08/07/2016

Microscpio eletrnico de transmisso Wikipdia, a enciclopdia livre

Microscpioeletrnicodetransmisso
Origem:Wikipdia,aenciclopdialivre.

Ummicroscpioeletrnicodetransmisso(MET)ummicroscpio
noqualumfeixedeeltronsemitidoemdireoaumaamostraultra
fina,interagindocomaamostraenquantoaatravessa.Ainteraodos
eltronstransmitidosatravsdaamostraformaumaimagemque
ampliadaefocadaemumdispositivodeimagem,comoumatela
fluorescenteemumacamadadefilmefotogrfico,oudetectadaporum
sensorcomoumacmeraCCD.[2]
UmMETcapazdeexibirimagensaumaresoluosignificativamente
maioremcomparaocomosmicroscpiosticosdevidoaopequeno
comprimentodeondadoseltrons.Talcaractersticapermiteaousurio
examinardetalhesnfimos,atmesmoumasimplescolunadetomos,a
qualdezenasdemilharesvezesmenordoqueomenorobjeto
reconhecvelemummicroscpiotico.OMETumdosprincipais
mtodosdeanliseemumavastagamadecamposcientficos,tantoem
cinciasfsicasquantobiolgicas.OMETaplicadonapesquisado
cncer,virologiaenacinciadosmateriais,almdaspesquisasde
poluio,nanotecnologiaesemicondutores.[3]

UmaimagemobtidaapartirdoMET.
Ovrusdapoliomelitemede30

nm.[1]
Apequenasampliaes,o(contraste)naimagemdeveseabsorode
eltronspelomaterial,comoconsequnciadasuaespessurae
composio.[4]Aampliaesmaiores,aintensidadedaimagemresultantedeumconjuntocomplexode
interaesdeondas,oquerequeraanlisedasimagensobtidasporpartedeperitos.Aalternnciaentreestas
formasdeusopermiteobservaratravsdoMETmodulaesnacomposioqumica,orientaodecristais,
estruturaeletrnicaeainduodamudanadafaseeletrnicabemcomoascomunsimagensbaseadasna
absorodomaterial.[5]

OprimeiroMETfoiconstrudoporMaxKnolleErnstRuskaem1931,partedogrupoquedesenvolveriao
primeiroMETcompoderderesoluosuperioraodaluzem1933eoprimeiroTEMcomercialem1939.[6][7]

ndice
1 Histria
1.1 Desenvolvimentoinicial
1.2 Aumentodaresoluo
1.3 Outraspesquisas
2 Fundamentos
2.1 Eltrons
2.2 Formaodafonte
2.3 tica
2.4 Visor
3 Componentes
3.1 Sistemadevcuo
3.2 Portaobjetosdoespcime
3.3 Canhodeeltrons
3.4 Lenteseletrnicas
3.5 Aberturas
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4 Mtodosdeformaodeimagem
4.1 Formaodocontraste
4.1.1 Luminosidadedecampo
4.1.2 Contrastededifrao
4.1.3 Perdadeenergiadoseltrons
4.1.4 Contrastedefase
4.2 Difrao
4.3 Imagememtrsdimenses
5 Preparaodaamostra
5.1 Seccionamentodetecido
5.2 Coloraodaamostra
5.3 Fresagemmecnica
5.4 Fresagemqumica
5.5 Fresageminica
6 Modificaes
6.1 Microscpioeletrnicodebaixavoltagem
6.2 Microscopiacrioeletrnica
6.3 Microscpioeletrnicodetransmissodealtavelocidade
7 Limitaes
7.1 Limitesderesoluo
8 Fabricantes
9 Vertambm
10 Referncias
11 Ligaesexternas

Histria
Desenvolvimentoinicial
FoiErnstAbbequemoriginalmentepostulouqueacapacidadeparaobtenodedetalhenavisualizaodeum
objetoeralimitadapelocomprimentodeondadaluzusadanoprocesso,limitandoassimaampliaomxima
possveldeserobtidaatravsdeummicroscpiopticoparaalgunsmicrmetros.[8]
Odesenvolvimentoocorridonosmicroscpiosderaiosultravioleta,conduzidoporKhlereRohr,viriaa
permitirumaumentodeampliaodecercadeumoudoisfatores.[9]Contudo,estetipodeluzimplicavaouso
decomponentesticosdequartzomaisdispendiosos,devidosuaabsorodosraiosUV.Napoca,
acreditavasequeobterumaimagemabaixodeummicrmetroseriasimplesmenteimpossveldevidos
restriesimpostaspelocomprimentodeondadaluz.[6]
Janteriormente,em1858,tinhasidoconstatadoporPlckerqueodesvioderaioscatdicos(eltrons)era
possvelgraasaousodecamposmagnticos.[10]Esteefeitofoiusadonaconstruodeosciloscpiosderaios
catdicos(ORC)primitivosem1897porFerdinandBraun,concebidoscomodispositivosdemedio.[11]De
fato,em1891,foiadmitidoporRieckequeosraioscatdicospodiamserfocadosporessescampos
magnticos,permitindoousodelentessimples.PosteriormenteestateoriafoiconfirmadaporHansBuschno
seutrabalhopublicadoem1926,quemostrouqueasequaesaplicadasticapodiam,mediantedeterminados
pressupostos,sertambmaplicadasaoselectres.[12][13][14][15]
Em1928,naUniversidadedeTecnologiadeBerlim,AdolfMatthias,professordeTecnologiadealtatensoe
instalaeseltricas,nomeouMaxKnollparaliderarumgrupodeinvestigadoresparaaperfeioarodesenhodo
ORC.EssegrupoeracompostopordiversosdoutorandosincluindoRuskaeBodovonBorries.Aequipa
ocupousesobretudocomodesenhodaslenteseoposicionamentodacolunadoORC,doqualtentaramobter
parmetrosquepoderiamserotimizadosparapermitiraconstruodemelhoresmodelosdeORC,assimcomo
odesenvolvimentodecomponentesticosparaelectresquepudessemserusadosnageraodeimagensem
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ampliaesmenores(prximasde1:1).Em1931ogrupoconseguiua
geraodeimagensampliadasdemalhascolocadassobaaberturado
nodo.Odispositivousavaduaslentesmagnticasparaconseguir
ampliaesmaioressendoeste,discutivelmente,oprimeiromicroscpio
eletrnico.NomesmoanoReinholdRudenberg,diretorcientficoda
Siemens,ummicroscpiodeelectrescomumalenteeletroesttica.[6]
[16]

Aumentodaresoluo
Nestapoca,aindanotinhasidocompletamentecompreendidoo
comportamentoemondadoseltrons,queaindaseconsideravaserem
partculascarregadasdematria.Foiapenasem1927quesepublicou
DeBrogleHypotesis,umainvestigaosobreaondanaturalde
eltrons.[17]Ogruposteveconhecimentodapublicaoem1932,
momentoemquerapidamentecompreendeuqueocomprimentoda
ondadeBroglieeramuitasordensdemagnitudemenorqueo
comprimentodaondadeluz,teoricamentepermitindoimagensescala
dotomo.Emabrilde1932,Ruskasugeriuaconstruodeumnovo
microscpiodeeletresparaavisualizaodiretadeamostrasinseridas
OprimeiroMET,originalmente
nomicroscpio,emvezdesimplesmalhasouimagensfeitasapartirde
instaladonoI.G.FarbenWerkee
diafragmas.Comestedispositivoconseguiusetantoumaimagem
agoraemexposionoDeutsches
difrativacomoumaimagemnormaldeumafolhadealumnio.Contudo,
MuseumemMunique,Alemanha.
nofoipossveldemonstrarampliaesmaioresdoqueasjpossveis
commicroscpiosticos,objetivoqueapenasfoialcanadoem
setembrode1933,comoregistodeimagensdefibrasdealgodomomentosantesdeseremrapidamente
desfeitaspelofeixedeeletres.[6]
Nestaaltura,ointeressenoprojetodomicroscpioeletrnicoaumentou,comoutrosgruposacontribuirparao
avanodatecnologiadoMET,talcomoodeAlbertPrebuseJamesHillier,ambosdaUniversidadedeToronto
eautoresdoprimeiroMETdosEstadosUnidosem1938.[18]
ASiemenscontinuouapesquisaem1936,tendocomoobjetivomelhoraraspropriedadesdevisualizaodo
MET,principalmentenoquedizrespeitoaamostrasbiolgicas.Naquelapoca,osmicroscpioseletrnicos
eramfabricadosparagruposespecficos,talcomoodispositivo"EM1"utilizadonoLaboratrioNacionalde
FsicadoReinoUnido.[19]Em1939,oprimeiromicroscpioeletrnicocomercialfoiinstaladono
departamentodefsicadoI.GFarbenWerke.OavanonainvestigaosofreuumrevsduranteIIGuerra
Mundial,quandoumbombardeioareodestruiuoslaboratriosdaSiemensecausouamortededoisdos
investigadores,HeinsMllereFriedrichKrause.[7]

