Diagnóstico de Faltas de Alta Impedância em

Sistemas de Distribuição
de Energia Elétrica Empregando as
Transformadas de Fourier, Wavelet e Stockwell

Gabriela Nunes Lopes

Orientador: Prof. Assoc. José Carlos de Melo Vieira Júnior.

Exame de Qualificação de Mestrado

27 de Setembro de 2019
 SUMÁRIO
 1. Introdução
 2. Objetivos
 3. Faltas de Alta Impedância ( FAIs)
• Considerações
• Ferramentas
• Estado da Arte
 4. Metodologia
• Testes com as FAIs: Reais e Simulados
• Testes com outros transitórios
 5. Resultados Parciais
 6. Conclusões

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 Introdução
 O que são FAIs?
– Não detectada pela proteção convencional
– Forma Arco Elétrico

 Perigos relacionados às FAIs

 Desempenho dos relés comerciais

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 Introdução
 Algumas técnicas para detecção de FAIs
• Transformada de Fourier (TF)
• Transformada Wavelet (TW)
• Transformada de Stockwell (TS)

 Dificuldade na detecção de FAIs

• Outros transitórios do sistema

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 Objetivos
 Objetivo Geral
– Desenvolver um algoritmo de detecção de FAIs

 Objetivo deste Trabalho

– Simular FAIs e outros transitórios em um sistema teste
– Caracterizar os sinais por meio da TF, TS e TW
– Analisar as caracterizações para construção de um algoritmo de detecção

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 Faltas de Alta Impedância
 Classificações das FAIs

6
 Faltas de Alta Impedância
 Características das FAIs
– Distorção da forma de onda
– Assimetria entre semiciclos
– O fenômeno da intermitência
– Build-up
– Patamares- Modulação

(b) build-up

(a) assimetria (c) patamares

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 Ferramentas de Processamento de Sinais
Aplicadas à Detecção de FAIs
 Domínio de tempo:
• Por exemplo, a magnitude e os valores RMS, de pico e médio do sinal.

 Domínio da frequência:
• Por exemplo, a TF do sinal

 Domínio da escala de tempo:

• Por exemplo, a TW do sinal

 Domínio de tempo-frequência:
• Por exemplo, a TS do sinal

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 Transformada de Fourier
 Transformada Discreta de Fourier:
𝑁−1
−𝑗 𝜋𝑛𝑘
𝑋 𝑘, 𝑚 = 𝑥 𝑛 𝑤 𝑛−𝑚 𝑒 𝑁
𝑛=0

 Janela retangular:
1, 𝑠𝑒 0 ≤ (𝑛 − 𝑚) ≤ (𝑁 − 1)
𝑤 𝑛−𝑚 =
0, 𝑝𝑎𝑟𝑎 𝑞𝑢𝑎𝑙𝑞𝑢𝑒𝑟 𝑜𝑢𝑡𝑟𝑜 𝑣𝑎𝑙𝑜𝑟

 Resolução em Frequência:

𝑓𝑠 60 ∗ 𝑃 60
∆𝐹 = = =
𝑁 𝐶∗𝑃 𝐶
6
Transformada de Fourier

6
 Transformada Wavelet
 TW contínua de um sinal x(t):

+∞
1
𝐶 𝑎, 𝑏 = 𝑥 𝑡 ψ 𝑡 𝑑𝑡
𝑎 −∞
 Definição genérica de Wavelet-mãe:

𝑡−𝑏
Ψ 𝑡 =𝑔
𝑎
 Transformada Wavelet Discreta:

1 𝑘 − 𝑛𝑏0 𝑎0𝑚
𝐷𝑊𝑇 𝑚, 𝑘 = 𝑥 𝑛 𝑔
𝑎0𝑚 𝑎0𝑚
𝑛
11
 Transformada Wavelet
Divisão do sinal pela TW

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 Transformada de Stockwell
 Sendo a Transformada Rápida de Fourier:
+∞
𝑆𝑥 (𝜏, 𝑓) = 𝑥(𝑡)𝜔(𝑡 − 𝜏, 𝑓)𝑒 −𝑗2𝜋𝑓𝑡 𝑑𝑡
−∞

