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CAPTULO II GRFICOS DE CONTROLE

1.- INTRODUO Quando fabricado um produto (bem ou servio), as caractersticas deste produto iro apresentar uma variabilidade inevitvel, devido a variao sofrida pelos fatores que compem o processo produtivo. Estas variaes podem resultar de diferena entre mquinas, mudanas nas condies ambientais, variao entre lotes de matrias-primas diferena entre fornecedores, entre outras. Apesar de um esforo considervel ser especificamente direcionado para controlar a variabilidade em cada um desses fatores, existir sempre a variabilidade no produto acabado de cada processo de uma empresa. Portanto, importante que esta variabilidade tambm seja controlada, para que possam ser fabricados produtos de boa qualidade. importante verificar a estabilidade do processo, j que processos instveis provavelmente iro resultar em produtos defeituosos, perda de produo, baixa qualidade e, de modo geral, em perda da confiana do cliente. Em 1924 Shewardt, um estatstico americano apresentou os chamados Grficos de Controle ou Cartas de Controle, como um mtodo para a anlise e ajuste da variao de um processo em funo do tempo. Descreviam o processo considerando duas caractersticas fundamentais: CENTRALIZAO - determinada pela mdia - e DISPERSO - verificada pelo desvio-padro ou amplitude. De um modo geral podemos dividir os Grficos de Controle em dois grandes grupos: i.- Grficos de Controle para Variveis; ii.- Grficos de Controle para Atributos. Chamaremos de: VARIVEIS - dados que podem ser medidos, ou sofrem variao contnua, tais como, resistncia trao dureza, uma dimenso, etc... ATRIBUTOS - dados que s podem ser contados ou classificados, tais como, passa/no passa, claro/escuro, com trinca/sem trinca, etc... 1.2 EscoIha dos Limites de Controle De um modo geral os limites de controle so determinados para k = 3-sigma. 3 . Em algumas circunstncias admite-se 4-sigma, quando os custos de investigao de um alarme falso forem muito grandes. Usaremos 2-sigma quando a anlise das possveis causas do aparecimento de fatores especiais de variao for simples, com um mnimo de tempo perdido e quando o custo de produo de artigos defeituosos for alto. 1.3 Anlise dos Grficos de Controle Existem dois tipos de causas para a variao na qualidade dos produtos resultante de um processo: Causas Comuns ou Aleatrias.- A variao provocadas por causas comuns, tambm conhecida como variabilidade natural do processo, inerente ao processo considerado e estar presente mesmo que todas as operaes sejam executadas empregando mtodos padronizados. Quando apenas as causas comuns esto atuando em um processo, a

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quantidade de variabilidade se mantm em uma faixa estvel, conhecida como faixa caracterstica do processo. Neste caso, dizemos que o processo est sob controle estatstico, apresentando um comportamento estvel e previsvel. Causas Especiais ou Fatores Particulares de Processo.- Surgem esporadicamente, devido a uma situao particular que faz com que o processo se comporte de um modo completamente diferente do usual, o que pode resultar em um deslocamento de seu nvel de qualidade. Quando um processo est operando sob a atuao de causas especiais de variao dizemos que ele est fora de controle estatstico e neste caso sua variabilidade geralmente bem maior do que a variabilidade natural. As causas especiais de variao devem ser, de modo geral, localizadas e eliminadas, e alm disto devem ser adotadas medidas para evitar sua reincidncia. Alguns exemplos de causas especiais de variao so a admisso de um novo operador, a utilizao de um novo tipo de matria-prima e o descumprimento de padres operacionais. Os grficos de controle so instrumentos para o monitoramento da variabilidade e para a avaliao da estabilidade de um processo. Um grfico de controle permite a distino entre os dois tipos de causa de variao, ou seja, nos informa se o processo est ou no sob controle estatstico. importante destacar que um grfico de controle no descobre quais so as causas especiais de variao que esto atuando em um processo fora de controle estatstico, mas ele processa e dispe informaes que podem ser utilizadas na identificao destas causas. Um grfico de controle consiste de: - Uma linha mdia (LM) que representa o valor mdio da caracterstica da qualidade correspondente situao do processo sob controle, isto , sob a atuao de apenas causas de variao aleatrias; - Um par de limites de controle, representados um abaixo (limite inferior de controle LIC) e outro acima (limite superior de controle LSC) da linha mdia. Os limites de controles so determinados de forma que, se o processo est sob controle, praticamente todos os pontos traados no grfico estaro entre as linhas, formando uma nuvem aleatria de pontos distribudos em torno da linha mdia. Os valores da caracterstica da qualidade traada no grfico indicam ento a situao do processo no que diz respeito ao controle estatstico. Em qualquer uma das circunstncias abaixo descritas devemos considerar que o Processo esta Fora de Controle Estatstico. Os arranjos tpicos que os pontos podem apresentar so: 1.3.1 Variao Extrema Anomalia reconhecida em grficos de controle por meio de um nico ponto ou mais fora dos limites. Torna-se necessrio uma pesquisa para detectar as causas e condies que geraram este(s) ponto(s). Os aparecimentos das anomalias podem ter varias origens, entre elas, erros em medies e clculos, condies de temperatura e presso, ajustes feitos de forma errada e depois corrigidos, inicio ou fim de operaes (ver Figura 17, no Anexo 1).
1.3.2 Desvios Embora neste caso os pontos esto dentro dos limites de controle, o processo esta fora de controle estatstico. So situaes como, 6 a 8 pontos numa seqncia acima ou abaixo da linha media, qualquer grupo de 4 de 5 pontos consecutivos na regio de 2 e 3- sigmas, 2 de 3 pontos consecutivos prximos a qualquer limite de controle, 10 de 11 pontos consecutivos esto abaixo ou acima da linha media,...

