Asme V - (2023) - 1-1007-1-1007-1-1007-1-200

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ASME BPVC.V-2023
SEÇÃO V
Caldeira ASME e
2023 Código do Vaso de Pressão

Um Código Internacional
não destrutivo
Exame
Marcações como “ASME”, “ASME Standard” ou qualquer outra marcação, incluindo “ASME”, logos ASME ou a
Marca de Certificação Única ASME não devem ser usadas em nenhum item que não seja construído de acordo com
todos os os requisitos aplicáveis do Código ou Norma. O uso da Marca de Certificação Única ASME requer
certificação ASME formal; se nenhum programa de certificação estiver disponível, tais marcações ASME não podem
ser usadas. (Para programas de certificação e credenciamento, consulte hps://www.asme.org/cerficaon-accreditaton.)
Itens produzidos por partes que não possuem formalmente um Certificado ASME não podem ser descritos, explícita
ou implicitamente, como certificados ou aprovados pela ASME em qualquer formulário de código ou outro documento.
UM CÓDIGO INTERNACIONAL
2023 ASME Caldeira e

Código do Vaso de Pressão
Edição de 2023 1º de julho de 2023
EM
NÃO DESTRUTIVO
EXAME
Comitê de Vasos de Pressão e Caldeiras ASME para
Exame Não Destrutivo
Two Park Avenue • Nova York, NY • 10016 EUA

Data de emissão: 1º de julho de 2023
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ÍNDICE
Lista de Seções . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xxvii

Prefácio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xxviii
Declaração de Política sobre o Uso da Marca de Certificação Única ASME e Autorização de Código em Publicidade Declaração de Política xxx
sobre o Uso da Marcação ASME para Identificar Itens Fabricados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xxx
Pessoal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xxxi
Pessoal ASTM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . liii
Correspondência com o Comitê. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . vida
Sumário de Mudanças . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . lvi

Referência cruzada no ASME BPVC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . seis
Subseção A Métodos Não Destrutivos de Exame ....................... 1
Artigo 1 Requisitos Gerais ....................................... 1

T-110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
T-120 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
T-130 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
T-150 Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
T-160 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
T-170 Exames e Inspeções . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
T-180 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
T-190 Registros/Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
Apêndice Obrigatório I Glossário de Termos para Exame Não Destrutivo ........... 5

I-110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
I-120 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
Apêndice II Obrigatório Requisitos Suplementares de Qualificação de Pessoal para NDE

Certificação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
II-110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
II-120 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
Anexo III Obrigatório Exceções e Requisitos Adicionais para Uso de ASNT

SNT-TC-1A Edição 2016 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Apêndice IV Obrigatório Exceções ao ANSI/ASNT CP-189 2020 Edition . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Não obrigatório Apêndice A Imperfeição vs. Tipo de Método de EQM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32

A-110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Artigo 2 Exame Radiográfico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34

T-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
T-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
T-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
T-260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
T-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
T-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
T-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
Apêndice Obrigatório I Radiografia em movimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43

I-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
I-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
I-260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
I-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
iii
Apêndice II Obrigatório Exame Radioscópico em Tempo Real . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45

II-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
II-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
II-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
II-260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
II-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
II-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
II-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
Anexo III Obrigatório Aquisição, exibição e armazenamento de imagens digitais para radiografia
e Radioscopia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-250 Aquisição e armazenamento de imagens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
III-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Apêndice IV Obrigatório Interpretação, avaliação e disposição de exames radiográficos e

Resultados de exames radioscópicos produzidos pela Digital
Processo de Aquisição e Exibição de Imagens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
IV-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
IV-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
IV-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
IV-250 Aquisição, armazenamento e interpretação de imagens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
IV-260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
IV-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
IV-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
Apêndice VI Obrigatório Aquisição, Exibição, Interpretação e Armazenamento de Imagens Digitais

de Filme Radiográfico para Aplicações Nucleares . . . . . . . . . . . . . . . 51
VI-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
VI-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
VI-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
VI-240 Requisitos de desempenho do sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
VI-250 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
VI-260 Demonstração do Desempenho do Sistema . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
VI-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
VI-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
VI-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Apêndice VI Obrigatório Suplemento A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54

VI-A-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
VI-A-220 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
VI-A-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
VI-A-240 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
Apêndice VII Obrigatório Exame Radiográfico de Fundições Metálicas . . . . . . . . . . . . . . . . . 57

VII-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
VII-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
VII-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
VII-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
VII-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
Anexo VIII Obrigatório Radiografia usando placa de imagem de fósforo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58

VIII-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
VIII-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
VIII-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
4
VIII-260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
VIII-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
VIII-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
VIII-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
Anexo VIII Obrigatório Suplemento A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61

VIII-A-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
VIII-A-220 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
VIII-A-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
VIII-A-240 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
Apêndice Obrigatório IX Radiografia usando sistemas de detecção digital . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63

IX-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
IX-220 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
IX-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
IX-260 Correção de Pixel do Detector . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
IX-270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
IX-280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
IX-290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
Apêndice Obrigatório IX Suplemento A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67

IX-A-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
IX-A-220 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
IX-A-230 Equipamentos e Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
IX-A-240 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
Apêndice A não obrigatório Esboços de técnicas radiográficas recomendadas para canos ou tubos
Soldas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
A-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
Apêndice C não obrigatório Esboços de posicionamento IQI tipo furo para soldas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
C-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
Apêndice D Não Obrigatório Número de IQIs (Casos Especiais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76

D-210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
Artigo 4 Métodos de exame ultrassônico para soldas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79

T-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
T-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
T-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
T-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
T-450 Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
T-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
T-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
T-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
T-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
Apêndice Obrigatório I Linearidade da Altura da Tela . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97

I-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
I-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
Apêndice II Obrigatório Linearidade de controle de amplitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98

II-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
II-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
Anexo III Obrigatório Técnica de difração de tempo de voo (TOFD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99

III-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
III-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
III-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
III-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
III-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
em
III-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103

Apêndice IV Obrigatório Técnicas de Exame de Raster Manual Phased Array Usando Linear
Matrizes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
IV-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
IV-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
IV-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
IV-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
Apêndice obrigatório V Exame de Varredura Linear Phased Array E-Scan e S-Scan

Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
V-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
V-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
V-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
V-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
V-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
Apêndice VII Obrigatório Requisitos de exame ultrassônico para mão de obra

Critérios de Aceitação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
VII-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
VII-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
VII-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
VII-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
VII-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
VII-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
VII-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
Anexo VIII Obrigatório Requisitos de exame ultrassônico para mecânica de fraturas

Critérios de aceitação baseados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
VIII-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
VIII-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
VIII-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
VIII-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
VIII-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
VIII-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
VIII-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
Apêndice Obrigatório IX Requisitos de Qualificação de Procedimento para Dimensionamento de Falha e

Categorização . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
IX-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
IX-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
IX-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
IX-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
IX-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
IX-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
Apêndice Obrigatório X Exame Ultrassônico de Polietileno de Alta Densidade . . . . . . . . . . . 116

X-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
X-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
X-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
X-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
X-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
X-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
Apêndice Obrigatório XI Captura de matriz completa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119

XI-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
XI-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
nós
XI-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119

XI-450 Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
XI-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
XI-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
XI-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
XI-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124
Apêndice A não obrigatório Disposição dos pontos de referência da embarcação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126

Escopo A-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
A-440 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
Apêndice B não obrigatório Técnicas gerais para calibrações de feixe angular . . . . . . . . . . . . . . . 127
B-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
B-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
Apêndice C não obrigatório Técnicas Gerais para Calibrações de Feixe Reto . . . . . . . . . . . . . 133
C-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
C-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
Apêndice D não obrigatório Exemplos de registro de dados de exame de feixe angular . . . . . . . . . . 135
Escopo D-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
D-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
D-470 Requisitos de exame. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
D-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
Apêndice não obrigatório E Técnicas de imagem computadorizada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138

Escopo E-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
E-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
E-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
E-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
Apêndice F não obrigatório Exame de soldas usando captura de matriz completa . . . . . . . . . . . . . . . 144
F-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
F-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
F-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
F-440 Diversos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
F-450 Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
F-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
F-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148
F-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149
Apêndice não obrigatório G Configuração alternativa do bloco de calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151

Escopo G-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
G-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
Apêndice H não obrigatório Exame de soldas usando unidades de busca de feixe angular . . . . . . . . . . 154
Escopo H-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
H-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
Apêndice J não obrigatório Bloco alternativo de calibração básica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155

J-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155
J-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155
Apêndice K não obrigatório Registro de dados de exame de feixe reto para refletores planares Escopo 158
K-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
K-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
K-490 Registros/Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
Apêndice L não obrigatório Demonstração de dimensionamento TOFD/sonda dupla — geração de imagens por computador
Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
L-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
L-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
vii
L-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159

L-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
L-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
L-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
L-490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
Apêndice M Não Obrigatório Técnicas Gerais para Onda Longitudinal de Feixe de Ângulo
Calibrações . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
M-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
M-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
Apêndice não obrigatório N Interpretação da difração de tempo de voo (TOFD) . . . . . . . . . . . . . . . 165

Escopo N-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165
N-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165
N-450 Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
N-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171
Apêndice Não Obrigatório O Técnica de Difração de Tempo de Voo (TOFD) — Configurações Gerais de
Exames . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
O-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
O-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
O-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
Não obrigatório Apêndice P Interpretação Phased Array (PAUT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188

Escopo P-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
P-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
P-450 Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
P-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
Apêndice Q não obrigatório Exemplo de uma curva DAC dividida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197

Escopo Q-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
Q-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
Apêndice R não obrigatório Blocos de calibração de viga reta para solda de acesso restrito
Exames . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
R-410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
R-420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
R-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
Apêndice S não obrigatório Técnicas gerais para correção de transferência de viga reta . . . . . 202
Escopo S-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
S-420 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
S-430 Ajuste de Sinal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
S-440 Correção de distância-amplitude (DAC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
S-450 Ajuste do material de teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
S-460 Calcule a Correção de Transferência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
Apêndice não obrigatório U Técnicas gerais para correção de transferência de feixe angular . . . . . . . 205
Escopo U-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
U-420 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
U-430 Ajuste de Sinal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
U-440 Correção de distância-amplitude (DAC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
U-450 Ajuste do material de teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
U-460 Calcule a Correção de Transferência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
Não obrigatório Apêndice W Exame do método de pulso-eco de juntas soldadas . . . . . . . . . . . . . . . 208

Escopo W-410 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
W-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
W-460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
W-470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
W-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 210
viii
Artigo 5 Métodos de exame ultrassônico para materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . 211

T-510 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
T-520 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
T-530 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
T-560 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
T-570 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 214
T-580 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
T-590 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
Apêndice Obrigatório I Exame Ultrassônico de Bombas e Válvulas . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217

I-510 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217
I-530 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217
I-560 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217
I-570 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217
Apêndice II Obrigatório Exame em serviço do raio do canto interno do bocal e interno

Regiões de canto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
II-510 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
II-530 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
II-560 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
II-570 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
Apêndice IV Obrigatório Exame de Parafusos em Serviço . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219

IV-510 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
IV-530 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
IV-560 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
IV-570 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
Artigo 6 Exame de Líquido Penetrante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220

T-610 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220
T-620 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220
T-630 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220
T-650 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
T-660 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
T-670 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
T-680 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224
T-690 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224
Apêndice II Obrigatório Controle de Contaminantes para Exame de Líquido Penetrante . . . . . 226

II-610 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226
II-640 Requisitos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226
II-690 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226
Anexo III Obrigatório Técnicas de Qualificação para Exames em Fora do Padrão

Temperaturas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
III-610 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
III-630 Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
III-640 Requisitos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
Artigo 7 Exame de Partículas Magnéticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229

T-710 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
T-720 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
T-730 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
T-750 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230
T-760 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 233
T-770 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 236
T-780 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
T-790 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
ix
Apêndice Obrigatório I Exame de Partículas Magnéticas Usando a Técnica AC Yoke em

Materiais ferromagnéticos revestidos com não ferromagnéticos
Revestimentos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
I-710 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
I-720 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
I-730 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241
I-750 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241
I-760 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241
I-770 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
I-780 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
I-790 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
Anexo III Obrigatório Exame de Partículas Magnéticas Usando a Técnica Yoke com
Partículas fluorescentes em uma área não escura . . . . . . . . . . . . . . . . 243
III-710 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
III-720 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
III-750 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
III-760 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
III-770 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
Apêndice IV Obrigatório Qualificação de Fontes de Luz Alternadas de Comprimento de Onda para Excitação
de Partículas Fluorescentes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
IV-710 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
IV-720 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
IV-750 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
IV-770 Exames de Qualificação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
IV-790 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 246
Apêndice obrigatório V Requisitos para o uso de técnicas de borracha magnética . . . . . . 247

V-710 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247
V-720 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247
V-730 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247
V-740 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247
V-750 Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 248
V-760 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
V-770 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
V-780 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
V-790 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
Apêndice A não obrigatório Medição da intensidade do campo tangencial com gaussímetros . . . 250
Escopo A-710 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
A-720 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
A-730 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
A-750 Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
A-790 Documentação/Registros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
Artigo 8 Exame de correntes parasitas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 251

T-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 251
Apêndice II Obrigatório Exame de correntes parasitas do trocador de calor não ferromagnético

Tubulação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
II-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
II-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
II-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
II-840 Requisitos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 254
II-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 254
II-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 256
x
II-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 256

II-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257
Anexo III Obrigatório Exame de correntes parasitas em materiais ferromagnéticos revestidos . . 259
III-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
III-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
III-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
III-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
III-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
III-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
Apêndice IV Obrigatório Exame de corrente parasita da bobina externa de produtos tubulares . . . . 261
IV-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 261
IV-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 261
IV-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 261
IV-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
IV-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
IV-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
IV-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
IV-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
Apêndice obrigatório V Medição de correntes parasitas de não condutivo-não ferromagnético

Espessura do revestimento em um material metálico não ferromagnético . . . 263
V-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 263
V-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 263
V-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 263
V-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
V-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
V-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
V-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
V-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
Apêndice VI Obrigatório Detecção de correntes parasitas e medição da profundidade da superfície

Descontinuidades em metais não ferromagnéticos com superfície
Sondas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 266
VI-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 266
VI-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 266
VI-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
VI-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
VI-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
VI-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
VI-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
VI-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 268
Apêndice VII Obrigatório Exame de correntes parasitas de metais condutores ferromagnéticos e não
ferromagnéticos para determinar se há falhas na superfície
Conectado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
VII-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
VII-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
VII-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
VII-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270
VII-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270
VII-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270
VII-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270
XI
Anexo VIII Obrigatório Técnica alternativa para exame de correntes parasitas de tubos de trocadores de
calor magnéticos não ferrosos, excluindo vapor nuclear
Tubulação do gerador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
VIII-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
VIII-820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
VIII-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 275
VIII-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 275
VIII-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 277
VIII-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 277
Apêndice Obrigatório IX Exame de matriz de correntes parasitas de materiais magnéticos ferromagnéticos e

não ferrosos para a detecção de falhas de quebra de superfície 279
IX-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 279
IX-820 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 279
IX-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 280
IX-840 Requisitos de Aplicação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
IX-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
IX-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
IX-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
IX-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
IX-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
Apêndice Obrigatório X Exame de arranjo de correntes parasitas de soldas magnéticas ferromagnéticas e

não ferrosas para a detecção de falhas de quebra de superfície . . 284
X-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284
X-820 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284
X-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284
X-840 Requisitos de Aplicação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
X-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
X-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
X-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 287
X-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 287
X-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 287
Apêndice Obrigatório XI Exame de campo tangencial de ferromagnéticos e não ferrosos

Materiais Magnéticos e Soldas para Detecção e Medição de Descontinuidades
de Superfície . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
XI-810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
XI-820 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
XI-830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 290
XI-840 Requisitos de Aplicação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292
XI-850 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292
XI-860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
XI-870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
XI-880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
XI-890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
Artigo 9 Exame Visual . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295

T-910 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295
T-920 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295
T-930 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
T-950 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
T-980 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
T-990 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
Artigo 10 Teste de Vazamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297

T-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
xii
T-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297

T-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
T-1050 Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 298
T-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 298
T-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
T-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
T-1090 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
Apêndice Obrigatório I Teste de Bolha — Técnica de Pressão Direta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300

I-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
I-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
I-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
I-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
I-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 301
Apêndice II Obrigatório Teste da Bolha — Técnica da Caixa de Vácuo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302

II-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
II-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
II-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
II-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
II-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
Anexo III Obrigatório Teste de sonda do detector de diodo de halogênio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304

III-1010 Introdução e Escopo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
III-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
III-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
III-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
III-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
III-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 306
Apêndice IV Obrigatório Teste do Espectrômetro de Massa com Hélio — Técnica da Sonda do Detector . . . 307
IV-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
IV-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
IV-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
IV-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
IV-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 308
IV-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309
Apêndice obrigatório V Teste do Espectrômetro de Massa com Hélio — Técnica da Sonda Tracer . . . . . 310
V-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
V-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
V-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
V-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
V-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
V-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
Apêndice VI Obrigatório Teste de Mudança de Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313

VI-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
VI-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
VI-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
VI-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 314
VI-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 314
VI-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 314
Anexo VIII Obrigatório Teste de sonda do detector de condutividade térmica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315

VIII-1010 Introdução e Escopo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
VIII-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
VIII-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
xiii
VIII-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 316

VIII-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 317
Apêndice Obrigatório IX Teste do Espectrômetro de Massa com Hélio — Técnica do Capuz . . . . . . . . . . . . 318
IX-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
IX-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
IX-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
IX-1050 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 319
IX-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 319
IX-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 320
IX-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 321
Apêndice Obrigatório X Teste ultrassônico do detector de vazamentos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322

X-1010 Introdução . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322
X-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322
X-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322
X-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
X-1070 Teste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
X-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
Apêndice Obrigatório XI Espectrômetro de Massa de Hélio - Vazamento de Recipiente Cheio de Hélio

Teste de taxa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
XI-1010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
XI-1020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
XI-1030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
XI-1050 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 325
XI-1060 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 325
XI-1070 Cálculo da confiabilidade do teste e taxa de vazamento corrigida. . . . . . . . . . 327
XI-1080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
Apêndice A não obrigatório Símbolos de equação de teste de vazamento suplementar . . . . . . . . . . . . . . . . 328

A-1010 Aplicabilidade das Fórmulas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
Artigo 11 Exame de Emissão Acústica de Plástico Reforçado com Fibra

Embarcações . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
T-1110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
T-1120 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
T-1130 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 330
T-1160 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
T-1170 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
T-1180 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
T-1190 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
Apêndice Obrigatório I Requisitos de Desempenho de Instrumentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340

I-1110 Sensores AE. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
I-1120 Sinal a cabo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
I-1130 Acoplamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
I-1140 Pré-amplificador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
I-1150 Filtros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
I-1160 Cabo de sinal de energia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
I-1170 Amplificador principal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 341
I-1180 Processador Principal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 341
Apêndice II Obrigatório Calibração do Instrumento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343

II-1110 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
II-1120 Limite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
II-1130 Limiar de amplitude de referência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
II-1140 Critério de contagem Valor Nc e AM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
II-1160 Desempenho de campo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
xiv
Não obrigatório Apêndice A Diretrizes de colocação do sensor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 344
Artigo 12 Exame de Emissão Acústica de Vasos Metálicos Durante Pré

com certeza Testando . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 350
T-1210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 350
T-1220 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 350
T-1230 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 351
T-1260 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 351
T-1270 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
T-1280 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
T-1290 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
Apêndice Obrigatório I Requisitos de Desempenho de Instrumentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357

I-1210 Sensores de Emissão Acústica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1220 Sinal a cabo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1230 Acoplamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1240 Pré-amplificador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1250 Filtro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1260 Cabo de sinal de energia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1270 Fonte de energia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1280 Amplificador principal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
I-1290 Processador Principal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
Apêndice II Obrigatório Calibração de Instrumentos e Referência Cruzada . . . . . . . . . . . . . . . . . 359

II-1210 Calibração do fabricante. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 359
II-1220 Referência cruzada de instrumentos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 359
Anexo III Obrigatório Metodologia para Avaliação da Sensibilidade de Acústica

Instrumentação de Emissão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 360
III-1210 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 360
III-1220 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 360
III-1230 Cálculo de Kcats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 360
III-1240 Metodologia de Cálculo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 361
III-1250 Benefícios do Fator Kcats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 362
Não obrigatório Apêndice A Diretrizes de colocação do sensor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 372
Apêndice B Não Obrigatório Informações Suplementares para Condução de Emissão Acústica

Exames . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
B-1210 Seleção de Frequência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
B-1220 Combinando mais de um sensor em um único canal. . . . . . . . . . . . . 377
B-1230 Soldas Atenuativas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
B-1240 Testes de Linha de Produção de Vasos Idênticos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
Artigo 13 Monitoramento Contínuo de Emissão Acústica de Limite de Pressão

Componentes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 378
T-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 378
T-1320 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 378
T-1330 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 379
T-1350 Requisitos de Técnica/Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 382
T-1360 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 384
T-1370 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 384
T-1380 Avaliação/Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 385
T-1390 Relatórios/Registros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 385
Apêndice Obrigatório I Componentes Nucleares . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387

I-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
I-1330 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
xv
I-1360 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387

I-1380 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
Apêndice II Obrigatório Componentes metálicos não nucleares . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 389

II-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 389
II-1330 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 389
II-1360 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 390
II-1380 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 390
Anexo III Obrigatório Componentes Não Metálicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 391

III-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 391
III-1320 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 391
III-1330 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 391
III-1360 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 391
III-1380 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 392
Apêndice IV Obrigatório Monitoramento de Zona Limitada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393

IV-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
IV-1320 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
IV-1340 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
IV-1350 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
IV-1360 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
IV-1380 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
IV-1390 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 394
Apêndice obrigatório V Aplicações de Ambiente Hostil . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 395

V-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 395
V-1330 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 395
V-1340 Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 395
Apêndice VI Obrigatório Aplicações de Detecção de Vazamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398

VI-1310 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398
VI-1320 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398
VI-1330 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398
VI-1350 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 399
VI-1360 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 399
VI-1370 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 399
VI-1380 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 399
Artigo 14 Qualificação do Sistema de Exames . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 400

T-1410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 400
T-1420 Requerimentos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 400
T-1430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 401
T-1440 Requisitos de Aplicação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 401
T-1450 Realização de Demonstração de Qualificação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 403
T-1460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 404
T-1470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 404
T-1480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 406
T-1490 Documentação e Registros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 406
Apêndice II Obrigatório Critérios de Demonstração de Desempenho UT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407

II-1410 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407
II-1420 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407
II-1430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407
II-1440 Requisitos de Aplicação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407
II-1450 Realização de Demonstração de Qualificação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 408
II-1460 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 409
II-1470 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 409
II-1480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 409
II-1490 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 409
XVI
Artigo 15 Técnica de Medição de Campo de Corrente Alternada (ACFMT) . . . . 410

T-1510 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 410
T-1520 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 410
T-1530 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 410
T-1560 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 411
T-1570 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413
T-1580 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413
T-1590 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413
Artigo 16 Exame de Vazamento de Fluxo Magnético (MFL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414

T-1610 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414
T-1620 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414
T-1630 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 415
T-1640 Requisitos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 415
T-1650 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 415
T-1660 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 415
T-1670 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 416
T-1680 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 416
Artigo 17 Método de exame de teste de campo remoto (RFT) . . . . . . . . . . . . . . 418

T-1710 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
T-1720 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
T-1730 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
T-1750 Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
T-1760 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 419
T-1770 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
T-1780 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
T-1790 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
Artigo 18 Exame de Reflectometria de Pulso Acústico (APR) . . . . . . . . . . . . . . . 423

T-1810 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 423
T-1820 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 423
T-1830 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 423
T-1850 Antes do Exame. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 425
T-1860 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 425
T-1870 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 426
T-1880 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 426
T-1890 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 426
Artigo 19 Método de exame de onda guiada para tubulação . . . . . . . . . . . . . . . . . . 429

T-1910 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 429
T-1920 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 429
T-1930 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 429
T-1950 Modos de onda. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 429
T-1960 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 430
T-1970 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 431
T-1980 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 431
T-1990 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 431
Apêndice A Não Obrigatório Operação dos Sistemas GWT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 433

Escopo A-1910 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 433
A-1920 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 433
Artigo 20 Exame de Tomografia Computadorizada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 436

T-2010 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 436
T-2020 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 436
T-2030 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 436
xvii
T-2060 Correção de Pixel do Detector . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 437

T-2070 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 437
T-2080 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 437
T-2090 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 438
Artigo 21 Técnica de Corrente Foucault Pulsada (PEC) para Triagem de Corrosão . . 440
T-2110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 440
T-2120 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 440
T-2130 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
T-2150 Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
T-2160 Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
T-2170 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 442
T-2180 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 442
T-2190 Documentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 442
Apêndice A não obrigatório Aplicações do exame de corrente parasita pulsada . . . . . . . . . . . . . . 444

Escopo A-2110 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 444
A-2120 Em geral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 444
A-2150 Processo usado com equipamento PEC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 448
A-2160 Medição de referência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
A-2170 Exame . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 450
Apêndice B não obrigatório Esboço de treinamento para exame de corrente parasita pulsada . . . . . . . . . 451
B-2110 Escopo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
B-2120 Esquema de treinamento para pessoal de nível II. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
Subseção B Documentos Adotados pela Seção V . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 453
Artigo 22 Padrões Radiográficos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 454

SE-94/SE-94M Guia padrão para exame radiográfico usando filme radiográfico
industrial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 455
SE-747 Prática Padrão para Projeto, Fabricação e Agrupamento de Materiais
Classificação dos indicadores de qualidade de imagem do fio (IQI) usados para
Radiologia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 469
SE-999 Guia padrão para controlar a qualidade da radiografia industrial
Processamento de Filmes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 483
SE-1025 Prática Padrão para Design, Fabricação e Agrupamento de Materiais
Classificação de indicadores de qualidade de imagem de tipo de furo (IQI) usados para
Radiografia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
SE-1030/SE-1030M Prática padrão para exame radiográfico de fundidos metálicos. 499
SE-1114 Método de teste padrão para determinar o tamanho do irídio-192,
Fontes radiográficas industriais de cobalto-60 e selênio-75. . . . . . 511
SE-1165 Método de teste padrão para medição de pontos focais de indústrias
Tubos de Raios-X por Pinhole Imaging. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 519
SE-1255 Prática padrão para radioscopia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 537
SE-1416 Prática Padrão para Exame Radioscópico de Soldagens. . . . . . . 547
SE-1475 Guia Padrão para Campos de Dados para Transferência Computadorizada de Dados Digitais
Dados do Exame Radiológico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
SE-1647 Prática Padrão para Determinar a Sensibilidade ao Contraste em Radiologia. 563
SE-2597/SE-2597M Prática Padrão para Caracterização de Fabricação de Matrizes de Detectores
Digitais. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 569
Artigo 23 Padrões Ultrassônicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 570

SA-388/SA-388M Prática padrão para exame ultrassônico de peças forjadas de aço. . . . . . 571
SA-435/SA-435M Especificação padrão para exame ultrassônico de feixe reto de
Placas de Aço . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 581
SA-577/SA-577M Especificação padrão para exame de feixe angular ultrassônico de aço
Placa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 585
xviii
SA-578/SA-578M Especificação padrão para exame ultrassônico de feixe reto de

Chapas de Aço Laminadas para Aplicações Especiais. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 589
SA-609/SA-609M Prática padrão para fundidos, carbono, baixa liga e martensítico
Aço inoxidável, exame ultrassônico do mesmo. . . . . . . . . . . . . . . . . 595
SA-745/SA-745M Prática padrão para exame ultrassônico de aço austenítico
Forjados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 605
SB-548 Método de teste padrão para inspeção ultrassônica de liga de alumínio
Placa para Vasos de Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 611
SD-7091 Prática padrão para medição não destrutiva de espessura de filme seco de revestimentos
não magnéticos aplicados a metais ferrosos e revestimentos não magnéticos e não
condutores aplicados a metais não ferrosos . 617
SE-213 Prática padrão para testes ultrassônicos de tubos e tubulações metálicas. . . 625
SE-273 Prática padrão para teste ultrassônico da zona de solda de soldados
Tubulação e Tubulação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 637
SE-317 Prática padrão para avaliar as características de desempenho de instrumentos e sistemas
de teste de eco de pulso ultrassônico sem o uso
de Instrumentos Eletrônicos de Medição. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 643
SE-797/SE-797M Prática padrão para medição de espessura por ultrassom manual
Método de contato pulso-eco. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 657
SE-2491 Guia Padrão para Avaliação de Características de Desempenho de
Instrumentos e sistemas de teste ultrassônico Phased-Array . . . . . . . 667
SE-2700 Prática padrão para teste ultrassônico de contato de soldas usando fases
Matrizes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 685
Artigo 24 Padrões de líquidos penetrantes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 695

SD-129 Método de teste padrão para enxofre em produtos petrolíferos (alto geral
Método do Dispositivo de Decomposição de Pressão). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 697
SD-516 Método de Teste Padrão para Íon Sulfato em Água. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 703
SD-808 Método de teste padrão para cloro em Petroleum Pro novo e usado
dutos (Método do Dispositivo de Decomposição de Alta Pressão) . . . . . . . . . . . . 709
SE-165/SE-165M Prática Padrão para Exame de Líquido Penetrante para Instituições Gerais
dustry . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 715
SE-2297 Guia Padrão para Uso de Fontes e Medidores de Luz UV-A e Visível
Usado nos Métodos de Líquido Penetrante e de Partícula Magnética. . . . . . 735
SE-3022 Prática padrão para medição de características de emissão e
Requisitos para lâmpadas LED UV-A usadas em penetrante fluorescente
e Teste de Partículas Magnéticas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 741
Artigo 25 Padrões de Partículas Magnéticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 750

SD-1186 Métodos de teste padrão para medição não destrutiva de filme seco
Espessura de revestimentos não magnéticos aplicados a uma base ferrosa. . . . 751
SE-709 Guia Padrão para Teste de Partículas Magnéticas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 753
Artigo 26 Padrão de correntes parasitas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 801

SE-243 Prática padrão para exame eletromagnético (correntes parasitas) de
Tubos de cobre e ligas de cobre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 803
Artigo 29 Normas de Emissão Acústica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 809

SE-650/SE-650M Guia Padrão para Montagem de Sensores Piezoelétricos de Emissão Acústica Prática 811
SE-750 Padrão para Caracterização de Instrumentos de Emissão Acústica
ção . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 815
SE-976 Guia padrão para determinar a reprodutibilidade da resposta do sensor de emissão
acústica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 827
SE-1067/SE-1067M Prática Padrão para Exame de Emissão Acústica de Tanques/Recipientes de Resina
Plástica Reforçada de Fibra de Vidro (FRP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 835
SE-1118/SE-1118M Prática Padrão para Exame de Emissão Acústica de Reforçado
Tubo de resina termoendurecível (RTRP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 851
xix
SE-1139/SE-1139M Prática Padrão para Monitoramento Contínuo de Emissão Acústica

Dos Limites de Pressão de Metal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 865
SE-1211/SE-1211M Prática padrão para detecção e localização de vazamentos usando superfície
Sensores de Emissão Acústica Montados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 873
SE-1419/SE-1419M Prática Padrão para Exame de Pressão Sem Costura, Preenchida com Gás
Embarcações Utilizando Emissão Acústica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 879
SE-2075/SE-2075M Prática padrão para verificar a consistência da resposta do sensor AE
Usando uma vareta de acrílico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 881
Artigo 31 Padrão de Medição de Campo de Corrente Alternada . . . . . . . . . . . . . . 886

SE-2261/SE-2261M Prática padrão para exame de soldas usando a alternância
Técnica atual de medição de campo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 887
Artigo 32 Padrão de teste de campo remoto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 902

SE-2096/SE-2096M Prática Padrão para Exame In Situ de Ferromagnético
Tubos de trocadores de calor usando testes de campo remotos . . . . . . . . . . . . . . 903
Artigo 33 Padrões de Ondas Guiadas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 913

SE-2775 Prática padrão para teste de onda guiada de aço acima do solo
Tubulação Usando Transdução de Efeito Piezoelétrico . . . . . . . . . . . . . . . 915
SE-2929 Prática padrão para teste de onda guiada de aço acima do solo
Tubulação com Transdução Magnetoestrictiva . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 927
Apêndice II Obrigatório Unidades padrão para uso em equações . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 938
Apêndice A não obrigatório Orientação para o uso de unidades usuais e do SI na ASME

Código de Caldeiras e Vasos de Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 939
A-1 Uso de Unidades em Equações. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 939
A-2 Diretrizes Usadas para Desenvolver Equivalentes do SI. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 939
A-3 Fatores de Conversão Suaves. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 941
FIGURAS
T-275 Esboços de marcadores de localização. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
I-263 Determinação da Largura do Feixe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
VI-A-1 Filme de Referência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
VIII-A-221-1 Bloco de Demonstração de Procedimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
IX-263 Determinação da Largura do Feixe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
A-210-1 Técnicas Radiográficas de Parede Única . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
C-210-1 Vistas lateral e superior de posicionamentos de IQI tipo furo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
D-210-1 Componente cilíndrico de circunferência completa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
D-210-2 Seção da Circunferência 240 graus ou Mais Componente Cilíndrico (Exemplo é Alternativo
Intervalos). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
D-210-3 Seção(ões) de circunferência inferior a 240 graus Componente cilíndrico . . . . . . . . . . . . . . . . 76
D-210-4 Seção(ões) de circunferência igual ou superior a 120 graus e inferior a 240 graus Cy
Componente líndrico Opção . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
D-210-5 Componente esférico de soldas circunferenciais completas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
D-210-6 Soldas em Segmentos de Componente Esférico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
D-210-7 Plano Vista AA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
D-210-8 Matriz de objetos em um círculo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
T-434.1.7.2 Limites de Razão para Superfícies Curvas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
T-434.2.1 Blocos de calibração sem tubulação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
T-434.3-1 Bloco de calibração para tubulação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
T-434.3-2 Bloco de calibração alternativo para tubulação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
T-434.4.1 Bloco de calibração para a técnica um. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
T-434.4.2.1 Bloco de calibração alternativo para a técnica um. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
T-434.4.2.2 Bloco de calibração alternativo para a técnica um. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
xx
T-434.4.3 Bloco de calibração para a técnica dois. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88

T-434.5.1 Bloco de calibração para exame de feixe reto da zona de fusão de solda do lado do bocal e/ou
Metal base do bocal adjacente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
I-440 Linearidade . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
III-434.2.1(a) Bloco de Referência TOFD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
III-434.2.1(b) Exemplo de Bloco de Referência de Duas Zonas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
III-463.5 Varreduras Deslocadas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
X-471.1 Volume de exame da junta do tubo de fusão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
XI-434.1-1 Bloco de calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121
B-461.1 Faixa de varredura (furos perfurados laterais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
B-461.2 Faixa de varredura (bloco IIW) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
B-461.3 Faixa de varredura (Entalhes) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
B-462.1 Correção de Sensibilidade e Distância-Amplitude (Orifícios Laterais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129
B-462.3 Correção de Sensibilidade e Distância-Amplitude (Entalhes) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
B-464 Profundidade de Posição e Caminho do Feixe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
B-465 Reflexões Planares. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
B-466 Espalhamento de Feixes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132
C-461 Faixa de varredura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
C-462 Sensibilidade e Correção de Distância–Amplitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
D-490 Localização da Unidade de Pesquisa, Posição e Direção do Feixe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 136
E-460.1 Resolução Lateral e Bloco de Discriminação de Profundidade para Aplicações de 45 graus e 60 graus . . 140
E-460.2 Bloco de resolução lateral e de profundidade para aplicações de 0 graus. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
F-451.1-1 Fluxo de trabalho genérico FMC/TFM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
F-451.1-2 Fluxo de Trabalho de Focalização Ativa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
F-451.1-3 Fluxo de trabalho de foco ativo com aquisição de dados FMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
F-451.1-4 Exemplo de fluxo de trabalho iterativo FMC/TFM como uma adaptação do mostrado em
Figura F-451.1-1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148
F-471-1 Exemplos de modos de geração de imagens ultrassônicas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
G-461(a) Raio Crítico, RC , para Combinações Transdutor/Acoplante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
G-461(b) Fator de Correção (Ganho) para Vários Parâmetros de Exame Ultrassônico . . . . . . . . . . . . . . 153
J-431 Bloco de calibração básica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 156
L-432 Exemplo de um bloco de demonstração plano contendo três entalhes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160
M-461.1 Faixa de varredura (furos perfurados laterais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
M-461.2 Faixa de varredura (superfícies cilíndricas) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
M-461.3 Alcance de Varredura (Unidade de Busca de Feixe Reto) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
M-462 Sensibilidade e Correção de Distância–Amplitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
N-421(a) Esquema mostrando a transformação da forma de onda em tons de cinza. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165
N-421(b) Esquema mostrando a geração de imagens em tons de cinza a partir de vários A-Scans . . . . . . . . . . . . . 166
N-421(c) Esquema mostrando configuração e exibição TOFD padrão com forma de onda e fases de sinal, exibição 166
N-421(d) TOFD com falhas e A-Scan exibido. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
N-451 Ferramentas de medição para alturas de falhas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168
N-452(a) Esquema mostrando a detecção de falhas fora do eixo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168
N-452(b) Erros de Medição da Incerteza da Posição da Falha. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
N-453 Imagem TOFD mostrando “caudas” hiperbólicas das extremidades de uma imagem de falha usada para medir
Comprimento da falha. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
N-454(a) Imagem TOFD mostrando sinais difratados superior e inferior de falha de parede intermediária e A-Scan
Interpretação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 170
N-454(b) Imagem TOFD mostrando sinais difratados superior e inferior da rachadura na linha central e A-Scan
Interpretação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 170
N-481(a) Esquemas de geração de imagem, padrão de varredura, forma de onda e exibição de TOFD mostrando o
Imagem da falha do ponto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171
N-481(b) Esquemas de geração de imagem, localização de falha e exibição TOFD mostrando a imagem do
Defeito de quebra de superfície interna (ID) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172
N-481(c) Esquemas de geração de imagem, localização de falha e exibição TOFD mostrando a imagem do
Falha de quebra de superfície externa (OD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172
xxi
N-481(d) Esquema da localização da falha, sinais e exibição do TOFD mostrando a imagem da parede intermediária
Imperfeição . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173
N-481(e) Localização da falha e exibição do TOFD mostrando a imagem da falta de penetração da raiz. . . . 174
N-481(f) Localização da falha e exibição do TOFD mostrando a imagem da falha de raiz côncava. . . . . . . . . 174
N-481(g) Localização da falha, exibição do TOFD mostrando a imagem da falha de falta de fusão da parede intermediária e a
A-Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
N-481(h) Localização da falha e display TOFD mostrando a imagem da porosidade. . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
N-481(i) Localização da falha e exibição do TOFD mostrando a imagem da trinca transversal. . . . . . . . . . 176
N-481(j) Esquemas de geração de imagem, localização de falha e exibição TOFD mostrando a imagem do
Interpasse Falta de Fusão. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
N-482(a) Esquema de locais de falha e imagem TOFD mostrando a onda lateral, parede traseira e
Três dos Quatro Defeitos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
N-482(b) Esquema de locais de falha e exibição TOFD mostrando a onda lateral, parede traseira e
Quatro Defeitos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 178
N-483(a) Níveis de Ruído Aceitáveis, Falhas, Onda Lateral e Parede Traseira de Onda Longitudinal . . . . . . . . 179
N-483(b) Imagem TOFD com ganho muito baixo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
N-483(c) Imagem TOFD com ganho muito alto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
N-483(d)(1) Imagem TOFD com o portão definido muito cedo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
N-483(d)(2) Imagem TOFD com o portão definido muito tarde. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
N-483(d)(3) Imagem TOFD com o gate definido muito longo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
N-483(e) Imagem TOFD com transdutores muito distantes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
N-483(f) Imagem TOFD com transdutores muito próximos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
N-483(g) Imagem TOFD com transdutores não centralizados no eixo de solda. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 184
N-483(h) Imagem TOFD mostrando interferência de ruído elétrico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 184
O-470(a) Exemplo de configuração TOFD de zona única. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
O-470(b) Exemplo de uma configuração de TOFD de duas zonas (alturas de zona iguais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
O-470(c) Exemplo de configuração TOFD de três zonas (alturas de zona desiguais com zona 3 endereçada por dois
Varreduras Offset). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
O-470(d) Exemplo de configuração TOFD de quatro zonas (alturas de zona iguais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187
P-421-1 Versão em preto e branco (P&B) da paleta de cores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190
P-421-2 Formato do Padrão de Digitalização . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190
P-421-3 Exemplo de Exibição de Imagem E-Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 191
P-421-4 Exemplo de exibição de imagem S-Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192
P-452.1 Dimensionamento do comprimento da falha usando a técnica de queda de amplitude e os cursores verticais no C-Scan
Mostrar . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192
P-452.2-1 Varredura mostrando o dimensionamento da altura da falha usando a técnica de queda de amplitude e a horizontal
Cursores no visor B-Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193
P-452.2-2 Dimensionamento da altura da falha usando a técnica de difração de ponta e os cursores horizontais no S-Scan
Mostrar . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193
P-481 S-Scan de ID Connected Crack . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194
P-481.1 E-Scan de LOF em Midwall. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194
P-481.2 S-Scan de porosidade, mostrando vários refletores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195
P-481.3 Rachadura no dedo do pé OD detectada usando S-Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195
P-481.4 Sinal IP no S-Scan, Posicionado na Raiz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196
P-481.5 Escória exibida como um defeito de parede intermediária no S-Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196
Q-410 Correção de Distância–Amplitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
Q-421 Primeira curva DAC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198
Q-422 Segunda curva DAC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198
R-434-1 Exemplo de solda de canto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 200
R-434-2 Exemplo de solda em T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 201
S-430-1 Ajuste do Sinal (Parede Traseira) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
S-440-1 Curva DAC para correção de transferência de feixe reto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 203
S-460-1 Exemplo 1 (Correção de transferência de feixe direto) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 203
S-460-2 Exemplo 2 (Correção de transferência de feixe direto) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 204
U-430-1 Ajuste de sinal (feixe de ângulo) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206
U-440-1 Curva DAC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206
xxii
U-450-1 Ajuste de sinal (feixe de ângulo) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206

U-460-1 Exemplo 1 (Correção de transferência de feixe angular) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 207
U-460-2 Exemplo 2 (Correção de transferência de feixe angular) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 207
W-434-1 Montagem parcialmente soldada ao redor da circunferência de encaixe. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
W-461.4-1 Zonas preenchidas e não preenchidas de uma junta. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
T-534.3 Blocos de calibração de viga reta para aparafusamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213
III-630 Comparador Líquido Penetrante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
T-754.2.1 Técnica do condutor central de passagem única e dupla . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 232
T-754.2.2 A região efetiva do exame ao usar um condutor central deslocado . . . . . . . . . . 232
T-764.2(a) Indicador de Campo de Partículas Magnéticas em Forma de Torta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 234
T-764.2(b)(1) Calços defeituosos artificiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 234
T-764.2(b)(2) Calços defeituosos artificiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235
T-766.1 Anel de teste de Ketos (Betz). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 237
II-863.1 Resposta da Técnica Diferencial do Padrão de Referência de Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . 256
II-863.2 Resposta técnica absoluta do padrão de referência de calibração. . . . . . . . . . . . . . . . . . 256
II-880 Profundidade da falha em função do ângulo de fase a 400 kHz [Ni–Cr–Fe 0,050 pol. (1,24 mm) Parede
Tubo] . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257
V-860 Curva de calibração de levantamento típica para espessura de revestimento mostrando calibração de espessura
Pontos ao longo da curva. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 265
VI-832 Amostra de Referência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 268
VI-850 Representações de indicações do plano de impedância da Figura VI-832 . . . . . . . . . . . . . . . . . 268
VII-835 Amostra de referência de correntes parasitas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 271
VII-862 Respostas do plano de impedância para amostras de referência de aço inoxidável e aço carbono. . . 272
VIII-864.1 Resposta da Técnica Diferencial da Referência de Calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 276
VIII-864.2 Técnica absoluta do padrão de referência de calibração. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 276
IX-821-1 Técnica ECA comparada ao Raster Scan. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 279
IX-832-1 Variância de sensibilidade da bobina da matriz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 280
IX-833-1 Exemplo de Padrão de Referência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
IX-872-1 Sobreposição de digitalização . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 283
X-833-1 Exemplo de Padrão de Referência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
XI-821-1 Correntes parasitas induzidas fluem ao redor e sob uma descontinuidade de quebra de superfície. . . . . . . 288
XI-821-2 Exemplo de Disposição de Bobina: Bobina Acionadora Orientada Tangencialmente com Bobinas Receptoras Passivas
Orientado Perpendicular e Tangencial à Superfície de Exame. . . . . . . . . . . . . . . . . 289
XI-832-1 Variância de Sensibilidade da Bobina de Array para Detecção de Defeitos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 291
XI-832-2 Variância de sensibilidade da bobina de arranjo para medição de profundidade de defeito . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 291
XI-833.1-1 Exemplo de padrão de referência, soldas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292
XI-833.2-1 Exemplo Padrão de Referência, Materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292
XI-872-1 Sobreposição de digitalização . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 294
T-1173(a)(1) Sequência de Carregamento de Vasos Atmosféricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
T-1173(a)(2) Sequência de Carregamento de Vasos a Vácuo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 335
T-1173(a)(3) Algoritmo de Teste — Fluxograma para Vasos Atmosféricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 336
T-1173(b)(1) Sequência de Carregamento do Vaso de Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 337
Algoritmo T-1173(b)(2) — Fluxograma para Vasos de Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 338
I-1183 Amostra de Esquema de Instrumentação EA para Exame de Vasos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 342
A-1110 Caso 1 — Vaso Vertical Atmosférico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 344
A-1120 Caso 2 — Vaso Vertical Atmosférico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 345
A-1130 Caso 3 — Vaso Atmosférico/Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
A-1140 Caso 4 — Vaso Vertical Atmosférico/Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 347
A-1150 Caso 5 — Vaso Vertical Atmosférico/Vácuo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 348
A-1160 Caso 6 — Tanque Horizontal Atmosférico/Pressão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
T-1273.2.1 Um Exemplo de Sequência de Tensão de Teste de Vaso de Pressão. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
T-1273.2.2 Um Exemplo de Sequência de Carga de Teste em Vaso de Pressão em Serviço . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355
III-1241.1-1 Exemplo de Matriz de Sensor Planar (2D) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 362
III-1241.2-1 Exemplo de Curva de Atenuação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 363
III-1242.1-1 Gráfico representando as posições dos sensores (estrelas) e a grade para a qual as distâncias são
Calculado para cada ponto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 364
xxiii
III-1242.1-2 Gráfico Representando as Posições dos Sensores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 365

III-1242.1-3 Mapeamento representando a distância até o sensor mais próximo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 366
III-1242.1-4 Mapeamento representando a distância até o terceiro sensor mais próximo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 367
III-1242.2-1 Cálculo da amplitude mínima equivalente usando o mapeamento do algoritmo de localização planar representando 368
III-1242.2-2 a amplitude mínima que pode ser detectada (processada) pelo
Método de Localização Zonal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 369
III-1242.2-3 Mapeamento representando a amplitude mínima que pode ser processada pelo Lo planar
método de cação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 370
III-1242.3-1 Mapeamento representando as áreas onde o método de localização planar é eficiente e não
Aplicável. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 371
A-1210 Caso 1 — Cabeças abauladas de vasos de pressão verticais, ressaltos ou pernas com suporte . . . . . . . . . . . . . . . 372
A-1220 Caso 2 — Cabeça côncava complexa com vários bicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 373
A-1230 Caso 3 — Cabeças abauladas para vasos de pressão horizontais, suporte de sela . . . . . . . . . . . . . . . . 374
A-1240 Caso 4 — Vaso de Pressão Vertical Embalado ou Coluna de Bandeja Cabeças Recheadas, Alças ou Saia
Suportado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 375
A-1250 Caso 5 — Vaso de Pressão Esférico, Perna Apoiada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 376
T-1331 Diagrama de Fluxo Funcional — Sistema de Monitoramento Contínuo de EA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 379
T-1332.2 Resposta de um sensor AE de guia de onda sintonizado indutivamente para 500 kHz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 380
V-1333 Construção de sensor AE de guia de onda de metal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 396
V-1341 Fixação de montagem para sensor AE de guia de onda de aço . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 397
II-1434 Caracterização de Falhas para as Tabelas II-1434-1 e II-1434-2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 408
T-1533 Bloco de calibração ACFMT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 412
T-1622.1.1 Dimensões da placa de referência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 415
T-1622.1.2 Dimensões de tubo ou tubo de referência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 416
T-1762 Tubo de referência de poço (típico) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 419
T-1763.1(a) Exibição do plano de tensão da resposta do canal diferencial para furo na parede (através
Hole Signal) e 20% Ranhura Mostrando Relação Angular Preferida . . . . . . . . . . . . . . 420
T-1763.1(b) Exibição do plano de tensão da resposta do canal diferencial para a placa de suporte do tubo (TSP),
Ranhura de 20% e furo passante na parede (sinal de furo passante) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 420
T-1763.2 Curva de referência e a resposta absoluta do sinal do canal de duas circunferências
Ranhuras e uma placa de suporte de tubo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
T-1832 Amostras de Referência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 424
T-1865.1 Análise de sinal de vários tipos de descontinuidades. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 427
T-1865.2 Reflexão de um furo na parede . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 428
A-1920 Ilustração do procedimento de exame por onda guiada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 434
A-2121-1 Curva de decaimento básica em um gráfico log-linear. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 444
A-2121-2 Curva de decaimento básica em um gráfico Log-Log. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 445
A-2123.1-1 Impacto da Revestimento de Alumínio com uma Espessura de 0,04 pol. (1 mm) na Curva de Decaimento em um
Gráfico log-linear . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 445
A-2123.1-2 Impacto da Revestimento de Alumínio com uma Espessura de 0,04 pol. (1 mm) na Curva de Decaimento em um
Gráfico Log-Log . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 446
A-2152-1 Imagem da placa de referência com duas espessuras. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
A-2152.1-1 Imagem da trajetória A–B na qual as medições são realizadas para determinar o pé
imprimir . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
A-2152.1-2 Resposta da Espessura da Parede da Medição da Trajetória A–B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
A-2152.1-3 Derivada da Resposta da Espessura da Parede da Medição da Trajetória A–B . . . . . . 450
A-2152.2-1 Resposta da Espessura da Parede da Medição da Trajetória A–B com uma Linha Traçada . . . . 450
TABELAS
II-121-1 Requisitos iniciais de treinamento e experiência para técnicas de CR e DR. . . . . . . . . . . . . . . . 28
II-121-2 Requisitos adicionais de treinamento e experiência para PAUT, TOFD e FMC Ultrasonic
Técnicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
II-122.1 Questões mínimas de exame de CR e DR. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
II-122.2 Perguntas mínimas do exame de técnica ultrassônica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
A-110 Imperfeição vs. Tipo de Método de EQM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
T-233.1 Designação IQI do Tipo de Furo, Espessura e Diâmetros do Furo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
xxiv
T-233.2 Designação IQI do fio, diâmetro do fio e identidade do fio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35

T-276 Seleção IQI. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
T-283 Sensibilidade IQI tipo furo equivalente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
A-210-2 Técnicas Radiográficas de Parede Dupla. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
T-421 Requisitos de um procedimento de exame ultrassônico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
III-421 Requisitos de um procedimento de exame TOFD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
IV-421 Requisitos de um procedimento de exame de varrimento raster linear linear Phased Array. . . 105
V-421 Requisitos dos Procedimentos de Exame de Varredura Linear Phased Array. . . . . . . . . . . . . . . . 107
X-421 Requisitos de um procedimento de exame ultrassônico para técnicas de HDPE. . . . . . . . . . . . . 116
XI-421.1-1 Requisitos de um Procedimento de Exame FMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
D-490 Exemplo de registro de dados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 136
F-441-1 Uma Matriz de Transmissão/Recepção Elementar Ilustrada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
F-471-1 Modos de imagem ultrassônica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149
G-461 Fator do transdutor, F1, para vários diâmetros e frequências de transdutores ultrassônicos . . . . . . 151
O-432(a) Parâmetros da unidade de pesquisa para exames de zona única Até 3 pol. (75 mm) . . . . . . . . . . . . . . . 185
O-432(b) Parâmetros da Unidade de Pesquisa para Exames de Zona Múltipla Espessura de até 12 pol. (300 mm) . . . . . 185
O-470 Zonas TOFD recomendadas para soldas de topo Até 12 pol. (300 mm) de espessura . . . . . . . . . . . . . . . . 185
T-522 Variáveis de um procedimento de exame ultrassônico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
T-621.1 Requisitos de um Procedimento de Exame de Líquido Penetrante. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 221
T-621.3 Limites de Tempo Mínimo e Máximo para Etapas em Procedimentos de Exame de Penetrantes. . . . . . 221
T-672 Tempos mínimos de permanência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223
T-721 Requisitos de um Procedimento de Exame de Partículas Magnéticas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230
I-721 Requisitos da técnica de Yoke AC em componentes ferríticos revestidos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
III-721 Requisitos para uma técnica de Yoke AC ou HWDC com partículas fluorescentes em uma área
escura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
IV-721 Requisitos para qualificação de fontes de luz de comprimento de onda alternativo para excitação de
Partículas fluorescentes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
V-721 Requisitos de um procedimento de exame de borracha magnética. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 248
II-821 Requisitos de um procedimento de exame de correntes parasitas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 253
IV-823 Requisitos de um procedimento de exame de correntes parasitas de bobina externa. . . . . . . . . . . . . . . . . 261
V-821 Requisitos de um procedimento de exame de correntes parasitas para a medição de
Espessura de revestimento não condutor e não ferromagnético em um material metálico . . . . . . . . . . . . 263
VI-821 Requisitos de um procedimento de exame de correntes parasitas para detecção e medição
de profundidade para descontinuidades de superfície em materiais metálicos não ferromagnéticos. . . . . . . . . . . . 266
VII-823 Requisitos de um procedimento de exame de superfície por correntes parasitas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
VIII-821 Requisitos de um procedimento de exame de correntes parasitas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 274
IX-822-1 Requisitos de Procedimento Escrito para um Exame ECA. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 280
X-822-1 Requisitos de Procedimento Escrito para um Exame ECA. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 285
XI-822-1 Requisitos de Procedimento Escrito para um Exame Técnico de TF. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 289
T-921 Requisitos de um procedimento de exame visual. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295
I-1021 Requisitos de um procedimento de teste de vazamento de bolha de pressão direta. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
II-1021 Requisitos de um procedimento de teste de vazamento de caixa de vácuo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
III-1021 Requisitos de um procedimento de teste de sonda de detector de diodo de halogênio. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
III-1031 Gases Traçadores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
IV-1021 Requisitos de um procedimento de teste de sonda de detector de espectrômetro de massa de hélio. . . . . . . . . 308
V-1021 Requisitos de um procedimento de teste de sonda de traçador de espectrômetro de massa de hélio . . . . . . . . . . . 311
VI-1021 Requisitos de um procedimento de teste de mudança de pressão. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
VIII-1021 Requisitos de um procedimento de teste de sonda de detector de condutividade térmica. . . . . . . . . . . . . . 316
VIII-1031 Gases Traçadores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 316
IX-1021 Requisitos de um procedimento de teste de capuz de espectrômetro de massa de hélio. . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
X-1021 Requisitos de um procedimento de teste de vazamento ultrassônico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322
XI-1021.1-1 Requisitos de um teste de taxa de vazamento de objeto selado de espectrômetro de massa de hélio . . . . . . . . . . . 325
T-1121 Requisitos para Nível Operacional Reduzido Imediatamente Antes do Exame. . . . . . . . . . . . 329
T-1181 Critérios de Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 339
T-1281 Um Exemplo de Critério de Avaliação para Localização de Zona. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 356
III-1250-1 Exemplo de Valores de Kcats para Duas Configurações Diferentes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 371
xxv
II-1381 Um Exemplo de Critério de Avaliação para Localização de Zona. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 390

II-1382 Um Exemplo de Critério de Avaliação para Localização Multisource. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 390
T-1472.1 Número total de amostras para um determinado número de falhas em um nível de confiança especificado e
SOB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 405
T-1472.2 Número Necessário de Examinadores da Primeira Fase vs. Meta de Taxa de Aprovação. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 406
II-1434-1 Critérios de aceitação de falhas para 4 pol. para 12 pol. Solda grossa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 408
II-1434-2 Critérios de aceitação de falhas para diâmetros maiores que 12 pol. Solda grossa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 408
T-1522 Requisitos de um procedimento de exame ACFMT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 411
T-1623 Requisitos de um procedimento de exame MFL. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 417
T-1721 Requisitos de um Procedimento de Exame RFT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
T-1821 Requisitos de um procedimento de exame de reflectometria de pulso acústico. . . . . . . . . . . . . . . 423
T-1921.1 Requisitos de um procedimento de exame GWT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 430
T-2021.1-1 Requisitos de um procedimento de exame de tomografia computadorizada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 439
T-2121.1-1 Requisitos de um Procedimento de Exame PEC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 443
II-1 Unidades padrão para uso em equações. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 938
NOTAS FINAIS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 943
xxvi
LISTA DE SEÇÕES ð23Þ

SEÇÕES
EU Regras para Construção de Caldeiras de Energia
II Materiais
• Parte A — Especificações de materiais ferrosos • Parte
B — Especificações de materiais não ferrosos • Parte C —
Especificações para varetas de solda, eletrodos e metais de adição • Parte D — Propriedades
(comuns) • Parte D — Propriedades (métricas)
III Regras para Construção de Componentes de Instalações Nucleares •

Subseção NCA — Requisitos Gerais para Divisão 1 e Divisão 2 • Apêndices • Divisão 1
– Subseção NB – Componentes de Classe 1

– Subseção NCD – Componentes de Classe 2 e Classe 3
– Subseção NE – Componentes da Classe MC
– Subseção NF — Suportes
– Subseção NG — Estruturas de Suporte Central • Divisão
2 — Código para Contenções de Concreto • Divisão 3 —
Sistemas de Contenção para Transporte e Armazenamento de Combustível Nuclear Usado e de Alto Nível
Material radioativo
• Divisão 4 — Dispositivos de energia de fusão •
Divisão 5 — Reatores de alta temperatura
IV Regras para Construção de Caldeiras de Aquecimento
V Exame Não Destrutivo
VI Regras Recomendadas para Cuidados e Operação de Caldeiras de Aquecimento
VII Diretrizes recomendadas para o cuidado de caldeiras de força
VIII Normas para Construção de Vasos de Pressão

• Divisão 1
• Divisão 2 — Regras Alternativas
• Divisão 3 - Regras Alternativas para Construção de Vasos de Alta Pressão
IX Qualificações de soldagem, brasagem e fusão
Vasos de pressão de plástico reforçado com fibra X
XI Regras para inspeção em serviço de componentes de instalações de reatores nucleares

• Divisão 1 — Regras para Inspeção e Teste de Componentes de Usinas Resfriadas a Água Leve • Divisão 2 — Requisitos
para Programas de Gerenciamento de Confiabilidade e Integridade (RIM) para Reatores Nucleares
Instalações
XII Regras para Construção e Serviço Continuado de Tanques de Transporte
XIII Regras para Proteção contra Sobrepressão
xxvii
PREFÁCIO*
Em 1911, a American Society of Mechanical Engineers estabeleceu o Boiler and Pressure Vessel Committee para formular
regras padrão para a construção de caldeiras a vapor e outros vasos de pressão. Em 2009, o Comitê de Caldeiras e Vasos de
Pressão foi substituído pelos seguintes comitês:
(a) Comitê de Caldeiras de Energia
(I) (b) Comitê de Materiais (II) (c)
Comitê de Construção de Componentes de Instalações Nucleares (III)
(d) Comitê de Caldeiras de Aquecimento
(IV) (e) Comitê de Exame Não Destrutivo ( V) (f)
Comitê de Vasos de Pressão (VIII) (g)
Comitê de Soldagem, Brasagem e Fusão (IX) (h)
Comitê de Vasos de Pressão de Plástico Reforçado com Fibra (X)
(i) Comitê de Inspeção Nuclear em Serviço (XI ) (j)
Comitê de Tanques de Transporte (XII) (k)
Comitê de Proteção contra Sobrepressão (XIII) (l)
Comitê de Gerenciamento de Supervisão Técnica (TOMC)
Quando for feita referência ao “Comitê” neste Prefácio, cada um desses comitês é incluído individual e coletivamente.
A função do Comitê é estabelecer regras de segurança relacionadas apenas à integridade da pressão, que regem a
construção** de caldeiras, vasos de pressão, tanques de transporte e componentes nucleares, e a inspeção em serviço de
componentes nucleares e tanques de transporte. O Comitê também interpreta essas regras quando surgem dúvidas sobre sua
intenção. A consistência técnica das Seções do Código e a coordenação das atividades de desenvolvimento de normas dos
Comitês são apoiadas e orientadas pelo Comitê de Gestão de Supervisão Técnica. Este Código não aborda outras questões
de segurança relacionadas à construção de caldeiras, vasos de pressão, tanques de transporte ou componentes nucleares, ou
a inspeção em serviço de componentes nucleares ou tanques de transporte. Os usuários do Código devem consultar os
códigos, padrões, leis, regulamentos ou outros documentos relevantes para questões de segurança que não sejam
relacionadas à integridade da pressão. Com exceção das Seções XI e XII, e com algumas outras exceções, as regras não
refletem, por necessidade prática, a probabilidade e as consequências da deterioração em serviço relacionada a fluidos de
serviço específicos ou ambientes operacionais externos. Ao formular as regras, o Comitê considera as necessidades dos
usuários, fabricantes e inspetores de vasos de pressão. O objetivo das regras é fornecer proteção razoavelmente certa à vida
e à propriedade e fornecer uma margem para deterioração do serviço para proporcionar um período de utilidade razoavelmente
longo e seguro. Avanços em design e materiais e evidências de experiência foram reconhecidos.
Este Código contém requisitos obrigatórios, proibições específicas e orientações não obrigatórias para atividades de
construção e inspeção em serviço e atividades de teste. O Código não aborda todos os aspectos dessas atividades e aqueles
aspectos que não são especificamente abordados não devem ser considerados proibidos. O Código não é um manual e não
pode substituir a educação, a experiência e o uso de julgamento de engenharia. A frase julgamento de engenharia refere-se a
julgamentos técnicos feitos por engenheiros experientes na aplicação do Código. Os julgamentos de engenharia devem ser
consistentes com a filosofia do Código, e tais julgamentos nunca devem ser usados para anular requisitos obrigatórios ou
proibições específicas do Código.
O Comitê reconhece que as ferramentas e técnicas usadas para projeto e análise mudam à medida que a tecnologia avança
e espera que os engenheiros usem o bom senso na aplicação dessas ferramentas. O projetista é responsável por cumprir as
regras do Código e demonstrar conformidade com as equações do Código quando tais equações forem obrigatórias. O Código
não exige nem proíbe o uso de computadores para o projeto ou análise de componentes construídos para o
* As informações contidas neste Prefácio não fazem parte deste American National Standard (ANS) e não foram processadas de acordo com os
requisitos do ANSI para um ANS. Portanto, este Prefácio pode conter material que não foi submetido à revisão pública ou a um processo de
consenso. Além disso, não contém requisitos necessários para a conformidade com o Código.
** Construção, conforme usado neste Prefácio, é um termo abrangente que compreende materiais, projeto, fabricação, exame, inspeção, teste,
certificação e proteção contra sobrepressão.
xxviii
requisitos do Código. No entanto, projetistas e engenheiros que usam programas de computador para projeto ou análise são advertidos de que
são responsáveis por todas as suposições técnicas inerentes aos programas que usam e à aplicação de
esses programas ao seu design.
As regras estabelecidas pelo Comitê não devem ser interpretadas como aprovando, recomendando ou endossando qualquer projeto
proprietário ou específico, ou limitando de alguma forma a liberdade do fabricante de escolher qualquer método de projeto ou qualquer
forma de construção que esteja em conformidade com as regras do Código.
O Comitê se reúne regularmente para considerar revisões das regras, novas regras ditadas pelo desenvolvimento tecnológico,
Casos de código e solicitações de interpretações. Somente o Comitê tem autoridade para fornecer interpretações oficiais de
este Código. Solicitações de revisões, novas regras, Casos de Código ou interpretações devem ser endereçadas ao Secretário por escrito
e fornecerá detalhes completos para receber consideração e ação (consulte Envio de consultas técnicas ao
Comitês de Padrões de Caldeiras e Vasos de Pressão). Propostas de revisão do Código resultantes de consultas serão apresentadas ao Comitê
para as devidas providências. A ação do Comitê torna-se efetiva somente após a confirmação
por votação do Comitê e aprovação da ASME. As revisões propostas para o Código aprovadas pelo Comitê são submetidas ao American
National Standards Institute (ANSI) e publicadas em http://go.asme.org/BPVCPublicReview para
convidar comentários de todas as pessoas interessadas. Após revisão pública e aprovação final pela ASME, as revisões são publicadas em
intervalos regulares nas Edições do Código.
O Comitê não decide se um componente deve ou não ser construído de acordo com as disposições do Código.
O escopo de cada Seção foi estabelecido para identificar os componentes e parâmetros considerados pelo Comitê
na formulação das regras do Código.
Dúvidas ou questões relativas à conformidade de um componente específico com as regras do Código devem ser direcionadas ao ASME
Titular do Certificado (Fabricante). Dúvidas sobre a interpretação do Código devem ser dirigidas ao Comitê. A ASME deve ser notificada caso
surjam dúvidas sobre o uso indevido da Marca de Certificação Única ASME.
Quando exigido pelo contexto desta Seção, o singular deve ser interpretado como o plural e vice-versa, e o gênero feminino, masculino ou
neutro deve ser tratado como outro gênero conforme apropriado.
As palavras “deve”, “deve” e “pode” são usadas nesta Norma da seguinte forma:
– Shall é usado para denotar um requisito.
– Should é usado para denotar uma recomendação.
– May é usado para denotar permissão, nem um requisito nem uma recomendação.
xxix
DECLARAÇÃO DE POLÍTICA SOBRE O USO DO ASME SINGLE

MARCA DE CERTIFICAÇÃO E CÓDIGO DE AUTORIZAÇÃO EM
ANÚNCIO
A ASME estabeleceu procedimentos para autorizar organizações qualificadas a realizar várias atividades de acordo com os requisitos do
Código de Vasos de Pressão e Caldeiras ASME. É o objetivo da Sociedade fornecer reconhecimento de organizações assim autorizadas. Uma
organização detentora de autorização para realizar várias atividades de acordo com os requisitos do Código pode declarar essa capacidade em
sua literatura publicitária.
As organizações que estão autorizadas a usar a Marca de Certificação Única ASME para marcar itens ou construções que foram construídas
e inspecionadas de acordo com o Código ASME de Caldeiras e Vasos de Pressão recebem Certificados de Autorização. É objetivo da
Sociedade manter a posição da Marca Única de Certificação ASME para o benefício dos usuários, das jurisdições de execução e dos detentores
da Marca Única de Certificação ASME que cumprem todos os requisitos.
Com base nesses objetivos, a seguinte política foi estabelecida sobre o uso em publicidade de fac-símiles da Marca de Certificação Única
ASME, Certificados de Autorização e referência à construção do Código. A Sociedade Americana de Engenheiros Mecânicos não “aprova”,
“certifica”, “classifica” ou “endossa” nenhum item, construção ou atividade e não deve haver declarações ou implicações que possam indicar
isso. Uma organização que possui a Marca de Certificação Única ASME e/ou um Certificado de Autorização pode declarar na literatura de
publicidade que itens, construções ou atividades “são construídas (produzidas ou executadas) ou atividades conduzidas de acordo com os
requisitos da Norma ASME Boiler and Pressure Vessel Código” ou “cumprir os requisitos do Código ASME para Caldeiras e Vasos de Pressão”.
A Marca de Certificação Única ASME deve ser usada apenas para estampagem e placas de identificação conforme especificamente fornecido
no Código. No entanto, fac-símiles podem ser usados com a finalidade de promover o uso de tal construção. Tal uso pode ser por uma
associação ou sociedade, ou por um detentor da Marca de Certificação Única ASME, que também pode usar o fac-símile em publicidade para
mostrar que itens claramente especificados levarão a Marca de Certificação Única ASME.
DECLARAÇÃO DE POLÍTICA SOBRE O USO DA MARCAÇÃO ASME PARA

IDENTIFICAR OS ITENS FABRICADOS
O código ASME para caldeiras e vasos de pressão fornece regras para a construção de caldeiras, vasos de pressão e componentes nucleares.
Isso inclui requisitos para materiais, projeto, fabricação, exame, inspeção e estampagem. Os itens construídos de acordo com todas as regras
aplicáveis do Código são identificados com a Marca de Certificação Única ASME descrita na Seção aplicável do Código.
Marcações como “ASME”, “Norma ASME” ou qualquer outra marcação, incluindo “ASME” ou a Marca de Certificação Única ASME, não
devem ser usadas em nenhum item que não seja construído de acordo com todos os requisitos aplicáveis do Código.
Os itens não devem ser descritos nos Formulários de Relatório de Dados ASME nem em formulários similares referentes à ASME que tendem
a implicar que todos os requisitos do Código foram atendidos quando, de fato, não foram. Os formulários de relatório de dados que cobrem itens
que não atendem totalmente aos requisitos da ASME não devem se referir à ASME ou devem identificar claramente todas as exceções aos
requisitos da ASME.
xxx
PESSOAL ð23Þ
Comitês de Normas de Vasos de Pressão e Caldeiras ASME,

Subgrupos e Grupos de Trabalho
1º de janeiro de 2023
COMITÊ DE GESTÃO DE SUPERVISÃO TÉCNICA (TOMC) COMITÊ ADMINISTRATIVO
RE McLaughlin, presidente WM Lundy DI RE McLaughlin, presidente MJ Pischke

NA Finney, vice-presidente Morris NA Finney, vice-presidente MD Rana
SJ Rossi, secretário de equipe Pastor TP SJ Rossi, secretário de pessoal SC Roberts
G. Aurioles, Sr. MD Rana J. Cameron
RR Stevenson
RW Barnes TL SC Roberts RB Keating B.
Bedeaux Linnemann RW Swayne M.
FJ Schaaf, Jr.
C. Brown BK Nutter Wadkinson
G. Scribner
DB DeMichael RP
WJ Sperko D.
Deubler JG
Srnic
Feldstein GW
Galanes JA Hall RW Swayne J.
TE Hansen Vattappilly M.
GW Hembree Wadkinson
GRUPO DE CONFERÊNCIA MARINHA
BK Nutter, Membro Ex-Oficial MJ
J. Oh, secretário de HN Patel N.
RB Keating B. Pischke, Membro Ex-Oficial JF Henry,
Linnemann Membro Honorário pessoal JG Hungerbuhler, Jr. Prokopuk JD
G. Nair Reynolds
Subgrupo de Pesquisa e Desenvolvimento (TOMC)
SC Roberts, Presidente RB Keating RE

SJ Rossi, Secretário de Pessoal McLaughlin TP
RW Barnes NA Pastor D. COMITÊ DE CONFERÊNCIA
Finney W. Andrei, membro contribuinte
Hoffelner RD Troutt — Texas, presidente JT J. LeSage, Jr. — Louisiana AM
Amato — Ohio, secretário W. Lorimor — Dakota do Sul
Anderson — Mississippi R. Becker M. Mailman - Noroeste
— Colorado Territórios, Canadá W.
Subgrupo de Iniciativas Estratégicas (TOMC)
TD Boggs — Missouri RA McGivney — Cidade de Nova York,
NA Finney, Presidente MH Jawad RB Boillard — Indiana DP Nova Iorque
SJ Rossi, Secretário de Pessoal Keating RE Brockerville — Terra
SF Noonan — Maryland CL
RW Barnes TL McLaughlin TP Nova e Labrador, Canadá RJ Bunte O'Guin — Tennessee BS Oliver
Bedeaux GW Pastor SC — Iowa
— New Hampshire JL Oliver — Nevada
Hembree Roberts
JH Burpee — Maine M. PB Polick — Illinois
Carlson — Washington TG
Clark — Oregon BJ Crawford —
JF Porcella — Virgínia Ocidental B.
Grupo de Trabalho sobre Inspeção e Exame Remoto (SI-TOMC) Geórgia EL Creaser — Ricks — Montana
SC Roberts, Presidente M. Tannenbaum New Brunswick, Canadá
WJ Ross — Pensilvânia MH
PJ Coco J. Cameron, Suplente A. Sansone — Nova York
NA Finney SA Byk, Membro Contribuinte J. Pang, TS Seime — Dakota do Norte CS
Marks R. JJ Dacanay — Havaí R.
Membro Contribuinte SJ Rossi, Selinger — Saskatchewan, Canadá
Rockwood DeLury — Manitoba, Canadá A. Denham
Membro Contribuinte CA Sanna, Membro
C. Stevens — Michigan C. Dinic —
Contribuinte JE Sharier — Ohio R.
Ontário, Canadá DA Ehler — Nova
Spiker — Carolina do Norte D.
Escócia, Canadá SD Frazier — Washington
Srnic — Alberta, Canadá DJ
TJ Granneman II — Oklahoma S.
Grupo de Trabalho Especial sobre Tecnologia de Alta Temperatura (TOMC) Stenrose — Michigan RJ Stimson
Harder — Arizona ML Jordan — Kentucky
D. Dewees, Presidente BF Hantz RI R . Camboja — Colúmbia II — Kansas RK Sturm — Utah
FW Brust TD Jetter P. Britânica, Canadá
Burchell PR Smith DK Sullivan - Arkansas
Donavin J. Taveras — Rhode Island G.
E. Kawa — Massachusetts A. Teel — Califórnia
Khssassi — Quebec, Canadá D. Kinney DM Warburton — Flórida M.
— Carolina do Norte KS Lane — Washington — Nova Jersey E.

Alasca Wiggins — Alabama
xxxi
GRUPO DE REVISÃO DE INTERESSE INTERNACIONAL Subgrupo Requisitos Gerais e Tubulações (BPV I)
V. Félix C. meu DE Tompkins, presidente BJ Mollitor Y.

Y.-G. Kim Y.-W. Park M. Wadkinson, vice-presidente Oishi
SH Leong AR Reynaga Nogales P. M. Lemmons, secretário R. EM Ortman
W. Lin Williamson Antoniuk TE
o Tuttle
DE Manafa Hansen
M. Ishikawa J. Vattappilly
RE McLaughlin L. RV Wielgoszinski
Moedinger WL Lowry, Membro Contribuinte
COMITÊ DE CALDEIRAS DE ENERGIA (BPV I)
RE McLaughlin, presidente M. Wadkinson

EM Ortman, vice-presidente RV Wielgoszinski F. Subgrupo de Caldeiras de Locomotivas (BPV I)
U. D'Urso, secretário de Zeller
pessoal DI Anderson JR Braun, Presidente SA Lee L.
H. Michael, Delegado
JL ArnoldKK SM Butler, Secretário GW Moedinger GM
DL Berger, Membro Honorário PD
Coleman Galanes Ray MW
Edwards, Membro Honorário DN French,
JG Feldstein S. DW Griner MA Westland
Membro Honorário J. Hainsworth,
Fincher Janssen
Membro Honorário JF Henry, Membro
GW Galanes
Honorário WL Lowry, Membro
TE Hansen
Honorário JR MacKay, Membro
JS Hunter M.
Ishikawa Honorário PA Molvie, Membro
Lemmons L. Honorário JT Pillow, Honorário Subgrupo de Materiais (BPV I)
Moedinger Y. Membro BW Roberts, Membro
KK Coleman, presidente LS Nicol
Oishi M. Honorário RD Schueler, Jr., Membro
K. Hayes, vice- M. Ortolani
Ortolani Honorário
presidente M. Lewis, D. W. Rahoi
A. Spangenberg secretário SH
DE Tompkins DE JM Tanzosh, Membro Honorário RL F Zeller
Bowes GW Galanes
Tuttle J. Williams, Membro Honorário LW Yoder, PF Gilston JS BW Roberts, Membro Contribuinte
Vattappilly Membro Honorário
Hunter E.
Liebl F. JM Tanzosh, Membro Contribuinte
Masuyama
Comitê Executivo (BPV I)
EM Ortman, presidente U. D'Urso

RE McLaughlin, vice-presidente PF Gilston Subgrupo de Caldeiras Solares (BPV I)
DI Anderson JL
K. Hayes P. Jennings, JS Hunter P.
Arnold JR Presidente RE Hearne, Swarnkar
P. Jennings
Braun KK Secretário S. Fincher
Coleman A. Spangenberg
H. Dalal DE Tompkins M.
T. Dhanraj Wadkinson
Grupo de Trabalho sobre Modernização (BPV I)
DI Anderson, Presidente TE Hansen
Subgrupo de Design (BPV I) U. D'Urso, Secretário de RE McLaughlin

Pessoal JL
EM Ortman
DI Anderson, Presidente NS Ranck J. Arnold D. Dewees
LS Tsai, Secretário P. Vattappilly M. GW Galanes JP o Tuttle
Becker L. Wadkinson D. Glaspie J. Vattappilly
Krupp CT Dewees, Membro Contribuinte JP
McDaris Glaspie, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho Internacional da Alemanha (BPV I)
A Spangenberg, Presidente RA Meyers H.

