Você está na página 1de 8

A UTILIZAO DA FUNO PERDA DE TAGUCHI NA PRTICA DO CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO

Luciana Renn DOliveira Collin


e-mail: collin@iem.efei.rmg.br

Edson Oliveira Pamplona


e-mail: pamplona@iem.efei.rmg.br Escola Federal de Engenharia de Itajub - IEM/DPR Campus Prof. Jos Rodrigues Seabra - Av. BPS, n 1303. 37500-000 Itajub-MG Abstract Manufacturing process do not produce completely identical characteristics for successive units of same product. Although the capability indices are used how measures of progress for quality improvement of the process, it is possible that even in a process with a large value of capability index can also be misleading to assuring the quality requirements. This work discusses the use of Taguchis Loss Function in practice on the Statistical Process Control for the control of characteristics over the target value. Keywords: Quality Engineering; Statistical Process Control; Taguchis Loss Function 1. Introduo A qualidade est se tornando um fator bsico na deciso dos consumidores para produtos e servios. Com isso, o aperfeioamento da qualidade tem se tornado uma atividade essencial na maior parte das organizaes, para manter a existncia de clientes e a conquista de novos mercados, alm de tornar novos produtos e tecnologia mais competitivos. No sculo XIX, os esforos para eliminar as variaes inerentes ao processo eram muitas vezes bem sucedidos devido simplicidade de seus produtos manufaturados. Atualmente, com a maior complexidade dos sistemas de fabricao e montagem, grande ateno despendida no controle da variao das caractersticas do produto em torno do valor nominal (Provost e Norman, 1990). O controle estatstico de processo (CEP) uma ferramenta utilizada para controlar as variabilidades do processo, e atravs do uso dos grficos de controle, monitora as caractersticas dos produtos com relao aos limites de especificao. A proposta deste trabalho utilizar o conceito da funo perda de qualidade de Taguchi na prtica do controle estatstico de processo para o controle das caractersticas do processo em torno do valor nominal, j que segundo Goh (1993), ele um ferramenta passiva, na medida que ele sozinho no proporciona melhorias no processo. Embora serem utilizados os ndices de capabilidade para acompanhamento das melhorias do processo, Ribeiro e Caten (1995), alegam que, mesmo um processo com alto ndice de capabilidade pode no ser eficiente se no estiver centrado em torno do valor nominal, gerando problemas de qualidade. 2. O Conceito de Variabilidade

Qualquer processo de produo, independentemente de suas caractersticas, contm muitas fontes de variabilidade. Por melhor ajustado que esteja, ele produzir peas que apresentaro diferenas entre si, podendo ser grandes ou at mesmo muito pequenas. Esta variabilidade natural o conjunto de efeitos acumulativos que so compostos de causas incontrolveis. importante que estas variabilidades naturais sejam pequenas at que atinjam um certo nvel aceitvel, para que no comprometam o desempenho do processo. O CEP bastante utilizado para o controle das variabilidades do processo, tendo como principal objetivo fazer com que o processo esteja sob controle. Isto feito pela identificao e eliminao de qualquer causa de variao no-associada com o processo. Busca-se determinar o mais rpido possvel a ocorrncia de tais variabilidades, de modo que as aes corretivas possam ser feitas antes que muitas unidades no-conformes sejam produzidas. Contudo, faz-se necessrio avaliar a capabilidade do processo para diagnosticar o estado de controle dos processos de produo, verificando se so capazes de satisfazer as especificaes pr-estabelecidas. 3. Anlise da Capabilidade do Processo O interesse na capabilidade do processo est crescendo, devido s mudanas na filosofia de controle de qualidade. Sua utilizao envolve no apenas a avaliao de processos, mas tambm a avaliao de fornecedores. A capabilidade tem sido definida por muitos caminhos. Como resultado, muitas medidas de capabilidade tem sido apresentadas por diversos autores. O ndice de capabilidade uma funo adimensional dos parmetros do processo ( , ) e da especificao do processo (LSE, T , LIE), desenvolvidos para proporcionar uma linguagem comum e de fcil entendimento para a quantificao do desempenho do processo, (Kane, 1986), onde: = mdia do processo = desvio padro do processo LSE = limite superior de especificao LIE = limite inferior de especificao T = valor nominal 3.1 O ndice Cp Spiring (1997), aponta o ndice de capabilidade Cp como a medida mais comum de capabilidade. Cp mede a disperso permitida do processo pela medida da real disperso do processo. uma medida da preformance potencial do processo. A disperso relacionada com os limites de especificao, mas a locao do processo no considerada nem na definio nem no clculo do Cp. Em alguns textos, como em Montgomery (1991), ele chamado de PCR (Process-capability ratio). definido por: Cp = disperso permitida do Processo = LSE - LIE disperso real do processo 6 (3.1)

