A UTILIZAO DA FUNO PERDA DE TAGUCHI NA

PRTICA DO CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO

Luciana Renn DOliveira Collin
e-mail: collin@iem.efei.rmg.br

Edson Oliveira Pamplona
e-mail: pamplona@iem.efei.rmg.br

Escola Federal de Engenharia de Itajub - IEM/DPR
Campus Prof. Jos Rodrigues Seabra - Av. BPS, n 1303. 37500-000 Itajub-MG


Abstract
Manufacturing process do not produce completely identical characteristics for
successive units of same product. Although the capability indices are used how measures
of progress for quality improvement of the process, it is possible that even in a process
with a large value of capability index can also be misleading to assuring the quality
requirements. This work discusses the use of Taguchis Loss Function in practice on the
Statistical Process Control for the control of characteristics over the target value.

Keywords: Quality Engineering; Statistical Process Control; Taguchis Loss Function

1. Introduo

A qualidade est se tornando um fator bsico na deciso dos consumidores para
produtos e servios. Com isso, o aperfeioamento da qualidade tem se tornado uma
atividade essencial na maior parte das organizaes, para manter a existncia de clientes e
a conquista de novos mercados, alm de tornar novos produtos e tecnologia mais
competitivos.
No sculo XIX, os esforos para eliminar as variaes inerentes ao processo eram
muitas vezes bem sucedidos devido simplicidade de seus produtos manufaturados.
Atualmente, com a maior complexidade dos sistemas de fabricao e montagem, grande
ateno despendida no controle da variao das caractersticas do produto em torno do
valor nominal (Provost e Norman, 1990). O controle estatstico de processo (CEP) uma
ferramenta utilizada para controlar as variabilidades do processo, e atravs do uso dos
grficos de controle, monitora as caractersticas dos produtos com relao aos limites de
especificao.
A proposta deste trabalho utilizar o conceito da funo perda de qualidade de
Taguchi na prtica do controle estatstico de processo para o controle das caractersticas do
processo em torno do valor nominal, j que segundo Goh (1993), ele um ferramenta
passiva, na medida que ele sozinho no proporciona melhorias no processo. Embora serem
utilizados os ndices de capabilidade para acompanhamento das melhorias do processo,
Ribeiro e Caten (1995), alegam que, mesmo um processo com alto ndice de capabilidade
pode no ser eficiente se no estiver centrado em torno do valor nominal, gerando
problemas de qualidade.


2. O Conceito de Variabilidade

Qualquer processo de produo, independentemente de suas caractersticas, contm
muitas fontes de variabilidade. Por melhor ajustado que esteja, ele produzir peas que
apresentaro diferenas entre si, podendo ser grandes ou at mesmo muito pequenas.
Esta variabilidade natural o conjunto de efeitos acumulativos que so compostos
de causas incontrolveis. importante que estas variabilidades naturais sejam pequenas at
que atinjam um certo nvel aceitvel, para que no comprometam o desempenho do
processo.
O CEP bastante utilizado para o controle das variabilidades do processo, tendo
como principal objetivo fazer com que o processo esteja sob controle. Isto feito pela
identificao e eliminao de qualquer causa de variao no-associada com o processo.
Busca-se determinar o mais rpido possvel a ocorrncia de tais variabilidades, de modo
que as aes corretivas possam ser feitas antes que muitas unidades no-conformes sejam
produzidas. Contudo, faz-se necessrio avaliar a capabilidade do processo para
diagnosticar o estado de controle dos processos de produo, verificando se so capazes de
satisfazer as especificaes pr-estabelecidas.

3. Anlise da Capabilidade do Processo

O interesse na capabilidade do processo est crescendo, devido s mudanas na
filosofia de controle de qualidade. Sua utilizao envolve no apenas a avaliao de
processos, mas tambm a avaliao de fornecedores.
A capabilidade tem sido definida por muitos caminhos. Como resultado, muitas
medidas de capabilidade tem sido apresentadas por diversos autores.
O ndice de capabilidade uma funo adimensional dos parmetros do processo
( , ) e da especificao do processo (LSE, T , LIE), desenvolvidos para proporcionar
uma linguagem comum e de fcil entendimento para a quantificao do desempenho do
processo, (Kane, 1986), onde:
= mdia do processo
= desvio padro do processo
LSE = limite superior de especificao
LIE = limite inferior de especificao
T = valor nominal

3.1 O ndice Cp

Spiring (1997), aponta o ndice de capabilidade Cp como a medida mais comum de
capabilidade. Cp mede a disperso permitida do processo pela medida da real disperso do
processo. uma medida da preformance potencial do processo. A disperso relacionada
com os limites de especificao, mas a locao do processo no considerada nem na
definio nem no clculo do Cp. Em alguns textos, como em Montgomery (1991), ele
chamado de PCR (Process-capability ratio). definido por:


Cp = disperso permitida do Processo = LSE - LIE (3.1)
disperso real do processo 6


onde LSE e LIE denotam os limites de especificao superior e inferior
respectivamente, e o desvio padro do processo.
A disperso real do processo geralmente assumida ser 6, o que representa na
teoria normal, a largura do intervalo que contm 99,73% da populao. A disperso
permitida do processo considerada fixa, enquanto que a disperso real do processo deve
ser estimada.
Kane (1986), relata que um Cp = 1,0, indica que o processo julgado capaz. Um
valor de Cp = 1,33 geralmente usado para processos correntes, segundo Juran, Gryna e
Binghan (1979). Este valor d certa garantia de que, quando as causas adicionais de
variabilidade atuarem, o Cp real do processo seja maior ou igual a 1,00.
Levando-se em conta que o ndice Cp mede a disperso do processo com relao
aos limites de especificao sem levar em conta a localizao da mdia do processo,
possvel que se tenha uma porcentagem de itens fora das especificaes, mesmo com um
Cp alto, devido a uma localizao da mdia do processo suficientemente prxima ao limite
de especificao. Chan, Cheng e Spiring (1988) e Kane (1986), descrevem dentro desta
abordagem como que um ndice Cp com um alto valor no garante que todos os itens
estejam dentro das especificaes.
Para avaliar mais eficientemente o desempenho do processo, foi introduzido o
ndice Cpk, que leva em conta a variabilidade do processo e sua locao com relao aos
limites de especificao.

3.2 O ndice Cpk

Kane (1986), apresenta duas formas equivalentes para o ndice Cpk. A primeira
frmula considera os limites de especificao superior e inferior separadamente. A segunda
frmula utiliza o desvio da mdia do processo pelo ponto mdio dos limites de
especificao. Antes de apresentar o ndice Cpk, ser necessrio considerar dois outros
ndices de capabilidade: CPU e CPL
Considerando o caso de especificao unilateral superior define-se:

CPU = LSE - (3.2)
3

Analogamente para processos com especificao unilateral inferior tem-se:

CPL = - LIE (3.3)
3

Para o caso de especificaes bilaterais define-se o ndice como:

Cpk = mnimo (CPL , CPU) (3.4)

O ndice Cpk, portanto, determina a distncia entre a mdia do processo e o limite
de especificao mais prximo.
Uma outra abordagem para o ndice Cpk reduz-se na seguinte forma:

Cpk = (1 - k) Cp (3.5)



onde k = 2 T -
LSE - LIE

= mdia do processo
T = valor nominal do processo.

Segundo Spiring (1991), o valor de k representa a poro da disperso permitida do
processo no produzida no alvo. Se k = 0, a mdia do processo coincide com o valor alvo.
Se k = 1, a mdia do processo est localizada em um dos limites de especificao. As duas
definies de Cpk so algebricamente equivalentes para 0 k 1 e o valor alvo coincide
com o ponto mdio dos limites de especificaes.
Kane (1986), recomenda o uso e comparao dos ndices Cp e Cpk para cada
caracterstica. Se o processo possui um baixo Cpk, ento o ndice Cp deve ser verificado
para determinar se a variabilidade demasiadamente alta. Se Cp prximo ao valor de
Cpk, ento a locao do processo no representa um problema.

3.3 Consideraes sobre o ndice Cpk

Boyles (1991), afirma que o ndice Cpk no mede adequadamente a centralizao
do processo. Para isso o autor dispe-se de tcnicas grficas, grficos ( e ), onde
atravs de comparaes dos ndices demonstra que Cpk pode falhar na distino de
processos fora do alvo e dentro do alvo.
Uma medida alternativa de ndice de capabilidade do processo, como relata Spiring
(1991), tem a capacidade de avaliar a proximidade do alvo devido variao do processo.
As mudanas so poderosas, com propriedades estatsticas superiores e aparncia
mais intuitiva. Este ndice de capabilidade do processo, denotado por Cpm, ou ndice de
capabilidade de Taguchi, ser descrito a seguir, juntamente com a metodologia de Taguchi.

4. Metodologia de Taguchi

4.1 - Consideraes Iniciais

A partir de 1984, tem ocorrido uma mudana de pensamento com relao
qualidade e tecnologia da engenharia atravs da aplicao dos Mtodos de Taguchi.
Embora esta mudana tenha ocorrido lentamente devido s controvrsias estatsticas, esta
tecnologia est comeando a promover os maiores efeitos nos produtos do que qualquer
outro conceito ou mtodo individual apresentado, conforme relata Sullivan (1987).