Subgrupo de Fabricação e Exame (BPV I)
P Chavdarov, Secretário B Michael F.
JL Arnold, presidente Jennings, M. Daume J Miunske M.
PF Gilston, vice-presidente Lewis, CT, Fleischfresser C Sykora R.
P. Becker, secretário McDaris, RE, Jaekel R Helmholdt, Membro Contribuinte
KK Coleman S. McLaughlin, RJ, Kauer D
Fincher GW Newell, Y, Koelbl S J. Henrichsmeyer, Membro
Galanes Oishi, Krebs T Contribuinte
TE Hansen RV, Wielgoszinski Ludwig B. Müller, Membro Contribuinte
xxxii
Grupo de Trabalho Internacional da Índia (BPV I) Subgrupo de Especificações Internacionais de Materiais (BPV II)
H. Dalal, S. Purkait M. Ishikawa, presidente F Zeller

presidente T. Dhanraj, vice- MG Rao P. Chavdarov, vice-presidente C. Zhou
presidente K. Thanupillai, GU Shanker A. Chaudouet
O. Oldani, Delegado
secretário DK Shrivastava K. H. Chen
P. Brahma S. Chakrabarti H. Lorenz, Membro Contribuinte TF
Singha R. AF Garbolevsky DO
A. Hantodkar Sundararaj S. Henry WM Miskell, Membro Contribuinte E. Upitis,
AJ Patil Venkataramana Lundy Membro Contribuinte
COMITÊ DE MATERIAIS (BPV II) Subgrupo de Ligas Não Ferrosas (BPV II)
J. Cameron, D. W. Rahoi E. Shapiro, JA McMaster DW

Presidente GW Galanes, Vice- W. Ren presidente W. MacDonald, vice- Rahoi W. Ren
Presidente CE Rodrigues, Secretário E. Shapiro presidente J. Robertson, RC
de Pessoal A. RC Sutherlin secretário RM Sutherlin R.
Appleton P. F Zeller Beldyk JM Wright S.
Chavdarov KK Downs JF Yem
O. Oldani, Delegado
Coleman DW Grubb JA DB Denis, Membro Contribuinte DT
A. Chaudouet, Membro
Gandy JF Hall D. Maitra Peters, Membro Contribuinte
Contribuinte
Grubb JA
JD Fritz, Membro Contribuinte W.
Hall DO Henry
KM Hottle M. Hoffelner, Membro Contribuinte KE Orie,
Ishikawa K. Membro Contribuinte DT Peters,

Subgrupo de Propriedades Físicas (BPV II)
Kimura M. Membro Contribuinte BW Roberts,
Membro Contribuinte PK Rai, presidente RD Jones
Kowalczyk DL
Kurle S. Neilsen, vice-presidente PK Lam
JM Tanzosh, Membro Contribuinte G. Aurioles, Sr. D. W. Rahoi
F. Masuyama
D. Chandiramani P.
S. Neilsen
E. Shapiro
Chavdarov
LS Nicol M. E. Upitis, Membro Contribuinte RG DK Verma
Ortolani H. Eshraghi
Young, Membro Contribuinte
S. Sim
JF Grubb BF
Hantz DB Denis, Membro Contribuinte
Comissão Executiva (BPV II)
J. Cameron, W. Hoffelner
Subgrupo de Resistência, Ligas Ferrosas (BPV II)
Presidente CE Rodrigues, Secretário M. Ishikawa
M. Ortolani, Presidente M. Osterfoss
de Pessoal A. M. Ortolani
Appleton KK LS Nicol, Secretário GW DW Rahoi S.
PK Rai Galanes JA Hall Rosinski M.
Coleman GW
Galanes JF J. Robertson M. Ueyama F.
Ishikawa SW Zeller F.
Grubb S. Guzey E. Shapiro
Knowles Abe, Membro Contribuinte RG
F. Masuyama Young, Membro Contribuinte
Subgrupo de Pressão Externa (BPV II)
S. Guzey, MH Jawad S.
Subgrupo de Resistência de Soldagens (BPV II e BPV IX)
presidente E. Alexis, Krishnamurthy
vice-presidente JAA Morrow, KK Coleman, presidente J. Penso
DL Kurle
secretário LF KL Hayes, vice-presidente DW Rahoi WJ
RW Mikitka
Campbell H. Chen SH Bowes, secretário M. Sperko JP
DS Griffin JF PK Rai Denault GW Swezy, Jr.
Grubb M. Wadkinson Galanes M. Ueyama
DW Gandy M. PD Flenner, Membro Contribuinte BW
Ghahremani Roberts, Membro Contribuinte
WF Newell, Jr.
Subgrupo de Especificações Ferrosas (BPV II)
A. Appleton, presidente SG Lee

KM Hottle, vice-presidente WC Mack
Grupo de Trabalho sobre Banco de Dados de Materiais (BPV II)
C. Hyde, secretário D. J. Nickel
Amire-Brahimi G. W. Hoffelner, Presidente J. Cameron, Membro Contribuinte JF
KE Orie
Cuccio O. CE Rodrigues, Secretário de Pessoal Grubb, Membro Contribuinte DT Peters,
D. Poweleit
Elkadim D. F. Abe Membro Contribuinte W. Ren, Membro
Fialkowski JF E. Upitis W. MacDonald Contribuinte BW Roberts, Membro
L. Watzke RC Sutherlin D.
Grubb DS Contribuinte E. Shapiro, Membro
Janikowski Y.-J. JD Fritz, Membro Contribuinte C. Andrei, Membro Contribuinte JL Arnold, Contribuinte
Kim Meloy, Membro Contribuinte Membro Contribuinte
xxxiii
Grupo de Trabalho sobre Aços Ferríticos Reforçados com Resistência à Fluência (BPV II) Comitê Executivo (BPV III)
M. Ortolani, presidente WF Newell, Jr. RB Keating, Presidente KA Manoly DE

GW Galanes, vice-presidente JJ Sanchez-Hanton JA A. Maslowski, Secretário TM Matthews S.
P. Becker, secretário Adams McKillop J.
Siefert WJ
SH Bowes KK PR Donavin JV McLean T.-
Sperko F. Zeller
Coleman Gardiner J. L. Farsa, falso
Kimura K, Grimm DW WK Sowder, Jr.
M Lang F. Abe, Membro Contribuinte PD Lewis KA Kavanagh, Suplente
S, Luke Flenner, Membro Contribuinte JM Tanzosh,
F, Masuyama Membro Contribuinte
T, Melfi
Argentina Grupo de Trabalho Internacional (BPV III)

Grupo de Trabalho de Análise de Dados (BPV II)
MF Liendo, Presidente AJ Dall'Osto JI
JF Grubb, presidente F. Abe, Membro Contribuinte W. J. Fernández, Vice-presidente Duo MM
W. Ren, vice-presidente O. Martinez, Secretário de Gamizo
Hoffelner, Membro Contribuinte WC Mack,
K. Kimura Pessoal OA Verastegui, I. M. Guerreiro
Membro Contribuinte DT Peters, Membro
F. Masuyama Secretário
IA Knorr
S. Neilsen Contribuinte EH Aldaz GO Anteri
DE Matthews
M. Ortolani BW Roberts, Membro Contribuinte Aperitivos AP DO
Pastor AE
MJ Swindeman Edged
M. Rivero
G. Bourguigne
M. Brusa MD Vigliano P.
A. Claus Yamamoto
RG Cocco M. Zunino
Grupo de Trabalho Internacional da China (BPV II)
T. Xu, Secretário S. Tan

W. Cai C. Wang
W. Fang Jingguang Wang
QC Feng S. Jiongxiang Wang Q.-
Huo F. J. Wang X.
Grupo de Trabalho Internacional da China (BPV III)
Kong H. Wang H.-
Leng Hli C. Yang J. Y. Wang, C. Peiyin
Li Yang L. Presidente H. Yu, Z. Sun
Hongbin Li J. Yin H. Secretário G. Tang
Li S. Zhang X.- L. L. Ting
Liu Z. H. Zhang Y. Feng F. Wu
Rongcan Zhang J. Gu L.
C. Yang
Guo C.
P. Yang
Jiang D. Kang Y. Li
W. Yang
H. Lin
H. Yin
S. Liu
COMITÊ DE CONSTRUÇÃO DE INSTALAÇÕES NUCLEARES D. Yuangang
W. Liu
COMPONENTES (BPV III) G. Zhang
J. Ma
K. Mao D. Zhao
RB Keating, presidente K. Matsunaga
B. McGlone DE Matthews Z. Zhong
TM Adams, vice-presidente
DE Matthews, vice-presidente J. Ming Q. Zhou
S. McKillop
W. Pei H. Zhu
A. Maslowski, secretário de equipe J. McLean
A. Appleton S. JC Minichiello MN
Asada Mitchell T.
RW Barnes Nagata JB
WH Borter ME Ossmann S.
Cohen RP Pellet EL
Deubler PR Pleins T.-L.
Grupo de Trabalho Internacional da Alemanha (BPV III)
Donavin AC Sham WJ
Eberhardt JV Sperko W. J. Wendt, C. Kuschke
Gardiner J. Windes C. presidente D. Koelbl, H.-W. Lange
Grimm S. Basavaraju, CT Smith vice-presidente R. Gersinska, T. Ludwig
Hunter RM Alternativo , Membro Contribuinte WK secretário PR X. Pitoiset
Jessee RI Sowder, Jr., Membro Contribuinte Donavin R. M. Reichert
Jetter CC Döring CG G. Roos
Kim GH M. Zhou, Membro Contribuinte EB Frantescu J. Rudolph
Koo Branch, Membro Honorário GD Cooper, A. Huber RE L. Sybertz
DW Lewis MA Membro Honorário DF Landers, Hueggenberg I. Tewes
Lockwood KA Membro Honorário C. Pieper, Membro C. Huttner E. R. Tiete
Manoly Honorário Iacopetta MH Koeppen F. Wille
xxxiv
Grupo de Trabalho Internacional da Índia (BPV III) Grupo de Trabalho Internacional do Reino Unido
(BPVIII)
RN Sen, presidente R. Kumar
SB Parkash, vice-presidente S. Kumar CD Bell, presidente G. Innes
AD Bagdare, secretário S. M. Lakshminarasimhan PM James, vice-presidente SA Jones B.
Aithal S. T. Mukherjee D. CB Carpenter, secretário TM Pellereau
Benhur Narain Adams
CR Schneider
NM Borwankar M. AD Paranjpe JR T. Bann
JW Stairmand J.
Brijlani H. Patel EL MJ Chevalier AJ
Dalal SK Pleins TJP Cole-Baker M. Sulley J.
Goyal A. Rao V. Consonni Talamantes-Silva

Johori AP Sehgal S. MJ Crathorne AJ Holt, membro contribuinte
Kishore Singh BK
D. Kulkarni Sreedhar
Grupo de Trabalho Especial sobre Questões de Construção de Novas Plantas (BPV III)
JB Ossmann, Presidente RE McLaughlin EL

A. Maslowski, Secretário de Pessoal Pleins DW
Grupo de Trabalho Internacional da Coreia (BPV III) MC Buckley, Secretário M. Sandusky MC

Arcaro A. Scott RR
GH Koo, Presidente Y.-S. Kim Cardillo Stevenson
O.-S. Kim, Secretário D. Kwon H. Xu
PJ Coco
H. Ahn B. Lee K. Harris J. Yan
S. Cho D. Lee
J. Honcharik JC Minichiello, Contribuindo
G.-S. Choi S. Lee M. Kris Membro
M.-J. Choi S.-G. Lee
S. Choi H. Lim
VOCÊ Hong I.-K. Nam
N.-S. Huh C.-K. Oh
J.-K. Hwang C.-Y. Oh
Grupo de Trabalho Especial de Edição e Revisão (BPV III)
SS Hwang C. E.-J. Oh
C. Park DE Matthews, Presidente S. Caçador
Jang II
H. Park RP Deubler AC JC Minichiello JF
Jeong SH
Eberhardt Strunk C.
Kang J.-I. YS Pyun T.
Kim J.-S. Shin JV Gardiner Wilson
Kim M.- S. Song

W. Kim WJ Sperko JS
S.-S. Kim Yang O.
Y.-B. Kim Yoo
Grupo de Trabalho Especial sobre Partes Interessadas de PEAD (BPV III)
S. Patterson, Secretário S. DP Munson

Choi TM Musto
CM Faidy M. JE O'Sullivan V.
Golliet RM
Rohatgi FJ
Comitê Diretivo de Projeto Sísmico (BPV III) Jessee J.
Schaaf, Jr.
Johnston, Jr.
TM Adams, Presidente GH Koo A. M. Kuntz R. Stakenborghs
FG Abatt, Secretário GA Maekawa M. Troughton B.
M. Lashley
Antaki C. K. Matsunaga Lin, Suplente
KA Manoly
Basavaraju D. J. McLean
Chowdhury R. RM Pace D.
Döring Watkins
Grupo de Trabalho Especial sobre Honras e Prêmios (BPV III)
JC Minichiello, Presidente RM Jessee

A. Appleton DE Matthews
RW Barnes
Grupo de Trabalho sobre Requisitos Alternativos (BPV III)
J. Wen, DE Matthews
Presidente RR Romano, S. McKillop
Secretário BP Nolan Grupo de Trabalho Especial sobre Reuniões Internacionais e Ligações do IWG
PJ Coco PR
JB Ossmann EC (BPVIII)
Donavin JV
Renaud
Gardiner DE Matthews, presidente PR Donavin EL
J. Grimm RS juiz MA Pleins WJ
A. Maslowski, secretário de equipe
Hill III IH Tseng TM Adams Sperko
M. Kris MA Lockwood Y. Wang RW Barnes
xxxv
Comitê Conjunto ACI-ASME sobre Componentes de Concreto para Nuclear Subcomitê de Design (BPV III)
Serviço (BPV III)
PR Donavin, presidente B. Pellereau
J. McLean, G. Tomás S. McKillop, vice-presidente T.-L. Sham
Presidente LJ Colarusso, Vice- A. Varma RP Deubler WF Weitze
presidente J. Cassamassino, Secretário S. Wang MA Gray RI C. Basavaraju, Suplente GL
de Pessoal A. Dinizulu, Secretário A. Istar, Suplente A. Jetter RB Hollinger, Membro Contribuinte
de Pessoal Keating J.-I.
Adediran, Membro Contribuinte S. Bae,
CJ Bang AC Eberhardt Kim KA MH Jawad, Membro Contribuinte WJ
Membro Contribuinte J.-B. Domage,
BD Hovis TC Manoly DE O'Donnell, Sr., Membro Contribuinte
Membro Contribuinte PS Ghosal, Membro
Inman Matthews
Contribuinte BB Scott, Membro Contribuinte MN Mitchell
C. Jones K. Wright, membro contribuinte
MR Senecal, Membro Contribuinte
T. Kang
N.-H. Lee
JA Munshi T.
Subgrupo de Design de Componentes (SC-D) (BPV III)
Muraki JS Z. Shang, Membro Contribuinte M.
Saini JF Sircar, Membro Contribuinte CT Smith, DE Matthews, presidente T. Mitsuhashi D.
Strunk Membro Contribuinte P. Vock, vice-presidente Murphy TM
S. Pellet, secretário Musto T.
TM Adams Nagata GZ
DJ Ammerman GA Tokarski S.
Antaki Willoughby-Braun C.
JJ Arthur S. Wilson AA
Grupo de Trabalho Especial sobre Modernização (BPV III-2)
Asada Dermenjian, Membro Contribuinte
S. Wang, A. Varma JF Ball C.
presidente J. McLean, F. Lin, Membro Contribuinte JA Basavaraju D. P. Hirschberg, Membro Contribuinte
vice-presidente Pires, Membro Contribuinte I. Zivanovic, Chowdhury NA
A. Adediran S. Malushte Membro Contribuinte Costanzo RB Keating, membro contribuinte O.-S.
JS Saini RP Deubler M. Kim, Membro Contribuinte RJ
Kassar Masterson, Membro Contribuinte
D. Keck
TR Liszkai HS Mehta, Membro Contribuinte I. Saito,
KA Manoly JC Membro Contribuinte JP Tucker,
Minichiello Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Contenções Compostas de Aço-Concreto (BPV III-2)
A. Varma, Cadeira JA Pires JS

S. Malushte Saini
Grupo de Trabalho para Melhorar a Interface da Seção III/XI (SG-CD) (BPV III)
J. McLean
P. Vock, CA Nova
Presidente E. Henry, T. Nuoffer
Secretário GA
JB Ossmann AT
Antaki A.
Roberts III
Cardillo D.
Grupo de Trabalho sobre Design (BPV III-2) J. Sciulli
Chowdhury J.
N.-H. Lee, G. Tomás Honcharik A. Udyawar S.
presidente S. Wang, A. Istar, Suplente J. Hurst J. Lambin Willoughby-Braun
vice-
PS Ghosal, Membro Contribuinte S.-Y.
Kim, Membro Contribuinte J. Kwon,
presidente M.
Membro Contribuinte SE Ohler- Grupo de Trabalho sobre Estruturas de Suporte Central (SG-CD) (BPV III)
Allam S. Bae LJ Colarusso AC Eberhardt
BD Hovis TC Schmitz, Membro Contribuinte
D. Keck, MD Snyder
Inman presidente RZ Ziegler, vice- R. Vollmer
BB Scott, Membro Contribuinte Z.
C. Jones presidente R. Martin,
TM Wiger
JA Munshi T. Shang, Membro Contribuinte M. Shin, secretário GW
C. Wilson
Muraki JS Membro Contribuinte M. Sircar, Delport LC
Saini Membro Contribuinte Hartless TR Y. Wong
Liszkai M. Nakajima HS Mehta, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Projeto de Sistemas de Contenção da Divisão 3

Grupo de Trabalho sobre Materiais, Fabricação e Exame (SG-CD) (BPV III)
(BPV III-2)
DJ Ammerman, Presidente D. Os pobres
C. Jones, Z. Shang S. Klein, Secretário R. Sypulski

presidente A. Eberhardt, vice- JF Strunk AA G. Bjorkman X. Zhai
presidente Aboelmagd, Membro Contribuinte V. Broz
CJ Bang B. Birch DW Lewis X. Zhang
J.-B. Domage PS Ghosal, Membro Contribuinte BB JM Piotter A. CR Sydnor, Suplente JC

T. Kang Scott, Membro Contribuinte I. Zivanovic, Rigato P. Minichiello, Membro Contribuinte
N.-H. Lee Membro Contribuinte Sakalaukus, Jr.
xxxvi
Grupo de Trabalho sobre Design de Componentes HDPE (SG-CD) (BPV III) Grupo de Trabalho de Válvulas (SG-CD) (BPV III)
TM Musto, Presidente KA Manoly DP P. Vock, H. O'Brien

JB Ossmann, Secretário M. Munson FJ Presidente S. Jones, J. O'Callaghan
Brandes Schaaf, Jr. Secretário MC M. Rain
S. Choi R. Stakenborghs Buckley A. KE Reid II J.
JR Hebeisen P. MT Audrain, Suplente JC Cardillo GA Sulley IH
Krishnaswamy M. Minichiello, Membro Contribuinte Jolly J. Tseng JP
Kuntz Lambin T. Tucker Y.
Lippucci CA Mizer Wong, Suplente
Grupo de Trabalho sobre Tubulações (SG-CD) (BPV III)
GA Antaki, Presidente O Reid II

GZ Tokarski, Secretário C. D. Vlaicu
Basavaraju J. S. Weindorf
Catalano F. TM Adams, Membro Contribuinte RB
Claeys Keating, Membro Contribuinte TB Littleton,
Grupo de Trabalho sobre Embarcações (SG-CD) (BPV III)
CM Faidy
Membro Contribuinte
RG Gilada
D. Murphy, TJ Schriefer MC
NM Graham MA Scott PK
Y. Liu, Membro Contribuinte JF Presidente S. Willoughby-Braun,
Gray RJ Secretário Shah D.
McCabe, Membro Contribuinte JC
Gurdal RW JJ Arthur C. Vlaicu C.
Minichiello, Contribuinte
Haupt A. Basavaraju Wilson RZ
Membro
Hirano P. M. Brijlani L. Constantinescu Ziegler RJ
Hirschberg M. AN Nguyen, Membro Contribuinte MS
JI Kim O.- Huang, Suplente B. Basu,
Kassar J. Sills, Membro Contribuinte NC S. Kim DE Membro Contribuinte RB Keating,
Kawahata D. Sutherland, Membro Contribuinte Matthews T. Membro Contribuinte WF Weitze, Membro
Lieb I.- Mitsuhashi Contribuinte
K. Empurrar EA Wais, Membro Contribuinte C.-I.
J. O'Callaghan Wu, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Alívio de Pressão (SG-CD) (BPV III)
KR May, Presidente IH Tseng BJ

R. Krithivasan, Secretário M. Yonsky Y.
Brown JW Subgrupo de Métodos de Design (SC-D) (BPV III)
Wong, Suplente J. Yu,
Dickson S. P. Smith
Suplente ST S. McKillop,
Jones R.
Francês, Membro Contribuinte DB Ross, presidente PR Donavin, vice- R. Vollmer
Lack
presidente J. Wen, WF Weitze
D. Miller Membro Contribuinte S. Ruesenberg,
secretário K. Avrithi
T. Patel Membro Contribuinte TM Adams, Membro Contribuinte CW
L. Davies
K. Shores Bruny, Membro Contribuinte SR Gosselin,
MA Gray JV
Membro Contribuinte
Gregg, Jr.
K.Hsu
R. Kalnas HT Harrison III, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Bombas (SG-CD) (BPV III) D. Keck
KB Wilson J.I. Kim WJ O'Donnell, Sr., Membro Contribuinte
D. Chowdhury, Presidente
B. Pellereau
JV Gregg, Jr., Secretário B. Y. Wong
Busse WD Reinhardt K. Wright, membro contribuinte
IH Tseng, Suplente
MD Eftychiou RA
X. Di, Membro Contribuinte C.
Fleming KJ
Noel J. Gabhart, Membro Contribuinte R.
Sulley Ladefian, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho de Apoios (SG-CD) (BPV III)

Grupo de Trabalho Especial em Modelagem Computacional para Explícito
NA Costanzo, Presidente G. Tomás
Dinâmica (SG-DM) (BPV III)
US Bandyopadhyay, Secretário K. GZ Tokarski
Avrithi NM G. Bjorkman, presidente D. Siromani
L. Vandersip
Bisceglia RP DJ Ammerman, vice-presidente C.-F. Tso
P. Wiseman
Deubler NM V. Broz, secretário S. MC Yaksh U.
Graham Y. RJ Masterson, Membro Contribuinte Kuehner D. Zencker X.
Matsubara S. Molitoris WD Zhang Y.
Pellet JR Stinson, Membro Contribuinte Reinhardt Wong, Membro Contribuinte
xxxvii
Grupo de Trabalho sobre Metodologia de Design (SG-DM) (BPV III) Subgrupo de Sistemas de Contenção de Combustível Nuclear Usado e
Material radioativo de alto nível (BPV III)
B. Pellereau, TM Wiger K.
Presidente R. Vollmer, Hsu, Suplente G. DW Lewis, presidente R. Sypulski
Secretário K. Avrithi DJ Ammerman, vice-presidente J. Wellwood
Banyay, Membro Contribuinte DS
C. Basavaraju Bartran, Membro Contribuinte RD Blevins, S. Klein, secretário XJ Zhai
F. Berkepile Membro Contribuinte MR Breach, Membro G. Bjorkman X. Zhang
CM Faidy Y. V. Broz D. Dunn, Suplente
Contribuinte CW Bruny, Membro
Gao A. Rigato WH Borter, Membro Contribuinte EL
Contribuinte DL Caldwell, Membro
M. Kassar P. Sakalaukus, Jr. Pleins, Membro Contribuinte NM
Contribuinte HT Harrison III, D. Os pobres
JI Kim Simpson, Membro Contribuinte
Membro
TR Liszkai D. DB Spencer
Contribuinte
Lytle K.
Matsunaga S.
McKillop S. CF Heberling II, Membro Contribuinte
Subgrupo de Dispositivos de Energia de Fusão (BPV III)
Ranganath WD
Reinhardt P. Hirschberg, Membro
WK Sowder, Jr., Presidente CJ Lammi S.
PK Shah S Contribuinte
A. Maslowski, Secretário de Lawler
Wang RB Keating, Membro Contribuinte A. Pessoal M. Ellis, P. Mokaria
WF Weitze J Walker, Membro Contribuinte K. Secretário
DJ Roszman FJ
Wen Wright, Membro Contribuinte M. Bashir JP
Schaaf, Jr.
Blanchard
P. Smith
TP Davis BR Doshi
Y. Song
L. El-Gueba e
G. Holtmeier C. Vangaasbeek
Grupo de Trabalho sobre Métodos de Avaliação de Fadiga Ambiental D. Johnson IJ Zatz
(SG-DM) (BPV III) I. Kimihiro RW Barnes, Membro Contribuinte
MA Gray, Presidente B. Pellereau

WF Weitze, Secretário S. D. Vlaicu
Asada K. Wang Grupo de Trabalho Especial sobre Partes Interessadas da Fusão (BPV III-4)
K. Avrithi RZ Ziegler S.
TP Davis, Presidente SC Middleburgh RJ
RC Cipolla Cuvilliez, Membro Contribuinte TD
RW Barnes
TM Damiani CM Gilman, Membro Contribuinte SR Pearson WK
V. Chugh
Faidy A. Gosselin, Membro Contribuinte Sowder, Jr.
SS Desai
Hirano P. DA Sutherland
F. Deschamps
Hirschberg K. Y. He, Membro Contribuinte HS
M. Hua N. jovem
Hsu J.- Mehta, Membro Contribuinte K. Wright,
S. Lawler J. Zimmermann
S. Parque Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Requisitos Gerais (BPV III-4)
DJ Roszman, Presidente P. Mokaria

Grupo de Trabalho sobre Resistência à Fadiga (SG-DM) (BPV III)
M. Ellis WK Sowder, Jr.
PR Donavin, Presidente JI Kim
MS Shelton, Secretário RS SH Kleinsmith
Bass TM B. Pellereau
Damiani Grupo de Trabalho sobre Componentes In-Vessel (BPV III-4)
S. Ranganath
DW DeJohn M. Bashir, M. Kalsey
Y. Wang
CM Faidy P Presidente ST Madabusi
WF Weitze
Gill Y. Carin TP Davis
Y. Zou
SR Gosselin RJ
Gurdal CF S. Majumdar, Membro Contribuinte HS
Heberling II CE Mehta, Membro Contribuinte WJ

Hinnant P O'Donnell, Sr., Membro Contribuinte Grupo de Trabalho sobre Ímãs (BPV III-4)
Hirschberg K DS Bartran
WK Sowder, Jr., Presidente
Hsu K. Wright, membro contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Materiais (BPV III-4)
M. Porton, P. Múmia
Grupo de Trabalho sobre Métodos Probabilísticos em Design Presidente TP Davis
(SG-DM) (BPV III)
M. Golliet, A. Hirano
presidente R. Kalnas, KA Manoly PJ
Grupo de Trabalho sobre Vasos a Vácuo (BPV III-4)
vice- O'Regan B.
presidente K. Pellereau M. I. Kimihiro, Presidente D. Johnson
Avrithi Yagodich RS LC Cadwallader BR Q. Shijun
G. Brouette J. Hakii DO Henry Hill III, Membro Contribuinte Doshi Y. Song
xxxviii
Subgrupo de Requisitos Gerais (BPV III) Subgrupo de Reatores de Alta Temperatura (BPV III)
JV Gardiner, Presidente TN Rezk T.-L. Sham, A. Mann

N. DeSantis, Secretário V. J. Rogers Presidente Y. Wang, MC Messner
Apostolescu A. Secretário M. Ando X. Wei
R. Spuhl
Appleton S. N. Broom W. Windes
DM Vickery J.
Bell FW Brust
DeKleine, Membro Contribuinte H. R. Wright
JR Berry G. P. Carter
Michael, Membro Contribuinte DJ GL Zeng
Carrinho de mão ME Cohen
GC Deleanu JW Roszman, Membro Contribuinte DS Griffin, Membro Contribuinte X. Li,
WJ Geringer BF
Highlands EV Hantz Membro Contribuinte W.
Imbro KA CT Smith, Membro Contribuinte WK MH Jawad O'Donnell, Sr., Membro Contribuinte
Kavanagh Y.-S. Sowder, Jr., Membro Contribuinte WT Jessup RI
Kim B. Jetter K. L. Shi, Membro Contribuinte RW
McGlone GE Szabatura, Membro Contribuinte Kimura Swindeman, Membro Contribuinte
CE Renaud GH Koo
Grupo de Trabalho Especial sobre Partes Interessadas em Reatores de Alta Temperatura

Grupo de Trabalho Especial de Consolidação de Requisitos Gerais
(SG-HTR) (BPV III)
(SG-GR) (BPV III)
ME Cohen, Presidente GH Koo
JV Gardiner, presidente CE Renaud
MC Albert M. NJ McTiernan T.
J. Grimm, vice-presidente JL Williams CT
Arcaro
GC Deleanu Smith, Membro Contribuinte Nguyen KJ
RW Barnes N
AC Eberhardt Noel T.-L.
Broom R
Farsa, falso
Christensen V
B.
Chugh W
Canção X. Wei
Corwin GC
Deleanu RA GL Zeng T.
Fleming K Harris Asayama, Membro Contribuinte X. Li,

Membro Contribuinte L. Shi,
Grupo de Trabalho de Requisitos Gerais (SG-GR) (BPV III) RI Jetter é Membro Contribuinte G. Wu,
Kim Membro Contribuinte
B McGlone, Presidente DT Meisch
J. Grimm, Secretário V. CE Renaud
Apostolescu A. TN Rezk
Appleton S. J. Rogers
Bell JR
BS Sandhu
Berry G.
R. Spuhl
Brouette PJ
JF Strunk DM Grupo de Trabalho sobre Componentes da Divisão 5 AM (SG-HTR) (BPV III)
Coco N.
DeSantis Y. Vickery JL
R. Wright, Presidente M. McMurtrey
Diaz-Castillo O. Williams J.
R. Bass, Secretário MC Messner
Elkadim J. DeKleine, Membro Contribuinte SF
MC Albert RW T. Patterson
Harris JW Harrison, Jr., Membro Contribuinte
Barnes EC Renaud
Highlands EV FW Brust Z. D. Rudland T.-
Imbro KA DJ Roszman, membro contribuinte
Feng S. L. Farsa, falso
Kavanagh Y.- Lawler X. IJ Van Rooyen X.
S . . . . Kim GE Szabatura, Membro Contribuinte Lou Wei
Lei YK
Grupo de Trabalho sobre Critérios de Estresse Admissíveis (SG-HTR) (BPV III)

Grupo de Trabalho sobre Requisitos Gerais para Grafite e Cerâmica
R. Wright, Presidente W. Ren
Componentes e conjuntos principais compostos (SG-GR) (BPV III)
M. McMurtrey, Secretário R. T.-L. Farsa, falso
WJ Geringer, Presidente MN Mitchell Bass

Y. Wang
A. Appleton J Potgieter K. Kimura
X. Wei
JR Berry C. EC Renaud R D. Maitra
Cruz Y. Spuhl W RJ McReynolds MC M. Yoo, RW
Diaz-Castillo Windes B Messner JC Swindeman alternativo , membro
J. Long Lin, Alternativo Poehler contribuinte
xxxix
Grupo de Trabalho sobre Métodos de Análise (SG-HTR) (BPV III) Subgrupo de Materiais, Fabricação e Exame (BPV III)
MC Messner, Presidente T.-L. Farsa, falso J. Grimm, M. Kris

H. Mahajan, Secretário X. Wei Presidente S. Hunter, DW Mann T.
RW Barnes SX Xu Secretário WH Borter Melfi
J. A. White J. Young M. Brijlani I.-K. Nome
P. Carter MR Breach, Membro Contribuinte T. GR Cannell
JB Ossmann IS
WT Jessup RI Hassan, Membro Contribuinte S. A. Cardillo
O'Sullivan MC
Jetter GH Krishnamurthy, Membro Contribuinte S. Cho
Scott
Koo H. PJ Coco
WJ Sperko JR
Qian T. MJ Swindeman, membro contribuinte RH Davis
Stinson JF
Riordan DB Denis
BD Frew Strunk W.
Windes
DW Gandy SE
Gingrich M. R. Wright
Golliet LS S. Yee
Harbison H. Michael, Delegado
RM Jessee AL Hiser, Jr., Suplente RW
CC Kim Barnes, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Fadiga por Fluência e Fluência Negligenciável
(SG-HTR) (BPV III)
Y. Wang, MC Messner
Grupo de Trabalho sobre Manufatura Avançada (BPV III)
Presidente T. Nguyen
M. Ando JC Poehler H. DW Mann, Presidente T. Melfi
P. Carter ME Qian R. DW Gandy, Secretário R. CE Renaud
Cohen JI Rajasekaran T.-L. Bass
WJ Sperko JF
Duo RI Sham X. Wei D. Chowdhury
Strunk J.
Jetter GH PJ Coco
Sulley S.
Koo H. J. Young BD Frew J.
Tate
Mahajan M. McMurtrey M. Yoo, Suplente Grimm AL
S. Wolbert
Hiser, Jr.
H. Xu
J. Lambin
T. Lippucci DW Pratt, Suplente S.
K. Matsunaga Malik, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Avaliação de Falhas de Alta Temperatura Grupo de Trabalho Conjunto em HDPE (SG-MFE) (BPV III)
(SG-HTR) (BPV III)
M. Brandes, K. Manoly
CJ Sallaberry, Presidente H. Qian Presidente TM Musto, DP Munson
FW Brust P. DA Scarth DJ Presidente JB Ossmannn, J. O'Sullivan
Carter Shim A. Secretário G.
V. Rohatgi
S. Kalyanam Udyawar X. Brouette MC
F. Schaaf, Jr.;
B.-L. Lyow Wei Buckley
S. Schuessler
MC Messner JC SX Xu S. Choi M.
M. Yoo, Suplente R. Stakenborghs
Poehler Golliet J.
Hebeisen J. Johnston, Jr. M. Troughton P.
Vibien
P. Krishnaswamy M.
Kuntz J. Wright
B. Lin T. Adams, membro contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Design e Materiais Não Metálicos COMITÊ DE CALDEIRAS DE AQUECIMENTO (BPV IV)
(SG-HTR) (BPV III)
M. Wadkinson, presidente C. Dinic
W. Windes, presidente J. Parks JL Kleiss, vice-presidente JM Downs JA
WJ Geringer, vice-presidente T.-L. Farsa, falso CR Ramcharran, secretário de pessoal Hall M.
J. Potgieter, secretário G. A. Tzelepi B. Ahee Mengon D.
Beirnaert C. L. Badziagowski Nelson H.
GL Zeng M.
Chen TL Bedeaux B. Michael, Delegado D.
Yoo, Suplente A.
AN Chereskin V. Calderon JP Picart, Delegado PA
Appleton, Membro Contribuinte RW
Chugh C. Chicoine Molvie, Membro Contribuinte
Contescu N. Barnes, Membro Contribuinte AA
Campbell, Membro Contribuinte
Gallego ST
Gonczy K.
S.-H. Chi, Membro Contribuinte Y. Comitê Executivo (BPV IV)
Harris MG
Jenkins J. Lang Katoh, Membro Contribuinte A. Mack, M. Wadkinson, Presidente JP Chicoine JA
MP Membro Contribuinte JB Ossmann, CR Ramcharran, Secretário de Pessoal Hall JL
Metcalfe MN Membro Contribuinte L. Badziagowski Kleiss
Mitchell TL Bedeaux
xl
Subgrupo Caldeiras Fundidas (BPV IV) Subgrupo Requisitos Gerais/Qualificações de Pessoal e

Consultas (BPV V)
JP Chicoine, presidente JA Hall JL
JM Downs, vice-presidente Kleiss M. C. Vorwald, Presidente K. Krueger
CR Ramcharran, secretário de equipe Mengon D. Bajula C. May
TL Bedeaux N. Carter SJ Akrin, Membro Contribuinte NY
P. Chavdarov Faransso, Membro Contribuinte
T. Cláusula JF Halley,
C. Emslander Membro Contribuinte DI Morris, Membro
Subgrupo de Materiais (BPV IV)
NA Finney GW Contribuinte JP Swezy, Jr., Membro
JA Hall, presidente TL Bedeaux Hembree Contribuinte
JM Downs, vice-presidente Y. Teng FB Kovacs
CR Ramcharran, secretário de pessoal M. Wadkinson
L. Badziagowski
Equipe de Projeto em Análise Assistida (BPV V)
Subgrupo de Aquecedores de Água (BPV IV) K. Hayes, C. Hansen

Presidente GW Feminino RSF
JL Kleiss, presidente BJ Iske M.
J. Aldrin Orozco E.
L. Badziagowski, vice-presidente Mengon Y. J. Chen NA Peloquin T.
CR Ramcharran, secretário de equipe B.
Teng Finney VF Godinez-Azcuaga Thulien
Ahee JP
TE Tran
Chicoine C.
Dinic PA Molvie, Membro Contribuinte
Subgrupo de Métodos Volumétricos (BPV V)
C. May, E. Peloquin
Subgrupo de Caldeiras Soldadas (BPV IV)
presidente PT Hayes, vice- C. Vorwald
TL Bedeaux, Presidente JL Kleiss presidente D. Adkins
SJ Akrin, Membro Contribuinte NY
CR Ramcharran, Secretário de Pessoal PL Brown NA
M. Mengon Faransso, Membro Contribuinte
B. Ahee Finney AF
M. Wadkinson
L. Badziagowski B. Garbolevsky RW
Calderon JP MJ Melita, Suplente JF Halley, Membro Contribuinte RW
Hardy GW
Chicoine C. D. Nelson, Suplente Hembree FB Kruzic, Membro Contribuinte LE Mullins,
Dinic PA Molvie, Membro Contribuinte Kovacs Membro Contribuinte FJ Sattler, Membro
K. Krueger Contribuinte
Grupo de Trabalho Internacional da Europa (BPV IV)
L. Badziagowski, presidente E. Van Bruggen G. Grupo de Trabalho de Radiografia (SG-VM) (BPV V)

D. Picart, vice-presidente Vicchi A.
C. Vorwald, presidente C. May
R. Lozny Alessandrini, Suplente
DM Woodward, vice-presidente J. RJ Mills
Anderson PL JF Molinaro T.
Brown C.
Veremos
COMITÊ DE EXAME NÃO DESTRUTIVO (BPV V) Emslander
B. Branco
AF Garbolevsky RW
NA Finney, presidente Leite BD
SJ Akrin, Membro Contribuinte TL
Hardy GW
C. May, vice-presidente PB Shaw C.
Hembree FB Clifford, Membro Contribuinte NY Faransso,
CR Ramcharran, secretário de equipe D. Vorwald
Kovacs Membro Contribuinte
Bajula PL SJ Akrin, Membro Contribuinte JE
Dispositivo
Brown Batey, Membro Contribuinte AS Birks,
BD TR Lerohl RW Kruzic, Membro Contribuinte
MA Burns N. Membro Contribuinte NY Faransso,
Carter Membro Contribuinte JF Halley,
T. Cláusula Membro
C. Emslander Contribuinte RW Kruzic, Membro
Grupo de Trabalho em Ultrassom (SG-VM) (BPV V)
AF Garbolevsky PT Contribuinte LE Mullins, Membro
Hayes GW Contribuinte FJ Sattler, Membro Contribuinte K. Krueger, presidente D. Van Allen
Hembree FB HC Graber, Membro Honorário TG D. Bajula, vice-presidente J. Vinyard
Kovacs McCarty, Membro Honorário D. Adkins C. Vorwald
K. Krueger C. Brown C. Wassink
C. Emslander
NY França, Membro Contribuinte
NA Finney PT
Hayes GW
Comitê Executivo (BPV V) JF Halley, Membro Contribuinte RW
Hembree BD Dairy
GW Hembree TR Lerohl Kruzic, Membro Contribuinte P. Mudge,
C. May,
C. May E. Membro Contribuinte LE Mullins,
presidente NA Finney, vice- FB Kovacs
presidente CR Ramcharran, secretário Peloquin Membro Contribuinte MJ Quarry, Membro
K. Krueger
de equipe J. Schoneweis Contribuinte FJ Sattler, Membro
N. Carter VF Godinez- E. Peloquin D. Tompkins Contribuinte J. Vanvelsor, Membro
Azcuaga PT Hayes C. Vorwald Contribuinte
xli
Grupo de Trabalho de Emissões Acústicas (SG-VM) (BPV V) Grupo de Trabalho Internacional da Índia (BPV V)
VF Godinez-Azcuaga, Presidente RK Miller P. Kumar, GR Joshi A.

J. Catty, Vice- NY França, Membro Contribuinte Presidente AV Relekar VJ
presidente SR Doutor Bhagwat J. Sonawane DB
NF Douglas, Jr. Chahwala S. Tanpure
Jobanputra D. Joshi
Grupo de Trabalho sobre Captura de Matriz Completa (SG-VM) (BPV V) Grupo de Trabalho Internacional da Itália (BPV V)
E. Peloquin, presidente GW Hembree K. DD Raimander, presidente MA Grimoldi

C. Wassink, vice-presidente Krueger M. O. Oldani, vice-presidente G. Luoni
D. Bajula Lozev R. CR Ramcharran, secretário de equipe U. Papponetti P.
D. Bellistri Nogueira D. P. Campli, secretário M. Pedersoli
J. Catty Richard M. Agostini T. R. Verona
NA Finney JL Sens Aldo
Sr. Zambon
Garner RT D. Tompkins F. Bresciani
Grotenhuis V. Calo, Membro Contribuinte G.
JF Halley, Membro Contribuinte LE N. Caputo
PT Hayes Mullins, Membro Contribuinte M. Colombo Gobbi, Membro Contribuinte A.
PL Dinelli Gusmaroli, Membro Contribuinte
F. Ferrarese
E. Ferrari G. Pontiggia, Membro Contribuinte
Subgrupo de Métodos e Técnicas de Exame em Serviço

(BPV V)
COMITÊ DE NAVIOS DE PRESSÃO (BPV VIII)
PT Hayes, presidente GW Hembree
E. Peloquin, vice-presidente SC Roberts, presidente JC Sowinski D.
K. Krueger
MA Burns M. MD Lower, vice-presidente Srnic DB
C. May Stewart
Carlson NA SJ Rossi, secretário de equipe
DD Raimander G. Aurioles, Sr.
Finney VF PL Sturgill K.
Godinez-Azcuaga C. Vorwald SR Babka Subramanian
RJ Basile P. DA Swanson JP
Chavdarov Swezy, Jr.
DB DeMichael JF S. Terada
Grubb BF E. Upitis
Hantz M. A. Viet
Kowalczyk DL K. Xu
Kurle R. PA McGowan, Delegado H.
Subgrupo de Métodos de Exame de Superfície (BPV V)
Mahadeen Michael, Delegado K.
N. Carter, PB Shaw R. SA Marks P. Oyamada, Delegado ME
presidente BD Laite, vice- Tedder C. Matkovics Papponetti, Delegado A.
presidente RM Vorwald C. RW Mikitka BR Chaudouet, Membro Contribuinte
Beldyk PL Wassink DM Morelock
Brown T. Woodward SJ Akrin, TP Pastor DT JP Glaspie, Membro Contribuinte KT Lau,
Clausing C. Membro Contribuinte NY Faransso, Peters Membro Contribuinte UR Miller,
Emslander N. Membro Contribuinte JF Halley, MJ Pischke Membro Contribuinte K. Mokhtarian,
Farenbaugh Membro MD Rana Membro Contribuinte GG Karcher,
NA Finney AF Contribuinte RW Kruzic, Membro GB Rawls, Jr. Membro
Contribuinte LE Mullins, Membro FL Juiz Honorário KK Tam, Membro Honorário
Garbolevsky K. Contribuinte FJ Sattler, Membro CD Rodery
Hayes GW Hembree C. May Contribuinte
Comitê Executivo (BPV VIII)
MD Lower, Presidente SA Marks P.

Grupo de Trabalho Internacional da Alemanha (BPV V)
SJ Rossi, Secretário de Matkovics SC
P. Chavdarov, presidente D. Kaiser Pessoal G. Aurioles, Sr. Roberts JC
C. Kringe, vice-presidente S. Mann CW Cary J. Sowinski K.
H.-P. Schmitz, Secretário K.- V. Reusch Hoskinson M. Subramanian
H. Gischler Kowalczyk K. Xu
xlii
Subgrupo de Design (BPV VIII) Subgrupo de Requisitos Gerais (BPV VIII)
JC Sowinski, presidente GB Rawls, Jr. J. Hoskinson, presidente FL Juiz

CS Hinson, vice-presidente SC Roberts M. Faulkner, vice-presidente SC Roberts J.
G. Aurioles, Sr. CD Rodery TG N. Barkley Rust
SR Babka RJ Basile JC Sowinski P.
Seipp D.
OA Barsky RJ Srnic TP Beirne Speranza D.
Basile D. e Swanson DB DeMichael MD Srnic DB
Chandiramani Inferior Stewart
S. Terada
MD Clark M. TP Pastor I. DA Swanson JP
J. Vattappilly K.
Faulkner Powell Glaspie, Membro Contribuinte Y. Yang,
Xu
BF Hantz CE GB Rawls, Jr. Membro Contribuinte
Hinnant K. Oyamada, Delegado
ME Papponetti, Delegado PK
MH Jawad S.
Lam, Membro Contribuinte K.
Krishnamurthy DL
Kurle K. Mokhtarian, Membro Contribuinte
Kuscu
MD Inferior TP Pastor, Membro Contribuinte SC
Grupo de Trabalho sobre Vasos de Pressão do Aquecedor Disparado (BPV VIII)
RW Mikitka Shah, Membro Contribuinte KK Tam,
B. Millet Membro Contribuinte E. Upitis, Membro J. Hoskinson, Presidente R. Robles
MD Rana Contribuinte W. Kim J. Rust
S. Kirk P. Shanks
D. Nelson TP E. Smith
Pastor See More D. Srnic
Grupo de Trabalho sobre Design por Análise (BPV VIII)
BF Hantz, Presidente S. Krishnamurthy A.

TW Norton, Secretário DA Mann
Arnett J
C. Nadarajah Grupo de Trabalho sobre Aplicações Submarinas (BPV VIII)
Bedoya S P. Prueter
Guzey CF M. Sarzynski, presidente C. Lan
TG Seipp
Heberling II CE AJ Grohmann, vice-presidente P. Lutkiewicz
MA Shah
Hinnant MH LP Antalffy RC N. McKie
S. Terada Biel J. SK Parimi RH
Jawad S
Kataoka S RG Brown, Membro Contribuinte D. Ellens J. Patil MP
Kilambi KD Dewees, Membro Contribuinte K. Hademenos J. Vaclavik R.
Kirkpatrick Saboda, Membro Contribuinte Kaculi K. Cordes, Membro Contribuinte DT
Karpanan F. Peters, Membro Contribuinte JR Sims,
Kirkemo Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Projeto de Temperatura Elevada (BPV I e VIII)
A. Mann, MC Messner
Presidente C. Nadarajah, MN Mitchell
Subgrupo de Equipamentos de Transferência de Calor (BPV VIII)
Secretário D.
P. Prueter
Anderson D. Dewees P. Matkovics, presidente R. Mahadeen
MJ Swindeman
BF Hantz MD Clark, vice-presidente S. Mayeux
JP Glaspie, Membro Contribuinte N. L. Bower, secretário G.
MH Jawad RI S. Neilsen
Jetter S. McMurray, Membro Contribuinte Aurioles, Sr. E. Smith
Krishnamurthy T. Le SR Babka
AM Voytko RP
BJ Molitor, Membro Contribuinte JH Barbee
Wiberg J.
OA Barsky T.
Bunyarattaphantu A. Pasek, Membro Contribuinte D.
Chaudouet DL Srnic, Membro Contribuinte Z. Tong,
Kurle Membro Contribuinte
Subgrupo de Fabricação e Exame (BPV VIII)
SA Marks, Presidente BF Shelley D.

DI Morris, Vice-presidente Smith PL
T. Halligan, Secretário N. Sturgill JP
Carter J. Swezy, Jr.
Grupo de Trabalho sobre Trocadores de Calor de Placas (BPV VIII)
Lu E. Upitis
BR Morelock O. C. Violand DI Morris, Presidente P. Matkovics
Mulet MJ K. Oyamada, Delegado SR Babka JF MJ Pischke P.
Pischke MJ WJ Bees, Membro Contribuinte LF Grubb V. Shanks E.
Rice J. Campbell, Membro Contribuinte Gudge R. Smith D.
Roberts CD Mahadeen SA Srnic S.
Rodery R. Uebel, Membro Contribuinte Marcas Sullivan
xliii
Subgrupo de Vasos de Alta Pressão (BPV VIII) Argentina Grupo de Trabalho Internacional (BPV VIII)
K. Subramanian, Presidente Y. Xu A. Dominguez, Presidente M. Favareto

M. Sarzynski, Vice-presidente AM Clayton, membro contribuinte R. Robles, Vice-presidente MD Kuhn FP
A. Dinizulu, Secretário de Pessoal G. Glissenti, Secretário MM Larrosa
LP Antalffy J. R. Cordes, Membro Contribuinte RD Acosta RA LM Leccese C.
Barlow RC Barey C. Meinl
Dixon, Membro Contribuinte Q. Dong,
Biel PN Alderetes FA MA Mendez JJ
Membro Contribuinte TA Duffey,
Chaku Andres Monaco C.
Membro Contribuinte RM Hoshman,
L. Fridlund D. A. Aperitivos Parente MA
Contribuinte
Fuenmayor J. DE Bardelli Pipponzi LC Rigoli A.
Membro
Gibson RT LF Boccanera OS Rivas
F. Kirkemo, Membro Contribuinte RA
Hallman Bretões
Leishear, Membro Contribuinte GM
K. Karpanan J. A. Burgueno G. Rizzo D,
Mital,
Keltjens AK Casanas JC Rubeo, S,
Khare GT Membro Contribuinte M. Parr, Membro DH Da Rold DA Schamun, G,
Nelson Contribuinte MD Rana, Membro Telleria
Del Teglia JI Duo
DT Peters ED Contribuinte C. Romero, Membro MMC Toque
Roll Contribuinte C. Tipple, Membro Contribuinte
JR Sims E. K.-J. Young, Membro Contribuinte DJ

Smith Burns, Membro Honorário GJ Mraz,
FW Tatar S. Membro Honorário
Terada
Grupo de Trabalho Internacional da China (BPV VIII)
X. Chen, C. Miao
presidente B. Shou, vice- L. Sun
presidente Z. Fan, C. Wu
secretário Y. Chen J. Xiaobin
Subgrupo de Materiais (BPV VIII) J. Cui F. Xu
R. Duan G. Xu
M. Kowalczyk, Presidente E. Estômago
J.-G. Gong F. Yang
P. Chavdarov, Vice-Presidente K. Xu B. Han Y. Yang
S. Kilambi, Secretário J. S. Sim Y. Yuan
J. Hu
Cameron JF
A. Di Rienzo, Membro Contribuinte JD Fritz, Q. Hu Yanfeng Zhang
Grubb D. H. Hui
Membro Contribuinte M. Katcher, Membro Yijun Zhang S.
Maitra
K. Li Zhao
DW Financiado Contribuinte WM Lundy, Membro
D. Luo J. Zheng
por J. Robertson Contribuinte J. Penso, Membro Contribuinte
Y. Luo G. Zhu
RC Sutherlin
Grupo de Trabalho Internacional da Alemanha (BPV VIII)
Subgrupo de Resistência (BPV VIII) R. Kauer, presidente S. Câncer
K. Xu, e Swanson M. Sykora, vice-presidente T. Ludwig

A. Aloui RA Meyers H.
presidente T. Halligan, vice- JP Swezy, Jr.
P. Chavdarov A. Michael S.
presidente T. Finn S. Terada
Emrich Reich
CS Hinson S. E. Upitis
Clube DL J. Carnivore C. A. Spangenberg C.
J. Vattappilly K.
Jaekel D. Stobbe G.
Kurle T. Oyamada, Delegado L.
Koelbl Naumann, Membro Contribuinte
Newman Dong, Membro Contribuinte S.
J. Qu Krishnamurthy, Membro Contribuinte
MD Rana FL
Richter K. K. Mokhtarian, Membro Contribuinte
Subramanian
Grupo de Trabalho Internacional da Índia (BPV VIII)
D. Chandiramani, Presidente A. Kakumanu

D. Kulkarni, Vice-Presidente VVP Kumar T.
AD Dalal, Secretário P. Mukherjee PC
Arulkumar B. Pathak D.
Subgrupo de Equipamentos de Pressão de Grafite (BPV VIII)
Basu P. Prabhu A.
CW Cary, presidente JD Clements H. Gandhi U. Sadasivam MP
A. Viet, vice-presidente Lee, Jr. Ganesan SK Shah
GC Becherer FL S. Mehrez Goyal V. R. Tiru
Brown RJ T. Rudy Jayabalan VK VT Valavan M.
Bulgin AA Stupica Joshi Sharma, Membro Contribuinte
xliv
Grupo de Trabalho Internacional da Itália (BPV VIII) COMITÊ DE SOLDAGEM, BRASAGEM E FUSÃO (BPV IX)
A. Teli, M. Guglielmetti AF MJ Pischke, presidente WJ Sperko JP

presidente M. Millefanti, vice- Magri P. PL Sturgill, vice-presidente Swezy, Jr.
presidente P. Campli, Mantovani R. Rahaman, secretário de equipe AD Wilson EW
secretário BG L. Moracchioli P. M. Bernasek Woelfel
Alborali P. Pacor MA Boring DA D. Pojatar, Delegado A.
Aliprandi A. S. Sarti Bowers N.
Roza, Delegado M.
Avogadri A. Camanni V. Calo, Membro Contribuinte G. Carter
Consonni, Membro Contribuinte PD
N. Caputo Gobbi, Membro Contribuinte A. JG Feldstein P.
Flenner, Membro Contribuinte SA Jones,
M. Colombo Gusmaroli, Membro Contribuinte Gilston
Membro Contribuinte DK Peetz, Membro
P. Conti SE Gingrich KL
D. Cortassa Contribuinte S. Raghunathan, Contribuinte
G. Pontiggia, Membro Contribuinte DD Hayes RM
PL Dinelli F. Raimander, Membro Contribuinte Jessee JS
Membro
Finco Lee WM
Lundy DW Mann MJ Stanko, Membro Contribuinte PL Van
Fosson, Membro Contribuinte RK
SA Marks T. Brown,
Melfi Jr., Membro Honorário ML Carpenter,

WF Newell, Jr. Membro Honorário BR Newmark, Membro
EG Reichelt Honorário SD Reynolds, Jr., Membro
MJ Rice Honorário
MB Sims
Subgrupo de Brasagem (BPV IX)
Grupo de Trabalho Especial sobre Juntas Flangeadas Aparafusadas (BPV VIII) SA Marks, Presidente MJ Pischke PL
EW Beckman AF Sturgill JP
W. Brown, presidente W. McDaniel
Garbolevsky N. Mohr Swezy, Jr.
M. Osterfoss, vice-presidente RW Mikitka D.
G. Aurioles, Sr. Nash M.
D.Bankston, Jr. Ruffin R.
H. Bouzid Wacker E.
A. Chaudouet H. Jamalyaria, Membro Contribuinte Subgrupo de Requisitos Gerais (BPV IX)
Chen D. JR Payne,
N. Carter, PL Sturgill JP
Francis Membro Contribuinte G. Van Zyl, Membro
presidente P. Gilston, Swezy, Jr.
H. Lejeune Contribuinte J. Veiga, Membro
vice- EW Woelfel
A. Mann Contribuinte
presidente JP
EW Beckman, membro contribuinte
Bell DA Bowers
M. Heinrichs
A. Davis, Membro Contribuinte DK
A. Howard RM
Jessee SA Peetz, Membro Contribuinte BR Newmark,
Marks HB Porter Membro Honorário
Subgrupo de Materiais (BPV IX)
M. Bernasek, Presidente MJ Pischke A.

T. Anderson Roza
L. Constantinescu E. CE Sainz
Subgrupo de Interpretações (BPV VIII)
Cutlip M.
PL Sturgill C.
G. Aurioles, Sr., Presidente Denault SE
JC Sowinski DB Zanfir
J. Oh, Secretário de Stewart K. Gingrich LS
Harbison M. VGV Giunto, Delegado DJ
Pessoal SR Subramanian DA
Kotecki, Membro Contribuinte B. Krueger,
Babka J. Swanson JP James RM
Jessee T. Membro Contribuinte WJ Sperko,
Cameron Swezy, Jr.
CW Cary BF Melfi SD Membro Contribuinte MJ Stanko, Membro
J. Vattappilly A.
Viet K. Nelson Contribuinte
Hantz M.
Kowalczyk Xu RJ
DL Kurle MD Basile, Membro Contribuinte DB
Lower SA DeMichael, Membro Contribuinte
Subgrupo de Fusão de Plásticos (BPV IX)
Marks P. RD Dixon,
Matkovics DI Morris Membro Contribuinte S. Kilambi, Membro KL Hayes, Presidente S. Schuessler
DT Peters FL Contribuinte R. Mahadeen, Membro RM Jessee J. M. Troughton
Richter SC Contribuinte TP Pastor, Membro Johnston, Jr.
C. Violand
Roberts CD JE O'Sullivan EG
Reichelt EW Woelfel
Rodery TG Contribuinte PL Sturgill, Membro
Seipp Contribuinte MJ Arroz J. Wright
xlv
Subgrupo de Qualificações de Soldagem (BPV IX) COMITÊ DE NAVIOS DE PRESSÃO DE PLÁSTICO REFORÇADO COM FIBRA
(BPV X)
T. Melfi, EG Reichelt
presidente AD Wilson, vice- MJ Rice B. Linnemann, presidente DH McCauley NL
presidente KL Hayes, MB Sims D. Eisberg, vice-presidente Newhouse
secretário M. WJ Sperko PL PD Stumpf, secretário de pessoal G. Ramirez
Bernasek MA Sturgill JP AL Beckwith
JR Richter BF
Boring DA Swezy, Jr. FL Brown JL
Shelley GA
Bowers R. C. Violand Bustillos BR
Van Beek
Campbell RB D. Chandiramani, Membro Contribuinte Colley TW
Corbit LS Harbison SL Wagner DO
Cowley IL
M. Heinrichs M. Consonni, Membro Contribuinte M. Dinovo J. Yancey, Jr.
PH Ziehl
JS Lee Dehghan, Membro Contribuinte PD Eihusen MR
WM Lundy DW Flenner, Membro Contribuinte TC Wiesner, Gorman B. Hebb DH Hodgkinson, Membro Contribuinte
Mann Membro Contribuinte
WF Newell, Jr. A caçada DL Keeler, membro contribuinte
COMITÊ DE INSPEÇÃO DE SERVIÇO NUCLEAR (BPV XI)

Grupo de Trabalho Internacional da Argentina (BPV IX)
RW Swayne, presidente T. Nuoffer
A. Burgueno, presidente M. Favareto
DW Lamond, vice-presidente J. Nygaard
ARG Frinchaboy, vice-presidente R. JA Gandola CA
AT Roberts III, vice-presidente D. JE O'Sullivan NA
Rahaman, secretário de pessoal Garibotti
Miro-Quesada, secretário de equipe JF Palm GC
MD Kuhn, secretário B. JA Herrera MA
Ball WH Park DA
Bardott Mendez AE
Bamford ML Scarth
LF Boccanera PJ Pastor G.
Benson JM
Cabot J. Telleria FJ Schaaf, Jr.
Boughman C. S. Takaya
Caprarulo MMC Tocco
Brown D. Vetter
SB Brown TL
vo tv
Chan RC
JG Weicks M.
Cipolla DR Weis Y.-
Cordas
Grupo de Trabalho Internacional da Alemanha (BPV IX) K. Chung, Delegado C.
H. Do
Ye, Delegado B.
A. Roza, S. Wegener EV Farrell, Jr.
Lin, Alternativo RO
presidente A. Spangenberg, vice- F. Wodke MJ Ferlisi TJ
McGill, Alternativo LA
presidente R. Rahaman, secretário Griesbach J Hakii
J. Daldrup, Membro Contribuinte E. Melder, Alternativo A.
de pessoal P. Chavadarov ML Hall
Floer, Membro Contribuinte R. Udyawar, Alternativo EB
B. Daume
J. Carnívoro P. Helmholdt, Membro Contribuinte Gerlach, Membro Contribuinte CD Cowfer,
PJ Hennessey DO
Khwaja S. Henry K. Hojo Membro Honorário RE Gimple, Membro
Câncer G. Naumann, Membro Contribuinte K.-G. SD Kulat Honorário FE Gregor, Membro
T. Ludwig Toelle, Membro Contribuinte C. Latiolais Honorário RD Kerr, Honorário Membro
JT Lindberg PC Riccardella, Membro Honorário
H. Malikowski RA West, Membro Honorário CJ Wirtz,
SL McCracken Membro Honorário RA Yonekawa,
Membro Honorário
Grupo de Trabalho Internacional da Itália (BPV IX) NO normando
DD Raimander, presidente L. Moracchioli P.

F. Ferrarese, vice-presidente Pacor
R. Rahaman, secretário de equipe P. Siboni
M. Bernasek V. Calo, Membro Contribuinte G. Comitê Executivo (BPV XI)
A. Camanni Gobbi, Membro Contribuinte A.
DW Lamond, presidente SL McCracken
PL Dinelli Gusmaroli, Membro Contribuinte
RW Swanne, vice-presidente T. Nuoffer
M. Mandina
AS Monastra D. Miro-Quesada, secretário de equipe NA Palma
G. Pontiggia, Membro Contribuinte
ML Benson
Parque CG
MJ Ferlisi SD
Kulat AT Roberts III
JT Lindberg BL Lin, Suplente
Grupo de Trabalho Internacional da Espanha (BPV IX)
FJQ Pandelo, presidente F. Manas

FL Villabrille, vice-presidente bb miguel Argentina Grupo de Trabalho Internacional (BPV XI)
R. Rahaman, secretário de ADG Munoz
pessoal FR Hermida, O. Martinez, Staff Secretary A. FJ Schaaf, Jr.
AB Pascual
secretário CA Claus I. FM Schroeter P.
Celimendiz MAF S. Sevil M. Guerreiro Yamamoto
Garcia RG Garcia G. Gobbi, Membro Contribuinte LR Minho
xlvi
Grupo de Trabalho Internacional da China (BPV XI) Grupo de Trabalho sobre Armazenamento e Transporte de Combustível Nuclear Usado
Sistemas de Contenção (BPV XI)
JH Liu, presidente S. Shuo
JF Cai, vice-presidente Y. Sixin K. Hunter, Presidente K. Mauskar
C. Ye, vice- YX Sol M. Orihuela, Secretário DJ RM Meyer RM
presidente MW Zhou, GX Tang Q. Ammerman WH Pace
secretário H. Chen Borter EL Completo
Wang QW
HD Chen Y. J. Broussard juiz MA
Wang ZS
Cheng YB CR Bryan T. B. Sarno
Wang L. Xing
Guo Y. Carraher S.
F. Xu R. Sindelar
Hongqi DR Corcoran
M. Staley
Horn Y. Hou D. Dunn
Produzindo Moedas
N. Fales J. Wellwood
SX Lin Y. Q. Yin KA Whitney XJ

RC Folley G.
Não K. Zhang Grant Zhai P.-S.
WN Pei L. Y. Zhe B. Gutherman Lam, Suplente G. White,
Shiwei ZM Zhong MW Joseph M. Suplente J. Wise,
Keene M. Suplente H. Smith,
Liu Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho Internacional da Alemanha (BPV XI) Grupo de Trabalho sobre Mitigação e Reparação de Combustível Nuclear Usado
Caixas (WG-SNFS & TCS) (BPV XI)
R. Döring, presidente N. Legl,
M. Hagenbruch, vice-presidente T. Ludwig, J. Tatman, Presidente M. Kris
R. Piel, secretário A. X. Pitoiset, DJ Ammerman J. M. Liu
Casse CG M. Reichert, Broussard CR K. Mauskar
Frantescu L. Sybertz, Bryan GR SL McCracken M.
Fungos E. I. Tewes, Cannell Orihuela
Iacopetta SD R. Tiete, K. Dietrich D. M. Richter
H.-W. Lange J. Wendt Dunn KE Ross
N. Fales B. Sarno
RC Folley D. R. Sindelar
Jacobs N. J. Wellwood A.
Klymyshyn Williams
Grupo de Trabalho Internacional da Índia (BPV XI)
SB Parkash, Presidente N. Palm

D. Rawal Subgrupo de Padrões de Avaliação (SG-ES) (BPV XI)
D. Narain, Vice-Presidente
KK Rai, Secretário ZM R. Sahai NA Palm, Presidente YS Li
Mansuri MR RK Sharma SX Xu, Secretário WH RO McGill
Nadgouda Bamford M.
K. Miyazaki
Brumovsky HD RM Pace
Chung RC
JC Poehler S.
Cipolla CM
Ranganath DA
Faidy MM
Scarth
Farooq BR
Ganta TJ DJ Shim A.
Grupo de Trabalho Especial de Edição e Revisão (BPV XI) Udyawar TV
Griesbach K.
Vo
RW Swanne, Presidente M. Orihuela Hasegawa K.
DA Scarth GM Wilkowski
RC Cipolla DO Hojo DN
Henry Hopkins DR Lee ML Benson, Suplente HS
Mehta, Membro Contribuinte
Grupo de Tarefas sobre Avaliação de Eventos Beyond Design Basis

Grupo de Trabalho sobre Inspeção (BPV XI) (SG-ES) (BPV XI)
JT Lindberg, Presidente J. Honcharik C. RM Pace, Presidente K. Hojo

E. Henry, Secretário A. Latiolais GA SX Xu, Secretário FG SA Kleinsmith
Bushmire A. Lofthus S. Abatt GA
SM Moenssens
Cardillo K. Matsumoto DE Antaki PR
vo tv
Caver DR Matthews PJ Donavin RG
GM Wilkowski
Cordes P. O'Regan JB Gilada TJ
Gionta DO Ossmann C. Griesbach M. HS Mehta, Membro Contribuinte T.
Henry Thomas Hayashi Weaver, Membro Contribuinte
xlvii
Grupo de Trabalho sobre Avaliação de Falhas Grupo de Trabalho de Avaliação de Falhas em Tubulações (SG-ES) (BPV XI)
(SG-ES) (BPV XI)
DA Scarth, Presidente Y. Kim
RC Cipolla, Presidente YS Li S. Kalyanam, Secretário K. V. Lacroix
SX Xu, Secretário WH C.Liu Azuma YS Li
Bamford ML M. Liu WH Bamford ML RO McGill
Benson GA seu homem Benson GA seu homem
M. Brumovsky K. Miyazaki M. Brumovsky K. Miyazaki
HD Chung NG S. Noronha FW Brust SM Parker
Cofie MA HD Chung RC
RK Qashu S. Pelota SH
Erickson Cipolla NG
Ranganath DA Servidor CJ
CM Faidy Cofie CM
Scarth Sallaberry WL
MM Farooq BR Faidy MM
Servidor WL DJ Shim S.
Ganta RG Farooq BR
DJ Shim S. Smith
Gilada Ganta
Smith MF Uddin
C. Guzman-Leong RG Gilada
M. Uddin A. Udyawar
PH Hoang K. SR Gosselin
A. Udyawar TV Vo
Hojo DN CE Guzman-Leong K.
TV Vo K. Wang
Hopkins S. Hasegawa PH
K. Wang B. Wasiluk
Kalyanam Y. Hoang K. Hojo
Kim B. Wasiluk GM Wilkowski SX
DN
V. Lacroix GM Wilkowski Hopkins EJ Xu Y.
DR Lee HS Mehta, Membro Contribuinte Houston R. Zou K.
Janowiak K. Gresh, Suplente HS

Kashima Mehta, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Curvas de Referência de Avaliação de Falhas

(SG-ES) (BPV XI) Grupo de trabalho no caso de código N-513 (WG-PFE) (BPV XI)
A. Udyawar, Presidente V. Lacroix

RO McGill, Presidente EJ Houston R.
DA Scarth, Secretário WH K. Miyazaki SM Parker, Secretário GA Janowiak SH
Bamford B. Pellereau Antaki RC Pellet D.
ML Benson FW S. Ranganath Rudland DA
Cipolla MM
Brust RC DJ Shim S. Scarth SX Xu
Farooq K. Gresh
Cipolla MM Smith M.
Farooq AE Uddin
Freed P. Gill TV Vo G.
Branco
K. Hasegawa SX Xu Grupo de Trabalho sobre Procedimentos de Avaliação para Tubos Enterrados Degradados
K. Hojo HS Mehta, Membro Contribuinte (WG-PFE) (BPV XI)
RO McGill, Presidente R. Janowiak

SX Xu, Secretário FG M. Kassar
Abatt GA M. Moenssens
Grupo de Trabalho sobre Critérios Operacionais de Plantas (SG-ES) (BPV XI) Antaki DP Munson
RC Cipolla RG RM Pace
NA Palm, Presidente AD Odell
Gilada SH Pellet
AE Freed, Secretário WH Ritmo RM
K. Hasegawa D. Rudland
Bamford
Servidor JC KM Hoffman DA Scarth
M. Brumovsky
Poehler S.
MA Erickson
Ranganath WL
TJ Griesbach M.
CA Tomos
Hayashi R. Grupo de Trabalho sobre Avaliação de Falhas para Tubulação HDPE (WG-PFE) (BPV XI)
A. Udyawar
Janowiak M.
Kirk TV Vo S. Kalyanam, Presidente DJ Shim M.
SA Kleinsmith H. HQ Xu P. Krishnaswamy M. Troughton J.
Moenssens DP Wright SX
Kobayashi HS Mehta, Membro Contribuinte
Munson Xu
DA Scarth
Grupo de Trabalho no Apêndice L (WG-OPC) (BPV XI)

Subgrupo de Exame Não Destrutivo (SG-NDE) (BPV XI)
N. Glunt, C.-S. Oh
Presidente RM Pace, Parque H. JT Lindberg, presidente SE Cumblidge KJ
Secretário DO Henry, vice-presidente Hacker J.
S. Ranganath
JI Duo AE T. Cinson, secretário M. Harrison DA
A. Scott
Freed MA Briley C. Kull C.
DJ Shim Brown A. Latiolais FJ
Gray TJ Griesbach
H. Nam S. Smith Bushmire TL Schaaf, Jr.
A. Nana A. Udyawar Chan DR RV Swain CA
AD Odell vo tv Cordes Nove, Alternativo
xlviii
Grupo de Trabalho de Qualificação de Pessoal e Visual de Superfície Grupo de Trabalho Conjunto ASME/JSME sobre Processos RIM e
Exame de correntes parasitas (SG-NDE) (BPV XI) Código baseado no sistema (SG-RIM) (BPV XI)
C. Brown, DO Henry JT S. Takaya, R. Meyer

Presidente M. Orihuela, presidente RJ McReynolds, vice- T. Muraki
Lindberg C.
Secretário presidente MT S. Okajima
Shinsky
J. Bennett T. Cinson Audrain K. Dozaki AT Roberts III
R. Tedder
SE Cumblidge A. JT Fong J. CJ Sallaberry FJ
Diaz T. Thulien
Hakii K. Schaaf, Jr.
N. Farenbaugh JT Timm Harris M. R. Vayda
Hayashi S. D. Watanabe
Kalyanam DR H. Yada
Lee K. Yamada
H. Machida T. Asayama, Membro Contribuinte
Grupo de Trabalho sobre Qualificação de Procedimentos e Volumetria

Exame (SG-NDE) (BPV XI)
J. Harrison, C. Latiolais
Subgrupo de Atividades de Reparo/Substituição (SG-RRA) (BPV XI)
Presidente DA Kull, CA Nova
SL McCracken, Presidente LA Melder SA
Secretário DR Slivon
M. Briley A. EV Farrell, Jr., Secretário JF Norman GT
RV Swain Olson JE
Bushmire DR Ball M.
D. Van Allen Brandes O'Sullivan GC
Cordes KJ
J. Williams SB Brown R. Park RR
Hacker RE
Clow SJ Stevenson
Jacob WA Jensen B. Lin, Suplente
Findlan ML RW Swayne DJ
Hall J. Tilly JG
Honcharik AB Weicks B.
Meichler Lin, Alternativo
Subgrupo do Programa de Gestão de Confiabilidade e Integridade

(SG-RIM) (BPV XI)
AT Roberts III, Presidente PJ Hennessey S. Grupo de Trabalho de Desenho e Programas (SG-RRA) (BPV XI)
D. Vetter, Secretário Kalyanam DR
SB Brown, Presidente H. Malikowski
T. Anselmi Lee RJ
RA Patel, Secretário O. AB Meichler
MT Audrain McReynolds R.
Bhatty R. Parque CG
N. Broom Meyer M.
Clow RR
FW Brust V. Orihuela CJ MA Pyne
Croft EV
Chugh SR Sallaberry FJ RR Stevenson
Farrell, Jr.
Doutor JD Schaaf, Jr.
K. Harris K. Sullivan
Fletcher JT HM Stephens, Jr.
B. Lin RW Swanne
Fong R. RW Swayne S.
Grantom K. Takaya R.
Harris Vayda
Grupo de tarefas sobre otimização de reparo e substituição

(WG-D&P) (BPV XI)
SL McCracken, Presidente ML Hall D.
Grupo de Trabalho sobre MANDE (SG-RIM) (BPV XI) SJ Findlan, Secretário T. Jacobs H.
Basso R. Malikowski T.
HM Stephens, Jr., presidente JT Fong Clow K. Nuoffer GC
SR Doctor, vice-presidente DO Henry RJ Dietrich EV Park A.
M. Turnbow, secretário T. McReynolds R. Farrell, Jr. Patel
Anselmi Meyer M. RR Stevenson
MJ Ferlisi
MT Audrain E Orihuela K.
RC Folley JG Weicks
Finney Yamada
Grupo de Trabalho sobre Atividades de Reparo/Substituição de Não-metais

(SG-RRA) (BPV XI)
Grupo de Trabalho sobre Degradação e Falha de Componentes Não Metálicos
JE O'Sullivan, Presidente TM Musto
Monitoramento (SG-RIM) (BPV XI)
S. Schuessler, Secretário A. Pridmore
MP Metcalfe, Presidente WJ Geringer K. M. Brandes
FJ Schaaf, Jr.
A. Tzelepi, Secretário Harris DR Dechene M.
MT Audrain G. Golliet J. R. Stakenborghs
J. Lang
Beirnaert C. P. Vibien
J. Potgieter Johnston, Jr.
Chen B. Lin MP Marohl, Membro Contribuinte
xlix
Grupo de trabalho em tubulação HDPE para sistemas de baixa significância de segurança Grupo de Trabalho sobre Problemas de Ligas de Níquel de Alta Resistência (SG-WCS) (BPV XI)
(WG-NMRRA) (BPV XI)
H. Malikowski, Presidente H. Kobayashi
M. Brandes, Presidente TM Musto FJ C. Waskey, Secretário E. SE Marlette
JE O'Sullivan, Secretário M. Schaaf, Jr. Blackard
Parque CG
Golliet B. Lin S. Schuessler T. Cinson
C. Algo
R. Stakenborghs J. Collins
K. Dietrich G. branco
PR Donavin VOCÊ Whitney
Grupo de Trabalho sobre Reparo por Compósitos de Fibra de Carbono

(WG-NMRRA) (BPV XI)
JE O'Sullivan, Presidente CA Nove RP

Grupo de Trabalho de Contenção (SG-WCS) (BPV XI)
SF Arnold Ojdrovic A.
SW Choi DR Pridmore S. MJ Ferlisi, Presidente P. Leininger JA
Déchene Rios R. Thames, Secretário PS Munshi M.
M. Golliet CW Rowley J. Ghosal HT Hill Sircar PC
LS Gordon Sealey R. Smith
P. Krishnaswamy M. Stakenborghs N. S. Johnson S. Walden
Kuntz Stoeva AE Keyser B. M. Weis
H. Lu MF Uddin J. Lehman SG Brown, Suplente
MP Marohl Wen B.
L Nadeau Davenport, Suplente
Grupo de Trabalho de Inspeção de Sistemas e Componentes

Grupo de Trabalho de Processos de Soldagem e Reparos Especiais (SG-WCS) (BPV XI)
(SG-RRA) (BPV XI)
HQ Do, Presidente J. Howard
JG Weicks, Presidente D. Jacobs M. Weis, Secretário IA A. Keller
GT Olson, Secretário D. M. Kris Anchondo-Lopez RW Blyde SD Fungi E.
Barborak SE Marlette K. Caver C. Lantz
SJ Findlan RC SL McCracken LA Cueto- A. Maekawa T.
Folley ML Hall Melder Felgueroso MJ Ferlisi ML Nomura
J. Honcharik JE O'Sullivan DJ Garcia Heras JC Nygaard S.
Tilly Orita
K. W. Salão AW Wilkens
Grupo de Trabalho sobre Soldagem de Cordão de Revenimento (WG-W&SRP) (BPV XI)
SJ Findlan, Presidente SL McCracken N.

