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Licenciado para - Marcos fernandes - 60044594968 - Protegido por Eduzz.com
AN-1001
Entendendo os parâmetros do MOSFET de potência
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Semicondutor de Taiwan
Contente
1.Classificações máximas absolutas.................................................. .................................................. ..............................3
1 Versão: A1611
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2 Versão: A1611
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Introdução
Ao escolher um MOSFET, os parâmetros que são focados pela maioria dos engenheiros intuitivamente são VDS,
RDS (ligado), EUD. No entanto, em sistemas de energia, é importante escolher um MOSFET adequado para
diferentes aplicações. Nesta nota de aplicação, a Taiwan Semiconductor (TSC) apresenta a definição de cada
parâmetro de um MOSFET e, a partir do capítulo 3, a TSC também explica como cada parâmetro é realizado,
esperando que isso ajude os projetistas nos projetos de energia.
TJ-TC
EUD-
TJ= Temperatura de junção TC= R-JC-RDS(SOBRE)-K
Temperatura da Caixa
RDS(ON)= Resistência no estado da fonte de drenagem RθJC
3 Versão: A1611
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EUMestrerepresenta a corrente limite máxima em MOSFET SOA (Safe Operating Area). Um MOSFET pode ser bem
operado dentro de SOA para garantir a estabilidade e segurança de um sistema de energia.
Quando o MOSFET de potência entra no modo de avalanche, a corrente transformada na forma de tensão através do
dreno e fonte de um MOSFET é chamada de corrente de avalanche ( ICOMO).
eu
V DS
EU
D
Trocar
BV DS
D E COMO
+ EU
COMO
DUT V DDV
-
+ G V DD
S
V GS EU
D
-
V GS tAV
1 2 BVDS
Circuito de teste UIS ECOMO - - eu-EU COMO -( )
2 BVDS-VDD
O circuito de teste UIS: Ao aplicar um VGSsinal para um DUT e o DUT está ligado, a corrente começará a carregar o
Indutor (L), fenômeno do IDa taxa crescente atual se comporta linearmente como na imagem acima. Quando o
necessário euDé alcançado para euCOMO, o DUT é então desligado, fazendo com que o indutor dissipe toda a sua
energia armazenada e forçando o DUT a atingir sua classificação de tensão de ruptura. O DUT permanecerá em
desagregação (BVDS) até que toda a energia seja dissipada. A área azul é ECOMO
(Energy Avalanche Single).
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TJ-TC
PD-
R-JC
Quanto à temperatura ambiente (TUMA), a equação se transforma em:
TJ-TUMA
PD-
R-JA
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2. Desempenho térmico
PERFORMANCE TÉRMICA
PARÂMETRO SÍMBOLO LIMITE UNIDADE Notas
Junção para Resistência Térmica da Caixa RӨJC 3.8 °C/W 2.1
Junção para resistência térmica ambiente RרJA 48 °C/W 2.2
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3. Especificações Elétricas
ESPECIFICAÇÕES ELETRICAS(TUMA= 25°C salvo indicação em contrário)
PARÂMETRO CONDIÇÕES SÍMBOLO MIN TIPO MÁX. UNIDADE Notas
Estático
Tensão de ruptura da fonte de dreno VGS= 0V, euD= 250µA BVDSS 30 -- -- V 3.1
Tensão Limite do Portão VGS= VDS, EUD= 250µA VGS(TH) 1.2 1,9 2,5 V 3.2
Corrente de fuga da fonte do portão VGS= ±20V, VDS= 0V EUGSS -- -- ± 100 n/D 3.3
VGS= 0V, VDS= 30V -- -- 1
Corrente de Fuga da Fonte de Dreno VGS= 0V, VDS= 30VT EUDSS µA 3.4
-- -- 100
J= 125°C
Resistência no estado da fonte de drenagem VGS= 10V, euD= 11A -- 8.3 11,7
RDS (ligado) mΩ 3,5
(Nota 3)
VGS= 4,5 V, ID= 11A -- 11,9 14,9
Transcondutância direta(Nota 3) VDS= 5V, euD= 11A gfs -- 35 -- S 3.6
D
+
V DS V EU
D
G -
S
BVDSSé determinado quando euDatinge 250μA. O pino Gate está em curto com o pino Source.
G EU
D
+ S
V GS(TH) V
-
VGS(TH)é determinado quando euDatinge 250μA. O pino do portão está em curto com o pino de drenagem.