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As causas geralmente podem ser associadas a diferentes tipos de materiais, mudana de operador ou de inspetor, outro equipamento de inspeo, de mquinas ou de ajuste (ver Figura 18, no Anexo 1).
1.3.3 Tendncia A tendncia de pontos em grficos e a contnua movimentao para cima ou para baixo, por pontos consecutivos ou no. Geralmente a tendncia e causada por desgaste de ferramentas, de dispositivos de posicionamento e de travamento, por defeitos de temperatura e de umidade, por deteriorao de reagentes, por acumulao de poeira, por folgas em fixaes e em furos. (ver Figura 19, no Anexo 1). 1.3.4 Ciclos Ciclos so arranjos que se repetem mostrando picos e vales. So indicativos de causas atribuveis afetando periodicamente processos. Geralmente esses comportamentos esta associada com efeitos sazonais, razoem mecnicas diferenas causadas por desvios, etc. A ciclicidade tambm pode provir de desgaste, excentricidade, fadiga, troca de operadores. No caso da amplitude pode indicar rotao de dispositivo de fixao, medidores ou moldes, uso excessivo da ferramenta ou ferramenta cega (ver Figura 20, no Anexo 1). 1.3.5 - Falta de Variabilidade E verificada quando os pontos permanecem muito prximos da linha central. As causas para tal comportamento so seleo imprpria de subgrupos de amostras e medies tendenciosas. Exemplo: medies tendenciosas - obtidas ou por equipamento no apropriado para medir dimenses de interesse ou por inspetores que no sabem como efetuar as medies informando dessa forma esse arranjo de pontos (ver Figura 21, no Anexo 1). 1.3.6 - Variabilidade Excessiva Ou flutuao errtica caracterizada por altos e baixos dos pontos no grfico. As causas para esse arranjo so um tanto difcil de se identificar. Podem existir causas diferentes agindo em pocas diferentes no processo considerado. Em tais situaes sempre til enumerar diversos fatores conhecidos desse processo, relacionados com operadores, maquinas, materiais, equipamentos de ensaio, dispositivos, medidores, etc. Devem ser considerados ainda os problemas de ajustes freqentes de maquinas ou tipos diferentes de materiais sendo processados (ver Figura 22, no Anexo 1). 1.3.7 Observaes Complementares importante ter presente que no se esgotaram todas as possibilidades do processo estar fora de controle. A maneira de verificar os casos acima e outros lembrar que existe uma curva normal associada ao grfico e que ela sempre devera estar caracterizada na distribuio dos pontos em todo grfico. Caso houver suspeita de que mais de uma causa influencia o processo, as modificaes devero ser implantadas gradativamente, a partir daquela mais importante. 2. GRFICOS DE CONTROLE PARA VARIVEIS Nos grficos de controle por variveis e melhor iniciar o estudo a partir da DISPERSO, para aps verificar a CENTRALIZAO.

