Aula Difração de Raios X

Instituto Militar de Engenharia
Seção de Engenharia Mecânica e de Materiais
Pós-Graduação em Ciência dos Materiais
Difração de Raios X - DRX
(X-Ray Diffraction – XRD)
Laboratório de Filmes Finos Junho 2020

DIA DA SEMANA PROGRAMAÇÃO
16/06 (terça) – 12:25 às 12:10 h Geração de Raios X
18/06 (quinta) – 08:25 às 10:10 h Lei de Bragg
23/06 (terça) – 12:25 às 12:10 h Métodos de Difração de Raios X
25/06 (quinta) – 08:25 às 10:10 h Intensidade Relativa das Linhas
30/06 (terça) – 12:25 às 12:10 h Materiais Diferentes de Pó
Tamanho de Cristalitos
02/07 (quinta) – 8:25 às 10:10 h
Espessura de Camadas
07/07 (terça) – 12:25 às 12:10 h PROVA

Bibliografia
B.D. Cullity - Elements of X-ray Diffraction
Addison-Wesley Pub Co, Inc.
3nd Edition, 2001

Para que serve a DRX?
Para avaliar como os átomos estão dispostos em
um material (monocristal, policristal e nanocristal).

Objetivo:
Saber interpretar um difratograma e obter as

propriedades estruturais de um material.
Ouro
2000
CPS
1000
40 60 80
2q (Grau)
Objetivo:
Saber interpretar um difratograma e obter as

propriedades estruturais de um material.
Ouro
2000
CPS
1000
40 60 80
2q (Grau)
Difratômetro
Fonte de
Raios X Fendas
Fendas Soller
Soller
Detector de
Raios X
Goniômetro
Porta
Amostras

Difratômetro

Difratômetro

Difratômetro

Difratômetro

Difratômetro

Interferência de Ondas

Difração de Raios X
Para que um fenômeno de interferência em ondas seja observado,

a distância entre as “fendas” não pode ser muito maior que o
comprimento de onda da radiação utilizada.




Cristais possuem planos regulares e bem próximos uns dos outros.

Se uma radiação eletromagnética tiver comprimento de onda
comparável com a distância entre esses planos, deve ser possível
observar o fenômeno de interferência em um cristal.

d
𝜆

Se a interferência conduz à dispersão de fortes feixes em direções

específicas, temos então o fenômeno de difração.
Portanto, pode-se observar o fenômeno de interferência (difração)

em cristais utilizando-se feixes de raios X, elétrons ou de nêutrons.

Experiência realizada por Max von Laue
(Nobel de 1914)

(Nobel de 1914)
tado
a
xe Difr
Fei
Raios X
Cristal
Filme Fotográfico
tado
a
xe Difr
Fei
Raios X
Cristal
Filme
Fotográfico
Faltava uma teoria para explicar como essas manchas se formavam e porque
apareciam em direções bem específicas.

William Henry Bragg William Lawrence Bragg
Prêmio Nobel de Física de 1915

Raios X
Radiações Eletromagnéticas Þ λ = 0,1 a 10 Å
Wilhelm Conrad Röntgen Raios X

Raios X
Radiações Eletromagnéticas Þ λ = 0,1 a 10 Å
Difração de Raios X Þ λ = 0,5 a 2,5 Å
Geração de Raios X

Diagrama Esquemático de um Tubo de Raios X
Janela de Berílio Filamento de Tungstênio Isolamento
Elétrons
Água
Transformador
Alvo
Raios X Vácuo
Foco

Janela de Berílio Filamento de Tungstênio Isolamento
Elétrons
Água
Transformador
Alvo
Raios X Foco Vácuo
Feixe de elétrons
Fótons
m v2
EC = eV =
hC 2
E = hn =
l
RX

hC
E = hn = EC = eV =
m v2
l
RX
V = 5 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 10 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 15 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 20 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 25 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 25 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 25 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 25 kV

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 25 kV
ER X = E2 - E1

2
mv
EC = eV =
hC 2
ERX = hn =
l
V = 25 kV
Camada M
Camada L
Camada K
hC
ERX = hn =
l
L → K Þ Ka
M → K Þ Kb
M → L Þ La

hC
ERX = hn =
l
L → K Þ Ka
M → K Þ Kb
M → L Þ La

Alvo de Cobre
EK = 8,9790 KeV
ΔE K – L= 8,0463 KeV hC
ERX = hn =
EL = 0,9327 KeV l
-15 -10
ΔE K – L= 8,0463 KeV = 1,2892x10 J Þ λ = 1,5409x10 m \ λ = 1,5409 Å
ℎ𝐶 ℎ𝐶
𝐸!! = 𝜆=
𝜆 𝐸!!