onde LSE e LIE denotam os limites de especificao superior e inferior respectivamente, e o desvio padro do processo. A disperso real do processo geralmente assumida ser 6 , o que representa na teoria normal, a largura do intervalo que contm 99,73% da populao. A disperso

permitida do processo considerada fixa, enquanto que a disperso real do processo deve ser estimada. Kane (1986), relata que um Cp = 1,0, indica que o processo julgado capaz. Um valor de Cp = 1,33 geralmente usado para processos correntes, segundo Juran, Gryna e Binghan (1979). Este valor d certa garantia de que, quando as causas adicionais de variabilidade atuarem, o Cp real do processo seja maior ou igual a 1,00. Levando-se em conta que o ndice Cp mede a disperso do processo com relao aos limites de especificao sem levar em conta a localizao da mdia do processo, possvel que se tenha uma porcentagem de itens fora das especificaes, mesmo com um Cp alto, devido a uma localizao da mdia do processo suficientemente prxima ao limite de especificao. Chan, Cheng e Spiring (1988) e Kane (1986), descrevem dentro desta abordagem como que um ndice Cp com um alto valor no garante que todos os itens estejam dentro das especificaes. Para avaliar mais eficientemente o desempenho do processo, foi introduzido o ndice Cpk, que leva em conta a variabilidade do processo e sua locao com relao aos limites de especificao. 3.2 O ndice Cpk Kane (1986), apresenta duas formas equivalentes para o ndice Cpk. A primeira frmula considera os limites de especificao superior e inferior separadamente. A segunda frmula utiliza o desvio da mdia do processo pelo ponto mdio dos limites de especificao. Antes de apresentar o ndice Cpk, ser necessrio considerar dois outros ndices de capabilidade: CPU e CPL Considerando o caso de especificao unilateral superior define-se: CPU = LSE - 3 (3.2)

Analogamente para processos com especificao unilateral inferior tem-se: CPL = - LIE 3 Para o caso de especificaes bilaterais define-se o ndice como: Cpk = mnimo (CPL , CPU) (3.4) (3.3)

O ndice Cpk, portanto, determina a distncia entre a mdia do processo e o limite de especificao mais prximo. Uma outra abordagem para o ndice Cpk reduz-se na seguinte forma: Cpk = (1 - k) Cp (3.5)

onde

k=2T- LSE - LIE = mdia do processo T = valor nominal do processo.

