Aula de CP e CPK

Seis Sigma

CEP Controle Estatstico do Processo

Durante a fabricao, as peas produzidas no so exatamente iguais entre si e nem
exatamente igual especificao do projeto. As peas apresentam, assim, "erros" em
relao ao desenho terico, os quais devem ser mantidos dentro de limite de tolerncias.
Erros ou defeitos so as faltas de conformidades ou no conformidades de um
produto ou processo em relao aos padres pr-estabelecidos ou s
especificaes de projetos. As no conformidades podem ser de natureza
geomtrica, fsica, qumica, funcional, esttica, etc..
As no conformidades podem ser de duas maneiras distintas:
No conformidades por variveis: Quando possvel medir a grandeza analisada
atravs de instrumentos de medio. Ex.: Dimetro de um componente, Resistncia
mecnica, etc..
No conformidades por atributos: Quando possvel apenas constatar a caracterstica
analisada. Obtm-se apenas informaes qualitativas, geralmente de maneira visual ou
atravs de calibres passa-no-passa. Ex.: Manchas de pinturas, painis desalinhados,
filamentos quebrados em lmpadas.

CEP Cartas de Controle

CARTA DE CONTROLE: So ferramentas utilizadas para se analisar os dados passados
e servem para controlar o processo continuamente. Nesta carta so colocados os
valores das dimenses analisadas nas ordenadas e o nmero de amostras nas
abscissas. Os limites superiores e inferiores de controle tambm devem ser colocados
nesta carta.

CEP Cartas de Controle

LIMITE INFERIOR DE CONTROLE (LIC) e LIMITE SUPERIOR DE CONTROLE (LSC):
So os limites do processo de fabricao. Eles indicam a regio de variao do processo
de fabricao. LIC e LSC refletem aquilo que o processo de fabricao capaz de
realizar. Estes limites so calculados pelas equaes:

a mdia das amostras, o desvio padro da populao e x o desvio

padro experimental. Os dois parmetros
e referem-se populao total.

CEP Cartas de Controle

Falando em cartas de controle temos mais variveis para sua leitura e interpretao
como por exemplo:

Em relao a melhores explicaes segue o contedo completo sobre controle

estatstico de processo nos vossos e-mails.

O que CP e CPK ?
Dentro das cartas de controle estatstico do processo temos dois padres do processo
que se referem a capabilidade do processo.

CP Capabilidade Potencial
CPK Capabilidade Centrada

CP

CP correlao com CPK

Mesmo quando temos um CP dentro do esperado o CPK pode apresentar um valor fora
do esperado.

Exemplo de Grfico MINITAB

Histogram of Dados1
18
16

Histogram

14

Frequency

12
10
8
6
4
2
0

97

98

99

100

101

102

Dados1

Histogram of Dados2

Histogram of Dados3
30

14

25

12

20
Frequency

Frequency

10
8
6

15
10

4
5

2
0

96,0

97,6

99,2

100,8
Dados2

102,4

104,0

PRO 2714

9
Dados3

12

15

18

Distribuio de Probabilidade
Probability Plot of Dados2
Normal
99,9

Mean
StDev
N
AD
P-Value

99

Percent

95
90

100,2
2,679
100
1,206
<0,005

80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0,1

90

95

100
Dados2

PRO 2714

105

110

10

 ++ 3
3

A
Regra
Emprica

99.7% das observaes

++ 2
2
95% das observaes

++1
1
68% das
observaes

-3

-2

-1

+1

+2

+3

Eixo
Eixo XX
Eixo
Eixo ZZ

se

Mapa Conceitual

Processo
estvel

pode ser calculada

pode ser
calculada com
dados
Contnuos
atravs de
capacidade =
zmin + 1,5
zmin = 3 Ppk

Capacidade
do processo
indica se o
processo capaz
de produzir
produtos ou
prestar servios
segundo as
especificaes

assemelha-se
aos ndices de
capacidade

Cpk, Ppk

necessita das
Especificaes
do cliente

DPMO
Atributos

pelo
clculo
de

e a seguir

PRO 2714

capacidade =
zmin + 1,5
12

Estudo de Capacidade
I Chart of pH
UCL=4,02024

4,02

Individual Value

4,01
_
X=4,00168

4,00

3,99
LCL=3,98312
3,98
1

10

20

30

40
50
60
Observation

70

80

90

100

O I chart mostra algum ponto fora de controle?

Estudo de Capacidade
Process Capability of pH
LSL

Target

USL
Within
Overall

Process Data
LSL
3,98000
Target
4,00000
USL
4,02000
Sample Mean
4,00168
SampleN
100
StDev(Within)
0,00619
StDev(O verall) 0,00577

Potential (Within) Capability

Cp
1,08
CPL
1,17
CPU
0,99
Cpk
0,99
CCpk 1,08
O verall Capability
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

3,9825 3,9900 3,9975 4,0050 4,0125 4,0200

O bserved Performance
PPM<LSL 0,00
PPM>USL 0,00
PPMTotal
0,00

Exp. Within Performance

PPM<LSL
229,43
PPM>USL 1534,80
PPMTotal
1764,23

Exp. O verall Performance

PPM<LSL
86,32
PPM>USL 752,03
PPMTotal
838,35

Como a capacidade do processo?

1,15
1,25
1,06
1,06
1,11

Estudo de Capacidade
Process Capability Sixpack of pH
I ndividual Value

I Chart

Capability Histogram

4,02

UCL=4,02024

4,00

_
X=4,00168

3,98

LCL=3,98312
1

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

3,985

Moving Range

Moving Range Chart

0,01

3,995

4,005

4,010

4,015

__
MR=0,00698

0,00

LCL=0
1

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

3,98

Last 25 Observations

Values

4,000

Normal Prob Plot

AD: 0,535, P: 0,167

UCL=0,02281

0,02

3,990

4,00

Capability Plot
Within
StDev 0,00619
Cp
1,08
Cpk
0,99
CCpk
1,08

4,01
4,00
3,99

Within

Overall

Specs

80

85

90
Observation

4,02

95

100

O verall
StDev 0,00577
Pp
1,15
Ppk
1,06
Cpm
*

Dvidas ?

Obrigado pela ateno !

PRO 2714

16