Orbital K Orbital L DE DE
Alvo
(eV) (eV) (eV) (J)
Cr 5989,00 574,10 5414,90 8,67563E-16
Fe 7112,00 706,80 6405,20 1,02623E-15
Co 7709,00 778,10 6930,90 1,11045E-15
Cu 8979,00 932,70 8046,30 1,28916E-15
Mo 20000,00 2520,00 17480,00 2,80061E-15
c
E=hn =h
l

c
E=hn =h
l
Alvo DE (J) l (m) l (Å ) Tabelado (Å)
Cr 8,67563E-16 2,28969E-10 2,2897 2,2897

Fe 1,02623E-15 1,93566E-10 1,9357 1,9360
Co 1,11045E-15 1,78884E-10 1,7888 1,7890
Cu 1,28916E-15 1,54087E-10 1,5409 1,5406
Mo 2,80061E-15 7,09284E-11 0,7093 0,7093

Absorção de Raios X
I = I0 e- µ x

DE l Ka
Linha K Linha L DE l
(J)
(eV) (eV) (eV) (m) (Å)
Cobre 8979 932 8047 1,29E-15 1,5439E-10 1,5409

(Z=29) Linha K Linha M DE DE l lKb
(eV) (eV) (eV) (J) (m) (Å)
8979 113 8866 1,412E-15 1,4013E-10 1,4013
Níquel
8333 852,7 8333 1,33E-15 1,4909E-10 1,4909
(Z=28)



Raios X Característicos
Material Z Energia (keV)

Cr (fonte) 24 5.987
V (filtro) 23 5.463
Fe (fonte) 26 7.112
Mn (filtro) 25 6.537
Co (fonte) 27 7.712
Fe (filtro) 26 7.112
Cu (fonte) 29 8.993
Ni (filtro) 28 8.339
Mo (fonte) 42 20.002
Nb 41 18.985
Zr (filtro) 40 17.997

Raios X Característicos
Alvo Filtro λ Ka (Å)

Cromo (Z=24) Vanádio (Z=23) 2,2897
Ferro (Z=26) Manganês (Z=25) 1,9360
Cobalto (Z=27) Ferro (Z=26) 1,7890
Cobre (Z=29) Níquel (Z=28) 1,5406
Molibdênio (Z=42) Zircônio (Z=40) 0,7093
Diagnóstico Þ 40 a 150 KV ; 25 à 1200 mA

Cobre Þ difração Terapia Þ 40 a 250 KV ; 8 mA
Molibdênio Þ mamografia Dentário Þ 50 a 150 KV ; 10 A
Industrial Þ 50 a 300 KV ; 10 mA
Tungstênio Þ medicinal Difração Þ 30 a 40 KV ; 30 à 40 mA

Lei de Bragg

Lei de Bragg

Lei de Bragg

Lei de Bragg

Lei de Bragg
q q
2q
q

Lei de Bragg
q q
2q
q

Lei de Bragg
q q
2q
q
d

Lei de Bragg
q q
2q
q
d

Lei de Bragg

Lei de Bragg

Lei de Bragg
q
d

Lei de Bragg

Lei de Bragg
d
𝑥

Lei de Bragg
d
𝑥

Lei de Bragg
q 𝑥
𝑠𝑒𝑛 𝜃 =
d 𝑑
𝑥 𝑥 𝑥 = 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
2 𝑥 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
𝜆 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃

Lei de Bragg
q 𝑥
𝑠𝑒𝑛 𝜃 =
d 𝑑
𝑥 𝑥 = 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
2 𝑥 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
d
𝑦

Lei de Bragg
𝑦 q 𝑥
𝑠𝑒𝑛 𝜃 = 𝑠𝑒𝑛 𝜃 =
2𝑑 d 𝑑
𝑦 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃 𝑥 𝑥 = 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
𝑦=𝜆 2 𝑥 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
2𝑦 =2𝜆 d
𝑦

Lei de Bragg
𝑦 𝑥
𝑠𝑒𝑛 𝜃 = 𝑠𝑒𝑛 𝜃 =
2𝑑 𝑑
𝑦 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃 𝑛 𝜆 = 𝑛 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃 𝑥 = 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
𝑦=𝜆 2 𝑥 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
2𝑦 =2𝜆

Lei de Bragg
𝑛 𝜆 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃
Lei de Bragg

Rede Cristalina

Rede Cristalina

Rede Cristalina
𝑛 𝜆 = 2 𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃

Rede Cristalina

Rede Cristalina

Rede Cristalina

Rede Cristalina

Métodos de Difração de Raios X
l q
Método de Laue Contínuo Fixo

Método do Cristal Giratório Monocromático Variável
Método do Pó Monocromático Variável
Método de Laue
Método de Laue de Transmissão Método de Laue de Reflexão

Método do Cristal Giratório
λ = monocromático
θ = variável
Método do Pó
λ = monocromático
θ = variável