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2.1 Cartas Existentes Um resumo geral da utilizao das cartas de variveis apresentado no Quadro 1 a seguir: Quadro 1. Resumo das vantagens e desvantagens do grficos de controle estatstico GRFICO VANTAGENS DESVANTAGENS Apresenta facilidade na elaborao dos Indica com menor segurana X eR clculos. a variabilidade do processo Indica com menor segurana a Apresenta mais dificuldade X eS variabilidade do processo. computacional ~ Apresenta maior facilidade no Controle A mediana um estimador X eR contnuo do processo: no h necessidade mais fraco que a mdia. de clculos. X e AM indicado para casos de medies No so to sensveis dispendiosas e demoradas. alteraes do processo quanto as outras cartas. 2.2 Grfico X e R (Mdia e Amplitude) Para a construo de grficos de controle, consideremos m amostras preliminares, onde m usual considerar 20 ou 25, pelo menos. Cada uma das amostras conte n observaes da caracterstica da qualidade considerada. Estas amostras, conhecidas como Subgrupos racionais, devero ser extradas quando se acredita que o processo esteja sob controle e com as condies de operao mantida to uniforme quanto possvel. Costuma-se trabalhar com o grfico X e R para casos em que o tamanho da amostra n seja menor que 6, caso contrrio utiliza-se o grfico X e S. Apresentamos a seguir as expresses para o clculo dos limites de controle dos grficos X e R. Grfico da Mdia X : LSCX= X + A2* R LMCX = X LICX = X A2* R Grfico da Amplitude R: LSCR = D4* R LMCR = R LICR = D3* R em que: 1 n X = Xi , m i =1 sendo X i : a mdia da i-sima amostra para i =1,2,...,m;
1 n Ri , m i =1 sendo, Ri : a amplitude (diferena entre o maior e o menor valor) para i =1,2,...,m; e os valores de A2, D3 e D4 so obtidos de pesquisar na tabela adequada em funo de n, disponvel no Anexo 2. Para traar os limites de controle, marcar o eixo vertical do lado esquerdo com os valores X e R e o eixo horizontal com os nmeros das amostras. Traar linhas cheias para

R=

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representar LSC, LMC e LIC. Aps construo do grfico de controle, devemos analisar o comportamento dos pontos nos grficos X e R e verificar se o processo est sob controle estatstico. Caso seja necessrio, recalcular os limites dos grficos aps o abandono de pontos fora de controle. Em alguns casos ser preciso coletar novas amostras. Ser importante repetir este procedimento at que o estado de controle seja atingido. Se verificarmos que o estado de controle alcanado adequado ao processo, tendo em vista consideraes tcnicas e econmicas (os pontos esto dentro dos limites de controle e no apresenta as causas especiais de variao apresentada na Seo 1.3), adotaremos os grficos para o controle atual e futuro do processo. Em caso contrrio, conduzir aes de melhoria at que seja atingido o nvel de qualidade desejado para o processo.

Exemplo 1 ( Grfico X - R) Um determinado tipo de rosca produzido por uma indstria de autopeas submetido a uma operao de usinagem em um torno de comando numrico computadorizado. O dimetro primitivo usinado da rosca uma das principais caractersticas da qualidade de interesse para a empresa. Para avaliar a estabilidade estatstica do processo de usinagem, em relao a esta varivel, a indstria pretende passar a utilizar os grficos de controle X - R. A Tabela 1 apresenta 25 amostras de tamanho 5 do dimetro das peas, que foram coletadas para a implantao dos grficos de controle. Tabela 1. Dimetros (mm) de roscas produzidas por uma indstria de autopeas Xi1 Xi2 Xi3 Xi4 Xi5 Ri Amostra i X
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 7,10 7,10 7,12 7,115 7,09 7,11 7,105 7,10 7,065 7,125 7,105 7,10 7,115 7,095 7,11 7,07 7,09 7,10 7,08 7,10 7,095 7,105 7,10 7,10 7,12 7,09 7,10 7,105 7,12 7,095 7,10 7,095 7,115 7,09 7,13 7,10 7,11 7,09 7,09 7,07 7,075 7,13 7,10 7,07 7,11 7,105 7,07 7,10 7,105 7,115 7,10 7,095 7,10 7,115 7,11 7,105 7,1 7,095 7,11 7,095 7,11 7,085 7,085 7,095 7,095 7,08 7,10 7,09 7,09 7,07 7,095 7,11 7,11 7,11 7,13 7,105 7,105 7,12 7,115 7,12 7,10 7,105 7,105 7,105 7,10 7,095 7,09 7,09 7,10 7,10 7,10 7,11 7,095 7,11 7,11 7,095 7,11 7,11 7,11 7,13 Mdia 7,105 7,10 7,10 7,12 7,105 7,10 7,085 7,125 7,105 7,115 7,075 7,08 7,11 7,08 7,11 7,09 7,10 7,08 7,10 7,11 7,10 7,11 7,105 7,08 7,115 7,101 7,10 7,09 7,117 7,104 7,103 7,098 7,108 7,095 7,113 7,098 7,093 7,098 7,092 7,097 7,083 7,106 7,093 7,09 7,10 7,098 7,101 7,104 7,10 7,118 7,101 0,01 0,01 0,02 0,005 0,03 0,01 0,02 0,03 0,045 0,035 0,04 0,03 0,03 0,02 0,04 0,03 0,04 0,02 0,04 0,04 0,01 0,04 0,01 0,03 0,02 R =0,0262