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D
EU
GSS
G
UMA
S
EUGSSé determinado quando V máximoGStensão é aplicada. O pino de drenagem está em curto com o pino de origem
UMA
G
S
EUDSSé determinado quando V máximoDStensão é aplicada. O pino do portão está em curto com o pino de origem
Para medir a fonte de drenagem na resistência, RDS (ligado), em primeiro lugar, aplique uma tensão através do Gate-
Source, que é especificada para ser maior que VGS(TH). Com uma dada fonte de corrente, euD, meça a queda de
tensão através da Fonte de Dreno, VDS. E depois disso, pela equação, RDS (ligado)= VDS/ EUD, RDS (ligado)é observado. Na
folha de dados TSC MOSFET, duas figuras adicionais também são introduzidas. Um é RDS (ligado)vs VGSgráfico desde R
DS (ligado)varia por diferentes amplitudes de VGS. O outro é RDS (ligado)vs TJ. Características de RDS (ligado)é o coeficiente de
temperatura positivo. É importante considerar a temperatura ambiente ao selecionar um MOSFET em um sistema
de energia.
D
+
V EU
D
G -V
DS
Aplicar V especificadoGS, e dado que euD.V medidoDSde um MOSFET, então RDS (ligado)é obtido
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EUDS
VGS(TH) VGS
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4. Dinâmico
Dinâmico(Nota 4)
VGS= 10V, VDS= 1 =5V, euD
Cobrança Total do Portão Qg -- 9.2 --
11A
Cobrança Total do Portão Qg -- 4,5 -- nC 4.1
VGS= 4,5 V, VDS= 15V, euD
Taxa de origem do portão Qgs -- 1,9 --
= 11A
Carga de drenagem do portão Qgd -- 1,7 --
Capacitância de entrada Ciss -- 562 --
VGS= 0V, VDS= 15Vf
Capacitância de saída Coss -- 144 -- pF 4.2
= 1,0MHz
Capacitância de transferência reversa Crss -- 50 --
Resistência do portão f = 1,0 MHz, dreno aberto Rg 0,5 1,7 3.4 Ω 4.3
A carga do portão desempenha um papel proeminente em aplicações de comutação de alta frequência. Carga total do portão Qg
incluir Qgse Qgd. Qgsrepresenta o acúmulo de capacitância Gate-Source enquanto Qgdé o acúmulo de
capacitância Gate-Drain, também chamado de capacitor Miller. Em operações de alta frequência, Qg
deve ser selecionado o menor possível. Outra dica de carga do Gate para pegar um MOSFET no projeto
do sistema de energia Hbridge é a proporção de Qgd/Qgsser inferior a 1 para evitar que o circuito passe.
Ciss= Cgs+Cgd
Coss= Cds+Cgd
Crss= Cgd.
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5. Tempo de comutação
Trocando(Nota 4)
Tempo de atraso de ativação tvestir) -- 8.4 --
VGS= 10V, VDS= 15V, eu
Tempo de subida de ativação tr -- 4.3 --
D= 7A, RG= 10Ω, ns 5.1
Tempo de Atraso de Desligamento td(desligado) -- 22,4 --
Tempo de queda de desligamento tf -- 3.1 --
O tempo de comutação inclui tvestir), tr, td(desligado), e Tfquatro parâmetros principais e também representam impacto
importante na perda de comutação do MOSFET. Cada um é descrito a seguir.
O tempo de retardo de ativação é definido como o intervalo de tempo medido entre 10% de VGSsubindo de
zero e 90% de VDScaindo da tensão nominal.
trrepresenta o intervalo de tempo entre VDScaindo de 90% para 10% da tensão nominal. EUDcomeça a subir e
é considerada a maior perda de ativação durante este período.
O tempo de retardo de desligamento é definido como o intervalo de tempo medido entre 10% de VDSsubindo
de zero e 90% de VGScaindo da tensão nominal.
tfrepresenta o intervalo de tempo entre VDSsubindo de 10% para 90% da tensão nominal. EUDcomeça a cair e é
considerada a maior perda de desligamento durante este período.
VDS
90%
VGS 10%
td(on) tr td(desligado) tf
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D -
V SDV EU
S
S
+
O VSDé medido aplicando ISatual. O pino Gate está em curto com o pino Source.
