Sobre como enxergamos átomos hoje.

microscópio óptico microscópio de força atômica

Qual o melhor?
ampliação
técnica
Interações entre luz e matéria e sua
influência sobre o contraste
Nardy, A.J.R., Machado, F.B., “Mineralogia Óptica”, apostila do Curso de Graduação em
Geologia, UNESP, Rio Claro, 2007
( http://www.rc.unesp.br/igce/petrologia/nardy/elearn.html)

Bradbury, S., Bracegirdle, B. , “Introduction to Light Microscopy”, BIOS Sci. Publ., Oxford,
1998

Bradbury, S., Evennett, P.J., “Contrast Techniques in Light Microscopy”, BIOS Sci. Publ.,
Oxford, 1996

Goldstein, D.J., “Understanding the Light Microscope”, Academic Press, Londres, 1999

Robinson, P.C., Bradbury, S., “Qualitative Polarized-Light Microscopy”, Royal

Microscopical Society, Oxford, 1992

Rochow, T.G., Tucker, P.A., “Introduction to Microscopy by means of Light, Electrons, X-

Rays or Acoustics”, 2ª. Ed., Plenum Press, New York, 1994

Nikon USA, http://www.nikonsmallworld.com, acessado em 11 de julho de 2007

Carl Zeiss do Brasil, http://www.zeiss.com.br, acessado em 11 de julho de 2007

O que é um microscópio?
Um microscópio será todo instrumento que
permita observar um objeto com resolução
menor que a definida pelo olho humano, da
ordem de 0,15 mm, a uma distância inferior à
distância focal nítida a olho nu, que é da ordem
de 250 mm para acuidade visual confortável.
A forma mais popular de microscopia é a óptica,
que explora as interações da luz com um
conjunto de ao menos duas lentes (microscópio
composto), originada no final do século XVI.
Além da interação da luz com a matéria, outros
eventos físicos podem ser explorados, como as
colisões elétron-amostra na microscopia
eletrônica, a reverberação de ondas sonoras na
microscopia acústica, raios-X, e outros eventos
explorados na microscopia de varredura por
sonda como força atômica, tunelamento,
condução de calor, atrito, atração magnética, etc.
 Resolução:
menor distância entre dois pontos nítidos.

Limite atual: ~ 38pm (0,38 Å) Limite da Microscopia Óptica: ~130 nm

100 pm 1nm 10 nm 100nm 1 µm 10 µm 100 µm 1 mm 10 mm 100 mm

Microscopia eletrônica ou Microscopia

Lupa Olho nu
de varredura por sonda Óptica

Limite da visão humana: ~150.000 nm

LUZ é a parte visível do espectro eletromagnético, que
compreende desde os raios g até as ondas de rádio. A luz
branca é formada pelo conjunto de ondas do espectro
visível, entre 390 e 700 nm.
390 nm

446 nm

464 nm

500 nm

578 nm

592 nm

620 nm

700 nm
Vermelho
Amarelo
Violeta

Laranja
Verde
Azul
Anil

decomposição da luz
branca
U.V. I.V.
luz visível

raios x
raios g ondas de rádio
curtas médias longas

10-4 10-1 104 109 1014 l [nm]

A luz é uma forma de
energia radiante, que
apresenta
natureza tanto
ondulatória
quanto corpuscular,
que pode ser
decomposta em duas
componentes :
elétrica e magnética.

Se tomarmos apenas a
componente elétrica,
o comportamento
ondulatório da luz
pode ser desprezado e Assim, a luz pode ser descrita como
pode-se assumir que uma onda senoidal bidimensional cujo
sua trajetória consiste comprimento, l, representa a cor e a
de linhas retas, ou
amplitude representa o brilho.
raios, em meios
homogêneos.
 Comprimento de onda (l): é a distância entre duas
posições consecutivas ou idênticas na direção de
propagação de uma onda. É dado em [nm] ou [µm]
 Período (P): é o tempo gasto para se completar uma
oscilação, cuja distância é igual ao comprimento de
onda. Dado em segundos.
 Freqüência (f): é o inverso do período, ou o número de
oscilações completas por unidade de tempo, expressa
em [Hz] ou [s-1]. Não se altera com o meio de
propagação.
 Velocidade da luz (c): no vácuo, será a mesma para
todos os comprimentos de onda (cores) e da ordem de
300.000 km/s, tal que:
c  l. f
A luz interage com a matéria de muitas formas, e
as principais são:

o Refração
o Reflexão
o Transmissão ou absorção
o Polarização
o Difração
o Excitação de fluorescência
Princípio de Huygens (1690):

“Qualquer ponto ou partícula excitado pelo impacto

da energia de uma onda de luz, torna-se uma nova
fonte puntiforme de energia.”

