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1.1 INTRODUÇÃO
1) Diodos → Dispositivos não controlados: Estados ligado e desligado pelo circuito de potên-
cia;
3) Chaves controladas → Ligados e desligados pelos sinais de controle (TJB, MOSFET, GTO
e IGBT).
1.2 DIODO
Dispositivos de potência apresentam uma grande área transversal, para permitir maiores correntes
e grande comprimento, para permitir maior capacidade de bloqueio de tensão.
A diferença de potencial aplicada entre os terminais de um diodo aparece sobre a região de transi-
ção, pois a resistência da junção é maior que a resistência das outras partes do diodo, pois na junção a
concentração de portadores é menor.
Quando se polariza reversamente um diodo, ou seja, se aplica uma tensão negativa no anodo (regi-
ão P) e positiva no catodo (região N), mais portadores positivos (lacunas) migram para o lado N, e vice-
versa, de modo que a largura da região de transição aumenta, elevando a barreira de potencial. Se o
campo elétrico na região de transição for muito intenso, os portadores em trânsito obterão grande velo-
cidade e, ao se chocar com os átomos da estrutura, produzirão novos portadores, os quais, também ace-
lerados, produzirão um efeito de avalanche. Dado o aumento na corrente, sem redução significativa na
tensão na junção, produz-se um pico de potência que destrói o componente.
Uma polarização direta (tensão no anodo mais positiva que a tensão no catodo) leva ao estreita-
mento da região de transição e à redução da barreira de potencial. Quando a tensão aplicada superar o
valor natural da barreira, cerca de 0,7 V para diodos de silício (Si), os portadores negativos do lado N
serão atraídos pelo potencial positivo do anodo e vice-versa, levando o componente à condução.
No estado bloqueado, pode-se analisar a região de transição como um capacitor, cuja carga é aque-
la presente na própria região de transição. Na condução não existe tal carga, no entanto, devido à alta
dopagem da camada P+, por difusão, existe uma penetração de lacunas na região N-. Além disso, à me-
dida que cresce a corrente, mais lacunas são injetadas na região N-, fazendo com que elétrons venham
da região N+ para manter a neutralidade de carga. Desta forma, cria-se uma carga espacial no catodo, a
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qual terá que ser removida (ou se recombinar) para permitir a passagem para o estado bloqueado do dio-
do.
Geralmente, o diodo pode ser considerado ideal quando na entrada em condução. Entretanto para a
entrada em bloqueio existe um tempo de recuperação reversa (𝑡𝑟𝑟 ) do diodo antes da corrente se anular.
Tempo este necessário para remover a carga espacial da região N+.
Teste da comutação do diodo
Isto pode levar a algumas sobretensões em circuitos indutivos. Em casos em que este problema
aparece, devem ser utilizados diodos de recuperação rápida (fast diodes).
A carga de recuperação reversa é dada por:
𝑡3
𝑄𝑟𝑟 = ∫ 𝑖𝑟𝑟 𝑑𝑡
𝑡1
𝑡𝑟𝑟 = 𝑡3 − 𝑡1
São as perdas devidas à tensão reversa do diodo e à resistência interna. Ocorrem apenas quando o
componente está em estado de condução (conduzindo corrente).
Perdas de condução:
2
𝑃𝑐𝑜𝑛𝑑 = 𝑉𝑇𝑂 ⋅ 𝐼𝐹𝑚𝑒𝑑 + 𝐼𝐹𝑟𝑚𝑠 ⋅ 𝑟𝑇
Onde:
𝑉𝑇𝑂 → Queda de tensão (quando diodo está em condução);
𝐼𝐹𝑚𝑒𝑑 → Corrente média pelo diodo;
𝐼𝐹𝑟𝑚𝑠 → Corrente RMS pelo diodo
𝑟𝑇 → Resistência interna do diodo;
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Ocorrem nas transições do estado desligado para ligado (entrada em condução) e na transição do
estado ligado para estado desligado (entrada em corte).