Outraspesquisas
DepoisdaSegundaGuerraMundial,RuskaretomouapesquisanaSiemens,ondeconstruiuoprimeiro
microscpiocapazdeampliaesnaordemdas100milvezes.[7]Osprincpiosestruturaisdestemicroscpio,
comvriosestgiosdepreparaotica,usadoaindahojenosmicroscpiosmodernos.Comeamaser
fabricadosaparelhosemManchester,noReinoUnido,nosEstadosUnidospelaRCA,naAlemanhapela
Siemens,enoJapo.AprimeiraconfernciainternacionalsobreotemafoiorganizadaemDelftem1942,
contandocommaisdecemparticipantes.[19]Deentreasconfernciasqueseseguiram,incluisea"Primeira"
confernciainternacionalemParis,em1950,eadeLondresem1954.[20]

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ComodesenvolvimentodoMET,iniciouseareinvestigaotecnolgicanocampodomicroscpioeletrnico
porvarreduradetransmisso(STEM),queapenasviriaaterresultadosprticosnofinaldadcadade1970,
quandoAlbertCrewedaUniversidadedeChicagodesenvolveuocanhodeemissodecampoeadicionouuma
lenteobjetivadealtaqualidadenacriaodoprimeiroSTEM..[21]Comestedesenho,Crewedemonstroua
capacidadedevisualizaodetomosatravsdatcnicadeimagemdecampoescuroanular.Crewe,em
conjuntocomcolaboradoresnaUniversidadedeChicago,desenvolveutambmaemissodeeltronspor
campoafrioeconstruiuumSTEMcapazdevisualizartomosnicossobrefinossubstratosdecarbono.[22][23]

Fundamentos
Oobjetivodequalquertipodemicroscopiadeterminaraestruturadoobjetoapartirdoqualestseobtendoa
imagemobservada.Nocasodamicroscopiaquantitativatemsedeconhecerparaestepropsitonosomenteas
propriedadespticasdosistemadeimagemmastambmascaractersticasdailuminaodoobjetosob
investigao(aqui,numsentidoindependentedeluzvisvelououtrotipoderadiao).[24]
Podesemostrarqueparaamicroscopiaconvencionalsuficienteconhecerseaspropriedadesestatsticasde
segundaordemdailuminao.Nocasodamicroscopiacomluzvisvelaspropriedadesestatsticasde2ordem
sodescritaspelateoriadacoernciaparcial.Oconhecimentoquetemsidoadquiridonestecampopodeser
transferidodiretamenteparaocasodamicroscopiaeletrnica.Podeseobjetarquenamicroscopiaeletrnica
temsedelevaremcontaofatoqueeltronssofrmionsenquantoftonssobsons.Comoefeitosdespin
somuitopequenospodeseseguramentenegligenciarosspinsdaspartculasquetomampartedoprocessode
obtenodaimagem.Podesetambmignoraradiferenaemestatsticas,FermiDiracparaeltronseBose
Einsteinparaftons,porqueosfeixesusadosemambosostiposdemicroscopiatemumbaixoparmetrode
degenerao.Entonoexisteumadiferenaessencialentremicroscopiacomluzeeltrons.[24][25]

Eltrons
Emteoria,aresoluomxima(d),quesepodeobtercomummicroscpioticolimitadapelocomprimento
daondadosftonsquesousadosparavarreraamostra,(),eaaberturanumricadosistemaNA(de
numericalaperture).[26]

CientistasnoinciodosculoXXteorizaramformasdecontornaraslimitaesimpostaspelocomprimentode
ondarelativamentegrandedoEspectroVisvel(comprimentodaondade400at700nanmetros)usando
eltrons.Comotodaamatria,oseltronstmtantopropriedadedeondascomodepartculas(dualidadeonda
partcula,talcomodefendeuLouisVictordeBroglie),eassuaspropriedadesdeondasignificamquepossaser
feitoumfeixedeeletresdemodoaquesecomportecomoumfeixederadiaoeletromagntica.O
comprimentodaondadoseltronscalculadoigualandoaequaodeLouisVictordeBrogliecomaenergia
cinticadeumeltron.Deveserfeitaumacorreoadicionalqueleveemcontaefeitosdarelatividade,jque
numMETavelocidadedeumeltronseaproximadavelocidadedaluz,(c).[27]

ondehaconstantedePlanck,m0queamassaemrepousodeumeltroneEaenergiadoeltron
acelerado.NummicroscpioeletrnicoosEltronssonormalmentegeradosatravsdeumprocessodesignado
poremissoterminicadeumfilamento,normalmentetungstnio,damesmaformaqueumalmpada,ouem
alternativaatravsdaemissodeeltronsporcampo.[28]Oseltronssoentoaceleradosporumpotencial

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eltrico(medidoemvolts)efocadosparaaamostraporlenteeltroestticaeeletromagnticas.Ofeixe
retransmitidocontminformaosobreadensidadedoseletres,afaseeperiodicidade,sendousadopara
formaraimagem.[29]

Formaodafonte
Dotopoparabaixo,umMETconsistedeumafontedeemisso,a
qualpodeserumfilamentodetungstnio,ouumafontede
hexaboretodelantnio(LaB6).[30]Paratungstnio,estaserda
formadeumfilamentodeumgrampodecabelo,ouumfilamento
emformadepequenaespiga.FontesdeLaB6utilizampequenos
monocristais.Aoconectareste"canho"aumafontedealtatenso
(tipicamente~100300kV)ocanhoir,dadacorrentesuficiente,
iniciaraemitireltronssejaporemissotermoinicaouemissode
eltronsporcamponovcuo.Essaextraonormalmente
auxiliadapelousodeumcilindrodeWehnelt.Apsaextrao,as
lentessuperioresdoMETpermitemaformaodasondaeletrnica
comotamanhoelocalizaodesejadaparaainteraoposterior
comaamostra.[31]
Amanipulaodoseltronsnotubocausadapordoisefeitos.A
interaodoseltronscomocampomagnticocausaomovimento
doseltronsnadireodesejada,dessaformapermitindoo
eletrommanipularofeixedeeltrons.Ousodecampos
magnticospermiteaformaodelentesmagnticasdediferentes
poderesdefoco,aformadaslentesoriginaispermitema
distribuiodofluxomagntico,almdisso,ocampoeletroesttico
podeusaroseltronsparadesviaroseltronsdofluxomagntico.
Disposiodecomponentesticosemum
Adicionalmente,camposeletrostticospodemcausaradefleco
METbsico.
doseltronsatravsdeumnguloconstante,devidoacargaeltrica
viajaratravsdeumcampoeltrico.[32][33]Oacoplamentodedois
desviosemdireesopostas,comumpequenoespaointermedirio,permiteaformaodeumamudanano
caminhodofeixe,sendoutilizadoemMETparaodeslocamentodofeixe.Posteriormente,istoextremamente
importanteparamicroscpioeletrnicodevarreduraportransmisso(MEVT,scanningtransmissionelectron
microscope,STEM).Apartirdessesdoisefeitos,bemcomodousodeumsistemadeimagemeletrnica,o
controlesuficientesobreotrajetodofeixepossvelparaaoperaodoMET.[34]Aconfiguraoticado
METpodeserrapidamentemodificada,diferentementedomicroscpiotico,cujofeixedelentesdevemser
posicionadas,mudandosuaampliao.ParaMETbastamsertotalmentedesativadaspormeiodeum
chaveamentorpido(interruptores),cujavelocidademximalimitadapelosefeitoscomoahisterese
magnticadaslentes.[35]

tica
AslentesdeumMETconduzemaconvergnciadofeixe,comongulodeconvergnciacomoumparmetro
varivel,dandoaoMETahabilidadedemudaraampliaomodificandosimplesmenteaquantidadede
correntefluindoatravsdabobina,lentesmagnticasquadripolaresouhexapolares.Alentequadripolarum
arranjodebobinaseletromagnticasnosvrticesdeumquadrado,permitindoageraodecamposmagnticos
quecomportamsecomolentes,aconfiguraohexapolarsimplesmentemelhoraasimetriadalenteusando
seis,aoinvsdequatrobobinas.[36]Ousodeelementospticaeletrnicahexapolarparacorrigirasaberraes
esfricasdaslentesobjetivasdeummicroscpioeletrnicodevarreduradebaixatensotemsidoinvestigado.

