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MICROSCOPIA TICA
1 INTRODUO
2 OS MICROSCPIOS PTICOS
O tipo mais simples de microscpio uma lente de aumento, que permite a observao
de estruturas com diversas vezes de aumento; muito utilizado para a observao de gros e
minrios, de superfcies de fratura de metais, de amostras de fibras txteis, papel e outros
produtos da indstria qumica e metalrgica. Os microscpios compostos j so
instrumentos mais poderosos, que permitem desde a observao com aumentos de algumas
dezenas de vezes at um mximo de 1500 a 2000 vezes, o limite da observao com luz
visvel. O microscpio composto tem basicamente dois conjuntos de lentes, a ocular ( que
fica prximo ao olho do observador, ou do dispositivo fotogrfico) e a objetiva ( que fica
perto do objeto a ser examinado). Unindo os dois conjuntos de lente fica um tubo tico com
comprimento tico padronizado , geralmente com 160 mm. Na prtica os microscpios
modernos tem um grande nmero de outros elementos ticos incorporados ao caminho da
luz dentro do tubo, como filtros, analisadores, prismas, espelhos , lentes Zoom, etc. A
Figura 1 mostra o esquema de um microscpio moderno, indicando os diversos elementos.
Os primeiros microscpios desenvolvidos para Biologia e Petrografia usavam ( e usam ainda
nestes campos do conhecimento) uma iluminao por luz transmitida. Assim a luz gerada
por uma fonte (lmpada + espelho parablico, em geral) colimada por lentes
Para a observao de metais, porm , este esquema no foi possvel de ser utilizado. Os
eltrons da camada condutora dos metais interagem fortemente com os ftons, tornando
estas amostras pouqussimo transparentes. Por este motivo foi desenvolvido um tipo de
microscpio em que a iluminao por meio de luz refletida, seja iluminao oblqua com
sistemas de iluminao independentes do microscpio ou, nos microscpios mais
sofisticados, atravs de um sistema de iluminao pelo prprio tubo e objetiva do
microscpio, usando engenhosos sistemas de espelhos, prismas e vidros semi-espelhados
que deixam passar a luz em uma direo e a refletem na outra. A Figura 2 mostra o esquema
de um microscpio de luz refletida.
LR = K / 2NA
onde K uma constante que pode chegar a 1,22 com o uso de um condensador adequado e
o comprimento de onda da luz utilizada para iluminar a amostra. Quando uma lente est
focada em um dado plano do objeto, pontos que esto um pouco acima e um pouco abaixo
deste plano podem ainda ser vistos com um foco aceitvel. Profundidade de foco ento,
outro conceito importante, que corresponde distancia atravs da qual o plano da imagem
pode ser movido sem que a imagem perca a nitidez. Em outras palavras profundidade de
foco a diferena entre a mxima e a mnima distncia no objeto que podem ser observados
com determinada lente. Campo-de-viso de uma lente uma outra grandeza importante, que
descreve o tamanho da rea que enxergada pela lente. Nos microscpios modernos as
lentes so projetadas para ter um campo-de-viso compatvel com o ngulo de viso mximo
que o olho humano acomoda, que de cerca de 50.
As amostras ficam montadas sobre uma placa chamada de platina, sobre um porta-
amostra , tambm chamado de charriot. Geralmente o porta-amostra tem vrios sistemas de
cremalheiras (coroa e pinho) para movimentar a amostra; dois nas direes X e Y e muitas
vezes um outro para rodar a amostra (platina giratria) nos microscpios que utilizam
analisadores de luz polarizada. O conjunto do porta-amostra, platina e parte do sistema de
iluminao nos microscpios de luz transmitida, movimenta-se na direo Z paralela ao tubo
tico, atravs de outros dois sistemas de cremalheiras, que correspondem ao foco grosso e ao
foco fino.
Uma outra tcnica importante na microscopia de luz refletida campo escuro, que
permite atravs da iluminao oblqua (obtida colocando um obstculo no centro do feixe de
luz) obter um contraste brilhante em regies que apresentam uma pequena inclinao em
relao superfcie, como as valetas formadas nos contornos de gro pelo ataque
metalogrfico.
Existem ainda tcnicas baseadas na interferncia da luz entre dois feixes, teis para a
observao qualitativa ou quantitativa de pequenos relevos na superfcie da amostra; as mais
importantes so o contraste de interferncia, que usando mltiplos feixes provoca o
aparecimento de franjas de interferncia que montam um mapa do relevo da amostra e o
contraste de interferncia ou interferncia Nomarski, que usa luz polarizada e uma objetiva
especial que tem um prima duplo de quartzo (prisma Wollaston) para produzir contraste de
cor e de luminosidade entre estruturas e tambm para revelar pequenos relevos, como os
produzidos por deformao plstica na superfcie polida dos metais.
3 MICROSCOPIA QUANTITATIVA
Vrios mtodos tem sido utilizados para medir tamanho ou dimetro de gros em
amostras policristalinas. Na verdade as formas dos gros so em geral irregulares, o que faz
com que a definio de dimetro de gro seja arbitrria e dependente de hipteses
simplificadoras sobre a geometria dos gros. Felizmente possvel obter uma medida que
embora no seja exatamente o dimetro, correlaciona-se muito bem com as propriedades dos
materiais. Este parmetro, de muito maior generalidade e independente de qualquer hiptese,
vlido para qualquer estrutura granular que preencha o espao, independentemente da
forma, do tamanho e da posio dos gros. Este "dimetro" o comprimento de interseo
mdio L3 obtido de medidas do nmero de interseces L2 de uma linha teste de
comprimento conhecido com os contornos de gro, no plano de polimento. Para grande
nmero de medidas ao acaso a mdia dos valores da interceco torna-se o valor real,
tridimensional L3.
L3 = 1/NL = LT/P*M
Figura 7: Contornos de gro e linha teste usada para contar nmero de interseces L2
onde, n o nmero de gros por polegada quadrada com 100 X de aumento. Normalmente,
para se obter o tamanho de gro ASTM necessrio contar-se um mnimo de 50 gros em
trs reas diferentes, e este valor deve ser convertido para nmero de gros por polegadas
quadrada e para um aumento de 100 X.
Existe uma relao entre N, o tamanho de gro ASTM e o L3, o livre intercepto mdio
dado em centimetros:
4 APLICAES
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
Van der Voort, G. Optical Microscopy, verbete em Metals Handbook Vol. 9, (th edition,
American Society for Metals, 1985. Pg 71, disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
Padilha, A.F. e Ambrsio Filho F., Tcnicas de Caracterizao em Cincia dos Materias,
Editora Hemus , 1986. Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
Tschiptschin, A.P., Goldenstein, H., Sinatora, A. Metalografia dos Aos. ABM 1987.
Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
EXERCCIOS