REFERENCIA: http://www.biomaterial.com.br/capitulo7part03.

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Autor: Herman Sander Mansur.

O tema de caracterizao de um material ou sistema pode ser descrito pela perturbao

causada por um feixe incidente de radiao, partculas (eltrons, nutrons etc) ou ons, e
a avaliao da resposta do objeto ao estmulo. As tcnicas de caracterizao de materiais
em 3 grandes grupos: Microscopia, Espectroscopia e anlises complementares.

Micoscopia: Microscpio de Luz (Light Microscope), Microscpio eletrnico de

varredura -MEV (Scanning electron microscope - SEM). Microscpio eletrnico de
transmisso MET (Transmission electron microscope TEM). Microscpio
eletrnico de transmisso de alta resoluo MET (High Resolution Transmission
electron microscope HREM)

MEV
O princpio da microscopia eletrnica de varredura consiste na emisso de um feixe de
eltrons por um filamento de tungstnio, que concentrado, controlado e reduzido por um
sistema de lentes eletromagnticas, diafragmas e bobinas, conforme a Fig.7.12, incide
sobre a amostra, provocando uma srie de emisses de sinais relacionados com a
interao do feixe de eltrons incidente e a amostra. Os sinais emitidos encontram-se
sob a forma de eltrons (secundrios, retroespalhados, absorvidos, transmitidos,
difratados, etc.) e de ftons (fotoluminescentes e raios-X), os quais so captados por
detectores apropriados, sendo amplificados e processados num sistema analisador
especfico para cada tipo de sinal.
Este feixe de eltrons ao focalizar um ponto da amostra gera sinais que so captados e
amplificados fornecendo um sinal eltrico que gera a imagem. Conforme o feixe varre a
rea em anlise, uma imagem virtual vai sendo formada ponto a ponto.
Na microscopia eletrnica de varredura para a obteno da imagem so captados
eltrons secundrios, eltrons retroespalhados e raios-X caractersticos.

Espectroscopia de Energia Dispersiva (EDS)

Apesar da tcnica EDS ser uma analise de espectroscopia, ela usualmente apresentada
juntamente com a microscopia eletrnica de varredura pela sua disponibilidade nestes
equipamentos. Os microscpios eletrnicos de varredura podem possuir equipamento de
microanlise acoplado permitindo a obteno de informaes qumicas em reas da
ordem de micrometros. As informaes, qualitativas e quantitativas, sobre os elementos
presentes so obtidas pela captao dos raios-X caractersticos resultantes da interao
do feixe primrio com a amostra
Este tipo de anlise, denominado espectroscopia de energia dispersiva (EDS), usa um
material semicondutor, para detectar os raios-X, e um analisador multicanal e converte a
energia de raios-X em uma contagem eletrnica. A partir do valor acumulado destas
contagens criado um espectro que representa a anlise qumica da amostra. Para a
anlise quantitativa dos elementos, deve-se utilizar padres com concentraes
conhecidas dos elementos a serem analisados.
Quando um eltron, geralmente do feixe primrio, interage inelasticamente com a
amostra removendo um eltron de uma camada interna (K, L, M, N) deixa o tomo em
um estado excitado de energia permitindo que um eltron de uma camada mais
energtica decaia para preencher o vazio. Este decaimento ocorre com emisso de
energia na forma de um fton de raios-X. Como as diferenas de energia so bem
definidas e especficas dos elementos estes ftons so denominados raios-X
caractersticos e permitem identificar o elemento que est emitindo a radiao.

ESPECTROSCOPIA
Tradicionalmente, a espectroscopia a cincia que estuda a interao da radiao
eletromagntica com a matria (gases, lquidos ou slidos).

Espectroscopia de Difrao de Raios-X (XRD X-Ray Diffraction).

