CEP

CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO

Prof. M.Sc. Eng. Douglas da Costa Ferreira FATEC 2006

Sumrio
1 2 3 INTRODUO ........................................................................................................................................... 2 CONCEITO DE CEP ................................................................................................................................. 2 2.1 3.1 3.2 4 4.1 4.2 5 5.1 5.2 6 IMPLEMENTAO .................................................................................................................................. 3 MDIA................................................................................................................................................. 4 DESVIO PADRO .............................................................................................................................. 5 EXEMPLO 01: ........................................................................................................................................ 6 EXEMPLO 02: ........................................................................................................................................ 7 CP - CAPACIDADE DO PROCESSO ................................................................................................. 8 CPK - CAPACIDADE DO PROCESSO COM DESLOCAMENTO ................................................... 9 REVISO DOS CONCEITOS DE ESTATSTICA ................................................................................ 4

VERIFICAO DA NORMALIDADE DE PROCESSO....................................................................... 5

CAPABILIDADE DE PROCESSO ........................................................................................................... 8

CARTA DE CONTROLE POR VARIVEIS.......................................................................................... 9 6.1 CARTA X E R (MDIA E AMPLITUDE).................................................................................................... 9 6.1.1 Limites de Controle (X).................................................................................................................. 10 6.1.2 Limites de Controle (R).................................................................................................................. 10 6.2 CARTA X E (MDIA E DESVIO PADRO) ............................................................................................ 10 6.2.1 Limites de Controle (X).................................................................................................................. 10 6.2.2 Limites de Controle ().................................................................................................................. 11

CARTA DE CONTROLE POR ATRIBUTOS ...................................................................................... 11 7.1 CARTA P (FRAO DE DEFEITUOSOS) ................................................................................................. 11 7.1.1 Valor Central: ................................................................................................................................ 12 7.1.2 Limites de Controle:....................................................................................................................... 12 7.2 CARTA C (NMERO DE DEFEITOS EM UM PRODUTO) .......................................................................... 12 7.2.1 Valor Central: ................................................................................................................................ 12 7.2.2 Limites de Controle:....................................................................................................................... 13 7.3 CARTA U (NMERO DE DEFEITOS POR LOTE DE UNIDADES)............................................................... 13 7.3.1 Valor Central: ................................................................................................................................ 13 7.3.2 Limites de Controle:....................................................................................................................... 13

8 9

CONTROLE DE PROCESSO ................................................................................................................. 14 BIBLIOGRAFIA....................................................................................................................................... 18

Controle Estatstico de Processo

1 INTRODUO
O objetivo de se estudar a disciplina de Controle Estatstico de Processo (CEP) formar profissionais capacitados para entender a administrar de forma competente essa to importante ferramenta da qualidade em uma empresa de manufatura ou prestadora de servios. A boa gesto da qualidade , principalmente, resultado de dois fatores: conhecimento de tcnicas de administrao da qualidade e conscientizao para a qualidade. Essa apostila pretende trabalhar principalmente o aspecto tcnico, sendo que a complementao da formao do aluno se dar no oitavo perodo na disciplina de Gesto da Qualidade, de forma que o administrador possa ter uma boa formao das ferramentas da qualidade, sua aplicao e utilizao e tambm uma viso holstica do impacto da qualidade nos resultados de uma empresa e de que forma uma boa administrao da qualidade poder ser um fator decisivo no futuro dessa empresa. Para atingir o resultado pretendido, o material apresentado fruto de extensa pesquisa bibliogrfica sobre o assunto e pelo desenvolvimento de trabalhos na experincia profissional do autor, tanto no ambiente de cho de fbrica, quanto em sala de aula. Com o passar dos semestres, os trabalhos dos alunos vem enriquecendo enormemente essa apostila, contribuindo para a formao das turmas que se seguem.