Grupo de Trabalho sobre Teste de Pressão (SG-WCS) (BPV XI)
D. Barborak Mohr GT
RC Folley J. Olson JE JM Boughman, Presidente DW Lamond M.
Graham ML O'Sullivan A. Patel SA Norman, Secretário T. Moenssens RA
Hall D. J. Tatman Anselmi MJ Nettles C.
Jacobs H. JG Weicks Homiack AE Thomas K.
Kobayashi Keyser Whitney
Grupo de Tarefas sobre Sobreposição de Solda (WG-W&SRP)(BPV XI)

Grupo de Trabalho sobre Atividades Informadas sobre Riscos (SG-WCS) (BPV XI)
SL McCracken, Presidente C. Lohse
S. Hunter, Secretário D. SE Marlette GT MA Pyne, Presidente MJ Homiack SD
Barborak SJ Olson A Patel ST Chesworth, Secretário G. Kulat DW
Findlan J. DW Brouette C. Lamond E. Lantz
Graham ML Sandusky DE Cueto-Felgueroso R. PJ
Hall D. Waskey JG Haessler J. O'Regan NA
Jacobs Weicks Hakii KW Palm D.
Hall Vetter
Subgrupo de Sistemas Resfriados a Água (SG-WCS) (BPV XI)
MJ Ferlisi, Presidente SD Kulat DW

Grupo de Trabalho sobre Requisitos Gerais (BPV XI)
J. Nygaard, Secretário JM Lamond T.
Boughman ST Nomura T. T. Nuoffer, Presidente TN Rezk AT
Chesworth J. Collins Nuoffer MA J. Mayo, Secretário JF Roberts III SR Scott
HQ Do KW Pyne HM Ball TL D. Vetter SE
Hall PJ Stephens, Jr. Chan Woolf B.
Hennessey R. Thames PJ Hennessey KA Harris,
AE Keyser M. Weis Kavanagh G. Alternativo RS Spencer,
IA Anchondo-Lopez, Suplente Ramaraj Alternativo
eu
COMITÊ DE TANQUES DE TRANSPORTE (BPV XII) Subgrupo de Apêndices Não Obrigatórios (BPV XII)
NJ Paulick, presidente M. Pitts TA Rogers, Presidente RC Barra

MD Rana, vice-presidente J. Roberts S. Staniszewski, Secretário P. DG Shelton DD
J. Oh, secretário de TA Rogers RC Chilukuri Brusewitz, Contribuindo
equipe AN Sallash M. NJ Paulick M. Membro
Antoniou KWA Shah Pitts Y. Doron, Membro Contribuinte
Cheng P. S. Staniszewski TJ Rishel
Chilukuri WL Garfield AP Varghese R.
P. Miller Meyers, Membro Contribuinte
Comitê Executivo (BPV XII)

COMITÊ DE PROTEÇÃO DE SOBREPRESSÃO (BPV XIII)
MD Rana, presidente TA Rogers RC
BK Nutter, presidente RD Danzy, Membro Contribuinte A.
NJ Paulick, vice-presidente Sallash
A. Donaldson, vice-presidente Frigerio, Membro Contribuinte JP
J. Oh, secretário de S. Staniszewski
equipe M. Pitts CE Rodrigues, secretário de pessoal Glaspie, Membro Contribuinte SF
AP Varghese
JF Ball J. Harrison, Jr., Membro Contribuinte
Burgess B.
Calderon DB
A. Hassan, Membro Contribuinte PK
DeMichael
Lam, Membro Contribuinte M. Mengon,
JW Dickson JM
Membro Contribuinte J. Mize, Membro
Levy D.
Subgrupo de Design e Materiais (BPV XII) Contribuinte M. Mullavey, Membro
Miller T.
Patel Contribuinte SK Parimi, Membro
RC Sallash, Presidente AP Varghese
BF Pittel TR Contribuinte J. Phillips, Membro
DK Chandiramani KWA K. Xu
Contribuinte M. Reddy, Membro
Cheng P. Chilukuri Tarbay DE
Y. Doron, Membro Contribuinte AT Contribuinte S. Ruesenberg, Membro
SL McWilliams Tompkins Z. Wang
Duggleby, Membro Contribuinte Contribuinte
JA West
NJ Paulick B. Engman,
MD Rana RD Hayworth, Contribuindo Suplente H. Aguilar, K. Shores, Membro Contribuinte DE
Membro Tezzo, Membro Contribuinte A. Wilson,
TJ Rishel Membro Contribuinte RW Barnes,
TA Rogers M. BE Spencer, membro contribuinte Membro Contribuinte Membro Contribuinte
Shah S.
Staniszewski J. Zheng, Membro Contribuinte
Subgrupo de Fabricação, Inspeção e Serviço Continuado

Comitê Executivo (BPV XIII)
(BPV XII)
A. Donaldson, presidente DB DeMichael KR
M. Pitts, TA Rogers RC
BK Nutter, vice-presidente May D.
Presidente KWA Sallash Miller
CE Rodrigues, secretário de pessoal
Cheng P.
S. Staniszewski JF Ball
Chilukuri M.
Koprivnak Y. Doron, membro contribuinte RD
P. Miller Hayworth, contribuinte
Membro
O. Mulet TJ
Rishel J. Roberts G. McRae, membro contribuinte
Subgrupo de Design e Materiais (BPV XIII)
D. Miller, JA West A.
Subgrupo de Requisitos Gerais (BPV XII)
presidente T. Patel, Williams
Staniszewski S, Presidente RC Barra vice-presidente DJ Azukas, Membro Contribuinte RD
AN Antoniou P TK Acharya
Y. Doron, Membro Contribuinte TJ Danzy, Membro Contribuinte A. Hassan,
Chilukuri H CE Beair WE
Hitchcock, Membro Contribuinte Membro Contribuinte R. Miyata,
Ebben III JL Chapin JL
Membro Contribuinte M. Mullavey,
Freiler WL Freiler B.
Garfield O Mullet SL McWilliams, Membro Contribuinte Membro Contribuinte SK Parimi, Membro
Joergensen V.
BF Pittel Kalyanasundaram Contribuinte G. Ramirez, Membro
TA Rogers, Membro Contribuinte DG R. Krithivasan Contribuinte K. Shores, Membro
M. Pitts Shelton, Membro Contribuinte BJ Mollitor TR Tarbay Contribuinte
que
Subgrupo de Requisitos Gerais (BPV XIII) US TAG para ISO TC 185 Dispositivos de segurança para proteção contra
Pressão Excessiva (BPV XIII)
A. Donaldson, Presidente B. Calderon, Membro Contribuinte P.
BF Pittel, Vice-presidente Chavdarov, Membro Contribuinte D. Miller, BK Nutter T.
JM Levy, Secretário R. Presidente CE Rodrigues, Secretário Patel
Antoniuk DJ TM Fabiani, Membro Contribuinte JL de J. R. Thomas Jr.
Azukas JF Freiler, Membro Contribuinte JP Glaspie, Pessoal JF Ball D. Tuttle
Ball J. Membro Contribuinte GD Goodson, TJ Bevilacqua DB JA Oeste
Burgess DB Membro Contribuinte DeMichael JW Dickson JF Branco
DeMichael ST
Francês B. Joergensen, Membro
J. Grace Contribuinte
C. Haldiman C. Lasarte, Membro Contribuinte M.
J. Horne Mengon, Membro Contribuinte DE Miller,
R. Klimas, Jr. Membro Contribuinte R. Miyata, Membro
ZE Kumana PK Contribuinte B. Mruk, Membro
Lam Contribuinte J. Phillips, Membro
D. Mainiero-Cessna KR Contribuinte M. Reddy, Membro
May J. Contribuinte S. Ruesenberg, Membro
Mize L. Contribuinte
Moedinger M.
Mullavey K. R. Sadowski, Membro Contribuinte A. COMITÊ DE CONFORMIDADE DE CALDEIRAS E NAVIOS DE PRESSÃO
Shores Swearingin, Membro Contribuinte AVALIAÇÃO (CBPVCA)
DE Tezzo
DE Tompkins JF AP Varghese, Membro Contribuinte RV Wielgoszinski, Presidente TP Beirne, Alternativo N.
White G. Scribner, Vice-presidente Caputo, Alternativo P.
G. Moino, Secretário de Chavdarov, Alternativo JM
Pessoal M. Downs, Alternativo PD
Blankinship JP Edwards, Alternativo Y.-S.
Chicoine TE Kim, Alternativo B.
Hansen W. Hibdon Morelock, Alternativo M.
BL Krasiun LE Prefumo, Alternativo R.
McDonald Rockwood, Alternativo K.
N. Murugappan I. Roewe, Alternativo BC
Powell DE Turczynski, Alternativo J. Yu,
Tuttle EA Alternativo D.
Whittle P. Cheetham, Membro Contribuinte AJ
Subgrupo sobre Nuclear (BPV XIII)
Williams Spencer, Membro Honorário
KR May, presidente K. Shores
JF Ball, vice-presidente IH Tseng BJ
R. Krithivasan, secretário M. Yonsky
Brown JW
JM Levy, Alternativo Y.
Dickson S.
Wong, Alternativo J.
Jones R.
Lack D. Yu, Alternativo ST
Miller T. Francês, Membro Contribuinte DB Ross,
Patel Membro Contribuinte
COMITÊ DE CERTIFICAÇÃO NUCLEAR (CNC)
RR Stevenson, presidente T. Aldo, Alternativo

MA Lockwood, vice-presidente M. Blankinship, Alternativo G.
S. Khan, secretário de Brouette, Alternativo M.
equipe A. Burke, Alternativo PJ
Appleton Coco, Alternativo Y.
JF Ball G. Diaz-Castillo, Alternativo PD
Subgrupo de Testagem (BPV XIII)
Claffey N.
Edwards, Alternativo J.
BK Nutter, presidente C. Sharpe DeSantis
Grimm, Alternativo KM
JW Dickson, vice-presidente JR Thomas, Jr. C. Dinic
Hottle, Alternativo P. Krane,
R. Houk, secretário Z. Wang G. Gobbi JW
TP Beirne M. Alternativo SJ Montano,
D. Nelson, Suplente J. Highlands KA
Brown B. Alternativo I. Olson,
Mize, Membro Contribuinte M. Kavanagh
Calderon V. JC Krane Alternativo L. Ponce,
Mullavey, Membro Contribuinte S.
Chicola III B. Ruesenberg, Membro Contribuinte T. McGee EL Alternativo M. Wilson,
Engman RJ Pleins TE Alternativo S. Yang,

Garnett R. K. Shores, Membro Contribuinte A. Quaka TN Alternativo SF
Lack Strecker, Membro Contribuinte A. Wilson, Rezk DM Harrison, Jr., Membro Contribuinte
M. Mengon Membro Contribuinte Vickery EA esculpir
lii
PESSOAL ASTM ð23Þ
Os padrões ASTM incluídos nesta publicação ASME foram reproduzidos por meio de um contrato de licença com
ASTM Internacional. Informações sobre o processo de padrões ASTM podem ser encontradas em www.astm.org.
liii
ð23Þ CORRESPONDÊNCIA COM O COMITÊ
Em geral
Os códigos e padrões da ASME são desenvolvidos e mantidos por comitês com a intenção de representar o consenso dos interesses envolvidos.
Os usuários dos códigos e padrões ASME podem se corresponder com os comitês para propor revisões ou casos, relatar errata ou solicitar
interpretações. A correspondência para esta Seção do Código ASME para Caldeiras e Vasos de Pressão (BPVC) deve ser enviada ao
secretário da equipe indicado na página do comitê da Seção, acessível em https://go.asme.org/CSCommittees.
NOTA: Consulte ASME BPVC Seção II, Parte D para obter orientações sobre como solicitar a aprovação de novos materiais. Consulte a Seção II, Parte C para obter orientações sobre
como solicitar a aprovação de novos materiais de soldagem e brasagem (“consumíveis”).
Revisões e Errata
O comitê processa as revisões deste Código continuamente para incorporar as mudanças que parecem necessárias ou desejáveis, conforme
demonstrado pela experiência adquirida com a aplicação do Código. As revisões aprovadas serão publicadas na próxima edição do Código.
Além disso, o comitê pode publicar errata e avisos especiais em http://go.asme.org/BPVCerrata. A errata e os avisos especiais entram em vigor
na data publicada. Os usuários podem se registrar na página da web do comitê para receber notificações por e-mail sobre errata publicadas e
avisos especiais.
Este Código está sempre aberto para comentários, e o comitê aceita propostas de revisão. Tais propostas devem ser tão específicas quanto
possível, citando o(s) número(s) do parágrafo, a redação proposta e uma descrição detalhada dos motivos da proposta, incluindo qualquer
informação pertinente e documentação de apoio.
casos
(a) As aplicações mais comuns para casos são
(1) para permitir a implementação antecipada de uma revisão com base em uma
necessidade urgente (2) para fornecer requisitos
alternativos (3) para permitir que os usuários ganhem experiência com requisitos adicionais alternativos ou potenciais antes da incorporação
diretamente no Código (4)
para permitir o uso de um novo material ou processo
(b) Os usuários são advertidos de que nem todas as jurisdições ou proprietários aceitam casos automaticamente. Os casos não devem ser
considerados como aprovando, recomendando, certificando ou endossando qualquer projeto proprietário ou específico, ou limitando de alguma
forma a liberdade dos fabricantes, construtores ou proprietários de escolher qualquer método de projeto ou qualquer forma de construção que
esteja em conformidade com o código.
(c) O comitê considerará os casos propostos referentes apenas aos seguintes tópicos: (1) equipamento a
ser marcado com a Marca de Certificação Única ASME, ou (2) equipamento a ser
construído como uma atividade de reparo/substituição sob os requisitos da Seção XI ( d) Um caso proposto deve ser escrito
como uma pergunta e resposta no mesmo formato dos casos existentes. A proposta deve
também inclua as seguintes informações: (1)
uma declaração de necessidade e informações básicas (2) a
urgência do caso (por exemplo, o caso diz respeito a um projeto em andamento ou iminente) (3) a Seção do
Código e o parágrafo, figura, ou número(s) da(s) tabela(s) a que se aplica o caso proposto (4) a(s) edição(ões) do Código a que
se aplica o caso proposto
(e) Um caso é eficaz para uso quando o processo de revisão pública foi concluído e aprovado pelo conselho supervisor competente. Os casos
aprovados aparecerão na próxima edição ou suplemento dos livros Code Cases, “Boilers and Pressure Vessels” ou “Nuclear Components”. Cada
livro Code Cases é atualizado com sete suplementos. Suplementos serão enviados ou disponibilizados automaticamente aos compradores dos
livros Code Cases até a próxima edição do Code. Anulações de Casos de Código tornam-se efetivas seis meses após o primeiro anúncio da
anulação em um Suplemento de Caso de Código ou Edição do livro de Caso de Código apropriado. O status de qualquer caso está disponível em
http://go.asme.org/BPVCCDatabase. Um índice da lista completa de Casos de Código de Vasos de Pressão e Caldeiras e Casos de Código Nu
clear está disponível em http://go.asme.org/BPVCC.
vida
Interpretações
(a) As interpretações esclarecem os requisitos existentes do Código e são escritas como uma pergunta e uma resposta. As interpretações não
introduzir novos requisitos. Se for necessária uma revisão para resolver a redação conflitante ou incorreta para apoiar a interpretação, o comitê emitirá
uma interpretação intencional em paralelo com uma revisão do Código.
(b) Mediante solicitação, o comitê fornecerá uma interpretação de qualquer requisito do Código. Uma interpretação pode
ser processado apenas em resposta a uma solicitação enviada por meio do Formulário de envio de interpretação on-line em http://go.as me.org/
InterpretationRequest. Ao enviar o formulário, o solicitante receberá um e-mail automático confirmando
recibo.
(c) A ASME não atua como consultora para problemas específicos de engenharia ou para a aplicação geral ou compreensão dos requisitos do Código.
Se, com base nas informações apresentadas, for opinião do comitê que o inquiridor
deve procurar assistência, o pedido será devolvido com a recomendação de que tal assistência seja obtida. Os solicitantes podem acompanhar o status
de suas solicitações em http://go.asme.org/Interpretations.
(d) Os procedimentos da ASME fornecem reconsideração de qualquer interpretação quando ou se informações adicionais que possam
afetar uma interpretação está disponível. Além disso, as pessoas prejudicadas por uma interpretação podem apelar para o ASME conhecedor
comissão ou subcomissão. A ASME não "aprova", "certifica", "avalia" ou "endossa" nenhum item, construção, propriedade
dispositivo ou atividade.
(e) As interpretações são publicadas no banco de dados de interpretações da ASME em http://go.asme.org/Interpretations conforme
são emitidos.
Reuniões do Comitê
Os comitês da ASME BPVC realizam regularmente reuniões abertas ao público. As pessoas que desejam participar de qualquer reunião devem entrar
em contato com o secretário do comitê aplicável. Informações sobre futuras reuniões do comitê podem ser encontradas em
http://go.asme.org/BCW.
lv
SUMÁRIO DE MUDANÇAS
As alterações listadas abaixo são identificadas nas páginas por uma nota de margem (23), colocada ao lado da área afetada.
Página Localização Mudar
xxvii Lista de seções (1) Na Seção III, Divisão 4 adicionada

(2) Título da Seção XI e subtítulo da Seção XI, Divisão 2 revisados
(3) Informações sobre interpretações e casos de Código movidos para
“Correspondência com o Comitê”
xxxi Pessoal Atualizada
liii Pessoal da ASTM Atualizada
vida
Correspondência com o Adicionado (substitui “Envio de Consultas Técnicas à Caldeira e
Comitê Comitês de Padrões de Vasos de Pressão”)
seis
Referência cruzada no Atualizada
ASME BPVC
1 T-110 Subparágrafo (a) revisado

1 T-120 Subparágrafos (e), (e)(1), (e)(2), (h) e (j) revisados
3 T-150 Os subparágrafos (a) e (b) e o parágrafo após (d)(3) revisados
10 I-121.2 (1) Definições de unidade de pesquisa de matriz linear dupla e matriz linear
unidade de pesquisa adicionada
(2) Termos caminho de imagem par e caminho de imagem ímpar revisados para par
modo de imagem e modo de imagem ímpar, respectivamente
15 I-121.4 Definição de magnetização multidirecional revisada
17 I-121.6 Definição de exame visual direto revisada
17 I-121.7 Definição da técnica do capuz (teste do capuz) revisada

23 I-121.9 Definição de precisão de dimensionamento adicionada
27 II-122.1 Subparágrafos (a) e (b) revisados

28 Tabela II-121-1 Notas Gerais (a), (c) e (d) revisadas
30 Excluído
Anexo III Obrigatório
(Artigo 1)
31 Excluído
Apêndice IV Obrigatório
(Artigo 1)
34 T-223 Revisado
40 Tabela T-276 Nota geral adicionada
39 T-277.1 Subparágrafo (d) revisado

43 I-223 Subparágrafos (a) e (b) revisados
64 IX-277.1 Subparágrafo (e) acrescentado e subparágrafo subseqüente
redesignado
84 T-434.2.3 Adicionado e parágrafo subsequente redesignado
84 T-434.4 T-434.4.1 a T-434.4.3 revisado
lvi
90 T-451 Revisado
98 II-440 Na tabela de texto, limites de indicação revisados

100 III-434.2.3 Referência cruzada revisada
102 III-471.6 Última frase revisada
102 III-471.9 Revisado
109 VII-421.2 Revisado
119
Apêndice Obrigatório XI “Caminho” revisado para “modo” ao longo
(Artigo 4)
120 XI-435 Revisado
122 XI-462.8.1 Última frase revisada
123 XI-481.1.2 Revisado
144
Não mandatório “Caminho”, “caminho/modo” e “vários caminhos/modo” revisados para “modo”
Apêndice F (Artigo 4) por todo
148 F-471 Nota deletada
149 Tabela F-471-1 Nota (1) revisada

154
Apêndice não obrigatório O antigo Apêndice I Não Obrigatório foi redesignado
H (Artigo 4)
156
Figura J-431 Nota (2) revisada
193
Figura P-452.2-2 Título corrigido por errata
208 Adicionado
Não mandatório
Apêndice W (Artigo 4)
223 Tabela T-672 Primeira linha revisada
224 T-676.4 Subparágrafo (e) revisado

225 T-692 Subparágrafo (c) revisado
238 T-777.2 Subparágrafo (e) revisado
288 Adicionado
Apêndice Obrigatório XI
(Artigo 8)
296 T-953 Última frase revisada
327 XI-1063.6 Equação no subparágrafo (c) revisado

350 T-1220 Subparágrafo (a) revisado
350 T-1224 Último parágrafo revisado
351 T-1225 (1) Primeiro parágrafo e incisos. (a), (d) e (h) revisado
(2) Subparágrafo (i) adicionado e parágrafos subsequentes
redesignado
351 T-1230 Subparágrafo (b) revisado
351 T-1262 Último parágrafo revisado
351 T-1263 Revisado
352 T-1265 (1) Primeiro parágrafo e T-1265.3 adicionados

(2) T-1265.1 e T-1265.2 revisados
lvii
353 T-1273.3 Revisado
353 T-1291 Subparágrafos (a) e (h) adicionados e parágrafos subseqüentes

redesignado
353 T-1292 Subparágrafos (a) e (a)(2) revisados
360 Adicionado
Anexo III Obrigatório
(Artigo 12)
372
Não mandatório Revisado em sua totalidade
Apêndice A (Artigo 12)
483 SE-999 Revisado em sua totalidade
499
SE-1030/SE-1030M Revisado em sua totalidade
569 Excluído
SE-2597/SE-2597M
605
SA-745/SA-745M Revisado em sua totalidade
617 SD-7091 Revisado em sua totalidade
657
751 SD-1186 Excluído por errata
835
851
879 Excluído
SE-1419/SE-1419M
881
887
lviii
REFERÊNCIA CRUZADA NO ASME BPVC ð23Þ
Os parágrafos dentro do ASME BPVC podem incluir divisões de subparágrafos, ou seja, listas aninhadas. O seguinte é um guia para
a designação e referência cruzada das divisões de subparágrafo: (a) Hierarquia
das divisões de parágrafo (1) As divisões de
primeiro nível são designadas como (a), (b), (c), etc.
(2) As avarias de segundo nível são designadas como (1), (2), (3), etc.
(3) As avarias de terceiro nível são designadas como (-a), (-b), (-c), etc.
(4) As avarias de quarto nível são designadas como (-1), (-2), (-3), etc.
(5) As avarias de quinto nível são designadas como (+a), (+b), (+c), etc.
(6) As avarias de sexto nível são designadas como (+1), (+2), etc.
(b) Referências cruzadas para detalhamento de subparágrafos. As referências cruzadas dentro de um parágrafo designado
alfanumérico (por exemplo, PG-1, UIG-56.1, NCD-3223) não incluem o designador alfanumérico desse parágrafo. As referências
cruzadas às desagregações de subparágrafos seguem a hierarquia dos designadores sob os quais a desagregação aparece.
Os exemplos a seguir mostram o formato: (1)
Se X.1(c)(1)(-a) for referenciado em X.1(c)(1), será referenciado como (-a).
(2) Se X.1(c)(1)(-a) for referenciado em X.1(c)(2), ele será referenciado como (1)(-a).
(3) Se X.1(c)(1)(-a) for referenciado em X.1(e)(1), será referenciado como (c)(1)(-a).
(4) Se X.1(c)(1)(-a) for referenciado em X.2(c)(2), será referenciado como X.1(c)(1)(-a).
seis
INTENCIONALMENTE DEIXADA EM BRANCO

ASME BPVC.V-2023 ARTIGO 1
SUBSEÇÃO A
MÉTODOS NÃO DESTRUTIVOS DE
EXAME
ARTIGO 1
REQUERIMENTOS GERAIS
ð23Þ T-110 ESCOPO (b) A Subseção B lista as Normas abrangendo métodos de exame
não destrutivos que foram aceitos como normas. Esses padrões não
(a) Esta Seção do Código contém requisitos, métodos e técnicas são obrigatórios, a menos que especificamente referenciados no todo
para exame não destrutivo (NDE), que são requisitos do Código na ou em parte na Subseção A ou conforme indicado em outras Seções
medida em que são especificamente referenciados e exigidos por do Código ou documentos de referência. Onde houver um conflito
outras Seções do Código ou documentos de referência. Esses entre a Subseção A e a Subseção B, os requisitos da Subseção A
métodos NDE destinam-se a detectar superfícies e imperfeições prevalecerão. (c) Qualquer referência a um parágrafo de qualquer
internas em materiais, soldas, peças fabricadas e componentes. O
Artigo na Subseção
Apêndice A não obrigatório deste Artigo fornece uma lista de A desta Seção inclui todas as regras aplicáveis no parágrafo. Em
imperfeições comuns e mecanismos de dano, e os métodos de NDE todos os casos, a referência a um parágrafo inclui todos os
que geralmente são capazes de detectá-los. subparágrafos e subdivisões desse parágrafo.
(b) Para termos gerais, como inspeção, falha, desconformidade

NOTA: Por exemplo, uma referência a T-270 inclui todas as regras
nuidade, avaliação, etc., consulte o Apêndice I obrigatório. contidas em T-271 a T-277.3. (d)
(c) Novas edições da Seção V podem ser usadas a partir da data Referência a uma norma contida na Subseção B
de emissão e tornam-se obrigatórias 6 meses após a data de emissão, é obrigatório apenas na medida especificada.
a menos que sejam modificadas pelo documento de referência. NOTA: Por exemplo, o T-233 exige que os Indicadores de Qualidade
de Imagem sejam fabricados e identificados de acordo com os
(d) Casos de código são permitidos e podem ser usados, requisitos ou alternativas permitidas na SE-747 ou SE-1025 e
Apêndices, conforme apropriado para o estilo de IQI a ser usado.
começando com a data de aprovação pela ASME. Somente Casos
Estas são as únicas partes da SE-747 ou SE-1025 que são obrigatórias
de Código que são especificamente identificados como aplicáveis a
no Artigo 2. Em muitos casos, os documentos da Subseção B não
esta Seção podem ser usados. No momento em que um caso de
são obrigatórios e destinam-se apenas a orientação
código é aplicado, apenas a revisão mais recente pode ser usada.
ou uso de referência. (e) Para aqueles documentos que fazem
Casos do Código que tenham sido incorporados a esta Seção ou
referência direta a este Artigo para a qualificação do pessoal da NDE,
tenham sido anulados não devem ser usados, a menos que permitido
a qualificação deve estar de acordo com a prática escrita de seu
pelo Código de referência. As qualificações que usam as disposições
empregador. Esta prática escrita deve abordar os métodos e técnicas
de um Processo de Código permanecem válidas após a anulação do
que são aplicáveis às operações da organização e deve estar de
Caso de Código. O número do Caso de Código deve ser listado no
acordo com um dos seguintes documentos: (1) SNT-TC-1A (Edição
Procedimento NDE ou Certificação de Pessoal, conforme aplicável.
2020),1 Qualificação e
Certificação de Pessoal em Não Destrutivos Testes, com as
seguintes exceções:
ð23Þ T-120 GERAL

(a) A Subseção A descreve os métodos de exame não destrutivo
a serem usados se referenciados por outras Seções do Código ou
documentos de referência.
1
ARTIGO 1 ASME BPVC.V-2023
(-a) SNT-TC-1A (Edição 2020) não deve ser considerada (g) Além dos requisitos descritos em (e) ou
uma prática recomendada, mas deve fornecer (f) acima, se as técnicas de radiografia computadorizada (CR),
requisitos obrigatórios. O verbo “deve” deve ser usado radiografia digital (DR), ultrassônica phased array
no lugar de “deveria” ao estabelecer requisitos mínimos da prática (PAUT), difração de tempo de voo ultrassônico (TOFD) ou captura
escrita. de matriz completa ultrassônica (FMC) devem ser usados, o
(-b) As disposições do parágrafo 1.5 não são aplicáveis requisitos de treinamento, experiência e exame
a exames específicos e práticos [ver (f) para regras relativas a encontrado no Artigo 1, Apêndice II Obrigatório também deve ser
programas centrais de certificação]. incluído na prática escrita do empregador para cada técnica aplicável.
(-c) Os problemas da máquina são específicos da vibração
análise e não são aplicáveis à prática de NDE (h) Alternativamente, programas de qualificação baseados em
exames.
desempenho, de acordo com ASME ANDE-1-2020, ASME
(-d) A avaliação do desempenho técnico descrita no par. Central de Exames Não Destrutivos e Controle de Qualidade
10.2 será obrigatória antes da recertificação do pessoal de Nível I e Programa de Qualificação e Certificação, pode ser usado para
Nível II. atividades de treinamento, experiência, exame e certificação,
(-e) Além dos requisitos de exame conforme especificado na prática escrita.
do parágrafo 8.7, o pessoal NDT Nível III deve ser exigido
(i) Quando a Seção do Código de referência não especificar
preparar um procedimento escrito para cada método aplicável,
qualificações ou não faz referência direta ao artigo 1º do
atendendo aos requisitos de uma construção ASME ou
nesta Seção, a qualificação pode envolver simplesmente uma
código ou padrão de inspeção em serviço relacionado antes da
demonstração para mostrar que o pessoal que realiza os exames
certificação inicial por cada empregador. Para certificados atualmente
não destrutivos é competente para fazê-lo em
indivíduos, o requisito do procedimento deve ser cumprido
de acordo com o estabelecido pela organização
no próximo evento de recertificação. A avaliação do procedimento
procedimentos.
deve ser realizada por meio de uma lista de verificação escrita que
aborde os itens relacionados aos aspectos técnicos e práticos (j) O usuário deste Artigo é responsável pela qualificação e
adequação do procedimento NDE. Uma passagem mínima certificação do pessoal da NDE de acordo
2
nota de 80% é necessária. Avaliação do procedimento com os requisitos deste artigo. da organização
deve ser realizado pelo NDT Nível III responsável por O Programa de Qualidade deve estipular como isso deve ser
o método aplicável e assim registrados. realizado. Qualificações de acordo com uma edição anterior
(-1) Se o candidato NDT Nível III for obrigado a desta Seção são válidos até a recertificação. A recertificação ou nova
administrar exames práticos para certificação ou realizar exames, certificação deve estar de acordo com o
interpretações ou edição atual desta Seção. Quando qualquer uma das técnicas
avaliações a um código ou norma ASME, o candidato incluídas em (g) acima for usada, os requisitos adicionais desse
deve completar os exames práticos exigidos para um parágrafo também serão aplicados.
Nível II em cada técnica aplicável dentro do método
(k) Certificação limitada de exame não destrutivo
com seu atual empregador.
pessoal que não executa todas as operações de um
(-2) O grau composto para pessoal NDT Nível III deve método não destrutivo que consiste em mais de uma operação, ou
ser determinado pela média simples de cada que realizam exames não destrutivos de
exame exigido, incluindo o procedimento escrito
escopo limitado, pode ser baseado em menos horas de treinamento
e exame prático, conforme o caso, e assim registrados. É necessário
e experiência do que o recomendado em SNT-TC-1A ou
um grau composto de pelo menos 80%.
CP-189. Quaisquer limitações ou restrições impostas à certificação
(-3) O candidato NDT Nível III deve preencher de uma pessoa devem ser descritas na prática escrita e na
os requisitos de (-e) apenas uma vez para o empregador atual. O certificação.
pessoal NDT Nível III não é obrigado a
(l) Tanto as Unidades Usuais dos EUA quanto as Unidades do SI podem ser usadas
preencher os requisitos de (-e) para recertificação.
pelo cumprimento de todos os requisitos desta edição, mas
(2) ANSI/ASNT CP-189 (Edição de 2020),1 Norma ASNT para
um sistema deve ser usado de forma consistente para todos
Qualificação e Certificação de Não Destrutivos
fases de construção.
Pessoal de Teste, exceto que as disposições do para. 1,5
não são aplicáveis a exames específicos e práticos (1) Tanto as Unidades Usuais dos EUA quanto as Unidades do SI que
[ver (f) para regras relativas à certificação central estão listados na Seção V, Apêndice II obrigatório (no verso
programas]. da Seção V e listados em outros livros de Código) são identificados
(f) Programas de certificação central nacionais ou internacionais, no texto, ou são identificados na nomenclatura para equações
como programas baseados na ISO 9712, podem ser usados devem ser usados consistentemente para todas as fases da
alternativamente para cumprir a prática escrita construção (por exemplo, materiais, projeto, fabricação e relatórios).
requisitos de (e) para treinamento, experiência, exame geral, exame Como os valores nos dois sistemas não são equivalentes exatos,
básico e exame de método, cada sistema deve ser usado independentemente do outro
conforme aplicável. sem misturar unidades usuais dos EUA e unidades do SI.
2
(2) Quando as Unidades SI são selecionadas, os valores usuais organização para estabelecer procedimentos de exame não destrutivo
dos EUA nas especificações referenciadas que não contêm Unidades e procedimentos de qualificação e certificação de pessoal em
SI devem ser convertidos em valores SI com pelo menos três conformidade com os requisitos referenciados. (d) Quando a
algarismos significativos para uso em cálculos e outros aspectos da qualificação do procedimento de exame escrito for exigida pela
construção.
Seção do Código de referência, uma demonstração de qualificação
deve ser realizada antes da aceitação dos exames de produção. A
demonstração de qualificação deve ser realizada (1) sob o controle e
EQUIPAMENTO T-130 supervisão de um Examinador de Nível III
qualificado e certificado para realizar o método e técnica de
É responsabilidade do Usuário do Código garantir que o
exame especificados pelo procedimento e deve ser testemunhada
equipamento de exame usado esteja em conformidade com os
pelo Inspetor. O nível III de supervisão pode ser um funcionário da
requisitos desta Seção do Código.
organização qualificada ou de uma organização subcontratada.
ð23Þ
PROCEDIMENTO T-150
(2) em um mínimo de uma amostra de teste com defeitos cujo
(a) Quando exigido pela Seção do Código de referência, todos os tamanho, localização, orientação, quantidade e caracterização foram
exames não destrutivos realizados sob esta Seção do Código devem determinados antes da demonstração e são conhecidos apenas pelo
ser realizados seguindo um procedimento escrito. examinador de nível III supervisor. (-a) O tamanho máximo aceitável
(1) O procedimento de exame deve cumprir os requisitos da falha, a orientação necessária da falha e o número mínimo
aplicáveis desta Seção para o método de exame específico. Uma de falhas devem ser especificados pela Seção do Código de
cópia de cada procedimento deve estar prontamente disponível para referência. (-b) Defeitos naturais são preferidos a
o pessoal da NDE para sua referência e, mediante solicitação, para defeitos artificiais sempre que possível.
o Inspetor.
(2) O Inspetor deve estar satisfeito com a capacidade de um
(3) por um examinador de nível II ou nível III (que não seja o
procedimento para detectar descontinuidades relevantes por meio de
supervisor de nível III) qualificado e certificado para realizar o método
sua aplicação em um exame de demonstração em uma amostra com
e a técnica de exame especificados pelo procedimento escrito.
pelo menos uma descontinuidade conhecida, exceto quando
especificado de outra forma pela Seção do Código de referência.
Quando exigido pela Seção do Código de referência, uma O procedimento será considerado qualificado quando o Nível III
demonstração pessoal pode ser usada para verificar a capacidade supervisor e o Inspetor estiverem convencidos de que as indicações
do examinador de aplicar o procedimento de exame. produzidas pelo procedimento demonstrado revelam o tamanho,
localização, orientação, quantidade e caracterização das falhas
(b) Os métodos e técnicas de exame não destrutivo incluídos
conhecidas presentes no corpo de prova examinado.
nesta Seção são aplicáveis à maioria das configurações geométricas
e materiais encontrados na fabricação sob condições normais.
Sempre que configurações ou materiais especiais exigirem métodos A demonstração de qualificação deve ser documentada
e técnicas modificados, a organização deve desenvolver procedimentos conforme exigido pela Seção do Código de referência e por esta
especiais que sejam equivalentes ou superiores aos métodos e Seção, conforme estabelecido no Artigo aplicável para o método de
técnicas descritos nesta Seção do Código e que sejam capazes de exame e no Apêndice aplicável para a técnica de exame especificada.
produzir resultados de exame interpretáveis sob condições especiais. O documento de qualificação deve ser anotado para indicar a
Tais procedimentos especiais podem ser modificações ou qualificação do procedimento escrito e identificar o corpo de prova
combinações de métodos descritos ou referenciados nesta Seção do examinado. O nome e/ou identidade e assinatura do Nível III
Código. Uma demonstração de procedimento deve ser realizada em supervisor e do Inspetor testemunha devem ser adicionados para
uma amostra com pelo menos uma descontinuidade conhecida, ou indicar sua aceitação da qualificação do procedimento.
por outros meios aceitáveis para a Seção do Código de referência e
para o Inspetor. Isso verificará se a técnica é capaz de detectar
descontinuidades sob condições especiais iguais às capacidades do
método quando usado sob condições mais gerais. Esses
procedimentos especiais devem ser submetidos ao Inspetor para
aceitação quando exigido pela Seção do Código de referência e T-160 CALIBRAÇÃO
devem ser adotados como parte do programa de controle de
qualidade do Fabricante. (a) A organização deve assegurar que todas as calibrações de
equipamentos exigidas pela Subseção A e/ou Subseção B sejam
executadas.
(c) Quando uma Seção do Código de referência exigir que um (b) Quando procedimentos especiais são desenvolvidos [ver
exame seja realizado de acordo com os requisitos desta Seção, será T-150(b)], o Usuário do Código deve especificar qual calibração é
responsabilidade do necessária, quando a calibração é necessária.
3
T-170 EXAMES E INSPEÇÕES T-190 REGISTROS/DOCUMENTAÇÃO
(a) O Inspetor responsável pela fabricação do (a) A documentação e os registros devem ser preparados conforme
vaso ou parte de pressão terá o dever de verificar para especificado pela Seção do Código de referência e pelos requisitos
a satisfação do Inspetor de que todos os exames necessários aplicáveis desta Seção. registros de exame
pela Seção do Código de referência foram feitas de acordo com os deve incluir, no mínimo, as seguintes informações:
requisitos desta Seção e a referência (1) data do exame
documento(s). O Inspetor terá o direito de testemunhar qualquer um (2) nome e/ou identidade e nível de certificação (se
desses exames na medida indicada em aplicável) para o pessoal que realiza o exame
o(s) documento(s) de referência. Ao longo desta Seção de (3) identificação da solda, peça ou componente examinado,
o Código, a palavra Inspetor deve ser definida e qualificada conforme incluindo número da solda, número de série ou outro
exigido pela Seção do Código de referência ou pelo(s) documento(s) identificador
de referência. (4) método de exame, técnica, identificação do procedimento e
(b) A distinção especial estabelecida nas diversas revisão
Seções do código entre inspeção e exame e (5) resultados do exame
o pessoal que os executa também é adotado neste (b) Qualificação do pessoal e desempenho do procedimento
Seção de Código. Em outras palavras, o termo inspeção se aplica demonstrações realizadas em conformidade com os requisitos de
às funções desempenhadas pelo Inspetor, mas o termo T-150(a) ou T-150(b) devem ser documentadas
exame se aplica a essas funções de controle de qualidade conforme especificado pela seção de código de referência.
executados por pessoal empregado pela organização. (c) Quando os requisitos de documentação para o pessoal
Uma área de desvio ocasional dessas distinções demonstrações de desempenho de qualificação e procedimento
existe. Nos métodos padrão ASTM e recomendados realizado de acordo com os requisitos de
Práticas incorporadas a esta Seção do Código por referência ou por T-150(a) ou T-150(b) não são especificados pela referência
reprodução na Subseção B, as palavras inspeção ou Inspetor, que Seção de Código, as seguintes informações devem ser registradas
ocorrem frequentemente no texto ou no mínimo:
títulos dos documentos ASTM referenciados, podem realmente (1) nome da organização responsável pela preparação
descrever o que o Código chama de exame ou examinador. Esse e aprovação do procedimento de exame
situação existe porque a ASTM não precisa se preocupar com as (2) método de exame aplicado
distinções que o Código faz entre inspeção e exame, uma vez que (3) número ou designação do procedimento
as atividades da ASTM (4) número e data da revisão mais recente
e documentos não envolvem o Inspetor descrito (5) data da demonstração
nas seções do código. No entanto, nenhuma tentativa foi feita (6) nome e/ou identidade e nível de certificação (se
editar os documentos ASTM para conformidade com o uso do Código; aplicável) do pessoal realizando demonstração
isso não deve causar nenhuma dificuldade se os usuários desta Seção (d) Retenção de registros de exame e documentação relacionada
reconhecem que os termos inspeção, teste e exame nos documentos (por exemplo, radiografias e formulários de revisão, ultrassom
ASTM referenciados na Subseção B digitalizar arquivos, etc.) deve ser conforme especificado pela referência
não descrevem as funções do Inspetor , mas descrevem Seção de Código.
as coisas a serem feitas pelo exame da organização (e) As imagens digitais e o software de revisão devem ser retidos
pessoal. em um sistema de retenção de registros apropriado que
é capaz de armazenar e recuperar dados com segurança para o
período de tempo especificado pela Seção do Código de referência.
AVALIAÇÃO T-180
Os critérios de aceitação para os métodos NDE neste

A Seção deve ser conforme indicado na Seção do Código de referência,
e quando previsto nos Artigos desta Seção. Os critérios de aceitação
na Seção de Código de referência devem levar
precedência.
4
ANEXO OBRIGATÓRIO I
GLOSSÁRIO DE TERMOS PARA EXAME NÃO DESTRUTIVO
I-110 ESCOPO imperfeição: um desvio de uma característica de qualidade de sua

condição pretendida.
Este Apêndice Obrigatório é usado com a finalidade de estabelecer
termos padrão e as definições desses termos para a Seção V. indicação: a resposta ou evidência de um exame não destrutivo que
requer interpretação para determinar a relevância.
inspeção: a observação de qualquer operação realizada em materiais e/

I-120 REQUISITOS GERAIS ou componentes para determinar sua capacidade de aceitação de
acordo com determinados critérios.
Os termos e definições fornecidos neste Apêndice se aplicam aos
métodos e técnicas de exame não destrutivo descritos na Seção V. interpretação: o processo de determinar se uma indicação é não
Alguns termos são idênticos aos fornecidos na ASTM E1316, enquanto relevante ou relevante, que pode incluir a determinação do tipo de
outros são específicos do Código. Os termos são agrupados por método indicação e/ou outros dados necessários para aplicar os critérios de
de exame, na ordem dos Artigos contidos na Seção V. avaliação estabelecidos para aceitação ou rejeição.
certificação limitada: um credenciamento da qualificação de um indivíduo

I-121 TERMOS GERAIS para realizar algumas, mas não todas as operações dentro de um
determinado método ou técnica de exame não destrutivo que consiste
área de interesse: a parte específica do objeto que deve ser avaliada
em uma ou mais de uma operação, ou para realizar exames não
conforme definido pela Seção de Código de referência.
destrutivos dentro de um escopo limitado de responsabilidade.
defeito: uma ou mais falhas cujo tamanho agregado, forma ou orientação,
localização ou propriedades não atendem aos critérios de aceitação
lux (lx): uma unidade de iluminação igual à iluminação direta em uma
especificados e são rejeitáveis.
superfície que está em todos os lugares a 1 m de uma fonte pontual
descontinuidade: falta de continuidade ou coesão; uma interrupção uniforme de intensidade de uma vela ou igual a 1 lm/m2 .
intencional ou não intencional na estrutura física ou configuração de um
material ou componente. método: a seguir está uma lista de métodos de exame não destrutivos
e respectivas abreviações usadas no escopo da Seção V:
avaliação: determinação se uma indicação relevante é motivo para
aceitar ou rejeitar um material ou componente.
RT - Radiografia
UT - Ultrassom
exame: o processo de determinação da condição de uma área de MT - Partícula Magnética
interesse por meios não destrutivos contra critérios estabelecidos de PT - Líquidos Penetrantes
aceitação ou rejeição. VT - Visuais
indicação falsa: uma indicação de NDE que é interpretada como sendo LT - Teste de Vazamento
causada por uma condição diferente de uma descontinuidade ou ET — Eletromagnético (Corrente Foucault)
AE - Emissão Acústica
imperfeição.
falha: uma imperfeição ou descontinuidade que pode ser detectada por exame não destrutivo (NDE): o desenvolvimento e aplicação de métodos
testes não destrutivos e não é necessariamente rejeitável. técnicos para examinar materiais e/ou componentes de forma que não
prejudiquem a utilidade futura e a manutenção, a fim de detectar,
localizar, medir, interpretar e avaliar falhas.
caracterização da falha: o processo de quantificar o tamanho, forma,
orientação, localização, crescimento ou outras propriedades de uma
indicação não relevante: uma indicação de NDE que é causada
falha com base na resposta da EQM.
por uma condição ou tipo de descontinuidade que não é rejeitável.
footcandle (fc): a iluminação em uma superfície, 1 ft2 de área, na qual é Indicações falsas não são relevantes.
distribuído uniformemente um fluxo de 1 lúmen (lm). É igual a 10,76 lm/
m2 . operação: uma fase específica de um método ou técnica.
5
demonstração de pessoal: quando um indivíduo demonstra compreensão técnica de exame automatizado: um exame radiográfico bidimensional no
do método de exame e proficiência na condução do exame, realizando qual a fonte de radiação e o detector são mantidos em uma posição fixa
um exame de demonstração usando o procedimento de exame não predeterminada e, em seguida, movidos em uma progressão controlada
destrutivo escrito do empregador. para realizar o exame. Alternativamente, a fonte e o detector podem
permanecer estacionários enquanto o componente é movido para realizar
o exame.
procedimento: uma sequência ordenada de ações que descrevem como
uma técnica específica deve ser aplicada.
radiação retroespalhada: radiação que é espalhada mais de 90 graus em
demonstração de procedimento: quando um procedimento escrito é
relação ao feixe incidente, ou seja, para trás na direção geral da radiação
demonstrado, para satisfação do Inspetor, aplicando o método de exame
usando o procedimento de exame não destrutivo escrito do empregador fonte.
para demonstrar conformidade com os requisitos desta Seção, sob
pixel ruim: um pixel de matriz de detector digital que não está em
conformidade com um desempenho especificado. Critérios de pixels ruins
(a) condições normais de exame conforme T-150(a), ou (b)
podem incluir, mas não estão limitados a, não responder, responder
condições especiais conforme descrito em T-150(b).
demais, responder mal, barulhento, não uniforme ou não persistente ou
qualificação do procedimento: quando um procedimento de exame não vizinhança ruim; pixels defeituosos não persistentes podem apresentar
destrutivo escrito é qualificado de acordo com os requisitos detalhados da oscilação ou desempenho de atraso insatisfatório.
Seção do Código de referência. mapa de pixels ruins: uma imagem binária que representa as localizações
físicas de pixels ruins em uma matriz de detectores digitais.
padrão de referência: um material ou objeto para o qual todas as profundidade de bits: o número de bits usados para armazenar um valor.
características químicas e físicas relevantes são conhecidas e mensuráveis,
usado como comparação ou padronização de equipamentos ou padrão de teste de par de linha calibrado: veja padrão de teste de par de
instrumentos usados para testes não destrutivos. linha óptica.
filme de cunha de passo calibrado: uma radiografia com passos de

densidade discretos, que é rastreável a um padrão nacional.
indicação relevante: uma indicação de NDE causada por uma condição ou
tipo de descontinuidade que requer avaliação. cassete: um recipiente à prova de luz para conter mídia de gravação
radiográfica durante a exposição, por exemplo, filme, com ou sem
intensificação ou telas de conversão.
sensibilidade: uma medida do nível de resposta de uma descontinuidade
por um exame não destrutivo. cluster kernel pixel (CKP): pixels que não possuem cinco ou mais pixels de
Padrão: boa vizinhança.
(a) uma referência física usada como base para comparação ou visualização composta: a visualização de duas ou mais radiografias
calibração. sobrepostas de uma exposição de filme múltiplo.
(b) um conceito estabelecido por autoridade, costume ou acordo para radiografia computadorizada (CR) (método de luminescência
servir de modelo ou regra na medição da qualidade ou no fotoestimulada): um processo de imagem radiográfica em duas etapas.
estabelecimento de uma prática ou procedimento. Primeiro, uma placa de fósforo de armazenamento é exposta à radiação
penetrante; em segundo lugar, a luminescência do fósforo luminescente
fotoestimulável da placa é detectada, digitalizada e exibida em um monitor.
técnica: uma técnica é uma maneira específica de utilizar um determinado
método de exame não destrutivo (END).
sensibilidade ao contraste: uma medida da variação percentual mínima em
dados não processados: os dados originais registrados antes de qualquer
um objeto que produz uma alteração perceptível de densidade/brilho na
modificação, transformação ou aprimoramento pós-exame.
imagem radiológica.
sensibilidade ao contraste (conforme o Apêndice VI obrigatório): o tamanho

luz visível (luz branca): radiação eletromagnética na faixa de comprimento
da menor alteração detectável na densidade óptica.
de onda de 400 nm a 700 nm (4 000 Å a 7 000 Å).
alongamento de contraste: uma função que opera nos valores da escala
de cinza em uma imagem para aumentar ou diminuir o contraste da imagem.
I-121.1 RT — Radiografia.
imagem corrigida: uma imagem de matriz de detector digital cujos pixels
imagem analógica: uma imagem produzida por um processo físico bons são compensados e corrigidos por ganho e cujos pixels ruins foram
continuamente variável (por exemplo, exposição de filme). substituídos por valores interpolados.
anotar: fornecer uma nota explicativa sobre a imagem digital. compressão de dados: uma redução no tamanho de um conjunto de dados digital
para um conjunto de dados menor.
6
densitômetro: um dispositivo para medir a densidade óptica do filme sensibilidade IQI equivalente: a espessura do IQI do tipo furo, expressa
de radiografia. como uma porcentagem da espessura da peça, na qual o furo 2T seria
visível nas mesmas condições radiográficas.
densidade (filme): veja densidade do filme.
deslocamento de densidade: uma função que aumenta ou diminui todos os valores meio óptico apagável: um meio de armazenamento apagável e
de densidade/escala de cinza igualmente, de modo que o contraste seja mantido regravável em que os dados digitais são representados pelo grau de
dentro do conjunto de dados.
refletividade da camada de gravação do meio; os dados podem ser
alterados.
fio designado: o fio específico que deve ser discernível na imagem
radiográfica de um indicador de qualidade de imagem do tipo fio. orifício essencial: o orifício específico que deve ser discernível na
imagem radiográfica de um IQI do tipo orifício.
diafragma: uma abertura (abertura) em um material opaco à radiação densidade do filme: a medida quantitativa da transmissão de luz óptica
que limita o tamanho do feixe utilizável de uma radiação difusa (densidade óptica, escurecimento) através de um filme revelado.
fonte.
digital: a representação de dados ou quantidades físicas na forma de

códigos discretos, como caracteres numéricos, em vez de um fluxo
contínuo. onde
matriz de detector digital (DDA): um dispositivo eletrônico que converte D = densidade óptica
radiação ionizante ou penetrante em uma matriz discreta de sinais I = intensidade da luz transmitida
analógicos que são posteriormente digitalizados e transferidos para I o= intensidade da luz incidente no filme
um computador para exibição como uma imagem digital correspondente
ponto focal: para geradores de raios X, a área do ânodo (alvo) de um
ao padrão de energia radiológica transmitido na região do dispositivo.
tubo de raios X que emite raios X quando bombardeado com elétrons.
sistema detector digital (DDS): um sistema de imagem digital que usa,

névoa: um termo geral usado para denotar qualquer aumento na
mas não está limitado a, um DDA ou LDA como detector.
densidade óptica de uma emulsão fotográfica processada causada por
qualquer coisa que não seja a ação direta da radiação que forma a
imagem digital: uma imagem composta por pixels discretos, cada um imagem e devido a um ou mais dos seguintes:
dos quais é caracterizado por um nível de luminância representado (a) envelhecimento: deterioração, antes ou depois da exposição, ou
digitalmente. ambas, resultante de um meio de gravação que foi armazenado por
um período de tempo muito longo, ou outras condições impróprias.
sistema de aquisição de imagem digital: um sistema de componentes
eletrônicos que, detectando diretamente a radiação ou convertendo (b) base: a densidade uniforme mínima inerente a uma emulsão
informações analógicas de detecção de radiação, cria uma imagem processada sem exposição prévia. (c) químico:
do mapa de intensidade de radiação espacial composta por uma resultante de reações indesejadas durante o processamento
matriz de valores discretos de intensidade digital (ver pixel) . químico. (d) dicróica:
caracterizada pela produção de colloi
prata dal dentro da camada sensível desenvolvida.
radiografia digital (DR): todos os métodos de radiografia em que os
(e) exposição: decorrente de qualquer exposição indesejada de
dados da imagem são armazenados em formato digital.
uma emulsão à radiação ou luz ionizante em qualquer momento entre
digitalizar (para radiologia): o ato de converter uma imagem ou sinal a fabricação e a fixação final.
analógico em uma apresentação digital. (f) oxidação: causada pela exposição ao ar durante a revelação. (g)
fotográfico:
tamanho do pixel de exibição: as dimensões de comprimento e largura decorrente apenas das propriedades de uma emulsão e das
do menor elemento de uma imagem exibida. condições de processamento, por exemplo, o efeito total do nevoeiro
inerente e do nevoeiro químico.
faixa dinâmica: a faixa de operação de um dispositivo entre seus
(h) limite: a densidade mínima uniforme inerente a
limites superior e inferior; esta faixa pode ser dada como uma razão
uma emulsão processada sem exposição prévia.
(por exemplo, 100:1) da capacidade máxima de limite de nível de
sinal para seu nível de ruído, o número de passos mensuráveis entre correção de ganho: uma imagem de campo plano corrigida por matriz
os limites superior e inferior, o número de bits necessários para de detector digital que resulta da divisão de padrões de não
registrar este número mensurável etapas, ou os valores máximos e uniformidade da imagem de campo plano não corrigida.
mínimos mensuráveis.
falta de nitidez geométrica: a sombra penumbral em uma imagem
faixa dinâmica (conforme o Apêndice VI obrigatório): a extensão da radiológica, que depende (a) das dimensões da
densidade óptica mensurável obtida em uma única varredura. fonte de radiação
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(b) distância fonte-objeto tela fluorescente: uma tela que consiste em um revestimento de
(c) distância objeto-detector fósforos que fluorescem quando expostos a raios X ou

radiação gama.
imagem: a representação digital de um alvo no filme de referência usado
tela metálica fluorescente: uma tela que consiste em uma folha metálica
para avaliar os aspectos de digitalização e exibição de um sistema de
(geralmente chumbo) revestida com um material que fluoresce quando
digitalização de filme.
exposto a raios-X ou radiação gama. O
Formato de imagem: a superfície revestida é colocada próxima ao filme para fornecer
fluorescência; o metal funciona como uma tela de metal normal.
formato de imagem negativa: o formato em que uma área de objeto
de menor espessura de material e/ou menor densidade de material IQI: indicador de qualidade de imagem.
produz uma área mais escura correspondente na imagem resultante, e

Sensibilidade do IQI: na radiografia, o mínimo discernível
onde uma área de objeto de maior material
imagem e o orifício designado no tipo de placa, ou
espessura e/ou maior densidade do material produz um
a imagem de fio designada na qualidade de imagem do tipo de fio
área mais clara correspondente na imagem resultante. Para indicador.
Por exemplo, a radiografia de filme tradicional e outras técnicas exibem
um formato de imagem negativa. resolução de pares de linhas: o número de pares de linhas por unidade
de distância que são detectáveis em uma imagem.
formato de imagem positiva: o formato em que uma área de objeto
de menor espessura de material e/ou menor densidade de material pares de linhas por milímetro: uma medida da resolução espacial de um
produz uma área correspondente mais brilhante na imagem resultante, e dispositivo de conversão de imagem. Um padrão de teste de par de linhas
onde uma área de objeto de maior material consistindo em um ou mais pares de largura igual, linhas de alto contraste
espessura e/ou maior densidade de material produz uma área mais e espaços é utilizado para determinar o
escura correspondente na imagem resultante. Para densidade máxima de linhas e espaços que podem ser digitalizados com
por exemplo, técnicas como radioscopia, radiografia computadorizada, sucesso. O valor é expresso em pares de linhas por
radiografia digital e tomografia computadorizada milímetro.
pode exibir um formato de imagem positivo. modalidades digitais

padrão de teste de par de linhas: um padrão de um ou mais pares de
pode exibir um formato de imagem positivo ou negativo.
objetos com linhas de alto contraste de igual largura e igual
processamento de imagem: um método pelo qual os dados de imagem digital são espaçamento. O padrão é usado com um dispositivo de imagem para
transformada através de uma função matemática. medir a resolução espacial.
marcador de localização: um número ou letra feita de chumbo (Pb) ou

sistema de processamento de imagem: um sistema que usa matemática
outro material altamente atenuador de radiação que é colocado
algoritmos para manipular dados de imagens digitais.
em um objeto para fornecer rastreabilidade entre um determinado
indicador de qualidade de imagem: como segue: área na imagem e na peça.
tipo de furo: uma placa retangular, feita de material rádio graficamente log transform: uma função que aplica um logarítmico
semelhante ao do objeto radiografado, com furos de pequeno diâmetro mapeamento para todos os valores de densidade/escala de cinza em uma imagem; esse
(1T, 2T e 4T) A operação geralmente é realizada quando a distribuição resultante é

usado para verificar a qualidade da imagem da radiografia. normal ou se a relação resultante com outra variável é linear.
tipo de fio: um conjunto de fios de pequeno diâmetro, feitos de material

radiograficamente semelhante ao do objeto a ser Luminosidade: uma medida da intensidade da luz emitida.
radiografado, usado para verificar a qualidade da imagem do

meio de armazenamento magnético: um meio de armazenamento que usa
radiografia.
propriedades magnéticas (dipolos magnéticos) para armazenar digital
dados (por exemplo, um tambor, disco ou fita em movimento ou uma
sistema de armazenamento de imagens: um sistema que pode armazenar dados
núcleo ou filme).
de imagens digitais para uso futuro.
função de transferência de modulação (MTF): uma medida de espaço

tela intensificadora: um material que converte uma parte do
resolução em função do contraste; um gráfico dessas variáveis (resolução
energia radiográfica em luz ou elétrons e que, quando
espacial e contraste) produz uma curva que representa a resposta de
em contato com um meio de gravação durante a exposição, melhora a
frequência do sistema.
qualidade da radiografia ou reduz o tempo de exposição necessário para
produzir uma radiografia, ou ambos. tablet passo padrão nacional: um filme de raios-X com discreta
Três tipos de telas são de uso comum. etapas de densidade produzidas e certificadas por um órgão de
padronização reconhecido nacionalmente.
tela de metal: uma tela composta de metal denso (geralmente chumbo)
ou de um composto de metal denso (por exemplo, chumbo mídia óptica não apagável (disco óptico): uma mídia de armazenamento
óxido) que emite elétrons primários quando exposto a que impede o apagamento ou alteração de dados digitais após
Raios X ou radiação gama. ele é armazenado.
8
correção de deslocamento: uma imagem escura corrigida por matriz de tela: termo alternativo para intensificar a tela.
detectores digitais que resulta da subtração de padrões escuros e do sinal
sensibilidade: o menor detalhe discernível e/ou alteração de contraste (por
escuro integrado da imagem escura não corrigida.
exemplo, orifício ou fio IQI) em uma imagem radiográfica.
densidade óptica: o grau de opacidade de um meio translúcido calço: um material, radiograficamente semelhante ao objeto a ser
(escurecimento do filme) expresso da seguinte forma: radiografado, que é colocado entre um IQI tipo furo e o objeto com o
objetivo de reduzir a densidade radiográfica através da imagem do IQI tipo
furo.
fonte: uma máquina ou material radioativo que emite radiação penetrante.

onde
I = intensidade da luz transmitida através do filme

lado da fonte: aquela superfície da área de interesse sendo radiografada
IO = intensidade de luz incidente no filme
para avaliação mais próxima da fonte de radiação.
OD = densidade óptica
cunha de degrau de densidade óptica: uma imagem radiográfica de uma

cunha de degrau mecânica com incrementos de espessura precisos e pode linearidade espacial: a precisão com que um sistema de digitalização
ser usada para correlacionar a densidade do filme óptico com a espessura reproduz as dimensões físicas da informação no filme original [nas direções
do material, também conhecida como pastilha de degrau. horizontal (ao longo de uma única linha de varredura) e vertical (de uma
linha de varredura para outra)].
penetrômetro: não é mais usado no Artigo 2; consulte o indicador de
qualidade de imagem.
resolução espacial: o tamanho do menor elemento detectável da imagem
fósforo luminescente fotoestimulável: cápsula de fósforo capaz de
digitalizada.
armazenar uma imagem radiológica latente que, mediante estimulação a
laser, gerará luminescência proporcional à intensidade da radiação. cunha de degraus: um dispositivo com incrementos de espessura de degraus
discretos usado para obter uma imagem com valores de degraus de densidade
discretos.
pixel: o menor elemento endereçável em uma imagem eletrônica.
filme de calibração de cunha de passo: um filme processado com etapas
de densidade discretas que foram verificadas em comparação com um
correção de pixel: o detector digital não conforme coloca pixels ruins em
tablet de etapa padrão nacional.
locais específicos que são corrigidos substituindo os valores de pixel
originais pela média dos valores de pixel vizinhos. filme de comparação de cunha de passo: um filme processado com passos
de densidade discretos que foram verificados pelo uso de um densitômetro
calibrado, que é usado para determinar se as radiografias de produção
valor de intensidade de pixel: o valor numérico de um pixel em uma
atendem aos limites de densidade.
imagem digital.
artefatos induzidos pelo sistema: anomalias criadas por um sistema durante

tamanho do pixel: o comprimento e a largura de um pixel.
a aquisição, processamento de exibição ou armazenamento de uma
quantificação: o ato de determinar ou expressar uma quantidade (isto é, imagem digital.
dar um valor numérico a uma medida de algo).
alvo: um padrão físico em um filme de referência usado para avaliar o
desempenho de um sistema de digitalização de filme.
radiografia: uma imagem visível vista para aceitação que é criada por
radiação penetrante agindo em um meio de registro; filme em um pixels com baixo desempenho: pixels com resposta insuficiente cujos
visualizador ou imagens eletrônicas em um monitor. valores de cinza são inferiores a 0,6 vezes o valor médio de cinza de uma
área de no mínimo 21 × 21 pixels. Este teste é feito em uma imagem com
correção de offset.
exame radiográfico: um método não destrutivo para detectar
descontinuidades em materiais e componentes usando radiação penetrante nível da janela: a faixa numérica da luminância exibida, usada para ajustar
e mídia de gravação para produzir uma imagem. o brilho exibido de uma imagem.
mídia de gravação: material capaz de capturar ou armazenar, ou ambos, largura da janela: a faixa numérica de valores de pixel que são atribuídos à
uma imagem radiológica em formato digital ou analógico. faixa de luminância exibida, usada para ajustar o contraste exibido de uma
imagem.
filme de referência: um único filme radiográfico industrial que engloba os
alvos necessários para a avaliação e quantificação das características de WORM (write once read many): um termo relacionado a um tipo de mídia
desempenho de um sistema de digitalização de filmes. de armazenamento digital em que os dados podem ser armazenados
apenas uma vez, mas acessados (não destrutivamente) várias vezes.
9
I-121.2 UT — Ultrassom. sinal de parede traseira: onda sonora que viaja entre os dois transdutores
ð23Þ
com uma velocidade longitudinal que reflete na superfície traseira do
pulso acústico: a duração de tempo entre o início e o fim do sinal quando material.
a amplitude atinge 10% da amplitude máxima.
linha de base: o tempo de voo ou traço de distância (horizontal) no display
A-scan CRT (para nenhuma condição de sinal).
método de foco total adaptativo (ATFM): um processo iterativo do método
de foco total (TFM) aplicado tipicamente a meios de comunicação em propagação do feixe: uma divergência do feixe ultrassônico à medida que
camadas para identificar a geometria da interface de refração ou reflexão, o som viaja através de um meio.
ou ambos, que permite o processamento do TFM através de tais interfaces
B-scan (varredura paralela): varredura que mostra os dados coletados ao
sem o conhecimento prévio ou suposição da geometria.
varrer o par de transdutores na direção do feixe de som transversalmente
através de uma solda.
refletor alternativo: um refletor, diferente do refletor especificado, cuja
Apresentação B-scan: um meio de apresentação de dados ultrassônicos
resposta ultrassônica foi ajustada para ser igual ou maior que a resposta
que exibe uma seção transversal da amostra, indicando o comprimento
do refletor especificado no mesmo caminho do som no bloco de calibração
aproximado (conforme detectado por varredura) dos refletores e suas
básica.
posições relativas.
calibração: correlação da(s) resposta(s) do sistema ultrassônico com o(s)

amplitude: a altura do pulso vertical de um sinal, geralmente da base ao
refletor(es) de calibração.
pico, quando indicada por uma apresentação A-scan.
refletor de calibração: um refletor com uma superfície dimensionada que
feixe angular: um termo usado para descrever um ângulo de incidência ou
é usado para fornecer um nível de referência reproduzível com precisão.
refração diferente do normal à superfície do objeto de teste, como no
exame de feixe angular, unidade de busca de feixe angular, ondas
longitudinais de feixe angular e ondas de cisalhamento de feixe angular. direção circunferencial: direção do feixe de som perpendicular ao eixo
principal (cilíndrico) do componente.
A-scan: um método de apresentação de dados que utiliza uma linha de captura de matriz completa clássica (FMC): um subconjunto do FMC
base horizontal que indica distância, ou tempo, e uma deflexão vertical da elementar no qual o conjunto de elementos transmissores é idêntico ao
linha de base que indica amplitude. conjunto de elementos receptores.
atenuação: fator que descreve a diminuição da intensidade do ultrassom recorte: veja rejeitar.
com a distância; normalmente expresso em decibéis por unidade de
S-scan composto: conjunto de leis focais usando uma série de movimentos
comprimento.
de feixe em forma de leque através de uma gama definida de ângulos e
atenuador: um dispositivo para alterar a amplitude de uma indicação ultra- elementos. O composto S-scan combina o E-scan e o S-scan em um único
sônica em incrementos conhecidos, geralmente decibéis. grupo de aquisição.
escâner automatizado: escâner totalmente mecanizado que, após ser imagem computadorizada: exibição processada por computador ou análise
acoplado ao componente, mantém um índice e a posição de deslocamento e exibição de dados ultrassônicos para fornecer superfícies bidimensionais
da unidade de busca. O scanner é manipulado por um controlador de ou tridimensionais.
motor independente e não requer manuseio manual durante a operação.
teste de contato: técnica na qual a unidade de busca entra em contato
diretamente com o corpo de prova através de uma fina camada de
exames ultrassônicos automatizados (AUT): técnica de exame ultrassônico acoplante.
realizada com equipamentos e unidades de busca montados e guiados
acoplante: uma substância usada entre a unidade de busca e a superfície
mecanicamente, operados remotamente e controlados por motor
de exame para permitir ou melhorar a transmissão de energia ultrassônica.
(acionados) sem ajustes pelo técnico. O equipamento usado para realizar
os exames é capaz de registrar os dados de resposta ultrassônica,
incluindo as posições de varredura, por meio de dispositivos de codificação CRT: tubo de raios catódicos.
integral, de modo que a imagem dos dados adquiridos possa ser realizada.
C-scan: uma apresentação de dados ultrassônicos que fornece uma visão
plana do objeto de teste e suas descontinuidades.
amortecimento, unidade de busca: limitação da duração de um sinal de

direção axial: direção do feixe de som paralela ao eixo maior do
uma unidade de busca sujeita a uma entrada pulsada, diminuindo
componente.
eletricamente ou mecanicamente a amplitude de ciclos sucessivos.
reflexão traseira: resposta do sinal do limite distante do material sob exame.
decibel (dB): vinte vezes o logaritmo de base dez da razão de duas

eco de parede traseira: uma reflexão especular da parede traseira do amplitudes de sinal ultrassônico, dB = 20 log 10 (razão de amplitude).
componente que está sendo examinado.
10
sinais difratados: ondas difratadas da parte superior e E-scan (também chamado de varredura eletrônica): uma única lei focal
pontas inferiores de falhas resultantes da interação das falhas multiplexada, através de um agrupamento de elementos ativos,
com a onda sonora incidente. para um feixe de ângulo constante escalonado ao longo do Phased Array
comprimento da sonda em etapas incrementais definidas.
difração: quando a direção da frente de onda foi alterada
por um obstáculo ou outra falta de homogeneidade em um meio, outro modo de imagem uniforme: um modo de imagem do método de foco total
do que por reflexão ou refração. (TFM) em que o modo calculado tem o mesmo número de pernas na
transmissão e na recepção, por exemplo, T–T e
densidade da grade de exibição: o espaçamento no qual a imagem do TT-TT.
método de foco total (TFM) é exibida.
cobertura do exame: feixe de unidade de busca bidirecional
Curva de correção de distância-amplitude (DAC): consulte
cobertura, paralela e perpendicular à solda
curva de resposta distância-amplitude.
eixo, do volume especificado pela seção de código de referência. Feixes
unitários de busca orientados perpendicularmente são direcionados de
curva de resposta distância-amplitude: uma curva que mostra a
ambos os lados da solda, quando possível, com
relação entre as diferentes distâncias e as amplitudes da resposta
o(s) ângulo(s) selecionado(s) para serem apropriados para a configuração
ultrassônica de alvos de tamanho igual
que está sendo examinada.
em um meio de transmissão ultrassônico.
sistema de exame: um sistema que inclui o ultra-som

D-scan: uma apresentação de dados ultrassônicos que fornece uma
instrumento, cabo da unidade de busca e unidade de busca.
vista final do espécime indicando o tamanho aproximado
largura (conforme detectada por varredura) dos refletores e suas posições
lei focal: um arquivo operacional phased array que define o
relativas.
elementos da unidade de busca e seus atrasos de tempo, tanto para o
função de transmissor e receptor.
D-scan (varredura não paralela): varredura que mostra os dados coletados
ao escanear o par de transdutores perpendicularmente
baseado em mecânica da fratura: um padrão para aceitação de um
à direção do feixe de som ao longo de uma solda.
solda com base na categorização de imperfeições por tipo
(ou seja, superfície ou subsuperfície) e seu tamanho (ou seja, comprimento e
unidade de pesquisa de matriz linear dupla: uma unidade de pesquisa que
altura da parede).
incorpora elementos separados de transmissão e recepção
montados em linhas de atraso que são cortadas em um ângulo. Essa
free-run (PA): gravar um conjunto de dados sem mover o
configuração gera feixes que se concentram abaixo da superfície unidades de pesquisa.
da peça de teste, o que diminui consideravelmente a amplitude de reflexão
da superfície.
corrida livre (TOFD): tomada de dados, sem o movimento do
sondas (por exemplo, mantidas estacionárias), da onda lateral e
unidade de busca dupla: uma unidade de busca contendo dois elementos,
reflexão da parede traseira para verificar a saída do software do sistema.
um um transmissor, o outro um receptor.
frequência (inspeção): frequência efetiva da onda ultrassônica do sistema

calibração dinâmica: calibração que é realizada com
usado para inspecionar o material.
a unidade de busca em movimento, geralmente na mesma velocidade
e direção do exame de teste real.
frequência (repetição de pulso): o número de vezes por segundo que uma
unidade de busca eletroacústica é excitada pelo pulso
eco: indicação da energia refletida.
gerador para produzir um pulso de energia ultrassônica. Isso é
também chamado de taxa de repetição de pulso.
altura efetiva: a distância medida do lado de fora
borda do penúltimo elemento usado na lei focal.
captura de matriz completa (FMC): uma matriz onde a gravação
simulador elétrico: dispositivo eletrônico que permite a correlação da (a "captura") de sinais coerentes no domínio do tempo A-scan
resposta do sistema ultrassônico inicialmente obtido empregando o bloco é realizado usando um conjunto de padrões de transmissão e recepção
básico de calibração. combinações dentro de uma abertura de uma matriz, resultando em

cada célula preenchida com um A-scan. Por exemplo, para um FMC
captura de matriz completa elementar: um subconjunto de captura de matriz elementar, o examinador selecionaria n elementos para
completa (FMC) em que cada padrão de transmissão consiste em o padrão de transmissão e m elementos para o padrão de recepção,
apenas um elemento ativo e cada padrão de recepção consiste em um formando uma abertura sintética. A matriz seria
elemento independente. portanto, contém n × m A-scans, tendo no total n elementos transmissores
e m elementos receptores.
exames ultrassônicos manuais codificados (EMUT): uma técnica de exame
ultrassônico realizado manualmente com quadro de captura de matriz completa (FMC): os dados FMC adquiridos
a adição de um codificador e pode ou não incluir um estrutura (não uma região) para um local específico dentro
mecanismo de orientação (ou seja, uma roda ou codificador de corda a varredura gravada; portanto, uma varredura é composta de vários
anexado à unidade de busca ou cunha). quadros.
11
método de captura de matriz completa/ focalização total (FMC/ TFM): um exames ultrassônicos manuais (MUT): técnica de exame ultrassônico
termo da indústria para uma técnica de exame que envolve a combinação realizada com unidades de busca que são manipuladas manualmente
de aquisição de dados FMC clássica e reconstrução de dados TFM. sem o auxílio de nenhum sistema mecânico de orientação.
densidade da grade: o número de pontos de referência em uma distância captura de matriz (MC): um objeto de dados construído a partir da
especificada em uma direção especificada, por exemplo, 25 pontos/mm. A gravação de sinais coerentes no domínio do tempo A-scan, geralmente
densidade da grade pode não ser necessariamente fixa, pois o usuário pode apresentados em um padrão semelhante a uma tabela com dois eixos,
preferir uma densidade mais alta em uma região especificada. onde um eixo significa o índice do padrão de transmissão e o outro
significa o recebimento índice padrão. Uma única célula, várias células
holografia (acústica): sistema de inspeção que utiliza a interface de fase ou todas as células podem ser preenchidas com um A-scan.
entre a onda ultrassônica de um objeto e um sinal de referência para
obter uma imagem de refletores no material sob teste. modo: o tipo de onda ultrassônica que se propaga nos materiais
conforme caracterizado pelo movimento da partícula (por exemplo,
longitudinal, transversal e assim por diante).
teste de imersão: um método de exame ultrassônico no qual a unidade
Múltiplas reflexões traseiras: no exame de feixe reto ultrassônico,
de pesquisa e a peça de teste são submersas (pelo menos localmente)
reflexões sucessivas das superfícies traseira e frontal do material.
em um fluido, geralmente água.
indicação: aquilo que marca ou denota a presença de um refletor.

ruído: qualquer sinal indesejado (elétrico ou acústico) que tende a
interferir na recepção, interpretação ou processamento do sinal desejado.
pulso inicial: a resposta do visor do sistema ultrassônico ao pulso do
transmissor (às vezes chamado de estrondo principal). scanner não automatizado: um scanner operado sem um meio mecânico
de manter um índice ou posição de deslocamento da unidade de
interface: a fronteira entre dois materiais.
pesquisa. Scanners não automatizados são movidos manualmente pelo
onda lateral: uma onda de compressão que viaja pela rota mais direta da operador e não têm meios de segurar ou manter a posição da sonda
sonda transmissora para a sonda receptora em uma configuração TOFD. depois de liberados.
varredura não paralela ou longitudinal: uma varredura em que o

unidade de busca de matriz linear: unidade de busca composta por um movimento do par de sondas é perpendicular ao feixe ultrassônico (por
conjunto de elementos, justapostos e alinhados ao longo de um eixo, que exemplo, paralelo ao eixo da solda).
permitem que um feixe seja movido, focalizado e desviado ao longo de
modo de imagem ímpar: um modo de imagem do método de focagem
um plano. total (TFM) em que o modo calculado não tem o mesmo número de
pernas na transmissão e na recepção, por exemplo, TT–T e TT–TTT.
linearidade (amplitude): uma medida da proporcionalidade da amplitude
do sinal de entrada para o receptor e a amplitude do sinal que aparece
no visor do instrumento ultrassônico ou em um visor auxiliar. varredura paralela ou transversal: uma varredura em que o movimento
do par de sondas é paralelo ao feixe ultrassônico (por exemplo,
perpendicular ao eixo da solda).
linearidade (tempo ou distância): uma medida da proporcionalidade dos
sinais que aparecem no eixo de tempo ou distância do visor e os sinais elemento piezoelétrico: materiais que quando deformados mecanicamente,
de entrada para o receptor de um gerador de tempo calibrado ou de produzem cargas elétricas e, inversamente, quando carregados
múltiplos ecos de uma placa de material de espessura conhecida . intermitentemente, se deformam e produzem vibrações mecânicas.
varredura linear (também denominada varredura de linha): uma varredura de resposta de referência primária (nível): a resposta ultrassônica do
passagem única da unidade de busca paralela ao eixo de solda a uma refletor de calibração básica na distância especificada do caminho do
distância fixa de afastamento. som, ajustada eletronicamente para uma porcentagem especificada da
altura da tela inteira.
onda longitudinal: aquelas ondas em que o movimento das partículas
do material é essencialmente na mesma direção que a propagação da espaçamento do centro da sonda (PCS): a distância entre os pontos de
onda. saída marcados de um par de sondas TOFD para uma aplicação
específica.
perda de retrorreflexão: ausência ou redução significativa na amplitude
pulso: um trem de ondas curtas de vibrações mecânicas.
da indicação da superfície posterior da peça sob exame.
método pulso-eco: um método de inspeção no qual a presença e a
posição de um refletor são indicadas pela amplitude e tempo do eco.
varredura manual: técnica de exame ultrassônico realizada com unidades
de busca que são manipuladas manualmente, sem coleta de dados.
taxa de repetição do pulso: ver frequência (repetição do pulso).
12
alcance: o comprimento máximo do caminho do som que é exibido. operador. Este scanner possui meios mecânicos para manter sua posição
enquanto estiver conectado ao componente uma vez liberado pelo operador.
bloco de referência: um bloco que é usado tanto como escala de medição
quanto como meio de fornecer uma reflexão ultrassônica de características
conhecidas. exames ultrassônicos semiautomáticos (SAUT): técnica de exame
ultrassônico realizada com equipamentos e unidades de busca montadas
refletor: uma interface na qual um feixe ultrassônico encontra uma mudança
mecanicamente
na impedância acústica e na qual
e guiados, assistidos manualmente (conduzidos), e que podem
pelo menos parte da energia é refletida.
ser ajustado manualmente pelo técnico. O equipamento
refração: a mudança angular na direção do feixe ultrassônico ao passar usado para realizar os exames é capaz de registrar
obliquamente de um meio para outro, no qual as ondas têm uma velocidade os dados de resposta ultrassônica, incluindo as posições de varredura, por
diferente. meio de dispositivos de codificação integral, de modo que
imagens dos dados adquiridos podem ser realizadas.
rejeição (supressão): um controle para minimizar ou eliminar sinais de baixa
amplitude (ruído elétrico ou material) de modo sensibilidade: uma medida do menor sinal ultrassônico
que sinais maiores são enfatizados. que produzirá uma indicação discernível no visor
de um sistema ultrassônico.
resolução: a capacidade do equipamento ultrassônico de fornecer indicações
simultâneas e separadas das descontinuidades onda de cisalhamento: movimento de onda em que o movimento da partícula é
tendo quase o mesmo alcance e posição lateral em relação ao eixo do feixe. perpendicular à direção de propagação.
relação sinal-ruído: a relação entre a amplitude de uma indicação

ultrassônica e a amplitude do ruído de fundo máximo.
tempo de toque: o tempo que as vibrações mecânicas de um
elemento piezoelétrico continua após o pulso elétrico
parou. bloco de simulação: um bloco de referência ou outro item em addi
ção ao bloco de calibração básica que permite a correlação
SAFT-UT: Técnica de Focalização de Abertura Sintética para testes
de resposta do sistema ultrassônico inicialmente obtido quando
ultrassônicos.
usando o bloco de calibração básica.
varredura: o movimento de uma unidade de busca em relação ao
único (ângulo fixo): uma lei focal aplicada a um conjunto específico de
peça de teste, a fim de examinar um volume do material.
elementos ativos para um feixe de ângulo constante, emulando um
superfície de digitalização: ver superfície de teste. sonda de elemento único convencional.
plano de varredura: uma estratégia de exame documentada que fornece curvas DAC divididas: criando duas ou mais telas sobrepostas
uma metodologia padronizada e repetível para Curvas DAC com ganho de nível de referência de sensibilidade diferente
exames de solda. O plano de varredura exibe cortes transversais configurações.
geometria da junta, extensão da cobertura, revestimento ou sobreposição (se

S-scan (também chamado de varredura setorial, setorial ou azimutal):
presente), extensão da zona afetada pelo calor (HAZ), unidade de busca
pode se referir ao movimento do feixe ou aos dados
tamanho(s) e frequência(s), gráficos de feixe de todos os ângulos usados,
mostrar.
posição da(s) unidade(s) de busca em relação à linha central da solda
(a) movimento do feixe: conjunto de leis focais que fornece uma
[espaçamento do centro da sonda (PCS) no caso de tempo de voo
série de feixes em forma de leque através de uma gama definida de ângulos
difração (TOFD)], dispositivo de fixação mecânica da unidade de busca e,
usando o mesmo conjunto de elementos.
se aplicável, sobreposição de cobertura zonal.
(b) exibição de dados: visão bidimensional de todos os A-scans
unidade de busca: um dispositivo eletroacústico usado para transmitir ou de um conjunto específico de elementos corrigidos para atraso e ângulo
receber energia ultrassônica ou ambos. O dispositivo geralmente refratado. Imagens de S-scan com correção de volume normalmente
consiste em uma placa de identificação, conector, caixa, suporte, elemento mostram uma exibição em forma de torta com defeitos localizados em seus
piezoelétrico e face de desgaste, lente ou calço. posições geometricamente corretas e mensuráveis.
dispositivo de fixação mecânica da unidade de pesquisa: o componente de calibração estática: calibração para exame em que o
um aparelho de escaneamento automatizado ou semiautomático anexado unidade de pesquisa é posicionada em um bloco de calibração para que o
ao quadro do scanner que protege a unidade de busca refletores pertinentes podem ser identificados e a instrumentação ajustada
ou matriz de unidade de pesquisa no espaçamento e distância de de acordo.
deslocamento especificados pelo plano de varredura e que fornece consistência
feixe reto: um trem de onda de pulso vibratório viajando normalmente até a
contato (para técnicas de contato) ou caminho de água adequado
superfície de teste.
(para técnicas de imersão).
varredura: o movimento uniforme e repetido de um feixe de elétrons através
scanner semiautomático: um scanner ajustável manualmente
do CRT.
que possui meios mecânicos para manter um índice do
unidade de busca enquanto mantém a posição de deslocamento da unidade superfície de teste: a superfície de uma peça através da qual a energia
de busca, mas que ainda deve ser impulsionada manualmente pelo ultrassônica entra ou sai da peça.
13
pela técnica de transmissão: um procedimento de teste no qual as cunha: no exame de feixe angular ultrassônico pelo método de contato,
vibrações ultrassônicas são emitidas por uma unidade de busca e um dispositivo usado para direcionar a energia ultrassônica para o
recebidas por outra na superfície oposta do material examinado. material em um ângulo.
baseado em acabamento: um padrão para aceitação de uma solda com

tempo de voo: o tempo que leva para uma onda sonora viajar do base na caracterização de imperfeições por tipo (ou seja, trinca, fusão
transdutor transmissor até a falha e depois até o transdutor receptor. incompleta, penetração incompleta ou inclusão) e seu tamanho (ou seja,
comprimento).
difração de tempo de voo (TOFD): uma técnica ultrassônica avançada I-121.3 PT — Líquidos Penetrantes.
que geralmente faz uso de um par de sondas de feixe angular, uma
transmitindo e uma recebendo, para capturar reflexão especular, difração luz negra: radiação eletromagnética na faixa quase ultravioleta de
e modo para converter respostas em uma exibição TOFD significativa . comprimento de onda (320 nm a 400 nm) (3200 Å a 4000 Å) com pico de
intensidade em 365 nm (3650 Å).
Exibição TOFD: uma visualização em escala de cinza da seção

transversal da solda formada pelo empilhamento dos dados A-scan intensidade da luz negra: uma expressão quantitativa da irradiância
ultravioleta.
incrementais digitalizados. Os dois tipos de scans (paralelos e não
paralelos) são diferenciados entre si chamando um de B-scan e o outro bleedout: a ação de um líquido penetrante aprisionado na superfície de
de D-scan. Atualmente não há terminologia padronizada para essas descontinuidades para formar indicações.
varreduras e elas podem ser trocadas por vários fabricantes (por exemplo,
um chamando a varredura paralela ao eixo da solda de B-scan e outro blotting: a ação do revelador em absorver o penetrante da descontinuidade
de D-scan). para acelerar o sangramento.
limpo: livre de contaminantes.
método de focagem total (TFM): um método de reconstrução de imagem

penetrante de contraste de cor: um líquido altamente penetrante que
em que o valor de cada dado constituinte
incorpora um corante não fluorescente que produz indicações de tal
da imagem resulta de ultrassom focalizado. TFM também pode ser
intensidade que são facilmente visíveis durante o exame sob luz branca.
entendido como um termo amplo que abrange uma família de técnicas
de processamento para reconstrução de imagem a partir da captura de
matriz completa (FMC). É possível que equipamentos de diferentes contaminante: qualquer substância estranha presente na superfície de
fabricantes possam legitimamente gerar imagens TFM muito diferentes teste ou nos materiais de inspeção que afetará adversamente o
usando os mesmos dados coletados. desempenho dos materiais penetrantes líquidos.
ponto de referência do método de focagem total (TFM): um ponto

individual calculado dentro da grade TFM (às vezes referido como nós). contraste: a diferença de visibilidade (brilho ou coloração) entre uma
indicação e o fundo.
grade/ imagem do método de foco total (TFM): uma região predeterminada revelador: um material que é aplicado à superfície de teste para acelerar
de dados processados do quadro de captura da matriz. o sangramento e aumentar o contraste de
A grade não precisa ser cartesiana. indicações.
configurações do método de focagem total (TFM): as informações revelador, aquoso: uma suspensão de partículas de revelador em
necessárias para processar um conjunto de dados de captura de matriz água.
completa (FMC) para reconstruir uma imagem TFM de acordo com o

revelador, pó seco: um pó fino de fluxo livre usado como fornecido.
algoritmo TFM fornecido.
transdutor: um dispositivo eletroacústico para converter energia elétrica

revelador não aquoso: partículas do revelador suspensas em um veículo
em energia acústica e vice-versa.
não aquoso antes da aplicação.
ultrassônico: relativo a vibrações mecânicas com frequência superior a
tempo de revelação: o tempo decorrido entre a aplicação do revelador e
aproximadamente 20.000 Hz.
o exame da peça.
caminho em V: o caminho do feixe angular em materiais começando na
tempo de secagem: o tempo necessário para que uma parte desenvolvida limpa,
superfície de exame da unidade de busca, através do material até a
enxaguada ou molhada seque.
superfície refletora, continuando até a superfície de exame na frente da
unidade de busca e reflexão de volta ao longo do mesmo caminho para tempo de permanência: o tempo total que o penetrante ou emulsificante
a busca unidade. O caminho geralmente tem o formato da letra V. fica em contato com a superfície de teste, incluindo o tempo necessário
para aplicação e o tempo de drenagem.
apresentação de vídeo: exibição do sinal de RF retificado e geralmente emulsificante: um líquido que interage com uma substância oleosa para
filtrado. torná-la lavável com água.
14
família: uma série completa de materiais penetrantes necessários condutor central: um condutor que passa por uma cavidade
para a realização de um teste de líquido penetrante. parte e usado para produzir magnetização circular dentro
a parte.
fluorescência: a emissão de radiação visível por uma substância como
resultado de, e somente durante, a absorção de magnetização circular: a magnetização em uma peça resultante da
radiação de luz negra. corrente que passa diretamente através da peça ou
superemulsificação: tempo excessivo de permanência do emulsificante que através de um condutor central.
resulta na remoção de penetrantes de alguns
descontinuidades. desmagnetização: a redução do magnetismo residual para
um nível aceitável.
penetrante: uma solução ou suspensão de corante.
corrente contínua (DC): corrente que circula em apenas um
comparador penetrante: um espécime intencionalmente defeituoso direção.
ter áreas separadas, mas adjacentes, para a aplicação de
diferentes materiais líquidos penetrantes de modo que uma comparação pó seco: partículas ferromagnéticas finamente divididas adequadamente
direta de sua eficácia relativa possa ser obtida. selecionadas e preparadas para partículas magnéticas
NOTA: Também pode ser usado para avaliar técnicas de líquido penetrante,
inspeção.
sistemas de líquidos penetrantes ou condições de teste.
corrente contínua de onda completa (FWDC): uma corrente trifásica retificada
penetrante, fluorescente: um penetrante que emite radiação visível corrente alternada.
quando excitado por luz negra.
corrente retificada de onda completa: quando a metade reversa do ciclo
penetrante, lavável com água: um líquido penetrante com um
é girada para fluir na mesma direção que a
emulsificante embutido.
metade dianteira. O resultado é uma corrente retificada de onda completa.
pós-limpeza: a remoção do líquido penetrante residual Corrente alternada trifásica quando retificada em onda completa
materiais de teste da peça de teste após a conclusão do exame do é unidirecional com muito pouca pulsação; apenas uma onda de
penetrante. tensão variável o distingue de DC direto
Fase única.
pós-emulsificação: uma técnica de remoção do penetrante que emprega
um emulsificante separado. corrente de meia onda (HW): uma corrente alternada monofásica
Penetrante pós-emulsificação: um tipo de penetrante que não contém retificada que produz um campo pulsante unidirecional.
emulsificante, mas que requer uma etapa separada de emulsificação

Corrente alternada retificada de meia onda (HWAC): quando uma
para facilitar a remoção da superfície por enxágue com água
corrente alternada monofásica é retificada da maneira mais simples, o
penetrante.
inverso do ciclo é totalmente bloqueado. O resultado é uma corrente
pré-limpeza: a remoção de contaminantes de superfície de pulsante unidirecional
a parte do teste para que não interfiram no processo de exame. com intervalos quando nenhuma corrente está fluindo. Isso geralmente
é chamado de “meia onda” ou corrente contínua pulsante.
enxaguar: o processo de remoção do teste de líquido penetrante magnetização longitudinal: um campo magnético em que o
materiais da superfície de uma peça de teste por meio de linhas de força atravessam a peça em uma direção essencialmente
lavagem ou inundação com outro líquido, geralmente água. paralelo ao seu eixo longitudinal.
O processo também é denominado lavagem.
campo magnético: o volume dentro e ao redor
penetrante removível por solvente: um tipo de penetrante usado
uma parte magnetizada ou um condutor de transporte de corrente onde
onde o excesso de penetrante é removido da superfície
uma força magnética é exercida.
da peça limpando com um líquido não aquoso.
removedor de solvente: um líquido volátil usado para remover o excesso força do campo magnético: a intensidade medida de um campo
penetrante da superfície a ser examinada. magnético em um ponto, expressa em oersteds ou ampères
por metro.
ð23Þ I-121.4 MT — Partícula Magnética.
fluxo magnético: o conceito de que o campo magnético está fluindo ao
voltas de ampère: o produto do número de voltas de uma bobina longo das linhas de força sugere que essas linhas são
e a corrente em ampères que flui através da bobina. portanto, linhas de “fluxo” e são chamadas de fluxo magnético.
luz negra: radiação eletromagnética na faixa próxima do ultravio de A força do campo é definida pelo número de fluxo
comprimento de onda (320 nm a 400 nm) (3200 Å a linhas que cruzam uma unidade de área tomadas em ângulos retos
com a direção das linhas.
4000 Å) com pico de intensidade a 365 nm (3650 Å).
intensidade da luz negra: uma expressão quantitativa da irradiância exame de partícula magnética: ver partícula magnética
ultravioleta. teste.
15
indicador de campo de partícula magnética: um instrumento, normalmente um detector, n: uma ou mais bobinas ou elementos usados para detectar ou
bimetal (por exemplo, aço carbono e cobre) octogonal medir campo magnético; também conhecido como receptor.
disco, contendo falhas artificiais usadas para verificar a adequação ou
bobinas diferenciais: duas ou mais bobinas conectadas eletricamente
direção, ou ambas, do campo magnetizante.
em oposição em série, de modo que qualquer energia elétrica ou magnética
partículas magnéticas: material ferromagnético finamente dividido condição, ou ambas, que não é comum às áreas de um
capaz de ser individualmente magnetizado e atraído A amostra sendo examinada eletromagneticamente produzirá um
à distorção em um campo magnético. desequilíbrio no sistema e, assim, produzirá um
indicação.
teste de partículas magnéticas: um método de teste não destrutivo
utilizando campos de vazamento magnético e indicadores adequados corrente parasita: uma corrente elétrica que flui em um condutor pela
materiais para revelar a descontinuidade superficial e próxima da superfície variação no tempo ou no espaço, ou ambos, de um campo magnético
indicações de idade. aplicado.
magnetização multidirecional: dois ou mais magnéticos matriz de correntes parasitas (ECA): um exame não destrutivo
campos em diferentes direções impostas a uma peça seqüencialmente e técnica que fornece a capacidade de dirigir eletronicamente
em rápida sucessão, como um exame, usando múltiplas bobinas de correntes parasitas, que são colocadas lado a lado
equipamento especializado. no mesmo conjunto de sonda.
ímã permanente: um ímã que retém um alto grau de canal de corrente parasita: a resposta do sinal de amplitude de fase
magnetização praticamente inalterada por um longo período de resultante de um único amplificador de entrada de instrumento
tempo (característica de materiais com alta retentividade). e impedância individual ou bobina de transmissão e recepção
arranjo.
prods: eletrodos de mão.
teste de correntes parasitas: um método de teste não destrutivo em
corrente retificada: por meio de um dispositivo chamado retificador,
qual fluxo de corrente parasita é induzido no material sob
que permite que a corrente flua em apenas uma direção. Esse exame.
difere da corrente contínua em que o valor atual varia
de um nível estável. Esta variação pode ser extrema, como em excitador: um dispositivo que gera um campo eletromagnético variável no
o caso de CA retificado de meia onda monofásico (HWAC), tempo, geralmente uma bobina energizada com
ou leve, como no caso de CA retificada trifásica. corrente (ac); também conhecido como transmissor.
sensibilidade: o grau de capacidade de uma partícula magnética material ferromagnético: material que pode ser magnetizado
técnica de exame para indicar descontinuidades superficiais ou próximas ou é fortemente atraído por um campo magnético.
da superfície em materiais ferromagnéticos.
fator de preenchimento (FF):
suspensão: um sistema bifásico que consiste em um sólido finamente (a) para bobinas envolventes, a razão entre a área da seção transversal
dividido disperso em um líquido. da peça de teste, diâmetro externo (OD), para o efetivo
área do núcleo da seção transversal da bobina envolvente primária, em
jugo: um ímã que induz um campo magnético na área de
diâmetro lateral (ID), expressa como
uma parte que fica entre seus pólos. Os jugos podem ser ímãs permanentes
ou eletroímãs de corrente alternada ou contínua.
I-121.5 ET — Eletromagnético (Corrente parasita).

