McCrometer V-Cone Metros Testado de acordo com

API 5.7 "Protocolo de teste para dispositivos de presso diferencial para medio de
presso"

E subsequentemente testado para atender aos requisitos adicionais do
API 22 "protocolo de teste" Seo 2 - " Dispositivos de presso diferencial para
medio de presso "
(Em edio de API 5.7)


O American Petroleum Institute Manual of Petroleum Measurement
Standards(Instituto Manual de Normas de Medio de Petrleo), Captulo 5.7 (API 5.7)
especifica um protocolo de teste para o fluxo de presso diferencial dispositivos de
medio. O protocolo foi escrito para aplicar a todos os dispositivos de fluxo de
medio que medem o fluxo de fluido monofsico com base na deteco de uma
presso diferencial criado na corrente de fluxo do fluido. Este padro foi publicado em
Janeiro de 2003 "para abastecer a indstria com uma descrio comparvel das
capacidades destes dispositivos para a medio de fase ni ca de fluxo do fluido
quando eles so usados em condies de funcionamento semelhantes. " Um
laboratrio para rastreveis NIST ou um equivalente nacional ou internacional
necessrio. McCrometer escolheu para realizar as provas do V-Cone Wafer, em
acordo com a API 5.7 a CEESI, Os resultados dos testes do API 5.7 foram apresentados
em um documento conjunto McCrometer e CEESI em Flomeko 2004 [1] em Guilin,
China, em 14 17 de setembro de 2004.

McCrometer escolheu para realizar os testes do padro V-Cone, de acordo com API
5.7 a Southwest Research Institute, em San Antonio Texas e Utah State University. Os
resultados dos testes de API 5.7 foram apresentados em um documento conjunto por
McCrometer e Southwest Research Instituto no Mar do Norte Oficina de Medio de
Fluxo em St Andrews. Esccia em 26 28 de Outubro de 2004 [2].


API 22 "Protocolo de Teste" - Seo 2 " Diferenciais de medio de presso
dispositivos de fluxo ", publicado em agosto de 2005 ",

Esta norma uma reviso da API 5.7 [2] e foi publicada em agosto de 2005 "para
abastecer a indstria com uma descrio comparvel das capacidades destes
dispositivos para a medio de fase nica de fluxo do fluido quando eles so utilizados
sob semelhante condies ".
Um laboratrio para rastreveis NIST ou um equivalente nacional ou internacional
necessrio. McCrometer escolheu para realizar os testes adicionais do Wafer V-
Cone e a norma V-Cone, para trazer o regime de testes anteriores em conformidade
com os requisitos adicionais de 22,2 API, em CEESI, como o inicial testes da pastilha V-
Cone metros para 5,7 API tinha sido realizada l. O resultados destes Wafer V-Cone
testes ser apresentado em um documento conjunto McCrometer e CEESI, a medio
do fluxo de fluidos 6 Simpsio Internacional em Queretaro, Mexico em 16 18 de
Maio de 2006 [3]

Quando o relatrio de teste padro V-Cone concludo em Maio de 2006, um
documento ser apresentado em um documento conjunto na prxima conferncia
apropriada.



Elementos fundamentais e as concluses destes Trabalhos

FLOMEKO 2004, CHINA

A 12 Conferncia Internacional sobre Medio de Vazo

Setembro 14-17,2004 Guilin,China

Testando os Wafer V-Cone Fluxmetros de acordo com
API 5.7 "Protocolo de teste para dispositivos de presso diferencial para medio de
vazo" na instalao de ensaio CEESI Colorado


Dr R.J.W.Peters Flow Measurement Technology Manager, McCrometer
Dr Richard Steven Multiphase Meter Development Manager, McCrometer
Steve Caldwell Vice President, CEESI
Bill Johansen Engineering Manager, CEESI

