Técnicas de Análise dos

minerais
Espectrometria de Absorção Atómica
Espectrometria de massas por plasma indutivamente acoplado (ICP-MS)
Microscópio Electrónico de Varredura (MEV)
Microscópio eléctrico de transmissão (MET)
Difracção dos raio-x de monocristais e análise estrutural
Análise por fluorescência de raios X (frx).
Preparação de amostra
 Conceitos básicos
• Amostragem- É o processo de se selecionar e remover uma pequena parte
de um todo, desde que seja representativa, a partir da qual se procede a
análise

• Amostra – Representa toda a população de interesse. Esta pode ser

colectada em um único local ou ser uma amostra composta

• Amostra laboratorial (amostra analítica) – Amostra preparada no

laboratório de análise a partir da amostra.
Tipos de amostragem

• Água superficial

• Sólidos Particulados e gases (emissões atmosféricas)

• Materiais sólidos não pulverizados

 Preparação de amostra e separação
• A amostra deve ser convertida em uma forma adequada para que a análise química de interesse seja determinada.

• Obtenção de dados analíticos a partir de medidas na amostra pré preparada- MEDIDA

• Obtenção de dados analíticos a partir de padrões para a calibração (soluções ou materiais sólidos) –
CALIBRAÇÃO

• Interpretação de resultados obtidos a partir das operações feitas incluindo o controle de qualidade analítica por um
procedimento adequado –AVALIAÇÃO

• Resultado analítico sera usado para uma decisão em relação ao problema inicial -ACÇÃO
Tratamento de amostra
• Isto é necessário dependendo do estado em que as amostras foram colectadas e, em
alguns casos, podendo ser realizadas antes e ou depois de serem entregues ao laboratório.

• Secagem – Eliminação da humidade (por aquecimento em estufa comum, por

acondicionamento sob vácuo ou por Liofilização- congelamento seguido de vácuo com
ou sem temperatura)

• Moagem- Fragmentação da amostra com a diminuição do tamanho das particulas

conforme conveniente ao método pretendido.
• Britagem (minerais) é a primeira etapa de moagem da amostra no
geral, reduzindo para grãos de aproximadame 1 a 5 mm

• Pulverização- colocação da amostra na granulometria desejada. Pode

ser feito manualmente ou por meio de almofariz, constituido por agata,
porcelana, quartzo, ferro ou outro material, dependendo do interesse
da análise a ser realizada.

• Peneiração- É um dos métodos mais usados para classificar e avaliar

a distribuição do tamanho das particulas;
Espectrometria de Absorção Atômica

• “A espectrometria de absorção atômica (AAS) é um técnica

espectroanalítica para determinações quantitativas de elementos
baseada na absorção da radiação por átomos livres no estado gasoso”.
Princípios básicos da espectrometria de absorção
atômica:

• Gerar nuvem de átomos no estado fundamental

• Incidir na nuvem de átomos radiação com comprimento de onda

adequado

• Diferenciar sinal de absorção atômica de sinal de absorção de fundo

(absorção molecular e espalhamento de radiação)

• È o método de análise usado para determinar qualitativamente e
quantitativamente a presença de metais. usando como princípio a absorção
de radiação ultravioleta por parte dos eletrões.

• Entre os elementos analisados principais encontram-se: Ca,Na,K,Mn, Fe,

Zn, Se, Cd,Pb, e Cu.
Espectrometria de Absorção Atômica
Espectrometria de massas por plasma indutivamente acoplado (ICP-
MS)
• Espectrometria de massas pode ser entendida como uma técnica
analítica que permite a identificação da composição química de um
determinado composto isolado, ou de diferentes compostos em misturas
complexas, através da determinação de suas massas moleculares na
forma iônica, (ou seja, com carga elétrica líquida, positiva ou negativa),
baseada na sua movimentação através de um campo elétrico ou
magnético.
A espectrometria de massas também é utilizada na
determinação de razões isotópicas.

O plasma tem três funções principais:

- Fonte para obtenção dos atomos livres da amostra no estado
fundamental;
- Ionização parcial dos atomos da amostra;
- Excitação dos atomos e íons para estados mais energéticos;
Instrumentação
Microscópio eletrônico de varredura (MEV)

• É um equipamento capaz de produzir imagens de alta ampliação (até

300.000 x) e resolução. As imagens fornecidas pelo MEV possuem um
caráter virtual, pois o que é visualizado no monitor do aparelho é a
transcodificação da energia emitida pelos elétrons, ao contrário da
radiação de luz a qual estamos habitualmente acostumados.
 Princípio de funcionamento MEV
• Consiste na emissão de feixes de elétrons por um filamento capilar de tungstênio (eletrodo negativo),
mediante a aplicação de uma diferença de potencial que pode variar de 0,5 a 30 KV.

• Essa variação de voltagem permite a variação da aceleração dos elétrons, e também provoca o
aquecimento do filamento.

• A parte positiva em relação ao filamento do microscópio (eletrodo positivo) atrai fortemente os elétrons
gerados, resultando numa aceleração em direção ao eletrodo positivo.