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Como o clculo dos limites do grfico de controle X depende do emprego de uma estimativa do desvio padro do processo, obtida por meio da amplitude mdia R , aconselhvel construir e analisar, em primeiro lugar, o grfico de controle R. Se este grfico indicar que o processo no esta sobre controle em relao a variabilidade, o grfico X ainda no deve ser construdo e interpretado. Isto acontece porque a estimativa do desvio padro utilizada na construo do grfico X deve ser proveniente de um processo sob controle quanto variabilidade . A partir dos dados da Tabela 1, so calculados os seguintes valores para os limites de controle do grfico R. LSC = D4* R = 2,115*( 0,0262) = 0,05541 LM = R = 0,00262 LIC = D3* R = 0* ( 0,0262) = 0. Em que, D3 e D4 foram obtidas da Tabela do Anexo 2. O grfico de controle R, no qual j foram lanados os m = 25 valores amostrais da amplitude Ri, apresentado na Figura abaixo. Como nenhum dos pontos extrapola os limites de controle e no h evidencia de alguma configurao no aleatria dos pontos em torno da linha mdia, possvel concluir que o processo est sob controle no que diz respeito a variabilidade. A partir dos dados da Tabela 1, so calculados os seguintes valores para os limites de controle do grfico X . LSC = X + A2* R = 7,101 + 0,577*(0,0262) = 7,1161 LM = X = 7,101 LIC = X - A2* R = 7,101 - 0,577*(0,0262) = 7,0859. Em que, A2 foi obtida da Tabela do Anexo 2. O grfico de controle X , no qual j foram lanados os m = 25 valores amostrais da amplitude Ri, apresentado na Figura 2.1. Observando o grfico, percebemos que existem trs pontos (amostras 4, 16 e 25) fora dos limites de controle.
X b a r / R C h a r t f o r X i1 - X i5
7 ,1 7 ,1 7 ,1 7 ,1 7 ,1 7 ,1 7 ,0 7 ,0 7 ,0 7 ,0 25 20 15 10 05 00 95 90 85 80 0 1 1 3 ,0 S L = 7 ,1 1 6

Sample Mean

X = 7 ,1 0 1

-3 ,0 S L = 7 ,0 8 6 1 5 10 15 20 25

S u b g ro u p 0 ,0 6

Sample Range

0 ,0 5 0 ,0 4 0 ,0 3 0 ,0 2 0 ,0 1 0 ,0 0

3 ,0 S L = 0 ,0 5 4 9 8

R = 0 ,0 2 6 0 0

-3 ,0 S L = 0 ,0 0 E + 0

Figura 2.1. Grfico X - R das medidas de roscas (dimetro em mm) produzidas por uma indstria de autopeas

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UTILIZANDO O MINITAB Stat Control Charts Xvar-R

Subgroups across rows of:

2.3 Grfico X e S (Mdia e Desvio Padro) Normalmente, o grfico X utilizado com o objeto de controlar a mdia do processo, enquanto o grfico S empregado para o controle da variabilidade do processo considerado. Os dois grficos devem ser empregados simultaneamente, conforme descreveremos nesta seo. evidente que o procedimento usando o desvio padro da amostra e muito mais

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eficiente estatisticamente. Veja-se na Seo 2.6 que elucidara esta afirmao. Alem disto, para a determinao de S, implica em treinamento e calculadoras apropriadas. Apresenta-se a seguir as expresses para o clculo dos limites de controle dos grficos X e S. Grfico da Mdia X : LSCX = X +A3* s LMCX = X LICX = X A3* s Grfico do Desvio Padro S: LSCs = B4* s LMCs = s LICs = B3* s , sendo: 1 n X = Xi , m i =1 em que X i : a mdia da i-sima amostra, para i =1,2,...,m; 1 n Si , m i =1 em que Si , o desvio padro da i-sima amostra, para i =1,2,...,m;
s

1 n ( X ij X i ) 2 ; n 1 j =1 Os valores de A3, B3 e B4 so obtidos de pesquisa em tabela adequada disponvel no Anexo 2.