 Janela Gaussiana:
−𝑡
1 1
𝜔 t, 𝑓 = 𝑒 2𝜎𝑓2 , 𝑠𝑒𝑛𝑑𝑜 𝜎 𝑓 =
𝜎 𝑓 2𝜋 |𝑓|

 Assim, a TS contínua será:

+∞ (𝑡−𝜏)2 𝑓2
|𝑓| −
𝑆𝑥 (𝜏, 𝑓) = 𝑥(𝑡)𝑒 2 𝑒 −𝑗2𝜋𝑓𝑡 𝑑𝑡
2𝜋 −∞

 E na forma discreta:
𝑁−1 2 2
𝑛 𝑚 + 𝑛 −2𝜋 2𝑚 −𝑖2𝜋𝑚𝑗
𝑆 𝑗𝑇, = 𝐻 𝑒 𝑛 𝑒 𝑁
𝑁𝑇 𝑁𝑇
𝑚=0 13
Energia do Sinal
 De forma discreta:

𝑡2

𝐸= |𝑥 𝑛 |²
𝑛=𝑡1

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Estado da Arte Sobre Detecção de FAIs
 TF
• Estudo dos parâmetros como tamanho e formato da janela
• Definição da faixa de frequência utilizada na detecção
• O uso de interharmônicos- principais cuidados

 TW
• A alta possibilidade de escolha dos parâmetros
• Podem ser feitas modificações na TW

 TS
• É mais recente
• Pode ser usado o módulo ou ângulo das frequências

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Estado da Arte Sobre Detecção de FAIs
 De modo geral:
• Grande parte dos trabalhos utiliza as transformadas como dados de entrada
para técnicas de aprendizagem de máquinas

• Sem a consideração do tempo de queda do condutor

• Grande parte dos trabalhos utiliza sistemas testes de até 6 barras

• Os parâmetros configurados nas transformadas variam

• A inserção de ruídos nos sinais é importante

• Os métodos de detecção devem ser testados contra falsos positivos

• O modelo de FAI utilizado influencia na detecção 16

Modelos de FAIs
 Características que os modelos representam

 Modelo utilizado: Trondoli ( 2017)

Parâmetros
Vrede e frede
Vcc
tsw1 e tsw2
Tipo de solo
Ciclos de Build-up
Ifalta
Prob. de R1, R2 e R3
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Modelo de Trondoli (2017)-Resistências
 R1 – Build-up

 R2- Assimetria

 R3- Patamares->Modulação (a) Zonas para R2

(b) Zonas para R3

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Metodologia
SINAIS GERADOS CHAV. DE
CHAV. DE CARGA
PELO MODELO CAPACITORES

OUTROS EVENTOS
FALTA DE ALTA
TRANSITÓRIOS NO
IMPEDÂNCIA
SISTEMA ELÉTRICO

SINAIS DE FALTAS CHAV. DE

FALTAS DE BAIXA
REGISTRADOS EM RAMAIS DO
IMPEDÂNCIA
CAMPO SISTEMA

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Metodologia
 Considerações sobre todas as simulações:

– Taxa de aquisição: 128 amostras/ ciclo, portanto, freq. máx de 3840 Hz

– Simulações no sistema teste de 34 barras do IEEE

– Serão calculadas a TF, TS, e a TW dos sinais de corrente medidos na subestação

20
Metodologia
ATP ATP->MATLAB MATLAB
Registro da
Simulação do
corrente na Cálculo da TF, TS e
evento no sistema
subestação do TW da corrente
teste
sistema

Cálculo da detecção das

Próxima Etapa do Trabalho FAIs e verificação da
robustez

MATLAB

12
 Metodologia – FAI pelo modelo
 Parametrização do Modelo

22
 Metodologia – FAI pelo modelo
 Corrente de falta

 Build-up

 Patamares

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 Metodologia – FAI pelo modelo
 Zonas de R2
– B0: patamares
– B1: 130 % de B2
– B2: 150% de B0

