MAV 1734 - Caracterização de Materiais

Lista 2 – Microscopia eletrônica de varredura (MEV)

1) Diferencie resolução e contraste em uma

micrografia de microscopia eletrônica de varredura.

2) Esquematize a estrutura de um microscópio

eletrônico de varredura e defina a funcionalidade de
cada componente.

3) O canhão eletrônico de um MEV pode ser

termoiônico (tungstênio ou hexaboreto de lantânio)
ou emissão de campo. Sabe-se que há diferenças em
relação a cada um deles em termos de configuração,
constituição do filamento, temperatura de operação,
tempo de vida útil, diâmetro inicial do feixe, entre
outros, faça um paralelo com as variáveis descritas e
diferencie o princípio de funcionamento de cada um
deles.
7) Explique as diferenças entre as imagens obtidas
4) O sistema de lentes do microscópio eletrônico de
por Elétrons secundários (SE) e Elétrons
varredura é constituído por lentes magnéticas. Em
retroespalhados (BSE) em MEV. Qual a diferença em
relação à estes elementos responda:
termos de energia destes dois sinais.
a) Descreva a configuração de uma lente magnética.
b) Explique qual a vantagem em ser utilizada estas
8) Explique a origem da influência do número
lentes sendo que lentes elétricas também poderiam
atômico nos sinais de SE e BSE. Como se dá o
ser utilizadas.
contraste de cada um destes sinais.
c) qual a função da lente condensadora e da lente
objetiva.
9) Faça diagramas de volume de interação explicando
d) Por que a lente magnética consegue desviar o feixe
a influência que a tensão do feixe e o número
de elétrons?
atômico promovem sobre sua dimensão.
e) Explique como ocorre a redução do diâmetro do
feixe de elétrons pela lente condensadora.
10) Explique como ocorre a captura dos sinais SE e
BSE bem como a configuração de cada detector.
5) Conceitue: profundidade de campo, distância focal
e distância de trabalho.
11) Como está relacionada a profundidade de
interação (Ha) com as características do feixe e da
6) A figura a seguir mostras alguns dos sinais gerados
amostra. Dê exemplos para dois elementos
(por interação elástica e inelástica) pela interação do
diferentes.
feixe primário com a amostra. Descreva os
mecanismos de origem de cada sinal e quais
12) Explique a origem das aberrações esféricas,
informações eles podem fornecer.
cromáticas e astigmatismo e como esses artefatos
podem ser corrigidos.

13) A micrografia a seguir mostra o aumento de

5000x para uma liga de Al (z=13) e Ni (z=28).
 17) As micrografias mostradas a seguir são de
uma liga de Nióbio (z=41) e Níquel (z=28)
sintetizada a partir do pó dos elementos. As
setas na micrografia da direita indicam contraste
de fase devido à precipitação de um dos
elementos durante a sinterização. As imagens
são da mesma região da amostra. Responda:

a) Por que há diferenças entre as duas imagens,

se pertencem à mesma região da amostra?
a) Diga como a imagem foi obtida.
b) Por que a região clara na imagem da direito
b) Como é possível identificar as regiões claras e
não foi identificada na imagem da esquerda?
escuras da imagem em função dos elementos da liga?
Diga em qual região está a maior concentração de c) Qual elemento estaria precipitado na liga
Níquel e de Alumínio.
mostrada na imagem da direita indicado pela
seta? Explique sua escolha.
14) Explique como a tensão do feixe primário e o
número atômico podem influenciar no volume de
interação.

15) A imagem a seguir foi feita com elétrons

secundários explique a existência de contraste nesta
imagem.

16) O feixe de elétrons primário é produzido no

canhão eletrônico com uma tensão de
aceleração que pode chegar a 30 kV. No
momento que sai do canhão eletrônico o
diâmetro do feixe é da ordem de milímetros e
posteriormente é reduzido até a ordem de
nanômetros. Explique como o diâmetro do feixe (G.B. Costa, 2008 - UFPA)
é reduzido.
18) Qual a origem do sinal utilizado para a
análise de EDS e WDS?
19) Diferencie raios-X característicos e contínuo,
em termos de origem e energia.
20) Com base no diagrama mostrado a seguir
explique a origem das radiações das séries K, L e
M.
21) Explique de acordo com a lei de Mosley
(Gráfico a seguir) por que não se obtém
transições da série K de alguns átomos?
22) Explique a influência da tensão do feixe
primário sobre a geração de raios-X.
23) Defina resolução espacial e explique porque
a resolução espacial do EDX é baixa em relação
ao diâmetro do feixe.
24) Utilizando a equação de resolução espacial
faça uma tabela mostrando a relação entre a
tensão de aceleração de 10, 15, 20 e 25 KeV para
os elementos Silício, titânio e cobre para a
radiação Kα mantendo a energia de ionização 1,5
vezes a energia de excitação. Explique a
diferença.
25) Descreva os elementos do detector de EDS e
WDS bem como sua funcionalidade.
26) Faça uma tabela comparativa entre as
características em termos de resolução e
limitações para o EDS e WDS.
27) Quais os tipos de análise/resultado que
pode-se ter a partir de uma análise de EDS?
Explique cada uma delas. Dê exemplos.