(b) para sondas ou bobinas ID, a relação entre a área da seção
bobina absoluta: uma bobina (ou bobinas) que responde(m) ao total
transversal da sonda ou bobina de teste (OD) e a área efetiva da seção
propriedades elétricas ou magnéticas detectadas, ou ambas, de uma peça
transversal do núcleo (ID) da peça de teste, expressa como
ou seção da peça sem comparação com outra seção da peça ou com outra
peça.
topologia de bobina de matriz: uma descrição do arranjo da bobina

e padrão de ativação associado dentro de uma corrente parasita
sonda matriz.
bobina de bobina: para inspeção da tubulação, uma bobina de bobina é padrão de caracterização de defeitos: padrão utilizado em adição ao padrão
definida como uma bobina de diâmetro interno circular enrolada de modo que de referência do sistema RFT, com
a bobina é concêntrica com um tubo durante o exame. ou falhas induzidas pelo serviço, usadas para caracterização de falhas.
padronização de canal: um método de processamento de dados usado frequência: o número de ciclos completos por segundo de
para fornecer sensibilidade de bobina uniforme para todos os canais dentro a corrente alternada aplicada à(s) bobina(s) da sonda em
uma sonda de matriz de correntes parasitas. exame de correntes parasitas.
16
ponto nominal: um ponto no diagrama de amplitude de fase ponto zero: um ponto no diagrama de amplitude de fase que representa
representando dados do tubo nominal. a tensão de saída do detector zero.
tubo nominal: um tubo ou seção de tubo que atende a tubulação I-121.6 VT — Exame Visual.
ð23Þ
especificações do fabricante, com propriedades relevantes
típico de um tubo sendo examinado, usado como referência na falha artificial: uma imperfeição intencional colocada no
interpretação e avaliação. superfície de um material para representar uma falha representativa
doença.
material não ferromagnético: um material que não é magnetizável e,
portanto, essencialmente não é afetado por magnetismo. iluminação auxiliar: uma fonte de luz artificial usada como
Campos. Isso incluiria materiais paramagnéticos (materiais que têm ajuda a melhorar as condições de visualização e percepção visual.
uma permeabilidade relativa ligeiramente maior velação: ver exame visual translúcido.
do que a unidade e que são praticamente independentes do
força magnetizante) e materiais diamagnéticos (materiais exame visual direto: uma técnica de exame visual
cuja permeabilidade relativa é menor que a unidade). realizada a olho nu e sem quaisquer recursos visuais (excluindo
fonte de luz, espelhos e/ou lentes corretivas), por exemplo, endoscópios,
diagrama de amplitude de fase: uma representação bidimensional da sondas de vídeo, fibra óptica, etc.
tensão de saída do detector, com o ângulo representando
exame visual aprimorado: uma técnica de exame visual que utiliza
fase em relação a um sinal de referência e raio representando amplitude.
recursos visuais para melhorar a capacidade de visualização.
exame visual remoto: uma técnica de exame visual usada com recursos
ângulo de fase: o equivalente angular do deslocamento de tempo entre
pontos correspondentes em duas ondas senoidais visuais para condições em que a área
a ser examinado é inacessível para visualização direta
da mesma frequência.
exame.
bobina de sonda: uma pequena bobina ou conjunto de bobina que é colocado ou
perto da superfície dos objetos de exame. brilho superficial: reflexos de luz artificial que interferem
com exame visual.
campo remoto: conforme aplicado a testes não destrutivos, o campo
laminado translúcido: uma série de camadas reforçadas com vidro,
eletromagnético que foi transmitido através do
ligados entre si e com capacidade de transmitir
objeto de teste e é observável além do acoplamento direto
campo do excitador. luz.
exame visual translúcido: uma técnica que utiliza

teste de campo remoto (RFT): um método de teste não destrutivo
intensidade de iluminação para permitir a visualização das variações de
que mede mudanças no campo remoto para detectar e
caracterizar descontinuidades. espessura do laminado translúcido (também chamado de vela).
exame visual: um método de exame não destrutivo

Sistema RFT: a instrumentação eletrônica, sondas e
usado para avaliar um item por observação, como a montagem correta,
todos os componentes e cabos associados necessários para executar
condições da superfície ou limpeza de materiais, peças e componentes
o RFT.
usados na fabricação e
Padrão de referência do sistema RFT: um padrão de referência com construção de embarcações e hardware do Código ASME.
falhas artificiais especificadas, usadas para configurar e padronizar um
sistema de campo remoto e para indicar a detecção de falhas I-121.7 LT — Teste de Vazamento. ð23Þ
sensibilidade. pressão absoluta: pressão acima do zero absoluto correspondente ao
taxa de amostragem: a taxa na qual os dados são digitalizados para exibição espaço vazio, ou seja, pressão atmosférica local mais pressão
e gravação, em pontos de dados por segundo. manométrica.
leitura de fundo (sinal de fundo): no teste de vazamento,

strip chart: um diagrama que plota as coordenadas extraídas
o sinal de saída constante ou flutuante do detector de vazamento
de pontos em um diagrama de amplitude de fase versus tempo
causada pela presença de gás traçador residual ou outro
ou posição axial.
substância à qual o elemento de detecção responde.
informações de texto: informações armazenadas na gravação
padrão de vazamento de calibração (vazamento padrão): um dispositivo que
mídia para suportar dados de correntes parasitas gravados. Exemplos
permite que um gás traçador seja introduzido em um detector de vazamento
inclua a identificação do tubo e do gerador de vapor, nome do operador,
data do exame e resultados. ou sistema de teste de vazamento a uma taxa conhecida para facilitar a
calibração do detector de vazamento.
unidade de armazenamento de dados: cada meio de gravação físico
sonda detectora (sonda de amostragem): no teste de vazamento, um dispositivo
discreto no qual dados de correntes parasitas e informações de texto são
usado para coletar gás traçador de uma área do objeto de teste
armazenados. Exemplos incluem cartucho de fita, disquete, etc.
e alimentá-lo para o detector de vazamento na pressão reduzida
partes usuárias: o fornecedor e o comprador. necessária. Também chamado de sonda de detecção.
17
temperatura do ponto de orvalho: aquela temperatura na qual o gás (d) Nier (MS): Uma modificação do Dempster (MS) em
em um sistema seria capaz de reter não mais água qual o campo magnético desvia os íons.
ocorreria vapor e condensação na forma de orvalho. (e) Tempo de Voo (MS): O gás é ionizado por um feixe de elétrons
pressão diferencial: é atingida em um sistema e o tempo modulado por pulso e cada grupo de íons é acelerado em direção ao coletor
de íons. Íons de massa diferente para
quando a técnica de teste é realizada para detectar vazamento ou
medir a taxa de vazamento. taxas de carga percorrem seus caminhos em tempos diferentes.
(f) Radiofrequência (MS): Os íons são acelerados

temperatura de bulbo seco: a temperatura ambiente do gás
em um analisador de radiofrequência no qual os íons de um determinado
em um sistema.
massa para carregar são aceleradas através de aberturas em uma série de
foreline: uma linha de vácuo entre as bombas de um estágio placas espaçadas conectadas alternadamente através de um oscilador de
sistema de bombeamento a vácuo. Um exemplo típico é o vácuo radiofrequência. Os íons emergem em uma eletrostática
linha conectando a porta de descarga de um alto vácuo campo que permite que apenas os íons acelerados no analisador cheguem
bomba, como uma bomba turbomolecular, e a entrada de ao coletor.
uma bomba de vácuo bruto. (g) Omegatron (MS): Os íons são acelerados pelo
princípio do ciclotron.
halogênio: qualquer elemento da família dos elementos flúor, cloro, bromo
e iodo. Compostos não caem
HMSLD: um acrônimo para vazamento de espectrômetro de massa de hélio
sob a estrita definição de halogênio. No entanto, para o detector.
propósito da Seção V, esta palavra fornece um termo descritivo conveniente
para compostos contendo halogênio. De importância na detecção de técnica de capuz (teste de capuz): um fluxo de massa, teste de medição de
vazamento de halogênio são aqueles que têm taxa de idade de vazamento quantitativo em que um objeto sob teste de
pressão de vapor suficiente para serem úteis como gases traçadores. vácuo é envolvido por um capuz (permanente ou temporário
envelope ou recipiente) ou outro invólucro semelhante que
detector de diodo de halogênio (detector de vazamento de halogênio): um detector
será preenchido com gás traçador para manter a área sob
de vazamento que responde a gases traçadores de halogênio. Também chamado
a coifa em contato com a superfície a montante do
detector de vazamento sensível a halogênio ou detector de vazamento de haleto.
limite sendo testado contra vazamentos. Alternativamente, o evacuado
(a) O detector de chama de cobre ou tocha de haleto consiste
volume pode ser completamente fechado por um volume separado
de um bico de Bunsen com chama incidindo sobre um cobre
que contém o gás traçador para o teste. O permanente ou
placa ou tela, e uma mangueira com sonda de amostragem para transportar
envelopes ou recipientes temporários podem ser de plástico flexível
gás traçador para a entrada de ar do queimador.
invólucros aderidos a ou em torno de um componente, um anel
(b) O detector de halogênio de diodo de íon alcalino depende
espaço entre vasos concêntricos, ou um volume adjacente
a variação da emissão de íons positivos de um ânodo de platina aquecido
de uma embarcação que compartilha um limite com um teste evacuado
quando as moléculas de halogênio entram no sensor
espaço.
elemento.
banho de imersão: um líquido de baixa tensão superficial no qual

espectrômetro de massa com hélio (mass spectrometer): instrumento capaz
invólucro contendo gás é submerso para detectar vazamento
de separar moléculas ionizadas de
que se forma no local ou locais de um vazamento ou vazamentos.
diferentes proporções de massa para carga e medindo as respectivas
correntes de íons. O espectrômetro de massa pode ser usado como solução de imersão: ver banho de imersão.
um medidor de vácuo que relaciona uma saída que é proporcional à
pressão parcial de um gás especificado, como um vazamento gás inerte: um gás que resiste à combinação com outras substâncias.
detector sensível a um determinado gás marcador, ou como um instrumento Exemplos são hélio, néon e argônio.
analítico para determinar a composição percentual de uma mistura de
calibração do instrumento: introdução de um vazamento padrão de tamanho
gases. Vários tipos são distinguidos por
o método de separação dos íons. Os principais tipos conhecido em um detector de vazamento isolado com a finalidade de
são como segue: determinar a menor taxa de vazamento de tamanho de um determinado
gás a uma pressão e temperatura específicas que o vazamento
(a) Dempster (MS): Os íons são primeiro acelerados por um
detector é capaz de indicar para uma determinada divisão
campo elétrico através de uma fenda, e são então desviados por um
na escala indicadora de vazamento.
campo magnético através de 180 graus, de modo a passar por um
segunda fenda.
vazamento: um buraco, ou vazio na parede de um invólucro, capaz de
(b) Bainbridge-Jordan (MS): Os íons são separados por
passagem de líquido ou gás de um lado da parede para o outro
meio de um campo eletrostático radial e um campo magnético
sob ação do diferencial de pressão ou concentração existente na parede,
desviando os íons através de 60 graus de forma que o
independente da quantidade de fluido
dispersão de íons no campo elétrico é exatamente compensada pela
fluindo.
dispersão no campo magnético para um dado
diferença de velocidade. vazamento: o fluido, líquido ou gasoso, fluindo através de um
(c) Bleakney (MS): Os íons são separados por vazamento e expresso em unidades de fluxo de massa; ou seja, pressão
campos elétricos e magnéticos. Também chamados de campos cruzados (MS). e volume por hora.
18
taxa de vazamento: a taxa de fluxo de um líquido ou gás através de um vazamento modo de teste: com relação ao arranjo interno do
a uma dada temperatura como resultado de uma pressão especificada caminho de fluxo através de um detector de vazamento de espectrômetro de massa
diferença ao longo do vazamento. Condições padrão para gases da porta de teste para o tubo do espectrômetro de massa.
são 25°C e 100 kPa. As taxas de vazamento são expressas em várias unidades,
detector de condutividade térmica: um detector de vazamento que responde a
como pascal metros cúbicos por segundo ou pascal litros por segundo.
diferenças na condutividade térmica de um
gás amostrado e o gás usado para zerá-lo (ou seja, fundo
padrão de vazamento (vazamento padrão): um dispositivo que permite que um atmosfera).
gás traçador seja introduzido em um detector de vazamento ou sistema de
gás traçador: um gás que, passando por um vazamento, pode
teste de vazamento a uma taxa conhecida para facilitar a calibração do
Detector de vazamentos.
ser detectado por um detector de vazamento específico e, assim, revelar
presença de vazamento. Também chamado de gás de pesquisa.
teste de vazamento: compreende procedimentos para detectar, localizar ou
caixa de vácuo: um dispositivo usado para obter um diferencial de pressão
medir vazamentos, ou combinações dos mesmos.
através de uma solda que não pode ser pressurizada diretamente. Isto
detector de vazamento de espectrômetro de massa: um espectrômetro de contém uma grande janela de visualização, assento fácil especial
massa ajustado para responder apenas ao gás traçador. e junta de vedação, medidor e uma conexão com válvula para um
ejetor de ar, bomba de vácuo ou coletor de admissão.
bloqueio de modo: um recurso de um detector de vazamento de espectrômetro
de massa de modo múltiplo que pode ser usado para limitar vapor d'água: forma gasosa da água em um sistema calibrando o medidor.
mudanças de modo do instrumento.
modo múltiplo: em relação aos espectrômetros de massa I-121.8 AE — Emissão Acústica.
detectores de vazamento que, através de uma alteração na válvula interna

emissão acústica (AE): a classe de fenômenos pelos quais
alinhamento, pode operar em diferentes modos de teste. Por exemplo, um
ondas transitórias de tensão/deslocamento são geradas por
modo de teste pode expor a porta de teste e a amostra de teste à porta foreline
a rápida liberação de energia de fontes localizadas dentro
de uma bomba turbomolecular, e
um material, ou as ondas transitórias assim geradas.
daí para o tubo do espectrômetro. Em um teste mais sensível
modo, a porta de teste e a amostra de teste podem ser expostas a um NOTA: Emissão acústica é o termo recomendado para uso geral.
Outros termos que têm sido usados na literatura de EA incluem
porta intermediária da bomba turbomolecular, e daí por
(a) emissão de ondas de tensão
um caminho mais curto para o tubo do espectrômetro.
(b) atividade microssísmica
medidor de tubo Bourdon de quartzo: este medidor de alta precisão é um (c) emissão ou emissão acústica com outros modificadores de qualificação
instrumento eletrônico de medição de pressão diferencial de anulação de servo. canal de emissão acústica: ver canal, emissão acústica.
O elemento transdutor de pressão é um
Elemento Bourdon de quartzo fundido de peça única. contagem de emissão acústica (contagem de emissão), N: ver contagem,
emissão acústica.
pressão regular (pressão manométrica): diferença entre a
pressão absoluta e pressão atmosférica. taxa de contagem de emissão acústica: ver taxa de contagem, emissão acústica
(taxa de emissão ou taxa de contagem), N.
sensibilidade: o tamanho da menor taxa de vazamento que pode ser
detectado inequivocamente pelo instrumento de teste de vazamento, evento de emissão acústica: ver evento, emissão acústica.
método ou técnica que está sendo usada.

energia do evento de emissão acústica: ver energia, evento acústico.
tempo de imersão: o tempo decorrido entre o momento em que a pressão

mecanismo de emissão acústica ou fonte de emissão acústica
diferencial desejada é atingida em um sistema e o tempo
mecanismo: um processo dinâmico ou combinação de processos que ocorrem
quando a técnica de teste é realizada para detectar vazamento
dentro de um material, gerando ruído acústico
ou medir a taxa de vazamento.
eventos de emissão. Os mecanismos de fonte de EA podem ser subdivididos
testador de peso morto padrão: um dispositivo para equilibrar hidraulicamente em várias categorias: materiais e mecânicos,
a pressão em um peso conhecido de alta precisão macroscópica e microscópica, primária e secundária.
contra a leitura em um medidor de pressão para o propósito NOTA: Exemplos de mecanismos de fonte AE de material macroscópico em
de calibrar o medidor. metais são avanços de trincas incrementais, desenvolvimento de deformação plástica e
fratura de inclusões. Atrito e impactos são exemplos de EA mecânico. O avanço da trinca
calibração do sistema: introdução de um padrão de tamanho conhecido pode ser considerado um
vazamento em um sistema de teste com um detector de vazamento com a mecanismo AE primário, enquanto uma fricção de superfície de rachadura resultante pode
finalidade de determinar a taxa de vazamento de menor tamanho de um ser considerado como um mecanismo secundário de EA.
determinado gás a uma pressão e temperatura específicas que

sensor de emissão acústica: ver sensor, emissão acústica.
o detector de vazamento como parte do sistema de teste é capaz de
indicando uma divisão específica no indicador de vazamento amplitude do sinal de emissão acústica: ver amplitude do sinal,
escala. emissão acústica.
19
sinal de emissão acústica (sinal de emissão): ver sinal, emissão nível de sinal médio: o sinal rítmico AE logarítmico de tempo
acústica. médio retificado, medido na escala logarítmica de amplitude AE e
relatado em unidades dBAE (onde 0 dBAE se refere a 1 ÿV na
assinatura de emissão acústica (assinatura): ver assinatura, entrada do pré-amplificador).
emissão acústica.
emissão de explosão: veja emissão, explosão.
transdutor de emissão acústica: ver sensor, emissão acústica.
canal, emissão acústica: um conjunto de um sensor, pré-
guia de onda de emissão acústica: ver guia de onda, emissão amplificador ou transformador de casamento de impedância,
acústica. filtros, amplificador secundário ou outra instrumentação conforme
necessário, cabos de conexão e detector ou processador.
ultra-som acústico (AU): um método de exame não destrutivo que
usa ondas de estresse induzidas para detectar e avaliar estados NOTA: Um canal para examinar plástico reforçado com fibra de vidro (FRP)
pode utilizar mais de um sensor com componentes eletrônicos associados. Os
de defeitos difusos, condições de danos e variações de canais podem ser processados independentemente ou em grupos
propriedades mecânicas de uma estrutura de teste. O método AU predeterminados com características de sensibilidade e frequência semelhantes.
combina aspectos de análise de sinal de emissão acústica (AE)
com técnicas de caracterização ultrassônica de materiais. emissão contínua: ver emissão, contínua.
monitoramento contínuo: o processo de monitorar um limite de

localização adaptativa: localização da fonte pelo uso iterativo de pressão continuamente para detectar a emissão acústica durante
fontes simuladas em combinação com a localização computada. a inicialização, operação e desligamento da planta.
contagem, emissão acústica (contagem de emissão), N: o número

Atividade AE, n: presença de emissão acústica durante um teste.
de vezes que o sinal de emissão acústica excede um limite
predefinido durante qualquer parte selecionada de um teste.
Amplitude AE: ver dBAE.
contagem, evento, Ne: o número obtido contando uma vez cada
Monitor AE: toda a instrumentação eletrônica e evento de emissão acústica discernido.
equipamentos (exceto sensores e cabos) usados para detectar,

taxa de contagem, emissão acústica (taxa de emissão ou taxa de contagem),
analisar, exibir e registrar sinais de EA. N: a taxa de tempo em que ocorrem as contagens de emissão.
AE rms, n: o sinal AE retificado, com média de tempo, medido contagem, ring-down: ver contagem, emissão acústica, o termo
em uma escala linear e relatado em volts. preferido.
Duração do sinal AE: o tempo entre o início do sinal AE e o fim do acoplante: um material usado na interface estrutura-sensor para
sinal AE. melhorar a transmissão de energia acústica através da interface
durante o monitoramento de emissão acústica.
Fim do sinal AE: o término reconhecido de um sinal AE, geralmente
definido como a última passagem do limiar por aquele sinal. distribuição de amplitude cumulativa (emissão acústica), F (V ):
veja distribuição, amplitude, cumulativa.
Gerador de sinal AE: um dispositivo que pode induzir repetidamente distribuição cumulativa (emissão acústica) de passagem de
um sinal transiente especificado em um instrumento AE. limiar, F t(V ): ver distribuição, passagem de limiar, cumulativa.
Tempo de subida do sinal AE: o tempo entre o início do sinal AE

e a amplitude de pico desse sinal AE. dBAE: a amplitude de tensão de pico da forma de onda do sinal
de emissão acústica expressa pela equação
Início do sinal AE: o início de um sinal AE conforme reconhecido
pelo processador do sistema, geralmente definido por uma
excursão de amplitude que excede o limiar.
onde VRef é 1 ÿV fora do cristal do sensor AE.
array, n: um grupo de dois ou mais sensores de EA posicionados
dBAE (conforme Art. 11): medida logarítmica da amplitude do
em uma estrutura para fins de detecção e localização de fontes.
sinal de emissão acústica, referenciada a 1 ÿV no sensor, antes
As fontes normalmente estariam dentro da matriz.
da amplificação.
intervalo de tempo de chegada (ÿtij): ver intervalo, tempo de chegada.
atenuação, n: a perda gradual da energia da onda de emissão

acústica em função da distância por absorção, dispersão, difração
e espalhamento geométrico.
onde
NOTA: A atenuação pode ser medida como a diminuição da amplitude AE ou
outro parâmetro de sinal AE por unidade de distância. A0 = 1 ÿV no sensor (antes da amplificação)
20
A1 = tensão de pico do sinal de emissão acústica medido (também faixa dinâmica: a diferença, em decibéis, entre o
antes da amplificação) nível de sobrecarga e o nível de sinal mínimo (geralmente
fixado por um ou mais dos níveis de ruído, distorção de baixo nível,
Escala de Referência de Emissão Acústica interferência ou nível de resolução) em um sistema ou
sensor.
Valor dBAE Tensão no Sensor
0 1 ÿV velocidade efetiva, n: velocidade calculada com base em tempos ar
20 10 ÿV
rivais e distâncias de propagação determinadas por geração artificial
40 100 ÿV
60 1mV
de EA; usado para localização calculada.
80 10mV
gerador eletrônico de forma de onda: um dispositivo que pode induzir
100 100 mV
repetidamente um sinal transiente em uma emissão acústica
processador com a finalidade de verificar, verificar e calibrar o
NOTA: No caso de sensores com pré-amplificadores integrados, a instrumento.
referência A0 é anterior à amplificação interna.
emissão, rajada: uma descrição qualitativa de um indivíduo
escala dB: uma escala logarítmica relativa da amplitude do sinal
evento de emissão resultando em um sinal discreto.
definido por dBV = 20 log Vi n/Vout. A tensão de referência
é definido como 1 V fora do sensor e V é a amplitude medida em volts. emissão, contínua: uma descrição qualitativa da emissão
produzir um sinal sustentado como resultado de sobreposição de
tempo e/ou eventos de emissão sucessivos de uma ou várias fontes.
tempo morto: qualquer intervalo durante a aquisição de dados quando o
instrumento ou sistema é incapaz de aceitar novos dados para qualquer
razão. energia, evento de emissão acústica: a energia elástica total liberada
por um evento de emissão.
distribuição de amplitude diferencial (emissão acústica), F
(V ): ver distribuição, amplitude diferencial (emissão acústica), f(V). energia, sinal de emissão acústica: a energia contida em
um sinal de emissão acústica, que é avaliado como o integral da função
volt-quadrado ao longo do tempo.
distribuição de cruzamento de limiar diferencial (emissão acústica),
ft(V ): veja distribuição, diferencial (emissão acústica) limiar de avaliação: um valor limite usado para análise
passagem de limiar. dos dados do exame. Os dados podem ser registrados com um limite
de exame do sistema inferior à avaliação
distribuição, amplitude, cumulativo (emissão acústica), F
limite. Para fins de análise, a dependência dos dados medidos no limite
(V ): o número de eventos de emissão acústica com sinais
de exame do sistema deve
que excedem uma amplitude arbitrária em função da amplitude, V.
ser levado em consideração.
evento, emissão acústica (evento de emissão): uma ocorrência de

distribuição, amplitude diferencial (emissão acústica),
uma mudança material local ou ação mecânica resultando em
f (V ): o número de eventos de emissão acústica com sinal
emissão acústica.
amplitudes entre amplitudes de V e V + ÿV como um
função da amplitude V. f(V) é o valor absoluto contagem de eventos (Ne): consulte contagem, evento.
da derivada da distribuição de amplitude cumulativa,
taxa de contagem de eventos (Ne): veja taxa, contagem de eventos.
F(V).
distribuição, limite diferencial (emissão acústica) área de exame (região de exame): aquela porção de um
cruzamento, ft(V ): o número de vezes que a emissão acústica estrutura, ou artigo de teste, sendo examinado usando acústica
a forma de onda do sinal tem um pico entre os limiares V e V + tecnologia de emissão.
ÿV em função do limiar V. ft(V) é o valor absoluto efeito de felicidade: a presença de emissão acústica detectável
valor da derivada da distribuição cumulativa de passagem do limiar,
em um nível de sensibilidade predeterminado fixo em níveis de estresse
Ft(V). abaixo dos aplicados anteriormente.
distribuição, amplitude logarítmica (emissão acústica), taxa de felicidade: a relação da carga na qual a emissão acústica é
g (V ): o número de eventos de emissão acústica com sinal detectada, para a carga máxima aplicada anteriormente.
amplitudes entre V e ÿV (onde ÿ é uma constante
multiplicador) em função da amplitude. Esta é uma variante NOTA: O nível de sensibilidade fixo normalmente será o mesmo que foi
usado para o carregamento ou exame anterior.
da distribuição de amplitude diferencial, apropriada para
dados janelados logaritmicamente. localização do primeiro hit: um método de localização de zona definido pelo qual
um canal entre um grupo de canais primeiro detecta o
distribuição, cruzamento de limiar, cumulativo (emissão acústica),
sinal.
Ft(V ): o número de vezes que a emissão acústica
sinal excede um limite arbitrário como uma função de limiar flutuante: qualquer limiar com amplitude estabelecida por uma
a tensão limite (V). medida média temporal do sinal de entrada.
21
hit: a detecção e medição de um sinal AE em um magnitudes de sinal do sinal contínuo em vários

canal. pontos ao longo do objeto, a fonte pode ser determinada
com base na magnitude mais alta ou por interpolação ou extrapolação de
tempo morto de instrumentação : veja tempo morto,
leituras múltiplas.
instrumentação.
localização de origem baseada em correlação, n: uma localização de origem
intervalo, tempo de chegada (ÿtij): o intervalo de tempo entre o
método que compara os níveis de sinal AE em mudança
chegadas detectadas de uma onda de emissão acústica no ith
(geralmente análise de amplitude baseada em forma de onda) em dois ou
e jésimos sensores de uma matriz de sensores.
mais pontos ao redor da fonte e determina a
Efeito Kaiser: a ausência de emissão acústica detectável deslocamento de tempo desses sinais. Os dados de deslocamento de
tempo podem ser usados com técnicas de localização baseadas em
em um nível de sensibilidade fixo, até que o estresse previamente aplicado
níveis são excedidos. batidas convencionais para chegar a uma solução para o local de origem.
NOTA: Se o efeito é observado ou não é específico do material. O localização, fonte, n: qualquer um dos vários métodos de avaliação
efeito geralmente não é observado em materiais contendo desenvolvimento
Dados AE para determinar a posição na estrutura de
imperfeições.
que o AE se originou. Várias abordagens para localização de origem são

monitoramento de zona limitada: o processo de monitorar apenas uma usadas, incluindo localização de zona, localização computada e localização
porção especificamente definida do limite de pressão por contínua.
usando a configuração de matriz de sensores, controlável
localização, zona, n: qualquer uma das várias técnicas para determinar a
parâmetros de instrumentação, ou ambos para limitar a área
região geral de uma fonte de emissão acústica (por
sendo monitorado.
exemplo, contagens totais de AE, energia, acertos e assim por diante).
precisão de localização, n: um valor determinado pela comparação de NOTA: Várias abordagens para localização de zona são usadas, incluindo localização de
a posição real de uma fonte AE (ou simulação AE zona de canal independente, localização de primeira zona de acerto e localização de
fonte) para o local calculado. zona de sequência de chegada.
location, cluster, n: uma técnica de localização baseada em uma localização de zona de canal independente, n: uma localização de zona
quantidade especificada de atividade de AE localizada dentro de um técnica que compara a quantidade bruta de atividade
de cada canal.
comprimento ou área, por exemplo: 5 eventos em 12 lineares
polegadas ou 12 polegadas quadradas.
localização de zona de primeira ocorrência, n: uma técnica de localização de zona que
localização, calculada, n: um método de localização de origem baseado em compara apenas a atividade do canal detectando primeiro
o evento AE.
análise algorítmica da diferença nos tempos de chegada
entre sensores.
localização da zona de sequência de chegada, n: uma técnica de
NOTA: Várias abordagens para localização computada são usadas, incluindo localização de zona que compara a ordem de chegada entre os sensores.
localização linear, localização planar, localização tridimensional e
localização adaptável. distribuição de amplitude logarítmica (emissão acústica) g
(V): ver distribuição, logarítmica (emissão acústica)
localização linear, n: localização de origem unidimensional que requer
amplitude.
dois ou mais canais.
área medida do envelope de sinal retificado: uma medição da área sob o
localização planar, n: localização de origem bidimensional que requer
envelope do sinal linear retificado
três ou mais canais.
sinal de tempo de tensão do sensor.
Localização 3D, n: localização de fonte tridimensional que requer cinco
localização de origem multicanal: uma técnica de localização de origem
ou mais canais.
que se baseia em ondas de estresse de uma única fonte produzindo
localização adaptativa, n: localização de origem pelo uso iterativo de acertos em mais de um sensor. A posição da fonte é
fontes simuladas em combinação com fontes computadas determinado por algoritmos matemáticos usando diferença
localização. na hora da chegada.
localização, sinal AE contínuo, n: um método de localização tempo de recuperação de sobrecarga: um intervalo de operação não linear
com base em sinais AE contínuos, em vez de acertos ou diferenças nos de um instrumento causado por um sinal com amplitude superior à faixa
métodos de localização do tempo de chegada. de operação linear do instrumento.
NOTA: Este tipo de local é comumente usado em locais de vazamento devido a penetrações: em aplicações nucleares, o termo penetrações refere-se a
a presença de emissão contínua. Alguns tipos comuns de métodos de localização de
plugues escalonados contendo seções de cabo de instrumentação
sinal contínuo incluem atenuação de sinal e métodos de análise de correlação.
eletrônica instaladas através de blindagem ou
paredes de contenção para permitir a passagem de instrumentação
localização da fonte baseada na atenuação do sinal, n: um método de sinais de energia e informação através desses protetores
localização da fonte que se baseia no fenômeno de atenuação versus paredes sem comprometer a integridade protetora de
distância dos sinais AE. Ao monitorar o EA a parede.
22
verificação de desempenho, sistema AE: ver verificação, sistema AE. assinatura, emissão acústica (assinatura): uma característica
conjunto de atributos reproduzíveis de sinais de emissão acústica
planta/ sistema da planta: o sistema completo de limite de pressão, associado a um artigo de teste específico, conforme observado com um
incluindo pertences, acessórios e controles sistema de instrumentação particular sob teste especificado
que constituem uma entidade operacional. condições.
operação da planta: operação normal incluindo aquecimento da planta, fonte de EA simulada: um dispositivo que pode induzir repetidamente
inicialização, desligamento e qualquer pressão ou outros estímulos uma onda de tensão elástica transitória na estrutura.
induzido a testar o limite de pressão para outras finalidades
do que a estimulação de fontes de EA. estimulação: a aplicação de um estímulo como força,
pressão, calor e assim por diante, a um artigo de teste para causar
ativação de fontes de emissão acústica.
capacidade de processamento: o número de ocorrências que podem
ser processadas na velocidade de processamento antes que o sistema
limiar de exame do sistema: o instrumento eletrônico
interrompa a coleta de dados para limpar os buffers ou de outra forma
limite (ver limite de avaliação) quais dados serão
prepare-se para aceitar dados adicionais. detectou.
velocidade de processamento: a taxa sustentada (hits/s), em função do limiar de detectabilidade: uma medição de amplitude de pico
conjunto de parâmetros e número de canais ativos, usado para calibração cruzada de instrumentação de diferentes
em que os sinais AE podem ser continuamente processados por um fornecedores de ent.
sistema sem interrupção para transporte de dados.

transdutores, emissão acústica: ver sensor, acústica
rate, event count (Ne): a taxa de tempo da contagem de eventos. emissão.
verificação, sistema AE (verificação de desempenho, sistema AE): o

tempo de atraso de rearme: ver tempo, atraso de rearm.
processo de testar um sistema de EA para garantir a conformidade com
contagem de toque: ver contagem, emissão acústica, o termo preferido. um nível especificado de desempenho ou precisão de medição. (Isso
geralmente é realizado antes, durante e/ou
após um exame AE com o sistema AE conectado
Tensão RMS: a raiz quadrada da tensão média ou o sinal AE retificado ao objeto de exame, usando uma simulação ou artificial
e com média de tempo, medido em uma escala linear fonte de emissão acústica.)
e relatado em volts.
limiar de tensão: um nível de tensão em um comparador eletrônico de
sensor, emissão acústica: um dispositivo de detecção, geralmente modo que sinais com amplitudes maiores do que isso
piezelétrico, que transforma o movimento da partícula produzido por nível será reconhecido. O limite de tensão pode ser
uma onda elástica em um sinal elétrico. ajustável pelo usuário, fixo ou flutuante automático.
matriz de sensores: vários sensores AE dispostos em uma configuração guia de ondas, emissão acústica: um dispositivo que acopla
geométrica projetada para fornecer fonte AE energia de uma estrutura ou outro objeto de teste para um remotamente
detecção/localização de um determinado componente da planta ou área sensor montado durante o monitoramento de EA. Um exemplo de
de limite de pressão a ser monitorada. guia de ondas de emissão acústica seria um fio sólido de haste
que é acoplado em uma extremidade a uma estrutura monitorada, e para
sinal, emissão acústica (sinal de emissão): um sinal elétrico um sensor na outra extremidade.
sinal obtido pela detecção de um ou mais sinais acústicos
zona: a área ao redor de um sensor a partir do qual AE
eventos de emissão.
fontes podem ser detectadas.
amplitude do sinal, emissão acústica: a tensão de pico do localização da zona: um método de localizar o
maior excursão alcançada pela forma de onda do sinal de fonte de emissão.
um evento de emissão.
I-121.9 Qualificação do Sistema de Exames. ð23Þ
nível de sobrecarga de sinal: aquele nível acima do qual a operação
demonstração cega: uma demonstração de desempenho,
deixa de ser satisfatório como resultado da distorção do sinal,
onde o examinador é apresentado com falhas e
superaquecimento ou danos.
espécimes sem defeitos que são visualmente indistinguíveis,
ponto de sobrecarga de sinal: a amplitude máxima do sinal de entrada com o objetivo de provar a capacidade de um sistema de exame para
na qual a relação de saída para entrada é observada para detectar e dimensionar corretamente os locais de falha.
permanecer dentro de uma faixa de operação linear prescrita.
detecção: quando uma amostra ou unidade de classificação é corretamente
interpretada como sendo defeituosa.
intensidade do sinal: a área medida do sinal AE retificado com unidades
proporcionais a volts-segundos. variáveis essenciais: uma mudança no sistema de exames,
NOTA: A constante de proporcionalidade é especificada pelo fabricante o que afetará a capacidade do sistema de funcionar de maneira
do instrumento AE. satisfatória.
23
sistema de exame: o pessoal, procedimentos e nível de ruído: a amplitude de sinais não relevantes em cada
equipamentos aplicados coletivamente por um determinado exame ponto ao longo do tubo, medido em um grupo aleatório de
técnica para avaliar as características de falha de um objeto mais de 30 tubos. É usado para determinar o limite
de interesse. de detectabilidade em cada ponto ao longo dos tubos.
chamada falsa: quando uma amostra ou unidade de classificação é incorretamente relação sinal-ruído: a relação entre a amplitude de
interpretado como sendo imperfeito ou sem defeitos. o pulso transmitido e a amplitude máxima de indicação não relevante
(remanescente) após as reflexões do pulso inicial terem diminuído abaixo
probabilidade de chamada falsa (FCP): a porcentagem resultante de da detecção.
dividindo o número de chamadas falsas pelo número de espécimes ou
unidades de classificação examinadas. tubos de referência/ espécimes de referência: um conjunto de tubos com um
variedade de falhas fabricadas conhecidas em locais conhecidos
unidade de classificação: uma amostra preparada, ou intervalo designado e tamanhos. Ao inspecionar esses tubos e avaliar os resultados, é possível
(por exemplo, comprimento) dentro de uma amostra, com características verificar se o equipamento APR está
de falhas conhecidas, que são usadas para avaliar o desempenho de trabalhando corretamente.
um sistema de exame por demonstração.
I-121.11 GWT — Exame de Onda Guiada.
nível de rigor: o nível de confiança em que um determinado sistema de
exame deve ser demonstrado, com base em fatores como necessidades calibração absoluta: configuração do ganho no sistema de
do usuário, mecanismo de dano e nível de um flange ou tubo aberto na faixa de teste para ser um refletor de 100%.
risco. Existem três níveis de rigor: baixo, intermediário, Na maioria das aplicações de campo, não há flanges ou tubos
e alto (ver T-1424). extremidades abertas na faixa de teste; portanto, uma calibração do
sistema é obtido usando múltiplas reflexões de soldas
demonstração não cega: uma demonstração de desempenho na faixa de teste que são considerados aproximadamente
onde o examinador é apresentado com peças de teste contendo locais de Refletores de 20% para calcular as amplitudes DAC e TCG.
falha claramente identificáveis de tamanhos conhecidos, com
o objetivo de provar a capacidade de um exame anomalia: uma indicação não examinada no exame
sistema para detectar e dimensionar corretamente os locais de falha. resultado que pode ser do material da tubulação, revestimentos, solo,
ou condições de exame. Veja também imperfeição e
variáveis não essenciais: uma mudança no sistema de exame, que não defeito.
afetará a capacidade do sistema de realizar
de forma satisfatória. tubulação básica: tubulação reta (incluindo até um cotovelo)
preenchido com fluido não atenuante que pode ser pintado ou
demonstração de desempenho: uma demonstração das habilidades protegido com um revestimento não atenuante (por exemplo, fusão
máximas de um sistema de exame para avaliar com precisão epóxi colado ou um isolamento não colado, como mineral
uma amostra com características de falhas conhecidas em um ambiente lã) e construído de um único tamanho de tubo e horários,
simulando condições de campo. totalmente acessível no local de teste, unidos por soldas circunferenciais,
e suportados por suportes de contacto simples.
probabilidade de detecção (POD): a porcentagem resultante
da divisão do número de detecções pelo número dobra: uma configuração física que altera a direção da tubulação. Uma
de espécimes defeituosos ou unidades de classificação examinadas. POD dobra pode ser classificada de acordo com a linha central
indica a probabilidade de um sistema de exame detectar uma determinada raio da curva em relação ao diâmetro nominal do tubo.
falha. Uma dobra 11 /2D teria um raio da linha central de 11/2 vezes
o diâmetro nominal do tubo. Uma curva 3D teria um raio central de 3
qualificação: documentação bem-sucedida de um exame vezes o diâmetro nominal do tubo.
capacidade do sistema de demonstrar qualificação estabelecida
objetivos com o nível de rigor exigido, em conformidade nível de chamada: limite de amplitude definido para identificar a reflexão
com os requisitos do artigo 14. sinais que precisam ser avaliados. Ele representa um limiar
de um valor particular de coeficiente de reflexão em qualquer local ao
precisão de dimensionamento: a diferença entre as dimensões declaradas longo do tubo e, portanto, pode ser usado para definir um desejado
pelo fabricante ou pelo proprietário das falhas identificadas no
limite de sensibilidade de acordo com o tamanho do defeito.
corpo de prova e as dimensões determinadas pela aplicação do sistema
de exame no corpo de prova durante a demonstração de qualificação. alteração da seção transversal (CSC): geralmente se refere à alteração
percentual na área da seção transversal da parede do tubo
(aumento ou diminuição, como uma solda ou perda na parede).
I-121.10 APR — Reflectometria de Pulso Acústico.
zona morta: o comprimento do tubo imediatamente abaixo e adjacente ao
teste funcional: o teste funcional de um sistema APR é o sensor GWT que não pode ser examinado porque os sinais de transmissão
ato de examinar os tubos de referência e criar um relatório, verificando a saturaram o
seguir se os resultados estão dentro da tolerância especificada pela norma. sensor(es). O comprimento da zona morta está relacionado com a
frequência de excitação e a velocidade do som no material.
24
limiar de detecção: nível mínimo de amplitude do sinal, tomografia: qualquer técnica radiológica que forneça uma
abaixo do qual não é possível avaliar os sinais. Em GWT imagem de um plano selecionado em um objeto para a exclusão relativa
isso é definido de acordo com a amplitude do fundo de estruturas que estão fora do plano de interesse.
barulho.
voxel: o menor elemento de imagem endereçável em um volume digital
correção distância-amplitude (DAC): uma curva DAC representa a tridimensional, representando um valor de
atenuação do sinal ao longo da distância de intensidade.
a região do exame.
I-121.13 PEC – Corrente Foucault Pulsada.
faixa de exame: a distância do sensor GWT para
quais os sinais refletidos são registrados. ponto de dobra: ponto na curva de decaimento onde o gráfico
passa de um regime de difusão para um regime de decaimento. O
exame de onda guiada (GWT): um método NDE para avaliar
ponto de dobra ocorre em um tempo característico que está relacionado
comprimentos de tubos e outros componentes para parede
com a permeabilidade magnética, condutividade elétrica e a espessura
perda, causada por corrosão interna/externa ou erosão, entalhes e
da parede do componente.
rachaduras. Normalmente, um sensor é acoplado
para a superfície externa do tubo e para criar uma onda nível de chamada: limite na espessura de parede medida sob
que é guiado ao longo da parede do tubo. Estes guiados
quais sinais precisam ser avaliados e se for determinado
as ondas se propagam pelo tubo e refletem de volta para o que a perda de metal é indicada, a indicação deve ser recomendada
sensor por mudanças na área da seção transversal do tubo.
para inspeção de acompanhamento.
Os sinais refletidos são adquiridos, processados e exibidos em um
gráfico de distância versus amplitude. corrosão sob proteção contra fogo (CUF): corrosão externa de
tubulações, vasos de pressão e componentes estruturais resultantes de
faixa de exame permitida: a distância máxima
água retida sob proteção contra incêndio.
do sensor GWT dentro do qual a amplitude do sinal
qualidade são suficientes para permitir que o exame seja corrosão sob isolamento (CUI): corrosão externa de
realizado. tubulações de aço carbono, vasos de pressão e componentes estruturais
amplitude de referência: a amplitude do guiado de saída resultantes da água retida sob o isolamento.
sinal de onda, usado como referência para outras amplitudes e limiares

cobertura: material, como tinta, plástico, asfalto, lã de rocha,
de sinal e a base para as curvas DAC ou
espuma, malha de metal, cimento, fibra de carbono (vidro) ou marinha
TCG.
crescimento, que cobre a superfície de um componente testado em
sensor: o dispositivo GWT consistindo em piezoelétrico a forma de uma camada, feixe, barbante ou incrustação.
ou sensor(es) magnetostrictivo(s) enrolado(s) ao redor do diâmetro
curva de decaimento: gráfico do campo secundário recebido, resultante
externo do tubo que está sendo examinado.
do decaimento das correntes parasitas ao longo do tempo. O sinal pode
faixa de teste: o comprimento da tubulação que pode ser examinado a partir ser a tensão recebida em uma bobina ou nível de campo magnético
localização de um sensor. recebido com um sensor de campo magnético.
ganho controlado por tempo ou ganho corrigido pelo tempo (TCG): ganho pulso de excitação: um pulso magnético que é usado para gerar
adicionado ao sinal em função da distância equivalente ao tempo do correntes parasitas. No exame PEC comum, o campo magnético
pulso inicial usado para normalizar o sinal o campo é escalonado e o pulso tem forma de bloco; outro
ao longo do tempo para compensar a atenuação. formas também são possíveis.
I-121.12 CT – Exame de Tomografia Computadorizada. duração do pulso de excitação: tempo para o qual o DC magnético
campo está ativado. As correntes parasitas são geradas no
tomografia computadorizada (TC): uma técnica de exame não destrutiva
início e fim do pulso de excitação devido ao súbito
que captura projeções radiográficas de
mudança no campo magnético. Na maioria dos instrumentos, o redemoinho
um objeto em vários ângulos de rotação, que são reconstruídos
as correntes geradas na borda de fuga do pulso são
matematicamente para produzir uma imagem tridimensional
usado para medição.
conjunto de dados de volume ou uma ou mais imagens bidimensionais
de seção transversal.
proteção contra fogo: um processo sistemático, incluindo projeto, seleção
indicador de qualidade representativo (RQI): um real ou de materiais e aplicação de materiais, que fornece um grau de resistência
parte semelhante de geometria e atenuação comparáveis ao fogo para substratos protegidos
e montagens.
características ao corpo de prova que possui características mensuráveis
conhecidas, representando exemplos de
descontinuidades. exame de acompanhamento: um segundo exame usado para verificar a
presença de indícios encontrados com triagem e
cintilador: um material cristalino que converte para fornecer a precisão de medição necessária para a avaliação dos
radiação à luz. defeitos encontrados.
25
pegada: área afetada pelo campo magnético emanado da sonda. Um corrente parasita pulsada: corrente parasita gerada no material de
procedimento padronizado para medir a pegada pode ser encontrado base por um pulso de excitação.
no Artigo 21, Apêndice A não obrigatório, A-2152.
local de referência: local que é usado como ponto de referência em
comparação com o qual a espessura relativa da parede é relatada.
revestimento: a camada protetora que é aplicada sobre o isolamento.
triagem: metodologia de exame em que o objetivo do exame é
Materiais de revestimento comuns incluem alumínio, aço inoxidável
encontrar rapidamente a presença de defeitos, sem enfatizar a
e aço galvanizado. Também pode ser referido como revestimento,
precisão da medição.
cobertura ou revestimento.
lift-off: distância entre a sonda e o objeto ferromagnético que está

sendo examinado.
26
ANEXO OBRIGATÓRIO II
REQUISITOS SUPLEMENTARES DE QUALIFICAÇÃO DE PESSOAL
PARA CERTIFICAÇÃO NDE
II-110 ESCOPO (b) Cada amostra deve conter um mínimo de dois

descontinuidades.
Este Apêndice fornece os requisitos adicionais de qualificação
(c) A prática escrita do empregador deve definir a
de pessoal exigidos pelo Artigo 1,
critérios de classificação para todos os exames escritos e práticos.
T-120(g), e que devem ser incluídos na carteira do empregador
prática escrita para certificação de pessoal NDE, quando II-122.2 Além dos exames escritos especificados na Tabela
qualquer uma das seguintes técnicas é usada pelo empregador: II-122.2, todas as certificações de técnicas ultrassônicas devem
radiografia computadorizada (CR), radiografia digital (DR), incluir exames práticos consistindo, como
um mínimo
Phased Array Ultrasonic (PAUT), time-of-flight ultrassônico
difração (TOFD) e captura ultrassônica de matriz completa (a) Os exames práticos de nível II devem exigir pelo menos
(FMC). dois corpos de prova, com cada corpo de prova contendo um
mínimo de duas descontinuidades.
(b) A prática escrita do empregador deve definir a
II-120 REQUISITOS GERAIS critérios de classificação para todos os exames escritos e práticos.
Os requisitos do Artigo 1 e deste Mandato

II-123 REQUISITOS DE NÍVEL III
O apêndice, quando aplicável, deve ser incluído na prática escrita
do empregador. O pessoal de nível III será responsável pelo treinamento
e qualificação de indivíduos nas técnicas de NDE descritas neste
Apêndice Obrigatório. No mínimo, o
II-121 NÍVEL I E NÍVEL II TREINAMENTO E
requisitos do pessoal de Nível III devem incluir cada um dos
REQUISITOS DE EXPERIÊNCIA
a seguir:
As tabelas a seguir devem ser usadas para determinar o (a) possuir uma certificação atual de Nível III no Método
horas mínimas para pessoal sem qualificação prévia (b) atender aos requisitos de Nível II de acordo com II-121 (treinamento
no cinema; Técnicas CR ou DR em radiografia; e PAUT, e experiência) e II-122 (exames) no
Técnicas TOFD e FMC em ultrassom a serem incluídas técnica
na prática escrita do empregador. Ver Tabelas II-121-1
(c) ter evidências documentadas na preparação de
e II-121-2.
procedimentos de NDE para códigos, padrões ou especificações
Para as técnicas CR e DR, o pessoal deve primeiro relacionados à técnica
atender aos requisitos de treinamento e experiência na Tabela (d) demonstrar proficiência na avaliação de resultados de testes
II-121-1 para um nível I nessa técnica como pré-requisito na técnica
por ser elegível para a qualificação como Nível II nessa técnica.
Consulte a Tabela II-121-1, Notas Gerais para modificações Um Nível III que preencha os requisitos acima pode realizar exames
ao número de horas de treinamento e experiência necessárias. na técnica aplicável.
Para TOFD, PAUT e FMC, consulte os pré-requisitos na Tabela
II-121-2. II-124 ESBOÇOS DE TREINAMENTO
II-124.1 Esboços tópicos de treinamento em radiografia
II-122 EXAMES NÍVEL I E NÍVEL II computadorizada (CR). Esboços tópicos de treinamento apropriados para o
treinamento de pessoal de Nível I e Nível II em computação
ð23Þ II-122.1 Além dos exames escritos especificados na Tabela
radiografia pode ser encontrada em ANSI/ASNT CP-105 (2020
II-122.1, todas as qualificações técnicas de CR e DR devem incluir
edição)1 e deve ser usado no mínimo.
exames práticos consistindo, como
um mínimo II-124.2 Treinamento Tópico de Radiografia Digital (DR)
(a) Os exames práticos de Nível I e Nível II devem exigir pelo Contornos. Esboços tópicos de treinamento apropriados para o
menos dois espécimes de teste. Esses espécimes devem o treinamento de pessoal de Nível I e Nível II em radiografia digital
ser representativo das técnicas usadas no procedimento ou pode ser encontrado em ANSI/ASNT CP-105 (2020
procedimentos escritos do empregador, por exemplo, simples/duplo edição)1 e deve ser usado no mínimo. Para indivíduos que possuam
exposição de parede e visualização de parede simples/dupla. uma certificação válida de filme Nível I ou Nível II,
27
o segmento “Física da Radiografia Básica” do tópico II-124.4 Difração de tempo de voo (TOFD). Tópico
esboços referenciados em II-124.1 e II-124.2 não precisam ser esboços de treinamento apropriados para o treinamento de Nível II
repetido, conforme descrito na prática escrita do empregador. pessoal pode ser encontrado em ANSI/ASNT CP-105 (2020
edição)1 e deve ser usado no mínimo.
II-124.3 Phased Array UT. Esboços tópicos de treinamento
apropriado para o treinamento de pessoal de Nível II pode ser II-124.5 Captura de matriz completa (FMC). Treinamento tópico
encontrado em ANSI/ASNT CP-105 (edição de 2020)1 e deve esboços apropriados para o treinamento de pessoal de Nível II
ser usado no mínimo. pode ser encontrado em ANSI/ASNT CP-105 (edição de 2020) e
deve ser usado no mínimo.
ð23Þ Tabela II-121-1

Requisitos iniciais de treinamento e experiência para técnicas de CR e DR
Experiência
Horas Mínimas em
Método de exame Nível de EQM Técnica Horas de Treinamento Técnica Horas totais de NDE
Radiografia EU CR 40 210 400

II CR 40 630 1.200
Radiografia EU RD 40 210 400

II RD 40 630 1.200
NOTAS GERAIS:
(a) Para indivíduos previamente ou atualmente certificados em uma técnica de radiografia (por exemplo, filme) e um formato de curso completo foi
utilizados para atender as qualificações iniciais naquela técnica, as horas adicionais mínimas de treinamento para se qualificar em outra
técnica no mesmo nível deve ser
(1) Nível I, 24 horas
(2) Nível II, 40 horas
conforme definido na prática escrita do empregador.

(b) Além do treinamento especificado na Tabela II-121-1, um mínimo de 16 horas de hardware/software específico do fabricante
também será necessário treinamento para cada sistema/software a ser utilizado. A prática escrita do empregador deve descrever o
meio pelo qual a qualificação do examinador será determinada.
(c) Para indivíduos previamente ou atualmente certificados em uma técnica de radiografia (por exemplo, filme) e um formato de curso completo foi
utilizado para atender às qualificações iniciais naquela técnica, a experiência adicional mínima para se qualificar em outra técnica no mesmo nível será
(1) Nível I, 105 horas

(2) Nível II, 320 horas
conforme definido na prática escrita do empregador.

(d) Para Indivíduos anteriormente ou atualmente certificados como Nível II em uma técnica de radiografia (por exemplo, filme), onde um curso completo
formato foi utilizado para atender as habilitações iniciais nessa técnica, que buscam uma certificação Nível II em outra
técnica, mas não completou as horas de treinamento adicionais especificadas em (a) acima, os seguintes requisitos mínimos devem ser atendidos para
certificação em cada técnica adicional:
(1) 24 horas de treinamento específico da técnica
(2) 16 horas de treinamento de hardware/software específico do fabricante para cada sistema/software a ser usado
(3) um aumento nas amostras de teste de exame prático exigidas em II-122.1(a), de dois para dez.
(a) As amostras de teste adicionais devem incluir espessura variável, diâmetro e técnicas de exposição representadas
comparativo daqueles usados no procedimento ou procedimentos escritos do empregador.
(b) Os espécimes de teste adicionais podem ser imagens digitais brutas e não filtradas fornecidas ao indivíduo com o rádio
detalhes da técnica gráfica exigindo apenas interpretação, avaliação e documentação dos resultados.
(c) Cada corpo de prova adicional deve conter pelo menos uma descontinuidade."
(e) Para indivíduos não atualmente certificados em uma técnica de radiografia que estão buscando qualificação diretamente como Nível II em
CR ou DR, as horas mínimas exigidas de treinamento e experiência na técnica devem consistir de pelo menos a soma das
declarou horas de Nível I e Nível II na técnica.
28
Tabela II-121-2
Requisitos adicionais de treinamento e experiência para técnicas ultrassônicas PAUT, TOFD e FMC
Experiência
Exame Horas Mínimas em
Método Nível de EQM Horas de Treinamento Técnico Técnica Horas totais de NDE
ultrassônico II LINK 80 320 UT Nível I e Nível II

treinamento e experiência
ultrassônico II TOFD 40 320
exigido como um
ultrassônico II FMC 80 320 pré-requisito [Nota (1)],
[Nota 2)]
NOTAS:
(1) Funcionários de nível II que possuem uma certificação de método ultrassônico atual são elegíveis para certificação no PAUT, TOFD e
Técnicas FMC.
(2) Além do treinamento especificado na Tabela II-121-2, treinamento suplementar específico de hardware e software deve ser
necessários para aplicações de técnicas automatizadas ou semiautomáticas. A prática escrita do empregador deve descrever completamente
a natureza e a extensão do treinamento adicional necessário para cada software específico de aquisição ou análise e instrumento/sistema
utilizado. A prática escrita do empregador também deve descrever os meios pelos quais a qualificação do examinador
serão determinados para técnicas automatizadas e semi-automáticas.
Tabela II-122.1
Questões mínimas de exame de CR e DR
Em geral Específico
Técnica Nível I Nível II Nível I Nível II
CR 40 40 30 30
RD 40 40 30 30
Tabela II-122.2
Perguntas mínimas do exame de técnica ultrassônica
Nível II
Técnica Em geral Específico

LINK 40 30
TOFD 40 30
FMC 40 30
29
ð23Þ
ANEXO OBRIGATÓRIO III
EXCEÇÕES E REQUISITOS ADICIONAIS PARA USO DE
ASNT SNT-TC-1A EDIÇÃO 2016
DELETADO
30
ANEXO OBRIGATÓRIO IV ð23Þ
EXCEÇÕES À ANSI/ASNT CP-189 EDIÇÃO 2020
DELETADO
31
APÊNDICE A NÃO OBRIGATÓRIO

IMPERFEIÇÃO VS. TIPO DE MÉTODO DE NDE
A-110 ESCOPO Para imperfeições induzidas pelo serviço, acessibilidade e outras

condições no local do exame também são fatores significativos
A Tabela A-110 lista as imperfeições comuns e a EQM isso deve ser considerado na seleção de um método particular de NDE.
métodos que geralmente são capazes de detectá-los. Além disso, a Tabela A-110 não deve ser considerada totalmente
inclusiva; existem vários métodos/técnicas de EQM e imperfeições
CUIDADO: A Tabela A-110 deve ser considerada para orientação geral não listadas na tabela. O usuário deve considerar todos
apenas e não como base para exigir ou proibir um determinado condições aplicáveis ao selecionar métodos NDE para um determinado
tipo de método NDE para uma aplicação específica. Por exemplo, o aplicativo.
material e a forma do produto são fatores que podem resultar em
diferenças no grau de eficácia implícito na tabela.
Tabela A-110
Imperfeição vs. Tipo de Método de EQM
Subsuperfície
Superfície [Nota (1)] [Nota 2)] Volumétrico [Nota (3)]

TV PT MT E RT UTA UTS MAS ETC
Imperfeições induzidas pelo serviço

Desgaste Abrasivo (Localizado) ÿ ÿ ÿ … ÿÿ ÿ ÿ …
Desgaste do Defletor (Trocadores de Calor) ÿ … … ÿ ……………

Rachaduras por fadiga assistida por corrosão ÿ ÿ ÿ … ÿ ÿ … ÿ …
Corrosão ………………………
-Fenda ÿ ………………… ÿ
-Geral / Uniforme ……… ÿ ÿ ÿ ÿ … …
-Pitting ÿÿÿ … ÿÿÿ ÿ ÿ

-Seletivo ÿÿÿ …………… ÿ
Creep (Primário) [Nota (4)] ………………………
Erosão ÿ ……… ÿ ÿÿÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ………… ÿ ÿ ÿ … ÿ
Fadiga Rachaduras ÿ … …
Fretting (Tubulação do Trocador de Calor) … …
Trincamento … ÿ ÿ … ÿÿÿÿ ÿ … …
a quente Trincamento induzido … ÿ ÿ … ÿ … …
por hidrogênio Trincas de corrosão por tensão intergranular …………… ÿ ………

Rachaduras de corrosão sob tensão (transgranulares) ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ … ÿ …
Imperfeições de soldagem
queimar através ÿ ……… ÿ ÿ ÿ … …
Rachaduras ÿÿÿ ÿ ÿ ÿÿÿ …
Reforço Excessivo/Inadequado ÿ ……… ÿ ÿ ÿ ÿ …
Inclusões (Escória/Tungstênio) … … ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ … ÿÿÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ……… ÿ ÿ ……… …
Fusão Incompleta …
Penetração incompleta …
Desalinhamento
Sobreposição ÿ ÿÿÿ … ÿ ………
Porosidade ÿÿÿ … ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ……… ÿ ÿ ÿÿÿ …
Concavidade da raiz
rebaixo ÿÿÿÿÿÿÿÿ …
Imperfeições do formulário do produto
Explosões (Forjados) ÿÿÿ ÿÿÿÿ ÿ …
Cold Shuts (Castings) ÿÿÿÿÿ ÿ ÿ ÿ …
Rachaduras (todas as formas de produto) ÿÿÿ ÿÿÿ ÿ ÿ …
Hot Tear (Castings) ÿÿÿ ÿÿÿ ÿ ÿ …
32
Tabela A-110
Imperfeição vs. Tipo de Método de EQM (continuação)
Subsuperfície
Superfície [Nota (1)] [Nota 2)] Volumétrico [Nota (3)]

TV PT MT E RT UTA UTS MAS ETC
Inclusões (todos os formulários de produtos) … … ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ ÿ … ÿÿÿÿ …
Laminação (Placa, Tubo) ÿ ÿ ÿ ÿÿÿÿ ÿ ÿÿÿ … ÿÿÿÿ …
Voltas (forjados) … … ÿÿ …
Porosidade (Fundição)
Costuras (Barra, Tubo) ÿÿÿ ÿ ÿ ÿ ÿÿ …
Lenda:
AE - Emissão Acústica
UTT - Medições Ultrassônicas de Espessura ÿ — Uma ou mais técnicas padrão irão
ET — Eletromagnético (Corrente Foucault)
VT - Visuais detectar esta imperfeição sob certas
MT - Partícula Magnética condições.
PT - Líquido Penetrante
ÿ — Todas ou a maioria das técnicas padrão ÿ — Técnicas especiais, condições e/ou
RT - Radiografia
detectar esta imperfeição em todos ou na maioria as qualificações do pessoal são necessárias para
UTA - Feixe de Ângulo Ultrassônico
condições. detectar essa imperfeição.
UTS — Feixe Reto Ultrassônico
NOTA GERAL: A Tabela A-110 lista as imperfeições e os métodos de NDE capazes de detectá-las. Deve-se ter em mente que este
tabela é muito geral por natureza. Muitos fatores influenciam a detectabilidade das imperfeições. Esta tabela assume que apenas pessoal qualificado é
realização de exames não destrutivos e boas condições para permitir o exame (bom acesso, condições da superfície, limpeza,
etc).
NOTAS:
(1) Métodos capazes de detectar imperfeições abertas apenas na superfície.
(2) Métodos capazes de detectar imperfeições abertas na superfície ou ligeiramente abaixo da superfície.
(3) Métodos capazes de detectar imperfeições que possam estar localizadas em qualquer parte do volume examinado.
(4) Vários métodos NDE são capazes de detectar fluência terciária (3º estágio) e alguns, particularmente usando técnicas especiais, são capazes de
detecção de fluência secundária (2º estágio). Existem várias descrições/definições para os estágios de fluência e uma descrição/definição particular
definição não será aplicável a todos os materiais e formas de produtos.
33
ARTIGO 2
EXAME RADIOGRÁFICO
T-210 ESCOPO T-222.2 Soldas. As ondulações da solda ou as irregularidades da

superfície da solda tanto no interior (quando acessível) quanto no exterior
O método radiográfico descrito neste Artigo para exame de materiais, devem ser removidas por qualquer processo adequado a tal ponto que as
incluindo fundidos e soldas, deve ser usado juntamente com o Artigo 1, imagens das irregularidades da superfície não possam mascarar ou ser
Requisitos Gerais. As definições dos termos usados neste Artigo estão confundidas com a imagem de qualquer descontinuidade na radiografia
no Artigo 1, Apêndice I Obrigatório, I-121.1, RT — Radiografia.
resultante .
A superfície acabada de todas as juntas soldadas de topo pode estar
nivelada com o material de base ou pode ter coroas razoavelmente
Certos requisitos específicos do produto, da técnica e da aplicação uniformes, com reforço que não exceda o especificado na Seção do
também são fornecidos em outros Apêndices Obrigatórios deste Artigo, Código de referência.
conforme listados no sumário. Esses requisitos adicionais também devem
ser atendidos quando um Apêndice for aplicável ao exame radiográfico ou
radioscópico que está sendo realizado. T-223 RADIAÇÃO DE RETRODISPOSIÇÃO ð23Þ
7
Um símbolo de chumbo “B”, com dimensões mínimas de /16 pol.
1
(11 mm) de altura e /16 pol. (1,5 mm) de espessura devem estar em
contato direto com a parte traseira de cada porta-filme ou cassete durante
cada exposição para determinar se a radiação retroespalhada está expondo
REQUISITOS GERAIS T-220 o filme. O símbolo de derivação “B” deve ser colocado em um local para
que apareça dentro de uma área na radiografia que atenda aos requisitos
T-221 REQUISITOS DO PROCEDIMENTO T-221.1
de T-282, VIII-282 ou IX-282, conforme aplicável.
Procedimento escrito. O exame radiográfico deve ser realizado de
acordo com um procedimento escrito. Cada procedimento deve incluir
pelo menos as seguintes informações, conforme aplicável: (a) tipo de
T-224 SISTEMA DE IDENTIFICAÇÃO
material e faixa de espessura (b)
isótopo ou tensão máxima de raios-X usada (c) Um sistema deve ser usado para produzir em cada radiografia uma
distância fonte-objeto (D em T-274.1) (d ) distância do identificação que seja rastreável ao item que está sendo radiografado e
lado da fonte do objeto ao filme (d em T-274.1) (e) que seja permanente durante o período de retenção exigido da radiografia.
Essas informações devem incluir o contrato, componente, número de solda
tamanho da fonte (F em T-274.1) (f) marca e designação do filme (g)
ou número de peça, conforme apropriado. Além disso, o símbolo ou nome
telas
do fabricante e a data da radiografia devem ser incluídos com as
usadas
informações de identificação em cada radiografia.
O nome ou símbolo de um subcontratado NDE também pode ser usado

T-221.2 Demonstração de procedimento. demonstração junto com o do Fabricante. Este sistema de identificação não exige
dos requisitos de imagem do indicador de densidade e qualidade de necessariamente que as informações apareçam como imagens
imagem (IQI) do procedimento escrito sobre radiografias de produção ou radiográficas. Em qualquer caso, esta informação não deve obscurecer a
área de interesse.
técnicas devem ser consideradas evidências satisfatórias de conformidade
com esse procedimento.
T-225 LIMITAÇÕES DE DENSIDADE DE MONITORAMENTO DE
T-222 PREPARAÇÃO DE SUPERFÍCIE RADIOGRAFIAS
T-222.1 Materiais incluindo peças fundidas. As superfícies devem Um densitômetro ou filme de comparação de cunha de passo
satisfazer os requisitos da especificação de materiais aplicável ou deve ser usado para avaliar a densidade do filme.
referenciar a Seção do Código, com condicionamento adicional, se
necessário, por qualquer processo adequado de tal forma que as imagens
T-226 EXTENSÃO DO EXAME
de irregularidades da superfície não possam mascarar ou ser confundidas
com a imagem de qualquer descontinuidade em a radiografia resultante. A extensão do exame radiográfico deve ser conforme especificado
pela Seção do Código de referência.
34
T-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS Tabela T-233.2

FILME T-231 Designação IQI do fio, diâmetro do fio e
Identidade do cabo
T-231.1 Seleção. As radiografias devem ser feitas com
filme radiográfico industrial. Conjunto A Conjunto B
diâmetro do fio, Arame diâmetro do fio, Arame

T-231.2 Processamento. Guia Padrão para Controlling
pol. (mm) Identidade pol. (mm) Identidade
a Qualidade do Processamento Industrial de Filmes Radiográficos,
0,0032 (0,08) 1 0,010 (0,25) 6
SE-999, ou Seções 23 a 26 do Guia Padrão para
0,004 (0,10) 2 0,013 (0,33) 7
Exame radiográfico usando radiografia industrial 3 8
0,005 (0,13) 0,016 (0,41)
O filme, SE-94/SE-94M, pode ser usado como um guia para 0,0063 (0,16) 4 0,020 (0,51) 9
processar o filme, exceto que a Seção 8.1 do SE-999 não é necessária. 0,008 (0,20) 5 0,025 (0,64) 10
0,010 (0,25) 6 0,032 (0,81) 11
TELAS DE INTENSIFICAÇÃO T-232

Conjunto C Conjunto D
Telas de intensificação podem ser usadas ao executar Arame Arame

diâmetro do fio, diâmetro do fio,
exame radiográfico de acordo com este artigo. pol. (mm) Identidade pol. (mm) Identidade
0,032 (0,81) 11 0,100 (2,54) 16

PROJETO DE INDICADOR DE QUALIDADE DE IMAGEM T-233 (IQI) 0,040 (1,02) 12 0,126 (3,20) 17
0,050 (1,27) 13 0,160 (4,06) 18

Projeto IQI padrão T-233.1. IQIs devem ser o
0,063 (1,60) 14 0,200 (5,08) 19
tipo de furo ou o tipo de fio. Os IQIs do tipo furo devem ser
0,080 (2,03) 15 0,250 (6,35) 20
fabricados e identificados de acordo com os requisitos ou 16 21
0,100 (2,54) 0,320 (8,13)
alternativas permitidas na SE-1025. IQIs tipo fio
devem ser fabricados e identificados de acordo com
os requisitos ou alternativas permitidas na SE-747, exceto
que o maior número de fio ou o número de identidade pode
ser omitido. Os IQIs padrão ASME devem consistir naqueles em
Tabela T-233.1 para tipo de furo e aqueles na Tabela T-233.2
para tipo de fio.
Tabela T-233.1
Designação IQI do Tipo de Furo, Espessura e Diâmetros do Furo
Furo 4T
IQI Espessura, 1T Diâmetro do furo, 2T Diâmetro do furo, Diâmetro,

Designação IQI pol. (mm) pol. (mm) pol. (mm) pol. (mm)
5 0,005 (0,13) 0,010 (0,25) 0,020 (0,51) 0,040 (1,02)
7 0,0075 (0,19) 0,010 (0,25) 0,020 (0,51) 0,040 (1,02)
10 0,010 (0,25) 0,010 (0,25) 0,020 (0,51) 0,040 (1,02)
12 0,0125 (0,32) 0,0125 (0,32) 0,025 (0,64) 0,050 (1,27)
15 0,015 (0,38) 0,015 (0,38) 0,030 (0,76) 0,060 (1,52)
17 0,0175 (0,44) 0,0175 (0,44) 0,035 (0,89) 0,070 (1,78)
20 0,020 (0,51) 0,020 (0,51) 0,040 (1,02) 0,080 (2,03)
25 0,025 (0,64) 0,025 (0,64) 0,050 (1,27) 0,100 (2,54)
30 0,030 (0,76) 0,030 (0,76) 0,060 (1,52) 0,120 (3,05)
35 0,035 (0,89) ) 0,035 (0,89) 0,070 (1,78) 0 0,140 (3,56)
40 0,040 (1,02) 0,040 (1,02) 0,080 (2,03) 0,160 (4,06)
45 0,045 (1,14) 0,045 (1,14) 0,090 (2,29) 0,180 (4,57)
50 0,050 ( 1,27) 0,050 ( 1,27) 0,100 ( 2,54) 0,200 (5,08)
60 0,060 (1,52) 0,060 (1,52) 0,120 (3,05) 0,240 (6,10)
70 0,070 (1,78) 0,070 (1,78) 0,140 (3,56) 0,280 (7,11)
80 0,080 (2,03) 0,080 (2,03) 0,160 (4,06) 0,320 (8,13)
100 0,100 (2,54) 0,100 (2,54) 0,200 (5,08) 0,400 (10,16)
120 0,120 (3,05) 0,120 (3,05) 0,240 (6,10) 0,480 (12,19)
140 0,140 (3,56) 0,140 (3,56) 0,280 (7,11) 0,560 (14,22)
160 0,160 (4,06) 0,160 (4,06) 0,320 (8,13) 0,640 (16,26)
200 0,200 (5,08) 0,200 (5,08) 0,400 (10,16) …
240 0,240 (6,10) 0,240 (6,10) 0,480 (12,19) …
280 0,280 (7) .11) 0,280 (7) .11) 0,560 (14.22) …
35
T-233.2 Projeto IQI alternativo. IQIs projetados e em comparação com um comprimido de etapa padrão nacional, a
fabricados de acordo com outras normas nacionais ou inter menos que, antes do primeiro uso, tenha sido mantido no original
padrões nacionais podem ser usados desde que os requisitos de (a) pacote selado à prova de luz e à prova d'água conforme fornecido
ou (b) abaixo, e o material pelo fabricante. Os filmes de calibração de cunha de passo podem
os requisitos do T-276.1 são atendidos. ser usado sem verificação por um ano após a abertura,
(a) IQIs tipo furo. A Sensibilidade IQI Equivalente calculada (EPS), desde que esteja dentro do prazo de validade declarado pelo fabricante.
conforme SE-1025, Apêndice X1, é igual ou melhor do que o IQI tipo (b) As instruções passo a passo do fabricante do densitômetro para
furo padrão exigido. a operação do densitômetro devem ser
(b) IQIs tipo fio. O fio alternativo IQI essencial seguido.
diâmetro do fio é igual ou menor que o fio essencial IQI padrão exigido. (c) As etapas de densidade mais próximas de 1,0, 2,0, 3,0 e 4,0 em
deve ser lida a pastilha padrão nacional ou o filme de calibração da
cunha de degraus.
T-234 INSTALAÇÕES PARA VISUALIZAÇÃO DE
(d) O densitômetro é aceitável se as leituras de densidade não
RADIOGRAFIAS
variarem em mais de ±0,05 unidades de densidade de
As instalações de visualização devem fornecer fundo suave a densidade real declarada no tablet de passo padrão nacional ou no
iluminação de intensidade que não cause reflexos, sombras ou filme de calibração de cunha de passo.
ofuscamento na radiografia que interfiram na
processo de interpretação. O equipamento usado para visualizar T-262.2 Filmes de comparação de cunha degrau. Cunha de passo
os filmes de comparação devem ser verificados antes do primeiro uso, a menos que
gráficos de rádio para interpretação deve fornecer uma luz variável
fonte suficiente para o buraco IQI essencial ou designado executado pelo fabricante, como segue:
fio para ser visível para a faixa de densidade especificada. O (a) A densidade dos degraus em um filme de comparação de
as condições de visualização devem ser tais que a luz ao redor degraus deve ser verificada por um densitômetro calibrado.
a borda externa da radiografia ou passando por porções de baixa (b) O filme de comparação de degraus é aceitável se o
densidade da radiografia não interfere com as leituras de densidade não variam em mais de ±0,1 densidade
interpretação. unidades da densidade declarada no filme de comparação de cunha
degrau.
T-260 CALIBRAÇÃO T-262.3 Verificação Periódica.
(a) Densitômetros. Verificação de calibração periódica

T-261 TAMANHO DA FONTE
as verificações devem ser realizadas conforme descrito em T-262.1 em
T-261.1 Verificação do tamanho da fonte. O equipamento início de cada turno, após 8 horas de uso contínuo,
publicações do fabricante ou fornecedor, como manuais técnicos, ou após a mudança de aberturas, o que ocorrer primeiro.
curvas de decaimento ou declarações escritas documentando o (b) Películas de comparação de degraus. verificações de verificação
tamanho real ou máximo da fonte ou foco deve ser realizada anualmente de acordo com T-262.2.
local, deve ser aceitável como verificação do tamanho da fonte.
T-262.4 Documentação.
T-261.2 Determinação do tamanho da fonte. Quando as
(a) Densitômetros. Calibrações de densitômetro necessárias
publicações do fabricante ou do fornecedor não estiverem disponíveis,
pelo T-262.1 deve ser documentado, mas as leituras reais
tamanho da fonte pode ser determinado da seguinte forma:
para cada etapa não precisam ser registradas. As verificações
(a) Máquinas de Raio-X. Para máquinas de raios-X operando em
periódicas do densitômetro exigidas por T-262.3(a) não
1.000 kV e menos, o tamanho do ponto focal pode ser determinado
tem que ser documentado.
de acordo com SE-1165, Método de teste padrão para
(b) Filmes de calibração de cunha escalonada. As verificações de
Medição de pontos focais de tubos de raios X industriais
filme de calibração de cunha de passo exigidas por T-262.1(a) devem ser
por Pinhole Imaging.
documentado, mas as leituras reais para cada etapa não
(b) Fontes de irídio-192. Para Iridium-192, a fonte
não precisa ser registrado.
tamanho pode ser determinado de acordo com SE-1114,
Método de teste padrão para determinar o tamanho focal de (c) Películas de comparação de degraus. Verificações de filme de
Iridium-192 Fontes Radiográficas Industriais. comparação de cunha de passo exigidas por T-262.2 e
T-262.3(b) deve ser documentado, mas as leituras reais
DENSITÔMETRO T-262 E CUNHA DE DEGRAU para cada etapa não precisam ser registradas.
FILME DE COMPARAÇÃO
Densitômetros T-262.1. Os densitômetros devem ser calibrados

brado pelo menos a cada 3 meses durante o uso da seguinte forma: EXAME T-270
(a) Um comprimido de passo padrão nacional ou um filme de
T-271 TÉCNICA RADIOGRÁFICA 3
calibração de cunha, rastreável a um comprimido de passo padrão nacional
e tendo pelo menos cinco etapas com densidades neutras de Uma técnica de exposição de parede única deve ser usada para
pelo menos 1,0 a 4,0, deve ser usado. O filme de calibração do step radiografia sempre que possível. Quando não é prático
wedge deve ter sido verificado no último ano usar uma técnica de parede única, uma técnica de parede dupla
36
Deve ser usado. Um número adequado de exposições deve ser T-274 NÃO NITIDEZ GEOMÉTRICA
feito para demonstrar que a cobertura necessária foi
T-274.1 Determinação da falta de nitidez geométrica.
obtido.
A falta de nitidez geométrica da radiografia deve ser determinada de
acordo com:
T-271.1 Técnica de Parede Única. Na parede simples
técnica, a radiação passa por apenas uma parede do
a solda (material), que é vista para aceitação em
a radiografia. onde
T-271.2 Técnica de parede dupla. Quando não for prático usar D = distância da fonte de radiação à solda ou objeto
uma técnica de parede única, um dos seguintes sendo radiografado
técnicas de parede dupla devem ser usadas. d = distância do lado de origem da solda ou objeto sendo
(a) Visualização de parede única. Para materiais e para soldas em radiografado para o filme
componentes, pode ser utilizada uma técnica em que a radiação F = tamanho da fonte: a dimensão máxima projetada de
passa por duas paredes e apenas a solda (material) na parede lateral a fonte radiante (ou ponto focal efetivo) em
do filme é visualizada para aceitação na o plano perpendicular à distância D de
radiografia. Quando a cobertura completa é necessária para soldas a solda ou objeto sendo radiografado
circunferenciais (materiais), deve ser feito um mínimo de três E = falta de nitidez geométrica
exposições de 120 graus entre si. D e d devem ser determinados no centro aproximado
(b) Visualização em parede dupla. Para materiais e para soldas em da área de interesse.
componentes 31/2 pol . (89 mm) ou menos no exterior nominal NOTA: Alternativamente, um nomógrafo conforme mostrado no Guia Padrão para
diâmetro, uma técnica pode ser usada na qual a radiação Exame radiográfico usando filme radiográfico industrial,
passa por duas paredes e a solda (material) em ambas SE-94/SE-94M, pode ser usado.
paredes é visualizado para aceitação na mesma radiografia.
T-274.2 Limitações geométricas de falta de nitidez. Valores
Para visualização de parede dupla, apenas um IQI do lado da fonte deve ser
máximos recomendados para falta de nitidez geométrica
usado.
são como segue:
(1) Para soldas, o feixe de radiação pode ser desviado de
o plano da solda em um ângulo suficiente para separar o Espessura do material, pol. (mm) E Máximo, em. (milímetros)
imagens das porções do lado da fonte e do lado do filme do Abaixo de 2 0,020 (0,51)
soldar de modo que não haja sobreposição das áreas a serem (50) 2 a 3 (50–75) 0,030 (0,76)
Mais de 3 a 4 (75–100) 0,040 (1,02)
interpretadas. Quando a cobertura completa é necessária, um mínimo de
Maior que 4 (100) 0,070 (1,78)
de duas exposições feitas a 90 graus uma da outra deve ser
feito para cada articulação.
(2) Como alternativa, a solda pode ser radiografada

com o feixe de radiação posicionado de modo que as imagens de NOTA: A espessura do material é a espessura na qual o IQI se baseia.
ambas as paredes são sobrepostas. Quando a cobertura completa é

MARCADORES DE LOCALIZAÇÃO T-275
exigido, um mínimo de três exposições tomadas em qualquer
60 graus ou 120 graus entre si devem ser feitos para cada Marcadores de localização (ver Figura T-275), que devem
articulação. aparecer como imagens radiográficas na radiografia, devem ser
colocado na peça, não no suporte de exposição/cassete.
(3) Exposições adicionais devem ser feitas se a cobertura
Suas localizações devem ser permanentemente marcadas na
radiográfica necessária não puder ser obtida usando
superfície da parte que está sendo radiografada quando permitido, ou
o número mínimo de exposições indicado em (1) ou
em um mapa, de forma a permitir que a área em um gráfico de rádio
(2) acima.
seja rastreada com precisão até sua localização na peça,
para o período de retenção necessário da radiografia. Além disso,
suas localizações não limitam a área de interesse ou
T-272 ENERGIA DE RADIAÇÃO
a área a ser interpretada. Provas também devem ser fornecidas
na radiografia que a cobertura necessária da região que está sendo
A energia de radiação empregada para qualquer radiografia
examinada foi obtida. Marcadores de localização
técnica deve atingir os requisitos de densidade e imagem IQI deste
Artigo. devem ser colocados da seguinte forma.
T-275.1 Visualização de parede única.