• A correção do percurso dos feixes é realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em direção
à abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes de elétrons antes dos elétrons atingirem a
amostra analisada.
Microscópio eletrônico de transmissão
(MET)
• Um microscópio eletrônico de transmissão consiste de um feixe de
elétrons e um conjunto de lentes eletromagnéticas, que controlam o
feixe, encerrados em uma coluna evacuada com uma pressão cerca de
10-5 mm Hg.
• Um microscópio moderno de transmissão possui cinco ou seis lentes
magnéticas, além de várias bobinas eletromagnéticas de deflexão e
aberturas localizadas ao longo do caminho do feixe eletrônico.

• Entre estes componentes, destacam-se os três seguintes pela sua

importância com respeito aos fenômenos de difração eletrônica:

• Lente objetiva, abertura objetiva e abertura seletiva de difração.

- A função das lentes projetoras é apenas a produção de um feixe paralelo

e de suficiente intensidade incidente na superfície da amostra.
• Os elétrons saem da amostra pela superfície inferior com uma
distribuição de intensidade e direção controladas principalmente pelas
leis de difração impostas pelo arranjo cristalino dos átomos na
amostra.

• Em seguida, a lente objetiva entra em ação, formando a primeira

imagem desta distribuição angular dos feixes eletrônicos difratados.
Após este processo importantíssimo da lente objetiva, as lentes
restantes servem apenas para aumentar a imagem ou diagrama de
difração para futura observação na tela ou na chapa fotográfica.
Perguntas de controle

• Para que é usado a espetrometria de absorção atómica.

• Qual o princípio de funcionamento do ICP_MS

• Quais as principais diferenças entre o MET e MEV

Difracção dos raio-x de monocristais e análise estrutural
O feixe de raio-X incidente em um par de planos paralelos, P1 e P2, com uma distância interplanar “d”. Para uma direção particular onde os raios

refletidos 1’ e 2’ emergem com um ângulo q como se fossem refletidos pelos planos P1 e P2.Podemos notar que o ângulo AOC=BOC=q. Portanto,

AC=BC, e a onda no raio 2’estará em fase com 1’, isto é, crista com crista, AC+BC(=2AC), é um número inteiro do comprimento de onda

l.2AC=nl (1)onde n é um número inteiro.

Por definição:

AC/d = senq (2)

Substituindo na equação (1), temos:

2dsenq = nl

A equação acima é conhecida como a “Lei de Bragg”.

• A Cristalografia moderna tem por objetivo essencialmente o conhecimento da estrutura dos
materiais e das relações entre essa estrutura e suas propriedades.

• Através dos métodos cristalográficos podemos determinar as posições relativas de todos os átomos
que constituem a molécula (estrutura molecular) e a posição relativa de todas as moléculas na cela
unitária do cristal, ou seja, podemos saber como a estrutura molecular está arranjada no espaço.

• Além disso, outras informações importantes podem ser obtidas, como por exemplo, ângulos e
distâncias dentro da estrutura cristalina, bem como, distâncias um pouco mais longas, como as
distâncias de van der Waals entre átomos de diferentes moléculas ou ainda podemos estudar as
ligações de hidrogênio, forças inter e intramoleculares.
Monocromatização dos Raios – X
• Espectro de raios-X produzidos desta forma não apresentam utilidade para
identificação de materiais pois existem diferentes comprimentos de ondas
com intensidades relativas consideráveis, que ao atingir um material
cristalino qualquer poderiam ser responsáveis pelo fenômeno da difração.

• Desta forma é preciso selecionar um único comprimento de onda dentre os

vários gerados pelo difratômetro (normalmente seleciona-se o
comprimento de onda mais intenso que é o Kα)
• Quando utilizamos uma
amostras de cobre na
produção de raios-X, o
espectro é composto pelo
espectro contínuo e pelo
espectro característico, de
pouca utilidade prática,
conforme mostra Figura.
Trabalho de investigação em grupos
• Descreva o método de difracção de raio X seguindo os critérios

• 1- Introdução; 2 difracção e interferência;3-Simetria de cristal e Indices; 4- Difracção de raio X em

pó; 5- Determinação da estrutura cristalina: caso de estudo cúbica. E responda o questionário
abaixo:

• Descreva a geometria de um difratômetro de raios X em pó moderno. Como os vários componentes

são movidos em uma análise típica de um material em pó?

• O que é um sistema de cristal? Quantos sistemas de cristais existem? O que é uma rede Bravais?
Quantas redes Bravais existem? Como são construídos os cristais? O que é estrutura, célula unitária
e base? Dê alguns exemplos e explique a notação sistemática usando os símbolos de Pearson.
Princípio da espectrometria de fluorescência de raios-X
• A análise por espectrometria de fluorescência de raios-X é baseada no fato
de que os elementos químicos emitem radiações características quando
submetidos a uma excitação adequada.

Um átomo ao receber uma descarga de raios-X possibilita a entrada de

fótons de raios-X que atingem um elétron, este elétron é retirado da
camada atômica de menor energia, deixando um vazio
Trabalho

• Faça uma tabela resumo dos métodos analíticos para a identificação de

minerais e diga o princípio de funcionamento e onde pode ser
aplicado.