Monocristal

Monocristal

Monocristal
Raios X
Cristal
Filme Fotográfico
Monocristal
Filme Fotográfico
Monocristal
Filme Fotográfico
Figuras de Difração
Monocristal
(Nobel de 1914)
tado
D ifra
xe
Fei
Raios X
Cristal
Filme Fotográfico
Policristal

Policristal

Policristal

Policristal

Policristal

Policristal

Policristal

Policristal
Policristal

Policristal
Formas de Figuras de Difração
Monocristal
Monocristal

Monocristal

Formas de Figuras de Difração
Monocristal
Policristal
Policristal

Métodos de Análise dos Resultados
Câmara de Debye-Scherrer
Peter Josephus Wilhelmus Debye Paul Scherrer



2θ
R Raios X
Difratado
Amostra
Raios X Filme Fotográfico

Incidente

Diferentes Cones
de Reflexão
Feixe Refletido
Feixe Transmitido


180o 0o
2S

180o 0o
2S
S 180 S
S =R2q Þ q (rad) = \ q (graus) =
2R 2p R

Análise por Difratometria

Difratômetro
Geometria Bragg-Brentano*
*Johann Christian Michael Brentano

Difratômetro
1) q - 2q acoplados
2) q - 2q desacoplado
3) Incidência rasante

Varredura com q - 2q acoplados

Varredura com q - 2q desacoplados

Verredura no Plano

Verredura para Textura

Incidência Convencional

Incidência Convencional
Técnica de Incidência Rasante
o o
1 ≤θ≤5

Difratômetro
1) q - 2q acoplados
(Bragg-Brentano)
2) q - 2q desacoplado
3) Incidência rasante
Baixo Ângulo (espalhamento)

(não é difração)
Interpretação dos Resultados
2θ CPS

2500
2000
1500
CPS
1000
500
10 20 30 40 50 60 70 80
2q
43,36
2500
35,13
2000 57,52
25,58
1500
CPS
37,78 68,19
1000 52,55
66,54
500 76,88
61,34
10 20 30 40 50 60 70 80
2q
l = 2 d sen q
2q
25,58
35,13
37,78
43,36
52,55
57,52
61,34
66,54
68,19
76,88

l = 2 d sen q
2q q
25,58 12,79
35,13 17,57
37,78 18,89
43,36 21,68
52,55 26,28
57,52 28,76
61,34 30,67
66,54 33,27
68,19 34,10
76,88 38,44

l = 2 d sen q
2q q sen q
25,58 12,79 0,22
35,13 17,57 0,30
37,78 18,89 0,32
43,36 21,68 0,37
52,55 26,28 0,44
57,52 28,76 0,48
61,34 30,67 0,51
66,54 33,27 0,55
68,19 34,10 0,56
76,88 38,44 0,62

l
d=
2 × sen q
2q q sen q d (Å) Intensidades
25,58 12,79 0,22 3,48
35,13 17,57 0,30 2,55
37,78 18,89 0,32 2,38
43,36 21,68 0,37 2,09
52,55 26,28 0,44 1,74
57,52 28,76 0,48 1,60
61,34 30,67 0,51 1,51
66,54 33,27 0,55 1,40
68,19 34,10 0,56 1,37
76,88 38,44 0,62 1,24
Laboratório de Filmes Finos

Fonte de cobre ( l = 1,5405 Å ) Junho 2020
43,36
2500
35,13 1º
2º
2000 57,52
25,58 3º
1500
4º
CPS
37,78 68,19
1000 52,55
5º
6º 66,54
500 76,88
61,34
10 20 30 40 50 60 70 80
2q
2q q sen q d (Å) Intensidades

25,58 12,79 0,22 3,48 4o
35,13 17,57 0,30 2,55 2o
37,78 18,89 0,32 2,38
43,36 21,68 0,37 2,09 1o
52,55 26,28 0,44 1,74 6o
57,52 28,76 0,48 1,60 3o
61,34 30,67 0,51 1,51
66,54 33,27 0,55 1,40
68,19 34,10 0,56 1,37 5o
76,88 38,44 0,62 1,24
1o 2o 3o 4o 5o 6o
2,09 2,55 1,60 3,48 1,37 1,74
Supondo que o material esteja na Forma de Pó

JCPDS – Joint Committee on Powder Diffraction Standards
Powder Diffraction File – Inorganic Compounds



Intensidades Ordenadas : 2,09 2,55 1,60 3,48 1,37 1,74







2500
Al2O3
2000
1500
CPS
1000
500
10 20 30 40 50 60 70 80
2q
43,29
50,43
74,13
89,93
95,13

l
Fonte de cobre ( l = 1,5405 Å ) d=
2 × sen q
2q q sen q d (Å)
43,29 21,65 0,3689 2,0882
50,43 25,22 0,4260 1,8080
74,13 37,07 0,6027 1,2780
89,93 44,97 0,7067 1,0900
95,13 47,57 0,7380 1,0436