Entrada em corte: Entrada em condução:
𝑃𝑠𝑤 = 𝑃𝑜𝑛 + 𝑃𝑜𝑓𝑓 1
𝑃𝑜𝑛 = (𝑉𝐹𝑃 − 𝑉𝐹 ) ⋅ 𝐼𝑜 ⋅ 𝑡𝑟𝑓 ⋅ 𝐹𝑠𝑤
1 2
𝑃𝑜𝑓𝑓 = 𝑄𝑟𝑟 ⋅ 𝑉𝑅𝑀 ⋅ 𝐹𝑠𝑤 = 𝑉𝑅𝑀 ⋅ ⋅ 𝐼𝑅𝑀 ⋅ 𝑡𝑟𝑖 ⋅ 𝐹𝑠𝑤
2
𝑉𝑝𝑖𝑐𝑜 = 𝑉𝑅𝑀
Fig. 1.8. Resultados experimentais das comutações de diodo: a) desligamento; b) entrada em condução. Canal 1: corrente;
Canal 2: tensão 𝑣𝐹 [1].
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O TBJ é um dispositivo controlado em corrente, pelo terminal de base. Quando utilizado em cir-
cuitos de potência:
• Geralmente é utilizada a estrutura NPN pois apresenta menores perdas que a estrutura PNP (isto se
deve à maior mobilidade dos elétrons em relação às lacunas).
• Geralmente utilizado como chave, apresentando dois estados distintos: corte (𝑖𝑏 ≤ 0) ou saturação
(𝑖𝑐 ≤ 𝑖𝑏 ⋅ ℎ𝑓𝑒 ).
• Condução de corrente apenas em uma direção (𝑖𝐶 > 0);
• Bloqueia tensões positivas (𝑣𝐶𝐸 > 0)
A região N- apresenta baixa dopagem (menos elétrons livres que a região N+), sendo responsável
por aumentar a tensão de bloqueio do dispositivo.
A figura a seguir mostra a característica estática do TBJ, onde são notadas 3 regiões distintas: cor-
te, quase saturação e saturação.
Na região ativa o circuito atua como um amplificador linear e o transistor deve suportar tensão e
corrente simultaneamente, levando a dissipação significativa de potência. Quando em corte, 𝑉𝑐𝑒 = 𝑉𝑐𝑐 .
Na região ativa, quando 𝐼𝑏 aumenta, a corrente 𝐼𝑐 também aumenta, aumentando a queda de tensão so-
bre a carga e diminuindo 𝑉𝑐𝑒 . Quando 𝑉𝑐𝑒 for suficientemente pequeno, o transistor estará na região de
quase-saturação. Se 𝑉𝑐𝑒 continuar diminuindo o transistor entra na região de saturação pesada.
Fig. 1.11. Região de quase saturação do TBJ e distribuição da carga estática acumulada [1].
Quanto mais saturado o componente estiver, menor será a tensão 𝑉𝑐𝑒 e, portanto, as perdas de con-
dução serão menores. Porém, o tempo de desligamento do dispositivo será maior, devido ao excesso de
carga armazenada no coletor (carga espacial), as quais existem devido aos elétrons que deixam a região
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N+ (emissor) passando pela junções J1 e J2 chegando à região N-. Para desligar o dispositivo, esta carga
espacial deve ser eliminada (removida).
Os TBJ apresentam baixas perdas quando em condução, visto que a tensão de saturação entre co-
letor e emissor é baixa. Quando em condução, a potência dissipada no TBJ pode ser calculada através do
modelo abaixo.
𝑃𝑐𝑜𝑛𝑑 = 𝑉𝐶𝐸𝑆𝑎𝑡 ⋅ 𝐼𝐶
Fig. 1.13. Formas de onda para a comutação do TBJ com carga indutiva [1].
No caso de saturação profunda, para que o dispositivo inicie o bloqueio, é necessário remover a carga
especial representada por pela área A1 + A2. No caso de quase-saturação, basta eliminar a carga corres-
pondente a A1;
• 𝑡𝑑 : tempo necessário para o descarregamento da capacitância da junção BE (este tempo pode ser
reduzido se 𝑖𝑏 apresentar grande di/dt (inicia a formação da distribuição espacial de cargas).