Segundo Spiring (1991), o valor de k representa a poro da disperso permitida do processo no produzida no alvo. Se k = 0, a mdia do processo coincide com o valor alvo. Se k = 1, a mdia do processo est localizada em um dos limites de especificao. As duas definies de Cpk so algebricamente equivalentes para 0 k 1 e o valor alvo coincide com o ponto mdio dos limites de especificaes. Kane (1986), recomenda o uso e comparao dos ndices Cp e Cpk para cada caracterstica. Se o processo possui um baixo Cpk, ento o ndice Cp deve ser verificado para determinar se a variabilidade demasiadamente alta. Se Cp prximo ao valor de Cpk, ento a locao do processo no representa um problema. 3.3 Consideraes sobre o ndice Cpk Boyles (1991), afirma que o ndice Cpk no mede adequadamente a centralizao do processo. Para isso o autor dispe-se de tcnicas grficas, grficos ( e ), onde atravs de comparaes dos ndices demonstra que Cpk pode falhar na distino de processos fora do alvo e dentro do alvo. Uma medida alternativa de ndice de capabilidade do processo, como relata Spiring (1991), tem a capacidade de avaliar a proximidade do alvo devido variao do processo. As mudanas so poderosas, com propriedades estatsticas superiores e aparncia mais intuitiva. Este ndice de capabilidade do processo, denotado por Cpm, ou ndice de capabilidade de Taguchi, ser descrito a seguir, juntamente com a metodologia de Taguchi. 4. Metodologia de Taguchi 4.1 - Consideraes Iniciais A partir de 1984, tem ocorrido uma mudana de pensamento com relao qualidade e tecnologia da engenharia atravs da aplicao dos Mtodos de Taguchi. Embora esta mudana tenha ocorrido lentamente devido s controvrsias estatsticas, esta tecnologia est comeando a promover os maiores efeitos nos produtos do que qualquer outro conceito ou mtodo individual apresentado, conforme relata Sullivan (1987). 4.2 A Funo Perda de Qualidade de Taguchi O ponto inicial da filosofia de Taguchi est em sua no-convencional definio de qualidade. Em contraste aos conceitos como adequao ao uso, conformidade com os requisitos, ou satisfao do cliente, a definio de Taguchi perdas para a sociedade, reflete dois valores orientais comuns, isto , aspirao para o perfeccionismo, e trabalho para o bem coletivo. Perdas para o sociedade medido pelo desvio real da caracterstica de qualidade do produto do seu valor alvo. O uso desta funo perda, uma expresso matemtica que pode declarar, particularmente para propsitos gerenciais, o valor monetrio da conseqncia de qualquer aperfeioamento em qualidade. Embora tal valor monetrio no represente uma virtual perda ou dano, ele um conveniente ndice de desempenho que pode ser facilmente apreciado pelos tomadores de deciso, uma caracterstica muito importante e lisonjeada pelos promotores dos mtodos de Taguchi para atrair o interesse dos tomadores de deciso. (Goh, 1993). O significado de aperfeioamento da qualidade mudado para solucionar problemas atravs da reduo da variabilidade em torno do valor alvo, tendo como ponto importante, como medir o aperfeioamento da qualidade. O principal foco do aperfeioamento da qualidade a reduo de custos.

O conceito da funo perda demonstrado na figura 4.1. O grfico demonstra a funo perda associada com a idia de estar dentro ou fora dos limites de especificao. O alvo central, T, representa o nvel ideal do parmetro de projeto. Os dois limites de especificao LSE e LIE, so os limites de especificao simtricos padronizados. O eixo vertical a medida do valor de perda devido ao desvio da caracterstica do nvel desejado.

Limites de Especificao $A

Alvo

LIE

LSE

figura 4.1 - Funo Perda de Taguchi fonte: Kackar, 1986 A funo perda de Taguchi estabelece uma medida financeira para o clculo do desvio de uma caracterstica do produto com relao ao valor nominal. Pode ser descrita como: L = k (y - T)2 onde L = perda devido ao desvio da caracterstica k = coeficiente de perda y = valor da caracterstica de qualidade T = valor nominal ou valor alvo Para uma amostra, a frmula da perda mdia ser: L = k [ ( y - T )2 + 2 ] (4.2) (4.1)

k = A / (LSE - T)2 e A o custo de se produzir um produto fora da especificao y = valor mdio de uma caracterstica 2 = varincia relativa mdia T = valor nominal 4.3 O ndice de Capabilidade de Taguchi Segundo Boyles (1991), Taguchi encontrou uma definio alternativa de Cp, o qual adequa-se perfeitamente com a abordagem da funo perda. . O ndice definido por:

Cpm = LSE - LIE 6 onde o desvio padro do alvo definido por: 2 = 2 + ( - T )2 (4.4)

(4.3)

O ndice expressa a variao do alvo, com base em dois componentes de variabilidade: variabilidade do processo () e centralizao do processo ( - T). Boyles (1991) demostra como o ndice de Cpk pode falhar ao medir a centralizao do processo em contraste com o ndice Cpm, como apresentado na figura 4.3 a seguir.