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Comparadocomoscorretoresconvencionaisquadripolareseoctapolares,sistemashexapolaressomais
simplesnodesign,maisfceisdeajustaremenossensveissimperfeiesdefabricaoeasinstabilidadesda
fontedealimentao.[37][38][39]
TipicamenteumMETconsistedetrsestgiosdelentes.Osestgiossoaslentesdocondensador,aslentesda
objetiva,easlentesdoprojetor.Aslentesdocondensadorsoresponsveispelaformaoprimriadofeixe,
enquantoqueaslentesobjetivasfocamofeixeparabaixonaprpriaamostra.Aslentesdoprojetorso
utilizadosparaexpandirofeixesobreateladefsforoououtrodispositivodeimagem,talcomoumfilme.A
magnificaodoMETdevidarazodasdistnciasentreoespcimeeoplanodaimagemdaslentesda
objetiva.[40]Lentesadicionaisquadriouhexapolarespermitemacorreodedistoresassimtricasdofeixe,
conhecidascomoastigmatismo.[41]
NotesequeasconfiguraesdapticadeumMETdiferemsignificativamentecomaimplementao,com
fabricantesutilizandoconfiguraespersonalizadasdelentes,comonacorreodeaberraoesfricade
instrumentos,[31]ouequipamentosdotipoMETutilizandofiltragemdeenergiaparacorrigiraaberrao
cromticadeeltrons.[42]

Visor
SistemasdeimagensemumMETconsistemdeumateladefsforo,aqualpodeserfeitadesulfetodezinco
finamenteparticulado(10100m),paraobservaodiretapelooperador.Opcionalmente,umsistemade
gravaodeimagemtalcomoumfilmebaseadooutelaCCDacopladodopadacomgranadadetrioealumnio
(YAG,yttriumaluminiumgarnet).[43]Normalmente,estesdispositivospodemserremovidosouinseridosno
caminhodofeixepelooperadornamedidadoexigido.

Componentes
UmMETcompostodediversoscomponentes,osquaisincluemumsistemadeproduodevcuonoqualos
eltronsviajam,umafontedeemissodeeltronsparaageraodacorrentedeeltrons,umasriedelentes
eletromagnticas,assimcomoplacaseletrostticas.Osdoisltimospermitemaooperadororientaremanipular
ofeixe,conformenecessrio.Tambmnecessrioumdispositivoparapermitirainsero,omovimento
internoearetiradadeamostrasdotrajetodofeixe.Dispositivosdeimagenssoposteriormenteusadospara
criarumaimagemdoseltronsquesaemdosistema.[23]

Sistemadevcuo
Paraaumentaropercursolivremdiodainteraodogsdeeltrons,umMETpadroevacuadoparabaixas
presses,tipicamentenaordemde104Pa.[45]Anecessidadeparaissodupla:primeiroproversubsdiospara
adiferenadetensoentreocatodoeoterrasemgerarumarco,poroutro,reduzirafrequnciadecolisodos
eltronscomostomosdegsparanveisinsignificantes,esteefeitocaracterizadopelopercursolivremdio.
ComponentesdeumMET,taiscomosuportesdeamostraseoscartuchosdefilmedevemserrotineiramente
inseridosousubstitudosexigindoumsistemacomcapacidadeparaevacuarnovamenteemumabaseregular.
Comotal,umMETequipadocomvriossistemasdebombeamentoecmaraspressurizadasenoso
permanentementeseladosavcuo.[46][47]
OsistemadevcuoparaaevacuaodeumMETemnveldepressodeoperaoconsistedediversos
estgios.Inicialmenteumvcuobaixoougrosseiroobtidopormeiodeumabombadepalhetasrotativasou
porbombasdediafragmatrazendooMETaumapressosuficientementebaixaparapermitirofuncionamento
debombasturbomolecularesoudedifuso,asquaisconduzemoMETasunveldealtovcuonecessriopara
operao.Parapermitirquenosejaexigidoofuncionamentocontnuodabombadebaixovcuobaixo,
enquantocontinuamenteoperandoasbombasturbomoleculares,oladodovcuodeumabombadebaixa
pressopodeserconectadoacmarasqueacomodamosgasesdeescapedabombaturbomolecular.[48]Sees
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doMETpodemserisoladospelousodevlvulasdegaveta,para
permitirdiferentesnveisdevcuoemreasespecficas,comooalto
vcuode104a107Paoumaisaltonocanhodeeltrons,comonos
casosdeMETdealtaresoluooudeemissodecampo.[46][47][49]
[50]

UmMETdealtavoltagemrequervcuosultraaltosnafaixade107a
109Paparaprevenirageraodearcoeltrico,particulamenteno
ctododoMET.[51]Assim,paraumMETdemaisaltavoltagem,um
terceirosistemadevcuopodeoperar,comocanhoisoladodacmara
principal,querpelousodevlvulasdegavetaoupelousode
bombeamentodiferencialdeabertura.Obombeamentodiferencialde
aberturaumorifciopequenoqueimpedeadifusodemolculasde
gsnareadevcuomaisaltodocanhomaisrpidodoquepodeser
bombeadoparafora.Paraessaspressesmuitobaixas,tantoumabomba
deonouummaterialgetter(armadilhadegs)sousados.[52]
VcuopoucointensoemumMETpodecausardiversosproblemas,da
deposiodegdentrodoMETsobreoespcimequeestasendovisto
atravsdeumprocessoconhecidocomodeposioinduzidaporfeixede
eltrons,ouemcasosmaisgravesdanosparaoctodoporumadescarga
eltrica[51].Problemasdevcuodevidosasublimaodoespcimeso
limitadospelousodeumaarmadilhafriaaadsorodegases
sublimadosnavizinhanadoespcime.[48]

AfontedeeltronsdoMETestno
topo,ondeosistemadelentes(4,7e
8)focaofeixesobreoespcimee
entoprojetaosobreatelade
cisualizao(10).Ocontroledofeixe
estdireita(13e14).[44]