Assim, a energia de um raio de luz que atinge uma

superfície pode ser transformada de três maneiras:
reflexão, transmissão ou absorção.
Difração é o espalhamento da luz quando atinge a borda de um objeto,
causando uma aparente deflexão do feixe e um aspecto difuso. Esta
deflexão aumenta com o comprimento de onda o que impede de se
obter, na prática, imagens absolutamente nítidas, impondo um limite de
resolução. Se um feixe de luz passa por um furo, pequeno orifício, sua
intensidade será maior no centro, tendo anéis concêntricos de luz com
intensidade decrescente a partir do centro, os chamados discos de Airy.
http://www.olympusmicro.com/primer/java/diffraction/index.html

Discos de Airy
e o limite de
resolução
Difração de ondas
 http://www.microscopyu.com/tutorials/java/objectives/nuaperture/index.html

Abertura numérica (NA):

NA  n.sen
Resolução (R) é a menor distância entre dois pontos nítidos. A equação mais
comumente adotada é: l Fórmula de Abbe (1872)
R
2.NA
Já as expressões de Rayleigh para a luz refletida e transmitida são, respectivamente:
0,61.l 1,22l
R R
NA NAobj  NAcond
A reflexão ocorre quando a luz incide sobre uma
superfície. Assim, depende da rugosidade e opacidade
da superfície.
Superfícies perfeitamente lisas permitem a reflexão
especular, quando o ângulo do raio incidente coincide
com o ângulo do raio refletido em torno da normal ao
plano tangente da superfícies.
I R

especular difusa

Já superfícies rugosas refletirão um feixe de luz em

vários ângulos, promovendo a reflexão difusa.
Luz é um vetor para transmitir energia e esta interage com o
meio. A influência do meio sobre um feixe de luz pode alterá-lo
quanto à sua amplitude e comprimentos de onda.

Absorção é a redução na amplitude pela interação entre a luz e a

matéria, em função de fatores como a presença de defeitos
internos, poros, interfaces cristalinas, ação magnética, vibração
atômica, etc.

Já a transmissão é a capacidade do meio OPACO

permitir a passagem da luz quanto ao conjunto
dos comprimentos de onda na luz incidente,
podendo ser transparente, translúcido ou TRANSLÚCIDO
opaco.

Materiais podem absorver comprimentos de TRANSPARENTE

onda específicos o que provoca alteração na
cor da luz transmitida através de um objeto.
 Sensibilidade espectral da câmera Zeiss AxioCam ICc3

Sensibilidade espectral relativa

Comprimento de onda [nm]

• Filtro azul: filtra os espectros verde e vermelho, resultando em imagens mais

nítidas (menor resolução, comprimentos de onda menores). Ideal para a definição
de bordas, com objetivas de abertura numérica elevada.
• Filtro verde: filtra os espectros azul e vermelho, restando a faixa intermediária de
comprimentos de onda, ampliando o contraste em imagens monocromáticas. Ideal
para aquisição de imagens em escala de cinza.
 A Lei de Snell para a refração estabelece que, quando um raio de
luz passa de um meio transparente homogêneo para outro, a
velocidade de fase da onda eletromagnética se altera, causando a
refração, que é um desvio em sua trajetória retilínea proporcional
a esta variação na velocidade.
O índice de refração absoluto (n)de um meio será dado pela
razão entre a velocidade da luz no vácuo (c) e a velocidade da luz
no meio (v), para um comprimento de onda específico (l),ou
c
1 2 Assim, a Lei de Snell é dada por: n
v2 v1 n2 sen(i ) l1 v
r     n1, 2
i v2 n1 sen(r ) l2
http://www.olympusmicro.com/primer/java/particleorwave/refraction/index.html
v1
Note que, para manter a proporção entre as velocidades, o
comprimento de onda no meio subseqüente será alterado, o que
implica que há alteração da cor em função da refração.

l [nm]

Para os minerais, os índices de refração são reportados para um

comprimento de onda igual a 589 nm, que corresponde a uma
das linhas de absorção de Fraunhofer para a luz solar. Desta
forma, pode-se estabelecer uma relação entre o índice de
refração e a densidade (r)do mineral, tal que:
n 1  Kr
Onde K é uma constante.
Alguns índices de refração:
Substância Índice de Refração (n)
Ar 1,00029 (15°C, 1 atm)
água 1,333
álcool etílico (anidro) 1,362
acetona 1,357
querosene 1,448
Nujol (óleo laxante) 1,477
bálsamo do Canadá 1,537
vilaunita 1,326
goetita 2,415
vidro borossilicato 1,523