figura 4.3 - Trs processos com Cpk = 1 fonte: Boyles, 1991

Processo A B C

Cp 1 2 4

Cpm 1,00 0,63 0,44

Cpk 1 1 1

Quadro 4.1 - Comparo dos ndices de Capabilidade fonte: Boyles, 1991

Estes trs processos so equivalentes de acordo com Cpk, mas claramente so distintos de acordo com Cpm. Diferem substancialmente com relao centralizao do processo. O ndice Cpm possui as propriedades necessrias para avaliar a capabilidade do processo, podendo ser bastante til para o acompanhamento da variabilidade do processo com relao ao valor nominal. Spring (1991), relata que Cpm pode tambm ser generalizado para situaes onde o valor nominal (T) no o ponto mdio dos limites de especificao, como apresentado a seguir: Cpm* = mnimo [LSE - T, T - LIE] 3 5. Concluso A qualidade de um produto no pode ser aperfeioada a menos que suas caractersticas possam ser identificadas e medidas. Dentro deste contexto, a variabilidade uma caracterstica importante de controle para o bom desempenho do produto. Genichi Taguchi, recentemente popularizou o conceito da funo perda, focalizando o impacto da variao da qualidade. Ele tem retratado a idia de que a variao do alvo desejado acarreta perdas para a sociedade. Taguchi aponta que, mesmo o produto estando dentro dos limites de especificao, h um custo definido para a sociedade se a caracterstica no est exatamente no valor nominal; quanto mais longe do nominal, maior o custo. Apesar dos ndices de capabilidade Cp e Cpk serem utilizados para acompanhamento das melhorias dos processos na prtica do CEP, seus resultados no fornecem informaes adequadas a respeito da variao em torno da mdia, como apresentada pela funo perda de Taguchi.. O ndice de capabilidade de Taguchi (Cpm), mede a capabilidade do processo levando em conta tanto a sua localizao, como tambm a variao em torno do valor nominal, sendo portanto sensvel com relao centralizao do processo. 6. Referncia Bibliogrfica [1] Boyles,R. A..The Taguchi Capability Index. Journal of Quality Technology, volume 23, 17-26, (1991). [2] Chan, L.K., Cheng, S.W., Spiring, F.A. A New Measure of Process Capability: Cpm. Journal of Quality Technology, volume 20, 162-175, (1988). [3] Goh, T.N. Taguchi Methods: Some Technical, Cultural and Pedagogical Perspectives. Quality and Reability Engineering International, volume 9, 185-202, (1993). [4] Juran, J.M., Gryna, F.M., Binghan, R.S. Quality Control Handbook. New York: Mc Graw Hill, 1979. [5] Kackar, R. N. Taguchis Quality Philosophy: Analysis and Commentary. Quality Progress, 21- 29, (1986). [6] Kane, V.E. Process Capability Indices. Journal of Qaulity Technology, volume 18, 4152, (1986). (4.5)

[7] Montgomery, D.C. Introduction to Statistical Quality Control. New York: John Wiley & Sons, 1991. [8] Provost, L.P., Norman, C.L. Variation Through the Ages. Quality Progress, 39-44, (1990). [9] Ribeiro, J.D., Caten, C.S. Gerenciando o CEP com a funo de Perda Quadrtica . ENEGEP, XV, So Carlos, SP. Universidade Federal de So Carlos, 468-473, (1995). [10] Sullivan, L.P. The Power of Taguchi Methods . Quality Progress, 76-79, June, (1987). [11] Spiring, F.A. The Cpm Index. Quality Progress, 57-61, February, (1991). [12] Spiring, F.A. A Unifying Approach to Process Capability Indices . Journal of Quality Technology, volume 29, 49-58, (1997). [13] Taguchi, G, Elsayed, E.A., Hsiang, T. Taguchi - Engenharia da Qualidade em Sistemas de Produo. So Paulo: Mc Graw Hill, 1990.