43,29
o
1
3o o
50,43 o 4
2 o
5
74,13
89,93
95,13

l
Fonte de cobre ( l = 1,5405 Å ) d=
2 × sen q
2q q sen q d (Å) I / I0
43,29 21,65 0,3689 2,0882 1o
50,43 25,22 0,4260 1,8080 2o Nem sempre
isto é verdade
74,13 37,07 0,6027 1,2780 3o
89,93 44,97 0,7067 1,0900 4o
95,13 44,97 0,7380 1,0436 5o
Supondo que o material esteja na Forma de Pó
Ordenar (intensidades) : 2,09 1,81 1,28

Intensidades Ordenadas : 2,09 1,81 1,28

International Centre for Diffraction Data (ICDD®)

International Centre for Diffraction Data (ICDD®)

Relação Distância Interplanar (d) e Parâmetro de Rede (a)
a
Material = Cobre Sistema Cúbico Þ d =
h +k +l
2 2 2

1 h2 + k 2 + l2
Cúbico =
d2 a2
1 h2 + k 2 l2
Tetragonal 2
= 2
+ 2
d a c
1 æ h2 + hk + k 2 ö l2
Hexagonal 2
= çç 2
÷ + 2
÷ c
d è a ø
1 h2 k 2 l2
Ortorrômbico 2
= 2+ 2+ 2
d a b c
B.D. Cullity – Apêndice 3

a
h +k +l
2 2 2
2 2 2
hkl h +k +l
2q d (Å)
43,29 2,0882 100 1
110 2
50,43 1,8080
111 3
74,13 1,2780 200 4
89,93 1,0900 210 5
211 6
95,13 1,0436
220 8
Simples
Base centrada
Corpo Centrada
Face Centrada
a
h +k +l
2 2 2
2 2 2
2q d (Å) hkl h +k +l
43,29 2,0882
100 1
50,43 1,8080 110 2
74,13 1,2780 111 3
200 4
89,93 1,0900
210 5
95,13 1,0436 211 6
220 8
Simples Þ h, k, l = qualquer
Base centrada
Fator de Estrutura Þ
Corpo Centrada
Face Centrada
a
h +k +l
2 2 2
2 2 2
43,29 2,0882
100 1
50,43 1,8080 110 2
74,13 1,2780 111 3
200 4
89,93 1,0900
210 5
95,13 1,0436 211 6
220 8
Base centrada Þ h, k = não misturados
Corpo Centrada
Face Centrada
a
h +k +l
2 2 2
2 2 2
43,29 2,0882
100 1
50,43 1,8080 110 2
74,13 1,2780 111 3
200 4
89,93 1,0900
210 5
95,13 1,0436 211 6
220 8
Corpo Centrada Þ h + k + l = par
Face Centrada
a
h +k +l
2 2 2
2 2 2
43,29 2,0882
100 1
50,43 1,8080 110 2
74,13 1,2780 111 3
200 4
89,93 1,0900
210 5
95,13 1,0436 211 6
220 8
Face Centrada Þ h, k, l, todos pares ou ímpares
Material = Cobre Sistema Cúbico Þ Cúbico de Face Centrada
Simples Þ h, k, l = qualquer)
Face Centrada Þ h, k, l, todos pares ou ímpares
2 2 2
hkl h +k +l
100 1
110 2
111 3
200 4
210 5
211 6
220 8


Cálculo do Parâmetro de Rede
a
d= Þ a = d× h +k +l
2 2 2
h +k +l
2 2 2
2q d (Å) I / I0 hkl
43,29 2,0882 100 111
50,43 1,8080 46 200
74,13 1,2780 20 220
89,93 1,0900 17 311
95,13 1,0436 5 222

a
d= Þ a = d× h +k +l
2 2 2
h +k +l
2 2 2
2q d (Å) I / I0 hkl h +k +l
2 2 2
43,29 2,0882 100 111 1,7321

50,43 1,8080 46 200 2,0000
74,13 1,2780 20 220 2,8284
89,93 1,0900 17 311 3,3166
95,13 1,0436 5 222 3,4641

a
d= Þ a = d× h +k +l
2 2 2
h +k +l
2 2 2
2q d (Å) I / I0 hkl h +k +l
2 2 2
a (Å)
43,29 2,0882 100 111 1,7321 3,6169
50,43 1,8080 46 200 2,0000 3,6160
74,13 1,2780 20 220 2,8284 3,6147
89,93 1,0900 17 311 3,3166 3,6151
95,13 1,0436 5 222 3,4641 3,6151