Si =

~ 2.4 Grfico X e R (Mediana e Amplitude) Em certos casos interessante adotar este procedimento uma vez que facilita muito ao operador na locao de ponto intermedirio, aps a ordenao dos dados. Para construir a Carta correspondente composta por dois grficos, adotam-se como limites: Grfico da Mediana: ~ LSCX= X + A2* R ~ LMCX= X ~ LICX = X A2* R Grfico da Amplitude: LSCR = D4* R LMCR= R LICR = D3* R , ~ Em que: X a mdia das medianas de cada amostra e os valores de A2, D3 e D4 so obtidos de pesquisa em tabela adequada, disponvel no Anexo 2.

2.5 Carta X individual e AM Muitas vezes as amostras utilizadas na construo dos grficos de controle tm tamanhos unitrios, isto , n = 1. Dois exemplos de situaes onde as amostras consistem de

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uma nica unidade so: Emprego da inspeo automatizada, onde toda unidade produzida avaliada. Processo para os quais a taxa de produo baixa, no sendo ento conveniente permitir que tamanhos amostrais superiores a um se acumulem para que a anlise dos resultados possa ser efetuada. Os grficos de controle utilizados para n = 1 so denominados GRFICOS PARA MEDIDAS INDIVIDUAIS. Para construir a carta correspondente composta por dois grficos, adota-se como: X : a mdia dos valores individuais; AMi: a amplitude mvel de duas observaes sucessivas para estimar a variabilidade do processo: AMi = | Xi Xi-1 |. Apresentaremos a seguir as expresses para o clculo dos limites de controle dos grficos X e AM. Grfico X: LSCX = X + 3 AM /d2 LMCX = X LICX = X 3 AM /d2 Grfico AM: LSCAM = D4 AM LMCR = AM LICR = D3 AM onde, AM a amplitude mvel mdia, d2 , D3 e D4 devem ser obtido da tabela do Anexo 2, para n = 2, j que o grfico baseado em uma amplitude mvel de n = 2.

Exemplo 2 Uma substncia qumica, cuja produo envolvia a realizao de reaes qumicas muito lentas, era produzida em uma indstria por meio de um processo descontnuo em bateladas (corridas). Uma das caractersticas da qualidade de interesse desta substncia era seu teor de pureza, o qual devia ser superior a 85%, segundo as especificaes do mercado. A indstria desejava implementar grficos de controle para o monitoramento da estabilidade do processo produtivo, em relao a essa caracterstica da qualidade. No entanto, como cada batelada da substncia demorava vrias horas para ser fabricada, a taxa de produo era muito baixa para permitir a utilizao de tamanhos amostrais superiores a 1. Em vista deste fato, a indstria decidiu utilizar os grficos de controle para medidas individuais. O teor de pureza medido para 24 bateladas da substncia apresentado na Tabela 2, que mostra tambm os valores da amplitude mvel AMi de suas observaes sucessivas. Tabela 2. Medidas do Teor de Pureza da Substncia Qumica
Nmero da Amostra i 1 2 3 4 5 Teor de Pureza (%) Xi 92,9 94,9 89,8 95,2 92,8 Amplitude Mvel AMi 2,0 5,1 5,4 2,4

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6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24

92,2 88,3 90,4 89,1 90,7 93,0 93,9 94,8 96,4 91,4 89,2 93,7 90,8 91,8 93,1 89,9 93,4 87,2 92,2

0,6 3,9 2,1 1,3 1,6 2,3 0,9 0,9 1,6 5,0 2,2 4,5 2,9 1,0 1,3 3,2 3,5 6,2 5,0

Mdias

X = 91,96

AM = 2,82

Grfico AM: A partir dos dados da Tabela 2, foram calculados os seguintes valores para os limites de controle do grfico AM: LSCAM = D4* AM = (3,267)*(2,82) = 9,21 LMCAM = AM = 2,82 LICAM = D3 AM =0*(2,82) =0 Em que, D3 e D4 foram obtidos da tabela do Anexo 2, para n = 2. O grfico de controle AM, no qual j foram lanados os m = 23 valores amostrais da amplitude mvel AMi, est apresentado na Figura 2.2. Como nenhum dos pontos extrapolou os limites de controle, foi possvel concluir que o processo estava sob controle no que diz respeito variabilidade. A seguir foi construdo o grfico de controle para as medidas individuais do teor de pureza da substncia qumica.
Moving Range Chart for Teor
10 3,0SL=9,219