2 CONCEITO DE CEP
O CEP (Controle Estatstico de Processo), uma ferramenta estatstica de controle de processo que atua de forma preventiva. Se for bem aplicada essa ferramenta permite que um problema possa ser evitado no processo de fabricao de um produto. Sua aplicao fundamentalmente apropriada para indstrias de manufatura, no entanto, existem aplicaes do CEP em servios. O CEP foi desenvolvido na Bell Telephone Laboratories por W. A. Shewhart, em 1924, para ser utilizado pelo pessoal de cho de fbrica no monitoramento do processo, dessa forma, foram estipuladas diversas simplificaes de clculo para evitar a necessidade de se extrair a raiz quadrada entre outras operaes difceis para a mo-de-obra direta. Em 1942 foi considerado segredo de guerra pelo governo dos EUA que utilizou essa ferramenta na produo de armas com uma qualidade superior ao dos governos rivais. Em 1946 foi criada a ASQC (American Society for Quality Control - hoje denominada ASQ) que divulgou os conhecimentos sobre CEP atravs de um programa de treinamento. Em 1950 W. Edwards Deming fez conferncias ao redor do mundo sobre as aplicaes do CEP em empresas japonesas, sendo o primeiro a utilizar largamente essa ferramenta e demonstrar os grandes benefcios de sua aplicao no ambiente de manufatura de larga escala. Em 1954 M. Juran visitou o Japo e comprovou a eficincia do uso do CEP no controle da qualidade a um baixo custo, incluindo seus conceitos no seu livro Quality Handbook. Em 1960 K. Ishikawa iniciou o primeiro CCQ, com o intuito de difundir a aplicao do CEP em outras empresas japonesas alm da Toyota, onde Deming j havia implantado. A partir dos anos 70 os norteamericanos comearam a se interessar pelo sistema de controle da qualidade japons e desenvolver aplicaes do CEP em empresas nos EUA.

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2.1

IMPLEMENTAO

Implantar o CEP em uma empresa requer diversos cuidados na sua aplicao. Um consultor bem treinado em tcnicas estatsticas deve promover os estudos iniciais e acompanhar todo processo de implantao e utilizao preliminar. Os passos para implantao do CEP podem ser verificados abaixo: a) Identificar processo a ser controlado: o processo a ser controlado deve ter uma significncia para a empresa, ou seja, deve haver um sentido prtico na necessidade de controle de tal processo (custo das falhas, importncia para o cliente, etc.). b) Nem todo processo pode fazer uso do CEP. Existem algumas premissas para sua utilizao: Processo com Variao Normal (Gaussiana) Processo Capaz (CPk 1,33 para 3) Processo Estvel (no varia ao longo do tempo)

A verificao dessas premissas deve ser obrigatoriamente realizada antes de utilizar a carta CEP. A verificao da Normalidade de Processo deve atender ao estipulado na Norma NBR 5430. A estabilidade de processo deve ser verificada atravs de acompanhamento de amostras ao longo de um perodo significativo, utilizando avaliaes estatsticas. A anlise de capacidade de processo (aps verificar a Normalidade e Estabilidade), deve ser realizada atravs de clculos estatsticos, sendo que para trs desvios padres, comum aceitar um processo estvel com CPk 1,33. c) Identificar Limites Especificaes de Engenharia (Varivel): existem dois tipos de carta de controle de processo: varivel e atributo. No caso da utilizao das cartas por variveis, os limites da especificao devem estar determinados e estes no devem mudar durante a utilizao do CEP. d) Determinar tamanho da amostra: o tamanho da amostra vai depender de dois fatores: Tamanho do lote de produo IQA - ndice de Qualidade Aceitvel

Aps a obteno desses dois valores, devem ser utilizadas tabelas estatsticas (disponveis nas normas NBR 5426 e NBR 5429, para atributos e variveis, respectivamente), para determinar qual o tamanho da amostra que ser significativo (trar informaes confiveis) para determinar dados estatsticos. e) Determinar forma de amostragem: a ABNT no define uma forma especfica de amostragem, no entanto, quanto mais espaadas durante o perodo de produo, melhor ser o resultado estatstico, porque mais variveis de processo sero consideradas no clculo. No entanto, essa deciso ser tomada baseando-se nas possibilidades da empresa (custo, tempo de avaliao, logstica, etc.). f) Estudo de R&R: as pessoas responsveis por realizar a coleta das amostras, devem passar por uma avaliao chamada de R&R (Repetibilidade e Reprodutibilidade): Repetibilidade: avaliao de um funcionrio quanto capacidade de repetio de uma verificao sempre da mesma forma (erro de verificao entre vrias avaliaes realizadas por uma mesma pessoa); Reprodutibilidade: avaliao de vrios funcionrios quanto capacidade de reproduo de uma verificao sempre da mesma forma (erro de verificao entre vrias pessoas realizando uma mesma avaliao).

