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Cap 17
Cap 17
Wilson Sant’Ana
Universidade Federal de Itajubá
Bibliografia
●
SHACKELFORD, James F. Ciência dos materiais. 6 ed. São
Paulo: Pearson Prentice Hall., cap 17.
●
CALLISTER JUNIOR, William D; RETHWISCH, David G.
Fundamentals of Materials Science and Engineering: An
Integrated Approach. 3rd Edition. Wiley., seções 12.10 até
12.15.
●
Condutividade intermediária entre os metais e os isolantes.
Ef Ef
Ef
3 ELT052A -Figura:
AulaShackelford
13 – Cap 17: Materiais Semicondutores 08 e 13/nov/2022
Semicondutor puro (cristal singular) x composto
singular composto
●
Elementos
●
Semicondutores compostos são formados
do grupo IV: por elementos próximos ao grupo IV.
Si e Ge ●
Compostos III-V: um elemento com valência 3 e
(valência 4). outro com 5 (4 na média): GaAs, GaN;
●
Compostos II-VI: um elemento com valência 2 e
outro com 6 (4 na média): CdS.
●
Elétrons orbitando ao redor do núcleo;
●
Elétrons dispostos em camadas;
●
Quanto mais próximo do núcleo, fica
mais difícil para esse elétron deixar o
átomo (seria preciso muita energia);
●
Da mesma forma, os elétrons da camada
mais externa necessitam bem menos
energia para deixar o átomo.
Camada de valência
●
Ga tem 3 elétrons
na camada de
valência:
●
trivalente
●
As tem 5 elétrons
na camada de
valência:
●
pentalente
6 ELT052A - Aula 13 – Cap 17: Materiais Semicondutores 08 e 13/nov/2022
Ligações atômicas
●
Exceto os gases nobres, todos os outros átomos têm a camada
de valência incompleta
●
Não são estáveis
●
De forma a completar a camada de valência, os átomos vão
fazer ligações entre si.
●
Exemplo: Na ligação iônica, um átomo perde elétrons e o outro ganha.
●
Outro exemplo: Na ligação covalente, os átomos compartilham os elétrons
Esse é o caso dos materiais semicondutores
●
Semicondução intrínseca é propriedade do material puro:
●
Si, Ge (intrínsecos singulares) ou GaAs, GaN (intrínsecos compostos).
●
Semicondução extrínseca resulta da adição de impurezas
(dopantes).
●
Processo de inclusão de impurezas: dopagem.
●
2 tipos de semicondutores extrínsecos:
●
Tipo n: portadores de carga negativa (elétrons) predominam;
●
Tipo p: portadores de carga positiva (lacunas) predominam.
Semicondutores tipo n
●
Lacunas: portadores minoritários.
●
Para cada elétron fracamente ligado, existe um nível de energia dentro da
zona proibida, imediatamente abaixo da banda de condução (estado
doador).
●
A barreira de energia para promover esse elétron para a banda de
condução é substancialmente menor do que no semicondutor intrínseco
(Ee).
●
Uma vez que esse
elétron é excitado à
partir do estado
doador, nenhuma
lacuna é criada na
canada de valência.
●
Número de elétrons
na banda de condução
excede o número de
lacunas de valência.
12 ELT052A - Aula 13 – Cap 17: Materiais Semicondutores 08 eFigura: Callister
13/nov/2022
Tipo p
●
Si tem 4 elétrons na camada de
valência,
ligados covalentemente (ligação forte) a 4
átomos de Si adjacentes.
●
Impureza com valência 3 (B, Ga ou In)
é adicionada.
●
Uma das 4 ligações covalentes ficará
deficiente em um elétron;
●
A lacuna adicional aceitará prontamente um
elétron livre.
●
Como se fosse uma “lacuna presa fracamente
à região ao redor do átomo de impureza”.
●
A energia de ligação dessa lacuna é
relativamente pequena.
Semicondutores tipo p
●
Elétrons: portadores minoritários.
●
Para cada lacuna fracamente ligada, existe um nível de energia dentro da
zona proibida, imediatamente acima da banda de valẽncia (estado
receptor).
●
Um elétron de valência do Si pode ser facilmente promovido para o
estado receptor, gerando uma lacuna na valência. Energia para promoção
é substancialmente menor do que no semicondutor intrínseco (Ee).
Figura: Callister
●
Apenas a lacuna é
criada na valência -
nenhum elétron
livre é criado.
●
Número de lacunas
na banda de
valência excede o
número de elétrons
de condução.
14 ELT052A - Aula 13 – Cap 17: Materiais Semicondutores 08 e 13/nov/2022
Portadores majoritários e minoritários:
●
No material tipo n:
●
Número de elétrons na banda de condução (oriundos dos átomos doadores
pentavalentes) excede o número de lacunas (que não se alteraram) na banda
de valência;
●
Elétrons são os portadores majoritários e as lacunas os minoritários.
●
No material tipo p:
●
Número de lacunas na banda de valência (devido aos átomos receptores
trivalentes) excede o número de elétrons (que não se alteraram) na banda de
condução;
●
Lacunas são os portadores majoritários e os elétrons os minoritários.
●
No material tipo p:
●
Quando a lacuna extra é preenchida no
átomo aceitador, este átomo
(trivalente) se torna um íon negativo
(ele ganhou um elétron!)
●
Diodo
●
BJT
●
MOSFET
●
Diodos e transistores (incluindo BJT e MOSFET) substituíram as
válvulas a vácuo.
●
Menores dimensões;
●
Baixo consumo de energia;
●
Inexistência de tempo de aquecimento.
semicondutor,
●
com dopantes do tipo p de um lado e
do tipo n do outro.
●
Se peças de materiais p e n fossem
unidas uma à outra, existiria uma
superfície de contato que resultaria em
dispositivos ineficientes.
●
Devem ser utilizados monocristais de
forma a evitar fenômenos prejudiciais
nos contornos de grãos.
Figura: Callister
●
Diodo real precisa vencer uma
barreira de potencial vo para iniciar
a condução.
●
Quando polarizado reversamente,
vai existir uma pequena corrente de
fuga reversa (minoritários).
●
Caso a polarização reversa
ultrapasse um determinado valor
(tensão de ruptura), o diodo entra
em condução reversa –
ocasionando a perda do
componente.
●
Corrente direta enquanto
diodo está polarizado
diretamente (semiciclo
positivo);
●
Pequena corrente reversa
enquanto o diodo está
polarizado reversamente.
●
Dois tipos de funções:
●
Amplificação de sinais (região ativa);
●
Operação como chave (regiões de corte e saturação).
●
Dois tipos principais:
●
BJT (transistor de junção)
●
FET (transistor por efeito de campo):
●
MOSFET (com gate/porta isolado por óxido).
●
Arseneto de Gálio (GaAs): mobilidade de elétrons maior (5x) do
que o Si:
●
Resulta em menor resistência de condução (especialmente vantajoso no caso
dos dispositivos com condução por portadores majoritários – MOSFET).
●
GaAs também apresenta maior suportabilidade para tensão de
ruptura:
●
Pode-se trabalhar em tensões mais elevadas.
●
Carbeto de Silício (SiC) apresenta suportabilidade ainda maior
do que o GaAs.
Grato!!!
E-mail: wilson_santana@unifei.edu.br
Sala: I.1.2.24
Telefone: 35-3629-1145