(a) Marcadores do lado da fonte. Os marcadores de localização devem ser
T-273 DIREÇÃO DE RADIAÇÃO colocado no lado da fonte ao radiografar o

seguindo:
A direção do feixe central de radiação deve ser (1) componentes planos ou juntas longitudinais em cilindros
centrado na área de interesse, sempre que possível. componentes cal ou cônicos;
37
Figura T-275
Esboços de marcadores de localização
ARTIGO
2
Lado da fonte
aceitável
Lado do Lado da fonte
filme inaceitável aceitável
Lado do
Lado do Lado da fonte filme inaceitável
filme inaceitável aceitável
38
BPVC.V-2023
ASME
Componente plano ou costura longitudinal
[Consulte T-275.1(a)(1)]
[Ver esboço (e) para alternativas]
(a)
Componentes curvos com fonte de radiação para
distância do filme menor que o raio do componente
[Consulte T-275.1(a)
(2)] (b)
Componentes curvos com superfície convexa
em direção à fonte de
radiação [Ver
T-275.1(a)(3)] (c)
Marcador de
localização de qualquer lado
é aceitável
D
x Mf x
Lado da fonte
Lado do
inaceitável Marcador do lado da fonte
filme aceitável
alternativo Componente plano ou costura
Componentes curvos com fonte de radiação para longitudinal x = (t / Componentes curvos com fonte de radiação na
distância do filme maior que o raio de curvatura [Ver x = D) (Mf / 2) cobertura adicional curvatura central
T-275.1(b)(1)] (d) necessária além do marcador de [Ver T-275.1(c)] (f)
t = localização do lado do
Mf = filme espessura do componente
LENDA: Fonte de radiação - D = marcador de localização do lado
do filme intervalo da
Marcador de localização —
fonte ao componente [Consulte T-275.1(b)(2 )] (e)
Centro de componentes —
(2) componentes curvos ou esféricos cujo côncavo referenciando a Seção de Código. A medição física dos reforços de
lado está em direção à fonte e quando o “source-to solda reais não é necessária. Anéis ou tiras de apoio não devem ser
a distância do material” é menor que o raio interno do considerados como parte da espessura na seleção do IQI.
componente;
(3) componentes curvos ou esféricos cujas (b) Soldas sem reforços. A espessura na qual o IQI se baseia é a
lado está voltado para a fonte.
espessura nominal do material de parede única. Anéis ou tiras de
(b) Marcadores do lado apoio não devem ser considerados como parte da espessura na
do filme (1) Os marcadores de localização devem ser colocados seleção do IQI. (c) Valores reais. Com relação
no lado do filme ao radiografar componentes curvos ou esféricos
a (a) e (b) acima, quando a espessura real do material/solda é
cujo lado côncavo está voltado para a fonte e quando a distância
medida, a seleção de IQI pode ser baseada nesses valores
“fonte-material” é maior que a raio lateral.
conhecidos.
(2) Como alternativa à colocação do lado da fonte em T-275.1(a) T-276.3 Soldas que unem materiais diferentes ou soldas com
(1), os marcadores de localização podem ser colocados no lado do metal de adição diferente. Quando o metal de solda for de um
filme quando a radiografia mostrar cobertura além dos marcadores grupo ou grau de liga que tenha uma atenuação de radiação
de localização na extensão demonstrada pela Figura T-275 , croqui diferente do material de base, a seleção do material IQI deve ser
(e), e quando esta alternativa for documentada de acordo com T-291. baseada no metal de solda e estar de acordo com T-276.1 . Quando
os limites de densidade de T-282.2 não puderem ser atendidos com
(c) Marcadores de ambos os lados. Os marcadores de localização um IQI, e a(s) área(s) de densidade excepcional(is) estiver(em) na
podem ser colocados no lado da fonte ou no lado do filme ao fazer interface do metal de solda e do metal base, a seleção de material
gráficos de rádio de componentes curvos ou esféricos cujo lado para os IQIs adicionais deve ser baseada no material base e estar
côncavo está voltado para a fonte e a distância "fonte-material" é
de acordo com T-276.1.
igual ao raio interno do componente.
T-275.2 Visualização em parede dupla. Para visualização de

parede dupla, pelo menos um marcador de localização deve ser T-277 USO DE IQIS PARA MONITORAMENTO RADIOGRÁFICO
colocado adjacente à solda (ou no material na área de interesse) EXAME
para cada radiografia.
T-277.1 Colocação de IQIs. ð23Þ
T-275.3 Mapeamento da colocação de marcadores de (a) IQI(s) do lado da fonte. O(s) IQI(s) deve(m) ser colocado(s)
localização. Quando a inacessibilidade ou outras limitações
no lado da fonte da peça que está sendo examinada, exceto para a
impedirem a colocação de marcadores conforme estipulado em condição descrita em (b).
T-275.1 e T-275.2, um mapa dimensionado da colocação real do
Quando, devido à configuração ou tamanho da peça ou solda,
marcador deve acompanhar as radiografias para mostrar que a
não for prático colocar o(s) IQI(s) na peça ou solda, o(s) IQI(s)
cobertura total foi obtida.
pode(m) ser colocado(s) em um bloco separado. Blocos separados
SELEÇÃO DE IQI T-276 devem ser feitos do mesmo ou de materiais radiograficamente
semelhantes (conforme definido em SE-1025 para tipo de orifício ou
Material T-276.1. Os IQIs devem ser selecionados do mesmo
SE-747 para tipo de fio) e podem ser usados para facilitar o
grupo de material de liga ou grau conforme identificado em SE-1025
posicionamento do IQI. Não há restrição na espessura do bloco
para tipo de furo ou SE-747 para tipo de fio, ou de um grupo de
separado, desde que os requisitos de tolerância de densidade IQI/
material de liga ou grau com menos absorção de radiação do que área de interesse do T-282.2 sejam atendidos.
o material sendo radiografado.
(1) O IQI no lado da fonte do bloco separado não deve ser
Tamanho T-276.2. O orifício designado IQI ou fio essencial deve colocado mais próximo do filme do que o lado da fonte da parte que
ser conforme especificado na Tabela T-276. Um IQI de furo mais está sendo radiografada.
fino ou mais grosso pode ser substituído por qualquer espessura de
(2) O bloco separado deve ser colocado o mais próximo
seção listada na Tabela T-276, desde que uma sensibilidade de IQI
possível da parte que está sendo radiografada.
equivalente seja mantida. Veja T-283.2. Para IQIs do tipo fio, um fio
de diâmetro menor pode ser substituído pelo fio essencial necessário (3) Quando são usados IQIs do tipo orifício, as dimensões do
para qualquer espessura de seção listada na Tabela T-276. bloco devem exceder as dimensões do IQI de modo que a linha de
contorno de pelo menos três lados da imagem do IQI seja visível na
(a) Soldas com reforços. A espessura na qual o IQI se baseia é a radiografia.
espessura nominal do material de parede única mais a espessura (b) IQI(s) do lado do filme. Quando a inacessibilidade impedir a
do reforço de solda estimada em ambos os lados da solda (ID e colocação manual do(s) IQI(s) no lado da fonte, o(s) IQI(s) deve(m)
OD). Os valores usados para as espessuras estimadas de reforço ser colocado(s) no lado do filme em contato com a parte que está
de solda devem ser representativos das condições de solda e não sendo examinada. Uma letra de chumbo “F” deve ser colocada
devem exceder os máximos permitidos pelo adjacente ou sobre o(s) IQI(s), mas não deve mascarar o orifício
essencial onde os orifícios IQIs são usados.
39
ð23Þ Tabela T-276

Seleção IQI
QI
Lado da Fonte Página do filme
Espessura nominal do material de parede única tipo de furo Essencial Tipo de fio tipo de furo Essencial Tipo de fio
Alcance, pol. (mm) Designação Buraco fio essencial Designação Buraco fio essencial
ÿ0,25 (ÿ6,4)> 12 2t 10 2t 4
0,25 a 0,375 (> 6,4 a 9,5)> 0,375 a 0,50 15 2t 56 12 2t 5
(> 9,5 a 12,7)> 0,50 a 0,75 (> 12,7 a 19,0)> 17 2t 15 2t 6
0,75 a 1,00 (> 19,0 a 25,4)> 1,00 a 1.50) 20 2t 7 17 2t 7
(>25,4 a 38,1) >1,50 a 2,00 (>38,1 a 50,8) 25 2t 8 20 2t 8
>2,00 a 2,50 (>50,8 a 63,5) >2,50 a 4,00 30 2t 9 25 2t 9
(>63,5 a 101,6) >4,00 a 6,00 (>101,6 a 35 2t 10 30 2t 10
152,4) >6,00 a 8,0 0 (>152,4 a 203,2) 40 2t 11 35 2t 11
>8,00 a 10,00 (>203,2 a 254,0) >10,00 a 50 2t 12 40 2t 12
12,00 (>254,0 a 304,8) >12,00 a 16,00 60 2t 13 50 2t 13
(>304,8 a 406,4) >16,00 a 20,00 (>406,4 a 80 2t 14 60 2t 14
50) 8.0) 100 2t 16 80 2t 16
120 2t 17 100 2t 17
160 2t 18 120 2t 18
200 2t 20 21 160 2t 20
NOTA GERAL: Reconhece-se que a designação necessária do tipo de furo ou fio essencial do tipo de fio nesta tabela pode não alcançar um IQI
nível de sensibilidade de 2–2T. Isso é intencional.
(c) Colocação de IQI para soldas - IQIs de furo. O(s) IQI(s) pode(m) (b) Casos Especiais4
ser colocado adjacente ou sobre a solda. A identificação (1) Para componentes cilíndricos onde a fonte é
número(s) e, quando usado, a letra inicial “F” não deve colocado no eixo do componente para uma única exposição,
estar na área de interesse, exceto quando a configuração geométrica pelo menos três IQIs, espaçados aproximadamente 120 graus,
o tornar impraticável. são exigidos nas seguintes condições:
(d) Colocação de IQI para soldas - IQIs de arame. O(s) QI(s) (-a) Quando a circunferência completa é radiografada usando
deve ser colocado na solda de modo que os comprimentos dos fios um ou mais porta-filmes, ou;
são transversais ao eixo longitudinal da solda. Não é
(-b) Quando uma seção ou seções da circunferência, onde o
necessário para o fio essencial abranger toda a largura do
comprimento entre as extremidades da extremidade
a solda. No entanto, o fio essencial deve abranger pelo menos
seções abrangem 240 ou mais graus, é radiografado usando um
aquela parte da solda que representa a espessura nominal do material
ou mais porta-filmes. Locais de filme adicionais podem ser necessários
da parede única e reforço para o qual o
para obter o espaçamento IQI necessário.
O fio essencial IQI foi selecionado. Os requisitos de densidade
(2) Para componentes cilíndricos onde a fonte é
do T-292 e os requisitos de sensibilidade do T-283 devem
colocado no eixo do componente para uma única exposição,
também ser atendidos.. A identificação do IQI e, quando utilizado, o
pelo menos três IQIs, com um colocado em cada extremidade do vão
letra inicial “F” não deve estar na área de interesse, exceto
da circunferência radiografada e uma no centro aproximado do vão,
quando a configuração geométrica o torna impraticável.
são exigidas nas seguintes
(e) Colocação de IQI para materiais que não sejam soldas. O
condições:
IQI(s) com a identificação do IQI e, quando usado, o lead
a letra “F” pode ser colocada na área de interesse. (-a) Quando uma seção da circunferência, o
cujo comprimento é superior a 120 graus e inferior a
T-277.2 Número de IQIs. Quando um ou mais filmes
240 graus, é radiografado usando apenas um porta-filme, ou;
titulares são usados para uma exposição, pelo menos uma imagem IQI
(-b) Quando uma seção ou seções da circunferência, onde o
deve aparecer em cada radiografia, exceto conforme descrito em
comprimento entre as extremidades da extremidade
(b) abaixo.
seções abrangem menos de 240 graus, é radiografado usando
(a) Múltiplos IQIs. Se os requisitos do T-282 forem atendidos
mais de um porta-filme.
ao usar mais de um IQI, um será representativo
da área de interesse mais clara e a outra a mais escura (3) Em (1) e (2) acima, onde seções de soldas longitudinais
área de interesse; as densidades intermediárias no gráfico de rádio adjacentes à solda circunferencial são radiografadas simultaneamente
devem ser consideradas como tendo densidade aceitável. com a solda circunferencial,
um IQI adicional deve ser colocado em cada longitudinal
solda no final da seção mais distante da junção com a solda
circunferencial sendo radiografada.
40
(4) Para componentes esféricos em que a fonte é colocada no AVALIAÇÃO T-280

centro do componente para uma única exposição, pelo menos três
IQIs, espaçados aproximadamente 120 graus entre si, são necessários T-281 QUALIDADE DE RADIOGRAFIAS
nas seguintes condições: Todas as radiografias devem estar livres de defeitos mecânicos,
(-a) Quando uma circunferência completa é radiografada químicos ou outros, na medida em que não mascarem e não sejam
usando um ou mais suportes de filme, ou; (-b) Quando confundidos com a imagem de qualquer descontinuidade na área de
uma seção ou seções de uma circunferência, onde o interesse do objeto sendo radiografado.
comprimento entre as extremidades das seções mais externas Essas manchas incluem, mas não estão limitadas a: (a)
abrangem 240 ou mais graus, é radiografado usando um ou mais embaçamento;
suportes de filme. Locais de filme adicionais podem ser necessários (b) defeitos de processamento, como listras, marcas d'água ou
para obter o espaçamento IQI necessário. manchas químicas;
(5) Para componentes esféricos onde a fonte é colocada no (c) arranhões, marcas de dedo, dobras, sujeira, estática
centro do componente para uma única exposição, pelo menos três marcas, manchas ou lágrimas;
IQIs, com um colocado em cada extremidade do vão da circunferência (d) falsas indicações devido a telas defeituosas.
radiografada e um no centro aproximado do vão , são exigidas nas
seguintes condições: (-a) Quando uma seção de uma circunferência, T-282 DENSIDADE RADIOGRÁFICA
cujo comprimento é maior que
T-282.1 Limitações de densidade. A densidade do filme
120 graus e menor que 240 graus, é radiografada usando
transmitido através da imagem radiográfica do corpo do IQI tipo
apenas um porta-filme, ou; (-b) Quando uma seção ou seções de
orifício designado adjacente ao orifício essencial ou adjacente ao fio
uma circunferência, onde o comprimento entre as
essencial de um IQI tipo fio e a área de interesse deve ser de no
extremidades das seções mais externas abrangem menos
mínimo 1,8 para visualização de filme único para radiografias feitas
de 240 graus, é radiografado usando mais de um suporte de filme.
com fonte de raios X e 2,0 mínimo para radiografias feitas com fonte
de raios gama.
Para visualização composta de múltiplas exposições de filme, cada
(6) Em (4) e (5) acima, onde outras soldas são radiografadas
filme do conjunto composto deve ter uma densidade mínima de 1,3.
simultaneamente com a solda circunferencial, um IQI adicional deve
A densidade máxima deve ser 4,0 para visualização única ou
ser colocado em cada solda.
composta. Uma tolerância de 0,05 em densidade é permitida para
variações entre as leituras do densitômetro.
(7) Para segmentos de um componente plano ou curvo (ou
seja, elipsoidal, torisférico, toricônico, elíptico, etc.) onde a fonte é T-282.2 Variação de densidade.
colocada perpendicularmente ao centro de um comprimento de solda (a) A densidade da radiografia em qualquer ponto da área de
para uma única exposição ao usar mais de três suportes de filme , interesse não deve
são necessários pelo menos três IQIs, um colocado em cada (1) variar em mais de menos 15% ou mais 30% da densidade
extremidade do vão radiografado e um no centro aproximado do vão. através do corpo do IQI tipo orifício designado adjacente ao orifício
essencial ou adjacente ao fio essencial de um IQI tipo fio, e (2 )
(8) Quando uma matriz de componentes em um círculo é exceda as faixas de densidade mínima/
radiografada, pelo menos um IQI deve aparecer em cada imagem de máxima permitidas especificadas em T-282.1 Ao calcular a
componente. variação permitida na densidade, o
(9) A fim de manter a continuidade dos registros envolvendo cálculo pode ser arredondado para o 0,1 mais próximo dentro da
exposições subsequentes, todas as radiografias exibindo IQIs que faixa especificada em T-282.1.
qualifiquem as técnicas permitidas de acordo com ( 1) a (7) acima
devem ser retidas. (b) Quando os requisitos de (a) acima não forem atendidos, um
IQI adicional deve ser usado para cada área ou áreas excepcionais e
T-277.3 Calços sob IQIs tipo furo. Para soldas, um calço de
a radiografia refeita. (c) Quando calços são usados
material radiograficamente semelhante ao metal de solda deve ser
colocado entre a peça e o IQI, se necessário, de modo que a com IQIs do tipo furo, a restrição de densidade de mais 30% de
(a) acima pode ser excedida, e os requisitos mínimos de densidade
densidade radiográfica em toda a área de interesse não seja superior
de T-282.1 não se aplicam para o IQI, desde que a sensibilidade de
a menos 15% (mais leve que) a densidade radiográfica através do
IQI exigida de T-283.1 é atendido.
IQI designado adjacente ao orifício essencial.
As dimensões do calço devem exceder as dimensões do IQI de

modo que o contorno de pelo menos três lados da imagem do IQI T-283 IQI SENSIBILIDADE
seja visível na radiografia. T-283.1 Sensibilidade necessária. A radiografia deve ser
realizada com uma técnica de sensibilidade suficiente para exibir a
imagem IQI do tipo de orifício designada (incluindo entalhes de
identificação do grupo de materiais aplicáveis) e o orifício essencial
ou o fio essencial de um IQI do tipo fio.
As radiografias também devem exibir o IQI identificando
41
números e letras. Se a imagem IQI do tipo de furo designada requisitos do Artigo 2 e da Seção do Código de referência. Como
(incluindo a identificação do grupo de materiais aplicável auxílio à revisão e avaliação, a documentação da técnica radiográfica
entalhes) e orifício essencial, ou fio essencial de um tipo de fio IQI, não exigida pelo T-291
aparecem em nenhum filme em uma técnica de filme múltiplo, mas devem ser preenchidos antes da avaliação. O formulário de revisão do
aparecem na visualização de filme composto, a interpretação deve ser gráfico de rádio exigido pelo T-292 deve ser preenchido
permitida apenas pela visualização de filme composto. durante a avaliação. Os detalhes da técnica radiográfica
Para IQIs do tipo fio, o fio essencial deve estar visível e a documentação do formulário de revisão de radiografia deve
dentro da área de interesse que representa a espessura acompanhar as radiografias. A aceitação deve ser concluída
usado para determinar o fio essencial, incluindo o antes da apresentação das radiografias e documentação acompanhante
variações de densidade permitidas descritas em T-282.2. ao Inspetor.
T-283.2 Sensibilidade equivalente de IQI tipo furo. A

IQI tipo furo mais fino ou mais grosso do que o IQI designado
pode ser substituído, desde que um IQI equivalente ou melhor
DOCUMENTAÇÃO T-290
sensibilidade, conforme listado na Tabela T-283, é alcançada e todos
outros requisitos para radiografia são atendidos. Equivalente T-291 TÉCNICA RADIOGRÁFICA
A sensibilidade do IQI é mostrada em qualquer linha da Tabela T-283 que DETALHES DA DOCUMENTAÇÃO
contém o IQI designado e buraco. Melhor sensibilidade IQI
A organização deve preparar e documentar o
é mostrado em qualquer linha da Tabela T-283 que está acima do
detalhes da técnica radiográfica. No mínimo, as seguintes informações
linha de sensibilidade equivalente. Se o IQI designado e o buraco
devem ser fornecidas.
não estão representados na tabela, a próxima linha IQI mais fina
da Tabela T-283 pode ser usado para estabelecer IQI equivalente (a) os requisitos do Artigo 1, T-190(a)
sensibilidade. (b) identificação conforme exigido pelo T-224
(c) o mapa dimensional (se usado) da colocação do marcador
T-284 RETRODISPULSÃO EXCESSIVA de acordo com T-275.3
Se uma imagem clara do “B”, conforme descrito no T-223, aparecer (d) número de exposições
em um fundo mais escuro da radiografia, a proteção contra
(e) Tensão de raios-X ou tipo de isótopo usado
retroespalhamento é insuficiente e a radiografia
(f) tamanho da fonte (F em T-274.1)
serão considerados inaceitáveis. Uma imagem escura do
“B” em um fundo mais claro não é motivo para rejeição. (g) tipo e espessura do material de base, espessura da solda,
espessura do reforço de solda, conforme aplicável
T-285 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE (h) distância fonte-objeto (D em T-274.1)
O Fabricante será responsável pela revisão, (i) distância do lado da fonte do objeto ao filme (d em
interpretação, avaliação e aceitação das radiografias concluídas para T-274.1)
assegurar a conformidade com os (j) fabricante do filme e seu tipo/
designação
(k) número de filmes em cada porta-filme/cassete
Tabela T-283
(l) exposição de parede simples ou dupla
Sensibilidade IQI de Tipo de Furo Equivalente
(m) visualização de parede simples ou dupla
Designação do Tipo de Furo Designações de tipo de furo equivalente
Furo 2T Furo 1T Furo 4T
10 15 5 T-292 FORMULÁRIO DE REVISÃO DE RADIOGRAFIA

12 17 7
15 20 10 O fabricante será responsável pela preparação de um formulário de
17 25 12 revisão de radiografia. No mínimo, as seguintes informações devem
20 30 15 ser fornecidas.
25 35 17
(a) uma lista de cada local de radiografia
30 40 20
35 50 25 (b) as informações exigidas no T-291, por inclusão de
40 60 30 as informações no formulário de revisão ou por referência a
50 70 35 uma folha de detalhes da técnica radiográfica em anexo
60 80 40
(c) avaliação e disposição do(s) material(is) ou
80 120 60
100 140 70 solda(s) examinada(s)
120 160 80 (d) identificação (nome) do representante do Fabricante que realizou
160 240 120
a aceitação final do
200 280 140
radiografias
(e) data da avaliação do fabricante
42
RADIOGRAFIA EM MOVIMENTO
F = tamanho da fonte: a dimensão máxima projetada de

I-210 ESCOPO
a fonte radiante (ou ponto focal) no plano perpendicular à
A radiografia em movimento é uma técnica de radiografia em distância b + c da solda
filme em que o objeto que está sendo radiografado e/ou o sendo radiografado
w = largura do feixe no lado da fonte da solda medido na direção do
fonte de radiação está em movimento durante a exposição.
movimento
A radiografia em movimento pode ser realizada em soldagens
quando as seguintes disposições modificadas para aquelas NOTA: Use unidades consistentes.
no Artigo 2 estão satisfeitas.
Este apêndice não é aplicável a rádio computadorizado

técnicas gráficas (CR) ou radiográficas digitais (DR). EXAME I-270
I-274 GEOMÉTRICO E EM MOVIMENTO
NÃO NITIDEZ
I-220 REQUISITOS GERAIS I-274.1 Falta de nitidez geométrica. A falta de nitidez geométrica
I-223 SÍMBOLO DE DETECÇÃO DE RETROSCATTER para radiografia em movimento deve ser determinada
ð23Þ
de acordo com T-274.1.
LOCALIZAÇÃO
I-274.2 Falta de nitidez em movimento. A falta de nitidez em
(a) Para soldas longitudinais, o símbolo de chumbo “B” deve ser
em contato direto com a parte de trás de cada porta-filme ou cassete movimento da radiografia deve ser determinada de acordo
com:
ou em intervalos aproximadamente iguais não excedendo
36 pol. (914 mm) de distância, o que for menor.
(b) Para soldas circunferenciais, o símbolo de chumbo “B” deve
estar em contato direto com a parte de trás do suporte do filme ou cas
sette em cada quadrante ou com espaçamento não superior a 36 pol. onde
(914 mm), o que for menor.
D = distância da fonte de radiação ao ponto de solda
(c) O símbolo de chumbo “B” deve ser colocado em um local
radiografado
que apareceria dentro de uma área na radiografia
d = distância do lado da fonte da solda sendo radiografada para o
que atende aos requisitos do T-282.
filme
UM = falta de nitidez em movimento
w = largura do feixe no lado da fonte da solda medido na direção
I-260 CALIBRAÇÃO do movimento determinado conforme especificado em I-263
I-263 LARGURA DO FEIXE

NOTA: Use unidades consistentes.
A largura do feixe deve ser controlada por um diafragma de metal,
como chumbo. O diafragma para a energia selecionada deve ter I-274.3 Limitações de falta de nitidez. Recomendado
pelo menos 10 camadas de meio valor de espessura. valores máximos para falta de nitidez geométrica e falta de nitidez
A largura da viga mostrada na Figura I-263 deve ser determinada em movimento são fornecidos em T-274.2.
de acordo com:
I-275 MARCADORES DE LOCALIZAÇÃO
Os marcadores de localização devem ser colocados adjacentes à solda

na extremidade de cada cassete de filme e também em intervalos
aproximadamente iguais, não excedendo 15 pol. (381 mm).
onde
I-277 COLOCAÇÃO E NÚMERO DE MEDIDAS
a = largura da fenda no diafragma na direção do movimento
b = distância da fonte ao lado da solda do (a) Para soldas longitudinais, os orifícios IQIs devem ser
diafragma colocados adjacentes e em cada lado da costura de solda, ou no
c = distância do lado da solda do diafragma até o costura de solda no início e no final da costura de solda,
lado da fonte da superfície de solda e depois em intervalos aproximadamente iguais não
43
Figura I-263
Determinação da Largura do Feixe
superior a 36 pol. (914 mm) ou para cada cassete de filme. Os IQIs de quando usado, deve ser colocado na costura de solda de modo que o
arame, quando usados, devem ser colocados na costura de solda de comprimento dos fios seja transversal ao comprimento da solda e
modo que o comprimento dos arames seja transversal ao comprimento espaçado conforme indicado acima para IQIs de furos.
da solda e espaçados conforme indicado acima
para IQIs de orifício. (b) Para soldas circunferenciais, furos IQIs
I-279 ÁREA REPARADA
devem ser colocados adjacentes e em cada lado da costura de solda
ou na costura de solda em cada quadrante ou espaçados não mais Quando a radiografia de uma área reparada for necessária, o
que 36 pol. (914 mm), o que for menor. IQIs de fio, comprimento do filme usado deve ser pelo menos igual ao comprimento
do intervalo do marcador de localização original.
44
EXAME RADIOSCÓPICO EM TEMPO REAL
II-210 ESCOPO II-236 PADRÃO DE TESTE DE PAR DE LINHAS CALIBRADAS

E CUNHA DE PASSO
A radioscopia em tempo real fornece imagens de resposta imediata
com a capacidade de acompanhar o movimento da parte O padrão de teste de par de linhas deve ser usado sem um
inspecionada. Isso inclui radioscopia onde o movimento do objeto de absorvedor adicional para avaliar a resolução do sistema. A cunha
teste deve ser limitado (comumente referido como radioscopia quase de passo deve ser usada para avaliar a sensibilidade de contraste do
em tempo real). sistema.
A radioscopia em tempo real pode ser realizada em materiais, A cunha de degrau deve ser feita do mesmo material que o objeto
incluindo peças fundidas e soldadas, quando as disposições de teste com degraus representando 100%, 99%, 98% e 97% das
seções de material mais grosso e mais fino a serem inspecionadas.
modificadas do Artigo 2 , conforme indicado neste documento, forem satisfeitas.
SE-1255 deve ser usado em conjunto com este Apêndice, conforme Espessuras de degrau adicionais são permitidas.
indicado por referências específicas nos parágrafos apropriados.
SE-1416 fornece informações adicionais que podem ser usadas para
exame radioscópico de soldas. II-237 NÍVEL DE DESEMPENHO EQUIVALENTE
Este Apêndice não se aplica a técnicas de radiografia de filme, Um sistema que exibe uma resolução espacial de 3 pares de
radiografia computadorizada (CR) ou radiografia digital (DR). linhas por milímetro, uma sensibilidade de contraste de seção fina de
3% e uma sensibilidade de contraste de seção espessa de 2% tem
um nível de desempenho equivalente de 3% — 2% — 3 lp/mm.
II-220 REQUISITOS GERAIS

Esta metodologia radioscópica pode ser usada para o exame de CALIBRAÇÃO II-260
materiais ferrosos ou não ferrosos e
A calibração do sistema deve ser realizada no modo estático,
soldagens.
satisfazendo a resolução do padrão de teste de par de linhas, a
sensibilidade ao contraste de cunha e a detecção de descontinuidade
II-221 REQUISITOS DO PROCEDIMENTO
do bloco de calibração necessária para atender aos requisitos IQI
Um procedimento escrito é necessário e deve conter no mínimo o do T-276 .
seguinte (consulte SE-1255, 6.2): (a) faixa de
material e espessura (b) qualificação II-263 MEDIÇÃO DE DESEMPENHO DO SISTEMA
do equipamento (c) plano de
Os parâmetros de desempenho do sistema radioscópico em tempo
varredura do objeto de teste
real devem ser determinados inicialmente e monitorados regularmente
(d) parâmetros radioscópicos (e)
com o sistema em operação para garantir resultados consistentes.
imagem parâmetros de processamento
O desempenho do sistema deve ser monitorado em intervalos
(f) parâmetros de exibição de
suficientemente programados para minimizar a probabilidade de
imagem (g) arquivamento de imagem
variações de desempenho dependentes do tempo. Os testes de
desempenho do sistema requerem o uso do bloco de calibração,
padrão de teste de par de linhas e cunha degrau.
II-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS
As técnicas de medição do desempenho do sistema devem ser
II-231 REGISTRO DE EXAME RADIOSCÓPICO padronizadas para que possam ser prontamente duplicadas nos
Os dados do exame radioscópico devem ser registrados intervalos especificados.
e armazenados em fita de vídeo, disco magnético ou disco óptico.
II-264 MEDIÇÃO COM CALIBRAGEM
II-235 BLOCO DE CALIBRAÇÃO BLOQUEAR
O bloco de calibração deve ser feito do mesmo tipo de material e O bloco de calibração também deve ser colocado na mesma
forma de produto que o objeto de teste. O bloco de calibração pode posição do objeto real e manipulado na mesma faixa e velocidade de
ser um objeto de teste real ou pode ser fabricado para simular o movimentos que serão usados para o objeto real para demonstrar a
objeto de teste com descontinuidades conhecidas. resposta do sistema no modo dinâmico.
45
II-270 EXAME II-290 DOCUMENTAÇÃO
II-278 CONFIGURAÇÃO DO SISTEMA II-291 INFORMAÇÕES DA TÉCNICA RADIOSCÓPICA Para ajudar na
O sistema de exame radioscópico deve, no mínimo, incluir o seguinte: interpretação adequada dos dados do exame radioscópico, detalhes
(a) fonte de radiação (b) sistema da técnica usada devem acompanhar os dados. No mínimo, as
de manipulação (c) informações devem incluir os itens especificados no T-291, quando
sistema de detecção (d) aplicável, II-221, e o seguinte:
sistema de processamento
de informações (e) sistema de exibição de (a) identificação do operador (b)
imagens (f) sistema de dados do teste de desempenho do sistema
arquivamento de registros
II-292 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE
Antes de serem apresentados ao Inspetor para aceitação, os dados

II-280 AVALIAÇÃO
do exame devem ser interpretados pelo Fabricante como estando em
II-286 FATORES QUE AFETAM O SISTEMA conformidade com a Seção do Código de referência. O fabricante deve
DESEMPENHO registrar a interpretação e disposição de cada soldagem examinada em
um formulário de revisão de interpretação radiográfica que acompanha
A qualidade do desempenho do sistema de exame radioscópico é
os dados radioscópicos.
determinada pelo desempenho combinado dos componentes
especificados em II-278. (Ver SE-1255, 7.1.)
Ao usar IQIs de fio, o sistema de exame radioscópico pode exibir
sensibilidade assimétrica; portanto, o eixo do diâmetro do fio deve ser
orientado ao longo do eixo de menor sensibilidade do sistema.
46

AQUISIÇÃO, EXIBIÇÃO E ARMAZENAMENTO DE IMAGENS DIGITAIS PARA
RADIOGRAFIA E RADIOSCOPIA
III-210 ESCOPO III-236 TESTE DE PAR DE LINHA ÓPTICA CALIBRADA

PASSO DE PADRÃO E DENSIDADE ÓPTICA
Aquisição, exibição e armazenamento de imagens digitais podem ser
CUNHA
aplicados à radiografia e à radioscopia. Depois que a imagem analógica
Um padrão de teste de pares de linhas ópticas operando entre 0,1 e
é convertida para o formato digital, os dados podem ser exibidos,
4,0 de densidade óptica deve ser usado para avaliar a função de
processados, quantificados, armazenados, recuperados e convertidos
transferência de modulação (MTF) do sistema. A cunha de degrau de
de volta ao formato analógico original, por exemplo, filme ou apresentação
densidade óptica deve ser usada para avaliar a sensibilidade de
de vídeo.
contraste do sistema.
A geração de imagens digitais de todos os resultados de exames
radiográficos e radioscópicos deve ser realizada de acordo com as
disposições modificadas do Artigo 2 , conforme indicado neste documento.
III-250 AQUISIÇÃO E ARMAZENAMENTO DE IMAGENS
III-255 ÁREA DE INTERESSE

Qualquer parte dos dados da imagem pode ser digitalizada e
III-220 REQUISITOS GERAIS armazenada, desde que a informação digitalizada e armazenada inclua a
área de interesse definida pela Seção de Código de referência.
III-221 REQUISITOS DO PROCEDIMENTO
Um procedimento escrito é necessário e deve conter, no mínimo, os
seguintes parâmetros de desempenho do sistema: (a) parâmetros de III-258 CONFIGURAÇÃO DO SISTEMA
digitalização de imagem — função de transferência de modulação
O sistema deve incluir, no mínimo, o seguinte: (a) sistema de
(MTF), resolução de par de linhas, sensibilidade de contraste e faixa
digitalização (b) sistema
dinâmica
de visualização (c)
(b) parâmetros de exibição de imagem — formato, contraste e
sistema de processamento de
ampliação (c)
imagens (d) sistema de armazenamento de imagens
parâmetros de processamento de imagem usados (d)
armazenamento — identificação, compactação de dados e mídia
(incluindo precauções a serem tomadas para evitar perda de dados) (e) III-260 CALIBRAÇÃO
saída
O sistema deve ser calibrado para função de transferência de
analógica formatos
modulação (MTF), faixa dinâmica e sensibilidade ao contraste.
III-222 ARTEFATOS IMAGENS ORIGINAIS III-263 MEDIÇÃO DE DESEMPENHO DO SISTEMA
Quaisquer artefatos identificados na imagem original Os parâmetros de desempenho do sistema (conforme observado em
devem ser anotados ou anotados na imagem digital. III-221) devem ser determinados inicialmente e monitorados regularmente
O desempenho do sistema deve ser monitorado no início e no final de
III-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS cada turno para minimizar a probabilidade de variações de desempenho
dependentes do tempo.
III-231 REGISTRO DE EXAME DE IMAGEM DIGITAL
Os dados do exame de imagem digital devem ser gravados e
III-280 AVALIAÇÃO
armazenados em fita de vídeo, disco magnético ou disco óptico.
III-286 FATORES QUE AFETAM O SISTEMA

III-234 CONSIDERAÇÕES DE VISUALIZAÇÃO DESEMPENHO
A imagem digital será julgada por comparação visual como equivalente A qualidade do desempenho do sistema é determinada pelo
à qualidade da imagem original no momento da digitalização. desempenho combinado dos componentes especificados em III-258.
47
III-287 ARTEFATOS INDUZIDOS PELO SISTEMA (b) dados de teste de desempenho do sistema
As imagens digitais devem estar livres de artefatos induzidos pelo III-292 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE
sistema na área de interesse que possam mascarar ou ser confundidos
fundido com a imagem de qualquer descontinuidade no original Antes de serem apresentados ao Inspetor para aceitação, os dados
imagem analógica. do exame digital de uma radiografia
ou imagem radioscópica deve ter sido interpretada pelo
Fabricante em conformidade com o Código de referência
III-290 DOCUMENTAÇÃO Seção.
Os dados de exame digital de uma radiografia que

III-291 TÉCNICA DE IMAGEM DIGITAL
previamente aceito pelo Inspetor não precisa ser submetido ao Inspetor
INFORMAÇÃO
para aceitação.
Para auxiliar na interpretação adequada dos dados do exame
digital, os detalhes da técnica utilizada devem acompanhar
os dados. No mínimo, as informações devem incluir
itens especificados em T-291 e II-221 quando aplicável,
III-221, III-222 e os seguintes:
(a) identificação do operador
48
ANEXO OBRIGATÓRIO IV
INTERPRETAÇÃO, AVALIAÇÃO E DISPOSIÇÃO DE
TESTE DE EXAME RADIOGRÁFICO E RADIOSCÓPICO
RESULTADOS PRODUZIDOS PELA AQUISIÇÃO DE IMAGENS DIGITAIS E
PROCESSO DE EXIBIÇÃO
IV-210 ESCOPO (b) parâmetros de exibição da imagem — tamanho do monitor,

incluindo tamanho do pixel de exibição, luminosidade, formato,
Os resultados dos exames de imagem digital produzidos de acordo
contraste e
com o Artigo 2º, Anexo II Obrigatório, e Artigo 2º, Anexo III Obrigatório,
ampliação; (c) parâmetros de processamento de sinal — incluindo
poderão ser interpretados e avaliados para disposição final de acordo
deslocamento de densidade, extensão de contraste, transformação
com as disposições complementares ao Artigo 2º aqui indicadas.
logarítmica e quaisquer outras técnicas que não alterem
matematicamente os dados digitais originais, por exemplo, medição
A informação digital é obtida em série com a radiografia e em linear e de área, dimensionamento de pixel e determinação de valor;
paralelo com a radioscopia. Este processo de coleta de dados também
(d) armazenamento — identificação, compactação de dados e mídia
fornece interpretação, avaliação e disposição dos resultados do teste
(incluindo precauções a serem tomadas para evitar a perda de dados).
de exame.
A mídia ótica não apagável deve ser usada para aplicações de
arquivamento. Isso é freqüentemente chamado de tecnologia WORM
(Write Once Read Many). Quando o armazenamento é realizado em
IV-220 REQUISITOS GERAIS
mídia magnética ou óptica apagável, devem ser incluídos procedimentos
A imagem digital deve ser interpretada enquanto exibida no monitor. que mostrem proteções rastreáveis para evitar adulteração de dados
A interpretação pode incluir ajuste de densidade e contraste, e garantir a integridade dos dados.
quantificação e medição de pixel, incluindo valores de densidade
digital ou óptica e medição linear ou de área.
IV-222 ARTEFATOS IMAGENS ORIGINAIS
A interpretação de uma imagem digitalizada depende da mesma Quaisquer artefatos identificados devem ser anotados ou anotados
avaliação subjetiva por um intérprete treinado que a interpretação de tatado na imagem digital.
uma imagem radiográfica ou radioscópica. Alguns dos parâmetros
significativos considerados durante a interpretação incluem: área de
interesse, qualidade da imagem, imagem IQI, ampliação, densidade, IV-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS
contraste, forma de descontinuidade (arredondada, linear, irregular) e
IV-231 REGISTRO DE EXAME DE IMAGEM DIGITAL
identificação do artefato.
Os dados do exame de imagem digital devem ser gravados e
A interpretação da imagem digital dos resultados dos exames armazenados em fita de vídeo, disco magnético ou disco óptico.
radiográficos e radioscópicos deve ser realizada de acordo com as
disposições modificadas do Artigo 2 , conforme indicado neste IV-234 CONSIDERAÇÕES DE VISUALIZAÇÃO
documento. A imagem digital deve ser avaliada usando a luminosidade
Após a conclusão da interpretação, os dados da interpretação e a apropriada do monitor, técnicas de exibição e iluminação da sala para
imagem digital, que deve incluir a imagem original completa não garantir a visualização adequada dos detalhes.
processada e a imagem processada digitalmente, devem ser gravados
e armazenados em fita de vídeo, fita magnética ou disco óptico. IV-236 TESTE DE PAR DE LINHA ÓPTICA CALIBRADA
PASSO DE PADRÃO E DENSIDADE ÓPTICA
CUNHA
IV-221 REQUISITOS DO PROCEDIMENTO
Um padrão de teste de pares de linhas ópticas operando entre 0,1
É necessário um procedimento escrito que deve conter, no mínimo, e 4,0 de densidade óptica deve ser usado para avaliar a função de
os seguintes parâmetros de desempenho do sistema: (a) parâmetros transferência de modulação (MTF) do sistema. A alta resolução
de digitalização de imagem — função de transferência de modulação espacial com 14 pares de linha por milímetro (lp/mm) se traduz em um
(MTF), resolução de par de linhas, sensibilidade de contraste, faixa tamanho de pixel de 0,0014 pol. (0,035 mm). Resolução espacial
dinâmica e tamanho de pixel; menor com 2 lp/mm pode ser obtida
49
com um tamanho de pixel de 0,012 pol. (0,3 mm). O degrau de densidade IV-280 AVALIAÇÃO
óptica deve ser utilizado para avaliar a sensibilidade ao contraste do
IV-286 FATORES QUE AFETAM O SISTEMA
sistema. Como alternativa, pode ser usado um medidor de sensibilidade
DESEMPENHO
ao contraste (step wedge block) de acordo com SE-1647.
A qualidade do desempenho do sistema é determinada pelo desempenho
combinado dos componentes especificados em IV-258.
IV-250 AQUISIÇÃO DE IMAGENS, ARMAZENAMENTO E
INTERPRETAÇÃO
IV-287 ARTEFATOS INDUZIDOS PELO SISTEMA
IV-255 ÁREA DE INTERESSE
As imagens digitais devem estar livres de artefatos induzidos pelo
A avaliação da imagem digital deve incluir todas as áreas da imagem
sistema na área de interesse que possam mascarar ou ser confundidos
definidas como área de interesse pela Seção do Código de referência.
com a imagem de qualquer descontinuidade.
IV-258 CONFIGURAÇÃO DO SISTEMA

IV-290 DOCUMENTAÇÃO
O sistema deve incluir, no mínimo: (a) sistema de
IV-291 TÉCNICA DE IMAGEM DIGITAL
aquisição de imagem digital (b) sistema de INFORMAÇÃO
exibição (c) sistema de
Para auxiliar na interpretação adequada dos dados do exame digital,
processamento de imagem (d)
os detalhes da técnica utilizada devem acompanhar os dados. No mínimo,
sistema de armazenamento de imagem
as informações devem incluir itens especificados em T-291 e II-221 quando
aplicável, III-221, III-222, IV-221, IV-222 e o seguinte:
IV-260 CALIBRAÇÃO
(a) identificação do operador (b)
O sistema deve ser calibrado para função de transferência de modulação dados do teste de desempenho do sistema
(MTF), faixa dinâmica e sensibilidade ao contraste. (c) dados do teste de calibração
O desempenho elétrico do hardware e a qualidade da imagem digital
devem ser medidos e registrados. IV-292 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE
Antes de serem apresentados ao Inspetor para aceitação, os dados

IV-263 MEDIÇÃO DE DESEMPENHO DO SISTEMA
de exame digital de uma imagem radiográfica ou radioscópica devem ter
Os parâmetros de desempenho do sistema (conforme observado em sido interpretados pelo Fabricante como estando de acordo com a Seção
IV-221) devem ser determinados inicialmente e monitorados regularmente do Código de referência.
O desempenho do sistema deve ser monitorado no início e no final de Os dados de exame digitalizados que foram previamente aceitos pelo
cada turno para minimizar a probabilidade de variações de desempenho Inspetor não precisam ser submetidos ao Inspetor para aceitação.
dependentes do tempo.
50
ANEXO VI OBRIGATÓRIO
AQUISIÇÃO, EXIBIÇÃO, INTERPRETAÇÃO E ARMAZENAMENTO DE
IMAGENS DIGITAIS DE FILME RADIOGRÁFICO PARA NUCLEAR
FORMULÁRIOS
VI-210 ESCOPO (c) método de verificação da captura da imagem;

(d) operações de processamento de
O processo e a tecnologia de imagem digital fornecem a
imagem; (e) período de tempo para verificação do sistema (ver
capacidade de digitalizar e armazenar as informações detalhadas
VI-264); (f) resolução espacial usada (ver
contidas no filme radiográfico (imagem analógica), eliminando assim
VI-241); (g) sensibilidade ao contraste (faixa de densidade obtida)
a necessidade de manter e armazenar o filme radiográfico como
(ver
registro permanente.
VI-242); (h) faixa dinâmica usada (consulte VI-243);
e (i) linearidade espacial do sistema (ver VI-244).
VI-220 REQUISITOS GERAIS VI-223 REQUISITOS DE PESSOAL O pessoal deve

VI-221 REQUISITOS COMPLEMENTARES ser qualificado da seguinte forma: (a) Pessoal
VI-221.1 Informações Adicionais. O artigo 2º, Anexos III e IV de Nível II e Nível III. O pessoal de Nível II e Nível III deve ser
obrigatórios , contém informações adicionais que devem ser utilizadas qualificado no método radiográfico conforme exigido pelo Artigo 1.
para complementar os requisitos deste Anexo. Esses requisitos Além disso, a prática escrita do empregador deve descrever o
suplementares devem ser documentados no procedimento escrito treinamento específico e a experiência prática do pessoal de Nível II
exigido por este Apêndice. e Nível III envolvido na aplicação do processo de imagem digital e a
interpretação dos resultados e aceitação do desempenho do sistema.
Treinamento e experiência devem ser documentados nos registros
VI-221.2 Filme de referência. Suplemento A contém re
de certificação do indivíduo.
requisitos para a fabricação do filme de referência.
VI-222 PROCEDIMENTO ESCRITO

(b) No mínimo, os indivíduos de Nível II e III devem ter 40 horas
de treinamento e 1 mês de experiência prática na técnica de
É necessário um procedimento escrito. O procedimento escrito processamento de imagem digital. (c) Outro
será de responsabilidade do proprietário do filme radiográfico e Pessoal. O pessoal com qualificações limitadas que executam
deverá ser demonstrado de forma satisfatória ao Inspetor Nuclear operações diferentes das exigidas para o Nível II ou Nível III deve ser
Autorizado (ANI). Quando outras agências de fiscalização ou qualificado de acordo com o Artigo 1. Cada indivíduo deve ter
reguladoras estão envolvidas, a aprovação da agência é exigida por treinamento específico e experiência prática nas operações a serem
acordo formal. O procedimento escrito deve incluir, no mínimo, as executadas.
seguintes variáveis essenciais:
VI-222.1 Descrição do sistema de digitalização.

(a) fabricante e modelo no. de sistema de digitalização; (b)
VI-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS
tamanho físico da área utilizável do monitor de imagem; (c) CARACTERÍSTICAS DO SISTEMA VI-231
capacidade
Os seguintes recursos devem ser comuns a todos os
de tamanho de filme do dispositivo de digitalização;
sistemas de processamento de
(d) tamanho(s) do ponto do sistema de escaneamento imagem: (a) formato de exibição de imagem não
do filme; (e) tamanho do pixel de exibição da imagem conforme entrelaçada; (b) WORM — armazenamento de dados de gravação única/
definido pelos limites de resolução vertical/horizontal
leitura múltipla; e (c) compressão de dados totalmente reversível (sem
do monitor; (f) luminância da exibição do vídeo; perdas) (se a compressão de dados for usada).
e (g) meio de armazenamento de dados.
TAMANHO DO LOCAL DO SISTEMA VI-232
VI-222.2 Técnica de digitalização. (a)
tamanho do ponto do digitalizador (em mícrons) a ser usado (ver O tamanho do ponto do sistema de digitalização deve
VI-232); ser: (a) 70 mícrons ou menor para filme radiográfico exposto com
(b) técnica de compressão de dados sem perdas, se utilizada; energias de até 1 MeV; ou
51
(b) 100 mícrons ou menor para filme radiográfico exposto com VI-252 AVALIAÇÃO DE SENSIBILIDADE DE CONTRASTE
energias acima de 1 MeV.
Usando as imagens de sensibilidade ao contraste e as imagens
escalonadas de densidade escalonadas digitalizadas para avaliar a
DESEMPENHO DO SISTEMA VI-240 detectabilidade de cada degrau de densidade (as mudanças de
densidade observadas devem ser indicativas da capacidade do
REQUISITOS
sistema de discernir diferenças de densidade de 0,02), a detectabilidade
O desempenho do sistema deve ser determinado usando a de cada degrau de densidade e a diferença de densidade entre as
representação digitalizada dos alvos de referência (imagens). etapas devem ser avaliados.
Nenhum ajuste deve ser feito no sistema de digitalização que possa
afetar o desempenho do sistema após o registro dos alvos de
VI-253 AVALIAÇÃO DA FAIXA DINÂMICA
referência.
A faixa dinâmica do sistema de digitalização deve ser determinada
VI-241 RESOLUÇÃO ESPACIAL encontrando-se o último degrau de densidade visível em ambas as
A resolução espacial deve ser determinada conforme descrito em extremidades da faixa de densidade. A faixa dinâmica deve ser
VI-251. O sistema deve ser capaz de resolver um padrão de 7 pares medida até a densidade óptica de 0,50 mais próxima.
de linha/milímetro (lp/mm) para sistemas de digitalização com tamanho
de ponto de 70 mícrons ou menos, ou 5 lp/mm para tamanhos de VI-254 AVALIAÇÃO DA LINEARIDADE ESPACIAL
ponto maiores que 70 mícrons.
O sistema de digitalização deve ser configurado para ler a escala
em polegadas no filme de referência. A ferramenta de medição deve
VI-242 SENSIBILIDADE DE CONTRASTE
então ser usada para medir a escala na direção vertical e na direção
A sensibilidade ao contraste deve ser determinada conforme horizontal. A dimensão real é dividida pela dimensão medida para
descrito em VI-252. O sistema deve ter uma sensibilidade de encontrar a porcentagem de erro nas direções horizontal e vertical.
contraste mínima de 0,02 densidade óptica.
VI-243 GAMA DINÂMICA
A faixa dinâmica deve ser determinada conforme descrito em

VI-260 DEMONSTRAÇÃO DO SISTEMA
VI-253. O sistema deve ter uma faixa dinâmica mínima de densidade
DESEMPENHO
óptica de 3,5.
VI-261 DEMONSTRAÇÃO DO PROCEDIMENTO
VI-244 LINEARIDADE ESPACIAL
O procedimento escrito descrito no VI-222 deve ser demonstrado
A linearidade espacial deve ser determinada conforme descrito em à ANI e, se solicitado, ao órgão regulador, como tendo a capacidade
VI-254. O sistema deve retornar as dimensões medidas com 3% das de adquirir, exibir e reproduzir as imagens analógicas do filme
dimensões reais no filme de referência.
radiográfico. A evidência da demonstração deve ser registrada
conforme exigido pelo VI-291.
VI-250 TÉCNICO
O filme de referência descrito no Suplemento A e Figura VI-A-1 VI-262 ALVOS PROCESSADOS
deve ser usado para determinar o desempenho do sistema de
digitalização. As configurações do sistema devem ser ajustadas para O processo e o equipamento de digitalização devem adquirir e
otimizar a representação de exibição dos alvos de referência exibir os alvos descritos no Suplemento A. Os alvos processados
(imagens). O filme de referência e todos os filmes radiográficos digitalmente do filme de referência devem ser usados para verificar o
subseqüentes devem ser digitalizados pelo sistema de digitalização desempenho do sistema.
usando essas configurações otimizadas.
VI-263 MUDANÇAS NAS VARIÁVEIS ESSENCIAIS
VI-251 AVALIAÇÃO DE RESOLUÇÃO ESPACIAL
Qualquer alteração nas variáveis essenciais identificadas no VI-222
Pelo menos duas das imagens de pares de linhas convergentes (0 e utilizadas para produzir os resultados no VI-250 será motivo para
graus, 45 graus e pares de linhas de 90 graus) devem ser selecionadas reverificação do Desempenho do Sistema.
perto dos cantos opostos do campo de digitalização e uma imagem
perto do centro do filme de referência digitalizado. A resolução
VI-264 FREQUÊNCIA DE VERIFICAÇÃO
espacial em cada posição e para cada orientação deve ser registrada
como a frequência espacial indicada mais alta (conforme determinado O desempenho do sistema deve ser inicialmente verificado de
pelas linhas de referência fornecidas), onde todas as linhas mais acordo com VI-262 no início de cada turno de digitalização. A
claras são observadas separadas pelas linhas mais escuras. A reverificação de acordo com VI-262 deve ocorrer ao final de cada
resolução do sistema deve ser relatada como a pior resolução espacial turno ou ao final de 12 horas contínuas, o que for menor, ou a
obtida de todas as imagens de resolução avaliadas. qualquer momento em que houver suspeita de mau funcionamento.
52
VI-265 MUDANÇAS NO DESEMPENHO DO SISTEMA Quando os filmes radiográficos devem ser visualizados em composto
para aceitação, ambos os filmes devem ser digitalizados. As imagens
Qualquer evidência de alteração no desempenho do sistema
digitais dos filmes devem ser interpretadas de forma singular.
especificado no VI-240 invalidará as imagens digitais processadas
desde a última verificação bem-sucedida e será
motivo de reverificação. LINHA DE BASE VI-283
Imagens digitais de filmes radiográficos previamente aceitos podem

ser usadas como base para inspeções subsequentes em serviço.
VI-270 EXAME
REQUISITOS DE DESEMPENHO DO SISTEMA VI-271

O sistema de digitalização deve atender aos requisitos especificados
cificado em VI-240 antes de digitalizar o filme radiográfico. VI-290 DOCUMENTAÇÃO
VI-291 REQUISITOS DE RELATÓRIO

VI-272 ARTEFATOS
O seguinte deve ser documentado em um relatório final: (a)
Cada filme radiográfico deve ser examinado visualmente em busca
resolução espacial (VI-241); (b)
de materiais estranhos e artefatos (por exemplo, arranhões ou manchas
sensibilidade ao contraste (VI-242); (c)
de água) na área de interesse. Material estranho não removido e
artefatos observados devem ser documentados. frequência de verificação do sistema; (d) faixa
dinâmica (VI-243); (e) Técnica de
VI-273 CALIBRAÇÃO rastreabilidade do componente original ao filme e à imagem digital
A calibração para um conjunto específico de parâmetros (ou seja, exibida, incluindo relatório(s) radiográfico(s) original(is). (A folha de
tamanho do filme, faixa de densidade e resolução espacial) deve ser leitura radiográfica original pode ser digitalizada para atender a este
realizada seguindo VI-240 e Suplemento A. Os resultados devem ser requisito);

documentados. (f) condição do filme radiográfico original (VI-281); (g)
demonstração do procedimento (VI-261); (h)
linearidade espacial (VI-244); (i)
VI-280 AVALIAÇÃO parâmetros de desempenho do sistema (VI-241); e (j) pessoal
VI-281 AVALIAÇÃO DO PROCESSO que executa o processo de imagem digital (VI-223).
O examinador de nível II ou nível III descrito em

VI-223(a) será responsável por determinar se o processo de imagem
VI-292 ARQUIVAMENTO
digital é capaz de reproduzir a imagem analógica original. Esta imagem
digital deve então ser transferida para o disco óptico write-once-read- Quando o relatório final e as informações digitalizadas são usadas
many (WORM). para substituir o filme radiográfico como registro permanente, conforme
exigido pela Seção do Código de referência, todas as informações
pertencentes à radiografia original devem ser documentadas no relatório
VI-282 INTERPRETAÇÃO
final e processadas como parte do registro digital. Uma cópia duplicada
Quando a interpretação do filme radiográfico é usada para aceitação, da mídia de armazenamento WORM é necessária se os filmes
os requisitos do Artigo 2, Apêndice IV Obrigatório e a Seção do Código radiográficos forem destruídos.
de Referência devem ser aplicados.
53
ANEXO VI OBRIGATÓRIO
SUPLEMENTO A
VI-A-210 ESCOPO VI-A-232.2 Alvos de pares de linhas paralelas. Linha paralela

os pares devem consistir em pares de linhas paralelas pelo menos na
O filme de referência descrito neste suplemento fornece um conjunto direção vertical do filme de referência. Deve ter um maxi
de alvos adequados para avaliar e quantificar as características de resolução mínima de pelo menos 20 lp/mm e um mínimo
desempenho de um exame radiográfico. resolução não inferior a 0,5 lp/mm. Deve ter distintos
sistema de digitalização. O filme de referência é adequado para avaliar resoluções de 0,5, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 15 e
o processo de digitalização do filme radiográfico e 20 lp/mm e possuem as marcas de referência correspondentes.
processo de reconstrução eletrônica de imagens. Ele deve estar localizado próximo ao meio do filme de referência.
O filme de referência deve ser usado para realizar demonstrações
de desempenho e avaliações da digitalização VI-A-233 ALVOS DE SENSIBILIDADE DE CONTRASTE
sistema para verificar as características operacionais antes
Os alvos de sensibilidade ao contraste devem consistir em blocos
filme radiográfico é digitalizado. O filme de referência fornece
de aproximadamente 0,4 pol. × 0,4 pol. (10 mm × 10 mm) centrados
para a avaliação da resolução espacial, sensibilidade ao contraste, faixa
em blocos de 1,6 pol. × 1,6 pol. (40 mm × 40 mm) de um formato ligeiramente
dinâmica e linearidade espacial.
densidade mais baixa. Duas séries desses blocos de degraus devem ser
usado com uma densidade óptica de aproximadamente 2,0 em um
fundo de aproximadamente 1,95, uma densidade óptica
VI-A-220 GERAL variação de 0,05. A segunda série de blocos terá uma densidade óptica
de aproximadamente 3,5 em um fundo de aproximadamente 3,4, uma
VI-A-221 FILME DE REFERÊNCIA
mudança de densidade óptica de 0,10. O
O filme de referência deve ser especificado em VI-A-230 e a mudança de densidade relativa é mais importante do que a densidade
VI-A-240. absoluta. Essas imagens devem estar localizadas perto das bordas
e o centro do filme para testar a sensibilidade do contraste ao longo do
caminho de varredura.
VI-A-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS VI-A-234 ALVOS DE GAMA DINÂMICA

VI-A-231 ALVOS DE REFERÊNCIA
Os alvos de densidade escalonada devem consistir de uma série de
A ilustração do filme de referência e seus alvos é tão Passos de 0,4 pol. × 0,4 pol. (10 mm × 10 mm) alinhados em um
mostrado na Figura VI-A-1. linha com densidades variando de 0,5 a 4,5 sem maiores
de 0,5 passos de densidade óptica. Em quatro lugares na faixa de
densidade (em aproximadamente 1,0, 2,0, 3,0 e 4,0
VI-A-232 METAS DE RESOLUÇÃO ESPACIAL
densidades), deve haver mudanças de densidade óptica de 0,02
O filme de referência deve conter alcatrão de resolução espacial da que também deve ser usado para testar a sensibilidade ao contraste.
seguinte forma: Esses alvos de densidade escalonada devem estar localizados perto do
bordas do filme e próximo ao centro para testar a faixa dinâmica ao
VI-A-232.1 Alvos de pares de linhas convergentes. Os pares de longo do caminho de varredura.
linhas convergentes devem consistir em 3 grupos idênticos de não menos
de 6 pares de linhas convergentes (6 linhas claras e 6 linhas escuras VI-A-235 ALVOS DE LINEARIDADE ESPACIAL
linhas). Os alvos devem ter uma resolução máxima de
Os alvos da escala de medição devem estar localizados nas
não menos que 20 pares de linha por milímetro (lp/mm) e um
dimensões horizontal e vertical. A escala de medição
resolução mínima não superior a 1 lp/mm. os 3
os alvos devem estar em divisões inglesas e/ou métricas.
os grupos de pares de linhas devem ser orientados na vertical,
horizontal, e o último grupo deve estar a 45 graus do anterior
dois grupos. A resolução máxima deve ser orientada
para os cantos do filme. As marcas de referência devem ser VI-A-240 REQUISITOS DIVERSOS
fornecido para indicar a resolução espacial em níveis de não menos As especificações de fabricação devem ser os requisitos mínimos
de 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 15 e 20 lp/mm. Os alvos de resolução necessários para a produção do filme de referência.
espacial devem estar localizados em cada canto do O filme de referência deve ter uma identificação única
os tamanhos de filme necessários. que aparece como uma imagem quando digitalizada.
54
Figura VI-A-1
Filme de referência
55
VI-A-241 MATERIAL (a) A tolerância para as mudanças de densidade óptica declaradas

em VI-A-233 e VI-A-234 deve ser de ±0,005.
O filme de referência deve ser um filme de grão fino, do tipo
industrial. O filme utilizado será de alta qualidade para que sejam (b) As densidades medidas devem ser ±0,15 dos valores
atendidas as especificações exigidas no VI-A-230 . estabelecidos em VI-A-233 e VI-A-234. As densidades reais devem
ser registradas e fornecidas com o filme de referência.
VI-A-242 TAMANHO DO FILME
(c) Os requisitos de densidade devem estar de acordo com ANSI
O tamanho do filme deve ser suficiente para acomodar o grande IT-2.19.
área de maior interesse a ser digitalizada. (d) A densidade de fundo, onde não há imagens
VI-A-243 RESOLUÇÃO ESPACIAL

localizado, deve ter uma densidade óptica de 3,0 ±0,5.
A resolução espacial deve ser de no mínimo 20 lp/mm.
VI-A-244 DENSIDADE VI-A-245 LINEARIDADE

As densidades relativas indicadas em VI-A-233 e VI-A-234 Os alvos da escala de medição devem ser produzidos
deve ser de ±0,005 densidade óptica. eletronicamente com precisão em ±0,05 pol. (±1,3 mm).
56
ANEXO OBRIGATÓRIO VII

EXAME RADIOGRÁFICO DE FUNDIÇÕES METÁLICAS
VII-210 ESCOPO o que for maior. Em nenhum caso um tamanho de IQI deve ser baseado
em uma espessura maior do que a espessura a ser
As peças fundidas metálicas, devido às suas configurações
radiografado.
complexas inerentes, apresentam condições de exame únicas
(b) Áreas de fundição que permanecerão na condição de fundição.
a esta forma de produto.
O IQI deve ser baseado na espessura sendo
O exame radiográfico pode ser realizado em peças fundidas quando
radiografado.
as disposições modificadas do Artigo 2, conforme indicado neste
documento, forem satisfeitas.
VII-220 REQUISITOS GERAIS VII-280 AVALIAÇÃO
VII-224 SISTEMA DE IDENTIFICAÇÃO VII-282 DENSIDADE RADIOGRÁFICA
Um sistema deve ser usado para produzir identificação permanente VII-282.1 Limitações de densidade. O filme transmitido
na radiografia rastreável ao contrato, componente ou números de peça, densidade através da imagem radiográfica do corpo de
conforme apropriado. Além disso, o IQI do tipo de orifício apropriado adjacente ao essencial
cada filme de um casting sendo radiografado deve ser claramente orifício ou adjacente ao fio essencial de um IQI tipo fio
e permanentemente identificado com o nome ou símbolo de e a área de interesse deve ser de no mínimo 1,5 para
o Fabricante do Material, Titular do Certificado ou trator Subcontratado, visualização de filmes. Para visualização composta de múltiplas
número do trabalho ou corrida, data e, se aplicável, reparos (R1, R2, exposições de filme, cada filme do conjunto composto deve ter uma
etc.). Este sistema de identificação não densidade mínima de 1,0. A densidade máxima deve ser 4,0 para
requerem necessariamente que as informações apareçam como visualização única ou composta. Uma tolerância de 0,05 pol.
imagens radiográficas. Em qualquer caso, esta informação não deve a densidade é permitida para variações entre densitômetro
ofuscar a área de interesse. leituras.
VII-270 EXAME
VII-271 TÉCNICA RADIOGRÁFICA VII-290 DOCUMENTAÇÃO
VII-271.2 Técnica de visualização de parede dupla. A VII-293 DETALHES DE LAYOUT

a técnica de visualização de parede dupla pode ser usada para fundições
Para garantir que todas as peças fundidas sejam radiografadas
cilíndricas de 31/2 pol . (89 mm) ou menos em diâmetro externo ou quando o
consistentemente da mesma maneira, os detalhes do layout devem ser
a forma de uma fundição impede a visualização de parede única.
fornecidos. No mínimo, os detalhes do layout devem incluir:
VII-276 SELEÇÃO DE IQI (a) esboços da fundição, em quantas vistas forem necessárias, para
VII-276.3 Requisitos adicionais de seleção do IQI. mostrar a posição aproximada de cada local
A espessura na qual o IQI se baseia é a parede única marcador; e
grossura. (b) ângulos da fonte, se não perpendiculares ao filme.
(a) Áreas de fundição antes da usinagem de acabamento. o IQI OBSERVAÇÃO: Layout de amostra e detalhes da técnica são fornecidos em SE-1030,
deve ser baseada em uma espessura que não exceda a aleta Apêndice (informações não obrigatórias) X1, amostra radiográfica
1
espessura reduzida em mais de 20% ou /4 pol. (6 mm), Esboço de tiro padrão (RSS).
57
ANEXO OBRIGATÓRIO VIII

RADIOGRAFIA USANDO PLACA DE IMAGEM DE FÓSFORO
VIII-210 ESCOPO VIII-225 LIMITAÇÕES DE DENSIDADE DE MONITORAMENTO

DE RADIOGRAFIAS
Este apêndice fornece requisitos para o uso da placa de imagem
Os requisitos do T-225 não são aplicáveis à radiografia de placa
de fósforo (fósforo luminescente fotoestimulável) como uma alternativa
de imagem de fósforo.
à radiografia de filme.
A radiografia usando placa de imagem de fósforo pode ser realizada
em materiais, incluindo peças fundidas e soldadas
quando as disposições modificadas do Artigo 2 conforme indicado
VIII-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS
aqui e todos os outros requisitos do Artigo 2 são satisfeitos. O termo PLACA DE IMAGEM DE FÓSFORO VIII-231
filme, conforme utilizado no Artigo 2, aplicável
VIII-231.1 Seleção. A radiografia deve ser realizada
realizar a radiografia de acordo com este
usando uma placa de imagem de fósforo industrial capaz de
Apêndice, refere-se à placa de imagem de fósforo. ASTM
demonstrar os requisitos de imagem IQI.
E2007, Guia Padrão para Radiografia Computadorizada, pode
ser usado como um guia para informações tutoriais gerais sobre os VIII-231.2 Processamento. O sistema usado para processar uma
princípios físicos e fundamentais da computação placa de fósforo deve ser capaz de adquirir, armazenar e exibir a
radiografia (CR), incluindo algumas das limitações do imagem digital.
processo.
VIII-234 INSTALAÇÕES PARA VISUALIZAÇÃO DE
RADIOGRAFIAS
VIII-220 REQUISITOS GERAIS As instalações de visualização devem fornecer fundo suave

iluminação com intensidade que não cause reflexos, sombras ou
VIII-221 REQUISITOS DO PROCEDIMENTO ofuscamento no monitor que interfiram no processo de interpretação.
VIII-221.1 Procedimento escrito. Um procedimento escrito é
obrigatório. Em vez dos requisitos do T-221.1, cada procedimento
deve incluir pelo menos as seguintes informações, conforme
aplicável: VIII-260 CALIBRAÇÃO
(a) tipo de material e faixa de espessura
VIII-262 DENSITÔMETRO E DEGRAU DE CUNHA
(b) isótopo ou tensão máxima de raios X usada FILME DE COMPARAÇÃO
(c) distância mínima da fonte ao objeto (D em T-274.1)
Os requisitos do T-262 não são aplicáveis à radiografia de placa
(d) distância do lado da fonte do objeto ao fósforo
de imagem de fósforo.
placa de imagem (d em T-274.1)
(e) tamanho da fonte (F em T-274.1)
(f) fabricante da placa de imagem de fósforo e VIII-270 EXAME
designação
VIII-277 USO DE IQIS PARA MONITORAMENTO
(g) telas usadas
EXAME RADIOGRÁFICO
(h) Manu do equipamento de digitalização e processamento de imagens
fatura e modelo VIII-277.1 Colocação de IQIs.
(i) parâmetros de varredura de imagem (ou seja, ganho, laser, (a) IQI(s) do lado da fonte. Ao usar blocos separados para
resolução), detalhados, conforme aplicável, para espessuras de material Colocação do IQI conforme descrito em T-277.1(a), a espessura
em toda a faixa de espessura dos blocos deve ser tal que o brilho da imagem em
o corpo do IQI é considerado igual ou maior que
(j) intensidade de pixel/faixa de cinza (mínimo a máximo)
o brilho da imagem na área de interesse para um negativo
VIII-221.2 Demonstração de procedimento. Uma demonstração Formato de imagem. Se verificado por medição, intensidade de pixel
deve ser exigida nas espessuras mínima e máxima do material variações de até 15% são permitidas na determinação
declaradas no procedimento. Procedimento de “igual a”. Este requisito de brilho da imagem é revertido para um
detalhes de demonstração e requisitos de bloco de demonstração são formato de imagem positivo.
descritos no Suplemento A deste Apêndice. (b) Todos os outros requisitos do T-277.1 devem ser aplicados.
58
VIII-277.2 Número de IQIs. VIII-283 SENSIBILIDADE IQI