g) Elaborao de um Dirio de Bordo: a coleta das amostras deve ser realizada em um formulrio padro, onde deve haver espao para anotao de causas especiais de processo. h) Elaborao da carta de controle preliminar: a primeira carta de controle serve de base para as demais cartas de controle de processo. Nessa carta de controle so tomadas no mnimo 125

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amostras para elaborao dos limites de controle. O tamanho das amostras das demais cartas, deve obedecer o estipulado nas normas NBR 5426 e NBR 5429. i) Elaborar Carta de Controle: a segunda carta de controle elaborada a partir da carta de controle preliminar. Desse ponto em diante, o processo deve ser monitorado continuamente para evitar descontroles. j) Verificar Tendncias do Processo: atravs de Anlises Estatsticas possvel avaliar as tendncias do processo antes que ocorra uma falha. l) Atuar no Processo: se a tendncia do processo indicar que possa ocorrer uma falha, deve ser feita uma atuao para evitar que a falha ocorra. m) Refazer a Carta de Controle: cada vez que ocorre uma alterao no processo, devem ser refeitos os clculos da carta de controle.

3 REVISO DOS CONCEITOS DE ESTATSTICA

Como o CEP basicamente uma ferramenta estatstica, se faz necessrio revisar alguns dos seus conceitos, tais como:

3.1

MDIA

x
x=
i =1

A mdia sempre deve ter sempre NO MNIMO uma casa decimal a mais do que os elementos que a compem. Exemplos: A mdia dos valores 3 e 4 = 3,5. Se houver o arredondamento para 3 ou 4, houve a perda do valor da mdia!! A mdia dos valores 3,2 e 3,3 = 3,25. Se houver o arredondamento para 3,2 ou 3,3, houve a perda do valor da mdia. A mdia dos valores 3,156 e 3,159 = 3,1575. Se houver o arredondamento para 3,157 ou 3,158, houve a perda do valor da mdia. A mdia dos valores 3,156 ; 3,157 e 3,156 = 3,1573. Se houver o arredondamento para 3,157, houve a perda do valor da mdia.

muito importante seguir essa regra da matemtica. Os valores utilizados para o clculo de CEP so muito precisos, sendo que a mdia a base de vrios clculos apresentados na sequncia. Um erro no clculo da mdia ir implicar em erros em todos os clculos da carta CEP.

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3.2

DESVIO PADRO

(x
=
i =1

i x)

( n 1)

Esse clculo referente ao desvio padro de uma amostra, no caso de realizar o desvio padro de uma populao, deve-se substituir o dividendo (n-1) por (n).

4 VERIFICAO DA NORMALIDADE DE PROCESSO

A normalidade de processo verificada atravs do teste W de Shapiro Wilk. No entanto, a realizao desse teste exige uma grande quantidade de clculos, impossibilitando sua aplicao manual. O teste W de Shapiro Wilk pode ser realizado atravs de softwares de estatstica, tais como o Statgraphics ou o Statistica. Como alternativa para esse teste mais preciso, a Norma ABNT NBR 5430, oferece um teste de normalidade mais simples:

1 100 pi = (i 2 ). n

i = nmero da sequncia n = nmero de amostras p = probabilidade

Sendo i o nmero de observaes feitas at Xi, em ordem crescente. Quando o valor de n pequeno (menor que 19), deve sofrer correes e, por esse motivo, j vem tabelado (tabela abaixo). Quando o valor de n for maior ou igual a 19, o clculo apresentado acima apresenta um resultado satisfatrio.

n 2 3 4 6 9 10 11 13 15 18

P1
18,8 14,0 11,0 7,5 4,9 4,4 4,0 3,3 2,8 2,3

P2
81,2 50,0 38,3 26,5 18,2 16,4 15,0 12,7 11,1 9,2

P3
86,0 61,7 42,2 29,0 26,2 24,0 20,4 17,8 14,9

P4

P5

P6

P7

P8

P9

P10

P11

P12

P13

P14

P15

P16

P17

P18

89,0 57,8 39,5 35,8 32,7 27,9 24,4 20,4 73,5 50,0 45,3 41,4 35,3 30,8 25,9 92,5 60,5 54,7 50,0 42,7 37,2 31,3 71,0 64,2 58,6 50,0 43,6 36,6 81,8 73,8 67,3 57,3 50,0 42,0 95,1 83,6 76,0 64,7 56,4 47,3 95,6 85,0 72,1 62,8 52,7 96,0 79,6 69,2 58,0 87,3 75,6 63,4 96,7 82,2 68,7 88,9 74,1 97,2 79,6 85,1 90,8 97,7