Cálculo do Parâmetro de Rede (a)
2 2
Várias Funções (erro) : mínimos quadrados; sen θ; cos θ; etc.
cos 2 θ Bradley e Jay (1932)

f θ =
θ
cos 2 θ
f θ = Jay (1944)
sen θ
f θ = cot θ cos 2 θ Buerger (1942)
cos 2 θ cos 2 θ
𝑓 θ = + Taylor e Sinclair (1944)
sen θ θ

cos2 θ cos2 θ
𝑓 θ = + Taylor e Sinclair (1944)
sen θ θ
cos2 θ cos2 θ
a = a0 + a0 K + Extrapolação de Nelson & Riley
sen θ θ
Relação de Nelson & Riley e Taylor & Sinclair
q
2q a (Å)
(graus)
43,29 21,645 3,6169
50,43 25,215 3,6160
74,13 37,065 3,6147
89,93 44,965 3,6151
95,13 47,565 3,6151
é cos q cos q ù
2 2
f ( q) = ê + ú
ë sen q q û
é cos q cos q ù
2 2
a = a + a ×K ê +
ë sen q q úû
0 0
q q
2q (graus) (rad) cos q cos2q sen q f (θ) a (Å)
43,29 21,645 3,6169
50,43 25,215 3,6160
74,13 37,065 3,6147
89,93 44,965 3,6151
95,13 47,565 3,6151

é cos q cos q ù
2 2
f ( q) = ê + ú
ë sen q q û
é cos q cos q ù
2 2
a = a + a ×K ê +
ë sen q q úû
0 0
q q
2q (graus) (rad) cos q cos2q sen q f (θ) a (Å)
43,29 21,645 0,3778 0,9295 0,8639 0,3689 4,6292 3,6169
50,43 25,215 0,4401 0,9047 0,8185 0,4260 1,9538 3,6160
74,13 37,065 0,6469 0,7980 0,6367 0,6027 1,0736 3,6147
89,93 44,965 0,7848 0,7075 0,5006 0,7067 0,7195 3,6151
95,13 47,565 0,8302 0,6748 0,4553 0,7380 0,6265 3,6151

3,590
3,595 Relação de Nelson & Riley e Taylor & Sinclair

3,600
é cos2q cos2q ù
3,605 a = a0 + a0 × K ê + ú
êë sen q q ú
û
3,610
a (Å)
3,615
3,620
3,625
3,630
1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5
f (q)

3,590
[6/11/June 15:29 "/Graph1" (2453532)]
Linear Regression for Data1_B:
3,595 Y=A+B*X
3,600
Parameter Value Error
------------------------------------------------------------
A 3,61422 4,85372E-4
3,605 B 5,2559E-4 1,65392E-4
------------------------------------------------------------
R SD N
3,610 ------------------------------------------------------------
a (Å)
0,87805 5,0857E-4 5
------------------------------------------------------------
3,615
3,620
3,625
3,630
1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5
f (q)

3,590
3,595 é cos2q cos2q ù

a = a0 + a0 × K ê + ú
êë sen q q úû
3,600
-4
3,605 a (Å) = 3,6142 + 5,2559 x 10 f(θ)
3,610
R = 0,87805
a (Å)
3,615
3,620
3,625
3,630
1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5
f (q)

Y X a (Å) R
a f (θ) 3,6142 0,87805
a cos2(θ) 3,6130 0,7767

2
a sen (θ) 3,6170 0,77676
a sen (θ) 3,6182 0,82008
Média Aritmética 3,6156 ± 0,0009 -----
JCPDS (1953) 3,6150 -----
National Institute of Standards

3,6147 -----
and Technology (NIST)

Intensidade Relativa das Linhas de Difração
Cobre: CFC 2q d (Å) I / I0 hkl
43,29 2,0882 100 111
50,43 1,8080 46 200
74,13 1,2780 20 220
89,93 1,0900 17 311
95,13 1,0436 5 222
(111) (200)
1 3ü 1 ü
Vértices Þ 3x = ï 3 3 15 Vértices Þ 0x =0 ï
8 8 + = = 1,875 8 0+2=2
1 3ý 8 2 8 1 4ý
Faces Þ 3x = ï Faces Þ 4x = ï
2 2þ 2 2þ
Fator de Multiplicidade
(1 1 1) (2 0 0)
1 3ü 1 ü
Vértices Þ 3 x = ï 3 3 15 Vértices Þ 0 x
=0 ï
8 8 + = = 1,875 8 0+2=2
1 3ý 8 2 8 1 4ý
Faces Þ3x = ï Faces Þ4x = ï
2 2þ 2 2þ
(1 1 1)
(2 0 0)
(1 1 1) (0 2 0)
(1 1 1) (0 0 2)
(1 1 1)
(2 0 0)
(1 1 1)
(0 2 0)
(1 1 1)
(0 0 2)
(1 1 1)
(1 1 1)
1,875 x 8 = 15 2 x 6 = 12