 Zonas de R3
– 5% de tolerância para B0
– mincic e maxcic

24
 Metodologia – FAI pelo modelo
 O modelo foi parametrizado pelos valores medianos obtidos

 Foram simulados 20 sinais de FAI em cada barra do sistema

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 Metodologia – FAI com dados em campo
 Dados obtidos de testes em campo
 Inseridos por meio de MODELS no ATP
 34 FAIs
 1122 simulações

(a) Sistema de inserção de FAIs

(b) Sinais de FAIs registrados em campo 26

 Metodologia – Outros Eventos
 Capacitores: Bancos das barras 844 e 848
 Cargas: 19 cargas do sistema
 Ramais: 8 ramais monofásicos
 Faltas de Baixa Impedância: Em todas as barras

(a) Capacitores
(b) Cargas

(d) Faltas de Baixa Impedância

(c) Ramais 27
 Metodologia da Análise de Resultados
 Pela TF:
– Janela retangular de 12 ciclos
 Pela TW:
– Wavelet-mãe Haar até o 4º nível de resolução
 Pela TS:
– Janelas de 1 ciclo

 Calcular a energia de cada janela de cada uma das transformadas,

e assim calcular a variação de energia.

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Resultados – FAI geradas pelo modelo
 Análise em relação à localização da FAI
• Em 1s rompeu o condutor e em 2s tocou o solo.

(a) FAI na barra 802 (b) FAI na barra 848

29
 Resultados – FAIs modelo - Energia
 barra 802  barra 848

 TF

 TS

 TW

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Resultados – FAIs modelo – Variação de Energia
 barra 802  barra 848

 TF

 TS

 TW

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 Resultados – FAIs reais
 Análise em relação à localização da FAI
• Em 0,5s rompeu o condutor e em 1s conectou ao solo.

(a) FAI na barra 802

(b) FAI na barra 848

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 Resultados – FAIs reais - Energia
 barra 802  barra 848

 TF

 TS

 TW

33
Resultados – FAIs reais – Variação de Energia
 barra 802  barra 848

 TF

 TS

 TW

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Resultados – Chaveamento do banco de capacitores
 Abertura e fechamento da chave conectada ao capacitor da
barra 848 após 1s de simulação

(a) Abertura da chave (b) Fechamento da chave

35
Resultados –Chaveamento do banco de capacitores
 Energia  Variação de Energia

 TF

 TS

 TW

36
 Resultados – Chaveamento de Cargas
 Exemplo: Corrente da subestação com chaveamento da carga
de maior potência conectada à fase A após 1s.

(a) Abertura da chave (b) Fechamento da chave

37
Resultados – Chaveamento de Cargas
 Energia  Variação de Energia

 TF

 TS

 TW

38
Resultados – Chaveamento dos ramais
 Pontos onde foram conectadas chaves

 Chaveamentos em P7 após 1s de simulação

(a) Abertura da chave (b) Fechamento da chave 39

Resultados – Chaveamento dos ramais
 Energia  Variação de Energia

 TF

 TS

 TW

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Resultados – Faltas de Baixa Impedância
 Exemplo: Corrente com faltas de 50 ohms
– Falta após 2s de simulação com 0,2s de sustentação

(a) Falta AT na barra 848 (b) Falta ABCT na barra 848

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Resultados – Faltas de Baixa Impedância
 Energia  Variação de Energia

 TF

 TS

 TW

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CONCLUSÃO
 As três transformadas conseguem caracterizar a FAI no sistema

 Os impactos dos chaveamentos foram atenuados rapidamente pelo

sistema

 Faltas de baixa impedância devem ser extintas pela proteção

convencional e não apresentam grande variação após seu
estabelecimento

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Próximos Passos
 Elaborar o método de detecção realizando testes com:
– Limiares adaptativos
– Atraso na atuação
– Sistemas com harmônicos e interharmônicos
– Adição de ruídos aos sinais
– Outros sistemas e com diferentes carregamentos
– Aquisição de dados por meio de TCs

 Testes de detecção com a TS.

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 Diagnóstico de Faltas de Alta Impedância em
Sistemas de Distribuição
de Energia Elétrica Empregando as
Transformadas de Fourier, Wavelet e Stockwell

OBRIGADA!

Gabriela Nunes Lopes

Orientador: Prof. Assoc. José Carlos de Melo Vieira Júnior