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PLANO DE ENSINO
OBJETIVOS
Reconhecer o princípio de operacional dos sensores de proximidade utilizados no meio industrial.
Especificar sensores de proximidade para aplicações industriais.
Integrar sensores de proximidade com os demais equipamentos utilizados em processos industriais automatizados.
Operar sensores de proximidade utilizados em aplicações industriais.
Reconhecer o princípio operacional dos sistemas de medição em processos industriais (vazão, temperatura, pressão, nível, pH).
Especificar sistemas de medição para aplicações em processos industriais.
Operar sistemas de medição utilizados em processos industriais.
Integrar sistemas de medição com controladores industriais tipicamente utilizados em processos industriais.
Operar e configurar controladores industriais utilizados em processos industriais.
Ajustar e calibrar sistemas de medição.
Determinar o resultado da medição utilizando instrumentos de medição de grandezas envolvidas em processos industriais em
associação com os conceitos e definições da metrologia.
Reconhecer os princípios construtivos das diversas válvulas de controle utilizadas em processos industriais.
Reconhecer as características operacionais das diversas válvulas de controle utilizadas em processos industriais.
Especificar válvulas para controle de processos industriais.
Trabalhar em equipe no estudo, resolução e apresentação de soluções referentes a problemas de engenharia.
EMENTA
Princípios físicos, construtivos operacionais e de especificação de sensores de proximidade utilizados em sistemas de automação
industrial. Características metrológicas de sistemas de medição. Princípios físicos, construtivos operacionais e de especificação de
sistemas de medição de grandezas físicas relacionadas ao controle de processos industriais. Princípios construtivos, características
operacionais e especificação de válvulas para controle de pressão e vazão em processos industriais.
REFERÊNCIAS
Referências Básicas:
AMERICAN NATIONAL STANDARDS INSTITUTE. Instrumentation symbols and identification. North Carolina: ISA, 1992.
BEGA, Egídio Alberto. Instrumentação industrial. Rio de Janeiro: Interciência, 25 cm. 541 p.
BEGA, Egídio Alberto. Instrumentação Aplicada ao Controle de Caldeiras. Editora Interciência.
GONÇALVES JÚNIOR, Armando Albertazzi. Metrologia. Florianópolis: LAB METRO, 1995-2001. 2 v.
ALVES, José Luiz Loureiro. Instrumentação, Controle e Automação de Processos. Editora LTC.
Referências Complementares:
BOLTON, W. Instrumentação & controle. Curitiba: Hemus, 2002. 197 p.
FIALHO, Arivelto Bustamante. Instrumentação industrial: conceitos, aplicações e análises. São Paulo: Érica, 2002. 276 p.
JOHNSON, Curtis D. Process control instrumentation technology. 5th ed. Upper Sadle River: Prentice Hall, 1997. 638 p.
SOISSON, Harold E. Instrumentação industrial. São Paulo: Hemus, [19--]. 3 v.
Sistema de Avaliação:
A aprovação nas disciplinas dar-se-á por média ou com exame final.
§ 1º – Considera-se, para todos os efeitos, Média Parcial (MP) como a média aritmética de duas ou quatro notas
parciais, dependendo do regime letivo ser semestral ou anual respectivamente, e cada Nota Parcial (NP) como
sendo resultante de pelo menos uma avaliação prevista no plano de ensino de cada disciplina.
§ 2º – Considerar-se-á aprovado por média, o aluno que tiver freqüência igual ou superior a 75% (setenta e cinco
por cento) e média parcial igual ou superior a 7,0 (sete), consideradas toda as avaliações previstas no plano de
ensino da disciplina, calculada pela seguinte expressão:
MP = Σ NP ≥ 7,0
n
Onde:
MP = média parcial
NP = nota parcial
n = nº de notas parciais
§ 3º – A Média Final do aluno aprovado por média será igual à sua Média Parcial.
§ 4º – O aluno com Média Parcial inferior a 4,0 (quatro) e/ou com freqüência inferior a 75% (setenta e cinco por
cento), será considerado reprovado na disciplina.
§ 5º – O aluno com Média Parcial igual ou superior a 4,0 (quatro), com freqüência igual ou superior a 75%
(setenta e cinco por cento) e que não tenha sido aprovado por média terá direito a prestar exame final.
§ 6º – No caso do parágrafo anterior, considerar-se-á aprovado com exame final, o aluno que tiver freqüência
igual ou superior a 75% e obtiver Média Final (MF) igual ou superior a 5,0 (cinco), calculada pela seguinte
expressão:
MF = MP + EF >= 5,0
2
Onde:
MF = média final
MP = média parcial
EF = exame final