2

Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica

PDMS

Em 1907, J.J. Thomson construiu o primeiro espectroscpio de massa, no

qual se obtinha imagens com forma parablica. O instrumento foi usado na
realizao do seu trabalho sobre a anlise de raios positivos [6]. Este pesquisador
foi agraciado com o Prmio Nobel em fsica em 1906 por ter descoberto o eltron
em 1898. Um dos seus alunos, F.W. Aston, utilizou a nova tecnologia de
espectrometria de massa na descoberta de que muitos elementos so encontrados

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naturalmente como istopos estveis [7], por esse trabalho ele tambm ganhou o
Prmio Nobel em qumica em 1922. A aplicao dessa nova tcnica em
petroqumica [8] revelou, atravs da anlise de lubrificantes e outros fluidos
associados com os sistemas de vcuo que os sinais de rudo de fundo em espectros
de massa estariam relacionados a hidrocarbonetos e outras molculas orgnicas.
Uma breve reviso da histria da espectrometria de massa est referenciada em
[9].
Atualmente, a espectrometria de massa (MS Mass Spectrometry) [10]
uma tcnica microanaltica utilizada para obter informao do peso molecular e de
caractersticas estruturais da amostra. A espectrometria de massa uma das mais
importantes ferramentas analticas disponveis aos cientistas, j que capaz de
fornecer informao sobre: i) a composio elementar de amostras; ii) a estrutura
molecular; iii) a composio qualitativa e quantitativa de misturas complexas; iv)
a estrutura e a composio de superfcies slidas e as propores si otpicas de
tomos em amostras [11].
Na espectrometria de massa, alguma forma de energia transferida
amostra para causar a sua ionizao. O requisito bsico para uma anlise por
espectrometria de massa a formao de ons livres em fase gasosa. O alcance e a
utilidade do mtodo de espectrometria de massa ditado pelo processo de
ionizao. A aparncia do espectro de massa de uma espcie molecular
altamente dependente do mtodo de ionizao usado. Os agentes ionizantes

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

empregados em espectrometria de massa podem ser distribudos em duas

categorias: as que requerem a amostra em fase gasosa e os agentes que provocam
dessoro em amostras slidas ou liquidas [11]. A vantagem dos ltimos que so
aplicveis a amostras no volteis e termicamente instveis. Este o caso da
tcnica de espectrometria de massa com dessoro de plasma (Plasma Desorption
Mass Spectrometry - PDMS).

2.1
Espectrometria de Massa
Um resumo do processo integral de anlise pela espectrometria de massa
clssica, culminando num espectro de massa tpico freqentemente encontrado na
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literatura mostrado na figura 2.1, onde M representa as molculas de um

composto puro na fase gasosa. Aps um processo de ionizao, M+ se decompe,
criando ons de massas menores que, detectados, geram o espectro de massa.
Ionizao

m/z 29

m/z 27
m/z 57

M
amostra
m = 58

a. anlise de massa
de todos os ons
b. aquisio de dados
c. grfico de barras

M+
m/z 43

e absoro de
excesso de energia

m/z 15

decomposio
unimolecular de M+

15 27

57

m/z

espectro de massa

Fig. 2.1 Anlise por espectrometria de massa

Para que o processo integral possa acontecer, preciso que o instrumento
contenha os componentes adequados. A figura 2.2 mostra um diagrama de blocos
dos componentes principais de um espectrmetro de massa. Como podemos ver
na figura, so trs os componentes principais: uma fonte de ons, o analisador de
massa e o detector. Na fonte de ons, os componentes de uma amostra so
convertidos em ons, pela ao de um agente ionizante, os ons positivos ou
negativos so imediatamente acelerados em direo ao analisador de massa. A
funo do analisador de massa separar tais ons de acordo com a sua relao
massa-carga (m/z). Os espectrmetros de massa podem ser classificados em vrias

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

categorias dependendo da natureza do analisador de massa. Finalmente um

detector recebe os ons que foram separados pelo analisador, transformando a
corrente de ons em sinais eltricos que so processados, armazenados na
memria de um computador e mostrados em uma tela.
1 0-5 a 1 0-8 t o r r

