Relatório - 1: INTRODUÇÃO À PLATAFORMA NI-ELVIS
Artur Cesar da Silva - silva.artur@protonmail.com; Gabriel Oliveira da Silva Oricio - gabrieloriciosilva@hotmail.com
Resumo: Este relatório é uma introdução à plataforma
NI-ELVIS II e descreve uma prática de laboratório realizada
com o objetivo de apresentar suas principais funcionalidades
e permitir que os alunos se iniciem no uso da plataforma. O
relatório inclui informações sobre os materiais utilizados,
métodos empregados e resultados quantitativos alcançados.
Além disso, o relatório destaca a importância da
rastreabilidade e reprodutibilidade na análise de circuitos
eletrônicos.
Palavra chave: plataforma NI-ELVIS, Labview,
rastreabilidade, reprodutibilidade.
1. INTRODUÇÃO
A prática de laboratório realizada teve como objetivo
apresentar as principais funcionalidades da plataforma
NI-ELVIS II e realizar atividades simples que permitiram
aos estudantes se iniciarem no uso dessa plataforma. A
plataforma NI-ELVIS II é um dispositivo eletrônico que
permite a prototipagem de circuitos eletro-eletrônicos. Ela se
conecta a um computador que possui instalados aplicativos
baseados em Labview. Esses aplicativos implementam
vários instrumentos que serão amplamente utilizados
durante o curso. A plataforma possui, ainda, circuitos de
condicionamento de sinais e interface de aquisição de dados.
2. METODOLOGIA
2.1. Materiais
Para a realização da prática, foram utilizados os
seguintes materiais: plataforma NI-ELVIS II, resistores e
capacitores diversos, cabos e fios.
2.1. Métodos
2.1.1. Medição de resistência
Para avaliar a resistência dos resistores fornecidos,
primeiramente registramos os valores nominais e as
respectivas tolerâncias, verificando os códigos de cores
associados. Utilizamos o DMM do equipamento NI-ELVIS
para medir as resistências e replicamos as medições com um
multímetro digital convencional. Com os resultados em
mãos, realizamos uma comparação, identificando
discrepâncias e analisando as possíveis razões por trás delas.
Além disso, contextualizamos os resultados no âmbito dos
princípios de rastreabilidade e reprodutibilidade.
2.1.2. Circuito divisor de tensão
Inicialmente, desenvolvemos um modelo matemático
que permitisse a determinação da tensão V2 entre os
terminais do circuito, com base na análise da Figura 1. A Lei
de Propagação de Incertezas (LPU) foi aplicada para derivar
uma expressão que possibilitasse a avaliação da incerteza
combinada de V2.
1
Figura 1. Circuito divisor de tensão
Para prosseguir com a análise, consideramos os
seguintes valores nominais: Vf = 10 V, R1 = 56 kΩ e R2 =
100 kΩ. As incertezas foram estabelecidas de acordo com a
tolerância identificada no item anterior. Adotamos uma
incerteza padrão equivalente ao valor da tolerância para cada
resistor, expressa em ohms. Então, a montagem física do
circuito foi realizada com base nas especificações
fornecidas. A fonte de alimentação Variable Power Supply
do ELVIS foi configurada para fornecer uma tensão de 10 V.
Para medir a tensão V2, empregamos três abordagens
distintas:
i) utilização do DMM integrado ao ELVIS
ii) emprego de um multímetro digital convencional
iii) utilização de um voltímetro de bobina móvel.
Durante as medições, registramos as informações dos
instrumentos de medição utilizados. Então, os resultados
obtidos nas medições foram discutidos, comparando-os aos
valores calculados para o mensurando V2. Focamos na
identificação de discrepâncias e na compreensão das
implicações dessas discrepâncias. A análise permitiu
relacionar os resultados experimentais com as expectativas
teóricas.
Por fim, repetimos o procedimento com valores
diferentes para os resistores: R1 = 560 Ω e R2 = 1 kΩ. Esse
passo adicional permitiu observar cenários distintos,
avaliando a influência das variações dos componentes nas
medições e resultados obtidos.
2.1.3. Gerador de sinais e osciloscópio
Para iniciar, ajustamos o gerador de sinais do ELVIS
(FGEN) para produzir um sinal senoidal com uma
frequência fixa de 10 kHz e uma amplitude de pico-a-pico
(Vpp) de 5 V. Em seguida, utilizamos o osciloscópio
integrado ao ELVIS para visualizar o sinal senoidal gerado
pelo FGEN.
2.1.4. Circuito RC série
Inicialmente, realizamos a medição da capacitância do
capacitor fornecido na prática. Utilizamos tanto o DMM do
ELVIS quanto um multímetro convencional para garantir
precisão nos resultados. A medição da capacitância foi
importante para estabelecer o valor real do componente e As incertezas associadas dos resistores são de 5% e da fonte Vf
fornecer dados confiáveis para as análises posteriores. é de ± 100𝑚𝑉.