Raios-X so radiaes eletromagnticas de curto comprimento de onda produzida pela

desacelerao de eltrons de alta energia ou pela transio eletrnica envolvendo
eltrons nos orbitais internos dos tomos. A faixa de comprimento de onda coberta pelos
raios-X varia de aproximadamente 10-5 a 100 ngstroms aproximadamente, porm a
espectroscopia convencional de raios-X confina-se regio de 0,1 a 25 ngstroms. A
faixa de radiao eletromagntica (Fig.7.56) que compreende estes comprimentos de
onda corresponde aos raios-X (1pm a 10nm).
Nos equipamentos analticos, os raios-X so obtidos de trs maneiras diferentes: pelo
bombardeamento de um alvo metlico com um feixe de eltrons de alta energia, pela
exposio de uma substncia a um feixe de raios-X de tal maneira a gerar um feixe
secundrio de fluorescncia de raios-X e pelo emprego de uma fonte radioativa cujo
processo de decaimento resulta em emisso de raios-X.
O XRD uma poderosa tcnica usada, primeiramente, para identificar as fases
cristalinas presentes nos materiais pois cada slido cristalino tem o seu padro nico de
difrao de raios X que pode ser usado como uma impresso digital para a sua
identificao. Permite tambm a medida de propriedades estruturais destas fases, tais
como: estado de deformao, tamanho de gro, composio da fase, orientao
preferencial e estrutura de defeitos e usada para determinao da espessura de filmes
finos e multi-camadas e arranjos atmicos em materiais amorfos e em interfaces.

Espectroscopia no Infravermelho
Regio do infravermelho no espectro eletromagntico (Fig.7.65) engloba radiaes com
nmeros de onda de 12800 cm-1 a 10 cm-1, ou com comprimentos de onda de 0,78 m
a 1000 m. Sob o ponto de vista de aplicao e instrumentao o espectro de
infravermelho convenientemente dividido em radiao do infravermelho prximo,
mdio ou distante. Os limites aproximados dessas faixas esto mostrados na Tabela.7.2.
A espectroscopia de infravermelho aplicada para anlises qualitativas e quantitativas.
Espectroscopia de reflexo interna uma tcnica para obteno de espectros de
infravermelho de amostras que so difceis de se lidar, tais como slidos de solubilidade
limitada, filmes, fios, pastas, adesivos e ps. Quando um feixe de radiao passa de um
meio mais denso para um menos denso ocorre reflexo. A frao do feixe incidente que
refletido aumenta quando o ngulo de incidncia se torna maior e acima de um certo
ngulo crtico a reflexo completa. Verifica-se, tanto na teoria quanto na prtica, que
durante o processo de reflexo o feixe atua como se ele penetrasse uma pequena
distncia dentro do meio menos denso antes de ocorrer a reflexo. A profundidade de
penetrao, que varia de uma frao at vrios comprimentos de onda, depende do
comprimento de onda, do ndice de refrao dos dois materiais e do ngulo do feixe em
relao interface. A radiao que penetra chamada de onda evanescente. Se o meio
menos denso absorve a radiao evanescente, a atenuao do feixe ocorre em
comprimentos de onda das bandas de absoro. Esse fenmeno conhecido como
refletncia total atenuada (ATR).
Sob certas condies, a radiao na regio do infravermelho que passa atravs de um
prisma feito de um material transparente ao infravermelho e com elevado ndice de
refrao (cristal de ATR) ser refletida internamente em sua totalidade. Quando uma
amostra colocada em contato com a superfcie totalmente refletora do cristal de ATR,
a onda evanescente ser atenuada em regies do espectro de infravermelho onde a
amostra absorve energia, conforme mostra a Fig.7.68. Uma propriedade da onda
evanescente que torna a tcnica de ATR poderosa que a intensidade da onda decai
exponencialmente com a distncia a partir da superfcie do cristal de ATR. distncia
que da ordem de micrmetros, faz com que a tcnica de ATR seja geralmente
insensvel espessura da amostra, permitindo a anlise de amostras espessas ou de
materiais com elevada absoro.
Espectroscopia no Infravermelho por Refletncia Difusa
A espectroscopia por reflexo difusa permite que as amostras sejam analisadas como
recebidas ou na forma de disperses em matrizes que no absorvem, tais como haletos
de lcalis (como o KBr), para anlises qualitativas. A espectroscopia de refletncia
difusa por transformada de Fourier (
DRIFTS
) oferece outras vantagens, como:
!
anlise de amostras sem qualquer (ou com uma mnima) preparao prvia;
!
elevada sensibilidade (at poucos ppm);
!
habilidade de analisar a maioria dos materiais que no refletem, incluindo materiais de
elevada opacidade ou materiais fracamente absorventes;
amostra
Radiao
incidente
Radiao
refletida
Cristal ATR
Onda evanescente
!
habilidade de analisar superfcies irregulares ou recobrimentos, tais como os
recobrimentos polimricos;
!
aplicabilidade para amostras muito grandes, atravs do uso de acessrios especiais.
Quando a radiao na regio do infravermelho direcionada para a superfcie de uma
amostra slida, podem ocorrer dois tipos de energia refletida. Uma a refletncia
especular
e a outra a refletncia difusa. O componente especular a radiao que reflete
diretamente da superfcie da amostra (ou seja, a energia que no absorvida pela
amostra). A refletncia difusa a radiao que penetra dentro da amostra e em seguida
emerge (Fig.7.69). O acessrio de refletncia difusa projetado de tal forma que a
energia
refletida de forma difusa seja otimizada e o componente especular seja minimizado. A
parte ptica coleta a radiao espalhada e a direciona para o detector de infravermelho.
A amostra normalmente granulada ou misturada como um material, como o KBr que
atua
como uma matriz no absorvente. Atravs da diluio da amostra em uma matriz no
absorvente, aumenta-se a proporo do feixe de infravermelho que refletido de forma
I=incidente
D=Difusa
S=Especular
difusa pela amostra. Tipicamente dilui-se 10% em peso de uma amostra orgnica e 5%
em
peso quando se trata de uma amostra inorgnica, em KBr.
Reflexo especular
A tcnica de reflexo especular coleta apenas aquela radiao refletida a partir da
superfcie
frontal da amostra. Uma vez que a refletncia especular sempre medida com uma
incidncia normal (ou prxima da normal), a energia refletida pequena apenas de
5% a
10% para a maioria dos materiais orgnicos (naquelas regies do espectro onde o
material
no absorve). Entretanto, a intensidade refletida muito maior nas regies de elevada
absoro. O valor da intensidade da radiao refletida normalmente muito diferente
em
relao aos espectros de transmisso.
O uso da tcnica de reflexo especular tem aumentado devido disponibilidade de
programas de transformadas de Kramers-Kronig para o processamento de dados, que
permitem que dados de reflexo especular aparentemente distorcidos possam ser
transformados em espectros do tipo transmisso em segundos.