(a) Múltiplos IQIs. Um IQI deve ser usado para cada faixa de VIII-283.1 Sensibilidade exigida. A radiografia deve
espessura aplicável na Tabela T-276 estendida pelo ser realizada com uma técnica de sensibilidade suficiente
espessura mínima a máxima da área de interesse
para exibir a imagem IQI do tipo de orifício designado e o orifício
para ser radiografado. essencial ou o fio essencial de um IQI do tipo fio. O
(b) Como alternativa a (a) acima, um mínimo de dois as radiografias também devem exibir os números de identificação do IQI
IQIs representando as espessuras mínima e máxima da área de e letras. A técnica de filme múltiplo não é aplicável a
interesse podem ser usados, desde que o radiografia de placa de imagem de fósforo.
os requisitos de VIII-288 são atendidos. Para IQIs do tipo fio, o fio essencial deve estar visível
(c) Todos os outros requisitos do T-277.2 devem ser aplicados. dentro da área de interesse que representa a espessura
(d) Comparadores, como tiras de filme digitalizadas, escala de cinza usado para determinar o fio essencial, incluindo o
cartões, etc., podem ser usados para auxiliar no julgamento da imagem exibida variações de brilho permitidas descritas em VIII-282.
brilho. Quando comparadores são usados para julgar áreas
VIII-284 RETRODISPULSÃO EXCESSIVA
dentro da imagem, eles não precisam ser calibrados. Os valores de
intensidade de pixel também podem ser usados para quantificar o brilho da imagem Para um formato de imagem negativa, os requisitos do T-284
comparações. pode aplicar. Para um formato de imagem positivo, se uma imagem escura de
o “B”, conforme descrito no T-223, aparece em um fundo mais claro da
VIII-277.3 Calços sob o furo IQIs. Para soldas com reforço ou
imagem, a proteção contra retroespalhamento é insuficiente e a imagem
material de apoio, um calço de material semelhante graficamente ao
radiográfica deve ser considerada
metal de solda e/ou apoio
inaceitável. Uma imagem clara do “B” em um fundo mais escuro não é
material deve ser colocado entre a peça e os IQIs,
motivo de rejeição.
de modo que o brilho da imagem no corpo do IQI seja
considerado igual ou maior que o brilho da imagem VIII-287 MEDIÇÃO DIMENSIONAL
na área de interesse para um formato de imagem negativa. Se verificado
VIII-287.1 Comparador de escala de medição. A escala de medição
por medição, variações de intensidade de pixel de até
usada para interpretação deve ser capaz de
15% são permitidos na determinação de “igual a”. Esse
fornecendo dimensões da imagem projetada. A ferramenta de escala
requisito de brilho da imagem é revertido para um positivo
de medição deve ser baseada em um dos seguintes:
Formato de imagem.
(a) um comparador dimensional conhecido que é colocado em
As dimensões do calço devem exceder as dimensões IQI
contato direto com o cassete antes da exposição
tal que o contorno de pelo menos três lados do IQI deve
(b) um comparador dimensional conhecido que está inscrito
ser visível na radiografia.
na placa de imagem antes do processamento
(c) uma escala de comparação conhecida colocada no equipamento de imagem
placa antes do processamento
VIII-280 AVALIAÇÃO VIII-287.2 Comparador alternativo. Como uma alternativa
VIII-281 ARTEFATOS INDUZIDOS PELO SISTEMA a um comparador de escala de medição, uma calibração dimensional
da função de medição com base em um valor verificável
A imagem digital deve estar livre de artefatos induzidos pelo sistema tamanho de pixel digitalizado pode ser usado.
na área de interesse que possam mascarar ou confundir com a imagem
qualquer descontinuidade. VIII-288 INTERPRETAÇÃO
Antes da interpretação, a faixa de valores de contraste/brilho que

demonstram a sensibilidade de IQI necessária
VIII-282 BRILHO DA IMAGEM
será determinado. Interpretação radiográfica final
O brilho da imagem através do corpo do tipo de furo deve ser feita somente após a avaliação dos dados dentro desta faixa
IQI ou adjacente ao fio designado do IQI tipo fio, de sensibilidade do IQI. O IQI e a área de interesse devem ter o mesmo
será julgado igual ou maior que a imagem formato de imagem (positivo ou
brilho na área de interesse para uma imagem negativa para mat. Se negativo). Além disso, quando aplicável
verificado por medição, variações de intensidade de pixel (a) quando mais de um IQI é usado para qualificar uma faixa de
até 15% são permitidos na determinação de “igualdade espessuras, as porções sobrepostas de cada faixa de sensibilidade
para." A média localizada de pixels pode ser usada para determinar estabelecida de IQI devem ser consideradas válidas para a interpretação
variações de intensidade de pixel, desde que o número de pixels das espessuras intermediárias.
média não exceda o número total que (b) a imagem digital pode ser visualizada e avaliada em um
cabe dentro da área de um círculo de 0,125 pol. (3 mm) de diâmetro. formato de imagem negativo ou positivo.
Este requisito de brilho da imagem é revertido para um formato de (c) áreas de interesse independentes da mesma imagem
imagem positivo. Além disso, os requisitos de pode ser exibido e avaliado em imagens diferentes para tapetes, desde
T-282 não são aplicáveis à placa de imagem de fósforo que o IQI e a área de interesse sejam visualizados
radiografia. e avaliados no mesmo formato de imagem.
59
VIII-290 DOCUMENTAÇÃO (k) fabricante, modelo e número de série do equipamento de

aquisição de imagem (digitalização)
VIII-291 TÉCNICA DE IMAGEM DIGITAL
DETALHES DA DOCUMENTAÇÃO
(m) visualização de parede simples ou dupla
(n) identificação do procedimento e nível de revisão
detalhes da técnica radiográfica. No mínimo, as seguintes informações
(o) versão e revisão do software de imagem
devem ser fornecidas:
(a) os requisitos do Artigo 1, T-190(a) (p) valores numéricos dos parâmetros de processamento de imagem
(b) identificação conforme exigido pelo T-224 final, para incluir filtros, janela (contraste) e
(c) o mapa dimensional (se usado) da colocação do marcador nível (brilho) para cada visualização
de acordo com T-275.3
(d) número de exposições
VIII-293 DADOS INCORPORADOS
(e) Tensão de raios X ou isótopo usado
(f) tamanho da fonte (F em T-274.1) Os detalhes da técnica e os resultados do exame podem ser
(g) tipo e espessura do material de base, reforço de solda embutido no arquivo de dados. Quando isso é realizado,
espessura do mento, conforme aplicável SE-1475, Guia Padrão para Campos de Dados para Transferência
(h) distância fonte-objeto (D em T-274.1) Computadorizada de Dados de Exames Radiológicos Digitais,
(i) distância do lado da fonte do objeto até o armazenamento phos pode ser usado como um guia para estabelecer campos de dados e
mídia de for (d em T-274.1) conteúdo de formação. Quando os dados são incorporados, os campos
(j) fabricante e designação do fósforo de armazenamento utilizados devem ser referenciados no procedimento.
60

SUPLEMENTO A
VIII-A-210 ESCOPO VIII-A-232 VALORES DA ESCALA DE CINZENTOS
Este Suplemento fornece os detalhes e requisitos para Os valores de intensidade de pixel na região de interesse devem
demonstrações de procedimentos de acordo com o Apêndice estar dentro dos valores mínimo/máximo descritos no procedimento.
Obrigatório VIII, VIII-221.2. Este Suplemento deve ser usado para Esses valores de intensidade de pixel devem ser baseados em
demonstrar a capacidade de produzir uma imagem aceitável de valores reais de bitmap de imagem atribuídos, não em níveis de drive
acordo com os requisitos do procedimento escrito. digital.
VIII-A-233 INDICADORES DE QUALIDADE DE IMAGEM

VIII-A-220 GERAL
Os indicadores de qualidade de imagem designados (IQIs) usados
VIII-A-221 BLOCO DE DEMONSTRAÇÃO para a demonstração devem ser selecionados da Tabela T-276.
Todos os IQIs usados devem atender aos requisitos do T-233.
O bloco de demonstração deve atender aos requisitos da Figura
VIII-A-221-1 e deve ser de material radiograficamente semelhante ao
material descrito no procedimento. (a) Um mínimo de dois blocos de
demonstração, VIII-A-240 DIVERSOS
representando as espessuras mínima e máxima da faixa de
REQUISITOS
espessura do procedimento, serão necessários para a qualificação
do procedimento. A imagem radiográfica do bloco de demonstração deve ser
visualizada e avaliada sem o auxílio de filtros de pós-processamento.
(b) Blocos adicionais podem ser usados para validar parâmetros A análise da imagem deve ser realizada apenas por variação de
específicos em espessuras intermediárias em toda a faixa de janela e nível (brilho e contraste).
espessura total. (c) Como
alternativa a (a) e (b), um bloco de demonstração contendo uma
série de entalhes embutidos de diferentes profundidades pode ser
usado com placas de calço de espessuras apropriadas para fornecer VIII-A-241 SENSIBILIDADE
demonstração das espessuras mínima e máxima a serem qualificado No mínimo, ambos os IQIs (fio essencial e orifício designado)
para o procedimento. devem ser visíveis enquanto o entalhe embutido é perceptível. Isso
deve ser feito em dados brutos, sem o auxílio de algoritmos de
processamento ou filtros.
VIII-A-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS

VIII-A-231 PARÂMETROS DE VARREDURA VIII-A-242 REGISTROS
Os parâmetros de varredura usados para adquirir a imagem As imagens brutas e não filtradas da demonstração do
radiográfica devem ser verificáveis, incorporados nos dados da procedimento devem ser mantidas e disponíveis para revisão.
imagem ou informações de metadados de cabeçalho associados ou re As imagens devem ser claramente identificadas e rastreáveis ao
na folha de detalhes radiográficos. procedimento para o qual são usadas para qualificação.
61
Figura VIII-A-221-1
Bloco de Demonstração de Procedimento
XX x
2% T em profundidade
1 pol. (25 mm)
4
pol. (100 mm)
6 pol. (150 mm)
NOTAS GERAIS: (a)

IQIs tipo furo e tipo fio devem ser selecionados conforme apropriado para T da Tabela T-276. A profundidade do entalhe não precisa ser inferior a 0,005 pol.
(0,13 mm).
(b) O de 4 pol. e 6 pol. as dimensões do bloco são mínimas. As dimensões do bloco podem ser aumentadas apropriadamente à medida que T aumenta. (c)
As dimensões do entalhe devem ser as seguintes:
profundidade = 1,6%T a 2,2%T
largura = um dos seguintes:
(1) Para T menor ou igual a 0,5 pol. (13 mm), a largura deve ser menor ou igual a 2 vezes a profundidade do entalhe.
(2) Para T maior que 0,5 pol. (13 mm) e menor ou igual a 1 pol. (25 mm), a largura deve ser menor ou igual a 1,5 vezes a profundidade do entalhe.
(3) Para T maior que 1 pol. (25 mm), a largura deve ser menor ou igual à profundidade do entalhe.
comprimento = 1 pol. (25 mm) máx.
(d) A localização do entalhe deve estar aproximadamente no centro do bloco de demonstração.
62
ANEXO IX OBRIGATÓRIO
RADIOGRAFIA USANDO SISTEMAS DE DETECTORES DIGITAIS
ESCOPO IX-210 IX-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS

Este apêndice fornece requisitos para o uso de técnicas de IX-231 FILME
radiografia digital (DR) usando detector digital
Os requisitos do T-231 não são aplicáveis a digital
(DDSs), onde a imagem é transmitida diretamente
radiografia.
do detector em vez de usar um processo intermediário para conversão
de uma imagem analógica para um formato digital.
TELAS DE INTENSIFICAÇÃO IX-232
Este Apêndice trata de aplicações nas quais o detector de radiação, a
fonte da radiação e o objeto Os requisitos do T-232 não são aplicáveis a digital
sendo radiografado pode ou não estar em movimento durante radiografia.
exposição. As disposições do Artigo 2 se aplicam, a menos que sejam modificadas por
este apêndice. IX-234 INSTALAÇÕES PARA VISUALIZAÇÃO DE
RADIOGRAFIAS
As instalações de visualização devem fornecer fundo suave

IX-220 REQUISITOS GERAIS iluminação com intensidade que não cause reflexos, sombras ou
As referências a uma Norma contida neste Apêndice aplicam-se ofuscamento no monitor que interfiram no processo de interpretação.
apenas na extensão especificada naquele parágrafo.
IX-221 REQUISITOS DO PROCEDIMENTO

CORREÇÃO DE PIXEL DO DETECTOR IX-260
IX-221.1 Procedimento escrito. Um procedimento escrito é
obrigatório. Em vez dos requisitos do T-221.1, cada procedimento (a) Correção do deslocamento do detector. Correção do desvio do detector
deve conter os seguintes requisitos conforme envolve um processo no qual a funcionalidade do pixel individual é
aplicável: avaliada sem nenhuma radiação aplicada ao detector. Cada
(a) tipo de material e faixa de espessura procedimento DDS deve abordar os detalhes
(b) isótopo ou tensão máxima de raios X usada processo a ser usado para o detector específico que está sendo usado
(c) tipo de detector, fabricante e modelo pelo DDS.
(d) distância mínima da fonte ao objeto (D em T-274.1) (b) Correção de ganho do detector. Correção de ganho do detector
(e) distância do lado da fonte do objeto até o detector envolve um processo no qual a funcionalidade do pixel individual é
(d em T-274.1) avaliada com radiação aplicada ao detector
sem a presença de um componente de exame ou
(f) tamanho focal (F em T-274.1)
corpo de prova. Cada procedimento DDS deve abordar o processo
(g) parâmetros de exibição de imagem
detalhado a ser usado para o detector específico que está sendo
(h) mídia de armazenamento
usado pelo DDS.
(i) filtros/mascaramento de radiação
(c) Frequência de Correção do Detector. Cada detector deve
(j) validação do alinhamento do detector/fonte
passar por uma correção de offset e ganho antes do
(k) intensidade de pixel/faixa de cinza (mínimo a máximo)
início da evolução do exame. Durante a evolução do exame, uma ou
(l) média de quadro
ambas as correções podem precisar
IX-221.2 Demonstração de procedimento. Uma demonstração ser repetido para manter a qualidade da imagem.
deve ser exigida nas espessuras mínima e máxima do material Cada procedimento DDS deve descrever claramente as
declaradas no procedimento. Procedimento recomendações e requisitos para a execução do detector
detalhes de demonstração e requisitos de bloco de demonstração são correções durante a evolução de um exame.
descritos no Suplemento A deste Apêndice.
IX-261 MAPAS DE PIXEL RUIM
LIMITAÇÕES DE DENSIDADE DE MONITORAMENTO IX-225 DE
(a) Os detectores digitais devem ser fornecidos com o detector
RADIOGRAFIAS
mapa original de pixels danificados do fabricante, incluindo o processo
Os requisitos do T-225 não são aplicáveis a digital e a metodologia usados pelo fabricante para desenvolver o mapa de
radiografia. pixels danificados.
63
(b) Além disso, o software DDS deve ter a capacidade de avaliar onde
a imagem de campo plano do detector com as correções de
D = distância da fonte de radiação ao material/solda sendo
compensação e ganho aplicadas. O software também deve ter a
radiografado d =
capacidade de atualizar o mapa original de pixels ruins sob
distância do lado da fonte do material/solda sendo radiografado
demanda.
ao filme
(c) Ao término de cada evolução do exame ou 24 horas de
UM = falta de nitidez do movimento
exame contínuo, o software DDS deve ser usado para fornecer um
w = largura do feixe no lado da fonte do material/solda medido na
mapa atual de pixels ruins para o detector. Este mapa deve ser direção do movimento determinado conforme especificado
capaz de fornecer uma sobreposição direta de qualquer imagem
em IX-263
da evolução do exame. (d) Este mapa de pixel ruim atual deve ser
usado para garantir que nenhuma indicação relevante possa ter IX-275 MARCADORES DE LOCALIZAÇÃO
sido mascarada durante
(a) Quando os codificadores são usados para técnicas de
acompanhar a evolução do exame. exame automatizado, os marcadores de localização não são
necessários. Uma verificação de calibração deve ser realizada para
DENSITÔMETRO IX-262 E CUNHA DE DEGRAU verificar se a distância exibida não excede ±1% da distância real
FILME DE COMPARAÇÃO movida.
Os requisitos do T-262 não são aplicáveis à radiografia digital. (b) Quando os codificadores não são usados, os requisitos de
T-275 deve ser aplicado.
IX-263 LARGURA DO FEIXE IX-277 USO DE IQIS PARA MONITORAMENTO

Quando ocorre uma mudança no movimento da fonte, detector, EXAME RADIOGRÁFICO
velocidade de deslocamento ou qualquer combinação destes, a IX-277.1 Colocação de IQIs. (a) ð23Þ
largura do feixe deve ser controlada por um diafragma de metal, IQI(s) do lado da fonte. Ao usar blocos separados para colocação
como chumbo. O diafragma para a energia selecionada deve ter de IQI conforme descrito em T-277.1(a), a espessura dos blocos
pelo menos 10 camadas de meio valor de espessura. deve ser tal que o brilho da imagem no corpo do IQI seja considerado
A largura da viga mostrada na Figura IX-263 deve ser igual ou maior que o brilho da imagem na área de interesse para
determinada de acordo com um formato de imagem negativa. Se verificadas por medição,
variações de intensidade de pixel de até 30% são permitidas na
determinação de “igual a”. Este requisito de brilho da imagem é
revertido para um formato de imagem positivo. (b) Para soldas
longitudinais examinadas usando uma
onde
técnica de exame automatizado, os orifícios IQIs devem ser
a = largura da fenda no diafragma na direção do movimento b = colocados adjacentes e em cada lado da costura de solda, ou na
distância da fonte ao lado do material/solda de costura de solda no início e no final da costura de solda e,
o diafragma posteriormente, aproximadamente iguais intervalos não superiores
c = distância do lado do material/solda do diafragma ao lado da a 36 pol. (914 mm). Os IQIs de fio, quando usados, devem ser
fonte do material/superfície da solda colocados ao longo da costura de solda em um ângulo de
F = tamanho da fonte: a dimensão máxima projetada da fonte aproximadamente 2 graus e 5 graus em relação às linhas/colunas
radiante (ou ponto focal) no plano perpendicular à distância do detector e espaçados conforme indicado acima para IQIs de
b + c do material/solda sendo radiografado orifício. (c) Para soldas circunferenciais examinadas usando uma
w = largura do feixe no lado da fonte do material/solda medido na técnica de exame automatizado, furos IQIs devem ser colocados
direção do movimento adjacentes e em cada lado da costura de solda ou na costura de
solda em cada quadrante ou espaçados não mais que 36 pol. (914
EXAME IX-270 mm) de distância , o que for menor. Os IQIs de fio, quando usados,
IX-274 GEOMÉTRICA E DE MOVIMENTO devem ser colocados ao longo da costura de solda em um ângulo
NÃO NITIDEZ de aproximadamente 2 graus e 5 graus em relação às linhas/
colunas do detector e espaçados conforme indicado acima para
IX-274.1 Falta de nitidez geométrica. A falta de nitidez
IQIs de orifício.
geométrica recomendada deve ser determinada de acordo com
T-274.1.
(d) Para técnicas de exame automatizado, o IQI pode ser
IX-274.2 Falta de nitidez do movimento. A falta de nitidez do colocado acima da superfície do tubo ou mantido em posição entre
movimento da radiografia deve ser determinada de acordo com a superfície do tubo e o gerador de imagens por um acessório
conectado ao gerador de imagens ou dispositivo de varredura. A
capacidade de aceitação de tal colocação de IQI deve ser
demonstrada durante a qualificação do procedimento.
64
Figura IX-263
Determinação da Largura do Feixe
Diafragma
Em
Movimento
(e) Não é necessário que o fio essencial cubra toda a largura da As dimensões do calço devem exceder as dimensões do IQI de forma
solda. No entanto, o fio essencial deve abranger pelo menos a parte da que o contorno de pelo menos três lados do IQI seja visível na radiografia.
solda que representa a espessura nominal do material de parede única
e o reforço para o qual o fio essencial IQI foi selecionado. Os requisitos
de brilho da imagem do IX-282 e os requisitos de sensibilidade do IX-283
também devem ser atendidos. (f) Todos os outros requisitos do T-277.1
devem ser aplicados. AVALIAÇÃO IX-280
IX-277.2 Número de IQIs. (a)

IX-281 QUALIDADE DE IMAGENS DIGITAIS
Múltiplos IQIs. Um IQI deve ser usado para cada faixa de espessura O mapa de pixels ruins, conforme descrito em IX-261, deve ser visto
aplicável na Tabela T-276 estendida pela espessura mínima a máxima como uma sobreposição de cada imagem associada para verificar se a
da área de interesse região de interesse está livre de um número ou orientação suficiente de
para ser radiografado. pixels ruins que possam mascarar um defeito.
(b) Como alternativa ao item (a) acima, um mínimo de dois IQIs
representando as espessuras mínima e máxima da área de interesse
podem ser usados, desde que os requisitos de IX-288 sejam atendidos. IX-282 BRILHO DA IMAGEM
O brilho da imagem através do corpo do IQI do tipo orifício ou

(c) Todos os outros requisitos do T-277.2 devem ser aplicados.
adjacente ao fio designado do IQI do tipo fio deve ser considerado igual
IX-277.3 Calços sob IQIs tipo furo. Para soldas com reforço ou ou maior que o brilho da imagem na área de interesse para uma imagem
material de apoio, um calço de material radiograficamente semelhante negativa para tapete. Se verificadas por medição, variações de
ao metal de solda e/ou material de apoio deve ser colocado entre a intensidade de pixel de até 30% são permitidas na determinação de
peça e os IQIs de modo que o brilho da imagem no corpo do IQI seja “igual a”. A média localizada de pixels pode ser usada para determinar
considerado igual igual ou superior ao brilho da imagem na área de variações de intensidade de pixel, desde que o número de pixels médios
interesse para um formato de imagem negativo. Se verificado por não exceda o número total que caberia dentro da área de um círculo de
medição, variações de intensidade de pixel de até 30% são permitidas 0,125 pol. (3 mm) de diâmetro.
na determinação de “igual a”. Este requisito de brilho da imagem é
revertido para um formato de imagem positivo. Este requisito de brilho da imagem é revertido para um formato de
imagem positivo. Além disso, os requisitos do T-282 não são aplicáveis
à radiografia digital.
65
IX-283 IQI SENSIBILIDADE (b) a imagem digital pode ser visualizada e avaliada em um
formato de imagem negativo ou positivo.
IX-283.1 Sensibilidade exigida. A radiografia deve ser
realizado com uma técnica de sensibilidade suficiente para exibir a (c) áreas de interesse independentes da mesma imagem
imagem de IQI do tipo de orifício designado e o essencial pode ser exibido e avaliado em imagens diferentes para tapetes, desde
buraco, ou o fio essencial de um IQI tipo fio. Os gráficos de rádio que o IQI e a área de interesse sejam visualizados
também devem exibir os números de identificação do IQI e avaliados no mesmo formato de imagem.
e letras.
Para IQIs do tipo fio, o fio essencial deve estar visível
dentro da área de interesse que representa a espessura IX-290 DOCUMENTAÇÃO
usado para determinar o fio essencial, incluindo o
IX-291 TÉCNICA DE IMAGEM DIGITAL
variações de brilho permitidas descritas em IX-282.
DETALHES DA DOCUMENTAÇÃO
IX-284 RETRODISPULSÃO EXCESSIVA
Para um formato de imagem negativa, os requisitos do T-284 detalhes da técnica radiográfica. No mínimo, as seguintes informações
pode aplicar. Para um formato de imagem positivo, se uma imagem escura de devem ser fornecidas:
o “B”, conforme descrito no T-223, aparece em um fundo mais claro da (a) os requisitos do Artigo 1, T-190(a)
imagem, a proteção contra retroespalhamento é insuficiente e a imagem
(b) identificação conforme exigido pelo T-224
radiográfica deve ser considerada
(c) o mapa dimensional (se usado) da colocação do marcador
inaceitável. Uma imagem clara do “B” em um fundo mais escuro não é
de acordo com T-275.3
motivo de rejeição.
(d) o mín./máx. velocidade de deslocamento do detector, fonte de
Um teste para determinar se o retroespalhamento está presente deve ser
radiação e/ou objeto de teste
realizada fazendo uma exposição onde um filtro de chumbo é
colocado na metade da parte traseira do detector digital (e) Tensão de raios X ou isótopo usado
matriz (DDA) exposta à radiação. Uma segunda exposição (f) tamanho focal (F em T-274.1)
deve ser feita, com o chumbo movido para a outra metade do (g) tipo e espessura do material de base, reforço de solda
o DDA. Se for detectada a presença de backscatter, o backscatter espessura do mento, conforme aplicável
do detector deve ser blindado e o teste repetido. (h) distância fonte-objeto (D em T-274.1)
(i) distância do lado da fonte do objeto até o detector
IX-287 MEDIÇÃO DIMENSIONAL
(d em T-274.1)
IX-287.1 Comparador de escala de medição. A escala de medida (j) fabricante do detector, designação e número de série
utilizada para interpretação deve ser capaz de fornecer as dimensões número
da imagem projetada. O
(k) equipamento de aquisição de imagem (digitalização) e manu
ferramenta de escala de medição deve ser baseada em um comparador
fabricante, modelo e número de série
dimensional conhecido que é colocado sobre ou adjacente ao
lado do detector da peça perto da área de interesse durante
exposição. (m) visualização de parede simples ou dupla
(n) identificação do procedimento e nível de revisão
IX-287.2 Comparador alternativo. Como uma alternativa
(o) versão e revisão do software de imagem
a um comparador de escala de medição, uma calibração dimensional
da função de medição com base no detector (p) valores numéricos dos parâmetros de processamento de imagem
o tamanho do pixel pode ser usado. final, para incluir filtros, janela (contraste) e
nível (brilho) para cada visualização
IX-288 INTERPRETAÇÃO (q) mapas de pixels ruins conforme descrito em IX-261(c)
A interpretação da área de interesse deve ser realizada (r) resolução do monitor do computador
somente após determinar o contraste/brilho mínimo
valores e os valores máximos de contraste/brilho que
DADOS INCORPORADOS IX-293
demonstrar a sensibilidade necessária do IQI. A interpretação
radiográfica final deve ser feita somente após os dados Os detalhes da técnica e os resultados do exame podem ser
dentro desta faixa de sensibilidade do IQI foi avaliada. embutido no arquivo de dados. Quando isso é realizado,
Além disso, quando aplicável SE-1475, Guia Padrão para Campos de Dados para Transferência
(a) Quando mais de um IQI é usado para qualificar múltiplos Computadorizada de Dados de Exames Radiológicos Digitais,
espessuras, as porções sobrepostas de cada faixa de sensibilidade pode ser usado como um guia para estabelecer campos de dados e
estabelecida de IQI devem ser consideradas válidas para a interpretação conteúdo de formação. Quando os dados são incorporados, os campos
das espessuras intermediárias. utilizados devem ser referenciados no procedimento.
66
SUPLEMENTO A
IX-A-210 ESCOPO IX-A-230 EQUIPAMENTOS E MATERIAIS

Este Suplemento fornece os detalhes e requisitos IX-A-231 PARÂMETROS DE AQUISIÇÃO
para demonstrações de procedimentos de acordo com o Apêndice IX
Os parâmetros de aquisição utilizados para adquirir a imagem
obrigatório, IX-221.2. Este Suplemento deve ser usado
radiográfica devem ser verificáveis, seja embutidos em
para demonstrar a capacidade de produzir uma imagem aceitável
os dados da imagem ou nos metadados de cabeçalho associados em
de acordo com os requisitos do escrito
formação ou registrados na folha de detalhes radiográficos.
procedimento.
IX-A-232 VALORES DA ESCALA DE CINZENTOS
IX-A-220 GERAL Os valores de intensidade de pixel na região de interesse devem

cair dentro dos valores mínimos/máximos descritos em
IX-A-221 BLOCO DE DEMONSTRAÇÃO
o procedimento. Os valores de intensidade de pixel serão baseados
O bloco de demonstração deve atender aos requisitos em valores reais de bitmap de imagem atribuídos, não na unidade digital
do Apêndice VIII Obrigatório, Suplemento A, Figura níveis.
VIII-A-221-1 e deve ser de material radiograficamente semelhante ao
material descrito no procedimento. IX-A-233 INDICADORES DE QUALIDADE DE IMAGEM
(a) Um mínimo de dois blocos de demonstração, representando as Os indicadores de qualidade de imagem designados (IQIs) usados para
espessuras mínima e máxima do a demonstração deve ser selecionada da Tabela T-276. Todos
faixa de espessura do procedimento, deve ser exigida para a qualificação Os IQIs usados devem atender aos requisitos do T-233.
do procedimento.
(b) Blocos adicionais podem ser usados para validar
parâmetros em espessuras intermediárias ao longo do IX-A-240 REQUISITOS DIVERSOS
gama de espessura total. A imagem radiográfica do bloco de demonstração
(c) Como alternativa a (a) e (b), um bloco contendo uma série de devem ser visualizados e avaliados sem o auxílio de filtros de pós-
entalhes embutidos de diferentes profundidades processamento. A análise de imagem deve ser realizada
pode ser usado com placas de calço de espessuras apropriadas somente através da variação de janela e nível (brilho e contraste).
para fornecer demonstração das espessuras mínima e máxima a serem
qualificadas para o procedimento.
Para técnicas de exame automatizadas, tubos, laminados SENSIBILIDADE IX-A-241
placa, ou outras formas de produto adequadas podem ser usadas para
No mínimo, ambos os IQIs (fio essencial e fio designado
acomodar dispositivos de radiação, mecanismos de transporte e
buraco) deve ser visível enquanto o entalhe embutido é perceptível. Isso
fixação relacionada, conforme necessário, a fim de replicar as variáveis
deve ser realizado em dados brutos, sem
de aplicação do procedimento.
o auxílio de algoritmos de processamento ou filtros.
IX-A-242 REGISTROS
As imagens brutas e não filtradas da demonstração do procedimento

devem ser mantidas e disponíveis para revisão.
As imagens devem ser claramente identificadas e rastreáveis até
o procedimento para o qual eles são usados para qualificação.
67

ESBOÇOS DE TÉCNICA RADIOGRÁFICA RECOMENDADOS PARA
SOLDAS DE TUBO OU TUBO
A-210 ESCOPO
Os esboços nas Figuras A-210-1 e A-210-2 deste Apêndice ilustram as técnicas usadas no exame radiográfico de
soldas de canos ou tubos. Outras técnicas podem ser usadas.
68
Figura A-210-1
Técnicas radiográficas de parede única
69
Figura A-210-2
Técnicas Radiográficas de Parede Dupla
Arranjo fonte-solda-filme QI Localização
Exposição Radiografia Marcador

DE Técnica Visualizando Visão final Vista lateral Seleção Colocação Colocação
Opcional Lado da Fonte

fonte T-277.1(a)
localização
Parede dupla:
T-271.2(a) pelo
menos 3
T-276 e Lado do
Exposições
Qualquer Parede única Mesa filme
de 120 graus a Lado do
T-276 T-275.1(b) (1)
Uns aos filme T-277.1(b)
outros por completo
Cobertura
Filme
Arranjo de exposição - D
Lado da Fonte
Local de
origem T-277.1(a)
opcional
Parede dupla:
T-271.2(a) pelo
menos 3
T-276 e Página do filme
Exposições
Qualquer Parede única Mesa T-275.1(b) (1)
de 120 graus a Página do filme
T-276
Uns aos outros
T-277.1(b)
para Completo
Cobertura Filme
Arranjo de exposição - E
Fonte
Parede dupla Parede dupla
T-271.2(b)(1) (Elipse):
pelo menos 2 Ler
31/2 T-276 e
Exposições a Desvio Lado da Fonte Ambos os
pol . (89 Mesa
Fonte T-277.1(a) lados T-275.2
mm) ou menos 90 graus a T-276
Uns aos Lado e
outros por completo Página do filme
Cobertura Imagens
Filme
Arranjo de exposição - F
Fonte
Parede dupla: Dobro

T-271.2(b)(2) Parede:
pelo menos 3 Ler

31/2 Exposições a super T-276 e
Lado da Fonte Qualquer lado
pol . (89 60 graus imposto Mesa
T-277.1(a) T-275.2
mm) ou menos Fonte T-276
ou 120 graus para
Uns aos outros Lado e
para Completo Página do filme
Cobertura Imagens
Filme
Arranjo de exposição - G
70
APÊNDICE C NÃO OBRIGATÓRIO

ESBOÇOS DE COLOCAÇÃO DE IQI TIPO DE FURO PARA SOLDAS
C-210 ESCOPO configurações ou aplicações de radiografia de produção.

Outros locais IQI podem ser usados desde que cumpram
As Figuras C-210-1 a C-210-4 deste Apêndice mostram com os requisitos do Artigo 2. IQIs de fio devem ser
a colocação típica de IQI (tipo furo) para soldas. colocados de acordo com os requisitos do Artigo 2.
Esses esboços são tutoriais para demonstrar locais
sugeridos de IQIs e não se destinam a cobrir todos
71
Figura C-210-1
Vistas lateral e superior de posicionamentos de IQI tipo furo
Lenda:
P = colocação de QI TN = espessura nominal da parede

P1 = colocação alternativa de IQI TS = espessura total incluindo tira de apoio e/ou reforço
SH = calço quando não removido
T = espessura da solda na qual o IQI se baseia NOTA GERAL:
P e P1 são colocações sugeridas de IQIs e não se destinam a cobrir todas as configurações geométricas ou aplicações de radiografia de produção.
72
Figura C-210-2
Lenda:

T = espessura da solda na qual o IQI é baseado
NOTAS GERAIS:
(a) P e P1 são colocações sugeridas de IQIs e não se destinam a cobrir todas as configurações geométricas ou aplicações de produção
radiografia. (b)
IQI é baseado na espessura de parede simples mais reforço.
73
Figura C-210-3
Lenda:

NOTA GERAL: P e P1 são colocações sugeridas de IQIs e não se destinam a cobrir todas as configurações geométricas ou aplicações de radiografia de produção.
74
Figura C-210-4
Lenda:

NOTAS GERAIS:
(a) P e P1 são colocações sugeridas de IQIs e não se destinam a cobrir todas as configurações geométricas ou aplicações de produção
radiografia.
(b) IQI é baseado na espessura de parede simples mais reforço.
75
APÊNDICE D NÃO OBRIGATÓRIO

NÚMERO DE MEDIDAS (CASOS ESPECIAIS)
ESCOPO D-210
Figura D-210-2
As Figuras D-210-1 a D-210-8 deste Apêndice ilustram Seção de circunferência 240 graus ou mais
exemplos do número e colocação de IQIs que podem ser Componente Cilíndrico (Exemplo é Alternativo
usados nos casos especiais descritos em T-277.2(b). Intervalos)
Estas figuras não se destinam a cobrir todas as
configurações ou aplicações de radiografia de produção.
Figura D-210-1
Circunferência Completa Cilíndrica
Componente
NOTA GERAL: Consulte T-277.2(b)(1)(-b) e T-277.2(b)(3).
Figura D-210-3
Seção(ões) de circunferência inferior a
240 graus Componente cilíndrico
NOTA GERAL: Consulte T-277.2(b)(1)(-a) e T-277.2(b)(3).
NOTA GERAL: Veja T-277.2(b)(2)(-b).
76
Figura D-210-4 Figura D-210-6

Seções de Circunferência Igual ou Mais Soldas em Segmentos de Componente Esférico
De 120 graus e menos de 240 graus
A A
Opção de componente cilíndrico
QI
QI QI
Cassetes
Fonte
QI
QI
NOTA GERAL: Consulte T-277.2(b)(5), T-277.2(b)(5)(-b) e T-277.2(b)

(6).
Figura D-210-7
Plano Vista AA
NOTA GERAL: Veja T-277.2(b)(2)(-b).
Figura D-210-5
Soldas Circunferenciais Completas Esféricas
Componente
A A
QI QI QI
Fonte
QI QI
QI
QI
QI
(lado
distante)
QI Cassetes QI
QI
NOTA GERAL: Consulte T-277.2(b)(4)(-a) e T-277.2(b)(6).
77
Figura D-210-8
Matriz de objetos em um círculo
NOTAS GERAIS:
(a) Locais de IQI de casos especiais são típicos em todas as
figuras. (b) Ver T-277.2(b)(8).
78
ARTIGO 4
MÉTODOS DE EXAME ULTRASSÔNICO PARA SOLDAS
ESCOPO T-410 na Tabela T-421 ou nos Apêndices aplicáveis à técnica em

uso. O procedimento escrito deve estabelecer um valor único,
Quando este Artigo for especificado por uma Seção de
ou faixa de valores, para cada requisito.
Código de referência, o método ultrassônico descrito neste
Artigo deve ser usado junto com o Artigo 1, Requisitos Gerais. T-421.2 Qualificação de procedimento. Quando a
Os termos usados neste Artigo são definidos em I-121.2, UT qualificação do procedimento for especificada pela Seção do
– Ultrasonics. Código de referência, uma alteração de um requisito na Tabela
Este Artigo fornece ou faz referência a requisitos para T-421 ou na tabela do Apêndice Obrigatório aplicável à técnica
exames de solda, que devem ser usados na seleção e em uso, identificada como uma variável essencial do valor
desenvolvimento de procedimentos de exame ultrassônico especificado ou faixa de valores, requererá a requalificação do
quando o exame de qualquer parte deste Artigo for um requisito procedimento escrito. A alteração de um requisito identificado
de uma Seção de Código de referência. Esses procedimentos como variável não essencial do valor especificado, ou faixa de
devem ser usados para o exame ultrassônico de soldas e o valores, não requer requalificação do procedimento escrito.
dimensionamento de indicações para comparação com Todas as mudanças de variáveis essenciais ou não essenciais
padrões de aceitação quando exigido pela Seção do Código do valor ou intervalo de valores especificados pelo procedimento
de referência; a seção de código de referência deve ser escrito devem exigir revisão ou um adendo ao procedimento
consultada para requisitos específicos para o escrito ou plano de varredura, conforme aplicável.
seguinte: (a) requisitos de qualificação/certificação de
pessoal (b) requisitos de procedimento/demonstração,
qualificação,
EQUIPAMENTO T-430
aceitação (c) características do sistema
de exame (d) retenção e controle de blocos de REQUISITOS DO INSTRUMENTO T-431
calibração ( e) extensão do exame e/ou volume a ser Um tipo de pulso-eco de instrumento ultrassônico deve ser
digitalizado (f) padrões de usado. O instrumento deve ser capaz de operar em
aceitação (g) retenção de frequências na faixa de pelo menos 1 MHz a 5 MHz e deve
registros (h) requisitos de relatório ser equipado com um controle de ganho escalonado em
unidades de 2,0 dB ou menos. Se o instrumento tiver um
controle de amortecimento, ele pode ser usado se não reduzir
T-420 GERAL a sensibilidade do exame. O controle de rejeição deve estar
Para aplicações ou técnicas específicas, consulte o seguinte: na posição “off” para todos os exames, a menos que possa
(a) ser demonstrado que não afeta a linearidade do exame.
provisões especiais para materiais de grão grosso e O instrumento, quando necessário devido à técnica
soldas em T-451 utilizada, deve ter conectores de envio e recebimento para
(b) provisões especiais para técnicas de imagem operação de unidades de busca duplas ou uma única unidade
de busca com transdutores de envio e recepção.
computadorizadas
no T-452 (c) Apêndice III obrigatório para difração de tempo de voo
UNIDADES DE PESQUISA T-432
técnicas de ção (TOFD)
(d) Apêndice IV obrigatório para técnicas de varredura T-432.1 Geral. A frequência nominal deve ser de 1 MHz a 5
manual Phased Array MHz, a menos que variáveis, como a estrutura granular do
(e) Apêndice V obrigatório para E-scan Phased Array material de produção, exijam o uso de outras frequências
e técnicas de exame de varredura linear S-scan para garantir penetração adequada ou melhor resolução.
(f) Apêndice XI obrigatório para captura de matriz completa Unidades de busca com cunhas de contato contornadas podem ser usadas para
(FMC) técnicas auxiliar no acoplamento ultrassônico.
T-432.2 Cunhas de contato. Conforme exigido por (a) e (b)

REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO T-421 abaixo, os exames realizados em um componente curvo com
Requisitos T-421.1. O exame ultrassônico deve ser diâmetro inferior a 14 pol. (350 mm) (na superfície de exame)
realizado de acordo com um procedimento escrito que deve, devem ser realizados usando uma cunha contornada, para
no mínimo, conter os requisitos listados garantir acoplamento ultrassônico suficiente é
79
Tabela T-421
Requisitos de um procedimento de exame ultrassônico
Requerimento Variável essencial Variável não essencial
Configurações de solda a serem examinadas, incluindo dimensões de espessura e base

forma de produto material (tubo, placa, etc.) x …
As superfícies a partir das quais o exame deve ser realizado Técnica(s) x …
(feixe reto, feixe angular, contato e/ou imersão) x …
Ângulo(s) e modo(s) de propagação da onda no material Tipo(s) de x …
unidade de busca, frequência(s) e tamanho(s)/forma(s) do(s) elemento(s) x …
Unidades especiais de busca, cunhas, sapatos ou selas, quando usados x …
Instrumento(s) ultrassônico(s) x …
Calibração [bloco(s) de calibração e técnica(s)] x …
Direções e extensão da varredura x …
Varredura (manual x automática) x …
Método para discriminar indicações geométricas de falhas Método para x …
indicações de dimensionamento x …
Aquisição de dados aprimorada por computador, quando usada x …
Sobreposição de varredura (somente diminuição) x …
Requisitos de desempenho do pessoal, quando necessário x …
Requisitos de qualificação do pessoal … x

Condição da superfície (superfície de exame, bloco de calibração) … x
Acoplante: marca ou tipo Técnica de … x
limpeza pós-exame Alarme automático e/ou … x
equipamento de registro, quando aplicável Registros, incluindo dados mínimos … x
de calibração a serem registrados (p.
configurações) … x
alcançado e para limitar qualquer oscilação potencial da pesquisa

unidade à medida que é movida ao longo da circunferência do Componente real externo Aumento permitido em
componente. Diâmetro, Diâmetro do Contorno Acima
(a) As unidades de busca devem ser contornadas conforme exigido pelo pol. (mm) Componente OD, pol. (mm)
seguinte equação: <4,0 (<100) <1 (<25)

ÿ4,0 a 10 (ÿ100 a 250) >10 <2 (<50)
(>250) <4 (<100)
onde
A = comprimento da pegada da unidade de busca durante a

(2) Contorno mínimo para exames realizados
varredura circunferencial ou a largura ao varrer na direção de identidade
axial, pol. (mm)
D = o diâmetro do componente na superfície de inspeção Componente real interno Redução Admissível em
(ID/OD), pol. (mm) Diâmetro, Diâmetro do Contorno Abaixo
pol. (mm) ID do componente, pol. (mm)
A pegada é definida como a dimensão física do
<4,0 (<100) <1 (<25)
unidade de busca na direção curva do componente.
ÿ4,0 a 10 (ÿ100 a 250) >10 <2 (<50)
(b) A dimensão contornada da unidade de busca deve ser (>250) <4 (<100)
selecionada nas tabelas em (1) e (2) abaixo, e deve ser
determinado usando a mesma dimensão de componente de
qual o exame está sendo realizado (ID ou DO).
(1) Contorno máximo para exames realizados
de OD
Revestimento de sobreposição de metal de solda T-432.3 — Pesquisar
Unit.5 Elemento duplo, unidades de busca de feixe reto usando um
a técnica de pitch-catch em ângulo deve ser usada. O incluído
o ângulo entre os elementos da unidade de busca deve ser tal
que a distância efetiva do ponto focal esteja centralizada no
área de interesse.
80
ACOPLAMENTO T-433 que exceda a reflexão restante na parede traseira deve ser
excluído dos caminhos do feixe necessários para atingir os vários
T-433.1 Geral. O acoplante, incluindo aditivos, não deve
refletores de calibração.
prejudicar o material que está sendo examinado.
T-433.2 Controle de contaminantes. (a) T-434.1.4 Revestimento.
Os acoplantes usados em ligas à base de níquel não devem (a) Seleção de bloco. O material do qual o bloco
conter mais de 250 ppm de enxofre. é fabricado deve ser de um dos seguintes:
(b) Os acoplantes usados em aço inoxidável austenítico ou (1) saída do bocal do componente (2)
titânio não devem conter mais de 250 ppm de haletos (cloretos
prolongamento de um componente
mais fluoretos).
(3) material com a mesma especificação de material, forma
do produto e condição de tratamento térmico do material ao qual a
T-434 BLOCOS DE CALIBRAÇÃO unidade de busca é aplicada durante o exame
T-434.1 Geral.
T-434.1.1 Refletores. Refletores especificados (ou seja, furos (b) Revestida. Quando o material do componente for revestido e
laterais, furos de fundo plano, entalhes, etc.) devem ser usados o revestimento for um fator durante o exame, o bloco deverá ser
para estabelecer as respostas de referência primária do revestido com a espessura nominal do revestimento do componente
equipamento. Um(s) refletor(es) alternativo(s) pode(m) ser ±1 /8 pol. (3 mm). A deposição do clad deve ser pelo mesmo
usado(s) desde que o(s) refletor(es) alternativo(s) produza(m) uma método (ou seja, laminado, depositado por solda manual,
sensibilidade igual ou maior que o(s) refletor(es) especificado(s) depositado com fio automático ou depositado com tira automática)
(por exemplo, furos laterais em vez de entalhes, furos de fundo usado para revestir o componente a ser examinado. Quando o
plano em vez de de furos laterais). método de revestimento não é conhecido ou o método de
T-434.1.2 Materiais. revestimento usado no componente é impraticável para revestimento
de blocos, a deposição do revestimento pode ser pelo método manual.
(a) Soldas Metálicas Semelhantes. O material do qual o bloco é
fabricado deve ser da mesma forma de produto e especificação de Quando os materiais originais em lados opostos de uma solda
material ou grupo de número P equivalente como um dos materiais são revestidos por números P-, A- ou F diferentes ou designações
sendo examinados. Para os fins deste parágrafo, os P-Nos. Os ou métodos de materiais, o bloco de calibração deve ser revestido
materiais 1, 3, 4, 5A a 5C e 15A a 15F são considerados com o mesmo P-, A- ou F- números ou designações de materiais
equivalentes. (b) Soldas de metais dissimilares. A seleção do usando o mesmo método usado no lado da solda a partir do qual o
exame será conduzido.
material
Quando o exame é conduzido de ambos os lados da
deve ser baseada no material do lado da solda a partir do qual
o exame será conduzido. Se o exame for realizado em ambos os a solda, o bloco de calibração deve fornecer calibração para
lados, os refletores de calibração devem ser fornecidos em ambos ambos os materiais e métodos de revestimento. Para soldas
revestidas com um material ou método diferente dos materiais
os materiais. (c) Correção de transferência. Quando o material do
bloco não for da mesma forma de produto ou originais adjacentes, e é um fator durante o exame, o bloco de
calibração deve ser projetado para ser representativo desta
não tiver recebido o mesmo tratamento térmico, ele pode ser
combinação.
usado desde que atenda a todos os outros requisitos do bloco e
seja usada uma correção de transferência para diferenças de T-434.1.5 Tratamento Térmico. O bloco de calibração deve
propriedades acústicas. Os apêndices não obrigatórios S e U receber pelo menos o tratamento mínimo de têmpera exigido pela
(conforme aplicável) podem ser usados. A correção de transferência especificação do material para o tipo e grau. Se o bloco de
deve ser determinada observando a diferença entre a resposta do calibração contiver outras soldas além do revestimento e o
sinal, usando os mesmos transdutores e cunhas a serem usados componente de solda no momento do exame tiver sido tratado
no exame, recebido de um dos seguintes: (1) o refletor de referência termicamente, o bloco deve receber o mesmo tratamento térmico.
correspondente ( mesmo tipo e dimensões) no padrão básico bloco
de calibração e no
componente a ser examinado T-434.1.6 Acabamento de Superfície. O acabamento na digitalização
As superfícies de varredura do bloco devem ser representativas
dos acabamentos da superfície de varredura do componente a ser
(2) duas unidades de busca posicionadas na mesma examinado.
orientação no bloco básico de calibração e componente a ser
T-434.1.7 Curvatura do Bloco.
examinado
T-434.1.7.1 Materiais com diâmetros superiores a 20
A sensibilidade do exame deve ser ajustada para a diferença.
pol. (500 mm). Para exames em materiais onde o diâmetro da
superfície de exame é maior que 20 pol. (500 mm), pode ser usado
T-434.1.3 Qualidade. Antes da fabricação, o material do bloco um bloco essencialmente com a mesma curvatura ou,
deve ser completamente examinado com uma unidade de busca alternativamente, um bloco plano de calibração básica.
de feixe reto. Áreas que contêm uma indicação
81
T-434.1.7.2 Materiais com diâmetros de 20 pol. T-434.1.7.3 Alternativa para Superfície Convexa. Como
(500 mm) e Menos. Para exames em materiais onde uma alternativa aos requisitos em T-434.1.7.1 quando
o diâmetro da superfície de exame é igual ou menor que examinando a partir da superfície convexa pelo feixe reto
20 pol. (500 mm), deve ser usado um bloco curvo. Exceto técnica de contato, o Apêndice G não obrigatório pode ser
onde estabelecido de outra forma neste Artigo, um único bloco curvo de usado.
calibração básica pode ser usado para exames no
T-434.2 Blocos de calibração sem tubulação.
faixa de curvatura de 0,9 a 1,5 vezes o diâmetro do bloco de calibração T-434.2.1 Bloco de calibração básica. A cali básica
básica. Por exemplo, um bloco de 8 pol. (200 mm) de diâmetro pode ser
a configuração do bloco de brasão e os refletores devem ser tão
usado para calibrar exames em
mostrado na Figura T-434.2.1. O tamanho do bloco e a localização do
superfícies na faixa de curvatura de 7,2 pol. a 12 pol.
refletor devem ser adequados para realizar calibrações para o
(180 mm a 300 mm) de diâmetro. A faixa de curvatura
ângulo(s) do feixe e faixa(s) de distância a serem usadas.
de 0,94 pol. a 20 pol. (24 mm a 500 mm) de diâmetro requer seis blocos
T-434.2.2 Espessura do bloco. A espessura do bloco
curvos, conforme mostrado na Figura T-434.1.7.2
(T) deve ser de acordo com a Figura T-434.2.1.
para qualquer faixa de espessura.
Figura T-434.1.7.2
Limites de Razão para Superfícies Curvas
0,93 (23) 1,56 (39)

2,69 (67)
4.32 (108) 7,2 (180) 12 (300) 20 (500)
20 (500)
bloquear
15 (375) calibração
Limite 13.33 (333)

0,9
básico
Diâmetro,
(mm)
pol.
1.5 Limite
10 (250)
calibração
Superfície
básica
exame
bloco
de
de
8 (200)
5 (125)
4,8 (120)
2,88 (72)
1,73 (43)
1,04 (26)
0
0 5 (125) 10 (250) 15 (375) 20 (500)
Diâmetro da superfície de exame, pol. (mm)
82
Figura T-434.2.1
Blocos de calibração sem tubulação
3 T [Nota (1)]
1/2 T
[Nota 1)]
D [Nota (1)]
1/4T
6 pol. [Nota (1)] (150 mm)
1/2 T
[Nota 1)] 3/4 T
TC
1/2 T
T
1/2 T
1/2 T 1/2 T
[Nota 1)] [Nota 1)]
Dimensões mínimas
D [Nota (1)]
D = 1/2 pol. (13 mm)
Largura = 6 pol. (150 mm)
Comprimento = 3 x Espessura
Revestimento (se presente)
Dimensões do entalhe, pol. (mm)

Profundidade do entalhe = 1,6% T a 2,2% T
Largura do entalhe = 1/4 (6) máx.
Comprimento do entalhe = 1 (25) min.
Espessura do bloco de calibração (T), Diâmetro do furo,

Espessura da solda (t ), pol. (mm) pol. (mm) pol. (mm)
3 3
ÿ1 (ÿ25) /4 (19) ou t /32 (2,5)
1
>1 (>25) até 2 (50) >2 11 /2 (38) ou /8 (3)
3
(>50) até 4 (100) >4 (>100) t 3 (75) ou /16 (5)
tt ±1 (25) [Nota 2)]
NOTAS GERAIS:
(a) Os orifícios devem ser perfurados e alargados com uma profundidade mínima de 1,5 pol. (38 mm), essencialmente paralelos à superfície de exame.
(b) Para componentes iguais ou menores que 20 pol. (500 mm) de diâmetro, o diâmetro do bloco de calibração deve atender aos requisitos
do T-434.1.7.2. Devem ser usados dois conjuntos de refletores de calibração (orifícios, entalhes) orientados a 90 graus um do outro. Alternativamente,
dois blocos de calibração curvos podem ser usados.
(c) A tolerância para o diâmetro do furo deve ser de ±1 /32 pol. (0,8 mm). A tolerância para a localização do furo através do bloco de calibração
a espessura (isto é, a distância da superfície de exame) deve ser de ±1 /8 pol. (3 mm).
3 1
(d) Para blocos menores que /4 pol. (19 mm) de espessura, apenas o Furo lateral /2T e entalhes de superfície são necessários.
(e) Todos os orifícios podem estar localizados na mesma face (lado) do bloco de calibração, desde que seja tomado cuidado para localizar todos os refletores
(orifícios, entalhes) para evitar que um refletor afete a indicação de outro refletor durante a calibração. Entalhes
também pode estar no mesmo plano que os orifícios em linha (consulte o Apêndice J não obrigatório, Figura J-431). Como na Figura J-431, um número
1 1 3
suficiente de orifícios deve ser fornecido para calibrações de ângulo e feixe reto no / 4T, / 2T, e /4T profundidades.
(f) Quando o revestimento estiver presente, a profundidade do entalhe no lado do revestimento do bloco deve ser aumentada pela espessura do revestimento, CT (ou seja,
1,6% T + CT mínimo a 2,2% T + CT máximo).
1
(g) A largura máxima do entalhe não é crítica. Os entalhes podem ser feitos por eletroerosão ou com fresas de topo de até /4 pol. (6,4 mm) de diâmetro.
(h) Espessura da solda, t, é a espessura nominal do material para soldas sem reforço ou, para soldas com reforço, a
espessura nominal do material mais o reforço de solda estimado para não exceder o máximo permitido pelo referenciamento
Seção de Código. Quando estiverem envolvidas duas ou mais espessuras de material de base, a espessura do bloco de calibração, T, deve ser
determinada pela espessura média da solda; alternativamente, um bloco de calibração baseado na maior espessura do material de base
pode ser usado desde que o tamanho do refletor de referência seja baseado na espessura média da solda.
NOTAS:
(1) Dimensão mínima.
(2) Para cada aumento na espessura da solda de 2 pol. (50 mm) ou fração acima de 4 pol. (100 mm), o diâmetro do furo deve aumentar
1
/16 pol. (1,5 mm).
83
ð23Þ T-434.2.3 Curvatura do bloco. A curvatura do bloco T-434.4 Calibração de Revestimento de Revestimento de Metal Soldado ð23Þ
deve estar de acordo com T-434.1.7. Blocos.6
T-434.4.1 Blocos de calibração para técnica um.
T-434.2.4 Bloco alternativo. Alternativamente, o
bloco pode ser construído como mostrado em Não obrigatório (a) A configuração básica do bloco de calibração e refletores devem ser
Apêndice J, Figura J-431. mostrados na Figura T-434.4.1. Tanto um furo lateral quanto um furo de
fundo plano podem ser usados.
T-434.3 Blocos de calibração de tubulação. A configuração básica do
(b) A espessura do revestimento de revestimento de metal de solda
bloco de calibração e os refletores devem ser os
deve ser pelo menos tão espessa quanto a que será examinada. A espessura
mostrado na Figura T-434.3-1 ou a alternativa fornecida na
espessura do material de base deve ser pelo menos duas vezes a espessura
Figura T-434.3-2 onde a curvatura e/ou espessura da parede
do revestimento de sobreposição de metal de solda.
permitem. A curvatura básica do bloco de calibração deve ser
(c) A curvatura do bloco deve estar de acordo com
de acordo com T-434.1.7. A espessura, T, deve ser
T-434.1.7.
±25% da espessura nominal do componente a ser examinado. O tamanho
do bloco e a localização dos refletores devem ser T-434.4.2 Blocos de calibração alternativos para a Tech nique
adequado para realizar calibrações para o(s) ângulo(s) do feixe One.
e faixa(s) de distância a ser(em) usada(s). (a) Como alternativa, blocos de calibração conforme mostrado na Figura
T-434.4.2.1 ou Figura T-434.4.2.2 podem ser usados.
(b) A espessura do revestimento de revestimento de metal de solda
deve ser pelo menos tão espessa quanto a que será examinada. A espessura
A espessura do material de base deve ser pelo menos duas vezes a
espessura do revestimento de revestimento do metal de solda.
Figura T-434.3-1
Bloco de calibração para tubulação
eu
Espessura nominal
da parede (T)
TC
Comprimento do arco
Observação
(1)
Observação
Nota 1)
(1)
Observação
(1)
Revestimento (se presente)
NOTAS GERAIS:
(a) O comprimento mínimo do bloco de calibração, L, deve ser de 8 pol. (200 mm) ou 8T, o que for maior.
(b) Para DE 4 pol. (100 mm) ou menos, o comprimento mínimo do arco deve ser 75% da circunferência. Para DE superior a 4 pol. (100 mm), o
o comprimento mínimo do arco deve ser de 8 pol. (200 mm) ou 3T, o que for maior.
(c) As profundidades dos entalhes devem ser de 8% T no mínimo a 11% T no máximo. Quando o revestimento estiver presente, entalhe profundidades no lado do revestimento do bloco
1
deve ser aumentada pela espessura do revestimento, CT (ou seja, 8% T + CT mínimo a 11% T + CT máximo). As larguras dos entalhes devem ser máximas. Os /4 pol. (6 mm)
comprimentos dos entalhes devem ser de no mínimo 1 pol. (25 mm).
1
(d) A largura máxima do entalhe não é crítica. Os entalhes podem ser feitos com EDM ou com fresas de topo até (e) Os comprimentos /4 pol. (6 mm) de diâmetro.
dos entalhes devem ser suficientes para fornecer calibração com uma relação sinal-ruído mínima de 3 para 1.
(f) Dois blocos devem ser usados quando uma solda unindo duas espessuras diferentes de material é examinada e um único bloco não satisfaz o
requisitos do T-434.3.
(g) Quando um bloco plano é usado conforme permitido por T-434.1.7.1, os dois entalhes axiais podem ser omitidos e a largura do bloco pode ser reduzida para 4 pol.
(100 mm), desde que os entalhes ID e OD sejam colocados em superfícies de exame opostas do bloco. Quando o revestimento não está presente, apenas
um entalhe é necessário desde que cada superfície de exame seja acessível durante as calibrações.
OBSERVAÇÃO:
1 1
(1) Os entalhes devem estar localizados não mais perto do que /2T ou /2 pol. (13 mm), o que for maior, para qualquer borda de bloco ou para outros entalhes.
84
Figura T-434.3-2
Bloco de calibração alternativo para tubulação
furo axial ½T entalhe circunferencial
Furo tangencial ¾T [Nota (2)] Furo tangencial ¼T [Nota (2)]
1,5 pol. (38 mm) mín.
Comprimento [Nota (1)]
Entalhe axial
1,0 pol. (25 mm) ou T
1,0 pol. (25 mm) mín.
1,5 pol. (38 mm) mín.
Furo tangencial ½T [Nota (2)]
furo axial ¼T Furo axial ¾T
¼T ¾T
¾T ¼T
½T
0,75 pol. (19 mm)
Arco [Nota (1)] 0,75 pol. (19 mm)
T Revestimento (se presente)
NOTAS GERAIS:
3 1
(a) Para blocos menores que (b) /4 pol. (19 mm) de espessura, apenas o O furo lateral /2T é necessário.
A inclusão de entalhes é opcional. Os entalhes mostrados na Figura T-434.3-1 podem ser utilizados em conjunto com este bloco de calibração. (c) As profundidades dos
1
entalhes devem ser de 8% T no mínimo a 11% T no máximo. As larguras dos entalhes devem ser de no mínimo 1 pol. /4 pol. (6 mm) no máximo. Os comprimentos dos entalhes devem ser
(25 mm). (d) Os entalhes podem
1
ser feitos com EDM ou com fresas de topo de até /4 pol. (6 mm) de diâmetro. (e) Os comprimentos dos entalhes
devem ser suficientes para fornecer calibração com uma relação sinal-ruído mínima de 3 para 1. (f) Os entalhes não devem estar localizados
a menos de T ou 11/2 pol. (38 mm), o que for maior, de qualquer borda do bloco ou de outros entalhes.
NOTAS:
(1) O comprimento e o arco devem ser adequados para fornecer a calibração necessária do feixe angular.
(2) O diâmetro, comprimento e tolerância do furo perfurado lateralmente devem estar de acordo com T-434.2.1, conforme permitido por T-464.1.3. Posições ou locais perfurados
buracos em 1/ 4T, 1/ 2T, e 3
lateralmente tangenciais /4T devem ter a profundidade confirmada na metade de seu comprimento. O raio do furo lateral deve ser adicionado à
profundidade medida para garantir a profundidade correta. Onde a espessura não permitir, a profundidade necessária do furo lateral e a localização da posição tangencial
devem ser indicadas na superfície do bloco.
85
Figura T-434.4.1
Bloco de calibração para a técnica um
Eixo dos cordões de solda
11/2 pol. (38 mm)

mín. profundidade
1/16 pol. (1,5 mm)

furos laterais metal de solda
superfície refletora revestimento de sobreposição
na solda/metal base
interface. tolerância = ±1/64
pol. (0,4 mm)
Orifício de fundo plano de 1/8 pol. (3 mm)

perfurado para solda/interface de metal base.
tolerância = ±1/64 pol. (0,4 mm)
(c) A curvatura do bloco deve estar de acordo com (c) A curvatura do bloco deve estar de acordo com
T-434.1.7. T-434.1.7.
T-434.4.3 Bloco de calibração para a técnica dois. Zona de fusão de solda lateral do bico T-434.5 e/ou Adja
(a) A configuração básica do bloco de calibração e os refletores Blocos de calibração de metal original do bocal.
devem ser mostrados na Figura T-434.4.3. Um fundo plano Bloco de calibração T-434.5.1.
furo perfurado na interface solda/metal base deve ser (a) Configuração. A configuração do bloco de calibração
usado. Este furo pode ser feito a partir do material de base ou deve ser como mostrado na Figura T-434.5.1. O tamanho do bloco
lado do revestimento de sobreposição de metal de solda. e as localizações dos refletores devem ser adequadas para realizar
(b) A espessura do revestimento de revestimento de metal de solda calibrações para cobrir a zona de fusão de solda do lado do bocal e/ou
deve ser pelo menos tão espessa quanto a que será examinada. A o metal original do bocal adjacente. Se a superfície interna de
espessura do metal base deve estar dentro de 1 pol. (25 mm) do o bocal é revestido antes do exame, a superfície ID do
espessura do bloco de calibração quando o exame é realizado a o bloco de calibração deve ser revestido.
partir da superfície do material de base. A espessura de (b) Espessura do bloco. O bloco de calibração deve ser o
o material de base no bloco de calibração deve ser pelo menos espessura máxima da parede do bocal adjacente ao
3
duas vezes a espessura do revestimento de sobreposição de metal de solda solda do bocal mais /4 pol. (19 mm).
quando o exame é realizado a partir do metal de solda (c) Curvatura. Para exames de bocais com diâmetro lateral interno
superfície de revestimento de sobreposição. (ID) igual ou inferior a 20 pol.
(500 mm), a superfície de contato do bloco de calibração
deve ter a mesma curvatura ou estar dentro da faixa de
0,9 a 1,5 vezes o diâmetro conforme detalhado na Figura
T-434.1.7.2.
86
Figura T-434.4.2.1
Bloco de calibração alternativo para a técnica um
2
pol. (50 mm)
3/4 CT 1/2 CT 1/4 CT
TC Revestimento de
sobreposição de metal de solda
2 TC
(min)
1 pol. (típico) 1 pol. (típico) [25

mm (típico)] [25 mm (típico)]
NOTA GERAL: Todos os orifícios de fundo plano são 1

/8 pol. (3 mm) de diâmetro. Tolerâncias para diâmetro e profundidade do furo em relação ao metal de solda
lado do revestimento de sobreposição do bloco são ±1 /64 pol. (0,4 mm).
(d) Refletores de calibração. Os refletores de calibração devem (e) Blocos alternativos. Blocos de calibração alternativos
ser orifícios perfurados lateralmente que estejam de acordo com podem ser usados para tipos de exames semelhantes, desde
os requisitos da Figura T-434.2.1 para a espessura da parede do que a(s) distância(s) do caminho do som até o(s) refletor(es) do
bocal. 1
bloco esteja(m) dentro de /4 pol . (6 mm) do que é necessário e
o(s) orifício(s) perfurado(s) lateral(is) ) é (são) o mesmo ou um
diâmetro menor do que o necessário.
87
Figura T-434.4.2.2
Bloco de calibração alternativo para a técnica um
2
pol. (50 mm)
1 pol. (tipo) 1 pol. (tipo)

[25 mm (tipo)] [25 mm (tipo)]
3/4 CT 1/2 CT 1/4 CT
Revestimento de
TC
sobreposição de metal de solda
2 TC
(min)
NOTA GERAL: Todos os furos laterais são 1

/16 pol. (1,5 mm) de diâmetro. Tolerâncias para diâmetro e profundidade do furo em relação ao metal de solda
lado do revestimento de sobreposição do bloco são ±1 /64 pol. (0,4 mm). Todos os orifícios perfurados a uma profundidade mínima de 1,5 pol. (38 mm).
Figura T-434.4.3
Bloco de calibração para técnica dois
1 pol. (25 mm) mínimo (típico)
metal de solda
revestimento de sobreposição
Furo de fundo plano de 3/8 pol. (10 mm) de

diâmetro usinado para soldar/metal base
interface, tolerância = ±1/64 pol. (0,4 mm)
88
Figura T-434.5.1
Bloco de calibração para exame de feixe reto da zona de fusão de solda lateral do bocal e/ou adjacente
Metal original do bocal
Mínimo
(OF - ID) de 3/4
=T
2 pol. (19 mm)
Mínimo
de 3/4
pol. (19 mm)
1
pol. (25
mm) mínimo
Mínimo
de 3/4
pol. (19 mm)
Espessura do
(OF - ID)
revestimento (se presente)
4
1-1/2 pol. (38 mm) [A]
Superfície plana do bloco
para diâmetros ÿ
20 pol. (500 mm) Bocal
EU IA DE
NOTAS GERAIS:
(a) A espessura, T, do bloco de calibração (OD – ID)/2 deve ser selecionada para a espessura máxima da parede do bocal sob a fixação do bocal
solda de mento.
(b) Os furos laterais devem ser perfurados e alargados em toda a altura, H, do bloco.
(c) O diâmetro dos furos laterais deve ser selecionado para a espessura máxima da parede do bocal de acordo com (a) acima e Figura T-434.2.1.
(d) Para exames laterais do bocal, quando a espessura da parede do bloco de calibração exceder 2 pol. (50 mm), furos laterais adicionais devem ser
colocado no bloco conforme exigido na tabela abaixo.
Localização do Localização do Localização do
Buraco, 5 Buraco, 3 Buraco, 7
Espessura da parede do bloco de calibração, pol. (mm) /8T /4T /8T
>2 (>50) a 3 (75) >3 (>75) … x …
x x x
89
REQUISITOS DIVERSOS DO T-440 aço em que a soma de todos os elementos, exceto o ferro, exceda 10%
do seu peso. Dificuldades com exames ultrassônicos podem ser
T-441 IDENTIFICAÇÃO DO EXAME DE SOLDA
causadas por uma granulação grosseira inerente
ÁREAS
e/ou uma estrutura orientada direcionalmente, que pode
(a) Locais de solda. Os locais de solda e sua identificação devem causar variações marcantes na atenuação, reflexão e refração nos
ser registrados em um mapa de solda ou em um plano de identificação. limites de grão e mudanças de velocidade dentro
os grãos. É necessário modificar e/ou complementar
(b) Marcação. Se as soldas forem marcadas permanentemente, o disposto neste artigo de acordo com
podem ser usados carimbos de baixa tensão e/ou ferramentas vibratórias. T-150(a) ao examinar tais soldas nestes materiais.
Marcações aplicadas após alívio de tensão final do componente Itens adicionais, que são necessários, são maquetes de solda
3
não deve ser mais profundo do que /64 pol. (1,2 mm). com refletores de referência no depósito de solda e
(c) Sistema de Referência. Cada solda deve ser localizada e ou unidades de busca de elemento duplo produzindo ondas longitudinais
identificados por um sistema de pontos de referência. O sistema refratadas.
deve permitir a identificação de cada linha de centro de solda e
designação de intervalos regulares ao longo do comprimento do T-452 TÉCNICAS DE IMAGEM COMPUTADORIZADA
soldar. Um sistema geral para layout de soldas de vasos é descrito no
O principal atributo das Técnicas de Imagem Computadorizada
Artigo 4, Apêndice A Não Obrigatório; no entanto,
(CITs) é sua eficácia quando usadas para caracterizar e avaliar
um sistema diferente pode ser utilizado, desde que atenda às
indicações; no entanto, os CITs também podem
requisitos acima.
ser usado para executar as funções básicas de digitalização necessárias
para detecção de falhas. Análise de dados processados por computador e
T-450 TÉCNICAS técnicas de exibição são usadas em conjunto com scanner não
automático, scanner semiautomático ou automático
As técnicas descritas neste artigo destinam-se
técnica(s) de scanner para produzir imagens bidimensionais e
para aplicações onde o elemento simples ou duplo
tridimensionais de falhas, o que fornece uma melhor
unidades de busca são usadas para produzir:
capacidade para examinar componentes e estruturas críticas. Processos
(a) feixes de ondas longitudinais incidentes normais para o que
de computador podem ser usados para quantificar
são geralmente denominados exames de feixe reto ou
avaliar o tipo, tamanho, forma, localização e orientação de
(b) ondas longitudinais de feixe angular, onde ondas longitudinais
falhas detectadas por exame ultrassônico ou outra EQM
refratadas e ondas de cisalhamento estão presentes no
métodos. Descrições de algumas CITs que podem ser usadas
material sob exame. Quando usado para espessura
são fornecidos no Apêndice E não obrigatório.
medição ou exame de revestimento, esses exames
são geralmente considerados exames de viga reta. Quando usados
T-453 TÉCNICAS DE DIGITALIZAÇÃO
para exames de solda, eles são geralmente denominados exames de
feixe angular ou O exame pode ser realizado por um dos seguintes
(c) ondas de cisalhamento de feixe angular, onde os ângulos incidentes em técnicas:
cunhas produzem apenas ondas de cisalhamento refratadas no material (a) digitalização manual sem equipamento de digitalização
sob exame são geralmente denominadas feixe angular (b) varredura não automatizada usando scanner(es) não
exames. automatizado(s)
Técnicas de contato ou imersão podem ser usadas. Base (c) varredura semiautomática usando
materiais e/ou soldas com estruturas metalúrgicas que produzem scanner(es)
atenuações variáveis podem exigir o uso de vigas angulares longitudinais (d) digitalização automatizada usando scanner(s) automatizado(s)
em vez de ondas de cisalhamento.
Além disso, as técnicas de imagem computadorizadas podem melhorar
a detectabilidade e avaliação das indicações. T-460 CALIBRAÇÃO
Outras técnicas ou tecnologias que podem ser demonstradas para
produzir sensibilidade e detectabilidade de exame equivalentes ou VERIFICAÇÕES DE LINEARIDADE DO INSTRUMENTO T-461
melhores usando unidades de busca com mais Os requisitos do T-461.1 e T-461.2 devem ser atendidos
mais de dois elementos transdutores podem ser usados. A demonstração em intervalos não superiores a três meses para instrumentos do tipo
deve estar de acordo com o Artigo 1, T-150(a). analógico e um ano para instrumentos do tipo digital, ou
antes do primeiro uso depois disso.
ð23Þ T-451 MATERIAIS DE GRÃOS GROSSOS
T-461.1 Linearidade da altura da tela. A linearidade da altura da
Exames ultrassônicos de aços de alta liga e alta
tela do instrumento ultrassônico deve ser avaliada em
depósitos de solda de liga de níquel e soldas de metais dissimilares
de acordo com o Apêndice Obrigatório I.
entre aços carbono e aços de alta liga e alto teor de níquel
as ligas são geralmente mais difíceis do que os exames de solda T-461.2 Linearidade de controle de amplitude. o ultrassônico
ferrítica. Para os propósitos deste parágrafo, alta liga a linearidade do controle de amplitude do instrumento deve ser avaliada
aço é definido como todos os aços inoxidáveis e qualquer outra liga de acordo com o Apêndice II obrigatório.
90
REQUISITOS GERAIS DE CALIBRAÇÃO T-462 O feixe de ângulo deve ser direcionado para a calibração
refletor que produz a resposta máxima na área de
T-462.1 Sistema Ultrassônico. As calibrações devem incluir o
interesse. O controle de ganho deve ser ajustado para que esta resposta
sistema ultrassônico completo e devem ser realizadas antes do uso
é 80% ± 5% da altura da tela inteira. Este deve ser o nível de
do sistema na faixa de espessura
em exame. referência primário. A unidade de busca deve então ser manipulada,
sem alterar as configurações do instrumento, para
T-462.2 Superfície de calibração. As calibrações devem ser
obter as respostas máximas da outra calibração
executado a partir da superfície (revestido ou não; convexo ou refletores em seus caminhos de feixe para gerar a distância–
côncavo) correspondente à superfície do componente curva de correção de amplitude (DAC). Essas calibrações
a partir do qual o exame será realizado. deve estabelecer tanto a calibração da faixa de distância quanto
Acoplante T-462.3. O mesmo acoplante a ser usado a correção distância-amplitude.
durante o exame deve ser usado para calibração. T-463.1.3 Calibração do feixe angular. Conforme aplicável,
T-462.4 Cunhas de contato. As mesmas cunhas de contato a calibração deve fornecer as seguintes medições
a ser usado durante o exame deve ser usado para (Os apêndices não obrigatórios B e M contêm informações gerais
calibração. técnicas):
(a) calibração da faixa de distância;
T-462.5 Controles de instrumentos. Qualquer controle que afete
(b) distância-amplitude;
a linearidade do instrumento (por exemplo, filtros, rejeição ou corte)
devem estar na mesma posição para calibração, calibração (c) medição da amplitude do eco da superfície
entalhe no bloco de calibração básica.
verificações, verificações de linearidade do instrumento e exame.
Quando um dispositivo eletrônico de correção de distância-
T-462.6 Temperatura. Para exame de contato, o
amplitude é usado, as respostas de referência primária do bloco de
diferencial de temperatura entre o bloco de calibração
calibração básico devem ser equalizadas ao longo da distância
e as superfícies de exame devem estar dentro de 25°F (14°C).
intervalo a ser empregado no exame. A resposta
Para exame de imersão, a temperatura do acoplante
linha de equalização deve estar em uma altura de tela de 40% para
para calibração deve estar dentro de 25°F (14°C) do acoplante
80% da altura da tela inteira.
temperatura para exame.
T-463.1.4 Calibração de Feixe de Ângulo Alternativo.
T-462.7 Correção de distância-amplitude (DAC). Não
Quando um vaso ou outro componente é feito com uma espessura
ponto na curva DAC deve ser inferior a 20% do total 1
de /2 pol. (13 mm) ou menos e um diâmetro igual ou
altura da tela (FSH). Quando qualquer parte da curva DAC
menos de 20 pol. (500 mm), as calibrações do sistema de feixe
cair abaixo de 20% de FSH, um DAC dividido deve ser usado. O
primeiro refletor de calibração no segundo DAC deve começar
angular para técnicas de amplitude de distância podem ser realizadas
usando os requisitos de T-464.1.1 e
a 80% ± 5% de FSH. Quando a relação sinal/ruído do refletor
T-464.1.2.
impedir avaliação e caracterização de indicação efetiva, um DAC
dividido não deve ser usado. (Artigo 4, Apêndice Q não obrigatório T-463.1.5 Calibração de Feixe Reto. A calibração deve
fornece um exemplo.) fornecer as seguintes medições (o Apêndice C não obrigatório
fornece uma técnica geral):
T-463 CALIBRAÇÃO PARA NONPIPING (a) calibração da faixa de distância; e
T-463.1 Calibração do Sistema para Distância-Amplitude (b) correção distância-amplitude na área de
Técnicas. interesse.
T-463.1.1 Bloco(s) de calibração. As calibrações devem Quando um dispositivo eletrônico de correção de distância-
ser executada utilizando o bloco de calibração mostrado na amplitude é usado, as respostas de referência primária do bloco de
Figura T-434.2.1. calibração básico devem ser equalizadas ao longo da distância
Em casos como soldas de acesso de um lado (consulte intervalo a ser empregado no exame. A resposta
T-472.2), o bloco de calibração detalhado na Figura linha de equalização deve estar em uma altura de tela de 40% para
T-434.2.1 pode não fornecer as distâncias de caminho de som 80% da altura da tela inteira.
necessárias para os refletores de referência para fornecer distância–
T-463.2 Calibração do sistema para não distância–
correção de amplitude (DAC) que cobrirá totalmente a área
Técnicas de Amplitude. A calibração inclui todas as ações
de interesse para a técnica de viga reta. Nesses casos,
necessárias para assegurar que a sensibilidade e precisão
é necessário um segundo bloco de calibração cuja espessura
das saídas de amplitude e tempo do sinal do sistema de exame
(T) e as localizações do refletor de referência são baseadas no
(exibidas, gravadas ou processadas automaticamente) são repetidas
distância do caminho do som que fornece cobertura da área
de exame para
de interesse.
exame. A calibração pode ser feita pelo uso de blocos básicos de
T-463.1.2 Técnicas. Apêndices não obrigatórios calibração com refletores artificiais ou de descontinuidade.
B e C fornecem técnicas gerais para ambos os feixes angulares Os métodos são fornecidos nos Apêndices Não Obrigatórios B
calibração de onda de cisalhamento e viga reta. Outras técnicas e C. Outros métodos de calibração podem incluir ajuste de
podem ser usadas. sensibilidade com base no material de exame, etc.
91
T-464 CALIBRAÇÃO PARA TUBULAÇÃO Os métodos são fornecidos nos Apêndices Não Obrigatórios B
e C. Outros métodos de calibração podem incluir ajuste de sensibilidade
T-464.1 Calibração do Sistema para Distância-Amplitude
com base no material de exame, etc.
Técnicas.
T-464.1.1 Bloco(s) de calibração. As calibrações devem
ser executada utilizando o bloco de calibração mostrado na T-465 CALIBRAÇÃO PARA METAL DE SOLDA
Figura T-434.3-1 ou a alternativa fornecida na Figura REVESTIMENTO DE REVESTIMENTO
T-434.3-2.
T-465.1 Calibração para Técnica Um. Calibrações
deve ser realizada utilizando o bloco de calibração mostrado
T-464.1.2 Calibração de feixe de ângulo com entalhes
na Figura T-434.4.1. A unidade de busca deve ser posicionada
(Figura T-434.3-1). O feixe angular deve ser direcionado para o
para a resposta máxima do refletor de calibração.
entalhe que produz a resposta máxima. O
Quando um furo lateral é usado para calibração, o plano
o controle de ganho deve ser ajustado para que esta resposta seja de 80% ±
separando os elementos da unidade de busca de elemento duplo
5% da altura da tela inteira. Este deve ser o nível de referência
deve ser posicionada paralelamente ao eixo do furo. O
primário. A unidade de busca deve então ser manipulada,
o controle de ganho deve ser ajustado para que esta resposta seja de 80% ±
sem alterar as configurações do instrumento, para obter as respostas
máximas dos refletores de calibração nos incrementos de distância
primário.
necessários para gerar um ponto de três
curva de correção distância-amplitude (DAC). Calibrações separadas T-465.2 Calibração para Técnica Dois. Calibrações
devem ser estabelecidas tanto para o axial quanto para o circ
deve ser realizada utilizando o bloco de calibração mostrado
entalhes cumferenciais. Essas calibrações devem estabelecer
na Figura T-434.4.3. A unidade de busca deve ser posicionada
tanto a calibração da faixa de distância quanto a distância– para a resposta máxima da primeira indicação solucionável da parte
correção de amplitude. inferior do refletor de calibração. O ganho
deve ser definido para que esta resposta seja 80% ± 5% do total
T-464.1.3 Calibração com furos laterais
altura da tela. Este deve ser o nível de referência primário.
(Figura T-434.3-2). O feixe angular deve ser direcionado para o
orifício lateral que produz a resposta máxima. O controle de ganho T-465.3 Calibração Alternativa para a Técnica Um.
deve ser ajustado de forma que este As calibrações devem ser realizadas utilizando a calibração
a resposta é de 80% ± 5% da altura da tela inteira. isso deve ser blocos mostrados na Figura T-434.4.2.1 ou Figura
o nível de referência primário. A unidade de busca deve então T-434.4.2.2. A calibração deve ser realizada como
ser manipulado, sem alterar as configurações do instrumento, para segue:
obter as respostas máximas dos refletores de calibração nos (a) A unidade de busca deve ser posicionada para máximo
incrementos de distância necessários para resposta do refletor, que dá a maior
gerar até uma correção de distância-amplitude de 3T amplitude.
(DAC), onde T é a espessura da calibração (b) Quando o bloco mostrado na Figura T-434.4.2.2 é
bloquear. Em seguida, posicione a unidade de busca para a resposta usado, o plano que separa os elementos da unidade de busca de
máxima para as posições dos entalhes da superfície e marque os picos elemento duplo deve ser posicionado paralelamente ao eixo
na tela para consideração ao avaliar a superfície dos buracos.
refletores. Calibrações separadas devem ser estabelecidas para (c) O ganho deve ser ajustado de modo que esta resposta seja de 80% ±
ambas as varreduras axiais e circunferenciais. Estes calibram
ções devem estabelecer tanto a calibração da faixa de distância primário. Marque o pico da indicação na tela.
e a correção distância-amplitude.
(d) Sem alterar as configurações do instrumento, posicione
a unidade de busca para resposta máxima de cada um dos
T-464.1.4 Calibração de Feixe Reto. Quando necessário, as
outros refletores e marque seus picos na tela.
calibrações de feixe direto devem ser realizadas para
os requisitos do Apêndice C não obrigatório usando (e) Conecte as marcas de tela para cada refletor para pro
os refletores de calibração alternativos do furo perfurado lateral de vide uma curva DAC.
T-434.1.1. Esta calibração deve estabelecer tanto a calibração da
faixa de distância quanto a distância-amplitude T-466 CALIBRAÇÃO PARA SOLDA DO BICO
correção. ZONA DE FUSÃO E/OU ADJACENTE
BICO DE METAL PAI
T-464.2 Calibração do sistema para não distância–
Técnicas de Amplitude. A calibração inclui todas as ações O número de furos de calibração usados depende do
necessárias para assegurar que a sensibilidade e precisão requisitos para o exame. Se apenas o lado do bocal
das saídas de amplitude e tempo do sinal do sistema de exame zona de fusão deve ser examinada, então apenas um único furo
(exibidas, gravadas ou processadas automaticamente) são repetidas lateral na espessura da parede do bocal precisa ser usado.
de exame para (a) Furo Único. A resposta de um único lado perfurado
exame. A calibração pode ser feita pelo uso de blocos básicos de buraco deve ser definido em 80% ± 5% da altura da tela inteira. Isso é
calibração com refletores artificiais ou de descontinuidade. o nível de referência primário.
92
(b) Múltiplos Orifícios. O feixe reto deve ser direcionado T-467.3.2 Configurações de sensibilidade. Se alguma sensibilidade
em direção ao refletor de calibração que produz o máximo configuração mudou em mais de 20% ou 2 dB de sua amplitude, corrija
resposta. O controle de ganho deve ser ajustado para que esta resposta a calibração de sensibilidade e observe o
seja 80% ± 5% da altura da tela inteira. isso deve ser correção no registro do exame. Se a configuração de sensibilidade
o nível de referência primário. A unidade de busca deve então diminuiu, todas as folhas de dados desde a última verificação de
ser manipulado, sem alterar as configurações do instrumento, calibração válida devem ser marcadas como nulas e a área coberta
para obter as respostas máximas da(s) outra(s) posição(ões) do furo pelos dados anulados serão reexaminados. Se a sensibilidade
para gerar uma correção de distância-amplitude configuração aumentou, todas as indicações gravadas desde o
(DAC). última calibração válida ou verificação de calibração deve ser
reexaminada e seus valores devem ser alterados nas folhas de dados
ou regravada.
T-467 CONFIRMAÇÃO DE CALIBRAÇÃO
T-467.1 Mudanças no sistema. Quando qualquer parte do sistema

de exame for alterada, uma verificação de calibração deve
ser feito no bloco de calibração básica para verificar se os pontos de EXAME T-470
faixa de distância e as configurações de sensibilidade satisfazem os
requisitos de T-467.3.
REQUISITOS GERAIS DE EXAME T-471
T-471.1 Cobertura de exame. O volume a ser
T-467.2 Verificações de calibração. Uma verificação de calibração em
digitalizados devem ser examinados movendo a unidade de busca
pelo menos um dos refletores no bloco de calibração básico
sobre a superfície de escaneamento para escanear todo o volume de
ou uma verificação usando um simulador deve ser realizada no
exame para cada unidade de busca necessária.
conclusão de cada exame ou série de exames semelhantes, e quando
o pessoal do exame (exceto para (a) Cada passagem da unidade de busca deve sobrepor um mínimo
equipamentos automatizados) são alterados. A faixa de distância de 10% da dimensão do transdutor (elemento piezoelétrico) paralelo à
e os valores de sensibilidade registrados devem satisfazer os requisitos direção da indexação da varredura. como um
T-467.3. alternativa, se a dimensão do feixe de som paralelo ao
A direção da indexação da varredura é medida de acordo com
NOTA: Podem ser realizadas verificações de calibração intermediárias
Apêndice não obrigatório B, B-466, regras de medição de espalhamento
entre a calibração inicial necessária e a verificação de calibração final. A
decisão de realizar verificações de calibração intermediárias deve ser baseada emde feixe, cada passagem da unidade de pesquisa pode fornecer
estabilidade do instrumento ultrassônico (analógico vs. digital), o risco de ter sobreposição da dimensão mínima da viga determinada.
para realizar reexames, e o benefício de não realizar exames provisórios (b) A oscilação da unidade de busca é permitida se puder ser
verificações de calibração.
demonstrou que a cobertura sobreposta é fornecida.
T-467.2.1 Verificações do Simulador. Qualquer simulador
T-471.2 Taxa de Repetição de Pulso. A repetição do pulso
cheques que são usados devem ser correlacionados com o original
taxa deve ser pequena o suficiente para assegurar que um sinal de um
calibração no bloco de calibração básica durante a calibração original.
refletor localizado na distância máxima no volume de exame chegará de
As verificações do simulador podem usar diferentes
volta à unidade de busca antes
tipos de refletores ou blocos de calibração (como IIW)
o próximo pulso é colocado no transdutor.
e/ou simulação eletrônica. No entanto, a simulação
utilizados devem ser identificáveis na(s) folha(s) de calibração. T-471.3 Taxa de Movimento da Unidade de Busca. A taxa de
A verificação do simulador deve ser feita em todo o exame
o movimento da unidade de busca (velocidade de varredura) não deve exceder
sistema de ção. Todo o sistema não precisa ser
6 pol./s (150 mm/s), a menos que:
verificado em uma operação; porém, para sua verificação, o
a unidade de busca deve ser conectada ao instrumento ultrassônico e (a) a taxa de repetição do pulso do instrumento ultrassônico é
suficiente para pulsar a unidade de busca pelo menos seis vezes dentro
verificada contra um refletor de calibração. A precisão das verificações
o tempo necessário para mover metade do transdutor
do simulador deve ser confirmada, usando
(elemento piezelétrico) dimensão paralela à direção da varredura na
o bloco básico de calibração, ao final de cada período de uso prolongado,
velocidade máxima de varredura; ou,
ou a cada três meses, o que for
menos. (b) uma calibração dinâmica é realizada em vários refletores, que
estão dentro de 2 dB de uma calibração estática
T-467.3 Valores de aceitação de confirmação. e a taxa de repetição de pulso atende aos requisitos de
T-467.3.1 Pontos de Faixa de Distância. Se alguma distância T-471.2.
ponto de alcance se moveu na linha de varredura por mais de
10% da leitura da distância ou 5% da varredura completa, o que for T-471.4 Nível de Sensibilidade de Digitalização.
maior, corrija a calibração da faixa de distância T-471.4.1 Técnicas de distância-amplitude. O
e anotar a correção na ficha de exame. Todas as indicações registradas nível de sensibilidade de digitalização deve ser definido como mínimo7 de
desde a última calibração válida ou verificação de calibração devem ser 6 dB acima da configuração de ganho do nível de referência ou, quando
reexaminadas e seus valores devem uma técnica semi-automática ou automática é usada, pode
ser alterado nas folhas de dados ou regravado. ser definido no nível de referência.
93
T-471.4.2 Técnicas de não-distância-amplitude. deve ser direcionado essencialmente paralelo ao eixo de solda em
O nível de ganho usado para varredura deve ser apropriado para a ambas as direções axiais. A unidade de busca deve ser manipulada
configuração sendo examinada e deve ser capaz de detectar os de modo que o feixe angular passe pelo volume de exame requerido.
refletores de calibração na velocidade máxima de varredura.
T-472.2 Soldas de acesso de lado único. As soldas que não

