ME TALOG~-;rA QUANTITATIVA

DETERMlNA~ DE TAMANHO DE GRAo E PROPORe;Ao DE F~ES '

Para os propositos de aplica~ao dos metodos a serem

abordados, segundo a ~orma ASTM E112, sera considerado 0
seguinte:
Grao: E tocta a a r-e a confinada por um contorno original.
Em wn material que contenha estrutura de graos
mac l ado s , 0 c r i s t a l. e suas maclas s e r ao conside­
rados como ·um unico g~ao.
Tamanho do grao: Em materiais consistindo de dois au mais.
constituintes, 0 tamanho de grao se referira aos da
rnatriz, exceto nos materiais nos quais a segunda
fase s eja de suficiente quantidade, tamanho ou
continuidade para ser significativa, quando seu
tamanho de 9rao pede ser estimado e reportado
separadamente. -fases constituintes menores e inclu­
s oes nao sao nqrrnalmente consideradas na estimativa
d o tamanho de grao.

1- EFEITO DO 'rAMANHO DE GRf..o SOBRE AS PROPRIEDADES ~c.funCAS

1 . 1 DCTRB:.ZA E TRAA;AO

OS metais policristalinos quase sempre sofrem urn

forte efei to do tamanho de grao sobre suas propriedactes
de tra<;ao e de dureza.
Qu a n to menor 0 grao, maior a dureza ou resistencia a
tra~a o, como mostrado nas figuras 1 e 2, em seguida .

2:;0 .

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d - liZ . micron~ -"Z

Fi gu r a 1: Dureza do titanio em fun~ao do tamanho de grao

 Verifica-se 0 aumento acentuado na dureza do
material com a diminui~ao do tamanho de grao.
De acordo com essa figura, e possivel escrever um
relacionamento empirico da forma: 0

H = dureza
d = diametro medio do grao
KH = .i.nc l i.nacao da linha
Ho = intercepto da linha
com 0 eixo ordenado
__ _ 0_ -0- -- - ---..,..._
100

'OO"K
~O Streln reI. ,,, 10- 4 sec- I

Figura 2: Limi te de escoamento do ti t an i o em f unc ao do

tamanho de grao

Nota-se 0 aumento do limite de escoamento do

material com a d i.mi.nu i.cao do tamanho de grao, ve;r-ifi­
cando-se wn relacionamento linear da forma:

o = 0 0 + K d- 1 / 2 o = limite de escoamento
00 = intercepto da Li.nha
K = inclina~ao da linha

1 • 2. IMPAC'I'O
Crit~rio de Griffith: Caso de material policristalin~Oque
falha por clivagem.

'Yp = energia superficial especifica

d = diametro medio do grao
aF=tensao aplicada
E = m6dulo de Young

Falha intergranular: Coricen t r ac ao de impurezas nos contornos,

enfraquecendo a coesao dos graos.
2- TAMANHO DE GRAD
:2 • 1 FOilMA DO GRAO
Os graos necessi tam apresentar uma forma que
preencha os espa90S, e as interfaces entre os mesmos
devem estar de acordo com as leis que govern am a tensao
superficial.
Em 1894, Lord Kelvin mostrou que a 6tima forma
preenchendo os e spaco s com 0 minimo de area superficial
seria 0 tetracaidecaedro (poliedro com 14 faces), que e
uma aproxima9ao razoavel para graos equiaxi~is.

GJAA.os
2 • 2. MEDIOAS DE TA!ldANBOS DE

Em 1961 foi adotada pel a ASTM a norma E112 para

medidas de tamanhos de graos.
De acordo com a mesma:

n = 2 G- 1 G = n£ do qz ao
n n£ de graos por polegada
quadradapara aumento de lOOx

Paises que usam 0 sistema me t r i co (Suecia, Lt a Ld a ,

Russia, Fran9a) e as normas ISO definem 0 nlimero de
tamanho de grao Gm, de acordo com a equa9ao:

m = 8 (2 Grn ) m = ~ de graos por mm 2 para lx

Tamanhos de graos cal cu l ados com 0 sistema me t r i co

sao 4,5% maiores que os calculados pelo metodo ASTM" isto
e:
G Gm - 0,045

2 .2.1 Ocular para medida clireta

Uma rapida determina9ao de tamanho de grao e
realizada usando-se uma ocular calibrada que elimina a
necessidade de se projetar uma imagem em tela au da
obten9ao de uma fotomicrografia. No metodo ASTM, a ocula~
e provida de uma placa circular subdividida em 8 partes.
Em cada parte e gravada uma rede hexagonal numerada de 1
a 8, dependendo do tamanho dos hexagonos. A rede
hexagonal que se igualar na proj ecao , com os graos da
amostra, para um aumento de lOOx, representara 0 nume ro
do tamanho de grao (G).
2.2.2 Metodo planimetrico de Jeffries
o metoda Jeffries e geralmente aplicado usando-se um
circulo "c o m d i ame t ro de 79,8nun (area de 5000mm2) sobre
uma fotomicrografia ou sobre uma tela de proje~ao.
o awmento e ajustado de maneira a seter pelo menos
50 graos dentro da area de medida. Conta-se urn minima de
tres campos para se assegurar urna media razoavel.
A contagem e fei ta do nume ro de graos totalroente
dentro da area (nl) e 0 n0.mero de q r aos interceptados
pelo perimetro da area de teste dividido por 2 (n2)'
o nlimero total de graos equivalentes e dado por:
n2
2

o numer o de graos por unidade de area (NA) e dado

por neq/A, onde A e a area real investigada.
Se a fotomicrografia foi obtida com urn awnento m,
entao
A observada
A
m'­

A area media do grao pode ser obtida pela rela9ao:

1
A

o nlimero de grao G (ASTM) pode ser calculado a

partir de NA (n£ de graos por mm2) usando-se a seguinte
rela9.3.o:
1

( "G = [3,322 l 'og NA-] :. 2, 95\

~

Exemplo: Determinar 0 tamanho de grao G (ASTM) na figura 3.