Intensidade Relativa das Linhas de Difração
2q d (Å) I / I0 hkl
43,29 2,0882 100 111
50,43 1,8080 46 200
74,13 1,2780 20 220
89,93 1,0900 17 311
95,13 1,0436 5 222

Materiais Diferentes de Pó
Crescimento Aleatório Crescimento Preferencial

5000 5000
4000
PbS 4000
PbS
3000 3000
CPS
CPS
2000 2000
1000 1000
0 0
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q 2q
linha base

Crescimento Preferencial
5000
PbS
4000
3000
CPS
2000
1000
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q
5000
PbS
4000
3000
CPS
2000
1000
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q
5000
PbS
4000
3000
CPS
2000
1000
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q
5000
PbS
4000
3000
CPS
2000
1000
0
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q
5000
PbS
4000 Dados da Integração

qi =24,5
qf =27,19
3000
CPSi = 223
CPS
CPSf= 360
2000
Área = 163,96489
qpico =25,93
1000 CPSpico=532,1904
Larg meia altura = 0,24
0
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q
5000
PbS
4000
3000
CPS
2000
1000
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2q
2θi 2θf Área Largura Posição

sob Meia do
Pico Altura Máximo
Pico 1 24,57 27,19 163,13225 0,24 532,1904
Pico 2 28,17 31,85 944,71342 0,16 4403,63966
Pico 3 41,35 44,65 156,44282 0,24 508,87518
Pico 4 49,85 52,35 80,60353 0,26 481,82539
Pico 5 61,15 63,87 88,77621 0,18 212,45649
Pico 6 69,67 72,41 88,77621 0,24 182,88418
Pico 7 78,31 79,97 7,48967 0,24 57,17906

Avaliação do Grau de Orientação Preferencial
Coeficiente de Textura - Ci
I i
C £ 1 Þ orientação aleatória
I i
C = Þ
0i
æ ö
1 I
i
ç ÷å i
C > 1 Þ orientação preferencial na direção analisada
èNø I 0i
i
o
N = número de reflexões consideradas na análise (n de picos);
Ii = intensidade (área) do pico analisado no espectro;
I0i = intensidade do pico de uma amostra completamente aleatória
(padrão da ficha JCPDS)
Grau de Orientação Preferencial - σ
2
å (C - 1)
s= i
Þ σ ≈ 0, amostra aleatória
N

Pico 2q Ii I0i
(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84
2 30,07 944,71 100
3 43,06 156,44 57
4 50,97 80,60 35
5 62,54 88,78 10
6 70,96 88,78 17
7 78,92 7,49 10

Pico 2q Ii I0i Ii / I0i

(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84 1,94
2 30,07 944,71 100 9,45
3 43,06 156,44 57 2,74
4 50,97 80,60 35 2,30
5 62,54 88,78 10 8,88
6 70,96 88,78 17 5,22
7 78,92 7,49 10 0,75

Pico 2q Ii I0i Ii / I0i

(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84 1,94
2 30,07 944,71 100 9,45
3 43,06 156,44 57 2,74
4 50,97 80,60 35 2,30
5 62,54 88,78 10 8,88
6 70,96 88,78 17 5,22
7 78,92 7,49 10 0,75
I
Soma = 31,29 i
I
C = 0i
æ 1ö I
i
ç ÷å i
èNø I 0i

Pico 2q Ii I0i Ii / I0i Ci

(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84 1,94 0,43
2 30,07 944,71 100 9,45 2,11
3 43,06 156,44 57 2,74 0,61
4 50,97 80,60 35 2,30 0,52
5 62,54 88,78 10 8,88 1,99
6 70,96 88,78 17 5,22 1,17
7 78,92 7,49 10 0,75 0,17
I
Soma = 31,29 i
I
C = 0i
æ 1ö I
i
ç ÷å i
èNø I 0i

Pico 2q Ii I0i Ii / I0i Ci (Ci-1)2

(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84 1,94 0,43
2 30,07 944,71 100 9,45 2,11
3 43,06 156,44 57 2,74 0,61
4 50,97 80,60 35 2,30 0,52
5 62,54 88,78 10 8,88 1,99
6 70,96 88,78 17 5,22 1,17
7 78,92 7,49 10 0,75 0,17
2
å (C - 1)
s= i


(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84 1,94 0,43 0,32
2 30,07 944,71 100 9,45 2,11 1,24
3 43,06 156,44 57 2,74 0,61 0,15
4 50,97 80,60 35 2,30 0,52 0,23
5 62,54 88,78 10 8,88 1,99 0,97
6 70,96 88,78 17 5,22 1,17 0,03
7 78,92 7,49 10 0,75 0,17 0,69
Soma = 3,64
σ = 0,72
2
å (C - 1)
s= i