As molculas diatmicas como H

2
,N
2
,O
2
, Cl
2
, no tem momento de dipolo eltrico
resultante, qualquer que seja a respectiva energia vibracional. Por isso, na classe das
molculas diatmicas, somente as heteronucleares, tais como HCl, CO , tm espectros
de
absoro vibracional na regio do espectro de infravermelho. No caso de molculas
poliatmicas, com dipolo eltrico resultante nulo (linear e simtrica), como por
exemplo,
CO
2
, h certas vibraes que produzem dipolos flutuantes na ligaes C=O.
Em regra, a excitao de vibraes de dobramento exige menor energia do que a de
vibraes de estiramento.
A regio do infravermelho estende-se dos 3x10
11
Hz at aproximadamente aos 4x10
14
Hz.
O infravermelho classicamente subdividido em trs regies: prximo (prximo do
visvel), mdio e distante.
Tcnicas Complementares de Caracterizao de Materiais

SITE QUORA
https://www.quora.com/What-is-the-difference-between-EDS-and-XRD-techniques
EDS utilizado para a identificao de elementos qumicos e a sua concentrao. DRX
utilizada para identificar arranjos espaciais de tomos em fases cristalinas.

Na EDS, eltrons bater para fora eltrons dos tomos, produzindo raios X de
comprimento de onda caracterstico. Estas radiografias so ento detectados para
identificar o elemento a partir do qual eles foram produzidos. Em DRX, X-raios de
comprimento de onda conhecido so utilizados para sondar a estrutura do material,
utilizando a rede como uma rede de difraco.
Para executar uma EDS que voc precisa de uma fonte de eltrons. Para DRX voc
precisa de uma fonte de raios-X.

Se voc est procurando a composio qumica, gradientes de concentrao, ou

segregao de soluto, use EDS.

Se voc est procura de distribuio de fases, campos de deformao de trelia ou

contedo defeito armazenado, use DRX.

