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CAPTULO 7: METALOGRAFIA
DEPARTAMENTO DE MECNICA
MATERIAIS DE CONSTRUO MECNICA IV
PROF. ALEXANDRE ALVARENGA PALMEIRA
SUMRIO
AAP 7-2
Materiais de Construo Mecnica IV
NDICE DE FIGURAS
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NDICE DE TABELAS
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7- EXAMES METALOGRFICOS
7.1 Macrografia
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A intervm o critrio da operador, que ser guiado em sua escolha pela forma da
pea, pelos dados que ele quer colher e por outras consideraes. A posio do corte
depende naturalmente da pea e do que se deseja verificar. Far-se- de preferncia um
corte transversal, se o objetivo verificar :
a natureza do material: ao, ferro pudlado;
se a seo inteiramente homognea ou no;
a forma e intensidade da segregao;
a posio, forma e dimenses das bolhas;
a forma e dimenses das dendritas;
a existncia de restos do vazio;
se a pea sofreu cementao, a profundidade e regularidade desta;
a profundidade da tmpera;
se um tubo inteirio, caldeado ou soldado;
certos detalhes de soldas de chapas (seo transversal solda) ;
no caso de ferramentas de corte, caladas, a espessura e regularidade das camadas
caldeadas (seo perpendicular ao gume), etc.
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O corte feito com serra ou com cortador de disco abrasivo ("cut-off") e localiza a
superfcie a examinar; quando esse meio no vivel, recorre-se ao desbaste que
praticado com o esmeril comum ou com auxlio da plaina at atingir a regio que interessa.
Por meio de uma lima fina, ou, ento, uma lixadeira mecnica, termina-se esta primeira
etapa, finda a qual, ter-se- conseguido uma superfcie plana bem retificada e com a
orientao desejada.
Todas essas operaes devero ser levadas a cabo com a devida cautela, de modo a
evitar no s encruamentos locais excessivos, bem como aquecimentos a mais de 100C
em peas temperadas, fenmenos que seriam mais tarde postos em evidncia pelo ataque,
perturbando a interpretao da imagem.
b.2 Polimento.
O polimento iniciado com uma lixa, na direo normal aos riscos da lima ou da
lixa grossa j existentes, e levado at o completo desaparecimento destes. Depois se
passa para a lixa mais fina seguinte, mudando de 90 a direo de polimento e
continuando-o igualmente at terem desaparecido os riscos da lixa anterior, e assim por
diante at papel de lixa metalogrfica 0.
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Ataques lentos: visam obter uma corroso profunda do metal, com relevo
acentuado. Empregam-se em alguns casos em que o reativo rpido no d contraste
suficiente como em certas estruturas fibrosas.
Ataque rpido: com reativos prprios para esse fim, obtm-se o resultado desejado em
poucos minutos. Embora a corroso seja apenas superficial, produz, entretanto,
imagens suficientemente visveis.
Reativo de iodo
Iodo sublimado 10 g;
Iodeto de potssio 20 g;
gua 100 g;
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Mtodo de Baumann
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comum de hiposulfito de sdio, durante uns dez minutos e em seguida lavado em gua
corrente durante uma hora. Todas essas operaes podem ser feitas luz do dia.
d) Precaues
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Impresso de Baumann;
Tcnica Fotogrfica.
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7.2 Micrografia
A tcnica de um ensaio microgrfico corrente pode ser dividida nas seguintes fases:
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Aps o corte serra, lixada com papis de lixa comuns de oficina mecnica. O
polimento prossegue ento em lixas mais finas. O polimento pode ser feito mo,
deslizando a pea suavemente sobre a lixa apoiada numa superfcie plana, de vidro por
exemplo, ou ento a lixa aplicada sobre, um disco animado de movimento giratrio e o
operador apenas comprime o corpo de prova suavemente contra a lixa em movimento.
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Alm dos cuidados citados acima devem ser tomadas as seguintes precaues:
Quando se mudar de uma lixa para outra lavar a amostra para evitar carregar impurezas
para lixas mais finas;
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Apenas mudar de lixa quando todos os riscos de uma lixa anterior terem desaparecido;
Aps o lixamento da amostra a mesma deve ficar cerca de 1 minuto no parelho de
ultra-som com soluo de lcool para retirar todas as impurezas provenientes da ultima
lixa.
Passar pelo ultra som toda vez que se for mudar de feltro;
O feltro deve estar bem umedecido para promover um melhor polimento;
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falta deste, pode-se ultimar a secagem passando sobre a superfcie um pequeno chumao
de algodo umedecido com ter.
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explicado acima, possvel ver-se o campo, inteiro em foco, pois a superfcie a examinar
fica normal ao eixo do aparelho.
Inclinada, quando provm de um prisma de reflexo total ficando neste caso metade da
objetiva reservada para projetar a luz sobre o corpo de prova e a outra metade para
receber a parte que volta por reflexo;
Paralela ao eixo do microscpio, no caso de porvir de um vidro plano inclinado de 45
sobre o referido eixo nesta hiptese aproveitada toda a abertura da objetiva.
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7.3 Bibliografia
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