Tabela 10 - Valores de Probabilidade de Normalidade Aps serem calculados os valores de pi, eles devem ser lanados em um grfico cartesiano. Quando os valores lanados estiverem se aproximando de uma reta, pode-se dizer que o processo Normal, caso contrrio, essa afirmativa no pode ser feita.

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4.1

EXEMPLO 01:

Em um processo de envasamento de cerveja foram coletadas 15 amostras, conforme mostra a tabela abaixo. Verifique se esse processo normal. Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 Medida (litros) 601,2 601,3 600,7 602,1 601,5 601,7 600,3 600,8 602,5 600,7 601,4 600,2 600,9 600,5 602,4

Como se tratam de menos de 19 amostras, podemos utilizar os valores tabulados. Os valores devem estar ordenados de forma crescente, sendo assim: Amostra Medida (litros) pi
1 600 2,8 2 600 11,1 3 601 17,8 4 601 24,4 5 601 30,8 6 601 37,2 7 601 43,6 8 601 50 9 601 56,4 10 601 62,8 11 602 69,2 12 602 75,6 13 602 82,2 14 602 88,9 15 603 97,2

Para finalizar a anlise, devem-se lanar os valores das amostras e de pi em um grfico, conforme mostrado abaixo:

120 100

Teste de Normalidade

Probabilidade (Pi)

80 60 40 20 0
600,2 600,3 600,5 600,7 600,7 600,8 600,9 601,2 601,3 601,4 601,5 601,7 602,1 602,4 602,5

Valores das Amostras (Xi)

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Conforme observada no grfico, a curva caracterstica aproxima-se do formato de uma reta, indicando que o processo Normal.

4.2

EXEMPLO 02:

A quantidade de um determinado composto de um banho controlada para manter a qualidade do produto. Essa quantidade deve variar entre 250 e 275g. Foram retiradas 20 amostras do composto a ser colocado no banho e pesadas. Os resultados esto apresentados na tabela abaixo. Verifique se o processo normal.
Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 Medida (litros) 256 271 265 250 268 267 266 254 260 273 250 259 274 273 269 265 257 274 265 266

Como so mais de 18 amostras, deve-se utilizar o mtodo do clculo, sendo assim, temos os seguintes resultados:

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 Amostra Medida 250 250 254 256 257 259 260 265 265 265 266 266 267 268 269 1248 1248 1268 1278 1283 1293 1298 1323 1323 1323 1328 1328 1333 1338 1343 pi 16 271 1353 17 273 1363 18 273 1363 19 274 1368 20 274 1368

Para finalizar a anlise, devem-se lanar os valores das amostras e de pi em um grfico, conforme mostrado abaixo:

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1380

Teste de Normalidade

Probabilidade (Pi)

1340

1300

1260

1220
250 250 254 256 257 259 260 265 265 265 266 266 267 268 269 271 273 273 274 274

Valores das Amostras (Xi)

A reta em vermelho representa a curva normal, sendo que os valores obtidos esto muito fora dessa reta. Esse processo no pode ser considerado Normal.

5 CAPABILIDADE DE PROCESSO
Muitas vezes, o processo no atinge as metas de qualidade pelo simples fato de ser incapaz de realizar um produto ou servio conforme especificado. No se pode querer que um Fusca original atinja a velocidade de 300 Km/h, esse veculo no-capaz para essa especificao de velocidade. Saber se um processo capaz ou no, o primeiro passo, antes de querer se aplicar um controle estatstico de processo. A Capabilidade de Processo, ou como pede a NRB partir de 2004 - Capacidade de Processo, pode ser medida atravs de 2 ndices: CP e CPk.