Fonte
de
ons

Analisador
de
Massa

Bomba de
Vcuo

Tratamento
de dados

Amostras

Detector

Processador
de
sinais

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m/z

Espectro de massa

Fig. 2.2 Componentes bsicos de um espectrmetro de massa

2.2
Analisador de Massa
tomos e molculas neutras devem ser ionizados para que possam ser
analisados por espectrometria de massa. Os analisadores dependem em geral da
acelerao dos ons, por isso os separam de acordo com a relao massa-carga
(m/z), e no apenas em funo de suas massas.
As trs principais caractersticas de um analisador so: o limite de massa, a
transmisso inica e o poder de resoluo em massa. O limite de massa significa o
valor mais alto de massa que pode ser medido; geralmente expresso em daltons
(Da) para um on de carga unitria, i.e, z = 1. A transmisso a razo entre o
nmero de ons que chegam ao detector e os ons produzidos na fonte. O poder de
resoluo a capacidade de produzir dois sinais distintos para dois ons com uma
diferena de massa pequena. [12,13]; pode ser quantificado por R = m/m onde
m a menor diferena de massa capaz de ser resolvida, ou ainda, m a largura
de um pico meia altura (FWHM Full Width at Half Maximum)

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

Existem diversos dispositivos para a separao de ons com diferentes

valores de massa-carga. O analisador deve permitir a passagem de um nmero de
ons suficiente para fornecer uma corrente de ons facilmente mensurvel. Neste
trabalho ser considerado apenas a analisador de massa do tipo tempo-de-vo
(time-of-flight, TOF).
2.2.1
Espectrometria por Tempo de Vo (TOF-MS)
Os analisadores de massa por tempo de vo foram descritos por Wiley e
McLaren em 1955 [13,14]. Eles conseguiram reunir os requisitos de focalizao
espacial e de energia dos ons, tornando vivel o primeiro instrumento comercial
TOF-MS. [12] (Ver tambm [15,16]).
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O princpio de operao do TOF-MS [17-20] envolve a medida do tempo

que um on leva para viajar da fonte de ons at o detector. Todos os ons recebem
o mesmo acrscimo de energia cintica (e. g., 10 kV) durante uma acelerao
rpida (na faixa de 0.1 a 1 s), mas como eles tm diferentes valores de m/q so
progressivamente separados em grupos de acordo com a sua velocidade (e
portanto segundo a quantidade m/q) a medida que atravessam a regio livre de
campo entre a fonte de ons e o detector. Os ons batem seqencialmente no
detector em ordem de valor crescente de m/q, produzindo pulsos eltricos. A
seguir apresenta-se as equaes bsicas (axiais) para tempo de vo (TOF), junto
com um esquema (para PDMS) definindo as diferentes regies e parmetros
utilizados (fig. 2.3).
Amostra

FF

252

Cf

d1
FF

Start
signal

Stop
signal

Fig. 2.3 Esquema de um espectrmetro TOF linear (252 Cf - PDMS)

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

Fora e acelerao

a=

F Eq
=
m m

(1)

Velocidade e tempo

v = adt =

qE
dt
m

(2)

se E = constante,

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v = v0 +

Eq
t
m

(3)

onde v e v0 so as velocidades final e inicial do on.

O tempo necessrio para o on atravessar a regio de acelerao :

t1 =

v v0 m
E q

(4)

A energia potencial eletrosttica determina o aumento de energia cintica

do on na regio de acelerao:
1
qU = m v 2
2

desprezando-se a velocidade inicial v0 , a velocidade na regio de vo livre tornase proporcional ao inverso da raiz quadrada da massa:

v=

2qU
m

(5)

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

Tempo de vo total
TOF = t1 + tL

tL =

(6)