Portaobjetosdoespcime
OprojetodoportaobjetosdoespcimedeumMET(correspondenteplatina
dosmicroscpiosticos)incluemeclusasdearparapermitirainserodo
suportedaamostranovcuocomumaumentomnimonapressoemoutras
reasdomicroscpio.Osfixadoresdaamostrasoadaptadosparamanterum
tamanhopadrodegrelhasobreaqualaamostracolocadaouumtamanho
padrodeamostraautosustentvel.OtamanhopadrodagrelhadeumMET
umanelde3,05mmdedimetro,comtamanho,espessuraemalhasvariando
dealgunsa100m.Aamostracolocadasobreareainternaemmalhacom
umdimetrodecercade2,5mm.Osmateriaismaiscomunsdagrelhaso
cobre,molibdnio,ouroouplatina.Essagrelhacolocadanoportaamostras
queestemparelhadocomoportaobjetodaamostra.Existeumagrande
AmostradeMETapoiadaem
variedadededisposiesdepotaobjetosedefixadores,dependendodotipode
uma"grelha"malha,com
experimentoaserrealizado.Almdasgrelhasde3,05mm,porvezes,so
seesde
usadasgrelhasde2,3mm,mesmoqueraramente.Estasgrelhasso
ultramicrotomia.[53]
particularmenteusadasnascinciasminerais,ondeumgrandegraude
inclinaopodesernecessriaeondeomaterialamostrapodeser
extremamenteraro.Espcimestransparentesaoseltronspodemterumaespessuraemtornode100nm,mas
estevalordependedavoltagemdeacelerao.[30]
UmavezinseridosemumMET,aamostrageralmentetemquesermanipuladoparaapresentararegiode
interesseparaofeixe,comoemumanicadifraodegro(cristalito),emumaorientaoespecfica.Para
acomodarisso,oportaobjetosdoMETincluimecanismosparaatranslaodaamostranoplanoXYda
amostra,doajustedaalturaZdofixadordaamostra,e,normalmente,hpelomenosumgraudeliberdadede
rotaoparaaamostra.Assim,umestgiodeMETpodefornecerquatrograusdeliberdadeparaomovimento
doespcime.AmaioriadosmodernosMETsdispedacapacidadeparadoisngulosortogonaisdemovimento
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derotaoortogonalcomdisposiesdefixadoresespecializados,chamadosportaamostrasdeinclinao
dupla.Notese,porm,quealgunsprojetosdoportaobjetos,comoaentradasuperiorouestgiosdeinsero
vertical,umavezcomumparaestudosdealtaresoluoemumMET,podemsimplesmentestertranslao
XYdisponveis.OscritriosdeprojetodeportaobjetosdeumMETsocomplexos,devidosexigncias
simultneasderestriesmecnicasedepticadeeltronse,assim,gerarmuitasimplementaesnicas.[30]
UmportaobjetosdeMETrequeridoparaterseahabilidadedefixarumespcimeemanipulloparatrazera
regiodeinteresseparaotrajetodofeixedeeltrons.ComooMETpodeoperarsobreumaamplafaixade
magnificaes,oportaobjetosdevesertambmaltamenteresistentederivamecnica,comrequisiode
derivatobaixoscomopoucosnm/minutoenquantocapazdesemovervriosm/minuto,comexatidodo
reposicionamentodaordemdenanmetros.[54]OsprojetosiniciaisdeMETconseguiamistocomumcomplexo
conjuntodedispositivosporengrenagensmecnicas,permitindoaooperadorcontrolarcomprecisoo
movimentodoportaobjetospordiversashastesderotao.Osdispositivosmodernospodemusardispositivos
eltricosnoportaobjetos,usandoparafusosoperandoemconjuntocommotoresdepassos,provendoo
operadorcomumcontrolecomputadorizadodoportaobjetos,taiscomoumjoystickoutrackball.[41]
ExistemduasdisposiesprincipaisparaportaobjetosemumMET,aversodeentradalateraleadeentrada
pelotopo.[43]Cadaprojetodeveacomodarofixadorcorrespondenteparapermitirainserodeespcimessem
qualquerdanoadelicadaticaoupermitirgsnossistemasdoMETsobvcuo.[43]

Umdiagramadeumsuportedeinclinaodeeixo
nicoparaainserodeamostraemgonimetrode
MET.Ainclinaodofixadorobtidaatravsda
rotaodetodoogonimetro.

Omaiscomumofixadorcomentradalateral,ondeo
espcimecolocadoprximodeumapontadeumahaste
demetal(latoouaoinoxidvel),comaamostracolocada
noplanoemumapequenacavidade.Aolongodahaste
estovriosanisdevcuodepolmeroparapermitira
formaodeumselodevcuodeboaqualidade,quando
inseridosnoportaobjetos.Oportaobjetosconcebido
assimparaacomodarahaste,colocandooespcimeno
meiooupertodalenteobjetiva,dependedodesenhoda
objetiva.Quandoinseridonoportaobjetos,ofixadorcom
entradalateraltemasuapontacontidosnovcuodoMET,
eabaseacessvelatmosfera,sendoavedaoformada

pelosanisdevcuo.[43]
OprocedimentosdeinseroparaumMETcomfixadorescomentradalateralnormalmenteenvolvema
rotaodaamostraparaprovocarmicroswitchqueiniciaaevacuaodacmaraantesqueaamostraseja
introduzidanacolunadoMET.[41][43]
Asegundadisposioofixadorcomentradapelotopodeumcartuchoquetemocomprimentodediversos
cmcomumaavidadeusinadapeloeixodocartucho.Oespcimecarregadonacavidade,podendoseutilizar
umpequenoaneldefendaparamanteroespciemenolugar.Ocartuchoinseridoemumaescotilhacoma
cavidadeperpendicularaoeixoticodoMET.Quandoselado,aescotilhamanipuladaempurrandoseo
cartuchocomocartuchoacomodandosenaposio,ondeaaberturadacavidadeficaalinhadacomoeixodo
feixe,detalformaqueofeixepercorreacavidadedocartuchoeoespcime.Taisdisposiesnormalmenteso
incapazesdesereminclinadassembloquearocaminhodofeixeouinterferircomalenteobjetiva.[43]

Canhodeeltrons
Ocanhodeeltronsformadoporvrioscomponentes:ofilamento,umcircuitodepolarizao,umacapa
Wehnelt,eumnododeextrao.Aoligarofilamentoparaaocomponentenegativodaalimentaode
energia,oseltronspodemser"bombeados"docanhodeeltronsparaaplacadonodo,ecolunadoMET,
completandoassimocircuito.Ocanhoprojetadoparacriarumfeixedeeltronssaindododispositivoem
umdeterminadongulo,conhecidocomoosemingulodedivergnciadocanho,.Aoconstruirocilindro
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Wehnelttalquetenhaumacarganegativamaiordoqueoprpriofilamento,oseltronsquesaemdofilamento
deumamaneiradivergenteso,quandoembomfuncionamento,foradosaumpadroconvergentedetamanho
mnimoqueodimetrocruzadodocanho.[5]
Adensidadedecorrentedeemissotermoinica,J,podeserrelacionadafunotrabalhodomaterialemitente
eumadistribuiodeBoltzmanndadaabaixo,aequaodeRichardsonDushman,ondeAumaconstante,
afunodetrabalhoeTatemperaturadomaterial.[43][55][56][57]

Estaequaomostraqueparaatingiradensidadedecorrentesuficiente,necessrioaqueceroemissor,
tomandocuidadoparanocausardanosatravsdaaplicaodecalorexcessivo,porestarazomateriaiscom
umaltopontodefuso,comootungstnio,ouaquelescomumabaixafunodetrabalho(LaB6)so
necessriosparaofilamentodocanho.[58]Almdisso,tantoasfontesdehexaboretodelantnioeotugstnio
devemseraquecidosparaalcanaraemissoterminica,estepodeserconseguidaatravsdautilizaodeuma
pequenafitaderesistncia.Paraevitarchoquestrmicos,muitasvezeshumretardoimpostonaaplicaode
correnteparaaponta,paraevitargradientestrmicosquedanificamofilamento,oretardogeralmentealguns
segundosparaoLaB6,esignificantementemaisbaixoparaotungstnio.[30][55]

Lenteseletrnicas

DiagramadeumalentedeMETde
disposiodepeasdepolos
divididos.