• 𝑡𝑟𝑖 : tempo de crescimento da corrente do coletor. Este tempo está relacionado à velocidade de
aumento de carga estocada, sendo dependente da corrente de base.
• 𝑡𝑠𝑣 : Intervalo de tempo necessário para remover as cargas espaciais estocadas no coletor e na ba-
se. Só depois disto a tensão 𝑉𝐶𝐸 começa a crescer
• 𝑡𝑓𝑖 : Tempo de queda de 𝐼𝑐 . Corresponde ao processo de bloqueio do TBJ, sendo o tempo neces-
sário para que o transistor saia da saturação, passe pela região ativa, até atingir a região de corte.
Para um desligamento mais rápido deve-se evitar operar na região de saturação profunda, isto é,
deve-se operar na região de quase saturação, que, apesar de apresentar 𝑉𝑐𝑒𝑆𝑎𝑡 ligeiramente maior
que a tensão obtida quando em saturação profunda, permite uma recombinação mais rápida dos
portadores, pois a quantidade de carga a ser removida é menor.
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O TBJ, assim como outras chaves semicondutoras como IGBTs e MOSFETs, deve operar dentro
de seus limites construtivos, de forma a respeitar a AOS (Área de Operação Segura), conforme figura a
seguir:
Sendo que:
• A representa a máxima corrente que o dispositivo pode suportar;
• B a máxima potência, pois nesta região tanto Vce quanto Ic são significativos.
• C representa o limite de segunda ruptura.
• D representa a máxima tensão que pode ser aplicada sobre o dispositivo (tensão de ruptura)
Fig. 1.15. Circuito de acionamento de um TBJ usando correntes positivas e negativas na base [2].
Característica Ideal
A aplicação de 𝑉𝐺𝑆 adequado coloca o componente em condução, conduzindo corrente 𝐼𝐷 positiva
através dos terminais de gate e source. O MOSFET se comporta como um curto-circuito.
Com a remoção de 𝑉𝐺𝑆 o componente deixa de conduzir e entra em corte. O MOSFET se compor-
ta como um circuito aberto.
Característica Real
• Na prática o dispositivo entra em condução com uma tensão VGS acima da tensão limite 𝑽𝑻 ;
• Apresenta uma resistência de condução entre dreno e source (𝑹𝑫𝑺𝒐𝒏 );
• Região Hômica: Região de interesse para atuação como chave;
• Região de corte: 𝑽𝑮𝑺 < 𝑽𝑻 . Transistor bloqueado;
• Em aplicações onde a capacidade de bloqueio deve ser elevada (𝑽𝑫𝑺 ≈ 𝟏𝟎𝟎𝟎 𝑽) a potência pro-
cessada deve ser baixa (≈ 𝟏𝟎𝟎 𝑾);
• Podem ser facilmente colocados em paralelo, pois MOSFETs apresentam coeficiente de tempera-
tura positivo, isto é, a resistência interna (𝑹𝑫𝑺𝒐𝒏 ) aumenta com o aumento da temperatura, reali-
zando automaticamente o compartilhamento de corrente entre os dispositivos colocados em para-
lelo.
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O terminal de gate (G) é isolado do substrato P por um dielétrico. Assim, quando aplicada uma
tensão positiva ao gate (𝑽𝑮𝑺 > 𝑽𝑻𝑯 ), devido ao efeito capacitivo, são atraídos elétrons (cargas minoritá-
rias do substrato P) formando um canal N dentro do substrato P, o qual conecta os terminas de dreno (D)
e source (S), fornecendo um caminho de baixa impedância para circulação da corrente. Na região hômi-
ca (condução plena) a resistência interna do MOSFET é constante, sendo responsável pelas perdas de
condução (𝑹𝑫𝑺𝒐𝒏 ).
Fig. 1.18. Característica ideal do MOSFET quando considerado o diodo parasita [3].
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Uma tensão negativa no dreno polariza diretamente este diodo intrínseco, que tem capacidade de
conduzir a corrente nominal do MOSFET (𝑰𝑫 ). Entretanto, o tempo de recuperação reversa (𝒕𝒓𝒓 ) deste
diodo normalmente é alto. Desta forma, o pico elevado de corrente que flui durante o período de recupe-
ração reversa deste diodo pode causar danos ao componente.