Para 56% dos minerais, os índices de refração situam-se entre 1,475 e 1,700,
o que torna viável utilizar o bálsamo do Canadá como meio de imersão e
fixação de amostras, pois seu índice de refração é próximo do vidro
borossilicato e ao ponto médio do intervalo dos índices de refração para a
maioria dos minerais.
A relação entre os índices de refração é importante para definir o
aproveitamento da luz na microscopia, uma vez que interfere
nas intensidades de luz transmitida (T) ou refletida (R), na
passagem da luz entre dois meios. Considerando-se a incidência
normal (perpendicular) da luz sobre a interface entre dois meios
1 e 2, têm-se:

1 2 2 2
 2n1   n2  n1 
v2 T     R   
i
r
 n1  n2   n2  n1 

v1
Em função disso, haverá um ângulo crítico de incidência para o qual
toda a luz será refletida e não ocorrerá a transmissão, pois, da lei de
Snell:
n2 sen (i ) n1
  sen (r )  sen (i )
n1 sen (r ) n2

Se n1 for maior que n2, então n1/n2 será sempre maior que 1,0 e o
ângulo de incidência não pode ultrapassar um valor crítico para
satisfazer a lei de Snell, tal que o produto (n1/n2).sen(i) < 1,0, pois o
maior valor que sen (r) pode assumir é 1,0, para r =90°.
1 2
v2
r
i

v1
Por que é importante conhecer os índices de refração?

Por exemplo, na microscopia petrográfica, é comum preparar

lâminas para observação por luz transmitida da forma:

a) Para lâminas de rocha

ou

b) Para pós ou grãos

Daí, se houver uma grande diferença entre os índices de

refração, em algum momento a dispersão da energia por
reflexão pode se tão grande que não se obtém luz suficiente
para formar uma imagem clara na ocular do microscópio.
A propagação da luz se dá por um movimento ondulatório transversal,
tal que a direção da vibração é perpendicular à direção de propagação.
Então, a luz natural, ou não polarizada, apresenta inúmeras direções de
vibração, sempre perpendiculares à direção de propagação do raio de
luz.
Alguns materiais cristalinos têm a propriedade de filtrar tais vibrações,
permitindo a passagem de apenas uma das direções de vibração da luz
natural, resultando na luz polarizada. Os primeiros polarizadores
utilizados foram cristais de calcita romboédrica cortados
diagonalmente e colados com bálsamo do Canadá, inventados por
William Nicol em 1828, e conhecidos por prismas de Nicol, que
viraram sinônimo de polarizadores na petrografia.
Em 1932, Edwin Land criou uma lâmina
polimérica que recebeu o nome “Polaroid”,
igualmente efetiva e muito mais barata,
usada em todos os microscópios atuais.
Há 3 mecanismos para a polarização da luz:

a) Polarização por reflexão e refração:

A luz incidente em uma superfície plana e lisa será parcialmente
refletida, e a porção refletida do feixe será polarizada
perpendicularmente ao plano de incidência, enquanto que a porção
refratada será polarizada paralelamente ao plano de incidência. A lei
de Brewster afirma que o ângulo de incidência para polarização
completa é aquele cuja tangente é igual
1 ao índice de refração do material
i l refletor, ou seja, quando os raios refletidos
e refratados forem ortogonais
(sen (l) = cos (r) ).
r 2
http://www.olympusmicro.com/primer/java/polarizedlight/b
rewster/index.html
Há 3 mecanismos para a polarização da luz:

b) Polarização por absorção:

Este é o princípio usado nos filtros Polaroid. Neste caso, a luz se
propaga apenas em certas direções preferenciais ao atravessar o filtro, e
todos os raios do feixe não polarizado que apresentam direção de
vibração diferentes das do eixo de polarização serão absorvidos pelo
filtro, sendo transmitidos apenas aqueles orientados na mesma direção
do polaróide.
Há 3 mecanismos para a polarização da luz:

c) Polarização por dupla refração (birrefringência):

Um raio de luz, ao atravessar um meio anisotrópico, se refrata desdobrando-se
em dois raios que vibram em planos perpendiculares entre si denominados
extraordinário (E) e ordinário (O). Emprega-se este princípio na construção de
um prisma de Nicol, aproveitando-se o fato que a calcita tem índices de refração
tão diferentes em eixos ortogonais que o ângulo de incidência do raio ordinário
supera o ângulo crítico, promovendo sua reflexão total. Assim, apenas o raio
extraordinário será refratado, e sem sofrer desvio apreciável.