Prosseguindo, montamos um circuito RC série com os Para os cálculos utilizaremos o valor dos resistores indicados
seguintes valores nominais: R = 5,6 kΩ e C = 22 nF. pelo ELVIS:
Medimos os valores exatos de ambos os componentes para R1= 55.2850k
garantir a precisão do circuito. Aplicamos um sinal senoidal
de VPP = 5 V e frequência de 10 kHz, conforme ajustado R2=97.70k
anteriormente.Então, utilizando os canais do osciloscópio
integrado ao ELVIS, registramos as formas de onda da Para isso o valor esperado de V2 em cima de R2 utilizando
tensão aplicada e da tensão entre os terminais do capacitor. divisor de tensão é:

𝑅2
Em seguida, empregamos o instrumento virtual Bode 𝑉2 = 𝑉𝐹 * = 6. 386𝑉
𝑅1+𝑅2
Analyzer do ELVIS para obter a resposta em frequência do
circuito RC montado na prática. Além disso, a resposta em A incerteza padrão de cada resistor utilizada foi a
frequência teórica foi calculada e traçada no MATLAB, tolerância do fabricante:
permitindo uma comparação com os resultados obtidos pelo
ELVIS. 𝑈(𝑅1) = 56𝐾 * 5% =± 2. 8𝐾

3. RESULTADOS 𝑈(𝑅2) = 100𝐾 * 5% =± 5𝐾

3.1. Medição de resistência
Para calcular os coeficientes temos:
Os resistores utilizados neste experimento, todos,
∂𝑉2 𝑅2*𝑉𝑓 −5
possuem uma tolerância especificada de 5%, a incerteza do =− 2 =− 4. 1487 * 10 𝑉/Ω
∂𝑅1
multímetro utilizado fluke é de 1,5%+2 digitos e a incerteza (𝑅1+𝑅2)

do DMM do elvis é de 450 ppm da leitura+100 ppm do ∂𝑉2 𝑉𝑓(𝑅1+𝑅2)−𝑅2𝑉𝑓 −5

range. Os dados das medições, assim como os valores ∂𝑅2
= 2 = 2. 3621 * 10 𝑉/Ω
(𝑅1+𝑅2)
nominais, são mostrados na Tabela 1.
∂𝑉2 𝑅2
Tabela 1. Medições de resistência. ∂𝑉𝑓
= 𝑅1+𝑅2
=− 0. 6386 𝑉/𝑉

Valor Medição Medição Incerteza Incerteza Substituindo estes valores na equação de 𝑈𝑐(𝑉2) temos:
nominal pelo multímetro ELVIS multímetr
[kΩ] DMM [kΩ] (Ω) o
[kΩ] 𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 3640𝑉
(kΩ)
5, 6 ± 5% 5,4803 5,485 ±1,0036 ±0.0822 𝑉2 = 6. 3869 ± 0. 3640𝑉
0, 56 ± 5% 0,5521 552,3 ±0.10067 ±0.0082
56 ± 5% 55,2850 55,31 ±10,058 ±0.8296 Para o caso 2 onde foi proposto R1=560 e R2=1k,
utilizamos também os valores medidos pelo ohmímetro do
1 ± 5% 1,0011 1,002 ±0.10055 ±0.0150
ELVIS por ser mais preciso:
100 ± 5% 97,7020 97,7 ±10,078 ±1.4655
R1= 0.5521k

