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RESENDE - RJ
Relatrio de experimento apresentado Associao Educacional Dom Bosco, Faculdade de Engenharia de Resende, como exigncia da disciplina do Curso de de Eletrnica Industrial
RESENDE
3 04 de Setembro de 2012
4 SUMRIO
RESUMO
Neste relatrio apresentamos os procedimentos, resultados e concluses para a experncia de teste do SCR usando multmetro. apresentada uma fundamentao terica para teste de funcionamento de um SCR. Palavras-chave: Tiristor. Teste de funcionamento de um SCR. Funcionamento do tiristor.
1 INTRODUO
Temos circuitos eletrnicos de potncia que utilizam em suas sadas, o tiristor SCR. Um dos defeitos mais corriqueiros nestes equipamentos a queima destes tiristores, visto que estes componentes, por estarem na etapa de potncia, so muito mais solicitados que qualquer um outro componente do circuito. Mesmo o componente estando queimado nem sempre apresenta vestgios externos, visveis, de suas disfunes. Para sabermos se realmente este componente esta ou no funcionando, um dos mtodos alimentar o circuito, quando possvel, e medir as tenses que o mesmo apresenta em seus terminais. Caso a alimentao do circuito no possa ser restabelecida por algum motivo, por exemplo: o circuito provoca a queima de fusveis, componentes pegam fogo e (ou) o circuito provoca queima dos equipamentos ligados em sua sada. Devemos retirar os componentes suspeitos e testa-los fora do circuito.
Abaixo seguem orientaes e resultados esperados: a) Usando o multmetro na escala mais baixa do ohmmetro e medindo as resistncias encontradas entre os terminais do SCR, dois terminais verificados de cada vez. b) Medio de resistncia elevada (tendendo ao infinito) entre os terminais de nodo e Ctodo, quando diretamente ou inversamente polarizados.
6 c) Polarizando os terminais de nodo e Ctodo diretamente, encontra-se resistncia elevada. Posicionando o terminal positivo do ohmmetro de forma a conseguir aplicar um pulso positivo no terminal de gate, sem deixar de continuar tocando no terminal de nodo, verificase o disparo do SCR (resistncia de valor baixo). Mantendo os terminais de nodo e Ctodo alimentados, e desencostando o terminal positivo do gate, o SCR dever manter-se conduzindo, salvo SCRs de grande porte, que podem deixar de conduzir, visto que a corrente fornecida pelo ohmmetro pode ser inferior a corrente IH. O ohmmetro pode no ser capaz de disparar alguns SCRs de porte maior. Para efetuar o teste pode-se fazer uso de uma fonte de tenso CC. Polarizando nodo positivo em relao ao ctodo, em srie com um resistor, o SCR deve-se manter cortado at o momento que aplicamos um pulso de corrente no gate, situao que o SCR dever disparar e manter-se conduzindo, mesmo depois de retirado o pulso da porta. d) A medio de resistncia resultar em valor elevado, quando verificado os terminais de gate e nodo. e) Medindo a resistncia entre gate e ctodo, encontra-se um valor baixo, quando gate for positivo em relao ao ctodo. Quando gate receber tenso negativa em relao ao ctodo, a resistncia ser baixa tendo valor superior ao anterior.
2.1 MATERIAL
2.2 EQUIPAMENTO
1 Multmetro analgico
3 PROCEDIMENTOS E RESULTADOS
3.1 PROCEDIMENTOS Realizamos os procedimentos descritos abaixo: Passos: Ligamos o multmetro e ajustamos a escala. A escala escolhida foi de X100K. Ajustamos o ZERO do multmetro. Ligamos as pontas de prova do multmetro conforme Figura 3a e preenchemos a Tabela 1. Repetimos o procedimento anterior e preenchemos a tabela, seguindo agora a Figura 3b e preenchemos a Tabela 1. Repetimos para a Figura 3c e preenchemos a Tabela 1.
3.2 RESULTADOS
a) Caso voc feche um curtocircuito C com G ao invs de A com G, o que deve ocorrer? Explique. O SCR no conduzir porque o gate ser acionada. Esta resposta est errada.... b) Quando voc executou o item, porque RAC aumentou de valor? No sei.
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4 CONCLUSO
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REFERNCIAS Curso Bsico de Eletrnica Analgica. Scribd. Disponvel em: http://pt.scribd.com/doc/50887715/22/TIRISTORES-SCRs-E-TRIACs. Acesso em: 5 de abr de 2013. Apostila Eletrnica III. Ebah. Disponvel em: http://www.ebah.com.br/content/ABAAAe5u0AG/apostila-eletronica-iii. Acesso em: 5 de abr de 2013.