DRX o espalhamento elstico dos raios X e Si No absoro de energia ocorre, mas

uma disperso direcional a sada , portanto, o nmero de contagens de raios-X com
ngulo de difrao.
EDX espectroscopia por disperso X = raio de energia. Esta uma taxa de absoro de
raios-X por eltrons em tomos que emite e de raios-X com uma energia diferente
quando eltron retorna ao estado fundamental. A sada o nmero de animado X = RY
com energia, geralmente eV.

Por DRX voc tem a estrutura cristalina e informaes de cristal,

EDX d-lhe a composio ea percentagem de cada elemento

XRD uma tcnica na qual so observados de difraco de raios X com a rede

cristalina. raios X os quais so difractados pelo ngulo de Bragg so difractada e
combinam-se para dar um padro que mostra sobre os planos no cristal. difractograma
de raios X resultado e a posio e a intensidade dos picos so observados. Em suma
DRX utilizada para determinar a estrutura de cristal e grau de crystallanity de um
material.
Enquanto EDX uma tcnica de absoro como explicado por Miroslav. Aqui
observamos a absoro de raios x no material e, em seguida, emisso de outros raios X
que so resultou devido interao do incidente raios X com os eltrons. Os raios
emitidos tm uma energia especfica, dependendo dos elementos presentes no material e
so analisados por espectrmetro. Por este mtodo determinada a composio
elementar do material.

Resumidamente: com DRX possvel identificar os produtos feitos de elementos; com

EDX possvel identificar elementos qumicos. Os elementos qumicos so todos
possveis de identificar porque EDX um espectro de absoro de elementos e DRX
identificar apenas produtos no amorfos

Eles so fundamentalmente diferentes mtodos de caracterizao.

Basicamente DRX tentativas para caracterizar o material atravs da anlise da estrutura
cristalina, e compar-lo contra uma base de dados de estruturas conhecidas.
Prs: Com base no instrumento e a amostra, pode fornec-lo com um monte de
informaes sobre o material, tais como fase, tamanho de gro, textura,% crystallinty, e
stress.
Contras: sem dentes contra os materiais amorfos. Voc precisa ter uma idia geral
sobre a possvel composio do material. Aproximando-se uma amostra absolutamente
desconhecido apenas com DRX pode ser confuso.
EDS uma tcnica de anlise elementar. Aqui voc estimular a sua amostra por eltrons
ou ftons de alta energia, e detectar o espectro de ftons de sada.
Prs: Esta uma tcnica de anlise elementar. Em comparao com DRX-lo requer
muito pouca experincia em cincia de materiais e menos informaes iniciais sobre a
amostra. Ele geralmente combinado com microscopia eletrnica de varredura, o que o
torna uma ferramenta verstil para a aquisio de um mapa composio da amostra, ou
obter anlise elementar de rea especfica.
Contras: sofre de inmeros artefatos, que qualquer bom operador deve conhecer. Alguns
artefactos so gerais, e alguns so especficos da mquina em uso. Ela tem uma
resoluo espectral pobres, em comparao com o seu primo, WDS. Tambm sofre de
uma resoluo espacial pobre.

Anlise de Energia Dispersiva de raios-X (EDX) pode ser utilizada para investigar as
propriedades e as composies de uma ampla gama de tipos de amostras. EDX
utilizado para a identificao de elementos qumicos e a sua concentrao.

Difraco de Raios X (XRD) utilizado para a identificao da fase. Ele utilizado

para identificar arranjos espaciais de tomos em fases cristalinas.

Em EDX, eltrons bater para fora eltrons dos tomos, produzindo raios X de
comprimento de onda caracterstico. Estas radiografias so ento detectados para
identificar o elemento a partir do qual eles foram produzidos. Em DRX, X-raios de
comprimento de onda conhecido so utilizados para sondar a estrutura do material,
utilizando a rede como uma rede de difraco.

Para executar uma EDX voc precisa de uma fonte de eltrons. Para DRX voc precisa
de uma fonte de raios-X.

Se voc est procurando a composio qumica, gradientes de concentrao, ou

segregao de soluto, use EDX.
Se voc est procura de distribuio de fases, campos de deformao de trelia ou
contedo defeito armazenado, use DRX.