(Área) (JCPDS)
1 25,96 163,13 84 1,94 0,43 0,32
2 30,07 944,71 100 9,45 2,11 1,24
3 43,06 156,44 57 2,74 0,61 0,15
4 50,97 80,60 35 2,30 0,52 0,23
5 62,54 88,78 10 8,88 1,99 0,97
6 70,96 88,78 17 5,22 1,17 0,03
7 78,92 7,49 10 0,75 0,17 0,69
s =
0,72
C £ 1 Þ orientação aleatória
i
C > 1 Þ orientação preferencial na direção analisada

i
Laboratório σ
de ≈ 0, amostra
Filmes Finos aleatória Junho 2020
CPS Largura do Pico
CPS
2θ 2θ

Largura (meia altura)
2θ1 = 24,61
2θ2 = 27,23
2θB = 25,93
CPS
CPS2θ1= 362
IMax.
B
CPS2θ2= 361
CPS2θB= 536,81
B = 0,24
Por que B não é zero?

2θB 2θ
2θ1 2θ2

I = I0 e-μ.t

Largura (meia altura)
2θ1 = 24,61
2θ2 = 27,23
2θB = 25,93
CPS2θ1= 362
CPS2θ2= 361
CPS
IMax. CPS2θB= 536,81

B
B = 0,24
- A radiação não é monocromática

- Ruído eletrônico
2θB 2θ - Tamanho dos cristais

2θ1 2θ2

Medida do Tamanho de Cristalitos
Fórmula de Scherrer
0,9 l
B=
t cos q B
ìl = 1,5405 A
o
ï o
ít = 1000 A
ïq = 45 Þ cos 45 = 0,76
o o
î
o
B = 0,002 rad = 0,12
2 2 2
(B) = (BMedido) – (BPadrão)
0,9 l
t=
B cos q B

Medida de Espessuras de Camadas Finas
(Filmes Finos)
Interferências Construtivas Þ Pontos de Máximos
Interferências Destrutivas Þ Pontos de Mínimos

(Filmes Finos)
7
10
Filme de NiFe
6
10
Amplitude (u.a)
5
10
4
10
3
10
θ - 2θ acoplados
2
10
0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,2
Laboratório de Filmes Finos 2q (graus) Junho 2020

é ù
2 2 2
æ λ ö æ λ ö æ λ ö
sen (θ ) = ç ÷ n + 2 m ç ÷ n + êm
2 2 2
ç ÷ + 2 δú
è2 tø è2 tø ë è2 tø û
a b c
θ = ângulo onde acontece a interferência (máximo)
l= comprimento de onda da radiação utilizada
t = espessura da camada
n = ordem da franja
m,δ = parâmetros de ajuste
Passos:
2
1 – traça-se o gráfico de sen θ versus n (máximos)
2
2 – ajusta-se uma função do tipo: a x + b x + c
æ l ö
2
3 – nota-se que: a=ç ÷

è2 tø
l
4 – calcular a espessura: t=
Laboratório de Filmes Finos 2 a Junho 2020
(Filmes Finos)
7
10
Filme de NiFe
6
10 n=1
n=2
n=3
Amplitude (u.a)
5
10 n=4
4
10
3
10
2
10
0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,2
Laboratório de Filmes Finos 2q (graus) Junho 2020

-4
3,5x10
Filme de NiFe
-4
3,0x10
-4
2,5x10
-4
sen q
2,0x10
2
-4
1,5x10
-4
1,0x10
-5
5,0x10
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18
n (ordem dos máximos)
3,5x10
-4
Regressão Polinomial Filme de NiFe
2
-4
Y = ax + bx + c
3,0x10
a = 7,18662E-7 ± 6,90326E-9
-4 b = 4,78319E-6 ± 1,2785E-7
2,5x10
c = 5,63455E-5 ± 4,99903E-7
-4 R = 0,99996
sen q
2,0x10
2
-4
1,5x10
-4
1,0x10
-5
5,0x10
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18
n (ordem dos máximos)
l 1,5406
t= Þ t= t = 908,4 Å
2 a 2 7,19 x 10
-7

Cálculo de Intensidades
Método do Pó
1 – Fator de Polarização
2 – Fator de Estrutura
3 – Fator de Multiplicidade
4 – Fator de Lorentz
5 – Fator de Absorção
6 – Fator de Temperatura

1 – Fator de Polarização
2
1 + cos 2q
FP =
2
Devido a não polarização do feixe de raios X.
2 – Fator de Estrutura
n 2 p i (h.un + k.vn + l.w n )

Fh k l = å fn e
1
onde:
n = número de átomos na célula unitária
u, v, w = são as coordenadas dos átomos na célula unitária
fn= fator de espalhamento atômico de cada átomo
Exemplos:
i) Célula cúbica de corpo centrado
n = 2 (⅛ x 8 vértices + 1 centro)
Coordenadas = 0 0 0 e ½ ½ ½
2 p i ( h.0 + k.0 + l.0 ) 2 p i ( h.½ + k. ½ + l. ½ )