T-471.5 Preparação de Superfície. Quando o material de base
podem ser totalmente examinadas de duas direções por T-472.1.2
ou a superfície da solda interferem no exame, o material de base ou
usando a técnica de viga angular também devem ser examinadas na
a solda devem ser preparados conforme necessário para permitir o
extensão máxima possível com uma técnica de viga reta aplicada a
exame.
partir de uma superfície de material de base adjacente.
T-471.6 Registro de dados ultrassônicos. Os dados Isso pode ser aplicável a cantos de embarcações e juntas em T,
ultrassônicos para as técnicas semiautomática e automática devem bocal e pescoço de passagem para juntas de casca ou cabeça, tubos
ser registrados de forma não processada, sem limite. Gating dos para conexões ou conexões de ramais. A(s) área(s) de acesso
dados apenas para o registro do volume do exame é permitido, unilateral e, se aplicável, a extensão do limite de cobertura devem
desde que um plano de escaneamento seja utilizado para determinar ser anotados no relatório de exame.
as configurações do gate a serem usadas.
T-472.3 Soldas inacessíveis. Soldas que não podem ser
T-472 DISTÂNCIA DA JUNTA DE SOLDAGEM-AMPLITUDE examinadas de pelo menos um lado (borda) usando a técnica de
TÉCNICA viga angular devem ser anotadas no relatório de exame.
Para soldas de flange, a solda pode ser examinada com uma viga
Quando a Seção de Código de referência especifica uma técnica
reta ou ondas longitudinais de baixo ângulo da face do flange, desde
de distância-amplitude, as juntas soldadas devem ser escaneadas
que o volume de exame possa ser coberto.
com uma unidade de busca de feixe angular em ambas as direções
paralela e transversal (4 varreduras) ao eixo da solda. Antes de
realizar os exames de feixe angular, um exame de feixe reto deve
ser realizado no volume de material de base através do qual os feixes
angulares passarão para localizar quaisquer refletores que possam T-473 REVESTIMENTO DE METAL DE SOLDA
limitar a capacidade do feixe angular de examinar o volume de TÉCNICAS
solda. O Apêndice H não obrigatório descreve um método de exame
As técnicas descritas nestes parágrafos devem ser usadas quando
usando unidades de busca de feixes angulares múltiplos.
exames de revestimento de revestimento de metal de solda são
exigidos pela Seção do Código de referência. Quando for necessário
T-472.1 Técnica de Feixe de Ângulo. examinar a falta de ligação e as indicações de falha do revestimento
T-472.1.1 Ângulo de Feixe. A unidade de busca e o ângulo do de revestimento de metal de solda, a Técnica Um deve ser usada.
feixe selecionados devem ser de 45 graus ou um ângulo apropriado Quando for necessário apenas o exame de falta de união, a Técnica
para a configuração que está sendo examinada e devem ser capazes Dois pode ser usada.
de detectar os refletores de calibração, ao longo do caminho do feixe
angular necessário. T-473.1 Técnica Um. O exame deve ser realizado a partir da
T-472.1.2 Refletores paralelos ao cordão de solda. superfície revestida do metal de solda com o plano que separa os
elementos da unidade de busca de elemento duplo posicionado
O feixe de ângulo deve ser direcionado em ângulos retos
paralelamente ao eixo do cordão de solda. A unidade de busca deve
aproximados ao eixo de solda de ambos os lados da solda (isto é, de
ser movida perpendicularmente à direção da solda.
duas direções) na mesma superfície quando possível. A unidade de
busca deve ser manipulada para que a energia ultrassônica passe
pelo volume necessário de solda e material de base adjacente.
T-473.2 Técnica Dois. O exame pode ser realizado a partir da
superfície revestida ou não revestida do metal de solda e a unidade
T-472.1.3 Refletores transversais ao cordão de solda. (a) de busca pode ser movida perpendicularmente ou paralelamente à
direção da solda.
Digitalização com reforço de solda. Se a tampa de solda não for
usinada ou retificada, o exame deve ser realizado a partir do material
de base em ambos os lados da tampa de solda. Durante a varredura
T-474 TÉCNICAS DE NÃO DISTÂNCIA-AMPLITUDE
paralela ao eixo da solda, o feixe angular deve ser direcionado de 0
graus a 60 graus em relação ao eixo da solda em ambas as direções O número de ângulos e direções das varreduras, para refletores
axiais, com o feixe angular passando pelo volume de exame paralelos e transversais ao eixo de solda, deve demonstrar a
necessário. capacidade de detectar as descontinuidades rejeitáveis de tamanho
mínimo nos padrões de aceitação da seção de código de referência.
(b) Digitalização sem reforço de solda. Se a capa de solda for As técnicas detalhadas devem estar em conformidade com os
usinada ou retificada, o exame deve ser realizado na solda. Durante requisitos da Seção do Código de referência.
a varredura, o feixe de ângulo
94
ZONA DE FUSÃO DE SOLDA DE BICO T-475 E/ (c) Revise os desenhos de fabricação ou preparação de solda.
OU METAL DO BICO ADJACENTE Outras técnicas ultrassônicas ou métodos de exame não destrutivos
podem ser úteis para determinar a resistência de um refletor.
Localização da unidade de busca T-475.1. Quando a referência
verdadeira posição, tamanho e orientação.
A Seção do Código especifica que um exame ultrassônico deve ser
realizada para examinar a fusão de solda do lado do bocal
T-482 NÍVEL DE AVALIAÇÃO
zona e/ou o metal original do bocal adjacente, uma reta
o exame do feixe deve ser conduzido a partir do interior T-482.1 Técnicas de distância-amplitude. Todas as indicações
superfície do bocal. superiores a 20% do nível de referência devem ser investigadas na
medida em que possam ser avaliadas em
Exame T-475.2. Os requisitos de exame geral do T-471 são termos dos critérios de aceitação do Código de referência
aplicáveis. A circunferência completa do bocal deve ser escaneada para Seção.
cobrir todo o
T-482.2 Técnicas de não-distância-amplitude. Todas as indicações
zona de fusão do lado do bocal da solda mais 1 pol. (25 mm) além dos
com mais de 40% do tamanho da falha rejeitável devem
dedos da solda. A unidade de busca pode ser movida
ser investigados na medida em que possam ser avaliados em
circunferencialmente ao redor ou axialmente através da zona de exame.
termos dos critérios de aceitação do Código de referência
O alcance da tela deve cobrir, no mínimo, Seção.
1,1 vezes a espessura total da parede do bocal. Bicos que
não pode ser totalmente examinado (por exemplo, acesso restrito que T-483 AVALIAÇÃO DE REFLETORES LAMINARES
impede a colocação manual da unidade de busca) deve ser anotado em
Refletores avaliados como refletores laminares em material de base
o relatório de exame.
que interferem na varredura de volumes de exame devem exigir a
técnica de exame de feixe angular
ser modificado de modo que o volume máximo viável seja
T-477 LIMPEZA PÓS-EXAME
examinado, e deve ser anotado no registro do exame (T-493).
Quando a limpeza pós-exame é exigida pelo
procedimento, deve ser conduzido o mais rápido possível
após avaliação e documentação usando um processo que T-484 AVALIAÇÕES ALTERNATIVAS
não afeta adversamente a peça. Dimensões do refletor que excedem o código de referência
Os requisitos da seção podem ser avaliados para qualquer alternativa
padrões fornecidos pela Seção do Código de referência.
T-480 AVALIAÇÃO
T-490 DOCUMENTAÇÃO
T-481 GERAL
T-491 INDICAÇÕES DE REGISTRO
Reconhece-se que nem todos os refletores ultrassônicos indicam
falhas, pois certas descontinuidades metalúrgicas T-491.1 Indicações não rejeitáveis. Indicações não rejeitáveis
e as condições geométricas podem produzir indicações de que devem ser registradas conforme especificado pela referência
Seção de Código.
não são relevantes. Incluídos nesta categoria estão os portões de
segregação de placas na zona afetada pelo calor que se tornam reflexivos T-491.2 Indicações rejeitáveis. Indicações rejeitáveis devem ser
após a fabricação. Sob exame de viga reta, esses registradas. No mínimo, o tipo de indicação (ou seja, rachadura, não
podem aparecer como indicações de ponto ou linha. Sob o feixe de ângulo fusão, escória, etc.), localização e extensão
exame, indícios que se determine originar (ou seja, comprimento) devem ser registrados. Os apêndices não
das condições da superfície (como a geometria da raiz da solda) ou obrigatórios D e K fornecem exemplos gerais de registro para unidades
variações na estrutura metalúrgica em materiais austeníticos (como a de busca de viga angular e reta. Outras técnicas podem
interface de revestimento de solda automática para manual) ser usado.
podem ser classificadas como indicações geométricas. A identidade,
amplitude máxima, localização e extensão do refletor REGISTROS DE EXAME T-492
causando uma indicação geométrica deve ser registrado. [Por exemplo:
Para cada exame ultrassônico, os requisitos de
fixação interna, 200% DAC, 1 pol. (25 mm)
Artigo 1, T-190(a) e as seguintes informações devem
acima da linha central da solda, na superfície interna, de ser registrado:
90 graus a 95 graus] As seguintes etapas devem ser tomadas para
(a) identificação de instrumentos ultrassônicos (incluindo
classificar uma indicação como geométrica:
número de série do fabricante);
(a) Interprete a área que contém o refletor de acordo com (b) identificação da(s) unidade(s) de busca (incluindo número de
dança com o procedimento de exame aplicável. série do fabricante, frequência e tamanho);
(b) Plote e verifique as coordenadas do refletor. Prepare um (c) ângulo(s) do feixe usado(s);
esboço transversal mostrando a posição do refletor (d) acoplante utilizado, marca ou tipo;
e descontinuidades superficiais, como raiz e rebaixo. (e) cabo(s) da unidade de busca usados, tipo e comprimento;
95
(f) equipamento especial quando usado (unidades de busca, (o) mapa ou registro de indícios de rejeito detectados ou áreas
cunhas, sapatos, equipamento de varredura automática, equipamento desmatadas; (p)
de registro, etc.); (g) áreas de acesso restrito ou soldas inacessíveis.
identificação e revisão do programa computadorizado quando usado; Os itens (a) a (l) podem ser incluídos ou anexados em um registro
de calibração separado, desde que o registro de calibração esteja
incluído no registro de exame.
(h) identificação do bloco de calibração; (i)
bloco(s) de simulação e simulador(es) eletrônico(s)
identificação quando usado; RELATÓRIO T-493
(j) ganho do nível de referência do instrumento e, se usado, amortecimento Um relatório dos exames deve ser feito. O relatório deve incluir os
configurar e rejeitar configuração(ões); registros indicados no T-491 e T-492.
(k) dados de calibração [incluindo refletor(es) de referência, O relatório deve ser arquivado e mantido de acordo com a Seção do
amplitude(s) de indicação e leitura(s) de distância]; Código de referência.
(l) bloco(s) de simulação de correlação de dados e
simulador(es), quando utilizado, com calibração inicial; MÍDIA DE ARMAZENAMENTO T-494
(m) identificação e localização da solda ou volume escaneado; (n) A mídia de armazenamento para dados de varredura
superfície(s) computadorizada e software de visualização deve ser capaz de
a partir da qual o exame foi realizado, armazenar e recuperar dados com segurança pelo período de tempo
incluindo a condição da superfície; especificado pela Seção do Código de referência.
96
LINEARIDADE DA ALTURA DA TELA
ESCOPO I-410 a unidade de busca pode ser usada em qualquer bloco de calibração
que forneça diferenças de amplitude, com separação de sinal suficiente
Este Apêndice Obrigatório fornece requisitos para para evitar a sobreposição dos dois sinais.
verificando a linearidade da altura da tela e é aplicável a instrumentos
ultrassônicos com displays A-scan.
Figura I-440
Linearidade
I-440 REQUISITOS DIVERSOS

Posicione uma unidade de busca de feixe angular em uma calibração
bloco, conforme mostrado na Figura I-440 para que as indicações de
1
ambos os orifícios 3
/2T e/4T fornecem uma proporção de amplitudes de 2:1
entre as duas indicações. Ajuste a sensibilidade (ganho)
para que a indicação maior seja definida em 80% da tela cheia
altura (FSH). Sem mover a unidade de busca, ajuste a sensibilidade
(ganho) para definir sucessivamente a indicação maior
de 100% a 20% da altura da tela inteira, em incrementos de 10% (ou
etapas de 2 dB se um controle preciso não estiver disponível),
e leia a indicação menor em cada configuração. A leitura deve ser 50%
da amplitude maior, dentro de 5% da
FSH. As configurações e leituras devem ser estimadas para o
mais próximo de 1% da tela cheia. Alternativamente, uma viga reta
97
LINEARIDADE DE CONTROLE DE AMPLITUDE
II-410 ESCOPO Alternativamente, qualquer outro refletor conveniente de

qualquer bloco de calibração pode ser usado com ângulo ou feixe reto
Este Apêndice Obrigatório fornece requisitos para unidades de pesquisa.
verificando a linearidade do controle de amplitude e é aplicável a
instrumentos ultrassônicos com telas A-scan. Indicação definida em % Controle dB Limites de Indicação
de tela cheia Mudar % de tela cheia
80% ÿ6 dB 32% a 48%

ð23Þ II-440 REQUISITOS DIVERSOS 80% ÿ12 dB 16% a 24%
40% +6 dB 64% a 96%
Posicione uma unidade de busca de feixe angular em um bloco de
20% +12 dB 64% a 96%
calibração básica, conforme mostrado na Figura I-440 para que a indicação
de 1
O furo lateral /2T é pontiagudo na tela. Ajuste a
sensibilidade (ganho) conforme mostrado na tabela a seguir. As configurações e leituras devem ser estimadas para o
A indicação deve estar dentro dos limites especificados. mais próximo de 1% da tela cheia.
98

TÉCNICA DE DIFRAÇÃO DE TEMPO DE VÔO (TOFD)
III-410 ESCOPO não caia fora da largura de banda de -6dB do receptor. Ré

o controle de ganho do receptor deve estar disponível para ajustar a
Este Apêndice Obrigatório descreve os requisitos
amplitude do sinal em incrementos de 1dB ou menos. Pré-amplificadores podem
para ser usado para um exame de difração de tempo de voo (TOFD) de
ser incluído no sistema. Conversão analógica para digital
soldas.
de formas de onda devem ter taxas de amostragem de pelo menos quatro vezes
o da frequência nominal da sonda. quando digital
processamento de sinal deve ser realizado nos dados brutos, isso
III-420 GERAL
deve ser aumentada para oito vezes a frequência nominal de
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, a menos que sejam modificados por A sonda.
este apêndice.
III-431.2 Exibição e registro de dados. A exibição de dados deve
III-421 REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO permitir a visualização do A-scan não retificado
para posicionar o início e o comprimento de uma porta que determina a
III-421.1 Requisitos. Os requisitos da Tabela
extensão da base de tempo do A-scan que é registrada.
T-421 e Tabela III-421 são aplicáveis.
O equipamento deve permitir o armazenamento de todos os A-scans fechados em um
III-421.2 Qualificação do procedimento. Os requisitos meio de armazenamento magnético ou óptico. O equipamento deve
da Tabela T-421 e da Tabela III-421 serão aplicáveis. fornecer uma visão seccional da solda com um mínimo de
64 níveis de escala de cinza. (Armazenamento apenas de imagens seccionais
sem as formas de onda de RF A-scan subjacentes não é aceitável.) O
III-430 EQUIPAMENTO software de computador para exibições TOFD deve incluir algoritmos para
III-431 REQUISITOS DO INSTRUMENTO linearizar cursores ou a forma de onda
base de tempo para permitir estimativas de profundidade e extensão vertical.
III-431.1 Instrumento. O instrumento deve fornecer uma
Além do armazenamento de dados de forma de onda, incluindo detalhes
apresentação de varredura linear “A” para configuração de parâmetros de
de amplitude e base de tempo, o equipamento também deve armazenar
varredura e para análise de sinal. A linearidade do instrumento deve
informações posicionais que indicam a posição relativa de
ser tal que a precisão da amplitude ou tempo indicado
a forma de onda em relação à(s) forma(s) de onda adjacente(s),
é ±5% da amplitude ou tempo real da escala completa. O pulsador
ou seja, posição codificada.
ultrassônico pode fornecer tensão de excitação por tom
explosão, onda quadrada unipolar ou bipolar. A largura de pulso deve
ser ajustável para permitir a otimização da amplitude do pulso e
duração. A largura de banda do receptor ultrassônico deve III-432 UNIDADES DE PESQUISA
ser pelo menos igual à frequência nominal da sonda
III-432.1 Geral. As sondas ultrassônicas devem estar em conformidade com
e tal que a largura de banda de -6dB da ponta de prova
os seguintes requisitos mínimos:
(a) Duas sondas devem ser usadas em um arranjo pitch-catch

Tabela III-421 mento (par TOFD).
Requisitos de um exame TOFD (b) Cada sonda no par TOFD deve ter o mesmo
Procedimento frequência nominal.
Essencial não essencial (c) O par TOFD deve ter o mesmo elemento
Requisito (conforme aplicável) Variável Variável dimensões.
Fabricante de instrumentos e
(d) A duração do pulso da sonda não deve exceder 2
modelo x …
ciclos medidos até o nível 20dB abaixo do pico
software de instrumento x …
…
resposta.
Direções e extensão da varredura X
Método para dimensionar o comprimento da falha x … (e) As sondas podem ser focadas ou não. Desfocado
Método para dimensionar a altura da falha x … as sondas são recomendadas para detecção e foco
Espaçamento de amostragem de dados (aumento sondas são recomendadas para resolução melhorada para
apenas) x …
dimensionamento.
(f) As sondas podem ser de elemento único ou phased array.
99
(g) A frequência nominal deve ser de 2 MHz a 15 MHz, a menos exemplo. O tamanho do bloco e a localização do refletor devem ser
que variáveis, como a estrutura granulada do material de produção, adequados para confirmar as configurações de sensibilidade adequadas
exijam o uso de outras frequências para garantir penetração para os ângulos de feixe usados.
adequada ou melhor resolução. III-434.2.2 Espessura do Bloco. A espessura do bloco 3 deve
III-432.2 Revestimento — Unidades de Busca para a Técnica estar entre a menor das espessuras /4 pol. (19 mm) ou 25% de
Um. Os requisitos do T-432.3 não são aplicáveis à técnica TOFD. nominais da peça a ser examinada. O tamanho do refletor de
referência é baseado na espessura a ser examinada, e um número
adequado de orifícios deve existir para atender aos requisitos de
III-434.2.1 .
III-434 BLOCOS DE CALIBRAÇÃO
III-434.2.3 Bloco alternativo. Os requisitos de ð23Þ
III-434.1 Geral.
T-434.2.4 não são aplicáveis à técnica TOFD.
III-434.1.1 Refletores. Os furos laterais devem ser
usado para confirmar as configurações de sensibilidade adequadas. III-434.3 Bloco de calibração de tubulação. Os requisitos do
T-434.3 não são aplicáveis à técnica TOFD.
III-434.1.7 Curvatura de bloco. O parágrafo T-434.1.7 também
se aplica à tubulação.
III-434.4 Blocos de calibração de revestimento. Os requisitos
III-434.2 Blocos de calibração. Parágrafo T-434.2 do T-434.4 não são aplicáveis à técnica TOFD.
também se aplica à tubulação.
III-434.2.1 Bloco de calibração básica. A cali básica

III-435 MECÂNICA
a configuração do bloco de brasão e os refletores devem ser os
mostrados na Figura III-434.2.1(a). É necessário um mínimo de dois Os suportes mecânicos devem ser usados para garantir que o
furos por zona, se a solda for dividida em várias zonas. Consulte a espaçamento da sonda seja mantido a uma distância fixa. Os suportes
Figura III-434.2.1(b) para duas zonas mecânicos também devem garantir que o alinhamento com o pretendido
Figura III-434.2.1(a)
Bloco de Referência TOFD
T/4
3T/4
T
Revestimento (quando presente)
Espessura da solda, pol. (mm) Diâmetro do furo, pol. (mm)

3
ÿ1 (ÿ25) /32 (2,5)
1
>1 (>25) até 2 (50) >2 /8
3
(>50) até 4 (100) >4 (>100) (3) /16 (5)
1
/4 (6)
OBSERVAÇÕES
GERAIS: (a) Os orifícios devem ser perfurados e alargados com profundidade mínima de 2 pol. (50 mm), essencialmente paralelos à superfície de exame e ao escaneamento
direção.
(b) Tolerância do furo. A tolerância no diâmetro deve ser de ±1 /32 pol. (±0,8 mm). A tolerância no local através da espessura do bloco deve ser
±1 /8 pol. (±3 mm).
(c) Todos os furos devem estar localizados na mesma face (lado) do bloco e alinhados no centro aproximado da face (lado), a menos que a indicação de um refletor afete
a indicação de outro. Nesses casos, os furos podem estar localizados em faces (laterais) opostas do bloco. /4) furo lateral, onde Tz é a espessura da zona.
3
(d) Quando a solda é dividida em várias zonas, cada zona deve ter um Tz/4 e Tz ( (e) Para componentes
ÿ20 pol. (500 mm) de diâmetro, o diâmetro do bloco de calibração deve atender aos requisitos de T- 434.1.7.2.
100
Figura III-434.2.1(b)
Exemplo de bloco de referência de duas zonas
T1/4
T1(¾) zona superior
T1
T
T2/4
T2(¾) zona inferior
T2
Revestimento (quando presente)
Lenda:
T1 = espessura da zona superior T2 = espessura da zona inferior
eixo de varredura na peça de exame é mantido. Sonda As respostas SDH da zona necessária devem ser uma
o movimento pode ser alcançado usando motorizado ou manual mínimo de 6 dB acima do ruído de granulação e deve ser aparente
meios e o suporte mecânico para as sondas devem na tela de escala de cinza digitalizada resultante.
ser equipado com um codificador posicional sincronizado com a
III-463.4 Exames de zona múltipla. quando uma solda
amostragem de A-scans.
é dividido em várias zonas, repita III-463.2 e
III-463.3 para cada par de sonda TOFD. Além disso, o SDH mais
próximo na(s) zona(s) adjacente(s) deve ser detectado.
III-460 CALIBRAÇÃO III-463.5 Confirmação de Largura de Cobertura. Duas

varreduras adicionais por III-463.3 devem ser feitas com as sondas
III-463 CALIBRAÇÃO
compensado para qualquer lado do exame da zona aplicável
III-463.1 Bloco de calibração. A calibração deve ser realizada área [conforme definido na seção de código de referência e
utilizando o bloco de calibração mostrado na Figura atendendo aos requisitos da Figura III-434.2.1(a) ou
III-434.2.1(a) ou Figura III-434.2.1(b), conforme aplicável. Figura III-434.2.1(b), conforme aplicável]. Se todos os requisitos
furos não são detectados, duas varreduras de deslocamento adicionais
III-463.2 Calibração.
são necessárias com as sondas deslocadas pela(s) distância(s) identificada(s)
(a) Para exame de zona única ou para o mais alto acima. Veja a Figura III-463.5 para um exemplo.
zona de um exame de zona múltipla, defina as sondas TOFD
Codificador III-463.6. Os codificadores devem ser calibrados por
na superfície a ser usada para calibração e defina o ganho
recomendações do fabricante e confirmadas por
controle para que a amplitude da onda lateral esteja entre
movendo-se a uma distância mínima de 20 pol. (500 mm) e o
40% e 90% da altura da tela cheia (FSH) e o
distância exibida sendo ±1% da distância real
o nível de ruído da linha de base está entre 5% e 10% de FSH. Esse
mudou-se.
é a configuração de sensibilidade de referência.
(b) Para zonas adicionais abaixo da zona mais alta em III-464 CALIBRAÇÃO PARA TUBULAÇÃO
exames de zona múltipla, defina o nível de ruído da linha de base
Os requisitos do T-464 não são aplicáveis ao
entre 5% e 10% de FSH. Esta é a configuração de sensibilidade de
Técnica TOFD.
referência.
III-465 CALIBRAÇÃO PARA REVESTIMENTO
III-463.3 Confirmação de Sensibilidade. Escaneie os SDHs do
bloco de calibração com eles centralizados entre os Os requisitos do T-465 não são aplicáveis ao
sondas, no nível de sensibilidade de referência definido em III-463.2. Técnica TOFD.
101
Figura III-463.5
Varreduras de deslocamento
VARREDURA #3
Deslocamento PCS 1/2 da largura da(s) zona(s)
aplicável(eis)
largura da(s)
zona(s) aplicável(eis)
VARREDURA #1
PCS centrado no eixo de solda
VARREDURA #2
Deslocamento PCS 1/2 da largura da(s) zona(s)
aplicável(eis)
III-467 CONFIRMAÇÃO DO CODIFICADOR III-471.6 Registro de Dados (Região Fechada). O sinal A- ð23Þ
scan não retificado (forma de onda de RF) deve ser registrado. A
Uma verificação de calibração deve ser realizada em intervalos
região fechada do A-scan deve ser configurada para começar
não superiores a um mês ou antes do primeiro uso posterior, logo antes da onda lateral e, no mínimo, não terminar até que
feita movendo o codificador ao longo de uma distância mínima de
todo o primeiro sinal de parede traseira com permissão para
20 pol. (500 mm) e a distância exibida sendo ± 1% da distância variações de espessura e incompatibilidade seja registrado.
real movida .
Dados úteis podem ser obtidos a partir de sinais convertidos em
modo; portanto, o intervalo do primeiro sinal de parede traseira
ao sinal de parede traseira convertido em modo também deve
ser incluído nos dados coletados quando exigido pelo Código de referência.
III-470 EXAME
III-471 REQUISITOS GERAIS DE EXAME III-471.1 Cobertura III-471.8 Refletores transversais ao cordão de solda.
Um exame de feixe angular deve ser realizado de acordo com
de Exame. O volume a ser escaneado deve ser examinado T-472.1.3 para refletores transversais ao eixo de solda, a menos
com o par de sondas TOFD centralizado e transversal ao eixo
que a Seção do Código de referência especifique um exame
da solda e, em seguida, movendo o par de sondas paralelamente
TOFD. Nesses casos, posicione cada par de sonda TOFD
e ao longo do eixo da solda. Se varreduras de deslocamento
essencialmente paralelo ao eixo de solda e mova o par de sonda
forem necessárias devido à largura da solda, repita a varredura
ao longo e para baixo do eixo de solda. Se o reforço da solda
inicial com as sondas deslocadas para um lado do eixo da solda
não for liso, posicione as pontas de prova no material da placa
e novamente com o deslocamento para o lado oposto da primeira
varredura de deslocamento. adjacente o mais paralelo possível ao eixo da solda.
III-471.4 Sobreposição. A sobreposição mínima entre

varreduras adjacentes deve ser de 1 pol. (25 mm). III-471.9 Exame suplementar de ID e OD próximo à ð23Þ
superfície. Devido à presença dos sinais de indicação de onda
III-471.5 Exame de zona múltipla. Quando uma solda é lateral e parede traseira, as falhas que ocorrem nessas zonas
dividida em várias zonas, repita III-471.1 para cada zona de solda. podem não ser detectadas. Portanto, o ID e OD perto das
superfícies dentro da área de interesse devem ser
102
examinados de acordo com o Artigo 4 usando uma técnica diferente III-486 DIMENSIONAMENTO E INTERPRETAÇÃO DE FALHA
de TOFD. Esse exame pode ser realizado usando técnicas de
Quando a altura do dimensionamento da falha for necessária,
exame ultrassônico manuais, semiautomáticas ou automatizadas;
após o sistema ser calibrado por III-463, uma corrida livre no bloco
se semiautomatizado ou automatizado, os dados podem ser
de calibração deve ser executada e a profundidade da reflexão da
registrados em conjunto com o exame TOFD.
parede traseira calculada pelo sistema deve estar dentro de 0,04
pol. (1 mm ) da espessura real. Para exames de zona múltipla em
que a parede posterior não é exibida ou é pouco discernível, pode
III-472 DISTÂNCIA DA JUNTA DE SOLDAGEM-AMPLITUDE ser usado um furo lateral ou outro refletor de referência de
TÉCNICA profundidade conhecido no bloco de calibração. Consulte os
apêndices não obrigatórios L e N deste artigo para obter informações
Os requisitos do T-472 não são aplicáveis à técnica TOFD. adicionais sobre dimensionamento e interpretação de falhas.
A interpretação final só deve ser feita depois que todos os

ajustes dos parâmetros de exibição (ou seja, contraste, brilho,
III-473 TÉCNICA DE REVESTIMENTO
remoção da parede lateral e traseira e processamento SAFT, etc.)
Os requisitos do T-473 não são aplicáveis à técnica TOFD. forem concluídos.
III-490 DOCUMENTAÇÃO
ESPAÇAMENTO DE AMOSTRAGEM DE DADOS III-475
III-492 REGISTRO DE EXAME
Um espaçamento máximo de amostra de 0,040 pol. (1 mm) deve
ser usado entre os A-scans coletados para espessuras abaixo de 2 Para cada exame, as informações necessárias em
pol. (50 mm) e um espaçamento de amostra de até 0,080 pol. (2 T-492 e as seguintes informações devem ser registradas:
mm) pode ser usado para espessuras maiores de 2 pol. (50 mm). (a) espaçamento do centro da sonda (PCS)
(b) espaçamento de amostragem de
dados (c) altura da falha, se
especificado (d) os níveis finais de processamento da exibição
III-480 AVALIAÇÃO
III-493 RELATÓRIO
III-485 LINHAS DE DADOS PERDIDAS
Um relatório do exame deve ser feito. O relatório deve incluir os
As linhas ausentes no visor não devem exceder 5% das linhas registros indicados em T-491, T-492 e III-492. O relatório deve ser
de varredura a serem coletadas e nenhuma linha adjacente deve arquivado e mantido de acordo com a Seção do Código de
ser perdida. referência.
103
ANEXO OBRIGATÓRIO IV
TÉCNICAS DE EXAME DE RASTER MANUAL DE PHASED ARRAY
USANDO MATRIZES LINEARES
IV-410 ESCOPO IV-462 REQUISITOS GERAIS DE CALIBRAÇÃO
Este Apêndice Obrigatório descreve os requisitos a serem usados IV-462.7 Lei Focal. A lei focal a ser usada durante
o exame deve ser usado para calibração.
para phased array, varredura manual de raster, técnicas ultrassônicas
usando arrays lineares. As técnicas abordadas neste Apêndice são IV-462.8 Calibração de Feixe. Todos os feixes individuais usados
simples (ângulo fixo), E-scan (ângulo fixo) e S-scan (varredura de no exame devem ser calibrados para fornecer medição de distância e
ângulo múltiplo). Em geral, este Artigo está em conformidade com correção de amplitude ao longo do caminho do som empregado no
SE-2700, Prática Padrão para Teste Ultrassônico de Contato de exame. Isso deve incluir compensação aplicável para variações de
Soldas Usando Phased Arrays. SE-2700 fornece detalhes a serem caminho de som de cunha e efeitos de atenuação de cunha.
considerados nos procedimentos utilizados.
IV-490 DOCUMENTAÇÃO
IV-420 GERAL
IV-492 REGISTRO DE EXAME
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, exceto conforme modificado
Para cada exame, as informações necessárias de
por este Apêndice.
T-492 e as seguintes informações devem ser registradas:
(a) tipo de unidade de busca, tamanho e número do elemento, e
IV-421 REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO
dimensões de passo e lacuna
IV-421.1 Requisitos. Os requisitos da Tabela (b) parâmetros da lei focal, incluindo, conforme aplicável, ângulo,
IV-421 deve ser aplicado.
números de elementos usados, faixa de elementos, alteração
IV-421.2 Qualificação do procedimento. Os requisitos incremental do elemento, faixa angular e alteração incremental do
da Tabela IV-421 serão aplicáveis. ângulo
(c) ângulo de cunha
IV-422 PLANO DE VARREDURA ( d) configurações do instrumento para incluir, no mínimo , tipo de
Um plano de varredura deve ser desenvolvido. O plano de varredura, pulso de excitação, configurações de duração e tensão, taxa de
em combinação com o procedimento escrito, deve abordar todos os digitalização (por exemplo, taxa nominal conforme afetada pela
requisitos da Tabela IV-421. compressão e quantidade de pontos), retificação, taxa de repetição de
pulso, início e parada da faixa, filtros de passagem de banda,
suavização, tipo
IV-460 CALIBRAÇÃO focal e comprimento (e) variáveis do plano de varredura
IV-461 VERIFICAÇÕES DE LINEARIDADE DO INSTRUMENTO
IV-461.2 Linearidade de controle de amplitude. A linearidade do

controle de amplitude do instrumento ultrassônico deve ser avaliada
de acordo com o Apêndice II Obrigatório para cada circuito pulsador-
receptor.
104
Tabela IV-421
Requisitos de um procedimento de exame de varrimento linear linear phased array raster
Requisitos (conforme aplicável) Essencial não essencial
Configurações de solda examinadas, incluindo design de junta, espessura e forma(s) de produto de material de base x …
Superfícies nas quais o exame é realizado Condição da superfície x …
(superfície de exame, bloco de calibração) x …
Sistema de referência de eixo de solda e marcação … x
Requisitos de qualificação de pessoal x …
Demonstração de desempenho de pessoal (se necessário) x …
Refletor de referência primária e bloco(s) de x …
calibração e técnica(s) de calibração x …
Método de padronização e refletores (atraso de cunha, sensibilidade, TCG) x …
Aquisição de dados computadorizada … x
Corte em cunha/ângulo refratado natural x …
Contorno da cunha e/ou características de estabilização x …
Altura da cunha x …
Tipo de cunha (cunha sólida, coluna de água, etc.) x …
Material da cunha x …
Acoplante: marca ou tipo Fabricante e … x
modelo do instrumento, incluindo todos os módulos operacionais relacionados Software e revisão x …
do instrumento [Nota (1)] x …
Sondas Phased Array especiais, cunhas curvas/formatadas, sapatas ou selas, quando usadas Tipo de x …
unidade de busca (linear, linear duplo, matriz dupla, tandem, etc.) x …
Detalhes da unidade de pesquisa (frequência, tamanho do elemento, densidade do número, dimensões do intervalo, formato do elemento) x …
Técnica(s) (feixe reto, feixe angular, contato e/ou imersão) x …
Ângulo(s) e modo(s) de propagação da onda no material Direções e x …
extensão da varredura Incremento da x …
varredura (diminuição da quantidade de sobreposição) x …
Uso do ganho de varredura sobre o nível de referência x …
primário Tamanho da abertura virtual (ou seja, número de elementos, altura efetiva e largura do elemento) x …
Comprimento e plano do foco (identifique a projeção do plano, profundidade ou caminho do som, etc.) x …
Para digitalização eletrônica:
Intervalo de números de elementos usados (ou seja, 1–126, 10–50, etc.) x …
Alteração incremental do elemento (ou seja, 1, 2, etc.) x …
Ângulo rastering x …
Números de início e fim da abertura x …

Para S-scan:
Números do elemento de abertura (primeiro e último) x …
Diminuição na faixa angular usada (ou seja, 40 graus a 50 graus, 50 graus a 70 graus, etc.) x …
1
Mudança incremental do ângulo máximo (ou seja, /2 você, 1 você, etc.) x …
Para E-scan e S-scan compostos: todas as variáveis E-scan e S-scan se aplicam Frequência x …
de digitalização Frequência x …
de digitalização líquida (considera a quantidade de pontos e outras compactações de dados) x …
Configuração da faixa dinâmica do x …
instrumento x …
Tensão do pulso Tipo e x …
largura do pulso Filtros e x …
suavização Frequência de x …
repetição do pulso Configuração x …
da faixa máxima Alarme automático e/ou equipamento de registro, quando … x
aplicável Método para discriminar indicações geométricas de falhas x …
Metodologia de caracterização de falhas x …
Método para medir o comprimento das x …
falhas Registros, incluindo dados mínimos de calibração (por exemplo, configurações do instrumento) … x
Limpeza pós-exame … x
OBSERVAÇÃO:
(1) O uso de revisões de software deve ser avaliado pelo Nível III quanto ao seu impacto nas funções usadas. Uma extensão limitada de qualificação pode ser
determinada para provar funções de software. Por exemplo, a adição de um recurso de software mais capaz do que o qualificado pode
ser qualificado pela reanálise dos dados existentes. Se uma revisão for implementada, o pessoal deve receber treinamento no uso do software revisado.
105
ANEXO OBRIGATÓRIO V
PHASED ARRAY E-SCAN E S-SCAN LINEAR SCANNING
TÉCNICAS DE EXAME
ESCOPO V-410 EXAME V-470

Este Apêndice Obrigatório descreve os requisitos a serem usados V-471 REQUISITOS GERAIS DE EXAME V-471.1 Cobertura de
para exames de varredura linear codificada por phased array E-scan
Exame. O volume necessário da solda e do material de base a ser
(ângulo fixo) e S-scan usando unidades de pesquisa de matriz linear. examinado deve ser escaneado usando uma técnica de escaneamento
linear com um codificador. Cada escaneamento linear deve ser
paralelo ao eixo da solda a uma distância de afastamento constante
com o feixe orientado perpendicularmente ao eixo da solda.
V-420 GERAL
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, exceto conforme modificado (a) A unidade de busca deve ser mantida a uma distância fixa do
por este Apêndice. eixo de solda por um guia fixo ou mecânico
significa.
V-421 REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO (b) O(s) ângulo(s) de exame para E-scan e a faixa de ângulos para
V-421.1 Requisitos. Os requisitos da Tabela S-scan devem ser apropriados para a junta a ser examinada. (c) A
V-421 deve ser aplicado. velocidade
de varredura deve ser tal que a perda de dados seja inferior a 2
V-421.2 Qualificação de procedimento. Os requisitos
linhas de dados/pol. (25 mm) do comprimento da varredura linear e
da Tabela V-421 devem ser aplicadas.
que não haja saltos de linha de dados adjacentes.
PLANO DE VARREDURA V-422 (d) Para técnicas de E-scan, a sobreposição entre aberturas ativas
adjacentes (ou seja, mudança incremental de abertura) deve ser de no
Um plano de varredura deve ser desenvolvido. O plano de
mínimo 50% da altura efetiva da abertura.
varredura, em combinação com o procedimento escrito, deve abordar
(e) Para técnicas de varredura S, a mudança incremental de
todos os requisitos da Tabela V-421.
varredura angular deve ser de no máximo 1 grau ou suficiente para
garantir 50% de sobreposição do feixe.
CALIBRAÇÃO V-460 (f) Quando múltiplas varreduras lineares são necessárias para cobrir
o volume necessário de solda e material de base, a sobreposição entre
VERIFICAÇÕES DE LINEARIDADE DO INSTRUMENTO V-461
varreduras lineares adjacentes deve ser de no mínimo 10% da altura
V-461.2 Linearidade de controle de amplitude. A linearidade do efetiva da abertura para varreduras E ou largura do feixe para
controle de amplitude do instrumento ultrassônico deve ser avaliada varreduras S.
de acordo com o Apêndice II Obrigatório para cada circuito pulsador- V-471.6 Gravação. Os dados do A-scan devem ser registrados para
receptor. a área de interesse em um formato não processado sem limite, a uma
taxa de digitalização mínima de cinco vezes a frequência do exame e
V-462 REQUISITOS GERAIS DE CALIBRAÇÃO
incrementos de registro de no máximo
V-462.7 Lei Focal. A lei focal a ser usada durante
o exame deve ser usado para calibração. (a) 0,04 pol. (1 mm) para material < 3 pol. (75 mm) de espessura
V-462.8 Calibração de Feixe. Todos os feixes individuais usados (b) 0,08 pol. (2 mm) para material ÿ 3 pol. (75 mm) de espessura
no exame devem ser calibrados para fornecer medição de distância e V-471.7 Refletores transversais ao cordão de solda. Como
correção de amplitude ao longo do caminho do som empregado no uma alternativa para varredura de linha, um exame de feixe de ângulo
exame. manual pode ser realizado para refletores transversais ao eixo de solda.
CALIBRAÇÃO DO CODIFICADOR V-467
Uma verificação de calibração deve ser realizada em intervalos não

superiores a um mês ou antes do primeiro uso posterior, movendo o
codificador a uma distância mínima de 20 pol. (500 mm). A distância
de exibição deve estar dentro de 1% da distância real movida.
106
Tabela V-421
Requisitos dos Procedimentos de Exame de Varredura Linear Phased Array
mão de obra Mecânica da Fratura
Requisitos (conforme aplicável) Essencial não essencial Essencial não essencial
Configurações de solda examinadas, incluindo espessura de projeto de junta e x … x …
forma de produto de material de base

Superfícies nas quais o exame é realizado Condição da x … x …
superfície (superfície de exame, bloco de calibração) x … x …
Sistema de referência de eixo de solda e marcação x … x …
Requisitos de qualificação de pessoal x … x …
Demonstração de desempenho de pessoal (se necessário) x … x …
Refletor de referência primária e calibração de x … x …
nível [bloco(s) de calibração e técnica(s)] x … x …
Método de padronização e refletores (atraso de cunha, sensibilidade, TCG) x … x …
Aquisição de dados computadorizada x … x …
Corte em cunha/ângulo refratado natural x … x …
Contorno da cunha e/ou características de estabilização x … x …
Altura da cunha x … x …
Ângulo do telhado da cunha, se x … x …
aplicável Tipo de cunha (cunha sólida, coluna de água, etc.) x … x …
Material da cunha x … x …
Tipo de scanner e fixação x … x …
Dispositivo de fixação mecânica da unidade de busca (fabricante e modelo), x … x …
mecanismo de aderência e orientação

Separação da unidade de pesquisa, se aplicável x … x …
Marca ou tipo de acoplante … x … x
Fabricante e modelo do instrumento, incluindo todas as informações operacionais relacionadas x … x …

módulos
Software do instrumento e revisão [Nota (1)] x … x …
Uso de software de análise de dados separado e revisão [Nota (1)] x … x …
Tipo de unidade de pesquisa (linear, linear duplo, matriz dupla, tandem, etc.) x … x …
Detalhes da unidade de pesquisa (frequência, tamanho do elemento, densidade do número, lacuna x … x …
dimensões, forma do elemento)

Técnica(s) (feixe reto, feixe angular, contato e/ou imersão) x … x …
Ângulo(s) e modo(s) de propagação da onda no material Direção e x … x …
extensão do escaneamento Técnica de x … x …
escaneamento (linha vs. raster) x … x …
Técnica de escaneamento (automática vs. semiautomática) x … x …
Digitalização (manual vs. codificada) x … x …
Incremento de digitalização (diminuição na sobreposição) x … x …
Uso do ganho de varredura sobre o nível de referência x … x …
primário Tamanho da abertura virtual (ou seja, número de elementos, altura efetiva e x … x …
largura do elemento)
Comprimento e plano do foco (identifique a projeção do plano, profundidade ou som x … x …
caminho, etc.)
Para e-scan
Intervalo de números de elementos usados (ou seja, 1–126, 10–50, etc.) x … x …
Alteração incremental do elemento (ou seja, 1, 2, etc.) x … x …
Ângulo rastering x … x …
Números de início e fim da abertura x … x …

Para S-scan:
Números do elemento de abertura (primeiro e último) x … x …
Diminuição na faixa angular usada (ou seja, 40 graus a 50 graus, 50 graus a 70 x … x …
você, etc.)
1 x … x …
Alteração incremental do ângulo máximo (ou seja, /2 você, 1 você, etc.)
para E-scan e S-scan compostos: todas as variáveis de E-scan e S-scan se aplicam x … x …
Frequência de digitalização x … x …
Frequência de digitalização líquida (considera a frequência de digitalização em conjunto x … x …
com quantidade de pontos ou outra compressão de dados)

Configuração da faixa dinâmica do x … x …
instrumento x … x …
Tensão do pulso Tipo e x … x …
largura do pulso Filtros e suavização x … x …
107
Tabela V-421
Requisitos dos Procedimentos de Exame de Varredura Linear Phased Array (continuação)
mão de obra Mecânica da Fratura
Requisitos (conforme aplicável) Essencial não essencial Essencial não essencial
Frequência de repetição de pulso x … x …
Configuração de faixa máxima x … x …
Uso de ganho digital x … x …
Método para discriminar indicações geométricas de indicações de falhas x … x …
Metodologia de caracterização de falhas x … QUE QUE
Método para medir o comprimento das x … x …
falhas Método para medir a altura das falhas QUE QUE x …
Método para determinar a localização da indicação em relação à superfície QUE QUE x …
Método para determinar a indicação em relação a outras indicações Registros, QUE QUE x …
incluindo mínimo dados de calibração a serem registrados (por exemplo, … x … x
configurações do instrumento)
Limpeza pós-exame … x … x
NOTA GERAL: NA = não aplicável.
OBSERVAÇÃO:
(1) O uso de revisões de software posteriores deve ser avaliado pelo Nível III quanto ao seu impacto nas funções usadas. Uma extensão limitada de qualificação pode ser
determinada para provar funções de software. Por exemplo, adição de um recurso de software mais capaz do que o já existente
qualificado pode ser qualificado pela reanálise dos dados existentes. Se uma revisão for implementada, o pessoal deve receber treinamento no uso da versão revisada
Programas.
V-490 DOCUMENTAÇÃO (c) ângulo refratado natural da cunha
(d) configurações do instrumento para incluir, no mínimo, tipo de pulso

V-492 REGISTRO DE EXAME
de excitação, configurações de duração e tensão, taxa de digitalização (por
Para cada exame, as informações necessárias de
exemplo, taxa nominal conforme afetada pela compressão
T-492 e as seguintes informações devem ser registradas:
e quantidade de pontos), retificação, taxa de repetição de pulso,
(a) tamanho, número, passo e lacuna do elemento de busca
intervalo de início e parada, filtros de passagem de banda, suavização, focal
dimensões
tipo e comprimento
(b) parâmetros da lei focal, incluindo, conforme aplicável, ângulo
(e) variáveis do plano de varredura
ou faixa angular, números de elemento usados, mudança angular ou
incremental de elemento e elemento de início e parada Os dados gravados do A-scan só precisam ser retidos até o final
números ou número do elemento inicial avaliação de falha foi realizada.
108
ANEXO OBRIGATÓRIO VII

REQUISITOS DE EXAME ULTRASSÔNICO PARA
CRITÉRIOS DE ACEITAÇÃO BASEADOS NA OBRA
VII-410 ESCOPO VII-434 BLOCOS DE CALIBRAÇÃO
Este Apêndice Obrigatório fornece requisitos quando um exame VII-434.1 Calibração e Verificação do Plano de Varredura.
ultrassônico automatizado ou semiautomático é realizado para critérios
Os seguintes métodos de (a) ou ambos (b) e (c) devem ser usados para
de aceitação baseados em mão de obra.
verificar o plano de varredura e a calibração do exame:
VII-420 GERAL (a) Bloco do Scanner. Um bloco deve ser fabricado atendendo aos
requisitos de T-434.1 e Figura T-434.2.1 , exceto que sua espessura, T,
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, exceto conforme modificado 1
deve estar dentro de /4 pol. (6 mm) ou 25% da espessura do material a
por este Apêndice. ser examinado e o número e a posição dos furos laterais devem ser
adequados para confirmar a configuração de sensibilidade de cada
VII-421 REQUISITOS DO PROCESSO ESCRITO VII-421.1 Requisitos. sonda, ou par de sondas no caso de uma configuração TOFD, conforme
Os procedimentos devem ser como de posicionado pelo plano de varredura no scanner. O bloco do scanner é
adaptado para a técnica ultrassônica aplicável. um acréscimo ao bloco de calibração exigido pelo Artigo 4, a menos que
o bloco do scanner também tenha todos os refletores de referência
ð23Þ VII-421.2 Qualificação de procedimento. Quando exigido pela
especificados exigidos pela Figura T-434.2.1. Para bloco(s) de leitura,
Seção do Código de referência, em vez dos requisitos do T-150(d), o
aplica-se VII-466.1 .
procedimento será considerado qualificado quando o Nível III de
supervisão e o Inspetor estiverem convencidos de que as indicações
produzidas pelo procedimento demonstrado revelam o comprimento , (b) Verificação do Simulador. Uma verificação de simulador deve ser
localização, orientação, quantidade e caracterização das descontinuidades usada antes e no final de cada exame ou série de exames. A verificação
conhecidas presentes no corpo de prova examinado. do simulador pode usar qualquer bloco de referência (ou seja, IIW,
Rompus) ou qualquer bloco com refletor(es) conhecido(s), desde que os
sinais de base de amplitude e tempo possam ser identificados e
VII-423 QUALIFICAÇÕES DO PESSOAL correlacionados com a calibração do exame original. A posição da base
de tempo, amplitude e refletor conhecido devem ser registrados na(s)
Somente pessoal qualificado da UT treinado no uso do equipamento
folha(s) de calibração.
e que tenha demonstrado a capacidade de adquirir dados de exame
A precisão das verificações do simulador deve ser verificada na conclusão
adequadamente deve realizar varreduras de produção. O pessoal que
de cada período de uso prolongado. Para verificações de simulador,
aprova as configurações, executa as calibrações e analisa e interpreta
VII-466.2.1 deve ser aplicado. (c)
os dados coletados deve ser um Nível II ou Nível III que tenha treinamento
documentado no uso do equipamento e software usado. Os requisitos Verificação da Posição da Unidade de Busca. Um escâner ajustável
de treinamento e demonstração devem ser abordados na prática escrita ou sistema de posicionamento da unidade de busca capaz de medir e
do empregador. proteger a unidade de busca deve ser usado com o objetivo de manter e
verificar uma posição consistente da sonda durante todo o exame, de
modo a garantir que a conformidade com o plano de varredura tenha
sido alcançada. VII-466.3 deve ser aplicado.
VII-430 EQUIPAMENTO
VII-431 REQUISITOS DO INSTRUMENTO
O exame ultrassônico deve ser realizado usando um sistema que

emprega varredura automatizada ou semiautomática com capacidade VII-440 REQUISITOS DIVERSOS
de aquisição e análise de dados por computador. O exame para
refletores transversais pode ser realizado manualmente de acordo com VII-442 DADOS DE DIGITALIZAÇÃO
T-472.1.3 , a menos que a Seção do Código de referência especifique
que também deve ser feito por uma varredura automática ou Os dados de digitalização originais, não processados, devem ser
semiautomática. salvos eletronicamente (por exemplo, magnético, óptico, memória flash, etc.).
109
VII-460 CALIBRAÇÃO VII-485 AVALIAÇÃO
VII-466 CALIBRAÇÃO PARA SOLDA DO BICO A avaliação final da falha só deve ser feita após todos os ajustes dos
parâmetros de exibição (por exemplo, contraste, brilho,
ZONA DE FUSÃO E/OU ADJACENTE
BICO DE METAL PAI e, se aplicável, remoção da parede lateral e traseira e SAFT
processamento, etc.) foram concluídas.
VII-466.1 Varredura de confirmação do sistema. o scanner
o bloco deve ser digitalizado e as indicações do refletor de referência
VII-486 TÉCNICAS DO MANUAL COMPLEMENTAR
registradas para confirmar a calibração do sistema antes e
na conclusão de cada exame ou série de exames semelhantes Falhas detectadas durante a varredura automatizada ou semiautomática
exames, quando o pessoal do exame (exceto para podem ser avaliadas alternativamente, se aplicável, por técnicas manuais
equipamento automatizado) são alterados, e se o plano de varredura suplementares.
deve ser modificado (ou seja, VII-483) para satisfazer os requisitos de

VII-487 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE
T-467.3.
O Fabricante será responsável pela revisão,
VII-466.2 Verificações de calibração. Os requisitos de
interpretação, avaliação e aceitação dos dados da varredura completa
T-467.2 não são aplicáveis a este Apêndice quando os requisitos de
para garantir a conformidade com os requisitos do Artigo 4, deste Apêndice
VII-434.1(a) são atendidos.
e do referenciamento
VII-466.2.1 Verificações do Simulador. Os requisitos Seção de Código. A aceitação deve ser concluída antes da apresentação
de T-467.2.1 não são aplicáveis a este Apêndice quando dos dados do escaneamento e da documentação que os acompanha ao
os requisitos de VII-434.1(a) são atendidos. Inspetor.
VII-466.3 Posição da Unidade de Busca. Se a posição da unidade de

1
busca dentro do scanner mudou mais de /16 pol.
VII-490 DOCUMENTAÇÃO
(1,5 mm), todos os dados desde a última posição válida da unidade de pesquisa
cheque será anulado e a área coberta pelo VII-492 REGISTRO DE EXAME
os dados anulados devem ser reexaminados. Este requisito faz As informações necessárias do T-490 e as seguintes
não se aplica quando os requisitos de VII-434.1(a) são atendidos. informações devem ser registradas:
(a) plano de varredura (incluindo intervalo qualificado de variáveis)
(b) scanner e mecanismo de adesão e orientação
VII-470 EXAME (c) dados de indicação [ou seja, posição na solda, comprimento e
caracterização (por exemplo, rachadura, falta de fusão, falta de penetração
VII-471 EXAME GERAL
ou inclusão)]
REQUISITOS (d) os níveis finais de processamento de exibição
VII-471.1 Cobertura de exame. O volume a ser (e) dados suplementares de indicação de técnicas manuais,
escaneados devem ser examinados de acordo com o plano de escaneamento. se aplicável [mesma informação que (c)]
(f) configurações do instrumento para incluir, no mínimo, tipo de pulso
de excitação, configurações de duração e tensão, taxa de digitalização
VII-480 AVALIAÇÃO (por exemplo, taxa nominal conforme afetada pela compressão
e quantidade de pontos), retificação, taxa de repetição de pulso,
VII-483 AVALIAÇÃO DE REFLETORES LAMINARES
intervalo de início e parada, filtros de passagem de banda, suavização, focal
Refletores avaliados como refletores laminares na base tipo e comprimento
material que interfira na varredura do volume de exame exigirá que o (g) parâmetros da lei focal, incluindo, conforme aplicável, ângulo
plano de varredura seja modificado ou alcance angular, profundidade focal e plano, números de elementos
tal que o volume máximo viável seja examinado e usado, mudança incremental angular ou de elemento e iniciar
deve ser anotado no registro do exame (T-493). e parar os números do elemento ou iniciar o número do elemento
110

REQUISITOS DE EXAME ULTRASSÔNICO PARA FRATURA
CRITÉRIOS DE ACEITAÇÃO BASEADOS EM MECÂNICA
VIII-410 ESCOPO executado manualmente de acordo com T-472.1.3 , a menos que a Seção do
Código de referência especifique que também deve ser por uma varredura
Este Apêndice Obrigatório fornece requisitos quando um exame automática ou semiautomática.
ultrassônico automatizado ou semiautomático é realizado para
critérios de aceitação baseados na mecânica da fratura. Quando
critérios de aceitação baseados na mecânica da fratura são usados
VIII-432 UNIDADES DE PESQUISA
com a técnica ultrassônica de captura de matriz completa (FMC), o
apêndice obrigatório XI deve ser aplicado. VIII-432.1 Geral. A frequência nominal deve ser
o mesmo usado na qualificação.
VIII-420 GERAL
VIII-434 BLOCOS DE CALIBRAÇÃO
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, exceto conforme modificado
VIII-434.1 Calibração e Verificação do Plano de Varredura.
por este Apêndice.
Os seguintes métodos de (a) ou ambos (b) e (c) devem ser usados
VIII-421 REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO para verificar o plano de varredura e a calibração do exame.
VIII-421.1 Requisitos. A qualificação do procedimento é exigida

(a) Bloco do Scanner. Um bloco deve ser fabricado atendendo
pelo Apêndice IX Obrigatório e deve cumprir o Artigo 1, T-150(d). Os
aos requisitos de T-434.1 e Figura T-434.2.1 , exceto que sua
procedimentos devem ser detalhados para a técnica ultrassônica 1
espessura, T, deve estar dentro de /4 pol. (6 mm) ou 25% da
aplicável.
espessura do material a ser examinado e o número e a posição dos
VIII-421.2 Qualificação do Procedimento. O procedimento e os furos laterais devem ser adequados para confirmar a configuração
planos de varredura aplicáveis devem ser qualificados usando as de sensibilidade de cada sonda, ou par de sondas no caso de uma
variáveis estabelecidas para a(s) técnica(s) aplicável(eis). configuração TOFD, conforme posicionado pelo plano de varredura
no scanner. O bloco do scanner é um acréscimo ao bloco de
VIII-423 QUALIFICAÇÕES DO PESSOAL calibração exigido pelo Artigo 4, a menos que o bloco do scanner
também tenha todos os refletores de referência especificados
Somente pessoal qualificado da UT treinado no uso do
exigidos pela Figura T-434.2.1. Para bloco(s) de leitura, aplica-se
equipamento e que tenha participado da qualificação técnica e/ou
VIII-467.1 . (b) Verificação do
demonstração ou que tenha sido treinado e examinado nos requisitos
técnicos, deve realizar varreduras de produção. A participação é Simulador. Uma verificação de simulador deve ser usada antes e
definida como a coleta de dados usando a configuração sendo no final de cada exame ou série de exames. A verificação do
qualificada sem assistência. O pessoal que aprova as configurações, simulador pode usar qualquer bloco de referência (ou seja, IIW,
executa as calibrações e analisa e interpreta os dados coletados Rompus) ou qualquer bloco com refletor(es) conhecido(s), desde
deve ser de Nível II ou Nível III que tenha treinamento documentado que os sinais de base de amplitude e tempo possam ser identificados
no uso do equipamento e software usado. e correlacionados com a calibração do exame original. A posição
da base de tempo, amplitude e refletor conhecido devem ser
Os requisitos de treinamento e demonstração devem ser abordados registrados na(s) folha(s) de calibração.
na prática escrita do empregador. A precisão das verificações do simulador deve ser verificada na
conclusão de cada período de uso prolongado. Para verificações de
simulador T-467.2.1 deve ser aplicado.
VIII-430 EQUIPAMENTO (c) Verificação da Posição da Unidade de Busca. Um escâner
ajustável ou sistema de posicionamento da unidade de busca capaz
VIII-431 REQUISITOS DO INSTRUMENTO
de medir e proteger a unidade de busca deve ser usado com o
O exame ultrassônico deve ser realizado usando um sistema que objetivo de manter e verificar uma posição consistente da sonda
emprega varredura automatizada ou semiautomática com capacidade durante todo o exame, de modo a garantir que a conformidade com
de aquisição e análise de dados por computador. O exame de o plano de varredura tenha sido alcançada. VIII-467.3 deve ser
refletores transversais pode ser aplicado.
111
VIII-440 REQUISITOS DIVERSOS (b) 0,20 pol. (5 mm) para soldas em materiais com mais de 11/2 pol.
( 38 mm) de espessura, mas menos de 4 pol. (100 mm) de espessura (c)
VIII-442 DADOS DE DIGITALIZAÇÃO 3
0,05T ou /4 pol. (19 mm) ), o que for menor, para soldas em materiais
Os dados de digitalização originais, não processados, devem ser salvos maiores que 4 pol. (100 mm). (T = espessura nominal do material
eletronicamente (por exemplo, magnético, óptico, memória flash, etc.). adjacente à solda.)
Para soldas que unem duas espessuras diferentes de material, a
espessura do material deve ser baseada no mais fino dos dois materiais.
VIII-460 CALIBRAÇÃO
VIII-467 CALIBRAÇÃO PARA SOLDA DO BICO

VIII-483 AVALIAÇÃO DE LAMINAR
ZONA DE FUSÃO E/OU ADJACENTE REFLETORES
BICO DE METAL PAI
Os refletores avaliados como refletores laminares no material de base
VIII-467.1 Varredura de confirmação do sistema. O bloco do scanner
que interferem na varredura do volume do exame devem exigir que o
deve ser digitalizado e as indicações do refletor de referência registradas
plano de varredura seja modificado de modo que o volume máximo viável
para confirmar que antes e na conclusão de cada exame ou série de seja examinado e devem ser anotados no registro do exame (T-493 ) .
exames semelhantes, quando o pessoal do exame (exceto para
equipamentos automatizados) for alterado e se o plano de varredura for
necessário para ser modificado (ou seja, VIII-483) para satisfazer os VIII-485 CONFIGURAÇÕES DE AVALIAÇÃO
requisitos de T-467.3.
A avaliação final da falha só deve ser feita depois que todos os ajustes
dos parâmetros de exibição (por exemplo, contraste, brilho e, se aplicável,
VIII-467.2 Verificações de calibração. Os requisitos do T-467.2 não remoção da parede lateral e traseira e processamento SAFT, etc.) forem
são aplicáveis a este Apêndice quando os requisitos do VIII-434.1(a) são concluídos.
atendidos.
VIII-467.2.1 Verificações do Simulador. Os requisitos do T-467.2.1

VIII-486 TAMANHO E CATEGORIA
não são aplicáveis a este Apêndice quando os requisitos do VIII-434.1(a) VIII-486.1 Tamanho. As dimensões da falha serão determinadas pelo
são atendidos. retângulo que contém totalmente a área da falha.
VIII-467.3 Posição da Unidade de Busca. Se a posição da unidade de

(a) O comprimento da falha deve ser a dimensão do retângulo que é
busca dentro do scanner mudou mais de
1 paralelo à superfície interna de retenção de pressão do componente.
/16 pol. (1,5 mm), todos os dados desde a última verificação válida da
posição da unidade de busca devem ser marcados como nulos e a área
(b) A altura da falha deve ser a dimensão do retângulo que é normal à
coberta pelos dados anulados deve ser reexaminada. Este requisito não
superfície interna de retenção de pressão do componente.
se aplica quando os requisitos de VIII-434.1(a)
são atendidas.
VIII-486.2 Categoria. As falhas devem ser categorizadas como sendo

de superfície ou subsuperfície com base em sua distância de separação
VIII-470 EXAME da superfície do componente mais próxima. (a) Se o
espaço for igual ou menor que a metade da altura da falha, então a
VIII-471 EXAME GERAL
falha deve ser categorizada como uma falha de superfície.8 (b) Se o
REQUISITOS espaço for maior
VIII-471.1 Cobertura de exame. O volume a ser que a metade da altura da falha , então a falha deve ser categorizada
escaneados devem ser examinados de acordo com o plano de escaneamento.
como uma falha de subsuperfície.
VIII-471.3 Taxa de Movimento da Unidade de Busca. A taxa de
movimento da unidade de busca não deve exceder aquela qualificada.
VIII-487 TÉCNICAS DO MANUAL COMPLEMENTAR
VIII-471.4 Nível de Sensibilidade de Varredura. a digitalização
Falhas detectadas durante a varredura automatizada ou semiautomática
nível de sensibilidade não deve ser inferior ao qualificado.
podem ser avaliadas alternativamente, se aplicável, por técnicas manuais
suplementares.
VIII-480 AVALIAÇÃO
VIII-488 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE
VIII-482 NÍVEL DE AVALIAÇÃO
O Fabricante será responsável pela revisão, interpretação, avaliação e
VIII-482.2 Técnicas de não-distância-amplitude. Todas as imagens aceitação dos dados de escaneamento completos para assegurar a
de indicação que indicaram comprimentos maiores que os seguintes conformidade com os requisitos do Artigo 4, deste Apêndice e da Seção
devem ser avaliadas em termos dos critérios de aceitação da Seção do do Código de referência. A aceitação deve ser concluída antes da
Código de referência: apresentação dos dados do escaneamento e da documentação que os
(a) 0,15 pol. (4 mm) para soldas em material igual ou inferior acompanha ao Inspetor.
de 11/2 pol . (38 mm) de espessura
112
VIII-490 DOCUMENTAÇÃO (f) configurações do instrumento para incluir, no mínimo, tipo de

pulso de excitação, configurações de duração e tensão, taxa de
VIII-492 REGISTROS DE EXAMES digitalização (por exemplo, taxa nominal conforme afetada pela
As informações necessárias do T-490 e as seguintes informações compressão e quantidade de pontos), retificação, taxa de repetição
devem ser registradas: (a) plano de de pulso, faixa de início e parada, filtros de passagem de banda,
varredura (incluindo faixa qualificada de variáveis) (b) scanner suavização, tipo
e mecanismo de adesão e orientação (c) dados de focal e comprimento (g) parâmetros da lei focal, incluindo,
indicação, ou seja, posição na solda, comprimento , extensão conforme aplicável, ângulo ou faixa angular, profundidade focal e
através da parede e caracterização de superfície ou subsuperfície plano, números de elemento usados, mudança angular ou
(d) os níveis de incremental de elemento e números de elemento inicial e final ou número do elemen
processamento de exibição final (e) dados
suplementares de indicação de técnicas manuais, se aplicável
[mesma informação que (c)]
113
REQUISITOS DE QUALIFICAÇÃO DO PROCEDIMENTO PARA DIMENSIONAMENTO DE FALHA
E CATEGORIZAÇÃO
ESCOPO IX-410 (c) uma falha de subsuperfície
Quando o plano de varredura a ser utilizado subdivide uma solda em

Este Apêndice Obrigatório fornece requisitos para a qualificação9 de
várias zonas de exame, é necessário um mínimo de uma falha por zona.
procedimentos de exame ultrassônico quando a determinação do
tamanho da falha (isto é, comprimento e altura através da parede) e
categorização (isto é, superfície ou subsuperfície) são especificadas Tamanho da falha IX-435.6. Os tamanhos das falhas do bloco de
para critérios de aceitação baseados na mecânica da fratura. demonstração devem ser baseados na espessura do bloco de
demonstração e não devem ser maiores do que o especificado pela
Seção do Código de referência
IX-420 GERAL (a) altura de falha máxima aceitável para material menos
de 1 pol. (25 mm) de espessura, ou
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, exceto conforme modificado por
este Apêndice. (b) para material igual ou superior a 1 pol. (25 mm)
espessura, uma proporção de
(1) 0,25 para falhas superficiais

EQUIPAMENTO IX-430
(2) 0,25 (a/l) ou 0,50 (h/ l), conforme aplicável, para falhas
BLOCOS DE DEMONSTRAÇÃO IX-435 subterrâneas
IX-435.1 Geral. Os seguintes parágrafos do Artigo 4 se aplicam aos NOTA: as proporções a/l são usadas pelas Seções I e VIII. as proporções
blocos de demonstração: T-434.1.2, T-434.1.3, T-434.1.4, T-434.1.5, h/l são usadas pela Seção B31.
T-434.1.6 e T-434.1.7.
IX-435.7 Alternativa de falha de ID/OD única. Quando o bloco de
IX-435.2 Preparação. Um bloco de demonstração deve ser preparado demonstração pode ser escaneado de ambas as superfícies principais
por soldagem ou, desde que as propriedades acústicas sejam durante a varredura de qualificação [por exemplo, junta ID e OD têm um
semelhantes, o processo isostático a quente (HIP) pode ser usado. detalhe semelhante, diâmetro de curvatura é maior que 20 pol. (500 mm),
nenhum revestimento ou sobreposição de solda presente, etc. .], então
IX-435.3 Espessura. O bloco de demonstração deve estar dentro de apenas uma falha de superfície é necessária.
25% da espessura a ser examinada. Para soldas que unem duas
IX-435.8 Exames unilaterais. Quando, devido a obstruções, o exame
espessuras diferentes de material, a espessura do bloco de demonstração
deve ser baseada no mais fino do da solda só puder ser realizado de um lado do eixo da solda, o bloco de
dois materiais. demonstração deve conter dois conjuntos de falhas, um conjunto de cada
lado do eixo da solda. Quando o bloco de demonstração pode ser
IX-435.4 Configuração da junta soldada. A geometria da junta de digitalizado a partir
solda do bloco de demonstração deve ser representativa dos detalhes da
ambos os lados do eixo de solda durante a varredura de qualificação (por
junta de produção, exceto ao realizar exames TOFD de soldas de topo
exemplo, detalhe de junta semelhante e sem obstruções), então apenas
de igual espessura de acordo com o Apêndice III Obrigatório.
um conjunto de falhas é necessário.
IX-435.5 Localização da falha. A menos que especificado de outra

forma pela Seção de Código de referência, o bloco de demonstração
deve conter um mínimo de três falhas planares reais ou três entalhes
IX-440 REQUISITOS DIVERSOS
EDM orientados para simular falhas paralelas ao eixo da solda de
produção e às principais faces do sulco.
DADOS DE QUALIFICAÇÃO IX-442
As falhas devem estar localizadas nas faces ranhuradas do bloco ou
adjacentes a elas, como segue: O bloco de demonstração deve ser escaneado e os dados de
(a) uma falha superficial na lateral do bloco representando a superfície qualificação salvos de acordo com o procedimento que está sendo
OD do componente (b) uma falha qualificado e devem estar disponíveis para o Inspetor e Proprietário/
superficial na lateral do bloco representando a superfície ID do Usuário juntamente com uma cópia de qualquer software necessário para
componente visualizar os dados.
114
AVALIAÇÃO IX-480 (a) dimensionados como sendo iguais ou maiores que seu tamanho real
(ou seja, comprimento e altura)
IX-481 TAMANHO E CATEGORIA
(b) devidamente categorizado (ou seja, superfície ou subsuperfície)
As falhas devem ser dimensionadas e categorizadas de acordo com o
procedimento escrito que está sendo qualificado.
IX-482 AUTOMÁTICO E SEMIAUTOMÁTICO IX-490 DOCUMENTAÇÃO

CRITÉRIOS DE DESEMPENHO ACEITÁVEIS
REGISTRO DE BLOCO DE DEMONSTRAÇÃO IX-495
O desempenho aceitável deve ser o especificado pela Seção do Código
de referência. Quando a Seção de Código de referência não especificar o (a) As informações exigidas do T-492 e as seguintes informações devem
desempenho aceitável, aplicar-se-á o seguinte: (a) detecção de todas as ser registradas: (1) espessura do bloco de
falhas no bloco de demonstração; geometria da junta, incluindo revestimentos ou
demonstração (b) respostas registradas ou comprimentos de imagens, revestimentos de solda; e dados de falhas [ou seja, posição no bloco,
conforme aplicável, exceder os critérios de avaliação especificados do tamanho (comprimento e altura), distância de separação até a superfície
procedimento durante a demonstração mais próxima e categoria (superfície ou subsuperfície)]
(c) as falhas são adequadamente categorizadas (ou seja, superficiais ou (2) especificação e grau do bloco de demonstração,
subterrâneas) Número P e tratamento térmico
(d) o tamanho determinado da falha é igual ou maior que seu tamanho
(3) sensibilidade de escaneamento e velocidade de deslocamento da unidade
real, tanto comprimento quanto altura (e) o comprimento
de busca (4) plano
ou altura determinados da falha não são maiores
dimensionado em mais de 50% de escaneamento (5) scanner e mecanismo de adesão e orientação (6)
dados de escaneamento de qualificação