Aslenteseletrnicassoprojetadasparaatuardeumamaneiraque
emulaaslentesticas,porfocarraiosparalelosemumadistnciafocal
constante.Lentespodemoperareletrostaticamenteoumagneticamente.
AmaioriadaslenteseletrnicasparaTEMutilizambobinas
eletromagnticasparagerarumalenteconvexa.Paraestaslenteso
campoproduzidopelaslentesdeveserradialmentesimtrico,comoo
desviodasimetriaradialdaslentesmagnticascausaaberraestais
comoastigmatismo,eaberraoesfricaecromtica.Lenteseletrnicas
soproduzidascomferro,ferrocobaltoouligasdenquelecobalto,[59]
taiscomopermalloy.Estassoselecionadasporsuaspropriedades
magnticas,talcomoasaturao,histereseepermeabilidade
magntica.[30]

Oscomponentesincluemoncleometlico,abobinamagntica,os
plos,oscabeoteseoscircuitosdecontroleexterno.Oscabeotesdevemserfabricadosemumamaneira
muitosimtrica,jqueconstituemascondiesdecontornoparaocampomagnticoqueformaalente.
Imperfeiesnofabricodoscabeotespodeminduzirgravesdistoresnasimetriadocampomagntico,que
induzemadistoresqueacabaroporlimitaracapacidadedaslentesparareproduziroplanodoobjeto.As
dimensesexatasdointervalo,dodimetrointernodopoloeadelgaamento,bemcomoaconcepototalda
lentefrequentementerealizadaporanlisedeelementosfinitosdocampomagntico,enquantoconsiderando
aslimitaestrmicaseeltricasdoprojeto.[59]
Asbobinasqueproduzemocampomagnticoestolocalizadosdentrodoncleodalente.Asbobinaspodem
conterumacorrentevarivel,masgeralmenteutilizamaltastensese,portanto,requeremisolamento
significativoparaevitarcurtocircuitodoscomponentesdalente.Distribuidorestrmicossocolocadospara
garantiraextraodocalorgeradopelaenergiaperdidacomaresistnciadosenrolamentosdabobina.Os
enrolamentospodemserrefrigeradosagua,usandoumafontedeguarefrigerada,afimdefacilitararemoo
dograndecalorproduzidonaoperao.[36]

Aberturas
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Aberturassoplacasmetlicasanulares,atravsdasquaisoseltronsqueestoaumadistnciafixamaiordo
eixopticopodemserexcludas.Estassocompostasporumpequenodiscometlicoquesuficientemente
espessoparaimpedirapassagemdeeltronsatravsdodisco,emborapermitaeltronsaxiais.Estapermisso
deeltronscentraisemumMETprovocadoisefeitossimultneos:porumlado,aberturasdiminuema
intensidadedofeixepeloseltronsquesofiltradosdofeixe,oquepodeserdesejvel,nocasodasamostras
sensveisaofeixe.Emsegundolugar,essafiltragemremoveeltronsqueestoespalhadosemngulos
elevados,oquepodeserdevidoaprocessosindesejados,taiscomoaaberraoesfricaecromtica,oudevido
difraodainteraodentrodaamostra.[60]
Asaberturassotantoaberturasfixasdentrodacoluna,taiscomoalentedocondensador,ouaberturasmveis,
quepodemserinseridasouretiradasdocaminhodofeixe,oumovidasnoplanoperpendicularaocaminhodo
feixe.Dispositivosdeaberturassodispositivosmecnicosquepermitemaseleodediferentestamanhosde
abertura,quepodemserutilizadapelooperadorparaatrocadeintensidadeeoefeitodefiltragemdaabertura.
Dispositivosdeaberturassofrequentementeequipadoscommicrmetrosparamoveraabertura,necessrios
duranteacalibraoptica.[61]

Mtodosdeformaodeimagem
OsmtodosdeformaodeimagememumMETutilizamasinformaescontidasnasadadasondasde
eltronsapartirdaamostraparaformarumaimagem.Aslentesdoprojetorpermitemocorretoposicionamento
dadistribuioeletrnicadeondaparaosistemadevisualizao.Aintensidadedaimagem,I,assumindo
grandequalidadedodispositivodeimagem,podeseraproximadacomoproporcionalaotempomdiode
amplitudedafunodeondaeletrnica,ondeaondaqueformaofeixedesadadenotadapor.[62]

Diferentesmtodosdeformaodeimagem,portanto,tentammodificarasondasdeeltronsqueoriginamse
daamostradeumaformaquesejatilparaobterinformaescomrelaoamostra,ouofeixeemsi.Apartir
daequaoanterior,podesededuzirqueaimagemobservadanodependeapenasdaamplitudedofeixe,mas
tambmafasedoseltrons,pormosefeitosdefasepodemserfrequentementeignoradosnasmenores
ampliaes.Imagensdemaiorresoluonecessitamamostrasmaisfinasealtasenergiasdoseltronsincidente.
Portanto,aamostranopodemaisserconsideradaabsorvendoeltrons,atravsdeumefeitodaleideBeer,
masaamostrapodesermodeladacomoumobjetoquenoalteraaamplitudedafunodeondaeletrnica
recebida.Pelocontrrio,aamostramodificaafasedaondadeentrada,estemodeloconhecidocomoum
objetodefasepura,paraamostrassuficientementefinasosefeitosdefasedominamaimagem,dificultandoa
anlisedasintensidadesobservadas.[62]Porexemplo,paramelhorarocontrastenaimagemdoMETpodeser
operadaumaligeiradesfocagemparamelhorarocontraste,devidoconvoluopelafunodetransfernciade
contrastedoMET[63],aqual,normalmente,diminuiocontraste,seaamostranoumobjetodefasefraco.

Formaodocontraste
AformaodocontrastenumMETdependegrandementedomododeoperao.Tcnicascomplexasde
formaodeimagem,asquaisutilizamanicahabilidadedealterarseasforasoudesativarseaslentes,
permitemmuitosmodosdeoperao.Estesmodospodemserusadosparadiscernirinformaoquesejade
interesseparticularaopesquisador.[64]
Luminosidadedecampo
OmodomaiscomumdeoperaoparaumMETomododeimagemdecampobrilhante.Nestemodoa
formaodocontraste,quandoconsideradaclassicamente,formadadiretamentepelaoclusoeabsorode
eltronsnaamostra.Regiesmaisespessasdaamostra,ouregiescomnmerosatmicosmaioresaparecero
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escuras,enquantoqueasregiescomnenhumaamostranocaminhodofeixeiroaparecerbrilhantedao
termo"campobrilhante".Aimagemdefatoassumidacomoumaprojeobidimensionalsimplesdaamostra
noeixoptico,eumaprimeiraaproximaopodesermodeladaatravsdaleideBeer[26],anlisesmais
complexasrequeremamodelagemparaincluirinformaodefase.[62]
Contrastededifrao
Asamostraspodemapresentarcontrastededifrao,emqueofeixede
eltronssofredispersodeBragg,quenocasodeumaamostra
cristalina,dispersaeltronsemposiesdiscretasnoplanofocalde
fundo.Pelacolocaodeaberturasnoplanofocaldefundo,ouseja,a
aberturadaobjetiva,asreflexesdeBraggdesejadaspodemser
selecionadas(ouexcludas),assim,apenaspartesdaamostraqueesto
causandoespalhamentodeeltronsparaasreflexesselecionadasvo
acabarprojetadassobreoaparatodeformaodeimagem.[66]
Seasreflexesquesoselecionadosnoincluemofeixenodisperso
(quevaiapareceratnopontofocaldalente),entoaimagemaparece
escuraondenenhumadispersopelaamostradopicoselecionadoest
presente,comoumaregiosemumespcimeapareceriaescura.Isso
conhecidocomoumaimagemdecampoescuro.[66]

Micrografiadetransmissodeeltrons
dedeslocamentos,osquaissofalhas
naestruturadoretculocristalinona
escalaatmica.[65]