E
Bálsamo do Canadá
O
 Pois é a dupla refração, ou birrefringência, que permite
avaliar cristais anisotrópicos por microscopia óptica, já
que o mesmo fenômeno ocorre, em diferentes
intensidades, à medida que um cristal apresente eixos
cristalográficos com índices de difração diferentes.
Assim, a luz que passa por dois polarizadores
(polarizador e analisador), orientados ortogonalmente
entre si num primeiro momento, dispostos antes da luz
passar pela amostra (polarizador) e após a objetiva
(analisador), pode ser polarizada pela orientação
relativa dos cristais na amostra.

http://www.olympusmicro.com/primer/java/polarizedlight/crystal/index.html
 Compensadores: para incrementar o contraste por luz polarizada ou
para medir o grau de birrefringência, podem ser adicionados filtros
compensadores entre o polarizador e o analisador, como as placas l.

Basalto

Arenito

não-polarizada polarizada polarizada com

compensador
http://www.olympusmicro.com/primer/java/polarizedlight/3dpolarized/index.html
l
 As técnicas de contraste de interferência diferencial combinam os efeitos de
birrefringência e difração, utilizando-se de prismas como os de Wolaston ou de
Nomarski para produzir interferência, construtiva ou destrutiva, pela difração,
pela amostra, de feixes polarizados por dupla refração, intensificando a
diferença entre fases cristalinas.

Quartzo

Aço

http://www.olympusmicro.com/primer/java/dic/lightpaths/index.html Floco de neve

 Fluorescência é o processo pelo qual a energia luminosa das
ondas mais curtas do espectro (verde, azul ou ultravioleta) é
absorvida por alguns materiais e reemitida como luz com
comprimentos de onda superiores. Ocorre em alguns cerâmicos
e polímeros.

Pólen

http://www.olympusmicro.com/primer/java/fluorescence/exciteemit/index.html
Folha do milho
Aberrações em imagens e correções em
lentes
 Aberrações do olho
humano conforme a
Sociedade Brasileira
de Oftalmologia.
Há muita
similaridade com o
estudo de distorções
em lentes de
microscópios.
Efeito causado pela refração dos diferentes comprimentos de onda,
acentuado pela curvatura da lente. Os pontos focais para os
comprimentos de onda das bandas azul, verde e vermelho ocorrem
em posições diferentes sobre o mesmo eixo.
(a) Aberração cromática axial: os raios azuis são
focados mais próximos da lente plano-convexa que
os verdes e vermelhos, com maior comprimento de
onda.

(b) Correção da aberração cromática axial: a adição

de uma lente côncava em vidro com alta dispersão
à lente plano convexa corrige o problema, fazendo
coincidir os raios para um mesmo ponto focal.
Lentes corrigidas: acromáticas (2l), semi-
apocromáticas ou fluoritas (2l)e apocromáticas
(3l).

(c) Aberração cromática lateral: apesar da correção,

pontos fora do eixo central podem causar
diferenças na ampliação para raios azuis e
vermelhos (no exemplo), provocando a ocorrência
de franjas coloridas na imagem, especialmente
junto às bordas do campo observado.
Imagem com aberração cromática Correção do efeito

http://www.olympusmicro.com/primer/java/aberrations/chromatic/index.html
 Aberração esférica é um defeito causado pelo fato de uma
superfície da lente plano-convexa formar parte de uma esfera.
Os raios que emanam, com ângulos diferentes, de um ponto no
objeto sobre o eixo óptico interceptam o eixo óptico no espaço da
imagem antes (sub-correção) ou depois (sobre-correção) do
ponto ideal da imagem formado por raios paraxiais, ou paralelos
ao eixo óptico. Essa aberração forma uma “zona de confusão”
ao longo do eixo da lente, que prejudica a nitidez e, portanto, o
foco.

http://www.olympusmicro.com/primer/java/aberrations/spherical/index.html
 A aberração esférica causa
degradação na imagem, pois
provoca redução na nitidez e grande
dificuldade de foco. O efeito é
mostrado na figura (b) onde as bordas
não são nítidas em relação a (a). Além
da imperfeição na construção das
lentes, a aberração esférica pode ser
causada por abaulamentos na
amostra, ajuste errôneo do anel de
correção da objetiva, seleção
equivocada da espessura da lamínula,
excesso de resina para fixação da
amostra, uso de meio refrativo com
índice de refração inadequado e
cavidades ou elevações exageradas na
superfície da amostra.
 Efeito de
aberração
esférica
causado pela
espessura de
uma
lamínula
 A aberração esférica pode ser minimizada pela seleção adequada das
curvaturas das superfícies das lentes e sua orientação. Lentes plano-convexas
apresentam menor zona de confusão quando a curvatura é adequada e a face
plana está voltada ao objeto. Já lentes biconvexas podem ser corrigidas com a
adição de uma lente côncava com aberração esférica em sentido oposto (ou
seja, com os raios marginais focando adiante do plano de foco dos raios
axiais). Com a seleção correta dos raios de curvatura, a zona de confusão, que
sempre existirá, será reduzida a uma extensão mínima. A aberração esférica
também é corrigida, em diferentes graus, para lentes acromáticas (1l), semi-
aprocromáticas ou fluoritas (2l) e apocromáticas (2l).
 Coma é uma aberração que afeta regiões da imagem distantes de seu
eixo. O nome deriva da aparência semelhante a uma vírgula, ou à cauda
cônica de um cometa, da imagem de um ponto afastado do eixo óptico,
resultante das diferenças de ampliação que sofrem feixes de raios que
encontram a lente em ângulos diferentes do eixo óptico. Na prática, esse
efeito não é mais encontrado nas lentes modernas de bons fabricantes,
que corrigiram as diferenças de ampliação e usam materiais homogêneos
na construção das lentes.