Para medir o tempo de recuperação reversa, trre taxa de recuperação reversa, Qrr, a princípio, pino Gate curto e pino Source do
DUT MOSFET. Além disso, um circuito de acionamento de porta, uma determinada fonte de tensão, Vdd, e um indutor são
necessários para formar um circuito de teste de recuperação de diodo. Quando o MOSFET do circuito de acionamento do portão
está ligado, L é carregado; quando desligado, a energia do indutor será descarregada através do diodo de corpo intrínseco do
DUT MOSFET. Quando o MOSFET do circuito de acionamento do portão é ligado novamente, o diodo do corpo do DUT será
D
DUT
G Sinal de portão
S
EU
SD
di/dt
+
Condutor
V DS - DUT tr
+
Portão Qrr
Sinal
-
DUT V DS
trre Qrrsão medidos através do circuito de teste acima. Pino Short Gate e pino Source do DUT MOSFET
Em aplicações, quando euSDvolta a zero, o pico de tensão acontece na Fonte de Dreno devido à energia
do indutor liberada para Cossdo MOSFET. Q superiorrrcausaria um pico de tensão grave e vice-versa.
12 Versão: A1611
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7. Curvas de Características
(TUMA= 25°C salvo indicação em contrário)
Características de saída
VDS=VGS-VGS(TH)
Região linear
Região ôhmica
Região de corte
Nas características de saída, três regiões principais são introduzidas, região ôhmica, região linear e região de
corte. A figura também mostra a curva definida por IDvs VDSem várias condições de tensão da porta para a
fonte. Quando o MOSFET está ligado com VGS<VGS(TH), é operado na região de corte , quando VDS>VGS-VGS(TH), é
operado na região linear. Finalmente, quando V.DS<VGS-VGS(TH), é operado na região ôhmica. A linha tracejada
azul é definida por VDS= VGS– VGS(TH).
Características de transferência
ZTC Temperatura Positiva
Temperatura negativa
Coeficiente Coeficiente
A curva de características de transferência representa tanto VGSe euDrelação. De cima, há um ponto ZTC
(Coeficiente de Temperatura Zero). Se VGSestá abaixo do ponto ZTC, VGStorna-se um coeficiente de
temperatura negativo e vice-versa.
13 Versão: A1611
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Qgd
Qgs
A carga do portão inclui 3 valores especificados, Qgs, Qgd e Qg. Qgs denota a carga Gate to Source. Qgd
denota a carga Gate to Drain, que também é chamada de carga de efeito miller. Qg denota a carga total da
porta.
VGS
VP
VGS(TH)
VDS
EUD
T0 T1 T2 T3 T4
As operações do Gate Charge são apresentadas abaixo no diagrama acima. 1.
T0 ~ T1
Quando VGSsobe e atinge VGS(TH), CGSé o capacitor a ser carregado. Na época, tanto euD
e VDSpresente inalterado.
2. T1 ~ T2
Neste intervalo de tempo, o MOSFET está trabalhando na região linear. VGScontinua aumentando até a tensão de
platô, VP. CGSestá completamente carregado e euDé elevado até a corrente de plena carga.
3. T2 ~ T3
Neste intervalo de tempo, o MOSFET ainda está funcionando na região linear. E, V.DStensão começa a diminuir
e finalmente cai para zero. Então o CGD* (dVDS/dt) torna-se grande e, assim, cria corrente fluindo através de CGD,
que bloqueia VGScontinua subindo e se mantém constante. Durante este tempo, R.DS (ligado)
muda de alta impedância para baixa impedância, entrando na região ôhmica.
4. T3 ~ T4
Neste momento, V.GSé elevado até o valor nominal e o MOSFET é operado na região ôhmica.
14 Versão: A1611
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1,85
Da curva de RDS (ligado)contra TJ, é visto o R normalizadoDS (ligado)é 1 em TJ=25°C e 1,85 a TJ=150°C. Isso
indica se o RDS(on) é 12mohm em TJ=25°C, espera-se que seja 22,2 mohm em TJ=150°C.
∵RDS (ligado)= 12mohm ∴RDS(ligado) - 150 °C= (RDS(0n) - 25°Cx K ) = 12mohm * 1,85 => 22,2mohm
15 Versão: A1611
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Da curva acima, vê-se facilmente VSDtem coeficiente de temperatura negativo. Assim, espera-se obter
menor VSDtensão em temperaturas mais altas. Da curva observada, VSDé 0,5 V em TJ=150°C; VSD
é 0,72 V em TJ=25°C; VSDé 0,85 V em TJ=-55°C.