Moving Range

R=2,822

0 0 5 10 15 20 25

-3,0SL=0,00E+00

Observation Number

Figura 2.2. Grfico de controle AM para as medidas individuais do teor de pureza da

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substncia qumica.

Grfico X: A partir dos dados da Tabela 2, foram calculados os seguintes valores para os limites de controle do grfico X: LSCX = X + 3* AM /d2 = 91,96 + 3*(2,82/1,128)= 99,46 LMCX = X = 91,96 LICX = X 3* AM /d2 = 91,96 3*(2,82/1,128)= 84,46. Como foi utilizada uma amplitude mvel de duas observaes, ento d2 foi obtido da tabela do Anexo 2, para n = 2. O grfico de controle para as mdias individuais, no qual j foram lanados os m = 24 valores de Xi da Tabela 2, est apresentado na Figura 2.3. Observando o grfico, os tcnicos da industria no perceberam indicaes de falta de controle do processo.
I Chart for Teor
100 3,0SL=99,47

Individual Value

95 X=91,96 90

85

-3,0SL=84,46 0 5 10 15 20 25

Observation Number

Figura 2.3. Grfico de controle X para as medidas individuais do teor de pureza da substncia qumica Como as capacidades do processo em atender s especificaes tambm esto adequadas, os dois grficos construdos passaram a ser utilizado para o controle atual e futuro do processo de produo da substncia qumica.
I and MR Chart for Teor
100 3,0SL=99,47

Individual Value

95 X=91,96 90 85 0 5 10 15 20 25 -3,0SL=84,46

Subgroup 10

3,0SL=9,219

Moving Range

5 R=2,822 0 -3,0SL=0,00E+0

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Figura 2.4. Grfico de controle X -AM para as medidas individuais do teor de pureza da substncia qumica. Utilizando o MINITAB temos:

STAT

Control Charts

I-MR

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2.6 Eficincia de R em relao S Em estudos realizados verificou-se a eficincia de R comparada a S, constatando-se que o tamanho da amostra fator preponderante nas determinaes de tal eficincia. n 2 3 4 5 6 10
Eficincia Relativa 1 0,992 0.975 0,955 0,930 0,850

Em razo de tal fato, costuma-se retirar amostras tamanho 4, 5 e no mximo 6 usando a amplitude R. Embora mais trabalhoso, a partir do tamanho 6 e conveniente adotar-se as cartas associadas ao desvio padro amostral S.

Exerccios
1. O fornecimento de energia eltrica em alta voltagem necessrio, para ter uma potencia de 350V. Uma amostra de 4 unidades selecionada diariamente, e colocada em um grfico de controle. Os dados so apresentados a seguir, sendo que correspondem as diferenas entre a voltagem registrada, e s voltagem nominal multiplicada por 10. Isto , Xi = (Voltagem observada 350)*10.
Amostra X1 X2 X3 X4 Amostra X1 X2 X3 X4 1 6 9 10 15 11 8 12 14 16 2 10 4 6 11 12 6 13 9 11 3 7 8 10 5 13 16 9 13 15 4 8 9 6 13 14 7 13 10 12 5 9 10 7 13 15 11 7 10 16 6 12 11 10 10 16 15 10 11 14 7 16 10 8 9 17 9 8 12 10 8 7 5 10 4 18 15 7 10 11 9 9 7 8 12 19 8 6 9 12 10 15 16 10 13 20 14 15 12 16

Faa os Grfico de controle X - R .O processo esta sobre controle estatstico? 2. . Em uma fabrica de mdias, 200 pares so analisados diariamente. No 25 dias teis de um ms obtiveram-se os seguintes nmeros de pares defeituosos. O processo est sobre controle Estatstico? Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 Defeituosos 13 8 10 15 12 9 6 4 7 11 14 10 7 Amostra Defeituosos 14 9 15 12 16 13 17 8 18 11 19 9 20 12 21 15 22 11 23 8 24 6 25 10

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