7. Concluses sobre o Teste do medidor de Wafer V-Cone
7.1 gua e testes areos foram realizados em 4 Wafer V-Cone metros para
McCrometer. Uma 2 polegada Wafer V-Cone com um beta de 0.45 e trs 4 "Wafer V-
Cone metros com taxas de beta de 0.45, 0.5 e 0.65 foram testadas.
7.2 O teste foi realizado usando ar comprimido em todos os Wafer V-Cone metros, a
uma presso de linha de 87 psia a estabelecer o desempenho de linha de base. Estes
testes revelaram que as curvas caractersticas de todos os Wafer V-Cone metros eram
muito semelhantes. A semelhana das curvas caractersticas indica que a equao
expansibilidade usado com a bolacha metros V-Cone est correcta.
7.3 O teste foi realizado a uma presso de ar significativamente maior em todos os 4
Wafer V-Cone metros. Os resultados do teste de alta presso foram comparados com
os resultados de baixa presso de teste e limites de incerteza. Os 4 "0,45 e 0,65 beta
relao Wafer V-Cone resultados do teste do medidor no apresentam diferenas
entre a presso alta e desempenho metros de linha de base. O 2" 0,45 razo beta e 4
"0.5 beta resultados do teste de razo mostrar pequenas diferenas entre a presso
alta e a linha de base resultados do teste.
7.4 teste lquido foi realizada sobre as 4 "0.65 e 0.45 beta relao Wafer V-Cone
metros, bem como o 2" 0.45 beta rcio Wafer medidor V-Cone. O teste lquido foi
realizada utilizando gua. As diferenas entre os ensaios de fluxo de lquidos e os
testes realizados sobre os basais metros, juntamente com as incertezas associadas a
essas diferenas so mostrados na Figura A1. Os 4 "0.65 e 0.45 beta relao Wafer V-
Cone resultados do teste do medidor no mostram diferenas entre o fluxo de lquido
e de desempenho metros de linha de base. Os 2" 0.45 rcio beta Wafer V-Cone
resultados do teste do medidor mostrar uma diferena entre o fluxo de lquido e fluxo
de ar os resultados do teste de linha de base de 1.93% 0.644%.
7.5 testes no-padro foi realizada sobre a 4 0.45 beta "metros rcio Wafer V Cone-
para determinar a sensibilidade da bolacha metros V Cone-a perfis de velocidade
assimtricos e redemoinho. Os testes foram conduzidos com um gerador de
turbulncia no 0D, dobrar-se de avio, os cotovelos em 0D, uma vlvula de porta semi -
aberta em 3.1d, e uma vlvula de porta semi-aberta em 0E. As diferenas entre estes
testes e os resultados dos exames iniciais na 4 0.45 beta "medidor de taxa de Wafer V-
Cone ao longo com a incerteza associada com as diferenas mostrado na Figura A1.
O nico teste que mostra uma diferena estatstica significativa entre os resultados do
teste e os dados de referncia a vlvula gaveta semi -aberta no 0D. Estes resultados
indicam que a Wafer V-Cone exibe um elevado grau de insensibilidade a efeitos da
instalao.
7.6 Medio do rudo foram feitas durante todo o teste de baixa presso de ar
realizada sobre as quatro Wafer V-Cone metros. No foi possvel diferenciar entre o
rudo de fundo na rea de teste e do rudo produzido pelas Wafer V-Cone metros.
7.7 Em concluso, o McCrometer Wafer metros V-Cone nesses testes conheci as
reivindicaes feitas pelo fabricante e exibiu uma habilidade excepcional para operar
de forma eficaz a jusante de distrbios de fluxo.







NORTH SEA OFICINA DE MEDIO DE FLUXO 2004
Em
St Andrews, Esccia
De 26 28 de Outubro de 2004
"Testes do medidor de fluxo V-Cone em Southwest Research Institute e do Estado de
Utah University em conformidade com a nova API Captulo 5.7 Protocolo de teste "

Authors:
Dr. Darin L. George Senior Research Engineer, Southwest Research Institute
Mr. Edgar B. Bowles Fluid Systems Engineering Manager, Southwest Research
Institute
Ms. Marybeth Nored Research Engineer, Southwest Research Institute
Dr. R.J.W. Peters Flow Measurement Technology Manager, McCrometer
Dr. Richard Steven Multiphase Development Manager, McCrometer

concluses
Os testes do medidor de fluxo V-Cone de acordo com a API Captulo 5.7
demonstraram a V-Cone Fluxmetro desempenho de gs de alta presso no MRF e na
gua na Utah State University. Os resultados do teste mostraram repetibilidade metros
boa, resultando em uma margem de incerteza de medio pequeno no coeficiente de
descarga calibrado. Alm disso, os ensaios mostraram concordncia excelente entre a
MRF, o estado de gua Utah University Research Laboratory eo laboratrio de gua
McCrometer.
O medidor de vazo V-cone conheceu as alegaes do fabricante como um
dispositivo de 0,5% em relao a uma gama grande nmero de Reynolds. A equao
expansibilidade fornecido para o medidor foi eficaz em toda a gama de presses de
teste, presses diferenciais e tamanhos de linha de metro.
Teste no-padro 2 demonstraram que dois, 90 fora do plano-cotovelos poderia ser
colocado no tubo de aspirao do medidor com um deslocamento mximo do
coeficiente de descarga de no mais do que 0,15%. Um fluxo com um ngulo de
redemoinho at 30 na entrada para o medidor de fluxo de V-cone ir produzir
resultados semelhantes, com uma alterao mnima ( 0,15%) no coeficiente de
descarga calibrado. Quando uma meia lua placa de orifcio colocado no 5D a
montante do contador, a mudana no coeficiente de descarga pode ser esperado a ser
no mais do que 0,5%, dentro da tolerncia reivindicado pelo fabricante.
o teste de rudo acstico indicou que no havia nenhum rudo significativo do
medidor, mas no o nvel de rudo conclusivo pde ser determinado para o medidor
devido ao rudo de fundo da instalao de ensaio.