5.1

CP - CAPACIDADE DO PROCESSO

CP =

LSE LIE 6

O CP um ndice muito ruim para verificar a capacidade de um processo, porque pode dar um resultado totalmente incorreto no caso de haver uma mdia deslocada. Sempre devemos utilizar o CPK. Como antigamente o uso de mquinas calculadores era muito restrito, o ndice CP, sendo de clculo mais simples, era mais largamente utilizado.

Controle Estatstico de Processo

5.2

CPK - CAPACIDADE DO PROCESSO COM DESLOCAMENTO

x LIE LSE x CPK = min ; 3 3

O CPK ir trazer informaes confiveis em relao capacidade do processo, porque sua avaliao realizada independente do deslocamento da mdia.

6 CARTA DE CONTROLE POR VARIVEIS

A carta de controle por variveis deve ser utilizada quando o processo a ser controlado for referente a uma medida (fora, comprimento, durao, velocidade, etc.). Existem duas cartas de controle por variveis: Carta X e R Carta X e

A carta X e R deve ser utilizada se forem realizadas at 25 coletas por lote, partir dessa quantidade, deve-se optar pela carta X e . A determinao da quantidade de amostras por lote determinada pela ABNT na Norma NBR 5429. Premissa: O universo repleto de variveis que no podem ser controlados o que impede que dois objetos sejam fabricados com a mesma forma exata. Variao: Interna: Ocorre no objeto (ex.: o dimetro varia em posies diferentes) Entre peas: Ocorre na comparao entre objetos fabricados no mesmo processo No decorrer do tempo: Ocorre entre objetos fabricados em tempos diferentes (horrios, datas)

6.1

CARTA X E R (MDIA E AMPLITUDE)

A carta X e R deve ser utilizada em um processo onde so realizadas no mximo 25 coletas por lote.

X
X=
i =1

R
R=
i =1

R = xmax xmin

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6.1.1 Limites de Controle (X)

LSC X = X + 3. X LIC X = X 3. X

6.1.2

Limites de Controle (R)

LSCR = R + 3. R LICR = R 3. R
Quando o limite inferior da carta R for negativo, deve substitu-lo por zero.

6.2
lote.

CARTA X E (MDIA E DESVIO PADRO)

A carta X e deve ser utilizada em um processo onde so realizadas mais de 25 coletas por

X
X=
6.2.1

i =1

i
i =1

(X
=
i =1

X)

( n 1)

Limites de Controle (X)

LSC X = X + 3. X LIC X = X 3. X

10

Controle Estatstico de Processo

6.2.2 Limites de Controle ()

LSC = + 3. LIC = 3.
7 CARTA DE CONTROLE POR ATRIBUTOS
Um atributo uma caracterstica do produto que no pode ser medida, mas apenas verificada se est OK ou NOK. Pode-se utilizar um equipamento para realizar a verificao de um atributo, no entanto, no se deve realizar uma medio da caracterstica, mas apenas a verificao se est de acordo ou no. A carta por atributos utilizada em duas situaes: No se pode realizar a medio: verificao de cor, brilho, arranhes, danos; No economicamente vivel realizar a medio: verificao de um furo utilizando-se um gabarito passa-no-passa. Tipos de cartas por atributos Existem dois tipos de carta de controle por Atributos: Carta para Defeituosos: controla a quantidade de produtos defeituosos em relao ao total de produtos verificados. Carta p; Carta para Defeitos: controla a quantidade de defeitos em um produto verificado. Carta C e Carta U.

7.1

CARTA P (FRAO DE DEFEITUOSOS)

Determina o total de produtos defeituosos em relao ao total de produtos verificados:

np p= n
Onde: p = frao de produtos defeituosos n = nmero de produtos na amostra np = nmero de produtos defeituosos na amostra

11

Controle Estatstico de Processo

7.1.1 Valor Central:

p=
7.1.2 Limites de Controle:

np n
p(1 p ) n p(1 p ) n

LSC p = p + 3. LIC p = p 3.
CARTA p - OBSERVAES

Se p for maior do que 0,15, no se deve realizar o controle estatstico de processo, porque o processo No Capaz. A Carta p pode ser utilizada para controlar o ndice de produtos defeituosos. Se houver constantes descontroles evidenciados pela Carta p, necessrio aplicar um controle por variveis (quando possvel). Caso o clculo do limite inferior de controle resulte em um nmero negativo, deve utilizar o valor Zero.