1,09
Acima da curva é BVDSScontra TJ. BVDSSé o coeficiente de temperatura positivo. Com base na curva
acima, vê-se o BV normalizadoDSSé 1 em TJ=25°C e 1,09 a TJ=150°C. Ou seja, se o BVDSSé 30V em TJ=25°C,
é esperado BVDSSé 32,7 V em TJ=150°C.
K =(K- 150°C/K- 25°C) = 1,09 / 1 => 1,09 ∴BVDSS - 150°C =
∵BVDSS= 30V (BVDSS - 25°CxK) = 30V * 1,09 => 32,7V
16 Versão: A1611
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MOSFET tem três tipos de capacitâncias, Ciss, Coss e Crss. Com relação à relação dessas capacitâncias, V
DStensão e frequência, é introduzido a partir de cima da curva com uma frequência fixa para observar as
variações de Ciss, Coss, e Crss. Essas três capacitâncias afetarão a perda de comutação do sistema de
energia. Abaixo mostra definidos três tipos de capacitâncias.
Dreno (D)
Cgd
CDs
Portão (G)
Cgs
Fontes)
17 Versão: A1611
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SOA
Linha 2
Linha 1 Linha 3
Linha 4
SOA é definido como o valor máximo de VDS, EUDe envelope de tempo de operação que garante uma operação segura
quando o MOSFET funciona ativamente polarizado. Quatro linhas são usadas para determinar os limites máximos de
operação.
Linha 1
RDS (ligado)limites. Por exemplo, tome TSC 30V MOSFET como exemplo, cujo R máximoDS (ligado)é 11,7 mohms. De
acordo com a lei de ohm, quando VDSé 1,0V e RDS (ligado)é 11,7 mohms. EUD= 1,0V / 11,7mohm = 85,47A.
Linha 2
O euMestreé definido pela corrente de drenagem pulsada da folha de dados. É baseado no euD@TCvalor de 25°C e de
um modo geral, euMestre= 4 × euD(@TC25°C)
TJ-TC
EU
D- @25°C
R-JC-K-Rds(sobre)
Linha 3
Linha 4
Esta linha é limitada por muitos parâmetros, incluindo TJ, TC, PD, RθJC, ZθJC, e fator K (RDS (ligado)contra TJ). A
impedância térmica transiente efetiva normalizada (ZθJC) depende de diferentes durações de pulso de onda
quadrada (t) então obteve ambos PDe euDda equação abaixo. Por exemplo, tome TSC 30V MOSFET como
exemplo:
18 Versão: A1611
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TJ-TC PD
PD- EU
D-
R-JC-Z-JC VDS
TJ-TC PD
EU
D - VDS-
R-JC-K-Rds(sobre)-Z-JC EUD
150-C-25-C
EUD- -70,02UMA@1EM
3.8-C/C-0,31-1,85-11,7mohm
0,31
A imagem acima fornece a impedância térmica transiente efetiva normalizada. Essas curvas podem ser Junction to
Ambient ou Case based. De cima, o MOSFET TSC 30V é baseado na condição de junção para caso. À medida que o
ciclo de trabalho e a duração do pulso aumentam, a impedância térmica transitória se aproxima de 1. Em outras
palavras, aproxima-se da resistência térmica em regime permanente.
TJ-TC-PMestre-Z-JC-R-JC
Por exemplo, o TSM120NA03CR funciona em condição de pulso único, o ZθJCcom base na curva é 0,31 a 1 ms.
O RθJCé 3,8°C/W e PMestreé 1,5W. Então a temperatura de junção de TSM120NA03CR em TC= 100°C pode ser
obtido conforme a lista abaixo.
TJ= 100°C + 1,5W x 0,31 x 3,8°C/W = 101,767°C
19 Versão: A1611
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Referências
1. TSM120NA03CR-----------------------Folha de dados do MOSFET de alimentação de 30V
Autores
HL Lin : Gerente de Aplicação de Produto : hl_lin@mail.ts.com.tw
Childs Chung: Gerente de Marketing de Produto: Childs@mail.ts.com.tw
Jerry Chen: Vice-presidente de marketing técnico: Jerry_chen@mail.ts.com.tw
Quartel general
Endereço: 11F. Nº 25 Seg. 3, Beishin Rd, Distrito Shindian, Nova Cidade de
Taipei, Taiwan ROC
Telefone: +886-2-8913-1588 E-mail:
marketing@mail.ts.com.tw Local na
rede Internet:www.taiwansemi.com
20 Versão: A1611