L
v

tL = L

m
2 qU

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onde:
t1

tempo em que o on acelerado

tL

tempo que o on viaja a velocidade constante

O poder de resoluo de um ni strumento TOF funo do comprimento

(L) do tubo de vo, da voltagem de acelerao e das distribuies iniciais de

velocidades e espacial dos ons [16]. Na situao ideal, o pacote inicial de ons
deveria ter uma largura infinitesimal e ser monoenergtico, mas na prtica, devido
s vrias velocidades de formao dos ons e variaes nas energias trmicas dos
mesmos, o pacote tem uma largura finita que impedir que todos os ons com m/q
diferentes sejam detectados seqencialmente.
O poder de resoluo experimental determinado levando em conta todas
as causas de alargamento dos picos de tempo (t). Para isso, so consideradas as
disperses das medidas de tempo de vo de ons de mesma massa. Vrias so as
causas destas disperses, entre elas esto as incertezas sobre o instante de
formao de um on, a sua localizao inicial na regio de extrao, a sua energia
cintica inicial, os efeitos geomtricos do espectrmetro, como a posio da grade
de acelerao, e as flutuaes do campo eltrico acelerador. Na Fig. 2.4 esto
esquematizadas as situaes na regio de acelerao que contribuem para o
alargamento dos picos de tempo de vo dos ons, de mesma razo m/q,
dessorvidos de uma superfcie [16].

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

10

Fig. 2.4 Causas de perda de resoluo em massa. Ref [16].

A fig. 2.5 resume as causas de perda de resoluo em massa, indicando seu
efeito na forma do pico. No foi levada em considerao a deformao de picos

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devida aos mltiplos istopos em espectros de baixa resoluo.

Fig. 2.5 Efeitos da emisso sobre a forma do pico. Ref. [16].

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

11

O poder de resoluo motivo de desenvolvimento freqente em TOF-MS

[21]. No momento, o poder de resoluo mximo em instrumentos disponvel
comercialmente, com 2 metros de comprimento, na regio de vo livre, superior
a 10000; onde a largura do pico medida em FWHM (Full Width at Half
Maximum) [12].
Trs fenmenos fundamentais so responsveis pelo poder de resoluo
baixo:
a) O alargamento nos tempos de vo devido s diferenas nas energias cinticas
iniciais dos ons. Pode ser corrigido com tcnicas de extrao atrasada (DE
Delayed Extraction) ou espelhos eletrostticos.
b) O alargamento nos tempos de vo devido s diferentes posies de onde os
ons saem quando so emitidos da fonte, i.e., o alargamento espacial. Este
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efeito desprezvel no caso de amostras slidas e se os efeitos da emisso

coletiva (pluma) no so muito importantes.
c) O que chamado de turn-around time (emisso inica em sentidos opostos,
para alvos gasosos) que pode ser visto como a diferena de tempo de vo entre
dois ons de massas iguais saindo do mesmo plano na fonte e se
movimentando com as mesmas velocidades iniciais mas em direes opostas.
2.2.2
Comparao do TOF com outras tcnicas
Como j foi dito, os ons so separados no analisador de massa de acordo
com a razo massa-carga. A separao pode ser conseguida aplicando campos
magntico e/ou eltrico apropriados. Os ons so separados em funo da sua
energia, momento ou velocidade. Em um instrumento de setor magntico, a
separao baseada no momento e energia dos ons [22]. Em um instrumento
TOF os ons so acelerados a uma energia dada e logo separados de acordo com a
sua velocidade [23]. Os instrumentos de quadrupolo utilizam potenciais de
corrente contnua e radiofreqncia para separar diretamente os ons de acordo
com a sua relao m/q [24]. Recentemente, o espectrmetro de Ressonncia
Ciclotrnica de ons de Transformada de Fourier (FT - ICR) tornou-se uma

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

12

tcnica de espectrometria de massa poderosa baseada no confinamento de ons

[25, 26].
As vantagens e desvantagens de cada um dos analisadores de massa
citados esto na tabela 1.1; estes dados foram transcritos da referncia [27], e se
referem a instrumentos padro.
Tabela 2.1 Caractersticas de alguns analisadores de massa

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Caracterstica

Setor Magnt.

TOF

Quad.

FT-ICR

* Limite de Massa

Bom

Excelente

Regular

Bom

* Poder de Resoluo

Bom

Regular

Regular

Excelente

* Exatido em massa

Boa

Boa

* Sensibilidade

Boa

Excelente

Boa

Boa

* Velocidade de Anlise

Boa

Excelente

Boa

Boa

* Faixa dinmica

Excelente

Regular

Bom

Regular

* Potencial para MS/MS

Excelente

Regular

Excelente

Excelente

* Facilidade de Operao

Regular

Boa

Boa

Regular

Fonte: ref. [27]

2.3
Tcnicas de Ionizao
Como mencionado no incio do captulo, uma das trs unidades bsicas de
um espectrmetro de massa a fonte de ons. Na tabela 1.2 apresenta-se um
resumo geral das tcnicas de ionizao utilizada em espectrometria de massa
molecular juntamente com algumas de suas caractersticas. Esta tabela mostra que
estas tcnicas subdividem-se em dois grupos segundo o estado da amostra: no
primeiro caso a amostra j se encontra em fase gasosa e no segundo produz-se
dessoro inica a partir da fase condensada (slida ou lquida) da amostra.