Fig. 1.20. Formas de onda simplificadas para comutação do MOS- Fig. 1.21. Circuito equivalente de chaveamento
FET do MOSFET considerando apenas 𝐶𝑖𝑠𝑠 .
19 Notas de Aula: Eletrônica de Potência – 2021/2 Prof. Jakson P. Bonaldo
descarrega, a tensão 𝑉𝐷𝐺 diminui, levando a um decréscimo na tensão 𝑉𝐷𝑆 . A tensão 𝑉𝐷𝐺 diminui
na mesma proporção de 𝑉𝐷𝑆 , mantendo constante a tensão entre gate e source (𝑉𝐺𝑆 = 𝑉𝐺𝑆 𝐼𝑜 );
• 𝑡𝑓𝑣2 → Durante este intervalo 𝑉𝐷𝑆 diminui, levando a um aumento em 𝐶𝐺𝐷 , fazendo com que a
inclinação da tensão 𝑉𝐷𝑆 diminua;
Ao final de 𝑡𝑓𝑣2 a tensão 𝑉𝐷𝑆 atinge seu valor de condução (𝑉𝐷𝑆 = 𝑅𝐷𝑆 𝑜𝑛 ⋅ 𝐼𝑜 ), entrando na região
hômica do MOSFET. Como 𝐶𝐺𝐷 está descarregada, a tensão 𝑉𝐺𝑆 volta a aumentar, pois a corrente de
gate volta a carregar 𝐶𝐺𝑆 e 𝐶𝐺𝐷 começa ser carregada no sentido contrário. A corrente 𝑖𝐺𝑆 diminui até se
anular quando quando 𝑉𝐺𝑆 = 𝑉𝐺𝐺 . Durante 𝑡𝑓𝑣1 e 𝑡𝑓𝑣2 , a corrente 𝑖𝐺 é constante, pois o MOSFET está na
região ativa e como a corrente de dreno é constante, a tensão 𝑉𝐺𝑆 deve se manter fixa. A dinâmica da
entrada em bloqueio é similar à dinâmica de entrada em condução, apenas em ordem inversa.
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Onde:
• 𝑅𝐷𝑆𝑜𝑛 → Resistência de condução;
• 𝑉𝐵𝑅𝐷𝑆 → Máxima tensão suportável entre dreno e source;
• 𝐼𝐷𝑀 → Máxima corrente pelo MOSFET (corrente de dreno)
• 𝐼𝑆𝑀 → Máxima corrente que pode ser conduzida pelo diodo intrínseco (parasita);
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IGBTs combinam algumas das vantagens de BJTs e MOSFETS, apresentando alta impedância de
entrada (como os MOSFETS) e baixas perdas de condução (como BJTs). Construtivamente o IGBT é
muito parecido com o MOSFET, diferindo apenas no substrato dopado P+ que é colocado junto com
contato de coletor/dreno. O controle do componente, assim como nos MOSFETS, é realizado por meio
do controle da tensão de Gate.
O IGBT não suporta elevadas tensões reversas, isto se deve a junção J1 que divide duas regiões
muito dopadas. Porém, existem modelos de IGBTs sem o substrato N+ junto do substrato P+, permitin-
do o bloqueio de tensão reversa.
O acionamento do IGBT é realizado de forma muito similar ao MOSFET, uma vez que ambos
semicondutores apresentam características de entrada semelhantes.
A seguir são comentados aspectos da utilização de cada componente, como os parâmetros máxi-
mos de tensão, corrente e frequência de operação.
Triac → Controlar a tensão eficaz na carga, pois conduz nos dois
semiciclos da rede (1200V/300A/400Hz).
A figura abaixo mostra uma distribuição dos componentes semicondutores, indicando limites
(1994) para valores de tensão de bloqueio, corrente de condução e freqüência de comutação.
Obviamente estes limites evoluem com o desenvolvimento tecnológico e servem como uma ilus-
tração para a verificação, numa primeira aproximação, das faixas de potência em que cada componente
pode ser utilizado.