METsmodernossofrequentementeequipadoscomfixadoresdeespcimequepermitemaousurioinclinaro
espcimenumafaixadengulosdemaneiraaobtercondiesdedifraoespecficas,eaberturascolocadas
acimadoespcimepermitemaousurioselecionareltronsqueseriamdifratadosemumaparticulardireo
entrandonoespcime.[66]
Aplicaesparaestemtodoincluemaidentificaodedefeitosderetculoemcristais.Porseleocuidadosa
daorientaodaamostra,possvelnoapenasdeterminaraposiodosdefeitos,mastambmdeterminaro
tipodedefeitopresente.Seaamostrafororientadademodoqueumplanoparticularsejaapenasligeiramente
inclinadoparaforaapartirdomaisfortengulodifrativo(conhecidocomongulodeBragg),qualquer
distorodoplanodecristalquelocalmenteinclinaoplanoparaongulodeBraggvaiproduzirvariaesde
contrastemuitofortes.Entretanto,osdefeitosqueproduzemsomenteodeslocamentodetomosqueno
inclinemocristalparaongulodeBragg(i.e.deslocamentosparalelosaoplanodocristal)noiroproduzir
umfortecontraste.[66]
Perdadeenergiadoseltrons
UtilizandoatcnicaavanadadeEELS(doinglsElectronEnergyLossSpectroscopy,espectroscopiadeperda
deenergiadeeltrons,tambmconhecidacomoespectroscopiadeimpactodeeltrons),paraMETs
devidamenteequipados,eltronspodeserrejeitadoscombaseemsuavoltagem(tenso)(aqual,devidocarga
constantesuaenergia),usandosedispositivosbaseadosemsetormagnticoconhecidoscomoespectrmetros
EELS.Estesdispositivospermitemaseleodevaloresespecficosdeenergia,quepodemserassociadoscom
amaneiracomooseltronsinteragemcomaamostra.Porexemplo,diferenteselementosemumaamostra
resultamemdiferentesenergiasdeeltronsnofeixeapsaamostra.Istonormalmenteresultaemaberrao
cromticanoentantoesteefeitopode,porexemplo,serusadoparagerarumaimagemquefornece
informaessobreacomposioelementar,baseadonatransioatmicaduranteainteraoeltron
eltron.[32]
EspectrmetrosEELSpodemmuitasvezesseroperadosnosdoismodos,deespectroscopiaedeimagem,
permitindooisolamentoourejeiodefeixeselasticamentedispersos.Comoparamuitasimagenso
espalhamentoinelsticoirincluirinformaesquenopodemserdeinteresseparaoinvestigador,reduzindo
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assimossinaisobservveisdeinteresse,aimagemdeEELSpodeserusadapararealarocontrastedas
imagensobservadas,incluindotantoocampobrilhanteeadifrao,rejeitandocomponentesindesejveis.[67]
Contrastedefase
Aestruturadocristaltambmpodeseranalisadapormicroscopiaeletrnicadetransmissodealtaresoluo
(METAR,ouHRTEM,deHighResolutionTransmissionElectronMicroscopy),tambmconhecidacomo
contrastedefase.Quandoseutilizaumafontedeemissodecampo,deespessurauniforme,asimagensso
formadasdevidosdiferenasdefasedasondasdeeltrons,quecausadapelainteraocomoespcime.[63]
Aformaodaimagemdadapelomdulocomplexodosfeixesdeeltronsincidentes.Comotal,aimagem
noapenasdependentedonmerodeeltronsqueatingematela,fazendointerpretaodiretadeimagensde
contrastedefasemaiscomplexa.Noentanto,esteefeitopodeserusadocomoumavantagem,poispodeser
manipuladoparafornecermaisinformaessobreaamostra,comonastcnicascomplexasderecuperaode
fase.[63]

Difrao
Comoanteriormenteapresentado,porajustedaslentesmagnticasdemaneira
queoplanofocalposteriordalenteenooplanodeimagemsejacolocado
sobreoaparatodeimagem,podesergeradoumpadrodedifrao.Para
amostrascristalinasfinas,esteproduzumaimagemqueconsisteemumpadro
depontosnocasodeumnicocristal,ouumasriedeanis,nocasodeum
materialslidopolicristalinoouamorfo.Paraocasodeumcristalnico,o
padrodedifraodependentedaorientaodomodeloedaestruturada
amostrailuminadapelofeixedeeltrons.Estaimagemdaopesquisador
informaessobreassimetriasdegrupodeespaonocristaleaorientaodo
cristalparaotrajetodofeixe.Issogeralmentefeitosemautilizaode
qualquerinformaoalmdaposioemqueospontosdedifraoapareceme
assimetriasdaimagemobservada.[68]

Padrodedifraocristalina
deumgrogeminadodeao
austenticoFCC

Padresdedifraopodeterumaamplafaixadinmica,eparaasamostras
cristalinas,podemterintensidadesmaioresdoqueaquelesregistrveisCCD.
Comotal,METsaindapodemserequipadoscomcartuchosdefilmeafimdeobterestasimagens,comoofilme
umdetectordeusonico.[69]
Anlisedepadresdedifraoalmdaposiodepontopodemsercomplexas,
devidoaimagemsersensvelaumasriedefatores,taiscomoaespessuradas
amostrasesuaorientao,desfoquedalenteobjetiva,aberraesesfricae
cromtica.Emboraainterpretaoquantitativadocontrastemostradoem
imagensderetculosejapossvel,inerentementecomplicadaepodeexigir
extensivassimulaocomputacionaleanlise,comoaanlisemultislice
eletrnica.[43][70][71]
LinhasdeKikuchidefeixe
Comportamentomaiscomplexonoplanodedifraotambmpossvel,com
convergentesdosilcio,
fenmenoscomoaslinhasdeKikuchidecorrentesdemltipladifraodentro
prximoazonaaxial[100].
daredecristalina.Emdifraodeeltronsdefeixeconvergente(CBED,
convergentbeamelectrondiffraction)ondeumafrentedeondadeeltronsno
paralela,i.e.convergente,produzidaporconcentrarofeixedeeltronsemumasondafinanasuperfcieda
amostra,ainteraodofeixeconvergentepodefornecerinformaesalmdosdadosestruturaistalcomoa

espessuradaamostra.[72]

Imagememtrsdimenses
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ComofixadoresdeamostrasdeMETsgeralmentepermitemarotao
deumaamostraemumngulodesejado,mltiplasvisesdomesmo
espcimepodemserobtidaspelarotaodongulodaamostraao
longodeumeixoperpendicularaofeixe.Aotomarvriasimagens
METdeumanicaamostraemngulosdiferentes,geralmenteem
incrementosde1,umconjuntodeimagensconhecidocomouma
"sriedeinclinao"(tiltsries)podemserrecolhidas.Sobcondies
puramentedecontrastedeabsoro,esseconjuntodeimagenspodeser
usadoparaconstruirumarepresentaotridimensionaldaamostra.[74]
Areconstruorealizadaporumprocessodeduasetapas,primeiroas
imagenssoalinhadasemfunodoserrosnoposicionamentodeuma
[73]
amostrataiserrospodemocorrerdevidovibraooumovimentao
deumparapoxvrus
mecnica.Mtodosdealinhamentousamalgoritmosderegistrode
imagem,taiscomomtodosdeautocorrelaoparacorrigiresseserros.
Secundariamente,usandoumatcnicaconhecidacomoretroprojeofiltrada(transformadadeRadon),asfatias
deimagemalinhadaspodemsertransformadasdeumconjuntodeimagensbidimensionais,Ij(x,y),emuma
nicaimagemtridimensional,I'j(x,y,z).Estaimagemtridimensionaldeparticularinteressequandoa
UmaimagemtridimensionaldeMET

informaomorfolgicanecessria,umestudoposteriorpodeserrealizadoutilizandoalgoritmosde
computador,taiscomoisosuperfcies(isosurface)efatiamentodedados(dataslicing)paraanalisaros
dados.[74]
ComoamostrasemMETsnopodemnormalmenteservistasemumarotaocompletade180,asimagens
observadasnormalmentesofremdeuma"cunhaperdida"dedados,asquaisquandousandosemtodosde
retroprojeobaseadaemFourierdiminuiafaixadefreqnciasresolvelnareconstruotridimensional.[74]
Tcnicasmecnicas,taiscomoinclinaomultieixos,bemcomoastcnicasnumricasexistemparalimitaro
impactodafaltadedadossobreamorfologiadoespcimeobservado.Variantesdessemtodo,designadocomo
anlisedepartculanica,usaimagensdeobjetosidnticosmltiplosemdiferentesorientaesparaproduzir
osdadosdeimagemrequeridosparaareconstruotridimensional.Assumindoqueosobjetosnotm
orientaespreferenciaissignificativas,estemtodonosofrecomacargadedadosemfalta,noentanto,
pressupequeosdiversosobjetoscomimagenspodemsertratadascomoseosdadostivessemsidogeradosa
partirdeumnicoobjeto.[74]