F = f1 e + f2 e
2pi(0) 2pi½(h+k+l) p i (h+k+l)

F = f1 e + f2 e = f1 + f2 e
F = f [ 1 + e p i ( h + k +l ) ]
- se h + k + l = par Þ e p i (h + k +l) = 1 Þ F = 2f
- se h + k + l = impar Þ e p i (h + k + l) = -1 Þ F = 0
Exemplos:
ii) Célula cúbica de face centrada
n = 4 (⅛ x 8 vértices + 6 x ½ faces)
Coordenadas = 0 0 0, ½ ½ 0, ½ 0 ½ e 0 ½ ½
F = f1 e 2 p i ( h.0 + k.0 + l.0 ) + f2 e 2 p i ( h.½ + k. ½ + l. 0 ) +

2 p i ( h.½ + k. 0 + l. ½ ) 2 p i ( h.0 + k. ½ + l. ½ )
f3 e + f4 e
2pi(0) 2pi½(h+k) 2pi½(h+l) 2pi½(k+l)
F = f1 e + f2 e + f3 e + f4 e
pi(h+k) pi(h+l) pi(k+l)

F=f[1+e +e +e ]
- se h, k, l = todos pares ou todos ímpares Þ F = 4f
- se h, k, l = misturados Þ F = 0
3 – Fator de Multiplicidade
111 111 111 111 111 111 111 111 Þ 8

200 020 002 200 020 002 Þ 6
4 – Fator de Lorentz
1
FL = 2
4 × sen q × cos q
É originário da geometria da câmara de Debye-Scherrer, da

rotação do cristal (focalização) e número de cristais
orientados no ângulo exato de Bragg.

5 – Fator de Absorção
1
A= (difratômetro )
2µ
O feixe refletido é parcialmente absorvido pelo próprio material
6 – Fator de Temperatura
ìexpande a célula unitária

ï
Vibração térmica ídiminui a intensidad e integrada
ïeleva a linha de base
î

ì 2
ï Fator de Polarização Þ FP = 1 + cos 2q

ï 2
ï i 2 p ( h un + k v n + l w n )
ï Fator de Estrutura Þ F = å fn e
ï Fator de Multiplicidade Þ p = ( 6,8, ....)
ï
Intensidad e í 1
ï Fator de Lorentz Þ FL = 2
ï 4 sen q cos q
ï 1
ï Fator de Absorção Þ A =
ï 2µ
ï - 2M
î Fator de temperatur a Þ e
æ 1 + cos 2q ö÷
2
2
I= F p ç A( q ) e
- 2M
I= F
2 æ 1 + cos 2 2q ö
p çç ÷÷
ç 8 sen2q × cos q ÷ è 8 sen q × cos q ø
2
è ø

Linha 2 2
h k l h +k
2
+l sen2θ sen θ θ sen q fCu
(Cobre)
l
1 1 1 1 3 0,1365 0,3694 21,7 0,24 22,1

2 2 0 0 4 0,1820 0,4266 25,2 0,28 20,9
3 2 2 0 8 0,3639 0,6032 37,1 0,39 16,8
4 3 1 1 11 0,5004 0,7074 45,0 0,46 14,8
5 2 2 2 12 0,5459 0,7388 47,6 0,48 14,2
6 4 0 0 16 0,7278 0,8531 58,6 0,55 12,5
7 3 3 1 19 0,8643 0,9297 68,4 0,60 11,5
8 4 2 0 20 0,9098 0,9538 72,5 0,62 11,1
F2 p 1 + cos 2 2θ I I/I0 JCPDS

sen 2 θ cos θ
7815 8 12,05 753607,4 100 100
6989 6 8,54 357916,4 47 46
4516 12 3,70 200547,3 27 20
3505 24 2,83 237816,8 32 17
3226 8 2,74 70753,89 9 5
2500 6 3,18 47703,26 6 3
2116 24 4,81 244138,1 32 9
1971 24 6,12 289373,8 38 8

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Instituto Militar de Engenharia

Seção de Engenharia Mecânica e de Materiais

Pós-Graduação em Ciência dos Materiais

Difração de Raios X - DRX

(X-Ray Diffraction – XRD)

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DIA DA SEMANA PROGRAMAÇÃO

16/06 (terça) – 12:25 às 12:10 h Geração de Raios X

18/06 (quinta) – 08:25 às 10:10 h Lei de Bragg

23/06 (terça) – 12:25 às 12:10 h Métodos de Difração de Raios X

25/06 (quinta) – 08:25 às 10:10 h Intensidade Relativa das Linhas

30/06 (terça) – 12:25 às 12:10 h Materiais Diferentes de Pó

07/07 (terça) – 12:25 às 12:10 h PROVA

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Portanto, pode-se observar o fenômeno de interferência (difração)

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