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

13

Uma vantagem das fontes por dessoro, que so aplicveis a amostras

no volteis e termicamente instveis.
Tabela 2.2 Tcnicas de Ionizao para Espectrometria de Massa Molecular
Tipo Bsico
Fase gasosa

Dessoro

Nome

Agente Ionizante

Impacto de eltrons (EI)

Eltrons energticos

Ionizao qumica (CI)

ons de um gs reagente

Ionizao por campo eltrico (FI)

Eletrodo em potencial eltrico alto

Luz sncrotron

Ftons

Dessoro por campo eltrico (FD)

Eletrodo em potencial eltrico alto

Ionizao por Electrospray (ESI)

Campo eltrico intenso

Ionizao/dessoro

por

laser, Feixe de laser (UV)

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assistido por uma matriz (MALDI)

Fragmentos de fisso do

252

Dessoro de plasma (PDMS)

Cf (MeV)

Bombardeamento por tomos rpidos Feixe de tomos energticos ( 5 KeV)

(FAB)

Emisso de ons secundrios (SIMS)

Ionizao

trmica

Feixe de ons energticos (5-15 KeV)

[thermospray] Temperatura alta

(TS)
-

Impacto de ons pesados (HIMS)

Feixe de ons de aceleradores (MeV)

Fonte: ref. [11,16].

2.3.1
A Tcnica PDMS
Em 1973 Ronald Macfarlane e colaboradores, no Laboratrio Ciclotron da
Universidade Texas A&M, usaram fragmentos de fisso energticos de uma fonte
radiativa do istopo 252 de califrnio para bombardear uma amostra de acetato de
sdio, e produziram um espectro de massa de tempo de vo [28,29]. Eles
consideraram, este fato como um evento histrico, e criaram a tcnica analtica
252

Cf PDMS, em que os fragmentos de fisso do

252

Cf so usados para produzir

ons moleculares de compostos difceis de serem analisados pelas outras tcnicas

de ionizao (i.e., aqueles no volteis e termicamente instveis) [30,31].
Chamaram este mtodo de Plasma Desorption Mass Spectrometry porque se

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

acreditava que os fragmentos de fisso do

252

14

Cf produzissem local e

instantaneamente um plasma na amostra.

Folha de
Converso

Detector
Start

e-

252

Cf

Porta
alvos

Amostra

Fragmentos
de fisso

Detector
Stop
Tubo de vo

20 kV

Amplificador

Amplificador
CFD

TDC

CFD

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Espectro de massa

Fig 2.6: Diagrama esquemtico de um espectrmetro para PDMS

Os componentes bsicos de um instrumento
na Fig. 2.6. A fonte

252

252

Cf-PDMS so apresentados

Cf, de 10 a 30 Ci, produz pares de fragmentos de fisso

(FF), emitidos em direes opostas. Um dos dois fragmentos de cada par

detectado diretamente ou atravs de eltrons secundrios emitidos por uma folha
que ele atravessa. O sinal eltrico amplificado pelo sistema de deteco start.
O segundo fragmento de fisso incide sobre a amostra, praticamente no mesmo
instante que o primeiro sobre o detector. Os ons desorvidos da amostra so
acelerados a energias de 10 a 20 keV, enviados ao tubo de tempo-de-vo, no fim
do qual so detectados, produzindo os sinais "stop". Um cronmetro do tipo TDC
(time to digital converter) usado para determinar o tempo de vo, definido como
o intervalo de tempo entre os sinais "start" e "stop". O espectro de massa
produzido por registro e acumulao dos resultados de tempo de muitos ciclos
semelhantes. Para uma fonte de 10-Ci haver de 1200 a 1500 desses ciclos por
segundo, dependendo da geometria do instrumento [32]. A anlise por impacto de
fragmentos de fisso pode ser feita por dois modos: por reflexo se o alvo for
grosso (o FF incide na face a ser analisada) ou por transmisso se o alvo for fino
(o FF atravessa a amostra).