http://www.olympusmicro.com/primer/java/aberrations/coma/index.html
 Essa aberração freqüentemente afeta raios oblíquos que passam através das
lentes, resultando na distorção em que um ponto na imagem pode ser
representado por linhas ou círculos difusos, normalmente com características
fortemente direcionais. Isso se deve à focalização em pontos diferentes de raios
contidos no plano vertical e no plano horizontal da lente.
 O mesmo termo é usado quando existem defeitos de simetria horizontal e
vertical na lente, decorrentes de erros de lapidação, com semelhanças no aspecto
da distorção, embora esse conceito não seja o mesmo do parágrafo anterior.
 A correção do astigmatismo só pode ser feita pelo fabricante: por precisão
geométrica na lapidação, pelo cuidado no projeto das combinações de lentes
côncavas e convexas e pelo uso de vidros com diferentes dispersões nessas
lentes compostas.
http://www.olympusmicro.com/primer/java/aberrations/astigmatism/index.html
 A distância focal de uma lente
varia para pontos afastados de
seu eixo. Como conseqüência,
um objeto plano terá sua
imagem formada numa
superfície curva, com caráter
esférico. Este defeito, quando
presente, será especialmente
problemático em objetivas com
elevada abertura numérica e
comprimentos focais curtos,
sendo impossível focar com a
mesma qualidade as regiões
central e marginal da imagem ao
mesmo tempo. A correção pode
ser feita com objetivas especiais
(com inscrições “plano”, ou
“plan”, ou “plana” pelos
fabricantes) e oculares corretas.
http://www.olympusmicro.com/primer/java/aberrations
/curvatureoffield/index.html
 A distorção resulta de diferenças de ampliação ao longo do
diâmetro do campo de visão. Se a ampliação no centro do campo
for maior que nas bordas, a imagem sofrerá uma distorção tipo
“barril” (b). Ao contrário, se a ampliação for menor no centro do
campo, o efeito será de um estreitamento na região central, tanto
na horizontal quanto na vertical da imagem (c).

http://www.olympusmicro.com/primer/java/aberrations/distortion/index.html
a) Ampliação (M): grau em que as dimensões da imagem são aumentadas em relação
ao tamanho do objeto.
b) Abertura numérica (NA): define a resolução da objetiva e a intensidade da luz (NA =
n.sen)
c) Distância de trabalho: distância entre a parte extrema da lente (próxima ao objeto
observado) e a amostra.
d) Profundidade de campo (d): é a profundidade da nitidez no espaço do objeto, ou a
distância ao longo do eixo central da lente em que o objeto pode ser movido sem
perda notável de nitidez na imagem, tal que:
onde Z é o círculo de confusão  Z  1  l 
d  n. 1   
 ( NA) M  M  2( NA) 2 
e) Profundidade de foco (D): é a profundidade de nitidez no espaço
da imagem, ou a distância entre dois planos no espaço da
imagem em que há nitidez aceitável, tal que: D = d.M2
f) Curvatura de campo: correção do efeito de curvatura de campo
g) Correção cromática: correção do efeito de aberração cromática
h) Transmissão: capacidade de transmissão da objetiva para certos
comprimentos de onda
i) Técnicas de contraste empregadas: campo claro, campo escuro,
contraste de fase, contraste por interferência diferencial,
polarização, fluorescência
 (Zeiss)

http://zeiss-campus.magnet.fsu.edu/tutorials/objectivecolorcoding/index.html
Fontes de luz e técnicas de iluminação
e contraste
 Fontes de Luz para Microscopia:

Temperatura de cor: a escala de temperatura de cores foi proposta por Max

Planck como a relação entre a temperatura de uma fonte de luz de emissão
controlada, ou corpo negro, e a distribuição da energia luminosa emitida
por ele à medida que sua temperatura é elevada do zero absoluto até
temperaturas cada vez mais elevadas, expressas em Kelvin (K). O corpo
negro quando aquecido a partir de uma certa temperatura, começa a emitir
luz, como ocorre para uma barra de metal. A partir do aquecimento
progressivo e da emissão correspondente a dada temperatura, em Kelvin
(K), são obtidas as temperaturas de cor, que servem para atribuir valores
numéricos aos espectros de emissão de lâmpadas.

