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RESISTIVIDADE ELTRICA

Ensaio de cobre recozido conforme a norma INTeRNATiONAL ANNeALeD COPPeR STANDARD (IACS)
A norma IACS uma forma relativa de se expressar a condutividade de um material, sendo baseada no valor desta propriedade para o cobre recozido 100% puro e esse trabalho tem como objetivo a criao de um mtodo para o clculo da resistividade e da condutividade relativa em IACS e a expresso de sua incerteza utilizando medies de outras variveis
[Andr Luiz Vieira da Silva, Juarez Leonardo Boari e Silmara Rodrigues Tabelini]

abe-se que uma das caractersticas mais importantes de um material slido a sua diculdade ou facilidade de conduo de corrente eltrica. Para mensurar um material quanto a esta propriedade utilizamos as propriedades chamadas resistividade eltrica e condutividade eltrica. A resistividade de um material denida como a razo entre o mdulo do campo eltrico e o mdulo da densidade de corrente, ou seja, quanto maior for o valor de resistividade, maior ser o campo eltrico necessrio para produzir uma dada densidade de corrente, ou ser menor a densidade de corrente gerada por um dado campo eltrico. A unidade para esta grandeza de .m (ohm x metro), e representado pela letra grega r. A condutividade eltrica de um material simplesmente o inverso da resistividade, ou seja, a capacidade deste material de conduzir a corrente eltrica. Esta grandeza representada pela letra grega s e sua unidade de medida S/m (siemens/metro). Uma forma de calcular a condutividade relativa o clculo de IACS. Essa norma, adotada internacionalmente, xada em 100% para a condutividade de um o de cobre de 1 metro de comprimento com 1 mm2 de seo e cuja resistividade a 20C seja de 0,01724 .mm2/m, que representa uma condutividade de 58 x 106 S/m. O interesse neste trabalho realizar medidas de resistividade em cinco amostras de barra de cobre, relacionando o valor encontrado com o padro internacional de cobre recozido, IACS, denindo a incerteza para o resultado das medies encontrado. Desta forma, poder ser determinada a caracterstica eltrica das barras, podendo ser definida a utilidade do material para determinados fins. Entre as influncias no valor de resistividade de um material, pode-se citar a temperatura, que no experimento descrito ser medida e considerada no clculo final da condutividade relativa das amostras.

Sabe-se que para o clculo da resistividade ser necessrio conhecer a resistncia do material, o comprimento da distncia onde ser medida a diferena de potencial, ocorrida devido injeo de corrente eltrica, e a rea de seo reta perpendicular direo da corrente. Portanto tem-se:

Onde: r a resistividade a ser calculada; R a resistncia da barra de cobre; A rea da seo reta perpendicular direo da corrente; l a distncia entre os dois pontos de medio da tenso. Para clculo da resistncia utiliza-se a Lei de Ohm que possui a seguinte equao

Onde: R a resistncia da barra de cobre; V a diferena de potencial medida entre dois pontos distintos da barra, separados pela distncia l; I a corrente aplicada na amostra. Portanto pode-se calcular a resistividade da seguinte forma

Onde: V a diferena de potencial medida entre dois pontos distintos da barra, separados pela distncia l; A a rea da seo reta perpendicular direo da corrente; I a corrente aplicada; l a distncia entre os dois pontos de medio da tenso. Para efeito de estabelecer a rastreabilidade dos resultados, as barras de cobre submetidas ao ensaio foram identicadas

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como CP1, CP2, CP3, CP4 e CP5. Antes do incio das medies as mesmas foram submetidas a um processo de estabilizao trmica em um ambiente com temperatura controlada a 20C 0,3C, durante um perodo de 120 minutos. Cada amostra foi colocada em uma base com grampos de distncia conhecida, padronizada e calibrada de 500,510 0,006 mm (l). Foram realizadas cinco medies das dimenses dos lados L1 e L2 em pontos distintos de cada barra contida na amostra, para isto foi utilizado um micrmetro externo calibrado. O resultado da rea de cada barra foi definido pela mdia aritmtica das cinco medies realizadas. Para cada medio de tenso e corrente foi realizada uma medida da temperatura da barra de cobre sob teste, possibilitando posteriormente a aplicao do clculo de correo da resistividade do corpo de prova. A partir das medies de l, L1, L2 e R (calculada atravs do valor de tenso medido divido matematicamente pelo valor da corrente aplicada), chegou-se ao resultado da resistividade eltrica de cada item da amostra. Para o clculo direto tem-se:

Foram realizadas cinco medies indiretas de resistncia eltrica, atravs da aplicao de uma corrente eltrica conhecida e padronizada, no valor de 15 0,0012A DC em cada barra, e medida a diferena de potencial (ddp) resultante, utilizando um multmetro digital tambm calibrado, possibilitando o clculo da resistncia atravs da Lei de Ohm. Por m, foi realizado o clculo da mdia aritmtica das medies.