7.2

CARTA C (NMERO DE DEFEITOS EM UM PRODUTO)

A Carta C utilizada para controlar a quantidade de defeitos em um produto. Ex.: quantidade de arranhes na pintura de um carro, quantidade de bolhas em uma placa de vidro, quantidade de quebras em um rolo de cabo eltrico. A Carta C s pode ser utilizada se houver uma quantidade suficiente (mnimo 25) de pontos de verificao do defeito no produto a ser inspecionado. 7.2.1 Valor Central:

c=
Onde: c = ndice de defeitos g = quantidade amostras

c
g

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Controle Estatstico de Processo

7.2.2 Limites de Controle:

LSCc = c + 3. c LICc = c 3. c

7.3

CARTA U (NMERO DE DEFEITOS POR LOTE DE UNIDADES)

A Carta U utilizada para controlar a quantidade de defeitos em um grupo (lote) de produtos inspecionados. Deve ser utilizada quando o nmero de defeitos, em cada unidade inspecionada, for prxima de um. Ex.: manchas em cada 10 m2 de tecido, pontos de oxidao em caixa de 100 pregos, falhas de impresso em cada resma de papel. A Carta U s pode ser utilizada se a quantidade inspecionada em cada lote for de mesma quantidade. Se houver uma variao do tamanho do lote aconselha-se separar parte do lote de tamanho idntico para realizar a verificao. 7.3.1 Valor Central:

u=
Onde:

c n

c = nmero de defeitos no lote n = quantidade de produtos em cada lote u = defeitos por unidade do lote 7.3.2 Limites de Controle:

LSCu = u + 3. LICu = u 3.

u n u n

13

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8 CONTROLE DE PROCESSO
Aps a construo das cartas de controle, importante saber fazer a anlise dessas cartas. Essa anlise realizada atravs da observao da variao das medidas realizadas durante o processo. Existem oito padres que indicam descontrole do processo, exigindo a tomada de aes de correo. Esses padres esto apresentados nos slides seguintes. Distribuio de pontos em um padro Normal de Variao.

A B C C B A

2,5% 13,5% 34,0% 34,0% 13,5% 2,5%

Um Padro Normal de Variao aquele que demonstra uma distribuio dos pontos dentro de uma curva normal, ou seja, dentro de uma distribuio Gaussiana, conforme mostra a figura do slide anterior. Quando os pontos so distribudos fora desse padro, ento podemos dizer que ocorreu um descontrole de processo. Muitas vezes no muito fcil perceber que houve um descontrole, para facilitar essa visualizao, nos prximos slides esto mostrados 8 padres clssicos de descontrole de processo. Padro 01 Um nico ponto alm da Zona A, ou seja, acima do Limite Superior de Controle (LSC) ou abaixo do Limite Inferior de Controle (LIC).

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 14 A B C C B A

Controle Estatstico de Processo

Padro 02 Nove pontos consecutivos de um mesmo lado do valor central, ou seja, todos os nove pontos acima ou abaixo da linha central.

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

Padro 03 Seis pontos consecutivos continuamente aumentando ou diminuindo, no grfico.

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

15

Controle Estatstico de Processo

Padro 04 Quatorze pontos consecutivos alternando para cima ou para baixo no grfico.

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

Padro 05 Dois em 3 pontos situados na mesma Zona A do grfico.

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

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Controle Estatstico de Processo

Padro 06 Grfico. Quatro em cinco pontos consecutivos situados nas Zonas A ou B de um mesmo lado do

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

Padro 07 Quinze pontos consecutivos situados na Zona C, acima ou abaixo da linha mdia.

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

17

Controle Estatstico de Processo

Padro 08 Oito pontos consecutivos, em qualquer lado da linha mdia, com nenhum situado na Zona C.

4 3 2 1 0 -1 -2 -3 -4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 A B C C B A

A presena de um ou mais desses padres indica um descontrole e necessita de um plano de ao imediato. Se no forem tomadas aes existe uma grande probabilidade de ocorrncia de pontos fora da especificao. A grande vantagem do uso do CEP seu carter preventivo. Ao se trabalhar com probabilidades estatsticas pode-se atuar no processo quando houver tendncias de descontrole, ao contrrio do controle amostral clssico, que atua aps ter ocorrido uma falha.

9 BIBLIOGRAFIA
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