Medio de Vazo
6

Simpsio Internacional
16 18 de Maio de 2006, QUERETARO, MEXICO

Testando a pastilha V-Cone fluxmetro em conformidade com a API 22 "protocolo de
teste" SECO 2 - "presso diferencial dispositivos para medio de vazo" na
instalao de ensaio CEESI Colorado Instalaes de teste.

Dr R.J.W.Peters Flow Measurement Technology Manager
McCrometer, Inc.
Casey Hodges Staff Engineer
CEESI
Steve Caldwell Vice President
CEESI

8. Concluses sobre o teste da Pastilha V-Cone metros em espao
8.1 testes de ar foram realizadas em 4 da pastilha V-Cones - One 2 polegadas Pastilha
V-Cone com um beta de 0,45 e trs 4 "Pastilha V-Cones com betas de 0.45, 0.5 e 0.65.
8.2 O teste foi realizado usando ar comprimido em toda a Pastilha V-Cones a uma
presso de linha de 87 psia a estabelecer o desempenho de linha de base. Estes testes
revelaram que as curvas caractersticas de toda a Pastilha V-cones foram muito
semelhantes. A semelhana das curvas caractersticas indica que a equao
expansibilidade usado com a Pastilha V-Cone est correcta.
8.3 Durante os teste da linha de base para o tamanho da linha 4 "com o inserto Beta
0.65, a gama mais baixo nmero de Reynolds testados foi de 93 962. Na altura do
teste, que teria tido excessivamente longo para cobrir a extremidade inferior do
intervalo, de modo foi tomada a deciso para avanar para outros testes. Devido
forma do Cd vs curva de nmeros de Reynolds, isto tem um efeito significativo sobre o
clculo do Cd Mid. Na Tabela 2, os resultados so mostrados com efeitos primeiro a
instalao de teste valores acima de toda a gama nmero de Reynolds de 50 000 a 500
000. Isto mostra que existe uma diferena significativa entre os valores de Cd mediana
de cada teste efeitos instalao a partir do teste de linha de base. Devido no-
linearidade do Cd vs nmero curvas Reynolds a maneira correta de comparar os
valores de Cd Mid comparar os efeitos dos testes de instalao sobre o mesmo
intervalo que o teste inicial foi executado.

Estes resultados, limitando a instalao efeitos gama nmero de Reynolds de 90 000 a
500 000, esto em mostrado como uma seco separada na parte inferior da Tabela 2.

8.4 As concluses para os testes de meia-lua perturbao so como se segue:

2 "0.45 m
No existe nenhuma diferena estatstica a partir do teste de linha de base quando
Placa Meia Lua 5D Montante
Placa Meia lua 1D Jusante
Placa Meia Lua 5D a montante e 1D a jusante

4 " 0.45 m
No existe nenhuma diferena estatisticamente do teste de linha de base quando
Placa Meia Lua 5D Montante
Placa Meia Lua 2D Jusante
Conclui-se que no haveria diferena estatstica se houver
Placa Meia Lua 5D a montante e 1D a jusante





4 "0.50 m
No existe nenhuma diferena estatisticamente do teste de linha de base quando
Placa Meia Lua 5D Montante
Placa Meia Lua 1D a jusante
Meia Lua Prata 5D a montante e 1D a jusante

4 "0,65 m
Re gama restrita de 90.000 para 500.000
No existe nenhuma diferena estatisticamente do teste de linha de base quando
Placa Meia Lua 5D Montante
Placa Meia Lua 2D Jusante
Conclui-se que no haveria diferena estatstica se houver
Meia Lua Prata 5D a montante e 1D a jusante

8.5 medies do rudo foram feitas durante todo o teste de baixa presso de ar
realizada sobre as quatro Pastilhas V-Cone metros. No foi possvel diferenciar entre o
rudo de fundo na rea de teste e do rudo produzido pela Pastilha V-Cone metros. 8,5
medies do rudo foram feitas durante todo o teste de baixa presso de ar realizada
sobre as quatro Pastilhas V-Cone metros. No foi possvel diferenciar entre o rudo de
fundo na rea de teste e do rudo produzido pela Pastilha V-Cone metros.
8.6 Em concluso, o McCrometer Pastilha V-Cone metros nestes testes demonstrado
uma capacidade excepcional para operar de forma eficaz a jusante do fluxo de
extrema perturbao. McCrometer agora vai aconselhar os seus clientes a montante e
a jusante requisitos de trechos retos entre tais distrbios e a Pastilha medidora V-
Cone para alcanar a incerteza afirmou.