R2=1.0011k
Para a obtenção dos dados com o multímetro, foi
Para isso o valor esperado de V2 em cima de R2 utilizando div
observado que o valor era instável em um primeiro isor de tensão é:
momento. Então, foi preciso esperar cerca de 15 segundos
para que a medição se estabilizasse e, só depois, anotar os 𝑅2
𝑉2 = 𝑉𝐹 * = 6. 4454𝑉
valores. O modelo de multímetro utilizado foi o Fluke 179 𝑅1+𝑅2
True RMS Multímeter, cujas especificações são mostradas
no Apêndice A. A incerteza padrão de cada resistor utilizada foi a
tolerância do fabricante:
3.2. Circuito divisor de tensão
𝑈(𝑅1) = 0. 56𝐾 * 5% =± 28Ω
3.2.1. Incerteza combinada
𝑈(𝑅2) = 1𝐾 * 5% =± 50Ω
Para encontrar a incerteza associada de V2 foi aplicada a
seguinte equação: Para calcular os coeficientes temos:

2 2 2 1/2 ∂𝑉2 𝑅2*𝑉𝑓 −3

𝑈𝑐(𝑉2) = ⎡⎢( ∂𝑉2
) +(
𝑥𝑈(𝑅1)
∂𝑉2
) +(
𝑥𝑈(𝑅2)
∂𝑉2
)
𝑥𝑈(𝑉𝑓) ⎤⎥ ∂𝑅1
=− 2 =− 4. 1497 * 10 𝑉/Ω
⎣ ∂𝑅1 ∂𝑅2 ∂𝑉𝑓
⎦ (𝑅1+𝑅2)

2
 ∂𝑉2
=
𝑉𝑓(𝑅1+𝑅2)−𝑅2𝑉𝑓
= 2. 2885 * 10
−3
𝑉/Ω Portanto o erro de cada medição comparado com o valor
∂𝑅2 2
(𝑅1+𝑅2) calculado esperado foi:
∂𝑉2 𝑅2
∂𝑉𝑓
= 𝑅1+𝑅2
=− 0. 6445 𝑉/𝑉
Valores Erro de Medição Erro de Erro de
Substituindo estes valores na equação de 𝑈𝑐(𝑉2) temos: de R1 e utilizando Medição Medição
R2 multímetro utilizando utilizando
𝑈𝑐(𝑉2) = 0. 1753𝑉 Fluke[V] voltímetro ELVIS [V]
bobina móvel
[V]
𝑉2 = 6. 4454 ± 0. 1753𝑉
97,8 kΩ 0. 094% 43. 57% 0. 125%
e 55.95
Foram realizadas as medições, como descrito pelo item kΩ
2.1.2 deste relatório, e os dados são apresentados na Tabela
2. Para o cálculo da incerteza das medições utilizamos as 989 Ω e 0. 139% 2. 01% 0. 1708%
seguintes equações: 550,5 Ω

A incerteza do ELVIS:
Podemos observar através do cálculo do erro relativo que o
225 ppm da leitura+40 ppm da escala e para a erro de medição da bobina móvel se mostrou muito maior
𝑜 que os demais métodos de medição, a bobina móvel
temperatura de 15 𝑎 35 𝐶 acrescenta-se 33 ppm da
apresentou um erro muito grande quando colocado cargas na
leitura+0.5 ppm da escala:
ordem de dezenas de kΩ, devido ao fato de sua carga
−6 interior ser baixa comparada com cargas muito altas e não
𝑈𝑐(𝑉2) = (225 * 𝑉2 + 40 * 𝐸𝑠𝑐𝑎𝑙𝑎 + 33 * 𝑉2 + 0. 5 * 𝐸𝑠𝑐𝑎𝑙𝑎) * 10
atuando como “ carga infinita” que um voltímetro ideal
deveria possuir em seu interior, no segundo caso como a
A incerteza do multímetro digital Fluke: carga foi muito menor o voltímetro analógico teve um erro
até que baixo em comparado com o primeiro caso, devido
2%+3 digitos:
sua carga interior ter valor muito maior que a carga que foi
𝑈𝑐(𝑉2) =± 0. 02 * 𝑉2 + 3 * 0. 001 implementada no circuito, porém ainda um erro muito alto
comparado com o multímetro digital e a plataforma do
A incerteza do voltímetro analógico: ELVIS, justamente por estes métodos de medição atuar no
circuito com cargas muito superiores, aproximando-se do
De acordo com a escala de 12V que utilizamos temos: valor real de tensão.
3.3. Circuito RC série
𝐸𝑟𝑟𝑜 = 12 * 0. 5% = ± 0. 06𝑉
A Figura 2 mostra o resultado obtido para o diagrama de
𝑈𝑐(𝑉2) =
0.06
= 3. 46 * 10 𝑉
−2 bode gerado com o auxílio da plataforma Elvis.
3

Tabela 2. Medições do circuito divisor de tensão.