4.2 A Funo Perda de Qualidade de Taguchi

O ponto inicial da filosofia de Taguchi est em sua no-convencional definio de
qualidade. Em contraste aos conceitos como adequao ao uso, conformidade com os
requisitos, ou satisfao do cliente, a definio de Taguchi perdas para a sociedade,
reflete dois valores orientais comuns, isto , aspirao para o perfeccionismo, e trabalho
para o bem coletivo.
Perdas para o sociedade medido pelo desvio real da caracterstica de qualidade do
produto do seu valor alvo. O uso desta funo perda, uma expresso matemtica que pode
declarar, particularmente para propsitos gerenciais, o valor monetrio da conseqncia de
qualquer aperfeioamento em qualidade.
Embora tal valor monetrio no represente uma virtual perda ou dano, ele um
conveniente ndice de desempenho que pode ser facilmente apreciado pelos tomadores de
deciso, uma caracterstica muito importante e lisonjeada pelos promotores dos mtodos de
Taguchi para atrair o interesse dos tomadores de deciso. (Goh, 1993).
O significado de aperfeioamento da qualidade mudado para solucionar
problemas atravs da reduo da variabilidade em torno do valor alvo, tendo como ponto
importante, como medir o aperfeioamento da qualidade. O principal foco do
aperfeioamento da qualidade a reduo de custos.
O conceito da funo perda demonstrado na figura 4.1. O grfico demonstra a
funo perda associada com a idia de estar dentro ou fora dos limites de especificao. O
alvo central, T, representa o nvel ideal do parmetro de projeto. Os dois limites de
especificao LSE e LIE, so os limites de especificao simtricos padronizados. O eixo
vertical a medida do valor de perda devido ao desvio da caracterstica do nvel desejado.




Limites de Especificao

$ A




Alvo




LIE T LSE

figura 4.1 - Funo Perda de Taguchi
fonte: Kackar, 1986


A funo perda de Taguchi estabelece uma medida financeira para o clculo do
desvio de uma caracterstica do produto com relao ao valor nominal. Pode ser descrita
como:

L = k (y - T)
2
(4.1)
onde L = perda devido ao desvio da caracterstica
k = coeficiente de perda
y = valor da caracterstica de qualidade
T = valor nominal ou valor alvo

Para uma amostra, a frmula da perda mdia ser:

L = k [ ( y - T )
2
+
2
] (4.2)

k = A / (LSE - T)
2
e A o custo de se produzir um produto fora da especificao

y = valor mdio de uma caracterstica

2
= varincia relativa mdia
T = valor nominal

4.3 O ndice de Capabilidade de Taguchi

Segundo Boyles (1991), Taguchi encontrou uma definio alternativa de Cp, o qual
adequa-se perfeitamente com a abordagem da funo perda.
. O ndice definido por:


Cpm = LSE - LIE (4.3)
6

onde o desvio padro do alvo definido por:


2
=
2
+ ( - T )
2
(4.4)


O ndice expressa a variao do alvo, com base em dois componentes de
variabilidade: variabilidade do processo () e centralizao do processo ( - T).
Boyles (1991) demostra como o ndice de Cpk pode falhar ao medir a centralizao
do processo em contraste com o ndice Cpm, como apresentado na figura 4.3 a seguir.



figura 4.3 - Trs processos com Cpk =1
fonte: Boyles, 1991





Processo Cp Cpm Cpk
A 1 1,00 1
B 2 0,63 1
C 4 0,44 1

Quadro 4.1 - Comparo dos ndices de Capabilidade
fonte: Boyles, 1991

Estes trs processos so equivalentes de acordo com Cpk, mas claramente so
distintos de acordo com Cpm. Diferem substancialmente com relao centralizao do
processo.
O ndice Cpm possui as propriedades necessrias para avaliar a capabilidade do
processo, podendo ser bastante til para o acompanhamento da variabilidade do processo
com relao ao valor nominal.
Spring (1991), relata que Cpm pode tambm ser generalizado para situaes onde o
valor nominal (T) no o ponto mdio dos limites de especificao, como apresentado a
seguir:

Cpm* = mnimo [LSE - T, T - LIE] (4.5)
3

5. Concluso

A qualidade de um produto no pode ser aperfeioada a menos que suas
caractersticas possam ser identificadas e medidas. Dentro deste contexto, a variabilidade
uma caracterstica importante de controle para o bom desempenho do produto. Genichi
Taguchi, recentemente popularizou o conceito da funo perda, focalizando o impacto da
variao da qualidade. Ele tem retratado a idia de que a variao do alvo desejado acarreta
perdas para a sociedade.
Taguchi aponta que, mesmo o produto estando dentro dos limites de especificao,
h um custo definido para a sociedade se a caracterstica no est exatamente no valor
nominal; quanto mais longe do nominal, maior o custo.
Apesar dos ndices de capabilidade Cp e Cpk serem utilizados para
acompanhamento das melhorias dos processos na prtica do CEP, seus resultados no
fornecem informaes adequadas a respeito da variao em torno da mdia, como
apresentada pela funo perda de Taguchi..
O ndice de capabilidade de Taguchi (Cpm), mede a capabilidade do processo
levando em conta tanto a sua localizao, como tambm a variao em torno do valor
nominal, sendo portanto sensvel com relao centralizao do processo.

6. Referncia Bibliogrfica

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