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

A fonte de

252

Cf o cerne da tcnica

252

15

Cf-PDMS. Ela uma fonte de

energia pulsante, porttil e compacta, sanduichada entre duas folhas, uma de

nquel e a outra de tntalo. O nucldio

252

Cf tem uma meia vida de 2,65 anos,

decaindo espontaneamente. A sua principal emisso de partculas alfa (97%),

porm para a tcnica PDMS de interesse apenas a frao do seu decaimento por
fisso (3%). Neste ltimo caso, o ncleo do

252

Cf se fissiona simultaneamente em

dois fragmentos assimtricos de alto estado de carga, sendo que cada fragmento
de um par sempre emitido em direo (quase) oposta do outro. Um decaimento
106

Tc e

de 104 e 79 MeV, respectivamente [31]. Alm disso, o

252

por fisso tpico corresponde emisso simultnea de

142

Ba com energias

Cf um emissor de

neutrons: uma fonte de 10Ci de atividade tem um fluxo de aproximadamente 106

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nutrons/s [32]; em mdia, so emitidos 3,86 neutrons por evento de fisso [16].

2.4
Preparao de Amostras
A preparao de amostras uma etapa crtica em todos os tipos de
espectrometria de massa de ons secundrios. Em PDMS, as molculas da amostra
tm que estas distribudas homogeneamente na forma de um filme fino e
depositadas sobre uma superfcie condutora plana. Para a obteno de espectros
TOF de boa qualidade desejvel que o depsito seja o mais regular possvel. O
procedimento consiste em dissolver a amostra, depositar uma pequena quantidade
da soluo sobre um suporte condutor e sec-la. Algumas tcnicas de obteno de
filmes so descritas a seguir, a escolha de qual utilizar depende da natureza da
amostra e do propsito da anlise.
2.4.1
Electrospray
A deposio de amostras por eletrospray forma uma camada homognea
de microcristais de igual tamanho. O mtodo foi proposto para alcanar uma
rpida evaporao e para minimizar efetivamente os efeitos de segregao da
amostra. Nesta tcnica, uma pequena quantidade de mistura amostra-solvente (de

Captulo 2: Breve Reviso de Espectrometria de Massa e da Tcnica de PDMS

16

fcil volatilizao) percolada num capilar (de ao inoxidvel ou vidro) no qual

se introduz um eletrodo. A deposio acontece aplicando alta tenso entre o
eletrodo e o porta-amostras que um suporte metlico. O alto campo eltrico
criado na ponta do capilar causa a emisso de pequenas gotas carregadas. O
solvente nessas gotas se evapora durante o "spray" formando uma camada seca de
pequenas partculas ( 1 m de dimetro) sobre o suporte metlico.
2.4.2
Deposio por "Spin" (Spin-casting)
A

deposio

por

rotao

bem

conhecida

em

tratamento

de

semicondutores, onde ela utilizada para aplicar dopantes ou polmeros sobre as

superfcies dos semicondutores. O aparelho empregado chamado spinner. Uma
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gota da soluo da amostra pingada sobre um suporte enquanto ele gira em alta
velocidade. O solvente deve ter alta volatilidade para evaporar durante o processo
de rotao deixando um filme relativamente uniforme sobre o suporte. A
espessura do filme controlada regulando a velocidade de rotao e a
concentrao da soluo.
2.4.3
Evaporao em Vcuo
Os experimentos do presente trabalho foram realizados utilizando amostras
obtidas por este mtodo. A evaporao em vcuo indicada para preparar filmes
de compostos estveis termicamente. Amostras de sais, como haletos alcalinos, e
aminocidos podem ser evaporadas diretamente sobe um filme fino de alumnio,
carbono, ou mylar aluminizado, para dessoro por transmisso. O composto a ser
evaporado colocado em um cadinho dentro de uma cmara de vcuo; acima do
cadinho posto o substrato sobre o qual se deseja depositar o filme. O processo de
produo de filmes por evaporao consiste no ciclo completo de evaporao,
trnsito e condensao do material sobre o substrato. Duas vantagens dessa
tcnica so a uniformidade e a no introduo de solventes.