O espectro da luz solar varia com a intensidade radiante.

 Fontes de Luz para Microscopia:

Lâmpadas de arco (Xenônio e Mercúrio):

Essas lâmpadas são caracterizadas pela formação de plasma

em função da ionização dos respectivos gases com a
aplicação de um arco voltaico, provocando emissões
intensas.

As lâmpadas de mercúrio se caracterizam por emissões

intensas em bandas espectrais específicas (365 nm, 405 nm,
436 nm, 546 nm e 579 nm), sendo bastante usada para
excitação por fluorescência.

Já as lâmpadas de xenônio combinam níveis elevados de

irradiação com uma relativa constância ao longo de todo o
espectro visível, sendo comparável ao espectro da luz solar
em uma boa gama de temperaturas.

Ambas têm custo elevado de aquisição e vida útil de

algumas centenas de horas (200 a 500 horas), sendo que a
instabilidade do plasma requer frequentes ações de
alinhamento da fonte de luz com o sistema óptico. Também
não há controle da intensidade de emissão, exigindo o uso
de filtros de absorção.

http://zeiss-campus.magnet.fsu.edu/tutorials/arclampinstability/index.html
 Fontes de Luz para Microscopia:

Lâmpadas incandescentes (“de filamento de

tungstênio” ou “tungstênio-halogênio”):

Essas lâmpadas são caracterizadas por uma forte emissão na

faixa do infravermelho, o que as torna pouco indicadas para
a obtenção de imagens mais nítidas ou para a excitação por
fluorescência, já que seu espectro mais intenso se dá em
bandas com comprimento de onda elevado.
Como a emissão de luz é mais intensa em torno do
filamento, seu alinhamento é mais constante que no caso
das lâmpadas de arco. Por outro lado, a emissão é bastante
heterogênea, apresentando variações intensas de brilho do
centro para as bordas do bulbo.
Têm baixo custo de aquisição e vida útil desde de algumas
dezenas de horas a até 2000 horas dependendo da tensão de
utilização e dos cuidados com sua construção e seleção,
sendo que a intensidade de emissão varia ao longo da vida
útil da lâmpada, tanto pela deposição de tungstênio nas
paredes do bulbo, quanto pelo consumo do filamento, o que
é revertido em parte pelo ciclo regenerativo do halogênio.
A intensidade de emissão é controlada pela voltagem
aplicada no filamento, que eleva sua temperatura de cor.

http://zeiss-campus.magnet.fsu.edu/tutorials/halogencycle/index.html
Fontes de Luz para Microscopia:

Iluminação por LEDs

(“Diodos Emissores de Luz”):

Um LED consiste numa pastilha com dois semicondutores, sendo

um dominado por cargas negativas (região “n”) e outro por cargas
positivas (região “p”), formando a chamada “junção p-n”. Como
os materiais são semicondutores, haverá um nível mínimo de
tensão para que ocorra a passagem de corrente elétrica da região n
para a região p, onde os elétrons (com carga negativa) se
combinam com as cargas positivas. A região intermediária entre
os dois semicondutores é denominada “região de depleção”, que é
onde as cargas positivas e negativas se recombinam, reduzindo o
nível de energia das partículas e, com isso, emitindo fótons e
produzindo radiação eletromagnética com comprimento de onda
característico do par semicondutor. Por exemplo, para o par
GaN/SiC a emissão terá comprimento de onda de 470 nm (azul).
O funcionamento de um LED pode ser visto na animação da Zeiss
em:
http://zeiss-campus.magnet.fsu.edu/tutorials/leddiagram/index.html
Iluminação por LEDs (“Diodos Emissores de Luz”):

A iluminação por LEDs reúne uma série de vantagens, como:

 pequeno tempo de estabilização (alguns microssegundos);
 elevada vida útil (mais de 100.000 horas em muitos casos);
 controle preciso dos comprimentos de onda emitidos, podendo evitar o uso de filtros
de absorção;
 potência luminosa controlada pelo nível de voltagem;
 maior facilidade de controle por sistemas digitais;
 pequeno espaço de montagem e possibilidade de controle individual dos LEDs,
facilitando e barateando a construção de circuitos, e permitindo garantir uniformidade
no feixe de luz emitido;
 espectro da luz branca similar ao da lâmpada de xenônio.

