Ementa
Introdução a Metrologia Dimensional. Normalização. Tolerâncias e ajustes. Controle dimensional. Tolerâncias dimensionais e geométricas. Rugosidade
superficial. Conceitos fundamentais de metrologia e instrumentos convencionais de medição. Práticas em metrologia dimensional. Interpretação e leitura
de escalas. Manuseio de instrumentos de medição, estabelecendo os cuidados necessários quanto a sua operação. Determinação da incerteza de
medição. Calibração de dispositivos de medição.
Objetivo Geral
Dar condições ao discente de se relacionar tecnicamente adotando conceitos metrológicos corretos, além de capacitá-lo para desenvolver atividades de
medição e calibração das principais grandezas dentro dos princípios adequados de confiabilidade e rastreabilidade metrológicas
Objetivo Específico
Aprendizado dos conceitos relativos à ementa, tanto para o conhecimento, assim como para a aplicabilidade na vida do profissional.
Sistema de Avaliação
A avaliação de aprendizagem terá caráter semestral e será realizada por meio de avaliações do 1 e 2º bimestres.
A avaliação de cada bimestre será composta por prova teórica, totalizando 8,0 pontos, e avaliação continuada, no valor de 2,0 pontos, incluindo nesse
último componente a nota referente às atividades e/ou trabalhos.
A nota semestral será calculada a partir de média aritmética simples das notas do 1 e 2º bimestres. Será considerado aprovado o aluno que obtiver
médias semestral igual ou superior a 7,0 pontos, com frequência mínimo de 75% nas aulas.
CRITÉRIO TEÓRICO
PRIMEIRO BIMESTRE:
- AV1 (Trabalho e/ou lista de exercícios) – valor de 2,0;
- AV2 (Avaliação bimestral, com questões objetivas e discursivas) – valor de 8,0.
A Nota do 1º Bimestre (MB1) dar-se-á da seguinte maneira: MB1 = (AV1 + AV2)
SEGUNDO BIMESTRE:
- AV1 (Trabalho e/ou lista de exercícios) – valor de 2,0;
- AV2 (Avaliação bimestral, com questões objetivas e discursivas) – valor de 8,0.
A Nota do 2º Bimestre (MB1) dar-se-á da seguinte maneira: MB2 = (AV1 + AV2)
MÉDIA SEMESTRAL:
A nota semestral (MS) será calculada por média aritmética simples das notas obtidas no 1 e 2º bimestres, como segue: MS = (MB1 + MB2) / 2.
AVALIAÇÃO FINAL (EXAME):
O acadêmico terá direito à realização do exame (Ex) caso obtenha presença mínima de 75% e média semestral entre 3,0 e 6,9. O exame será realizado
unicamente por meio de prova teórica e/ou prática individual ou sem consulta, com nota atribuída de 0,0 a 10,0.
A média final (MF) será dada por meio de média aritmética simples entre a nota semestral e a nota de exame, da seguinte forma: MF = (MS + Ex) / 2.
Será considerado aprovado o acadêmico que atingir média final MF: 6,0 (seis).
Bibliografia Básica
AGOSTINHO, Oswaldo Luiz; SANTOS, Antônio Carlos; LIRANI, João. Tolerâncias, ajustes, desvios e análises de dimensões. São Paulo: Edgard Blücher,
2001.
LIRA, Francisco Adval de. Metrologia dimensional: técnicas de medição e instrumentos para controle e fabricação industrial. São Paulo: Érica, 2015.
GONÇALVES JÚNIOR, Armando Albertazzi; SOUZA, André. R. Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial. São Paulo: Manole, 2008.