Onde: rm a resistividade medida; L1 e L2 so os valores mdios das cinco medies das dimenses dos lados da barra; I o valor da corrente aplicada na barra; l o valor da distncia entre os grampos utilizados para aplicao de corrente e medio de tenso. A correo do valor da resistividade devido temperatura do corpo de prova calculada para 20C, pois conforme j informado, a norma IACS determina o valor de resistividade para o fio de cobre nas dimenses citadas sob esta temperatura.

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RESISTIVIDADE ELTRICA Tabela 2 Incerteza da medio calculada


Onde: r20 C a resistividade a 20C; rm a resistividade medida; a20C uma constante especca para o cobre que equivale a 3,93x10-3 C-1; T2 o valor mdio das medies de temperatura da barra sob teste; T1 equivale aos 20C. A partir do valor de resistividade foi possvel calcular a condutividade do material realizado na fabricao das barras da amostra. Para isso foi utilizada a seguinte equao
ID Pea CP1 CP2 CP3 CP4 CP5 Incerteza (W.m) 4,3E-10 4,4E-10 4,2E-10 2,2E-10 2,0E-10 Incerteza (%) 1,7 1,8 1,7 0,89 0,82

Para o clculo da condutividade relativa foi utilizado o valor de calculado, atravs das medies realizadas em cada barra, relacionado ao valor padro de 58 x 106 S/m que representa 100% IACS. Para o clculo de incerteza das medies foi inserido como parcela de incerteza do tipo A a repetitividade das medies. E como parcelas de incerteza do tipo B foram utilizadas a incertezas herdadas dos padres (micrmetro, fonte de corrente, medidor de tenso) e suas resolues. A incerteza combinada das medies foi determinada atravs da raiz quadrada da soma quadrtica dos produtos das derivadas parciais de r em relao s variveis (L1, L2, L, V e I), pelas fontes de incerteza j citadas, somada ao quadrado da repetitividade (uA), conforme equao expressa abaixo:

clculos para determinao da incerteza da resistividade dos materiais, cujos resultados so apresentados na Tabela 2. Enm, a anlise realizada mostra que em mdia o valor da condutividade relativa das barras de cobre recozido que compunham a amostra de 69,6% 1,8%. Tal concluso a indicao de que o material utilizado na fabricao das barras de cobre recozido, utilizadas neste ensaio, no apresentava as caractersticas eltricas, em termos de condutividade no padro IACS, prximo ao valor de referncia. Conclui-se que possvel determinar o clculo de incerteza para as medies de condutividade relativa em IACS, utilizando-se das medidas de corrente aplicada, diferena de potencial medida, rea da seo reta perpendicular direo da corrente e distncia entre os pontos de medio de tenso. A metodologia apresentada para determinao dos valores de incerteza se mostrou convel frente aos resultados alcanados. REFErNCIAS BIBLIOGrFICAS CALLISTER JR, William D. Cincia e engenharia de materiais: uma introduo. 5. ed. Rio de Janeiro: LTC, 2002. 589 p. GUIA para a expresso da incerteza de medio. 3. ed. Rio de Janeiro: ABNT; INMETRO, 2003. 120 p.

A incerteza total foi determinada pelo produto da incerteza combinada por um fator de abrangncia K=2 para intervalo de conana 95,45 %.

YOUNG, Hugh; FREEDMAN, Roger A. Fsica III: eletromagnetismo. 10. ed. So Paulo: Eddison Wesley, 2006. 402 p.

Resultados
Os valores obtidos pelo procedimento de medio adotado esto expressos na Tabela 1 e serviram de base para orientar os

Andr Luiz Vieira da Silva e Silmara Rodrigues Tabelini so instrutores do Cetel Senai (MG) e Juarez Leonardo Boari supervisor tcnico do Cetel Senai (MG) - alsilva@emg.com.br; jlboari@emg.com.br; stabelini@emg.com.br

Tabela 1 Valores obtidos pelo procedimento de medio


ID Pea CP1 CP2 CP3 CP4 CP5 Resistncia (W) 1,98E-04 1,99E-04 1,99E-04 2,01E-04 1,99E-04 Resistividade (W.m) 2,48E-08 2,49E-08 2,45E-08 2,50E-08 2,47E-08 Resistividade Corrigida 20C (W.m) 2,48E-08 2,49E-08 2,45E-08 2,50E-08 2,47E-08 Condutividade (S/m) 40373018,93 40093958,89 40736105,41 40018880,18 40476847,44 IAC (%) 69,61 69,13 70,23 69,00 69,79

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