Para maiores informações e ilustrações acesse o endereço abaixo:

http://zeiss-campus.magnet.fsu.edu/articles/lightsources/leds.html
 Tipos de iluminação: incidência da luz
ILUMINAÇÃO EPISCÓPICA: LUZ REFLETIDA

A iluminação episcópica é indicada para amostras investigadas por luz refletida,

geralmente amostras opacas, e a objetiva cumpre o duplo papel de focar o feixe
incidente e formar a imagem no plano virtual. As técnicas de iluminação apropriadas
são:

a) Iluminação episcópica em campo claro (brightfield illumination): tanto a luz incidente

quanto a luz refletida pela amostra passam pelo eixo óptico principal da objetiva.

http://www.olympusmicro.com/primer/java/microscopy/reflected/index.html

http://www.olympusmicro.com/primer/java/darkfield/reflected/index.html
b) Iluminação episcópica em campo escuro (darkfield illumination): a luz incidente passa
por um anel em torno da objetiva e incide obliquamente na amostra. A luz coletada para
formação da imagem será sempre aquela que passa pelo eixo óptico principal da objetiva.
 Luz
refletida

Campo Campo
claro escuro
 Polarização linear
(uma única direção de polarização)

 Polarização Circular
(ondas perpendiculares, defasadas em 90°
ou um quarto de onda)

 Polarização Elíptica
(ondas perpendiculares, com outras
diferenças de fase, que não ¼ de onda)
 Polarização linear:
Promove redução de brilho localizado, evidencia anisotropias cristalográficas
e contraste entre estruturas diferentes. O efeito é direcional, o que pode
provocar sombras em direções específicas.
 Contrastes em campo claro, sob iluminação episcópica:

Uso de polarização linear, sem compensador λ Iluminação em campo claro

Polarização linear, com compensador Polarização linear, com compensador e prisma

Nomarski para contraste de interferência
diferencial
Campo claro Campo escuro Contrastes em campo
claro, sob iluminação
episcópica:

DIC Circular (1) DIC Circular (2)

DIC Circular (3) Polarização circular

Tipos de iluminação: incidência da luz
ILUMINAÇÃO DIASCÓPICA: LUZ TRANSMITIDA

A iluminação diascópica é indicada para amostras investigadas por luz

transmitida, geralmente amostras transparentes ou translúcidas, onde o
condensador cumpre o papel de focar o feixe incidente e a objetiva é
responsável por formar a imagem no plano virtual. As técnicas de
iluminação apropriadas são:
http://www.olympusmicro.com/primer/anatomy/transkohler.html
- Campo claro
(http://www.olympusmicro.com/primer/techniques/darkfield.html
- Campo escuro)

E as de contraste: polarização, contraste por interferência, ou contraste

de fase
http://www.olympusmicro.com/primer/techniques/polarized/configuration.html

http://www.olympusmicro.com/primer/techniques/dic/dicoverview.html

http://www.olympusmicro.com/primer/techniques/phasecontrast/phase.html
 http://virtual.itg.uiuc.edu/training/LM_tutorial/
 Microestrutura?
• Ligações atômicas 10-1nm
(nanoestrutura)
101nm
• Estrutura cristalina
101nm ~ 1 µm
• Defeitos estruturais
• Morfologia de fases, 1 µm ~ 102 µm
inclusões e linhas de
deformação

CONTEXTO DO PROBLEMA!

Propriedades Estrutura cristalina,

Mecânicas defeitos estruturais,
morfologia
Trabalhabilidade

Resistência à
Corrosão Ligações atômicas,
Propriedades defeitos estruturais
elétricas/magnéticas/térmicas
 Métodos instrumentais de caracterização

Investigação de imagens
• Ligações atômicas 10-1nm
(nanoestrutura) STM; TEM
• Estrutura cristalina
101nm TEM; STEM
• Defeitos estruturais
• Morfologia de fases, 101nm ~ 1 µm TEM; SEM
inclusões e linhas de
deformação 1 µm ~ 102 µm SEM; MO
• Macroestrutura > 102 µm
MO; lupa;
olho nu

Investigação qualitativa:
• identificação
• comparação
• classificação
Investigação quantitativa:
• MANUAL
• AUTOMÁTICA
• SEMI-AUTOMÁTICA
STM

TEM
MEV(microscopia eletrônica de varredura)
MICROSCÓPIO ÓPTICO
MACROGRAFIA
Análise da Macroestrutura

O que é macroestrutura?