,
. 1
 ---- _ .. _- -- . . - _- .

Figura 3: Micrografia de a~o austenitico.

Circulo com d Lame t r o de 79, 8rnm e area de 5000mm2 •
Aumento: 100x (Reduzida 25% na reprodu~ao)

N~ de graos dentro do circulo = 44

N~ d~ graos interceptados = 25 ~

25
44 + = 56,5
2

neg 56,5 x 10000

NA = ~ =
Aobs
= :::0
113
A 5000
m2
G [3,332 log NAJ - 2,95

G = [3,332 log 113] - 2,95

.'
G = 3,9 (4 )

.2.3 Metodos de interceptoa de Heyn

Os procedimentos com interceptos sao mais
e n i e n t e s e indicados que 0 planimetrico, pela sua
=~ _ .i d e z , sendo t ambem adequados a medida de graos nao
=~ _':' ax i a i s .
o me t odo e aplicado com 0 usc de uma linha reta .o u
_ _ ~:a , de comprimento conhecido (LT ) , desenhada sobre uma
- - i c r o g r a f i a , ou num plastico transparente, a ser
_ ~ e rpo s t o a uma proje~ao, ou nwu reticulo na ocular.
 Escolhe-se urn aumento, de maneira que 0 nume ro de
graos ou de contornos de q r ao s (N) interceptados pela
linha possam ser contados com precisao. 0 comprimento de
linha escolhido deve produzir de 50 a 150 intersec~oes.
. Para a contagem das intersec~oes considera-se 0
seguinte:
- 0 ponto final de uma linha de teste nao e intersec9ao,
nao sendo eontado. Exeeto quando 0 final toea 0 eon­
torno, conta-se 0,5 intersec~ao.
- Intersec~ao tangencial com 0 contorno de grao conta-se
como 1 intersec~ao.
- Intersec~ao coincidindo com a jun~~o de 3 graos conta­
se como 1,5 intersec~ao.
o nume ro de interceptos por unidade de eomprimento
(NL) podem ser calculado como segue:
N
NL = LT = comprimento total da linha
Lr/M
M aurnento

o comprimento do intercepto medio linear e dado pela

1
seguinte rela~aoL=
NL
o nume r o de grao G (ASTM) pode ser calculado pela r e l a cao :
- -
G = [-6,6457 log L ] - 3,298 (L em rom)
Exemplo: Medida de tamanho pelo metoda Heyn usando 3
circulos concentricos, na figura 4

=:gura 4: Superliga a base de Niquel (X - 750)

Circunferencia total dos 3 circulos 500mm
Intersec90es = 63. Aurnento: 100x
(Reduzida 25% para reprodu~ao)
 63
12,6mm- 1
(500/100)

1 1
L = 0,0794mm

G = [-6,646 log(0,0794}] - 3,298 = 4

Na figura 5 e apresentado urn exemplo da aplica~ao do
metodo utilizando-se linha reta.

Figura 5: Amostra de niquel. Aumento: 220x

N
N = LT = 300rruu
L L,./M
N 67
M = 220

67
NL -- = 49,1
300/220

- 1
L = = O,0203mm
NL

G [-6,'646 log(O,0203)] - 3,298

G = 7,9 ~ 8
 Sao apresentadas em seguida, algumas rela90es
geometricas entre os graos.
Nv .= nlimero de graos por unidade de volume
Sv = area da superficie dos graos por unidade de
volume

7 8
NJ/2 = I/ 3
N
3 A 3 v

Nv 0, 422 ~

Observac;oes

a- Graos anormais (graos com tamanhos diferenciados)

Qualquer media de dois tamanhos de q r aos distintos,
resultara num tamanho que nao existe no material.
Portanto, reportar-se-a a estimativa porcentual das
areas ocupadas pelos dois tamanhos.

Exemplo: 50% com O,015mm e .

50% com O,07mm ou,
quando existem faixas:
40% com N~ ASTM de 8 a 10
60% com N~ ASTM de 3 a 4

b- Graos nao equiaxiais

Quando a forma dos q r ao s for mui to distorcida, as

medidas de tamanho dos mesmos deve ser feita
transversalmente, longi tudinalmente e planarmente em
relac;ao a direc;ao de laminac;!o.

Exemplo: Usando-se 0 metodo de interceptos, as linhas

necessitam serem orientadas da seguinte maneira:

= paralela ao alongamento no plano longitudinal

= perpendicular ao alongarnento no plano
transversal (dire9ao da espessura)
= perpendicular ao alongamento na dire~ao
planar (dire~ao da largura)

G [-6,6457 log 1- 3,298 (1 em mm)

3- MEDIDA DA PROPORe;Ao DE FASES

Utiliza-se uma rede quadriculada superposta a imagem

em tela ou fotomicrografia.
As in t e r s e ccoe s da rede que es ti verem em cada fase
sao contadas. A frac;:ao de uma fase (F i ) e dada pela razao
do nlimero de intersecc;:oes localizadas nessa fase (ni)
pelo nlimero total de intersecc;:oes (nT)

Quando 0 ponto localiza-se sobre 0 contorno da fase,

considera-se 1/2 ponto.
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.Metodo Planimhrico de Jeffries

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