Preparaodaamostra
ApreparaodasamostrasemumMETpodeserumprocessocomplexo.EspcimesparaMETssoobrigados
ater,nomximo,centenasdenanmetrosdeespessura,poisdocontrrioradiaonutronouderaiosXdo
feixedeeltronsinteragerapidamentecomaamostra,umefeitoqueaumentaaproximadamentecomo
quadradodonmeroatmico(z2).[26]Amostrasdealtaqualidadeteroumaespessuraquecomparvelcomo
caminholivremdiodoseltronsqueviajamatravsdasamostras,quepodeserapenasdeumaspoucas
dezenasdenanmetros.ApreparaodeespcimesdeMETespecficaparaomaterialsobanliseea
informaesdesejadasaobterdoespcime.Comotal,diversastcnicasgenricastmsidoutilizadasparaa
preparaodasseesfinasnecessrias.[74]
Materiaisquetmdimensessuficientementepequenasparaseremtransparentesaeltrons,taiscomopsou
nanotubospodemserrapidamentepreparadospeladeposiodeumaamostradiludacontendooespcimeem
gradesdeapoiooufilmes.Nascinciasbiolgicas,afimdesuportarovcuodoinstrumentoefacilitaro
tratamento,asamostrasbiolgicaspodemserfixadasusandoummaterialdecoloraonegativa,talcomo
acetatodeuranilooupelaincorporaoemplsticos.Alternativamenteamostraspodeserfixadasem
temperaturasdenitrogniolquido,apsaincorporaoemgelovtreo.[75]Emcinciadosmateriaise
metalurgiaasamostrastendemasernaturalmenteresistentesaovcuo,masaindadevemserpreparadascomo
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umafolhafina,ougravadasdemodoquepartedaamostrasejafinaosuficienteparaofeixepenetrar.
Restriessobreaespessuradomaterialpodeserlimitadaspelaseotransversaldedispersodostomosa
partirdoqualomaterialcomposto.[32]

Seccionamentodetecido
Pelapassagemdeamostrassobreumabordadevidrooudiamante,pequenasseesfinaspodemserfacilmente
obtidasatravsdeummtodosemiautomtico.[4]Estemtodousadoparaobteramostrasfinas,minimamente
deformadas,quepermitemaobservaodeamostrasdetecido.Almdisso,amostrasinorgnicostmsido
estudadas,comooalumnio,emboraesteusolimitadodevidoagravesdanosinduzidosnasamostrasmenos
macias.[76]Paraevitaracmulodecarganasuperfciedaamostra,amostrasdetecidodevemserrevestidascom
umafinacamadadematerialcondutor,comocarbono,ondeaespessuradorevestimentodevrios
nanmetros.Istopodeserconseguidoatravsdeumprocessodedeposiodearcoeltricousandoum
dispositivoderevestimentoporpulverizaocatdica.[77]

Coloraodaamostra

UmaseodeumacluladeBacillus
subtilis,tomadadeumTEMTecnai
T12.Abarradeescala200nm.

Detalhesemamostrassubmetidasaanliseemmiscroscpiosticos
podemserrealadaspelousodecorantesqueabsorvemluzem
determinadoscomprimentosdeondasimilarmenteamostrasdetecidos
biolgicosemMETspodemutilizarpigmentosdealtonmeroatmico
pararealarcontraste.Opigmentoabsorveeltronsoudispersapartedo
feixedeeltronsquedeoutraformaseriaprojetadosobreosistemade
imagem.Compostosdemetaispesadostaiscomoosmio,chumboou
urniopodemserusadospreviamenteobservaonoMETpara
depositarseletivamentetomosdensosemeltronsnaousobrea
amostraemregiescelularesouproticasdesejadas,requerendouma
compreensodecomoseligammetaispesadosemtecidos
biolgicos.[78]

Fresagemmecnica
Polimentomecnicopodeserusadoparaprepararamostras.Opolimentonecessitaserfeitocomaltaqualidade,
paragarantirespessuraconstantedaamostraemtodaaregiodeinteresse.Umcompostoparapolimentocom
diamanteounitretodeborocbicopodeserusadonosestgiosfinaisdopolimentopararemovertodosos
riscosquepodemcausarflutuaesdocontrastedevidovariaesdeespessuradaamostra.Mesmodepoisde
cuidadosotratamentomecnico,mtodosfinosadicionaistalcomoataquedeonspodemserrequeridospara
realizarestgiosfinaisdeadelgaamento.[79]

Fresagemqumica
Certasamostraspodemserpreparadosporfresagemqumica,particularmenteespcimesmetlicos.Estas
amostrassoafiladasusandoseumdecapantequmico,talcomoumcido,paraprepararaamostraparaa
observaoemumMET.Dispositivosparacontrolaroprocessodeafilamentopodempermitiraooperador
controlartantoavoltagemcomoacorrentepassandoatravsdoespcime,epodemincluiristemasparadetectar
quandoaamostraestsendoafiladaaumnvelsuficientedetransparnciaptica.[80]

Fresageminica
Afresageminicaumprocessodepulverizaoquepoderemoverquantidadesmuitofinasdematerial.
usadapararealizarumpolimentodinaldeespcimespolidosporoutrosmeios.Afresageminicausaumgs
inertepassandoatravsdeumcampoeltricoparagerarumacorrentedeplasmaquedirecionadaparaa
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superfciedaamostra.Asenergiasdeaceleraoparagasestaiscomoo
argniosonormalmenteunspoucoskilovolts.Aamostrapodeser
giradaparapromoveraindaopolimentodasuperfciedaamostra.A
taxadepulverizaodetaismtodosdeumaordemdedezenasde
micrmetrosporhora,limitandoomtodoasomentepolimento
extremamentefino.[80]
Maisrecentementemtodosdefeixedeonfocalizado(FIF,ouFIB,do
inglsfocussedionbeam)temsidousadosparaprepararamostras.FIF
umatcnicarelativamentenovaparaprepararamostrasfinasparaexame
emMETapartirdeespcimesmaiores.DevidoaFIFpoderserusada
paratratamentodeamostrasmicromquinas(nanotecnologia)muito
precisamente,possvelusinarmembranasmuitofinasdeumarea
especficadeinteresseemumaamostra,talcomoumsemicondutorou
metal.Diferentementedepulverizaodeondegsinerte,FIFfazuso
deonsdegliosignificativamentemaisenergticosepodealterara
composioouestruturadomaterialatravsdaimplantaodeglio.[81]

ImagemdeMEVumafinaamostra
deMETfresadaporFIF.A
membranafinamostradaaqui
adequadaparaexameemMET,no
entanto,a~300nmdeespessura,no
seriaadequadoparaMETdealta
resoluosemfresagem
suplementar.[81]

Modificaes
AscapacidadesdosMETspodemserposteriormenteestendidasporestgiosadicionaisedetectores,algumas
vezesincorporadosnomesmomicroscpio.Umcriomicroscpioeletrnico(CrioMET)umMETcomum
fixadordeespcimecapazdemanteroespcimeemtemperaturasdenitrogniolquidoouhliolquido.Isto
permiteimagensdeespcimespreparadosemgelovtreo,atcnicadepreparaopreferidaparaimagensde
molculasindividuaisouarranjosdemacromolculas.[82]
UmMETpodesermodificadoemummicroscpioeletrnicodevarreduraportransmisso(STEM,de
scanningtransmissionelectronmicroscope)pelaadiodeumsistemaquefazofeixepercorrer(varrer)a
amostraparaformaraimagem,combinadocomdetectoresapropriados.Bobinasdevarredurasousadaspara
desviarofeixe,comoporumdeslocamentoeletrostticodofeixe,ondeofeixeentocoletadousandoum
detectordecorrente,comoumcopodeFaraday,oqualatuacomoumcontadordiretodeeltrons.Por
correlaodacontagemdeeltronsposiodofeixedevarredura(conhecidacomoa"prova"),ocomponente
transmitidodofeixepodesermedido.Oscomponentesnotransmitidospodemserobtidostantopela
inclinaodofeixecomopelousodedetectoresdecampoescuroanular.[83][84]
Experimentosinsitupodemtambmserconduzidos,taiscomoreaesinsituoutestesdedeformaode
materiais.[85]
PesquisasmodernascomMETSpodemincluircorretoresdeaberraes,[31]parareduziraquantidadede
distoronaimagem.Feixeincidentedemonocromadorespodemtambmserusados,osquaisreduzema
amplitudedaenergiadofeixedeeltronsincidentesparamenosde0,15eV.[31]