Valores Medição Medição Medição

de R1 e utilizando utilizando pelo ELVIS
R2 multímetro voltímetro [V]
Fluke[V] bobina móvel
[V]
97,8 kΩ 6, 374 ± 0. 1304 3, 6 ± 0. 0346 6, 372 ± 0. 002
e 55.95
kΩ
989 Ω e 6, 431 ± 0. 1316 6, 31 ± 0. 0346 6, 429 ± 0. 002
550,5 Ω

3.2.2. Erro relativo Figura 2. Diagrama de bode

Temos que o erro relativo é: É importante ressaltar que o comportamento esperado,

com base nos cálculos, é uma frequência de corte de 1292
𝑉𝑚𝑒𝑑𝑖𝑑𝑜−𝑉𝑛𝑜𝑚𝑖𝑛𝑎𝑙 Hz. Esse valor é determinado por meio da Equação 1.
𝑒(%) = 𝑉𝑛𝑜𝑚𝑖𝑛𝑎𝑙
* 100%
1
𝑓𝑐 = 2π𝑅𝐶
(1)

3
 Por meio da equação 2, é possível estimar a incerteza da
frequência de corte esperada.

2 2 1/2
𝑈𝑐(𝑓𝑐) = ⎡⎢
⎣
( ∂𝑓𝑐
∂𝑅
𝑥𝑈(𝑅) ) +( ∂𝑓𝑐
∂𝐶 )
𝑥𝑈(𝐶) ⎤⎥
⎦
(2)

As incertezas associadas ao resistor e ao capacitor,

ambas, são de 5%. Por tanto:

𝑈(𝑅) = 5, 6𝐾 * 5% =± 280

𝑈(𝐶) = 22𝑛 * 5% =± 1, 1𝑛

Para calcular os coeficientes temos:

∂𝑓𝑐 −1 −3
∂𝑅
=− 2 =− 230, 68 * 10 𝑉/Ω
2π𝐶(𝑅)

∂𝑓𝑐 −1 10
∂𝐶
= 2 = − 5, 87 * 10 𝑉/Ω
2π𝑅(𝐶)

Substituindo estes valores na Equação 2, temos:

𝑈𝑐(𝑓𝑐) = 91, 33 𝐻𝑧

𝑓𝑐 = 1292 ± 91, 33 𝐻𝑧

Avaliando o resultado obtido no ensaio prático, foi

observada uma frequência de corte de 1500 Hz. Esse valor
está fora da incerteza calculada e não pode ser explicado
apenas pela propagação de erro dos valores dos
componentes. Então, considerando as impedâncias parasitas
das conexões da placa, bem como as indutâncias parasitas
dos fios e também a incerteza associada aos valores
nominais dos componentes, o resultado é satisfatório.

4. CONCLUSÃO

Podemos concluir que a plataforma NI-ELVIS se mostrou

uma plataforma excelente para medições e aplicações
diversas, pois oferece diversos tipos de equipamentos
internos como gerador de função, osciloscópio, multímetro
digital entre outros. Vimos na prática que a plataforma
ELVIS possui uma precisão muito alta nas medições onde
sua incerteza está na ordem de milésimos de unidades, se
mostrando mais preciso que o multímetro digital. Vimos
também a problemática de utilizar um medidor analógico,
pois além de ocasionar erros de leitura, também ocorre erros
de medição devido ao efeito de carga.

5. REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
[1] National Instruments. NI ELVIS II Specifications.
Texas, USA. 2008.
[2] National Instruments. NI Educational Laboratory
Virtual Instrumentation Suite II Series (NI ELVISTM II
Series) User Manual. Texas, USA. 2008.
[3] Meterman. 38XR Professional Digital Multimeter.USA.
2002.