Macroestrutura: resolução suficiente até a

(Vander Voort) definição de grãos e dendritas

Macroestrutura (ASM): Ampliação < 10X

Macroestrutura (RMS): Ampliação < 15X

Aplicações:
— “Prelúdio” da investigação microscópica
— Controle de Qualidade e avaliação de processos
— Análise de Falhas
— Avaliação “qualitativa” da composição química

Métodos:

a) Não-Destrutivos
Inspeção visual
Líquidos penetrantes
Partículas magnéticas
b) Destrutivos
Macro-ataque
Impressão
Fratura
Dureza
Macro-ataque com soluções ácidas
Características para o desenvolvimento do ataque:
a) O ataque deve produzir bons resultados globais, atender à maioria das
ligas da classe para a qual atende e revelar a maior diversidade de
características estruturais e defeitos.
b)Sua composição deve ser simples, barata e de fácil manuseio e preparo.
c)O ataque deve permanecer estável durante o uso e período de
armazenagem.
d) o ataque deve ser seguro e não pode produzir odores nocivos.

Características estruturais que devem ser reveladas:

•Detalhes resultantes da solidificação ou conformação plástica
•Uniformidade química (qualitativa)
•Descontinuidades físicas decorrentes do processo
• Estrutura de regiões soldadas e zona afetada pelo calor
• Regiões endurecidas
• Camadas superficiais
• Efeitos térmicos devido a erros de serviço

Formas de aplicação:
• temperatura ambiente
 Metalografia por Microscopia Óptica

Variáveis de Procedimento:

• Seleção de amostras representativas

• Escolha da orientação da superfície
• Preparação apropriada da superfície da amostra
• Seleção da melhor composição de ataque
• Controle da temperatura e tempo de ataque
• Documentação dos resultados

Componentes ácidos mais comuns:

• Alumínio e ligas de Alumínio: HF, HNO3, HCL, H2SO4

• Cobre e ligas de Cobre: HNO3, HCL, H2SO4
• Aços e ligas de Ferro: HNO3, HCL, H2SO4, ácido pícrico, HF
• Magnésio e ligas de Mágnésio: ácido acético, HNO3,
ácido tartárico, ácido pícrico, HF
• Titânio e ligas de Titânio: HF, HNO3, HCL
• Zinco e ligas de Zinco: HCl

Princípios da composição do ataque:

De forma geral, o ataque por soluções ácidas visa

produzir contraste pela modificação do relevo, criando
 Outras formas de Macro-ataques:
Soluções com reagentes contendo Cobre (reagentes de Heyn, nº1 de Stead
e Oberhoffer):

Objetivo: revelar a estrutura primária

(estrutura dendrítica, segregação de fósforo e
carbono, linhas de deformação)
Princípio: deposição de Cobre nas regiões de interesse
Problemas: ataques são sensíveis a variações na
composição; interpretação deve ser cuidadosa

Soluções para revelação de padrões de deformação (reagente de Fry):

Elementos básicos: HCl e CuCl2

Aplicação: aços
Restrições: resposta varia com o tipo de aço;
depende do teor de Nitrogênio;
revela contornos de grãos
Princípio: associa ataque químico com deposição
de Cobre
Melhor resposta exige um pré-aquecimento!
Metalografia por Microscopia Óptica
Metalografia por Microscopia Óptica
Metalografia por Microscopia Óptica
 Metalografia por Microscopia Óptica

Métodos de Impressão:
• Impressão por Contacto
• Impressão de Enxofre (Método de Baummann)
(Fe, Mn)S(inclusão) + H2SO4 H2S + FeSO4 + MnSO4

H2S + 2AgBr(emulsão) Ag2S + 2HBr

• Impressão de Fósforo
• Impressão do Chumbo e Teste de Exsudação
• Métodos Mistos
Fratura:
Para avaliar:
• Composição
• Inclusões em forma de plaquetas
• Grau de grafitização
• Tamanho de Grão
• Camada endurecida
• Superaquecimento
• Qualidade
Dureza:
Revela discrepâncias no comportamento da
macroestrutura.
 Preparação de amostras para Microscopia Óptica
• Amostragem: número de amostras, localização e
orientação
• Corte: por fratura, cisalhamento, serramento,
corte abrasivo, microtomia, eletroerosão,
microfresagem e corte por fio diamantado
• Montagem: adesivo, garras e presilhas, embutimento
em resina plástica
Embutimento em resina plástica:
a) montagem por pressão
b) embutimento a frio
• Lixamento: manual ou mecânico, usando papel impregnado
de SiC (indicado para uso geral) ou alumina (para
materiais de menor dureza).
Grana: 120, 240,320, 400, 600, 1200,2400,4000
Lubrificantes: água, querosene, parafina, nenhum
Problemas: deformação residual e aquecimento
• Polimento:
Mecânico
Abrasivos: pasta de diamante, alumina, MgO
Pano de polimento: diversos tipos (mais duros para
polimento grosseiro, macios para polimento final)
Outras formas: eletromecânico, por ataque, químico,
eletrolítico