Microscpioeletrnicodebaixavoltagem
Omicroscpioeletrnicodebaixavoltagem(MEBV,ouLVEM,delowvoltageelectronmicroscope)uma
combinaodeMEV,METeMEVTemuminstrumento,oqualoperaemvoltagemdeaceleraodeeltrons
relativamentebaixa,dekV.Abaixavoltagemaumentaocontrastedeimagemoqueespecialmenteimportante
paraespcimesbiolgicos.Esteaumentonocontrastereduzsignificativamente,ouatmesmoelimina,a
necessidadedecolorao/pigmentao.Amostrasemgeralseccionadasprecisamsermaisfinasdoqueseriam
paraMETconvencionais(2065nm).ResoluesdeunspoucosnmsopossveisnosmodosMET,MEVe
MEVT.[86][87]

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Microscopiacrioeletrnica
EstatcnicapermiteosMETsseremusadosoaravisualizarestruturamoleculardeprotenasemolculas
grandes.Microscopiacrioeletrnicaenvolveavisoinalteradadeconjuntosmacromolecularesporcongellos,
colocandoosemumagradeeobtendoasimagenspordetecodeeltronsquetransmitematravsdo
espcime.[88][89]

Microscpioeletrnicodetransmissodealtavelocidade
Muitosfenmenosembiologia,qumicaecinciadosmateriaisocorremataxasquesosignificativamente
maisrpidasqueaquelasquepdemsercapturadascomtcnicaspadrodevdeos.Istolevouao
desenvolvimentodosmicroscpioseletrnicosdetransmissodealtavelocidade,tambmchamadosde
microscpioseletrnicosdetransmissodinmica(DTEM,dynamictransmissionelectronmicroscopy).[90]
Omicroscpioeletrnicosdetransmissodealtavelocidadefoidesenvolvidoparaaanlisedeprocessosno
peridicosrpidosinduzidosporlasernaescaladetempodenanosegundos.Pulsosdeeltronsde7a11nsso
produzidosporumfotoctodoestimuladoalaser.Ocanhodeltronpodeserusadotantoparaaexposiona
escaladenanosegundoscomonaoperaoestacionriaconvencional.Estemicroscpiooperadoemtrs
diferentesmodos:imagemdefundoblitlhante,paraestudodealteraesdatexturaedetranportedematerial
neutroimagemdecampoescuro,paraplasmastransientes,edifraodadereaselecionadaparaestudode
rpidastransiesdefase.Em2003,suaresoluoseencontravanafaixadeaproximadamente200nm.[91]

Limitaes
HumasriedeinconvenientesparaatcnicadeMET.Muitosmateriaisrequeremextensapreparaoda
amostraparaproduzirumaamostrafinaosuficienteparasertransparenteaoseltrons,oquetornaanlisepor
METumprocessorelativamentedemoradocomumbaixovolumedeamostras.Sendoquasetransparenteaos
eltrons,umsubstratodegrafenotemsidocapazdemostrarisoladostomosdehidrognioemolculasde
hidrocarbonetos.[92][93][94]Aestruturadaamostratambmpodeseralteradaduranteoprocessode
preparao.Tambmocampodevisorelativamentepequeno,aumentandoapossibilidadedequearegio
analisadanopodesercaractersticadetodaaamostra.Humpotencialqueaamostrapossaserdanificadapor
umfeixedeeltrons,especialmentenocasodemateriaisbiolgicos.[95]

Limitesderesoluo
Vertambm:Microscpioeletrnicodetransmissodeaberraocorrigida
OlimitederesoluoobtvelemumMETpodeserdescritodediversosmodos,etipicamenterelacionadoao
limitedeinformaodomicroscpio.Umvalorcomumenteutilizadoumvalordecortedafunode
transfernciadecontraste,umafunoquenormalmentecitadanodomniodafrequnciaparadefinira
reproduodefreqnciasespaciaisdeobjetosnoplanodoobjetopelaticadomicroscpio.Afreqnciade
corte,qmax,paraafunodetransfernciapodeseraproximadacomaseguinteequao,ondeCso
coeficientedeaberraoesfricaeocomprimentodeondadoeltron:[60]

Paraummicroscpiode200kV,comaberraesesfricasparcialmentecorrigidas("terceiraordem")eum
valordeCsde1m,[96]umvalordecortetericopodeser1/qmax=42pm[60].Omesmomicroscpiosem
umcorretorteriaCs=0.5mmeentoumcortede200pm.[96]Praticamente,asaberraesesfricasso
https://pt.wikipedia.org/wiki/Microsc%C3%B3pio_eletr%C3%B4nico_de_transmiss%C3%A3o

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suprimidasnosmelhores,microscpiosde"aberraocorrigida".Suaresoluoentretantolimitadapela
geometriadafontedeeltrons,aberraesdebrilhoecromticaesistemadelentesdaobjetiva.[31][97]
Curiosamente,arepresentaododomniodafrequnciadafunodetransfernciadocontrastepode
frequentementeterumanaturezaoscilatria[98],quepodeserajustadovariandoseovalorfocaldalente
objetiva.Estanaturezaoscilatriaimplicaquealgumasfrequnciasespaciaisformamimagensfiispelo
microscpio,enquantooutrassoreprimidas.Aocombinarvriasimagenscomdiferentesfrequncias
espaciais,ousodetcnicascomoareconstruodasriefocalpodeserutilizadoparamelhorararesoluodo
MET,deformalimitada.[60]Afunodetransfernciadocontrastepode,emcertamedida,seraproximada
experimentalmenteatravsdetcnicascomoimagensdetransformadasdeFourierdematerialamorfo,comoo
carbonoamorfo.[99]
Maisrecentemente,avanosnoprojetodocorretordeaberraestemsidohbeisemreduzirasaberraes
esfricas[100]eemobterresolutionabaixode0,5ngstrms(50pm)[97]emmagnificaesacimade50
milhesdevezes.[101]Resoluomelhoradapermiteaimagemdetomosmaislevesqueadispersoeltrons
menoseficientemente,comoostomosdeltioemmateriaisdebateriasdeltio.[102]Ahabilidadede
determinaraposiodostomosdentrodosmateriaisfezcomqueoMETAR(HRTEM)sejaumaferramenta
indispensvelparapesquisaemnanotecnologiaedesenvolvimentoemmuitoscampos,incluindocatlise
heterogneaeodesenvolvimentodedispositivossemicondutoresparaeletrnicaefotnica.[103]

Fabricantes
OsprincipaisfabricantesdeMETsincluemJEOL,HitachiHightechnologies,FEICompany(apartirdafuso
comPhilipsElectronOptics)eCarlZeiss.[104]

Vertambm
Microscpioeletrnico
Microscpioeletrnicodevarredura
Deposioinduzidaporfeixedeeltrons
Difraodeeltrons
Espectroscopiadeperdadeenergiadeeltrons
Microscopiaeletrnicadetransmissoporfiltraodeenergia
Microscopiaeletrnicadetransmissodealtaresoluo
Microscpioeletrnicodebaixavoltagem
Microscpioeletrnicoconfocaldevarredura
Microscpioeletrnicodevarreduraportransmisso
Microscpioeletrnicodetransmissodeaberraocorrigida

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(http://books.google.com/books?
id=lLx4GzA7AUC&pg=PA216
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book_result&ct=result&resnum
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ingls)Springer[S.l.]p.533.
ISBN1402090153.

Ligaesexternas
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08/07/2016

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