TÉCNICA(S) DO MANUAL COMPLEMENTAR IX-483
(7) dados de dimensionamento de falhas [mesmas informações dos dados de
DESEMPENHO ACEITÁVEL
falhas em (1)]
As falhas do bloco de demonstração podem ser dimensionadas e (8) dados de dimensionamento de técnicas manuais suplementares, se
categorizadas por técnicas manuais suplementares descritas no procedimento, aplicável [mesmas informações como dados de falha em (1)]
somente se as respostas de falhas automatizadas ou semiautomáticas
(9) os níveis finais de processamento de exibição
registradas atenderem aos requisitos de IX-482(a) e/ou forem usadas para a
(b) Quando o TOFD for usado para qualificação, o seguinte também
detecção de refletores transversais. O desempenho aceitável, a menos que
deve ser registrado:
especificado pelo usuário ou código de referência, é definido como as falhas
do bloco de demonstração sendo (1) espaçamento do centro da sonda (PCS) (2)
espaçamento de amostragem de dados
115
ANEXO OBRIGATÓRIO X
EXAME ULTRASSÔNICO DE POLIETILENO DE ALTA DENSIDADE
ESCOPO X-410 PLANO DE VARREDURA X-422
Este Apêndice descreve os requisitos para o exame de soldas de Um plano de varredura (estratégia de exame documentada) deve
fusão de topo em polietileno de alta densidade ser fornecido mostrando o posicionamento e o movimento da unidade
(HDPE) usando eco de pulso codificado, phased array ou de busca que fornece uma metodologia padronizada e repetível para o
técnicas ultrassônicas de difração de tempo de voo (TOFD). exame. Em adição a
informações na Tabela T-421 e, conforme aplicável, Tabela
III-421 ou Tabela V-421, o plano de varredura deve incluir feixe
X-420 GERAL ângulos e direções em relação ao ponto de referência do eixo de solda,
geometria da junta de solda e área(s) de exame
Os requisitos do Artigo 4, Anexo III Obrigatório
ou zona(s).
e Apêndice V Obrigatório, aplicam-se exceto conforme modificado por
este apêndice.
REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO X-421 EQUIPAMENTO X-430

Requisitos X-421.1. O exame será realizado de acordo com um REQUISITOS DO INSTRUMENTO X-431
procedimento escrito que Instrumento X-431.1. Ao executar Phased Array
deve, no mínimo, conter os requisitos da Tabela exame ultrassônico, T-431 e os seguintes requisitos devem ser aplicados:
T-421, Tabela X-421 e, conforme aplicável, Tabela III-421 ou
Tabela V-421. O procedimento escrito deve estabelecer um valor único, (a) Deve ser usado um controlador ultrassônico.
ou faixa de valores, para cada requisito.
(b) O instrumento deve ser capaz de operar em frequências na faixa
X-421.2 Qualificação de procedimento. Quando o procedimento de pelo menos 1 MHz a 7 MHz e
qualificação é especificada, uma mudança de um requisito em deve ser equipado com um controle de ganho escalonado em unidades
Tabela T-421, Tabela X-421 e, conforme aplicável, Tabela de 2 dB ou menos e um ganho máximo de pelo menos 60 dB.
III-421 ou Tabela V-421 identificada como uma variável essencial (c) O instrumento deve ter um mínimo de 32 pulsadores.
requererá a requalificação do procedimento escrito por (d) A taxa de digitalização do instrumento deve ser de
demonstração. Uma mudança de um requisito identificado como menos 5 vezes a frequência central da unidade de busca.
uma variável não essencial não requer requalificação (e) A configuração de compressão não deve ser maior do que
do procedimento escrito. Todas as alterações de variáveis essenciais ou utilizados durante a qualificação do procedimento.
não essenciais daquelas especificadas no procedimento escrito devem
X-431.2 Exibição e gravação de dados. Ao realizar o exame
exigir revisão ou um adendo
ultrassônico Phased Array, o seguinte deve ser aplicado:
ao procedimento escrito.
(a) O instrumento deve ser capaz de selecionar uma parte apropriada

da base de tempo dentro da qual os A-scans são
Tabela X-421
digitalizado.
Requisitos de um exame ultrassônico
(b) O instrumento deve ser capaz de exibir A-, B-, C-, D-,
Procedimento para Técnicas de HDPE
e S-scans em uma paleta de cores capaz de diferenciar entre os níveis
Essencial não essencial de amplitude.
Requisito (conforme aplicável) Variável Variável (c) O equipamento deve permitir o armazenamento de todos os A-scan
plano de digitalização x … dados de forma de onda, com um intervalo definido por portas, incluindo
Técnica(s) de exame x … detalhes de amplitude e base de tempo.
Software de computador e revisão x …
(d) O equipamento deve armazenar informações posicionais
Técnica de digitalização (automatizada versus x …
indicando a posição relativa da forma de onda em relação à(s) forma(s)
semiautomático)
x … de onda adjacente(s), ou seja, posição codificada.
Metodologia de caracterização de falhas
Metodologia de dimensionamento de falha (comprimento) x …
Scanner (fabricante e modelo) x … UNIDADES DE PESQUISA X-432

mecanismo de aderência e orientação
Ao realizar o exame ultrassônico Phased Array,
aplica-se o seguinte:
116
(a) A frequência nominal deve ser de 1 MHz a X-467 CONFIRMAÇÃO DE CALIBRAÇÃO

7 MHz, a menos que variáveis, como microestrutura cristalina de
Alterações do sistema X-467.1. Quando qualquer parte do
produção, exijam o uso de outras frequências para garantir penetração
sistema de exame for alterada, uma verificação de calibração deve
adequada ou melhor resolução.
ser feito no bloco de calibração para verificar essa distância
(b) O modo de onda longitudinal deve ser usado.
ponto de alcance e configuração(ões) de sensibilidade do refletor de
(c) O número de elementos usados deve estar entre 32 calibração com o caminho de som mais longo usado na calibração
e 128.
satisfazer os requisitos de X-467.3.
(d) Unidades de busca com cunhas angulares podem ser usadas para auxiliar
X-467.2 Verificações de calibração. Uma verificação de calibração em
acoplamento do ultrassom na área de inspeção.
pelo menos um dos refletores no bloco de calibração ou
uma verificação usando um simulador deve ser realizada na
BLOCOS DE CALIBRAÇÃO X-434
conclusão de cada exame ou série de exames semelhantes e quando
X-434.1 Geral. o pessoal do exame (exceto para
X-434.1.1 Refletores. O refletor de referência deve equipamentos automatizados) são alterados. A faixa de distância
ser um furo lateral (SDH) com um diâmetro máximo de e os valores de sensibilidade registrados devem satisfazer os
0,080 pol. (2 mm). requisitos de X-467.3.
X-434.1.2 Material. O bloco deve ser fabricado X-467.2.1 Verificação de Material. Ao examinar
de tubo da mesma designação de material que o tubo material de um lote de produção diferente daquele do
material a ser examinado. bloco de calibração, uma verificação da velocidade do material
será feito com raio usinado em bloco fabricado a partir do novo lote
X-434.1.3 Qualidade. Além dos requisitos
e qualquer diferença nos resultados
do T-434.1.3, são inaceitáveis áreas que contenham indicações não
ser compensado tanto na velocidade quanto no nível de ganho.
atribuíveis à geometria, independentemente de
amplitude. X-467.2.2 Variação de temperatura. Se durante o
durante o exame, o diferencial de temperatura
Blocos de calibração de tubulação X-434.3. a calibração
1 3 entre o bloco de calibração usado durante a calibração mais recente
bloco, no mínimo, deve conter SDHs /4T e /4T
e a superfície de exame varia mais
onde T é a espessura do bloco de calibração. a calibração
abaixo de 18°F (10°C), a recalibração é necessária.
bloco deve ser pelo menos tão grosso quanto o tubo que está sendo examinado.
O tamanho do bloco e a localização dos refletores devem permitir a NOTA: Podem ser realizadas verificações de calibração intermediárias
entre a calibração inicial necessária e a verificação de calibração final. A
calibração dos ângulos de feixe usados que cobrem o volume
decisão de realizar verificações de calibração intermediárias deve ser baseada em
de interesse.
estabilidade do instrumento ultrassônico (analógico vs. digital), o risco de ter
para realizar reexames, e o benefício de não realizar exames provisórios
verificações de calibração.
CALIBRAÇÃO X-460
X-467.3 Valores de aceitação de confirmação.
X-462 REQUISITOS GERAIS DE CALIBRAÇÃO X-467.3.1 Pontos de Faixa de Distância. Se a distância
o ponto de alcance do refletor mais profundo usado na calibração
X-462.6 Temperatura. O diferencial de temperatura
moveu-se em mais de 10% da distância lida
entre a calibração original e as superfícies de exame devem estar
ou 5% da varredura total, o que for maior, corrija a calibração da
dentro de 18°F (10°C).
faixa de distância e anote a correção no registro do exame. Todas as
indicações registradas desde a última
X-464 CALIBRAÇÃO PARA TUBULAÇÃO
calibração válida ou verificação de calibração deve ser reexaminada
Calibração do Sistema X-464.1 para Distância-Amplitude e seus valores devem ser alterados nas folhas de dados ou
Técnicas. regravado.
X-464.1.1 Bloco(s) de calibração. As calibrações devem
X-467.3.2 Configurações de sensibilidade. Se a sensibilidade
ser executado utilizando o bloco de calibração referenciado
configuração para o refletor mais profundo usado na calibração
em X-434.3.
mudou menos de 4 dB, compense a diferença ao realizar a análise
X-464.1.2 Calibração de Feixe Reto. Direto de dados e anote a correção no registro do exame. Se a configuração
a calibração do feixe não é necessária. de sensibilidade
mudou em mais de 4 dB, o exame deve ser
Calibração do sistema X-464.2 para técnicas de amplitude
repetido.
sem distância. As calibrações incluem todas aquelas ações
necessárias para assegurar que a sensibilidade e precisão do
a amplitude do sinal e as saídas de tempo do sistema de exame EXAME X-470
(exibidas, gravadas ou processadas automaticamente) são repetidas
REQUISITOS GERAIS DE EXAME X-471
de exame para exame.
A calibração deve ser feita pelo uso do bloco de calibração Cobertura do exame X-471.1. O exame
especificado em X-434.3. o volume deve ser conforme mostrado na Figura X-471.1 abaixo.
117
Gravação X-471.6. Os dados A-scan devem ser registrados para a área

Figura X-471.1
de interesse em um formulário consistente com o requisito da Seção de
Volume de exame da junta do tubo de fusão
Código aplicável e registrando incrementos com um máximo de
(a) 0,04 pol. (1 mm) para material com menos de 3 pol. (75 mm) de
espessura A B
(b) 0,08 pol. (2 mm) para material com mais de 3 pol. (75 mm) de
espessura ¼ pol. (8 mm) ¼ pol. (8 mm)
DOCUMENTAÇÃO X-490 C D
Área de interesse
REGISTRO DE EXAME X-492 ABCD
Os dados registrados do A-scan só precisam ser retidos até que a
avaliação final da falha seja realizada ou conforme especificado pela seção
de código de referência.
118
ANEXO OBRIGATÓRIO XI ð23Þ
CAPTURA DE MATRIZ COMPLETA
ESCOPO XI-410 PLANO DE VARREDURA XI-422
Este apêndice fornece os requisitos para usar o Será necessário um plano de varredura que forneça uma metodologia
técnica ultrassônica de captura de matriz completa (FMC), em conjunto padronizada e repetível para o exame.
com técnicas de reconstrução de dados, quando são realizados exames No mínimo, o plano de varredura deve incluir uma descrição de
para fraturas baseadas em mecânica a cobertura de volume de exame necessária, imagem
critérios de aceitação. Uma descrição geral dos dados FMC modos, densidade da grade de imagem, geometria da junta soldada, número
e técnicas de reconstrução de dados é dada no Artigo 4, de linhas de varredura de exame e posicionamento da unidade de busca
Apêndice não obrigatório F. e movimento em relação ao eixo de solda e ponto de referência zero.
XI-420 GERAL XI-423 QUALIFICAÇÕES DO PESSOAL
Os requisitos do Artigo 4 se aplicam, exceto conforme modificado Além dos requisitos do Artigo 1, Obrigatório
por este Apêndice. Apêndice II, somente pessoal qualificado em ultrassom (UT)
que são treinados no uso do equipamento e que têm
XI-421 REQUISITOS DE PROCESSO ESCRITO
demonstrou a capacidade de adquirir adequadamente o exame
XI-421.1 Requisitos. O exame deve ser dados, aprovar configurações e realizar calibrações devem realizar
executado de acordo com um procedimento escrito que varreduras de produção. O pessoal que executa técnicas de
deve conter, no mínimo, os requisitos listados no reconstrução de dados, em tempo real ou como imagens pós-
Tabela XI-421.1-1. Devido a processos ou equipamentos exclusivos, processadas, ou analisa e interpreta dados, deve
variáveis essenciais que não são identificadas na Tabela ser examinadores Nível II ou Nível III com treinamento documentado e
XI-421.1-1 também deve ser abordado no procedimento, e proficiência demonstrada no uso do equipamento e software. O
um único valor ou intervalo de valores deve ser estabelecido para treinamento e demonstração
cada variável essencial. Uma variável essencial é um equipamento ou os requisitos devem ser abordados na prática escrita do empregador.
configuração de software que influencia o ultrassom
sinal conforme exibido, gravado ou processado automaticamente.
XI-421.1.1 Software. As revisões de software não devem
exigir requalificação, a menos que qualquer alteração tenha sido XI-430 EQUIPAMENTO
feitos que influenciariam o sinal ultrassônico conforme exibido, gravado UNIDADE(S) DE PESQUISA XI-432
ou processado automaticamente. Programas
revisões devem ser documentadas e disponíveis para revisão. A(s) unidade(s) de busca usada(s) para exame deve(m) ser a(s) mesma(s)
[ou seja, fabricante, número do modelo e configuração física, incluindo
XI-421.2 Qualificação de procedimento. A qualificação do cunha(s)] como aqueles usados durante
procedimento é exigida pelo Artigo 4, Apêndice IX Obrigatório qualificação.
e deve cumprir com o Artigo 1, T-150(d). Aplicam-se os requisitos da
Tabela XI-421.1-1 . XI-432.4 Desempenho da unidade de busca. a amplitude
resposta de todos os elementos individuais dentro da abertura
XI-421.2.1 Localização da falha. Além das falhas
cairá dentro de 3 dB. Elementos fora deste parâmetro
descrito em IX-435.5(a) e IX-435.5(b), a subsuperfície será considerado inativo. O número de elementos inativos dentro de
a falha descrita em IX-435.5(c) deve ser substituída por uma falha plana
uma abertura não deve exceder 1 elemento para
subsuperficial inserida ao longo da face da solda
cada 16 elementos, sem 2 sendo adjacentes. Exceções
chanfro e dentro das mesmas tolerâncias de ângulo do ângulo de
a esses requisitos devem ser demonstrados e documentados durante
chanfro de produção, a menos que especificado de outra forma pela
a qualificação.
Seção do Código de referência. Para projetos de juntas com mais de
um ângulo de chanfro (por exemplo, composto, duplo V e sulco em J),
BLOCOS DE CALIBRAÇÃO XI-434
uma falha plana subsuperficial deve ser inserida em um ângulo normal
à superfície de exame na linha central da solda. Todos XI-434.1 Geral. Um bloco de calibração que atenda aos requisitos
colocações de falhas devem manter uma separação mínima da Figura XI-434.1-1 deve ser usado e deve
distância de 1 pol. (25 mm) de qualquer borda do bloco. também atendem aos requisitos de T-434.1.2 até
119
Tabela XI-421.1-1
Requisitos de um procedimento de exame FMC
Requisitos Variável essencial Variável não essencial
Configurações de solda a serem examinadas, incluindo dimensões de espessura e material de base x …
forma do produto (tubo, placa, etc.)

As superfícies a partir das quais o exame deve ser realizado x …
Técnica(s) (feixe reto, feixe angular, contato e/ou imersão) x …
Calibração [bloco(s) de calibração e técnica(s)] x …
Método para discriminar indicações geométricas de falhas x …
Requisitos de desempenho do pessoal, quando necessário x …

Fabricante e modelo do instrumento x …
Versão do software de computador x …
Pesquise o fabricante e o modelo da(s) unidade(s) (pitch, tamanho, número, frequência e intervalo do elemento x …
dimensões)
Descrição dimensional da cunha [ou seja, ângulo de corte, dimensões x e z e contorno do material (se x …
qualquer)]
Volume do exame Método x …
para obter fidelidade de amplitude Descrição do x …
quadro (ou seja, faixa temporal, densidade) x …
Descrição da grade pós-processada (ou seja, altura, largura, densidade) x …
Técnicas de reconstrução de imagem x …
Plano de x …
digitalização Fabricante e modelo do x …
scanner Técnica de digitalização (automática vs. semiautomática) x …
Mecanismo de digitalização, adesão e guia Metodologia de x …
dimensionamento de falhas (comprimento e altura) x …

Referência de referência de … x
solda Requisitos de qualificação de pessoal … x
Condição da superfície (superfície de exame, bloco de calibração) … x
Acoplante: marca ou tipo Técnica de … x
limpeza pós-exame Alarme automático e/ou … x
equipamento de registro, quando aplicável Registros, incluindo dados mínimos de … x
calibração a serem registrados (por exemplo, configurações do instrumento) … x
T-434.1.6. Alternativamente, os blocos de calibração existentes NORMAS DE REFERÊNCIA XI-435 ð23Þ

descritos no T-434 podem ser usados, desde que um dos seguintes
Padrões de referência conhecidos (por exemplo, IIW, IIW PA Block
se aplique:
Tipo A, SE-2491, ISO 19675) deve ser usado para estabelecer a
(a) Entalhe, ranhura e orifícios perfurados laterais (SDHs)
faixa e o atraso do instrumento.
os requisitos da Figura XI-434.1-1 estão incorporados.
(b) Refletores de entalhe e fenda que atendam aos requisitos
da Figura XI-434.1-1 são incorporados e um padrão de referência
conhecido descrito em XI-435 com SDHs atendendo
XI-450 TÉCNICAS
os requisitos de XI-462.8.1 são usados. Técnicas de contato ou imersão podem ser usadas.
Os blocos podem ser planos ou curvos. Quando são curvados, o

os requisitos do T-434.1.7 também devem ser aplicados. XI-451 TÉCNICAS DE RECONSTRUÇÃO DE DADOS
XI-434.1.1 Refletores Adicionais. Re adicional Algoritmos usados para gerar modos de imagem devem ser
defletores (por exemplo, SDHs) podem ser instalados, desde que os mesmos usados durante a qualificação. dados múltiplos
(a) eles não são usados no lugar dos refletores exigidos algoritmos de reconstrução podem ser aplicados a dados coletados
(b) não interferem na resposta ultrassônica durante um exame fornecido
dos refletores necessários (a) a técnica de reconstrução foi desenvolvida com sucesso
(c) uma descrição dos refletores adicionais e de seus demonstrado usando os dados de qualificação originais
finalidade pretendida está no procedimento escrito (b) a técnica de reconstrução de dados está incluída no
procedimento escrito
(c) o conjunto de dados de exame adquirido pode suportar o
técnica de reconstrução sem reaquisição
(d) os modos de imagem foram incluídos na calibração
antes do exame
120
Figura XI-434.1-1
Bloco de calibração
Visão final
Vista do topo
Nota 2)
Nota 1)
Perfurado lateralmente slot Entalhe

buracos
Nota 1)
Nota (4)
Notas (3) e (5)
Nota 3)
Nota (6)
Vista lateral
Nota (8)
Nota 2)
Nota (7)
Espessura da solda, t, pol. (mm) Espessura do bloco de referência, T, pol. Diâmetro Máximo do Furo, pol. (mm)
3 3
ÿ1 (ÿ25) (mm) /4 /32 (2,5)
1
>1 (>25) até 2 (50) >2 (19) ou t 11 / /8 (3)
3
(>50) até 4 (100) >4 (>100) 2 (38) ou t /16 (5)
3 (75) ou tt ± 1 (25) [Nota (9)]
NOTA GERAL: Os refletores podem ser colocados em qualquer lugar dentro do bloco, em qualquer configuração, desde que não interfiram na resposta ultrassônica dos
outros refletores de calibração ou nas bordas do bloco.
NOTAS:
(1) O tamanho físico do bloco pode ser qualquer configuração conveniente, desde que as dimensões do bloco em largura e comprimento sejam suficientes para
acomodar a colocação da unidade de busca para observação ou medição, totalmente na superfície de varredura, de modo que o acesso ao desejado
O refletor pode ser feito com toda a área de contato da unidade de busca permanecendo no bloco, sem interferência das bordas.
(2) A espessura do bloco para tubulação deve ser de ±25%T. Para todos os outros componentes, a espessura do bloco não deve ser inferior a 90% e não superior a 120% do
a espessura média da solda, t. A espessura da solda, t, é a espessura nominal do material para soldas sem reforço ou, para soldas com reforço, a espessura nominal do
material mais o reforço de solda estimado para não exceder o máximo permitido pela Seção do Código de referência. Quando duas ou mais espessuras de material de
base estão envolvidas, a espessura do bloco de calibração, T, deve ser determinada pelo
espessura média da solda; alternativamente, um bloco de calibração baseado na maior espessura do material de base pode ser usado, desde que o
o tamanho do refletor de referência é baseado na espessura média da solda.
(3) O entalhe e a ranhura não devem ser colocados próximos às bordas do bloco de forma que a borda possa diminuir ou interferir com o ultrassom
resposta.
121
Figura XI-434.1-1
Bloco de calibração (continuação)
NOTAS (CONTINUAÇÃO):
(4) A ranhura (ou seja, entalhe na parede) deve ser inserida aproximadamente perpendicular à superfície de exame e através de todo o bloco
grossura. A ranhura deve ter uma largura de superfície refletora máxima de 0,25 pol. (6 mm) para blocos com menos de 2 pol. (50 mm) de espessura; slot
a largura pode aumentar 0,125 pol. (3 mm) para cada 1 pol. (25 mm) adicional de espessura do bloco, ou fração dela, para blocos maiores que 2 pol.
(50 mm) de espessura.
(5) A profundidade do entalhe não deve ser superior a 11%T. Todos os entalhes devem ter no mínimo 1 pol. (25 mm) de comprimento. A largura do entalhe não deve exceder 0,25 pol. (6
milímetros).
(6) Os SDHs devem ser perfurados com no mínimo 1,5 pol. (38 mm) de profundidade, aproximadamente paralelos à superfície de exame.
(7) Os SDHs devem ser alinhados perpendicularmente, em profundidade, através da espessura do bloco a uma distância de separação de duas vezes o seu diâmetro, conforme
medida de centro a centro.
(8) A colocação dos SDHs deve abranger a linha central da espessura do bloco, de modo que um SDH resida em ambos os lados da linha central do bloco
espessura do bloco.
1
(9) Para cada aumento na espessura da solda de 2 pol. (50 mm), ou fração dela, acima de 4 pol. (100 mm), o diâmetro do furo deve aumentar /16 pol. (1,5
milímetros).
CALIBRAÇÃO XI-460 dentro do critério de seleção de contorno de curvatura de componente

estabelecido em T-432.2(b)(1) ou T-432.2(b)(2)] e
XI-461 CALIBRAÇÃO DE INSTRUMENTOS
deve cair dentro de 10% da amplitude e profundidade do material.
Uma calibração do instrumento deve ser realizada de acordo com o
XI-462.5 Atraso e velocidade do sistema. As configurações de
operação e manutenção do fabricante do instrumento
atraso e velocidade do instrumento podem ser ajustadas no específico
manual em intervalos não superiores a 1 ano, ou antes da primeira
usar depois. componente no momento do exame, desde que o processo tenha
sido usado durante a qualificação e esteja incluído no
T-461.1 e T-461.2 não são aplicáveis ao FMC
o procedimento.
técnica.
XI-462.7 Correção de distância-amplitude (DAC).
XI-462 REQUISITOS GERAIS DE CALIBRAÇÃO Correção para atenuação, por exemplo, DAC ou TCG, não é
XI-462.1 Sistema Ultrassônico. As calibrações devem incluir o necessária. Quando for usado, T-462.7 deve ser aplicado.
sistema ultrassônico completo e devem ser realizadas antes do uso XI-462.8 Verificação de desempenho. Antes do(s) exame(s), o
do sistema na faixa de espessura
sistema deve ser verificado conforme descrito em
em exame.
XI-462.8.1 a XI-462.8.3.
A fidelidade da amplitude deve ser preservada em 2 dB ou menos.
O processo para determinar a fidelidade da amplitude deve ser XI-462.8.1 Verificação da Resolução. A resolução do sistema ð23Þ
incluído no procedimento qualificado. deve ser considerada satisfatória ao demonstrar sua capacidade de
gerar imagens da distância espacial entre o
XI-462.4 Cunhas de contato. Quando cunhas contornadas
SDHs no bloco de calibração. Alternativamente, os SDHs de
são exigidos pelo T-432.2, um bloco de calibração curvo deve
um padrão de referência conhecido descrito em XI-435 (por exemplo,
ser usado. Alternativamente, para calibração, uma(s) cunha(s) plana(s)
Bloco IIW PA Tipo A, SE-2491) pode ser usado desde que
pode ser usado em um bloco de calibração plano, desde que o
a profundidade dos buracos cai dentro do terço médio do
processo seja documentado durante a qualificação e os seguintes
volume de exame.
requisitos sejam atendidos:
(a) As dimensões da cunha que afetam a transmissão, recepção e XI-462.8.2 Verificação de Modos. A(s) unidade(s) de busca
exibição (ou seja, atraso e velocidade) do ultrassom deve ser colocado usando as distâncias stand-off como representado
devem ser compensados e corrigidos antes do no plano de varredura de forma que os refletores correspondentes
exame. para ambos (a) e (b) abaixo são fotografados a uma distância além
(b) As cunhas planas são fabricadas da mesma da linha central da solda. Ao usar oposição
material e todas as dimensões físicas (exceto contorno), incluindo a unidades de busca tandem, as unidades de busca opostas devem ser
altura da superfície de contato até o colocados, conforme representado pelo plano de varredura, em ambos os lados
inclinação da cunha, são iguais, dentro da(s) tolerância(s) do fabricante. os refletores de modo que a posição do refletor seria
imagem equidistante das unidades de busca e na solda
(c) A(s) cunha(s) plana(s) não devem ser usadas para exame. central. Todos os refletores dentro do bloco de calibração devem
(d) A verificação antes do exame deve ser realizada com a(s) ser detectado por um mínimo de duas imagens diferentes
cunha(s) contornada(s) a ser(em) usada(s) para o modos. Amplitude da imagem de todos os refletores de calibração, ou
exame. A verificação deve usar um refletor idêntico ao estabelecido da parte relevante dos refletores de calibração, deve ser
em XI-464.2, em um bloco adequadamente curvo [ou seja, superior a 12 dB acima do nível de ruído de fundo.
122
(a) Para verificação de modos de imagem uniformes, os furos XI-471.3 Digitalização. Cada varredura linear deve ser paralela ao
laterais e o entalhe no bloco de calibração devem ser eixo da solda.
fotografadas nas áreas da espessura da parede do bloco de calibração (a) A unidade de busca deve ser mantida a uma distância fixa do
na extensão necessária para obter cobertura volumétrica, conforme eixo de solda por um guia fixo ou mecânico
representado pelo plano de varredura. significa.
(b) Para verificação de modos de imagem estranhos, a fenda da (b) A velocidade de varredura deve ser tal que a perda de dados
parede no bloco de calibração deve ser fotografada nas áreas da seja inferior a 2 linhas de dados/pol. (25 mm) do comprimento da
espessura da parede do bloco de calibração na extensão necessária varredura linear e não há saltos de linha de dados adjacentes.
para obter a cobertura volumétrica conforme representado pelo plano
(c) Quando múltiplas varreduras lineares são necessárias para cobrir
de varredura.
o volume requerido, uma sobreposição mínima de 10% da largura do
XI-462.8.3 Verificação de Dimensionamento. O comprimento e quadro deve ser mantida.
a altura do entalhe devem ser fotografados e dimensionados. A
dimensão da imagem do entalhe não deve ser menor que sua real XI-471.6 Gravação. Os incrementos de coleta de quadro de dados
altura ou comprimento conhecidos. Também não deve exceder o menor para varredura linear não devem exceder o seguinte: (a) 0,04 pol. (1
de 50% ou 0,150 pol. (4 mm) da altura conhecida e não deve exceder mm) para material <3 pol. (75 mm) de espessura (b) 0,08 pol. (2
50% do comprimento conhecido. mm) para material ÿ3 pol. . (75 mm) de espessura
XI-471.7 Refletores transversais ao cordão de solda.

XI-464
Técnicas ultrassônicas alternativas podem ser realizadas para refletores
XI-464.2 Sensibilidade. A sensibilidade da calibração deve ser transversais ao eixo de solda.
estabelecida registrando a intensidade da imagem de um SDH descrito
em XI-462.8.1 em um nível maior ou igual a 50% da altura da tela cheia
(FSH) e não deve exibir saturação. Outros refletores (ou seja, superfície XI-474
de entrada, parede traseira) podem apresentar saturação.
XI-474.1 Sensibilidade do exame. A sensibilidade do exame não
deve ser inferior à estabelecida durante a calibração. No entanto, a
sensibilidade pode ser ajustada no próprio componente, desde que
CALIBRAÇÃO DO CODIFICADOR XI-467 sejam identificados a metodologia e o refletor do componente utilizado
Uma verificação de calibração deve ser realizada em intervalos não (por exemplo, parede de fundo) e os limites superior e inferior da faixa
superiores a um mês ou antes do primeiro uso posterior, movendo o de sensibilidade sejam qualificados. O processo para esta habilitação
codificador a uma distância mínima de 20 pol. (500 mm). A distância deverá estar incluído no procedimento.
exibida deve estar dentro de 1% da distância real movida.
XI-467.1 Verificações de confirmação de equipamentos. O

sistema de exame deve ser verificado quanto à conformidade com XI-480 AVALIAÇÃO
XI-432.4 e XI-462.1 antes da(s) calibração(ões) inicial(is) e na conclusão
de um exame ou série de XI-481 REQUISITOS GERAIS DE AVALIAÇÃO
exames. XI-481.1 Modos de geração de imagens. Os modos de imagem
identificados em XI-462.8.2 devem abranger, individualmente ou em
combinação, todo o volume do exame. A cobertura deve ser determinada
EXAME XI-470 pela área contida dentro de -6 dB da divergência do feixe de todos os
elementos contribuintes.
XI-471 REQUISITOS GERAIS DO EXAME XI-471.1 Cobertura do
XI-481.1.1 Modos diretos. Os modos de imagem diretos (ou seja,
exame. O volume a ser examinado deve ser escaneado usando uma
L–L ou T–T) sozinhos não devem ser considerados adequados para
técnica de escaneamento linear com um codificador de acordo com o
exame de volume total.
plano de escaneamento. A adesão ao plano de varredura e a captura
do volume de exame necessário devem ser verificadas antes da XI-481.1.2 Densidade de Dados. A resolução espacial dos pontos ð23Þ
avaliação. de dados dentro da grade de imagem (ou seja, espaçamento de pixels
XI-471.1.1 Modos de imagem. Os modos de imagem usados e nós) deve estar de acordo com XI-462.1. A resolução espacial dentro
durante a calibração devem ser os mesmos do exame. da grade não deve ser maior do que a usada durante a qualificação.
XI-471.2 Estrutura FMC. Para atender ao requisito de fidelidade de XI-481.2 Correção de Volume do Componente. Todas as imagens
amplitude em XI-462.1, o quadro deve ter alcance temporal suficiente devem ser corrigidas quanto à espessura e geometria do componente
para abranger o volume e a densidade do exame quando combinado antes da avaliação. A técnica utilizada (por exemplo, algoritmos
com a reconstrução adaptativos) para a correção do volume do componente deve ser
processo. incluída no procedimento qualificado.
123
XI-481.4 Artefatos de imagem ultrassônica. Artefatos produzidos na XI-488 AVALIAÇÃO PELO FABRICANTE
imagem são permitidos desde que não interfiram na disposição de uma
O Fabricante será responsável pela revisão, interpretação, avaliação e
indicação. Deve ser feita uma determinação da origem do(s) artefato(s).
aceitação do exame concluído para garantir a conformidade com os
requisitos do Artigo 4, deste Apêndice e da Seção do Código de referência.
A aceitação deve ser concluída antes da apresentação dos dados da
varredura e da documentação que os acompanha ao Inspetor.
NÍVEL DE AVALIAÇÃO XI-482
Todas as imagens de indicação que indicaram comprimentos maiores

que os seguintes devem ser avaliadas em termos dos critérios de
aceitação da Seção do Código de referência:
XI-490 DOCUMENTAÇÃO
(a) 0,15 pol. (4 mm) para soldas em material igual ou inferior
de 11/2 pol . (38 mm) de espessura XI-492 REGISTROS DE EXAMES
(b) 0,20 pol. (5 mm) para soldas em materiais com mais de 11/2 pol.
Para cada exame FMC, os requisitos do Artigo
( 38 mm) de espessura, mas com menos de 4 pol. (100 mm) de espessura
1, T-150(d), T-190(a), T-491, e as seguintes informações devem ser
3
(c) 0,05T ou /4 pol. (19 mm), o que for menor, para soldas registradas:
em materiais com mais de 4 pol. (100 mm), onde T é a espessura nominal
(a) o nome do fabricante, número de canais e número de série do
do material adjacente à solda instrumento
Para soldas que unem duas espessuras diferentes de material, a espessura (b) modelo do fabricante e números de série, tipo, frequência, tamanho
do material deve ser baseada no mais fino do e número do elemento, elevação e inclinação e lacuna (espaçamento entre
dois materiais. os elementos ativos) dimensões da matriz (c) o material da cunha ou
velocidade,
ângulo de corte ou o nat ângulo de refração ural no material examinado
XI-483 AVALIAÇÃO DE REFLETORES LAMINARES
e contorno quando usado; para cunhas não integrais, a descrição deve
Indicações que se caracterizam como refletores laminares
incluir as dimensões x e y (d) o nome da marca ou tipo do acoplante usado
no material de base, o que interferiria na propagação do ultrassom no (e) o tipo e comprimento do(s)
volume do exame, deve exigir que o plano de varredura seja modificado cabo(s) da unidade de busca usado (s) (f) o tipo de scanner
para que o volume máximo viável seja examinado, e isso deve ser
(conforme T-453) e o aderente e
anotado no registro do exame.
mecanismo guia
(g) identificação de todos os computadores relacionados ao exame
CONFIGURAÇÕES DE AVALIAÇÃO XI-485 programa(s) atualizado(s) incluindo revisão(ões) de software
(h) identificação do bloco de calibração e padrões de referência quando
A avaliação final da falha só deve ser feita após todas as
usados (i) no mínimo, as
os ajustes dos parâmetros de reprodução foram concluídos.
seguintes configurações do instrumento: (1) tipo de pulso de excitação
(2) configurações de duração e
XI-486 TAMANHO E CATEGORIA
tensão (3) taxa de digitalização (por
Tamanho XI-486.1. As dimensões da falha serão determinadas pelo
exemplo, taxa nominal conforme afetado por compressão e
retângulo que contém totalmente a área da falha. quantidade de pontos) (4) taxa de repetição
de pulso (5) faixa de início e
(a) O comprimento da falha deve ser a dimensão do retângulo que é parada (6) filtros passa-banda
paralelo à superfície interna de retenção de pressão do componente.
(7) suavização (j) ganho
de nível de
(b) A altura da falha deve ser a dimensão do retângulo que é normal à
referência do instrumento e, se usado, amortecimento
superfície interna de retenção de pressão do componente.
ing e rejeitar configuração(ões)
(k) dados de calibração [incluindo refletor(es) de referência] e resposta(s)
XI-486.2 Categoria. As falhas devem ser categorizadas como sendo para resolução, modos, dimensionamento e sensibilidade (l) dados
de superfície ou subsuperfície com base em sua distância de separação correlacionando
da superfície do componente mais próxima. (a) Se a bloco(s) de simulação e eletrônica
distância de separação for igual ou menor que a metade da altura da simulador(es), quando utilizado, com calibração inicial
falha, então a falha deve ser categorizada como uma falha de superfície. (m) identificação de algoritmos adaptativos ou corretivos quando usados
(b) Se a distância de separação for maior que a metade da altura da (n) tipo de quadro [por exemplo, técnica de focagem de abertura
falha, então a falha deve ser classificada como uma falha de subsuperfície. sintética (SAFT), FMC] e definição de quadro (ou seja, tamanho,
resolução) e identificação de dados salvos ou apenas imagem
124
(o) técnica de pós-processamento (por exemplo, DAS, migração), (t) áreas de acesso restrito ou soldas inacessíveis
definição da grade (ou seja, tamanho, resolução), modos de imagem usados, (u) plano de varredura e variáveis para incluir a orientação da unidade de
ajuste aplicado (ou seja, correção de grade, algoritmos adaptativos, busca, incrementos de varredura (resolução de varredura) e velocidade de
normalização de amplitude, ganho de software), incluindo os níveis finais de varredura
processamento de exibição
Os itens (a) a (n) podem ser incluídos ou anexados em um
(p) identificação e localização da solda ou volume
registro de calibração separado, desde que o registro de calibração esteja
escaneado
incluído no registro de exame.
(q) superfície(s) a partir da(s) qual(is) o exame foi realizado
canalizado, incluindo a condição da superfície
(r) um mapa ou registro de indicações detectadas ou áreas
XI-494 ARMAZENAMENTO DE DADOS
limpo, incluindo dados de indicação (ou seja, posição na solda,
comprimento, extensão através da parede e superfície ou subsuperfície Os arquivos de dados devem estar em um formato apropriado para
caracterização) acesso e revisão futuros. No mínimo, as imagens originais de dados
(s) dados suplementares de indicação de técnicas manuais, reconstruídos, bem como as imagens originais
se aplicável [mesma informação que (r)] parâmetros, devem ser armazenados.
125

LAYOUT DOS PONTOS DE REFERÊNCIA DA EMBARCAÇÃO
A-410 ESCOPO extremidade da embarcação. A superfície de exame deve ser identificada

no sentido horário ou anti-horário visto do topo da embarcação ou, para
Este apêndice fornece requisitos para estabelecer
embarcações horizontais, da extremidade de entrada da embarcação.
pontos de referência da embarcação.
A-443 SOLDAS BICO A NAVIO

A-440 REQUISITOS DIVERSOS
O círculo de referência externo deve ter um ra suficiente
O layout da solda deve consistir na colocação de pontos de referência dius de modo que o círculo caia na superfície externa da embarcação
na linha central da solda. O espaçamento dos pontos de referência deve
além do filete da solda. O círculo de referência interno deve ter um raio
ser em incrementos iguais (por exemplo, 12 pol., 3 pés, 1 m, etc.) e suficiente para que o círculo fique dentro de /2 pol. (13 mm) da linha 1central
identificados com números (por exemplo, 0, 1, 2, 3, 4, etc.). O espaçamento
da solda. O ponto de 0 graus na solda deve ser o topo do bocal. O ponto
do incremento, o número de pontos e o ponto de partida devem ser
de 0 graus para soldas de bicos orientados verticalmente deve estar
registrados no formulário de relatório. A linha central da solda deve ser o
localizado no eixo de 0 graus do vaso, ou, para vasos horizontais, o ponto
divisor para as duas superfícies de exame.
mais próximo da extremidade de entrada do vaso. A disposição angular da
solda deve ser feita no sentido horário na parte externa
A-441 SOLDAS CIRCUNFERENCIAIS (COLORIDAS)

superfície e no sentido anti-horário na superfície interna.
O ponto de partida padrão deve ser o eixo de 0 graus da embarcação. As linhas de 0 graus, 90 graus, 180 graus e 270 graus serão marcadas em
Os pontos de referência devem ser numerados no sentido horário, vistos todas as soldas de bocal examinadas; Linhas de incremento de 30 graus
do topo do vaso ou, para vasos horizontais, da extremidade de entrada do devem ser marcadas em soldas de bico maiores que um diâmetro nominal
vaso. de 8 pol. (200 mm); Linhas de incremento de 15 graus devem ser marcadas
As superfícies de exame devem ser identificadas (por exemplo, para em soldas de bico maiores que um diâmetro nominal de 24 pol. (600 mm);
vasos verticais, acima ou abaixo da solda). Linhas de incremento de 5 graus devem ser marcadas em soldas de bico
maiores que 48 pol. (1 200 mm) de diâmetro.
A-442 SOLDAS LONGITUDINAIS
As soldas longitudinais devem ser dispostas a partir da linha central das
soldas circunferenciais na extremidade superior da solda ou, para vasos
horizontais, na extremidade da solda mais próxima da entrada
126
APÊNDICE B NÃO OBRIGATÓRIO

TÉCNICAS GERAIS PARA CALIBRAÇÃO DE FEIXE ANGULAR
B-410 ESCOPO B-461.1.3 Repetir ajustes. Repetir atraso e

1 3
/4T e
ajustes de controle de alcance até que os /4T SDH indi
Este apêndice fornece técnicas gerais para ângulo cátions comecem nas linhas de varredura 2 e 6.
calibração do feixe. Outras técnicas podem ser usadas. B-461.1.4 Indicação de Entalhe. Posicione a unidade de
Descrições e números para as técnicas gerais relacionam a busca para resposta máxima do entalhe quadrado na superfície
posição tardia e a profundidade do refletor aos oitavos do V- oposta. A indicação aparecerá perto da linha de varredura 8.
path. A faixa de varredura pode ser calibrada em termos de
unidades de caminho de metal,10 distância da superfície
B-461.1.5 Leituras de varredura. Duas divisões na
projetada ou profundidade real do refletor (conforme mostrado 1
varredura agora são iguais
/ 4T.
nas Figuras B-461.1, B-461.2 e B-461.3). O método particular
pode ser selecionado de acordo com a preferência do examinador. B-461.2 Bloco IIW (Ver Figura B-461.2). Os blocos de
referência IIW podem ser usados para calibrar a faixa de
varredura exibida na tela do instrumento. Eles têm a vantagem
de fornecer refletores em distâncias precisas que não são
B-460 CALIBRAÇÃO afetadas por imprecisões de localização de furos laterais no
bloco de calibração básico ou pelo fato de que o refletor
B-461 CALIBRAÇÃO DE GAMA DE VARREDURA não está na linha central do furo lateral. Esses blocos são feitos
em uma variedade de ligas e configurações. As calibrações da
B-461.1 Furos Perfurados Laterais (Ver Figura B-461.1).
faixa do feixe angular são fornecidas a partir do raio de 4 pol.
B-461.1.1 Ajuste do controle de retardo. Posicione o (100 mm) e de outros refletores. O bloco de calibração mostrado
1 unidade de busca para a primeira indicação máxima do furo na Figura B-461.2 fornece uma indicação em 4 pol. (100 mm) e
lateral /4T (SDH). Ajuste a borda esquerda desta indicação uma segunda indicação de uma reflexão dos entalhes verticais
para a linha 2 na tela com o controle de atraso. no ponto central 8 pol. (200 mm) de volta ao raio e retornando
ao transdutor quando a saída ponto da cunha está diretamente
B-461.1.2 Ajuste de controle de alcance.11 Posicione a
sobre o centro
unidade de busca para a indicação máxima do
3
/4T SD. Ajuste a borda esquerda desta indicação para a linha 6
na tela com o controle de alcance.
Figura B-461.1
Faixa de varredura (furos perfurados laterais)
127
Figura B-461.2
Faixa de varredura (bloco IIW)
ponto do raio. Outros blocos IIW fornecem sinais em B-461.3 Bloco de Tubulação (Ver Figura B-461.3). O
2 pol. (50 mm) e 4 pol. (100 mm) e um terceiro design fornece os entalhes nos blocos de calibração da tubulação podem ser
indicações a 4 pol. (100 mm) e 9 pol. (225 mm). usados para calibrar a faixa de distância exibida no instrumento
tela. Têm a vantagem de fornecer refletores
B-461.2.1 Ajuste da unidade de busca. Posicione o
unidade de busca para a indicação máxima de 4 pol. em distâncias precisas para as superfícies internas e externas.
(100 mm) ao girá-lo de um lado para o outro para também B-461.3.1 Ajuste do controle de retardo. Posicione o
maximizar a indicação do segundo refletor. unidade de busca para a primeira indicação máxima do entalhe
da superfície lateral em seu caminho de feixe real na tela do
B-461.2.2 Ajuste de controle de atraso e alcance.
instrumento. Ajuste a borda esquerda desta indicação para sua
Sem mover a unidade de busca, ajuste os controles de alcance e
caminho de metal na tela com o controle de atraso.
retardo para que as indicações comecem em suas respectivas
distâncias de caminho de metal. B-461.3.2 Ajuste de controle de alcance. Posicione o
unidade de busca para a segunda indicação máxima do
B-461.2.3 Repetir ajustes. Repetir atraso e
entalhe na superfície externa. Ajuste a borda esquerda desta
ajustes de controle de faixa até que as duas indicações sejam
indicação ao seu metal na tela com o controle de alcance ou
em seu caminho de metal apropriado na tela.
controle de velocidade.
B-461.2.4 Leituras de varredura. Duas divisões no
1
varrer agora igual /5 do intervalo de tela selecionado.
Figura B-461.3
Faixa de varredura (Entalhes)
Caminho em Vee Completo Meio Vee Path
Atraso
Faixa
0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10
128
5
B-461.3.3 Repetir ajustes. Repita os ajustes de controle de (c) Para determinar a amplitude do tion, /4T SDH pos
intervalo e atraso até que as duas indicações estejam em seus posicione a unidade de busca para a amplitude máxima do /4T
SDH. Diminua3
caminhos de metal apropriados na tela. a amplitude do sinal pelo número de dB determinado
em (a) acima. Marque a altura desta amplitude de sinal na linha de
B-461.3.4 Leituras de varredura. Duas divisões na varredura
varredura 10 (posição 5 /4T ). (d) Conecte as marcas de tela para
agora equivalem a um quinto do intervalo de tela selecionado.
fornecer o DAC. Isso permitirá a avaliação das indicações até a
B-462 CORREÇÃO DE DISTÂNCIA-AMPLITUDE superfície do revestimento (perto da linha de varredura 8).
B-462.1 Calibração para furos laterais primários (e) Para correção de calibração para planos perpendiculares
Nível de referência do lado revestido (consulte a Figura B-462.1). refletores próximos à superfície oposta, consulte B-465.
(a) Posicione a unidade de busca para resposta máxima
B-462.3 Calibração para entalhes de tubulação Re primário
do SDH, que dá a maior amplitude.
Nível de referência (Ver Figura B-462.3).
(b) Ajuste o controle de sensibilidade (ganho) para fornecer uma
(a) Posicione a unidade de busca para resposta máxima
indicação de 80% (±5%) da altura da tela cheia (FSH). Marque o
do entalhe que dá a maior amplitude.
pico da indicação na tela. (c) Posicione a
(b) Ajuste o controle de sensibilidade (ganho) para fornecer uma
unidade de busca para resposta máxima
de outro SDH. indicação de 80% (±5%) da altura da tela cheia (FSH). Marque o
pico da indicação na tela. (c) Sem alterar o
(d) Marque o pico da indicação na tela. (e) Posicione a
ganho, posicione a unidade de busca para resposta máxima de
unidade de busca para amplitude máxima
outro entalhe.
do terceiro SDH e marque o pico na tela.
(d) Marque o pico da indicação na tela. (e) Posicione a
(f) Posicione a unidade de busca para a amplitude máxima do /
3 unidade de busca para a amplitude máxima do entalhe restante
4T SDH após o feixe ter saltado da superfície oposta. A indicação
em seu Meio Vee, Full Vee ou
deve aparecer perto da linha de varredura 10. Marque o pico na 3
3 /2 Caminhos de feixe em V e marque o pico na tela.
tela para a posição /4T . (g) Conecte as marcas de tela para os
(f) Posicione a unidade de busca para a amplitude máxima de
SDHs
qualquer Vee Path(s) adicional(is) quando usado(s) e marque o(s)
para fornecer
pico(s) na tela.
a curva de correção de amplitude-distância (DAC).
(g) Conecte as marcas de tela para os entalhes para fornecer
(h) Para correção de calibração para refletores perpendiculares a curva DAC.
na superfície oposta, consulte B-465.
(h) Esses pontos também podem ser capturados pelo instrumento
B-462.2 Calibração para nível de referência primário de ultrassônico e exibidos eletronicamente.
furos perfurados laterais do lado não revestido (consulte a
Figura B-462.1). (a) Do lado revestido do bloco, determine dB /
3 5
mudança de amplitude entre as posições. 4T e /4T SDH
(b) Do lado
não revestido, execute as calibrações conforme observado em
B-462.1(a) a B-462.1(e).
Figura B-462.1
Correção de Sensibilidade e Distância-Amplitude (Orifícios Perfurados Lateralmente)
129
Figura B-462.3
Correção de Sensibilidade e Distância-Amplitude (Entalhes)
100
80
60 DAC
40
0 2 4 6 8 10
B-463 CORREÇÃO DE DISTÂNCIA-AMPLITUDE B-464 CALIBRAÇÃO DE POSIÇÃO (VEJA A FIGURA

INTERNO 1
/4 VOLUME (VER NÃO OBRIGATÓRIO B-464)
APÊNDICE J, FIGURA J-431 VISTA A)
As seguintes medidas podem ser feitas com uma régua,
1
B-463.1 Número de ângulos de feixe. O requisito /4 volume um escala, ou marcado em uma faixa de indexação.12
de calibração do gle pode ser satisfeito usando um 1
1
B-464.1 / 4T SDH Indicação. Posicione a unidade de busca
ou mais feixes conforme necessário para calibrar em /8 pol. (3 mm) 1
orifícios laterais de diâmetro máximo nesse volume. para resposta máxima do /4T SDH. Coloque uma extremidade
da faixa de indexação contra a frente da unidade de busca,
B-463.2 Calibração de superfície não revestida. Quando o
a outra extremidade estendendo-se na direção da viga.
o exame é realizado a partir da superfície externa, calibrado no Marque o número 2 na faixa de indexação na linha riscada
1
/8 pol. (3 mm) de diâmetro furos perfurados lateralmente que está diretamente acima do SDH. (Se a unidade de pesquisa cobrir
1
para fornecer a forma do DAC de /2 pol. (13 mm) a /4T a linha de riscar, as marcas podem ser feitas no lado do
1
de profundidade. Defina o ganho para fazer a indicação de profundidade / unidade de busca.)
1 1
/8 pol. (3 mm) furo lateral perfurado em 4T 1 3
1 B-464.2 /2T e /4T SDH Indicações. Posicione o
a mesma altura que a indicação do determinado em /4T furo de profundidade
1
unidade de busca para indicações máximas do SDHs /
B-462.1 ou B-462.2 acima. Sem
3
2T e /4T . Mantenha a mesma extremidade da faixa de indexação contra
alterando o ganho, determine a altura da tela do
1 na frente da unidade de busca. Marque os números 4 e 6 em
outras indicações próximas da superfície do restante /8 pol.
1 a faixa de indexação na linha de escriba, que são diretamente
(3 mm) furos laterais de diâmetro de /2 pol. (13 mm)
1 acima dos SDHs.
profundamente ao furo lateral de /8 pol. (3 mm) apenas
antes de 1 5
/4T profundidade. Conecte os picos de indicação a B-464.3 /4T SDH Indicação. Se possível, posicione o
completar a curva DAC da superfície próxima. Retorne a configuração unidade de busca para que o feixe salte do lado oposto
de ganho para aquela determinada em B-462.1 ou B-462.2. superfície para o 3/4T SD. Marque o número 10 na faixa de indexação
B-463.3 Calibração da superfície revestida. Quando o na linha riscada, que está diretamente acima do
SDH.
o exame é realizado a partir da superfície interna, calibrado na
1
/8 pol. (3 mm) de diâmetro furos perfurados lateralmente B-464.4 Indicação de Entalhe. Posicione a unidade de pesquisa
para fornecer a forma do DAC e a configuração de ganho, conforme para a indicação máxima do entalhe da superfície oposta. Marca
conforme B-463.2 acima. o número 8 na faixa de indexação na linha de escriba,
que está diretamente acima do entalhe.
B-464.5 Números de índice. Os números na faixa indicadora

indicam a posição diretamente sobre o refletor em
dezesseis do caminho V.
130
Figura B-464
Profundidade de Posição e Caminho do Feixe
B-464.6 Profundidade. A profundidade do exame sur /4T B-466 ALARGAMENTO DO FEIXE (VEJA A FIGURA B-466)
3 1 1
face ao refletor é T em 8, /4T em 6 e 10, /2T em 4,
As medições da propagação do feixe devem ser feitas no
em 2 e 0 em 0. A interpolação é possível para pequenos incrementos
de profundidade. As marcas de posição na faixa de indexação fundo hemisférico de furos de fundo redondo (RBHs).
pode ser corrigido para o raio do furo se o raio for O limite de meia amplitude máxima do lóbulo primário
considerado significativo para a precisão do refletor do feixe deve ser plotado manipulando a busca
localização. unidade para medições em reflexões dos RBHs como
segue.
B-465 CORREÇÃO DE CALIBRAÇÃO PARA PLANAR
REFLETORES PERPENDICULARES AO B-466.1 Em direção a 1/4T Buraco. Defina o indica máximo
partir do 1
SUPERFÍCIE DE EXAME EM OU PERTO /4T RBH a 80% de FSH. Mover unidade de pesquisa
A SUPERFÍCIE OPOSTA (VEJA A FIGURA em direção ao orifício até que a indicação seja igual a 40% de FSH.
B-465) Marque a posição da linha central do feixe “em direção” no bloco.
Uma onda de cisalhamento de feixe de ângulo de 45 graus reflete bem de um 1

B-466.2 Longe do ponto , /4T Buraco. Repita B-466.1, ex
refletor de canto. No entanto, a conversão de modo e o redirecionamento
mova a unidade de busca para longe do buraco até que a indicação
da reflexão ocorrem para parte do feixe quando um
seja igual a 40% de FSH. Marque a linha central do feixe
A onda de cisalhamento do feixe de ângulo de 60 graus atinge o mesmo refletor.
posição “afastada” no bloco.
Este problema também existe em menor grau em todo o
a faixa de onda de cisalhamento de feixe de ângulo de 50 a 70 graus.
Portanto, uma correção é necessária para ser igualmente crítico
Figura B-465
de tal imperfeição, independentemente do exame Reflexões Planares
ângulo do feixe.
B-465.1 Indicação de Entalhe. Posicione a unidade de pesquisa
para amplitude máxima do entalhe no lado oposto
superfície. Marque o pico da indicação com um “X” na
a tela.
B-465.2 45 graus vs. 60 graus. A superfície oposta

entalhe pode dar uma indicação de 2 para 1 acima DAC para um
1
Onda de cisalhamento de 45 graus, mas apenas /2 DAC para um cisalhamento de 60 graus
aceno. Portanto, as indicações do entalhe devem ser
considerado ao avaliar refletores no oposto
superfície.
131
B-466.4 Esquerda de 1/4T Buraco. Repita B-466.3, exceto

Figura B-466
mova a unidade de busca para a esquerda sem girar o feixe
Propagação de Feixe
em direção ao refletor até que a indicação seja igual a 40% de
FSH. Marque a posição “esquerda” da linha central do feixe no
bloco.13
B-466.5 1 3
Furos /2T e /4T . Repita os passos em
1 3
B-466.1 a B-466.4 para o /2T e /4T RBH.
B-466.6 Dimensões de registro. Registre as dimensões

das posições “para” para “afastado” e do
posições “direita” para “esquerda” marcadas no bloco.
B-466.7 Indexação perpendicular. O menor dos

três dimensões “na direção” para “distante” não devem ser excedidas
ao indexar entre varreduras perpendiculares a
a direção do feixe.
B-466.8 Indexação Paralela. O menor dos três

As dimensões “direita” para “esquerda” não devem ser excedidas
na dexagem entre varreduras paralelas à direção do feixe.
B-466.9 Outros Caminhos de Metal. O feixe projetado

1
B-466.3 Direito de /4T Buraco. Reposicione a pesquisa ângulo de propagação determinado por essas medições deve
1
unidade para os 80% originais de indicação de FSH do /4T ser usado para determinar os limites conforme exigido em outros metais
RBH. Mova a unidade de pesquisa para a direita sem girar caminhos.
o feixe em direção ao refletor até que a indicação seja igual NOTA: Se houver refletores laminares no bloco de calibração básica,
40% de FSH. Marque a posição “direita” da linha central do feixe no as leituras de propagação do feixe podem ser afetadas; se for esse o caso, vire
o bloco.13 as medições de dispersão devem ser baseadas nas melhores leituras disponíveis.
132
APÊNDICE C NÃO OBRIGATÓRIO

TÉCNICAS GERAIS PARA CALIBRAÇÃO DE VIGA RETA
ESCOPO C-410 C-461.4 Indicação da Superfície Traseira. A superfície traseira

A indicação aparecerá perto da linha de varredura 8.
Este apêndice fornece técnicas gerais para
C-461.5 Leituras de varredura. Duas divisões na varredura são
calibração do feixe. Outras técnicas podem ser usadas. 1
iguais a / 4T.
C-462 CORREÇÃO DE DISTÂNCIA-AMPLITUDE

C-460 CALIBRAÇÃO (VEJA A FIGURA C-462)
C-461 CALIBRAÇÃO DA FAIXA DE VARREDURA 14 (VEJA O seguinte é usado para calibração a partir do
FIGURA C-461) lado folheado ou o lado não revestido:
(a) Posicione a unidade de busca para a indicação máxima
C-461.1 Ajuste do controle de retardo. Posicione a unidade de do SDH, que dá a indicação mais alta.
busca para a primeira indicação máxima do (b) Ajuste o controle de sensibilidade (ganho) para fornecer 80%
1
/4T SD. Ajuste a borda esquerda desta indicação para a linha 2 na (±5%) de indicação de FSH. Este é o nível de referência primário.
tela com o controle de atraso. Marque o pico desta indicação na tela. (c) Posicione a unidade de
busca para indicação máxima
C-461.2 Ajuste de controle de alcance. Posicione o /4T SDH.
3 de outro SDH. (d)
unidade de busca para a indicação máxima de
Marque o pico da indicação na tela. (e) Posicione a unidade
Ajuste a borda esquerda desta indicação para a linha 6 na tela com
de busca para indicação máxima
o controle de alcance.
do terceiro SDH e marque o pico na tela.
C-461.3 Repetir ajustes. Repita o atraso e (f) Conecte as marcas da tela para os SDHs e estenda através da
1 3
ajustes de controle de alcance até que os /4T e /4T SDH indi espessura para fornecer a distância-amplitude
cátions comecem nas linhas de varredura 2 e 6. curva.
Figura C-461
Faixa de varredura
133
Figura C-462
Correção de Sensibilidade e Distância-Amplitude
134
APÊNDICE D NÃO OBRIGATÓRIO

EXEMPLOS DE REGISTRO DE DADOS DE EXAME DE FEIXE DE ÂNGULO
ESCOPO D-410 D-472 REFLETORES COM INDICAÇÃO

AMPLITUDES MAIORES QUE O DAC
Este apêndice fornece exemplos dos dados necessários CURVA OU NÍVEL DE REFERÊNCIA
para dimensionar refletores encontrados ao escanear uma solda e
descreve métodos para registrar exame de feixe de ângulo Quando a Seção de Código de referência requer o comprimento
medição de todas as indicações relevantes do refletor que
dados para refletores planares e outros. Exemplos são fornecidos para
quando a identificação baseada em amplitude é necessária produzir respostas de indicação maiores que a curva DAC
e o dimensionamento deve ser executado apenas para o comprimento e ou nível de referência estabelecido em T-463 ou T-464, o comprimento de
para comprimento e dimensões através da parede. indicação deve ser medido perpendicularmente à direção de varredura
entre os pontos em suas extremidades
onde a amplitude é igual à curva DAC ou referência
nível.
D-420 GERAL
As seções de código de referência fornecem vários meios de

identificação de refletores com base na amplitude de indicação. D-473 TÉCNICAS DE DIMENSIONAMENTO DE DEFEITOS A SEREM
Estas indicações, em vários Códigos, devem ser interpretadas QUALIFICADA E DEMONSTRADA

quanto à identidade de seu refletor (isto é, escória, rachadura,
Quando o dimensionamento da falha é exigido pelo código de referência
fusão, etc.) e então avaliados em relação aos padrões de aceitação. Em
Seção, as técnicas de dimensionamento de falhas devem ser qualificadas
geral, alguma porcentagem do
e demonstradas. Quando medições de dimensionamento de falhas são feitas
curva de correção de distância-amplitude (DAC) ou referência
com uma técnica de amplitude, os níveis ou porcentagem de
amplitude de nível para um único refletor de calibração é estabelecida na
a curva DAC ou nível de referência estabelecido no procedimento deve
qual todas as indicações devem ser investigadas quanto a
ser usado para todo o comprimento e através da parede
sua identidade. Em outros casos, onde a amplitude do Medidas.
indicação exceder o DAC ou o nível de referência, apenas podem ser
necessárias medições do comprimento da indicação. Em outras seções
de código de referência, medindo
técnicas são necessárias para serem qualificadas não apenas para
D-490 DOCUMENTAÇÃO
determinar o comprimento da indicação, mas também para o seu maior
dimensão através da parede.
Diferentes seções dos códigos de referência podem ter
algumas diferenças em seus requisitos para exame ultrassônico. Essas
diferenças são descritas abaixo para o
informações que devem ser documentadas e registradas para um
REQUISITOS DE EXAME D-470
indicação particular do refletor. Ao ilustrar essas técnicas de medição dos
Uma amostra de vários requisitos do Código será abordada parâmetros das respostas de indicação de um refletor, um método simples
descrevendo o que deve ser registrado para vários de registrar as
indicações. a posição da unidade de busca será descrita.
As indicações ultrassônicas serão documentadas pela localização e

posição da unidade de busca. Uma solda horizontal como
D-471 REFLETORES COM INDICAÇÃO
mostrado na Figura D-490 foi assumido para os dados
AMPLITUDES MAIORES QUE 20% DE mostrado na Tabela D-490. Todas as indicações são orientadas com
DAC OU NÍVEL DE REFERÊNCIA
sua longa dimensão paralela ao eixo da solda. A pesquisa
Quando a Seção do Código de referência requer a identificação de localização da unidade, X, foi medido a partir do ponto 0 no
todas as indicações relevantes do refletor que produzem eixo de solda à linha central da cunha da unidade de busca.
respostas de indicação superiores a 20% do DAC (20% A posição da unidade de busca, Y, foi medida a partir da solda
DAC15) curva ou nível de referência estabelecido em T-463 ou eixo ao ponto de saída do feixe de som da cunha. Y é positivo para cima
T-464, um refletor produzindo uma resposta acima deste nível e negativo para baixo. Pesquise o feixe da unidade
devem ser identificados (ou seja, escória, rachadura, fusão incompleta, etc.). direção é geralmente 0 graus, 90 graus, 180 graus ou 270 graus.
135
Tabela D-490
Exemplo de registro de dados
Ângulo de Feixe
e viga
Soldar Em. Máximo caminho sonoro, Localização (X), Pos. (Y), calibração Direção,
Não. Não. DAC, % pol. (mm) pol. (mm) pol. (mm) Folha você Comentários e status
1541 1 45 1,7 (43,2) 4,3 (109,2) ÿ2,2 (ÿ55,9) 005 45 (0) Escória
1685 2 120 2,4 (61,0) 14,9 (378) 3,5 (88,9) 016 60 (180) Escória
100 2,3 (58,4) 15,4 (391) 3,6 (91,4) Extremidade direita
100 2,5 (63,5) 14,7 (373) 3,7 (94,0) Extremidade esquerda
Comprimento = 15,4 pol. - 14,7 pol. = 0,7 pol.

(391 mm ÿ 373 mm = 18 mm)
1967 3 120 4,5 (114,3) 42,3 (1 074) ÿ5,4 (ÿ137,2) 054 45 (0) Escória
20 4,3 (109,2) 41,9 (1 064) ÿ5,2 (ÿ132,1) Posição de profundidade mínima

20 4,4 (111,8) 41,6 (1 057) ÿ5,4 (ÿ137,2) Extremidade esquerda
20 4,7 (119,4) 42,4 (1 077) ÿ5,6 (ÿ142,2) Posição de profundidade máxima

20 4,6 (116,8) 42,5 (1 080) ÿ5,5 (ÿ139,7) Extremidade direita
Comprimento = 42,5 pol. - 41,6 pol. = 0,9 pol.

(1 080 mm ÿ 1 057 mm = 23 mm)
Dimensão através da parede = (4,7 pol. ÿ

4,3 pol.)(cos 45 graus) = 0,3 pol.
[(119,4 mm ÿ 109,2 mm)(cos
45 graus) = 7,2 mm)]
NOTA GERAL: Ind. No. = número de indicação; Loc. (X) = localização ao longo do eixo X; pos. (Y) = posição (Y) da linha central da solda; direção do feixe é
em direção a 0, 90, 180 ou 270 (consulte a Figura D-490).
D-491 REFLETORES COM INDICAÇÃO (b) Determine e registre o som da leitura de varredura
AMPLITUDES MAIORES QUE 20% DE caminho para o refletor (no lado esquerdo da indicação na
DAC OU NÍVEL DE REFERÊNCIA a varredura).
(c) Determinar e registrar a localização da unidade de busca (X)
Quando a Seção do Código de referência requer a identificação
em relação ao ponto 0.
de todas as indicações relevantes do refletor que produzem
(d) Determine e registre a posição da unidade de busca (Y)
respostas do refletor maiores que 20% da curva DAC
em relação ao eixo de solda.
ou nível de referência, posicione a unidade de busca para dar a
(e) Registre o ângulo do feixe da unidade de busca e
amplitude máxima do refletor.
direção.
(a) Determine e registre a amplitude máxima em
porcentagem de DAC ou nível de referência.
Figura D-490
Localização da unidade de pesquisa, posição e direção do feixe
Direção do feixe
(você)
E
180
0 Soldar
0 90 270
x eixo Posição
Localização
0
E
136
Um registro de dados é mostrado na Tabela D-490 para uma e demonstrado de acordo com os requisitos dessa Seção de Código,
indicação com amplitude máxima de 45% de DAC como Solda 1541, as medições de D-491 e D-492 são feitas com as medições adicionais
Indicação 1. Pelas suas características, o refletor foi determinado para a dimensão através da parede conforme listado abaixo. As
como escória. medições neste segundo
As medições devem ser feitas em amplitudes que foram qualificadas
D-492 REFLETORES COM INDICAÇÃO
para a medição de comprimento e através da parede. Um DAC de
AMPLITUDES MAIORES QUE O DAC 20% ou 20% do nível de referência foi considerado qualificado para
CURVA OU NÍVEL DE REFERÊNCIA o propósito desta ilustração em vez do DAC de 100% ou nível de
Quando a seção de código de referência requer uma medição de referência usado em D-492. As determinações de comprimento e
comprimento de todas as indicações de refletor relevantes que através da parede são ilustradas em 20% DAC ou 20% do nível de
produzem respostas de indicação maiores que a curva DAC ou nível referência. O refletor está localizado na primeira perna do caminho
de referência cujo comprimento é baseado na curva DAC ou nível de do som (primeira metade do caminho em V). (a) Primeiro mova a
referência, faça o registro de acordo com D-491 e o seguinte unidade de busca em direção ao refletor e escaneie o topo do
medições adicionais. refletor para determinar o local e a posição onde ele está mais
(a) Primeiro mova a unidade de busca paralela ao eixo de solda à próximo da superfície de entrada do feixe de som (profundidade
direita da posição de amplitude máxima até que a amplitude de mínima) e onde a amplitude cai para 20% DAC ou 20 % do nível de
indicação caia para 100% DAC ou o nível de referência. (b) Determine referência.
e (b) Determine e registre o caminho do som para o reflexo
registre o caminho do som para o reflexo tor (no lado esquerdo da indicação na varredura).
tor (no lado esquerdo da indicação na varredura). (c) Determinar e registrar a localização da unidade de busca (X)
(c) Determinar e registrar a localização da unidade de busca (X) em relação ao ponto 0.
em relação ao ponto 0. (d) Determine e registre a posição da unidade de busca (Y) em
(d) Determine e registre a posição da unidade de busca (Y) em relação ao eixo de solda. (e) Em
relação ao eixo de solda. (e) Em seguida, mova a unidade de busca para longe do refletor e
seguida, mova a unidade de busca paralela ao eixo de solda para escaneie a parte inferior do refletor para determinar o local e a
a esquerda, passando pela posição de amplitude máxima até que a posição onde ele está mais próximo da superfície oposta
amplitude de indicação caia novamente para 100% DAC ou o nível (profundidade máxima) e onde a amplitude cai para 20% DAC ou 20
de referência. % do nível de referência. (f) Determine e registre
(f) Determine e registre o caminho do som para o reflexo o caminho do som para o reflexo
tor (no lado esquerdo da indicação na varredura). tor (no lado esquerdo da indicação na varredura).
(g) Determinar e registrar a localização da unidade de busca (X) (g) Determinar e registrar a localização da unidade de busca (X)
em relação ao ponto 0. em relação ao ponto 0.
(h) Determine e registre a posição da unidade de busca (Y) em (h) Determine e registre a posição da unidade de busca (Y) em
relação ao eixo de solda. (i) Registre relação ao eixo de solda. (i) Registre
o ângulo do feixe da unidade de busca e a direção do feixe. o ângulo do feixe da unidade de busca e a direção do feixe.
Um registro de dados é mostrado na Tabela D-490 para uma indicação Um registro de dados é mostrado na Tabela D-490 para uma
com amplitude máxima de 120% de DAC conforme Solda 685, indicação com amplitude máxima de 120% de DAC como Solda
Indicação 2, com os dados acima e os dados requeridos em D-491. 1967, Indicação 3, com os dados acima e os dados exigidos em
A partir de suas características, o refletor foi determinado como D-491 e D-492 para comprimento a 20 % DAC ou 20% do nível de
escória e tinha um comprimento de indicação de 0,7 pol. referência. A partir de suas características, o refletor foi determinado
Se o dimensionamento da indicação foi feito usando unidades SI, o como escória e a indicação tinha um comprimento de 0,9 pol. Se o
comprimento da indicação é de 18 mm. dimensionamento foi feito usando unidades SI, o comprimento da
indicação é de 23 mm e a dimensão da parede passante de 7 mm.
D-493 REFLETORES QUE EXIGEM
TÉCNICAS DE MEDIÇÃO A SEREM
QUALIFICADA E DEMONSTRADA
Quando a Seção de Código de referência exigir que todo o

comprimento de indicação do refletor relevante e as dimensões
através da parede sejam medidos por uma técnica qualificada
137
APÊNDICE E NÃO OBRIGATÓRIO

TÉCNICAS DE IMAGEM COMPUTADORIZADA
ESCOPO E-410 deve ser usado além da calibração aplicável

bloco exigido pelo Artigo 4. Esses blocos devem obedecer
Este apêndice fornece requisitos para computador com J-431.
técnicas de imagem.
O bloco descrito na Figura E-460.1 fornece uma faixa de resolução
efetiva para pesquisa de 45 graus e 60 graus
unidades e caminhos de metal até cerca de 4 pol. (100 mm). Esse
E-420 GERAL é adequado para tubulações e componentes similares, mas mais
comprimentos de caminho são necessários para vasos de pressão do reator. A
As técnicas de imagem computadorizada (CITs) devem satisfazer bloco mais grosso com os mesmos tamanhos de furos de fundo plano,
todos os requisitos básicos do instrumento descritos em espaçamentos, profundidades e tolerâncias são necessários para metal
T-431 e T-461. As unidades de busca usadas para aplicações CIT devem caminhos maiores do que 4 pol. (100 mm) e 4 pol.
ser caracterizadas conforme especificado em B-466. CITs (100 mm) distância mínima entre a borda do
devem ser qualificados de acordo com os requisitos furos e a borda do bloco é necessária. Esses blocos
para detecção de falhas e/ou dimensionamento que são especificados no fornecer um meio para determinar a resolução lateral e
referenciando a Seção de Código. discriminação de profundidade de um sistema de imagem ultrassônico.
O procedimento escrito para aplicações CIT deve identificar a frequência A resolução lateral é definida como o espaçamento mínimo
de teste específica e a largura de banda a ser utilizada. Além disso, tais entre furos que podem ser resolvidos pelo sistema. O
procedimentos devem definir o os furos são espaçados de modo que a separação máxima entre bordas
técnicas de processamento de sinal, devem incluir diretrizes explícitas para adjacentes de furos sucessivos seja de 1,000 pol.
interpretação de imagem e devem identificar o código de software/versão (25,40 mm). O espaçamento diminui progressivamente em um
do programa a ser usado. Essa informação fator de dois entre pares sucessivos de buracos, e o
também devem ser incluídos no relatório de exame. Cada relatório de o espaçamento mínimo é de 0,015 pol. (0,38 mm). A discriminação de
exame deve documentar o escaneamento específico profundidade é demonstrada observando o metal exibido
e processos de imagem que foram usados para que essas funções possam caminhos (ou as profundidades) dos vários furos. Porque o
ser repetidas com precisão em um momento posterior, se as faces dos furos não são paralelas à superfície de escaneamento, cada
necessário. furo exibe uma faixa [cerca de 0,1 pol. (2,5 mm)] de metal
O processo de imagem computadorizada deve incluir um recurso que caminhos. A linha “A” tem o menor caminho médio de metal,
gere uma escala dimensional (em dois ou a linha “C” tem o caminho de metal médio mais longo e o
três dimensões, conforme apropriado) para auxiliar o operador Os furos “B” variam no caminho médio do metal.
em relacionar as características da imagem com as dimensões reais e Blocos adicionais são necessários para verificar a resolução lateral e
relevantes do componente que está sendo examinado. Além disso, discriminação de profundidade quando o exame de onda longitudinal de 0
indicadores de fator de escala automatizados devem ser integralmente graus é realizado. Comprimentos de caminho de metal de
incluídos para relacionar cores e/ou intensidade de imagem à variável 2 pol. e 8 pol. (50 mm e 200 mm), conforme apropriado, deve
relevante (isto é, amplitude de sinal, atenuação, etc.). ser fornecido conforme mostrado na Figura E-460.2 para espessuras de
seção de 4 pol. (100 mm) e um bloco semelhante com 8 pol.
(200 mm) caminhos de metal são necessários para espessuras de seção
acima de 4 pol. (100 mm).
CALIBRAÇÃO E-460
A calibração dos sistemas de imagem de computador deve ser realizada

de forma que os níveis de ganho sejam otimizados EXAME E-470
para aquisição de dados e fins de imagem. O tradicional
FOCAGEM DE ABERTURA SINTÉTICA E-471
O processo de calibração baseado em DAC também pode ser necessário para
estabeleça níveis específicos de sensibilidade de varredura e/ou detecção
TÉCNICA PARA TESTE ULTRASSÔNICO
de falhas.
(SAFT-OUT)
Para aqueles CITs que empregam processamento de sinal para alcançar A Técnica de Focagem de Abertura Sintética (SAFT) refere-se a um
aprimoramento de imagem (SAFT-UT, L-SAFT e banda larga processo no qual as propriedades focais de um
holografia), pelo menos uma resolução lateral especial e unidades de pesquisa focadas em grande abertura são geradas
bloco de discriminação de profundidade para cada exame especificado sinteticamente a partir de dados coletados durante a varredura em uma grande
138

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2023 Código do Vaso de Pressão

2023 ASME Caldeira e

Two Park Avenue • Nova York, NY • 10016 EUA

Data de emissão: 1º de julho de 2023

Marca de Associação Coletiva da ASME

Marca de Certificação Única ASME

Número do cartão de catálogo da Biblioteca do Congresso: 56-3934

A Sociedade Americana de Engenheiros Mecânicos

Direitos autorais © 2023 por

Lista de Seções . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xxvii

Sumário de Mudanças . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . lvi

Subseção A Métodos Não Destrutivos de Exame ....................... 1

Artigo 1 Requisitos Gerais ....................................... 1

Apêndice Obrigatório I Glossário de Termos para Exame Não Destrutivo ........... 5

Apêndice II Obrigatório Requisitos Suplementares de Qualificação de Pessoal para NDE

Anexo III Obrigatório Exceções e Requisitos Adicionais para Uso de ASNT

Apêndice IV Obrigatório Exceções ao ANSI/ASNT CP-189 2020 Edition . . . . . . . . . . . . . . . . . 31

Não obrigatório Apêndice A Imperfeição vs. Tipo de Método de EQM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32

Artigo 2 Exame Radiográfico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34

Apêndice Obrigatório I Radiografia em movimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43

Apêndice II Obrigatório Exame Radioscópico em Tempo Real . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45

Apêndice IV Obrigatório Interpretação, avaliação e disposição de exames radiográficos e

Apêndice VI Obrigatório Aquisição, Exibição, Interpretação e Armazenamento de Imagens Digitais

Apêndice VI Obrigatório Suplemento A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54

Apêndice VII Obrigatório Exame Radiográfico de Fundições Metálicas . . . . . . . . . . . . . . . . . 57

Anexo VIII Obrigatório Radiografia usando placa de imagem de fósforo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58

Anexo VIII Obrigatório Suplemento A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61

Apêndice Obrigatório IX Radiografia usando sistemas de detecção digital . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63

Apêndice Obrigatório IX Suplemento A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67

Apêndice D Não Obrigatório Número de IQIs (Casos Especiais) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76

Artigo 4 Métodos de exame ultrassônico para soldas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79

Apêndice Obrigatório I Linearidade da Altura da Tela . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97

Apêndice II Obrigatório Linearidade de controle de amplitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98

Anexo III Obrigatório Técnica de difração de tempo de voo (TOFD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99

III-480 Avaliação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103

Apêndice obrigatório V Exame de Varredura Linear Phased Array E-Scan e S-Scan

Apêndice VII Obrigatório Requisitos de exame ultrassônico para mão de obra

Anexo VIII Obrigatório Requisitos de exame ultrassônico para mecânica de fraturas

Apêndice Obrigatório IX Requisitos de Qualificação de Procedimento para Dimensionamento de Falha e

Apêndice Obrigatório X Exame Ultrassônico de Polietileno de Alta Densidade . . . . . . . . . . . 116

Apêndice Obrigatório XI Captura de matriz completa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119

XI-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119

Apêndice A não obrigatório Disposição dos pontos de referência da embarcação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126

Apêndice não obrigatório E Técnicas de imagem computadorizada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138

Apêndice não obrigatório G Configuração alternativa do bloco de calibração . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151

Apêndice J não obrigatório Bloco alternativo de calibração básica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155

L-430 Equipamento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159

Apêndice não obrigatório N Interpretação da difração de tempo de voo (TOFD) . . . . . . . . . . . . . . . 165

Não obrigatório Apêndice P Interpretação Phased Array (PAUT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188

Apêndice Q não obrigatório Exemplo de uma curva DAC dividida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197

Não obrigatório Apêndice W Exame do método de pulso-eco de juntas soldadas . . . . . . . . . . . . . . . 208

Artigo 5 Métodos de exame ultrassônico para materiais . . . . . . . . . . . . . . . . . 211

Apêndice Obrigatório I Exame Ultrassônico de Bombas e Válvulas . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217

Apêndice II Obrigatório Exame em serviço do raio do canto interno do bocal e interno

Apêndice IV Obrigatório Exame de Parafusos em Serviço . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219

Artigo 6 Exame de Líquido Penetrante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220

Apêndice II Obrigatório Controle de Contaminantes para Exame de Líquido Penetrante . . . . . 226

Anexo III Obrigatório Técnicas de Qualificação para Exames em Fora do Padrão

Artigo 7 Exame de Partículas Magnéticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229

Apêndice Obrigatório I Exame de Partículas Magnéticas Usando a Técnica AC Yoke em

Apêndice obrigatório V Requisitos para o uso de técnicas de borracha magnética . . . . . . 247