Circuitos amaciadores garantem a operação dos transistores (seja TBJ, MOSFET ou IGBT) dentro
da AOS. São usados principalmente para auxiliar o desligamento do transistor.
O objetivo é atrasar o crescimento de 𝑣𝑐𝑒 , para diminuir a potência dissipada no transistor durante
a entrada em bloqueio. É importante ressaltar que amaciadores não tem objetivo de fazer comuta-
ções não dissipativa, apenas evitam que a potência da comutação seja dissipada sobre o transistor,
transferindo-a para o circuito amaciador.
Quando 𝑣𝑐𝑒 começa a crescer, o capacitor 𝐶𝑠 começa a se carregar (via 𝐷𝑠 ), desviando parte da
corrente, diminuindo 𝐼𝑐 . Quando o transistor for ligado novamente, o capacitor se descarregará sobre
ele, com a corrente de descarga limitada por 𝑅𝑠 . A energia acumulada (no campo elétrico de 𝐶𝑠 ) será
dissipada sobre 𝑅𝑠 .
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Fig. 1.27. Formas de onda da entrada em bloqueio de um TBJ sem snubber (esquerda) e com snubber (direita).
𝐼𝑐 ⋅ 𝑡𝑟
𝐶𝑠 =
𝑉𝑐𝑐
𝑉𝑐𝑐 𝛿𝑚𝑖𝑛
≤ 𝑅𝑠 ≤
𝐼𝑑𝑃𝑖𝑐𝑜 3𝐹𝑠 𝐶𝑠
𝐶𝑠 𝑉𝑐𝑐2
𝑃𝑅𝑠 = 𝐹
2 𝑠
O valor de 𝑅𝑠 deve ser tal que permita a total descarga do capacitor 𝐶𝑠 durante o mínimo tempo
(𝛿𝑚𝑖𝑛 𝑇) em que o transistor estiver ligado. Entretanto, deve ser utilizado o maior valor possível para 𝑅𝑠 ,
para diminuir a corrente pelo transistor quando este entrar novamente em condução, isto é, diminuir as
perdas no transistor.
1.7 REFERÊNCIAS
[1] POMILIO, José Antenor. Notas de Aula da Disciplina de Eletrônica de Potência. Disponível em:
http://www.dsce.fee.unicamp.br/~antenor/ee833.html
[2] BARBI, Ivo; MARTINS, Denizar Cruz.; Eletrônica de potência: conversores CC-CC básicos não
isolados. 3. ed. rev. Florianópolis Ed. do Autor, 2008. 380p. ISBN 8590520323.
[3] GONÇALVES, Flávio A. S; CANESIN, Carlos A.; WWW Course in Power Electronics, Disponível
em: http://200.145.241.31/dee/gradua/elepot/ajuda/applets.html
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1.8 EXERCÍCIOS
1) Determinar, em função de 𝑉 e 𝐼, a
potência dissipada na entrada em con-
dução (𝑃𝑜𝑛 ) e na entrada em bloqueio
(𝑃𝑜𝑓𝑓 ) do transistor cujas formas de
onda de tensão e corrente são mostra-
das ao lado.
3) Considere as formas de onda mostradas abaixo, relativas a um transistor, desenhe a potência instantâ-
nea e determine a potência média dissipada por este componente.
4) Calcular a carga de recuperação reversa (𝑄𝑟𝑟 ) de um diodo cuja e corrente de pico reversa é de 20A e
o tempo de recuperação reversa é 𝑡𝑟𝑟 = 20𝑢𝑠.
5) Para um diodo, cujo circuito e formas de onda são mostradas abaixo, com os seguintes parâmetros
𝐸 = 100 𝑉, 𝑉𝑝𝑖𝑐𝑜 = 300 𝑉, 𝑡𝑟𝑖 = 1 𝑢𝑠, 𝑡𝑟 = 500 𝑛𝑠, 𝐼𝑟𝑟𝑝𝑖𝑐𝑜 = 𝐼𝑅𝑀 = 20 𝐴 e frequência de comutação
de Fs=10 kHz, calcular:
a) A carga de recuperação reversa (𝑄𝑟𝑟 );
b) A potência dissipada no desligamento;
c) A indutância parasita (Ls) do circuito;